JP2007156670A - Facility equipment checking system - Google Patents
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Abstract
Description
この発明は、設備機器点検システムに関し、プラントの設備機器に使用される一般産業用の回転機器や電気機器についてICタグを利用して、点検情報を入出力することでプラントの設備機器の効率的な保全管理を実現するシステムに関するものである。 TECHNICAL FIELD The present invention relates to an equipment inspection system, and it is possible to efficiently input and output inspection information by using an IC tag for general industrial rotating equipment and electrical equipment used in plant equipment. The present invention relates to a system that realizes efficient maintenance management.
プラント設備機器の日常点検では、待機場所である事務所から点検に必要な点検項目表やチェックリスト等を持参し設備の外観点検や測定器を用いて点検を行う場合が多い。また、最近では点検項目表などを携帯端末などにダウンロードして現場に持参し個々の点検結果を入力した上で、事務所へ持ち帰りデータとして処理されている。 In daily inspections of plant equipment, it is often the case that an inspection item table and a check list necessary for inspection are brought from the office, which is a standby place, to check the appearance of the equipment and using a measuring instrument. In addition, recently, an inspection item table or the like is downloaded to a portable terminal, brought to the site, and after entering individual inspection results, they are processed as take-out data to the office.
プラント設備機器の日常点検では、人間の五感(目視、異常音、におい、接触感等)による設備の外観点検を行う場合も多い。点検用の測定器を使用する場合でも、点検者の技量に頼って実施されるものであることは否めないといえる。同じ設備機器に対しても点検者、あるいは点検条件によっては点検結果にばらつきがあることが懸念される。 In daily inspection of plant equipment, the appearance of facilities is often inspected by human senses (visual, abnormal noise, smell, touch, etc.). Even when using a measuring instrument for inspection, it cannot be denied that it is performed depending on the skill of the inspector. There is a concern that the inspection results may vary depending on the inspector or the inspection conditions for the same equipment.
一方、これらの点検業務をより正確に、効率的に運用するため設備機器に対してRFID(Radio Frequency Identification)等の非接触性のICタグを設置し点検機器を特定し、対象設備を誤らないようにしたものがある(例えば、特許文献1参照)。 On the other hand, in order to operate these inspection operations more accurately and efficiently, non-contact IC tags such as RFID (Radio Frequency Identification) are installed on the equipment to identify the inspection equipment, and the target equipment is not mistaken. There is something like that (see, for example, Patent Document 1).
さらに、危険地域の点検業務を点検ロボットに操作させるため、前記のRFIDに点検順路を示す情報等を記録したものもある(例えば、特許文献2参照)。 Furthermore, in order to make the inspection robot operate the inspection work in the dangerous area, there is also one in which information indicating the inspection route is recorded in the RFID (for example, see Patent Document 2).
従来のプラント設備点検では、ICタグを使用して測定データそのものを現場に保存したり、対象設備の調整値等を保存したりするものである。
従って、測定を同じ尺度で測定する手法を点検対象の設備機器毎に引き継いで使用する仕組みは提供されていない。
あるいは、測定結果を点検時の条件とともに保存していないため、ICタグに保存された前回の点検データと比較して判定結果を得ることは設備機器によっては判断を誤ることになりかねない。
また、点検現場の状況によっては、暗所の場合や、同一形状の機器が複数ある場合には、点検機器を特定することが困難な場合など機器自身を取り違えて点検してしまう恐れもある。
このような悪条件の場所で点検機器対象にあわせて測定器をチューニングしなければならないなど、非常に作業効率の悪いケースもある。
ICタグを応用した従来の技術では、以上のような問題点があった。
In the conventional plant equipment inspection, the IC tag is used to save the measurement data itself on the site, or to save the adjustment value of the target equipment.
Therefore, no mechanism is provided for taking over and using the method of measuring with the same scale for each equipment to be inspected.
Alternatively, since the measurement result is not stored together with the conditions at the time of inspection, obtaining the determination result by comparing with the previous inspection data stored in the IC tag may result in an erroneous determination depending on the equipment.
In addition, depending on the situation at the inspection site, there is a possibility that the device itself may be mistakenly inspected when it is difficult to specify the inspection device in a dark place or when there are a plurality of devices having the same shape.
There are also cases where work efficiency is extremely low, such as the need to tune the measuring instrument in accordance with the inspection device target in such an unfavorable place.
The conventional technology using the IC tag has the above problems.
