JP2006330685A - 多光子励起走査型レーザ顕微鏡 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 単一波長の超短パルスレーザ光L1を出射するレーザ光源5と、該レーザ光源5からの超短パルスレーザ光L1を入射させ、超短パルスレーザ光L1のスペクトルを拡散させる光ファイバ8と、該光ファイバ8から出射されたスペクトル拡散された超短パルスレーザ光L2を走査するレーザ走査部12と、走査された超短パルスレーザ光L2を標本Aに集光させる対物光学系15と、標本Aにおける超短パルスレーザ光L2の集光位置から発せられた多光子蛍光Fを検出する光検出器18と、超短パルスレーザ光に対する群速度分散を補償する分散補償光学系31とを備える多光子励起走査型レーザ顕微鏡1を提供する。
【選択図】 図1
Description
この多光子励起型測定装置において、波長の異なる複数の超短パルスレーザ光を照射して、異なる多光子蛍光を観察する場合には、レーザ光源として、複数の波長の超短パルスレーザ光を出射可能なものを採用、または、単一波長の超短パルスレーザ光源を複数台使用する必要があった。
また、特許文献2は、共焦点走査型蛍光顕微鏡に関する技術が開示されているのみであり、これを多光子励起型蛍光顕微鏡に適用することについては何ら開示されていない。
本発明は、単一波長の超短パルスレーザ光を出射するレーザ光源と、該レーザ光源からの超短パルスレーザ光を入射させ、超短パルスレーザ光のスペクトルを拡散させる光ファイバと、該光ファイバから出射されたスペクトル拡散された超短パルスレーザ光を走査するレーザ走査部と、該レーザ走査部により走査された超短パルスレーザ光を標本に集光させる対物光学系と、標本における超短パルスレーザ光の集光位置から発せられた多光子蛍光を検出する光検出器と、群速度分散を補償する分散補償光学系とを備える多光子励起走査型レーザ顕微鏡を提供する。
このように構成することで、波長選択光学系の作動により、所定の波長の超短パルスレーザ光を標本に照射することができる。特に波長選択光学系による波長選択を可変にしておくことにより、標本内の蛍光物質に合わせて、適切な波長の超短パルスレーザ光を標本に入射させることが可能となる。
このように構成することで、波長選択光学系により波長選択された結果得られた超短パルスレーザ光の中心波長に応じて、調節装置の作動により、分散補償光学系の分散補償量が調節され、波長毎に異なる顕微鏡全体の分散によるパルス幅の太りが補正され、標本において効率的に多光子励起効果を発生させることができる。
このようにすることで、波形検出部により検出された中心波長に基づいて、波長調節装置が分離する超短パルスレーザ光の波長を調節するので、精度よく選択された所定波長の超短パルスレーザ光を用いて高い精度の多光子励起刺激を行うことができる。
このようにすることで、波長選択光学系により分離された所定波長の超短パルスレーザ光に対する顕微鏡全体の群速度分散が、波形検出部により検出された中心波長に基づいて分散補償光学系により補償される。これにより、波長毎に異なる顕微鏡全体の分散によるパルス幅の太りが補正され、精度の高い多光子励起刺激を行うことができる。
また、前記レーザ光源と、前記光ファイバとの間に、該光ファイバに入射する前記超短パルスレーザ光の尖頭出力を調整する尖頭出力調整光学系を備えることとしてもよい。
本実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡1は、図1に示されるように、照明装置2と、顕微鏡本体3と、画像表示装置4とを備えている。
レーザ光源5は、例えば、波長800nmの超短パルスレーザ光L1を出射するようになっている。
前記光検出器18は、例えば、光電子増倍管(PMT:Photo Multiplier Tube)であり、複数、例えば2つ設けられている。波長選択光学系50は、例えば、ダイクロイックミラー、グレーティングおよびスリット、あるいはこれらの組合せにより構成されている。例えば、標本を異なる蛍光色素で染め、そして、異なる波長域で蛍光を生じさせている場合には、これらを波長選択素子50で分離して、異なる蛍光色素からの異なる波長の蛍光を独立して検出することができる。
前記画像表示装置4は、光検出器18により検出された標本Aからの多光子蛍光Fに基づいて構成された多光子蛍光画像を表示するようになっている。
レーザ光源5から出射された超短パルスレーザ光L1は、アライメント調整光学系6によってその光軸位置および角度を調節された後に、カップリング光学系7により集光されて光ファイバ8に入射させられる。
また、超短パルスレーザ光L2は、アライメント調整光学系6によりその光軸位置および角度を調節され、かつ、ビーム整形光学系10によりその光束径およびビームダイバージェンスを調節されているので、標本Aの所定の深さ位置に高い精度で集光される。したがって、明るくかつ空間分解能の高い多光子蛍光画像を取得することができる。
そして、本実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡1によれば、このような効果を単一の波長(800nm)の超短パルスレーザ光L1のみを出射可能な小型のレーザ光源5により達成できる。したがって、大型かつ高価な波長可変のレーザ光源を使用する必要がなく、多光子励起走査型レーザ顕微鏡1の小型化およびコストの低減を図ることができるという効果がある。
本実施形態の説明において、上述した第1の実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡1と構成を共通とする箇所に同一符号を付して説明を省略する。
