JP2006164835A - Micro electron source device and flat display device - Google Patents

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Takao Yagi
貴郎 八木
Motohiro Toyoda
基博 豊田
Keiichi Akamatsu
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a micro electron source device having a good electron emission characteristic and causing no bright spot on a display and to provide a flat display device. <P>SOLUTION: In this micro electron source device, a cathode electrode 11, an insulation layer 13, and a gate electrode 14 are laminated sequentially on a substrate 10. The micro electron source device is provided with an aperture part 15, which is formed through the gate electrode 14 and an insulation layer 13, and a micro electron source layer 12 formed in the bottom part of the aperture part 15 and provided with a conductive matrix 12b and a carbon nanotube 12a embedded in the matrix 12b while protruding its one end. The aperture part 15 is a substantially column shaped hole, and the micro electron source layer 12 is a doughnut-shaped layer concentric with the circular bottom part of the aperture part 15. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、微小電子源装置及該微小電源装置を用いたFED等の平面型表示装置に関するものである。   The present invention relates to a micro electron source device and a flat display device such as an FED using the micro power source device.

テレビジョン受像機や情報端末機器等の表示措置は、薄型化、軽量化、大画面化、高精細表示化の要求に答えるため、重量や厚みに限界のあるCRTから平面型表示装置(フラットパネル表示装置)への移行する開発が盛んに行われている。情報端末機器のフラットパネル表示装置としては液晶パネルが広く普及しているが、高輝度化、大型化が困難なために家庭用テレビジョン受像器は開発段階に留まっている。   Display measures such as television receivers and information terminal equipment respond to the demands for thinner, lighter, larger screens, and higher-definition displays, from CRTs that are limited in weight and thickness to flat display devices (flat panels). Development to shift to display devices) has been actively conducted. A liquid crystal panel is widely used as a flat panel display device for information terminal equipment. However, since it is difficult to increase brightness and size, home television receivers are still in the development stage.

一方、フィールドエミッションディスプレー(以下、FEDと略す)は、少ない電力消耗で高解像度・高輝度のカラー表示が行えるというメリットから有力な大型のフラットパネル表示装置用賭して開発が進んでいる。FEDは電子放出を行うチップ型カソードとカソードから放出された電子が衝突することにより蛍光体を励起発光させて所望のパターン、文字、記号を表示する装置である。   On the other hand, a field emission display (hereinafter abbreviated as FED) is being developed for betting on a large-sized flat panel display device because of its merit that high-resolution and high-luminance color display can be performed with low power consumption. The FED is a device that displays a desired pattern, characters, and symbols by exciting a phosphor to emit light when a chip-type cathode that emits electrons collides with electrons emitted from the cathode.

公知のFEDの構成は複数本の行配線につながったカソードと複数本の列配線につながったゲートからなるエミッタアレイパネルと蛍光体を塗布されたアノードパネルを絶縁性のスペーサを挟んで積層するものである(例えば、特許文献1,2参照。)。   The known FED has a structure in which an emitter array panel composed of a cathode connected to a plurality of row wirings and a gate connected to a plurality of column wirings and an anode panel coated with a phosphor are stacked with an insulating spacer interposed therebetween. (For example, see Patent Documents 1 and 2.)

また、エミッタアレイパネルはガラス等の誘電体板もしくはSi板上にCVD法、エッチング法、真空蒸着法もしくはスパッタ法及び光リソグラフィー法により所望の画素数に応じたマトリックスをなす行配線・列配線と1画素当り複数のカソードチップ及びカソードチップと誘電体で絶縁されたカソードチップに対応した穴を開口したゲート電極を形成して作成する。   The emitter array panel is a row wiring / column wiring that forms a matrix according to a desired number of pixels by a CVD method, an etching method, a vacuum deposition method, a sputtering method, or a photolithographic method on a dielectric plate such as glass or a Si plate. A plurality of cathode chips per pixel and a gate electrode having holes corresponding to cathode chips insulated from the cathode chips by a dielectric are formed and formed.

アノードパネルはガラス等の誘電体板にITO等の透明電極を堆積させた上に各1画素に対応した赤(R)、緑(G)、青(B)の3色の蛍光体についてそれぞれ遮光格子を介して縞状に塗布して作成する。   The anode panel is made by depositing a transparent electrode such as ITO on a dielectric plate such as glass, and shielding red (R), green (G), and blue (B) phosphors corresponding to each pixel. It is created by applying stripes through a lattice.

従来の電界放出型ディスプレイでは、電子放射エミッタを2次元的に配列し、これに引き出し電極とカソード電圧用配線をマトリックス状に配置し、カソード先端から強電界によって放射されてきた電子により蛍光体を光らせる手法が用いられている。   In a conventional field emission display, electron emission emitters are arranged two-dimensionally, lead electrodes and cathode voltage wiring are arranged in a matrix, and phosphors are emitted by electrons emitted from the cathode tip by a strong electric field. A method of shining is used.

従来のWを始めとする金属製のエミッタが用いられてきたが、近年になってエミッタ材料の仕事関数を下げることにより低しきい値でのエミッションを可能にする材料としてDLC(ダイヤモンド状カーボン)を始めとするカーボン材料が注目されている。   Conventional metal emitters such as W have been used. Recently, DLC (diamond-like carbon) is a material that enables emission at a low threshold by lowering the work function of the emitter material. And other carbon materials are attracting attention.

また、従来の様にエミッタ構造を作ることなく平面から電子放出させる試みが開示されおり(例えば、非特許文献1参照。)、特にカーボンナノチューブと呼ばれる微細構造を有する炭素系構造体は、その良好な電子放出特性を有することから注目を集めている(例えば、非特許文献2参照。)。さらに、これらのカーボンナノチューブの特徴を生かして導電性材料と混合して電子放出源(微小電子源装置)を形成する方法が提案されている(例えば、特許文献3参照。)。カーボンナノチューブを使用することにより、低い閾値電圧かつ低いドライブ電圧で、電子放出の安定性のある微小電子源装置を実現することができる。   Further, an attempt to emit electrons from a flat surface without forming an emitter structure as in the prior art has been disclosed (see, for example, Non-Patent Document 1). Particularly, a carbon-based structure having a fine structure called a carbon nanotube is excellent. It has attracted attention because of its excellent electron emission characteristics (see, for example, Non-Patent Document 2). Furthermore, a method has been proposed in which an electron emission source (micro electron source device) is formed by mixing with a conductive material taking advantage of the characteristics of these carbon nanotubes (see, for example, Patent Document 3). By using carbon nanotubes, it is possible to realize a micro-electron source device having a stable electron emission with a low threshold voltage and a low drive voltage.

米国特許第4908539号明細書U.S. Pat. No. 4,908,539 特開昭61-221783号公報JP-A-61-217883 特開2003-229044号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2003-229044 第60回応用物理学会学術講演会 講演予稿集p.631(講演番号2P-H-6)Proceedings of the 60th Annual Meeting of the Japan Society of Applied Physics p.631 (lecture number 2P-H-6) 第60回応用物理学会学術講演会 講演予稿集p.632(講演番号2P-H-11)Proceedings of the 60th Annual Meeting of the Japan Society of Applied Physics p.632 (Lecture No. 2P-H-11)

しかしながら、平面型表示装置に上記微小電子源装置を用いると、ディスプレイ上に輝点が現れる不具合が発生した。輝点は黒点よりも人間の認識感度が高いためにひとつでもあると、それはディスプレイとして致命的な欠陥となる。   However, when the above-mentioned micro electron source device is used in a flat display device, a problem that a bright spot appears on the display occurs. If there is even one bright spot because human recognition sensitivity is higher than black spot, it becomes a fatal defect as a display.

本発明は、以上の従来技術における問題に鑑みてなされたものであり、ディスプレイ上に輝点を発生させない電子放出特性の良好な微小電子源装置及び平面型表示装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems in the prior art, and an object of the present invention is to provide a micro-electron source device and a flat display device with good electron emission characteristics that do not generate bright spots on a display. .

発明者らは、輝点の発生原因を調査したところ、対極であるアノード電極に電圧を印加すると、微小電子源装置において電子抽出電極であるゲート電極によりカットオフできないアノード電圧の電界成分が主にゲート孔(開口部)底部のカソード電極にかかり、このときにカソード電極上に配置された微小電子源層の閾値電圧の低い電子放出源、例えば、高さの高いカーボンナノチューブがストレー源となり電子を放出してディスプレイ上で輝点となって現れることを把握した。そこで、前記ゲート電極により電圧をカットオフできない電界成分が開口部底部のカソード電極の中心領域にかかっている点に着目し、鋭意検討を行い、本発明を成すに至った。   The inventors investigated the cause of the occurrence of bright spots. When a voltage was applied to the anode electrode that is the counter electrode, the electric field component of the anode voltage that could not be cut off by the gate electrode that was the electron extraction electrode in the micro electron source device was mainly An electron emission source having a low threshold voltage of a micro electron source layer disposed on the cathode electrode at the bottom of the gate hole (opening), for example, a carbon nanotube having a high height serves as a stray source to emit electrons. I figured out that it appeared as a bright spot on the display. In view of this, the present invention has been accomplished by paying careful attention to the fact that an electric field component whose voltage cannot be cut off by the gate electrode is applied to the central region of the cathode electrode at the bottom of the opening.

