JP2014206541A - Laser gas analyzer - Google Patents

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平田 隆昭
Takaaki Hirata
隆昭 平田
康彦 光本
Yasuhiko Mitsumoto
康彦 光本
将也 大山
Masaya Oyama
将也 大山
敦彦 蒲原
Atsuhiko Kanbara
敦彦 蒲原
直之 藤村
Naoyuki Fujimura
直之 藤村
稔 前田
Minoru Maeda
稔 前田
直 杉山
Sunao Sugiyama
直 杉山
アラン・カゥイー
Cowie Alan
ジー・ズー
Zhu Jie
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a laser gas analyzer capable of measuring a concentration of a multicomponent mixed gas by using an area method not requiring a statistical technique.SOLUTION: The laser gas analyzer for analyzing a measurement target gas in a multicomponent mixed gas using wavelength variable semiconductor laser absorption spectroscopy comprises: a wavelength calibration gas cell that is used for wavelength calibration of an absorption spectrum, and includes a wavelength calibration gas made of multiple kinds of gases encapsulated therein.

Description

本発明は、レーザガス分析装置に関し、詳しくは、炭化水素多成分混合ガスの測定が効率よく行えるレーザガス分析装置に関する。   The present invention relates to a laser gas analyzer, and more particularly to a laser gas analyzer that can efficiently measure a hydrocarbon multicomponent mixed gas.

TDLAS(Tunable Diode Laser Absorption Spectroscopy;波長可変半導体レーザ吸収分光)法を用いたレーザガス分析計は、測定対象に波長可変半導体レーザからの光を照射するだけで、高温や腐食性ガスなどの測定対象成分の濃度でも、他の成分の干渉を受けることなく成分選択性が高く、非接触で、高速にリアルタイムで測定できるという利点がある。   Laser gas analyzers using the TDLAS (Tunable Diode Laser Absorption Spectroscopy) method only irradiate light from a wavelength tunable semiconductor laser to the measurement target components such as high temperature and corrosive gas. Even in the case of a concentration of 1, there is an advantage that the component selectivity is high without being interfered by other components, and measurement can be performed in real time at high speed without contact.

図19はTDLAS法を用いた従来のレーザガス分析装置の一例を示すブロック図であり、測定ガス雰囲気中に向けて測定用レーザ光を照射する半導体レーザを含む光源ユニットと、測定ガス雰囲気の測定空間を透過した測定用レーザ光を検出する受光素子およびこの受光素子の出力信号を処理する演算処理部を含む検出ユニットとで構成されている。   FIG. 19 is a block diagram showing an example of a conventional laser gas analyzer using the TDLAS method, in which a light source unit including a semiconductor laser that irradiates a measurement laser beam toward a measurement gas atmosphere, and a measurement space in the measurement gas atmosphere And a detection unit including an arithmetic processing unit for processing an output signal of the light receiving element.

図19に示すレーザガス分析装置は、赤外から近赤外領域に存在する測定対象成分分子の振動・回転エネルギー遷移による分子固有の光吸収スペクトルを、極めて発振波長スペクトル線幅の狭い半導体レーザを用いて測定する。O2、NH3、H2O、CO、CO2など大半の分子の分子特有の吸収スペクトルは赤外〜近赤外領域であり、特定波長における光吸収量(吸光度)を測定することで対象成分の濃度を算出できる。 The laser gas analyzer shown in FIG. 19 uses a semiconductor laser having an extremely narrow oscillation wavelength spectrum line width for a light absorption spectrum unique to a molecule caused by vibration / rotational energy transition of a measurement target molecule existing in the infrared to near-infrared region. To measure. The absorption spectra peculiar to most molecules such as O 2 , NH 3 , H 2 O, CO, CO 2 are in the infrared to near-infrared region, and are measured by measuring the light absorption (absorbance) at a specific wavelength. The concentration of the component can be calculated.

図19において、光源ユニット10に設けられている半導体レーザ11は、測定用レーザ光を測定ガス20の雰囲気中に照射出力する。この半導体レーザ11が出力するレーザ光は、発振波長スペクトル線幅が極めて狭く、レーザ温度や駆動電流を変えることで発振波長を変更できるので、吸収スペクトルの各吸収ピークの1本のみを測定できる。   In FIG. 19, the semiconductor laser 11 provided in the light source unit 10 irradiates and outputs measurement laser light into the atmosphere of the measurement gas 20. The laser light output from the semiconductor laser 11 has a very narrow oscillation wavelength spectrum line width, and the oscillation wavelength can be changed by changing the laser temperature or drive current. Therefore, only one of the absorption peaks of the absorption spectrum can be measured.

したがって、干渉ガスの影響を受けない吸収ピークを選定することができ、波長選択性が高く、他干渉成分の影響を受けることがないため、測定の前段階における干渉ガスを除去することなくプロセスガスを直接測定できる。   Therefore, the absorption peak that is not affected by the interference gas can be selected, the wavelength selectivity is high, and it is not affected by other interference components. Therefore, the process gas is removed without removing the interference gas in the previous stage of measurement. Can be measured directly.

半導体レーザ11の発振波長を測定成分の1本の吸収線の近傍でスキャンすることにより、干渉成分と重ならない正確なスペクトルの測定が行えるが、そのスペクトル形状は、測定ガス温度、測定ガス圧力、共存ガス成分などによるスペクトルのブロードニング(Broadening)現象により変化する。このため、これらの環境変動を伴う実プロセス測定では、その補正が必要になる。   By scanning the oscillation wavelength of the semiconductor laser 11 in the vicinity of one absorption line of the measurement component, an accurate spectrum that does not overlap with the interference component can be measured. The spectrum shape includes the measurement gas temperature, the measurement gas pressure, It changes due to the broadening phenomenon of spectrum due to coexisting gas components. For this reason, the actual process measurement accompanied by these environmental variations requires correction.

そこで、図19の装置では、半導体レーザ11の発振波長をスキャンして吸収スペクトルを測定することによりスペクトル面積を求め、そのスペクトル面積から成分濃度に変換するスペクトル面積法を用いている。   Therefore, the apparatus of FIG. 19 uses a spectrum area method in which the spectrum area is obtained by scanning the oscillation wavelength of the semiconductor laser 11 and measuring the absorption spectrum, and converting the spectrum area into the component concentration.

他のレーザガス分析装置では、吸収スペクトルのピーク高さから測定成分を求めるピーク高さ法や波長スキャン信号を変調してその周波数の2倍周波数変調波形のP−P(ピーク・ツー・ピーク)値から測定成分の濃度を求める2f法が使われているが、これらは、温度、圧力、共存ガス成分の変動などにより大きな影響を受けやすい。   In other laser gas analyzers, the peak height method for obtaining the measurement component from the peak height of the absorption spectrum or the wavelength scan signal is modulated and the P-P (peak-to-peak) value of the frequency-modulated waveform is double that frequency. The 2f method for obtaining the concentration of the measured component from the above is used, but these are easily affected by variations in temperature, pressure, coexisting gas components, and the like.

これに対し、スペクトル面積は原理的に共存ガス成分の違いによる変化の影響を受けることはなく(スペクトルの面積は共存ガス成分によらずほとんど一定)、圧力変動に対してもスペクトル面積は原理的に線形変化を示す。   On the other hand, the spectrum area is not affected by changes due to the difference in the coexisting gas components in principle (the spectrum area is almost constant regardless of the coexisting gas components), and the spectrum area is also in principle against pressure fluctuations. Shows a linear change.

ピーク高さ法や2f法では、上記3変動要因(温度、圧力、共存ガス成分)が全て非線形に影響し、これら変動要因が共存する場合は補正が困難であるが、スペクトル面積法によれば、ガス圧力変動に対する線形補正とガス温度変動に対する非線形補正を行うことができ、正確な補正を実現できる。   In the peak height method and the 2f method, the above three fluctuation factors (temperature, pressure, coexisting gas components) all affect nonlinearly, and when these fluctuation factors coexist, correction is difficult. The linear correction for the gas pressure fluctuation and the non-linear correction for the gas temperature fluctuation can be performed, and an accurate correction can be realized.

測定ガス20の雰囲気中を通過した測定用レーザ光は検出ユニット30に設けられている受光素子31で受光され、電気信号に変換される。   The measurement laser light that has passed through the atmosphere of the measurement gas 20 is received by the light receiving element 31 provided in the detection unit 30 and converted into an electrical signal.

受光素子31の出力信号はゲイン可変のアンプ32を介して適切な振幅レベルに調整されてA/D変換器33に入力され、デジタル信号に変換される。   The output signal of the light receiving element 31 is adjusted to an appropriate amplitude level via a variable gain amplifier 32, input to the A / D converter 33, and converted into a digital signal.

A/D変換器33の出力データについて、半導体レーザ11の波長のスキャンに同期して、積算器34とメモリ35との間で所定回数(たとえば数百〜数千回)の積算とメモリ35への格納が繰り返されて測定信号に含まれるノイズが除去されてデータが平滑化された後、CPU36に入力される。   With respect to the output data of the A / D converter 33, in synchronization with the wavelength scan of the semiconductor laser 11, the integration is performed a predetermined number of times (for example, several hundred to several thousand times) between the integrator 34 and the memory 35 and the memory 35 Is repeated, noise included in the measurement signal is removed and the data is smoothed, and then input to the CPU 36.

