JP2006330685A - 多光子励起走査型レーザ顕微鏡 - Google Patents

多光子励起走査型レーザ顕微鏡 Download PDF

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Abstract

【課題】 複数波長の超短パルスレーザ光を標本に照射して、複数波長の多光子蛍光を観察することができる、小型で、しかも、コストの低い多光子励起走査型レーザ顕微鏡を提供する。
【解決手段】 単一波長の超短パルスレーザ光L1を出射するレーザ光源5と、該レーザ光源5からの超短パルスレーザ光L1を入射させ、超短パルスレーザ光L1のスペクトルを拡散させる光ファイバ8と、該光ファイバ8から出射されたスペクトル拡散された超短パルスレーザ光L2を走査するレーザ走査部12と、走査された超短パルスレーザ光L2を標本Aに集光させる対物光学系15と、標本Aにおける超短パルスレーザ光L2の集光位置から発せられた多光子蛍光Fを検出する光検出器18と、超短パルスレーザ光に対する群速度分散を補償する分散補償光学系31とを備える多光子励起走査型レーザ顕微鏡1を提供する。
【選択図】 図1

Description

この発明は、多光子励起走査型レーザ顕微鏡に関するものである。
従来、生体等の標本にその表面から超短パルスレーザ光を照射して、標本の表面下の比較的深い位置から発せられる多光子蛍光を検出することにより、細胞等の機能を観察する装置として、多光子励起型の測定装置が知られている(例えば、特許文献1参照。)。
この多光子励起型測定装置において、波長の異なる複数の超短パルスレーザ光を照射して、異なる多光子蛍光を観察する場合には、レーザ光源として、複数の波長の超短パルスレーザ光を出射可能なものを採用、または、単一波長の超短パルスレーザ光源を複数台使用する必要があった。
一方、共焦点走査型蛍光顕微鏡において、フェムト秒オーダーの超短パルスレーザ光を、フォトニックバンドギャップ材のような微細構造光学要素に入射させることによってスペクトル拡散させ、広い波長帯域を有するレーザ光を出射させるとともに、音響光学フィルタ(AOTF)やプリズム、あるいはグレーティングを用いて波長範囲を選択する装置が知られている(例えば、特許文献2参照。)。
特開2002−243641号公報 特開2002−098896号公報
しかしながら、特許文献1の多光子励起型測定装置においては、複数波長の超短パルスレーザ光を出射可能なレーザ光源が大型のものとなり、装置全体が大型化するとともに、コストが高くなるという問題がある。
また、特許文献2は、共焦点走査型蛍光顕微鏡に関する技術が開示されているのみであり、これを多光子励起型蛍光顕微鏡に適用することについては何ら開示されていない。
本発明は上述した事情に鑑みてなされたものであって、複数波長の超短パルスレーザ光を標本に照射して、複数波長の多光子蛍光を観察することができる、小型で、しかも、コストの低い多光子励起走査型レーザ顕微鏡を提供することを目的としている。
上記目的を達成するために、本発明は、以下の手段を提供する。
本発明は、単一波長の超短パルスレーザ光を出射するレーザ光源と、該レーザ光源からの超短パルスレーザ光を入射させ、超短パルスレーザ光のスペクトルを拡散させる光ファイバと、該光ファイバから出射されたスペクトル拡散された超短パルスレーザ光を走査するレーザ走査部と、該レーザ走査部により走査された超短パルスレーザ光を標本に集光させる対物光学系と、標本における超短パルスレーザ光の集光位置から発せられた多光子蛍光を検出する光検出器と、群速度分散を補償する分散補償光学系とを備える多光子励起走査型レーザ顕微鏡を提供する。
本発明によれば、レーザ光源から発せられた単一波長の超短パルスレーザ光が、光ファイバ内に入射されると、該光ファイバ内を伝播する間にスペクトル拡散され、広い波長帯域を有する超短パルスレーザ光として出射される。光ファイバから出射された超短パルスレーザ光は、レーザ走査部によって走査され対物光学系によって標本に集光される。また、分散補償光学系の作動により、顕微鏡全体の分散によるパルス幅の太りが補正される。これにより、標本における集光位置においては、効率的な多光子励起効果により多光子蛍光が発生するので、これを光検出器により検出することで、標本の深さ方向の所定の位置における内部状態を多光子蛍光画像として観察することが可能となる。
この場合において、光ファイバから発せられた広い波長帯域の超短パルスレーザ光を波長選択することなく標本に入射させることで、複数の蛍光物質を同時に励起して、異なる波長の複数の多光子蛍光を同時に発生させることができる。また、広い波長帯域の超短パルスレーザ光から所定の波長帯域の超短パルスレーザ光を切り出すことにより、所望の波長の多光子蛍光を発生させることもできる。
上記発明においては、前記光ファイバから出射されたスペクトル拡散された超短パルスレーザ光の波長を選択する波長選択光学系を備えることが好ましい。
このように構成することで、波長選択光学系の作動により、所定の波長の超短パルスレーザ光を標本に照射することができる。特に波長選択光学系による波長選択を可変にしておくことにより、標本内の蛍光物質に合わせて、適切な波長の超短パルスレーザ光を標本に入射させることが可能となる。
また、上記発明においては、前記波長選択光学系により波長選択された超短パルスレーザ光の中心波長を検出する波形検出部と、前記波形検出部により検出された中心波長に基づいて、前記分散補償光学系の分散補償量を調節する調節装置とを備えることが好ましい。
このように構成することで、波長選択光学系により波長選択された結果得られた超短パルスレーザ光の中心波長に応じて、調節装置の作動により、分散補償光学系の分散補償量が調節され、波長毎に異なる顕微鏡全体の分散によるパルス幅の太りが補正され、標本において効率的に多光子励起効果を発生させることができる。
また、本発明は、単一波長の超短パルスレーザ光を出射するレーザ光源と、該レーザ光源からの超短パルスレーザ光を入射させ、超短パルスレーザ光のスペクトルを拡散させる光ファイバと、前記光ファイバから出射されたスペクトル拡散された超短パルスレーザ光から所定波長の超短パルスレーザ光を選択的に分離する波長選択光学系と、該波長選択光学系により所定波長の超短パルスレーザ光が分離された残りの超短パルスレーザ光を走査するレーザ走査部と、該レーザ走査部により走査された残りの超短パルスレーザ光に、前記所定波長の超短パルスレーザ光を合波させる合波部材と、該合波部材により合波された超短パルスレーザ光を標本に集光させる対物光学系と、標本における超短パルスレーザ光の集光位置から発せられた多光子蛍光を検出する光検出器とを備える多光子励起走査型レーザ顕微鏡を提供する。
