JP2006084682A - Pixel circuit and display device - Google Patents

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慎 浅野
Akira Yumoto
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a pixel circuit and a display device, wherein a current of a desired value can be stably and accurately supplied to a light emitting element in each pixel independently of the variance in threshold of active elements in pixels to prevent a gradient of luminance in a display image and an image of high quality can be displayed as a result. <P>SOLUTION: A first scan driver 104 and a second scan driver 105 set a drive signal VDRL of drive lines DRL101 to DRL10m, a drive signal VSCNL of scan lines SCNL101 to SCNL10m, and a drive signal VAZL of auto-zero lines AZL101 to AZL10m so as to satisfy a relation Von1>Von2, whereby a diving voltage and a switch resistance are optimized. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、有機EL(Electroluminescence )表示装置およびLCD(液晶表示装置)などのアクティブマトリクス表示装置を含む信号線によって輝度が制御される電気光学素子を有する画素回路、並びにこの画素回路がマトリクス状に配列された画像表示装置における配線構造と配置および回路に関するものである。   The present invention relates to a pixel circuit having an electro-optical element whose luminance is controlled by a signal line including an active matrix display device such as an organic EL (Electroluminescence) display device and an LCD (Liquid Crystal Display device), and the pixel circuit in a matrix form. The present invention relates to a wiring structure, an arrangement, and a circuit in an arranged image display device.

アクティブマトリクス型表示装置において、画素の表示素子として、液晶セルや有機EL素子等の電気光学素子が用いられる。
そのうち、有機EL素子は有機材料からなる層、すなわち有機層を電極で挟み込んだ構造を有している。
この有機EL素子では、当該素子に電圧を印加することにより、陰極から電子が、陽極から正孔が有機層に注入され、その結果電子・正孔が再結合し、発光が生じる。この有機EL素子は以下のような特長を持っている。
In an active matrix display device, an electro-optical element such as a liquid crystal cell or an organic EL element is used as a display element of a pixel.
Among them, the organic EL element has a structure in which a layer made of an organic material, that is, an organic layer is sandwiched between electrodes.
In this organic EL element, by applying a voltage to the element, electrons from the cathode and holes from the anode are injected into the organic layer. As a result, the electrons and holes are recombined to generate light. This organic EL element has the following features.

(1)10V以下の低電圧駆動で、数100〜数10000cd/m2 の輝度が得られることから低消費電力化が可能である。
(2)自発光素子であることから画像のコントラストが高く、応答速度も速いことから視認性が良く、動画表示にも適している。
(3)シンプルな構造を持つ全固体型素子であり、素子の高信頼性化、薄型化が可能である。
(1) Since a luminance of several hundreds to several 10000 cd / m 2 can be obtained by driving at a low voltage of 10 V or less, power consumption can be reduced.
(2) Since it is a self-luminous element, it has a high image contrast and a high response speed, so that it has good visibility and is suitable for displaying moving images.
(3) It is an all solid state element having a simple structure, and the element can be made highly reliable and thin.

これらの特長を持つ有機EL素子を画素の表示素子として用いた有機EL表示装置(以下、有機ELディスプレイと記す)は、次世代のフラットパネルディスプレイとして有望視されている。   An organic EL display device using an organic EL element having these features as a pixel display element (hereinafter referred to as an organic EL display) is considered promising as a next-generation flat panel display.

ところで、有機ELディスプレイの駆動方式として、単純マトリクス方式とアクティブマトリクス方式とが挙げられる。これらの方式のうち、アクティブマトリクス方式には、以下のような特長がある。   By the way, as a driving method of the organic EL display, there are a simple matrix method and an active matrix method. Among these methods, the active matrix method has the following features.

(1)各画素における有機EL素子の発光を1フレーム期間に亘って保持できるアクティブマトリクス方式は、有機ELディスプレイの高精細化・高輝度化に適している。
(2)基板(パネル)上に、薄膜トランジスタを用いた周辺回路を作成することが可能であるため、パネル外部とのインターフェイスの簡素化、パネルの高機能化が可能である。
(1) An active matrix system that can hold light emission of an organic EL element in each pixel for one frame period is suitable for high definition and high luminance of an organic EL display.
(2) Since a peripheral circuit using a thin film transistor can be formed on a substrate (panel), the interface with the outside of the panel can be simplified and the function of the panel can be enhanced.

このアクティブマトリクス型有機ELディスプレイでは、アクティブ素子であるトランジスタには、ポリシリコンを活性層としたポリシリコン薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor ;TFT) を用いるのが一般的である。
その理由は、ポリシリコンTFTは駆動能力が高く、画素サイズを小さく設計できることによって高精細化に有利だからである。
In this active matrix organic EL display, a polysilicon thin film transistor (TFT) having polysilicon as an active layer is generally used as a transistor as an active element.
This is because the polysilicon TFT has a high driving capability and can be designed to have a small pixel size, which is advantageous for high definition.

ところで、ポリシリコンTFTは上述したような特長を持つ反面、特性のばらつきが大きいことも広く知られている。
したがって、ポリシリコンTFTを用いる場合、その特性ばらつきを抑えること、また回路的にTFTの特性ばらつきを補償することは、ポリシリコンTFTを用いたアクティブマトリクス型有機ELディスプレイにおける大きな課題である。これは、次のような理由による。
By the way, it is well known that the polysilicon TFT has the above-mentioned features, but has a large variation in characteristics.
Therefore, in the case of using a polysilicon TFT, it is a big problem in an active matrix type organic EL display using a polysilicon TFT to suppress the characteristic variation and to compensate for the TFT characteristic variation in a circuit. This is due to the following reason.

すなわち、画素の表示素子として液晶セルを用いた液晶ディスプレイでは、各画素の輝度データを電圧値によって制御する構成が採られるのに対して、有機ELディスプレイでは、各画素の輝度データを電流値によって制御する構成が採られるからである。   That is, in a liquid crystal display using a liquid crystal cell as a pixel display element, the luminance data of each pixel is controlled by a voltage value, whereas in an organic EL display, the luminance data of each pixel is controlled by a current value. It is because the structure to control is taken.

ここで、アクティブマトリクス型有機ELディスプレイの概要について説明する。
図1は、一般的なアクティブマトリクス型有機ELディスプレイの構成の概略を示す図であり、図2は、アクティブマトリクス型有機ELディスプレイの画素回路の構成例を示す回路図である(たとえば、特許文献1、2参照)。
Here, an outline of the active matrix organic EL display will be described.
FIG. 1 is a diagram illustrating an outline of a configuration of a general active matrix organic EL display, and FIG. 2 is a circuit diagram illustrating a configuration example of a pixel circuit of an active matrix organic EL display (for example, Patent Documents). 1 and 2).

アクティブマトリクス型有機ELディスプレイ1は、m×n個の画素回路10がマトリクス状に配列され、これら画素PXのマトリクス配列に対してデータドライバ(DDRV)2によって駆動されるn列分の信号線SGL1〜SGLnが画素列毎に、スキャンドライバ(SDRV)3によって駆動されるm行分の走査線SCNL1〜SCNLmが画素行毎にそれぞれ配線されている。   The active matrix organic EL display 1 includes m × n pixel circuits 10 arranged in a matrix, and signal lines SGL1 for n columns driven by a data driver (DDRV) 2 with respect to the matrix arrangement of the pixels PX. ... SGLn is wired for each pixel column, and m rows of scanning lines SCNL1 to SCNLm driven by the scan driver (SDRV) 3 are wired for each pixel row.

また、画素回路10は、図2に示すように、pチャネルTFT11、nチャネルTFT12、およびキャパシタC11、および有機EL素子(OLED)からなる発光素子13を有する。
各画素回路10のTFT11は、ソースが電源電位線VCCLに、ゲートがTFT12のドレインにそれぞれ接続されている。有機EL発光素子13は、アノードがTFT11のドレインに、カソードが基準電位(たとえば、グランド電位)GNDにそれぞれ接続されている。
各画素回路10のTFT12は、ソースが対応する列の信号線SGL1〜SGLnに、ゲートが対応する行の走査線SCNL1〜SCNLmにそれぞれ接続されている。
キャパシタC11は、一端が電源電位線VCCLに、他端がTFT12のドレインにそれぞれ接続されている。
Further, as shown in FIG. 2, the pixel circuit 10 includes a p-channel TFT 11, an n-channel TFT 12, a capacitor C11, and a light emitting element 13 including an organic EL element (OLED).
The TFT 11 of each pixel circuit 10 has a source connected to the power supply potential line VCCL and a gate connected to the drain of the TFT 12. The organic EL light emitting element 13 has an anode connected to the drain of the TFT 11 and a cathode connected to a reference potential (for example, ground potential) GND.
The TFT 12 of each pixel circuit 10 is connected to the signal lines SGL1 to SGLn of the column corresponding to the source, and to the scanning lines SCNL1 to SCNLm of the row corresponding to the gate.
The capacitor C11 has one end connected to the power supply potential line VCCL and the other end connected to the drain of the TFT 12.

なお、有機EL素子は多くの場合整流性があるため、OLED(Organic Light Emitting Diode)と呼ばれることがあり、図2その他では発光素子としてダイオードの記号を用いているが、以下の説明においてはOLEDに必ずしも整流性を要求するものではない。   Since organic EL elements often have rectifying properties, they are sometimes referred to as OLEDs (Organic Light Emitting Diodes). In FIG. 2 and other figures, diode symbols are used as light-emitting elements. However, it does not necessarily require rectification.

このような構成を有する画素回路10において、輝度データの書き込みを行う画素では、当該画素を含む画素行がスキャンドライバ3によって走査線SCNLを介して選択されることで、その行の画素のTFT12がオンする。
このとき、輝度データはデータドライバ2から信号線SGLを介して電圧で供給され、TFT12を通してデータ電圧を保持するキャパシタC11に書き込まれる。
キャパシタC11に書き込まれた輝度データは、1フィールド期間に亘って保持される。この保持されたデータ電圧は、TFT11のゲートに印加される。
これにより、TFT11は、保持データに従って有機EL素子13を電流で駆動する。このとき、有機EL発光素子13の階調表現は、キャパシタC11によって保持されるTFT11のゲート・ソース間電圧Vdata(<0)を変調することによって行われる。
In the pixel circuit 10 having such a configuration, in a pixel to which luminance data is written, a pixel row including the pixel is selected by the scan driver 3 via the scanning line SCNL, so that the TFT 12 of the pixel in the row can be selected. Turn on.
At this time, the luminance data is supplied as a voltage from the data driver 2 through the signal line SGL, and is written into the capacitor C11 that holds the data voltage through the TFT 12.
The luminance data written in the capacitor C11 is held for one field period. The held data voltage is applied to the gate of the TFT 11.
Thereby, TFT11 drives the organic EL element 13 with an electric current according to holding | maintenance data. At this time, gradation expression of the organic EL light emitting element 13 is performed by modulating the gate-source voltage Vdata (<0) of the TFT 11 held by the capacitor C11.

一般に、有機EL素子の輝度Loledは、当該素子に流れる電流Ioledに比例する。したがって、有機EL発光素子13の輝度Loledと電流Ioledとの間には次式(1)が成り立つ。   In general, the luminance Loled of the organic EL element is proportional to the current Ioled flowing through the element. Therefore, the following equation (1) is established between the luminance Loled of the organic EL light emitting element 13 and the current Ioled.

(数1)
Loled∝Ioled=k(Vdata−Vth)2 (1)
(Equation 1)
Loled∝Ioled = k (Vdata−Vth) 2 (1)

式(1)において、k=1/2・μ・Cox・W/Lである。ここで、μはTFT11のキャリアの移動度、CoxはTFT11の単位面積当たりのゲート容量、WはTFT11のゲート幅、LはTFT11のゲート長である。
したがって、TFT11の移動度μ、しきい値電圧Vth(<0)のばらつきが、直接的に、有機EL発光素子13の輝度ばらつきに影響を与えることがわかる。
In Equation (1), k = 1/2 · μ · Cox · W / L. Here, μ is the carrier mobility of the TFT 11, Cox is the gate capacitance per unit area of the TFT 11, W is the gate width of the TFT 11, and L is the gate length of the TFT 11.
Therefore, it can be seen that the variation in mobility μ and threshold voltage Vth (<0) of the TFT 11 directly affects the luminance variation of the organic EL light emitting element 13.

この場合、たとえば異なる画素に対して同じ電位Vdataを書き込んでも、画素によってTFT11のしきい値Vthがばらつく結果、発光素子(OLED)13に流れる電流Ioledは画素毎に大きくばらついて全く所望の値からはずれる結果となり、ディスプレイとして高い画質を期待することはできない。   In this case, for example, even when the same potential Vdata is written to different pixels, the threshold voltage Vth of the TFT 11 varies from pixel to pixel. As a result, the current Ioled flowing through the light emitting element (OLED) 13 varies greatly from pixel to pixel and is completely different from the desired value. As a result, the display cannot be expected to have high image quality.

この問題を改善するため多数の画素回路が提案されているが、代表例を図3に示す(たとえば特許文献3、または特許文献4参照)。   A number of pixel circuits have been proposed in order to improve this problem. A typical example is shown in FIG. 3 (see, for example, Patent Document 3 or Patent Document 4).

図3の画素回路20は、pチャネルTFT21、nチャネルTFT22〜24、キャパシタC21,C22、発光素子である有機EL発光素子25を有する。また、図3において、SGLは信号線を、SCNLは走査線を、AZLはオートゼロ線を、DRVLは駆動線をそれぞれ示している。
この画素回路20の動作について、図4に示すタイミングチャートを参照しながら以下に説明する。
The pixel circuit 20 in FIG. 3 includes a p-channel TFT 21, n-channel TFTs 22 to 24, capacitors C21 and C22, and an organic EL light emitting element 25 that is a light emitting element. In FIG. 3, SGL indicates a signal line, SCNL indicates a scanning line, AZL indicates an auto-zero line, and DRVL indicates a drive line.
The operation of the pixel circuit 20 will be described below with reference to the timing chart shown in FIG.

図4(A),(B)に示すように、駆動線DRVL、オートゼロ線AZLをハイレベルとし、TFT22およびTFT23を導通状態とする。このときTFT21はダイオード接続された状態で発光素子(OLED)25と接続されるため、TFT21に電流が流れる。   As shown in FIGS. 4A and 4B, the drive line DRVL and the auto-zero line AZL are set to high level, and the TFTs 22 and 23 are turned on. At this time, since the TFT 21 is connected to the light emitting element (OLED) 25 in a diode-connected state, a current flows through the TFT 21.

次に、図4(A)に示すように、駆動線DRVLをローレベルとし、TFT22を非導通とする。このとき走査線SCNLは、図4(C)に示すように、ハイレベルでTFT24が導通状態とされ、信号線SGLには、図4(D)に示すように、基準電位Vref が与えられる。TFT21に流れる電流が遮断されるため、図4(E)に示すようにTFT21のゲート電位Vgは上昇するが、その電位がVDD-|Vth| まで上昇した時点でTFT21は非導通状態となって電位が安定する。この動作を以後、「オートゼロ動作」と称することがある。   Next, as shown in FIG. 4A, the drive line DRVL is set to low level, and the TFT 22 is turned off. At this time, the scanning line SCNL is at a high level as shown in FIG. 4C, and the TFT 24 is in a conductive state, and the reference potential Vref is applied to the signal line SGL as shown in FIG. 4D. Since the current flowing through the TFT 21 is cut off, the gate potential Vg of the TFT 21 rises as shown in FIG. 4E. However, when the potential rises to VDD− | Vth | Potential stabilizes. Hereinafter, this operation may be referred to as “auto-zero operation”.

図4(B),(D)に示すように、オートゼロ線AZLをローレベルとしてTFT23を非導通状態とし、信号線SGLの電位をVref からΔVdata だけ低い電位とする。この信号線電位の変化は、図4(E)に示すように、キャパシタC21を介してTFT21のゲート電位をΔVgだけ低下させる。   As shown in FIGS. 4B and 4D, the auto zero line AZL is set to a low level to turn off the TFT 23, and the potential of the signal line SGL is set to a potential that is lower than Vref by ΔVdata. This change in the signal line potential lowers the gate potential of the TFT 21 by ΔVg through the capacitor C21, as shown in FIG.

図4(A),(C)に示すように、走査線SCNLをローレベルとしてTFT24を非導通状態とし、駆動線DRVLをハイレベルとしてTFT22を導通状態とすると、TFT21および発光素子(OLED)25に電流が流れ、発光素子25が発光を開始する。   As shown in FIGS. 4A and 4C, when the TFT 24 is turned off by setting the scanning line SCNL to the low level and the TFT 22 is turned on by setting the drive line DRVL to the high level, the TFT 21 and the light emitting element (OLED) 25 are turned on. Current flows, and the light emitting element 25 starts to emit light.

寄生容量が無視できるとすれば、ΔVgおよびTFT21のゲート電位Vgはそれぞれ次のようになる。   If the parasitic capacitance can be ignored, ΔVg and the gate potential Vg of the TFT 21 are as follows.

(数2)
ΔVg=ΔVdata×C1/(C1+C2) …(2)
(Equation 2)
ΔVg = ΔVdata × C1 / (C1 + C2) (2)

(数3)
Vg=VCC−|Vth|−ΔVdata×C1/(C1+C2)…(3)
(Equation 3)
Vg = V CC − | Vth | −ΔVdata × C1 / (C1 + C2) (3)

ここで、C1はキャパシタC21の容量値、C2はキャパシタC22の容量値をそれぞれ示している。   Here, C1 indicates the capacitance value of the capacitor C21, and C2 indicates the capacitance value of the capacitor C22.

一方、発光時に発光素子(OLED)25に流れる電流をIoledとすると、これは発光素子25と直列に接続されるTFT21によって電流値が制御される。TFT21が飽和領域で動作すると仮定すれば、良く知られたMOSトランジスタの式および上記(3)式を用いて次の関係を得る。   On the other hand, if the current flowing through the light emitting element (OLED) 25 during light emission is Ioled, the current value is controlled by the TFT 21 connected in series with the light emitting element 25. Assuming that the TFT 21 operates in the saturation region, the following relationship is obtained using the well-known MOS transistor equation and the above equation (3).

(数4)
Ioled=μCoxW/L/2(VCC−Vg−|Vth|)2
=μCoxW/L/2(ΔVdata×C1/(C1+C2))2
…(4)
(Equation 4)
Ioled = μCoxW / L / 2 (V CC −Vg− | Vth |) 2
= ΜCoxW / L / 2 (ΔVdata × C1 / (C1 + C2)) 2
(4)

ここで、μはキャリアの移動度、Coxは単位面積当たりのゲート容量、Wはゲート幅、Lはゲート長をそれぞれ示している。   Here, μ represents carrier mobility, Cox represents gate capacitance per unit area, W represents gate width, and L represents gate length.

(4)式によれば、IoledはTFT21のしきい値Vthによらず、外部から与えられるΔVdataによって制御される。言い換えれば、図3の画素回路20を用いれば、画素毎にばらつくしきい値Vthの影響を受けず、電流の均一性、ひいては輝度の均一性が比較的高い表示装置を実現することができる。   According to the equation (4), Ioled is controlled by ΔVdata given from the outside regardless of the threshold value Vth of the TFT 21. In other words, if the pixel circuit 20 of FIG. 3 is used, it is possible to realize a display device that is relatively unaffected by the threshold value Vth that varies from pixel to pixel and that has a relatively high current uniformity and, consequently, luminance uniformity.

USP5,684,365USP 5,684,365 特開平8−234683号公報JP-A-8-234683 USP6,229,506USP 6,229,506 特表2002−514320号公報のFIG.3Fig. 1 of JP-T-2002-514320. 3

上述のように、図2のような画素回路10を用いた場合、トランジスタのしきい値Vthのばらつきなどのため、画素間の輝度の均一性が損なわれ、高品位の表示装置を構成することは困難である。
ここで、図2において、トランジスタ11の特性ばらつきのみならず、トランジスタ12の特性ばらつきも、画素間の輝度の均一性を損ねることから注意すべきである。何となれば、輝度データがトランジスタ12を介してデータ線から書き込まれた後、トランジスタ12が非導通となる際、そのチャネル電荷の一部がトランジスタ11のゲートノードに流入するが、その量はトランジスタ11の特性や、トランジスタ11のゲート制御信号の変化速度に依存するためである。
As described above, when the pixel circuit 10 as shown in FIG. 2 is used, the luminance uniformity between the pixels is impaired due to variations in the threshold voltage Vth of the transistor, and a high-quality display device is configured. It is difficult.
Here, in FIG. 2, it should be noted that not only the characteristic variation of the transistor 11 but also the characteristic variation of the transistor 12 impairs the luminance uniformity between the pixels. What happens is that after the luminance data is written from the data line through the transistor 12, when the transistor 12 becomes non-conductive, part of its channel charge flows into the gate node of the transistor 11, but the amount of the transistor is the amount of the transistor This is because it depends on the characteristics of the transistor 11 and the change speed of the gate control signal of the transistor 11.

一方、図3の画素回路を用いれば、輝度の均一性が比較的高い表示装置を実現することが可能であるが、これには次のような問題がある。   On the other hand, if the pixel circuit of FIG. 3 is used, a display device with relatively high luminance uniformity can be realized, but this has the following problems.

第2の問題は、図3の画素回路20に関する上記動作説明は理想的なものであって、実際には、発光素子(OLED)25を駆動するTFT21のVthのばらつきの影響が無くなるわけではない。
これは、オートゼロ線AZLとTFT21のゲートノードがTFT23のゲート容量によって結合されており、オートゼロ線AZLが高レベルへ遷移してTFT23が非導通状態となる過程において、TFT23のチャネル電荷がTFT21のゲートノードに流入するためである。この理由を次に説明する。
The second problem is that the above description of the operation relating to the pixel circuit 20 of FIG. 3 is ideal, and in practice, the influence of the variation in Vth of the TFT 21 that drives the light emitting element (OLED) 25 is not eliminated. .
This is because the auto zero line AZL and the gate node of the TFT 21 are coupled by the gate capacitance of the TFT 23, and the channel charge of the TFT 23 becomes the gate of the TFT 21 in the process in which the auto zero line AZL transitions to a high level and the TFT 23 becomes non-conductive. This is because it flows into the node. The reason for this will be described next.

すなわち、オートゼロ動作終了後、TFT21のゲート電位は理想的にはVDD-|Vth| であるべきであるが、上記電荷の流入によって実際にはそれよりやや高い電位となり、なおかつこの電荷の流入量はVthの値によって変動する。なぜなら、オートゼロ動作終了直前におけるTFT21のゲート電位はほぼVDD-|Vth| である。したがって、この電位は|Vth| がたとえば小さい程高い。
一方、オートゼロ動作終了時、オートゼロ線AZLの電位が上昇してTFT23が非導通に転ずる際、そのソース電位、すなわちTFT21のゲート電位が高い程、TFT23が非導通になるタイミングが遅れるため、より多くの電荷がTFT21のゲートに流入することになる。結果としてオートゼロ動作終了後のTFT21のゲート電位が|Vth| の影響を受けるため、前述の(3)式や(4)式が厳密には成立せず、画素毎にばらつくVthの影響を受けることになる。
That is, the gate potential of the TFT 21 should ideally be VDD− | Vth | after the completion of the auto-zero operation, but actually becomes a slightly higher potential due to the inflow of the charge, and the inflow amount of the charge is It varies depending on the value of Vth. This is because the gate potential of the TFT 21 immediately before the end of the auto-zero operation is approximately VDD− | Vth |. Therefore, this potential is higher as | Vth | is smaller, for example.
On the other hand, when the auto zero line ends, the potential of the auto zero line AZL rises and the TFT 23 switches to non-conduction, so that the higher the source potential, that is, the gate potential of the TFT 21, the more delayed the timing at which the TFT 23 becomes non-conduction, Will flow into the gate of the TFT 21. As a result, the gate potential of the TFT 21 after completion of the auto-zero operation is influenced by | Vth |, and thus the above-described equations (3) and (4) are not strictly established and are affected by Vth which varies from pixel to pixel. become.

そこで、本願発明者らは、図3に示すような、スイッチトランジスタによるノイズの影響を受けにくい画素回路を提案しているが、スイッチングノイズの影響が完全になくなるわけではない。   Therefore, the inventors of the present application have proposed a pixel circuit that is not easily affected by noise due to the switch transistor as shown in FIG. 3, but the influence of switching noise is not completely eliminated.

ところで、図3の画素回路に注目すると、1画素回路中に1つの駆動トランジスタ(TFT21)と3あるいは4つのスイッチングトランジスタが存在する。
この3つあるいはスイッチングトランジスタのゲートは、いくつかの走査線等の制御線に接続される。
この3または4つのスイッチングトランジスタのうち、TFT22は、有機EL発光素子(OLED)25に流れる電流経路(パス)のオン/オフを行う。
したがって、このスイッチがオンした時の抵抗(オン抵抗)は極力小さいことが好ましい。
この抵抗が大きい場合は、スイッチの抵抗による電圧降下によって、発光素子25に流れる電流を決定する駆動トランジスタであるTFT21のゲート- ソース間電圧Vgs、ドレイン- ソース間電圧Vdsが変動する。
その結果、発光素子25に流れる電流を正確に決定することができず、面内の電圧降下の分布によって面内輝度がばらつく、などの問題が生じる。
When attention is paid to the pixel circuit of FIG. 3, there is one drive transistor (TFT 21) and three or four switching transistors in one pixel circuit.
The gates of these three or switching transistors are connected to a number of control lines such as scanning lines.
Among these three or four switching transistors, the TFT 22 turns on / off a current path (path) flowing through the organic EL light emitting element (OLED) 25.
Therefore, the resistance (ON resistance) when this switch is turned on is preferably as small as possible.
When this resistance is large, the gate-source voltage Vgs and the drain-source voltage Vds of the TFT 21, which is a drive transistor that determines the current flowing through the light emitting element 25, vary due to a voltage drop due to the resistance of the switch.
As a result, the current flowing through the light emitting element 25 cannot be determined accurately, and problems such as in-plane brightness variation due to the distribution of the voltage drop in the surface occur.

