JP3123338B2 - Integrated circuit device - Google Patents

Integrated circuit device

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JP3123338B2
JP3123338B2 JP06067126A JP6712694A JP3123338B2 JP 3123338 B2 JP3123338 B2 JP 3123338B2 JP 06067126 A JP06067126 A JP 06067126A JP 6712694 A JP6712694 A JP 6712694A JP 3123338 B2 JP3123338 B2 JP 3123338B2
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雅男 岩田
芳和 末廣
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泉 岡本
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    • HELECTRICITY
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    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/18Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • H05K1/181Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with surface mounted components

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  • Dram (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体ICチップや電
子部品を高密度に実装した集積回路装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an integrated circuit device on which semiconductor IC chips and electronic components are mounted at high density.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子機器の小形化にともなって、
その中で使用される集積メモリ回路に対して、高集積化
および高密度実装化が要求されている。半導体ICチッ
プや電子部品を集積した半導体集積回路装置は、現在、
さまざまな電子回路装置において使用されている。従来
の半導体集積回路装置では、樹脂モールドによって形成
されたプラスチックパッケージ構造のICチップが、プ
リント配線基板(以下、「配線基板」と記す)上に平面
的に実装されている。それぞれのICチップと配線基板
との接続は、半田付けによって行われることが多い。
2. Description of the Related Art In recent years, as electronic devices have become smaller,
High integration and high density mounting are required for the integrated memory circuits used therein. Semiconductor integrated circuit devices that integrate semiconductor IC chips and electronic components are currently
Used in various electronic circuit devices. In a conventional semiconductor integrated circuit device, an IC chip having a plastic package structure formed by resin molding is planarly mounted on a printed wiring board (hereinafter, referred to as a “wiring board”). The connection between each IC chip and the wiring board is often made by soldering.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来技
術の平面実装タイプの集積メモリ回路には、以下に示す
ような課題を有していた。
However, the conventional planar mounting type integrated memory circuit has the following problems.

【0004】(1) CPUの性能向上にともなって、
主記憶回路のメモリ容量の拡大が必要である。同じ性能
のメモリICを使用してメモリ容量を2倍にするために
は、使用されるメモリICの数も2倍になるが、従来の
平面実装タイブの集積メモリ回路では、実装に必要な配
線基板面積も同時に2倍またはそれ以上増加する。この
結果、集積メモリ回路を備える電子回路装置の小形化が
進まなくなる。
(1) With the improvement of CPU performance,
It is necessary to increase the memory capacity of the main storage circuit. In order to double the memory capacity by using memory ICs having the same performance, the number of memory ICs used is also doubled. However, in the case of a conventional planar mounting type integrated memory circuit, the wiring required for mounting is required. The substrate area also doubles or more at the same time. As a result, downsizing of the electronic circuit device including the integrated memory circuit does not progress.

【0005】(2) 上記の(1)のような配線基板面
積の拡大は、配線基板の面積あたりの単価が高いため
に、集積メモリ装置のコスト増加を招く。さらに、配線
基板上での配線が長くなるため、配線インピーダンスが
増加する。その結果、信号波形の変形など伝送特性の劣
化や高周波信号に対する応答特性の劣化などの問題が生
じる。
(2) The enlargement of the wiring board area as in the above (1) causes an increase in the cost of the integrated memory device because the unit price per wiring board area is high. Further, since the length of the wiring on the wiring board becomes longer, the wiring impedance increases. As a result, problems such as deterioration of transmission characteristics such as deformation of a signal waveform and deterioration of response characteristics to a high-frequency signal occur.

【0006】(3) 端子間隔を狭ピッチ化してパッケ
ージ面積を小形化したメモリICを使用すれば、実装に
必要な配線基板面積の増加をある程度まで抑制すること
ができる。しかし、狭端子ピッチ化されたメモリICに
対しては従来の実装技術が使用できず、実装技術の高度
化が必要になるという新たな問題点が発生する。
(3) The use of a memory IC having a smaller package area by narrowing the terminal intervals to a small pitch can suppress an increase in the wiring board area required for mounting to a certain extent. However, the conventional mounting technology cannot be used for the memory IC having the narrow terminal pitch, and a new problem that the mounting technology needs to be advanced occurs.

【0007】上記のような従来技術の平面実装タイプの
集積メモリ回路の問題点を克服するために、複数のメモ
リICチップを多階層に積層して実装する多階層集積メ
モリ回路が、例えば特公平5−14427号や米国特許
第4,982,265号に開示されている。これらの多階
層集積メモリ回路では、各階層のメモリICチップのい
ずれかを選択的にアクセスするための信号が入力される
リード端子(以下、「選択端子」と記す)は、階層毎に
端子形状や位置を異なるものにして、それぞれ独立して
配線基板に接続される。一方、電源端子や接地端子など
各階層のメモリICチップに対して同じ機能を有する信
号が入力される端子(以下、「共通端子」と記す)は、
半田付けなどによってお互いに接続されて配線基板上の
同一のパッドに接続される。
In order to overcome the above-mentioned problems of the conventional planar mounting type integrated memory circuit, a multi-layer integrated memory circuit in which a plurality of memory IC chips are stacked in multiple layers and mounted is disclosed in No. 5,144,427 and U.S. Pat. No. 4,982,265. In these multi-layer integrated memory circuits, a lead terminal (hereinafter, referred to as a “selection terminal”) to which a signal for selectively accessing one of the memory IC chips of each layer is input has a terminal shape for each layer. And different positions, and each is independently connected to the wiring board. On the other hand, a terminal (hereinafter, referred to as a “common terminal”) to which a signal having the same function is input to a memory IC chip of each layer, such as a power terminal and a ground terminal,
They are connected to each other by soldering or the like and connected to the same pad on the wiring board.

【0008】しかし、上記のようなリード端子の接続構
造を有する従来技術の多階層集積メモリ回路では、以下
のような課題を有していた。
However, the conventional multi-level integrated memory circuit having the above-described lead terminal connection structure has the following problems.

【0009】(1) 共通端子については、各階層のメ
モリICチップのリード端子を直接半田付けするので、
接続部分の機械的強度が十分ではない。また、十分な接
続面積が確保できないので、接触抵抗などの点から電気
的に不安定になることがある。
(1) As for the common terminal, the lead terminal of the memory IC chip of each layer is directly soldered.
The mechanical strength of the connection is not sufficient. In addition, since a sufficient connection area cannot be secured, it may become electrically unstable in terms of contact resistance and the like.

【0010】(2) 各階層のメモリICチップの共通
端子をすべて一緒に半田付けするので、いずれかの階層
のメモリICチップに欠陥があってリペア作業が必要に
なった場合、リペア対象が1階層であっても全階層を一
度取り外さなければならない。
(2) Since all the common terminals of the memory IC chips of each layer are soldered together, if the memory IC chip of any layer has a defect and a repair operation is required, the repair target is one. Even if it is a hierarchy, all the hierarchies must be removed once.

【0011】特開平4−26152号は、以上の問題を
解決する目的で、異なった形状を有する多階層集積メモ
リ回路を開示している。この多階層集積メモリ回路で
は、多階層化されるそれぞれのメモリICについて、お
互いのリード端子が重ならないように、各ICの端子を
異なった位置に形成している。すなわち、各ICの外周
辺の一部ずつにのみリード端子を設けることにより、多
階層化しても、各階層のリード端子を重ねることなくす
べての端子を独立に配線基板に接続することができる。
このような構造にすることによって、ある特定の階層の
メモリICのみを取り外すことが可能になり、リペア作
業の効率が向上する。
Japanese Patent Laying-Open No. 4-26152 discloses a multi-level integrated memory circuit having different shapes for the purpose of solving the above problems. In this multi-layer integrated memory circuit, the terminals of each IC are formed at different positions so that the lead terminals of the respective memory ICs to be multi-layered do not overlap. That is, by providing the lead terminals only in a part of the outer periphery of each IC, even if the layers are multi-layered, all the terminals can be independently connected to the wiring board without overlapping the lead terminals of each layer.
With such a structure, it is possible to remove only the memory IC of a certain specific hierarchy, and the efficiency of the repair work is improved.

【0012】しかし、この構造では、端子間隔を狭ピッ
チ化しない限り、各ICの端子数は従来のものより少な
くならなければならず、機能的に制約される場合があ
る。
However, in this structure, unless the terminal interval is narrowed, the number of terminals of each IC must be smaller than that of the conventional IC, and there is a case where the function is restricted.

【0013】本発明は、上述のような従来技術の課題を
解決するためになされたものであり、(1)多階層化に
よって、高密度実装化される、(2)信号伝送特性や高
周波特性の劣化が防止できる、(3)搭載されている半
導体素子の故障や不良によるリペア作業効率が改善され
る、(4)入出力されるデータ信号のビット幅を容易に
選択できる、という特徴を有する集積回路装置を提供す
ることを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art. (1) High-density mounting by multi-layering, (2) Signal transmission characteristics and high-frequency characteristics (3) the repair work efficiency due to the failure or failure of the mounted semiconductor element is improved, and (4) the bit width of the input / output data signal can be easily selected. It is an object to provide an integrated circuit device.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の集積回路装置は、同一構造のモジュールが
上下に積層されてなるモジュールユニットが複数個マザ
ーボード上に実装された集積回路装置であって、前記モ
ジュールは複数の半導体素子が実装された基板と、前記
基板の相対する外周辺に沿って設けられた2つのリード
端子列とを有し、一方のリード端子列は前記半導体素子
に対する信号の割り付けがないノンコネクト端子から構
成され、他方のリード端子列は前記半導体素子に対する
信号の割り付けがある信号割付端子から構成されるとと
もに、下層モジュールのノンコネクト端子側のリード端
子列と上層モジュールの信号割付端子側のリード端子列
とが接続されるように前記上層モジュールを前記下層モ
ジュールに対して180°回転配置した構成としたもの
である。
In order to solve the above problems, an integrated circuit device according to the present invention comprises a module having the same structure.
Multiple module units stacked vertically
An integrated circuit device mounted on a board, wherein the
Joule is a board on which a plurality of semiconductor elements are mounted,
Two leads provided along opposite outer perimeters of the substrate
A terminal row, and one of the lead terminal rows is the semiconductor element.
From a non-connect terminal that has no signal assigned to
And the other row of lead terminals is connected to the semiconductor element.
If it consists of signal assignment terminals with signal assignment
The lead end on the non-connect terminal side of the lower module
Child row and lead terminal row on the signal assignment terminal side of the upper module
The upper module is connected to the lower module so that
The configuration is such that it is arranged to be rotated by 180 ° with respect to the joule .

