JP2014192326A - Optical semiconductor device manufacturing method - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical semiconductor device manufacturing method which can obtain an optical semiconductor device excellent in reliability of emission by improving accuracy of a manufacturing condition while achieving improvement in manufacturing efficiency even though a B-stage phosphor sheet is used.SOLUTION: An optical semiconductor device manufacturing method comprises: a trial production process S1 of experimentally producing and evaluating a trial product 6; a determination process S2 of determining a manufacturing condition for manufacturing an LED device 1; and a manufacturing process S3 of manufacturing the LED device 1 based on the manufacturing condition determined in the determination process S2, in which an LED 3 is covered with a B-stage phosphor sheet 2 and the B-stage phosphor sheet 2 is transformed to a C-stage phosphor sheet. The trial production process S1 includes: a varnish preparation process S5 for preparing varnish containing phosphor and hardening resin; a B-stage transformation process S6 of forming the B-stage phosphor sheet 2 from the varnish; a C-stage transformation process S7 of transforming the B-stage phosphor sheet 2 to the C-stage phosphor sheet 2; and an evaluation process S8 of evaluating the C-stage phosphor sheet 2.

Description

本発明は、光半導体装置の製造方法、詳しくは、蛍光体シートによって光半導体素子を被覆する光半導体装置の製造方法に関する。   The present invention relates to an optical semiconductor device manufacturing method, and more particularly to an optical semiconductor device manufacturing method in which an optical semiconductor element is covered with a phosphor sheet.

従来、蛍光体を含む蛍光体シートによってLEDを被覆して封止し、LED装置を製造することが知られている。   Conventionally, it is known to manufacture an LED device by covering and sealing an LED with a phosphor sheet containing a phosphor.

このようなLED装置では、LEDから発光される光を蛍光体シートによって波長変換し、波長変換された光を外部に照射している。   In such an LED device, the wavelength of light emitted from the LED is converted by a phosphor sheet, and the wavelength-converted light is irradiated to the outside.

LED装置から照射される光の色温度は、LEDの発光波長に加え、さらに、例えば、蛍光体シートの光学特性、具体的には、蛍光体シートの形状、蛍光体シートのLEDに対する配置、蛍光体シートにおける蛍光体の含有割合などに大きく依存する。   In addition to the emission wavelength of the LED, the color temperature of the light emitted from the LED device further includes, for example, optical characteristics of the phosphor sheet, specifically, the shape of the phosphor sheet, the arrangement of the phosphor sheet with respect to the LED, the fluorescence This greatly depends on the phosphor content in the body sheet.

そこで、所望の色温度の光を照射することのできるLED装置の製造方法として、以下の方法が提案されている(例えば、下記特許文献1参照。)。   Then, the following method is proposed as a manufacturing method of the LED device which can irradiate the light of desired color temperature (for example, refer the following patent document 1).

すなわち、特許文献1では、蛍光体が注入された柔軟なカプセル材料から蛍光体シートを予備形成し、この蛍光体シートを、基板に実装されたLEDにかぶせ、その後、LEDに電圧を印加して、LEDを発光させ、色温度を測定して検査する。   That is, in Patent Document 1, a phosphor sheet is pre-formed from a flexible capsule material into which a phosphor is injected, and this phosphor sheet is placed on an LED mounted on a substrate, and then a voltage is applied to the LED. The LED is allowed to emit light, and the color temperature is measured and inspected.

検査において、色温度が適切であれば、検査後に、加熱によって、蛍光体シートを硬化させてLEDおよび基板に対して恒久的にラミネート処理する。   In the inspection, if the color temperature is appropriate, after the inspection, the phosphor sheet is cured by heating and is permanently laminated to the LED and the substrate.

一方、検査において、色温度が適切でなければ、検査後に、蛍光体シートをLEDおよび基板から引き剥がし、次いで、別の種類の蛍光体シートを、再度、基板に実装されたLEDにかぶせ、その後、上記と同様に、検査する。   On the other hand, if the color temperature is not appropriate in the inspection, after the inspection, the phosphor sheet is peeled off from the LED and the substrate, and then another type of phosphor sheet is again placed on the LED mounted on the substrate, and then Inspect as above.

特許文献1で提案される方法は、色温度が適切でなければ、蛍光体シートを別の蛍光体シートに取り替える一方、基板に実装されるLEDはそのまま再利用できるため、基板およびLEDの歩留まりを向上させている。   In the method proposed in Patent Document 1, if the color temperature is not appropriate, the phosphor sheet is replaced with another phosphor sheet, while the LED mounted on the substrate can be reused as it is. It is improving.

特開2007−123915号公報JP 2007-123915 A

しかしながら、上記した特許文献1で提案される方法では、硬化前の蛍光体層は、硬化によって、硬化収縮に伴う反りなどの変形を生じ易く、そうすると、LEDから発光された光の、蛍光体層における光路長が変化する。そのため、硬化した蛍光体層の光学特性と、検査時の硬化前の蛍光体層の光学特性とに、大きなずれ(変動)を生じる。   However, in the method proposed in Patent Document 1 described above, the phosphor layer before curing is likely to be deformed such as warpage accompanying curing shrinkage due to curing, so that the phosphor layer of the light emitted from the LED The optical path length at is changed. Therefore, a large shift (variation) occurs between the optical characteristics of the cured phosphor layer and the optical characteristics of the phosphor layer before curing at the time of inspection.

その結果、目的とするLED装置が得られにくいという不具合がある。   As a result, there is a problem that the target LED device is difficult to obtain.

また、特許文献1で提案される方法において、硬化前の蛍光体シートを、検査の前に硬化させると、検査において、色温度が適切でない場合には、Cステージ化した蛍光体シートが基板およびLEDに接着されているので、基板およびLEDを再利用できないという不具合がある。   Further, in the method proposed in Patent Document 1, when the phosphor sheet before curing is cured before the inspection, if the color temperature is not appropriate in the inspection, the C-staged phosphor sheet is replaced with the substrate and Since it is adhered to the LED, there is a problem that the substrate and the LED cannot be reused.

さらに、特許文献1で提案される方法によれば、そもそも、製品毎に検査して、色温度が適切であるか否かを判断し、適切でない場合には、その都度、蛍光体シートを取り替えるので、LED装置の製造効率を十分に向上させることができないという不具合がある。   Furthermore, according to the method proposed in Patent Document 1, each product is inspected to determine whether or not the color temperature is appropriate. If not, the phosphor sheet is replaced each time. Therefore, there is a problem that the manufacturing efficiency of the LED device cannot be sufficiently improved.

本発明の目的は、Bステージの蛍光体シートを用いながら、製造効率の向上を図りつつ、製造条件の精度を向上させることによって、発光信頼性に優れる光半導体装置を得ることのできる光半導体装置の製造方法を提供することにある。   An object of the present invention is to provide an optical semiconductor device capable of obtaining an optical semiconductor device having excellent light emission reliability by improving the accuracy of manufacturing conditions while improving the manufacturing efficiency while using a phosphor sheet of a B stage. It is in providing the manufacturing method of.

上記目的を達成するために、本発明の光半導体装置の製造方法は、蛍光体シートによって光半導体素子を被覆する光半導体装置の製造方法であり、試作品を試作して評価する試作工程、前記試作品の評価に基づいて、前記光半導体装置を製造するための製造条件を決定する決定工程、および、前記決定工程で決定される前記製造条件に基づいて、Bステージの前記蛍光体シートによって前記光半導体素子を被覆し、その蛍光体シートをCステージ化する、前記光半導体装置を製造する製造工程を備え、前記試作工程は、蛍光体および硬化性樹脂を含むワニスを調製するワニス調製工程、前記ワニスからBステージの前記蛍光体シートを形成するBステージ化工程、Bステージの前記蛍光体シートをCステージ化するCステージ化工程、および、Cステージの前記蛍光体シートを評価する評価工程を備えることを特徴としている。   In order to achieve the above object, an optical semiconductor device manufacturing method of the present invention is an optical semiconductor device manufacturing method in which an optical semiconductor element is covered with a phosphor sheet. Based on the evaluation of the prototype, a determination step for determining manufacturing conditions for manufacturing the optical semiconductor device, and the phosphor sheet of the B stage based on the manufacturing conditions determined in the determination step. A manufacturing process for manufacturing the optical semiconductor device, which covers the optical semiconductor element and forms the phosphor sheet into a C-stage, wherein the prototype process is a varnish preparation process for preparing a varnish containing a phosphor and a curable resin, A B-stage process for forming the B-stage phosphor sheet from the varnish, a C-stage process for converting the B-stage phosphor sheet into a C-stage, and It is characterized by comprising an evaluation step of evaluating the phosphor sheet C stage.

この方法によれば、決定工程は、Cステージの蛍光体シートを含む試作品の評価に基づいて、製造条件を決定する。そして、製造工程は、決定工程で決定された製造条件に基づいて、光半導体装置を製造する。   According to this method, the determining step determines manufacturing conditions based on evaluation of a prototype including a C-stage phosphor sheet. The manufacturing process manufactures the optical semiconductor device based on the manufacturing conditions determined in the determining process.

そうすると、評価対象となる試作品の蛍光体シートは、Cステージである。そのため、製造条件には、蛍光体シートにおいて、上記したCステージ化に起因する光学特性の変動が考慮されている。   If it does so, the fluorescent substance sheet of the prototype used as evaluation object will be a C stage. For this reason, in the manufacturing conditions, a change in optical characteristics due to the above-described C-staging is considered in the phosphor sheet.

その結果、製造工程においては、発光信頼性に優れる光半導体装置を製造することができる。   As a result, in the manufacturing process, an optical semiconductor device having excellent light emission reliability can be manufactured.

しかも、試作品の評価に基づいて決定された製造条件に基づいて、光半導体装置を製造するので、優れた精度で光半導体装置を量産することができる。そのため、光半導体装置の製造効率を十分に向上させることができる。   In addition, since the optical semiconductor device is manufactured based on the manufacturing conditions determined based on the evaluation of the prototype, the optical semiconductor device can be mass-produced with excellent accuracy. Therefore, the manufacturing efficiency of the optical semiconductor device can be sufficiently improved.

また、本発明の光半導体装置の製造方法において、前記Cステージ化工程では、前記蛍光体シートによって前記光半導体素子を被覆し、前記評価工程では、前記蛍光体シートによって前記光半導体素子が被覆される前記光半導体装置を評価することが好適である。   In the optical semiconductor device manufacturing method of the present invention, in the C-stage forming step, the optical semiconductor element is covered with the phosphor sheet, and in the evaluation step, the optical semiconductor element is covered with the phosphor sheet. It is preferable to evaluate the optical semiconductor device.

この方法によれば、Cステージ化工程では、蛍光体シートによって光半導体素子を被覆する。つまり、蛍光体シートによって光半導体素子を被覆した試作品と、実際の製品としての光半導体装置とを、同一の構成とすることができる。   According to this method, in the C-staging step, the optical semiconductor element is covered with the phosphor sheet. That is, a prototype in which an optical semiconductor element is covered with a phosphor sheet and an optical semiconductor device as an actual product can have the same configuration.

そのため、実際の製品と構成が同一である試作品の評価に基づいて、実際の製品の製造条件を決定することができる。   Therefore, it is possible to determine the manufacturing conditions of the actual product based on the evaluation of the prototype that has the same configuration as the actual product.

その結果、製造条件をより一層精度よく決定することができ、発光信頼性により一層優れる光半導体装置を製造することができる。   As a result, manufacturing conditions can be determined with higher accuracy, and an optical semiconductor device that is more excellent in light emission reliability can be manufactured.

