JP2015129741A - 光干渉断層撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】OCT画質低下および部品コスト増加を抑制することができてスキャントリガ信号を発生させることができる光干渉断層撮像装置を提供する。【解決手段】本発明の光干渉断層撮像装置は、レーザ発振波長および出力パワーが時間とともに変化するレーザ光を出力する光源と、前記光源から出力される第1レーザ光を測定光と参照光に分岐し、前記測定光を前記対象物に照射するために出力し、前記参照光を参照光路に伝搬させ、前記対象物から後方散乱された測定光と前記参照光路を伝搬した参照光とを合波して出力し、透過率が前記光源の出力パワーの波長依存性と逆の波長依存性を有する干渉光学系と、前記干渉光学系から出力された測定光と参照光とが干渉してなる干渉光を検出して、その干渉光強度に応じた値の第1電気信号を発生させるOCT検出器と、を備える。【選択図】図1
Description
本発明は、光の干渉を用いて対象物の断層像を撮影する光干渉断層撮像装置に関するものである。
血管などの生体組織の断層像を撮影する技術として、光干渉断層撮像(OCT:Opticalcoherence tomography)が知られている。OCTは、対象物に測定光を照射して反射された光と、参照光路を経由した光とを干渉させ、その干渉光を検出して解析することにより、測定光の光路上の光学反射率の分布を測定する技術である。
光ファイバを内蔵したカテーテルを用いて、血管の内腔から血管壁に測定光を照射してOCT測定を行い、さらに血管内壁を測定光で走査することにより、血管の断面内の光学反射率の分布を2次元または3次元で測定することができる。血管を構成する内膜、中膜、外膜や、プラーク病変を構成する脂質、石灰質、繊維質は、それぞれ異なった反射率分布を有するので、OCTによる血管断層画像から、プラークの組成を識別することができる。
OCTを実現する方式の一つとして波長掃引光源型OCT(SS-OCT:Swept Source Optical Coherence Tomography)が知られている。これは、レーザ発振波長が時間の関数として周期的に変化する波長掃引光源を用い、この波長掃引光源からの出力光を2分岐して測定光および参照光とし、測定光が対象物に照射されて該対象物で反射された測定光と参照光路を伝搬した参照光とが干渉してなる干渉光を光検出器で検出して電気信号に変換する。そして、この電気信号を時間の関数として記録することで干渉光のスペクトルを取得し、このスペクトルを周波数解析することで測定光の光路上の光学反射率の分布を得ることができる。
SS-OCTにおいては、時間の関数として記録された電気信号を波数(波長の逆数に相当)の関数に変換する必要があり、そのためには光源の発振波長と時間との関係を測定することが必要である。特に、波長の掃引が一定の位相に達したことを検出してスキャントリガ信号を生成し、このスキャントリガ信号を用いることで時間の関数としての電気信号を波長の関数へ変換することが必要である。
スキャントリガ信号を発生させる方法として、特許文献1に記載されているように、特定波長の光を選択的に反射するFBG(Fiber Bragg Grating)を用い、このFBGを経由させて光源の出力光を検出することで、発振波長が特定波長に達したタイミングを検出する方法が知られている。また、光源からの出力光のパワーをモニタして一定閾値に達したタイミングを検出する方法も知られている。後者の方法は、波長掃引光源が波長の変化に付随して出力パワーの変化も伴うことを利用するものである。
しかしながら、FBGを用いる方法は、FBGの反射波長が温度や歪みによって変動することで誤差が生じる問題があり、また、FBGにより装置の部品コストが増える問題もある。
光源の出力パワーをモニタする方法は、上記のようなFBG特有の問題が生じず、構成が簡便である。ただし、閾値に達したタイミングを高い精度で検出するためには、光源の波長変化に伴うパワーの変化が大きいことが好ましいが、パワーの変化を大きくすると、干渉光のパワーも波長によって大きく変化することとなり、一部の波長でSN比が低下するか検出器が飽和することで、OCTの画質が低下する問題がある。