一方、スイッチングトランジスタとしてのTFT23やTFT24は、データ信号やノード電圧の伝達パス等を形成することから、このスイッチングトランジスタのゲート電圧が大きく変動すると、ゲート容量や寄生容量によって、画素に保持されている電圧が変動する。
よって、このスイッチトランジスタが充放電するのに必要な抵抗となる電圧よりもゲート電位を大きく変動させることは好ましくない。
On the other hand, since the TFTs 23 and 24 as switching transistors form a transmission path for data signals and node voltages, when the gate voltage of the switching transistor fluctuates greatly, it is held in the pixel by the gate capacitance and the parasitic capacitance. The voltage fluctuates.
Therefore, it is not preferable to change the gate potential to be larger than the voltage that becomes the resistance necessary for charging and discharging the switch transistor.

これらのスイッチングトランジスタであるTFT22、TFT23、TFT24がすべてnチャネルであるとすると、TFT21はその制御線のオン電位は極力高いことが好ましく、TFT23やTFT24は、その制御線のオン電位が過剰に高いことは好ましくない。   If these switching transistors TFT22, TFT23, and TFT24 are all n-channel, it is preferable that the on-potential of the TFT 21 is as high as possible, and the on-potential of the TFT 23 and TFT24 is excessively high. That is not preferable.

本発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、画素内部の能動素子のしきい値のばらつきによらず、安定かつ正確に各画素の発光素子に所望の値の電流を供給でき、表示画像の輝度にむらができることを防止でき、その結果として高品位な画像を表示することが可能な画素回路、および表示装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to stably and accurately supply a current of a desired value to a light emitting element of each pixel regardless of variations in threshold values of active elements inside the pixel. An object of the present invention is to provide a pixel circuit and a display device that can be supplied and can prevent unevenness in luminance of a display image, and as a result, can display a high-quality image.

上記目的を達成するため、本発明の第1の観点は、流れる電流によって輝度が変化する電気光学素子を駆動する画素回路であって、少なくとも輝度情報に応じた信号が供給される信号線と、制御端子の電位に応じて上記電流供給ラインを流れる電流を制御する駆動トランジスタと、少なくとも第1および第2の制御線と、少なくとも第1および第2のスイッチングトランジスタと、第1および第2の基準電位と、を有し、上記1の基準電位と第2の基準電位の間に、上記電気光学素子に流れる電流の電流経路として、上記電気光学素子、駆動トランジスタ、少なくとも一つの第1のスイッチングトランジスタが直列に接続され、上記第1のスイッチトランジスタの制御端子が上記第1の制御線に接続され、上記第2のスイッチトランジスタは、上記電気光学素子に流れる電流の電流経路外に配置され、上記第2のスイッチングトランジスタの制御端子が上記第2の制御線に接続され、上記第1のスイッチングトランジスタと上記第2のスイッチングトランジスタが同一の導電型のトランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位と上記第2の制御線のオン電位は、上記第1のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値が上記第2のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値より小さくなるような値に設定されている。   In order to achieve the above object, a first aspect of the present invention is a pixel circuit that drives an electro-optical element whose luminance changes according to a flowing current, and at least a signal line to which a signal corresponding to luminance information is supplied; A drive transistor for controlling a current flowing through the current supply line in accordance with a potential of the control terminal, at least a first and a second control line, at least a first and a second switching transistor, and a first and a second reference; The electro-optic element, the drive transistor, and at least one first switching transistor as a current path of a current flowing through the electro-optic element between the first reference potential and the second reference potential Are connected in series, the control terminal of the first switch transistor is connected to the first control line, and the second switch transistor is The second switching transistor is disposed outside the current path of the current flowing through the electro-optic element, the control terminal of the second switching transistor is connected to the second control line, and the first switching transistor and the second switching transistor are the same. The on-potential of the first control line and the on-potential of the second control line are such that the resistance value when the first switching transistor is on is the on-state of the second switching transistor. The value is set to be smaller than the resistance value at the time.

好適には、上記第1のスイッチングトランジスタおよび第2のスイッチングトランジスタがnチャネル型トランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位が上記第2のオン電位より高く設定される。   Preferably, the first switching transistor and the second switching transistor are n-channel transistors, and the ON potential of the first control line is set higher than the second ON potential.

好適には、上記第1のスイッチングトランジスタおよび第2のスイッチングトランジスタがpチャネル型トランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位が上記第2のオン電位より低く設定される。   Preferably, the first switching transistor and the second switching transistor are p-channel transistors, and the ON potential of the first control line is set lower than the second ON potential.

好適には、上記電気光学素子が有機EL素子であり、上記駆動トランジスタ、第1および第2のスイッチングトランジスタが薄膜トランジスタである。   Preferably, the electro-optical element is an organic EL element, and the driving transistor and the first and second switching transistors are thin film transistors.

本発明の第2の観点は、流れる電流によって輝度が変化する電気光学素子を駆動する画素回路であって、少なくとも輝度情報に応じた信号が供給される信号線と、少なくとも第1および第2の制御線と、第1および第2の基準電位と、所定のプリチャージ電位と、電界効果トランジスタと、ノードと、上記電界効果トランジスタのソースと第1の基準電位との間に接続され、制御端子が上記第1の制御線に接続されて導通制御される第1のスイッチングトランジスタと、上記電界効果トランジスタのソースと上記ノードとの間に接続された第2のスイッチングトランジスタと、上記電界効果トランジスタのゲートと上記プリチャージ電位との間に接続された第3のスイッチングトランジスタと、上記信号線と上記ノードとの間に接続された第4のスイッチングトランジスタと、上記ノードと上記電界効果トランジスタのゲートとの間に接続された結合キャパシタと、を有し、上記電気光学素子は上記トランジスタのドレインと第2の基準電位との間に接続され、上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタの制御端子が上記第2の制御線に接続されて導通制御され、上記第1のスイッチングトランジスタと、制御端子が上記第2の制御線に接続された上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタとが同一の導電型のトランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位と上記第2の制御線のオン電位は、上記第1のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値が上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値より小さくなるような値に設定されている。   According to a second aspect of the present invention, there is provided a pixel circuit for driving an electro-optical element whose luminance is changed by a flowing current, a signal line to which a signal corresponding to at least luminance information is supplied, and at least first and second A control line is connected between the control line, the first and second reference potentials, a predetermined precharge potential, a field effect transistor, a node, the source of the field effect transistor and the first reference potential, and a control terminal Is connected to the first control line to be conductively controlled, a second switching transistor connected between the source of the field effect transistor and the node, and the field effect transistor A third switching transistor connected between a gate and the precharge potential; and a third switching transistor connected between the signal line and the node. And a coupling capacitor connected between the node and the gate of the field effect transistor, and the electro-optic element is connected between the drain of the transistor and a second reference potential. The control terminal of at least one switching transistor of the second, third, and fourth switching transistors is connected to the second control line for conduction control, and the first switching transistor and the control terminal are connected to the first switching transistor. At least one of the second, third, and fourth switching transistors connected to the second control line is a transistor of the same conductivity type, and the ON potential of the first control line and the second The on-potential of the control line has the second and third resistance values when the first switching transistor is on. Is set to the fourth least one smaller becomes such a value than the resistance value at the on-state of the switching transistor of the switching transistor.

本発明の第3の観点は、流れる電流によって輝度が変化する電気光学素子を駆動する画素回路であって、少なくとも輝度情報に応じた信号が供給される信号線と、少なくとも第1および第2の制御線と、第1および第2の基準電位と、所定のプリチャージ電位と、電界効果トランジスタと、ノードと、上記電界効果トランジスタのソースと上記電気光学素子との間に接続され、制御端子が上記第1の制御線に接続されて導通制御される第1のスイッチングトランジスタと、上記電界効果トランジスタのソースと上記ノードとの間に接続された第2のスイッチングトランジスタと、上記電界効果トランジスタのゲートと上記プリチャージ電位との間に接続された第3のスイッチングトランジスタと、上記信号線と上記ノードとの間に接続された第4のスイッチングトランジスタと、上記ノードと上記電界効果トランジスタのゲートとの間に接続された結合キャパシタと、を有し、上記電界効果トランジスタのドレインは第1の基準電位に接続され、上記電気光学素子は上記第1のスイッチングトランジスタと第2の基準電位との間に接続され、上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタの制御端子が上記第2の制御線に接続されて導通制御され、上記第1のスイッチングトランジスタと、制御端子が上記第2の制御線に接続された上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタとが同一の導電型のトランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位と上記第2の制御線のオン電位は、上記第1のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値が上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値より小さくなるような値に設定されている。   According to a third aspect of the present invention, there is provided a pixel circuit for driving an electro-optical element whose luminance is changed by a flowing current, a signal line to which a signal corresponding to at least luminance information is supplied, and at least first and second A control line; a first reference potential; a second reference potential; a predetermined precharge potential; a field effect transistor; a node; a source of the field effect transistor; and the electro-optic element; A first switching transistor connected to the first control line and controlled in conduction; a second switching transistor connected between a source of the field effect transistor and the node; and a gate of the field effect transistor. And a third switching transistor connected between the signal line and the node, and a third switching transistor connected between the signal line and the node. 4 and a coupling capacitor connected between the node and the gate of the field effect transistor, the drain of the field effect transistor is connected to a first reference potential, and the electro-optic element Is connected between the first switching transistor and the second reference potential, and the control terminal of at least one switching transistor of the second, third, and fourth switching transistors is connected to the second control line. The first switching transistor and the at least one switching transistor of the second, third, and fourth switching transistors whose control terminals are connected to the second control line have the same conductivity. Of the first control line and the second control line. Is set to a value such that the on-resistance value of the first switching transistor is smaller than the on-resistance value of at least one of the second, third, and fourth switching transistors. .

本発明の第4の観点は、流れる電流によって輝度が変化する電気光学素子を駆動する画素回路であって、少なくとも輝度情報に応じた信号が供給される信号線と、少なくとも第1および第2の制御線と、第1および第2の基準電位と、所定のプリチャージ電位と、電界効果トランジスタと、ノードと、上記電界効果トランジスタのドレインと上記電気光学素子との間に接続され、制御端子が上記第1の制御線に接続されて導通制御される第1のスイッチと、上記電界効果トランジスタのドレインとゲートとの間に接続された第2のスイッチと、上記ノードと上記プリチャージ電位との間に接続された第3のスイッチと、上記信号線と上記ノードとの間に接続された第4のスイッチと、上記ノードと上記電界効果トランジスタのゲートとの間に接続された結合キャパシタと、を有し、上記電界効果トランジスタのソースは第1の基準電位に接続され、上記電気光学素子は上記第1のスイッチと第2の基準電位との間に接続され、上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタの制御端子が上記第2の制御線に接続されて導通制御され、上記第1のスイッチングトランジスタと、制御端子が上記第2の制御線に接続された上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタとが同一の導電型のトランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位と上記第2の制御線の第2のオン電位は、上記第1のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値が上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値より小さくなるような値に設定されている。   According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a pixel circuit for driving an electro-optical element whose luminance is changed by a flowing current, a signal line to which a signal corresponding to at least luminance information is supplied, and at least first and second A control line; a first reference potential; a second reference potential; a predetermined precharge potential; a field effect transistor; a node; a drain of the field effect transistor; and the electro-optic element; A first switch connected to the first control line and controlled in conduction; a second switch connected between a drain and a gate of the field effect transistor; and the node and the precharge potential. A third switch connected in between, a fourth switch connected between the signal line and the node, and between the node and the gate of the field effect transistor; A coupling capacitor connected, wherein the source of the field effect transistor is connected to a first reference potential, the electro-optic element is connected between the first switch and a second reference potential, The control terminal of at least one switching transistor of the second, third, and fourth switching transistors is connected to the second control line to control conduction, and the first switching transistor and the control terminal are connected to the second control line. At least one of the second, third, and fourth switching transistors connected to the control line is a transistor of the same conductivity type, and the on-potential of the first control line and the second switching transistor The second ON potential of the control line is such that the resistance value when the first switching transistor is ON is the second, third, or fourth switching transistor. Is set to at least one of the smaller becomes such a value than the resistance value at the on-state of the switching transistor in register.

好適には、上記第1のスイッチングトランジスタおよび上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタがnチャネル型トランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位が上記第2のオン電位より高く設定される。   Preferably, at least one of the first switching transistor and the second, third, and fourth switching transistors is an n-channel transistor, and the ON potential of the first control line is the second switching transistor. Is set higher than the ON potential.

好適には、上記第1のスイッチングトランジスタおよび上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタがpチャネル型トランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位が上記第2のオン電位より低く設定される。   Preferably, at least one of the first switching transistor and the second, third, and fourth switching transistors is a p-channel transistor, and the ON potential of the first control line is the second switching transistor. Is set lower than the ON potential.

好適には、上記電気光学素子が有機EL素子であり、上記駆動トランジスタ、第1、第2、第3、および第4のスイッチングトランジスタが薄膜トランジスタである。   Preferably, the electro-optical element is an organic EL element, and the driving transistor, the first, second, third, and fourth switching transistors are thin film transistors.

本発明の第5の観点は、マトリクス状に複数配列された画素回路と、上記画素回路のマトリクス配列に対して列毎に配線され、少なくとも輝度情報に応じたデータ信号が供給される信号線と、上記画素回路のマトリクス配列に対して行毎に配線された少なくとも第1の制御線および第2の制御線と、上記第1の制御線の電位を設定する第1の駆動回路と、上記第2の制御線の電位を設定する第2の駆動回路と、を有し、上記各画素回路は、制御端子の電位に応じて上記電流供給ラインを流れる電流を制御する駆動トランジスタと、少なくとも第1および第2のスイッチングトランジスタと、第1および第2の基準電位と、を有し、上記1の基準電位と第2の基準電位の間に、上記電気光学素子に流れる電流の電流経路として、上記電気光学素子、駆動トランジスタ、少なくとも一つの第1のスイッチングトランジスタが直列に接続され、上記第1のスイッチトランジスタの制御端子が上記第1の制御線に接続され、上記第2のスイッチトランジスタは、上記電気光学素子に流れる電流の電流経路外に配置され、上記第2のスイッチングトランジスタの制御端子が上記第2の制御線に接続され、上記第1のスイッチングトランジスタと上記第2のスイッチングトランジスタが同一の導電型のトランジスタであり、上記第1および第2の駆動回路は、上記第1の制御線のオン電位と上記第2の制御線のオン電位とを、上記第1のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値が上記第2のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値より小さくなるような値に設定する。   According to a fifth aspect of the present invention, there are provided a plurality of pixel circuits arranged in a matrix, a signal line wired for each column to the matrix arrangement of the pixel circuits, and supplied with at least a data signal corresponding to luminance information , At least a first control line and a second control line wired for each row with respect to the matrix arrangement of the pixel circuit, a first drive circuit for setting the potential of the first control line, and the first A second driving circuit for setting a potential of the two control lines, and each of the pixel circuits includes a driving transistor for controlling a current flowing through the current supply line in accordance with the potential of the control terminal, and at least a first driving circuit. And a second switching transistor, and a first reference potential and a second reference potential, and a current path of a current flowing through the electro-optic element between the first reference potential and the second reference potential, Electro-optic element A drive transistor, at least one first switching transistor connected in series, a control terminal of the first switch transistor connected to the first control line, and the second switch transistor connected to the electro-optic element The control terminal of the second switching transistor is connected to the second control line, and the first switching transistor and the second switching transistor are of the same conductivity type. The first and second driving circuits have an on-potential of the first control line and an on-potential of the second control line, and a resistance value when the first switching transistor is on is The value is set to be smaller than the resistance value when the second switching transistor is on.

本発明の第6の観点は、マトリクス状に複数配列された画素回路と、上記画素回路のマトリクス配列に対して列毎に配線され、少なくとも輝度情報に応じたデータ信号が供給される信号線と、上記画素回路のマトリクス配列に対して行毎に配線された少なくとも第1の制御線および第2の制御線と、上記第1の制御線の電位を設定する第1の駆動回路と、上記第2の制御線の電位を設定する第2の駆動回路と、を有し、上記各画素回路は、第1および第2の基準電位と、所定のプリチャージ電位と、電界効果トランジスタと、ノードと、上記電界効果トランジスタのソースと第1の基準電位との間に接続され、制御端子が上記第1の制御線に接続されて導通制御される第1のスイッチングトランジスタと、上記電界効果トランジスタのソースと上記ノードとの間に接続された第2のスイッチングトランジスタと、上記電界効果トランジスタのゲートと上記プリチャージ電位との間に接続された第3のスイッチングトランジスタと、上記信号線と上記ノードとの間に接続された第4のスイッチングトランジスタと、上記ノードと上記電界効果トランジスタのゲートとの間に接続された結合キャパシタと、を有し、上記電気光学素子は上記トランジスタのドレインと第2の基準電位との間に接続され、上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタの制御端子が上記第2の制御線に接続されて導通制御され、上記第1のスイッチングトランジスタと、制御端子が上記第2の制御線に接続された上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタとが同一の導電型のトランジスタであり、上記第1および第2の駆動回路は、上記第1の制御線のオン電位と上記第2の制御線のオン電位とを、上記第1のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値が上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値より小さくなるような値に設定する。   According to a sixth aspect of the present invention, there are provided a plurality of pixel circuits arranged in a matrix, a signal line wired for each column to the matrix arrangement of the pixel circuits, and supplied with at least a data signal corresponding to luminance information , At least a first control line and a second control line wired for each row with respect to the matrix arrangement of the pixel circuit, a first drive circuit for setting the potential of the first control line, and the first Each of the pixel circuits includes a first reference potential, a second reference potential, a predetermined precharge potential, a field effect transistor, a node, A first switching transistor connected between the source of the field effect transistor and a first reference potential, the control terminal of which is connected to the first control line and controlled in conduction, and the source of the field effect transistor A second switching transistor connected between the node, a third switching transistor connected between the gate of the field effect transistor and the precharge potential, and between the signal line and the node; And a coupling capacitor connected between the node and the gate of the field effect transistor, wherein the electro-optic element has a drain and a second reference potential of the transistor. And a control terminal of at least one switching transistor of the second, third, and fourth switching transistors is connected to the second control line to be conductively controlled, and the first switching transistor The second, third, and fourth switching transistors having control terminals connected to the second control line. The at least one switching transistor of the register is a transistor of the same conductivity type, and the first and second drive circuits have an on-potential of the first control line and an on-potential of the second control line. The resistance value when the first switching transistor is on is set to a value that is smaller than the resistance value when at least one of the second, third, and fourth switching transistors is on.

本発明の第7の観点は、マトリクス状に複数配列された画素回路と、上記画素回路のマトリクス配列に対して列毎に配線され、少なくとも輝度情報に応じたデータ信号が供給される信号線と、上記画素回路のマトリクス配列に対して行毎に配線された少なくとも第1の制御線および第2の制御線と、上記第1の制御線の電位を設定する第1の駆動回路と、上記第2の制御線の電位を設定する第2の駆動回路と、を有し、上記各画素回路は、第1および第2の基準電位と、所定のプリチャージ電位と、電界効果トランジスタと、ノードと、上記電界効果トランジスタのソースと上記電気光学素子との間に接続され、制御端子が上記第1の制御線に接続されて導通制御される第1のスイッチングトランジスタと、上記電界効果トランジスタのソースと上記ノードとの間に接続された第2のスイッチングトランジスタと、上記電界効果トランジスタのゲートと上記プリチャージ電位との間に接続された第3のスイッチングトランジスタと、上記信号線と上記ノードとの間に接続された第4のスイッチングトランジスタと、上記ノードと上記電界効果トランジスタのゲートとの間に接続された結合キャパシタと、を有し、上記電気光学素子は上記第1のスイッチングトランジスタと第2の基準電位との間に接続され、上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタの制御端子が上記第2の制御線に接続されて導通制御され、上記第1のスイッチングトランジスタと、制御端子が上記第2の制御線に接続された上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタとが同一の導電型のトランジスタであり、上記第1および第2の駆動回路は、上記第1の制御線のオン電位と上記第2の制御線のオン電位とを、上記第1のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値が上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値より小さくなるような値に設定する。   According to a seventh aspect of the present invention, there are provided a plurality of pixel circuits arranged in a matrix, a signal line wired for each column to the matrix arrangement of the pixel circuits, and supplied with at least a data signal corresponding to luminance information , At least a first control line and a second control line wired for each row with respect to the matrix arrangement of the pixel circuit, a first drive circuit for setting the potential of the first control line, and the first Each of the pixel circuits includes a first reference potential, a second reference potential, a predetermined precharge potential, a field effect transistor, a node, A first switching transistor connected between the source of the field effect transistor and the electro-optic element, the control terminal of which is connected to the first control line to control conduction, and the source of the field effect transistor A second switching transistor connected between the gate and the node, a third switching transistor connected between the gate of the field effect transistor and the precharge potential, and the signal line and the node. A fourth switching transistor connected in between, and a coupling capacitor connected between the node and the gate of the field effect transistor, wherein the electro-optic element includes the first switching transistor and the second switching transistor. The control terminal of at least one switching transistor of the second, third, and fourth switching transistors is connected to the second control line for conduction control, and is connected to the first reference potential. The switching transistor and the second, third, and fourth switches having a control terminal connected to the second control line. At least one of the switching transistors is a transistor of the same conductivity type, and the first and second drive circuits include an on-potential of the first control line and an on-potential of the second control line. Is set to a value such that the on-resistance value of the first switching transistor is smaller than the on-resistance value of at least one of the second, third, and fourth switching transistors.

本発明の第8の観点は、マトリクス状に複数配列された画素回路と、上記画素回路のマトリクス配列に対して列毎に配線され、少なくとも輝度情報に応じたデータ信号が供給される信号線と、上記画素回路のマトリクス配列に対して行毎に配線された少なくとも第1の制御線および第2の制御線と、上記第1の制御線の電位を設定する第1の駆動回路と、上記第2の制御線の電位を設定する第2の駆動回路と、を有し、上記各画素回路は、第1および第2の基準電位と、所定のプリチャージ電位と、電界効果トランジスタと、ノードと、上記電界効果トランジスタのドレインと上記電気光学素子との間に接続され、制御端子が上記第1の制御線に接続されて導通制御される第1のスイッチと、上記電界効果トランジスタのドレインとゲートとの間に接続された第2のスイッチと、上記ノードと上記プリチャージ電位との間に接続された第3のスイッチと、上記信号線と上記ノードとの間に接続された第4のスイッチと、上記ノードと上記電界効果トランジスタのゲートとの間に接続された結合キャパシタと、を有し、上記電界効果トランジスタのソースは第1の基準電位に接続され、上記電気光学素子は上記第1のスイッチと第2の基準電位との間に接続され、上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタの制御端子が上記第2の制御線に接続されて導通制御され、上記第1のスイッチングトランジスタと、制御端子が上記第2の制御線に接続された上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタとが同一の導電型のトランジスタであり、上記第1および第2の駆動回路は、上記第1の制御線のオン電位と上記第2の制御線のオン電位とを、上記第1のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値が上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値より小さくなるような値に設定する。   According to an eighth aspect of the present invention, there are provided a plurality of pixel circuits arranged in a matrix, a signal line wired for each column to the matrix arrangement of the pixel circuits, and supplied with at least a data signal corresponding to luminance information , At least a first control line and a second control line wired for each row with respect to the matrix arrangement of the pixel circuit, a first drive circuit for setting the potential of the first control line, and the first Each of the pixel circuits includes a first reference potential, a second reference potential, a predetermined precharge potential, a field effect transistor, a node, A first switch connected between the drain of the field effect transistor and the electro-optic element, the control terminal of which is connected to the first control line to control conduction, and the drain and gate of the field effect transistor When A second switch connected in between; a third switch connected between the node and the precharge potential; a fourth switch connected between the signal line and the node; A coupling capacitor connected between the node and the gate of the field effect transistor, the source of the field effect transistor is connected to a first reference potential, and the electro-optic element is connected to the first switch And a second reference potential, and a control terminal of at least one of the second, third, and fourth switching transistors is connected to the second control line for conduction control, and A first switching transistor and at least one of the second, third, and fourth switching transistors having a control terminal connected to the second control line. And the first and second drive circuits are configured to set the first control line on-potential and the second control line on-potential to the first control line. The resistance value when the switching transistor is on is set to a value that is smaller than the resistance value when at least one of the second, third, and fourth switching transistors is on.