また、本発明の光半導体装置の製造方法では、前記試作工程は、前記試作品を今回試作するための試作条件を、前記試作品を今回以前に試作した試作条件および評価の情報に基づいて、決定する試作条件決定工程をさらに備えることが好適である。   Further, in the method of manufacturing an optical semiconductor device of the present invention, the trial production process includes the trial production conditions for producing the prototype this time, based on the trial production conditions and evaluation information on the trial production of the prototype before this time, It is preferable to further include a trial condition determination step for determining.

この方法によれば、試作品を今回試作するための試作条件を、試作品を今回以前に試作した試作条件および評価の情報に基づいて、決定するので、今回以前に試作した試作条件を蓄積することができ、蓄積した試作条件および評価に基づいて、製造条件の精度を向上させることができる。そのため、発光信頼性に優れる光半導体装置を得ることができる。   According to this method, the prototyping conditions for prototyping the prototype are determined based on the prototyping conditions and evaluation information for prototyping the prototype before this time. The accuracy of the manufacturing conditions can be improved based on the accumulated trial production conditions and evaluation. Therefore, an optical semiconductor device having excellent light emission reliability can be obtained.

本発明によれば、製造条件をより一層精度よく決定することができ、発光信頼性により一層優れる光半導体装置を得ることができる。また、光半導体装置の製造効率を十分に向上させることができる。   According to the present invention, manufacturing conditions can be determined with higher accuracy, and an optical semiconductor device that is more excellent in light emission reliability can be obtained. In addition, the manufacturing efficiency of the optical semiconductor device can be sufficiently improved.

図1は、本発明の光半導体装置の製造方法の一実施形態であるLED装置の製造方法のフローチャートを示す。FIG. 1 shows a flowchart of a manufacturing method of an LED device which is an embodiment of a manufacturing method of an optical semiconductor device of the present invention. 図2は、図1に示す試作工程のフローチャートを示す。FIG. 2 shows a flowchart of the prototype process shown in FIG. 図3は、図1に示す製造工程のフローチャートを示す。FIG. 3 shows a flowchart of the manufacturing process shown in FIG. 図4は、図2の試作工程におけるワニス調製工程を説明する図面である。FIG. 4 is a drawing for explaining the varnish preparation step in the trial production step of FIG. 図5は、図2の試作工程におけるBステージ化工程のワニスの塗布を説明する図面である。FIG. 5 is a drawing for explaining the application of varnish in the B-stage forming process in the prototype process of FIG. 図6は、図2の試作工程におけるBステージ化工程のワニスの加熱を説明する図面である。FIG. 6 is a drawing for explaining the heating of the varnish in the B-staging process in the prototype process of FIG. 図7は、図2の試作工程におけるCステージ化工程であって、Bステージの蛍光体シートによってLEDを被覆する前の状態を説明する図面である。FIG. 7 is a drawing for explaining a state before the LED is covered with the B-stage phosphor sheet, which is a C-stage process in the prototype process of FIG. 図8は、図2の試作工程におけるCステージ化工程であって、Bステージの蛍光体シートによってLEDを被覆した後の状態を説明する図面である。FIG. 8 is a diagram for explaining the state after the LED is covered with the phosphor sheet of the B stage, which is the C stage forming step in the prototype process of FIG. 図9は、図2に示す試作工程の変形例である。FIG. 9 is a modification of the prototype process shown in FIG.

図1〜図8を参照して、本発明の光半導体装置の製造方法の一実施形態であるLED装置1の製造方法を説明する。   With reference to FIGS. 1-8, the manufacturing method of the LED apparatus 1 which is one Embodiment of the manufacturing method of the optical semiconductor device of this invention is demonstrated.

LED装置1の製造方法は、図8が参照されるように、蛍光体シート2によって光半導体素子としてのLED3を被覆する光半導体装置としてのLED装置1を製造する方法である。   The manufacturing method of the LED device 1 is a method of manufacturing the LED device 1 as an optical semiconductor device in which the phosphor sheet 2 covers the LED 3 as an optical semiconductor element, as shown in FIG.

LED装置1の製造方法は、図1に示すように、試作品6を試作して評価する試作工程S1、試作品6の評価に基づいて、LED装置1を製造するための製造条件を決定する決定工程S2、および、決定工程で決定される製造条件に基づいて、Bステージの蛍光体シート2によってLED3を被覆し、その蛍光体シート2をCステージ化する、LED装置1を製造する製造工程S3を備える。   As shown in FIG. 1, the manufacturing method of the LED device 1 determines a manufacturing condition for manufacturing the LED device 1 based on a prototype process S <b> 1 in which the prototype 6 is prototyped and evaluated, and the evaluation of the prototype 6. A manufacturing process for manufacturing the LED device 1 in which the LED 3 is covered with the phosphor sheet 2 of the B stage and the phosphor sheet 2 is converted to the C stage based on the determination process S2 and the manufacturing conditions determined in the determination process. S3 is provided.

[試作工程S1]
試作工程S1は、次に説明する製造工程S3と同一の製造装置(製造設備)を利用する。また、試作工程S1は、製造工程S3において量産するLED装置1に比べて、相対的に少量の試作品6を試作する。試作工程S1で試作するLED装置1の数は、例えば、100以下、好ましくは、10以下であり、例えば、1以上である。つまり、試作工程S1では、小規模で試作品6を試作する。なお、LED装置1の数は、LED3の数に関係なく、1つの基板5に対応して、1つとして数えられる。
[Prototype production process S1]
The trial production process S1 uses the same production apparatus (production equipment) as the production process S3 described below. In addition, the prototype process S1 prototypes a relatively small amount of the prototype 6 as compared with the LED device 1 that is mass-produced in the manufacturing process S3. The number of LED devices 1 to be prototyped in the prototype process S1 is, for example, 100 or less, preferably 10 or less, for example, 1 or more. That is, in the trial production process S1, the prototype 6 is produced on a small scale. The number of LED devices 1 is counted as one corresponding to one substrate 5 regardless of the number of LEDs 3.

試作工程S1は、図2に示すように、試作条件決定工程S4と、蛍光体および硬化性樹脂を含むワニスを調製するワニス調製工程S5、ワニスからBステージの蛍光体シート2を形成するBステージ化工程S6、Bステージの蛍光体シート2をCステージ化するCステージ化工程S7、および、Cステージの蛍光体シート2を評価する評価工程S8を備える。   As shown in FIG. 2, the trial production step S1 includes a trial production condition determination step S4, a varnish preparation step S5 for preparing a varnish containing a phosphor and a curable resin, and a B stage for forming a B stage phosphor sheet 2 from the varnish. Step S6, a C-stage forming step S7 for converting the B-stage phosphor sheet 2 into a C-stage, and an evaluation step S8 for evaluating the C-stage phosphor sheet 2 are provided.

試作工程S1において、ワニス調製工程S5、Bステージ化工程S6およびCステージ化工程S7のそれぞれは、試作条件決定工程S4で決定された試作条件に基づいて、実施される。   In the trial production process S1, each of the varnish preparation process S5, the B-stage production process S6, and the C-stage production process S7 is performed based on the trial production conditions determined in the trial production condition determination process S4.

<試作条件決定工程S4>
試作条件決定工程S4は、試作品6を今回試作するための試作条件を、試作品6を今回以前に試作した試作条件および評価の情報に基づいて、決定する工程である。
<Prototype Condition Determination Step S4>
The trial production condition determination step S4 is a process of determining the trial production conditions for making the prototype 6 this time based on the trial production conditions for producing the prototype 6 before this time and information on evaluation.

試作条件の情報としては、例えば、ワニスに関する情報、基板5に関する情報、蛍光体シート2に関する情報などが挙げられる。ワニスに関する情報としては、例えば、蛍光体の配合割合、最大長さの平均値(球形状である場合には、平均粒子径)、吸収ピーク波長、例えば、Aステージの硬化性樹脂の種類、粘度、配合割合などが挙げられる。基板5に関する情報としては、例えば、基板5の外形形状、寸法、表面形状(凹部の有無)、例えば、基板5に実装されるLED3の形状、寸法、発光ピーク波長、基板5の単位面積当たりのLED3の実装数、1つの基板5当たりのLED3の実装数などが挙げられる。蛍光体シート2に関する情報としては、例えば、ワニス7の塗布条件(具体的には、ワニス7の形状、厚みなど)、Bステージ化におけるワニス7の加熱条件、活性エネルギー線の照射条件、例えば、Cステージ化における蛍光体シート2の加熱条件、活性エネルギー線の照射条件、プレス条件、Cステージの蛍光体シート2の厚みなどが挙げられる。   Examples of the information on the trial production conditions include information on the varnish, information on the substrate 5, information on the phosphor sheet 2, and the like. Information on the varnish includes, for example, the blending ratio of the phosphor, the average value of the maximum length (average particle diameter in the case of a spherical shape), the absorption peak wavelength, for example, the type of curable resin of the A stage, the viscosity , And the mixing ratio. Information on the substrate 5 includes, for example, the outer shape, dimensions, and surface shape (with or without recesses) of the substrate 5, for example, the shape, dimensions, emission peak wavelength of the LED 3 mounted on the substrate 5, and the unit area of the substrate 5. Examples include the number of LEDs 3 mounted, the number of LEDs 3 mounted per substrate 5, and the like. Information on the phosphor sheet 2 includes, for example, application conditions of the varnish 7 (specifically, shape, thickness, etc. of the varnish 7), heating conditions of the varnish 7 in B-stage formation, irradiation conditions of active energy rays, for example, The heating condition of the phosphor sheet 2 in the C stage, the irradiation condition of the active energy ray, the pressing condition, the thickness of the phosphor sheet 2 of the C stage and the like can be mentioned.

評価の情報としては、例えば、試作品6の色温度、試作品6の全光束などが挙げられる。   Examples of the evaluation information include the color temperature of the prototype 6, the total luminous flux of the prototype 6, and the like.

試作条件を決定するには、過去の試作条件および評価の情報に基づいて、今回試作するLED装置1における目標が色温度および/または全光束となるように、今回試作するための試作条件を決定する。   In order to determine the prototype condition, the prototype condition for the trial production is determined based on the past trial conditions and evaluation information so that the target of the LED device 1 to be prototyped is the color temperature and / or the total luminous flux. To do.

なお、今回以前に試作した試作条件および評価の情報は、この製造方法の工程を管理するコンピュータのメモリなどに記憶されている。   Note that prototype conditions and evaluation information prototyped before this time are stored in a memory of a computer that manages the steps of the manufacturing method.

<ワニス調製工程S5>
ワニス調製工程S5では、まず、蛍光体および硬化性樹脂のそれぞれを用意し、これらを混合して、ワニスを蛍光体含有硬化性樹脂組成物として調製する。
<Varnish preparation step S5>
In the varnish preparation step S5, first, each of a phosphor and a curable resin is prepared, and these are mixed to prepare a varnish as a phosphor-containing curable resin composition.

蛍光体は、波長変換機能を有しており、例えば、青色光を黄色光に変換することのできる黄色蛍光体、青色光を赤色光に変換することのできる赤色蛍光体などが挙げられる。   The phosphor has a wavelength conversion function, and examples thereof include a yellow phosphor capable of converting blue light into yellow light, and a red phosphor capable of converting blue light into red light.