本発明は、上記問題点を解消する為になされたものであり、OCT画質低下および部品コスト増加を抑制することができてスキャントリガ信号を発生させることができる光干渉断層撮像装置を提供することを目的とする。
本発明の光干渉断層撮像装置は、光の干渉を用いて対象物の断層像を撮影する光干渉断層撮像装置であって、レーザ発振波長および出力パワーが時間とともに変化するレーザ光を出力する光源と、前記光源から出力される第1レーザ光を測定光と参照光に分岐し、前記測定光を前記対象物に照射するために出力し、前記参照光を参照光路に伝搬させ、前記対象物から後方散乱された測定光と前記参照光路を伝搬した参照光とを合波して出力し、透過率が前記光源の出力パワーの波長依存性と逆の波長依存性を有する干渉光学系と、前記干渉光学系から出力された測定光と参照光とが干渉してなる干渉光を検出して、その干渉光強度に応じた値の第1電気信号を発生させるOCT検出器と、前記光源から出力され、前記第1レーザ光の光強度と実質的に比例関係にある光強度を有する第2レーザ光を検出して、その光強度に応じた値の第2電気信号を発生させるモニタ検出器と、前記第2電気信号に基いて定められた期間に亘って前記第1電気信号をデジタル信号に変換して出力するAD変換器と、前記デジタル信号を周波数解析して光干渉断層画像データを生成する分析部と、を備える。
本発明の光干渉断層撮像装置では、前記光源は、レーザ光を出力する時間範囲の少なくとも一部の時間範囲において、出力するレーザ光のレーザ発振波長および出力パワーが時間とともに単調に変化するとともに、前記一部の時間範囲に出力される波長範囲において出力パワーが波長に対して第1の符号で単調に変化し、前記干渉光学系は、前記波長範囲において前記第1の符号と逆の第2の符号で透過率が波長に対して単調に変化する透過率を有し、前記AD変換器は、前記一部の時間範囲において前記第2レーザ光の光強度が閾値に達することを検出して前記OCT電気信号のデジタル信号への変換の開始のタイミングを決定するのが好適である。なお、第1の符号および第2の符号のうち一方は正であり、他方は負である。
本発明の光干渉断層撮像装置は、前記干渉光学系から出力された前記測定光および参照光が合波されてなる出力光の光強度を検出する出力光モニタ検出器をさらに備え、前記分析部は、前記出力光の光強度の変化を分析することで、前記レーザ発振波長の中心値の変化を検出するのが好適である。
本発明によれば、OCT画質低下および部品コスト増加を抑制することができてスキャントリガ信号を発生させることができる。
以下、添付図面を参照して、本発明を実施するための形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。本発明は、これらの例示に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
図1は、第1実施形態の光干渉断層撮像装置1の構成を示す図である。光干渉断層撮像装置1は、OCTカテーテル10および測定部30を備え、対象物3の光干渉断層画像を撮影し取得する。
OCTカテーテル10は、近位端11aと遠位端11bとの間で光を伝送する光ファイバ11と、近位端11aにおいて光ファイバ11と接続されているコネクタ12と、遠位端11bにおいて光ファイバ11と光学的に接続されている集光光学系13および偏向光学系14と、集光光学系13および偏向光学系14を包囲するキャップ15と、光ファイバ11を包囲して延びるサポートチューブ16およびジャケットチューブ17と、を備える。ジャケットチューブ17の内腔には媒質18が満たされている。コネクタ12は、測定部30の一部であるプローブ回転移動機構44に光学的および電気的に接続される。
光ファイバ11は、1〜3mの長さを有し、石英ガラスで構成される。光ファイバ11は、波長範囲1.2〜1.4μmまたは1.6μm〜1.8μmにおいて2dB以下、好ましくは1dB以下の伝送損失を有し、上記波長範囲においてシングルモードで動作する。そのような光ファイバ11としては、ITU−TG.652,G.654、G.657に準拠した光ファイバが好適である。