すなわち、前記課題を解決するために提供する本発明は、基板上にカソード電極、絶縁層、ゲート電極が順に積層されてなり、前記ゲート電極及び絶縁層を貫通して形成された開口部と、該開口部の底部に形成され導電性のマトリクスと一端が突出した状態で前記マトリクスに埋まったカーボンナノチューブとからなる微小電子源層とを備える微小電子源装置において、前記開口部は略円柱形状の孔であり、前記微小電子源層は前記開口部の円形底部と同心のドーナツ形状の層であることを特徴とする微小電子源装置である(請求項1)。   That is, the present invention provided to solve the above-described problem is that a cathode electrode, an insulating layer, and a gate electrode are sequentially stacked on a substrate, and an opening formed through the gate electrode and the insulating layer; In the micro-electron source device comprising a conductive matrix formed at the bottom of the opening and a micro-electron source layer composed of a carbon nanotube embedded in the matrix with one end protruding, the opening has a substantially cylindrical shape. The micro-electron source device is a micro-electron source device, wherein the micro-electron source layer is a donut-shaped layer concentric with the circular bottom of the opening.

ここで、前記微小電子源層の内径領域は、平面型表示装置としてアノード電圧を印加した場合に生じる電界成分についてゲート電極ではカットオフできない前記微小電子源層上の領域であることが好ましい。
また、前記開口部の深さと底部直径との比が1:6以上であることが好ましい。
Here, the inner diameter region of the minute electron source layer is preferably a region on the minute electron source layer which cannot be cut off by the gate electrode with respect to an electric field component generated when an anode voltage is applied as a flat display device.
The ratio of the depth of the opening to the bottom diameter is preferably 1: 6 or more.

前記課題を解決するために提供する本発明は、基板上にカソード電極、絶縁層、ゲート電極が順に積層されてなり、前記ゲート電極及び絶縁層を貫通して形成された開口部と、該開口部の底部に形成され導電性のマトリクスと一端が突出した状態で前記マトリクスに埋まったカーボンナノチューブとからなる微小電子源層とを備える微小電子源装置において、前記開口部は断面形状が略矩形の溝であり、前記微小電子源層は前記溝の幅方向の中央に中空のスリットが入った前記溝の長手方向に延びる帯形状の層であることを特徴とする微小電子源装置である(請求項4)。   In order to solve the above problems, the present invention provides a substrate in which a cathode electrode, an insulating layer, and a gate electrode are sequentially stacked, and an opening formed through the gate electrode and the insulating layer, and the opening In the micro electron source device comprising a conductive matrix formed at the bottom of the part and a micro electron source layer made of carbon nanotubes embedded in the matrix with one end protruding, the opening has a substantially rectangular cross-sectional shape It is a groove, and the micro electron source layer is a band-shaped layer extending in the longitudinal direction of the groove having a hollow slit in the center in the width direction of the groove. Item 4).

ここで、前記微小電子源層のスリット領域は、平面型表示装置としてアノード電圧を印加した場合に生じる電界成分についてゲート電極ではカットオフできない前記微小電子源層上の領域であることが好ましい。
また、前記開口部の深さと溝幅との比が1:6以上であることが好ましい。
Here, the slit region of the micro electron source layer is preferably a region on the micro electron source layer that cannot be cut off by the gate electrode with respect to an electric field component generated when an anode voltage is applied as a flat display device.
The ratio of the depth of the opening to the groove width is preferably 1: 6 or more.

前記課題を解決するために提供する本発明は、請求項1〜6のいずれか一に記載の微小電子源装置が平面上に複数形成されたカソードパネルと、前記微小電子源装置に対向する蛍光体層とアノード電極を有するアノードパネルとを備えることを特徴とする平面型表示装置である(請求項7)。   The present invention provided to solve the above problems includes a cathode panel in which a plurality of the micro electron source devices according to any one of claims 1 to 6 are formed on a plane, and a fluorescence facing the micro electron source device. A flat display device comprising a body layer and an anode panel having an anode electrode.

本発明の微小電子源装置によれば、微小電子源層をドーナツ形状あるいはスリットのある帯形状とすることにより中央の領域を予め中空として電子を放出しない構成としたので、ストレー源を低減することができる。
また、微小電子源層を形成した後に開口部底部のカソード電極上の真中だけを選択的に電子放出源であるカーボンナノチューブを除去すること(CNT除去プロセス)が考えられるが、本発明では予め従来の微小電子源装置の製造工程の中でストレー源となると予期される箇所に微小電子源層を配置しない工夫をしているため、製造プロセスとして工程数を増やすことなく輝点発生を抑えることができる。さらに、CNT除去プロセスにおいて選択的にカーボンナノチューブを除去することは困難であり微小電子源装置としての信頼性が低下する可能性があるが、本発明によればこの信頼性を低下させることなく輝点抑制が可能である。
また、本発明の平面型表示装置によれば、微小電源層をドーナツ形状あるいはスリットのある帯形状とすることにより中央の領域を予め中空として電子を放出しない構成としたので、ディスプレイ上の輝点発生を抑制することができる。
According to the micro-electron source device of the present invention, the micro-electron source layer is formed in a donut shape or a band shape with slits, so that the central region is made hollow in advance so as not to emit electrons, so that the stray source can be reduced. Can do.
In addition, it is conceivable to selectively remove the carbon nanotube as the electron emission source only in the middle of the cathode electrode at the bottom of the opening after forming the minute electron source layer (CNT removal process). As a manufacturing process, the generation of bright spots can be suppressed without increasing the number of processes. it can. Furthermore, it is difficult to selectively remove carbon nanotubes in the CNT removal process, and the reliability as a micro electron source device may be reduced. According to the present invention, however, the brightness is reduced without reducing the reliability. Point suppression is possible.
Further, according to the flat display device of the present invention, the minute power source layer is formed in a donut shape or a strip shape with a slit so that the central region is previously hollow so as not to emit electrons. Occurrence can be suppressed.

以下に、本発明に係る微小電子源装置の第1の実施の形態について説明する。
図1は、本発明の微小電子源装置の第1の実施の形態における構成を示す概略図である。
本発明の微小電子源装置は、平面型表示装置においてカソードパネル1のベースとなる絶縁性の基板(例えば、ガラス基板)10と、この基板10上に積層状態で順に形成されたカソード電極11、絶縁層13及びゲート電極14と、ゲート電極14及び絶縁層13に形成された開口部(ゲートホール)15と、この開口部15の底部に形成されたドーナツ形状の微小電子源層12とによって構成されている。
なお、図中微小電子源層12はドーナツ形状のものが1つのみ示しているが、表示装置に供する場合には1サブピクセルとして1つのカソード電極11のライン上に複数個の微小電子源層12が並んで配置される。
The first embodiment of the micro electron source device according to the present invention will be described below.
FIG. 1 is a schematic diagram showing the configuration of the first embodiment of the micro-electron source device of the present invention.
The micro-electron source device of the present invention includes an insulating substrate (for example, a glass substrate) 10 that becomes a base of the cathode panel 1 in a flat display device, and a cathode electrode 11 that is sequentially formed on the substrate 10 in a laminated state. The insulating layer 13 and the gate electrode 14, the opening (gate hole) 15 formed in the gate electrode 14 and the insulating layer 13, and the donut-shaped micro electron source layer 12 formed at the bottom of the opening 15 are configured. Has been.
Although only one doughnut-shaped micro-electron source layer 12 is shown in the drawing, a plurality of micro-electron source layers are formed on one cathode electrode 11 line as one subpixel when used for a display device. 12 are arranged side by side.

カソード電極11及びゲート電極14は、導電材料からなる導電膜である。例えばスパッタリング法により形成される厚み0.2μm程度のクロム(Cr)層である。   The cathode electrode 11 and the gate electrode 14 are conductive films made of a conductive material. For example, a chromium (Cr) layer having a thickness of about 0.2 μm formed by a sputtering method.

微小電子源層12は、カーボンナノチューブ12aとバインダ材料(マトリックス)12bとを含む複合層が加工されてなるものであり、前記カーボンナノチューブ12aが導電性のマトリクス12b中に埋め込まれ、該カーボンナノチューブ12aの一端が前記マトリクス12bから突出した状態となっている。また、微小電子源層12は開口部15の円形底部と同心のドーナツ形状である(図1(b))。   The micro-electron source layer 12 is formed by processing a composite layer containing carbon nanotubes 12a and a binder material (matrix) 12b. The carbon nanotubes 12a are embedded in a conductive matrix 12b, and the carbon nanotubes 12a Is in a state of protruding from the matrix 12b. The micro electron source layer 12 has a donut shape concentric with the circular bottom of the opening 15 (FIG. 1B).

カーボンナノチューブ本体は、例えば平均直径1nm、平均長さ1μmといった非常に細長いチューブ構造(繊維状)を有するものを用いる。あるいは、例えば平均直径30nm、平均長さ1μmのファイバー構造を有するカーボンナノファイバーを用いてもよい。   As the carbon nanotube main body, for example, a carbon nanotube main body having a very long tube structure (fibrous) having an average diameter of 1 nm and an average length of 1 μm is used. Alternatively, for example, carbon nanofibers having a fiber structure with an average diameter of 30 nm and an average length of 1 μm may be used.