【0015】[0015]

【作用】この構成によって、電子回路装置の実装はマザ
ーボードに取り付けたカードエッジコネクタを挿入接続
するだけでよく、半田付けの工程が不要となる。
With this configuration, the electronic circuit device can be mounted only by inserting and connecting the card edge connector attached to the motherboard, and the soldering step is not required.

【0016】また限られた面積の電子回路装置に実装す
るモジュールユニットは、モジュールを回路規模に応じ
て積み重ねることができるので高密度実装が実現でき、
配線長が長くなることによる信号の伝送特性の劣化や、
高周波特性が劣化することがなくなる。
A module unit to be mounted on an electronic circuit device having a limited area can be stacked in accordance with the circuit scale, so that high-density mounting can be realized.
Deterioration of signal transmission characteristics due to long wiring length,
The high frequency characteristics do not deteriorate.

【0017】[0017]

【実施例】以下に、実施例を参照して、本発明を説明す
る。以下の説明では、本発明をメモリ回路に適用し、本
発明の多階層半導体集積回路装置を多階層集積メモリ回
路として説明する。
The present invention will be described below with reference to examples. In the following description, the present invention is applied to a memory circuit, and the multi-layer semiconductor integrated circuit device of the present invention will be described as a multi-layer integrated memory circuit.

【0018】(実施例1) 図1は、本発明の第1の実施例における多階層集積メモ
リ回路を実装したモジュールボード8の斜視図である。
Embodiment 1 FIG. 1 is a perspective view of a module board 8 on which a multi-level integrated memory circuit according to a first embodiment of the present invention is mounted.

【0019】本発明の集積メモリ回路では、複数の半導
体素子を備えたモジュールを利用して、回路の高集積化
および高密度実装化を実現する。具体的には、2つのモ
ジュールを準備し、そのうちの一方を第1のモジュール
3、もう一方を第2のモジュール4とする。そして、第
2のモジュール4の上に第1のモジュール3を積層し
て、モジュールユニット2を構成する。図1の例では、
9つのモジュールユニット2が銅張り積層配線基板1
(以下、「配線基板」と記す)の上に実装されて、モジ
ュールボード8を構成している。モジュールボード8の
大きさは、典型的には107.95mm×24.5mm
である。また、第1および第2のモジュール3および4
の大きさは、典型的には11mm×16mmである。
In the integrated memory circuit of the present invention, high integration and high-density mounting of the circuit are realized by using a module having a plurality of semiconductor elements. Specifically, two modules are prepared, one of which is a first module 3 and the other is a second module 4. Then, the first module 3 is stacked on the second module 4 to form the module unit 2. In the example of FIG.
Nine module units 2 consist of copper-clad laminated wiring board 1
(Hereinafter, referred to as a “wiring board”) to constitute a module board 8. The size of the module board 8 is typically 107.95 mm × 24.5 mm
It is. Also, the first and second modules 3 and 4
Is typically 11 mm × 16 mm.

【0020】第2のモジュール4には、ガルウイング型
リード端子6が形成されて、配線基板1に電気的に接続
されている。また、第1のモジュール3には、コ状の形
状を有する角型リード端子5が形成されて、第2のモジ
ュール4のガルウイング型リード端子に電気的に接続さ
れている。これによって、第1および第2のモジュール
3および4は、どちらも配線基板1に電気的に接続され
る。なお、後に詳述するように、第1および第2のモジ
ュール3および4は、リード端子の形状がガルウイング
型であるかあるいは角型であるかという点を除いて、同
一の構造を有している。
A gull-wing type lead terminal 6 is formed on the second module 4 and is electrically connected to the wiring board 1. Further, the first module 3 is formed with a square lead terminal 5 having a U-shape, and is electrically connected to the gull-wing lead terminal of the second module 4. Thereby, both the first and second modules 3 and 4 are electrically connected to the wiring board 1. As described later in detail, the first and second modules 3 and 4 have the same structure except that the shape of the lead terminal is a gull-wing type or a square type. I have.

【0021】多階層構造の上層部に実装される第1のモ
ジュール3のリード端子を角型とすることで、本発明の
多階層集積メモリ回路では、各モジュールのリード端子
間の接続面積を十分に確保できる。これによって、リー
ド端子の接続部の機械的強度や電気的安定性を確保する
ことができる。さらに、リード端子間の接続面積を増や
したい場合には、簡単な設計変更のみで容易に実現でき
る。
By making the lead terminals of the first module 3 mounted on the upper layer of the multi-layer structure square, the multi-layer integrated memory circuit of the present invention has a sufficient connection area between the lead terminals of each module. Can be secured. Thereby, the mechanical strength and electrical stability of the connection part of the lead terminal can be ensured. Further, when it is desired to increase the connection area between the lead terminals, it can be easily realized only by a simple design change.

【0022】モジュールボード8は、カードエッジコネ
クタの雄型接続部7を有していることが好ましい。各モ
ジュールボード8がそのようなカードエッジコネクタの
雄型接続部7を有し、これらのモジュールボード8を装
着すべき電子機器に、相対するカードエッジコネクタの
雌型接続部を多数設けたマザーボードを設ければ、カー
ドエッジコネクタの挿抜のみで、メモリ容量の増減を容
易に行うことができる。
The module board 8 preferably has a male connector 7 of a card edge connector. Each module board 8 has such a male connector 7 of a card edge connector, and an electronic device to which these module boards 8 are to be mounted is provided with a motherboard provided with a large number of female connectors of the corresponding card edge connector. If provided, the memory capacity can be easily increased or decreased only by inserting and removing the card edge connector.

【0023】なお、図1に示す例では、各モジュールユ
ニット2のガルウイング型リード端子6および角型リー
ド端子5列は、カードエッジコネクタの雄型接続部7の
端子列と平行になるように配列している。しかし、この
ような方向に限られるものではない。
In the example shown in FIG. 1, the rows of the gull-wing type lead terminals 6 and the square type lead terminals 5 of each module unit 2 are arranged so as to be parallel to the terminal rows of the male connection part 7 of the card edge connector. are doing. However, it is not limited to such a direction.

【0024】次に、図2を参照して、第1および第2の
モジュール3および4(以下、総称的に「モジュール1
0」と記す)の構造を説明する。
Next, referring to FIG. 2, first and second modules 3 and 4 (hereinafter collectively referred to as “module 1
0 ”) will be described.

【0025】各モジュール10は、四辺形の絶縁性の枠
体16の中に、配線基板であるモジュール基板11を有
している。モジュール基板11の上には、複数のメモリ
ICチップ12、および複数の表面実装型チップコンデ
ンサ13(以下、「チップコンデンサ」と記す)が実装
されている。
Each module 10 has a module substrate 11 as a wiring substrate in a quadrangular insulating frame 16. A plurality of memory IC chips 12 and a plurality of surface mount chip capacitors 13 (hereinafter, referred to as “chip capacitors”) are mounted on the module substrate 11.

【0026】実装されているメモリICチップ12およ
びチップコンデンサ13と外部回路との電気的接続は、
複数のリード端子14を平行に配置したリード端子列1
5によって行われる。リード端子列15は、枠体16の
相対する外周辺上に、枠体16を貫通してモジュール1
0の内部および外部に突出するように形成されている。
各リード端子14は、枠体16によって保持されてい
る。リード端子14のうち、枠体16の内部に突出して
いる部分がインナーリード14a、枠体16の外部に突
出している部分がアウターリード14bである。
The electrical connection between the mounted memory IC chip 12 and chip capacitor 13 and the external circuit is as follows.
Lead terminal row 1 in which a plurality of lead terminals 14 are arranged in parallel
5 is performed. The lead terminal row 15 extends through the frame 16 on the outer periphery of the module 16 opposite to the frame 16.
0 is formed so as to protrude inside and outside.
Each lead terminal 14 is held by a frame 16. Of the lead terminals 14, the portion protruding inside the frame 16 is the inner lead 14a, and the portion protruding outside the frame 16 is the outer lead 14b.

【0027】先に述べたように、第1のモジュール3と
第2のモジュール4とでは、リード端子列15の形状の
みが異なる。すなわち、第1のモジュール3ではリード
端子列15が角型に、一方、第2のモジュール4ではガ
ルウイング型に成形される。
As described above, the first module 3 and the second module 4 differ only in the shape of the lead terminal row 15. That is, in the first module 3, the lead terminal row 15 is formed in a square shape, while in the second module 4, the lead terminal row 15 is formed in a gull wing type.

【0028】メモリICチップ12は、例えば、メモリ
ICチップ12上の電極パッド(図示せず)にバンプを
形成し、そのバンプとモジュール基板11の配線パター
ン(図示せず)とをフェイスダウンボンディングするこ
とによって実装される。あるいは、メモリICチップ1
2をモジュール基板11にダイボンディングして、メモ
リICチップ12上の電極パッドとモジュール基板11
の配線パターンとをワイヤボンディングによって接続し
てもよい。
In the memory IC chip 12, for example, a bump is formed on an electrode pad (not shown) on the memory IC chip 12, and the bump and a wiring pattern (not shown) of the module substrate 11 are face-down bonded. Implemented by: Alternatively, the memory IC chip 1
2 is die-bonded to the module substrate 11 so that the electrode pads on the memory IC chip 12 and the module substrate 11
May be connected by wire bonding.