本発明によれば、たとえば第1の制御線、第2の制御線等により第1のスイッチングトランジスタ、第2のスイッチングトランジスタ、および第3のスイッチングトランジスタを導通状態とする。
このとき、駆動トランジスタの制御端子、たとえばゲートは第3のスイッチングトランジスタによってプリチャージ電位Vpcとなり、結合キャパシタの入力側電位(ノード電位)は、第1および第2のスイッチングトランジスタが導通状態にあるため、第1の基準電位(電源電位VCC)またはその付近まで上昇する。
そして、第1の制御線により第1のスイッチングトランジスタを非導通状態とする。これにより駆動トランジスタに流れる電流が遮断されるため、駆動トランジスタの第2端子(たとえばドレイン)の電位は下降するが、その電位がVpc+|Vth| まで下降した時点で駆動トランジスタは非導通状態となって電位が安定する。
このとき、キャパシタの入力側電位(ノード電位)は、第2のスイッチングトランジスタが導通状態にあるため、やはり Vpc+|Vth|である。ここで |Vth|は、駆動トランジスタのしきい値の絶対値である。
次に、第2の制御線等により第2および第3のスイッチングトランジスタを非導通状態とする。あるいは、第2の制御線等により第2のスイッチングトランジスタを非導通状態にした後、第3のスイッチングトランジスタを非導通状態とする。キャパシタの入力側ノードの電位は、Vpc+|Vth| であり、駆動トランジスタのゲート電位はVpcである。すなわち、キャパシタの端子間の電位差は |Vth|となる。
次いで、第4のスイッチングトランジスタを導通状態とし、信号線から輝度データに応じた電位Vdataをキャパシタの入力側ノードに与える。
キャパシタ端子間の電位差は |Vth|のまま保持されるので、駆動トランジスタのゲート電位は、Vdata - |Vth|となる。
次に、第4のスイッチングトランジスタを非導通状態とし、第1の制御線により第1のスイッチングトランジスタを導通状態とすると、駆動トランジスタおよび電気光学素子に電流が流れ、発光を開始する。
このような制御動作において、第1の制御線のオン電位と、第2、第3、または/および第4の制御線のオン電位とは、第1のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値が第2、第3、第4のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値より小さくなるような値に設定される。
このように、本発明に係る画素回路は、画素毎にばらつく駆動トランジスタのしきい値によらず、電気光学素子に電流を供給することができるため、表示画像の輝度にむらができることを防止でき、高品位な画像を表示する表示装置を実現することができる。特に従来の技術と比較した場合、制御線から駆動トランジスタへのノイズの影響が少ない構成であるため、より高精度なしきい値ばらつきの補正が可能である。
According to the present invention, for example, the first switching transistor, the second switching transistor, and the third switching transistor are turned on by the first control line, the second control line, and the like.
At this time, the control terminal of the driving transistor, for example, the gate is set to the precharge potential Vpc by the third switching transistor, and the input side potential (node potential) of the coupling capacitor is that the first and second switching transistors are in the conductive state. , Rise to the first reference potential (power supply potential V CC ) or the vicinity thereof.
Then, the first switching transistor is turned off by the first control line. As a result, the current flowing through the drive transistor is cut off, so that the potential of the second terminal (for example, drain) of the drive transistor drops, but when the potential drops to Vpc + | Vth |, the drive transistor becomes non-conductive. To stabilize the potential.
At this time, the input side potential (node potential) of the capacitor is also Vpc + | Vth | because the second switching transistor is in a conductive state. Here, | Vth | is the absolute value of the threshold value of the driving transistor.
Next, the second and third switching transistors are turned off by the second control line or the like. Alternatively, after the second switching transistor is turned off by the second control line or the like, the third switching transistor is turned off. The potential of the input node of the capacitor is Vpc + | Vth |, and the gate potential of the driving transistor is Vpc. That is, the potential difference between the capacitor terminals is | Vth |.
Next, the fourth switching transistor is turned on, and the potential Vdata corresponding to the luminance data is supplied from the signal line to the input side node of the capacitor.
Since the potential difference between the capacitor terminals is maintained as | Vth |, the gate potential of the driving transistor is Vdata− | Vth |.
Next, when the fourth switching transistor is turned off and the first switching transistor is turned on by the first control line, a current flows through the driving transistor and the electro-optical element, and light emission is started.
In such a control operation, the on-potential of the first control line and the on-potential of the second, third, and / or fourth control line have a resistance value when the first switching transistor is on. The value is set to be smaller than the resistance value when the second, third, and fourth switching transistors are turned on.
As described above, the pixel circuit according to the present invention can supply current to the electro-optical element regardless of the threshold value of the driving transistor that varies from pixel to pixel, and thus can prevent unevenness in the luminance of the display image. A display device that displays high-quality images can be realized. In particular, when compared with the conventional technique, the configuration is less affected by noise from the control line to the drive transistor, and therefore, more accurate threshold variation correction can be performed.

本発明によれば、画素内部の能動素子のしきい値のばらつきによらず、安定かつ正確に各画素の発光素子に所望の値の電流を供給でき、表示画像の輝度にむらができることを防止でき、その結果として高品位な画像を表示することができる。   According to the present invention, a current of a desired value can be supplied to a light emitting element of each pixel stably and accurately regardless of variations in threshold values of active elements within the pixel, and unevenness in luminance of a display image can be prevented. As a result, a high-quality image can be displayed.

以下、本発明の実施形態を図面に関連付けて説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

<第1実施形態>
図6は、本発明に係るアクティブマトリクス型有機ELディスプレイ(表示装置)の第1の実施形態を示す回路図である。
また、図7は、第1の実施形態に係るアクティブマトリクス型有機ELディスプレイの電源線関係の配線配置を示す図である。
<First Embodiment>
FIG. 6 is a circuit diagram showing a first embodiment of an active matrix organic EL display (display device) according to the present invention.
FIG. 7 is a diagram showing a wiring arrangement related to the power supply line of the active matrix organic EL display according to the first embodiment.

本有機ELディスプレイ100は、図6に示すように、画素回路101がm×nのマトリクス状に配列された画素アレイ部102、データドライバ(DDRV)103、第1の駆動回路としての第1のスキャンドライバ(SDRV1)104、および第2の駆動回路としての第2のスキャンドライバ(SDRV2)105を有している。
そして、画素回路101のマトリクス配列に対してデータドライバ(DDRV)103によって駆動されるn列分の信号線SGL1〜SGLnが画素列毎に、第1のスキャンドライバ(SDRV1)104によって選択的に駆動されるm行分の駆動線DRL101〜DRL10m、第1のスキャンドライバ(SDRV2)105によって選択的に駆動されるm行分の走査線SCNL101〜SCNL10m、およびオートゼロ線AZL101〜AZL10mが画素行毎にそれぞれ配線されている。
なお、駆動線DRL101〜DRL10mが本発明の第1の制御線に相当し、走査線SCNL101〜SCNL10m、および/またはオートゼロ線AZL101〜AZL10mが本発明の第2の制御線に相当する。
As shown in FIG. 6, the organic EL display 100 includes a pixel array unit 102 in which pixel circuits 101 are arranged in an m × n matrix, a data driver (DDRV) 103, and a first drive circuit as a first drive circuit. It has a scan driver (SDRV1) 104 and a second scan driver (SDRV2) 105 as a second drive circuit.
The signal lines SGL1 to SGLn for n columns driven by the data driver (DDRV) 103 with respect to the matrix arrangement of the pixel circuit 101 are selectively driven by the first scan driver (SDRV1) 104 for each pixel column. Drive lines DRL101 to DRL10m for m rows, scan lines SCNL101 to SCNL10m for m rows selectively driven by the first scan driver (SDRV2) 105, and auto-zero lines AZL101 to AZL10m for each pixel row, respectively. Wired.
The drive lines DRL101 to DRL10m correspond to the first control line of the present invention, and the scan lines SCNL101 to SCNL10m and / or the auto zero lines AZL101 to AZL10m correspond to the second control line of the present invention.

さらに、本実施形態においては、電源電圧Vccを供給するn列分の電源電位線VCCL101〜VCCL10nと、オフセットキャンセルを行うための基準電圧Vpcを供給するためのn列分のプリチャージ電位線VPCL101〜VPCL10nが信号線SGL101〜SGL10nに並行するように同一方向に、画素列毎に配線されている。   Further, in the present embodiment, n columns of power supply potential lines VCCL101 to VCCL10n for supplying the power supply voltage Vcc and n columns of precharge potential lines VPCL101 for supplying the reference voltage Vpc for performing offset cancellation. The VPCL 10n is wired for each pixel column in the same direction so as to be parallel to the signal lines SGL101 to SGL10n.

また、本実施形態においては、電源電位線VCCLは、図7に示すように、電源電位線VCCLの図中上下で生じる長さ方向の電位差による輝度ムラを防止するために、表示領域である画素アレイ部102の図中上下を共通化、すなわち複数の電源電位線VCCL101〜VCCL10nの両端部を共通に接続して、同電位化を図っている。   Further, in the present embodiment, the power supply potential line VCCL is a pixel that is a display region in order to prevent luminance unevenness due to a potential difference in the length direction generated above and below the power supply potential line VCCL as shown in FIG. The upper and lower portions of the array unit 102 in the drawing are made common, that is, both ends of the plurality of power supply potential lines VCCL101 to VCCL10n are connected in common to achieve the same potential.

なお、本画素アレイ部102において、画素回路101はm×nのマトリクス状に配列されるが、図6においては、図面の簡単化のために2(=m)×2(=n)のマトリクス状に配列した例を示している。
また、図6においては、2×2の画素回路の各々を、Pixel(M,N)、Pixel(M,N+1)、Pixel(M+1,N)、Pixel(M+1,N+1)とも表記している。
In the pixel array unit 102, the pixel circuits 101 are arranged in a matrix of m × n. However, in FIG. 6, a matrix of 2 (= m) × 2 (= n) is shown for simplification of the drawing. The example arranged in the shape is shown.
In FIG. 6, each of the 2 × 2 pixel circuits is also expressed as Pixel (M, N), Pixel (M, N + 1), Pixel (M + 1, N), and Pixel (M + 1, N + 1).

次に、各画素回路101の具体的な構成について説明する。   Next, a specific configuration of each pixel circuit 101 will be described.

画素回路101は、図6に示すように、1個のpチャネルTFT111、4個のnチャネルTFT112〜115、有機EL発光素子116、キャパシタC111,C112、およびノードND111〜ND113を有している。
なお、本実施形態においては、TFT111が本発明の駆動トランジスタに相当し、TFT112が本発明の第1のスイッチングトランジスタに相当し、TFT113が本発明の第2のスイッチングトランジスタに相当し、TFT115が本発明の第3のスイッチングトランジスタに相当し、TFT114が本発明の第4のスイッチングトランジスタに相当する。
また、電源電位VCCが本発明の第1の基準電位に相当し、接地電位GNDが第2の基準電位に相当する。
As shown in FIG. 6, the pixel circuit 101 includes one p-channel TFT 111, four n-channel TFTs 112 to 115, an organic EL light emitting element 116, capacitors C111 and C112, and nodes ND111 to ND113.
In this embodiment, the TFT 111 corresponds to the driving transistor of the present invention, the TFT 112 corresponds to the first switching transistor of the present invention, the TFT 113 corresponds to the second switching transistor of the present invention, and the TFT 115 corresponds to the main switching transistor. This corresponds to the third switching transistor of the invention, and the TFT 114 corresponds to the fourth switching transistor of the present invention.
The power supply potential VCC corresponds to the first reference potential of the present invention, and the ground potential GND corresponds to the second reference potential.

図6の1行1列目に配置された画素回路Pixel(M,N)において、駆動トランジスタとしてTFT111のソースが第1列目に配線された電源電位線VCCL101に接続され、ドレインがノードND113に接続され、ゲートがノードND111に接続されている。
TFT112のドレインがノードND113(TFT111のドレイン)に接続され、ソースが有機EL発光素子116のアノード側に接続され、ゲートが第1行目に配線された駆動線DRL101に接続され、発光素子116のカソードが所定電位(たとえばグランド電位)のカソード線CSLに接続されている。
TFT113のソースがノードND113(TFT111のドレイン)に接続され、ドレインがノードND111(TFT111のゲート)に接続され、ゲートが第1行目に配線されたオートゼロ線AZL101に接続されている。
キャパシタC101の第1電極がノードND111に接続され、第2電極がノードND112に接続されている。また、キャパシタC112の第1電極がノードND111に接続され、第2電極が第1列目に配線された電源電位線VCCL101に接続されている。
TFT114のソースがノードND112に接続され、ドレインが第1列目に配線された信号線SGL101に接続され、ゲートが第1行目に配線された走査線SCNL101に接続されている。
TFT115のソースがノードND112に接続され、ドレインが第1列目に配線されたプリチャージ電位線VPCL101に接続されている。
In the pixel circuit Pixel (M, N) arranged in the first row and first column in FIG. 6, the source of the TFT 111 as the drive transistor is connected to the power supply potential line VCCL101 wired in the first column, and the drain is connected to the node ND113. The gates are connected to the node ND111.
The drain of the TFT 112 is connected to the node ND113 (the drain of the TFT 111), the source is connected to the anode side of the organic EL light emitting element 116, the gate is connected to the drive line DRL101 wired in the first row, The cathode is connected to a cathode line CSL having a predetermined potential (for example, ground potential).
The source of the TFT 113 is connected to the node ND113 (the drain of the TFT 111), the drain is connected to the node ND111 (the gate of the TFT 111), and the gate is connected to the auto zero line AZL101 wired in the first row.
A first electrode of the capacitor C101 is connected to the node ND111, and a second electrode is connected to the node ND112. The first electrode of the capacitor C112 is connected to the node ND111, and the second electrode is connected to the power supply potential line VCCL101 wired in the first column.
The source of the TFT 114 is connected to the node ND112, the drain is connected to the signal line SGL101 wired in the first column, and the gate is connected to the scanning line SCNL101 wired in the first row.
The source of the TFT 115 is connected to the node ND112, and the drain is connected to the precharge potential line VPCL101 wired in the first column.

図6の2行1列目に配置された画素回路Pixel(M+1,N)において、駆動トランジスタとしてTFT111のソースが第1列目に配線された電源電位線VCCL101に接続され、ドレインがノードND113に接続され、ゲートがノードND111に接続されている。
TFT112のドレインがノードND113(TFT111のドレイン)に接続され、ソースが有機EL発光素子116のアノード側に接続され、ゲートが第2行目に配線された駆動線DRL102に接続され、発光素子116のカソードが所定電位(たとえばグランド電位)のカソード線CSLに接続されている。
TFT113のソースがノードND113(TFT111のドレイン)に接続され、ドレインがノードND111(TFT111のゲート)に接続され、ゲートが第2行目に配線されたオートゼロ線AZL102に接続されている。
キャパシタC101の第1電極がノードND111に接続され、第2電極がノードND112に接続されている。また、キャパシタC112の第1電極がノードND111に接続され、第2電極が第1列目に配線された電源電位線VCCL101に接続されている。
TFT114のソースがノードND112に接続され、ドレインが第1列目に配線された信号線SGL101に接続され、ゲートが第2行目に配線された走査線SCNL102に接続されている。
TFT115のソースがノードND112に接続され、ドレインが第1列目に配線されたプリチャージ電位線VPCL101に接続されている。
In the pixel circuit Pixel (M + 1, N) arranged in the second row and first column in FIG. 6, the source of the TFT 111 as the drive transistor is connected to the power supply potential line VCCL101 wired in the first column, and the drain is connected to the node ND113. The gates are connected to the node ND111.
The drain of the TFT 112 is connected to the node ND113 (the drain of the TFT 111), the source is connected to the anode side of the organic EL light emitting element 116, the gate is connected to the drive line DRL102 wired in the second row, The cathode is connected to a cathode line CSL having a predetermined potential (for example, ground potential).
The source of the TFT 113 is connected to the node ND113 (the drain of the TFT 111), the drain is connected to the node ND111 (the gate of the TFT 111), and the gate is connected to the auto zero line AZL102 wired in the second row.
A first electrode of the capacitor C101 is connected to the node ND111, and a second electrode is connected to the node ND112. The first electrode of the capacitor C112 is connected to the node ND111, and the second electrode is connected to the power supply potential line VCCL101 wired in the first column.
The source of the TFT 114 is connected to the node ND112, the drain is connected to the signal line SGL101 wired in the first column, and the gate is connected to the scanning line SCNL102 wired in the second row.
The source of the TFT 115 is connected to the node ND112, and the drain is connected to the precharge potential line VPCL101 wired in the first column.

図6の1行2列目に配置された画素回路Pixel(M,N+1)において、駆動トランジスタとしてTFT111のソースが第2列目に配線された電源電位線VCCL102に接続され、ドレインがノードND113に接続され、ゲートがノードND111に接続されている。
TFT112のドレインがノードND113(TFT111のドレイン)に接続され、ソースが有機EL発光素子116のアノード側に接続され、ゲートが第1行目に配線された駆動線DRL101に接続され、発光素子116のカソードが所定電位(たとえばグランド電位)のカソード線CSLに接続されている。
TFT113のソースがノードND113(TFT111のドレイン)に接続され、ドレインがノードND111(TFT111のゲート)に接続され、ゲートが第1行目に配線されたオートゼロ線AZL101に接続されている。
キャパシタC101の第1電極がノードND111に接続され、第2電極がノードND112に接続されている。また、キャパシタC112の第1電極がノードND111に接続され、第2電極が第2列目に配線された電源電位線VCCL102に接続されている。
TFT114のソースがノードND112に接続され、ドレインが第2列目に配線された信号線SGL102に接続され、ゲートが第1行目に配線された走査線SCNL101に接続されている。
TFT115のソースがノードND112に接続され、ドレインが第2列目に配線されたプリチャージ電位線VPCL102に接続されている。
In the pixel circuit Pixel (M, N + 1) arranged in the first row and the second column in FIG. 6, the source of the TFT 111 as the drive transistor is connected to the power supply potential line VCCL102 wired in the second column, and the drain is connected to the node ND113. The gates are connected to the node ND111.
The drain of the TFT 112 is connected to the node ND113 (the drain of the TFT 111), the source is connected to the anode side of the organic EL light emitting element 116, the gate is connected to the drive line DRL101 wired in the first row, The cathode is connected to a cathode line CSL having a predetermined potential (for example, ground potential).
The source of the TFT 113 is connected to the node ND113 (the drain of the TFT 111), the drain is connected to the node ND111 (the gate of the TFT 111), and the gate is connected to the auto zero line AZL101 wired in the first row.
A first electrode of the capacitor C101 is connected to the node ND111, and a second electrode is connected to the node ND112. The first electrode of the capacitor C112 is connected to the node ND111, and the second electrode is connected to the power supply potential line VCCL102 wired in the second column.
The source of the TFT 114 is connected to the node ND112, the drain is connected to the signal line SGL102 wired in the second column, and the gate is connected to the scanning line SCNL101 wired in the first row.
The source of the TFT 115 is connected to the node ND112, and the drain is connected to the precharge potential line VPCL102 wired in the second column.

図6の2行2列目に配置された画素回路Pixel(M+1,N+1)において、駆動トランジスタとしてTFT111のソースが第2列目に配線された電源電位線VCCL102に接続され、ドレインがノードND113に接続され、ゲートがノードND111に接続されている。
TFT112のドレインがノードND113(TFT111のドレイン)に接続され、ソースが有機EL発光素子116のアノード側に接続され、ゲートが第2行目に配線された駆動線DRL102に接続され、発光素子116のカソードが所定電位(たとえばグランド電位)のカソード線CSLに接続されている。
TFT113のソースがノードND113(TFT111のドレイン)に接続され、ドレインがノードND111(TFT111のゲート)に接続され、ゲートが第2行目に配線されたオートゼロ線AZL102に接続されている。
キャパシタC101の第1電極がノードND111に接続され、第2電極がノードND112に接続されている。また、キャパシタC112の第1電極がノードND111に接続され、第2電極が第2列目に配線された電源電位線VCCL102に接続されている。
TFT114のソースがノードND112に接続され、ドレインが第2列目に配線された信号線SGL102に接続され、ゲートが第2行目に配線された走査線SCNL102に接続されている。
TFT115のソースがノードND112に接続され、ドレインが第2列目に配線されたプリチャージ電位線VPCL102に接続されている。
In the pixel circuit Pixel (M + 1, N + 1) arranged in the second row and the second column in FIG. 6, the source of the TFT 111 as the drive transistor is connected to the power supply potential line VCCL102 wired in the second column, and the drain is connected to the node ND113. The gates are connected to the node ND111.
The drain of the TFT 112 is connected to the node ND113 (the drain of the TFT 111), the source is connected to the anode side of the organic EL light emitting element 116, the gate is connected to the drive line DRL102 wired in the second row, The cathode is connected to a cathode line CSL having a predetermined potential (for example, ground potential).
The source of the TFT 113 is connected to the node ND113 (the drain of the TFT 111), the drain is connected to the node ND111 (the gate of the TFT 111), and the gate is connected to the auto zero line AZL102 wired in the second row.
A first electrode of the capacitor C101 is connected to the node ND111, and a second electrode is connected to the node ND112. The first electrode of the capacitor C112 is connected to the node ND111, and the second electrode is connected to the power supply potential line VCCL102 wired in the second column.
The source of the TFT 114 is connected to the node ND112, the drain is connected to the signal line SGL102 wired in the second column, and the gate is connected to the scanning line SCNL102 wired in the second row.
The source of the TFT 115 is connected to the node ND112, and the drain is connected to the precharge potential line VPCL102 wired in the second column.

本第1の実施形態においては、第1〜第4のスイッチングトランジスタとしてTFT112〜TFT115は、同一の導電型(nチャネル)であり、第1の駆動回路としての第1のスキャンドライバ104と第2の駆動回路としての第2のスキャンドライバ105は、第1の制御線としての駆動線DRL101〜DRL10mのオン電位Von1と、第2の制御線としての走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mのオン電位Von2とを、第1のスイッチングトランジスタとしてのTFT112のオン時の抵抗値が、第2、第3、および第4のスイッチングトランジスタとしてのTFT113〜TFT115のオン時の抵抗値より小さくなるように設定する。
すなわち、図8(A),(B)に示すように、第1のスキャンドライバ104と第2のスキャンドライバ105とは、Von1>Von2の関係を満足するように、駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mの駆動信号VSCNL,VAZLを設定する。
駆動信号VDRLは、(VDD−VSS)の振幅を持ち、駆動信号VSCNL,VAZLは〔VDD2(<VDD)−VSS〕の振幅を持つ。
In the first embodiment, the TFTs 112 to 115 as the first to fourth switching transistors have the same conductivity type (n-channel), and the first scan driver 104 as the first drive circuit and the second The second scan driver 105 serving as the drive circuit includes the on potential Von1 of the drive lines DRL101 to DRL10m as the first control lines, the scan lines SCNL101 to SCNL10m and the auto zero lines AZL101 to AZL10m as the second control lines. The on-potential Von2 is set so that the on-resistance value of the TFT 112 as the first switching transistor is smaller than the on-resistance values of the TFTs 113 to 115 as the second, third, and fourth switching transistors. Set.
That is, as shown in FIGS. 8A and 8B, the first scan driver 104 and the second scan driver 105 drive the drive lines DRL101 to DRL10m so as to satisfy the relationship Von1> Von2. The signal VDRL and drive signals VSCNL and VAZL for the scanning lines SCNL101 to SCNL10m and the auto zero lines AZL101 to AZL10m are set.
The drive signal VDRL has an amplitude of (VDD−VSS), and the drive signals VSCNL and VAZL have an amplitude of [VDD2 (<VDD) −VSS].

図9は、第1の駆動回路としての第1のスキャンドライバ104における駆動信号VDRLの生成回路の構成例を示す回路図である。なお、図9においては、図面の簡単化のために、3段構成とし、信号の出力系1段のみ示している。実際には、m個のシフトレジスタと各シフトレジスタに対して信号出力系が設けられる。
図9に示すように、第1のスキャンドライバ104は、複数のシフトレジスタ1041〜1043と、出力バッファ1044を有する。
対応する駆動線DRLを駆動するために、たとえばシフトレジスタ1042の出力に応答して、出力バッファ1044からハイレベルがVDDレベル、ローレベルがVSSレベルの駆動信号VDRLが出力される。各nチャネルのTFT112は、VDDレベルの駆動信号VDRLによりオン(導通)する。
FIG. 9 is a circuit diagram illustrating a configuration example of the generation circuit of the drive signal VDRL in the first scan driver 104 as the first drive circuit. In FIG. 9, for simplification of the drawing, a three-stage configuration is shown, and only one stage of the signal output system is shown. In practice, m shift registers and a signal output system are provided for each shift register.
As illustrated in FIG. 9, the first scan driver 104 includes a plurality of shift registers 1041 to 1043 and an output buffer 1044.
In order to drive the corresponding drive line DRL, for example, in response to the output of the shift register 1042, a drive signal VDRL having a high level of VDD level and a low level of VSS level is output from the output buffer 1044. Each n-channel TFT 112 is turned on (conducted) by a drive signal VDRL at the VDD level.

図10は、第2の駆動回路としての第2のスキャンドライバ105における駆動信号VSCNL,VAZLの生成回路の構成例を示す回路図である。なお、図10においては、図面の簡単化のために、3段構成とし、信号の出力系1段のみ示している。実際には、m個のシフトレジスタと各シフトレジスタに対して信号出力系が設けられる。
図10に示すように、第2のスキャンドライバ105は、複数のシフトレジスタ1051〜1053と、出力バッファ1054を有する。
対応するスキャン線SCNL、オートゼロ線AZLを駆動するために、たとえばシフトレジスタ1052の出力に応答して、出力バッファ1054からハイレベルでVDD2(<VDD)レベル、ローレベルでVSSレベルの駆動信号VDRLが出力される。各nチャネルのTFT113〜TFT115は、VDD2レベルの駆動信号VAZL,VSCNLによりオン(導通)する。
FIG. 10 is a circuit diagram showing a configuration example of a generation circuit of the drive signals VSCNL and VAZL in the second scan driver 105 as the second drive circuit. In FIG. 10, for simplification of the drawing, a three-stage configuration is shown, and only one stage of the signal output system is shown. In practice, m shift registers and a signal output system are provided for each shift register.
As illustrated in FIG. 10, the second scan driver 105 includes a plurality of shift registers 1051 to 1053 and an output buffer 1054.
In order to drive the corresponding scan line SCNL and auto-zero line AZL, in response to the output of the shift register 1052, for example, the drive signal VDRL of the VDD2 (<VDD) level at the high level and the VSS level at the low level is output from the output buffer 1054. Is output. Each of the n-channel TFTs 113 to 115 is turned on (conducted) by the drive signals VAZL and VSCNL at the VDD2 level.