微小電子源層12を構成するマトリクス12bは、In,Sn,Zn,Alの少なくとも1つを含有する有機金属化合物を含む結合剤からなることが好ましい。   The matrix 12b constituting the micro electron source layer 12 is preferably made of a binder containing an organometallic compound containing at least one of In, Sn, Zn, and Al.

微小電子源層12の内径領域は、カーボンナノチューブ12a及びマトリクス12bが存在せず電子放出のない中空の領域であり、平面型表示装置としてアノード電圧を印加した場合に生じる電界成分についてゲート電極14ではカットオフできない微小電子源層12上の領域である。   The inner diameter region of the micro-electron source layer 12 is a hollow region in which the carbon nanotubes 12a and the matrix 12b do not exist and there is no electron emission, and the electric field component generated when an anode voltage is applied as a flat display device This is a region on the minute electron source layer 12 that cannot be cut off.

内径IDは、微小電子源層12上のアノード電圧の電界成分がゲート電極14によりカットオフできない領域(カットオフ不能領域)を予め求めておき、その領域に基づいて設定するとよい。カットオフ不能領域は、開口部15の直径D、深さd、アノード電圧、ゲート電圧、アノード電極−カソード電極間距離等の要因が影響を及ぼす。
また、画面サイズが対角40インチ以下の表示装置に対応する場合には、内径IDは5〜30μmであることが好ましい。
The inner diameter ID may be set based on an area in which the electric field component of the anode voltage on the micro-electron source layer 12 cannot be cut off by the gate electrode 14 (an area that cannot be cut off) in advance. Factors such as the diameter D of the opening 15, the depth d 1 , the anode voltage, the gate voltage, and the distance between the anode electrode and the cathode electrode influence the uncut-off region.
When the screen size corresponds to a display device having a diagonal size of 40 inches or less, the inner diameter ID is preferably 5 to 30 μm.

絶縁層13は、例えばシリコン酸化物(SiO)からなる層間絶縁膜である。 The insulating layer 13 is an interlayer insulating film made of, for example, silicon oxide (SiO 2 ).

開口部15は、ゲート電極14に形成された第1の開口部15Aと、この第1の開口部15Aに連通する状態で絶縁層13に形成された第2の開口部15Bとから構成される略円柱形状の孔であり、微小電子源層12から放出される電子が通過する空間である。この孔の形状は頭頂部(ゲート電極14側)と底部(カソード電極11側)が円形であればよく、孔の側面(すなわち絶縁層13の壁面)は放出電子の通過を阻害しない限りどのような形状でもよい。   The opening 15 includes a first opening 15A formed in the gate electrode 14 and a second opening 15B formed in the insulating layer 13 so as to communicate with the first opening 15A. It is a substantially cylindrical hole and is a space through which electrons emitted from the minute electron source layer 12 pass. As long as the shape of the hole is circular at the top (gate electrode 14 side) and the bottom (cathode electrode 11 side), the side surface of the hole (that is, the wall surface of the insulating layer 13) is not affected as long as it does not obstruct the passage of emitted electrons. Any shape may be used.

この開口部15の深さdと底部直径Dとの比(アスペクト比)は、1:6以上であることが好ましい。アスペクト比が1:6より小さくなると、ディスプレイ上の輝点が発生しやすくなり好ましくない。 The ratio (aspect ratio) between the depth d 1 of the opening 15 and the bottom diameter D is preferably 1: 6 or more. When the aspect ratio is smaller than 1: 6, bright spots on the display are likely to be generated, which is not preferable.

本発明の微小電子源装置は次の手順で作製する。
(S11)基板10上にカソード電極形成用の導電膜11Lを形成する(図2(a))。導電膜11Lは、例えばスパッタリング法により形成される膜厚0.2μmのCr等からなる。また、必要に応じて導電膜11L上に抵抗層を形成する。抵抗層は、例えばスパッタリング法により形成される膜厚0.2μmのアモルファスSi,SiCN等からなる後述の微小電子源層12への放電電流を安定化させる役目を果たす薄膜である。
The micro electron source device of the present invention is manufactured by the following procedure.
(S11) A conductive film 11L for forming a cathode electrode is formed on the substrate 10 (FIG. 2A). The conductive film 11L is made of, for example, Cr having a thickness of 0.2 μm formed by a sputtering method. Further, a resistance layer is formed on the conductive film 11L as necessary. The resistance layer is a thin film that serves to stabilize the discharge current to the micro-electron source layer 12 described later made of, for example, amorphous Si, SiCN, etc. having a film thickness of 0.2 μm formed by sputtering.

(S12)つぎに、カソード電極上、すなわち導電膜11Lの所望の領域に電子エミッタ材料としてカーボンナノチューブ分散液を塗布する。塗布はスプレー噴霧、スピンコートなどいずれの方法でもよい。
カーボンナノチューブ分散液は、複数のカーボンナノチューブと、In,Sn,Zn,Alの少なくとも1つを含有する有機金属化合物を含む結合剤と、揮発性溶媒(例えば、酢酸ブチル)とを所定量混合して調製されたものである。熱分解性有機金属である有機スズ及び有機インジウム化合物(ITO溶液)およびカーボンナノチューブを揮発性溶媒、例えば、酢酸ブチル中に分散させて調製する場合の組成例を以下に示す。
(S12) Next, a carbon nanotube dispersion liquid is applied as an electron emitter material on the cathode electrode, that is, on a desired region of the conductive film 11L. Application may be any method such as spraying or spin coating.
The carbon nanotube dispersion liquid is a mixture of a plurality of carbon nanotubes, a binder containing an organometallic compound containing at least one of In, Sn, Zn, and Al, and a volatile solvent (for example, butyl acetate). It was prepared. An example of a composition in the case of preparing by dispersing organotin and organoindium compounds (ITO solution) and carbon nanotubes, which are thermally decomposable organometals, in a volatile solvent such as butyl acetate is shown below.

(カーボンナノチューブ分散液)
・結合剤(ITO溶液) :固形分10〜50重量%
・カーボンナノチューブ :0.01〜20重量%
・溶媒(酢酸ブチル) :30〜80重量%
・分散剤(例えばドデチル硫酸ナトリウム):0.1〜5重量%
(Carbon nanotube dispersion)
-Binder (ITO solution): 10 to 50% by weight of solid content
Carbon nanotube: 0.01-20% by weight
Solvent (butyl acetate): 30 to 80% by weight
Dispersant (for example, sodium dodecyl sulfate): 0.1 to 5% by weight

上記のようにカーボンナノチューブの分散性を向上させるために分散剤を添加してもよいし、超音波処理を施してもよい。また、希釈剤には水系、非水系のどちらを添加しても構わないが、それに応じて分散剤も変わることを前提とする。また、カーボンナノチューブは、例えば平均直径1nm、平均長さ1μmのチューブ構造を有し、アーク放電法により作製されたものを用いればよい。   As described above, a dispersant may be added in order to improve the dispersibility of the carbon nanotubes, or ultrasonic treatment may be performed. In addition, it is assumed that either aqueous or non-aqueous diluents may be added to the diluent, but the dispersant changes accordingly. Also, the carbon nanotubes may have a tube structure with an average diameter of 1 nm and an average length of 1 μm, for example, and those produced by an arc discharge method may be used.

(S13)上記カーボンナノチューブ分散液を塗布した後、焼成により結合剤からなる導電性のマトリクス中に前記カーボンナノチューブが分散して埋め込まれた状態である複合層12Lを形成する(図2(b))。焼成は例えば、つぎのような2段階で行うとよい。
(第1の焼成)
・雰囲気:大気
・温度:350℃
・時間:30分
(第2の焼成)
・雰囲気:窒素
・温度:500℃
・時間:30分
(S13) After the carbon nanotube dispersion liquid is applied, a composite layer 12L in which the carbon nanotubes are dispersed and embedded in a conductive matrix made of a binder by firing is formed (FIG. 2B). ). For example, the firing may be performed in the following two stages.
(First firing)
・ Atmosphere: Air ・ Temperature: 350 ℃
・ Time: 30 minutes (second firing)
・ Atmosphere: Nitrogen ・ Temperature: 500 ℃
・ Time: 30 minutes

(S14)次に、複合層12Lをドーナツ形状に加工する。具体的には、レジスト材料層をスピンコート法にて全面に成膜した後、リソグラフィー技術に基づき、複合層12Lのうち残されるべき領域以外の表面が露出したマスク層を形成する。このとき、例えば外径65μm、内径20μmのドーナツ形状の複合層12Lが1サブピクセルに5つ配置されるようにマスク層を形成する。
ついで露出した複合層12L領域を、例えば、HClを用いてエッチング温度10〜60℃、エッチング時間10秒〜30分の条件でエッチングする(図2(c))。
(S14) Next, the composite layer 12L is processed into a donut shape. Specifically, after a resist material layer is formed on the entire surface by spin coating, a mask layer in which the surface other than the region to be left in the composite layer 12L is exposed is formed based on the lithography technique. At this time, the mask layer is formed so that, for example, five doughnut-shaped composite layers 12L having an outer diameter of 65 μm and an inner diameter of 20 μm are arranged in one subpixel.
Next, the exposed composite layer 12L region is etched using, for example, HCl under the conditions of an etching temperature of 10 to 60 ° C. and an etching time of 10 seconds to 30 minutes (FIG. 2C).