【0029】図2に示す実施例では、メモリICチップ
12は、お互いに隣りあうチップの長辺と短辺とが隣接
するように配置されて、モジュール基板11上の正方形
状の領域内に実装されている。4つのチップコンデンサ
13は、そのように配置されたメモリICチップ12の
中央部分に生じる正方形の領域に、同様な配置で実装さ
れている。これらのチップコンデンサ13は、それぞれ
のメモリICチップ12に接続する電源ラインと接地ラ
インとの間に各1つずつ接続される。メモリICチップ
12とチップコンデンサ13とをモジュール10に以上
のように配置して実装することによって、実装空間を節
約した高密度実装が可能になる。
In the embodiment shown in FIG. 2, the memory IC chips 12 are arranged such that the long sides and short sides of the chips adjacent to each other are adjacent to each other, and are mounted in a square area on the module substrate 11. Have been. The four chip capacitors 13 are mounted in a similar arrangement in a square area generated in the central portion of the memory IC chip 12 arranged as described above. Each of these chip capacitors 13 is connected between a power supply line connected to each memory IC chip 12 and a ground line. By arranging and mounting the memory IC chip 12 and the chip capacitor 13 on the module 10 as described above, high-density mounting that saves a mounting space becomes possible.

【0030】次に、図3を参照して、モジュール10の
回路を説明する。本実施例では、モジュール10に実装
される4つのメモリICチップとして、4つの4Mbi
tのDRAM120〜123(以下、「DRAM#0〜
#3」と記す)を使用する。したがって、1つのモジュ
ール10は、計16Mbitの記憶容量を有することに
なる。
Next, the circuit of the module 10 will be described with reference to FIG. In the present embodiment, four 4Mbi as four memory IC chips mounted on the module 10
t DRAMs 120 to 123 (hereinafter, “DRAM # 0 to DRAM # 0”
# 3 "). Therefore, one module 10 has a total storage capacity of 16 Mbit.

【0031】これらのDRAM#0〜#3に対して、ア
ドレス信号を与えるアドレスバス(A0〜A10)21
およびデータ書き込み信号(ライトイネーブル信号)を
与える/WE信号ライン28は、共通に接続される。な
お、図3には図示していないが、電源ラインおよび接地
ラインも、各DRAM#0〜#3に共通に接続される。
また、図1および図2に示したチップコンデンサ13
(図3には図示せず)は、サージ吸収などの目的のため
に電源ラインと接地ラインの間に接続される。
Address buses (A0 to A10) 21 for supplying address signals to these DRAMs # 0 to # 3
And a / WE signal line 28 for supplying a data write signal (write enable signal) is commonly connected. Although not shown in FIG. 3, a power supply line and a ground line are commonly connected to each of the DRAMs # 0 to # 3.
Further, the chip capacitor 13 shown in FIGS.
(Not shown in FIG. 3) is connected between the power supply line and the ground line for the purpose of surge absorption or the like.

【0032】列アドレスストローブ信号を与える配線と
して、DRAM#0および#1に接続されている/RA
S0ライン22、およびDRAM#2および#3に接続
されている/RAS1ライン23がある。各DRAMに
行アドレスストローブ信号を与える/CAS0〜/CA
S3ライン24〜27、および各DRAMからデータの
入出力を行うデータバス(D0〜D3)29〜32は、
各DRAM#0〜#3に1本ずつ接続される。なお、各
データバス(D0〜D3)29〜32からは、データが
1bitずつ入出力される。
As a line for supplying a column address strobe signal, / RA connected to DRAMs # 0 and # 1
There is a S0 line 22 and a / RAS1 line 23 connected to DRAMs # 2 and # 3. Applying a row address strobe signal to each DRAM / CAS0- / CA
S3 lines 24 to 27 and data buses (D0 to D3) 29 to 32 for inputting / outputting data from / to each DRAM are
One DRAM is connected to each of the DRAMs # 0 to # 3. It should be noted that data is input / output one bit at a time from each of the data buses (D0 to D3) 29 to 32.

【0033】このような回路構成を有するモジュール1
0では、列および行アドレスストローブ信号ライン(/
RAS0、/RAS1、/CAS0〜/CAS3)を適
宜組み合わせて信号を入力することによって、入出力デ
ータのbit幅を1bit単位、2bit単位および4
bit単位と設定することができる。
Module 1 having such a circuit configuration
At 0, the column and row address strobe signal lines (/
RAS0, / RAS1, and / CAS0 to / CAS3) are appropriately combined to input a signal, so that the bit width of input / output data can be set in units of 1 bit, 2 bits, and 4 bits.
It can be set in bit units.

【0034】例えば、すべての列および行アドレススト
ローブ信号ライン(/RAS0、/RAS1、/CAS
0〜/CAS3)を短絡せず、それぞれに独立の信号を
与えれば、各DRAM#0〜#3中のデータバスD0〜
D3から1bit単位でデータが入出力される。一方、
/CAS0〜/CAS3信号ラインをすべてモジュール
10の外で短絡し、/RAS0および/RAS1信号ラ
インを独立させておくと、データバスD0とD1との組
合せ、およびD2とD3との組合せを単位にして、2b
it単位でデータを入出力することができる。さらに、
/RAS0、/RAS1および/CAS0〜/CAS3
信号ラインをすべてモジュール外で短絡すると、データ
バスD0〜D3の組合せを単位にして、4bit単位で
データが入出力される。
For example, all column and row address strobe signal lines (/ RAS0, / RAS1, / CAS)
0 // CAS3) without short-circuiting and providing independent signals to each other, the data buses D0-D0 in the DRAMs # 0- # 3
Data is input / output from D3 in 1-bit units. on the other hand,
If all the / CAS0 to / CAS3 signal lines are short-circuited outside the module 10 and the / RAS0 and / RAS1 signal lines are kept independent, the combination of the data buses D0 and D1 and the combination of D2 and D3 can be used as a unit. And 2b
Data can be input and output in it units. further,
/ RAS0, / RAS1 and / CAS0 // CAS3
When all the signal lines are short-circuited outside the module, data is input / output in units of 4 bits in units of combinations of the data buses D0 to D3.

【0035】次に、図4を参照して、モジュール10の
リード端子列15の信号の割付方法を説明する。
Next, with reference to FIG. 4, a method of allocating signals of the lead terminal array 15 of the module 10 will be described.

【0036】すでに説明したように、各モジュール10
は、相対する外周辺に沿って2つのリード端子列15a
および15bを有する。このうちの一方、例えば図4の
左側のリード端子列15bの端子は、モジュール10を
構成する回路の信号が割り付けられていないノンコネク
ト端子(以下、「NC端子」と記す)から構成されてい
る。もう一方のリード端子列15aの各端子には、実際
に信号が割り付けられる。その割付は、例えば、一方の
端から他の端へ順に、接地ライン端子20a、アドレス
バス(A0〜A10)端子21a、列アドレスストロー
ブ信号ライン(/RAS0および/RAS1)端子22
および23、行アドレスストローブ信号ライン(/CA
S0〜/CAS3)端子24a〜27a、ライトイネー
ブル信号ライン(/WE)端子28a、データバス(D
0〜D3)端子29a〜32a、および電源ライン端子
33aとなる。
As described above, each module 10
Are two lead terminal rows 15a along the opposite outer periphery.
And 15b. One of the terminals, for example, the terminal of the lead terminal row 15b on the left side in FIG. 4 is configured by a non-connect terminal (hereinafter, referred to as an “NC terminal”) to which signals of circuits constituting the module 10 are not allocated. . A signal is actually assigned to each terminal of the other lead terminal row 15a. The assignment is performed, for example, in order from one end to the other end, a ground line terminal 20a, an address bus (A0 to A10) terminal 21a, and a column address strobe signal line (/ RAS0 and / RAS1) terminal 22.
And 23, row address strobe signal lines (/ CA
S0 / CAS3) terminals 24a-27a, write enable signal line (/ WE) terminal 28a, data bus (D
0 to D3) terminals 29a to 32a and a power supply line terminal 33a.

【0037】実際の実装にあたっては、リード端子列1
5aおよび15bに以上のように信号を割り付けた同一
構造のモジュール10を、2つ用意する。それら2つの
モジュールの一方では、リード端子列15aおよび15
bを角型に成形して、第1のモジュール3とする。ま
た、もう一方のモジュールでは、リード端子列15aお
よび15bをガルウイング型に成形して、第2のモジュ
ール4とする。
In actual mounting, the lead terminal row 1
Two modules 10 having the same structure in which signals are allocated to 5a and 15b as described above are prepared. One of the two modules includes lead terminal rows 15a and 15a.
b is formed into a square shape to obtain a first module 3. In the other module, the lead terminal rows 15a and 15b are formed into a gull-wing type to form a second module 4.

【0038】そして、第2のモジュール4のNC端子側
のリード端子列15bの上に、第1のモジュール3の信
号割付側の端子列15aが配置されるように、第1のモ
ジュール3を180°回転させる。こうして、第1およ
び第2のモジュール3および4は積み重ねて、リード端
子列15aおよび15bの中の相対する位置にある各リ
ード端子同士を半田付けによって接続して、図1に示し
たモジュールユニット2を形成する。モジュールユニッ
ト2は、その後に配線基板1の上に実装される。
Then, the first module 3 is turned 180 degrees so that the terminal row 15a on the signal allocation side of the first module 3 is arranged on the lead terminal row 15b on the NC terminal side of the second module 4. Rotate °. In this manner, the first and second modules 3 and 4 are stacked, and the respective lead terminals at opposing positions in the lead terminal rows 15a and 15b are connected to each other by soldering, so that the module unit 2 shown in FIG. To form The module unit 2 is thereafter mounted on the wiring board 1.

【0039】すでに説明したように、本実施例で使用す
るモジュール10では、列および行アドレスストローブ
信号ライン(/RAS0、/RAS1、/CAS0〜/
CAS3)を適宜短絡して組み合わせて、それぞれの組
合せに対して信号を入力することによって、入出力デー
タのbit幅を1bit単位、2bit単位、あるいは
4bit単位というように設定することができる。2つ
のモジュール10を積層して形成したモジューユニット
2に対して、同じ様に信号ラインの短絡を行えば、デー
タを1〜8bit単位で入出力することが可能になる。
As described above, in the module 10 used in the present embodiment, the column and row address strobe signal lines (/ RAS0, / RAS1, / CAS0 // CAS0) are used.
CAS3) are appropriately short-circuited and combined, and a signal is input to each combination, so that the bit width of the input / output data can be set in units of 1 bit, 2 bits, or 4 bits. If the signal line is similarly short-circuited to the module unit 2 formed by laminating two modules 10, data can be input / output in units of 1 to 8 bits.