また、図11は、第2の駆動回路としての第2のスキャンドライバ105における電圧VDD2の生成回路の構成例を示す回路図である。
この生成回路は、電圧VDDの供給ラインと基準電位VSSとの間に直列に接続された抵抗素子R101,R102により分圧した電圧をボルテージフォロワ1055を通して、電圧VDD2を生成する。
FIG. 11 is a circuit diagram showing a configuration example of a circuit for generating the voltage VDD2 in the second scan driver 105 as the second drive circuit.
This generation circuit generates a voltage VDD2 through a voltage follower 1055 by dividing a voltage divided by resistance elements R101 and R102 connected in series between a supply line of the voltage VDD and a reference potential VSS.

このように、本第2の実施形態においては、第1のスキャンドライバ104と第2のスキャンドライバ105とが、Von1>Von2の関係を満足するように、駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mの駆動信号VSCNL,VAZLを設定することにより、飛び込み電圧、スイッチの抵抗を最適化して、表示画像の輝度にむらができることを防止して、高品位な画像を表示することを実現している。   As described above, in the second embodiment, the first scan driver 104 and the second scan driver 105 satisfy the drive signal VDRL of the drive lines DRL101 to DRL10m so that the relationship Von1> Von2 is satisfied. By setting the drive signals VSCNL and VAZL of the scanning lines SCNL101 to SCNL10m and the auto zero lines AZL101 to AZL10m, the jump voltage and the switch resistance are optimized to prevent unevenness in the brightness of the display image, thereby achieving high quality. It is possible to display a simple image.

次に、画素回路101の動作について、図6のPixel(M,N)を例に説明する。   Next, the operation of the pixel circuit 101 will be described using Pixel (M, N) in FIG. 6 as an example.

駆動線DRL101をハイレベル(VDD,Von1)、オートゼロ線AZL101をハイレベル(VDD2,Von2)とし、TFT112、TFT113、およびTFT115を導通状態とする。このときTFT111はダイオード接続された状態で発光素子(OLED)116と接続されるため、TFT111に定電流Irefが流れる。
また、TFT115を通して結合キャパシタC111の一端(第2電極側)のノードND112にプリチャージ電位線VPCL101に供給されている固定の基準電圧Vpcが供給される。
そして、結合キャパシタC111の両端には、駆動トランジスタとしてのTFT111に電流Irefが流れたときのゲート−ソース間電位と同じ電圧が生じる。この電位Vrefは、駆動トランジスタとしてのTFT111のゲート側をプラス方向として、以下の式で表される。
The drive line DRL101 is set to the high level (VDD, Von1), the auto zero line AZL101 is set to the high level (VDD2, Von2), and the TFTs 112, 113, and 115 are turned on. At this time, since the TFT 111 is connected to the light emitting element (OLED) 116 in a diode-connected state, a constant current Iref flows through the TFT 111.
Further, the fixed reference voltage Vpc supplied to the precharge potential line VPCL101 is supplied to the node ND112 on one end (second electrode side) of the coupling capacitor C111 through the TFT 115.
Then, at both ends of the coupling capacitor C111, the same voltage as the gate-source potential is generated when the current Iref flows through the TFT 111 as the driving transistor. This potential Vref is expressed by the following equation, with the gate side of the TFT 111 as the driving transistor being a plus direction.

(数5)
Iref=β(Vref−Vth)2 (5)
(Equation 5)
Iref = β (Vref−Vth) 2 (5)

ここで、βは駆動トランジスタの比例係数(∝駆動トランジスタの移動度)、Vthは駆動トランジスタのしきい値電圧である。すなわち、駆動トランジスタであるTFT111のゲート−ソース間電位Vrefは、次のようになる。   Here, β is a proportional coefficient of the driving transistor (the mobility of the driving transistor), and Vth is a threshold voltage of the driving transistor. That is, the gate-source potential Vref of the TFT 111 as the driving transistor is as follows.

(数6)
Vref=Vth+(Iref/β)1/2 (6)
(Equation 6)
Vref = Vth + (Iref / β) 1/2 (6)

次に、駆動線DRL101をローレベル(VSS)とし、TFT112を非導通とする。このとき走査線SCNL101は、ハイレベル(VDD2,Von2)でTFT114が導通状態とされ、信号線SGL101には、基準電位Vref が与えられる。TFT111に流れる電流が遮断されるため、TFT111のゲート電位Vgは上昇するが、その電位がVcc−|Vth| まで上昇した時点でTFT111は非導通状態となって電位が安定する。すなわち、オートゼロ動作が行われる。   Next, the drive line DRL101 is set to a low level (VSS), and the TFT 112 is turned off. At this time, the scanning line SCNL101 is at a high level (VDD2, Von2), and the TFT 114 is turned on, and the reference potential Vref is applied to the signal line SGL101. Since the current flowing through the TFT 111 is cut off, the gate potential Vg of the TFT 111 rises, but when the potential rises to Vcc− | Vth |, the TFT 111 becomes non-conductive and the potential is stabilized. That is, an auto zero operation is performed.

オートゼロ線AZL101をローレベル(VSS)としてTFT113を非導通状態とし、信号線SGL101を通して結合キャパシタC111の他端側(ノードND111側)に、データ電圧Vdataが書き込まれる。よって、このときの駆動トランジスタのゲート−ソース電位は、Vgsは次のように表される。   The auto zero line AZL101 is set to the low level (VSS) to turn off the TFT 113, and the data voltage Vdata is written to the other end side (node ND111 side) of the coupling capacitor C111 through the signal line SGL101. Therefore, the gate-source potential of the driving transistor at this time is expressed as Vgs as follows.

(数7)
Vgs=Vdata+Vref−Vsource
=Vdata+Vth+(Iref/β)1/2 −Vsource (7)
(Equation 7)
Vgs = Vdata + Vref−Vsource
= Vdata + Vth + (Iref / β) 1/2 −Vsource (7)

したがって、駆動トランジスタに流れる電流Idsは、次のようになる。   Therefore, the current Ids flowing through the driving transistor is as follows.

(数8)
Ids=β(Vdata+(Iref/β)1/2 −Vsource)2 (8)
(Equation 8)
Ids = β (Vdata + (Iref / β) 1/2 −Vsource) 2 (8)

すなわち、駆動トランジスタに流れる電流電流Idsは、しきい値電圧Vthに依存しない、すなわち、しきい値電圧補正が行われる。   That is, the current Ids flowing through the driving transistor does not depend on the threshold voltage Vth, that is, threshold voltage correction is performed.

なお、発光素子116が発光を開始させるために、データ電圧を取り込んだ後、走査線SCNL101をローレベルとしてTFT114を非導通状態とし、駆動線DRL101をハイレベル(VDD,von1)としてTFT112を導通状態とする動作が行われる。   Note that after the data voltage is taken in order for the light emitting element 116 to start light emission, the scanning line SCNL101 is set to the low level, the TFT 114 is turned off, the driving line DRL101 is set to the high level (VDD, von1), and the TFT 112 is turned on. The operation is performed.

ここで、オフセットキャンセルのタイミングについて考察する。
本実施形態においては、信号線SGLと平行にプリジャージ電位線VPCLが配線されている。このとき、信号線SGLと平行なプリジャージ電位線VPCLの1つに接続され、同時にオフセットキャンセルされる画素数はK画素である。
通常、Kはオフセットキャンセル期間であり、十分にオフセットするのに必要な時間であるが、1〜数10以下が通常であり、従来例で同時にオフセットキャンセルする画素数に比べて小さい。また、パネルの解像度が上がっても、Kは変化しない。したがって、プリチャージ電位を安定した電位に保つことが容易となる。
Here, the timing of offset cancellation will be considered.
In the present embodiment, a pre-jersey potential line VPCL is wired in parallel with the signal line SGL. At this time, the number of pixels that are connected to one of the pre-jersey potential lines VPCL parallel to the signal line SGL and simultaneously cancel the offset is K pixels.
Usually, K is an offset cancellation period, which is a time required for sufficient offset, but usually 1 to several tens or less, which is smaller than the number of pixels subjected to offset cancellation simultaneously in the conventional example. Also, K does not change even if the panel resolution increases. Therefore, it becomes easy to keep the precharge potential at a stable potential.

以上説明したように、本第1の実施形態によれば、第1のスキャンドライバ104と第2のスキャンドライバ105とが、Von1>Von2の関係を満足するように、駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mの駆動信号VSCNL,VAZLを設定することにより、飛び込み電圧、スイッチの抵抗を最適化し、また、電源電圧Vccを供給するn列分の電源電位線VCCL101〜VCCL10nと、オフセットキャンセルを行うための基準電圧Vpcを供給するためのn列分のプリチャージ電位線VPCL101〜VPCL10nが信号線SGL101〜SGL10nの並行するように同一方向に、画素列毎に配線されていることから、画素内部の能動素子のしきい値のばらつきによらず、安定かつ正確に各画素の発光素子に所望の値の電流を供給でき、かつ、プリチャージ電位線によるオフセットキャンセル機能を有したとしても安定に基準電位を保持でき、表示画像の輝度に勾配(ムラ)ができることを防止できる。
その結果、高品位な画像を表示することができる。
As described above, according to the first embodiment, the drive lines DRL101 to DRL10m are driven so that the first scan driver 104 and the second scan driver 105 satisfy the relationship Von1> Von2. By setting the signal VDRL and the drive signals VSCNL and VAZL of the scanning lines SCNL101 to SCNL10m and the auto zero lines AZL101 to AZL10m, the jump voltage and the switch resistance are optimized, and the power supply for n columns supplying the power supply voltage Vcc The potential lines VCCL101 to VCCL10n and n columns of precharge potential lines VPCL101 to VPCL10n for supplying the reference voltage Vpc for performing offset cancellation are arranged in the same direction for each pixel column so that the signal lines SGL101 to SGL10n are parallel to each other. Wired to From the above, it is assumed that a current of a desired value can be supplied to the light emitting element of each pixel stably and accurately regardless of variations in the threshold value of the active element in the pixel, and an offset cancel function using a precharge potential line is provided. In addition, the reference potential can be stably maintained, and a gradient (unevenness) in the luminance of the display image can be prevented.
As a result, a high-quality image can be displayed.

また、本実施形態においては、電源電位線VCCLは、表示領域である画素アレイ部102の図中上下を共通化、すなわち複数の電源電位線VCCL101〜VCCL10nの両端部を共通に接続して、同電位化を図っている。したがって、電源電位線VCCLの図中上下で生じる長さ方向の電位差による輝度ムラを確実に防止することができる。   In the present embodiment, the power supply potential line VCCL is common to the upper and lower sides of the pixel array unit 102 in the drawing, that is, the power supply potential lines VCCL101 to VCCL10n are connected in common. We are trying to increase the potential. Therefore, luminance unevenness due to a potential difference in the length direction occurring at the top and bottom of the power supply potential line VCCL in the drawing can be reliably prevented.

なお、TFT125をオン、オフする制御線としてオートゼロ線AZLを共通に用いているが別の制御線を用いてオン、オフ制御することも可能である。   Note that the auto-zero line AZL is commonly used as a control line for turning on / off the TFT 125, but it is also possible to perform on / off control using another control line.

<第2実施形態>
図12は、本発明に係るアクティブマトリクス型有機ELディスプレイ(表示装置)の第2の実施形態を示す回路図である。
Second Embodiment
FIG. 12 is a circuit diagram showing a second embodiment of an active matrix organic EL display (display device) according to the present invention.

本第2の実施形態が上述した図6の第1の実施形態と異なる点は、画素回路101Aの構成にある。
すなわち、図6の画素回路101は、スイッチングトランジスタとしてのTFT112〜TFT115をnチャネルトランジスタにより構成したが、本第2の実施形態の画素回路101Aにおいては、スイッチングトランジスタとしてのTFT112〜TFT115をpチャネルトランジスタにより構成している。
The second embodiment is different from the first embodiment of FIG. 6 described above in the configuration of the pixel circuit 101A.
That is, in the pixel circuit 101 of FIG. 6, the TFTs 112 to 115 as the switching transistors are configured by n-channel transistors, but in the pixel circuit 101A of the second embodiment, the TFTs 112 to 115 as the switching transistors are p-channel transistors. It is constituted by.

この場合、第1のスキャンドライバ104Aと第2のスキャンドライバ105Aとが駆動する駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mの駆動信号VSCNL,VAZLのレベルが第1の実施形態と逆レベル(極性)となるが、駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mの駆動信号VSCNL,VAZLのレベルが、Von1<Von2の関係を満足するように設定される。   In this case, the drive signal VDRL of the drive lines DRL101 to DRL10m driven by the first scan driver 104A and the second scan driver 105A, and the levels of the drive signals VSCNL and VAZL of the scan lines SCNL101 to SCNL10m and the auto zero lines AZL101 to AZL10m However, the levels of the drive signals VDRL of the drive lines DRL101 to DRL10m and the drive signals VSCNL and VAZL of the scan lines SCNL101 to SCNL10m and the auto-zero lines AZL101 to AZL10m are Von1 < It is set so as to satisfy the relationship of Von2.

本第2の実施形態においては、第1〜第4のスイッチングトランジスタとしてTFT112〜TFT115は、同一の導電型(pチャネル)であり、第1の駆動回路としての第1のスキャンドライバ104Aと第2の駆動回路としての第2のスキャンドライバ105Aは、第1の制御線としての駆動線DRL101〜DRL10mのオン電位Von1と、第2の制御線としての走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mのオン電位Von2とを、第1のスイッチングトランジスタとしてのTFT112のオン時の抵抗値が、第2、第3、および第4のスイッチングトランジスタとしてのTFT113〜TFT115のオン時の抵抗値より小さくなるように設定する。
すなわち、図13(A),(B)に示すように、第1のスキャンドライバ104Aと第2のスキャンドライバ105Aとは、Von1<Von2の関係を満足するように、駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mの駆動信号VSCNL,VAZLを設定する。
駆動信号VDRLは、(VDD−VSS)の振幅を持ち、駆動信号VSCNL,VAZLは〔VDD−VSS2(>VSS)〕の振幅を持つ。
In the second embodiment, the TFTs 112 to 115 as the first to fourth switching transistors have the same conductivity type (p channel), and the first scan driver 104A as the first drive circuit and the second The second scan driver 105A serving as the drive circuit includes the on-potential Von1 of the drive lines DRL101 to DRL10m as the first control lines, the scan lines SCNL101 to SCNL10m and the auto zero lines AZL101 to AZL10m as the second control lines. The on-potential Von2 is set so that the on-resistance value of the TFT 112 as the first switching transistor is smaller than the on-resistance values of the TFTs 113 to 115 as the second, third, and fourth switching transistors. Set.
That is, as shown in FIGS. 13A and 13B, the first scan driver 104A and the second scan driver 105A drive the drive lines DRL101 to DRL10m so as to satisfy the relationship Von1 <Von2. The signal VDRL and drive signals VSCNL and VAZL for the scanning lines SCNL101 to SCNL10m and the auto zero lines AZL101 to AZL10m are set.
The drive signal VDRL has an amplitude of (VDD−VSS), and the drive signals VSCNL and VAZL have an amplitude of [VDD−VSS2 (> VSS)].

図14は、第1の駆動回路としての第1のスキャンドライバ104Aにおける駆動信号VDRLの生成回路の構成例を示す回路図である。なお、図14においては、図面の簡単化のために、3段構成とし、信号の出力系1段のみ示している。実際には、m個のシフトレジスタと各シフトレジスタに対して信号出力系が設けられる。
図14に示すように、第1のスキャンドライバ104Aは、複数のシフトレジスタ1041A〜1043Aと、出力バッファ1044Aを有する。
対応する駆動線DRLを駆動するために、たとえばシフトレジスタ1042Aの出力に応答して、出力バッファ1044AからハイレベルがVDDレベル、ローレベルがVSSレベルの駆動信号VDRLが出力される。各pチャネルのTFT112は、VSSレベルの駆動信号VDRLによりオン(導通)する。
FIG. 14 is a circuit diagram illustrating a configuration example of the generation circuit of the drive signal VDRL in the first scan driver 104A as the first drive circuit. In FIG. 14, for simplification of the drawing, a three-stage configuration is shown, and only one stage of the signal output system is shown. In practice, m shift registers and a signal output system are provided for each shift register.
As shown in FIG. 14, the first scan driver 104A includes a plurality of shift registers 1041A to 1043A and an output buffer 1044A.
In order to drive the corresponding drive line DRL, for example, in response to the output of the shift register 1042A, the output signal 1044A outputs the drive signal VDRL whose high level is VDD level and low level is VSS level. Each of the p-channel TFTs 112 is turned on (conducted) in response to a VSS level drive signal VDRL.

図15は、第2の駆動回路としての第2のスキャンドライバ105Aにおける駆動信号VSCNL,VAZLの生成回路の構成例を示す回路図である。なお、図15においては、図面の簡単化のために、3段構成とし、信号の出力系1段のみ示している。実際には、m個のシフトレジスタと各シフトレジスタに対して信号出力系が設けられる。
図15に示すように、第2のスキャンドライバ105Aは、複数のシフトレジスタ1051A〜1053Aと、出力バッファ1054Aを有する。
対応するスキャン線SCNL、オートゼロ線AZLを駆動するために、たとえばシフトレジスタ1052Aの出力に応答して、出力バッファ1054AからハイレベルでVDDレベル、ローレベルでVSS2(>VSS)レベルの駆動信号VDRLが出力される。各pチャネルのTFT113〜TFT115は、VSS2レベルの駆動信号VAZL,VSCNLによりオン(導通)する。
FIG. 15 is a circuit diagram showing a configuration example of a generation circuit of the drive signals VSCNL and VAZL in the second scan driver 105A as the second drive circuit. In FIG. 15, for simplification of the drawing, a three-stage configuration is shown, and only one stage of the signal output system is shown. In practice, m shift registers and a signal output system are provided for each shift register.
As shown in FIG. 15, the second scan driver 105A includes a plurality of shift registers 1051A to 1053A and an output buffer 1054A.
In order to drive the corresponding scan line SCNL and auto-zero line AZL, for example, in response to the output of the shift register 1052A, the drive signal VDRL of the VDD level at the high level and the VSS2 (> VSS) level at the low level is output from the output buffer 1054A. Is output. Each of the p-channel TFTs 113 to 115 is turned on (conductive) in response to the VSS2 level drive signals VAZL and VSCNL.

また、図16は、第2の駆動回路としての第2のスキャンドライバ105Aにおける電圧VDD2の生成回路の構成例を示す回路図である。
この生成回路は、電圧VDDの供給ラインと基準電位VSS2との間に直列に接続された抵抗素子R103,R104により分圧した電圧をボルテージフォロワ1055Aを通して、電圧VSS2を生成する。
FIG. 16 is a circuit diagram illustrating a configuration example of a circuit for generating the voltage VDD2 in the second scan driver 105A as the second drive circuit.
This generation circuit generates a voltage VSS2 through a voltage follower 1055A obtained by dividing a voltage divided by the resistance elements R103 and R104 connected in series between the supply line of the voltage VDD and the reference potential VSS2.

このように、本第2の実施形態においては、第1のスキャンドライバ104Aと第2のスキャンドライバ105Aとが、Von1<Von2の関係を満足するように、駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mの駆動信号VSCNL,VAZLを設定することにより、飛び込み電圧、スイッチの抵抗を最適化して、表示画像の輝度にむらができることを防止して、高品位な画像を表示することを実現している。   As described above, in the second embodiment, the drive signals VDRL of the drive lines DRL101 to DRL10m are set so that the first scan driver 104A and the second scan driver 105A satisfy the relationship of Von1 <Von2. By setting the drive signals VSCNL and VAZL of the scanning lines SCNL101 to SCNL10m and the auto zero lines AZL101 to AZL10m, the jump voltage and the switch resistance are optimized to prevent unevenness in the brightness of the display image, thereby achieving high quality. It is possible to display a simple image.

なお、図12の動作については、図6の場合と駆動信号のアクティブレベルが逆レベルとなる以外は、第1の実施形態と同様に行われるため、ここではその詳細な説明は省略する。   The operation in FIG. 12 is performed in the same manner as in the first embodiment except that the active level of the drive signal is opposite to that in the case of FIG. 6, and thus detailed description thereof is omitted here.

本第2の実施形態によれば、上述した第1の実施形態の効果と同様の効果を得ることができる。   According to the second embodiment, the same effect as that of the first embodiment described above can be obtained.

<第3実施形態>
図17は、本発明に係るアクティブマトリクス型有機ELディスプレイ(表示装置)の第3の実施形態を示す回路図である。
<Third Embodiment>
FIG. 17 is a circuit diagram showing a third embodiment of an active matrix organic EL display (display device) according to the present invention.

本第3の実施形態が上述した第1の実施形態と異なる点は、画素回路101Bの構成にある。
以下、本第3の実施形態に係る画素回路101Bの構成および動作を順を追って説明する。
The difference between the third embodiment and the first embodiment described above is the configuration of the pixel circuit 101B.
Hereinafter, the configuration and operation of the pixel circuit 101B according to the third embodiment will be described in order.

本第3の実施形態に係る各画素回路101Bは、図17に示すように、pチャネルTFT121、nチャネルTFT122〜TFT125、キャパシタC121,C122、有機EL素子OLED(電気光学素子)からなる発光素子126、およびノードND121〜ND123を有する。
これらの構成要素のうち、TFT121が本発明に係る電界効果トランジスタを構成、TFT122が第1のスイッチングトランジスタを構成し、TFT123が第2のスイッチングトランジスタを構成し、TFT125が第3のスイッチングトランジスタを構成し、TFT124が第4のスイッチングトランジスタを構成、キャパシタC121が本発明に係るキャパシタを構成している。
なお、TFT125をオン、オフする制御線としてオートゼロ線AZLを共通に用いているが別の制御線を用いてオン、オフ制御することも可能である。
また、電源電圧VCCの供給ライン(電源電位)が第1の基準電位に相当し、カソード線CSLの電位(たとえば接地電位GND)が第2の基準電位に相当している。
As shown in FIG. 17, each pixel circuit 101B according to the third embodiment includes a light-emitting element 126 including a p-channel TFT 121, n-channel TFTs 122 to 125, capacitors C121 and C122, and an organic EL element OLED (electro-optical element). And nodes ND121 to ND123.
Among these components, the TFT 121 constitutes a field effect transistor according to the present invention, the TFT 122 constitutes a first switching transistor, the TFT 123 constitutes a second switching transistor, and the TFT 125 constitutes a third switching transistor. The TFT 124 constitutes a fourth switching transistor, and the capacitor C121 constitutes a capacitor according to the present invention.
Note that the auto-zero line AZL is commonly used as a control line for turning on / off the TFT 125, but it is also possible to perform on / off control using another control line.
Further, the supply line (power supply potential) of the power supply voltage V CC corresponds to the first reference potential, and the potential of the cathode line CSL (for example, the ground potential GND) corresponds to the second reference potential.

なお、本画素アレイ部102Bにおいて、画素回路101Bはm×nのマトリクス状に配列されるが、図17においても、図面の簡単化のために2(=m)×2(=n)のマトリクス状に配列した例を示している。
また、図17においては、2×2の画素回路の各々を、Pixel(M,N)、Pixel(M,N+1)、Pixel(M+1,N)、Pixel(M+1,N+1)とも表記している。
In the pixel array unit 102B, the pixel circuits 101B are arranged in an m × n matrix. However, in FIG. 17 as well, a 2 (= m) × 2 (= n) matrix is used for simplification of the drawing. The example arranged in the shape is shown.
In FIG. 17, each of the 2 × 2 pixel circuits is also expressed as Pixel (M, N), Pixel (M, N + 1), Pixel (M + 1, N), and Pixel (M + 1, N + 1).

次に、各画素回路101Bの具体的な構成について説明する。   Next, a specific configuration of each pixel circuit 101B will be described.