CPU36は、ノイズが除去された測定信号に基づき測定ガスの濃度解析などの演算処理を行うとともに、受光素子31の出力信号の振幅レベルがA/D変換器33の入力レベルとして適切でない場合にアンプ32のゲイン調整を行う。   The CPU 36 performs arithmetic processing such as measurement gas concentration analysis based on the measurement signal from which noise has been removed, and an amplifier when the amplitude level of the output signal of the light receiving element 31 is not appropriate as the input level of the A / D converter 33. 32 gain adjustment is performed.

非特許文献1には、波長可変半導体レーザ分光を応用したレーザガス分析計の測定原理とその特長および具体的な測定事例について記載されている。   Non-Patent Document 1 describes the measurement principle, features, and specific measurement examples of a laser gas analyzer that applies wavelength-tunable semiconductor laser spectroscopy.

田村 一人、外3名、「レーザガス分析計TDLS200とその産業プロセスへの応用」、横河技報、横河電機株式会社、2010年、Vol.53 No.2(2010) p.51−54Tamura, one and three others, “Laser gas analyzer TDLS200 and its application to industrial processes”, Yokogawa Technical Report, Yokogawa Electric Corporation, 2010, Vol. 53 No. 2 (2010) p. 51-54

しかし、図19に示すような構成のレーザガス分析装置では、半導体レーザ11の波長可変範囲が狭いことから、単一成分の測定に限られている。   However, the laser gas analyzer configured as shown in FIG. 19 is limited to the measurement of a single component because the wavelength variable range of the semiconductor laser 11 is narrow.

たとえば炭化水素多成分混合ガスを測定する場合、CH4以外の炭化水素では構造が複雑で多数の吸収線が重なり合うことから、鋭い吸収線以外にブロードな吸収がベースに存在するため、吸収が無い波長は存在しない。このため、ガスセル自体の透過率の変化などによるベースライン変動を補正することができない。 For example, when measuring a hydrocarbon multi-component gas mixture, there is no absorption because hydrocarbons other than CH 4 have a complicated structure and a large number of absorption lines overlap, so that broad absorption exists in the base other than sharp absorption lines. There is no wavelength. For this reason, it is impossible to correct the baseline fluctuation due to the change in the transmittance of the gas cell itself.

また、炭化水素多成分混合ガスを測定する場合には、CH4以外の炭化水素のブロードな吸収が重なり合った吸収スペクトルから各炭化水素の濃度(ガス分圧)を求める手法が必要となる。 Moreover, when measuring a hydrocarbon multi-component mixed gas, a technique for obtaining the concentration (gas partial pressure) of each hydrocarbon from an absorption spectrum in which broad absorptions of hydrocarbons other than CH 4 overlap is necessary.

このような手法として、従来から統計的手法(ケモメトリクス)が知られているが、各アプリケーションに応じて個別に検量線を求める必要があるため、多大なエンジニアリング工数が発生する。   As such a method, a statistical method (chemometrics) has been conventionally known. However, since a calibration curve needs to be obtained individually according to each application, a large engineering man-hour is generated.

一方、単一成分の測定では、前述の非特許文献1に記載されているような統計的手法によらない面積法が用いられている。   On the other hand, in the measurement of a single component, an area method not based on a statistical method as described in Non-Patent Document 1 is used.

この統計的手法によらない面積法を用いてブロードな吸収が重なり合った多成分混合ガスの測定を行うためには、重なり合った吸収スペクトルから各ガス単独の吸収スペクトルを分離する必要があることから、分析装置としては実用化されていない。   In order to measure multi-component mixed gas with broad absorption overlap using the area method not based on this statistical method, it is necessary to separate the absorption spectrum of each gas from the overlapped absorption spectrum. It has not been put into practical use as an analyzer.

本発明は、これらの課題を解決するものであり、その目的は、レーザ光源として広い波長可変幅の波長可変レーザを用い、多成分混合ガスの濃度を統計的手法によらない面積法を用いて比較的簡単に測定できるレーザガス分析装置を実現することにある。   The present invention solves these problems, and its purpose is to use a wavelength tunable laser having a wide wavelength tunable width as a laser light source, and to use an area method in which the concentration of a multi-component mixed gas is not based on a statistical technique. The object is to realize a laser gas analyzer which can be measured relatively easily.

このような課題を達成するために、本発明のうち請求項1記載の発明は、
波長可変半導体レーザ吸光分光法を用いて多成分混合ガス中の被測定ガスを分析するレーザガス分析装置において、
吸収スペクトルの波長校正に用いる波長校正用ガスセルを備え、
前記波長校正用ガスセルは、複数種類のガス成分からなる波長校正用ガスが封入されたことを特徴とする。
In order to achieve such a problem, the invention according to claim 1 of the present invention is:
In a laser gas analyzer for analyzing a gas to be measured in a multi-component mixed gas using wavelength tunable semiconductor laser absorption spectroscopy,
It has a gas cell for wavelength calibration used for wavelength calibration of absorption spectrum,
The wavelength calibration gas cell is characterized in that a wavelength calibration gas composed of a plurality of types of gas components is sealed therein.

請求項2に記載の発明は、請求項1に記載のレーザガス分析装置において、
前記波長校正用ガスは、前記被測定ガスと同じ種類のガスを含むことを特徴とする。
The invention described in claim 2 is the laser gas analyzer according to claim 1,
The wavelength calibration gas contains the same type of gas as the gas to be measured.

請求項3に記載の発明は、請求項1に記載のレーザガス分析装置において、
前記波長校正用ガスは、前記被測定ガスの同位体を含むことを特徴とする。
The invention according to claim 3 is the laser gas analyzer according to claim 1,
The wavelength calibration gas contains the isotope of the gas to be measured.

請求項4に記載の発明は、請求項1に記載のレーザガス分析装置において、
前記波長校正用ガスは、メタンとエチレンであることを特徴とする。
A fourth aspect of the present invention is the laser gas analyzer according to the first aspect,
The wavelength calibration gas is methane and ethylene.

請求項5に記載の発明は、請求項1〜4のいずれかに記載のレーザガス分析装置において、
前記波長校正用ガスは、減圧されていることを特徴とする。
The invention according to claim 5 is the laser gas analyzer according to any one of claims 1 to 4,
The wavelength calibration gas is depressurized.

請求項6に記載の発明は、レーザガス分析装置において、
広い波長可変幅を有する波長可変レーザと、
前記波長可変レーザの出力光を測定光と参照光に分岐する光分岐手段と、
多成分混合ガスが導入され前記測定光が入射される測定用ガスセルと、
前記参照光に関連した参照信号と前記測定用ガスセルの出力光に関連した吸収信号に基づいて前記多成分混合ガスに含まれる被測定ガスの各成分単独の吸収スペクトルを求め、各成分の濃度を求めるデータ処理部と、
前記吸収スペクトルの波長校正に用いられ、複数種類のガス成分からなる波長校正用ガスが封入された波長校正用ガスセルと、を備え、
前記波長校正用ガスセルは、前記光分岐手段の前段に配置されたことを特徴とする。
The invention described in claim 6 is a laser gas analyzer,
A tunable laser having a wide tunable width;
Light branching means for branching the output light of the wavelength tunable laser into measurement light and reference light;
A gas cell for measurement into which a multi-component gas mixture is introduced and the measurement light is incident;
Based on a reference signal related to the reference light and an absorption signal related to the output light of the measurement gas cell, an absorption spectrum of each component of the gas to be measured contained in the multi-component gas mixture is obtained, and the concentration of each component is determined. The desired data processing unit;
A wavelength calibration gas cell that is used for wavelength calibration of the absorption spectrum and encloses a wavelength calibration gas composed of a plurality of types of gas components;
The wavelength calibration gas cell is arranged in front of the optical branching means.

これらにより、多成分混合ガスに含まれる各ガスの濃度を統計的手法によらない面積法を用いて比較的簡単に測定できる。   By these, the density | concentration of each gas contained in multicomponent mixed gas can be measured comparatively easily using the area method which does not depend on a statistical method.

本発明の一実施例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows one Example of this invention. 本発明に基づくレーザガス分析装置の具体例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the specific example of the laser gas analyzer based on this invention. 図2の装置の測定動作全体の流れを説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the flow of the whole measurement operation | movement of the apparatus of FIG. メタンのスペクトル図である。It is a spectrum figure of methane. 図4のピークP1の1674.5nm付近におけるメタン、エチレン、エタン、プロピレン、そしてプロパンのスペクトル図である。FIG. 5 is a spectrum diagram of methane, ethylene, ethane, propylene, and propane in the vicinity of 1674.5 nm of peak P1 in FIG. 4. エチレンのスペクトル図である。It is a spectrum diagram of ethylene. 図6のピークP1の1675.9nm付近におけるメタン、エチレン、エタン、プロピレン、そしてプロパンのスペクトル図である。FIG. 7 is a spectrum diagram of methane, ethylene, ethane, propylene, and propane in the vicinity of 1675.9 nm of peak P1 in FIG. 6. エタンのスペクトル図である。It is a spectrum diagram of ethane. 図8のピークP2の1683.1nm付近におけるメタン、エチレン、エタン、プロピレン、そしてプロパンのスペクトル図である。FIG. 9 is a spectrum diagram of methane, ethylene, ethane, propylene, and propane in the vicinity of 1683.1 nm of peak P2 in FIG. 8. プロピレンのスペクトル図である。It is a spectrum figure of propylene. 図10に示すプロピレンのピーク付近におけるメタン、エチレン、エタン、プロピレン、そしてプロパンのスペクトル図である。FIG. 11 is a spectrum diagram of methane, ethylene, ethane, propylene, and propane in the vicinity of the propylene peak shown in FIG. 10. プロパンのスペクトル図である。It is a spectrum figure of propane. 図12に示すプロパンのピーク付近におけるメタン、エチレン、エタン、プロピレン、そしてプロパンのスペクトル図である。FIG. 13 is a spectrum diagram of methane, ethylene, ethane, propylene, and propane in the vicinity of the propane peak shown in FIG. 12. 構成ガスの違いによるピーク幅の変化例図である。It is an example figure of the change of the peak width by the difference in constituent gas. データベースから適切なスペクトルを選択する手順を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the procedure which selects an appropriate spectrum from a database. 抽出されたエタンのスペクトル図である。It is the spectrum figure of the extracted ethane. エチレンのスペクトル面積領域を決定する説明図である。It is explanatory drawing which determines the spectrum area area | region of ethylene. 面積計算領域図である。It is an area calculation area | region figure. 従来のレーザガス分析装置の一例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows an example of the conventional laser gas analyzer.