【0040】例えば、1bit単位でデータの入出力を
行うためには、第1および第2のモジュール3および4
のすべての/RAS信号ライン端子および/CAS信号
ライン端子を独立させて、独立の信号を与えればよい。
For example, in order to input / output data in 1-bit units, the first and second modules 3 and 4
All of the / RAS signal line terminals and / CAS signal line terminals may be made independent to provide independent signals.

【0041】また、2bit単位でデータを入出力する
ためには、第1および第2のモジュール3および4の対
応するアドレスバス(A0〜A10)端子同士(例え
ば、第1のモジュール3のA0バス端子と第2のモジュ
ール4のA0バス端子)をそれぞれモジュール10の外
で短絡して、他の端子を独立に扱う。この場合には、第
1のモジュール3および第2のモジュール4の対応する
バスライン(例えば、双方のD0バス同士)で構成され
る組合せが、データ入出力の単位になる。一方、第1の
モジュール3の/CAS信号ライン端子をモジュールの
外で短絡し、第2のモジュール4の/CAS信号ライン
端子をモジュール外で短絡して、他の端子を独立に扱っ
ても、2bit単位のデータの入出力が可能になる。こ
の場合には、第1のモジュール3のD0バスとD1バ
ス、D2バスとD3バス、第2のモジュール4のD0バ
スとD1バス、D2バスとD3バスで構成される組合せ
が、データ入出力の単位になる。
In order to input / output data in units of 2 bits, the corresponding address bus (A0 to A10) terminals of the first and second modules 3 and 4 (for example, the A0 bus of the first module 3) The terminal and the A0 bus terminal of the second module 4 are short-circuited outside the module 10, and the other terminals are handled independently. In this case, a combination constituted by the corresponding bus lines of the first module 3 and the second module 4 (for example, both D0 buses) is a data input / output unit. On the other hand, even if the / CAS signal line terminal of the first module 3 is short-circuited outside the module, the / CAS signal line terminal of the second module 4 is short-circuited outside the module, and the other terminals are handled independently, Input / output of data in units of 2 bits becomes possible. In this case, the combination of the D0 bus and the D1 bus of the first module 3, the D2 bus and the D3 bus, the D0 bus and the D1 bus of the second module 4, and the D2 bus and the D3 bus are data input / output. Unit.

【0042】4bit単位でデータを入出力するために
は、以下のような端子を接続する。第1および第2のモ
ジュール3および4の対応するアドレスバス(A0〜A
10)端子同士(例えば、第1のモジュール3のA0バ
ス端子と第2のモジュール4のA0バス端子)をそれぞ
れモジュール10の外で短絡するとともに、第1のモジ
ュール3の/CAS信号ライン端子グループ、および/
RAS信号ライン端子グループ、第2のモジュール4の
/CAS信号ライン端子グループ、および/RAS信号
ライン端子グループを、それぞれのグループ毎にモジュ
ールの外で短絡する。そして、各グループ毎に、独立の
信号を与えればよい。この場合、第1のモジュール3の
D0〜D3バスの組合せ、および第2のモジュール4の
D0〜D3バスの組合せが、それぞれデータ入出力の単
位である。
To input and output data in 4-bit units, the following terminals are connected. The corresponding address buses (A0-A) of the first and second modules 3 and 4
10) The terminals (for example, the A0 bus terminal of the first module 3 and the A0 bus terminal of the second module 4) are short-circuited outside the module 10 and the / CAS signal line terminal group of the first module 3 ,and/
The RAS signal line terminal group, the / CAS signal line terminal group of the second module 4 and the / RAS signal line terminal group are short-circuited outside the module for each group. Then, an independent signal may be given to each group. In this case, the combination of the D0 to D3 buses of the first module 3 and the combination of the D0 to D3 buses of the second module 4 are data input / output units.

【0043】あるいは、第1および第2のモジュール3
および4の対応するアドレスバス(A0〜A10)端子
同士をそれぞれモジュール10の外で短絡するととも
に、第1のモジュール3の/CAS信号ライン端子グル
ープ、第2のモジュール4の/CAS信号ライン端子グ
ループを各グループ毎に短絡して、残りの端子を独立に
扱ってもよい。これによって、第1のモジュール3のD
0およびD1ならびに第2のモジュール4のD0および
D1の計4つのバスの組合せ、および残りの4つのバス
の組合せをそれぞれ単位として、4bit単位でデータ
の入出力を行うことができる。
Alternatively, the first and second modules 3
And 4 corresponding address bus (A0 to A10) terminals are short-circuited outside the module 10, respectively, and the / CAS signal line terminal group of the first module 3 and the / CAS signal line terminal group of the second module 4 are shorted. May be short-circuited for each group, and the remaining terminals may be handled independently. Thereby, the D of the first module 3
Data can be input / output in units of 4 bits by using a combination of four buses of 0 and D1 and D0 and D1 of the second module 4, and a combination of the remaining four buses as units.

【0044】さらに、8bit単位でデータを入出力す
るためには、第1および第2のモジュール3および4の
アドレスバスA0〜A10の対応する端子同士をそれぞ
れモジュール外で短絡するとともに、第1のモジュール
3の/CAS信号ライン端子グループ、第2のモジュー
ル4の/CAS信号ライン端子グループ、および第1お
よび第2のモジュール3および4のすべての/RAS信
号ライン端子グループを、それぞれのグループ毎にモジ
ュールの外で短絡する。各グループに独立の信号を与え
れば、第1および第2のモジュール3および4のすべて
のデータバスの8つの端子で構成される8bitの組合
せが、データ入出力の単位である。
Further, in order to input / output data in units of 8 bits, the corresponding terminals of the address buses A0 to A10 of the first and second modules 3 and 4 are short-circuited outside the respective modules, and the first The / CAS signal line terminal group of the module 3, the / CAS signal line terminal group of the second module 4, and all the / RAS signal line terminal groups of the first and second modules 3 and 4, Short circuit outside of module. If an independent signal is given to each group, a combination of 8 bits composed of eight terminals of all data buses of the first and second modules 3 and 4 is a unit of data input / output.

【0045】次に、図5を参照して、モジュールユニッ
ト2のリード端子列15の周辺回路を説明する。図5
は、8bit単位でデータの入出力ができるように配線
した場合の回路図である。
Next, a peripheral circuit of the lead terminal array 15 of the module unit 2 will be described with reference to FIG. FIG.
FIG. 3 is a circuit diagram when wiring is performed so that data can be input and output in units of 8 bits.

【0046】図5に示されるモジュールユニット2は、
図2〜図4で説明した構造、回路およびリード端子配列
を有する第1のモジュール3と第2のモジュール4とを
積層して構成したものである。すでに説明したように、
第1および第2のモジュール3および4は、それぞれ1
6Mbitの記憶容量を有するので、モジュールユニッ
ト2全体では計32bitの記憶容量を有する。
The module unit 2 shown in FIG.
This is configured by laminating a first module 3 and a second module 4 having the structure, circuit, and lead terminal arrangement described in FIGS. As already explained,
The first and second modules 3 and 4 each have 1
Since it has a storage capacity of 6 Mbits, the module unit 2 as a whole has a storage capacity of 32 bits in total.

【0047】図3にて説明したように、それぞれのモジ
ュール3および4には、アドレスバスA0〜A10、デ
ータバスD0〜D3、ならびに/WE、/RAS0、/
RAS1および/CAS0〜/CAS3の各信号ライン
が接続される。
As described with reference to FIG. 3, each of the modules 3 and 4 has address buses A0 to A10, data buses D0 to D3, and / WE, / RAS0, / RAS.
The signal lines RAS1 and / CAS0 to / CAS3 are connected.

【0048】このうち、アドレスバス36、/WE信号
ライン43、および各/CAS信号ライン39〜42
は、それぞれモジュールユニット2の外で短絡され、第
1および第2のモジュール3および4の相対する端子に
それぞれ同じ信号を与えるように配線されている。ま
た、第1のモジュール3の2つの/RAS信号ライン、
および第2のモジュール4の2つの/RAS信号ライン
は、それぞれがモジュールユニット2の外で短絡され、
第1のモジュール3に1つの/RAS信号を与える/R
AS0m信号ライン37および第2のモジュール4に1
つの/RAS信号を与える/RAS1m信号ライン38
を構成している。
The address bus 36, the / WE signal line 43, and the / CAS signal lines 39-42
Are short-circuited outside the module unit 2 and are wired so as to give the same signal to the opposite terminals of the first and second modules 3 and 4, respectively. Also, two / RAS signal lines of the first module 3,
And the two / RAS signal lines of the second module 4 are each short-circuited outside the module unit 2,
Applying one / RAS signal to the first module 3 / R
1 for AS0m signal line 37 and second module 4
/ RAS1m signal line 38 which provides one / RAS signal
Is composed.

【0049】一方、データバスに関しては、第1のモジ
ュール3および第2のモジュール4毎のそれぞれについ
て、データバスD0〜D3で構成する4bit幅のデー
タバス44および45が構成される。さらに、それらを
まとめて、Du0〜Du7の8bit幅を有するデータ
バス46が構成される。
On the other hand, as for the data bus, 4-bit data buses 44 and 45 each composed of data buses D0 to D3 are formed for each of the first module 3 and the second module 4. Furthermore, a data bus 46 having an 8-bit width of Du0 to Du7 is configured by putting them together.

【0050】なお、図5には、電源ラインおよび接地ラ
インの配線パターンは図示していない。
FIG. 5 does not show the wiring patterns of the power supply line and the ground line.

【0051】この回路では、各バスおよびライン36〜
42にそれぞれ独立の信号を与えることによって、8b
it幅のデータバス46から8bit単位でデータが入
出力される。
In this circuit, each bus and line 36 to
By giving each independent signal to 42, 8b
Data is input and output in 8-bit units from the data bus 46 having an it width.

【0052】次に、図6を参照して、複数のモジュール
ユニット2およびその他のモジュールから構成されるメ
モリブロック160の回路図を説明する。
Next, a circuit diagram of a memory block 160 composed of a plurality of module units 2 and other modules will be described with reference to FIG.