本発明によれば、レーザ光源から発せられた単一波長の超短パルスレーザ光が、光ファイバ内に入射されると、該光ファイバ内を伝播する間にスペクトル拡散され、広い波長帯域を有する超短パルスレーザ光として出射される。スペクトル拡散された超短パルスレーザ光は、波長選択光学系を通過させられることにより、所定波長の超短パルスレーザ光が選択的に分離される。該所定波長の超短パルスレーザ光が分離された残りの超短パルスレーザ光はレーザ走査部により走査され、対物光学系によって標本に集光される。これにより、標本における集光位置においては、多光子励起効果により多光子蛍光が発生するので、これを光検出器により検出することで、標本の深さ方向の所定の位置における内部状態を多光子蛍光画像として観察することが可能となる。
また、波長選択光学系により分離された所定波長の超短パルスレーザ光は、合波部材により、走査後の残りの超短パルスレーザ光に合波されるので、標本の特定位置に照射される。これにより、標本の特定位置に所定波長の超短パルスレーザ光による多光子励起刺激を与えながら、標本の状態を多光子蛍光画像として観察することができる。
上記発明においては、前記波長選択光学系により分離された所定波長の超短パルスレーザ光の中心波長を検出する波形検出部と、前記波形検出部により検出された中心波長に基づいて、前記波長選択光学系により分離する超短パルスレーザ光の波長を調節する波長調節装置とを備えることとしてもよい。
このようにすることで、波形検出部により検出された中心波長に基づいて、波長調節装置が分離する超短パルスレーザ光の波長を調節するので、精度よく選択された所定波長の超短パルスレーザ光を用いて高い精度の多光子励起刺激を行うことができる。
また、上記発明においては、前記波長選択光学系により分離された所定波長の超短パルスレーザ光に対する群速度分散を補償する分散補償光学系と、前記波形検出部により検出された中心波長に基づいて、前記分散補償光学系の分散補償量を調節する分散補償量調節装置とを備えることとしてもよい。
このようにすることで、波長選択光学系により分離された所定波長の超短パルスレーザ光に対する顕微鏡全体の群速度分散が、波形検出部により検出された中心波長に基づいて分散補償光学系により補償される。これにより、波長毎に異なる顕微鏡全体の分散によるパルス幅の太りが補正され、精度の高い多光子励起刺激を行うことができる。
また、上記発明においては、前記波長選択光学系により分離された所定波長の超短パルスレーザ光を走査する第2のレーザ走査部を備えることとしてもよい。
また、前記レーザ光源と、前記光ファイバとの間に、該光ファイバに入射する前記超短パルスレーザ光の尖頭出力を調整する尖頭出力調整光学系を備えることとしてもよい。
本発明によれば、複数波長の超短パルスレーザ光を標本に照射して、複数波長の多光子蛍光を観察することができる多光子励起走査型レーザ顕微鏡を、小型で、しかも、低いコストで提供することができるという効果を奏する。
以下、本発明の第1の実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡について、図1を参照して以下に説明する。
本実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡1は、図1に示されるように、照明装置2と、顕微鏡本体3と、画像表示装置4とを備えている。
本実施形態に係る照明装置2は、図1に示されるように、フェムト秒オーダーの超短パルスレーザ光L1を出射するレーザ光源5と、該レーザ光源5から発せられた超短パルスレーザ光L1の光軸の位置および角度を調節するアライメント調整光学系6と、アライメント調整された超短パルスレーザ光L1を集光させるカップリング光学系7と、該カップリング光学系7による集光位置に一端を配置したフォトニックバンドギャップ材からなる光ファイバ8と、光ファイバ8から出射される超短パルスレーザ光L2を略平行光に変換するコリメート光学系9と、略平行光にされたレーザ光L2の光束径およびビームダイバージェンスを調節するビーム整形光学系10とを備えている。また、ビーム整形光学系10の前段には、超短パルスレーザ光L2の群速度分散を補償する分散補償光学系31が備えられている。
レーザ光源5は、例えば、波長800nmの超短パルスレーザ光L1を出射するようになっている。
前記アライメント調整光学系6は、例えば、光軸に対して垂直な2軸の傾き角を調節できる2枚の反射ミラーおよびビーム位置検出光学系により構成されている、これにより、アライメント調整光学系6は、レーザ光源5から出射された超短パルスレーザ光L1の光束の中心位置を光ファイバ8の入射光軸に一致させるように調節できる。
前記光ファイバ8は、例えば、フォトニッククリスタルファイバあるいはテーパファイバにより構成されている。これにより、光ファイバ8は、一端から入射される波長800nmの超短パルスレーザ光L1を伝播させる間にスペクトル拡散させて、略300〜1600nmの波長帯域を有する白色の超短パルスレーザ光L2を他端から出射させるようになっている。
前記ビーム整形光学系10は、例えば、両凸レンズと平凹レンズとを組み合わせたガリレイ型のビームエキスパンダにより構成されている。これにより、顕微鏡本体に入射される超短パルスレーザ光L2が、後述する対物レンズ15の入射瞳位置において、その瞳径と略同等の光束径を有するように、その光束径およびビームダイバージェンスを補正するようになっている。
前記顕微鏡本体3は、筐体11内に、照明装置2から出射されてきた略平行光からなる白色の超短パルスレーザ光L2を2次元的に走査するスキャナ12と、走査された超短パルスレーザ光L2を集光して中間像を結像させる瞳投影レンズ13と、中間像を結像した超短パルスレーザ光を集光する結像レンズ14と、結像レンズ14から発せられた超短パルスレーザ光L2を集光して標本Aに再結像させる対物レンズ15と、標本Aにおいて発生し、対物レンズ15により集められた多光子蛍光Fを超短パルスレーザ光L2から分岐するダイクロイックミラー16と、分岐された多光子蛍光の波長を選択する波長選択素子(波長選択光学系)50と、集光レンズ17と、多光子蛍光Fを撮像する光検出器18とを備えている。
スキャナ12は、例えば、互いに直交する2本の軸線回りに揺動させられる2枚のガルバノミラー(図示略)を近接配置してなる、いわゆる近接ガルバノミラーにより構成されている。