光ファイバ11の遠位端11bには、集光光学系13としてのグレーデッドインデックス(GRIN)レンズが融着接続されている。さらに、GRINレンズの先端は傾斜端面が形成されており、この傾斜端面が光を反射させることで偏向光学系14として機能する。集光光学系13および偏向光学系14を光が経由することにより、光が径方向に収束しながら出射する。
GRINレンズ(集光光学系13および偏向光学系14)は、石英ガラスまたはホウケイ酸ガラスで構成され、波長1.2μm〜1.4μmまたは1.6μm〜1.8μmの波長範囲において2dB以下の伝送損失を有する。図2に示すように、ミラーは、円柱形のガラスに、GRINレンズの軸に対して35〜44度の角度θをなす平坦な反射面を形成した構造をとる。この平坦な反射面はそのままでも光を反射させることができるが、さらに反射面にアルミニウムまたは金を蒸着することで反射率を高めることが好適である。
キャップ15は、ウレタンアクリレート樹脂またはエポキシ樹脂で構成され、1.2μm〜1.4μmまたは1.6μm〜1.8μmの波長範囲において2dB以下の伝送損失を有する。キャップ15は、集光光学系13および偏向光学系14を機械的に保護するとともに、偏向光学系14のミラーの界面に接するように空気を閉じ込め、全反射によるミラーを実現する機能を有する。
光ファイバ11はサポートチューブ16の内腔に収納されている。サポートチューブ16は、光ファイバ11の先端部およびコネクタ12に固定されている。その結果、コネクタ12を回転させると、それと共にサポートチューブ16も回転し、さらに回転トルクが光ファイバ11に伝達され、光ファイバ11、集光光学系13、偏向光学系14、キャップ15およびサポートチューブ16が一体となって回転する。それにより、光ファイバ11だけを回転させた場合に比べて、光ファイバ11に負荷されるトルクが低減され、トルクによる光ファイバ11の破断を防ぐことができる。
サポートチューブ16は、0.15mm以上の厚さを持つと共に、ステンレスと同等程度の100〜300GPaのヤング率を持つことが望ましい。サポートチューブ16は、必ずしも周方向に連結していなくともよく、5〜20本程度の線を撚り合わせた構造とし、それによって柔軟性を調整しても良い。
光ファイバ11、集光光学系13、偏向光学系14、キャップ15およびサポートチューブ16は、ジャケットチューブ17の内腔に収納され、その中で回転することができる。それにより、回転する部分が対象物3に接触して対象物3が破損することが防止される。照明光は、偏向光学系14から出射され、キャップ15、媒質18およびジャケットチューブ17を透過して、対象物3へ照射される。
ジャケットチューブ17は、ポリアミド(例として、ナイロン、ポリエーテルブロックアミド)、フッ素樹脂(例として、FEP、PFA、PTFE)、ポリエステル(PET)、ポリオレフィン(例として、ポリエチレン、ポリプロピレン)のいずれかの材料で構成され、30〜100μmの厚さを有し、波長1.2μm〜1.4μmまたは1.6〜1.8μmにおける透過損失が2dB以下となる透明度を有する。OCT測定では、空間分解能は通常は30μm以下であり、ジャケットチューブ17の内面および外面の反射を区別して検出し、これを分散補償などの校正のために用いるので、ジャケットチューブ17の厚さはOCT測定の空間分解能よりも厚いことが望ましい。
ジャケットチューブ17の内腔に満たされた媒質18は液体または気体である。媒質18は、ジャケットチューブ17と異なる屈折率を有するように選択される。それにより、ジャケットチューブ17と媒質18との界面において、光を部分的に反射する。部分的に反射された光は、対象物3において後方散乱された光と同様に測定部30で検出される。それにより、光ファイバ11が光を伝達していることを確認するために使用することができる。媒質18としては、シリコーンオイル、生理食塩水、デキストラン水溶液、空気、窒素ガス、炭酸ガスなどが上記の目的に適しており好ましい。