以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。図1は本発明に基づくレーザガス分析装置の一実施例を示すブロック図である。図1において、波長可変レーザ101は、被測定ガスの吸収スペクトルの測定光を発生するものであり、その発振波長を制御する発振波長制御回路102に接続されている。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a laser gas analyzer according to the present invention. In FIG. 1, a wavelength tunable laser 101 generates measurement light of an absorption spectrum of a gas to be measured, and is connected to an oscillation wavelength control circuit 102 that controls the oscillation wavelength.

波長可変レーザ101の出射光はレンズ103で平行光となり、アイソレータ104を通り、ビームスプリッタ105により測定光と参照光の2つの平行光に分けられる。   The light emitted from the wavelength tunable laser 101 is converted into parallel light by the lens 103, passes through the isolator 104, and is divided into two parallel lights of measurement light and reference light by the beam splitter 105.

ビームスプリッタ105で2つに分けられた一方の平行光は測定光として被測定ガスが導入されているガスセル106に入射されてレンズ107により集光され、フォトダイオード108に入射されて電気信号に変換され、波長校正手段111の一方の入力端子に入力される。   One of the parallel lights divided into two by the beam splitter 105 is incident on a gas cell 106 into which a gas to be measured is introduced as measurement light, collected by a lens 107, incident on a photodiode 108, and converted into an electrical signal. And input to one input terminal of the wavelength calibration means 111.

他方の平行光はレンズ109で集光されて参照光としてフォトダイオード110に入射され、電気信号に変換されて波長校正手段111の他方の入力端子に入力される。   The other parallel light is condensed by the lens 109 and incident on the photodiode 110 as reference light, converted into an electric signal, and input to the other input terminal of the wavelength calibration means 111.

波長校正手段111には、被測定ガスの吸収線波長データを保存する吸収線波長データ格納部112が接続されている。波長校正手段111は、吸収線波長データ格納部112に格納されている吸収波長データとフォトダイオード108から得られた吸収スペクトルを用い、フォトダイオード108と110から得られたスペクトルデータの波長を校正する。   The wavelength calibration unit 111 is connected to an absorption line wavelength data storage unit 112 for storing absorption line wavelength data of the gas to be measured. The wavelength calibration unit 111 calibrates the wavelength of the spectrum data obtained from the photodiodes 108 and 110 using the absorption wavelength data stored in the absorption line wavelength data storage unit 112 and the absorption spectrum obtained from the photodiode 108. .

さらに波長校正手段111は、波長校正されたフォトダイオード108と110のスペクトルデータを割り算することにより吸光度を計算して吸光度の吸収スペクトルを求め、得られた吸光度の吸収スペクトルをスペクトル分離手段113に入力する。   Further, the wavelength calibration unit 111 calculates the absorbance by dividing the spectrum data of the wavelength-calibrated photodiodes 108 and 110 to obtain the absorption spectrum of the absorbance, and inputs the obtained absorbance spectrum to the spectrum separation unit 113. To do.

スペクトル分離手段113には、各被測定ガスの吸収スペクトルデータを保存する吸収スペクトルデータ格納部114が接続されている。スペクトル分離手段113は、たとえば被測定ガスの吸収スペクトルを用いた最小二乗フィッティングにより、波長校正手段111から入力された吸光度の吸収スペクトルから各被測定ガスの吸光度の吸収スペクトルを分離し、得られた各被測定ガスの吸収スペクトルを濃度検出手段115に入力する。   The spectrum separation unit 113 is connected to an absorption spectrum data storage unit 114 that stores absorption spectrum data of each gas to be measured. The spectrum separation means 113 obtained by, for example, separating the absorbance spectrum of each measured gas from the absorbance spectrum input from the wavelength calibration means 111 by least square fitting using the absorption spectrum of the measured gas. The absorption spectrum of each gas to be measured is input to the concentration detection means 115.

濃度検出手段115には、各被測定ガスの吸収線の面積を計算する波長範囲データと、その面積とガス分圧の比例定数データを保存する面積対濃度比データ格納部116が接続されている。濃度検出手段115は、スペクトル分離手段113から入力された各被測定ガスの吸光度の吸収スペクトルから、指定された波長範囲の面積を求め、さらに指定された比例定数を掛けることにより被測定ガスの分圧を計算する。   The concentration detecting means 115 is connected to wavelength range data for calculating the area of the absorption line of each gas to be measured and an area-to-concentration ratio data storage unit 116 for storing proportional constant data of the area and gas partial pressure. . The concentration detection means 115 obtains the area of the designated wavelength range from the absorption spectrum of the absorbance of each gas to be measured input from the spectrum separation means 113, and further multiplies the designated proportionality constant to separate the measurement gas. Calculate the pressure.

図2は炭化水素多成分を測定する本発明に基づくレーザガス分析装置の具体例を示すブロック図であり、図1と共通する部分には同一の符号を付けている。波長可変レーザ101は、炭化水素の吸収スペクトルの測定光を発生する波長1620〜1640nmを出射する第1のMEMS-VCSEL(MEMS-Vertical Cavity Surface Emitting LASER;MEMS垂直共振器面発光レーザ)と波長1670〜1700nmを出射する第2のMEMS-VCSELとで構成される。各MEMS-VCSELは発振波長制御回路102に接続され、発振波長制御回路102は各MEMS-VCSELに交互に電流を印加して交互に発振させるとともに、発振しているMEMS-VCSELに印加する電圧を制御してそれぞれの発振波長を制御する。   FIG. 2 is a block diagram showing a specific example of a laser gas analyzer based on the present invention for measuring hydrocarbon multicomponents, and the same reference numerals are given to the parts common to FIG. The wavelength tunable laser 101 includes a first MEMS-VCSEL (MEMS-Vertical Cavity Surface Emitting Laser) emitting a measurement light of a hydrocarbon absorption spectrum and a wavelength 1670. And a second MEMS-VCSEL that emits light of up to 1700 nm. Each MEMS-VCSEL is connected to the oscillation wavelength control circuit 102, and the oscillation wavelength control circuit 102 alternately oscillates by applying current to each MEMS-VCSEL and also applies a voltage to be applied to the oscillating MEMS-VCSEL. Control each oscillation wavelength.

各MEMS-VCSELの出射光はレンズ103で平行光となり、アイソレータ104を通り、さらにCH4とC24が封入された波長校正用ガスセル117を通ってビームスプリッタ105により測定光と参照光の2つの平行光に分けられる。 The light emitted from each MEMS-VCSEL is converted into parallel light by the lens 103, passes through the isolator 104, and further passes through the wavelength calibration gas cell 117 in which CH 4 and C 2 H 4 are sealed. Divided into two parallel lights.

ビームスプリッタ105で2つに分けられた一方の平行光は、測定光として被測定ガスが導入されているガスセル106に入射され、被測定ガスの吸収信号となる。ガスセル106の出力光はレンズ107により集光され、フォトダイオード108に入射されて電気信号に変換され、波長校正手段111の一方の入力端子に入力される。   One parallel light divided into two by the beam splitter 105 is incident on the gas cell 106 into which the gas to be measured is introduced as the measurement light, and becomes an absorption signal of the gas to be measured. The output light of the gas cell 106 is collected by the lens 107, enters the photodiode 108, is converted into an electric signal, and is input to one input terminal of the wavelength calibration unit 111.

他方の平行光はレンズ109で集光されて参照光として直接フォトダイオード110に入射され、電気信号に変換されて波長校正手段111の他方の入力端子に入力される。これにより、各MEMS-VCSELの出力光強度の参照信号となる。   The other parallel light is condensed by the lens 109 and directly incident on the photodiode 110 as reference light, converted into an electric signal, and input to the other input terminal of the wavelength calibration means 111. Thereby, it becomes a reference signal of the output light intensity of each MEMS-VCSEL.

ガスセル106はガスセル温度制御装置118により所定の温度に制御され、また被測定ガスはガス温度制御装置119によりガスセル106と同じ温度に制御される。   The gas cell 106 is controlled to a predetermined temperature by the gas cell temperature control device 118, and the gas to be measured is controlled to the same temperature as the gas cell 106 by the gas temperature control device 119.

波長校正手段111に接続されている吸収線波長データ格納部112には、被測定ガスのうち波長校正用ガスセル117に封入されているCH4とC24の吸収線波長データが保存されている。波長校正手段111は、吸収線波長データ格納部112に格納されているCH4とC24の吸収波長データとフォトダイオード110から得られたCH4とC24の吸収スペクトルを用いて、フォトダイオード108と110から得られたスペクトルデータの波長を校正する。 The absorption line wavelength data storage unit 112 connected to the wavelength calibration unit 111 stores the absorption line wavelength data of CH 4 and C 2 H 4 enclosed in the wavelength calibration gas cell 117 among the gas to be measured. Yes. The wavelength calibration unit 111 uses the CH 4 and C 2 H 4 absorption wavelength data stored in the absorption line wavelength data storage unit 112 and the CH 4 and C 2 H 4 absorption spectra obtained from the photodiode 110. The wavelength of the spectral data obtained from the photodiodes 108 and 110 is calibrated.