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、点検対象設備に対応する点検条件によって点検目的を的確に遂行できる設備機器点検システムを提供しようとするものである。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide an equipment inspection system that can accurately perform an inspection purpose according to inspection conditions corresponding to an inspection target facility.
この発明に係る設備機器点検システムでは、被点検機器に設けられ被点検機器に対応した固有の識別情報とともに被点検機器に関する点検条件情報を記録した記録素子を備え、点検用端末により前記被点検機器に対応する前記点検条件情報を前記記録素子から取得し、前記記録素子から取得した前記点検条件情報に基づき点検条件を設定して前記被点検機器に対する点検動作を実行するようにしたものである。 The facility equipment inspection system according to the present invention includes a recording element that is provided in the equipment to be inspected and that records unique identification information corresponding to the equipment to be inspected and inspection condition information relating to the equipment to be inspected. The inspection condition information corresponding to is acquired from the recording element, the inspection condition is set based on the inspection condition information acquired from the recording element, and the inspection operation for the inspected device is executed.
この発明によれば、点検対象設備に対応する点検条件によって点検目的を的確に遂行できる設備機器点検システムを提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide an equipment inspection system that can accurately perform an inspection purpose according to inspection conditions corresponding to an inspection target facility.
実施の形態1.
この発明による実施の形態1を図1から図5について説明する。図1は実施の形態1における設備機器点検システムの概略構成を示したブロック図である。図2は実施の形態1におけるICタグ内のデータ構成を示すブロック図である。図3は実施の形態1における点検表を示す図表である。図4は実施の形態1における動作を示すフローチャートである。図5は実施の形態1における測定器を用いた動作を示すフローチャートである。
Embodiment 1 FIG.
A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of the equipment inspection system in the first embodiment. FIG. 2 is a block diagram showing a data structure in the IC tag in the first embodiment. FIG. 3 is a chart showing an inspection table in the first embodiment. FIG. 4 is a flowchart showing the operation in the first embodiment. FIG. 5 is a flowchart showing an operation using the measuring instrument in the first embodiment.
この発明による実施の形態1における設備機器点検システムの概略構成を示した図1において、設備機器点検システムは、点検者が点検時に携帯して点検結果を入力する点検用携帯端末(以下、点検端末という)10と、点検対象130に取付けられ、携帯端末10により電波信号を用いて非接触にデータの読み書き可能な非接触ICタグ120と、点検設備を測定する測定器20から構成されている。
携帯端末10は、点検データ制御部100,表示装置101,設定指示部102,点検表103,タグリーダ/ライタ104,入力装置105から構成されている。点検データ制御部100は携帯端末10の各部を制御する制御手段であり、CPU等により構成される。表示装置101は液晶ディスプレイ等の各種情報を表示する表示手段であり、入力装置102はタッチパネル、キーボード等のユーザが各種情報を入力する入力手段である。点検表103はハードディスク等の情報記憶手段に記憶された点検データを格納する表である。タグリーダ/ライタ104は非接触ICタグ120に対して電波信号を用いて非接触にデータの読み書きを行う装置である。前記構成装置により、携帯端末10は巡回点検を支援するプログラムを実行することができ、点検項目の表示、点検結果の入力等の機能を有する。
計測器20は、測定制御部201および測定部202から構成される。
In FIG. 1 showing a schematic configuration of an equipment inspection system according to Embodiment 1 of the present invention, an equipment inspection system is an inspection portable terminal (hereinafter referred to as an inspection terminal) that is carried by an inspector during inspection. 10), a
The
The
図2は、ICタグ内のデータ構造を示す図である。ICタグ内120には、ICタグに固有に記録された番号121と、利用者が設定可能なユーザデータ領域とが構成されている。
ユーザデータ領域に設定可能な情報として、122は設備名称である。測定器を使用して設備機器を正しく測定するための測定条件数123、個別の測定条件と測定パラメータ124等が含まれる。(たとえば、測定器が振動センサーの場合には、測定データとして取り入れるべき周波数帯データを峻別する周波数カットフィルター等が相当し、赤外線温度測定装置の場合には、放射率設定値が相当する)測定データの正常、異常を判定するための基準値数125および、基準値種別(上下限値など)を格納した基準値判定エリア126を備える。
また、点検結果を入力する際に利用する文字列127、入力候補が複数ある場合には、辞書ファイル番号により構成される。
FIG. 2 is a diagram showing a data structure in the IC tag. In the
As information that can be set in the user data area, 122 is an equipment name. The
In addition, when there are a plurality of
図3は、点検端末10に保存されるべき点検表130の詳細構成を示すブロック図である。
点検表130における1レコードはプラント等の設備機器1台分としての1点検設備に相当し、以下のように構成される。
データ設備名称131、ICタグ固有識別番号132、対応するICタグから読み込んで保存する測定条件数133、その測定条件134、測定データ135、判定結果136、前回測定時の条件137、および前回測定データ138から構成される。
FIG. 3 is a block diagram showing a detailed configuration of the inspection table 130 to be stored in the
One record in the inspection table 130 corresponds to one inspection facility as one facility device such as a plant, and is configured as follows.
