JP2664720B2 - IC mounting equipment - Google Patents

IC mounting equipment

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    • H05K1/02Details
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    • H05K1/141One or more single auxiliary printed circuits mounted on a main printed circuit, e.g. modules, adapters

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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はメモリカードのような複数の多端子ICチップ
を有するIC実装装置に関する。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an IC mounting device having a plurality of multi-terminal IC chips such as a memory card.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

近年ROM、RAM等の半導体メモリが高容量化されたこと
に伴い、これら半導体メモリ用のICチップを一枚の基板
に多数個実装したメモリカードが製造され、ゲーム用や
プロセス管理用等の広い応用分野で使用されている。
In recent years, as semiconductor memories such as ROMs and RAMs have increased in capacity, memory cards in which a large number of IC chips for these semiconductor memories are mounted on a single substrate have been manufactured, and are widely used for games, process management, and the like. Used in application fields.

しかるに上記半導体メモリ用のICチップは、30〜50個
の接続端子を有し、しかもこれらの接続端子は、チップ
エネーブル端子等の一部個別端子以外はデータバス端子
やコントロールバス端子等の共通接続端子であり、狭い
基板上に於いてこれらの共通接続端子及び個別接続端子
の接続配線が問題となっていた。
However, the IC chip for semiconductor memory has 30 to 50 connection terminals, and these connection terminals are common to data bus terminals and control bus terminals except for some individual terminals such as chip enable terminals. These are connection terminals, and the connection wiring of these common connection terminals and individual connection terminals on a narrow board has been a problem.

以下図面により従来の配線構造を説明する。 The conventional wiring structure will be described below with reference to the drawings.

第8図は従来のメモリカードの平面図、第9図はICチ
ップ間の接続配線を示す部分平面図、第10図は部分断面
図である。メモリカード5を構成する基板50は第10図に
示すごとく両面配線基板であり、上面側50aにはA1〜A20
で示す20個のICチップが接着されるとともに、実線で示
す上面パターンa、黒丸で示すボンデングパターンn、
白丸で示すスルーホールmが設けられ、又下面側50bに
は、点線で示す下面パターンbが設けられるとともにス
ルーホールmによって上面側50aに接続されている。
FIG. 8 is a plan view of a conventional memory card, FIG. 9 is a partial plan view showing connection wiring between IC chips, and FIG. 10 is a partial sectional view. The substrate 50 constituting the memory card 5 is a double-sided wiring board as shown in FIG. 10, the upper surface 50a A 1 to A 20
In addition to the 20 IC chips shown by the symbols, the top pattern a shown by a solid line, the bonding pattern n shown by a black circle,
A through hole m indicated by a white circle is provided, and a lower surface pattern b indicated by a dotted line is provided on the lower surface 50b, and is connected to the upper surface 50a by the through hole m.

第9図に示すごとく各ICチップAは4角形状を有し、
1つの対向辺部c及びdには各20個の接続端子が設けら
れ、他の対向辺部e及びfには接続端子が設けられてい
ない。そして前記辺部cに設けられた接続端子は、すべ
て共通接続端子であり、又辺部dに設けられた接続端子
はチップエネーブル端子1個を除いて他の19個は共通接
続端子である。
As shown in FIG. 9, each IC chip A has a square shape,
Each of the opposing sides c and d is provided with 20 connection terminals, and the other opposing sides e and f are not provided with connection terminals. The connection terminals provided on the side c are all common connection terminals, and the other 19 connection terminals provided on the side d are common connection terminals except for one chip enable terminal. .

上記各ICチップ同志の接続配線をICチップA1、A2、A3
について説明する。
Connect the connection wiring between the above IC chips to IC chips A 1 , A 2 , A 3
Will be described.