黄色蛍光体としては、例えば、(Ba,Sr,Ca)SiO;Eu、(Sr,Ba)SiO:Eu(バリウムオルソシリケート(BOS))などのシリケート蛍光体、例えば、YAl12:Ce(YAG(イットリウム・アルミニウム・ガーネット):Ce)、TbAl12:Ce(TAG(テルビウム・アルミニウム・ガーネット):Ce)などのガーネット型結晶構造を有するガーネット型蛍光体、例えば、Ca−α−SiAlONなどの酸窒化物蛍光体などが挙げられる。 Examples of the yellow phosphor include silicate phosphors such as (Ba, Sr, Ca) 2 SiO 4 ; Eu, (Sr, Ba) 2 SiO 4 : Eu (barium orthosilicate (BOS)), for example, Y 3 Al Garnet-type phosphors having a garnet-type crystal structure such as 5 O 12 : Ce (YAG (yttrium, aluminum, garnet): Ce), Tb 3 Al 3 O 12 : Ce (TAG (terbium, aluminum, garnet): Ce) Examples thereof include oxynitride phosphors such as Ca-α-SiAlON.

赤色蛍光体としては、例えば、CaAlSiN:Eu、CaSiN:Euなどの窒化物蛍光体などが挙げられる。 Examples of the red phosphor include nitride phosphors such as CaAlSiN 3 : Eu and CaSiN 2 : Eu.

蛍光体の形状としては、例えば、球状、板状、針状などが挙げられる。好ましくは、流動性の観点から、球状が挙げられる。   Examples of the shape of the phosphor include a spherical shape, a plate shape, and a needle shape. Preferably, spherical shape is mentioned from a fluid viewpoint.

蛍光体の最大長さの平均値(球状である場合には、平均粒子径)は、例えば、0.1μm以上、好ましくは、1μm以上であり、また、例えば、2μm以下、好ましくは、100μm以下である。   The average value of the maximum length of the phosphor (in the case of a spherical shape, the average particle diameter) is, for example, 0.1 μm or more, preferably 1 μm or more, and for example, 2 μm or less, preferably 100 μm or less. It is.

蛍光体の吸収ピーク波長は、例えば、300nm以上、好ましくは、430nm以上であり、また、例えば、550nm以下、好ましくは、470nm以下である。   The absorption peak wavelength of the phosphor is, for example, 300 nm or more, preferably 430 nm or more, and, for example, 550 nm or less, preferably 470 nm or less.

蛍光体は、単独使用または併用することができる。   The phosphors can be used alone or in combination.

蛍光体の配合割合は、硬化性樹脂100質量部に対して、例えば、0.1質量部以上、好ましくは、0.5質量部以上であり、例えば、80質量部以下、好ましくは、50質量部以下である。   The blending ratio of the phosphor is, for example, 0.1 parts by mass or more, preferably 0.5 parts by mass or more, for example, 80 parts by mass or less, preferably 50 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the curable resin. Or less.

硬化性樹脂としては、例えば、2段階の反応機構を有しており、1段階目の反応でBステージ化(半硬化)し、2段階目の反応でCステージ化(完全硬化)する2段階硬化型樹脂が挙げられる。   As the curable resin, for example, it has a two-stage reaction mechanism, and is a two-stage that is B-staged (semi-cured) by the first-stage reaction and C-staged (completely cured) by the second-stage reaction. Examples thereof include curable resins.

2段階硬化型樹脂としては、例えば、加熱により硬化する2段階硬化型熱硬化性樹脂、例えば、活性エネルギー線(例えば、紫外線、電子線など)の照射により硬化する2段階硬化型活性エネルギー線硬化性樹脂などが挙げられる。好ましくは、2段階硬化型熱硬化性樹脂が挙げられる。   As the two-stage curable resin, for example, a two-stage curable thermosetting resin that is cured by heating, for example, two-stage curable active energy beam curing that is cured by irradiation with active energy rays (for example, ultraviolet rays, electron beams, etc.). For example, a functional resin. Preferably, a two-stage curable thermosetting resin is used.

具体的には、2段階硬化型熱硬化型樹脂として、例えば、シリコーン樹脂、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、フェノール樹脂、尿素樹脂、メラミン樹脂、不飽和ポリエステル樹脂などが挙げられる。好ましくは、透光性および耐久性の観点から、2段階硬化型シリコーン樹脂が挙げられる。   Specifically, examples of the two-stage curable thermosetting resin include silicone resin, epoxy resin, polyimide resin, phenol resin, urea resin, melamine resin, and unsaturated polyester resin. Preferably, a two-stage curable silicone resin is used from the viewpoint of translucency and durability.

2段階硬化型シリコーン樹脂としては、例えば、縮合反応と付加反応との2つの反応系を有する縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂などが挙げられる。   Examples of the two-stage curable silicone resin include a condensation reaction / addition reaction curable silicone resin having two reaction systems of a condensation reaction and an addition reaction.

このような縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂としては、例えば、シラノール両末端ポリシロキサン、アルケニル基含有トリアルコキシシラン、オルガノハイドロジェンポリシロキサン、縮合触媒およびヒドロシリル化触媒を含有する第1の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂、例えば、シラノール基両末端ポリシロキサン(後述する式(1)参照)、エチレン系不飽和炭化水素基含有ケイ素化合物(後述する式(2)参照)、エチレン系不飽和炭化水素基含有ケイ素化合物(後述する式(3)参照)、オルガノハイドロジェンポリシロキサン、縮合触媒およびヒドロシリル化触媒を含有する第2の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂、例えば、両末端シラノール型シリコーンオイル、アルケニル基含有ジアルコキシアルキルシラン、オルガノハイドロジェンポリシロキサン、縮合触媒およびヒドロシリル化触媒を含有する第3の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂、例えば、1分子中に少なくとも2個のアルケニルシリル基を有するオルガノポリシロキサン、1分子中に少なくとも2個のヒドロシリル基を有するオルガノポリシロキサン、ヒドロシリル化触媒および硬化遅延剤を含有する第4の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂、例えば、少なくとも2つのエチレン系不飽和炭化水素基と少なくとも2つのヒドロシリル基とを1分子中に併有する第1オルガノポリシロキサン、エチレン系不飽和炭化水素基を含まず、少なくとも2つのヒドロシリル基を1分子中に有する第2オルガノポリシロキサン、ヒドロシリル化触媒およびヒドロシリル化抑制剤を含有する第5の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂、例えば、少なくとも2つのエチレン系不飽和炭化水素基と少なくとも2つのシラノール基とを1分子中に併有する第1オルガノポリシロキサン、エチレン系不飽和炭化水素基を含まず、少なくとも2つのヒドロシリル基を1分子中に有する第2オルガノポリシロキサン、ヒドロシリル化抑制剤、および、ヒドロシリル化触媒を含有する第6の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂、例えば、ケイ素化合物、および、ホウ素化合物またはアルミニウム化合物を含有する第7の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂、例えば、ポリアルミノシロキサンおよびシランカップリング剤を含有する第8の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂などが挙げられる。   Examples of such a condensation reaction / addition reaction curable silicone resin include a first condensation reaction containing a silanol-terminated polysiloxane, an alkenyl group-containing trialkoxysilane, an organohydrogenpolysiloxane, a condensation catalyst, and a hydrosilylation catalyst. Addition reaction curable silicone resin, for example, silanol group-terminated polysiloxane (see formula (1) described later), ethylenically unsaturated hydrocarbon group-containing silicon compound (see formula (2) described later), ethylenically unsaturated Second condensation reaction / addition reaction curable silicone resin containing a hydrocarbon group-containing silicon compound (see formula (3) described later), organohydrogenpolysiloxane, condensation catalyst and hydrosilylation catalyst, for example, both-end silanol type Silicone oil, dialkoxyal containing alkenyl group A third condensation reaction / addition reaction curable silicone resin containing a silane, an organohydrogenpolysiloxane, a condensation catalyst and a hydrosilylation catalyst, for example, an organopolysiloxane having at least two alkenylsilyl groups in one molecule; Fourth polycondensation / addition reaction curable silicone resin containing an organopolysiloxane having at least two hydrosilyl groups in the molecule, a hydrosilylation catalyst and a curing retarder, such as at least two ethylenically unsaturated hydrocarbon groups First organopolysiloxane having at least two hydrosilyl groups in one molecule, second organopolysiloxane having no ethylenically unsaturated hydrocarbon group and having at least two hydrosilyl groups in one molecule, hydrosilylation Catalyst and hydrosilylation A fifth condensation reaction / addition reaction curable silicone resin containing an agent, for example, a first organopolysiloxane having at least two ethylenically unsaturated hydrocarbon groups and at least two silanol groups in one molecule; Sixth condensation / addition reaction curing containing a second organopolysiloxane that does not contain an ethylenically unsaturated hydrocarbon group and has at least two hydrosilyl groups in one molecule, a hydrosilylation inhibitor, and a hydrosilylation catalyst Type silicone resin, for example, a silicon compound and a seventh condensation reaction / addition reaction curing type silicone resin containing a boron compound or an aluminum compound, for example, an eighth condensation reaction containing polyaluminosiloxane and a silane coupling agent -Addition reaction curable silicone resin and the like.

縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂として、好ましくは、第2の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂が挙げられ、具体的には、特開2010−265436号公報などに詳細に記載され、例えば、シラノール基両末端ポリジメチルシロキサン、ビニルトリメトキシシラン、(3−グリシドキシプロピル)トリメトキシシラン、ジメチルポリシロキサン−co−メチルハイドロジェンポリシロキサン、水酸化テトラメチルアンモニウムおよび白金−カルボニル錯体を含有する。具体的には、第2の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂は、例えば、まず、縮合原料であるエチレン系不飽和炭化水素基含有ケイ素化合物およびエチレン系不飽和炭化水素基含有ケイ素化合物と、縮合触媒とを一度に加え、次いで、付加原料であるオルガノハイドロジェンポリシロキサンを加え、その後、ヒドロシリル化触媒(付加触媒)を加えることによって、調製される。   The condensation reaction / addition reaction curable silicone resin is preferably a second condensation reaction / addition reaction curable silicone resin, and specifically described in detail in JP 2010-265436 A, for example. , Silanol-terminated polydimethylsiloxane, vinyltrimethoxysilane, (3-glycidoxypropyl) trimethoxysilane, dimethylpolysiloxane-co-methylhydrogenpolysiloxane, tetramethylammonium hydroxide and platinum-carbonyl complex To do. Specifically, the second condensation reaction / addition reaction curable silicone resin is, for example, an ethylenically unsaturated hydrocarbon group-containing silicon compound and an ethylenically unsaturated hydrocarbon group-containing silicon compound, which are condensation materials, It is prepared by adding a condensation catalyst all at once, then adding an organohydrogenpolysiloxane as an addition raw material, and then adding a hydrosilylation catalyst (addition catalyst).

これによって、Aステージの2段階硬化型樹脂を調製する。   Thus, an A-stage two-stage curable resin is prepared.

Aステージの2段階硬化型樹脂の粘度は、例えば、3000mPa・s以上、好ましくは、5000mPa・s以上であり、また、例えば、20000mPa・s以下、好ましくは、11000mPa・s以下である。なお、Aステージの2段階硬化型樹脂の粘度は、Aステージの2段階硬化型樹脂を25℃に温度調節し、E型コーンを用いて、回転数99s−1で測定される。以下の粘度は、上記と同様の方法によって、測定される。 The viscosity of the A-stage two-stage curable resin is, for example, 3000 mPa · s or more, preferably 5000 mPa · s or more, and, for example, 20000 mPa · s or less, preferably 11000 mPa · s or less. The viscosity of the A-stage two-stage curable resin is measured at a rotational speed of 99 s −1 using an E-type cone after adjusting the temperature of the A-stage two-stage curable resin to 25 ° C. The following viscosities are measured by the same method as described above.