なお、上記処理後に所望の領域以外にカーボンナノチューブが存在する場合は、酸素プラズマもしくは、酸化溶液を使用して、カーボンナノチューブのエッチングを行う。このときのエッチング条件例を以下に示す。   If carbon nanotubes exist outside the desired region after the above treatment, the carbon nanotubes are etched using oxygen plasma or an oxidizing solution. Examples of etching conditions at this time are shown below.

(酸素プラズマエッチング)
・装置:RIE
・導入ガス:酸素を含むガス
・プラズマ励起パワー:500W
・バイアスパワー:0〜150W(DCでもRFでも構わないがRFが好ましい)
・時間:10秒以上
(Oxygen plasma etching)
・ Equipment: RIE
-Introducing gas: oxygen-containing gas-Plasma excitation power: 500W
Bias power: 0 to 150 W (DC or RF is acceptable, but RF is preferred)
・ Time: 10 seconds or more

(酸化溶液エッチング)
・溶液: KMnO
・温度:20〜80℃
・時間:10秒から20分
(Oxidation solution etching)
-Solution: KMnO 4
-Temperature: 20-80 ° C
・ Time: 10 seconds to 20 minutes

(S15)ついで、周知のフォトリソグラフィ技術及び反応性イオンエッチング(RIE)により導電膜11Lをエッチング加工してストライプ状のカソード電極11とする(図2(d))。この時点で基板10上には複数本のカソードラインが形成される。 (S15) Next, the conductive film 11L is etched by a known photolithography technique and reactive ion etching (RIE) to form a striped cathode electrode 11 (FIG. 2D). At this point, a plurality of cathode lines are formed on the substrate 10.

(S16)基板10上において、カソード電極11、複合層12Lの積層部を覆うように層間絶縁膜13Lを形成し、さらに該層間絶縁膜13L上に例えば膜厚0.2μmのCrからなるゲート電極形成用の導電膜14Lを形成する(図3(e))。例えば、TEOS(テトラエトキシシラン)を原料ガスとして使用するCVD法により、基板10の全面に例えばSiOからなる厚さ12μmの層間絶縁膜13Lを形成し、次いで、層間絶縁膜13Lの上にCrからなる導電膜14Lをスパッタリング法によって形成すればよい。 (S16) An interlayer insulating film 13L is formed on the substrate 10 so as to cover the stacked portion of the cathode electrode 11 and the composite layer 12L, and a gate electrode made of, for example, 0.2 μm thick Cr is formed on the interlayer insulating film 13L. A forming conductive film 14L is formed (FIG. 3E). For example, a 12 μm-thick interlayer insulating film 13L made of, for example, SiO 2 is formed on the entire surface of the substrate 10 by CVD using TEOS (tetraethoxysilane) as a source gas, and then Cr is formed on the interlayer insulating film 13L. The conductive film 14L made of may be formed by a sputtering method.

(S17)導電膜14L上にレジストマスク層を形成し、このレジストマスク層を利用して反応性イオンエッチング(RIE)により導電膜14Lの所定部位をエッチング加工することにより、層間絶縁膜13L上でストライプ形状のゲート電極14とするとともに、このゲート電極14を貫通する第1の開口部15Aを形成する(図3(f))。このとき、ゲート電極14は層間絶縁膜13L上でカソード電極11と略直交する状態のストライプ形状に加工されている。すなわち、上記カソードラインに直交する複数本のゲートラインが形成される。また、導電膜14Lのエッチングされた部位は層間絶縁膜13Lが露出している。 (S17) A resist mask layer is formed on the conductive film 14L, and a predetermined portion of the conductive film 14L is etched by reactive ion etching (RIE) using the resist mask layer, whereby the interlayer insulating film 13L is formed. A stripe-shaped gate electrode 14 is formed, and a first opening 15A penetrating through the gate electrode 14 is formed (FIG. 3F). At this time, the gate electrode 14 is processed into a stripe shape substantially orthogonal to the cathode electrode 11 on the interlayer insulating film 13L. That is, a plurality of gate lines orthogonal to the cathode line are formed. Further, the etched portion of the conductive film 14L exposes the interlayer insulating film 13L.

(S18)つぎに、ゲート電極14の第1の開口部15Aを通して層間絶縁膜13Lを反応性イオンエッチング(RIE)などのドライエッチング加工により、複合層12Lが露出するように第2の開口部15Bを形成する。これにより、第1,第2の開口部15A,15Bからなる開口部(ゲートホール)15が得られる(図3(g))。 (S18) Next, the second opening 15B is exposed so that the composite layer 12L is exposed through dry etching such as reactive ion etching (RIE) through the first opening 15A of the gate electrode 14 in the interlayer insulating film 13L. Form. Thereby, an opening (gate hole) 15 including the first and second openings 15A and 15B is obtained (FIG. 3G).

微小電子源装置は、電子放出はピクセル(画素)ごとに選択できるアセンブリでなければならない。そのために、カソード電極11と電子取り出し電極であるゲート電極14とが直交して重なる部分でひとつのサブピクセルを形成する。開口部15は、そのサブピクセルを構成するためのものであり、例えば直径60μmの略円柱形状の孔として形成されており、1サブピクセル当たり5個形成される。この場合の開口部15のアスペクト比は1:5となる。また、開口部15は1画素に数十個ほど形成される。   The micro-electron source device must be an assembly in which electron emission can be selected for each pixel. For this purpose, one subpixel is formed at a portion where the cathode electrode 11 and the gate electrode 14 serving as the electron extraction electrode are orthogonally overlapped. The openings 15 are for constituting the subpixel, and are formed as, for example, a substantially cylindrical hole having a diameter of 60 μm, and five openings are formed per subpixel. In this case, the aspect ratio of the opening 15 is 1: 5. Further, several tens of openings 15 are formed in one pixel.

(S19)次に、開口部15の底部に露出した複合層12L上層部のマトリックスを虚弱化させる(図4(h))。複合層12Lの上層部を虚弱化させる際の手法としては、ウェットエッチングやドライエッチングなどのエッチング法(ライトエッチング)を好ましく用いることができる。ライトエッチングは例えば、エッチャント:10%HCl水溶液、エッチング時間5〜60秒の条件で行えばよい。このエッチングにより複合層12Lの上層部でマトリクス材料を選択的に除去することにより、表面に多数のカーボンナノチューブを露出させることができる。 (S19) Next, the matrix of the upper part of the composite layer 12L exposed at the bottom of the opening 15 is weakened (FIG. 4 (h)). As a technique for weakening the upper layer portion of the composite layer 12L, an etching method (light etching) such as wet etching or dry etching can be preferably used. For example, light etching may be performed under the conditions of an etchant: 10% HCl aqueous solution and an etching time of 5 to 60 seconds. By selectively removing the matrix material at the upper layer portion of the composite layer 12L by this etching, a large number of carbon nanotubes can be exposed on the surface.

(S1a)その後、エッチングされた複合層12Lの表面で各々のカーボンナノチューブが一様にほぼ垂直に起立するように、カーボンナノチューブの配向処理を行う。具体的には、例えば基板10上で図示しないアクリル樹脂からなるフィルムをゲート電極14の上から貼り付けた後、UV照射して該フィルムを硬化させ、ついで硬化したフィルムを引き剥がすことにより、基板10に対してカーボンナノチューブの長手方向をほぼ垂直に配向させる。カーボンナノチューブを配向させる際の方向は、基板10の面方向に対してほぼ垂直な方向とする。このとき、複合層12Lの表面には多数のカーボンナノチューブが露出した状態となっている。そのため、フィルムの貼り付け及び引き剥がしを行うことにより、多数のカーボンナノチューブを垂直に配向させることができる。これにより、前記カーボンナノチューブ12aが導電性のマトリクス12b中に埋め込まれ、該カーボンナノチューブ12aの一端がマトリクス12bから突出してなる微小電子源層12となる(図4(i))。 (S1a) Thereafter, the carbon nanotubes are aligned so that the carbon nanotubes stand up substantially vertically on the surface of the etched composite layer 12L. Specifically, for example, after a film made of an acrylic resin (not shown) is pasted on the gate electrode 14 on the substrate 10, the film is cured by UV irradiation, and then the cured film is peeled off. 10, the longitudinal direction of the carbon nanotubes is oriented substantially perpendicularly. The direction for aligning the carbon nanotubes is a direction substantially perpendicular to the surface direction of the substrate 10. At this time, a large number of carbon nanotubes are exposed on the surface of the composite layer 12L. Therefore, a large number of carbon nanotubes can be vertically oriented by attaching and peeling the film. As a result, the carbon nanotubes 12a are embedded in the conductive matrix 12b, and the one end of the carbon nanotubes 12a becomes the minute electron source layer 12 protruding from the matrix 12b (FIG. 4 (i)).

なお、カーボンナノチューブの配向処理方法としては、上述した粘着テープの貼り付け及び引き剥がしによる方法以外にも、例えば、カソード電極11に電圧を印加することにより、カソード電極11とカーボンナノチューブを同じ極性で帯電させ、これに伴う反発力により各々のカーボンナノチューブを互いに分離した状態で垂直に配向させることも可能である。   In addition to the method of applying and peeling off the adhesive tape as described above, the carbon nanotube alignment treatment method can be applied, for example, by applying a voltage to the cathode electrode 11 so that the cathode electrode 11 and the carbon nanotube have the same polarity. It is also possible to electrify and vertically align the carbon nanotubes in a state of being separated from each other by the repulsive force associated therewith.