【0053】図6に示すメモリブロック160は、4つ
のモジュールユニット(#0〜#3)480〜483、
モジュールユニットから独立したエキストラモジュール
47、およびドライバモジュール63を有する。このう
ち、エキストラモジュール47は、図3にて説明した回
路構成を有するもので、4MbitのDRAMが計4つ
実装され、全体で16Mbitのの記憶容量を有してい
る。
The memory block 160 shown in FIG. 6 has four module units (# 0 to # 3) 480 to 483,
It has an extra module 47 independent of the module unit and a driver module 63. Of these, the extra module 47 has the circuit configuration described with reference to FIG. 3, is equipped with a total of four 4 Mbit DRAMs, and has a total storage capacity of 16 Mbit.

【0054】一方、4つのモジュールユニット(#0〜
#3)480〜483はそれぞれ、図5を参照して説明
したように、8bit単位でデータの入出力が行われる
ように各端子が接続されている。それぞれのモジュール
ユニット(#0〜#3)480〜483は、同じく図5
を参照して説明したように、計32Mbitの記憶容量
を有する。各モジュールユニット(#0〜#3)480
〜483に接続されているバスおよびライン(A0〜A
10、/WE、/RAS0m、/RAS1m、/CAS
0〜/CAS3)は、図5にて説明した各バスおよびラ
インと同等の機能を有する。さらに、各モジュールユニ
ット(#0〜#3)480〜483に接続されているデ
ータバスDu0〜Du7は、図5で説明したように、8
bit単位でデータの入出力を行うように構成されてい
る。
On the other hand, four module units (# 0 to # 0)
# 3) As described with reference to FIG. 5, each of the terminals 480 to 483 is connected such that data input / output is performed in units of 8 bits. Each of the module units (# 0 to # 3) 480 to 483 is also shown in FIG.
As described with reference to, the storage capacity is 32 Mbit in total. Each module unit (# 0 to # 3) 480
Buses and lines (A0 to A
10, / WE, / RAS0m, / RAS1m, / CAS
0 // CAS3) have functions equivalent to those of the buses and lines described with reference to FIG. Further, the data buses Du0 to Du7 connected to the respective module units (# 0 to # 3) 480 to 483 are, as described with reference to FIG.
It is configured to input and output data in bit units.

【0055】これらのモジュールユニット(#0〜#
3)480〜483およびエキストラモジュール47に
対する配線は、以下のように説明される。
These module units (# 0 to #
3) Wiring to 480-483 and extra module 47 is described as follows.

【0056】アドレスバス49は、すべてのモジュール
ユニット(#0〜#3)480〜483およびエキスト
ラモジュール47に共通に接続されている。同様に、/
WE信号ライン56も、すべてのモジュールユニット
(#0〜#3)480〜483およびエキストラモジュ
ール47に共通に接続されている。したがって、アドレ
ス信号および/WE信号は、メモリブロック160に含
まれるすべてのメモリICチップに共通に与えられる。
The address bus 49 is commonly connected to all the module units (# 0 to # 3) 480 to 483 and the extra module 47. Similarly, /
The WE signal line 56 is also commonly connected to all the module units (# 0 to # 3) 480 to 483 and the extra module 47. Therefore, the address signal and / WE signal are commonly applied to all memory IC chips included in memory block 160.

【0057】/RAS信号ラインおよび/CAS信号ラ
インは、モジュールユニット(#0〜#3)480〜4
83およびエキストラモジュール47のあるものに選択
的に信号を与えるように、選択的に短絡されている。
The / RAS signal line and the / CAS signal line are connected to the module units (# 0 to # 3) 480 to 4
It is selectively shorted to selectively provide a signal to some of the 83 and extra modules 47.

【0058】例えば、モジュールユニット#0および#
2の/RASm0信号ラインと/RASm1信号ライ
ン、ならびにエキストラモジュール47の/RAS0信
号ラインは、すべて短絡されて1つの信号ライン(RA
S0)50になっている。同様に、残りの/RAS信号
ライン端子がすべて短絡され、別の1つの信号ライン
(RAS1)51になっている。
For example, module units # 0 and #
2 and the / RAS0 signal line of the extra module 47 are all short-circuited to one signal line (RA
S0) 50. Similarly, all the remaining / RAS signal line terminals are short-circuited to form another signal line (RAS1) 51.

【0059】また、/CAS信号ライン端子は、モジュ
ールユニット#0のすべての/CAS信号ライン端子と
エキストラモジュール47の/CAS0信号ライン端子
とが短絡されて、1つの信号ライン(CAS0)52に
なっている。同様に、モジュールユニット#1の全/C
AS信号端子とエキストラモジュール47の/CAS1
信号ライン端子、モジュールユニット#2の全/CAS
信号ライン端子とエキストラモジュール47の/CAS
2信号ライン端子、ならびにモジュールユニット#3の
全/CAS信号ライン端子とエキストラモジュール47
の/CAS3信号ライン端子とが、それぞれ短絡されて
別個のライン(CAS1、CAS2、CAS3)53〜
55になっている。
Further, all the / CAS signal line terminals of the module unit # 0 and the / CAS0 signal line terminal of the extra module 47 are short-circuited into one signal line (CAS0) 52. ing. Similarly, all / C of module unit # 1
AS signal terminal and / CAS1 of extra module 47
Signal line terminals, all / CAS of module unit # 2
/ CAS of signal line terminal and extra module 47
2 signal line terminals, all / CAS signal line terminals of module unit # 3 and extra module 47
/ CAS3 signal line terminals are short-circuited to separate lines (CAS1, CAS2, CAS3) 53-
It is 55.

【0060】一方、データバスは、それぞれのモジュー
ルユニット#0〜#3のデータバスDu0〜Du7で構
成される各8bit単位のバス57〜60、およびエキ
ストラモジュール47のデータバスD0〜D3で構成さ
れる4bit単位のバス61が束ねられて、Db0〜D
b35の36bitのデータバス62が得られる。
On the other hand, the data bus is composed of 8-bit buses 57 to 60 composed of data buses Du0 to Du7 of the respective module units # 0 to # 3, and data buses D0 to D3 of the extra module 47. 4 bit unit buses 61 are bundled, and Db0 to Db
The data bus 62 of 36 bits of b35 is obtained.

【0061】図6のメモリブロック160は、さらにド
ライバモジュール63を有している。このドライバモジ
ュール63には、それぞれ11本の信号を非反転で駆動
する第1および第2のドライバICチップ64および6
5、ならびにサブメモリICチップ74が実装されてい
る。サブメモリICチップ74は、メモリブロック16
0内に存在するメモリICチップのいずれかが不良であ
ったり故障が発生したりして交換の必要が生じた場合
に、その不良ICの機能を代替する目的で設けられてい
る(これについては、後ほど詳しく説明する)。
The memory block 160 in FIG. 6 further has a driver module 63. This driver module 63 includes first and second driver IC chips 64 and 6 for driving 11 signals in a non-inverting manner.
5 and a sub-memory IC chip 74 are mounted. The sub memory IC chip 74 includes the memory block 16
0 is provided for the purpose of replacing the function of the defective IC when any one of the memory IC chips existing in the memory IC 0 is defective or has a failure and needs to be replaced. , Which will be described later in detail).

【0062】このドライバモジュール63は、図1で説
明した第2のモジュールのようにガルウイング型リード
端子を有している。一方、先に説明したエキストラモジ
ュール47は、第1のモジュールのように角型リード端
子を有している。ドライバモジュール63とエキストラ
モジュール47とを実装する際には、第2のモジュール
に相当するドライバモジュール63の上に、第1のモジ
ュールに相当するエキストラモジュール47を積み重ね
る。これによって、他のモジュールユニット480〜4
83と同様にユニット化されて、配線基板上に実装され
る。
The driver module 63 has a gull-wing type lead terminal like the second module described with reference to FIG. On the other hand, the extra module 47 described above has square lead terminals like the first module. When mounting the driver module 63 and the extra module 47, the extra module 47 corresponding to the first module is stacked on the driver module 63 corresponding to the second module. Thereby, other module units 480-4
Like 83, it is unitized and mounted on a wiring board.

【0063】ドライバモジュール63に含まれる第1お
よび第2のドライバICチップ64および65として、
本実施例では日本テキサスインスツルメンツ株式会社製
のSN74ABT5400を使用している。しかし、こ
の形式のICに限られるものではなく、同等な機能を有
するものであれば、他のドライバICで置き換えてもよ
い。
As the first and second driver IC chips 64 and 65 included in the driver module 63,
In this embodiment, SN74ABT5400 manufactured by Texas Instruments Japan Limited is used. However, the present invention is not limited to this type of IC, and may be replaced with another driver IC as long as it has an equivalent function.

【0064】第1のドライバICチップ64の入力ライ
ン66からは、アドレス信号A0〜A10が入力され
る。第1のドライバICチップ64は、各モジュールユ
ニット#0〜#3に接続されるアドレスバス49に、ア
ドレス信号A0〜A10を出力する。一方、第2のドラ
イバICチップ65の入力ラインのうちの7つの入力ラ
イン67〜73には、/RAS信号、/CAS信号およ
び/WE信号ラインが入力され、対応する7本の出力端
子は、/RAS0信号ライン50、/RAS1信号ライ
ン51、/CAS0〜/CAS3信号ライン52〜55
および/WE信号56に接続される。
Address signals A0 to A10 are input from an input line 66 of the first driver IC chip 64. The first driver IC chip 64 outputs address signals A0 to A10 to an address bus 49 connected to each of the module units # 0 to # 3. On the other hand, the / RAS signal, the / CAS signal, and the / WE signal line are input to seven input lines 67 to 73 among the input lines of the second driver IC chip 65, and the corresponding seven output terminals are: / RAS0 signal line 50, / RAS1 signal line 51, / CAS0 // CAS3 signal lines 52-55
And / WE signal 56.