測定部30は、レーザ発振波長および出力パワーが時間とともに変化するレーザ光を2つのポートから出力する光源31と、光源31の第1ポートから出力された第1レーザ光を測定光と参照光と分岐して伝搬させたのち出力する干渉光学系40と、測定光と参照光とが干渉してなる干渉光を検出してOCT電気信号を出力するOCT検出器32と、光源31の第2ポートから出力され、第1レーザ光と実質的に比例関係にある第2レーザ光を検出してモニタ電気信号を出力するモニタ検出器33と、モニタ電気信号に基づいてOCT電気信号の必要区間をデジタル化してデジタル信号を出力するAD変換器34と、デジタル信号に対して周波数解析などの信号処理を行なって対象物3の断層像を生成して断層像の画像データを出力する分析部35と、画像データを表示や記録のために外部へ出力する出力部36と、を備える。
なお、光源31の2つの出力ポートは、レーザ共振器の中の別個の2つの部位それぞれから共振器内の光の一部を分岐させて構成することができる。また、光源31の2つの出力ポートは、共振器の共通の1つの部位から分岐させた光を更に2つに分岐させても良い。また、光源31およびモニタ検出器33は光源システムとして1つの筐体に収納されていても良い。この場合は、光源システムは第1レーザ光およびモニタ電気信号を出力する。また、出力されるモニタ電気信号は、第2レーザ光の光パワーに対応するアナログ信号であっても良いが、それに対して閾値処理などを施したデジタル信号であっても良く、それによって雑音の影響を低減することができる。
干渉光学系40は、光源31の第1ポートから出力された光を第1ポート41aに入力して該入力光を測定光と参照光とに分岐し該測定光および該参照光を別個のポートから出力する光カプラ41と、測定光をOCTカテーテル10のコネクタ12内の光ファイバ11に結合するプローブ回転移動機構44と、参照光を装置内の空間に出力する参照光ポート42と、その出力された参照光を所定の光路長だけ参照光路を伝搬させた後に反射して再び参照光ポートに結合する参照鏡43とを有する。
プローブ回転移動機構44から出力された測定光は、コネクタ12により光ファイバ11の近位端11aに結合され、光ファイバ11により導光されて遠位端11bから出射され、集光光学系13、偏向光学系14、キャップ15を経て対象物3に照射される。対象物3において後方散乱された測定光は、キャップ15,偏向光学系14および集光光学系13を経て光ファイバ11の遠位端11bに入射され、光ファイバ11により導光されて近位端11aから出力され、コネクタ12によりプローブ回転移動機構44に結合され、光カプラ41を通過して光カプラ41の第2ポート41bから出力されてOCT検出器32に導光される。参照鏡43で反射された参照光は、参照光ポート42に結合され、光カプラ41を通過して光カプラ41の第2ポート41bから出力されてOCT検出器32に導光される。対象物3で後方散乱された測定光と参照光とが干渉してなる干渉光は、OCT検出器32により検出され、干渉光のパワーに応じた値のOCT電気信号がOCT検出器32で生成される。
モニタ検出器33は、光源31の第2ポートから出力された光を検出し、その光のパワーに応じた値のモニタ電気信号がモニタ検出器33で生成される。OCT検出器32で生成されたOCT電気信号、および、モニタ検出器33で生成されたモニタ電気信号は、分析部35に入力される。分析部35により、干渉光のスペクトルの解析が行われ、対象物3の内部の各点における光学的な後方散乱効率の分布が計算される。その計算結果に基づいて対象物3の断層画像が計算され、OCT画像信号として出力部36から出力される。
本実施形態では、干渉光学系40の透過率は、光源31の出力パワーの波長依存性と逆の波長依存性を有する。ここで、干渉光学系40の透過率とは、測定光の透過率または参照光の透過率である。干渉光学系40における測定光の透過率および参照光の透過率のうち少なくとも一方が、光源31の出力パワーの波長依存性と逆の波長依存性を有する。測定光の透過率は、光カプラ41の第1ポート41aからプローブ回転移動機構44までの透過率と、プローブ回転移動機構44から光カプラ41の第2ポート41bまでの透過率との積である。また、参照光の透過率は、光カプラ41の第1ポート41aから参照鏡43を経由して光カプラ41の第2ポート41bに至る光路の透過率である。また、波長依存性が逆であるとは、必ずしも厳密に互いに逆数の関係にあることを必要とせず、光源31の発振波長範囲において線形近似したときの波長依存性の傾きの符号が互いに逆であれば良い。