さらに波長校正手段111は、波長校正されたフォトダイオード108と110のスペクトルデータを割り算することにより吸光度を計算して被測定ガスの吸光度の吸収スペクトルを求め、得られた被測定ガスの吸光度のスペクトルをスペクトル分離手段113に入力する。   Further, the wavelength calibration means 111 calculates the absorbance by dividing the spectrum data of the wavelength-calibrated photodiodes 108 and 110 to obtain the absorbance spectrum of the measured gas, and the obtained absorbance spectrum of the measured gas. Is input to the spectral separation means 113.

スペクトル分離手段113に接続されている吸収スペクトルデータ格納部114には、被測定ガスである炭化水素成分(CH4、C24、C26、C36、C38)の吸収スペクトルデータが保存されている。スペクトル分離手段113は、被測定ガスの吸収スペクトルを用いた最小二乗フィッティングにより、波長校正手段111から入力された吸光度の吸収スペクトルから各炭化水素成分(CH4、C24、C26、C36、C38)の吸光度の吸収スペクトルを分離し、得られた各被測定ガスの吸収スペクトルを濃度検出手段115に入力する。 The absorption spectrum data storage unit 114 connected to the spectrum separation means 113 stores a hydrocarbon component (CH 4 , C 2 H 4 , C 2 H 6 , C 3 H 6 , C 3 H 8 ) as a gas to be measured. The absorption spectrum data of is stored. The spectrum separation means 113 performs each hydrocarbon component (CH 4 , C 2 H 4 , C 2 H 6) from the absorption spectrum of the absorbance input from the wavelength calibration means 111 by least square fitting using the absorption spectrum of the gas to be measured. , C 3 H 6 , C 3 H 8 ) absorbance absorption spectra are separated, and the obtained absorption spectra of the measured gases are input to the concentration detection means 115.

濃度検出手段115に接続されている面積対濃度比データ格納部116には、各被測定ガスである炭化水素成分(CH4、C24、C26、C36、C38)の吸収線の面積を計算する波長範囲データと、事前に実測されたその面積とガス分圧の比例定数データが保存されている。 In the area-to-concentration ratio data storage unit 116 connected to the concentration detecting means 115, hydrocarbon components (CH 4 , C 2 H 4 , C 2 H 6 , C 3 H 6 , C 3) that are gas to be measured are stored. Wavelength range data for calculating the area of the absorption line of H 8 ) and proportional constant data of the area and gas partial pressure measured in advance are stored.

濃度検出手段115は、スペクトル分離手段113から入力された各被測定ガスの吸光度の吸収スペクトルから指定された波長範囲の面積を求め、指定された比例定数を掛けることにより各被測定ガスの分圧を求める。さらに、求めた各被測定ガスの分圧をガスセル106の出口経路に設けられている圧力計120で測定された全圧で割ることにより、各被測定ガスの濃度を求めることができる。   The concentration detection means 115 obtains the area of the designated wavelength range from the absorption spectrum of the absorbance of each measured gas input from the spectrum separating means 113, and multiplies the designated proportionality constant to multiply the measured partial pressure of each measured gas. Ask for. Furthermore, the concentration of each gas to be measured can be obtained by dividing the obtained partial pressure of each gas to be measured by the total pressure measured by the pressure gauge 120 provided in the outlet path of the gas cell 106.

図3は、図2のように構成された装置の測定動作の全体の流れを説明するフローチャートである。信号の処理は、被測定ガスの影響を受けない参照信号を用いた波長校正から始める。   FIG. 3 is a flowchart for explaining the overall flow of the measurement operation of the apparatus configured as shown in FIG. The signal processing starts with wavelength calibration using a reference signal that is not affected by the gas to be measured.

波長校正手段111は、フォトダイオード110から出力される参照信号に基づいてCH4とC24の鋭い吸収スペクトルのピークのデータ番号を検出し、吸収線と波長のテーブルからそのデータ番号の正確な波長を確定する。得られた複数のデータ番号と波長の関係から、たとえば多項式近似で各データ番号と波長1685nmレンジと1630nmレンジを対応付ける(ステップS1〜S3)。 The wavelength calibration means 111 detects the peak data number of the sharp absorption spectrum of CH 4 and C 2 H 4 based on the reference signal output from the photodiode 110, and accurately determines the data number from the absorption line and wavelength table. Determine the correct wavelength. From the relationship between the obtained data numbers and wavelengths, for example, each data number is associated with the wavelength 1685 nm range and 1630 nm range by polynomial approximation (steps S1 to S3).

波長校正した後、参照信号と吸収信号から各波長帯における吸光度を計算して(ステップS4)、最適な純スペクトルを選別し(ステップS5)、大まかなガス濃度分析を行った後(ステップS6)、影響度の大きな成分から順次(C24→CH4→C26→C38→C36)スペクトル分離と濃度分析を繰り返して行う(ステップS7〜S16)。 After wavelength calibration, the absorbance in each wavelength band is calculated from the reference signal and absorption signal (step S4), the optimum pure spectrum is selected (step S5), and a rough gas concentration analysis is performed (step S6). Then, in order from components having a large influence degree (C 2 H 4 → CH 4 → C 2 H 6 → C 3 H 8 → C 3 H 6 ), spectral separation and concentration analysis are repeated (steps S7 to S16).

測定ガスへの入射強度をI1、測定ガスからの透過光強度をI2、被測定ガスの吸収率をAとすると、波長λにおけるガスの吸光度は、
吸光度=log10[I1(λ)/I2(λ)]
=log10[I1(λ)/I1(λ)×A(λ)]
=log10[1/A(λ)] (1)
となる。
When the incident intensity to the measurement gas is I 1 , the transmitted light intensity from the measurement gas is I 2 , and the absorption rate of the measurement gas is A, the absorbance of the gas at the wavelength λ is
Absorbance = log 10 [I 1 (λ) / I 2 (λ)]
= Log 10 [I 1 (λ) / I 1 (λ) × A (λ)]
= Log 10 [1 / A (λ)] (1)
It becomes.

さらに、参照光の光強度をIr、波長校正用ガスセル117直前の光強度をI0、波長校正用ガスの吸収率をA1、波長校正用ガスセル117の透過率をTr1、ビームスプリッタ105による分岐比をR1:R2(R1+R2=1)、測定用ガスセル106の透過率をTrとすると、
r(λ)=I0(λ)×A1(λ)×Tr1×R1(λ) (2)
2(λ)=I0(λ)×A1(λ)×Tr1×R2(λ)×A(λ)×Tr(λ) (3)
と表すことができる。
Further, the light intensity of the reference light is I r , the light intensity immediately before the wavelength calibration gas cell 117 is I 0 , the absorption rate of the wavelength calibration gas is A 1 , the transmittance of the wavelength calibration gas cell 117 is T r1 , and the beam splitter 105. Is the branching ratio R 1 : R 2 (R 1 + R 2 = 1) and the transmittance of the measuring gas cell 106 is T r .
I r (λ) = I 0 (λ) × A 1 (λ) × T r1 × R 1 (λ) (2)
I 2 (λ) = I 0 (λ) × A 1 (λ) × T r1 × R 2 (λ) × A (λ) × T r (λ) (3)
It can be expressed as.

したがって、
log10[Ir(λ)/I2(λ)]=log10[R1(λ)/(R2(λ)×A(λ)×Tr(λ))]
=log10[1/A(λ)]+log10[R1(λ)/(R2(λ)×Tr(λ))]
=吸光度+装置関数 (4)
となる。ここで、第2項は測定ガスに依存しない項であるため、事前に測定用ガスセルに吸収を無視できるガスを封入してスペクトルを取得しておけば、第2項を除去できる。つまり、(4)式の第1項のようにフォトダイオード108と110の出力信号の比を取って常用対数を計算すれば吸光度が得られる。
Therefore,
log 10 [I r (λ) / I 2 (λ)] = log 10 [R 1 (λ) / (R 2 (λ) × A (λ) × T r (λ))]
= Log 10 [1 / A (λ)] + log 10 [R 1 (λ) / (R 2 (λ) × T r (λ))]
= Absorbance + Instrument function (4)
It becomes. Here, since the second term is a term that does not depend on the measurement gas, the second term can be removed if a spectrum is acquired in advance by enclosing a gas that can be ignored in the measurement gas cell. That is, the absorbance can be obtained by calculating the common logarithm by taking the ratio of the output signals of the photodiodes 108 and 110 as in the first term of the equation (4).

なお、注意すべき点はIrとI2のいずれにも波長校正用ガスセル117による影響が含まれていることである。このことから、(4)式の第1項のように、両信号の比を取れば波長校正用ガスセル117の信号はなくなるため、計算が簡単に行える。 Incidentally, it should be noted is that it contains the effects of I r and the wavelength calibration gas cell 117 in any of the I 2. From this, as shown in the first term of equation (4), if the ratio between the two signals is determined, the signal of the wavelength calibration gas cell 117 is eliminated, so that the calculation can be performed easily.