第9図に示すごとくICチップA2の辺部c2に設けられた
20個の接続端子を各ボンデングパターンn2に、又辺部d2
に設けられた20個の接続端子を各スルーホールm2にそれ
ぞれワイヤーボンデイングにより接続する。同様にして
ICチツプA3についても辺部c3の接続端子を各ボンデング
パターンn3、辺部d3の接続端子を各スルーホールm3にワ
イヤーボンデングする。この結果、ICチップA2の接続端
子が接続れたボンデングパターンn2の半分(10個)は、
前記スルーホールm2を避けてICチップA2の左側に配設さ
れた10本の上面パターンa1によって前記ICチップA3の共
通接続端子が接続されている各ボンデングパターンn3
接続され、又残りのボンデングパターンn2はICチップA2
の右側に配設された10本の上面パターンa2によってICチ
ップA3の対応するボンデングパターンに接続される。さ
らにICチップA2の接続端子が接続されたスルーホールm2
は基板50の下面側に配設された下面パターンbにより直
接ICチップA3のスルーホールm3により接続される。
Provided on a side portion c 2 of the IC chip A 2 as shown in FIG. 9
Connect 20 connection terminals to each bonding pattern n 2 and side d 2
Respectively connected by wire bonding the 20 connection terminals provided on the respective through holes m 2. In the same way
IC chip A 3 sides c 3 of the connection terminals each Bonn Dengue patterns n 3 also, to wire Bonn dengue connection terminal side portion d 3 in the through-hole m 3. As a result, IC chip A 2 of the connecting terminals is connected a Bonn dengue pattern n 2 halves (10) are
Which is connected to each of Bonn Dengue pattern n 3 of the common connection terminal is connected to the IC chip A 3 via a through-hole m 2 top pattern a 1 ten disposed on the left side of the IC chip A 2 to avoid And the remaining bonding pattern n 2 is IC chip A 2
By the upper surface pattern a 2 of the ten disposed on the right side are connected to the corresponding Bonn dengue pattern of the IC chip A 3. Through-hole m 2 to which the connection terminal of IC chip A 2 is connected
Are directly connected by the through hole m 3 of the IC chip A 3 by the lower surface pattern b provided on the lower surface side of the substrate 50.

すなわち上記構成はICチップを接着した上面側50aでI
Cチップの1辺に設けられた接続端子同志の接続を行
い、ICチップの存在しない下面側50bで、他の1辺に設
けられた接続端子同志の接続を行うとともに、個別接続
端子の引回し配線を行うようにしている。
That is, in the above configuration, the I
The connection terminals provided on one side of the C chip are connected, and the connection terminals provided on the other side are connected on the lower surface 50b where no IC chip is present, and the individual connection terminals are routed. Wiring is done.

以上が各ICチップ間の接続構造であり、次に第8図に
より全体の接続構造を説明する。
The above is the connection structure between the IC chips. Next, the entire connection structure will be described with reference to FIG.

すなわち20個のICチップA1〜A20を基板50の矢印Bで
示す配列方向に4列配置して接着する。このとき各ICチ
ップの向を矢印で示すごとく1列ごとに逆向としておく
ことにより、各列間に渡るICチップ間の接続が交叉する
ことなく平面図に行うことが可能となる。
That is, 20 IC chips A 1 to A 20 are arranged and bonded in four rows in the arrangement direction indicated by the arrow B on the substrate 50. At this time, by setting the direction of each IC chip to the opposite direction for each column as shown by the arrow, it is possible to perform the connection between the IC chips across the columns in a plan view without crossing over.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

上記のごとく従来のメモリカードに於いては、一枚の
回路基板上に多数のICチップを直接実装しているため共
通接続端子間の配線は回路基板の上下面に分散させる必
要がある。この結果回路基板には多数のスルーホールと
高密度配線パターンが必要となり、製造コストの高いス
ルーホール工程によるコストアップと、高密度配線パタ
ーンに対するICチップの高密度実装による歩留り低下等
の問題がある。又片面プリント基板を使用して共通接続
端子間の接続をすべてICチップ接着面にて行うことも可
能だが、この場合にはICチップの両側にかなり広い配線
スペースを必要とするためICチップ間の距離を充分広く
して配列する必要があり、この結果1枚のカードに実装
出来るICチップの数が制限されるという問題が生ずる。
As described above, in the conventional memory card, since a large number of IC chips are directly mounted on one circuit board, it is necessary to disperse the wiring between the common connection terminals on the upper and lower surfaces of the circuit board. As a result, a large number of through-holes and high-density wiring patterns are required for the circuit board, and there are problems such as an increase in cost due to a high manufacturing cost through-hole process and a decrease in yield due to high-density mounting of IC chips on the high-density wiring patterns. . It is also possible to use a single-sided printed circuit board to make all connections between the common connection terminals on the IC chip bonding surface.However, in this case, a considerably large wiring space is required on both sides of the IC chip. It is necessary to arrange them with a sufficiently large distance, and as a result, there is a problem that the number of IC chips that can be mounted on one card is limited.