本実施形態では、測定光および参照光がOCT検出器32に入射し、測定光パワー、参照光パワー、測定光と参照光とが干渉してなる干渉光パワーの和に比例した電気信号が発生する。このとき、参照光パワーを測定光パワーよりも十分に大きくすることが好ましく、それによって、測定光路中の多重反射によるOCT画像上の雑音の発生を低減できる。したがって、参照光の透過率は、光源31の出力パワーの波長依存性と逆の波長依存性を有することが望ましい。
図3および図4は、第1実施形態の光干渉断層撮像装置1の動作を説明する図である。図3は、(a) 光源31の発振波長、(b) 光源31の出力パワー、(c) OCT検出器32から出力されるOCT電気信号、(d) モニタ検出器33から出力されるモニタ電気信号、(e) AD変換器34におけるスキャントリガ信号、および、(f) AD変換器34から出力されるデジタル信号、それぞれの時間変化を示す。図4は、(a) 光源31の出力パワー、(b) 干渉光学系40の透過率、および、(c) 干渉光学系40の透過パワー、それぞれの波長依存性を示す。
図3(a)に示すように、光源31の発振波長は、時間の関数として周期的に鋸歯状に掃引される。波長掃引の周期はT0であり、各周期T0において、期間T1は長波長方向への掃引であり、期間T2は短波長方向への掃引である。掃引方向によってコヒーレンス長や雑音などの光源31の性能が変わりうるので、長波長方向への掃引のみ(または、短波長方向への掃引のみ)をOCT測定に用いるのが好適である。ただし、本発明は両方向の掃引を用いることも可能である。光源31の出力パワーは図4(a)に示すように波長依存性を持つ。それ故、図3(b)に示すように、光源31の出力パワーも波長の掃引に付随して時間の関数として周期的に変化する。
本実施形態では、図4(a),(b)に示すように、干渉光学系40の透過率は、光源31の出力パワーの波長依存性と逆の波長依存性を有する。このような透過スペクトルを干渉光学系40が持つことで、干渉光学系40の透過パワーは図4(c)に示すように波長依存性が低減される。なお、干渉光学系40の透過パワーは、光源31の出力パワーと干渉光学系40の透過率との積となる。
参照光の場合、透過光パワーは、光カプラ41の第2ポート41bにおける参照光パワーに等しい。これに対して、測定光の場合は、OCTカテーテル10の透過率および対象物3の透過率が含まれないので、透過光パワーは、必ずしも光カプラ41の第2ポート41bにおける測定光パワーに一致しない。しかし、後者の場合、OCTカテーテル10の透過率や対象物3の透過率はランダムに変動しうるので、光カプラ41の第2ポート41bにおける測定光パワーの波長依存性は統計的には低減される。
図4(c)のように干渉光学系40の透過パワーの波長依存性が低減されることにより、図3(c)に示すように、OCT検出器32から出力されるOCT電気信号は、光源31の出力パワーの変動に起因する時間的変動が抑制される。
一方で、光源31の出力パワーは、波長の掃引に同期して周期的に変動し、長波長方向への掃引の開始からTbの時間においては時間に対して単調に増加する。それにより、図3(d)に示すように、モニタ検出器33から出力されるモニタ電気信号は、時間の関数として周期的に変動し、同様に時間Tbにわたって時間に対して単調に増加する。AD変換器34は、モニタ電気信号が所定の閾値を所定の方向に越えて変化した際に、図3(e)に示すように変換開始トリガ(スキャントリガ信号)を発生させ、変換開始トリガが発生すると取り込み時間Taに亘ってOCT電気信号をデジタル変換して記録する。閾値は時間Taにおけるモニタ電気信号の変動範囲内となるように設定される。また、取り込み時間Taは掃引時間T1から所定のマージンを減じた時間に設定される。その結果、図3(f)に示すようにデジタル信号が得られる。このデジタル信号を周波数解析することで、OCT画像データが得られる。なお、所定の取り込み時間Taに亘ってデジタル信号を取得する代わりに、所定の取り込みサンプル数Nのデジタル値を取得することでも良く、また、モニタ電気信号にもう一つの閾値を設定して変換終了トリガを発生させても良い。