図4は、点検端末の点検データ制御部のフローチャートであり、図5は計測の動作を示すフローチャートである。 FIG. 4 is a flowchart of the inspection data control unit of the inspection terminal, and FIG. 5 is a flowchart showing the measurement operation.
次に、動作について説明する。
点検者は、点検端末10と計測器20を持って現場に赴くか、現場に置いてある計測器20を接続し、点検を開始する。点検端末10と計測器20を接続する送信線15、および受信線16は有線、無線であるかを問わず、また送信線15と受信線16は共通でもよい。
Next, the operation will be described.
The inspector goes to the site with the
以下に、点検端末10における点検データ制御部100の動作と計測器20における測定制御部201の動作を図4および図5に示すフローチャートを用いて説明する。
ステップS101において、タグリーダ/ライタ104を介して、ICタグ120からデータを一式読み込む。
ステップS102において、読み込みデータの中から、ICタグ固有識別番号121と設備名称122をキーにして点検対象である設備機器を点検表より検索する。
ステップS103において、点検に必要な測定条件数123と測定条件124を読み込み、点検表103に書き込む。
ステップS104において、測定条件124に記載されたパラメータを送受信部102に渡して接続線15を介して送信する。
ステップS201において、計測器20は、送受信部120から送付された設定パラメータに従いパラメータを設定する。
ステップS105において、点検端末10は、測定器20へ測定開始を送受信部経由で送信する。
ステップS202において、測定器はステップS201で設定したパラメータに従って測定を実施する。
ステップS203において、測定結果を測定制御部201を経由し点検端末に送付する。
ステップS106において、点検端末10の点検データ制御部は、測定データを送受信部102を介して受け取る。
ステップS107において、測定データを表示装置101に表示する。
ステップS108において、受け取ったデータを点検表103の測定データ135に保存する。
Below, operation | movement of the inspection
In
In step S102, the equipment to be inspected is searched from the inspection table using the IC tag
In step S <b> 103, the number of
In step S <b> 104, parameters described in the
In step S <b> 201, the
In step S105, the
In step S202, the measuring instrument performs measurement according to the parameters set in step S201.
In step S203, the measurement result is sent to the inspection terminal via the
In step S <b> 106, the inspection data control unit of the
In step S107, the measurement data is displayed on the
In step S108, the received data is stored in the
上記のように、点検者はICタグ120を読み込むだけで、計測器20への点検パラメータ設定から点検端末10への点検データ保存までを自動的に実施可能であり、暗所や危険箇所における点検作業の容易な実行が可能である等の効果がある。
As described above, the inspector can automatically carry out the process from setting the inspection parameter to the
(1A)この発明による実施の形態1によれば、プラント設備機器等の被点検機器に設けられ被点検機器に対応した固有の識別情報とともに被点検機器に関する点検条件要素を記録したICタグ120からなる記録素子を備え、点検用端末10により前記被点検機器に対応する前記点検条件要素を前記ICタグ120からなる記録素子から取得し、前記ICタグ120からなる記録素子から取得した前記点検条件要素に基づき点検条件を設定して前記被点検機器に対する点検動作を実行するようにしたので、点検対象設備に対応する点検条件によって点検目的を的確に遂行できる設備機器点検システムを提供することができる。
(1A) According to the first embodiment of the present invention, from the
(1B)この発明による実施の形態1によれば、プラント設備機器等の被点検機器に設けられ被点検機器に対応した固有の識別情報とともに被点検機器に関する点検条件情報を記録したICタグ120からなる記録素子と、前記識別情報および点検条件情報を前記ICタグ120からなる記録素子から取得するための点検用端末10と、前記点検用端末10に接続される計測器20とを備え、前記点検用端末10により前記被点検機器に対応する前記点検条件情報を前記ICタグ120からなる記録素子から取得し、前記ICタグ120からなる記録素子から取得した前記点検条件情報に基づき前記計測器20に点検条件を設定して前記被点検機器に対する点検動作を実行するようにしたので、点検用端末によって記録素子から取得した点検条件情報に基づき計測器に点検条件を設定することにより、点検対象設備に対応する点検条件によって点検目的を的確に遂行できる設備機器点検システムを提供することができる。
(1B) According to the first embodiment of the present invention, from the
実施の形態2.
