JP2011159267A - Memory system with a plurality of replaceable nonvolatile memories - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To significantly improve convenience of data processing by storing all of image data in a primary storage device, namely, a memory that allows direct access to any part of the image data, in a device that collects a large amount of image data in a defect inspection device or the like for semiconductor photomasks and allows a computer to detect defects on photomasks on the basis of the image data. <P>SOLUTION: A plurality of sockets 2 are mounted on a memory board 1. Removable nonvolatile memory cards such as SD cards are attached to the sockets. A memory system is constructed so that a total capacity of the mounted memories shows the entire capacity by controlling it by a control circuit 4 provided in a center part of the memory board. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

当発明は、半導体用フォトマスク外観検査装置や半導体用ウエハー外観検査装置など、スキャナが被検査体の表面を高解像度でスキャニングし、被検査体表面の画像を採取しながら異物、欠陥等を検出する仕組みの装置などにおいて、検査で採取される画像全体を保存するメモリ・システムに適用されるものである。The present invention detects foreign matter, defects, etc. while scanning the surface of the object to be inspected with high resolution, such as a photomask appearance inspection device for semiconductors and a wafer appearance inspection device for semiconductors, and collecting an image of the surface of the inspection object In a device having a mechanism for performing the above, the present invention is applied to a memory system that stores an entire image collected in an examination.

半導体用フォトマスク外観検査装置や半導体用ウエハー外観検査装置では、フォトマスクやウエハーの表面を1ミクロンよりも高い解像度でスキャニングし、画像を採取し、欠陥や異物の検出を行う。
高解像度で画像を採取すると、1検査当たりの画像データのボリュームが大きくなり、最近の装置では1検査当たり1テラ・バイト以上のデータ・サイズになるようになってきた。
これらの検査装置に組み込まれているコンピュータのメモリ容量は年々大きくなってきているが、その一方で解像度もより高くなり、既存のメモリ・システムに1検査の画像データ全てを蓄えるのは難しい状況である。
そこで、多くの現行の検査装置での検査画像は検査の進行に合わせて小さな領域毎に検査装置にのコンピュータ上のメモリに蓄えられ、逐次処理を行っているのが一般的である。この場合、採取したある領域の画像は、次の領域の画像が入力されるまでの短い時間しか保存されておらず、その短い時間内に欠陥や異物の検出の処理を行わなければならない、あるいは、既に消去されてしまった領域の画像を再度使用する場合には、その領域の検査をやり直さなければならない等の問題がある。
また、1テラバイトを超えるような大容量の検査画像をD−RAMのような揮発性のメモリ、即ち従来の一次記憶装置に全て蓄えようとすると、消費電力と発熱量が大きくなるという欠点があり、実現が難しい。
また、検査画像の全てをハード・ディスク記憶装置やシリコン・ディスク記憶装置などの2次記憶装置に保存する方法がある。しかし、ハードディスクは記憶媒体の円盤が高速で回転しているために信頼性に問題がある。最近ではRAID5というような、複数のハード・ディスク・ドライブをまとめて一つのドライブ・システムとして冗長性を持たせて、一つのディスク・ドライブ・ユニットが壊れても、そこに保存された画像データが失われないような仕組みも開発されている。しかし、このような方式では壊れたディスク・ドライブ・ユニットを交換し、システムを健全な状態に戻すのに再構築作業を行わなければならず、それにかける時間とコストが問題となる。
ハードディスク・ドライブ記憶装置に代わるものとして、フラッシュ・メモリなどの不揮発性メモリを使用したシリコン・ディスク記憶装置などが使われるようになってきている。シリコン・ディスクの場合には駆動部が無いので、より信頼性が高く、消費電力も低いという利点があり、パソコンなどで急速に普及している。しかし、フラッシュメモリは読み書き回数に制限があり、寿命が来た場合には記憶装置毎交換しなければならない点が問題である。またハードディスクドライブ記憶装置も、シリコン・ディスク記憶装置も二次記憶装置であるので、画像データを保存する場合にはファイル形式にて保存する。この場合、画像データの任意の位置のデータにアクセスするのに時間がかかる欠点がある。