【0065】このように配線によって、接続することに
よって、メモリブロック160に入力する各信号ライン
の信号波形が、入力に先だって第1および第2のドライ
バICチップ64および65によってリフレッシュ整形
される。同時に、各信号波形が再励起(re-energized)
されるので、駆動能力が再生し、多数のメモリチップに
接続して駆動することができるようになる。したがっ
て、メモリブロック160中に実装された多数のメモリ
ICチップに対して、伝送能力の劣化していない良好な
信号を供給することができる。
By connecting the wirings in this manner, the signal waveform of each signal line input to the memory block 160 is refresh-shaped by the first and second driver IC chips 64 and 65 prior to the input. At the same time, each signal waveform is re-energized
As a result, the driving capability is reproduced, and the device can be connected to and driven by a large number of memory chips. Therefore, it is possible to supply a good signal without deteriorating the transmission capability to many memory IC chips mounted in the memory block 160.

【0066】なお、図6には、電源ラインおよび接地ラ
インの配線パターンは図示していない。また、電源ライ
ンと接地ラインとの間に接続されるチップコンデンサも
図示していない。
FIG. 6 does not show the wiring patterns of the power supply line and the ground line. Also, a chip capacitor connected between the power supply line and the ground line is not shown.

【0067】以上のように構成されたメモリブロック1
60において、第2のドライバICチップ65の/RA
S信号および/CAS信号入力ラインのいくつかを選択
的に短絡して同一信号が入力されるグループとして、そ
れぞれのグループに信号を与えることによって、データ
の入出力を9bit、18bit、32bit単位で行
うことが可能になる。例えば、RAS0信号入力ライン
67とCAS0信号入力ライン69との組合せ、RAS
0信号入力ライン67とCAS0信号入力ライン69と
CAS1信号入力ライン70との組合せ、あるいは、R
AS0およぴRAS1信号入力ライン67および68と
全CAS信号入力ランイ69〜72との組合せにすれ
ば、入出力データのデータ幅がそれぞれ9bit、18
bit、32bit単位になる。
The memory block 1 configured as described above
At 60, the / RA of the second driver IC chip 65
Data input / output is performed in units of 9 bits, 18 bits, and 32 bits by selectively shorting some of the S signal and / CAS signal input lines and providing a signal to each group as a group to which the same signal is input. It becomes possible. For example, a combination of the RAS0 signal input line 67 and the CAS0 signal input line 69,
0 signal input line 67, CAS0 signal input line 69, and CAS1 signal input line 70, or R
If the AS0 and RAS1 signal input lines 67 and 68 are combined with all the CAS signal input lines 69 to 72, the data width of the input / output data is 9 bits and 18 bits, respectively.
bit, 32 bit unit.

【0068】次に、図7を参照して、ドライバモジュー
ル63のリード端子列の信号割付を説明する。
Next, with reference to FIG. 7, the signal assignment of the lead terminal array of the driver module 63 will be described.

【0069】ドライバモジュール63の端子配列は、図
4にて説明した一般のモジュール10の端子配列と、基
本的に同様である。すなわち、図7において、一方のリ
ード端子列115aは、図4で説明した15aと同一の
端子配列になっている。一方、図4ではNC端子であっ
たもう一方のリード端子列115bには、主にドライバ
モジュール63への入力ラインが順に配置される。具体
的には、電源ライン端子165c,アドレスバス66の
端子66c、/RAS信号ライン67および68の端子
67cおよび68c、/CAS信号ライン69〜72の
端子69c〜72c、NC端子(1本)、サブメモリI
Cチップのデータバス(Dn)75の端子75c、NC
端子(2本)および接地ライン76cの順になってい
る。
The terminal arrangement of the driver module 63 is basically the same as the terminal arrangement of the general module 10 described with reference to FIG. That is, in FIG. 7, one lead terminal row 115a has the same terminal arrangement as 15a described in FIG. On the other hand, input lines to the driver module 63 are arranged in order in the other lead terminal row 115b, which is an NC terminal in FIG. Specifically, the power supply line terminal 165c, the terminal 66c of the address bus 66, the terminals 67c and 68c of the / RAS signal lines 67 and 68, the terminals 69c to 72c of the / CAS signal lines 69 to 72, the NC terminal (one), Sub memory I
Terminal 75c of data bus (Dn) 75 of C chip, NC
The terminals (two) and the ground line 76c are arranged in this order.

【0070】さらに、このドライバモジュール63の上
に、エキストラモジュール47が積層される。その際に
は、同じ端子配列を有しているドライバモジュール63
の端子列115aとエキストラモジュール47の端子列
15a、およびドライバモジュール63のもう一方の端
子列115aとエキストラモジュール47のNC端子列
15bとが重なるように積層する。それぞれの端子列1
5a、15b、115aおよび115bの対応する位置
にある端子は、それぞれ半田付けなどによって電気的に
接続される。これによって、外部回線を付加することな
く、ドライバモジュール47の各出力ライン49〜56
の接続が完成する。
Further, an extra module 47 is stacked on the driver module 63. In that case, the driver modules 63 having the same terminal arrangement
And the terminal row 15a of the extra module 47, and the other terminal row 115a of the driver module 63 and the NC terminal row 15b of the extra module 47 are stacked. Each terminal row 1
The terminals at the corresponding positions of 5a, 15b, 115a and 115b are electrically connected by soldering or the like. Thereby, each output line 49-56 of the driver module 47 can be provided without adding an external line.
Connection is completed.

【0071】また、ドライバモジュール63の各入力ラ
イン端子に対応する位置にあるエキストラモジュール4
7の端子15bはいずれもNC端子であるので、ドライ
バモジュール63への入力信号がエキストラモジュール
47に影響することは全く無い。したがって、ドライバ
モジュール63の上に積層するためのモジュールをわざ
わざ設計・製造する必要はなく、一般の第1のモジュー
ル3をそのまま積層すればよい。
The extra module 4 at a position corresponding to each input line terminal of the driver module 63
7 are NC terminals, so that the input signal to the driver module 63 does not affect the extra module 47 at all. Therefore, there is no need to design and manufacture a module for stacking on the driver module 63, and the general first module 3 may be stacked as it is.

【0072】次に、サブメモリICチップ74を説明す
る。このサブメモリICチップ74は、各モジュールユ
ニットで使用されているメモリICチップと同じ種類の
4MbitのDRAMであり、図3〜図6を参照してこ
れまでに説明されてきたものと同様に、各バスおよび信
号ラインが接続されている。その配線は、図6を参照し
て説明されたメモリブロック160中の各モジュールユ
ニット#0〜#3の配線と同様である。すなわち、アド
レスバス(A0〜A10)49は、第1のドライバIC
チップ64の出力に接続している。一方、/RAS信号
ラインおよび/CAS信号ラインは、第2のドライバI
Cチップ65の出力ラインのいずれか(図6の例では、
RAS0信号ライン50およびCAS0信号ライン5
2)に接続されている。また、/WE信号ラインは、第
2のドライバICチップ65のWE信号ライン56に接
続されている。
Next, the sub memory IC chip 74 will be described. The sub memory IC chip 74 is a 4 Mbit DRAM of the same type as the memory IC chip used in each module unit, and is similar to the one described so far with reference to FIGS. Each bus and signal line are connected. The wiring is the same as the wiring of each of the module units # 0 to # 3 in the memory block 160 described with reference to FIG. That is, the address bus (A0 to A10) 49 is connected to the first driver IC.
Connected to the output of chip 64. On the other hand, the / RAS signal line and the / CAS signal line are connected to the second driver I
One of the output lines of the C chip 65 (in the example of FIG. 6,
RAS0 signal line 50 and CAS0 signal line 5
2) is connected. The / WE signal line is connected to the WE signal line 56 of the second driver IC chip 65.

【0073】一方、サブメモリICチップ74のデータ
バス(Dn)75は、ドライバモジュール63の外で、
各モジュールユニット#0〜#3またはエキストラモジ
ュール47のデータバス57〜61のいずれかのライン
に接続できるようになっている。その接続のために、デ
ータバス切り替え部170が、モジュールユニット#0
の近傍に設けられている。
On the other hand, the data bus (Dn) 75 of the sub memory IC chip 74
Each module unit # 0 to # 3 or one of the data buses 57 to 61 of the extra module 47 can be connected. For the connection, the data bus switching unit 170 sets the module unit # 0
Is provided in the vicinity of.

【0074】図8を参照して、データバス切り替え部1
70の構成と機能を説明する。モジュールユニット#0
のデータバス57を構成する各データビットラインDu
0〜Du7に、それぞれ分枝157−0〜157−7が
設けられ、データバス切り替え部170に引き込まれて
いる。一方、サブメモリICチップ74のデータバス
(Dn)75にも分枝175が設けられ、同様にデータ
バス切り替え部170に引き込まれる。データバスDn
の分枝175は、データバス切り替え部でさらに細かく
枝分かれして副分枝175−0〜175−7を構成し、
データビットラインDu0〜Du7の分枝157−0〜
157−7とわずかな距離を隔てて対向するように配置
される。データビットラインDu0〜Du7の分枝15
7−0〜157−7およびデータバスDuの副分枝17
5−0〜175−7の先端には、それぞれ半円状の半田
付けのパッドが形成される。
Referring to FIG. 8, data bus switching unit 1
The configuration and function of 70 will be described. Module unit # 0
Data bit lines Du forming the data bus 57 of
Branches 157-0 to 157-7 are provided for 0 to Du7, respectively, and are drawn into the data bus switching unit 170. On the other hand, a branch 175 is also provided in the data bus (Dn) 75 of the sub memory IC chip 74, and is similarly drawn into the data bus switching unit 170. Data bus Dn
Branch 175 is further subdivided by a data bus switching unit to form sub-branches 175-0 to 175-7.
Branch 157-0 of data bit lines Du0 to Du7
157-7 are arranged so as to face each other at a slight distance. Branch 15 of data bit lines Du0 to Du7
7-0 to 157-7 and the sub-branch 17 of the data bus Du
Semi-circular solder pads are formed at the tips of 5-0 to 175-7, respectively.

【0075】モジュールまたはモジュールユニットをメ
モリブロック160に実装する前の検査で、モジュール
ユニットまたはモジュールにすでに実装されたあるメモ
リICチップが不良品であることが判明した場合、以下
の手順にしたがって、その不良メモリICチップをサブ
メモリICチップで置き換えることができる。
If the inspection before mounting the module or the module unit on the memory block 160 reveals that a certain memory IC chip already mounted on the module unit or the module is defective, the following procedure is taken. A defective memory IC chip can be replaced with a sub-memory IC chip.