図17の1行1列目に配置された画素回路Pixel(M,N)において、駆動トランジスタとしてTFT121のソースがノードND123(TFT122のソース、TFTTFT123のドレインとの接続点)に接続され、ドレインが有機EL発光素子116のアノード側に接続され、発光素子126のカソードが所定電位(たとえばグランド電位)のカソード線CSLに接続されている。
TFT122のソースがノードND123(TFT121のソース)に接続され、ドレインが第1列目に配線された電源電位線VCCL101に接続され、ゲートが第1行目に配線された駆動線DRL101に接続されている。
TFT123のドレインがノードND123(TFT121のソース)に接続され、ソースがノードND122(TFT124のソース)に接続され、ゲートが第1行目に配線されたオートゼロ線AZL101に接続されている。
キャパシタC101の第1電極がノードND121に接続され、第2電極がノードND122に接続されている。また、キャパシタC122の第1電極がノードND122に接続され、第2電極が第1列目に配線された電源電位線VCCL101に接続されている。
TFT124のソースがノードND122に接続され、ドレインが第1列目に配線された信号線SGL101に接続され、ゲートが第1行目に配線された走査線SCNL101に接続されている。
TFT125のソースがノードND121(TFT121のゲート)に接続され、ドレインが第1列目に配線されたプリチャージ電位線VPCL101に接続されている。
In the pixel circuit Pixel (M, N) arranged in the first row and the first column in FIG. 17, the source of the TFT 121 as a drive transistor is connected to the node ND123 (the connection point between the source of the TFT 122 and the drain of the TFT TFT 123). The organic EL light emitting element 116 is connected to the anode side, and the cathode of the light emitting element 126 is connected to a cathode line CSL having a predetermined potential (for example, ground potential).
The source of the TFT 122 is connected to the node ND123 (source of the TFT 121), the drain is connected to the power supply potential line VCCL101 wired in the first column, and the gate is connected to the drive line DRL101 wired in the first row. Yes.
The drain of the TFT 123 is connected to the node ND123 (source of the TFT 121), the source is connected to the node ND122 (source of the TFT 124), and the gate is connected to the auto-zero line AZL101 wired in the first row.
A first electrode of the capacitor C101 is connected to the node ND121, and a second electrode is connected to the node ND122. The first electrode of the capacitor C122 is connected to the node ND122, and the second electrode is connected to the power supply potential line VCCL101 wired in the first column.
The source of the TFT 124 is connected to the node ND122, the drain is connected to the signal line SGL101 wired in the first column, and the gate is connected to the scanning line SCNL101 wired in the first row.
The source of the TFT 125 is connected to the node ND121 (the gate of the TFT 121), and the drain is connected to the precharge potential line VPCL101 wired in the first column.

図17の2行1列目に配置された画素回路Pixel(M+1,N)において、駆動トランジスタとしてTFT121のソースがノードND123(TFT122のソース、TFTTFT123のドレインとの接続点)に接続され、ドレインが有機EL発光素子116のアノード側に接続され、発光素子126のカソードが所定電位(たとえばグランド電位)のカソード線CSLに接続されている。
TFT122のソースがノードND123(TFT121のソース)に接続され、ドレインが第1列目に配線された電源電位線VCCL101に接続され、ゲートが第2行目に配線された駆動線DRL102に接続されている。
TFT123のドレインがノードND123(TFT121のソース)に接続され、ソースがノードND122(TFT124のソース)に接続され、ゲートが第2行目に配線されたオートゼロ線AZL102に接続されている。
キャパシタC101の第1電極がノードND121に接続され、第2電極がノードND122に接続されている。また、キャパシタC122の第1電極がノードND122に接続され、第2電極が第1列目に配線された電源電位線VCCL101に接続されている。
TFT124のソースがノードND122に接続され、ドレインが第1列目に配線された信号線SGL101に接続され、ゲートが第2行目に配線された走査線SCNL102に接続されている。
TFT125のソースがノードND121(TFT121のゲート)に接続され、ドレインが第1列目に配線されたプリチャージ電位線VPCL101に接続されている。
In the pixel circuit Pixel (M + 1, N) arranged in the second row and the first column in FIG. 17, the source of the TFT 121 as a drive transistor is connected to a node ND123 (a connection point between the source of the TFT 122 and the drain of the TFT TFT 123). The organic EL light emitting element 116 is connected to the anode side, and the cathode of the light emitting element 126 is connected to a cathode line CSL having a predetermined potential (for example, ground potential).
The source of the TFT 122 is connected to the node ND123 (source of the TFT 121), the drain is connected to the power supply potential line VCCL101 wired in the first column, and the gate is connected to the drive line DRL102 wired in the second row. Yes.
The drain of the TFT 123 is connected to the node ND123 (source of the TFT 121), the source is connected to the node ND122 (source of the TFT 124), and the gate is connected to the auto zero line AZL102 wired in the second row.
A first electrode of the capacitor C101 is connected to the node ND121, and a second electrode is connected to the node ND122. The first electrode of the capacitor C122 is connected to the node ND122, and the second electrode is connected to the power supply potential line VCCL101 wired in the first column.
The source of the TFT 124 is connected to the node ND122, the drain is connected to the signal line SGL101 wired in the first column, and the gate is connected to the scanning line SCNL102 wired in the second row.
The source of the TFT 125 is connected to the node ND121 (the gate of the TFT 121), and the drain is connected to the precharge potential line VPCL101 wired in the first column.

図17の1行2列目に配置された画素回路Pixel(M,N+1)において、駆動トランジスタとしてTFT121のソースがノードND123(TFT122のソース、TFTTFT123のドレインとの接続点)に接続され、ドレインが有機EL発光素子116のアノード側に接続され、発光素子126のカソードが所定電位(たとえばグランド電位)のカソード線CSLに接続されている。
TFT122のソースがノードND123(TFT121のソース)に接続され、ドレインが第2列目に配線された電源電位線VCCL102に接続され、ゲートが第1行目に配線された駆動線DRL101に接続されている。
TFT123のドレインがノードND123(TFT121のソース)に接続され、ソースがノードND122(TFT124のソース)に接続され、ゲートが第1行目に配線されたオートゼロ線AZL101に接続されている。
キャパシタC101の第1電極がノードND121に接続され、第2電極がノードND122に接続されている。また、キャパシタC122の第1電極がノードND122に接続され、第2電極が第2列目に配線された電源電位線VCCL102に接続されている。
TFT124のソースがノードND122に接続され、ドレインが第2列目に配線された信号線SGL102に接続され、ゲートが第1行目に配線された走査線SCNL101に接続されている。
TFT125のソースがノードND121(TFT121のゲート)に接続され、ドレインが第2列目に配線されたプリチャージ電位線VPCL102に接続されている。
In the pixel circuit Pixel (M, N + 1) arranged in the first row and the second column in FIG. 17, the source of the TFT 121 as a drive transistor is connected to the node ND123 (the connection point between the source of the TFT 122 and the drain of the TFT TFT 123). The organic EL light emitting element 116 is connected to the anode side, and the cathode of the light emitting element 126 is connected to a cathode line CSL having a predetermined potential (for example, ground potential).
The source of the TFT 122 is connected to the node ND123 (source of the TFT 121), the drain is connected to the power supply potential line VCCL102 wired in the second column, and the gate is connected to the drive line DRL101 wired in the first row. Yes.
The drain of the TFT 123 is connected to the node ND123 (source of the TFT 121), the source is connected to the node ND122 (source of the TFT 124), and the gate is connected to the auto-zero line AZL101 wired in the first row.
A first electrode of the capacitor C101 is connected to the node ND121, and a second electrode is connected to the node ND122. The first electrode of the capacitor C122 is connected to the node ND122, and the second electrode is connected to the power supply potential line VCCL102 wired in the second column.
The source of the TFT 124 is connected to the node ND122, the drain is connected to the signal line SGL102 wired in the second column, and the gate is connected to the scanning line SCNL101 wired in the first row.
The source of the TFT 125 is connected to the node ND121 (the gate of the TFT 121), and the drain is connected to the precharge potential line VPCL102 wired in the second column.

図17の2行2列目に配置された画素回路Pixel(M+1,N+1)において、駆動トランジスタとしてTFT121のソースがノードND123(TFT122のソース、TFTTFT123のドレインとの接続点)に接続され、ドレインが有機EL発光素子116のアノード側に接続され、発光素子126のカソードが所定電位(たとえばグランド電位)のカソード線CSLに接続されている。
TFT122のソースがノードND123(TFT121のソース)に接続され、ドレインが第2列目に配線された電源電位線VCCL102に接続され、ゲートが第2行目に配線された駆動線DRL102に接続されている。
TFT123のドレインがノードND123(TFT121のソース)に接続され、ソースがノードND122(TFT124のソース)に接続され、ゲートが第2行目に配線されたオートゼロ線AZL102に接続されている。
キャパシタC101の第1電極がノードND121に接続され、第2電極がノードND122に接続されている。また、キャパシタC122の第1電極がノードND122に接続され、第2電極が第2列目に配線された電源電位線VCCL102に接続されている。
TFT124のソースがノードND122に接続され、ドレインが第2列目に配線された信号線SGL102に接続され、ゲートが第2行目に配線された走査線SCNL102に接続されている。
TFT125のソースがノードND121(TFT121のゲート)に接続され、ドレインが第2列目に配線されたプリチャージ電位線VPCL102に接続されている。
In the pixel circuit Pixel (M + 1, N + 1) arranged in the second row and the second column in FIG. 17, the source of the TFT 121 as a drive transistor is connected to the node ND123 (the connection point between the source of the TFT 122 and the drain of the TFT TFT 123), and the drain is The organic EL light emitting element 116 is connected to the anode side, and the cathode of the light emitting element 126 is connected to a cathode line CSL having a predetermined potential (for example, ground potential).
The source of the TFT 122 is connected to the node ND123 (source of the TFT 121), the drain is connected to the power supply potential line VCCL102 wired in the second column, and the gate is connected to the drive line DRL102 wired in the second row. Yes.
The drain of the TFT 123 is connected to the node ND123 (source of the TFT 121), the source is connected to the node ND122 (source of the TFT 124), and the gate is connected to the auto zero line AZL102 wired in the second row.
A first electrode of the capacitor C101 is connected to the node ND121, and a second electrode is connected to the node ND122. The first electrode of the capacitor C122 is connected to the node ND122, and the second electrode is connected to the power supply potential line VCCL102 wired in the second column.
The source of the TFT 124 is connected to the node ND122, the drain is connected to the signal line SGL102 wired in the second column, and the gate is connected to the scanning line SCNL102 wired in the second row.
The source of the TFT 125 is connected to the node ND121 (the gate of the TFT 121), and the drain is connected to the precharge potential line VPCL102 wired in the second column.

本第3の実施形態においては、第1〜第4のスイッチングトランジスタとしてTFT122〜TFT125は、同一の導電型(nチャネル)であり、第1の駆動回路としての第1のスキャンドライバ104Bと第2の駆動回路としての第2のスキャンドライバ105Bは、第1の制御線としての駆動線DRL101〜DRL10mのオン電位Von1と、第2の制御線としての走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mのオン電位Von2とを、第1のスイッチングトランジスタとしてのTFT122のオン時の抵抗値が、第2、第3、および第4のスイッチングトランジスタとしてのTFT123〜TFT125のオン時の抵抗値より小さくなるように設定する。
すなわち、図18(A),(B),(C)に示すように、第1のスキャンドライバ104Bと第2のスキャンドライバ105Bとは、Von1>Von2の関係を満足するように、駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mの駆動信号VSCNL,VAZLを設定する。
駆動信号VDRLは、(VDD−VSS)の振幅を持ち、駆動信号VSCNL,VAZLは〔VDD2(<VDD)−VSS〕の振幅を持つ。
In the third embodiment, the TFTs 122 to 125 as the first to fourth switching transistors have the same conductivity type (n channel), and the first scan driver 104B as the first drive circuit and the second The second scan driver 105B serving as the drive circuit includes the ON potential Von1 of the drive lines DRL101 to DRL10m as the first control lines, the scan lines SCNL101 to SCNL10m and the auto zero lines AZL101 to AZL10m as the second control lines. The on-potential Von2 is set so that the on-resistance value of the TFT 122 as the first switching transistor is smaller than the on-resistance values of the TFTs 123 to 125 as the second, third, and fourth switching transistors. Set.
That is, as shown in FIGS. 18A, 18B, and 18C, the first scan driver 104B and the second scan driver 105B have the drive line DRL101 so as to satisfy the relationship Von1> Von2. Drive signal VDRL for .about.DRL10m and drive signals VSCNL and VAZL for scan lines SCNL101 to SCNL10m and auto-zero lines AZL101 to AZL10m are set.
The drive signal VDRL has an amplitude of (VDD−VSS), and the drive signals VSCNL and VAZL have an amplitude of [VDD2 (<VDD) −VSS].

第1のスキャンドライバ104Bと第2のスキャンドライバ105Bの駆動信号の生成回路は、図9、図10、および図11の回路構成と同様の構成を有する。   The drive signal generation circuits of the first scan driver 104B and the second scan driver 105B have the same configuration as the circuit configurations of FIGS.

このように、本第3の実施形態においては、第1のスキャンドライバ104Bと第2のスキャンドライバ105Bとが、Von1>Von2の関係を満足するように、駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mの駆動信号VSCNL,VAZLを設定することにより、飛び込み電圧、スイッチの抵抗を最適化して、表示画像の輝度にむらができることを防止して、高品位な画像を表示することを実現している。   As described above, in the third embodiment, the drive signals VDRL of the drive lines DRL101 to DRL10m are set so that the first scan driver 104B and the second scan driver 105B satisfy the relationship of Von1> Von2. By setting the drive signals VSCNL and VAZL of the scanning lines SCNL101 to SCNL10m and the auto zero lines AZL101 to AZL10m, the jump voltage and the switch resistance are optimized to prevent unevenness in the brightness of the display image, thereby achieving high quality. It is possible to display a simple image.

次に、画素回路101Bの動作について、図17のPixel(M,N)を例に、図18(A)〜(F)に示すタイミングチャートを参照しながら説明する。   Next, the operation of the pixel circuit 101B will be described with reference to timing charts shown in FIGS. 18A to 18F, taking Pixel (M, N) in FIG. 17 as an example.

ステップST11
まず、図18(A),(B)に示すように、駆動線DRL101をハイレベル(VDD,Von1)、オートゼロ線AZL101をハイレベル(VDD2,Von2)とし、TFT122、TFT123、TFT125を導通状態とする。
このとき、TFT121のゲートは、TFT125によって図18(F)に示すようにプリチャージ電位Vpcとなり、キャパシタC121の入力側電位VC121は、TFT122、TFT123が導通状態にあるため図18(E)に示すように電源電位VCCまたはその付近まで上昇する。
Step ST11 :
First, as shown in FIGS. 18A and 18B, the drive line DRL101 is set to the high level (VDD, Von1), the auto-zero line AZL101 is set to the high level (VDD2, Von2), and the TFT122, TFT123, and TFT125 are turned on. To do.
At this time, the gate of the TFT 121 becomes a precharge potential Vpc by the TFT 125 as shown in FIG. 18F, and the input side potential VC121 of the capacitor C121 is shown in FIG. 18E because the TFT 122 and the TFT 123 are in a conductive state. Thus, it rises to the power supply potential V CC or the vicinity thereof.

ステップST12:
図18(A)に示すように、駆動線DRL101をローレベル(VSS)とし、TFT122を非導通状態とする。TFT121に流れる電流が遮断されるため、TFT121のドレイン電位は下降するが、その電位がVpc+|Vth| まで下降した時点でTFT121は非導通状態となって電位が安定する。
このとき、キャパシタC121の入力側電位VC121は、TFT123が導通状態にあるため、図18(E)に示すように、やはり Vpc+|Vth|である。ここで |Vth|は、TFT121のしきい値の絶対値である。
Step ST12:
As shown in FIG. 18A, the drive line DRL101 is set to a low level (VSS), and the TFT 122 is turned off. Since the current flowing through the TFT 121 is cut off, the drain potential of the TFT 121 decreases. However, when the potential decreases to Vpc + | Vth |, the TFT 121 becomes non-conductive and the potential is stabilized.
At this time, the input side potential VC121 of the capacitor C121 is also Vpc + | Vth | as shown in FIG. 18E because the TFT 123 is in a conductive state. Here, | Vth | is the absolute value of the threshold value of the TFT 121.

ステップST13
図18(B)に示すように、オートゼロ線AZL101をローレベルとしてTFT123およびTFT125を非導通状態とする。キャパシタC121の入力側ノードの電位VC121は、図18(E)に示すように、Vpc+|Vth| であり、TFT121のゲート電位Vg121は、図18(F)に示すように、Vpcである。すなわち、キャパシタC121の端子間の電位差は |Vth|となる。
Step ST13 :
As shown in FIG. 18B, the auto-zero line AZL101 is set to a low level to turn off the TFT 123 and the TFT 125. The potential VC121 of the input side node of the capacitor C121 is Vpc + | Vth | as shown in FIG. 18E, and the gate potential Vg121 of the TFT 121 is Vpc as shown in FIG. 18F. That is, the potential difference between the terminals of the capacitor C121 is | Vth |.

ステップST14
図18(C),(D)に示すように、走査線SCNL101をハイレベルとしてTFT124を導通状態とし、信号線SGL101から輝度データに応じた電位VdataをキャパシタC121の入力側ノードND121に与える。
キャパシタC121端子間の電位差は |Vth|のまま保持されるので、TFT121のゲート電位Vg121は、図18(F)に示すように、Vdata - |Vth|となる。
Step ST14 :
As shown in FIGS. 18C and 18D, the scanning line SCNL101 is set to the high level to make the TFT 124 conductive, and the potential Vdata corresponding to the luminance data is supplied from the signal line SGL101 to the input side node ND121 of the capacitor C121.
Since the potential difference between the terminals of the capacitor C121 is maintained as | Vth |, the gate potential Vg121 of the TFT 121 becomes Vdata− | Vth | as shown in FIG.

ステップST15
図18(A),(C)に示すように、走査線SCNL101をハイレベル(VDD2,Von2)としてTFT124を非導通とし、駆動線DRL101をハイレベル(VDD,Von1)としてTFT122を導通状態とすると、TFT121および発光素子(OLED)126に電流が流れ、OLEDが発光を開始する。
Step ST15 :
As shown in FIGS. 18A and 18C, when the scanning line SCNL101 is set to the high level (VDD2, Von2) and the TFT 124 is turned off, and the driving line DRL101 is set to the high level (VDD and Von1) and the TFT 122 is turned on. A current flows through the TFT 121 and the light emitting element (OLED) 126, and the OLED starts to emit light.

なお、上記のステップST11およびST12の動作においては、Vpc+|Vth| < VDD となるようにVpcの値を設定する必要があるが、これを満たす限りVpcの値は任意である。   In the operations of steps ST11 and ST12, it is necessary to set the value of Vpc so that Vpc + | Vth | <VDD. However, as long as this value is satisfied, the value of Vpc is arbitrary.

上記動作を行った後に発光素子(OLED)126に流れる電流Ioledを計算すると、TFT121が飽和領域で動作していれば、次のようになる。   When the current Ioled flowing through the light emitting element (OLED) 126 is calculated after the above operation is performed, if the TFT 121 is operating in the saturation region, the following is obtained.

(数9)
Ioled=μCoxW/L/2(Vgs−Vth)2
=μCoxW/L/2(VCC−Vg−|Vth|)2
=μCoxW/L/2(VCC−Vdata+|Vth|−|Vth|)2
=μCoxW/L/2(VCC−Vdata)2
…(9)
(Equation 9)
Ioled = μCoxW / L / 2 (Vgs−Vth) 2
= ΜCoxW / L / 2 (V CC −Vg− | Vth |) 2
= ΜCoxW / L / 2 (V CC −Vdata + | Vth | − | Vth |) 2
= ΜCoxW / L / 2 (V CC −Vdata) 2
... (9)

ここで、μはキャリアの移動度、Coxは単位面積当たりのゲート容量、Wはゲート幅、Lはゲート長をそれぞれ示している。
(9)式によれば、電流IoledはTFT121のしきい値Vthに依存せず(Vthによらず)、外部から与えられるVdataによって制御される。
言い換えれば、図11の画素回路101Bを用いれば、画素毎にばらつくVthの影響を受けず、電流の均一性、ひいては輝度の均一性が比較的高い表示装置を実現することができる。
Here, μ represents carrier mobility, Cox represents gate capacitance per unit area, W represents gate width, and L represents gate length.
According to the equation (9), the current Ioled does not depend on the threshold value Vth of the TFT 121 (regardless of Vth) and is controlled by Vdata supplied from the outside.
In other words, when the pixel circuit 101B in FIG. 11 is used, it is possible to realize a display device that is relatively free from the influence of Vth, which varies from pixel to pixel, and that has relatively high current uniformity and luminance uniformity.

また、TFT121がリニア領域で動作している場合においても、発光素子(OLED)126に流れる電流Ioledは次のようになり、やはりVthに依存しない。   Even when the TFT 121 is operating in the linear region, the current Ioled flowing through the light emitting element (OLED) 126 is as follows and is not dependent on Vth.

(数10)
Ioled=μCoxW/L{(Vgs−Vth)Vds−Vds2 /2}
=μCoxW/L{(VCC−Vg−|Vth|)(VCC−Vd)−(VCC
−Vd)2 /2}
=μCoxW/L{(VCC−Vdata+|Vth|−|Vth|)(VCC
Vd)−(VCC−Vd)2 /2}
=μCoxW/L{(VCC−Vdata)(VCC−Vd)−(VCC−Vd)2 /2}
…(10)
(Equation 10)
Ioled = μCoxW / L {(Vgs -Vth) Vds-Vds 2/2}
= ΜCoxW / L {(V CC −Vg− | Vth |) (V CC −Vd) − (V CC
-Vd) 2/2}
= ΜCoxW / L {(V CC −Vdata + | Vth | − | Vth |) (V CC
Vd) - (V CC -Vd) 2/2}
= ΜCoxW / L {(V CC -Vdata) (V CC -Vd) - (V CC -Vd) 2/2}
(10)

ここで、VdはTFT121のドレイン電位を示している。   Here, Vd represents the drain potential of the TFT 121.

以上のように、本第3の実施形態の画素回路101Bによれば、しきい値Vthのばらつきの影響をキャンセルできるという点において、図1の従来例より優れる。
図3の従来例に対しては、次の点において、より優れている。
第1に、図3の従来例においては、外部から駆動するデータ振幅ΔVdataに対し、駆動トランジスタのゲート振幅ΔVgは(2)式に従って減少するという問題があったが、本発明においてデータ振幅はゲート振幅とほぼ等しく、したがってより小さな信号線振幅で画素回路を駆動することができる。
これによって、より低消費電力、低ノイズの駆動が可能となる。
第2に、図3の従来例で問題となるオートゼロ線とTFTのゲートとの容量結合については、図17の画素回路101Bにおいて、TFT123はTFT121のゲートとは直接接続されていないため、その影響が少ない。
一方、TFT125はTFT121のゲートと接続されているが、TFT125のソースは一定電位Vpcに接続されているため、オートゼロ動作終了時においてそのゲート電位が変化しても、TFT121のゲート電位はほぼVpcの電位に保たれる。
このように、図17の画素回路101Bにおいては、オートゼロ線AZL31とTFT121のゲートとの結合の影響が小さく、その結果図3の画素回路より正確にVthばらつきの補正が行われる。
すなわち、本実施形態によれば、トランジスタのしきい値のばらつきによらず、正確に画素回路の発光素子に所望の値の電流を供給し、その結果として輝度均一性の高い、高品位な画像を表示することが可能な有機EL用画素回路を実現できる。その結果、従来の類似回路より高精度なしきい値補正が可能となる。
As described above, the pixel circuit 101B of the third embodiment is superior to the conventional example of FIG. 1 in that the influence of variations in the threshold value Vth can be canceled.
3 is superior to the conventional example of FIG. 3 in the following points.
First, the conventional example of FIG. 3 has a problem that the gate amplitude ΔVg of the driving transistor decreases according to the equation (2) with respect to the data amplitude ΔVdata driven from the outside. Accordingly, the pixel circuit can be driven with a smaller signal line amplitude.
As a result, it is possible to drive with lower power consumption and lower noise.
Second, regarding the capacitive coupling between the auto-zero line and the TFT gate, which is a problem in the conventional example of FIG. 3, the TFT 123 is not directly connected to the gate of the TFT 121 in the pixel circuit 101B of FIG. Less is.
On the other hand, the TFT 125 is connected to the gate of the TFT 121, but the source of the TFT 125 is connected to the constant potential Vpc. Therefore, even if the gate potential changes at the end of the auto-zero operation, the gate potential of the TFT 121 is approximately Vpc. Kept at potential.
As described above, in the pixel circuit 101B of FIG. 17, the influence of the coupling between the auto zero line AZL31 and the gate of the TFT 121 is small, and as a result, the Vth variation is corrected more accurately than the pixel circuit of FIG.
That is, according to the present embodiment, a current having a desired value is accurately supplied to the light emitting element of the pixel circuit regardless of variations in the threshold value of the transistor, and as a result, a high-quality image with high luminance uniformity. An organic EL pixel circuit capable of displaying the above can be realized. As a result, the threshold value can be corrected with higher accuracy than the conventional similar circuit.

また、オフセットキャンセルのタイミングについて考察する。
本第3の実施形態においても、信号線SGLと平行にプリジャージ電位線VPCLが配線されている。このとき、信号線SGLと平行なプリジャージ電位線VPCLの1つに接続され、同時にオフセットキャンセルされる画素数はK画素である。
通常、Kはオフセットキャンセル期間であり、十分にオフセットするのに必要な時間であるが、1〜数10以下が通常であり、従来例で同時にオフセットキャンセルする画素数に比べて小さい。また、パネルの解像度が上がっても、Kは変化しない。したがって、プリチャージ電位を安定した電位に保つことが容易となる。
Also consider the timing of offset cancellation.
Also in the third embodiment, the pre-jersey potential line VPCL is wired in parallel with the signal line SGL. At this time, the number of pixels that are connected to one of the pre-jersey potential lines VPCL parallel to the signal line SGL and simultaneously cancel the offset is K pixels.
Usually, K is an offset cancellation period, which is a time required for sufficient offset, but usually 1 to several tens or less, which is smaller than the number of pixels subjected to offset cancellation simultaneously in the conventional example. Also, K does not change even if the panel resolution increases. Therefore, it becomes easy to keep the precharge potential at a stable potential.