2段階硬化型樹脂の配合割合は、蛍光体含有硬化性樹脂組成物(ワニス)に対して、例えば、30質量%以上、好ましくは、40質量%以上、より好ましくは、50質量%以上であり、また、例えば、98質量%以下、好ましくは、95質量%以下、より好ましくは、90質量%以下である。   The blending ratio of the two-stage curable resin is, for example, 30% by mass or more, preferably 40% by mass or more, and more preferably 50% by mass or more with respect to the phosphor-containing curable resin composition (varnish). For example, it is 98 mass% or less, Preferably, it is 95 mass% or less, More preferably, it is 90 mass% or less.

また、蛍光体含有硬化性樹脂組成物には、必要により、充填剤および/または溶媒を含有させることもできる。   Moreover, a filler and / or a solvent can also be contained in the phosphor-containing curable resin composition as necessary.

充填剤としては、例えば、シリコーン粒子(具体的には、シリコーンゴム粒子を含む)などの有機微粒子、例えば、シリカ(例えば、煙霧シリカなど)、タルク、アルミナ、窒化アルミニウム、窒化ケイ素などの無機微粒子が挙げられる。また、充填剤の最大長さの平均値(球状である場合には、平均粒子径)は、例えば、0.1μm以上、好ましくは、1μm以上であり、また、例えば、200μm以下、好ましくは、100μm以下である。充填剤は、単独使用または併用することができる。充填剤の配合割合は、硬化性樹脂100質量部に対して、例えば、0.1質量部以上、好ましくは、0.5質量部以上であり、また、例えば、70質量部以下、好ましくは、50質量部以下である。   Examples of the filler include organic fine particles such as silicone particles (specifically, including silicone rubber particles), inorganic fine particles such as silica (for example, fumed silica), talc, alumina, aluminum nitride, and silicon nitride. Is mentioned. Further, the average value of the maximum length of the filler (in the case of a spherical shape, the average particle diameter) is, for example, 0.1 μm or more, preferably 1 μm or more, and, for example, 200 μm or less, preferably 100 μm or less. The filler can be used alone or in combination. The blending ratio of the filler is, for example, 0.1 parts by mass or more, preferably 0.5 parts by mass or more, for example, 70 parts by mass or less, preferably 100 parts by mass of the curable resin. It is 50 parts by mass or less.

溶媒としては、例えば、ヘキサンなどの脂肪族炭化水素、例えば、キシレンなどの芳香族炭化水素、例えば、ビニルメチル環状シロキサン、両末端ビニルポリジメチルシロキサンなどのシロキサンなどが挙げられる。溶媒は、蛍光体含有硬化性樹脂組成物が後述する粘度となるような配合割合で、蛍光体含有硬化性樹脂組成物に配合される。   Examples of the solvent include aliphatic hydrocarbons such as hexane, aromatic hydrocarbons such as xylene, and siloxanes such as vinylmethyl cyclic siloxane and both-end vinyl polydimethylsiloxane. The solvent is blended in the phosphor-containing curable resin composition at a blending ratio such that the phosphor-containing curable resin composition has a viscosity described later.

蛍光体含有硬化性樹脂組成物を調製するには、2段階硬化型樹脂と、蛍光体と、必要により配合される充填剤および/または充填剤とを、配合して混合する。   In order to prepare the phosphor-containing curable resin composition, a two-stage curable resin, a phosphor, and a filler and / or a filler to be blended as necessary are blended and mixed.

蛍光体含有硬化性樹脂組成物を調製するには、具体的には、図4に示すように、撹拌機51を備える混合容器52内に上記した各成分を、決定工程S2において決定された、ワニスに関する情報、具体的には、例えば、蛍光体の配合割合、蛍光体の吸収ピーク波長、最大長さの平均値(球形状である場合には、平均粒子径)、例えば、Aステージの硬化性樹脂の種類、粘度、配合割合などに基づいて、配合する。続いて、撹拌機51を用いてそれらを混合する。   To prepare the phosphor-containing curable resin composition, specifically, as shown in FIG. 4, each component described above in the mixing container 52 including the stirrer 51 was determined in the determination step S2. Information on the varnish, specifically, for example, the blending ratio of the phosphor, the absorption peak wavelength of the phosphor, the average value of the maximum length (average particle diameter in the case of a spherical shape), for example, curing of the A stage Based on the type of resin, viscosity, blending ratio, etc. Subsequently, they are mixed using a stirrer 51.

これによって、ワニスをAステージの蛍光体含有硬化性樹脂組成物として調製する。   Thus, the varnish is prepared as an A stage phosphor-containing curable resin composition.

ワニスの25℃、1気圧の条件下における粘度は、例えば、1,000mPa・s以上、好ましくは、4,000mPa・s以上であり、また、例えば、1,000,000mPa・s以下、好ましくは、100,000mPa・s以下である。   The viscosity of the varnish at 25 ° C. and 1 atm is, for example, 1,000 mPa · s or more, preferably 4,000 mPa · s or more, and, for example, 1,000,000 mPa · s or less, preferably , 100,000 mPa · s or less.

<Bステージ化工程S6>
図2に示すBステージ化工程S6では、ワニスからBステージの蛍光体シート2を形成する。
<B-stage process S6>
In the B-stage forming step S6 shown in FIG. 2, the B-stage phosphor sheet 2 is formed from the varnish.

Bステージの蛍光体シート2を形成するには、図5に示すように、例えば、まず、ワニスを、離型シート4の表面に塗布する。   In order to form the B-stage phosphor sheet 2, for example, first, varnish is applied to the surface of the release sheet 4 as shown in FIG. 5.

離型シート4としては、例えば、ポリエチレンフィルム、ポリエステルフィルム(PETなど)などのポリマーフィルム、例えば、セラミクスシート、例えば、金属箔などが挙げられる。好ましくは、ポリマーフィルムが挙げられる。また、離型シート4の表面には、フッ素処理などの剥離処理を施すこともできる。また、離型シート4の形状は、特に限定されず、例えば、平面視略矩形状(短冊状、長尺状を含む)などに形成されている。   Examples of the release sheet 4 include polymer films such as polyethylene films and polyester films (such as PET), for example, ceramic sheets, such as metal foil. Preferably, a polymer film is used. Further, the surface of the release sheet 4 can be subjected to a peeling treatment such as a fluorine treatment. Moreover, the shape of the release sheet 4 is not specifically limited, For example, it is formed in planar view substantially rectangular shape (a strip shape and long shape are included) etc.

ワニスを離型シート4の表面に塗布するには、例えば、ディスペンサ、アプリケータ、スリットダイコータなどの塗布装置が用いられる。好ましくは、図5に示すディスペンサ13が用いられる。   In order to apply the varnish to the surface of the release sheet 4, for example, an application device such as a dispenser, an applicator, or a slit die coater is used. Preferably, a dispenser 13 shown in FIG. 5 is used.

また、蛍光体シート2の厚みが、例えば、10μm以上、好ましくは、50μm以上であり、また、例えば、2000μm以下、好ましくは、1000μm以下となるように、ワニスを離型シート4に塗布する。   Further, the varnish is applied to the release sheet 4 so that the thickness of the phosphor sheet 2 is, for example, 10 μm or more, preferably 50 μm or more, and, for example, 2000 μm or less, preferably 1000 μm or less.

ワニス7は、平面視において、例えば、略矩形状(短冊状、長尺状を含む)、例えば、円形状など、適宜の形状に塗布される。上記した形状を構成するワニス7は、互いに間隔を隔てて形成されていてもよい。   The varnish 7 is applied in an appropriate shape such as a substantially rectangular shape (including a strip shape and a long shape), for example, a circular shape in a plan view. The varnishes 7 constituting the above-described shape may be formed at intervals.

また、ワニス7を、例えば、平面視略矩形状(長尺状を除く)の離型シート4に塗布して、次に説明するBステージ化によって、枚葉式の蛍光体シート2としたり、あるいは、長尺状の離型シート4に連続して塗布して、次に説明するBステージ化によって、連続式の蛍光体シート2とすることもできる。なお、蛍光体シート2を枚葉式とする場合であって、同一の離型シート4において、複数の蛍光体シート2を製造する場合には、ワニス7を断続的に塗布する。   Further, the varnish 7 is applied to, for example, a release sheet 4 having a substantially rectangular shape (excluding a long shape) in plan view, and a B-stage to be described below is used to form a single-wafer type phosphor sheet 2, Or it can also apply | coat continuously to the elongate release sheet 4, and can also be set as the continuous fluorescent substance sheet 2 by B-stage formation demonstrated below. In addition, when the fluorescent substance sheet 2 is made into a single-wafer | sheet-fed type, Comprising: When manufacturing the several fluorescent substance sheet 2 in the same release sheet 4, the varnish 7 is apply | coated intermittently.

その後、塗布されたワニス7をBステージ化(半硬化)する。   Thereafter, the applied varnish 7 is B-staged (semi-cured).

ワニス7が2段階硬化型熱硬化性樹脂を含有する場合には、例えば、塗布されたワニス7を、加熱する。   When the varnish 7 contains a two-stage curable thermosetting resin, for example, the applied varnish 7 is heated.

ワニス7を加熱するには、例えば、図6に示すように、離型シート4の上側および/または下側に対向配置されるヒータ54を備えるオーブン55が用いられる。   In order to heat the varnish 7, for example, as shown in FIG. 6, an oven 55 including a heater 54 disposed on the upper side and / or the lower side of the release sheet 4 is used.

加熱条件は、加熱温度が、例えば、40℃以上、好ましくは、80℃以上、より好ましくは、100℃以上であり、また、例えば、200℃以下、好ましくは、150℃以下、より好ましくは、140℃以下である。加熱時間は、例えば、1分間以上、好ましくは、5分間以上、より好ましくは、10分間以上であり、また、例えば、24時間以下、好ましくは、1時間以下、より好ましくは、0.5時間以下である。   As for the heating conditions, the heating temperature is, for example, 40 ° C. or higher, preferably 80 ° C. or higher, more preferably 100 ° C. or higher, and for example, 200 ° C. or lower, preferably 150 ° C. or lower, more preferably, 140 ° C. or lower. The heating time is, for example, 1 minute or more, preferably 5 minutes or more, more preferably 10 minutes or more, and for example, 24 hours or less, preferably 1 hour or less, more preferably 0.5 hours. It is as follows.

あるいは、ワニス7が2段階硬化型活性エネルギー線硬化性樹脂を含有する場合には、ワニス7に活性エネルギー線を照射する。具体的には、紫外線ランプなどを用いてワニス7に紫外線を照射する。   Alternatively, when the varnish 7 contains a two-stage curable active energy ray-curable resin, the varnish 7 is irradiated with active energy rays. Specifically, the varnish 7 is irradiated with ultraviolet rays using an ultraviolet lamp or the like.

これによって、ワニス7は、Bステージ化(半硬化)する一方、Cステージ化(完全硬化)せず、すなわち、Cステージ化(完全硬化)前の蛍光体シート2、すなわち、Bステージの蛍光体シート2が形成される。   As a result, the varnish 7 is B-staged (semi-cured) but not C-staged (completely cured), that is, the phosphor sheet 2 before C-staged (completely cured), that is, the B-staged phosphor. A sheet 2 is formed.