次に、各炭化水素の濃度(ガス分圧)を検出する時に用いる波長帯について説明する。本発明の要点は、測定された混合ガスの吸収スペクトルから、各被測定ガス(炭化水素)単独のスペクトルを分離し、得られた単独の吸収線の面積から濃度(ガス分圧)を求めることである。   Next, the wavelength band used when detecting the concentration (gas partial pressure) of each hydrocarbon will be described. The main point of the present invention is to separate the spectrum of each gas to be measured (hydrocarbon) from the measured absorption spectrum of the mixed gas, and obtain the concentration (gas partial pressure) from the area of the obtained single absorption line. It is.

このスペクトル分離を精度良く行うためには、被測定ガスの特徴的な吸収線が存在し、かつ他の混合ガスの特徴的な吸収線が存在しない波長帯を選択すればよい。このような波長帯を選べば、他のガスの主な影響はベースライン変動と同等になるため、ベースライン変動の影響を受けない濃度(ガス分圧)検出方法を採用すれば他のガスの影響を最小にできる。そこで、本発明では、被測定ガス(炭化水素)ごとに上記の条件が当てはまる異なる波長帯を用い、かつベースライン変動の影響を受けない方法で濃度(ガス分圧)検出を行っている。以下それぞれについて説明する。   In order to perform this spectral separation with high accuracy, a wavelength band in which a characteristic absorption line of the gas to be measured exists and a characteristic absorption line of another mixed gas does not exist may be selected. If such a wavelength band is selected, the main effect of other gases will be the same as that of baseline fluctuations. Therefore, if a concentration (gas partial pressure) detection method that is not affected by baseline fluctuations is adopted, other gases will be affected. The impact can be minimized. Therefore, in the present invention, concentration (gas partial pressure) is detected by a method that uses different wavelength bands to which the above conditions apply for each gas to be measured (hydrocarbon) and is not affected by baseline fluctuations. Each will be described below.

図4はメタンのスペクトル図であり、(A)は1685nm帯を示し、(B)は1630nm帯を示している。図4から明らかなように、メタンはそれぞれの波長帯に複数の鋭いピークを持っている。これら鋭いピークの中で、他のガスの吸収成分が小さく濃度(ガス分圧)検出に適しているのは矢印で示しているピークP1〜P6である。   4A and 4B are spectrum diagrams of methane, in which FIG. 4A shows the 1685 nm band, and FIG. 4B shows the 1630 nm band. As is apparent from FIG. 4, methane has a plurality of sharp peaks in each wavelength band. Among these sharp peaks, it is peaks P1 to P6 indicated by arrows that have small absorption components of other gases and are suitable for concentration (gas partial pressure) detection.

図5は、図4のピークP1の1674.5nm付近におけるメタン、エチレン、エタン、プロピレン、そしてプロパンのスペクトル図である。図5によれば、他のガススペクトルに比べて、メタンのピークが明らかに鋭く大きいことが分かる。これにより、他のガスの影響はベースライン変動とみなすことができる。   FIG. 5 is a spectrum diagram of methane, ethylene, ethane, propylene, and propane in the vicinity of 1674.5 nm of the peak P1 in FIG. According to FIG. 5, it can be seen that the peak of methane is clearly sharper and larger than other gas spectra. Thereby, the influence of other gases can be regarded as a baseline fluctuation.

図6はエチレンのスペクトル図であり、(A)は1685nm帯を示し、(B)は1630nm帯を示している。図6から明らかなように、エチレンもそれぞれの波長帯に複数の鋭いピークを持っているが、1630nm帯ではピーク間隔が狭いので特定のピークを抽出することは困難である。これに対し、1685nm帯に矢印で示すピークP1〜P3は、濃度(ガス分圧)検出には適している。   FIG. 6 is a spectrum diagram of ethylene, where (A) shows the 1685 nm band and (B) shows the 1630 nm band. As is apparent from FIG. 6, ethylene also has a plurality of sharp peaks in each wavelength band, but it is difficult to extract a specific peak because the peak interval is narrow in the 1630 nm band. On the other hand, peaks P1 to P3 indicated by arrows in the 1685 nm band are suitable for concentration (gas partial pressure) detection.

図7は、図6のピークP1の1675.9nm付近におけるメタン、エチレン、エタン、プロピレン、そしてプロパンのスペクトル図である。図7によれば、他のガススペクトルに比べて、エチレンのピークが明らかに鋭く大きいことが分かる。これにより、ピークP1は、これら鋭いピークの中で、他のガスの吸収成分が小さく濃度(ガス分圧)検出に適しているものといえる。   FIG. 7 is a spectrum diagram of methane, ethylene, ethane, propylene, and propane in the vicinity of 1675.9 nm of the peak P1 in FIG. According to FIG. 7, it can be seen that the ethylene peak is clearly sharper and larger than other gas spectra. Accordingly, it can be said that the peak P1 is suitable for detecting the concentration (gas partial pressure) because the absorption components of other gases are small among these sharp peaks.

図8はエタンのスペクトル図であり、(A)は1685nm帯を示し、(B)は1630nm帯を示している。図8から明らかなように、エタンは、1630nm帯ではピークがなく、1685nm帯では数本のピークを持っている。これらピークの中で、矢印で示すピークP1〜P3が濃度(ガス分圧)検出には適している。   8A and 8B are spectrum diagrams of ethane. FIG. 8A shows the 1685 nm band, and FIG. 8B shows the 1630 nm band. As is apparent from FIG. 8, ethane has no peak in the 1630 nm band and several peaks in the 1685 nm band. Among these peaks, peaks P1 to P3 indicated by arrows are suitable for concentration (gas partial pressure) detection.

図9は、図8のピークP2の1683.1nm付近におけるメタン、エチレン、エタン、プロピレン、そしてプロパンのスペクトル図である。図9によれば、エチレンやメタンが1683.1nm付近で吸収を持っているが、エタンの吸収が最も高い。   FIG. 9 is a spectrum diagram of methane, ethylene, ethane, propylene, and propane in the vicinity of 1683.1 nm of peak P2 in FIG. According to FIG. 9, ethylene and methane have absorption at around 1683.1 nm, but ethane has the highest absorption.

図10はプロピレンのスペクトル図であり、(A)は1685nm帯を示し、(B)は1630nm帯を示している。図10から明らかなように、プロピレンは、1628.7nmに一本のピークを持っているだけであり、このピークを濃度(ガス分圧)検出に用いる。   FIG. 10 is a spectrum diagram of propylene, (A) shows the 1685 nm band, and (B) shows the 1630 nm band. As is clear from FIG. 10, propylene has only one peak at 1628.7 nm, and this peak is used for concentration (gas partial pressure) detection.

図11は、図10に示すプロピレンのピーク付近におけるメタン、エチレン、エタン、プロピレン、そしてプロパンのスペクトル図である。図11によれば、エチレンとメタンの吸収が大きいため、これらのガスの影響を取り除いてプロピレンを抽出する方法が重要となる。   FIG. 11 is a spectrum diagram of methane, ethylene, ethane, propylene, and propane in the vicinity of the propylene peak shown in FIG. According to FIG. 11, since absorption of ethylene and methane is large, a method of extracting propylene by removing the influence of these gases is important.

図12はプロパンのスペクトル図であり、(A)は1685nm帯を示し、(B)は1630nm帯を示している。図12から明らかなように、プロパンは、1686.4nmに一本のピークを持っているだけであり、このピークを濃度(ガス分圧)検出に用いる。   FIG. 12 is a spectrum diagram of propane, (A) shows the 1685 nm band, and (B) shows the 1630 nm band. As is clear from FIG. 12, propane has only one peak at 1686.4 nm, and this peak is used for concentration (gas partial pressure) detection.

図13は、図12に示すプロパンのピーク付近におけるメタン、エチレン、エタン、プロピレン、そしてプロパンのスペクトル図である。図13によれば、エチレンとメタンの吸収が大きいため、これらのガスの影響を取り除いてプロピレンを抽出する方法が重要となる。   FIG. 13 is a spectrum diagram of methane, ethylene, ethane, propylene, and propane in the vicinity of the propane peak shown in FIG. According to FIG. 13, since the absorption of ethylene and methane is large, a method of extracting propylene by removing the influence of these gases becomes important.

次に、スペクトル分離方法について説明する。ここで注意しなければならないのが、全圧、ガス濃度(ガス分圧)そして混合ガスの種類によって吸収スペクトルの形状が変化することである。これらの変化に対応しなければ、精確なスペクトル分離はできない。   Next, the spectrum separation method will be described. It should be noted here that the shape of the absorption spectrum changes depending on the total pressure, gas concentration (gas partial pressure), and the type of mixed gas. Unless these changes are accommodated, accurate spectral separation cannot be achieved.

そこで、本発明では、スペクトル分離にあたり、スペクトル形状の変化を考慮した各被測定ガスの吸収スペクトルを使用する。   Therefore, in the present invention, the absorption spectrum of each gas to be measured in consideration of the change of the spectrum shape is used for the spectrum separation.

図14を用いてピーク幅が変化する具体例を説明する。図14は構成ガスの違いによるピーク幅の変化例図であり、メタン以外の吸収を除去してメタンの吸収スペクトルのみを抽出したものであり、特性Aはメタンと水素を50%ずつ混合したガスのスペクトルを示し、特性Bはメタンとプロピレンを50%ずつ混合したガスのスペクトルを示している。図14から明らかなように、プロピレンと混合したときは、水素と混合したときに比べてピーク幅が広くなっている。   A specific example in which the peak width changes will be described with reference to FIG. FIG. 14 is a diagram showing an example of changes in peak width due to differences in constituent gases, in which absorption other than methane is removed and only the absorption spectrum of methane is extracted. Characteristic A is a gas in which methane and hydrogen are mixed by 50% each. The characteristic B shows the spectrum of a gas in which methane and propylene are mixed by 50% each. As is clear from FIG. 14, the peak width is wider when mixed with propylene than when mixed with hydrogen.