本第3の実施形態によれば、上述した第1の実施形態と同様の効果、すなわち、画素内部の能動素子のしきい値のばらつきによらず、安定かつ正確に各画素の発光素子に所望の値の電流を供給でき、かつ、プリチャージ電位線によるオフセットキャンセル機能を有したとしても安定に基準電位を保持でき、表示画像の輝度に勾配ができることを防止できる。その結果、高品位な画像を表示することができる利点がある。   According to the third embodiment, an effect similar to that of the first embodiment described above, that is, a desired light emitting element of each pixel can be stably and accurately regardless of variations in threshold values of active elements inside the pixel. Can be supplied, and even if the offset cancel function using the precharge potential line is provided, the reference potential can be stably maintained, and a gradient in the brightness of the display image can be prevented. As a result, there is an advantage that a high-quality image can be displayed.

また、本第3の実施形態においても、電源電位線VCCLは、表示領域である画素アレイ部102の図中上下を共通化、すなわち複数の電源電位線VCCL101〜VCCL10nの両端部を共通に接続して、同電位化を図っている。したがって、電源電位線VCCLの図中上下で生じる長さ方向の電位差による輝度ムラを防止することができる。   Also in the third embodiment, the power supply potential line VCCL is common to the upper and lower sides of the pixel array unit 102 as a display region, that is, both ends of the plurality of power supply potential lines VCCL101 to VCCL10n are connected in common. Therefore, the same potential is achieved. Accordingly, luminance unevenness due to a potential difference in the length direction occurring at the top and bottom of the power supply potential line VCCL in the drawing can be prevented.

<第4実施形態>
図19は、本発明に係るアクティブマトリクス型有機ELディスプレイ(表示装置)の第4の実施形態を示す回路図である。
<Fourth embodiment>
FIG. 19 is a circuit diagram showing a fourth embodiment of an active matrix organic EL display (display device) according to the present invention.

本第4の実施形態が上述した図17の第3の実施形態と異なる点は、画素回路101Cの構成にある。
すなわち、図17の画素回路101Bは、スイッチングトランジスタとしてのTFT122〜TFT125をnチャネルトランジスタにより構成したが、本第4の実施形態の画素回路101Cにおいては、スイッチングトランジスタとしてのTFT122〜TFT125をpチャネルトランジスタにより構成している。
The fourth embodiment is different from the above-described third embodiment of FIG. 17 in the configuration of the pixel circuit 101C.
That is, in the pixel circuit 101B of FIG. 17, the TFTs 122 to TFT125 as switching transistors are configured by n-channel transistors, but in the pixel circuit 101C of the fourth embodiment, the TFTs 122 to TFT125 as switching transistors are replaced by p-channel transistors. It is constituted by.

この場合、第1のスキャンドライバ104Cと第2のスキャンドライバ105Cとが駆動する駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mの駆動信号VSCNL,VAZLのレベルが第3の実施形態と逆レベル(極性)となるが、駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mの駆動信号VSCNL,VAZLのレベルが、Von1<Von2の関係を満足するように設定される。   In this case, the drive signal VDRL of the drive lines DRL101 to DRL10m driven by the first scan driver 104C and the second scan driver 105C, and the levels of the drive signals VSCNL and VAZL of the scan lines SCNL101 to SCNL10m and the auto zero lines AZL101 to AZL10m However, the levels of the drive signals VDRL of the drive lines DRL101 to DRL10m and the drive signals VSCNL and VAZL of the scan lines SCNL101 to SCNL10m and the auto-zero lines AZL101 to AZL10m are Von1 < It is set so as to satisfy the relationship of Von2.

本第4の実施形態においては、第1〜第4のスイッチングトランジスタとしてTFT122〜TFT125は、同一の導電型(pチャネル)であり、第1の駆動回路としての第1のスキャンドライバ104Cと第2の駆動回路としての第2のスキャンドライバ105Cは、第1の制御線としての駆動線DRL101〜DRL10mのオン電位Von1と、第2の制御線としての走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mのオン電位Von2とを、第1のスイッチングトランジスタとしてのTFT122のオン時の抵抗値が、第2、第3、および第4のスイッチングトランジスタとしてのTFT123〜TFT125のオン時の抵抗値より小さくなるように設定する。
すなわち、図20(A),(B),(C)に示すように、第1のスキャンドライバ104Cと第2のスキャンドライバ105Cとは、Von1<Von2の関係を満足するように、駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mの駆動信号VSCNL,VAZLを設定する。
駆動信号VDRLは、(VDD−VSS)の振幅を持ち、駆動信号VSCNL,VAZLは〔VDD−VSS2(>VSS)〕の振幅を持つ。
In the fourth embodiment, the TFTs 122 to 125 as the first to fourth switching transistors have the same conductivity type (p channel), and the first scan driver 104C as the first drive circuit and the second The second scan driver 105C as a drive circuit of the second control circuit includes an ON potential Von1 of drive lines DRL101 to DRL10m as first control lines, and scan lines SCNL101 to SCNL10m and auto zero lines AZL101 to AZL10m as second control lines. The on-potential Von2 is set so that the on-resistance value of the TFT 122 as the first switching transistor is smaller than the on-resistance values of the TFTs 123 to 125 as the second, third, and fourth switching transistors. Set.
That is, as shown in FIGS. 20A, 20B, and 20C, the first scan driver 104C and the second scan driver 105C have the drive line DRL101 so that the relationship Von1 <Von2 is satisfied. Drive signal VDRL for .about.DRL10m and drive signals VSCNL and VAZL for scan lines SCNL101 to SCNL10m and auto-zero lines AZL101 to AZL10m are set.
The drive signal VDRL has an amplitude of (VDD−VSS), and the drive signals VSCNL and VAZL have an amplitude of [VDD−VSS2 (> VSS)].

第1のスキャンドライバ104Cと第2のスキャンドライバ105Cの駆動信号の生成回路は、図14、図15、および図16の回路構成と同様の構成を有する。   The drive signal generation circuits of the first scan driver 104C and the second scan driver 105C have the same configuration as the circuit configurations of FIGS. 14, 15, and 16.

このように、本第4の実施形態においては、第1のスキャンドライバ104Cと第2のスキャンドライバ105Cとが、Von1<Von2の関係を満足するように、駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mの駆動信号VSCNL,VAZLを設定することにより、飛び込み電圧、スイッチの抵抗を最適化して、表示画像の輝度にむらができることを防止して、高品位な画像を表示することを実現している。   As described above, in the fourth embodiment, the drive signals VDRL of the drive lines DRL101 to DRL10m are set so that the first scan driver 104C and the second scan driver 105C satisfy the relationship Von1 <Von2. By setting the drive signals VSCNL and VAZL of the scanning lines SCNL101 to SCNL10m and the auto zero lines AZL101 to AZL10m, the jump voltage and the switch resistance are optimized to prevent unevenness in the brightness of the display image, thereby achieving high quality. It is possible to display a simple image.

なお、図19の動作については、図17の場合と駆動信号のアクティブレベルが逆レベルとなる以外は、第3の実施形態と同様に行われるため、ここではその詳細な説明は省略する。   The operation in FIG. 19 is performed in the same manner as in the third embodiment except that the active level of the drive signal is opposite to that in the case of FIG. 17, and thus detailed description thereof is omitted here.

本第4の実施形態によれば、上述した第3の実施形態の効果と同様の効果を得ることができる。   According to the fourth embodiment, the same effects as those of the third embodiment described above can be obtained.

<第5実施形態>
図21は、本発明に係るアクティブマトリクス型有機ELディスプレイ(表示装置)の第5の実施形態を示す回路図である。
<Fifth Embodiment>
FIG. 21 is a circuit diagram showing a fifth embodiment of an active matrix organic EL display (display device) according to the present invention.

本第5の実施形態が上述した第3の実施形態と異なる点は、画素回路101Dの構成にある。
以下、本第5の実施形態に係る画素回路101Dの構成および動作を順を追って説明する。
The fifth embodiment is different from the third embodiment described above in the configuration of the pixel circuit 101D.
Hereinafter, the configuration and operation of the pixel circuit 101D according to the fifth embodiment will be described in order.

本第5の実施形態に係る各画素回路101Dは、図21に示すように、nチャネルTFT131〜TFT135、キャパシタC131,C132、有機EL素子OLED(電気光学素子)からなる発光素子136、およびノードND131〜ND133を有する。
これらの構成要素のうち、TFT131が本発明に係る電界効果トランジスタを構成、TFT132が第1のスイッチングトランジスタを構成し、TFT133が第2のスイッチングトランジスタを構成し、TFT135が第3のスイッチングトランジスタを構成し、TFT134が第4のスイッチングトランジスタを構成、キャパシタC131が本発明に係るキャパシタを構成している。
なお、TFT135をオン、オフする制御線としてオートゼロ線AZLを共通に用いているが別の制御線を用いてオン、オフ制御することも可能である。
また、電源電圧VCCの供給ライン(電源電位)が第1の基準電位に相当し、カソード線CSLの電位(たとえば接地電位GND)が第2の基準電位に相当している。
As shown in FIG. 21, each pixel circuit 101D according to the fifth embodiment includes n-channel TFTs 131 to 135, capacitors C131 and C132, a light-emitting element 136 including an organic EL element OLED (electro-optical element), and a node ND131. ~ ND133.
Of these components, the TFT 131 constitutes a field effect transistor according to the present invention, the TFT 132 constitutes a first switching transistor, the TFT 133 constitutes a second switching transistor, and the TFT 135 constitutes a third switching transistor. The TFT 134 constitutes a fourth switching transistor, and the capacitor C131 constitutes a capacitor according to the present invention.
Note that the auto-zero line AZL is commonly used as a control line for turning on / off the TFT 135, but it is also possible to perform on / off control using another control line.
Further, the supply line (power supply potential) of the power supply voltage V CC corresponds to the first reference potential, and the potential of the cathode line CSL (for example, the ground potential GND) corresponds to the second reference potential.

なお、本画素アレイ部102Dにおいて、画素回路101Dはm×nのマトリクス状に配列されるが、図21においても、図面の簡単化のために2(=m)×2(=n)のマトリクス状に配列した例を示している。
また、図21においては、2×2の画素回路の各々を、Pixel(M,N)、Pixel(M,N+1)、Pixel(M+1,N)、Pixel(M+1,N+1)とも表記している。
In the present pixel array unit 102D, the pixel circuits 101D are arranged in an m × n matrix. However, in FIG. 21 as well, a 2 (= m) × 2 (= n) matrix is used for simplification of the drawing. The example arranged in the shape is shown.
In FIG. 21, each of the 2 × 2 pixel circuits is also expressed as Pixel (M, N), Pixel (M, N + 1), Pixel (M + 1, N), and Pixel (M + 1, N + 1).

次に、各画素回路101Dの具体的な構成について説明する。   Next, a specific configuration of each pixel circuit 101D will be described.

図21の1行1列目に配置された画素回路Pixel(M,N)において、駆動トランジスタとしてTFT131のドレインが第1列目に配線された電源電位線VCCL101に接続され、ソースがノードND133に接続され、ゲートがノードND131に接続されている。
TFT132のドレインがノードND133(TFT131のソース)に接続され、ソースが有機EL発光素子136のアノード側に接続され、ゲートが第1行目に配線された駆動線DRL101に接続され、発光素子116のカソードが所定電位(たとえばグランド電位)のカソード線CSLに接続されている。
TFT133のソースがノードND133(TFT131のソース)に接続され、ドレインがノードND131(TFT131のゲート)に接続され、ゲートが第1行目に配線されたオートゼロ線AZL101に接続されている。
キャパシタC101の第1電極がノードND131に接続され、第2電極がノードND132に接続されている。また、キャパシタC132の第1電極がノードND131に接続され、第2電極が第1列目に配線された電源電位線VCCL101に接続されている。
TFT134のソースがノードND132に接続され、ドレインが第1列目に配線された信号線SGL101に接続され、ゲートが第1行目に配線された走査線SCNL101に接続されている。
TFT135のソースがノードND132に接続され、ドレインが第1列目に配線されたプリチャージ電位線VPCL101に接続されている。
In the pixel circuit Pixel (M, N) arranged in the first row and first column in FIG. 21, the drain of the TFT 131 as a drive transistor is connected to the power supply potential line VCCL101 wired in the first column, and the source is connected to the node ND133. The gates are connected to the node ND131.
The drain of the TFT 132 is connected to the node ND133 (source of the TFT 131), the source is connected to the anode side of the organic EL light emitting element 136, the gate is connected to the drive line DRL101 wired in the first row, and the light emitting element 116 The cathode is connected to a cathode line CSL having a predetermined potential (for example, ground potential).
The source of the TFT 133 is connected to the node ND133 (source of the TFT 131), the drain is connected to the node ND131 (gate of the TFT 131), and the gate is connected to the auto-zero line AZL101 wired in the first row.
A first electrode of the capacitor C101 is connected to the node ND131, and a second electrode is connected to the node ND132. The first electrode of the capacitor C132 is connected to the node ND131, and the second electrode is connected to the power supply potential line VCCL101 wired in the first column.
The source of the TFT 134 is connected to the node ND132, the drain is connected to the signal line SGL101 wired in the first column, and the gate is connected to the scanning line SCNL101 wired in the first row.
The source of the TFT 135 is connected to the node ND132, and the drain is connected to the precharge potential line VPCL101 wired in the first column.

図21の2行1列目に配置された画素回路Pixel(M+1,N)において、駆動トランジスタとしてTFT131のドレインが第1列目に配線された電源電位線VCCL101に接続され、ソースがノードND133に接続され、ゲートがノードND131に接続されている。
TFT132のドレインがノードND133(TFT131のソース)に接続され、ソースが有機EL発光素子136のアノード側に接続され、ゲートが第2行目に配線された駆動線DRL102に接続され、発光素子116のカソードが所定電位(たとえばグランド電位)のカソード線CSLに接続されている。
TFT133のソースがノードND133(TFT131のソース)に接続され、ドレインがノードND131(TFT131のゲート)に接続され、ゲートが第2行目に配線されたオートゼロ線AZL102に接続されている。
キャパシタC101の第1電極がノードND131に接続され、第2電極がノードND132に接続されている。また、キャパシタC132の第1電極がノードND131に接続され、第2電極が第1列目に配線された電源電位線VCCL101に接続されている。
TFT134のソースがノードND132に接続され、ドレインが第1列目に配線された信号線SGL101に接続され、ゲートが第2行目に配線された走査線SCNL102に接続されている。
TFT135のソースがノードND132に接続され、ドレインが第1列目に配線されたプリチャージ電位線VPCL101に接続されている。
In the pixel circuit Pixel (M + 1, N) arranged in the second row and the first column in FIG. 21, the drain of the TFT 131 as the drive transistor is connected to the power supply potential line VCCL101 wired in the first column, and the source is connected to the node ND133. The gates are connected to the node ND131.
The drain of the TFT 132 is connected to the node ND133 (the source of the TFT 131), the source is connected to the anode side of the organic EL light emitting device 136, the gate is connected to the drive line DRL102 wired in the second row, and the light emitting device 116 The cathode is connected to a cathode line CSL having a predetermined potential (for example, ground potential).
The source of the TFT 133 is connected to the node ND133 (source of the TFT 131), the drain is connected to the node ND131 (gate of the TFT 131), and the gate is connected to the auto zero line AZL102 wired in the second row.
A first electrode of the capacitor C101 is connected to the node ND131, and a second electrode is connected to the node ND132. The first electrode of the capacitor C132 is connected to the node ND131, and the second electrode is connected to the power supply potential line VCCL101 wired in the first column.
The source of the TFT 134 is connected to the node ND132, the drain is connected to the signal line SGL101 wired in the first column, and the gate is connected to the scanning line SCNL102 wired in the second row.
The source of the TFT 135 is connected to the node ND132, and the drain is connected to the precharge potential line VPCL101 wired in the first column.

図21の1行2列目に配置された画素回路Pixel(M,N+1)において、駆動トランジスタとしてTFT131のドレインが第2列目に配線された電源電位線VCCL102に接続され、ソースがノードND133に接続され、ゲートがノードND131に接続されている。
TFT132のドレインがノードND133(TFT131のソース)に接続され、ソースが有機EL発光素子136のアノード側に接続され、ゲートが第1行目に配線された駆動線DRL101に接続され、発光素子116のカソードが所定電位(たとえばグランド電位)のカソード線CSLに接続されている。
TFT133のソースがノードND133(TFT131のソース)に接続され、ドレインがノードND131(TFT131のゲート)に接続され、ゲートが第1行目に配線されたオートゼロ線AZL101に接続されている。
キャパシタC101の第1電極がノードND131に接続され、第2電極がノードND132に接続されている。また、キャパシタC132の第1電極がノードND131に接続され、第2電極が第2列目に配線された電源電位線VCCL102に接続されている。
TFT134のソースがノードND132に接続され、ドレインが第2列目に配線された信号線SGL102に接続され、ゲートが第1行目に配線された走査線SCNL101に接続されている。
TFT135のソースがノードND132に接続され、ドレインが第2列目に配線されたプリチャージ電位線VPCL102に接続されている。
In the pixel circuit Pixel (M, N + 1) arranged in the first row and the second column in FIG. The gates are connected to the node ND131.
The drain of the TFT 132 is connected to the node ND133 (source of the TFT 131), the source is connected to the anode side of the organic EL light emitting element 136, the gate is connected to the drive line DRL101 wired in the first row, and the light emitting element 116 The cathode is connected to a cathode line CSL having a predetermined potential (for example, ground potential).
The source of the TFT 133 is connected to the node ND133 (source of the TFT 131), the drain is connected to the node ND131 (gate of the TFT 131), and the gate is connected to the auto-zero line AZL101 wired in the first row.
A first electrode of the capacitor C101 is connected to the node ND131, and a second electrode is connected to the node ND132. The first electrode of the capacitor C132 is connected to the node ND131, and the second electrode is connected to the power supply potential line VCCL102 wired in the second column.
The source of the TFT 134 is connected to the node ND132, the drain is connected to the signal line SGL102 wired in the second column, and the gate is connected to the scanning line SCNL101 wired in the first row.
The source of the TFT 135 is connected to the node ND132, and the drain is connected to the precharge potential line VPCL102 wired in the second column.

図21の2行2列目に配置された画素回路Pixel(M+1,N+1)において、駆動トランジスタとしてTFT131のドレインが第2列目に配線された電源電位線VCCL102に接続され、ソースがノードND133に接続され、ゲートがノードND131に接続されている。
TFT132のドレインがノードND133(TFT131のソース)に接続され、ソースが有機EL発光素子136のアノード側に接続され、ゲートが第2行目に配線された駆動線DRL102に接続され、発光素子116のカソードが所定電位(たとえばグランド電位)のカソード線CSLに接続されている。
TFT133のソースがノードND133(TFT131のソース)に接続され、ドレインがノードND131(TFT131のゲート)に接続され、ゲートが第2行目に配線されたオートゼロ線AZL102に接続されている。
キャパシタC101の第1電極がノードND131に接続され、第2電極がノードND132に接続されている。また、キャパシタC132の第1電極がノードND131に接続され、第2電極が第2列目に配線された電源電位線VCCL102に接続されている。
TFT134のソースがノードND132に接続され、ドレインが第2列目に配線された信号線SGL102に接続され、ゲートが第2行目に配線された走査線SCNL102に接続されている。
TFT135のソースがノードND132に接続され、ドレインが第2列目に配線されたプリチャージ電位線VPCL102に接続されている。
In the pixel circuit Pixel (M + 1, N + 1) arranged in the second row and the second column in FIG. The gates are connected to the node ND131.
The drain of the TFT 132 is connected to the node ND133 (the source of the TFT 131), the source is connected to the anode side of the organic EL light emitting device 136, the gate is connected to the drive line DRL102 wired in the second row, and the light emitting device 116 The cathode is connected to a cathode line CSL having a predetermined potential (for example, ground potential).
The source of the TFT 133 is connected to the node ND133 (source of the TFT 131), the drain is connected to the node ND131 (gate of the TFT 131), and the gate is connected to the auto zero line AZL102 wired in the second row.
A first electrode of the capacitor C101 is connected to the node ND131, and a second electrode is connected to the node ND132. The first electrode of the capacitor C132 is connected to the node ND131, and the second electrode is connected to the power supply potential line VCCL102 wired in the second column.
The source of the TFT 134 is connected to the node ND132, the drain is connected to the signal line SGL102 wired in the second column, and the gate is connected to the scanning line SCNL102 wired in the second row.
The source of the TFT 135 is connected to the node ND132, and the drain is connected to the precharge potential line VPCL102 wired in the second column.

図21の画素回路101Dと図17の画素回路101Bとの最も大きな違いは、発光素子(OLED)136に流れる電流を制御する駆動トランジスタとしてTFT131がnチャネルであり、そのソースと有機EL発光素子(OLED)とスイッチとしてのTFT132を介して接続されている点である。   The biggest difference between the pixel circuit 101D in FIG. 21 and the pixel circuit 101B in FIG. 17 is that the TFT 131 is an n-channel as a drive transistor for controlling the current flowing in the light emitting element (OLED) 136, and the source and the organic EL light emitting element ( OLED) and a TFT 132 as a switch.

本第5の実施形態においては、第1〜第4のスイッチングトランジスタとしてTFT132〜TFT135は、同一の導電型(nチャネル)であり、第1の駆動回路としての第1のスキャンドライバ104Dと第2の駆動回路としての第2のスキャンドライバ105Dは、第1の制御線としての駆動線DRL101〜DRL10mのオン電位Von1と、第2の制御線としての走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mのオン電位Von2とを、第1のスイッチングトランジスタとしてのTFT132のオン時の抵抗値が、第2、第3、および第4のスイッチングトランジスタとしてのTFT133〜TFT135のオン時の抵抗値より小さくなるように設定する。
すなわち、図22(A),(B),(C)に示すように、第1のスキャンドライバ104Bと第2のスキャンドライバ105Dとは、Von1>Von2の関係を満足するように、駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mの駆動信号VSCNL,VAZLを設定する。
駆動信号VDRLは、(VDD−VSS)の振幅を持ち、駆動信号VSCNL,VAZLは〔VDD2(<VDD)−VSS〕の振幅を持つ。
In the fifth embodiment, the TFTs 132 to 135 as the first to fourth switching transistors have the same conductivity type (n-channel), and the first scan driver 104D as the first drive circuit and the second The second scan driver 105D serving as the drive circuit includes the ON potential Von1 of the drive lines DRL101 to DRL10m as the first control lines, the scan lines SCNL101 to SCNL10m and the auto zero lines AZL101 to AZL10m as the second control lines. The on-potential Von2 is set so that the on-resistance value of the TFT 132 as the first switching transistor is smaller than the on-resistance values of the TFTs 133 to 135 as the second, third, and fourth switching transistors. Set.
That is, as shown in FIGS. 22A, 22B, and 22C, the first scan driver 104B and the second scan driver 105D drive line DRL101 so as to satisfy the relationship Von1> Von2. Drive signal VDRL for .about.DRL10m and drive signals VSCNL and VAZL for scan lines SCNL101 to SCNL10m and auto-zero lines AZL101 to AZL10m are set.
The drive signal VDRL has an amplitude of (VDD−VSS), and the drive signals VSCNL and VAZL have an amplitude of [VDD2 (<VDD) −VSS].

第1のスキャンドライバ104Dと第2のスキャンドライバ105Dの駆動信号の生成回路は、図9、図10、および図11の回路構成と同様の構成を有する。   The drive signal generation circuits of the first scan driver 104D and the second scan driver 105D have the same configuration as the circuit configurations of FIGS.

このように、本第5の実施形態においては、第1のスキャンドライバ104Dと第2のスキャンドライバ105Dとが、Von1>Von2の関係を満足するように、駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mの駆動信号VSCNL,VAZLを設定することにより、飛び込み電圧、スイッチの抵抗を最適化して、表示画像の輝度にむらができることを防止して、高品位な画像を表示することを実現している。   As described above, in the fifth embodiment, the drive signal VDRL of the drive lines DRL101 to DRL10m is set so that the first scan driver 104D and the second scan driver 105D satisfy the relationship of Von1> Von2. By setting the drive signals VSCNL and VAZL of the scanning lines SCNL101 to SCNL10m and the auto zero lines AZL101 to AZL10m, the jump voltage and the switch resistance are optimized to prevent unevenness in the brightness of the display image, thereby achieving high quality. It is possible to display a simple image.

次に、画素回路101Dの動作について、図21のPixel(M,N)を例に、図22(A)〜(F)に示すタイミングチャートを参照しながら説明する。   Next, the operation of the pixel circuit 101D will be described with reference to timing charts shown in FIGS. 22A to 22F, taking Pixel (M, N) in FIG. 21 as an example.

ステップST21
図22(A),(B)に示すように、駆動線DRL101をハイレベル(VDD,Von1)、オートゼロ線AZL101をハイレベル(VDD2,Von2)とし、TFT132、TFT133、TFT135を導通状態とする。このとき、TFT131のゲート電位Vg131はTFT135によって、図22(F)に示すように、プリチャージ電位Vpcとなる。Vpcを十分高い電位とすればTFT131が導通状態となり、TFT131および発光素子(OLED)136に電流が流れる。
Step ST21 :
As shown in FIGS. 22A and 22B, the drive line DRL101 is set to a high level (VDD, Von1), the auto-zero line AZL101 is set to a high level (VDD2, Von2), and the TFTs 132, 133, and 135 are turned on. At this time, the gate potential Vg131 of the TFT 131 becomes a precharge potential Vpc by the TFT 135 as shown in FIG. When Vpc is set to a sufficiently high potential, the TFT 131 becomes conductive, and a current flows through the TFT 131 and the light emitting element (OLED) 136.