この発明による実施の形態2を図6に基づいて説明する。図6は実施の形態2における動作を示すフローチャートである。
この実施の形態2において、ここで説明する特有の構成以外の構成については、先に説明した実施の形態1における構成と同一の構成内容を具備し、同様の作用を奏するものである。
Embodiment 2. FIG.
A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a flowchart showing the operation in the second embodiment.
In the second embodiment, the configuration other than the specific configuration described here has the same configuration contents as the configuration in the first embodiment described above, and exhibits the same operation.
点検者は、点検端末を持参して現場に赴き、設備の前に設置されたICタグに向かってリーグライターをかざし、図2に示されたデータを読み込む。これは実施の形態1と同様である。
これによって、ICタグに記録された測定条件に従って、測定器経由で測定データを取得し点検表に記録する。これも実施の形態1で記載した図4,5のフローチャートと同様である。
実施の形態1により測定結果は、表示装置101にて閲覧可能であるが、この結果を見て点検者が設備機器の異常ではなく、全くデータが取得できない場合や明らかに測定データがうまく取得できていない場合がある。この場合にICタグに登録されている他の測定条件を選択変更し再度測定する場合、新しい測定条件を入力装置105で設定して測定する等して、正常に測定データが取得できた場合には、新しい測定条件を登録可能とする。
The inspector brings an inspection terminal to the site, holds the league writer toward the IC tag installed in front of the equipment, and reads the data shown in FIG. This is the same as in the first embodiment.
As a result, according to the measurement conditions recorded on the IC tag, the measurement data is acquired via the measuring instrument and recorded in the inspection table. This is also the same as the flowchart of FIGS. 4 and 5 described in the first embodiment.
Although the measurement result can be viewed on the
図6のフローチャートに基づいて説明する。このフローチャートは、図4のフローチャートS101〜S108の後より始まるため図4の重複する部分の記載は省略する。測定器のフローチャートは図5で示したものと同様である。
ステップS301において、測定値が正しいか点検者が判断し、正しくない場合にはS302へ、正しい場合には測定データを保存して(ステップS311)終了する。
ステップS302において、ICタグ内より一括読み込んだデータより、登録された測定条件が2つ以上ある場合にはステップS303に進む。複数ない場合には、ステップS305に進む。
ステップS303において、条件候補を表示し、点検者が測定条件を選択する。
ステップS304において、図4のS105以降と図5による再測定を実施する。
ステップS305において、代替の測定条件がないことを点検者に表示装置101で表示する。
ステップS306において、点検者による測定条件とパラメータを入力装置101にて入力する。
ステップS307において、入力された測定条件にて図4のステップS105以降と図5による再測定を実施する。
ステップS308において、測定値が正しいか点検者が判断し、正しくない場合にはステップS306に戻る。正しい場合にはS309に進む。
ステップS309において、ICタグ120内の測定条件数を1つ増やし、成功した測定条件とパラメータを記録する。
ステップS310において、点検表103にも、同様の内容を保存する。
ステップS311において、点検表103の測定データ135に測定データを保存する。
ICタグ内に保存できるデータは有限であるため、S309においてICタグ内の残容量をチェックし、書き込みが不可能な場合には、失敗した測定条件とパラメータを消去し書き換えるという方法をとってもよい。
This will be described based on the flowchart of FIG. Since this flowchart starts after the flowcharts S101 to S108 in FIG. 4, the description of the overlapping parts in FIG. 4 is omitted. The flowchart of the measuring instrument is the same as that shown in FIG.
In step S301, the inspector determines whether or not the measured value is correct. If the measured value is not correct, the process proceeds to step S302.
In step S302, if there are two or more registered measurement conditions from the data collectively read from the IC tag, the process proceeds to step S303. If there are not more than one, the process proceeds to step S305.
In step S303, condition candidates are displayed, and the inspector selects measurement conditions.
In step S304, re-measurement is performed according to S105 and subsequent steps in FIG. 4 and FIG.