前記光検出器18は、例えば、光電子増倍管(PMT:Photo Multiplier Tube)であり、複数、例えば2つ設けられている。波長選択光学系50は、例えば、ダイクロイックミラー、グレーティングおよびスリット、あるいはこれらの組合せにより構成されている。例えば、標本を異なる蛍光色素で染め、そして、異なる波長域で蛍光を生じさせている場合には、これらを波長選択素子50で分離して、異なる蛍光色素からの異なる波長の蛍光を独立して検出することができる。
前記画像表示装置4は、光検出器18により検出された標本Aからの多光子蛍光Fに基づいて構成された多光子蛍光画像を表示するようになっている。
このように構成された本実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡1の作用について、以下に説明する。
レーザ光源5から出射された超短パルスレーザ光L1は、アライメント調整光学系6によってその光軸位置および角度を調節された後に、カップリング光学系7により集光されて光ファイバ8に入射させられる。
光ファイバ8に入射された超短パルスレーザ光L1は、フォトニックバンドギャップ材からなる光ファイバ8の非線形効果によってスペクトル拡散させられて、波長300〜1600nmの広い波長帯域を有する白色の超短パルスレーザ光L2として光ファイバ8の他端から出射される。そして、出射された白色の超短パルスレーザ光L2は、コリメート光学系9によって略平行光にされた後にビーム整形光学系10によって、その光束径およびビームダイバージェンスを調節された状態で、顕微鏡本体3に向けて出射される。
そして、顕微鏡本体3に入射された超短パルスレーザ光L2は、スキャナ12により2次元的に走査されつつ、瞳投影レンズ13,結像レンズ14、蛍光の波長域をカットするダイクロイックミラー16および対物レンズ15を介して標本Aの所定の深さ位置に集光され、その位置において多光子励起効果を発生させる。
また、超短パルスレーザ光L2は、アライメント調整光学系6によりその光軸位置および角度を調節され、かつ、ビーム整形光学系10によりその光束径およびビームダイバージェンスを調節されているので、標本Aの所定の深さ位置に高い精度で集光される。したがって、明るくかつ空間分解能の高い多光子蛍光画像を取得することができる。
さらに、超短パルスレーザ光L2は、分散補償光学系31の作動により、系全体の群速度分散が補償される。これにより、パルス幅の太りが補正され、標本Aにおける集光位置において、効率的な多光子励起効果を発生させることができる。
本実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡1によれば、白色の超短パルスレーザ光L2を標本Aに集光するので、標本Aに複数の蛍光物質を含有させておけば、白色の超短パルスレーザ光L2に含まれる複数の波長帯域の超短パルスレーザ光によって、複数の波長の多光子蛍光Fを同時に発生させることができる。
そして、本実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡1によれば、このような効果を単一の波長(800nm)の超短パルスレーザ光L1のみを出射可能な小型のレーザ光源5により達成できる。したがって、大型かつ高価な波長可変のレーザ光源を使用する必要がなく、多光子励起走査型レーザ顕微鏡1の小型化およびコストの低減を図ることができるという効果がある。
なお、本実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡1においては、光ファイバ8から出射された白色の超短パルスレーザ光L2をそのままビーム整形光学系10によりビーム整形して顕微鏡本体3に入射させることとしたが、これに代えて、図2に示されるように、顕微鏡本体3に入射させる超短パルスレーザ光L2の波長域を制限するカラーフィルタあるいはバンドパスフィルタ19を配置してもよい。このように構成することで、不要光を含まない超短パルスレーザ光L2を顕微鏡本体3に入射させることができ、ノイズを低減して分解能の高い多光子蛍光画像を取得することが可能となる。
次に、本発明の第2の実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡20について、図3を参照して以下に説明する。
本実施形態の説明において、上述した第1の実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡1と構成を共通とする箇所に同一符号を付して説明を省略する。
本実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡20は、コリメート光学系9とビーム整形光学系10との間に、コリメート光学系9から出射された白色の超短パルスレーザ光L2の波長域とスペクトルの幅とを調節する波長選択光学系21と、超短パルスレーザ光L2の強度を調節する強度調整光学系22とを備えている。
波長選択光学系21としては、例えば、音響光学素子(AOTF,AOM,AOBS)、電気光学素子(EOM)、フィルタ(カラーフィルタ、バンドパスフィルタ、バイパスフィルタ)、グレーティングとスリット、プリズムとスリット、エタロンとスリットまたは軸上収差の大きい色消しレンズとピンホールが挙げられる。
強度調整光学系22としては、音響光学素子(AOTF,AOM,AOBS)、電気光学素子(EOM)、偏光板、可変NDフィルタ、可変絞り等が挙げられる。
また、ビーム整形光学系10と顕微鏡本体3との間にビーム整形光学系10を通過した超短パルスレーザ光L2の一部を分岐するビームサンプラー23と、分岐された超短パルスレーザ光L2の中心波長およびスペクトル波形を検出する分光器24と、検出された超短パルスレーザ光L2の中心波長およびスペクトル波形の幅、強度に基づいて前記波長選択光学系21および強度調整光学系22を制御する制御装置25とを備えている。
本実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡20によれば、制御装置25において、標本Aに照射する超短パルスレーザ光L3の中心波長、スペクトル幅および強度を設定することにより、波長選択光学系21の作動により白色の超短パルスレーザ光L2から切り出す超短パルスレーザ光L3の中心波長およびスペクトル幅が設定され、また、強度調整光学系22の作動により、切り出された超短パルスレーザ光L3の強度が設定される。
また、本実施形態によれば、ビーム整形光学系10から出射された超短パルスレーザ光L3が分光器により分光され、得られた中心波長およびスペクトル波形が制御装置25に送られる。したがって、制御装置25は、ビーム整形光学系10からの超短パルスレーザ光L3の中心波長およびスペクトル波形の幅、強度を、波長選択光学系21および強度調整光学系22にフィードバックして、所望の中心波長、スペクトル幅および強度を有する超短パルスレーザ光L3を顕微鏡本体3に入力させることができる。