光源31の出力パワーは、波長の掃引に同期して変動しうるが、それとは別の要因で光環境温度などによってゆるやかに変化することがある。そのような変化は、上記の方法で生成されるスキャントリガのタイミングにおける誤差の原因となる。このような誤差を低減するために、光源31は、波長掃引の周期よりも長い時間における出力パワーの平均値が一定となるよう制御されることが望ましい。そのような制御は、光源31の出力パワーをモニタ検出器33により計測して、その計測値が所定値から差分を生じた場合に、その差分に基づいて光源31の内部のゲインを調整するなどの方法で実現できる。
ここで、上述した本実施形態と対比されるべき比較例について説明する。図5および図6は、比較例の光干渉断層撮像装置の動作を説明する図である。図5は、(a) 光源31の発振波長、(b) 光源31の出力パワー、および、(c) OCT検出器32から出力されるOCT電気信号、それぞれの時間変化を示す。図6は、(a)光源31の出力パワー、(b) 干渉光学系40の透過率、および、(c)干渉光学系40の透過パワー、それぞれの波長依存性を示す。
図5(a)に示すように、光源31の発振波長は時間とともに掃引され、図6(a)に示すように、光源31の出力パワーは波長依存性を持っているので、図5(b)に示すように、光源31の出力パワーも時間とともに変化する。しかし、比較例では、図6(a),(b)に示すように、干渉光学系40の透過率は、光源31の出力パワーの波長依存性と逆の波長依存性を有しておらず、波長に依らず略一定である。したがって、図6(c)に示すように、干渉光学系40の透過パワーも時間と共に大きく変化する。その結果、図5(c)に示すように、OCT検出器32から出力されるOCT電気信号は時間とともに大きく変動する。
そして、比較例では、一部の期間においてOCT電気信号の値がAD変換器34の飽和レベルを超えることになる。飽和レベルを超えたOCT電気信号はAD変換器34により正しくデジタル化されないので、このような場合のデジタル信号から生成されたOCT画像データは画質が低下する。OCT電気信号を減衰させれば飽和を避けることは可能であるが、その場合はOCT電気信号のレベルの低い部分がさらに減衰されるのでSN比が低下し、やはりOCT画像データの画質は低下する。
このような問題が比較例では存在するのに対して、本実施形態では、光源31の出力パワーの時間変化に基いて掃引のタイミングを取得することができるとともに、OCT電気信号の時間変化を抑制することができる。本実施形態では、OCT画質低下および部品コスト増加を抑制することができてスキャントリガ信号を発生させることができる。本実施形態では、OCT検出器32の飽和やSN比の低下によるOCT画像データの画質の低下を防ぐことができる。
また、本発明の第2実施形態として、図1に示す構成に替えて、図7に示す光干渉断層撮像装置2を用いることも好適である。図7は、第2実施形態の光干渉断層撮像装置2の構成を示す図である。図1に示す構成と比較すると、図7に示す構成は、干渉光学系40に替えてバランス型干渉光学系50を備える点で相違し、OCT検出器32に替えてバランス型OCT検出器60を備える点で相違する。
干渉光学系50は、第1光カプラ51,第2光カプラ52,光サーキュレータ53,第1参照光ポート54,参照鏡55および第2参照光ポート56を含む。第1光カプラ51は、光源31の第1ポートから出力された光を第1ポート51aに入力して、該入力光を測定光と参照光とに分岐し、該測定光および該参照光を別個のポートから出力する。光サーキュレータ53は、第1光カプラ51からの測定光をプローブ回転移動機構44に結合するとともに、プローブ回転移動機構44からの測定光を第2光カプラ52に結合する。