In step S305, the
In step S <b> 306, measurement conditions and parameters by the inspector are input through the
In step S307, re-measurement is performed according to the input measurement conditions after step S105 of FIG. 4 and FIG.
In step S308, the inspector determines whether or not the measured value is correct. If the measured value is not correct, the process returns to step S306. If it is correct, the process proceeds to S309.
In step S309, the number of measurement conditions in the
In step S310, the same contents are also stored in the inspection table 103.
In step S311, the measurement data is stored in the
Since the data that can be stored in the IC tag is limited, the remaining capacity in the IC tag is checked in S309, and if writing is impossible, a method of deleting and rewriting the failed measurement conditions and parameters may be used.
これによって、点検日の設備機器付近の環境条件によって、複数の測定条件とパラメータによる試行が可能であり、かつ測定に成功した場合には測定条件とパラメータをICタグに書き込むことによって、次回点検時における測定作業を支援することができるため、点検業務の効率化となる効果が期待できる。 This allows trials with multiple measurement conditions and parameters depending on the environmental conditions in the vicinity of the equipment on the inspection date, and if the measurement is successful, writes the measurement conditions and parameters to the IC tag for the next inspection. Because the measurement work in can be supported, the effect of improving the efficiency of inspection work can be expected.
(2A)この発明による実施の形態2によれば、実施の形態1における前記(1A)項または前記(1B)項における構成において、前記ICタグ120からなる記録素子から取得した前記点検条件情報に基づき設定した点検条件では前記被点検機器に対する点検動作を正常に実行できず、代替点検条件で実行した場合には、前記ICタグ120からなる記録素子に前記代替点検条件を追加記録できるようにしたので、点検対象設備に対応する点検条件によって点検目的を的確に遂行できるとともに、点検業務の効率化を図ることができる設備機器点検システムを提供することができる。
(2A) According to the second embodiment of the present invention, the inspection condition information acquired from the recording element made up of the
(2B)この発明による実施の形態2によれば、前記(2A)項における構成において、前記ICタグ120からなる記録素子に先行記録された点検条件と前記ICタグ120からなる記録素子に追加記録された前記代替点検条件とを選択可能とし、前記ICタグ120からなる記録素子に追加記録された前記代替点検条件に基づき点検条件を設定して前記被点検機器に対する点検動作を実行できるようにしたので、点検対象設備に対応する点検条件によって点検目的を的確に遂行できるとともに、点検業務の効率化を遂行できる設備機器点検システムを提供することができる。
(2B) According to the second embodiment of the present invention, in the configuration in the item (2A), the inspection condition previously recorded on the recording element made of the
実施の形態3.
この発明による実施の形態3を図3に基づいて説明する。図3は実施の形態3における点検表の構成を示す図表である。
この実施の形態3において、ここで説明する特有の構成以外の構成については、先に説明した実施の形態1または実施の形態2における構成と同一の構成内容を具備し、同様の作用を奏するものである。
Embodiment 3 FIG.
A third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a chart showing a configuration of an inspection table in the third embodiment.
In the third embodiment, the configuration other than the specific configuration described here has the same configuration contents as the configuration in the first embodiment or the second embodiment described above, and exhibits the same operation. It is.
点検端末10内の点検表103(図3)には測定条件と測定データ(前回値)をそれぞれ前回測定条件137と前回測定データ138に保存しておく。
この処理は、実施の形態1における図4のS107あるいは、実施の形態2における図6のS311に続いて実施する。
これにより、たとえば点検データ取得の際に測定条件とあわせて測定データを前回値の分と合わせて表示装置101上で並列表示することによって、点検データの良否や設備機器の劣化などの判断に役立てることが可能という効果がある。
In the inspection table 103 (FIG. 3) in the
This process is performed following S107 in FIG. 4 in the first embodiment or S311 in FIG. 6 in the second embodiment.