このようにして、平面型表示装置においてカソードパネル1のベースとなる絶縁性の基板(例えば、ガラス基板)10と、この基板10上に積層状態で順に形成されたカソード電極11、絶縁層13及びゲート電極14と、ゲート電極14及び絶縁層13に形成された開口部(ゲートホール)15と、この開口部15の底部に形成されたドーナツ形状の微小電子源層12とによって構成される微小電子源装置が完成する。   In this way, an insulating substrate (for example, a glass substrate) 10 which becomes the base of the cathode panel 1 in the flat display device, the cathode electrode 11, the insulating layer 13 formed in order on the substrate 10 in a laminated state, Microelectrons constituted by a gate electrode 14, an opening (gate hole) 15 formed in the gate electrode 14 and the insulating layer 13, and a donut-shaped microelectron source layer 12 formed at the bottom of the opening 15. The source device is completed.

次に、本発明に係る微小電子源装置の第2の実施の形態について説明する。
図5は、本発明に係る微小電子源装置の第2の実施の形態における構成を示す概略図である。
本発明の微小電子源装置は、平面型表示装置においてカソードパネル1のベースとなる絶縁性の基板(例えば、ガラス基板)30と、この基板30上に積層状態で順に形成されたカソード電極31、絶縁層33及びゲート電極34と、ゲート電極34及び絶縁層33に形成された開口部(ゲートホール)35と、この開口部35の底部に形成された微小電子源層32とによって構成されている。なお、図中微小電子源層32は表示装置の1サブピクセルに対応する状態を示している。
また、この微小電子源装置の構成材料は、第1の実施の形態の微小電子源装置と同じである。以下、第1の実施の形態と相違する点について説明する。
Next, a second embodiment of the micro electron source device according to the present invention will be described.
FIG. 5 is a schematic diagram showing the configuration of the second embodiment of the micro-electron source device according to the present invention.
The micro-electron source device of the present invention includes an insulating substrate (for example, a glass substrate) 30 that serves as a base of the cathode panel 1 in a flat display device, and a cathode electrode 31 that is sequentially formed on the substrate 30 in a laminated state. The insulating layer 33 and the gate electrode 34, the opening (gate hole) 35 formed in the gate electrode 34 and the insulating layer 33, and the micro electron source layer 32 formed at the bottom of the opening 35 are configured. . In the drawing, the minute electron source layer 32 shows a state corresponding to one sub-pixel of the display device.
The constituent material of the micro electron source device is the same as that of the micro electron source device of the first embodiment. Hereinafter, differences from the first embodiment will be described.

微小電子源層32は、開口部35の溝の長手方向に延びる帯形状の層であり、溝の幅方向の中央に中空のスリットが入っている。(図5(b))。   The micro-electron source layer 32 is a band-shaped layer extending in the longitudinal direction of the groove of the opening 35, and has a hollow slit at the center in the width direction of the groove. (FIG. 5B).

微小電子源層32のスリット領域は、カーボンナノチューブ32a及びマトリクス32bが存在せず電子放出のない中空の領域であり、平面型表示装置としてアノード電圧を印加した場合に生じる電界成分についてゲート電極34ではカットオフできない微小電子源層32上の領域である。   The slit region of the micro-electron source layer 32 is a hollow region in which the carbon nanotubes 32a and the matrix 32b are not present and there is no electron emission, and the electric field component generated when an anode voltage is applied as a flat display device in the gate electrode. This is a region on the minute electron source layer 32 that cannot be cut off.

スリット幅Sは、微小電子源層32上のアノード電圧の電界成分がゲート電極34によりカットオフできない領域(カットオフ不能領域)を予め求めておき、その領域に基づいて設定するとよい。カットオフ不能領域は、開口部35の溝幅W、深さd、アノード電圧、ゲート電圧、アノード電極−カソード電極間距離等の要因が影響を及ぼす。
また、画面サイズが対角40インチ以下の表示装置に対応する場合には、スリット幅Sは5〜30μmであることが好ましい。
The slit width S is preferably set based on an area in which the electric field component of the anode voltage on the micro-electron source layer 32 cannot be cut off by the gate electrode 34 (an area that cannot be cut off). Factors such as the groove width W, the depth d 2 , the anode voltage, the gate voltage, and the distance between the anode electrode and the cathode electrode affect the uncut-off region.
When the screen size corresponds to a display device having a diagonal size of 40 inches or less, the slit width S is preferably 5 to 30 μm.

開口部35は、ゲート電極34に形成された第1の開口部と、この第1の開口部に連通する状態で絶縁層33に形成された第2の開口部とから構成される断面形状が略矩形の溝であり、微小電子源層32から放出される電子が通過する空間である。この溝の形状は頭頂部(ゲート電極34側)と底部(カソード電極31側)が長方形であればよく、溝の側面(すなわち絶縁層33の壁面)は放出電子の通過を阻害しない限りどのような形状でもよい。   The opening 35 has a cross-sectional shape composed of a first opening formed in the gate electrode 34 and a second opening formed in the insulating layer 33 in a state communicating with the first opening. It is a substantially rectangular groove and is a space through which electrons emitted from the minute electron source layer 32 pass. The shape of the groove is not limited so long as the top part (gate electrode 34 side) and the bottom part (cathode electrode 31 side) are rectangular. Any shape may be used.

この開口部35の深さdとスリット幅Wとの比(アスペクト比)は、1:6以上であることが好ましい。アスペクト比が1:6より小さくなると、ディスプレイ上の輝点が発生しやすくなり好ましくない。 The ratio between the depth d 2 and the slit width W of the opening 35 (the aspect ratio), 1: is preferably 6 or more. When the aspect ratio is smaller than 1: 6, bright spots on the display are likely to be generated, which is not preferable.

第2の実施の形態の微小電子源装置は第1の実施の形態と同様の手順で作製するが、微小電子源層32をスリットのある帯状の層に加工し、開口部35を断面形状が略矩形の溝に加工する点で異なる。具体的には第1の実施の形態におけるステップS14に代えて以下に示すステップS24を行い、ステップS17,18に代えてステップS27,28を行う。   The micro electron source device of the second embodiment is manufactured in the same procedure as in the first embodiment, but the micro electron source layer 32 is processed into a band-like layer having slits, and the opening 35 has a cross-sectional shape. It differs in that it is processed into a substantially rectangular groove. Specifically, step S24 shown below is performed instead of step S14 in the first embodiment, and steps S27 and 28 are performed instead of steps S17 and S18.

(S24)複合層32Lを幅方向中央に中空のスリットのある帯形状に加工する。具体的には、レジスト材料層をスピンコート法にて全面に成膜した後、リソグラフィー技術に基づき、複合層32Lのうち残されるべき領域以外の表面が露出したマスク層を形成する。このとき、例えば帯の幅65μm、スリット幅20μmのスリットのある帯形状の複合層32Lが1サブピクセルに1つ配置されるようにマスク層を形成する。
ついで露出した複合層32L領域を、例えば、HClを用いてエッチング温度10〜60℃、エッチング時間10秒〜30分の条件でエッチングする。
(S24) The composite layer 32L is processed into a band shape having a hollow slit at the center in the width direction. Specifically, after a resist material layer is formed on the entire surface by spin coating, a mask layer in which the surface other than the region to be left in the composite layer 32L is exposed is formed based on the lithography technique. At this time, for example, the mask layer is formed so that one band-shaped composite layer 32L having a slit having a band width of 65 μm and a slit width of 20 μm is arranged in one subpixel.
Next, the exposed composite layer 32L region is etched using HCl, for example, at an etching temperature of 10 to 60 ° C. and an etching time of 10 seconds to 30 minutes.

(S27)導電膜34L上にレジストマスク層を形成し、このレジストマスク層を利用して反応性イオンエッチング(RIE)により導電膜34Lの所定部位をエッチング加工することにより、層間絶縁膜33L上でストライプ形状のゲート電極34とするとともに、このゲート電極34を貫通する第1の開口部35Aを形成する。このとき、ゲート電極34は層間絶縁膜33L上でカソード電極31と略直交する状態のストライプ形状に加工されている。すなわち、上記カソードラインに直交する複数本のゲートラインが形成される。また、導電膜34Lのエッチングされた部位は層間絶縁膜33Lが露出している。 (S27) A resist mask layer is formed on the conductive film 34L, and a predetermined portion of the conductive film 34L is etched by reactive ion etching (RIE) using the resist mask layer, whereby the interlayer insulating film 33L is formed. A stripe-shaped gate electrode 34 is formed, and a first opening 35A penetrating the gate electrode 34 is formed. At this time, the gate electrode 34 is processed into a stripe shape substantially orthogonal to the cathode electrode 31 on the interlayer insulating film 33L. That is, a plurality of gate lines orthogonal to the cathode line are formed. In addition, the interlayer insulating film 33L is exposed at the etched portion of the conductive film 34L.