なお、本実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡20においては、コリメート光学系9とビーム整形光学系10との間に波長選択光学系21および強度調整光学系22を設け、光ファイバ8を通過してスペクトル拡散された白色の超短パルスレーザ光L2の中心波長、スペクトル幅および強度を調節することとしたが、これに代えて、図4に示されるように、光ファイバ8への入射前に出力調節光学系26を設け、光ファイバ8へ入射する超短パルスレーザ光L1の尖頭出力を調節することで、超短パルスレーザ光L2の中心波長、スペクトル幅および強度を調整をすることとしてもよい。
これは、光ファイバ8において発生する非線形効果の強さが超短パルスレーザ光の尖頭出力(ピーク強度)に応じて変化することを利用するものである。尖頭出力の調整には超短パルスレーザ光の強度(エネルギ)を減少させる方法と、強度(エネルギ)を変えずにパルス幅を変化させる方法がある。強度(エネルギ)を低下させるには、前述の強度調整光学系と同じもの(例えば、音響光学素子、可変NDフィルタ等)を使用できる。
エネルギを保持してパルス幅を変化させるには、出力調節光学系26として、例えば、プリズム対、グレーティング対または分散素子27からなるパルス幅調整光学系を配置して、超短パルスレーザ光L1のパルス幅を制御することで、超短パルスレーザ光L2の中心波長、スペクトル幅および強度を調整する。分散素子27としては、例えば、図5に示されるように、一対の三角プリズム28と台形プリズム29とを並べて配置し、台形プリズム29を光軸に交差する方向に移動させる方式のものが挙げられる。
次に、本発明の第3の実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡30について、図6を参照して以下に説明する。
本実施形態の説明において、上述した第2の実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡20と構成を共通とする箇所に同一符号を付して説明を省略する。
本実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡30は、波長選択光学系21の後段に、波長選択光学系21によって切り出された所定の中心波長およびスペクトル幅を有する超短パルスレーザ光L3に対する群速度分散を補償する分散補償光学系31を備えている。
分散補償光学系31は、プリズム対またはグレーティング対からなり、プリズム間隔あるいはグレーティング間隔を調節することで、分散補償量を調節することができるようになっている。
本実施形態においては、制御装置25が分散補償光学系31にも接続され、ビーム整形光学系10から出射された超短パルスレーザ光L3の中心波長を元に、予め図示しない記憶装置内に記録された顕微鏡全体の分散を補償するための波長毎のプリズム間隔あるいはグレーティング間隔になるように、分散補償光学系31を調節するようになっている。
このように構成された本実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡30によれば、分散補償光学系31の作動により、波長毎の群速度分散を補償して、標本Aに到達する時点の超短パルスレーザ光L3のパルス波形を最適にすることができるようになっている。また、波長選択光学系21により選択される超短パルスレーザ光L3の波長が変更されても、分光器により検出した超短パルスレーザ光L3の中心波長に基づいて、制御装置が分散補償光学系31を制御するので、超短パルスレーザ光L3のパルス波形が標本Aへの到達時にも最適になっており、標本Aにおいて多光子励起効果を効率的に発生させ、多光子励起画像の分解能を向上することができる。
次に、本発明の第4の実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡40について、図7および図8を参照して以下に説明する。
本実施形態の説明において、上述した第2の実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡20と構成を共通とする箇所に同一符号を付して説明を省略する。
本実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡40は、コリメート光学系9から出射された白色の超短パルスレーザ光L2から所定波長の超短パルスレーザ光L4と残りの超短パルスレーザ光L3とに分離する波長選択光学系21′と、分離された所定波長の超短パルスレーザ光L4の位置を調節する第2のスキャナ(第2のレーザ走査部)41と、該第2のスキャナ41により位置調節された超短パルスレーザ光L4を集光する瞳投影レンズ42と、該瞳投影レンズ42により集光された超短パルスレーザ光L4を、スキャナ12により走査された残りの超短パルスレーザ光L3に合波させるダイクロイックミラー(合波部材)43とを備えている。
本実施形態においては、分光器24は、所定波長の超短パルスレーザ光L4を切り出されることにより、図8に示されるようなスペクトル波形を有する超短パルスレーザ光L3に基づいて、超短パルスレーザ光L4の中心波長を検出するようになっている。また、制御装置25は、検出された超短パルスレーザ光L4の中心波長に基づいて前記波長選択光学系21および超短パルスレーザ光L4の光路に配置された分散補償光学系31を制御するようになっている。図中、符号44はミラーである。
このように構成された本実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡40によれば、光ファイバ8を通過させられることにより、略300〜1600nmの波長帯域を有するようにスペクトル拡散された白色の超短パルスレーザ光L2が、波長選択光学系21′を通過させられることにより、所定波長の超短パルスレーザ光L4と残りの超短パルスレーザ光L3とに分離される。
分離された2つの超短パルスレーザ光L3,L4は、それぞれ分散補償光学系31を通過させられることにより群速度分散が補償され、ビーム整形光学系10を通過させられることにより、それらの光束径およびビームダイバージェンスが調節される。
ビームサンプラー23により分岐された超短パルスレーザ光L3は、図8に示されるように、切り出された超短パルスレーザ光L4部分の欠落したスペクトル波形を有しているので、分光器24において超短パルスレーザ光L4の中心波長を容易に求めることができる。