ステップST22
図22(A)に示すように、駆動線DRL101をローレベル(VSS)とし、TFT132を非導通状態とする。TFT131に流れる電流が遮断されるため、TFT131のソース電位は上昇するが、その電位が(Vpc-Vth )まで上昇した時点でTFT131は非導通状態となって電位が安定する。
このとき、キャパシタC131の入力側電位VC131は、TFT133が導通状態にあるため、図22(E)に示すように、やはり(Vpc-Vth)である。ここでVthは、TFT131のしきい値である。
Step ST22 :
As shown in FIG. 22A, the drive line DRL101 is set to a low level (VSS), and the TFT 132 is turned off. Since the current flowing through the TFT 131 is cut off, the source potential of the TFT 131 rises, but when the potential rises to (Vpc−Vth), the TFT 131 becomes nonconductive and the potential is stabilized.
At this time, the input side potential VC131 of the capacitor C131 is also (Vpc−Vth) as shown in FIG. 22E because the TFT 133 is in a conductive state. Here, Vth is a threshold value of the TFT 131.

ステップST23
図22(B)に示すように、オートゼロ線AZL101をローレベル(VSS)としてTFT133およびTFT135を非導通状態とする。キャパシタC131の入力側ノードND131の電位VC131は、図22(E)に示すように、(Vpc - Vth )であり、TFT131のゲート電位Vg131は、図22(F)に示すようにVpcである。すなわち、キャパシタC131の端子間の電位差はVthとなる。
Step ST23 :
As shown in FIG. 22B, the auto zero line AZL101 is set to a low level (VSS), so that the TFT 133 and the TFT 135 are turned off. The potential VC131 of the input side node ND131 of the capacitor C131 is (Vpc−Vth) as shown in FIG. 22E, and the gate potential Vg131 of the TFT 131 is Vpc as shown in FIG. That is, the potential difference between the terminals of the capacitor C131 is Vth.

ステップST24
図22(C),(D)に示すように、走査線SCNL101をハイレベル(VDD2,Von2)としてTFT134を導通状態とし、信号線SGL101から輝度データに応じた電位VdataをキャパシタC131の入力側ノードND131に与える。キャパシタC131の端子間の電位差はVthのまま保持されるので、TFT131のゲート電位Vg131は、図21(F)に示すように、(Vdata + Vth )となる。
Step ST24 :
As shown in FIGS. 22C and 22D, the scanning line SCNL101 is set to the high level (VDD2, Von2), the TFT 134 is turned on, and the potential Vdata corresponding to the luminance data is supplied from the signal line SGL101 to the input side node of the capacitor C131. To ND131. Since the potential difference between the terminals of the capacitor C131 is held at Vth, the gate potential Vg131 of the TFT 131 is (Vdata + Vth) as shown in FIG.

ステップST25
図22(A),(C)に示すように、走査線SCNL101をローレベルとしてTFT134を非導通状態とし、駆動線DRL101をハイレベル(VDD,Von1)としてTFT132を導通状態とすると、TFT131および発光素子(OLED)136に電流が流れ、発光素子(OLED)136が発光を開始する。
Step ST25 :
As shown in FIGS. 22A and 22C, when the scanning line SCNL101 is at a low level and the TFT 134 is turned off, and the driving line DRL101 is at a high level (VDD, Von1) and the TFT 132 is turned on, the TFT 131 and the light emission. A current flows through the element (OLED) 136, and the light emitting element (OLED) 136 starts to emit light.

なお、上記ステップST21およびST22の動作においては、Vth _elをOLEDのしきい値としたとき、Vpc-Vth>Vth _elとなるようにVpcの値を設定する必要があるが、これを満たす限りVpcの値は任意である。   In the operations of steps ST21 and ST22, it is necessary to set the value of Vpc so that Vpc_Vth> Vth_el when Vth_el is the threshold value of OLED. The value of is arbitrary.

上記動作を行った後に発光素子(OLED)136に流れる電流Ioledを計算すると、TFT131が飽和領域で動作していれば、次のようになる。   When the current Ioled flowing through the light emitting element (OLED) 136 is calculated after the above operation is performed, if the TFT 131 operates in the saturation region, the following is obtained.

(数11)
Ioled=μCoxW/L/2(Vgs−Vth)2
=μCoxW/L/2(VCC−Vs−Vth)2
=μCoxW/L/2(Vdata+Vth−Vs−Vth)2
=μCoxW/L/2(Vdata−Vs)2
…(11)
(Equation 11)
Ioled = μCoxW / L / 2 (Vgs−Vth) 2
= ΜCoxW / L / 2 (V CC −Vs−Vth) 2
= ΜCoxW / L / 2 (Vdata + Vth−Vs−Vth) 2
= ΜCoxW / L / 2 (Vdata−Vs) 2
... (11)

ここで、μはキャリアの移動度、Coxは単位面積当たりのゲート容量、Wはゲート幅、Lはゲート長をそれぞれ示している。
(11)式によれば、発光素子(OLED)136に流れる電流IoledはTFT131のしきい値Vthによらず、外部から与えられるVdataによって制御される。
言い換えれば、図21の画素回路101Dを用いれば、画素毎にばらつくVthの影響を受けず、電流の均一性、ひいては輝度の均一性が比較的高い表示装置を実現することができる。これは、TFT131がリニア領域で動作する場合においても同様である。
Here, μ represents carrier mobility, Cox represents gate capacitance per unit area, W represents gate width, and L represents gate length.
According to the equation (11), the current Ioled flowing through the light emitting element (OLED) 136 is controlled by Vdata applied from the outside regardless of the threshold value Vth of the TFT 131.
In other words, when the pixel circuit 101D in FIG. 21 is used, it is possible to realize a display device that is relatively unaffected by Vth that varies from pixel to pixel and that has relatively high current uniformity and thus luminance uniformity. The same applies to the case where the TFT 131 operates in the linear region.

本第5の実施形態によれば、上述した第1および第3の実施形態と同様の効果、すなわち、画素内部の能動素子のしきい値のばらつきによらず、安定かつ正確に各画素の発光素子に所望の値の電流を供給でき、かつ、プリチャージ電位線によるオフセットキャンセル機能を有したとしても安定に基準電位を保持でき、表示画像の輝度に勾配ができることを防止できる。その結果、高品位な画像を表示することができる利点がある。   According to the fifth embodiment, the same effects as those of the first and third embodiments described above, that is, the light emission of each pixel stably and accurately regardless of variations in threshold values of active elements inside the pixel. Even if a current having a desired value can be supplied to the element and an offset cancel function using a precharge potential line is provided, the reference potential can be stably maintained, and a gradient in display image luminance can be prevented. As a result, there is an advantage that a high-quality image can be displayed.

また、本第5の実施形態においても、電源電位線VCCLは、表示領域である画素アレイ部102の図中上下を共通化、すなわち複数の電源電位線VCCL101〜VCCL10nの両端部を共通に接続して、同電位化を図っている。したがって、電源電位線VCCLの図中上下で生じる長さ方向の電位差による輝度ムラを防止することができる。   Also in the fifth embodiment, the power supply potential line VCCL is common to the upper and lower sides of the pixel array unit 102 as a display region, that is, both ends of the plurality of power supply potential lines VCCL101 to VCCL10n are connected in common. Therefore, the same potential is achieved. Accordingly, luminance unevenness due to a potential difference in the length direction occurring at the top and bottom of the power supply potential line VCCL in the drawing can be prevented.

<第6実施形態>
図23は、本発明に係るアクティブマトリクス型有機ELディスプレイ(表示装置)の第6の実施形態を示す回路図である。
<Sixth Embodiment>
FIG. 23 is a circuit diagram showing a sixth embodiment of an active matrix organic EL display (display device) according to the present invention.

本第6の実施形態が上述した図21の第5の実施形態と異なる点は、画素回路101Eの構成にある。
すなわち、図21の画素回路101Dは、スイッチングトランジスタとしてのTFT132〜TFT135をnチャネルトランジスタにより構成したが、本第6の実施形態の画素回路101Eにおいては、スイッチングトランジスタとしてのTFT132〜TFT135をpチャネルトランジスタにより構成している。
The sixth embodiment is different from the above-described fifth embodiment of FIG. 21 in the configuration of the pixel circuit 101E.
That is, in the pixel circuit 101D of FIG. 21, the TFTs 132 to 135 as switching transistors are configured by n-channel transistors. However, in the pixel circuit 101E of the sixth embodiment, the TFTs 132 to 135 as switching transistors are p-channel transistors. It consists of.

この場合、第1のスキャンドライバ104Eと第2のスキャンドライバ105Eとが駆動する駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mの駆動信号VSCNL,VAZLのレベルが第5の実施形態と逆レベル(極性)となるが、駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mの駆動信号VSCNL,VAZLのレベルが、Von1<Von2の関係を満足するように設定される。   In this case, the drive signal VDRL of the drive lines DRL101 to DRL10m driven by the first scan driver 104E and the second scan driver 105E, and the levels of the drive signals VSCNL and VAZL of the scan lines SCNL101 to SCNL10m and the auto zero lines AZL101 to AZL10m However, the levels of the drive signals VDRL of the drive lines DRL101 to DRL10m and the drive signals VSCNL and VAZL of the scan lines SCNL101 to SCNL10m and the auto-zero lines AZL101 to AZL10m are Von1 < It is set so as to satisfy the relationship of Von2.

本第6の実施形態においては、第1〜第4のスイッチングトランジスタとしてTFT132〜TFT135は、同一の導電型(pチャネル)であり、第1の駆動回路としての第1のスキャンドライバ104Eと第2の駆動回路としての第2のスキャンドライバ105Eは、第1の制御線としての駆動線DRL101〜DRL10mのオン電位Von1と、第2の制御線としての走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mのオン電位Von2とを、第1のスイッチングトランジスタとしてのTFT122のオン時の抵抗値が、第2、第3、および第4のスイッチングトランジスタとしてのTFT123〜TFT125のオン時の抵抗値より小さくなるように設定する。
すなわち、図24(A),(B),(C)に示すように、第1のスキャンドライバ104Eと第2のスキャンドライバ105Eとは、Von1<Von2の関係を満足するように、駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mの駆動信号VSCNL,VAZLを設定する。
駆動信号VDRLは、(VDD−VSS)の振幅を持ち、駆動信号VSCNL,VAZLは〔VDD−VSS2(>VSS)〕の振幅を持つ。
In the sixth embodiment, the TFTs 132 to 135 as the first to fourth switching transistors have the same conductivity type (p channel), and the first scan driver 104E as the first drive circuit and the second The second scan driver 105E serving as the drive circuit includes the ON potential Von1 of the drive lines DRL101 to DRL10m as the first control lines, the scan lines SCNL101 to SCNL10m and the auto zero lines AZL101 to AZL10m as the second control lines. The on-potential Von2 is set so that the on-resistance value of the TFT 122 as the first switching transistor is smaller than the on-resistance values of the TFTs 123 to 125 as the second, third, and fourth switching transistors. Set.
That is, as shown in FIGS. 24A, 24B, and 24C, the first scan driver 104E and the second scan driver 105E drive line DRL101 so as to satisfy the relationship Von1 <Von2. Drive signal VDRL for .about.DRL10m and drive signals VSCNL and VAZL for scan lines SCNL101 to SCNL10m and auto-zero lines AZL101 to AZL10m are set.
The drive signal VDRL has an amplitude of (VDD−VSS), and the drive signals VSCNL and VAZL have an amplitude of [VDD−VSS2 (> VSS)].

第1のスキャンドライバ104Eと第2のスキャンドライバ105Eの駆動信号の生成回路は、図14、図15、および図16の回路構成と同様の構成を有する。   The drive signal generation circuits of the first scan driver 104E and the second scan driver 105E have the same configuration as the circuit configurations of FIGS.

このように、本第6の実施形態においては、第1のスキャンドライバ104Eと第2のスキャンドライバ105Eとが、Von1<Von2の関係を満足するように、駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mおよびオートゼロ線AZL101〜AZL10mの駆動信号VSCNL,VAZLを設定することにより、飛び込み電圧、スイッチの抵抗を最適化して、表示画像の輝度にむらができることを防止して、高品位な画像を表示することを実現している。   As described above, in the sixth embodiment, the drive signal VDRL of the drive lines DRL101 to DRL10m is set so that the first scan driver 104E and the second scan driver 105E satisfy the relationship of Von1 <Von2. By setting the drive signals VSCNL and VAZL of the scanning lines SCNL101 to SCNL10m and the auto zero lines AZL101 to AZL10m, the jump voltage and the switch resistance are optimized to prevent unevenness in the brightness of the display image, thereby achieving high quality. It is possible to display a simple image.

なお、図23の動作については、図21の場合と駆動信号のアクティブレベルが逆レベルとなる以外は、第3の実施形態と同様に行われるため、ここではその詳細な説明は省略する。   The operation in FIG. 23 is performed in the same manner as in the third embodiment except that the active level of the drive signal is opposite to that in the case of FIG. 21, and therefore detailed description thereof is omitted here.

本第6の実施形態によれば、上述した第5の実施形態の効果と同様の効果を得ることができる。   According to the sixth embodiment, the same effects as those of the fifth embodiment described above can be obtained.

<第7実施形態>
図25は、本発明に係るアクティブマトリクス型有機ELディスプレイ(表示装置)の第7の実施形態を示す回路図である。
<Seventh embodiment>
FIG. 25 is a circuit diagram showing a seventh embodiment of an active matrix organic EL display (display device) according to the present invention.

本第7の実施形態が上述した図19の第3の実施形態と異なる点は、画素回路101Fの構成にある。
すなわち、図19の画素回路101Cは、プリチャージ機能およびオートゼロ機能を有していたのに対して、本第7の実施形態の画素回路101Fは、単に第1のスイッチングトランジスタとしてのTFT124と、第2のスイッチングトランジスタとしてのTFT122と、TFT121のゲートと電源電位線VCCLとの間に接続されたキャパシタC122のみを有する。
The seventh embodiment is different from the above-described third embodiment of FIG. 19 in the configuration of the pixel circuit 101F.
That is, the pixel circuit 101C in FIG. 19 has a precharge function and an auto-zero function, whereas the pixel circuit 101F according to the seventh embodiment has a TFT 124 as a first switching transistor, 2 includes a TFT 122 as a switching transistor and a capacitor C122 connected between the gate of the TFT 121 and the power supply potential line VCCL.

この場合、第1のスキャンドライバ104Fと第2のスキャンドライバ105Fとが駆動する駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mの駆動信号VSCNLのレベルが第4の実施形態と同レベル(極性)であり、駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mの駆動信号VSCNL,VAZLのレベルが、Von1<Von2の関係を満足するように設定される。   In this case, the levels of the drive signal VDRL of the drive lines DRL101 to DRL10m driven by the first scan driver 104F and the second scan driver 105F and the level of the drive signal VSCNL of the scan lines SCNL101 to SCNL10m are the same as in the fourth embodiment. The drive signal VDRL of the drive lines DRL101 to DRL10m and the levels of the drive signals VSCNL and VAZL of the scan lines SCNL101 to SCNL10m are set so as to satisfy the relationship of Von1 <Von2.

本第7の実施形態においては、第1,第2のスイッチングトランジスタとしてTFT123,TFT122は、同一の導電型(pチャネル)であり、第1の駆動回路としての第1のスキャンドライバ104Fと第2の駆動回路としての第2のスキャンドライバ105Fは、第1の制御線としての駆動線DRL101〜DRL10mのオン電位Von1と、第2の制御線としての走査線SCNL101〜SCNL10mのオン電位Von2とを、第2のスイッチングトランジスタとしてのTFT122のオン時の抵抗値が、第1のスイッチングトランジスタとしてのTFT124のオン時の抵抗値より小さくなるように設定する。
すなわち、図13(A),(B)に示すように、第1のスキャンドライバ104Fと第2のスキャンドライバ105Fとは、Von1<Von2の関係を満足するように、駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mの駆動信号VSCNLを設定する。
駆動信号VDRLは、(VDD−VSS)の振幅を持ち、駆動信号VSCNL,VAZLは〔VDD−VSS2(>VSS)〕の振幅を持つ。
In the seventh embodiment, the TFT 123 and the TFT 122 as the first and second switching transistors have the same conductivity type (p channel), and the first scan driver 104F as the first driving circuit and the second switching transistor The second scan driver 105F serving as the drive circuit of the second drive driver includes the ON potential Von1 of the drive lines DRL101 to DRL10m as the first control line and the ON potential Von2 of the scan lines SCNL101 to SCNL10m as the second control line. The on-resistance value of the TFT 122 as the second switching transistor is set to be smaller than the on-resistance value of the TFT 124 as the first switching transistor.
That is, as shown in FIGS. 13A and 13B, the first scan driver 104F and the second scan driver 105F drive the drive lines DRL101 to DRL10m so as to satisfy the relationship Von1 <Von2. The signal VDRL and the drive signal VSCNL for the scanning lines SCNL101 to SCNL10m are set.
The drive signal VDRL has an amplitude of (VDD−VSS), and the drive signals VSCNL and VAZL have an amplitude of [VDD−VSS2 (> VSS)].

第1のスキャンドライバ104Fと第2のスキャンドライバ105Fの駆動信号の生成回路は、図14、図15、および図16の回路構成と同様の構成を有する。   The drive signal generation circuits of the first scan driver 104F and the second scan driver 105F have the same configuration as the circuit configurations of FIGS. 14, 15, and 16.

このように、本第7の実施形態においては、第1のスキャンドライバ104Fと第2のスキャンドライバ105Fとが、Von1<Von2の関係を満足するように、駆動線DRL101〜DRL10mの駆動信号VDRLと、走査線SCNL101〜SCNL10mの駆動信号VSCNLを設定することにより、飛び込み電圧、スイッチの抵抗を最適化して、表示画像の輝度にむらができることを防止して、高品位な画像を表示することを実現している。   As described above, in the seventh embodiment, the drive signal VDRL of the drive lines DRL101 to DRL10m is set so that the first scan driver 104F and the second scan driver 105F satisfy the relationship of Von1 <Von2. By setting the drive signal VSCNL of the scanning lines SCNL101 to SCNL10m, the jumping voltage and the switch resistance are optimized to prevent unevenness in the brightness of the display image, thereby realizing a high-quality image display. is doing.

なお、図25の動作については、図17の場合と駆動信号のアクティブレベルが逆レベルとなることと、プリチャージおよびオートゼロ動作がないシンプルな動作となる。   The operation in FIG. 25 is a simple operation in which the active level of the drive signal is opposite to that in FIG. 17 and there is no precharge and auto-zero operation.

本第7の実施形態によれば、安定かつ正確に各画素の発光素子に所望の値の電流を供給することができ、表示画像の輝度に勾配ができることを防止できる利点がある。   According to the seventh embodiment, there is an advantage that a current having a desired value can be supplied to the light emitting element of each pixel stably and accurately, and that the brightness of the display image can be prevented from being gradient.

一般的なアクティブマトリクス型有機ELディスプレイ(表示装置)を示すブロック図である。It is a block diagram showing a general active matrix type organic EL display (display device). 従来の画素回路の第1の構成例を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the 1st structural example of the conventional pixel circuit. 従来の画素回路の第2の構成例を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the 2nd structural example of the conventional pixel circuit. 図3の回路の駆動方法を説明するためのタイミングチャートである。4 is a timing chart for explaining a method of driving the circuit of FIG. 3. オフセットキャンセルのタイミング例を示す図である。It is a figure which shows the example of a timing of offset cancellation. 本発明に係るアクティブマトリクス型有機ELディスプレイ(表示装置)の第1の実施形態を示す回路図である。1 is a circuit diagram showing a first embodiment of an active matrix organic EL display (display device) according to the present invention. 第1の実施形態に係るアクティブマトリクス型有機ELディスプレイの電源線関係の配線配置を示す図である。It is a figure which shows the wiring arrangement | positioning regarding the power source line of the active matrix type organic EL display which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施形態において、駆動線の駆動信号レベルと、走査線およびオートゼロ線の駆動信号レベルの設定条件を説明するための図である。In the first embodiment, it is a diagram for explaining the setting condition of the drive signal level of the drive line and the drive signal level of the scanning line and auto-zero line. 第1の実施形態において、第1の駆動回路としての第1のスキャンドライバにおける駆動信号の生成回路の構成例を示す回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram illustrating a configuration example of a drive signal generation circuit in a first scan driver serving as a first drive circuit in the first embodiment. 第1の実施形態において、第2の駆動回路としての第2のスキャンドライバにおける駆動信号の生成回路の構成例を示す回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram illustrating a configuration example of a drive signal generation circuit in a second scan driver as a second drive circuit in the first embodiment. 第1の実施形態において、第2の駆動回路としての第2のスキャンドライバにおける電圧VDD2の生成回路の構成例を示す回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram illustrating a configuration example of a circuit for generating a voltage VDD2 in a second scan driver as a second drive circuit in the first embodiment. 本発明に係るアクティブマトリクス型有機ELディスプレイ(表示装置)の第2の実施形態を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows 2nd Embodiment of the active matrix type organic electroluminescent display (display apparatus) based on this invention. 第2の実施形態において、駆動線の駆動信号レベルと、走査線およびオートゼロ線の駆動信号レベルの設定条件を説明するための図である。In the second embodiment, it is a diagram for explaining the setting condition of the drive signal level of the drive line and the drive signal level of the scanning line and auto-zero line. 第2の実施形態において、第1の駆動回路としての第1のスキャンドライバにおける駆動信号の生成回路の構成例を示す回路図である。FIG. 10 is a circuit diagram illustrating a configuration example of a drive signal generation circuit in a first scan driver as a first drive circuit in the second embodiment. 第2の実施形態において、第2の駆動回路としての第2のスキャンドライバにおける駆動信号の生成回路の構成例を示す回路図である。FIG. 10 is a circuit diagram illustrating a configuration example of a drive signal generation circuit in a second scan driver as a second drive circuit in the second embodiment. 第2の実施形態において、第2の駆動回路としての第2のスキャンドライバにおける電圧VSS2の生成回路の構成例を示す回路図である。FIG. 10 is a circuit diagram illustrating a configuration example of a generation circuit of a voltage VSS2 in a second scan driver as a second drive circuit in the second embodiment. 本発明に係るアクティブマトリクス型有機ELディスプレイ(表示装置)の第3の実施形態を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows 3rd Embodiment of the active matrix type organic electroluminescent display (display apparatus) which concerns on this invention. 図17の画素回路の駆動信号のレベル、並びに動作を説明するためのタイミングチャートである。18 is a timing chart for explaining the level and operation of a drive signal of the pixel circuit of FIG. 本発明に係るアクティブマトリクス型有機ELディスプレイ(表示装置)の第4の実施形態を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows 4th Embodiment of the active matrix type organic electroluminescent display (display apparatus) based on this invention. 図19の画素回路の駆動信号のレベル、並びに動作を説明するためのタイミングチャートである。FIG. 20 is a timing chart for explaining the level and operation of a drive signal of the pixel circuit of FIG. 19. FIG. 本発明に係るアクティブマトリクス型有機ELディスプレイ(表示装置)の第5の実施形態を示す回路図である。FIG. 6 is a circuit diagram showing a fifth embodiment of an active matrix organic EL display (display device) according to the present invention. 図21の画素回路の駆動信号のレベル、並びに動作を説明するためのタイミングチャートである。FIG. 22 is a timing chart for explaining the level and operation of a drive signal of the pixel circuit of FIG. 21. 本発明に係るアクティブマトリクス型有機ELディスプレイ(表示装置)の第6の実施形態を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows 6th Embodiment of the active matrix type organic electroluminescent display (display apparatus) based on this invention. 図23の画素回路の駆動信号のレベル、並びに動作を説明するためのタイミングチャートである。24 is a timing chart for explaining the level and operation of a drive signal of the pixel circuit of FIG. 本発明に係るアクティブマトリクス型有機ELディスプレイ(表示装置)の第7の実施形態を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows 7th Embodiment of the active matrix type organic electroluminescent display (display apparatus) based on this invention.