また、第1光カプラ51からの参照光は、第1参照光ポート54から空間に出射され、所定の光路長だけ参照光路を伝搬させた後に参照鏡55で折り返されて第2参照光ポート56に結合する。第2参照光ポート56に結合した参照光は、第2光カプラ52に結合する。第2光カプラ52は、測定光と参照光とを干渉させて第1出力ポート52aおよび第2出力ポート52bから出力する。第1および第2の出力ポート52a,52bから出力された測定光および参照光は、バランス型OCT検出器60により検出される。
バランス型OCT検出器60は、第1光検出器61、第2光検出器62および差分回路63を含む。第1光検出器61は、第1出力ポート52aから出力された測定光および参照光を検出する。第2光検出器62は、第2出力ポート52bから出力された測定光および参照光を検出する。差分回路63は、2つの光検出器61および62それぞれで検出された電気信号の差分を取り、その差分を増幅することでOCT電気信号を生成し、第1電気出力ポート64から出力する。出力されたOCT電気信号はAD変換器34でデジタイズされる。また、1つの光検出器62からは干渉光学系50からの出力光のパワーに対応する出力モニタ電気信号が生成され、その出力モニタ電気信号が第2電気出力ポート65から出力される。出力モニタ電気信号は、第2AD変換器37でデジタイズされ、分析部35で解析される。
図8は、第2実施形態の光干渉断層撮像装置2の動作を説明する図である。図8は、(a) 光源31の発振波長、(b) 光源31の出力パワー、(c) バランス型OCT検出器60から出力されるOCT電気信号、(d) モニタ検出器33から出力されるモニタ電気信号、(e) AD変換器34におけるスキャントリガ信号、および、(f) AD変換器34から出力されるデジタル信号、それぞれの時間変化を示す。光源31の出力パワー、干渉光学系50の透過率および干渉光学系50の透過パワーそれぞれの波長依存性は、図4に示すものと同じである。
図8(a)に示すように、光源31の発振波長は、時間の関数として周期的に三角波状に掃引される。波長掃引の周期はT0であり、各周期T0において、期間T1は長波長方向への掃引であり、期間T2は短波長方向への掃引である。掃引方向によってコヒーレンス長や雑音などの光源31の性能が変わりうるので、長波長方向への掃引のみ(または、短波長方向への掃引のみ)を光源31から出力してOCT測定に用い、短波長方向への掃引は出力しない。光源31の出力パワーは図4(a)に示すように波長依存性を持つ。それ故、図8(b)に示すように、光源31の出力パワーも波長の掃引に付随して時間の関数として周期的に変化する。
本実施形態においては、OCT電気信号の振幅は参照光および測定光それぞれの振幅の積に比例することから、干渉光学系50の測定光の透過率と参照光の透過率との相乗平均で表される透過率は、図4(a),(b)に示すように、光源31の出力パワーの波長依存性と逆の波長依存性を有することが好適である。このとき、干渉光学系50から出力される参照光と測定光とのパワーの相乗平均として表される透過パワーは、図4(c)に示すように波長依存性が低減される。
図4(c)のように干渉光学系50の透過パワーの波長依存性が低減されることにより、図8(c)に示すように、バランス型OCT検出器60から出力されるOCT電気信号は、光源31の出力パワーの変動に起因する時間的変動が抑制される。
その結果、図3(d)〜(f)に示されたのと同様に、モニタ電気信号、変換開始トリガ(スキャントリガ信号)、デジタル信号が得られる。
本実施形態では、測定光および参照光をバランス検出することで、測定光パワーおよび参照光パワーの変動によるOCT電気信号の変動への影響が低減されるので、OCT電気信号の飽和によるOCT画像の乱れを低減することができ、反射率が大きく変動する対象物でも乱れのないOCT画像を撮影することが可能となる。
光源31の出力パワーのゆるやかな変化によるスキャントリガのタイミングの誤差を低減するために、光源31は、波長掃引の周期よりも長い時間における出力パワーの平均値が一定となるよう制御されることが望ましい。一方で、周期的に掃引される発振波長の中心値も、環境温度などによってゆるやかに変動する場合がある。このような中心波長の変化は、測定光と参照光との干渉光のスペクトルを解析して対象物中の物質を検出する解析を行なう場合に解析エラーの原因となりうる。