これによって、図6に示すように、離型シート4の表面に積層されるBステージの蛍光体シート2を製造する。   As a result, as shown in FIG. 6, a B-stage phosphor sheet 2 laminated on the surface of the release sheet 4 is manufactured.

具体的には、決定工程S2において決定された、ワニス7の塗布条件(具体的には、ワニス7の形状、厚みなど)、Bステージ化におけるワニス7の加熱条件、活性エネルギー線の照射条件に基づいて、ワニス7からBステージの蛍光体シート2を形成する。   Specifically, the application conditions of the varnish 7 (specifically, the shape and thickness of the varnish 7) determined in the determination step S2, the heating conditions of the varnish 7 in the B-stage, and the active energy ray irradiation conditions Based on the varnish 7, the B-stage phosphor sheet 2 is formed.

このシート製造工程S3で製造された蛍光体シート2の25℃における圧縮弾性率は、例えば、0.040MPa以上、好ましくは、0.050MPa以上、より好ましくは、0.075MPa以上、さらに好ましくは、0.100MPa以上であり、また、例えば、0.145MPa以下、好ましくは、0.140MPa以下、より好ましくは、0.135MPa以下、さらに好ましくは、0.125MPa以下である。   The compression elastic modulus at 25 ° C. of the phosphor sheet 2 manufactured in the sheet manufacturing step S3 is, for example, 0.040 MPa or more, preferably 0.050 MPa or more, more preferably 0.075 MPa or more, and further preferably, For example, it is 0.145 MPa or less, preferably 0.140 MPa or less, more preferably 0.135 MPa or less, and further preferably 0.125 MPa or less.

圧縮弾性率が上記した上限を超えると、Cステージ化工程S7において、蛍光体シート2によってLED3を被覆する際に、LED3が基板5にワイヤボンディング接続されている場合には、ワイヤ(図示せず)が変形する場合がある。   When the compression elastic modulus exceeds the above upper limit, when the LED 3 is covered with the phosphor sheet 2 in the C-staging step S7 and the LED 3 is wire-bonded to the substrate 5, a wire (not shown) ) May be deformed.

一方、圧縮弾性率が上記した下限に満たないと、蛍光体シート2の形状を確保することが困難となる。つまり、ワニス7が蛍光体シート2の形状を成さない場合がある。   On the other hand, if the compression modulus is less than the lower limit, it is difficult to ensure the shape of the phosphor sheet 2. That is, the varnish 7 may not form the shape of the phosphor sheet 2.

その後、必要により、連続式のBステージの蛍光体シート2を、連続する離型シート4とともに、所定形状に切断して、枚葉式の蛍光体シート2とすることもできる。   Thereafter, if necessary, the continuous B-stage phosphor sheet 2 can be cut into a predetermined shape together with the continuous release sheet 4 to obtain a single-wafer phosphor sheet 2.

<Cステージ化工程S7>
図2に示すCステージ化工程S7では、図7および図8に示すように、まず、Bステージの蛍光体シート2によってLED3を被覆して、次いで、Bステージの蛍光体シート2をCステージ化する。
<C-stage process S7>
In the C-stage forming step S7 shown in FIG. 2, as shown in FIGS. 7 and 8, first, the LED 3 is covered with the B-stage phosphor sheet 2, and then the B-stage phosphor sheet 2 is made into the C-stage. To do.

Bステージの蛍光体シート2によってLED3を被覆するには、図7に示すように、まず、LED3が実装された基板5を用意する。   In order to cover the LEDs 3 with the B-stage phosphor sheet 2, as shown in FIG. 7, first, a substrate 5 on which the LEDs 3 are mounted is prepared.

基板5は、例えば、シリコン基板、セラミック基板、ポリイミド樹脂基板、金属基板に絶縁層が積層された積層基板などの絶縁基板からなる。   The substrate 5 is made of an insulating substrate such as a silicon substrate, a ceramic substrate, a polyimide resin substrate, or a laminated substrate in which an insulating layer is laminated on a metal substrate.

また、基板5の表面には、次に説明するLED3の端子(図示せず)と電気的に接続するための電極(図示せず)と、それに連続する配線とを備える導体パターン(図示せず)が形成されている。導体パターンは、例えば、金、銅、銀、ニッケルなどの導体から形成されている。   Further, on the surface of the substrate 5, a conductor pattern (not shown) including electrodes (not shown) for electrical connection with terminals (not shown) of the LEDs 3 to be described next and wirings continuous therewith. ) Is formed. The conductor pattern is formed from a conductor such as gold, copper, silver, or nickel.

また、基板5の表面は、平坦状に形成されている。あるいは、図示しないが、基板5におけるLED3が実装される表面に、下方に向かって凹む凹部が形成されていてもよい。   Further, the surface of the substrate 5 is formed flat. Or although not shown in figure, the recessed part dented toward the downward direction may be formed in the surface in which LED3 in the board | substrate 5 is mounted.

基板5の外形形状は、特に限定されず、例えば、平面視略矩形状、平面視略円形状などが挙げられる。基板5の寸法は適宜選択され、例えば、最大長さが、例えば、2mm以上、好ましくは、10mm以上であり、また、例えば、300mm以下、好ましくは、100mm以下である。   The external shape of the board | substrate 5 is not specifically limited, For example, planar view substantially rectangular shape, planar view substantially circular shape, etc. are mentioned. The dimensions of the substrate 5 are appropriately selected. For example, the maximum length is, for example, 2 mm or more, preferably 10 mm or more, and for example, 300 mm or less, preferably 100 mm or less.

LED3は、電気エネルギーを光エネルギーに変換する光半導体素子であり、例えば、厚みが面方向長さ(厚み方向に対する直交方向長さ)より短い断面視略矩形状に形成されている。   The LED 3 is an optical semiconductor element that converts electrical energy into light energy. For example, the LED 3 is formed in a substantially rectangular shape in cross-sectional view whose thickness is shorter than the length in the surface direction (length in the direction perpendicular to the thickness direction).

LED3としては、例えば、青色光を発光する青色LED(発光ダイオード素子)が挙げられる。LED3の寸法は、用途および目的に応じて適宜設定され、具体的には、厚みが、例えば、10〜1000μm、最大長さが、例えば、0.05mm以上、好ましくは、0.1mm以上であり、また、例えば、5mm以下、好ましくは、2mm以下である。   Examples of the LED 3 include a blue LED (light emitting diode element) that emits blue light. The dimensions of the LED 3 are appropriately set according to the application and purpose. Specifically, the thickness is, for example, 10 to 1000 μm, and the maximum length is, for example, 0.05 mm or more, preferably 0.1 mm or more. For example, it is 5 mm or less, preferably 2 mm or less.

LED3の発光ピーク波長は、例えば、400nm以上、好ましくは、430nm以上であり、また、例えば、500nm以下、好ましくは、470nm以下である。   The emission peak wavelength of the LED 3 is, for example, 400 nm or more, preferably 430 nm or more, and, for example, 500 nm or less, preferably 470 nm or less.

LED3は、基板5に対して、例えば、フリップチップ実装され、あるいは、ワイヤボンディング接続されている。   The LED 3 is flip-chip mounted or connected to the substrate 5 by wire bonding, for example.

また、LED3を、1つの基板5に対して図5に示すように、複数(図7では3つ)実装することができる。1つの基板5当たりのLED3の実装数は、例えば、1以上、好ましくは、4以上であり、また、例えば、2000以下、好ましくは、400以下である。   Further, a plurality of LEDs 3 (three in FIG. 7) can be mounted on one substrate 5 as shown in FIG. The number of LEDs 3 mounted on one substrate 5 is, for example, 1 or more, preferably 4 or more, and for example, 2000 or less, preferably 400 or less.

そして、LED3が実装される基板5は、決定工程S2において決定された、上記した基板5に関する情報、例えば、基板5の外形形状、寸法、表面形状(凹部の有無)、例えば、基板5に実装されるLED3の形状、寸法、LED3の発光ピーク波長、基板5の単位面積当たりのLED3の実装数、1つの基板5当たりのLED3の実装数などに基づいて、選択されて用意される。   The substrate 5 on which the LED 3 is mounted is mounted on the information related to the substrate 5 determined in the determination step S2, for example, the outer shape, dimensions, and surface shape (the presence or absence of a recess) of the substrate 5, for example, the substrate 5. The LED 3 is selected and prepared based on the shape and size of the LED 3, the emission peak wavelength of the LED 3, the number of mounted LEDs 3 per unit area of the substrate 5, the number of mounted LEDs 3 per substrate 5, and the like.

次いで、この方法では、LED3が実装された基板5を、図7に示すプレス機20に設置する。   Next, in this method, the substrate 5 on which the LEDs 3 are mounted is placed on the press machine 20 shown in FIG.

プレス機20としては、例えば、上下方向に間隔を隔てて対向配置される2枚の平板21を備える平板プレス機などが採用される。   As the press machine 20, for example, a flat plate press machine including two flat plates 21 that are opposed to each other with an interval in the vertical direction is adopted.

LED3が実装された基板5を、図7に示すプレス機20に設置するには、具体的には、LED3が実装された基板5を、下側の平板21に設置する。   In order to install the board 5 on which the LEDs 3 are mounted on the press machine 20 shown in FIG. 7, specifically, the board 5 on which the LEDs 3 are mounted is installed on the lower flat plate 21.

続いて、離型シート4の上面に積層される蛍光体シート2(図6参照)を、上下反転させて、LED3の上側に対向配置させる。つまり、蛍光体シート2を、LED3に向かうように、配置する。   Subsequently, the phosphor sheet 2 (see FIG. 6) laminated on the upper surface of the release sheet 4 is turned upside down so as to face the LED 3. That is, the phosphor sheet 2 is arranged so as to face the LED 3.

次いで、図8に示すように、蛍光体シート2によってLED3を被覆する。具体的には、蛍光体シート2によってLED3を埋設する。   Next, as shown in FIG. 8, the LED 3 is covered with the phosphor sheet 2. Specifically, the LED 3 is embedded with the phosphor sheet 2.

また、決定工程S2において決定されたプレス条件に基づいて、蛍光体シート2によってLED3を被覆する。   Moreover, LED3 is coat | covered with the fluorescent substance sheet 2 based on the press conditions determined in determination process S2.

具体的には、図7の矢印で示すように、蛍光体シート2を降下させる(押し下げる)。詳しくは、蛍光体シート2をLED3が実装される基板5に対してプレスする。   Specifically, as shown by the arrow in FIG. 7, the phosphor sheet 2 is lowered (pressed down). Specifically, the phosphor sheet 2 is pressed against the substrate 5 on which the LEDs 3 are mounted.

プレス圧は、例えば、0.05MPa以上、好ましくは、0.1MPa以上であり、また、例えば、1MPa以下、好ましくは、0.5MPa以下である。   The pressing pressure is, for example, 0.05 MPa or more, preferably 0.1 MPa or more, and for example, 1 MPa or less, preferably 0.5 MPa or less.

これによって、蛍光体シート2によってLED3を被覆する。つまり、LED3が蛍光体シート2内に埋設される。   Thereby, the LED 3 is covered with the phosphor sheet 2. That is, the LED 3 is embedded in the phosphor sheet 2.

これによって、蛍光体シート2によって、LED3を封止する。   Thus, the LED 3 is sealed with the phosphor sheet 2.

その後、蛍光体シート2をCステージ化する。   Thereafter, the phosphor sheet 2 is changed to the C stage.