【0076】まず、その不良メモリICチップを回路か
ら電気的に切り離す。メモリICチップがワイヤボンデ
ィングによって基板に実装されている場合には、その配
線ワイヤを切断すればよい。また、フェイスダウンボン
ディングによって実装されている場合には、その不良メ
モリICチップを取り外す。
First, the defective memory IC chip is electrically separated from the circuit. When the memory IC chip is mounted on the substrate by wire bonding, the wiring wires may be cut. If the chip is mounted by face-down bonding, the defective memory IC chip is removed.

【0077】次に、その不良メモリICチップを含むモ
ジュールないしはモジュールユニットを、図6のモジュ
ールユニット#0に割り当てて、メモリブロック160
に実装する。不良メモリICチップのデータバスは、メ
モリブロック160のデータバス(Db00〜Db3
5)62の中の1bit分である。そこで、データバス
切り替え部170において、不良メモリICチップに接
続されるはずであったデータビットバスの分枝と、それ
に相対するサブメモリICチップのデータバスの副分枝
とを、電気的に接続する。これによって、不良メモリI
Cチップがメモリブロック160の回路から電気的に排
除される一方で、サブメモリICチップ74が回路に組
み込まれ、機能の置き換えが完了する。
Next, the module or module unit including the defective memory IC chip is assigned to module unit # 0 in FIG.
To be implemented. The data bus of the defective memory IC chip is the data bus (Db00 to Db3) of the memory block 160.
5) One bit of 62 bits. Therefore, the data bus switching unit 170 electrically connects the branch of the data bit bus, which should have been connected to the defective memory IC chip, to the sub-branch of the data bus of the sub memory IC chip, which is opposed thereto. I do. As a result, the defective memory I
While the C chip is electrically excluded from the circuit of the memory block 160, the sub memory IC chip 74 is incorporated in the circuit, and the replacement of the function is completed.

【0078】上記の説明では、データビットラインDu
0〜Du7の分枝157−0〜157−7およびサブメ
モリICチップのデータバスDnの副分枝175−0〜
175−7は、当初は電気的に分離されていて、不良メ
モリICチップに相当するデータビットラインのみを半
田付けで接続される。しかし、両者の接続方法は、半田
付けに限られるものではなく、当業者には自明な他の方
法によってもよい。あるいは、相対するデータビットラ
インDu0〜Du7の分枝157−0〜157−7およ
びデータバスDnの副分枝175−0〜175−7の間
をあらかじめ配線パターンなどで電気的に接続してお
き、不良メモリICチップの置き換えが必要となった部
分以外を切断するようにしてもよい。
In the above description, the data bit line Du
Branches 157-0 to 157-7 of 0 to Du7 and a sub-branch 175-0 of the data bus Dn of the sub memory IC chip
175-7 is initially electrically isolated, and only data bit lines corresponding to defective memory IC chips are connected by soldering. However, the method of connecting them is not limited to soldering, but may be other methods obvious to those skilled in the art. Alternatively, the branches 157-0 to 157-7 of the opposing data bit lines Du0 to Du7 and the sub-branches 175-0 to 175-7 of the data bus Dn are electrically connected in advance by a wiring pattern or the like. Alternatively, the portion other than the portion where the defective memory IC chip needs to be replaced may be cut off.

【0079】さらに、データバス切り替え部170を複
数個、例えば、全てのモジュールユニット#0〜#3の
近傍に1つずつ設けてもよい。こうすれば、不良メモリ
ICチップを含むモジュールユニットやモジュールを、
必ずモジュールユニット#0に割り付けなければならな
いという制約がなくなる。また、複数のサブメモリIC
チップが含まれるようにメモリブロック160の回路を
改良して、複数の不良メモリICチップに対処すること
も可能である。
Further, a plurality of data bus switching units 170 may be provided, for example, one in the vicinity of all the module units # 0 to # 3. In this case, the module unit or module including the defective memory IC chip is
This eliminates the restriction that it must be assigned to module unit # 0. Also, a plurality of sub-memory ICs
It is also possible to improve the circuit of the memory block 160 so as to include a chip to cope with a plurality of defective memory IC chips.

【0080】上記のような機能を有するサブメモリIC
チップ74をメモリブロック160に備え、説明したよ
うに配線構成およびそのメモリICチップに置き換え操
作を採用することにより、本実施例の集積メモリ回路で
は、不良メモリICチップのリペア作業の作業効率が向
上する。
Sub-memory IC having the above functions
By providing the chip 74 in the memory block 160 and adopting the wiring configuration and the replacement operation for the memory IC chip as described above, the integrated memory circuit of the present embodiment improves the work efficiency of the repair work of the defective memory IC chip. I do.

【0081】次に、図9を参照して、2つのメモリブロ
ック160から構成されるモジュールボード180を説
明する。
Next, a module board 180 composed of two memory blocks 160 will be described with reference to FIG.

【0082】このモジュールボード180が有する第1
のメモリブロック180aおよび第2のメモリブロック
180bは、図6で説明したメモリブロック160と同
一の構造を有するもので、それぞれ4Mワードの記憶容
量を有する。第1および第2のメモリブロック180a
および180bに入力される信号ラインとしては、これ
までの例と同様に、アドレスバス(A0〜A10)76
は、/WE信号ライン85、/RAS信号ラインおよび
/CAS信号ライン77〜84があり、さらに、データ
バス(Db00〜Db35)86および87が接続され
る。
The first module board 180 has
The memory block 180a and the second memory block 180b have the same structure as the memory block 160 described with reference to FIG. 6, and each have a storage capacity of 4M words. First and second memory blocks 180a
And 180b, as in the previous example, the address lines (A0 to A10) 76
Have / WE signal lines 85, / RAS signal lines and / CAS signal lines 77 to 84, and are connected to data buses (Db00 to Db35) 86 and 87.

【0083】このうち、データバス(Db00〜Db3
5)86および87は、それぞれのメモリブロック18
0aおよび180bからは35bit単位のデータバス
86および87が出ており、これらが束ねられて最終的
な36bit単位のデータバス88が構成されている。
また、アドレスバス76および/WE信号ライン85
は、第1および第2のメモリブロック180aおよび1
80bに共通に接続されている。
The data buses (Db00 to Db3)
5) 86 and 87 are the respective memory blocks 18
From 0a and 180b, data buses 86 and 87 in 35-bit units are output, and these are bundled to form a final data bus 88 in 36-bit units.
The address bus 76 and the / WE signal line 85
Correspond to the first and second memory blocks 180a and 180a.
80b are commonly connected.

【0084】一方、/RAS信号ラインとしては、第1
のメモリブロック180aの/RAS0信号ライン端子
および/RAS1信号ライン端子に接続される/RAS
0信号ライン77および/RAS1信号ライン78、な
らびに第2のメモリブロック180bの/RAS0およ
び/RAS1信号端子に接続される/RAS2信号ライ
ン79および/RAS3信号ライン80がある。
On the other hand, as the / RAS signal line, the first
/ RAS connected to the / RAS0 signal line terminal and the / RAS1 signal line terminal of the memory block 180a.
There are a 0 signal line 77 and a / RAS1 signal line 78, and a / RAS2 signal line 79 and a / RAS3 signal line 80 connected to the / RAS0 and / RAS1 signal terminals of the second memory block 180b.

【0085】さらに、/CAS信号ラインとして、第1
のメモリブロック180aの/CAS0および/CAS
2信号ラインを短絡して接続する/CAS0信号ライン
81、同じく第1のメモリブロック180aの/CAS
1および/CAS3信号ラインを短絡して接続する/C
AS1信号ライン82、ならびに第2のメモリブロック
180bに対して上記2本の/CAS信号ライン81お
よび82と同様に配線された/CAS2信号ライン83
および/CAS3信号ライン83がある。
Further, as the / CAS signal line, the first
/ CAS0 and / CAS of memory block 180a
/ CAS0 signal line 81 which connects two signal lines by short-circuiting, and / CAS0 signal of the first memory block 180a.
/ C3 short and connect the / CAS3 signal line
The AS1 signal line 82 and the / CAS2 signal line 83 wired to the second memory block 180b in the same manner as the two / CAS signal lines 81 and 82.
And / CAS3 signal line 83.

【0086】上記のような回路構成を有するモジュール
ボード180に対して、これまでと同様な考えに基づい
て、/RAS0〜/RAS3信号ライン77〜80、お
よび/CAS0〜/CAS3信号ライン81〜84を適
宜組み合わせて短絡し、選択的に信号を入力することに
よって、最終的なデータバス88からのデータの入出力
幅を変更できる。
For the module board 180 having the above-described circuit configuration, based on the same idea as before, the / RAS0 // RAS3 signal lines 77-80 and the / CAS0 // CAS3 signal lines 81-84. By appropriately short-circuiting and selectively inputting signals, the final input / output width of data from the data bus 88 can be changed.

【0087】例えば、/RAS0信号ライン77と/C
AS0信号ライン81、/RAS0信号ライン77と/
CAS0信号ライン81と/CAS1信号ライン82、
あるいは/RAS0信号ライン77と/RAS1信号ラ
イン78と/CAS0信号ライン81と/CAS1信号
ライン82と、をそれぞれ組み合わせて、選択的に信号
を入力すれば、それぞれ9bit単位、18bit単位
あるいは36bit単位でデータの入出力を行うことが
可能になる。
For example, the / RAS0 signal line 77 and / C
AS0 signal line 81, / RAS0 signal line 77 and /
CAS0 signal line 81 and / CAS1 signal line 82,
Alternatively, if the / RAS0 signal line 77, the / RAS1 signal line 78, the / CAS0 signal line 81, and the / CAS1 signal line 82 are respectively combined and selectively input signals, the signals can be input in units of 9 bits, 18 bits or 36 bits. Data can be input and output.

【0088】これまでの図1〜図9を参照した本発明の
第1の実施例の説明では、配線基板1の片面にのみモジ
ュールやモジュールユニットが実装されている。しか
し、配線基板1のもう一方の面にも同様に実装を行い、
両面を実装に使用すれば、同一配線基板面積当りの記憶
容量の増加、もしくは同一記憶容量のメモリの実装に要
する配線基板面積の縮小が可能になり、さらに高密度な
実装が実現される。
In the description of the first embodiment of the present invention with reference to FIGS. 1 to 9, a module or a module unit is mounted on only one surface of the wiring board 1. However, mounting is performed on the other surface of the wiring board 1 in the same manner,
If both sides are used for mounting, it is possible to increase the storage capacity per area of the same wiring board or to reduce the area of the wiring board required for mounting a memory having the same storage capacity, thereby realizing higher-density mounting.