In a semiconductor photomask visual inspection apparatus and a semiconductor wafer visual inspection apparatus, the surface of a photomask or wafer is scanned with a resolution higher than 1 micron, an image is collected, and defects and foreign matter are detected.
When an image is acquired with high resolution, the volume of image data per examination increases, and in recent apparatuses, the data size has become 1 terabyte or more per examination.
The memory capacity of computers built into these inspection devices is increasing year by year, but on the other hand, the resolution is higher and it is difficult to store all the image data of one inspection in the existing memory system. is there.
In view of this, inspection images from many current inspection apparatuses are generally stored in a memory on a computer in the inspection apparatus for each small area as the inspection progresses, and are sequentially processed. In this case, the collected image of a certain area is stored only for a short time until the image of the next area is input, and the defect or foreign object detection process must be performed within that short time, or When an image in an area that has already been erased is used again, there is a problem in that the area must be inspected again.
In addition, if all inspection images having a large capacity exceeding 1 terabyte are stored in a volatile memory such as a D-RAM, that is, a conventional primary storage device, there is a disadvantage that power consumption and heat generation amount increase. It is difficult to realize.
Further, there is a method of storing all inspection images in a secondary storage device such as a hard disk storage device or a silicon disk storage device. However, the hard disk has a problem in reliability because the disk of the storage medium rotates at high speed. Recently, multiple hard disk drives such as RAID 5 are combined into a single drive system to provide redundancy, and even if one disk drive unit breaks, the image data stored there is A mechanism that will not be lost has also been developed. However, in such a system, a broken disk drive unit must be replaced and a rebuilding operation must be performed to return the system to a healthy state.
As an alternative to the hard disk drive storage device, a silicon disk storage device using a nonvolatile memory such as a flash memory has been used. In the case of a silicon disk, since there is no drive unit, it has the advantages of higher reliability and lower power consumption, and is rapidly spreading in personal computers and the like. However, the flash memory has a limitation in the number of times of reading and writing, and it is a problem that each storage device must be replaced when the lifetime is reached. Since both the hard disk drive storage device and the silicon disk storage device are secondary storage devices, image data is stored in a file format. In this case, it takes a long time to access data at an arbitrary position in the image data.