本発明の目的は上記問題点を解決し、コストが易く、
信頼性があり、かつ実装密度の高いIC実装装置を提供す
ることにある。
The object of the present invention is to solve the above-mentioned problems, the cost is easy,
An object of the present invention is to provide a reliable and high-density IC mounting apparatus.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

上記目的を達成するための本発明に於ける構成は下記
の通りである。
The configuration of the present invention for achieving the above object is as follows.

複数の共通接続端子を有するメモリ用ICチップを外部
接続端子を有する回路基板上に多数個実装し、各ICチッ
プの共通接続端子を前記回路基板の外部接続端子に接続
してなるIC実装々置に於いて、前記多数のICチップを複
数のグループに分け、各グループを構成する複数のICチ
ップを補助基板上に実装して複数のチップユニットを構
成するとともに、前記回路基板上に各チップユニットを
整列配設し、各チップユニットに設けられたユニット接
続端子間の接続と、前記外部接続端子への接続を前記回
路基板上の配線パターンにより行うことを特徴とする。
A plurality of IC chips for memory having a plurality of common connection terminals mounted on a circuit board having external connection terminals, and the common connection terminals of each IC chip are connected to the external connection terminals of the circuit board. In the above, a large number of IC chips are divided into a plurality of groups, a plurality of IC chips constituting each group are mounted on an auxiliary substrate to form a plurality of chip units, and each chip unit is mounted on the circuit board. Are arranged and the connection between the unit connection terminals provided in each chip unit and the connection to the external connection terminals are performed by a wiring pattern on the circuit board.

〔実施例〕〔Example〕

以下図面により本発明の実施例を詳述する。第1図は
本発明の1実施例であるメモリカードの平面図であり、
メモリカード10を構成する回路基板1には電源装置を収
納するための切欠部1aとメモリ実装部1bとデコーダ実装
部1cとが設けられ、又前記メモリ実装部1bの端部には複
数の外部接続端子Tが設けられている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view of a memory card according to an embodiment of the present invention.
The circuit board 1 constituting the memory card 10 is provided with a notch 1a for accommodating a power supply device, a memory mounting part 1b, and a decoder mounting part 1c, and a plurality of external parts are provided at an end of the memory mounting part 1b. A connection terminal T is provided.

そして前記回路基板1のメモリ実装部1bには、後述す
る4個のチップユニットB1、B2、B3、B4が整列配設され
ているとともに、その周囲には複数のチップ部品が配設
されている。
And memory mounting portion 1b of the circuit board 1, with four chip unit B 1 to be described later, B 2, B 3, B 4 are aligned disposed, a plurality of chip components on its periphery distribution Has been established.

又デコーダ実装部1cにはデコーダIC2や、コンデンサ
3等の各エレメントが実装されている。第2図及び第3
図は第1図に示すチップユニットB1の平面図及び断面図
であり、チップユニットB1は補助基板4上に4個のメモ
リ用のICチップD1〜D4を1グループとして実装し、封止
樹脂6により封止したものである。そして前記補助基板
4の長辺方向の一辺には複数のユニット接続端子tがt1
〜t4の4ブロックに分けて設けられており、このユニッ
ト接続端子tの各ブロックt1〜t4には前記4個のICチッ
プD1〜D4(本実施例の各ICチップは28個の共通接続端子
と1個のチップエネーブル端子を有する)の各共通接続
端子どうしが補助基板4上の共通接続パターンによって
共通接続された後に接続されており、又各ブロックには
各ICチップD1〜D4のチップエネーブル端子を接続するた
めのチップエネーブル接続端子te(以後CE接続端子と略
記する)が設けられている。
The decoder mounting section 1c has mounted thereon elements such as a decoder IC2 and a capacitor 3. FIG. 2 and FIG.
Figure is a plan view and a sectional view of a chip unit B 1 shown in FIG. 1, the chip unit B 1 represents an IC chip mounted D 1 to D 4 for four memory on the auxiliary substrate 4 as one group, It is sealed with a sealing resin 6. And said plurality of unit connection terminals t to the side of the long side direction of the auxiliary substrate 4 is t 1
Tt 4 are provided separately. Each of the blocks t 1 tt 4 of the unit connection terminal t has the four IC chips D 1 DD 4. Common connection terminals and one chip enable terminal) are connected to each other after they are commonly connected by a common connection pattern on the auxiliary substrate 4, and each block is connected to each IC chip. D 1 to D 4 of the chip d for connecting the enable terminal chip enable connection terminal te (hereinafter abbreviated as CE connection terminals) are provided.