(S28)つぎに、ゲート電極34の第1の開口部35Aを通して層間絶縁膜33Lを反応性イオンエッチング(RIE)などのドライエッチング加工により、複合層32Lが露出するように第2の開口部35Bを形成する。これにより、第1,第2の開口部35A,35Bからなり断面形状が略矩形の溝である開口部35が得られる。 (S28) Next, the second opening 35B is exposed so that the composite layer 32L is exposed by dry etching such as reactive ion etching (RIE) through the first opening 35A of the gate electrode 34. Form. Thereby, the opening part 35 which consists of 1st, 2nd opening part 35A, 35B and whose cross-sectional shape is a substantially rectangular groove | channel is obtained.

上記以外の工程は構成物の符号が第2の実施の形態の構成に対応して変わるだけで処理内容は第1の実施の形態と同じであり、最終的に図5に示す微小電子源装置が完成する。   Processes other than those described above are the same as those in the first embodiment except that the reference numerals of the components are changed corresponding to those in the second embodiment. Finally, the micro electron source device shown in FIG. Is completed.

その後、平面型表示装置の組み立てを行う。具体的には、蛍光体層22と微小電子源装置とが対向するようにアノードパネル2とカソードパネル1とを配置し、アノードパネル2とカソードパネル1(より具体的には、基板21と基板10)とを、枠体3を介して、周縁部において接合する。接合に際しては、枠体3とアノードパネル2との接合部位、及び枠体3とカソードパネル1との接合部位にフリットガラスを塗布し、アノードパネル2とカソードパネル1と枠体3とを貼り合わせ、予備焼成にてフリットガラスを乾燥した後、約450℃で10〜30分の本焼成を行う。その後、アノードパネル2とカソードパネル1と枠体3とフリットガラスとによって囲まれた空間を、貫通孔及びチップ管を通じて排気し、空間の圧力が10-4Pa程度に達した時点でチップ管を加熱溶融により封じ切る。このようにして、アノードパネル2とカソードパネル1と枠体3とに囲まれた空間を真空にすることができる。その後、必要な外部回路との配線を行い、図6に示す平面型表示装置を完成させる。 Thereafter, the flat display device is assembled. Specifically, the anode panel 2 and the cathode panel 1 are disposed so that the phosphor layer 22 and the micro electron source device face each other, and the anode panel 2 and the cathode panel 1 (more specifically, the substrate 21 and the substrate 21). 10) are joined to each other at the peripheral edge via the frame 3. At the time of joining, frit glass is applied to the joining part of the frame 3 and the anode panel 2 and the joining part of the frame 3 and the cathode panel 1, and the anode panel 2, the cathode panel 1 and the frame 3 are bonded together. Then, after the frit glass is dried by preliminary baking, main baking is performed at about 450 ° C. for 10 to 30 minutes. Thereafter, the space surrounded by the anode panel 2, the cathode panel 1, the frame 3 and the frit glass is exhausted through the through hole and the tip tube, and when the pressure in the space reaches about 10 −4 Pa, the tip tube is removed. Seal by heat melting. In this way, the space surrounded by the anode panel 2, the cathode panel 1, and the frame 3 can be evacuated. Thereafter, wiring with necessary external circuits is performed to complete the flat display device shown in FIG.

図6は本発明に係る平面型表示装置のパネル構造の一例を示す断面図である。
図6に示すように、カソードパネル(カソード基板)1とアノードパネル(アノード基板)2とを所定の間隙を介して対向状態に配置するとともに、それらのパネル1,2を枠体3によって一体的に組み付けることにより、画像表示のための一つのパネル構体(表示パネル)が構成されている。
FIG. 6 is a sectional view showing an example of the panel structure of the flat display device according to the present invention.
As shown in FIG. 6, the cathode panel (cathode substrate) 1 and the anode panel (anode substrate) 2 are arranged to face each other with a predetermined gap therebetween, and the panels 1 and 2 are integrated by a frame 3. As a result, a single panel structure (display panel) for image display is constructed.

カソードパネル1上には本発明の微小電子源装置が複数形成されている。これら複数の微小電子源装置は、カソードパネル1の有効領域(実際に表示部分として機能する領域)に2次元マトリックス状に多数形成されている。ここでは第1の実施の形態の微小電子源装置を形成した例を示しているが、第2の実施の形態の微小電子源装置を形成してもよい。   A plurality of micro electron source devices of the present invention are formed on the cathode panel 1. A plurality of these micro electron source devices are formed in a two-dimensional matrix in the effective area of the cathode panel 1 (area that actually functions as a display portion). Here, an example is shown in which the micro electron source device of the first embodiment is formed, but the micro electron source device of the second embodiment may be formed.

図7に示すように、カソード電極11は、複数のカソードラインを形成するようにストライプ状に形成されている。ゲート電極14は、各々のカソードラインと交差(直交)する複数のゲートラインを形成するようにストライプ状に形成されている。   As shown in FIG. 7, the cathode electrode 11 is formed in a stripe shape so as to form a plurality of cathode lines. The gate electrode 14 is formed in a stripe shape so as to form a plurality of gate lines intersecting (orthogonal) with each cathode line.

一方、アノードパネル2は、ベースとなる透明基板21と、この透明基板21上に形成された蛍光体層22及びブラックマトリックス23と、これら蛍光体層22及びブラックマトリックス23を覆う状態で透明基板21上に形成されたアノード電極24とを備えて構成されている。蛍光体層22は、赤色発光用の蛍光体層22Rと、緑色発光用の蛍光体層22Gと、青色発光用の蛍光体層22Bとから構成されている。ブラックマトリックス23は、各色発光用の蛍光体層22R,22G,22Bの間に形成されている。アノード電極24は、カソードパネル1の電子放出素子と対向するように、アノードパネル2の有効領域の全域に積層状態で形成されている。   On the other hand, the anode panel 2 includes a transparent substrate 21 serving as a base, a phosphor layer 22 and a black matrix 23 formed on the transparent substrate 21, and a transparent substrate 21 covering the phosphor layer 22 and the black matrix 23. And an anode electrode 24 formed thereon. The phosphor layer 22 includes a phosphor layer 22R for red light emission, a phosphor layer 22G for green light emission, and a phosphor layer 22B for blue light emission. The black matrix 23 is formed between the phosphor layers 22R, 22G, and 22B for emitting each color. The anode electrode 24 is formed in a laminated state over the entire effective area of the anode panel 2 so as to face the electron-emitting devices of the cathode panel 1.

これらのカソードパネル1とアノードパネル2とは、それぞれの外周部(周縁部)で枠体3を介して接合されている。また、カソードパネル1の無効領域(有効領域の外側の領域で、実際に表示部分として機能しない領域)には真空排気用の貫通孔16が設けられている。貫通孔16には、真空排気後に封じ切られるチップ管17が接続されている。ただし、図6は表示装置の組み立て完了状態を示しているため、チップ管17は既に封じ切られた状態となっている。また、図6、図7においては、各々のパネル1,2間のギャップ部分に介装される耐圧用の基板(スペーサ)の表示を省略している。   The cathode panel 1 and the anode panel 2 are joined to each other at the outer peripheral portion (peripheral portion) via the frame 3. In addition, a vacuum exhaust through-hole 16 is provided in the ineffective area of the cathode panel 1 (area outside the effective area and not actually functioning as a display portion). A tip tube 17 that is sealed after evacuation is connected to the through hole 16. However, since FIG. 6 shows the assembly completion state of the display device, the tip tube 17 has already been sealed. 6 and 7, the display of a pressure-resistant substrate (spacer) interposed in the gap portion between the panels 1 and 2 is omitted.

上記構成のパネル構造を有する表示装置においては、カソード電極11に相対的な負電圧がカソード電極制御回路18から印加され、ゲート電極14には相対的な正電圧がゲート電極制御回路19から印加され、アノード電極24にはゲート電極11よりも更に高い正電圧がアノード電極制御回路20から印加される。かかる表示装置において、実際に画像の表示を行う場合は、例えば、カソード電極11にカソード電極制御回路18から走査信号を入力し、ゲート電極14にゲート電極制御回路19からビデオ信号を入力する。あるいは又、カソード電極11にカソード電極制御回路18からビデオ信号を入力し、ゲート電極14にゲート電極制御回路19から走査信号を入力する。   In the display device having the panel structure configured as described above, a relative negative voltage is applied to the cathode electrode 11 from the cathode electrode control circuit 18, and a relative positive voltage is applied to the gate electrode 14 from the gate electrode control circuit 19. A positive voltage higher than that of the gate electrode 11 is applied to the anode electrode 24 from the anode electrode control circuit 20. In such a display device, when an image is actually displayed, for example, a scanning signal is input from the cathode electrode control circuit 18 to the cathode electrode 11 and a video signal is input from the gate electrode control circuit 19 to the gate electrode 14. Alternatively, a video signal is input from the cathode electrode control circuit 18 to the cathode electrode 11, and a scanning signal is input from the gate electrode control circuit 19 to the gate electrode 14.