このようなスペクトル形状の変化に対応するために、事前に取得したスペクトルデータベースの中から、図15のフローチャートに示す処理手順方法によって、実際のスペクトル形状に最も近い各被測定ガスの吸収スペクトルを選択する。スペクトル形状の近い吸収スペクトルを選択するためには、スペクトルデータベースが様々な形状の吸収スペクトルを含んでいなければならない。   In order to cope with such a change in spectrum shape, the absorption spectrum of each gas to be measured that is closest to the actual spectrum shape is selected from the spectrum database acquired in advance by the processing procedure shown in the flowchart of FIG. To do. In order to select an absorption spectrum with a close spectral shape, the spectral database must contain absorption spectra of various shapes.

スペクトル形状が変化する原因は、分子間の衝突が多く起こるためと考えられる。つまり、分子の衝突断面積が大きいプロピレンやプロパンはスペクトル形状を変化させる効果が大きい。一方、スペクトル形状を変化させる効果が小さい分子としては、分子の衝突断面積が小さい窒素分子が挙げられる。   The cause of the change in the spectral shape is thought to be a lot of collisions between molecules. That is, propylene or propane having a large molecular collision cross section has a large effect of changing the spectrum shape. On the other hand, molecules having a small effect of changing the spectrum shape include nitrogen molecules having a small collision cross-sectional area of the molecules.

これらの理由に基づき、以下に示す2種混合ガスの組み合わせについて混合比を変えた多数のスペクトルを測定してスペクトルデータベースを構築し、これらデータベースの中からスペクトル形状が最も近いスペクトルを選んで使用する。
CH4:CH4+N2,CH4+C36,CH4+C38
24:C26+N2,C24+C36,C24+C38
26:C26+N2,C26+C36
26:C26+N2
38:C38+N2
Based on these reasons, a spectrum database is constructed by measuring a number of spectra with different mixing ratios for the combinations of the two types of mixed gas shown below, and a spectrum having the closest spectrum shape is selected from these databases and used. .
CH 4: CH 4 + N 2 , CH 4 + C 3 H 6, CH 4 + C 3 H 8
C 2 H 4 : C 2 H 6 + N 2 , C 2 H 4 + C 3 H 6 , C 2 H 4 + C 3 H 8
C 2 H 6 : C 2 H 6 + N 2 , C 2 H 6 + C 3 H 6
C 2 H 6 : C 2 H 6 + N 2
C 3 H 8 : C 3 H 8 + N 2

図15のフローチャートに基づき、データベースから適切なスペクトルを選択する手順を説明する。まず、計算に用いる各被測定ガス単独の吸収スペクトル(以下初期の純スペクトル)をデータベースから読み出す。ここではスペクトル形状の変化などは考える必要はなく、任意の純スペクトルでよい(ステップS1)。   A procedure for selecting an appropriate spectrum from the database will be described based on the flowchart of FIG. First, an absorption spectrum (hereinafter referred to as an initial pure spectrum) of each gas to be measured used for calculation is read from the database. Here, it is not necessary to consider the change of the spectrum shape, and any pure spectrum may be used (step S1).

次に、ガス選択ループを開始して(ステップS2)、最適純スペクトルを決定するガス種を選択する(ステップS3)。そして、混合ガススペクトルから、選択ガスが特徴的なピークを持っている事前に選択されている波長領域部分を切り取る(ステップS4)。   Next, a gas selection loop is started (step S2), and a gas type for determining the optimum pure spectrum is selected (step S3). Then, a preselected wavelength region portion where the selected gas has a characteristic peak is cut out from the mixed gas spectrum (step S4).

続いて、純スペクトル決定ループを開始する(ステップS5)。選択ガスについてはデータベースから1本ずつ純スペクトルを選択し、選択ガス以外のスペクトルについてはステップS1の純スペクトルを選択する(ステップS6)。   Subsequently, a pure spectrum determination loop is started (step S5). For the selected gas, one pure spectrum is selected from the database one by one, and for the spectrum other than the selected gas, the pure spectrum of step S1 is selected (step S6).

これらの純スペクトルを用いて、次式のようにスペクトル残差を求める。
A=CK+R (5)
Using these pure spectra, the spectrum residual is obtained as in the following equation.
A = CK + R (5)

ここで、Aは混合ガススペクトル、Kは各ガスの純スペクトルを並べたもの、Cは各ガスの濃度(ガス分圧)を示し、Rはスペクトル残差である。ここで各ガスの純スペクトルが決定していれば、(5)式から次の(6)式のように濃度(ガス分圧)を求めることができる。   Here, A is a mixed gas spectrum, K is a list of pure spectra of each gas, C is a concentration (gas partial pressure) of each gas, and R is a spectral residual. If the pure spectrum of each gas is determined here, the concentration (gas partial pressure) can be obtained from the equation (5) as in the following equation (6).

C=AKT(KKT-1 (6)
こうして得られた濃度(ガス分圧)を再び(5)式に代入してスペクトル残差の二乗和演算を行い、スペクトル残差Rを求めることができる(ステップS7)。
C = AK T (KK T ) −1 (6)
The concentration (gas partial pressure) thus obtained is again substituted into the equation (5) to perform the square sum calculation of the spectrum residual, thereby obtaining the spectrum residual R (step S7).

スペクトル残差の二乗和を記録したら(ステップS8)、選択ガスについて別の純スペクトルを選び、スペクトル残差の二乗和を記録する。これを選択ガスのすべての純スペクトルについて行う(ステップS9)。こうして得られたスペクトル残差の二乗和の中で、最も小さいときの純スペクトルを最適純スペクトルとする(ステップS10)。   When the square sum of the spectral residuals is recorded (step S8), another pure spectrum is selected for the selected gas, and the square sum of the spectral residuals is recorded. This is performed for all the pure spectra of the selected gas (step S9). The pure spectrum when it is the smallest among the square sums of the spectral residuals thus obtained is set as the optimum pure spectrum (step S10).

最適純スペクトルが得られたら、次のガスについても同様のフローを繰り返して、すべてのガスについて最適な純スペクトルを取得する(ステップS11)。   When the optimum pure spectrum is obtained, the same flow is repeated for the next gas to obtain the optimum pure spectrum for all the gases (step S11).

図3のステップS6で得られた最適な純スペクトルを用いて各ガスのピーク付近で(6)式を再計算し、概算の各ガス濃度(ガス分圧)を求める。ある炭化水素について選択したピーク付近のスペクトルから、他のガスの最適純スペクトルを(6)式で求められた濃度(ガス分圧)分だけ差し引くことによって、その炭化水素のピークのみを抽出することができる。たとえば5種の炭化水素(メタン、エチレン、エタン、プロピレン、プロパン)の混合ガススペクトルからエタンのみを抽出する場合、
A(C26)=A−K(CH4)C(CH4)−K(C24)C(C24
−K(C36)C(C36)−K(C38)C(C38) (7)
とすればよい。
The formula (6) is recalculated near the peak of each gas using the optimum pure spectrum obtained in step S6 of FIG. 3, and approximate gas concentrations (gas partial pressures) are obtained. Extracting only the peak of the hydrocarbon by subtracting the optimum pure spectrum of the other gas by the concentration (gas partial pressure) obtained by equation (6) from the spectrum near the peak selected for the hydrocarbon. Can do. For example, when extracting only ethane from a mixed gas spectrum of five hydrocarbons (methane, ethylene, ethane, propylene, propane)
A (C 2 H 6) = A-K (CH 4) C (CH 4) -K (C 2 H 4) C (C 2 H 4)
-K (C 3 H 6) C (C 3 H 6) -K (C 3 H 8) C (C 3 H 8) (7)
And it is sufficient.

この(7)式で用いる各炭化水素ガスの濃度(ガス分圧)は、それぞれのピーク付近で(6)式で求められた値を使えば抽出精度が高くなる。このようにして抽出されたエタンのスペクトルを図16に示す。図16において、(A)は混合ガスのスペクトルを示し、(B)は抽出されたエタンスペクトルを示し、(C)はエタンの純スペクトルを示している。図16から明らかなように、エタンは15%しか含まれていないが、純スペクトルとほぼ同じ形のエタンスペクトルが抽出できている。   As for the concentration (gas partial pressure) of each hydrocarbon gas used in the equation (7), the extraction accuracy increases if the value obtained by the equation (6) is used in the vicinity of each peak. The spectrum of ethane extracted in this way is shown in FIG. In FIG. 16, (A) shows the spectrum of the mixed gas, (B) shows the extracted ethane spectrum, and (C) shows the pure spectrum of ethane. As is clear from FIG. 16, ethane is contained only 15%, but an ethane spectrum having almost the same shape as the pure spectrum can be extracted.

なお、ベースライン変動の影響が残っている場合、0次(単純なオフセット)と1次(傾いたオフセット)とエタンの純スペクトルで最小二乗フィッティングを行うことで、ベースライン変動を除去することができる。本発明では一次項の補正まで行って、ベースライン変動を除去した各被測定ガスの吸収スペクトルを分離している。   When the influence of the baseline fluctuation remains, the baseline fluctuation can be eliminated by performing the least square fitting with the zero-order (simple offset), the first-order (tilted offset), and the pure spectrum of ethane. it can. In the present invention, the correction of the first-order term is performed to separate the absorption spectrum of each measured gas from which the baseline fluctuation has been removed.