Thereby, for example, when the inspection data is acquired, the measurement data is displayed in parallel on the
(3A)この発明による実施の形態3によれば、実施の形態1における(1A)項および(1B)項ならびに実施の形態2における(2A)項および(2B)項に示す構成のいずれかの構成において、プラント設備機器等の前記被点検機器に対する点検動作の実行により取得した点検データを保存する保存手段を備え、前記被点検機器に対する点検動作の実行により取得した点検データと前記保存手段に保存されている前回取得した点検データとを照合可能に表示するようにしたので、点検対象設備に対応する点検条件によって点検目的を的確に遂行できるとともに、点検データの良否や設備機器の劣化などの判断に役立てることができる設備機器点検システムを提供することができる。 (3A) According to the third embodiment of the present invention, any one of the configurations shown in the items (1A) and (1B) in the first embodiment and in the items (2A) and (2B) in the second embodiment In the configuration, the storage device stores the inspection data acquired by executing the inspection operation on the inspected equipment such as plant equipment, and stores the inspection data acquired by executing the inspection operation on the inspected equipment and the storage means The inspection data acquired last time is displayed so that it can be collated, so that the inspection purpose can be accurately performed according to the inspection conditions corresponding to the inspection target equipment, and the quality of the inspection data and the deterioration of the equipment are judged. It is possible to provide an equipment inspection system that can be used for
実施の形態4.
この発明による実施の形態4を図7および図8に基づいて説明する。図7は実施の形態4における動作を示すフローチャートである。
この実施の形態4において、ここで説明する特有の構成以外の構成については、先に説明した実施の形態1から実施の形態3までのいずれかにおける構成と同一の構成内容を具備し、同様の作用を奏するものである。
Embodiment 4 FIG.
A fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 7 is a flowchart showing the operation in the fourth embodiment.
In the fourth embodiment, the configuration other than the specific configuration described here has the same configuration contents as the configuration in any of the first to third embodiments described above, and is similar. It has an effect.
図2のICタグ120に点検時に実施する各々の測定条件毎に、測定データの判定基準値、例えば、正常と判断するための許容される上限値と下限値を記録しておき、図4、図5のフローチャートによって測定器20により取得した測定データが正常に取得できた場合に、設備機器の異常判断を図1の点検データ制御部100で実施する。
一つの実施の形態として、上下限値を判定基準値とした場合の実施の形態を図7のフローチャートと図8で説明する。
図8で、測定条件1における上限値40に下限値を0に設定した場合である。
ステップS401において、ICタグ120内の判定基準として、下限値0と上限値40を取得する。
ステップS402において、測定値が上下限値内であるか判定する。
ステップS403において、範囲内であれば、設備機器の状態を正常と判定して、測定値、測定条件、判断基準値とともに表示装置101に表示する。
ステップS404において、範囲外であった場合には、設備機器の状態を異常として、測定値、測定条件、判断基準値を表示装置101に表示する。
For each measurement condition to be performed at the time of inspection, the
As one embodiment, an embodiment in which the upper and lower limit values are used as determination reference values will be described with reference to the flowchart of FIG. 7 and FIG.
In FIG. 8, the lower limit value is set to 0 for the
In step S401, the
In step S402, it is determined whether the measured value is within the upper and lower limit values.
In step S403, if it is within the range, the state of the equipment is determined to be normal, and is displayed on the
In step S404, if it is out of range, the state of the equipment is regarded as abnormal, and the measurement value, measurement condition, and criterion value are displayed on the
これによって、測定値の正常異常が、測定後瞬時に判断されるため、効率のよい点検システムが実現可能であり、測定条件毎に判定基準を設けるため判定精度のよい点検システムを実現可能であるという効果がある。 As a result, whether the measured value is normal or abnormal is determined immediately after measurement, so that an efficient inspection system can be realized, and since a determination criterion is provided for each measurement condition, an inspection system with high determination accuracy can be realized. There is an effect.
(4A)この発明による実施の形態4によれば、実施の形態1から実施の形態3までにおける(1A)項,(1B)項,(2A)項,(2B)項および(3A)項に示す構成のいずれかの構成において、プラント設備機器等の被点検機器に設けられた前記ICタグ120からなる記録素子に前記被点検機器に対する点検動作によって取得した点検値の良否状態を判定するための基準値情報を記録し、前記被点検機器に対する点検動作による点検値を前記ICタグ120からなる記録素子に記録した基準値情報に基づいて良否判定するようにしたので、点検対象設備に対応する点検条件によって点検目的を的確に遂行できるとともに、判定精度の良い効率的な設備機器点検システムを提供することができる。
(4A) According to the fourth embodiment of the present invention, the items (1A), (1B), (2A), (2B) and (3A) in the first to third embodiments In any one of the configurations shown, for determining a pass / fail state of an inspection value acquired by an inspection operation on the inspected device on a recording element composed of the
実施の形態5.