本実施形態では、干渉光学系から出力される光のパワーに対応する出力モニタ電気信号は、第2AD変換器37でデジタイズされ分析部35で解析される。分析部35では、光源31における波長掃引の周期よりも長い時間に渡って、出力モニタ電気信号を平均化して平均値を算出する。この平均値は、干渉光学系50から出力される測定光および参照光のパワーの平均値を表している。本実施形態では、光源31からの出力パワーは平均値が一定となるように制御され、さらに、図4(b)に示すように測定光および参照光の透過率は波長に対して単調な変化を有していることから、出力モニタ電気信号の平均値の変化を検出することで、光源31の発振波長の中心値の変化を検出することができる。モニタ検出器33の出力と第2AD変換器37の出力との比から、中心波長が測定光および参照光の透過率が大きな方向に動いたか小さな方向に動いたかを検出することができる。検出された波長の変化に基いてスペクトル解析を行なうことで、光源31の発振波長の中心値が変化する場合においてもスペクトル解析の精度を維持することが可能である。
1,2…光干渉断層撮像装置、3…対象物、10…OCTカテーテル、11…光ファイバ、11a…近位端、11b…遠位端、12…コネクタ、13…集光光学系、14…偏向光学系、15…キャップ、16…サポートチューブ、17…ジャケットチューブ、18…媒質、30…測定部、31…光源、32…OCT検出器、33…モニタ検出器、34…AD変換器、35…分析部、36…出力部、37…第2AD変換器、40…干渉光学系、41…光カプラ、42…参照光ポート、43…参照鏡、44…プローブ回転移動機構、50…バランス型干渉光学系、51…第1光カプラ、52…第2光カプラ、53…光サーキュレータ、54…第1参照光ポート、55…参照鏡、56…第2参照光ポート、60…バランス型OCT検出器、61…第1光検出器、62…第2光検出器、63…差分回路、64…第1電気出力ポート、65…第2電気出力ポート。
Claims (3)
- 光の干渉を用いて対象物の断層像を撮影する光干渉断層撮像装置であって、
レーザ発振波長および出力パワーが時間とともに変化するレーザ光を出力する光源と、
前記光源から出力される第1レーザ光を測定光と参照光に分岐し、前記測定光を前記対象物に照射するために出力し、前記参照光を参照光路に伝搬させ、前記対象物から後方散乱された測定光と前記参照光路を伝搬した参照光とを合波して出力し、透過率が前記光源の出力パワーの波長依存性と逆の波長依存性を有する干渉光学系と、
前記干渉光学系から出力された測定光と参照光とが干渉してなる干渉光を検出して、その干渉光強度に応じた値のOCT電気信号を発生させるOCT検出器と、
前記光源から出力され、前記第1レーザ光の光強度と実質的に比例関係にある光強度を有する第2レーザ光を検出して、その光強度に応じた値のモニタ電気信号を発生させるモニタ検出器と、
前記モニタ電気信号に基いて定められた期間に亘って前記OCT電気信号をデジタル信号に変換して出力するAD変換器と、
前記デジタル信号を周波数解析して断層画像データを生成する分析部と、
を備える光干渉断層撮像装置。 - 前記光源は、レーザ光を出力する時間範囲の少なくとも一部の時間範囲において、出力するレーザ光のレーザ発振波長および出力パワーが時間とともに単調に変化するとともに、前記一部の時間範囲に出力される波長範囲において出力パワーが波長に対して第1の符号で単調に変化し、
前記干渉光学系は、前記波長範囲において前記第1の符号と逆の第2の符号で透過率が波長に対して単調に変化する透過率を有し、
前記AD変換器は、前記一部の時間範囲において前記第2レーザ光の光強度が閾値に達することを検出して前記OCT電気信号のデジタル信号への変換の開始のタイミングを決定する、
請求項1に記載の光干渉断層撮像装置。 - 前記干渉光学系から出力された前記測定光および参照光が合波されてなる出力光の光強度を検出する出力光モニタ検出器をさらに備え、
前記分析部は、前記出力光の光強度の変化を分析することで、前記レーザ発振波長の中心値の変化を検出する、
請求項1に記載の光干渉断層撮像装置。
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