抽出されたスペクトルを用いて濃度(ガス分圧)を計算するために、スペクトルの面積を用いる。各ガスの分圧が一定ならば、全圧や構成ガスなどの外部環境が変化しても、面積と濃度(ガス分圧)の比例関係が常に成り立つ領域が存在する。このような領域の面積を用いることによって各ガスの分圧を計算する。   In order to calculate the concentration (gas partial pressure) using the extracted spectrum, the area of the spectrum is used. If the partial pressure of each gas is constant, there is a region where the proportional relationship between the area and the concentration (gas partial pressure) always holds even if the external environment such as total pressure or constituent gas changes. The partial pressure of each gas is calculated by using the area of such a region.

具体例として、エチレンのスペクトル面積領域を決定する場合について、図17を用いて説明する。まず、ベースライン分を差し引くために、(A)に示すように、C24ではピーク部分を挟んで、短波長側にXポイント、長波長側にYポイントの2点を結ぶ直線分を差し引く。これにより、(B)に示すように、ベースライン変動の影響を完全に除くことができる。そして、この2点間の面積を求める。 As a specific example, the case where the spectrum area region of ethylene is determined will be described with reference to FIG. First, in order to subtract the baseline, as shown in (A), in C 2 H 4 , a straight line connecting two points, the X point on the short wavelength side and the Y point on the long wavelength side, is sandwiched between the peak portions. Subtract. Thereby, as shown in (B), the influence of the baseline fluctuation can be completely eliminated. Then, the area between the two points is obtained.

このような処理を、濃度(ガス分圧)が既知であるスペクトルデータベースのすべてのスペクトルについて同様に行う。図18は面積計算領域図であり、XとYの値をそれぞれ1から400まで変化させて、濃度(ガス分圧)と面積の関係が最も比例関係に近いときのXとYの組み合わせを求めた結果を示している。横軸がX、縦軸がYに対応しており、青い部分(B)は検出誤差が小さくなることを示し、赤い部分(R)は検出誤差が大きくなることを示している。エチレンではX=317,Y=373の組み合わせが有効となる。   Such a process is similarly performed for all the spectra in the spectrum database whose concentration (gas partial pressure) is known. FIG. 18 is an area calculation area diagram, in which the values of X and Y are changed from 1 to 400, respectively, and the combination of X and Y when the relationship between the concentration (gas partial pressure) and the area is closest to the proportional relationship is obtained. The results are shown. The horizontal axis corresponds to X and the vertical axis corresponds to Y. The blue portion (B) indicates that the detection error is small, and the red portion (R) indicates that the detection error is large. For ethylene, the combination of X = 317 and Y = 373 is effective.

これまで炭化水素多成分系の分析は、その成分分離能力の高さから、主にガスクロが用いられてきたが、測定時間が長くかかることから、測定値を直接制御に用いることはできなかった。一方、リアルタイムで測定可能なレーザガス分析計は、光源の波長可変幅が狭く主に単成分の測定に限られていた。   Until now, analysis of hydrocarbon multi-component systems has mainly used gas chromatography because of its high component separation ability, but since measurement time is long, measured values could not be used for direct control. . On the other hand, laser gas analyzers capable of measuring in real time have a narrow wavelength variable width of the light source and are mainly limited to single component measurement.

これらに対し、本発明では、機械的な稼働部が無く工業計器として要求される高い信頼性を持ち、かつ広い波長範囲で波長可変可能なMEMS-VCSELを光源に用いることにより、多成分混合ガスの吸収スペクトルをリアルタイムで測定可能な工業用レーザガス分析計を実現した。   On the other hand, in the present invention, a multi-component mixed gas is obtained by using as a light source a MEMS-VCSEL that has no mechanical working part and has high reliability required as an industrial instrument and can be tunable in a wide wavelength range. An industrial laser gas analyzer capable of real-time measurement of the absorption spectrum was realized.

具体的には、波長1620〜1750nmの範囲で発振するMEMS-VCSELを光源に用いることで、リアルタイムで測定可能な炭化水素多成分混合ガスの分析が可能なレーザガス分析計を実現した。   Specifically, by using MEMS-VCSEL oscillating in the wavelength range of 1620 to 1750 nm as a light source, a laser gas analyzer capable of analyzing a hydrocarbon multicomponent gas mixture that can be measured in real time was realized.

CH4、C24の吸収線を用いて波長校正を行うことにより、広い波長範囲で正確な吸収スペクトルを得ることができる。 By performing wavelength calibration using the absorption lines of CH 4 and C 2 H 4 , an accurate absorption spectrum can be obtained in a wide wavelength range.

CH4とC24が封入されている波長校正用ガスセル117を用いることにより、被測定ガス中の波長校正に用いるガス濃度(ガス分圧)が低くなって波長校正に用いる吸収線が測定できなくなることを回避できる。 By using the wavelength calibration gas cell 117 in which CH 4 and C 2 H 4 are enclosed, the gas concentration (gas partial pressure) used for wavelength calibration in the gas to be measured is lowered, and the absorption line used for wavelength calibration is measured. It can avoid being impossible.

波長校正用ガスセル117は、従来の装置ではビームスプリッタ105で2つに分けられた参照光の光路に挿入されていたが、本発明ではビームスプリッタ105の前段に入れていることにより、波長校正と光出力校正を一つの受光素子で行える。そして、フォトダイオード108から得られる被測定ガスの吸収信号とフォトダイオード110から得られる参照信号を単純に割り算することで、被測定ガスの吸収信号から校正用ガスの吸収信号を除くことができる。   In the conventional apparatus, the wavelength calibration gas cell 117 is inserted into the optical path of the reference light divided into two by the beam splitter 105. However, in the present invention, the wavelength calibration gas cell 117 is inserted in the preceding stage of the beam splitter 105, so Optical output calibration can be performed with a single light receiving element. Then, the absorption signal of the calibration gas can be removed from the absorption signal of the measurement gas by simply dividing the absorption signal of the measurement gas obtained from the photodiode 108 and the reference signal obtained from the photodiode 110.

波長校正用ガスのCH4とC24の吸収線と波長のテーブルを用いて得られた炭化水素多成分混合ガスの吸収スペクトルの波長校正を行うことにより、正確な吸収スペクトルが得られる。 An accurate absorption spectrum can be obtained by performing wavelength calibration of the absorption spectrum of the hydrocarbon multi-component mixed gas obtained using the wavelength calibration gas CH 4 and C 2 H 4 absorption lines and the wavelength table.

炭化水素多成分混合ガスの各ガスの吸収スペクトルデータベースを用いて各ガスの吸収スペクトルを分離することにより、各ガス単独の吸収スペクトルが得られる。   By separating the absorption spectrum of each gas using the absorption spectrum database of each gas of the hydrocarbon multicomponent mixed gas, an absorption spectrum of each gas can be obtained.

多成分系の吸収スペクトルから各成分濃度(ガス分圧)を求める手段として、統計的手法(ケモメトリクス)を用いない面積法を開発して採用したことにより、各アプリケーション毎に検量線を求める必要がなくなり、多大なエンジニアリング工数を削減できる。これにより、各ガス単独の吸収スペクトルを得ることができ、統計的手法(ケモメトリクス)を用いずに各ガスの濃度(ガス分圧)を求めることができる。   It is necessary to obtain a calibration curve for each application by developing and adopting an area method that does not use statistical methods (chemometrics) as a means of obtaining the concentration of each component (gas partial pressure) from the absorption spectrum of a multi-component system. This eliminates the need for significant engineering man-hours. Thereby, the absorption spectrum of each gas can be obtained, and the concentration (gas partial pressure) of each gas can be obtained without using a statistical method (chemometrics).

面積法を用いるためには、混合ガスの重なり合った吸収スペクトルから各被測定ガス単独の吸収スペクトルを分離する必要があるが、本発明ではガスの混合による吸収スペクトル形状の変化まで含んだ吸収スペクトルデータベースを用い、各ガスの特徴的な吸収線が存在する波長帯で最小二乗フィッティングを行い、混合ガスの吸収スペクトルから各被測定ガス単独の吸収スペクトルを分離した。これにより、他のガスの吸収の影響をベースライン変動程度に抑えることができる。   In order to use the area method, it is necessary to separate the absorption spectrum of each gas under measurement from the overlapped absorption spectrum of the mixed gas. In the present invention, however, the absorption spectrum database includes changes in the shape of the absorption spectrum due to gas mixing. The least square fitting was performed in the wavelength band where the characteristic absorption line of each gas exists, and the absorption spectrum of each measured gas alone was separated from the absorption spectrum of the mixed gas. Thereby, the influence of absorption of other gases can be suppressed to the extent of baseline fluctuation.

本発明では、面積法として、吸収線の形状から決まる値を吸収スペクトルから差し引いて面積を求める方法を採用したので、ベースライン変動の影響を除くことができる。   In the present invention, as the area method, the method of subtracting the value determined from the shape of the absorption line from the absorption spectrum is used to obtain the area, so that the influence of the baseline fluctuation can be eliminated.

各炭化水素ガスのピークとして、他の炭化水素ガスの吸収が小さく、不純物の吸収が小さい波長領域を用いることにより、検量線作成が不要になった。
スペクトルデータベースから実スペクトル形状に最も適したスペクトルを選ぶことによって、スペクトル形状の変化に対応できるようになり、ロバスト性が向上した。
スペクトル形状が変化しても、濃度(ガス分圧)誤差が小さくなる領域の面積を用いることによって、高い精度の濃度(ガス分圧)計測を可能にした。
By using a wavelength region where the absorption of other hydrocarbon gases is small and the absorption of impurities is small as the peak of each hydrocarbon gas, it is not necessary to create a calibration curve.
By selecting the most suitable spectrum for the actual spectrum shape from the spectrum database, it became possible to cope with changes in the spectrum shape and improved robustness.
By using the area of the region where the concentration (gas partial pressure) error is small even if the spectrum shape changes, it is possible to measure the concentration (gas partial pressure) with high accuracy.