符号の説明Explanation of symbols

100,100A〜100F…アクティブマトリクス型有機ELディスプレイ(表示装置)、101,101A〜101F…画素回路、102,102A〜102F…画素アレイ部、103…データドライバ(DDRV)、104,104A〜104F…スキャンドライバ(SDRV1、第1の駆動回路)、105,105A〜105F…スキャンドライバ(SDRV2、第2の駆動回路)、111,121,131,141…駆動トランジスタとしてのTFT、112〜115,122〜125,132〜135…スイッチとしてのTFT、C111,C112、C121,C122、C131,C132…キャパシタ、ND111〜ND113、ND121〜ND123、ND131〜ND133…ノード、VCCL…電源電位線、VPCL…プリチャージ電位線
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100,100A-100F ... Active matrix type organic EL display (display device), 101, 101A-101F ... Pixel circuit, 102, 102A-102F ... Pixel array part, 103 ... Data driver (DDRV), 104, 104A-104F ... Scan driver (SDRV1, first drive circuit), 105, 105A to 105F... Scan driver (SDRV2, second drive circuit), 111, 121, 131, 141... TFT as drive transistor, 112 to 115, 122 to 125, 132 to 135 ... TFT as a switch, C111, C112, C121, C122, C131, C132 ... Capacitor, ND111 to ND113, ND121 to ND123, ND131 to ND133 ... Node, VCCL ... Power supply potential line, VP L ... the pre-charge potential line

Claims (20)

流れる電流によって輝度が変化する電気光学素子を駆動する画素回路であって、
少なくとも輝度情報に応じた信号が供給される信号線と、
制御端子の電位に応じて上記電流供給ラインを流れる電流を制御する駆動トランジスタと、
少なくとも第1および第2の制御線と、
少なくとも第1および第2のスイッチングトランジスタと、
第1および第2の基準電位と、を有し、
上記1の基準電位と第2の基準電位の間に、上記電気光学素子に流れる電流の電流経路として、上記電気光学素子、駆動トランジスタ、少なくとも一つの第1のスイッチングトランジスタが直列に接続され、
上記第1のスイッチトランジスタの制御端子が上記第1の制御線に接続され、
上記第2のスイッチトランジスタは、上記電気光学素子に流れる電流の電流経路外に配置され、上記第2のスイッチングトランジスタの制御端子が上記第2の制御線に接続され、
上記第1のスイッチングトランジスタと上記第2のスイッチングトランジスタが同一の導電型のトランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位と上記第2の制御線のオン電位は、上記第1のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値が上記第2のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値より小さくなるような値に設定されている
画素回路。
A pixel circuit that drives an electro-optic element whose luminance changes according to a flowing current,
A signal line to which a signal corresponding to at least luminance information is supplied;
A drive transistor for controlling the current flowing through the current supply line in accordance with the potential of the control terminal;
At least first and second control lines;
At least first and second switching transistors;
First and second reference potentials,
The electro-optic element, the drive transistor, and at least one first switching transistor are connected in series as a current path of the current flowing through the electro-optic element between the first reference potential and the second reference potential.
A control terminal of the first switch transistor is connected to the first control line;
The second switch transistor is disposed outside a current path of a current flowing through the electro-optical element, a control terminal of the second switching transistor is connected to the second control line,
The first switching transistor and the second switching transistor are transistors of the same conductivity type, and the ON potential of the first control line and the ON potential of the second control line are the first switching transistor. A pixel circuit in which a resistance value when ON is smaller than a resistance value when ON of the second switching transistor is set.
上記第1のスイッチングトランジスタおよび第2のスイッチングトランジスタがnチャネル型トランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位が上記第2のオン電位より高く設定される
請求項1記載の画素回路。
The pixel circuit according to claim 1, wherein the first switching transistor and the second switching transistor are n-channel transistors, and an ON potential of the first control line is set higher than the second ON potential.
上記第1のスイッチングトランジスタおよび第2のスイッチングトランジスタがpチャネル型トランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位が上記第2のオン電位より低く設定される
請求項1記載の画素回路。
2. The pixel circuit according to claim 1, wherein the first switching transistor and the second switching transistor are p-channel transistors, and an ON potential of the first control line is set lower than the second ON potential.
上記電気光学素子が有機EL素子であり、
上記駆動トランジスタ、第1および第2のスイッチングトランジスタが薄膜トランジスタである
請求項1記載の画素回路。
The electro-optical element is an organic EL element,
The pixel circuit according to claim 1, wherein the driving transistor and the first and second switching transistors are thin film transistors.
流れる電流によって輝度が変化する電気光学素子を駆動する画素回路であって、
少なくとも輝度情報に応じた信号が供給される信号線と、
少なくとも第1および第2の制御線と、
第1および第2の基準電位と、
所定のプリチャージ電位と、
電界効果トランジスタと、
ノードと、
上記電界効果トランジスタのソースと第1の基準電位との間に接続され、制御端子が上記第1の制御線に接続されて導通制御される第1のスイッチングトランジスタと、
上記電界効果トランジスタのソースと上記ノードとの間に接続された第2のスイッチングトランジスタと、
上記電界効果トランジスタのゲートと上記プリチャージ電位との間に接続された第3のスイッチングトランジスタと、
上記信号線と上記ノードとの間に接続された第4のスイッチングトランジスタと、
上記ノードと上記電界効果トランジスタのゲートとの間に接続された結合キャパシタと、を有し、
上記電気光学素子は上記トランジスタのドレインと第2の基準電位との間に接続され、 上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタの制御端子が上記第2の制御線に接続されて導通制御され、
上記第1のスイッチングトランジスタと、制御端子が上記第2の制御線に接続された上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタとが同一の導電型のトランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位と上記第2の制御線のオン電位は、上記第1のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値が上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値より小さくなるような値に設定されている
画素回路。
A pixel circuit that drives an electro-optic element whose luminance changes according to a flowing current,
A signal line to which a signal corresponding to at least luminance information is supplied;
At least first and second control lines;
First and second reference potentials;
A predetermined precharge potential;
A field effect transistor;
Nodes,
A first switching transistor connected between the source of the field effect transistor and a first reference potential and connected to the first control line and controlled in conduction by a control terminal;
A second switching transistor connected between the source of the field effect transistor and the node;
A third switching transistor connected between the gate of the field effect transistor and the precharge potential;
A fourth switching transistor connected between the signal line and the node;
A coupling capacitor connected between the node and the gate of the field effect transistor;
The electro-optical element is connected between a drain of the transistor and a second reference potential, and a control terminal of at least one switching transistor of the second, third, and fourth switching transistors is the second control line. Connected to the
The first switching transistor and at least one of the second, third, and fourth switching transistors whose control terminals are connected to the second control line are transistors of the same conductivity type, The on potential of the first control line and the on potential of the second control line are such that the resistance value when the first switching transistor is on is at least one of the second, third, and fourth switching transistors. A pixel circuit that is set to a value that is smaller than the resistance value when the switching transistor is on.
上記第1のスイッチングトランジスタおよび上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタがnチャネル型トランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位が上記第2のオン電位より高く設定される
請求項5記載の画素回路。
At least one of the first switching transistor and the second, third, and fourth switching transistors is an n-channel transistor, and the ON potential of the first control line is higher than the second ON potential. The pixel circuit according to claim 5, wherein the pixel circuit is set high.
上記第1のスイッチングトランジスタおよび上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタがpチャネル型トランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位が上記第2のオン電位より低く設定される
請求項5記載の画素回路。
At least one of the first switching transistor and the second, third, and fourth switching transistors is a p-channel transistor, and the ON potential of the first control line is higher than the second ON potential. The pixel circuit according to claim 5, wherein the pixel circuit is set low.
上記電気光学素子が有機EL素子であり、
上記駆動トランジスタ、第1、第2、第3、および第4のスイッチングトランジスタが薄膜トランジスタである
請求項5記載の画素回路。
The electro-optical element is an organic EL element,
The pixel circuit according to claim 5, wherein the drive transistor, the first, second, third, and fourth switching transistors are thin film transistors.
流れる電流によって輝度が変化する電気光学素子を駆動する画素回路であって、
少なくとも輝度情報に応じた信号が供給される信号線と、
少なくとも第1および第2の制御線と、
第1および第2の基準電位と、
所定のプリチャージ電位と、
電界効果トランジスタと、
ノードと、
上記電界効果トランジスタのソースと上記電気光学素子との間に接続され、制御端子が上記第1の制御線に接続されて導通制御される第1のスイッチングトランジスタと、
上記電界効果トランジスタのソースと上記ノードとの間に接続された第2のスイッチングトランジスタと、
上記電界効果トランジスタのゲートと上記プリチャージ電位との間に接続された第3のスイッチングトランジスタと、
上記信号線と上記ノードとの間に接続された第4のスイッチングトランジスタと、
上記ノードと上記電界効果トランジスタのゲートとの間に接続された結合キャパシタと、を有し、
上記電界効果トランジスタのドレインは第1の基準電位に接続され、上記電気光学素子は上記第1のスイッチングトランジスタと第2の基準電位との間に接続され、
上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタの制御端子が上記第2の制御線に接続されて導通制御され、
上記第1のスイッチングトランジスタと、制御端子が上記第2の制御線に接続された上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタとが同一の導電型のトランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位と上記第2の制御線のオン電位は、上記第1のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値が上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値より小さくなるような値に設定されている
画素回路。
A pixel circuit that drives an electro-optic element whose luminance changes according to a flowing current,
A signal line to which a signal corresponding to at least luminance information is supplied;
At least first and second control lines;
First and second reference potentials;
A predetermined precharge potential;
A field effect transistor;
Nodes,
A first switching transistor connected between a source of the field effect transistor and the electro-optic element, and connected to the first control line and controlled to be connected to the control terminal;
A second switching transistor connected between the source of the field effect transistor and the node;
A third switching transistor connected between the gate of the field effect transistor and the precharge potential;
A fourth switching transistor connected between the signal line and the node;
A coupling capacitor connected between the node and the gate of the field effect transistor;
The drain of the field effect transistor is connected to a first reference potential, the electro-optic element is connected between the first switching transistor and a second reference potential,
The control terminal of at least one switching transistor of the second, third, and fourth switching transistors is connected to the second control line, and conduction control is performed.
The first switching transistor and at least one of the second, third, and fourth switching transistors whose control terminals are connected to the second control line are transistors of the same conductivity type, The on potential of the first control line and the on potential of the second control line are such that the resistance value when the first switching transistor is on is at least one of the second, third, and fourth switching transistors. A pixel circuit that is set to a value that is smaller than the resistance value when the switching transistor is on.
上記第1のスイッチングトランジスタおよび上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタがnチャネル型トランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位が上記第2のオン電位より高く設定される
請求項9記載の画素回路。
At least one of the first switching transistor and the second, third, and fourth switching transistors is an n-channel transistor, and the ON potential of the first control line is higher than the second ON potential. The pixel circuit according to claim 9, wherein the pixel circuit is set high.
上記第1のスイッチングトランジスタおよび上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタがpチャネル型トランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位が上記第2のオン電位より低く設定される
請求項9記載の画素回路。
At least one of the first switching transistor and the second, third, and fourth switching transistors is a p-channel transistor, and the ON potential of the first control line is higher than the second ON potential. The pixel circuit according to claim 9, wherein the pixel circuit is set low.
上記電気光学素子が有機EL素子であり、
上記駆動トランジスタ、第1、第2、第3、および第4のスイッチングトランジスタが薄膜トランジスタである
請求項9記載の画素回路。
The electro-optical element is an organic EL element,
The pixel circuit according to claim 9, wherein the driving transistor, the first, second, third, and fourth switching transistors are thin film transistors.
流れる電流によって輝度が変化する電気光学素子を駆動する画素回路であって、
少なくとも輝度情報に応じた信号が供給される信号線と、
少なくとも第1および第2の制御線と、
第1および第2の基準電位と、
所定のプリチャージ電位と、
電界効果トランジスタと、
ノードと、
上記電界効果トランジスタのドレインと上記電気光学素子との間に接続され、制御端子が上記第1の制御線に接続されて導通制御される第1のスイッチと、
上記電界効果トランジスタのドレインとゲートとの間に接続された第2のスイッチと、
上記ノードと上記プリチャージ電位との間に接続された第3のスイッチと、
上記信号線と上記ノードとの間に接続された第4のスイッチと、
上記ノードと上記電界効果トランジスタのゲートとの間に接続された結合キャパシタと、を有し、
上記電界効果トランジスタのソースは第1の基準電位に接続され、上記電気光学素子は上記第1のスイッチと第2の基準電位との間に接続され、
上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタの制御端子が上記第2の制御線に接続されて導通制御され、
上記第1のスイッチングトランジスタと、制御端子が上記第2の制御線に接続された上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタとが同一の導電型のトランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位と上記第2の制御線のオン電位は、上記第1のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値が上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値より小さくなるような値に設定されている
画素回路。
A pixel circuit that drives an electro-optic element whose luminance changes according to a flowing current,
A signal line to which a signal corresponding to at least luminance information is supplied;
At least first and second control lines;
First and second reference potentials;
A predetermined precharge potential;
A field effect transistor;
Nodes,
A first switch connected between the drain of the field-effect transistor and the electro-optic element, the control terminal of which is connected to the first control line and conduction controlled;
A second switch connected between the drain and gate of the field effect transistor;
A third switch connected between the node and the precharge potential;
A fourth switch connected between the signal line and the node;
A coupling capacitor connected between the node and the gate of the field effect transistor;
A source of the field effect transistor is connected to a first reference potential; the electro-optic element is connected between the first switch and a second reference potential;
The control terminal of at least one switching transistor of the second, third, and fourth switching transistors is connected to the second control line, and conduction control is performed.
The first switching transistor and at least one of the second, third, and fourth switching transistors whose control terminals are connected to the second control line are transistors of the same conductivity type, The on potential of the first control line and the on potential of the second control line are such that the resistance value when the first switching transistor is on is at least one of the second, third, and fourth switching transistors. A pixel circuit that is set to a value that is smaller than the resistance value when the switching transistor is on.
上記第1のスイッチングトランジスタおよび上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタがnチャネル型トランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位が上記第2のオン電位より高く設定される
請求項13記載の画素回路。
At least one of the first switching transistor and the second, third, and fourth switching transistors is an n-channel transistor, and the ON potential of the first control line is higher than the second ON potential. The pixel circuit according to claim 13, wherein the pixel circuit is set high.
上記第1のスイッチングトランジスタおよび上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタがpチャネル型トランジスタであり、上記第1の制御線のオン電位が上記第2のオン電位より低く設定される
請求項13記載の画素回路。
At least one of the first switching transistor and the second, third, and fourth switching transistors is a p-channel transistor, and the ON potential of the first control line is higher than the second ON potential. The pixel circuit according to claim 13, wherein the pixel circuit is set low.
上記電気光学素子が有機EL素子であり、
上記駆動トランジスタ、第1、第2、第3、および第4のスイッチングトランジスタが薄膜トランジスタである
請求項13記載の画素回路。
The electro-optical element is an organic EL element,
The pixel circuit according to claim 13, wherein the driving transistor, the first, second, third, and fourth switching transistors are thin film transistors.
マトリクス状に複数配列された画素回路と、
上記画素回路のマトリクス配列に対して列毎に配線され、少なくとも輝度情報に応じたデータ信号が供給される信号線と、
上記画素回路のマトリクス配列に対して行毎に配線された少なくとも第1の制御線および第2の制御線と、
上記第1の制御線の電位を設定する第1の駆動回路と、
上記第2の制御線の電位を設定する第2の駆動回路と、を有し、
上記各画素回路は、
制御端子の電位に応じて上記電流供給ラインを流れる電流を制御する駆動トランジスタと、
少なくとも第1および第2のスイッチングトランジスタと、
第1および第2の基準電位と、を有し、
上記1の基準電位と第2の基準電位の間に、上記電気光学素子に流れる電流の電流経路として、上記電気光学素子、駆動トランジスタ、少なくとも一つの第1のスイッチングトランジスタが直列に接続され、
上記第1のスイッチトランジスタの制御端子が上記第1の制御線に接続され、
上記第2のスイッチトランジスタは、上記電気光学素子に流れる電流の電流経路外に配置され、上記第2のスイッチングトランジスタの制御端子が上記第2の制御線に接続され、
上記第1のスイッチングトランジスタと上記第2のスイッチングトランジスタが同一の導電型のトランジスタであり、
上記第1および第2の駆動回路は、上記第1の制御線のオン電位と上記第2の制御線のオン電位とを、上記第1のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値が上記第2のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値より小さくなるような値に設定する
表示装置。
A plurality of pixel circuits arranged in a matrix;
A signal line that is wired for each column with respect to the matrix arrangement of the pixel circuit, and that is supplied with a data signal corresponding to at least luminance information;
At least a first control line and a second control line wired for each row with respect to the matrix arrangement of the pixel circuit;
A first drive circuit for setting a potential of the first control line;
A second drive circuit for setting the potential of the second control line,
Each pixel circuit is
A drive transistor for controlling the current flowing through the current supply line in accordance with the potential of the control terminal;
At least first and second switching transistors;
First and second reference potentials,
The electro-optic element, the drive transistor, and at least one first switching transistor are connected in series as a current path of the current flowing through the electro-optic element between the first reference potential and the second reference potential.
A control terminal of the first switch transistor is connected to the first control line;
The second switch transistor is disposed outside a current path of a current flowing through the electro-optical element, a control terminal of the second switching transistor is connected to the second control line,
The first switching transistor and the second switching transistor are transistors of the same conductivity type,
The first and second drive circuits have an ON potential of the first control line and an ON potential of the second control line, and a resistance value when the first switching transistor is ON is the second potential. A display device that is set to a value that is smaller than the resistance value when the switching transistor is on.
マトリクス状に複数配列された画素回路と、
上記画素回路のマトリクス配列に対して列毎に配線され、少なくとも輝度情報に応じたデータ信号が供給される信号線と、
上記画素回路のマトリクス配列に対して行毎に配線された少なくとも第1の制御線および第2の制御線と、
上記第1の制御線の電位を設定する第1の駆動回路と、
上記第2の制御線の電位を設定する第2の駆動回路と、を有し、
上記各画素回路は、
第1および第2の基準電位と、
所定のプリチャージ電位と、
電界効果トランジスタと、
ノードと、
上記電界効果トランジスタのソースと第1の基準電位との間に接続され、制御端子が上記第1の制御線に接続されて導通制御される第1のスイッチングトランジスタと、
上記電界効果トランジスタのソースと上記ノードとの間に接続された第2のスイッチングトランジスタと、
上記電界効果トランジスタのゲートと上記プリチャージ電位との間に接続された第3のスイッチングトランジスタと、
上記信号線と上記ノードとの間に接続された第4のスイッチングトランジスタと、
上記ノードと上記電界効果トランジスタのゲートとの間に接続された結合キャパシタと、を有し、
上記電気光学素子は上記トランジスタのドレインと第2の基準電位との間に接続され、
上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタの制御端子が上記第2の制御線に接続されて導通制御され、
上記第1のスイッチングトランジスタと、制御端子が上記第2の制御線に接続された上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタとが同一の導電型のトランジスタであり、
上記第1および第2の駆動回路は、上記第1の制御線のオン電位と上記第2の制御線のオン電位とを、上記第1のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値が上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値より小さくなるような値に設定する
表示装置。
A plurality of pixel circuits arranged in a matrix;
A signal line that is wired for each column with respect to the matrix arrangement of the pixel circuit, and that is supplied with a data signal corresponding to at least luminance information;
At least a first control line and a second control line wired for each row with respect to the matrix arrangement of the pixel circuit;
A first drive circuit for setting a potential of the first control line;
A second drive circuit for setting the potential of the second control line,
Each pixel circuit is
First and second reference potentials;
A predetermined precharge potential;
A field effect transistor;
Nodes,
A first switching transistor connected between the source of the field effect transistor and a first reference potential and connected to the first control line and controlled in conduction by a control terminal;
A second switching transistor connected between the source of the field effect transistor and the node;
A third switching transistor connected between the gate of the field effect transistor and the precharge potential;
A fourth switching transistor connected between the signal line and the node;
A coupling capacitor connected between the node and the gate of the field effect transistor;
The electro-optic element is connected between the drain of the transistor and a second reference potential;
The control terminal of at least one switching transistor of the second, third, and fourth switching transistors is connected to the second control line, and conduction control is performed.
The first switching transistor and at least one of the second, third, and fourth switching transistors having a control terminal connected to the second control line are transistors of the same conductivity type,
The first and second drive circuits have an ON potential of the first control line and an ON potential of the second control line, and a resistance value when the first switching transistor is ON is the second, A display device that is set to a value that is smaller than a resistance value when at least one of the third and fourth switching transistors is on.
マトリクス状に複数配列された画素回路と、
上記画素回路のマトリクス配列に対して列毎に配線され、少なくとも輝度情報に応じたデータ信号が供給される信号線と、
上記画素回路のマトリクス配列に対して行毎に配線された少なくとも第1の制御線および第2の制御線と、
上記第1の制御線の電位を設定する第1の駆動回路と、
上記第2の制御線の電位を設定する第2の駆動回路と、を有し、
上記各画素回路は、
第1および第2の基準電位と、
所定のプリチャージ電位と、
電界効果トランジスタと、
ノードと、
上記電界効果トランジスタのソースと上記電気光学素子との間に接続され、制御端子が上記第1の制御線に接続されて導通制御される第1のスイッチングトランジスタと、
上記電界効果トランジスタのソースと上記ノードとの間に接続された第2のスイッチングトランジスタと、
上記電界効果トランジスタのゲートと上記プリチャージ電位との間に接続された第3のスイッチングトランジスタと、
上記信号線と上記ノードとの間に接続された第4のスイッチングトランジスタと、
上記ノードと上記電界効果トランジスタのゲートとの間に接続された結合キャパシタと、を有し、
上記電気光学素子は上記第1のスイッチングトランジスタと第2の基準電位との間に接続され、
上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタの制御端子が上記第2の制御線に接続されて導通制御され、
上記第1のスイッチングトランジスタと、制御端子が上記第2の制御線に接続された上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタとが同一の導電型のトランジスタであり、
上記第1および第2の駆動回路は、上記第1の制御線のオン電位と上記第2の制御線のオン電位とを、上記第1のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値が上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値より小さくなるような値に設定する
表示装置。
A plurality of pixel circuits arranged in a matrix;
A signal line that is wired for each column with respect to the matrix arrangement of the pixel circuit, and that is supplied with a data signal corresponding to at least luminance information;
At least a first control line and a second control line wired for each row with respect to the matrix arrangement of the pixel circuit;
A first drive circuit for setting a potential of the first control line;
A second drive circuit for setting the potential of the second control line,
Each pixel circuit is
First and second reference potentials;
A predetermined precharge potential;
A field effect transistor;
Nodes,
A first switching transistor connected between a source of the field effect transistor and the electro-optic element, and connected to the first control line and controlled to be connected to the control terminal;
A second switching transistor connected between the source of the field effect transistor and the node;
A third switching transistor connected between the gate of the field effect transistor and the precharge potential;
A fourth switching transistor connected between the signal line and the node;
A coupling capacitor connected between the node and the gate of the field effect transistor;
The electro-optic element is connected between the first switching transistor and a second reference potential;
The control terminal of at least one switching transistor of the second, third, and fourth switching transistors is connected to the second control line, and conduction control is performed.
The first switching transistor and at least one of the second, third, and fourth switching transistors having a control terminal connected to the second control line are transistors of the same conductivity type,
The first and second drive circuits have an ON potential of the first control line and an ON potential of the second control line, and a resistance value when the first switching transistor is ON is the second, A display device that is set to a value that is smaller than a resistance value when at least one of the third and fourth switching transistors is on.
マトリクス状に複数配列された画素回路と、
上記画素回路のマトリクス配列に対して列毎に配線され、少なくとも輝度情報に応じたデータ信号が供給される信号線と、
上記画素回路のマトリクス配列に対して行毎に配線された少なくとも第1の制御線および第2の制御線と、
上記第1の制御線の電位を設定する第1の駆動回路と、
上記第2の制御線の電位を設定する第2の駆動回路と、を有し、
上記各画素回路は、
第1および第2の基準電位と、
所定のプリチャージ電位と、
電界効果トランジスタと、
ノードと、
上記電界効果トランジスタのドレインと上記電気光学素子との間に接続され、制御端子が上記第1の制御線に接続されて導通制御される第1のスイッチと、
上記電界効果トランジスタのドレインとゲートとの間に接続された第2のスイッチと、
上記ノードと上記プリチャージ電位との間に接続された第3のスイッチと、
上記信号線と上記ノードとの間に接続された第4のスイッチと、
上記ノードと上記電界効果トランジスタのゲートとの間に接続された結合キャパシタと、を有し、
上記電界効果トランジスタのソースは第1の基準電位に接続され、上記電気光学素子は上記第1のスイッチと第2の基準電位との間に接続され、
上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタの制御端子が上記第2の制御線に接続されて導通制御され、
上記第1のスイッチングトランジスタと、制御端子が上記第2の制御線に接続された上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタとが同一の導電型のトランジスタであり、
上記第1および第2の駆動回路は、上記第1の制御線のオン電位と上記第2の制御線のオン電位とを、上記第1のスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値が上記第2、第3、第4のスイッチングトランジスタの少なくとも一つのスイッチングトランジスタのオン時の抵抗値より小さくなるような値に設定する
表示装置。
A plurality of pixel circuits arranged in a matrix;
A signal line that is wired for each column with respect to the matrix arrangement of the pixel circuit, and that is supplied with a data signal corresponding to at least luminance information;
At least a first control line and a second control line wired for each row with respect to the matrix arrangement of the pixel circuit;
A first drive circuit for setting a potential of the first control line;
A second drive circuit for setting the potential of the second control line,
Each pixel circuit is
First and second reference potentials;
A predetermined precharge potential;
A field effect transistor;
Nodes,
A first switch connected between the drain of the field-effect transistor and the electro-optic element, the control terminal of which is connected to the first control line and conduction controlled;
A second switch connected between the drain and gate of the field effect transistor;
A third switch connected between the node and the precharge potential;
A fourth switch connected between the signal line and the node;
A coupling capacitor connected between the node and the gate of the field effect transistor;
A source of the field effect transistor is connected to a first reference potential; the electro-optic element is connected between the first switch and a second reference potential;
The control terminal of at least one switching transistor of the second, third, and fourth switching transistors is connected to the second control line, and conduction control is performed.
The first switching transistor and at least one of the second, third, and fourth switching transistors having a control terminal connected to the second control line are transistors of the same conductivity type,
The first and second drive circuits have an ON potential of the first control line and an ON potential of the second control line, and a resistance value when the first switching transistor is ON is the second, A display device that is set to a value that is smaller than a resistance value when at least one of the third and fourth switching transistors is on.
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