そして、求められた超短パルスレーザ光L4の中心波長に基づいて、波長選択光学系21の切り出す波長がフィードバック調節される一方、分散補償光学系31による超短パルスレーザ光L4の分散補償量が波長に合わせて調節される。
したがって、超短パルスレーザ光L4は、波長選択光学系21′により、所望の中心波長を有するように精度よく切り出され、分散補償光学系31により波長に合わせた分散補償量で適正に群速度分散を補償され、ビーム整形光学系10により光束径およびビームダイバージェンスを調節された状態で顕微鏡本体3に入射される。
そして、このようにして理想的に調節された超短パルスレーザ光L4は、第2のスキャナ41により2次元的に走査され、あるいは、2次元的な位置を設定される。その後、瞳投影レンズ42、ダイクロイックミラー43、結像レンズ14および対物レンズ15を介して標本Aに照射される。
一方、波長選択光学系21により超短パルスレーザ光L4を切り出された残りの超短パルスレーザ光L3は、分散補償光学系31により波長に合わせた分散補償量で適正に群速度分散を補償され、ビーム整形光学系10により光束径およびビームダイバージェンスを調節された状態で顕微鏡本体3に入射される。そして、顕微鏡本体3内においては、超短パルスレーザ光L3は、スキャナ12により2次元的に走査され、瞳投影レンズ、結像レンズおよび対物レンズを透過して標本Aに照射される。
標本Aに照射される超短パルスレーザ光L3は、超短パルスレーザ光L4の波長が欠落したスペクトル波形を有しているが、複数の波長帯域の超短パルスレーザ光が含まれているので、複数の波長の多光子蛍光Fを同時に発生させることができる。
また、標本Aに照射される超短パルスレーザ光L4は、極めて精度よく限定された波長を有し、かつ、厳密に分散補償されているので、精度の高い多光子励起刺激を標本Aに付与することができる。
このように、本実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡40によれば、単一の光源で多光子励起刺激と、複数波長による多光子蛍光観察を行うことができ、製品コストを低減することができる。また、多光子励起刺激と複数波長による多光子蛍光観察を同時タイミングで行うことができる。したがって、標本Aにおいて瞬時に発生する現象を逃すことなく観察できるという利点がある。
なお、本実施形態においては、第2のスキャナ41により超短パルスレーザ光L4の標本Aへの照射位置を設定することとしたが、これに代えて、第2のスキャナ41により超短パルスレーザ光L4を走査させることで、標本Aの所望の範囲に多光子励起刺激を与え
ることとしてもよい。
また、分散補償光学系31により、超短パルスレーザ光L4のパルス幅を太らせることにより、波長選択光学系21′により選択された中心波長に応じた1光子励起刺激を行うことができる。
本発明の第1の実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡を示す全体構成図である。 図1の多光子励起走査型レーザ顕微鏡の変形例を示す全体構成図である。 本発明の第2の実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡を示す全体構成図である。 図3の多光子励起走査型レーザ顕微鏡の変形例を示す全体構成図である。 図3の多光子励起走査型レーザ顕微鏡の第2の変形例に用いる分散素子の一例を示す模式図である。 本発明の第3の実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡を示す全体構成図である。 本発明の第4の実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡を示す全体構成図である。 図7の多光子励起走査型レーザ顕微鏡の波長選択光学系により所定波長の超短パルスレーザ光を分離した残りの超短パルスレーザ光のスペクトル波形を示す図である。
符号の説明
A 標本
F 多光子蛍光
L1,L2,L3,L4 超短パルスレーザ光
1,20,30,40 多光子励起走査型レーザ顕微鏡
5 レーザ光源
8 光ファイバ
12 スキャナ(レーザ走査部)
15 対物レンズ(対物光学系)
18 光検出器
19,21,21′ 波長選択光学系
24 分光器(波形検出部)
25 制御装置(調節装置:波長調節部:分散補償量調節装置)
26 出力調節光学系(尖頭出力調整光学系)
31 分散補償光学系
41 第2のスキャナ(第2のレーザ走査部)
43 ダイクロイックミラー(合波部材)

Claims (8)

  1. 単一波長の超短パルスレーザ光を出射するレーザ光源と、
    該レーザ光源からの超短パルスレーザ光を入射させ、超短パルスレーザ光のスペクトルを拡散させる光ファイバと、
    該光ファイバから出射されたスペクトル拡散された超短パルスレーザ光を走査するレーザ走査部と、
    該レーザ走査部により走査された超短パルスレーザ光を標本に集光させる対物光学系と、
    標本における超短パルスレーザ光の集光位置から発せられた多光子蛍光を検出する光検出器と、
    前記超短パルスレーザ光に対する群速度分散を補償する分散補償光学系とを備える多光子励起走査型レーザ顕微鏡。
  2. 前記光ファイバから出射されたスペクトル拡散された超短パルスレーザ光の波長を選択する波長選択光学系を備える請求項1に記載の多光子励起走査型レーザ顕微鏡。
  3. 前記波長選択光学系により波長選択された超短パルスレーザ光の中心波長を検出する波形検出部と、
    前記波形検出部により検出された中心波長に基づいて、前記分散補償光学系の分散補償量を調節する調節装置とを備える請求項2に記載の多光子励起走査型レーザ顕微鏡。
  4. 単一波長の超短パルスレーザ光を出射するレーザ光源と、
    該レーザ光源からの超短パルスレーザ光を入射させ、超短パルスレーザ光のスペクトルを拡散させる光ファイバと、
    前記光ファイバから出射されたスペクトル拡散された超短パルスレーザ光から所定波長の超短パルスレーザ光を選択的に分離する波長選択光学系と、
    該波長選択光学系により所定波長の超短パルスレーザ光が分離された残りの超短パルスレーザ光を走査するレーザ走査部と、
    該レーザ走査部により走査された残りの超短パルスレーザ光に、前記所定波長の超短パルスレーザ光を合波させる合波部材と、
    該合波部材により合波された超短パルスレーザ光を標本に集光させる対物光学系と、