発明が解決しようとする課題Problems to be solved by the invention

半導体用フォトマスク外観検査装置や半導体用ウエハー外観検査装置が1回の検査で採取する最高で10テラバイトにも達するような巨大な画像データを蓄えることができ、一次記憶装置のように画像データの任意の位置に直接アクセスすることができ、データの読み込み書き込みに要する時間がハードディスク記憶装置やシリコン・ディスク記憶装置に書かれたファイルの任意の位置にアクセスする場合に比較して著しく短く、且つ、消費電力が少なく、壊れたり寿命がきた記憶媒体を容易に発見することができ、それを容易に交換できるメモリ・システムを開発することである。  It can store huge image data of up to 10 terabytes collected by semiconductor photomask visual inspection device and semiconductor wafer visual inspection device in one inspection, and can store image data like primary storage device. Direct access to any location, time required to read and write data is significantly shorter than when accessing any location in a file written to hard disk storage or silicon disk storage, and consumption It is to develop a memory system that can easily find a storage medium that has low power, is broken or has a lifetime, and that can be easily replaced.

課題を解決するための手段Means for solving the problem

(ア)メモリ・ボード(1)にソケット(2)を複数個配置し、このソケットに装着可能なSDカードのような取り外し可能な不揮発性メモリ・カード(3)をそれぞれのソケットに装填する。
(イ)メモリ・ボード(1)上に、図2に示すようなメモリ・ボードの外部とのデータ入出力部(6)、データを一時的に蓄えるバッファ(7)、データの読み書きを振り分けるコントロール部(8)からなる回路を設け、この回路と各メモリ・ソケット(2)を結ぶ。この制御回路は図1においては(4)に該当する。制御回路(4)は使用可能なメモリ・カート(3)が認識されているメモリ・ソケットを有効なメモリ・ソケットとして自動的に認識すると共に、有効なメモリ・ソケットに1バイト、あるいは数バイトずつデータの書き込み読み込み先を振り分けて行くことで、フラッシュメモリによってできているメモリ・カードの欠点である読み書きのスピードの遅さを解消する。例えば、10個のメモリ・ソケットに1バイトずつ、データの書き込みをして行く場合、制御回路の処理速度が、メモリ・カードの書き込み可能速度の10倍よりも十分に早い場合には、このメモリ・ボードの書き込みの速度は、そこに使われているメモリ・カードの10倍の速度を出すことが可能になる。
(ウ)メモリ・ボード(1)の両面、若しくは片面の端の位置にメモリ・ソケット(2)を配置する。これによって、いずれかのメモリ・カード(3)に不具合が生じた場合に、簡単にメモリ・カードを取り替えることが可能になる。
(エ)各メモリ・ソケット(2)の近傍に、それぞれのメモリ・ソケットに対応したLEDランプ(5)を1対1の対応で設置する。このLEDランプは制御回路(4)上にて動作する診断プログラムによりメモリ・ソケットあるいはメモリ・カードのいずれかに不具合が発生した場合に点灯し、そのメモリ・ソケットあるいはメモリ・カードに不具合が有ることを知らせる。
(オ)メモリ・ボード(1)を複数枚集めてメモリ・ベース・ボード(10)に装填することで、さらに大きな容量のメモリ・システムを構築する。(図3)
(A) A plurality of sockets (2) are arranged on the memory board (1), and a removable nonvolatile memory card (3) such as an SD card that can be inserted into the socket is loaded into each socket.
(A) On the memory board (1), a data input / output unit (6) with the outside of the memory board as shown in FIG. 2, a buffer (7) for temporarily storing data, and a control for sorting data reading and writing A circuit composed of the section (8) is provided, and this circuit is connected to each memory socket (2). This control circuit corresponds to (4) in FIG. The control circuit (4) automatically recognizes a memory socket in which an available memory cart (3) is recognized as a valid memory socket, and one byte or several bytes in the valid memory socket. By allocating data write / read destinations, the slow read / write speed, which is a drawback of memory cards made of flash memory, is solved. For example, when data is written byte by byte into 10 memory sockets, if the processing speed of the control circuit is sufficiently faster than 10 times the writable speed of the memory card, this memory -The writing speed of the board can be 10 times faster than the memory card used there.
(C) The memory socket (2) is arranged on both sides of the memory board (1) or at the end of one side. This makes it possible to easily replace the memory card when any memory card (3) has a problem.
(D) In the vicinity of each memory socket (2), LED lamps (5) corresponding to each memory socket are installed in a one-to-one correspondence. This LED lamp is lit when a failure occurs in either the memory socket or the memory card by the diagnostic program operating on the control circuit (4), and the memory socket or the memory card is defective. To inform.
(E) A memory system having a larger capacity is constructed by collecting a plurality of memory boards (1) and loading them into the memory base board (10). (Figure 3)

次に、本発明の形態を述べると、メモリ・ボード(1)のソケット(2)に正常動作するSDカード(3)を装着すると、SDカードが装着されたソケットに付随したLEDランプ(5)が点灯し、そこにデータを保存することができる状態を知らせる。
パソコンとメモリ・ベース・ボード(10)をUSB2.0規格のケーブルで接続し、制御回路4を介してデータをPCからメモリ・システムに送り出すと、SDカードが装着されたソケットのLEDランプが点滅して、データが書き込まれる。
この際の書き込み速度は20MByte/Sec以上の書き込み速度が観察され、SDスピードクラス10の10MByte/Secを超えるスピードで書き込みができる。
Next, the embodiment of the present invention will be described. When the SD card (3) that normally operates is inserted into the socket (2) of the memory board (1), the LED lamp (5) attached to the socket in which the SD card is installed. Lights up and informs you that you can save data there.
When the personal computer and the memory base board (10) are connected with a USB 2.0 standard cable and data is sent from the PC to the memory system via the control circuit 4, the LED lamp of the socket in which the SD card is installed blinks. Then, the data is written.
At this time, a writing speed of 20 MByte / Sec or higher is observed, and writing can be performed at a speed exceeding 10 MByte / Sec of the SD speed class 10.