【0089】なお、上記の説明では、同じ構造を有する
第1および第2のモジュールを積層してモジュールユニ
ット2として、そのモジュールユニット2を配線基板1
上に複数個実装してモジュールボード8を得た。しか
し、それぞれのモジュール3および4は、複数のメモリ
ICチップを高密度実装して製造されるものであるの
で、モジュール3および4を積層せずに単層で配線基板
1上に実装しても、集積メモリ回路の高密度実装化が実
現される。
In the above description, the first and second modules having the same structure are stacked to form a module unit 2 and the module unit 2 is connected to the wiring board 1.
The module board 8 was obtained by mounting a plurality of the modules. However, since each of the modules 3 and 4 is manufactured by mounting a plurality of memory IC chips at high density, even if the modules 3 and 4 are mounted on the wiring board 1 in a single layer without being stacked. Thus, high-density mounting of the integrated memory circuit is realized.

【0090】以上の実施例では、メモリ回路を例にとっ
て、本発明の多階層半導体集積回路装置および電子回路
装置を説明した。しかし、本発明は、上記のようなメモ
リ回路に限られるものではなく、論理演算回路など他の
機能を有する半導体回路装置にも同様に適用できる。
In the above embodiments, the multi-level semiconductor integrated circuit device and the electronic circuit device of the present invention have been described by taking a memory circuit as an example. However, the present invention is not limited to the above-described memory circuit, and is similarly applicable to a semiconductor circuit device having another function such as a logical operation circuit.

【0091】[0091]

【発明の効果】本発明によれば同一構造のモジュールを
用いて、多階層化された半導体集積回路が容易に得られ
る。これによって、高密度実装化、ならびに信号伝達特
性や高周波応答特性の劣化防止が実現される。
According to the present invention, a multi-layered semiconductor integrated circuit can be easily obtained by using modules having the same structure. As a result, high-density mounting and prevention of deterioration of signal transmission characteristics and high-frequency response characteristics are realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施例における多階層集積メモ
リ回路を有するモジュールボードの斜視図
FIG. 1 is a perspective view of a module board having a multi-level integrated memory circuit according to a first embodiment of the present invention.

【図2】同要部であるモジュールの構造を示す斜視図FIG. 2 is a perspective view showing a structure of a module which is a main part of the same.

【図3】同要部であるモジュールの回路図FIG. 3 is a circuit diagram of a module which is a main part of the same.

【図4】同要部であるモジュールのリード端子の信号割
付図
FIG. 4 is a signal assignment diagram of lead terminals of a module which is a main part of the same.

【図5】同モジュールユニットと外部回路とを接続する
周辺回路の回路図
FIG. 5 is a circuit diagram of a peripheral circuit connecting the module unit and an external circuit.

【図6】同要部であるメモリブロックの回路図FIG. 6 is a circuit diagram of a memory block as a main part of the same.

【図7】同要部であるドライバモジュールのリード端子
の信号割付図
FIG. 7 is a signal assignment diagram of lead terminals of a driver module, which is the main part of the same.

【図8】同要部であるデータ信号切り替え部を示す図FIG. 8 is a diagram showing a data signal switching unit which is the main part.

【図9】同要部である2つのメモリブロックを有するモ
ジュールボードの回路図
FIG. 9 is a circuit diagram of a module board having two memory blocks, which are the main parts.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 配線基板 2 モジュールユニット 3 第1のモジュール 4 第2のモジュール 5 角型リード端子 6 ガルウイング型リード端子 7 カードエッジコネクタの雄型接続部 8、180 モジュールボード 10 モジュール 12 メモリICチップ 13 チップコンデンサ 14 リード端子 15 リード端子列 47 エキストラモジュール 63 ドライバモジュール 74 サブICチップ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Wiring board 2 Module unit 3 1st module 4 2nd module 5 Square lead terminal 6 Gull wing type lead terminal 7 Male connection part of card edge connector 8, 180 Module board 10 Module 12 Memory IC chip 13 Chip capacitor 14 Lead terminal 15 Lead terminal row 47 Extra module 63 Driver module 74 Sub IC chip

フロントページの続き (72)発明者 黒川 英夫 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 岡本 泉 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (56)参考文献 特開 平4−26152(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 25/10 Continued on the front page (72) Inventor Hideo Kurokawa 1006 Kazuma Kadoma, Osaka Prefecture Inside Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. References JP-A-4-26152 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) H01L 25/10

Claims (12)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 同一構造のモジュールが上下に積層され
てなるモジュールユニットが複数個マザーボード上に実
装された集積回路装置であって、前記モジュールは複数
の半導体素子が実装された基板と、前記基板の相対する
外周辺に沿って設けられた2つのリード端子列とを有
し、一方のリード端子列は前記半導体素子に対する信号
の割り付けがないノンコネクト端子から構成され、他方
のリード端子列は前記半導体素子に対する信号の割り付
けがある信号割付端子から構成されるとともに、下層モ
ジュールのノンコネクト端子側のリード端子列と上層モ
ジュールの信号割付端子側のリード端子列とが接続され
るように前記上層モジュールを前記下層モジュールに対
して180°回転配置した集積回路装置。
1. A module having the same structure is vertically stacked.
Module units on the motherboard
Integrated circuit device, wherein the module comprises a plurality of modules.
The substrate on which the semiconductor element is mounted, and the substrate
It has two lead terminal rows provided along the outer periphery.
One of the lead terminal rows is a signal for the semiconductor element.
Consists of non-connect terminals without
Is the assignment of signals to the semiconductor elements
In addition to the signal
Of the lead terminals on the non-connect terminal side of the
Module is connected to the lead terminal row on the signal assignment terminal side.
The upper module to the lower module so that
Integrated circuit device which is arranged to rotate by 180 ° .
【請求項2】 複数の半導体素子の少なくとも1つは、
メモリ素子である請求項1記載の集積回路装置。
2. The method according to claim 1 , wherein at least one of the plurality of semiconductor elements includes:
The integrated circuit device according to claim 1, wherein the integrated circuit device is a memory element .
【請求項3】 上層および下層モジュールの各ノンコネ
クト端子側および信号割付端子側の各リード端子列が、
角型形状の端子から構成されている請求項1記載の集積
回路装置。
3. Non-connectors of upper and lower modules
The lead terminal rows on the connector terminal side and signal assignment terminal side
2. The integrated circuit device according to claim 1, wherein the integrated circuit device comprises a square terminal .
【請求項4】 上層モジュールのノンコネクト端子側お
よび信号割付端子側のリード端子列が角型形状の端子か
ら構成され、下層モジュールのノンコネクト端子側およ
び信号割付端子側のリード端子列がガルウイング形状の
端子から構成されている請求項1記載の集積回路装置。
4. The non-connect terminal side of the upper module.
Are the lead terminal rows on the signal assignment terminal side square terminals?
The lower module's non-connect terminal side and
The lead terminal row on the signal assignment terminal side has a gull-wing shape.
2. The integrated circuit device according to claim 1, comprising a terminal .
【請求項5】 複数の半導体素子の数が4であり、前記
4つの半導体素子が、正方形状の実装領域内に、隣接す
る半導体素子の長辺と短辺とが隣合うように配置されて
いる請求項1記載の集積回路装置。
5. The method according to claim 1 , wherein the number of the plurality of semiconductor elements is four,
Four semiconductor elements are adjacent to each other in a square mounting area.
The semiconductor device is arranged so that the long side and the short side
Integrated circuit device according to claim 1, wherein there.
【請求項6】 正方形状の実装領域の中央に少なくとも
1つ以上のコンデンサが実装されている請求項5記載の
集積回路装置。
6. At least at the center of the square mounting area
The integrated circuit device according to claim 5, wherein one or more capacitors are mounted .
【請求項7】 基板上の配線パターンと複数の半導体素
子とがフェイスダウンボンディングによって電気的に接
続されている請求項1記載の集積回路装置。
7. A wiring pattern on a substrate and a plurality of semiconductor elements.
The child is electrically connected by face-down bonding.
2. The integrated circuit device according to claim 1, wherein the integrated circuit device is connected.
【請求項8】 複数の半導体素子がダイボンディングに
よって基板に搭載され 、前記複数の半導体素子と前記基
板上の配線パターンとがワイヤボンディングによって電
気的に接続されている請求項1記載の集積回路装置。
8. A method for forming a plurality of semiconductor elements for die bonding.
Therefore , the plurality of semiconductor elements are mounted on a substrate, and the
The wiring pattern on the board is
2. The integrated circuit device according to claim 1, wherein the integrated circuit device is connected pneumatically.
【請求項9】 複数の半導体素子が、テープキャリアパ
ッケージ構造に加工されたTABパッケージチップであ
請求項1記載の集積回路装置。
9. A tape carrier comprising a plurality of semiconductor elements.
TAB package chip processed into a package structure
Integrated circuit device according to claim 1, wherein that.
【請求項10】 マザーボードに、カードエッジコネク
タの雄型接続部が形成されている請求項1記載の集積回
路装置。
10. A card edge connector on a motherboard.
2. The integrated circuit device according to claim 1 , wherein a male connection portion is formed .
【請求項11】 モジュールユニットの一つが、他のモ
ジュールユニットへの入力信号を再励起するドライバ手
段を備えるドライバモジュールを含む請求項1記載の集
積回路装置。
11. One of the module units is used for another module.
Driver hand re-exciting the input signal to the Joule unit
The integrated circuit device according to claim 1 , including a driver module having a stage .
【請求項12】 モジュールユニットの一つが、他の半
導体素子の機能を置換する代替半導体素子を備えるモジ
ュールを含む請求項1記載の集積回路装置。
12. One of the module units is connected to the other half.
A module with an alternative semiconductor device that replaces the function of a conductor device
2. The integrated circuit device according to claim 1 , further comprising a module .
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