    標本における超短パルスレーザ光の集光位置から発せられた多光子蛍光を検出する光検出器とを備える多光子励起走査型レーザ顕微鏡。
  5. 前記波長選択光学系により分離された所定波長の超短パルスレーザ光の中心波長を検出する波形検出部と、
    前記波形検出部により検出された中心波長に基づいて、前記波長選択光学系により分離する超短パルスレーザ光の波長を調節する波長調節装置とを備える請求項4に記載の多光子励起走査型レーザ顕微鏡。
  6. 前記波長選択光学系により分離された所定波長の超短パルスレーザ光に対する群速度分散を補償する分散補償光学系と、
    前記波形検出部により検出された中心波長に基づいて、前記分散補償光学系の分散補償量を調節する分散補償量調節装置とを備える請求項5に記載の多光子励起走査型レーザ顕微鏡。
  7. 前記波長選択光学系により分離された所定波長の超短パルスレーザ光を走査する第2のレーザ走査部を備える請求項4に記載の多孔子励起走査型レーザ顕微鏡。
  8. 前記レーザ光源と、前記光ファイバとの間に、該光ファイバに入射する前記超短パルスレーザ光の尖頭出力を調整する尖頭出力調整光学系を備える請求項1または請求項4に記載の多光子励起走査型レーザ顕微鏡。
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Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008185432A (ja) * 2007-01-30 2008-08-14 Yokogawa Electric Corp 創薬スクリーニング装置
JP2008209429A (ja) * 2007-02-23 2008-09-11 Olympus Corp 顕微鏡用照明装置および蛍光顕微鏡装置
JP2008225095A (ja) * 2007-03-13 2008-09-25 Olympus Corp 光走査型観察装置
JP2008261769A (ja) * 2007-04-13 2008-10-30 Olympus Corp 走査型光学装置および観察方法
JP2008292994A (ja) * 2007-04-23 2008-12-04 Olympus Corp レーザ顕微鏡
WO2009157235A1 (ja) * 2008-06-24 2009-12-30 オリンパス株式会社 多光子励起測定装置
JP2011128288A (ja) * 2009-12-16 2011-06-30 Nikon Corp パルス分割装置、多光子顕微鏡、および、パルス分割素子
JP2011128287A (ja) * 2009-12-16 2011-06-30 Nikon Corp 多光子顕微鏡
JP2012042467A (ja) * 2010-08-13 2012-03-01 Leica Microsystems Cms Gmbh 光学装置の光路において検知信号を分離する方法
JP2012177919A (ja) * 2011-02-24 2012-09-13 Leica Microsystems Cms Gmbh スーパーコンティニュームレーザパルスの様々なスペクトル色のパルス合成器
JP2013054175A (ja) * 2011-09-02 2013-03-21 Olympus Corp 非線形光学顕微鏡
JP2014206759A (ja) * 2009-10-16 2014-10-30 オリンパス株式会社 多光子励起型レーザ走査型顕微鏡
JP2015520366A (ja) * 2012-05-18 2015-07-16 ライカ ミクロジュステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー 励起状態の寿命に関してサンプルを検査する方法及び装置
US10890744B2 (en) 2018-05-30 2021-01-12 Olympus Corporation Observation apparatus and objective
JP2021047446A (ja) * 2015-06-25 2021-03-25 エヌケイティー フォトニクス アクティーゼルスカブNkt Photonics A/S 送達ファイバ・アセンブリおよび広帯域源

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4759425B2 (ja) * 2006-03-28 2011-08-31 オリンパス株式会社 多光子励起型観察装置
US20080001320A1 (en) 2006-06-28 2008-01-03 Knox Wayne H Optical Material and Method for Modifying the Refractive Index
JP4855237B2 (ja) * 2006-12-20 2012-01-18 オリンパス株式会社 顕微鏡画像処理装置および顕微鏡画像処理プログラム
EP1959292A3 (en) * 2007-02-13 2009-06-17 Olympus Corporation Laser microscope
DE102007028337B4 (de) 2007-06-15 2019-08-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Strahlvereiniger und eine Lichtquelle mit einem derartigen Strahlvereiniger
CN101889192B (zh) * 2007-10-25 2012-07-04 纽约州立大学研究基金会 光子光谱仪
JP5185695B2 (ja) * 2008-05-23 2013-04-17 オリンパス株式会社 レーザ顕微鏡装置及び標本画像取得方法
EP2483665B1 (en) * 2009-09-28 2017-04-05 Purdue Research Foundation Multiphoton luminescence imaging of protein crystals
DE102009048710B4 (de) * 2009-10-08 2020-04-02 Leica Microsystems Cms Gmbh Lasersystem für ein Mikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Lasersystems für ein Mikroskop
WO2011056658A1 (en) * 2009-10-27 2011-05-12 Duke University Multi-photon microscopy via air interface objective lens