この発明による実施の形態5を図9に基づいて説明する。図9は実施の形態5における点検端末の外観構成を示す正面図である。
この実施の形態5において、ここで説明する特有の構成以外の構成については、先に説明した実施の形態1から実施の形態4までのいずれかにおける構成と同一の構成内容を具備し、同様の作用を奏するものである。図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
Embodiment 5. FIG.
A fifth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 9 is a front view showing an external configuration of the inspection terminal according to the fifth embodiment.
In the fifth embodiment, the configuration other than the specific configuration described here has the same configuration contents as the configuration in any of the first to fourth embodiments described above, and is similar. It has an effect. In the drawings, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts.
上記実施の形態1における図2のICタグ120の点検時に実施した測定データの判定基準値に従い、実施の形態4では、設備機器の判定を実施する例を記載した。この時の判断結果に使用する文字列をICタグ内の結果文字列127(図2)を利用し、点検表103内の点検判定結果136(図3)に格納するとともに、点検端末10における表示装置101に測定データMDおよび判定基準値JRとあわせて点検結果判定JMとして図9のような表示を実現している。
According to the determination reference value of the measurement data performed at the time of the inspection of the
ここでは、点検結果判定としてICタグ120に直接文字列を書き込んでいるが、この領域に点検者に選択入力させる辞書ファイル番号を記録しておき、点検端末10内の辞書ファイル106(図1)のうちの1つを参照して点検者に候補を表示して、入力装置105(図1)を介して選択させる点検表103(図3)を完成させるような点検システムも可能である。
Here, although the character string is directly written in the
これによって、測定データが測定後、瞬時に判断され、判定結果の点検結果保存まで自動化された運用効率の高い点検システムが実現可能となるという効果がある。 Accordingly, there is an effect that it is possible to realize an inspection system with high operational efficiency in which measurement data is determined immediately after measurement and is automated until the determination result is stored.
(5A)この発明による実施の形態5によれば、実施の形態1から実施の形態4までにおける(1A)項,(1B)項,(2A)項,(2B)項,(3A)および(4A)項に示す構成のいずれかの構成において、プラント設備機器等の被点検機器に設けられた前記ICタグ120からなる記録素子に点検結果を点検端末10に入力する際の候補文字列あるいは辞書ファイル番号等の入力支援情報を記録し、前記ICタグ120からなる記録素子に記録した入力支援情報により点検結果の入力を支援するようにしたので、点検対象設備に対応する点検条件によって点検目的を的確に遂行できるとともに、点検結果入力を円滑に行える運用効率の良い設備機器点検システムを提供することができる。
(5A) According to Embodiment 5 of the present invention, the items (1A), (1B), (2A), (2B), (3A) and (1) in Embodiments 1 to 4 4A) In any one of the configurations shown in the section 4A), a candidate character string or dictionary used when the inspection result is input to the
この発明の実施の形態では、点検対象設備に対応するICタグに点検対象設備の点検条件として測定器の設定値を記録し、かつ、追加可能とする仕組みを提供可能である。
さらに、ICタグから読み込んだ情報を元に、測定機器の測定条件を設定し、実際に測定を行い、測定結果を自動的に携帯点検端末に取り込むシステムを得ることにより暗所などでの測定を容易に実現できること、片手作業すらも困難な現場では、点検結果入力を容易に可能なシステムを得ることができる。
In the embodiment of the present invention, it is possible to provide a mechanism that records the set value of the measuring device as an inspection condition of the inspection target facility on the IC tag corresponding to the inspection target facility, and allows addition.
Furthermore, based on the information read from the IC tag, the measurement conditions of the measuring device are set, the measurement is actually performed, and the measurement result is automatically taken into the portable inspection terminal to obtain a measurement in a dark place. In a site that can be easily realized and even one-handed work is difficult, it is possible to obtain a system that can easily input inspection results.
この発明による実施の形態においては、次に(1)項から(6)項までに示す構成が提示されている。
(1)プラント設備機器などの点検作業において、点検時に付帯する携帯端末と点検測定器に測定用の設定値を入力する手段と、測定値を携帯端末に入力する手段を備え、あらかじめ設備機器に対応した固有の識別番号とともに測定対象の設備機器に関する点検手段を記録したICタグを現場設備機器に設置しておき、点検時に、携帯端末に接続したICタグ読み込み装置によってICタグ内の設備機器固有の識別番号と点検手段を読み取ることにより、点検対象設備機器を特定した上で測定のための設定値を点検測定器へ設定し点検対象設備から点検データを読み取り点検データとして保存することを特徴とした設備機器点検システム。
In the embodiment according to the present invention, the following configurations (1) to (6) are presented.