なお、濃度(ガス分圧)値によっては、選択したピーク付近における他のガススペクトルが大きくなって、抽出誤差が大きくなる可能性がある。そのような場合には、混合ガスの濃度(ガス分圧)値によって使うピークを変えればよい。   Depending on the concentration (gas partial pressure) value, another gas spectrum in the vicinity of the selected peak may become large, and the extraction error may increase. In such a case, what is necessary is just to change the peak used with the density | concentration (gas partial pressure) value of mixed gas.

ガスセル106に入力される被測定ガスの温度は、ガス温度制御装置119により一定にすることが望ましい。これにより、温度変化に伴うスペクトル形状の変化を抑制でき、温度変化による測定誤差を軽減できる。   The temperature of the gas to be measured input to the gas cell 106 is preferably made constant by the gas temperature control device 119. Thereby, the change of the spectrum shape accompanying a temperature change can be suppressed, and the measurement error by a temperature change can be reduced.

光学系を光ファイバを用いて構成することにより、設計上の制約条件を緩和できて小型化が図れるとともに、機械的な振動に対する安定性を高めることができる。   By configuring the optical system using an optical fiber, design constraints can be relaxed and the size can be reduced, and the stability against mechanical vibration can be enhanced.

マルチパスにして光路長を伸ばすことにより、吸収の小さいガスへの適用や、微量ガスの検出が可能になる。   By extending the optical path length by multipath, it is possible to apply to a gas having a small absorption and to detect a trace gas.

被測定ガスを減圧して測定してもよい。これにより、重なり合っている吸収線の分離が期待できる。   The measurement gas may be measured under reduced pressure. Thereby, separation of the absorption line which has overlapped can be expected.

複数の波長可変光源を用い、共通の受光素子で時分割測定することもできる。   A plurality of wavelength tunable light sources can be used to perform time-division measurement with a common light receiving element.

波長校正用ガスはCH4とC24に限るものではなく、測定に用いる波長帯域に応じてC24OやHClを用いてもよい。波長校正用ガスは、たとえば原子数の少ない鋭い吸収線を持つ分子のガスや、近い波長範囲に吸収線を持つたとえば被測定ガスと同じかその同位体や組成が近いガスなどを用いる。たとえば炭化水素のスペクトルを測定するときは、炭素数が1もしくは2の炭化水素を用いて波長校正を行う。 The wavelength calibration gas is not limited to CH 4 and C 2 H 4 , and C 2 H 4 O or HCl may be used according to the wavelength band used for measurement. As the wavelength calibration gas, for example, a molecular gas having a sharp absorption line with a small number of atoms, or a gas having the absorption line in a near wavelength range, for example, the same isotope or composition as the gas to be measured is used. For example, when measuring the spectrum of a hydrocarbon, wavelength calibration is performed using a hydrocarbon having 1 or 2 carbon atoms.

波長校正用ガスの全圧は、校正に用いる吸収線を鋭くするため、減圧することが望ましい。特に、複数の吸収線の重なりが解けて分離されるまで減圧することにより、さらに高精度の測定が行える。たとえばメタンを波長校正に用いるときは、0.1気圧以下にすると複数の吸収線の重なりが解けるので有効である。   It is desirable to reduce the total pressure of the wavelength calibration gas in order to sharpen the absorption line used for calibration. In particular, by reducing the pressure until a plurality of absorption lines overlap and are separated, higher-precision measurement can be performed. For example, when methane is used for wavelength calibration, it is effective to reduce the overlap of a plurality of absorption lines to 0.1 atm or less.

波長校正用ガスセル117の吸収率は、測定信号のS/Nに対する影響を少なくするため、測定用ガスセル106の吸収率の1/10以下にすることが望ましい。   The absorption rate of the wavelength calibration gas cell 117 is desirably 1/10 or less of the absorption rate of the measurement gas cell 106 in order to reduce the influence of the measurement signal on the S / N ratio.

以上説明したように、本発明によれば、レーザ光源として広い波長可変幅の波長可変レーザを用い、炭化水素多成分混合ガスの濃度を統計的手法によらない面積法を用いて比較的簡単に測定できるレーザガス分析装置を実現でき、各種プロセスガスの直接測定に有効である。   As described above, according to the present invention, a wavelength tunable laser having a wide wavelength tunable width is used as a laser light source, and the concentration of a hydrocarbon multicomponent mixed gas is relatively easily determined by using an area method not based on a statistical method. A laser gas analyzer capable of measurement can be realized, and is effective for direct measurement of various process gases.

101 波長可変レーザ
102 発振波長制御回路
103、107、109 レンズ
104 アイソレータ
105 ビームスプリッタ
106 ガスセル
108、110 フォトダイオード
111 波長校正手段
112 吸収線波長データ格納部
113 スペクトル分離手段
114 吸収スペクトルデータ格納部
115 濃度検出手段
116 面積対濃度比データ格納部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 101 Wavelength variable laser 102 Oscillation wavelength control circuit 103, 107, 109 Lens 104 Isolator 105 Beam splitter 106 Gas cell 108, 110 Photodiode 111 Wavelength calibration means 112 Absorption line wavelength data storage part 113 Spectrum separation means 114 Absorption spectrum data storage part 115 Concentration Detection means 116 Area to concentration ratio data storage unit

波長校正手段111は、フォトダイオード110から出力される参照信号に基づいてCHとCの鋭い吸収スペクトルのピークを検出し、吸収線と波長のテーブルからそのピークの正確な波長を確定する。得られた複数のピークと波長の関係から、たとえば多項式近似で各ピークと波長1685nmレンジと1630nmレンジを対応付ける(ステップS1〜S3)。

The wavelength calibration unit 111 detects the peak of the sharp absorption spectrum of CH 4 and C 2 H 4 based on the reference signal output from the photodiode 110, and determines the exact wavelength of the peak from the absorption line and wavelength table. To do. From the relationship between the obtained plurality of peaks and wavelengths, for example, each peak is associated with the wavelength 1685 nm range and 1630 nm range by polynomial approximation (steps S1 to S3).

Claims (6)

波長可変半導体レーザ吸光分光法を用いて多成分混合ガス中の被測定ガスを分析するレーザガス分析装置において、
吸収スペクトルの波長校正に用いる波長校正用ガスセルを備え、
前記波長校正用ガスセルは、複数種類のガス成分からなる波長校正用ガスが封入されたことを特徴とするレーザガス分析装置。
In a laser gas analyzer for analyzing a gas to be measured in a multi-component mixed gas using wavelength tunable semiconductor laser absorption spectroscopy,
It has a gas cell for wavelength calibration used for wavelength calibration of absorption spectrum,
The laser gas analyzer according to claim 1, wherein the wavelength calibration gas cell is filled with a wavelength calibration gas comprising a plurality of types of gas components.
前記波長校正用ガスは、前記被測定ガスと同じ種類のガスを含むことを特徴とする請求項1に記載のレーザガス分析装置。   The laser gas analyzer according to claim 1, wherein the wavelength calibration gas contains the same type of gas as the gas to be measured. 前記波長校正用ガスは、前記被測定ガスの同位体を含むことを特徴とする請求項1に記載のレーザガス分析装置。   The laser gas analyzer according to claim 1, wherein the wavelength calibration gas contains an isotope of the gas to be measured. 前記波長校正用ガスは、メタンとエチレンであることを特徴とする請求項1に記載のレーザガス分析装置。   The laser gas analyzer according to claim 1, wherein the wavelength calibration gas is methane and ethylene. 前記波長校正用ガスは、減圧されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のレーザガス分析装置。   The laser gas analyzer according to claim 1, wherein the wavelength calibration gas is decompressed. 広い波長可変幅を有する波長可変レーザと、
前記波長可変レーザの出力光を測定光と参照光に分岐する光分岐手段と、
多成分混合ガスが導入され前記測定光が入射される測定用ガスセルと、
前記参照光に関連した参照信号と前記測定用ガスセルの出力光に関連した吸収信号に基づいて前記多成分混合ガスに含まれる被測定ガスの各成分単独の吸収スペクトルを求め、各成分の濃度を求めるデータ処理部と、
前記吸収スペクトルの波長校正に用いられ、複数種類のガス成分からなる波長校正用ガスが封入された波長校正用ガスセルと、を備え、
前記波長校正用ガスセルは、前記光分岐手段の前段に配置されたことを特徴とするレーザガス分析装置。
A tunable laser having a wide tunable width;
Light branching means for branching the output light of the wavelength tunable laser into measurement light and reference light;
A gas cell for measurement into which a multi-component gas mixture is introduced and the measurement light is incident;
Based on a reference signal related to the reference light and an absorption signal related to the output light of the measurement gas cell, an absorption spectrum of each component of the gas to be measured contained in the multi-component gas mixture is obtained, and the concentration of each component is determined. The desired data processing unit;
A wavelength calibration gas cell that is used for wavelength calibration of the absorption spectrum and encloses a wavelength calibration gas composed of a plurality of types of gas components;
2. The laser gas analyzer according to claim 1, wherein the wavelength calibration gas cell is disposed in front of the optical branching unit.
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