強度調整光学系22としては、音響光学素子(AOTF,AOM,AOBS)、電気光学素子(EOM)、偏光板、可変NDフィルタ、可変絞り等が挙げられる。
本実施形態の説明において、上述した第2の実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡20と構成を共通とする箇所に同一符号を付して説明を省略する。
分散補償光学系31は、プリズム対またはグレーティング対からなり、プリズム間隔あるいはグレーティング間隔を調節することで、分散補償量を調節することができるようになっている。
本実施形態の説明において、上述した第2の実施形態に係る多光子励起走査型レーザ顕微鏡20と構成を共通とする箇所に同一符号を付して説明を省略する。
ビームサンプラー23により分岐された超短パルスレーザ光L3は、図8に示されるように、切り出された超短パルスレーザ光L4部分の欠落したスペクトル波形を有しているので、分光器24において超短パルスレーザ光L4の中心波長を容易に求めることができる。
したがって、超短パルスレーザ光L4は、波長選択光学系21′により、所望の中心波長を有するように精度よく切り出され、分散補償光学系31により波長に合わせた分散補償量で適正に群速度分散を補償され、ビーム整形光学系10により光束径およびビームダイバージェンスを調節された状態で顕微鏡本体3に入射される。
そして、このようにして理想的に調節された超短パルスレーザ光L4は、第2のスキャナ41により2次元的に走査され、あるいは、2次元的な位置を設定される。その後、瞳投影レンズ42、ダイクロイックミラー43、結像レンズ14および対物レンズ15を介して標本Aに照射される。
また、標本Aに照射される超短パルスレーザ光L4は、極めて精度よく限定された波長を有し、かつ、厳密に分散補償されているので、精度の高い多光子励起刺激を標本Aに付与することができる。
ることとしてもよい。
F 多光子蛍光
L1,L2,L3,L4 超短パルスレーザ光
1,20,30,40 多光子励起走査型レーザ顕微鏡
5 レーザ光源
8 光ファイバ
12 スキャナ(レーザ走査部)
15 対物レンズ(対物光学系)
18 光検出器
19,21,21′ 波長選択光学系
24 分光器(波形検出部)
25 制御装置(調節装置:波長調節部:分散補償量調節装置)
26 出力調節光学系(尖頭出力調整光学系)
31 分散補償光学系
41 第2のスキャナ(第2のレーザ走査部)
43 ダイクロイックミラー(合波部材)
Claims (8)
- 単一波長の超短パルスレーザ光を出射するレーザ光源と、
該レーザ光源からの超短パルスレーザ光を入射させ、超短パルスレーザ光のスペクトルを拡散させる光ファイバと、
該光ファイバから出射されたスペクトル拡散された超短パルスレーザ光を走査するレーザ走査部と、
該レーザ走査部により走査された超短パルスレーザ光を標本に集光させる対物光学系と、
標本における超短パルスレーザ光の集光位置から発せられた多光子蛍光を検出する光検出器と、
前記超短パルスレーザ光に対する群速度分散を補償する分散補償光学系とを備える多光子励起走査型レーザ顕微鏡。 - 前記光ファイバから出射されたスペクトル拡散された超短パルスレーザ光の波長を選択する波長選択光学系を備える請求項1に記載の多光子励起走査型レーザ顕微鏡。
- 前記波長選択光学系により波長選択された超短パルスレーザ光の中心波長を検出する波形検出部と、
前記波形検出部により検出された中心波長に基づいて、前記分散補償光学系の分散補償量を調節する調節装置とを備える請求項2に記載の多光子励起走査型レーザ顕微鏡。 - 単一波長の超短パルスレーザ光を出射するレーザ光源と、
該レーザ光源からの超短パルスレーザ光を入射させ、超短パルスレーザ光のスペクトルを拡散させる光ファイバと、
前記光ファイバから出射されたスペクトル拡散された超短パルスレーザ光から所定波長の超短パルスレーザ光を選択的に分離する波長選択光学系と、
該波長選択光学系により所定波長の超短パルスレーザ光が分離された残りの超短パルスレーザ光を走査するレーザ走査部と、
該レーザ走査部により走査された残りの超短パルスレーザ光に、前記所定波長の超短パルスレーザ光を合波させる合波部材と、
該合波部材により合波された超短パルスレーザ光を標本に集光させる対物光学系と、
標本における超短パルスレーザ光の集光位置から発せられた多光子蛍光を検出する光検出器とを備える多光子励起走査型レーザ顕微鏡。 - 前記波長選択光学系により分離された所定波長の超短パルスレーザ光の中心波長を検出する波形検出部と、
前記波形検出部により検出された中心波長に基づいて、前記波長選択光学系により分離する超短パルスレーザ光の波長を調節する波長調節装置とを備える請求項4に記載の多光子励起走査型レーザ顕微鏡。 - 前記波長選択光学系により分離された所定波長の超短パルスレーザ光に対する群速度分散を補償する分散補償光学系と、
前記波形検出部により検出された中心波長に基づいて、前記分散補償光学系の分散補償量を調節する分散補償量調節装置とを備える請求項5に記載の多光子励起走査型レーザ顕微鏡。 - 前記波長選択光学系により分離された所定波長の超短パルスレーザ光を走査する第2のレーザ走査部を備える請求項4に記載の多孔子励起走査型レーザ顕微鏡。
- 前記レーザ光源と、前記光ファイバとの間に、該光ファイバに入射する前記超短パルスレーザ光の尖頭出力を調整する尖頭出力調整光学系を備える請求項1または請求項4に記載の多光子励起走査型レーザ顕微鏡。
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