KR101200536B1 (ko) * 2010-05-26 2012-11-13 한국과학기술연구원 바이오 물질을 검출하는 빔 스캐닝 시스템
ITRM20100286A1 (it) * 2010-05-28 2011-11-29 Consiglio Nazionale Ricerche Microscopio confocale spettrale in riflettanza a larga banda.
DE102010037190B4 (de) 2010-08-27 2015-11-26 Leica Microsystems Cms Gmbh Vorrichtung zum zeitlichen Verschieben von Weißlichtlaserpulsen
US9494781B2 (en) * 2011-01-19 2016-11-15 California Institute Of Technology Plane-projection multi-photon microscopy
JP5616824B2 (ja) 2011-03-10 2014-10-29 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
JP6501451B2 (ja) * 2014-03-31 2019-04-17 キヤノン株式会社 光源装置およびそれを用いた情報取得装置
US9653867B2 (en) 2014-04-04 2017-05-16 Coherent, Inc. Multi-wavelength source of femtosecond infrared pulses
CN106444245A (zh) * 2016-08-26 2017-02-22 湖北久之洋红外系统股份有限公司 一种无散斑三基色激光光源
US10394008B2 (en) * 2016-10-19 2019-08-27 Cornell University Hyperspectral multiphoton microscope for biomedical applications

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03294815A (ja) * 1990-04-13 1991-12-26 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 極短光パルス供給装置
JPH10206742A (ja) * 1996-11-21 1998-08-07 Olympus Optical Co Ltd レーザ走査顕微鏡
JPH11218490A (ja) * 1996-06-04 1999-08-10 Carl Zeiss Jena Gmbh 短パルスレーザビームを顕微鏡ビーム行程へ結合するための装置
JP2001060734A (ja) * 1999-08-20 2001-03-06 Japan Science & Technology Corp 超短パルス広帯域光波発生方法及びその装置
JP2002082286A (ja) * 2000-06-17 2002-03-22 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh 照明装置
JP2002098896A (ja) * 2000-06-17 2002-04-05 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh 対象物の照明方法および装置
JP2003294627A (ja) * 2002-03-29 2003-10-15 Shimadzu Corp 多光子励起を用いた蛍光試料観測方法及び装置
JP2004177662A (ja) * 2002-11-27 2004-06-24 Inst Of Physical & Chemical Res 顕微鏡の照明装置及びその照明装置を用いた画像処理装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6485413B1 (en) * 1991-04-29 2002-11-26 The General Hospital Corporation Methods and apparatus for forward-directed optical scanning instruments
DE19827140C2 (de) * 1998-06-18 2002-12-12 Zeiss Carl Jena Gmbh Laserscanmikroskop mit AOTF
DE19827139C2 (de) * 1998-06-18 2002-01-31 Zeiss Carl Jena Gmbh Mikroskop mit einem über eine Lichtleitfaser eingekoppelten Kurzpulslaser
US6898367B2 (en) 2000-06-17 2005-05-24 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Method and instrument for microscopy
JP4845279B2 (ja) 2001-02-09 2011-12-28 オリンパス株式会社 生体機能測定方法
DE10120425C2 (de) 2001-04-26 2003-12-18 Leica Microsystems Scanmikroskop
DE10259443B4 (de) * 2002-12-19 2015-01-22 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Anordnung zur optischen Untersuchung und/oder Bearbeitung einer Probe
US6914720B2 (en) * 2003-03-27 2005-07-05 Riken Time resolved fluorescence microscope
JP4309787B2 (ja) * 2004-03-12 2009-08-05 オリンパス株式会社 多光子励起型測定装置
JP4276971B2 (ja) * 2004-03-12 2009-06-10 オリンパス株式会社 多光子励起型測定装置