(1) In the inspection work of plant equipment and the like, it is equipped with means for inputting set values for measurement into a portable terminal attached to the inspection and an inspection measuring instrument, and means for inputting measured values into the portable terminal. An IC tag that records the inspection method for the equipment to be measured along with the corresponding unique identification number is installed in the field equipment, and the equipment in the IC tag is unique by the IC tag reader connected to the portable terminal during the inspection. By reading the identification number and the inspection method, specify the equipment to be inspected, set the measurement setting value to the inspection measuring instrument, read the inspection data from the inspection target equipment, and save it as inspection data Equipment inspection system.
(2)プラント設備機器などの点検作業に関する前記(1)項の設備機器点検システムにおいて、点検時にICタグ内に記録された測定条件では点検データが正常に取得できず、代替測定条件で取得した場合には、携帯端末に保存する点検データと点検対象設備付近に設置したICタグに、代替測定条件を追加して書き込むことが可能なことを特徴とする、設備機器点検システム。 (2) In the equipment inspection system described in (1) above regarding inspection work for plant equipment, etc., inspection data could not be acquired normally under the measurement conditions recorded in the IC tag at the time of inspection, and acquired under alternative measurement conditions. In this case, the equipment inspection system is characterized in that the alternative measurement conditions can be additionally written in the inspection data stored in the portable terminal and the IC tag installed in the vicinity of the inspection target equipment.
(3)プラント設備機器などの点検作業に関する前記(1)項の設備機器点検システムにおいて、点検時に点検データを取得できなかった場合に、前記(2)項にて登録した複数の代替手段より選択して点検条件に合致した点検手段を選択可能なことを特徴とする、設備機器点検システム。 (3) In the equipment inspection system of the item (1) related to the inspection work of the plant equipment and the like, when inspection data cannot be acquired at the time of inspection, select from a plurality of alternative means registered in the item (2) A facility equipment inspection system characterized by being able to select inspection means that match the inspection conditions.
(4)プラント設備機器などの点検作業に関する前記(1)項記載の設備機器点検システムにおいて、取得した点検データと、携帯端末に保存した前回取得した点検データとを照合することによって、劣化等による測定値の変化を判別し点検者に表示することを特徴とする設備機器点検システム。 (4) In the equipment inspection system described in the above item (1) relating to inspection work of plant equipment and the like, due to deterioration or the like by collating the acquired inspection data with the inspection data acquired last time stored in the mobile terminal An equipment inspection system that distinguishes changes in measured values and displays them to the inspector.
(5)プラント設備機器などの点検作業に関する前記(1)項の設備機器点検システムにおいて、点検対象設備機器に対応するICタグ内に、点検値の良否状態を判定するための基準値域を格納しておき、上記請求項1にて取得した、測定値の異常判定を自動的に実施することを特徴とする、設備機器点検システム。 (5) In the equipment inspection system of the above item (1) regarding inspection work for plant equipment and the like, a reference value range for judging the pass / fail status of the inspection value is stored in the IC tag corresponding to the equipment to be inspected. An equipment inspection system characterized in that the abnormality determination of the measurement value acquired in claim 1 is automatically performed.
(6)プラント設備機器などの点検作業に関する前記(1)項の設備機器点検システムにおいて、点検対象設備機器に対応するICタグ内に、点検結果を携帯端末に入力する際の候補文字列あるいは辞書ファイル番号を格納しておき、上記請求項1にて取得した、測定値の異常判定結果入力を容易に実施することを特徴とする、設備機器点検システム。 (6) In the equipment inspection system according to the item (1) relating to inspection work for plant equipment and the like, candidate character strings or dictionaries for inputting inspection results to the portable terminal in the IC tag corresponding to the equipment to be inspected An equipment inspection system characterized in that a file number is stored and an abnormality determination result input of a measured value obtained in claim 1 is easily performed.
10 点検端子、100 点検データ制御部、101 表示装置、102 設定指示部、103 点検表、104 タグリーダ/ライタ、105 入力装置105、20 測定器、201 測定制御部、202 測定部、120 ICタグ、130 点検対象。
10 inspection terminals, 100 inspection data control unit, 101 display device, 102 setting instruction unit, 103 inspection table, 104 tag reader / writer, 105
Claims (7)
The input support information is recorded in the recording element provided in the inspected device, and the input of the inspection result is supported by the input support information recorded in the recording element. The equipment inspection system described in Crab.
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