例えば、決定工程S2において決定された、Cステージ化における蛍光体シート2の加熱条件、活性エネルギー線の照射条件に基づいて、蛍光体シート2をCステージ化する。   For example, the phosphor sheet 2 is converted to the C stage based on the heating condition of the phosphor sheet 2 and the irradiation condition of the active energy ray determined in the determination step S2.

具体的には、2段階硬化型樹脂が2段階硬化型熱硬化性樹脂である場合には、蛍光体シート2を加熱する。具体的には、平板21による蛍光体シート2に対するプレス状態を維持しながら、オーブン内に投入する。これによって、蛍光体シート2を加熱する。   Specifically, when the two-stage curable resin is a two-stage curable thermosetting resin, the phosphor sheet 2 is heated. Specifically, it is put into the oven while maintaining the pressed state of the phosphor sheet 2 by the flat plate 21. Thereby, the phosphor sheet 2 is heated.

加熱温度は、例えば、80℃以上、好ましくは、100℃以上であり、また、例えば、200℃以下、好ましくは、180℃以下である。また、加熱時間は、例えば、10分間以上、好ましくは、30分間以上であり、また、例えば、10時間以下、好ましくは、5時間以下である。   The heating temperature is, for example, 80 ° C. or higher, preferably 100 ° C. or higher, and for example, 200 ° C. or lower, preferably 180 ° C. or lower. The heating time is, for example, 10 minutes or more, preferably 30 minutes or more, and for example, 10 hours or less, preferably 5 hours or less.

蛍光体シート2の加熱によって、蛍光体シート2がCステージ化(完全硬化)する。   The phosphor sheet 2 is C-staged (completely cured) by heating the phosphor sheet 2.

なお、2段階硬化型樹脂が2段階硬化型活性エネルギー線硬化性樹脂である場合には、蛍光体シート2に活性エネルギー線を照射することによって、蛍光体シート2をCステージ化(完全硬化)させる。具体的には、紫外線ランプなどを用いて蛍光体シート2に紫外線を照射する。   When the two-stage curable resin is a two-stage curable active energy ray curable resin, the phosphor sheet 2 is irradiated with active energy rays to make the phosphor sheet 2 C-staged (completely cured). Let Specifically, the phosphor sheet 2 is irradiated with ultraviolet rays using an ultraviolet lamp or the like.

これによって、蛍光体シート2と、蛍光体シート2によって封止されるLED3と、LED3が実装された基板5とを備える、試作品6が試作される。   Thus, a prototype 6 including the phosphor sheet 2, the LED 3 sealed by the phosphor sheet 2, and the substrate 5 on which the LED 3 is mounted is manufactured as a prototype.

図8では、1つの試作品6において、複数(3つ)のLED3が設けられている。   In FIG. 8, a plurality of (three) LEDs 3 are provided in one prototype 6.

その後、離型シート4を、図8の仮想線で示すように、蛍光体シート2から引き剥がす。   Thereafter, the release sheet 4 is peeled off from the phosphor sheet 2 as indicated by a virtual line in FIG.

なお、その後、必要により、複数のLED3が1つの基板5に実装される場合には、各LED3に対応して、蛍光体シート2を切断して個片化することもできる。   After that, if necessary, when a plurality of LEDs 3 are mounted on one substrate 5, the phosphor sheet 2 can be cut into pieces corresponding to each LED 3.

<評価工程S8>
評価工程S8において、Cステージの蛍光体シート2を評価するには、例えば、試作品6(具体的には、蛍光体シート2によってLED3が被覆される試作品6)の基板5の導体パターン(図示せず)に電流を流し、LED3を発光させる点灯試験を実施する。
<Evaluation process S8>
In the evaluation step S8, in order to evaluate the C-stage phosphor sheet 2, for example, the conductor pattern of the substrate 5 of the prototype 6 (specifically, the prototype 6 in which the LED 3 is covered with the phosphor sheet 2) ( A lighting test is performed in which a current is supplied to the LED 3 and the LED 3 emits light.

具体的には、点灯試験では、試作品6の基板5に電流を流し、電流を流した直後の光の色温度および/または全光束を測定する。   Specifically, in the lighting test, a current is passed through the substrate 5 of the prototype 6, and the color temperature and / or total luminous flux of the light immediately after the current is passed is measured.

具体的には、試作品6を点灯試験に供したときに、光の色温度の測定値が、試作品6の評価として、図2に示す記録工程S9において、記録される。   Specifically, when the prototype 6 is subjected to a lighting test, the measured value of the color temperature of light is recorded as an evaluation of the prototype 6 in the recording step S9 shown in FIG.

具体的には、記録工程S9では、試作品6の試作条件および評価が、記録されて、過去(以前)の試作品6の情報として保管される。   Specifically, in the recording step S9, the prototype conditions and evaluation of the prototype 6 are recorded and stored as information on the past (previous) prototype 6.

[決定工程S2]
決定工程S2は、試作工程S1の後に実施される工程である。決定工程S2では、試作品6の評価に基づいて、LED装置1を製造するための製造条件を決定する。
[Decision step S2]
The determination step S2 is a step performed after the trial production step S1. In the determination step S <b> 2, manufacturing conditions for manufacturing the LED device 1 are determined based on the evaluation of the prototype 6.

例えば、試作工程S1において記録された試作条件および評価に基づいて、製造条件を決定する。   For example, the manufacturing conditions are determined based on the prototype conditions and evaluation recorded in the prototype process S1.

具体的には、試作品6の光の色温度の測定値が目標の範囲内にあれば、記録工程S9において記録された試作条件がそのまま製造条件となる。   Specifically, if the measured value of the color temperature of the light of the prototype 6 is within the target range, the prototype condition recorded in the recording step S9 becomes the manufacturing condition as it is.

目標とする光の色が昼白色である場合には、目標となる色温度が、例えば、4600K以上であり、また、例えば、5500K以下である。また、目標とする光の色が温白色である場合には、目標となる色温度が、例えば、3250K以上であり、また、例えば、3800K以下である。   When the target light color is daylight white, the target color temperature is, for example, 4600K or more, and, for example, 5500K or less. In addition, when the target light color is warm white, the target color temperature is, for example, 3250K or higher, and for example, 3800K or lower.

一方、試作品6の光の色温度の測定値が目標となる範囲外にあれば、記録工程S9において記録された試作条件および評価から、目標となる色温度となるように製造条件を決定する。具体的には、目標となる色温度となるように、試作条件を修正して、製造条件とする。例えば、上記したように、ワニスに関する情報、基板5に関する情報、蛍光体シート2に関する情報を修正し、好ましくは、ワニスに関する情報を修正し、より好ましくは、蛍光体の配合割合、蛍光体の形状、蛍光体の最大長さの平均値、蛍光体の吸収ピーク波長などを修正して、製造条件とする。   On the other hand, if the measured value of the color temperature of the light of the prototype 6 is outside the target range, the manufacturing conditions are determined from the prototype condition and evaluation recorded in the recording step S9 so that the target color temperature is obtained. . Specifically, the trial production conditions are corrected so as to obtain the target color temperature, and the manufacturing conditions are set. For example, as described above, information on the varnish, information on the substrate 5, and information on the phosphor sheet 2 are corrected, preferably information on the varnish is corrected, and more preferably, the blending ratio of the phosphor and the shape of the phosphor The average value of the maximum length of the phosphor, the absorption peak wavelength of the phosphor, etc. are corrected to obtain the manufacturing conditions.

[製造工程S3]
図1が参照されるように、製造工程S3は、決定工程S2の後に実施される工程である。製造工程S3は、決定工程S2で決定される製造条件に基づいて、LED装置1を製造する工程である。
[Manufacturing process S3]
As shown in FIG. 1, the manufacturing process S3 is a process performed after the determination process S2. The manufacturing process S3 is a process of manufacturing the LED device 1 based on the manufacturing conditions determined in the determination process S2.

製造工程S3は、図3に示すように、ワニス調製工程S11、Bステージ化工程S12およびCステージ化工程S13を備える。   As shown in FIG. 3, the manufacturing process S3 includes a varnish preparation process S11, a B-stage forming process S12, and a C-stage forming process S13.

製造工程S3(図1)では、ワニス調製工程S11、Bステージ化工程S12およびCステージ化工程S13のそれぞれを、決定工程S2で決定される製造条件に基づく以外は、試作工程S1におけるワニス調製工程S5、Bステージ化工程S6およびCステージ化工程S7のそれぞれ(図2)と同様にして実施する。   In the production process S3 (FIG. 1), the varnish preparation process in the trial production process S1 is performed except that each of the varnish preparation process S11, the B-stage formation process S12, and the C-stage formation process S13 is based on the production conditions determined in the determination process S2. S5, the B-stage forming step S6, and the C-stage forming step S7 are performed in the same manner (FIG. 2).

これによって、試作品6と同一構造のLED装置1を製造する。   Thereby, the LED device 1 having the same structure as the prototype 6 is manufactured.

製造工程S3において量産するLED装置1の数は、例えば、100以上、好ましくは、500以上、より好ましくは、1000以上であり、また、例えば、100000以下である。   The number of LED devices 1 to be mass-produced in the manufacturing process S3 is, for example, 100 or more, preferably 500 or more, more preferably 1000 or more, and for example, 100000 or less.

そして、この方法によれば、決定工程S2は、Cステージの蛍光体シート2を含む試作品6の評価に基づいて、製造条件を決定する。そして、製造工程S3は、決定工程で決定された製造条件に基づいて、LED装置1を製造する。   And according to this method, determination process S2 determines manufacturing conditions based on evaluation of the prototype 6 containing the phosphor sheet 2 of C stage. And manufacturing process S3 manufactures LED device 1 based on the manufacturing conditions determined at the determination process.

そうすると、評価対象となる試作品6の蛍光体シート2は、Cステージである。そのため、製造条件には、蛍光体シート2において、上記したCステージ化に起因する光学特性の変動が考慮されている。具体的には、製造条件には、ステージ化によって、硬化収縮に伴う反りなどの変形に起因する蛍光体シート2の光学特性の変動が予め織り込まれることとなる。   Then, the phosphor sheet 2 of the prototype 6 to be evaluated is the C stage. Therefore, in the manufacturing conditions, the phosphor sheet 2 takes into account the variation in optical characteristics due to the above-described C-stage. Specifically, in the manufacturing conditions, a change in the optical characteristics of the phosphor sheet 2 due to deformation such as warpage accompanying curing shrinkage is pre-woven due to staging.

その結果、製造工程S3においては、発光信頼性に優れるLED装置1を製造することができる。   As a result, in the manufacturing step S3, the LED device 1 having excellent light emission reliability can be manufactured.

しかも、試作品6の評価に基づいて決定された製造条件に基づいて、LED装置1を製造するので、優れた精度でLED装置1を量産(つまり、大量生産)することができる。そのため、LED装置1の製造効率を十分に向上させることができる。   And since the LED device 1 is manufactured based on the manufacturing conditions determined based on evaluation of the prototype 6, the LED device 1 can be mass-produced (that is, mass-produced) with excellent accuracy. Therefore, the manufacturing efficiency of the LED device 1 can be sufficiently improved.

なお、試作工程S1および決定工程S2は、異なるタイプのLED装置1の量産をするための製造工程S3の前に実施される。さらには、試作工程S1および決定工程S2は、蛍光体および/またはLED3のロット変更された場合には、それらの変更毎に、具体的には、蛍光体の最大長さの平均値、吸収ピーク波長や、LED3の発光ピーク波長の変更毎に、実施される。   The trial production process S1 and the determination process S2 are performed before the production process S3 for mass production of the LED devices 1 of different types. Further, when the lot of the phosphor and / or the LED 3 is changed in the trial production step S1 and the determination step S2, specifically, the average value of the maximum length of the phosphor, the absorption peak, for each change. This is performed every time the wavelength or the emission peak wavelength of the LED 3 is changed.