すなわちチップユニットB1のユニット接続端子tの数
は共通接続端子28個と各ICチップD1〜D4に1個づつ設け
られたエネーブル端子4個とを合計した32個の端子数を
有し、この32個の端子が各ブロックt1〜t4に8個づつ分
けられている。
Ie, the number of unit connection terminal t of the chip unit B 1 represents has 32 number of terminals which is the sum of the four enable terminal provided one by one to the common connection terminal 28 and the IC chip D 1 to D 4 Each of the 32 terminals is divided into eight blocks t 1 to t 4 .

そして第1図に示す各チップユニットB2、B3、B4は、
ユニット接続端子の数及び配列を含め、すべてチップユ
ニットB1と同一の構成となっている。
And each of the chip units B 2 , B 3 , B 4 shown in FIG.
Including the number and arrangement of unit connection terminal, all have the same configuration as the chip unit B 1.

第4図及び第5図は第1図に示す回路基板1の上面図
及び裏面図であり、各々配線パターンを示すものであ
る。第4図に示すごとく回路基板1の上面のメモリ実装
部1bには一点鎖線で示すごとくチップユニットB1、B2
B3、B4が整列配置されたときの各ユニット接続端子tの
位置に対応してボンデングパターンPが形成されるとと
もに、各チップユニットごとの共通するボンデングパタ
ーンPと、そのボンデングパターンPに対応する外部接
続端子Tとが配線パターンによって共通接続されてい
る。
4 and 5 are a top view and a back view of the circuit board 1 shown in FIG. 1, respectively, showing a wiring pattern. As shown in FIG. 4, the memory units 1b on the upper surface of the circuit board 1 have chip units B 1 , B 2 ,
A bonding pattern P is formed corresponding to the position of each unit connection terminal t when B 3 and B 4 are aligned and arranged, and a common bonding pattern P for each chip unit and its bonding pattern. The external connection terminal T corresponding to P is commonly connected by a wiring pattern.

又デコーダ実装部1cには一点鎖線で示すごとくデコー
ダIC2がボンデングパターンPsによって実装されてい
る。
Further, a decoder IC2 is mounted on the decoder mounting section 1c in a bonding pattern Ps as shown by a dashed line.

次にメモリ実装部1bに於けるチップユニットの実装及
び接続配線をチップユニットB1を事例として説明する。
一点鎖線で示す位置に載置されたチップユニットB1のユ
ニット接続端子t1、t2、t3、t4は、それぞれ回路基板1
上のボンデングパターンP1、P2、P3、P4に位置決めされ
ており、この状態で半田付を行うことにより第1図の実
装状態となる。
Next, a description will be given of implementation and connection wiring in the chip unit memory mounting section 1b as Case chip unit B 1.
The unit connection terminals t 1 , t 2 , t 3 , and t 4 of the chip unit B 1 placed at the positions indicated by the dashed lines are respectively connected to the circuit board 1.
The upper bonding patterns P 1 , P 2 , P 3 , and P 4 are positioned, and by performing soldering in this state, the mounting state shown in FIG. 1 is obtained.

この結果ボンデングパターンの各ブロックごとに設け
られているチップエネーブル用ボンデングパターンPd
(以後CEボンデングパターンと略記する)にはチップユ
ニットB1のユニット接続端子の各ブロックごとに設けら
れているCE接続端子teが、それぞれ半田付されるととも
にスルーホールを介して回路基板1の裏面へ接続されて
いる。
As a result, the chip enable bonding pattern Pd provided for each block of the bonding pattern
(Hereafter CE Bonn abbreviated as dengue pattern) CE connection terminal te provided for each block of the unit connection terminals of the chip unit B 1 is, the circuit board 1 via the through hole while being respectively soldered It is connected to the back.

又CEボンデングパターンPdを除いた各ボンデングパタ
ーンP1、P2、P3、P4は、それぞれ対応する外部接続端子
の各ブロックT1、T2、T3、T4に接続されている。
The bonding patterns P 1 , P 2 , P 3 , and P 4 excluding the CE bonding pattern Pd are connected to the corresponding blocks T 1 , T 2 , T 3 , and T 4 of the external connection terminals, respectively. I have.

同様にして他のチップユニットB2、B3、B4が実装され
ることにより、各チップユニットの共通するユニット接
続端子どうしは配線パターンによって直線的に接続が行
われ、かつボンデングパターンP1、P2、P3、P4と外部接
続端子T1、T2、T3、T4との配列順序を一致させることに
より、交叉配線のない平面接続を可能としている。
Similarly, by mounting the other chip units B 2 , B 3 and B 4 , the common unit connection terminals of each chip unit are connected linearly by the wiring pattern, and the bonding pattern P 1 , P 2 , P 3 , and P 4 and the external connection terminals T 1 , T 2 , T 3 , and T 4 are arranged in the same order, thereby enabling planar connection without crossover wiring.