発明の効果The invention's effect

本発明で、2.5TByteの容量を持ったメモリ・システムを構築し、動作を確認することができた。使用する不揮発性メモリ・カードの1枚当たりの容量を増やす、あるいは、メモリ・ソケットの数を増やす等して最大で10テラバイトの大きなメモリ空間を構築できる目処がついた。
記憶媒体に、フラッシュ・メモリを使ったSDカードを使用しているので、一次記憶装置でありながらD−RAMを使用した場合に比較して電力消費が少なく、電気を切っても記憶内容をを保持できる。
10枚のメモリカードに1バイトずつ書き込む方法により、メモリ単体の場合より10倍の書き込み速度を実現できる。
可動部が無く、信頼性が向上する。
LEDと制御回路にある診断プログラムによって、動作しているメモリ・ソケットと動作していないメモリ・ソケットの区別が容易につくので、故障時には当該メモリ・カードを取り替えるだけで良く、復旧までの作業と時間を大幅に縮小できる。
With the present invention, it was possible to construct a memory system having a capacity of 2.5 TBytes and confirm the operation. It is now possible to construct a large memory space of up to 10 terabytes by increasing the capacity per non-volatile memory card used or increasing the number of memory sockets.
Since an SD card using flash memory is used as the storage medium, it consumes less power compared to using a D-RAM even though it is a primary storage device. Can hold.
By writing one byte at a time to 10 memory cards, a writing speed 10 times faster than that of a single memory can be realized.
There are no moving parts, improving reliability.
The diagnostic program in the LED and control circuit makes it easy to distinguish between a working memory socket and a non-working memory socket. Time can be greatly reduced.

メモリ・ボードの正面図Front view of memory board 不揮発メモリに高速にデータを読み書きする仕組みMechanism for reading / writing data to / from non-volatile memory at high speed メモリ・ベース・ボードにメモリ・ボードを装着した斜め図Diagonal view with memory board mounted on memory base board

1 メモリ・ボード
2 メモリ・ソケット
3 取り外し可能な不揮発性メモリ・カード
4 メモリ・ボードのコントロール部
5 メモリの動作確認のためのLEDランプ
6 メモリ・ボードの外部とのデータ入出力部
7 データを一時的に蓄えるバッファ
8 データの読み書きを振り分けるコントロール部
9 メモリ部分
10 メモリ・ベース・ボード
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Memory board 2 Memory socket 3 Removable non-volatile memory card 4 Memory board control part 5 LED lamp for memory operation check 6 Data input / output part 7 outside the memory board Temporary data Buffer 8 for storing data Control unit 9 for distributing data reading and writing Memory part 10 Memory base board

Claims (5)

メモリ・ボードという基板上に複数のソケットを装着し、そこにSDカードやメモリ・スティック等の取り外し可能な不揮発性メモリ・カードを装填し、そのメモリ容量の総合計を一つの巨大なメモリとして活用できるメモリ・システム。A plurality of sockets are mounted on a board called a memory board, and a removable non-volatile memory card such as an SD card or a memory stick is loaded therein, and the total memory capacity is utilized as one huge memory. Capable memory system. 上記メモリ・ボードに装着された不揮発メモリ・カードに対して1バイト若しくは複数のビットまたはバイト毎に書き込み先のメモリ・カードを変えて行くことで、高速にデータの読み出しと書き込みを可能にする制御回路。Control that enables reading and writing of data at high speed by changing the write destination memory card for each byte or multiple bits or bytes for the non-volatile memory card mounted on the memory board. circuit. 上記メモリ・ボードに装着するソケットをメモリ・ボードの両面、端部に配置し、メモリ・カードの装填と取り外しを容易にした構造。A structure that makes it easy to load and unload a memory card by placing sockets on the memory board on both sides and ends of the memory board. 各ソケット毎の近傍に配置したLEDランプと制御回路及び診断のためのソフトウエアによって、ソケットに装填されたメモリ・カード各々の正常動作を確認する機能。The function of confirming the normal operation of each memory card loaded in the socket by the LED lamp, control circuit and diagnostic software arranged in the vicinity of each socket. 上記、メモリ・カードを装填したメモリ・ボードを複数集めて一つの基板上に装填し、メモリ・ボードのメモリ容量の総合計を一つの巨大なメモリとして使用できるようにするためのメモリ・ベース・ボード。A memory base for collecting a plurality of memory boards loaded with memory cards and loading them on one board so that the total memory capacity of the memory boards can be used as one huge memory. board.
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