これにより、カソード電極11とゲート電極14との間に電圧が印加され、これによって微小電子源層12の先鋭部(カーボンナノチューブ12aの先端部)に電界が集中することにより、量子トンネル効果によって電子がエネルギー障壁を突き抜けて微小電子源層12から真空中へと放出される。こうして放出された電子はアノード電極24に引き付けられてアノードパネル2側に移動し、透明基板21上の蛍光体層22(22R,22G,22B)に衝突する。その結果、蛍光体層22が電子の衝突により励起されて発光するため、この発光位置を画素単位で制御することにより、表示パネル上に所望の画像を表示することができる。   As a result, a voltage is applied between the cathode electrode 11 and the gate electrode 14, thereby concentrating the electric field on the sharpened portion of the minute electron source layer 12 (the tip portion of the carbon nanotube 12 a), thereby causing electrons by the quantum tunnel effect. Is released from the micro-electron source layer 12 into the vacuum through the energy barrier. The electrons thus emitted are attracted to the anode electrode 24, move to the anode panel 2 side, and collide with the phosphor layer 22 (22R, 22G, 22B) on the transparent substrate 21. As a result, the phosphor layer 22 is excited by the collision of electrons and emits light, so that a desired image can be displayed on the display panel by controlling the light emission position in units of pixels.

また、アノード電極24に電圧を印加しても、本発明の微小電子源装置により、ディスプレイ上の輝点発生を抑制することが可能である。   Even when a voltage is applied to the anode electrode 24, the generation of bright spots on the display can be suppressed by the micro electron source device of the present invention.

本発明の実施例を以下に示す。なお、本実施例は例示であり、本発明の範囲はこれに限定されるものではない。   Examples of the present invention are shown below. In addition, a present Example is an illustration and the scope of the present invention is not limited to this.

(実施例1)
つぎの手順で微小電子源装置を作製した。
(S31)ガラス基板である基板10上にカソード電極形成用の導電膜11Lとしてスパッタリング法により膜厚0.2μmのCr層を形成した(図2(a))。
Example 1
The micro-electron source device was manufactured by the following procedure.
(S31) A Cr layer having a thickness of 0.2 μm was formed by sputtering as the conductive film 11L for forming the cathode electrode on the substrate 10 which is a glass substrate (FIG. 2A).

(S32)つぎに、導電膜11Lの所望の領域に以下の組成のカーボンナノチューブ分散液をスプレー塗布した。
(カーボンナノチューブ分散液)
・結合剤(ITO溶液) :固形分2重量%
・カーボンナノチューブ :0.2重量%
・分散剤(ドデチル硫酸ナトリウム) :0.1重量%
・溶媒(酢酸ブチル) :残余
(S32) Next, a carbon nanotube dispersion liquid having the following composition was spray applied to a desired region of the conductive film 11L.
(Carbon nanotube dispersion)
-Binder (ITO solution): Solid content 2% by weight
Carbon nanotube: 0.2% by weight
Dispersant (sodium dodecyl sulfate): 0.1% by weight
・ Solvent (Butyl acetate): Residue

(S33)上記カーボンナノチューブ分散液を塗布した後、以下の条件で焼成し、複合層12Lを形成した(図2(b))。
(第1の焼成)
・雰囲気:大気
・温度:350℃
・時間:30分
(第2の焼成)
・雰囲気:窒素
・温度:500℃
・時間:30分
(S33) After applying the carbon nanotube dispersion, firing was performed under the following conditions to form a composite layer 12L (FIG. 2B).
(First firing)
・ Atmosphere: Air ・ Temperature: 350 ℃
・ Time: 30 minutes (second firing)
・ Atmosphere: Nitrogen ・ Temperature: 500 ℃
・ Time: 30 minutes

(S34)次に、複合層12L上にレジスト材料層をスピンコート法にて全面に成膜した後、リソグラフィー技術に基づき、複合層12Lのうち残されるべき領域以外の表面が露出したマスク層を形成した。このとき、外径65μm、内径20μmのドーナツ形状の複合層12Lが1サブピクセルに5つ配置されるようにマスク層を形成した。
ついで露出した複合層12L領域を、HClを用いてエッチングし、複合層12Lをドーナツ形状に加工した(図2(c))。
(S34) Next, after a resist material layer is formed on the entire surface of the composite layer 12L by spin coating, a mask layer having an exposed surface other than the region to be left in the composite layer 12L is exposed based on the lithography technique. Formed. At this time, the mask layer was formed so that five doughnut-shaped composite layers 12L having an outer diameter of 65 μm and an inner diameter of 20 μm were arranged in one subpixel.
Next, the exposed composite layer 12L region was etched using HCl to process the composite layer 12L into a donut shape (FIG. 2C).

(S35)ついで、周知のフォトリソグラフィ技術及び反応性イオンエッチング(RIE)により導電膜11Lをエッチング加工してストライプ状のカソード電極11とした(図2(d))。 (S35) Next, the conductive film 11L was etched by a known photolithography technique and reactive ion etching (RIE) to form a striped cathode electrode 11 (FIG. 2D).

(S36)基板10上において、TEOS(テトラエトキシシラン)を原料ガスとして使用するCVD法により、カソード電極11、複合層12Lの積層部を覆うようにSiOからなる層間絶縁膜13Lを形成し、さらに該層間絶縁膜13L上に膜厚0.2μmのCrからなるゲート電極形成用の導電膜14Lを形成した(図3(e))。このとき、層間絶縁膜13Lの厚みを7,10,20μmに変化させた3種類のサンプルを作製した。 (S36) On the substrate 10, an interlayer insulating film 13L made of SiO 2 is formed by CVD using TEOS (tetraethoxysilane) as a source gas so as to cover the laminated portion of the cathode electrode 11 and the composite layer 12L, Further, a conductive film 14L for forming a gate electrode made of Cr having a thickness of 0.2 μm was formed on the interlayer insulating film 13L (FIG. 3E). At this time, three types of samples were produced in which the thickness of the interlayer insulating film 13L was changed to 7, 10, and 20 μm.

(S37)導電膜14L上にレジストマスク層を形成し、このレジストマスク層を利用して反応性イオンエッチング(RIE)により導電膜14Lの所定部位をエッチング加工することにより、層間絶縁膜13L上でストライプ形状のゲート電極14とするとともに、このゲート電極14を貫通する第1の開口部15Aを形成した(図3(f))。 (S37) A resist mask layer is formed on the conductive film 14L, and a predetermined portion of the conductive film 14L is etched by reactive ion etching (RIE) using the resist mask layer, whereby the interlayer insulating film 13L is formed. A stripe-shaped gate electrode 14 was formed, and a first opening 15A penetrating the gate electrode 14 was formed (FIG. 3F).

(S38)つぎに、ゲート電極14の第1の開口部15Aを通して層間絶縁膜13Lを反応性イオンエッチング(RIE)のドライエッチング加工により、複合層12Lが露出するように第2の開口部15Bを形成した。これにより、直径60μmの第1,第2の開口部15A,15Bからなる略円筒形状の孔である開口部(ゲートホール)15が得られた(図3(g))。 (S38) Next, through the first opening 15A of the gate electrode 14, the interlayer insulating film 13L is dry-etched by reactive ion etching (RIE) to form the second opening 15B so that the composite layer 12L is exposed. Formed. As a result, an opening (gate hole) 15, which is a substantially cylindrical hole composed of the first and second openings 15 </ b> A and 15 </ b> B having a diameter of 60 μm, was obtained (FIG. 3G).

(S39)次に、エッチャント:10%HCl水溶液を用いたウェットエッチング法により、開口部15の底部に露出した複合層12L上層部のマトリックスを虚弱化させた(図4(h))。 (S39) Next, the matrix of the upper portion of the composite layer 12L exposed at the bottom of the opening 15 was weakened by wet etching using an etchant: 10% aqueous HCl (FIG. 4 (h)).

(S3a)その後、エッチングされた複合層12Lの表面で各々のカーボンナノチューブが一様にほぼ垂直に起立するように、カーボンナノチューブの配向処理を行い、微小電子源装置とした(図4(i))。 (S3a) Thereafter, the carbon nanotubes are aligned so that the carbon nanotubes stand up almost vertically on the surface of the etched composite layer 12L, thereby obtaining a micro electron source device (FIG. 4 (i)). ).

この微小電子源装置サンプルを用いて、図6に示す構成の平面型表示装置を組み立て、以下の条件でディスプレイ(透明基板21)上で発生する輝点を目視で観察し、その数をカウントした。
・観察画面サイズ:対角2インチ
・アノード電極−カソード電極間距離:1.1mm
・アノード電圧:6.6kV
・ゲート電圧:42V
・カソード電圧:GND
A flat display device having the configuration shown in FIG. 6 was assembled using this micro electron source device sample, and bright spots generated on the display (transparent substrate 21) were visually observed under the following conditions, and the number was counted. .
・ Observation screen size: 2 inches diagonal ・ Distance between anode and cathode: 1.1 mm
・ Anode voltage: 6.6 kV
・ Gate voltage: 42V
・ Cathode voltage: GND

(実施例2)
微小電子源装置の第2の実施の形態に準じてサンプルを作製した。すなわち、実施例1において、ステップS34,37,38それぞれに代えて以下に示すステップS44,47,48の処理を行い、それ以外は実施例1と同じ条件で平面型表示装置を組み立て、評価を行った。
(Example 2)
A sample was fabricated according to the second embodiment of the micro electron source device. That is, in the first embodiment, the following steps S44, 47, and 48 are performed instead of the steps S34, 37, and 38, respectively, and the flat display device is assembled and evaluated under the same conditions as in the first embodiment. went.