さらに第5図に示すごとく回路基板1の裏面には上面
のCEボンデングパターンPdに接続されたスルーホール
P′dが設けられ、前記CE接続端子teはすべてスルーホ
ールP′dを介して配線パターンによりデコーダIC2に
接続されている。さらにデコーダIC2には外部接続端子T
0を介してデコーダ制御信号が供給されることにより前
記各チップユニットに実装されたICチップのエネーブル
制御を行う。
Further, as shown in FIG. 5, a through hole P'd connected to the CE bonding pattern Pd on the upper surface is provided on the back surface of the circuit board 1, and the CE connection terminals te are all wired through the through hole P'd. It is connected to the decoder IC2 by a pattern. Furthermore, the decoder IC2 has an external connection terminal T
The enable control of the IC chip mounted on each of the chip units is performed by supplying the decoder control signal via 0 .

上記のごとく複数のICチップを小型パッケージするチ
ップユニット構造としたことにより、回路基板1上に於
ける配線密度を下げることが可能となり、又スルーホー
ルの数及び端子の半田付の数を著しく減少させることが
出来た。
As described above, by adopting a chip unit structure in which a plurality of IC chips are compactly packaged, the wiring density on the circuit board 1 can be reduced, and the number of through holes and the number of soldered terminals are significantly reduced. I was able to do it.

一例として本実施例に於ける29端子のICチップ4個を
1チップユニットとし、4個のチップユニットを回路基
板に実装した場合を、従来のICチップ独立実装の場合と
で半田付の数を比較してみると、 従来が 29端子×16チップ=464半田付、 本願が 32端子×4ユニット=128半田付、 となり、その半田付の数は1/3以下となる。この結果配
線数及びスルーホールの数を大巾に減少させることが出
来、かつ配線パターン間隔を広くすることが出来るもの
である。
As an example, the number of solders in a case where four 29-terminal IC chips in this embodiment are set as one chip unit and the four chip units are mounted on a circuit board is different from that in the case of the conventional IC chip independent mounting. In comparison, the conventional is 29 terminals x 16 chips = 464 soldering, the present application is 32 terminals x 4 units = 128 soldering, and the number of soldering is 1/3 or less. As a result, the number of wirings and the number of through holes can be greatly reduced, and the spacing between wiring patterns can be widened.

又前記チップユニットのユニット接続端子tと回路基
板1の外部接続端子Tとの配列順序を一致させることに
より配線パターンの平面化及び直線化を実現し、かつ半
田付を容易にしている。
Further, by making the arrangement order of the unit connection terminals t of the chip unit and the external connection terminals T of the circuit board 1 coincide, the planarization and linearization of the wiring pattern are realized, and the soldering is facilitated.

さらにチップユニット単位での信頼性チェックを行う
ことにより、回路基板1上の実装歩留りを大巾に向上さ
せることが出来るため、従来のICチップ独立実装での高
密度配線、多数ボンデングに伴う総合歩留の悪さを改善
することが出来た。第6図及び第7図は本発明に於ける
チップユニットBの他の実施例を示す平面図及び断面図
であり、第2図の実施例と異なるところは前記封止樹脂
6が、ICチップD1、D2を封止している封止樹脂6aとICチ
ップD3、D4を封止している封止樹脂6bとに分離されるこ
とにより一点鎖線で示す中央線Kを境にして第1ブロッ
クBaと第2ブロックBbとに分離されており、前記補助基
板4の封止樹脂6a、6b間には、複数の共通接続パターン
Lが露出している。
Furthermore, by performing a reliability check for each chip unit, the mounting yield on the circuit board 1 can be greatly improved. I was able to improve the badness of stay. 6 and 7 are a plan view and a sectional view showing another embodiment of the chip unit B according to the present invention. The difference from the embodiment of FIG. 2 is that the sealing resin 6 is an IC chip. Separated into a sealing resin 6a sealing D 1 and D 2 and a sealing resin 6b sealing IC chips D 3 and D 4 , the center line K indicated by a dashed line is used as a boundary. Thus, a plurality of common connection patterns L are exposed between the sealing resins 6a and 6b of the auxiliary substrate 4 by being separated into a first block Ba and a second block Bb.