(変形例)
図8に示す実施形態では、Cステージ化工程S7において、まず、Bステージの蛍光体シートによってLED3を被覆して、次いで、Bステージの蛍光体シート2をCステージ化している。しかし、例えば、図6が参照されるように、離型シート4に積層されるBステージの蛍光体シート2を、そのまま、Cステージ化することもできる。
(Modification)
In the embodiment shown in FIG. 8, in the C-stage forming step S7, the LED 3 is first covered with a B-stage phosphor sheet, and then the B-stage phosphor sheet 2 is made into a C-stage. However, for example, as shown in FIG. 6, the B-stage phosphor sheet 2 laminated on the release sheet 4 can be made into a C-stage as it is.

その場合には、評価工程S8において、Cステージの蛍光体シート2の硬化収縮に伴う反り量を測定する。反り量は、蛍光体シート2における中央部が下側に凹む凹み量と、周端部が上側に突出する突出量との差として得られる。   In that case, in the evaluation step S8, the amount of warpage accompanying the curing shrinkage of the C-stage phosphor sheet 2 is measured. The amount of warpage is obtained as the difference between the amount of depression in which the central portion of the phosphor sheet 2 is recessed downward and the amount of protrusion in which the peripheral end portion protrudes upward.

好ましくは、図8に示す実施形態のように、Cステージ化工程S7において、まず、Bステージの蛍光体シート2によってLED3を被覆して、次いで、Bステージの蛍光体シート2をCステージ化する。   Preferably, as in the embodiment shown in FIG. 8, in the C-stage forming step S <b> 7, first, the LED 3 is covered with the B-stage phosphor sheet 2, and then the B-stage phosphor sheet 2 is C-staged. .

このような方法によれば、蛍光体シート2によってLED3を被覆した試作品6と、実際の製品としてのLED装置1とを、同一の構成とすることができる。   According to such a method, the prototype 6 in which the LED 3 is covered with the phosphor sheet 2 and the LED device 1 as an actual product can have the same configuration.

そのため、実際の製品(LED装置1)と構成が同一である試作品6の評価に基づいて、実際の製品(LED装置1)の製造条件を決定することができる。   Therefore, the manufacturing conditions of the actual product (LED device 1) can be determined based on the evaluation of the prototype 6 having the same configuration as the actual product (LED device 1).

その結果、製造条件をより一層精度よく決定することができ、発光信頼性により一層優れるLED装置1を製造することができる。   As a result, the manufacturing conditions can be determined with higher accuracy, and the LED device 1 that is more excellent in light emission reliability can be manufactured.

また、図2の実施形態において、試作条件決定工程S4は、過去の試作条件および評価の情報に基づいて、試作条件を決定しているが、例えば、図9に示すように、過去の試作条件および評価の情報に基づくことなく、記録工程S9において記録した試作条件および評価に基づいて、図1に示す決定工程S2において、製造条件を予測して決定することもできる。   In the embodiment of FIG. 2, the trial production condition determination step S4 determines the trial production conditions based on the past trial production conditions and evaluation information. For example, as shown in FIG. In addition, the manufacturing conditions can be predicted and determined in the determination step S2 shown in FIG. 1 based on the trial production conditions and the evaluations recorded in the recording step S9 without being based on the evaluation information.

好ましくは、試作条件決定工程S4では、過去の試作条件および評価の情報に基づいて、試作条件を決定する。   Preferably, in the trial condition determination step S4, the trial condition is determined based on past trial conditions and evaluation information.

このような方法によれば、今回以前に試作した試作条件を蓄積することができ、蓄積した試作条件および評価に基づいて、製造条件の精度を向上させることができる。そのため、発光信頼性に優れるLED装置1を得ることができる。   According to such a method, it is possible to accumulate trial production conditions that have been prototyped before this time, and it is possible to improve the accuracy of manufacturing conditions based on the accumulated trial production conditions and evaluation. Therefore, the LED device 1 having excellent light emission reliability can be obtained.

また、図7および図8の実施形態において、Cステージ化工程S7(図2参照)では、まず、Bステージの蛍光体シート2によってLED3を被覆して、次いで、Bステージの蛍光体シート2をCステージ化しているが、例えば、Bステージの蛍光体シート2の、LED3に対する被覆と、Cステージ化とを同時に実施することもできる。   In the embodiment of FIGS. 7 and 8, in the C-stage forming step S7 (see FIG. 2), first, the LED 3 is covered with the B-stage phosphor sheet 2, and then the B-stage phosphor sheet 2 is coated. Although the C stage is used, for example, the coating of the B-stage phosphor sheet 2 on the LED 3 and the C stage can be performed simultaneously.

また、図8では、1つのLED装置1に複数のLED3を設けているが、図示しないが、例えば、単数のLED3を設けることもできる。   Further, in FIG. 8, a plurality of LEDs 3 are provided in one LED device 1. However, although not illustrated, for example, a single LED 3 may be provided.

また、図8の実施形態では、本発明における光半導体素子および光半導体装置として、それぞれ、LED3およびLED装置1を一例として説明しているが、例えば、それぞれ、LD(レーザーダイオード)3およびレーザーダイオード装置1とすることもできる。   In the embodiment of FIG. 8, the LED 3 and the LED device 1 are described as examples as the optical semiconductor element and the optical semiconductor device in the present invention, respectively. For example, an LD (laser diode) 3 and a laser diode, respectively. The device 1 can also be used.

以下に示す実施例および比較例における数値は、上記の実施形態において記載される対応する数値(すなわち、上限値または下限値)に代替することができる。   The numerical values in the following examples and comparative examples can be substituted for the corresponding numerical values (that is, the upper limit value or the lower limit value) described in the above embodiment.

実施例1
[試作工程S1]
<ワニス調製工程S5>
まず、40℃に加温したシラノール基両末端ポリジメチルシロキサン[下記式(I)中のRが全てメチル基、n=155で表される化合物、平均分子量11,500]2031g(0.177mol)に対して、エチレン系不飽和炭化水素基含有ケイ素化合物として、ビニルトリメトキシシラン[下記式(II)中のRがビニル基、Xが全てメトキシ基で表される化合物]15.76g(0.106mol)、および、エチレン系不飽和炭化水素基含有ケイ素化合物として、(3−グリシドキシプロピル)トリメトキシシラン[下記式(III)中のRが3−グリシドキシプロピル基、Xが全てメトキシ基で表される化合物]2.80g(0.0118mol)[シラノール基両末端ポリジメチルシロキサンのSiOH基のモル数と、エチレン系不飽和炭化水素基含有ケイ素化合物のSiX基およびエチレン系不飽和炭化水素基含有ケイ素化合物のSiX基の総モル数との比[SiOH/(SiX+SiX)=1/1]を攪拌して混合した後、縮合触媒として水酸化テトラメチルアンモニウムメタノール溶液(濃度10質量%)0.97mL(触媒量:0.88mol、シラノール基両末端ポリジメチルシロキサン100モルに対して0.50モル、縮合原料100gに対して4.0mg)を加え、40℃で1時間攪拌した。得られたオイルを、40℃で1時間攪拌しながら減圧(10mmHg)し、揮発分を除去した。次に、反応液を常圧に戻した後、オルガノハイドロジェンポリシロキサン(ジメチルポリシロキサン−co−メチルハイドロジェンポリシロキサン)を、アルケニル基のヒドロシリル基に対するモル比がSiR/SiH=1/3.0となるように加えて、40℃で1時間攪拌した。その後、ヒドロシリル化触媒として白金−カルボニル錯体(白金濃度2.0質量%)0.038mL(白金含有量はオルガノポリシロキサンに対して0.375ppm、つまり、縮合原料100gに対して0.375×10−4g)を加えて、40℃で10分間攪拌し、Aステージのシリコーン樹脂組成物(第2の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂)を調製した。Aステージのシリコーン樹脂組成物の25℃、1気圧の条件下における粘度は、8000mPa・sであった。
Example 1
[Prototype production process S1]
<Varnish preparation step S5>
First, silanol group-terminated polydimethylsiloxane heated to 40 ° C. [compound represented by the following formula (I) where all R 1 are methyl groups, n = 155, average molecular weight 11,500] 2031 g (0.177 mol) ) As an ethylenically unsaturated hydrocarbon group-containing silicon compound, 15.76 g of vinyltrimethoxysilane [a compound in which R 2 in the following formula (II) is a vinyl group and X 1 is all a methoxy group] (0.106 mol) and, as an ethylenically unsaturated hydrocarbon group-containing silicon compound, (3-glycidoxypropyl) trimethoxysilane [R 3 in the following formula (III) is a 3-glycidoxypropyl group, compound X 2 is represented by all methoxy] 2.80g (0.0118mol) [Mo of SiOH groups of the silanol groups at both ends of polydimethylsiloxane The number and, SiX 1 groups and the ratio of the total number of moles of SiX 2 groups of ethylenically unsaturated hydrocarbon group-containing silicon compound [SiOH / (SiX 1 + SiX 2) ethylenically unsaturated hydrocarbon group-containing silicon compound = 1 / 1] after stirring and mixing, 0.97 mL of tetramethylammonium hydroxide methanol solution (concentration 10% by mass) as a condensation catalyst (catalyst amount: 0.88 mol, based on 100 mol of silanol group-terminated polydimethylsiloxane) 0.50 mol, 4.0 mg based on 100 g of the condensation raw material) was added, and the mixture was stirred at 40 ° C. for 1 hour. The obtained oil was depressurized (10 mmHg) while stirring at 40 ° C. for 1 hour to remove volatile components. Next, after returning the reaction solution to atmospheric pressure, the organohydrogenpolysiloxane (dimethylpolysiloxane-co-methylhydrogenpolysiloxane) has a molar ratio of alkenyl group to hydrosilyl group of SiR 2 / SiH = 1/3. 0.04 and stirred at 40 ° C. for 1 hour. Thereafter, 0.038 mL of platinum-carbonyl complex (platinum concentration 2.0 mass%) as a hydrosilylation catalyst (platinum content is 0.375 ppm with respect to the organopolysiloxane, that is, 0.375 × 10 5 with respect to 100 g of the condensation raw material. -4 g) was added and stirred at 40 ° C. for 10 minutes to prepare an A-stage silicone resin composition (second condensation reaction / addition reaction-curable silicone resin). The viscosity of the A-stage silicone resin composition at 25 ° C. and 1 atm was 8000 mPa · s.

シリコーン樹脂組成物100質量部、シリコーンゴム粒子(球形状、平均粒子径7μm)20質量部、および、黄色蛍光体であるYAG粒子(球形状、平均粒子経7μm)10質量部を、撹拌機を備える混合容器に投入し、撹拌機を用いてそれらを混合した。これによって、Aステージのワニスを調製した。ワニスの25℃、1気圧の条件下における粘度は、20000mPa・sであった。   100 parts by mass of the silicone resin composition, 20 parts by mass of silicone rubber particles (spherical shape, average particle diameter of 7 μm), and 10 parts by mass of YAG particles (spherical shape, average particle diameter of 7 μm) as a yellow phosphor were mixed with an agitator. They were put into a mixing vessel equipped and mixed using a stirrer. Thus, an A stage varnish was prepared. The viscosity of the varnish at 25 ° C. and 1 atm was 20000 mPa · s.