(S44)複合層32L上にレジスト材料層をスピンコート法にて全面に成膜した後、リソグラフィー技術に基づき、複合層32Lのうち残されるべき領域以外の表面が露出したマスク層を形成した。このとき、帯の幅65μm、スリット幅20μmのスリットのある帯形状の複合層32Lが1サブピクセルとして形成されるようにマスク層を形成した。
ついで露出した複合層32L領域を、HClを用いてエッチングし、複合層32Lをスリットのある帯形状に加工した。
(S44) After a resist material layer was formed on the entire surface of the composite layer 32L by spin coating, a mask layer was formed on the entire surface of the composite layer 32L other than the region to be left, based on the lithography technique. At this time, the mask layer was formed so that a band-shaped composite layer 32L having a slit with a band width of 65 μm and a slit width of 20 μm was formed as one subpixel.
Next, the exposed composite layer 32L region was etched using HCl, and the composite layer 32L was processed into a strip shape having a slit.

(S47)導電膜34L上にレジストマスク層を形成し、このレジストマスク層を利用して反応性イオンエッチング(RIE)により導電膜34Lの所定部位をエッチング加工することにより、層間絶縁膜33L上でストライプ形状のゲート電極34とするとともに、このゲート電極34を貫通する溝である第1の開口部を形成した。 (S47) A resist mask layer is formed on the conductive film 34L, and a predetermined portion of the conductive film 34L is etched by reactive ion etching (RIE) using the resist mask layer, whereby the interlayer insulating film 33L is formed. A stripe-shaped gate electrode 34 was formed, and a first opening which was a groove penetrating the gate electrode 34 was formed.

(S48)つぎに、ゲート電極34の第1の開口部を通して層間絶縁膜33Lを反応性イオンエッチング(RIE)のドライエッチング加工により、複合層32Lが露出するように第2の開口部を形成した。これにより、溝幅60μmの第1,第2の開口部からなる断面形状が略矩形の溝である開口部35が得られた。 (S48) Next, the second opening is formed so that the composite layer 32L is exposed through dry etching processing of the interlayer insulating film 33L through the first opening of the gate electrode 34 by reactive ion etching (RIE). . As a result, an opening portion 35 having a substantially rectangular groove in cross section formed by the first and second opening portions having a groove width of 60 μm was obtained.

(比較例)
実施例1において、微小電子源層を従来の形状(円形状)とし、開口部の直径を20μm、絶縁層の厚みを2.5,3.5,7μmの3種類として、それ以外は実施例1と同じ条件で平面型表示装置を組み立て、評価を行った。
(Comparative example)
In Example 1, the micro electron source layer has a conventional shape (circular shape), the opening has a diameter of 20 μm, and the insulating layer has a thickness of 2.5, 3.5, and 7 μm. The flat display device was assembled under the same conditions as in No. 1 and evaluated.

以上の結果を表1に示す。
実施例1,2ではいずれも比較例よりも輝点の優れた抑制効果が認められ、とくにアスペクト比(絶縁層の厚みと開口部の直径あるいは溝幅との比)が1:6以上では輝点ゼロであった。
The results are shown in Table 1.
In each of Examples 1 and 2, an excellent suppression effect of the bright spot was recognized as compared with the comparative example. The point was zero.

Figure 2006164835
Figure 2006164835

本発明に係る微小電子源装置の第1の実施の形態における構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the structure in 1st Embodiment of the micro electron source device which concerns on this invention. 本発明の微小電子源装置の製造工程図(1)である。It is a manufacturing-process figure (1) of the micro electron source device of this invention. 本発明の微小電子源装置の製造工程図(2)である。It is a manufacturing process figure (2) of the micro electron source device of this invention. 本発明の微小電子源装置の製造工程図(3)である。It is a manufacturing-process figure (3) of the micro electron source apparatus of this invention. 本発明に係る微小電子源装置の第2の実施の形態における構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the structure in 2nd Embodiment of the micro electron source device which concerns on this invention. 本発明の微小電子源装置を使用した平面型表示装置の構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the flat type display apparatus which uses the micro electron source device of this invention. 本発明の微小電子源装置を使用した平面型表示装置の構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the structure of the flat type display apparatus which uses the micro electron source device of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1・・・カソードパネル、2・・・アノードパネル、10,30・・・基板、11,31・・・カソード電極、11L,14L・・・導電膜、12,32・・・微小電子源層、12L・・・複合層、12a,32a・・・カーボンナノチューブ、12b,32b・・・マトリクス、13,33・・・絶縁層、13L・・・層間絶縁膜、14,34・・・ゲート電極、15,35・・・開口部、15A・・・第1の開口部、15B・・・第2の開口部、16・・・貫通孔、17・・・チップ管、18・・・カソード電極制御回路、19・・・ゲート電極制御回路、20・・・アノード電極制御回路、21・・・透明基板、22,22R,22G,22B・・・蛍光体層、23・・・ブラックマトリクス、24・・・アノード電極


DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Cathode panel, 2 ... Anode panel, 10, 30 ... Board | substrate, 11, 31 ... Cathode electrode, 11L, 14L ... Conductive film, 12, 32 ... Micro electron source layer , 12L ... Composite layer, 12a, 32a ... Carbon nanotube, 12b, 32b ... Matrix, 13, 33 ... Insulating layer, 13L ... Interlayer insulating film, 14, 34 ... Gate electrode , 15, 35 ... opening, 15A ... first opening, 15B ... second opening, 16 ... through hole, 17 ... tip tube, 18 ... cathode electrode Control circuit, 19 ... Gate electrode control circuit, 20 ... Anode electrode control circuit, 21 ... Transparent substrate, 22, 22R, 22G, 22B ... Phosphor layer, 23 ... Black matrix, 24 ... Anode electrode


Claims (7)

基板上にカソード電極、絶縁層、ゲート電極が順に積層されてなり、前記ゲート電極及び絶縁層を貫通して形成された開口部と、該開口部の底部に形成され導電性のマトリクスと一端が突出した状態で前記マトリクスに埋まったカーボンナノチューブとからなる微小電子源層とを備える微小電子源装置において、
前記開口部は略円柱形状の孔であり、前記微小電子源層は前記開口部の円形底部と同心のドーナツ形状の層であることを特徴とする微小電子源装置。
A cathode electrode, an insulating layer, and a gate electrode are sequentially stacked on a substrate, an opening formed through the gate electrode and the insulating layer, a conductive matrix formed at the bottom of the opening, and one end In a micro electron source device comprising a micro electron source layer composed of carbon nanotubes embedded in the matrix in a protruding state,
The micro electron source device, wherein the opening is a substantially cylindrical hole, and the micro electron source layer is a donut-shaped layer concentric with a circular bottom of the opening.
前記微小電子源層の内径領域は、平面型表示装置としてアノード電圧を印加した場合に生じる電界成分についてゲート電極ではカットオフできない前記微小電子源層上の領域であることを特徴とする請求項1に記載の微小電子源装置。   2. An inner diameter region of the minute electron source layer is a region on the minute electron source layer that cannot be cut off by a gate electrode with respect to an electric field component generated when an anode voltage is applied as a flat display device. The micro electron source device described in 1. 前記開口部の深さと底部直径との比が1:6以上であることを特徴とする請求項1に記載の微小電子源装置。   2. The micro-electron source device according to claim 1, wherein a ratio between the depth of the opening and the bottom diameter is 1: 6 or more. 基板上にカソード電極、絶縁層、ゲート電極が順に積層されてなり、前記ゲート電極及び絶縁層を貫通して形成された開口部と、該開口部の底部に形成され導電性のマトリクスと一端が突出した状態で前記マトリクスに埋まったカーボンナノチューブとからなる微小電子源層とを備える微小電子源装置において、
前記開口部は断面形状が略矩形の溝であり、前記微小電子源層は前記溝の幅方向の中央に中空のスリットが入った前記溝の長手方向に延びる帯形状の層であることを特徴とする微小電子源装置。
A cathode electrode, an insulating layer, and a gate electrode are sequentially stacked on the substrate. An opening formed through the gate electrode and the insulating layer, a conductive matrix formed at the bottom of the opening, and one end In a micro electron source device comprising a micro electron source layer composed of carbon nanotubes embedded in the matrix in a protruding state,
The opening is a groove having a substantially rectangular cross section, and the micro-electron source layer is a band-shaped layer extending in the longitudinal direction of the groove with a hollow slit in the center in the width direction of the groove. A micro-electron source device.
前記微小電子源層のスリット領域は、平面型表示装置としてアノード電圧を印加した場合に生じる電界成分についてゲート電極ではカットオフできない前記微小電子源層上の領域であることを特徴とする請求項4に記載の微小電子源装置。   5. The slit region of the micro electron source layer is a region on the micro electron source layer that cannot be cut off by a gate electrode with respect to an electric field component generated when an anode voltage is applied as a flat display device. The micro electron source device described in 1. 前記開口部の深さと溝幅との比が1:6以上であることを特徴とする請求項4に記載の微小電子源装置。   5. The micro-electron source device according to claim 4, wherein the ratio of the depth of the opening to the groove width is 1: 6 or more. 請求項1〜6のいずれか一に記載の微小電子源装置が平面上に複数形成されたカソードパネルと、前記微小電子源装置に対向する蛍光体層とアノード電極を有するアノードパネルとを備えることを特徴とする平面型表示装置。   A micro electron source device according to any one of claims 1 to 6, comprising a plurality of cathode panels formed on a plane, and an anode panel having a phosphor layer and an anode electrode facing the micro electron source device. A flat display device characterized by the above.
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