上記実施例の構成はチップユニット化による総合歩留
りを更に向上させることを目的としたものであり、チッ
プユニットBの信頼性チェックを第1ブロックBa及び第
2ブロックBbについて行い、どちらか一方に不良がある
場合には中央線Kの部分にて切断分離し、その不良ブロ
ックの代りに良品のブロックを中央線Kで接合するとと
もに共通接続パターンLどうしを半田付等の手法によっ
て接続するし、再生されたチップユニットBを完成させ
る。
The configuration of the above-described embodiment is intended to further improve the overall yield by forming a chip unit. The reliability of the chip unit B is checked for the first block Ba and the second block Bb, and one of the blocks is defective. If there is, cut and separate at the center line K, replace the defective block with a non-defective block at the center line K, and connect the common connection patterns L with each other by a method such as soldering to reproduce. The completed chip unit B is completed.

すなわち前記チップユニットBに実装された4個のIC
チップに1個の不良が存在した場合、第2図の実施例で
は4個のICチップを廃棄していたものを本実施例では2
個のICチップの廃棄のみであり、残りの2個のICチップ
を救済することが出来、この結果総合歩留りを向上させ
ることが可能となる。尚本発明に於けるチップユニット
内に実装するICチップの数及び回路基板上へ実装するチ
ップユニットの数は任意に選定出来ることは当然であ
る。
That is, four ICs mounted on the chip unit B
In the case where one defect is present in the chip, four IC chips are discarded in the embodiment of FIG.
Only two IC chips are discarded, and the remaining two IC chips can be rescued. As a result, the overall yield can be improved. Note that the number of IC chips mounted in the chip unit and the number of chip units mounted on the circuit board in the present invention can be arbitrarily selected.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

上記のごとく本発明によれば、複数のICチップを実装
したチップユニットを回路基板上に整列配置することに
より回路基板上の配線及び接続密度を下げることによる
IC実装密度の向上と、ユニット管理による信頼性の向上
を同時に達成することが可能となり、IC実装々置の商品
力向上に大なる効果を有する。
As described above, according to the present invention, it is possible to reduce the wiring and connection density on a circuit board by arranging chip units on which a plurality of IC chips are mounted on a circuit board.
It is possible to improve the IC mounting density and the reliability by unit management at the same time, which has a great effect on improving the product competitiveness of each IC mounting.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明のメモリカードの平面図、第2図、第3
図及び第6図第7図は本発明のチップユニットの平面図
及び断面図、第4図及び第5図は本発明の回路基板の平
面図及び裏面図、第8図は従来のメモリカードの平面
図、第9図及び第10図は従来のメモリカードの部分平面
図及び部分断面図である。 1……回路基板、 5、10……メモリカード、 B1〜B4……チップユニット、 D1〜D4……ICチップ。
FIG. 1 is a plan view of a memory card of the present invention, and FIGS.
FIGS. 6 and 7 are plan and sectional views of the chip unit of the present invention, FIGS. 4 and 5 are plan and rear views of the circuit board of the present invention, and FIG. 8 is a conventional memory card. FIGS. 9 and 10 are a partial plan view and a partial cross-sectional view of a conventional memory card. 1 ...... circuit board, 5,10 ...... memory card, B 1 .about.B 4 ...... chip unit, D 1 to D 4 ...... IC chip.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】複数の共通接続端子を有するメモリ用ICチ
ップを外部接続端子を有する回路基板上に多数個実装
し、各ICチップの共通接続端子を前記回路基板の外部接
続端子に接続してなるIC実装々置に於いて、前記多数の
ICチップを複数のグループに分け、各グループを構成す
る複数のICチップを補助基板上に実装して複数のチップ
ユニットを構成するとともに、前記回路基板上に各チッ
プユニットを整列配設し、各チップユニットに設けられ
たユニット接続端子間の接続と、前記外部接続端子への
接続を前記回路基板上の配線パターンにより行うことを
特徴とするIC実装装置。
An IC chip for a memory having a plurality of common connection terminals is mounted on a circuit board having an external connection terminal, and a common connection terminal of each IC chip is connected to the external connection terminal of the circuit board. In many IC mounting locations,
IC chips are divided into a plurality of groups, a plurality of IC units constituting each group are mounted on an auxiliary substrate to form a plurality of chip units, and each chip unit is arranged and arranged on the circuit board. An IC mounting device, wherein connection between unit connection terminals provided on a chip unit and connection to the external connection terminal are performed by a wiring pattern on the circuit board.
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