<Bステージ化工程S6>
次いで、ワニスを、PETからなる離型シートの表面に、ディスペンサ(図5参照)で平面視矩形状(サイズ:10mm×100mm)に塗布し、続いて、135℃のオーブンにて15分間加熱することにより、離型シートに積層される、厚み600μmのBステージの封止シートを製造した。
<B-stage process S6>
Next, the varnish is applied to the surface of the release sheet made of PET in a rectangular shape (size: 10 mm × 100 mm) in a plan view with a dispenser (see FIG. 5), and then heated in an oven at 135 ° C. for 15 minutes. Thus, a B-stage sealing sheet having a thickness of 600 μm, which was laminated on the release sheet, was produced.

製造直後のBステージの封止シートの25℃における圧縮弾性率を測定したところ、0.040MPaであった(表1参照)。具体的には、アイコーエンジニアリング社製 精密荷重測定機により、25℃における圧縮弾性率を算出した。   It was 0.040 MPa when the compression elastic modulus in 25 degreeC of the sealing sheet of B stage immediately after manufacture was measured (refer Table 1). Specifically, the compression elastic modulus at 25 ° C. was calculated with a precision load measuring machine manufactured by Aiko Engineering.

<Cステージ化工程S7>
平面視矩形状の厚み150μmのLEDが実装された基板を用意した(図7参照)。LEDおよび基板の形状、数および寸法を以下に記載する。
<C-stage process S7>
A substrate on which an LED having a rectangular shape with a thickness of 150 μm was mounted was prepared (see FIG. 7). The shape, number and dimensions of the LED and substrate are described below.

基板の形状:平面視正方形状
基板の寸法:1辺8mm、最大長さ11mm
LEDの形状:平面視正方形状
LEDの寸法:1辺0.3mm、最大長さ0.4mm
LEDの実装数:9
LEDの密度:基板の単位面積(mm)当たりのLEDの実装数 0.14個/mm
:1つの基板当たりのLEDの実装数 9
LEDの発光ピーク波長:452nm
続いて、LEDが実装された基板をプレス機に設置した(図7参照)。
Substrate shape: Square shape in plan view Dimensions of substrate: 8 mm on the side, maximum length 11 mm
LED shape: square shape in plan view LED dimensions: 0.3 mm on side, maximum length 0.4 mm
Number of LEDs mounted: 9
LED density: Number of LEDs mounted per unit area (mm 2 ) of substrate 0.14 / mm 2
: Number of LEDs mounted per board 9
LED emission peak wavelength: 452 nm
Then, the board | substrate with which LED was mounted was installed in the press machine (refer FIG. 7).

別途、Bステージの封止シートを、基板が設置されたプレス機に配置した(図7参照)。   Separately, a B-stage sealing sheet was placed in a press machine on which the substrate was installed (see FIG. 7).

続いて、封止シートによって、LEDを封止した(図8参照)。   Subsequently, the LED was sealed with a sealing sheet (see FIG. 8).

具体的には、平板プレスによって、室温で、封止シートを押し下げて、圧力0.2MPaで、封止シートによってLEDを埋設した。これによって、封止シートによって、LEDを封止した。   Specifically, the sealing sheet was pushed down at room temperature with a flat plate press, and the LED was embedded with the sealing sheet at a pressure of 0.2 MPa. Thus, the LED was sealed with the sealing sheet.

その後、封止シートおよび基板をプレスしている平板をオーブンに投入し、封止シートを150℃、30分間加熱して、封止シートをCステージ化した。   Then, the flat sheet which pressed the sealing sheet and the board | substrate was thrown into oven, the sealing sheet was heated for 30 minutes at 150 degreeC, and the sealing sheet was C-staged.

その後、離型シートを封止シートから剥離した(図8の矢印参照)。   Thereafter, the release sheet was peeled from the sealing sheet (see the arrow in FIG. 8).

これによって、試作品を試作した。   This made a prototype.

なお、試作品の数は、1であった。   The number of prototypes was one.

<評価工程S8>
A.色温度
その後、試作品の蛍光体シートを評価した。
<Evaluation process S8>
A. Color temperature The prototype phosphor sheet was then evaluated.

具体的には、試作品の基板に100mAの電流を流し、電流を流した直後の光の色温度を瞬間マルチ測光システム(MCPD−9800、大塚電子社製)により測定する点灯試験を実施した。   Specifically, a lighting test was performed in which a current of 100 mA was passed through the prototype substrate, and the color temperature of light immediately after the current was passed was measured by an instantaneous multi-photometry system (MCPD-9800, manufactured by Otsuka Electronics Co., Ltd.).

その結果を表1に示す。   The results are shown in Table 1.

B.反り量
また、試作品の蛍光体シートの反り量を測定した。
B. Warpage amount The amount of warpage of the phosphor sheet of the prototype was also measured.

その結果を表1に示す。   The results are shown in Table 1.

[決定工程S2]
試作品の光の色温度の測定値が目標となる範囲である5450Kにほぼ到達することが分かったので、蛍光体の配合割合を、シリコーン樹脂組成物100質量部に対して、10質量部のままで、製造条件を決定した。
[Decision step S2]
Since it was found that the measured value of the color temperature of light of the prototype almost reached the target range of 5450K, the blending ratio of the phosphor was 10 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the silicone resin composition. The production conditions were determined as they were.

[製造工程S3]
製造工程S3では、決定工程S2で決定した製造条件(蛍光体の配合割合がシリコーン樹脂組成物100質量部に対して10質量部)で、試作工程S1におけるワニス調製工程S5、Bステージ化工程S6およびCステージ化工程S7のそれぞれと同様にして実施した。これによって、LED装置を製造した。
[Manufacturing process S3]
In the production process S3, the varnish preparation process S5 and the B-stage forming process S6 in the trial production process S1 under the production conditions determined in the decision process S2 (the phosphor blending ratio is 10 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the silicone resin composition). And it implemented like each of C-staging process S7. Thus, an LED device was manufactured.

なお、LED装置の数は、1000であった。   The number of LED devices was 1000.

[製品の評価]
製造したLED装置の色温度を測定したところ、色温度が、目標である5450Kとなり、そのばらつきも目標となるとなる範囲である5425〜5475Kの内にあった。
[Product Evaluation]
When the color temperature of the manufactured LED device was measured, the color temperature was the target 5450K, and the variation was within the target range 5425-5475K.

比較例1
<評価工程S8>を、<Bステージ化工程S6>後で、<Cステージ化工程S7>より前のBステージの蛍光体シートに対して、実施した以外は、実施例1と同様にして実施した。
Comparative Example 1
<Evaluation step S8> was performed in the same manner as in Example 1 except that it was performed on the B-stage phosphor sheet before <C-staging step S7> after <B-staging step S6>. did.

<評価工程S8>におけるBステージの蛍光体シートの「A.色温度」および「B.反り量」の結果を表1に示すように、製造するLED装置の色温度が目標値に到達するか否かを判断できなかった。     Whether the color temperature of the LED device to be manufactured reaches the target value as shown in Table 1 for the results of “A. Color temperature” and “B. Warpage amount” of the phosphor sheet of the B stage in <Evaluation Step S8> I couldn't judge.

(考察)
実施例1および比較例1の色温度(Tc)の差は、約18Kであり、Cステージ化に伴う硬化収縮に起因する反り量が大きいことが原因であることが分かった。
(Discussion)
The difference in color temperature (Tc) between Example 1 and Comparative Example 1 was about 18K, which was found to be caused by a large amount of warpage due to curing shrinkage accompanying C-stage formation.

従って、実施例1の決定工程において決定される製造条件には、反り量が大きいことに起因する色温度の変動を考慮されており、それによって、製品としてのLED装置の色温度が、目標となる範囲内にあった。   Therefore, the manufacturing conditions determined in the determination process of Example 1 take into account the variation in color temperature due to the large amount of warpage, whereby the color temperature of the LED device as a product is the target. It was in the range.

一方、比較例1の決定工程において決定される製造条件には、反り量が大きいことに起因する色温度の変動が考慮されず、そのため、製品としてのLED装置の色温度が、目標となる範囲外にあった。   On the other hand, the manufacturing conditions determined in the determination process of Comparative Example 1 do not consider the variation in color temperature due to the large amount of warpage, and therefore the color temperature of the LED device as a product is a target range. Was outside.

1 LED装置(レーザーダイオード装置)
2 蛍光体シート
3 LED(レーザーダイオード)
6 試作品
7 ワニス
S1 試作工程
S2 決定工程
S3 製造工程
S4 試作条件決定工程
1 LED device (laser diode device)
2 Phosphor sheet 3 LED (laser diode)
6 Prototype 7 Varnish S1 Prototype Process S2 Determination Process S3 Manufacturing Process S4 Prototype Condition Determination Process

Claims (3)

蛍光体シートによって光半導体素子を被覆する光半導体装置の製造方法であり、
試作品を試作して評価する試作工程、
前記試作品の評価に基づいて、前記光半導体装置を製造するための製造条件を決定する決定工程、および、
前記決定工程で決定される前記製造条件に基づいて、Bステージの前記蛍光体シートによって前記光半導体素子を被覆し、その蛍光体シートをCステージ化する、前記光半導体装置を製造する製造工程を備え、
前記試作工程は、
蛍光体および硬化性樹脂を含むワニスを調製するワニス調製工程、
前記ワニスからBステージの前記蛍光体シートを形成するBステージ化工程、
Bステージの前記蛍光体シートをCステージ化するCステージ化工程、および、
Cステージの前記蛍光体シートを評価する評価工程
を備えることを特徴とする、光半導体装置の製造方法。
An optical semiconductor device manufacturing method for covering an optical semiconductor element with a phosphor sheet,
Prototyping process for prototyping and evaluating prototypes,
A determination step for determining manufacturing conditions for manufacturing the optical semiconductor device based on the evaluation of the prototype; and
A manufacturing process for manufacturing the optical semiconductor device, wherein the optical semiconductor element is covered with the phosphor sheet of a B stage based on the manufacturing conditions determined in the determining process, and the phosphor sheet is converted into a C stage. Prepared,
The prototype process includes
A varnish preparation step of preparing a varnish containing a phosphor and a curable resin,
A B-stage process for forming the B-stage phosphor sheet from the varnish;
A C-stage process for converting the phosphor sheet of the B stage into a C-stage; and
An optical semiconductor device manufacturing method comprising an evaluation step of evaluating the phosphor sheet of the C stage.
前記Cステージ化工程では、前記蛍光体シートによって前記光半導体素子を被覆し、
前記評価工程では、前記蛍光体シートによって前記光半導体素子が被覆される前記光半導体装置を評価することを特徴とする、請求項1に記載の光半導体装置の製造方法。
In the C-stage process, the phosphor semiconductor sheet covers the optical semiconductor element,
2. The method of manufacturing an optical semiconductor device according to claim 1, wherein, in the evaluation step, the optical semiconductor device in which the optical semiconductor element is covered with the phosphor sheet is evaluated.
前記試作工程は、
前記試作品を今回試作するための試作条件を、前記試作品を今回以前に試作した試作条件および評価の情報に基づいて、決定する試作条件決定工程
をさらに備えることを特徴とする、請求項1または2に記載の光半導体装置の製造方法。
The prototype process includes
2. The method of claim 1, further comprising a prototype condition determination step for determining a prototype condition for prototyping the prototype product based on information about a prototype condition and evaluation of the prototype product prototyped before this time. Or the manufacturing method of the optical semiconductor device of 2.
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