DE602005007403D1 (de) * 2004-03-25 2008-07-24 Olympus Corp Scannendes konfokales Mikroskop
JP4729269B2 (ja) * 2004-06-01 2011-07-20 オリンパス株式会社 レーザ走査型顕微鏡
US7924892B2 (en) * 2004-08-25 2011-04-12 Kla-Tencor Technologies Corporation Fiber amplifier based light source for semiconductor inspection

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03294815A (ja) * 1990-04-13 1991-12-26 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 極短光パルス供給装置
JPH11218490A (ja) * 1996-06-04 1999-08-10 Carl Zeiss Jena Gmbh 短パルスレーザビームを顕微鏡ビーム行程へ結合するための装置
JPH10206742A (ja) * 1996-11-21 1998-08-07 Olympus Optical Co Ltd レーザ走査顕微鏡
JP2001060734A (ja) * 1999-08-20 2001-03-06 Japan Science & Technology Corp 超短パルス広帯域光波発生方法及びその装置
JP2002082286A (ja) * 2000-06-17 2002-03-22 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh 照明装置
JP2002098896A (ja) * 2000-06-17 2002-04-05 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh 対象物の照明方法および装置
JP2003294627A (ja) * 2002-03-29 2003-10-15 Shimadzu Corp 多光子励起を用いた蛍光試料観測方法及び装置
JP2004177662A (ja) * 2002-11-27 2004-06-24 Inst Of Physical & Chemical Res 顕微鏡の照明装置及びその照明装置を用いた画像処理装置

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008185432A (ja) * 2007-01-30 2008-08-14 Yokogawa Electric Corp 創薬スクリーニング装置
JP2008209429A (ja) * 2007-02-23 2008-09-11 Olympus Corp 顕微鏡用照明装置および蛍光顕微鏡装置
JP2008225095A (ja) * 2007-03-13 2008-09-25 Olympus Corp 光走査型観察装置
JP2008261769A (ja) * 2007-04-13 2008-10-30 Olympus Corp 走査型光学装置および観察方法
JP2008292994A (ja) * 2007-04-23 2008-12-04 Olympus Corp レーザ顕微鏡
WO2009157235A1 (ja) * 2008-06-24 2009-12-30 オリンパス株式会社 多光子励起測定装置
JP2010008054A (ja) * 2008-06-24 2010-01-14 Olympus Corp 多光子励起測定装置
US8912508B2 (en) 2008-06-24 2014-12-16 Olympus Corporation Multiphoton-excited measuring device
JP2014206759A (ja) * 2009-10-16 2014-10-30 オリンパス株式会社 多光子励起型レーザ走査型顕微鏡
JP2011128288A (ja) * 2009-12-16 2011-06-30 Nikon Corp パルス分割装置、多光子顕微鏡、および、パルス分割素子
JP2011128287A (ja) * 2009-12-16 2011-06-30 Nikon Corp 多光子顕微鏡
US9651765B2 (en) 2010-08-13 2017-05-16 Leica Microsystems Cms Gmbh Method for separating detection signals in the beam path of an optical device
JP2012042467A (ja) * 2010-08-13 2012-03-01 Leica Microsystems Cms Gmbh 光学装置の光路において検知信号を分離する方法
JP2012177919A (ja) * 2011-02-24 2012-09-13 Leica Microsystems Cms Gmbh スーパーコンティニュームレーザパルスの様々なスペクトル色のパルス合成器
JP2013054175A (ja) * 2011-09-02 2013-03-21 Olympus Corp 非線形光学顕微鏡
JP2015520366A (ja) * 2012-05-18 2015-07-16 ライカ ミクロジュステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー 励起状態の寿命に関してサンプルを検査する方法及び装置
JP2021047446A (ja) * 2015-06-25 2021-03-25 エヌケイティー フォトニクス アクティーゼルスカブNkt Photonics A/S 送達ファイバ・アセンブリおよび広帯域源
JP7036891B2 (ja) 2015-06-25 2022-03-15 エヌケイティー フォトニクス アクティーゼルスカブ 送達ファイバ・アセンブリおよび広帯域源
US11703635B2 (en) 2015-06-25 2023-07-18 Nkt Photonics A/S Delivery fiber assembly and a broad band source
US10890744B2 (en) 2018-05-30 2021-01-12 Olympus Corporation Observation apparatus and objective

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