JP2005102946A - 視野計 - Google Patents

視野計 Download PDF

Info

Publication number
JP2005102946A
JP2005102946A JP2003340139A JP2003340139A JP2005102946A JP 2005102946 A JP2005102946 A JP 2005102946A JP 2003340139 A JP2003340139 A JP 2003340139A JP 2003340139 A JP2003340139 A JP 2003340139A JP 2005102946 A JP2005102946 A JP 2005102946A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
eye
examined
perimeter
target
optical system
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2003340139A
Other languages
English (en)
Inventor
Junichi Akita
純一 秋田
Toshibumi Sumiya
俊文 角谷
Akihiro Fujishiro
章裕 藤城
Naoyuki Kondo
直幸 近藤
Toshiaki Mizuno
俊昭 水野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nidek Co Ltd
Original Assignee
Nidek Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nidek Co Ltd filed Critical Nidek Co Ltd
Priority to JP2003340139A priority Critical patent/JP2005102946A/ja
Publication of JP2005102946A publication Critical patent/JP2005102946A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【課題】 大きなスクリーンを必要とせず安定して視標を呈示することのできる視野計を提供する。
【解決手段】 検査視標を被検眼に呈示し、該検査視標の視認の応答を行うことにより被検眼の視野計測を行う視野計において、所定の方向に偏向可能な微小ミラーの集合体からなるマイクロミラーデバイスと、該マイクロミラーデバイスに視標形成用の光束を照射する光源と、前記マイクロミラーデバイスにおける個々の微小ミラーの偏向駆動を制御して前記被検眼に向けて反射する光束を規制することにより被検眼に呈示する検査視標を形成させる制御手段と、を備える。
【選択図】 図1


Description

本発明は、被検眼の視野を計測する視野計に関する。
従来、被検眼の視野を計測する視野計が知られている。このような視野計はドーム型のスクリーン前方に設けられている顔受け台に被検者の顔を載せて固定し、スクリーンに検査視標を呈示させ、呈示した視標が視認できるか否かを応答させながら視野計測を行う視野計が知られている。このような視野計はドーム型のスクリーンを有するため、装置が大型化する。このためドーム型のスクリーンを用いず、LCDディスプレイ等の電子表示パネルに視標を呈示させることにより、視野計の小型化を図ることが考えられている。
特開平7−67833号公報
このような、LCDディスプレイによって検査視標を呈示する方法は、視野計の小型化を実現するものであるが、LCDディスプレイを長時間使用すると、表示光量が落ちるため視標の呈示条件が変ってしまい計測結果に影響をおよぼすこととなる。
上記従来技術に鑑み、大きなスクリーンを必要とせず安定して視標を呈示することのできる視野計を提供することを技術課題とする。
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
(1) 検査視標を被検眼に呈示し、該検査視標の視認の応答を行うことにより被検眼の視野計測を行う視野計において、所定の方向に偏向可能な微小ミラーの集合体からなるマイクロミラーデバイスと、該マイクロミラーデバイスに視標形成用の光束を照射する光源と、前記マイクロミラーデバイスにおける個々の微小ミラーの偏向駆動を制御して前記被検眼に向けて反射する光束を規制することにより被検眼に呈示する検査視標を形成させる制御手段と、を備えることを特徴とする。
(2) (1)の視野計は、前記マイクロミラーデバイスの微小ミラーの偏向駆動により形成される前記検査視標光束を被検眼眼底に導光するための導光光学系を備えるとともに、該導光光学系には前記被検眼眼底とマイクロミラーデバイスの微小ミラーの反射面とが共役な位置関係を得るために前記導光光学系の光軸上を前後方向に駆動する光学部材を有することを特徴とする。
(3) (1)の視野計は、前記被検眼に赤外域の照明光を照射する照明光学系と、該照明光学系により照明された被検眼眼底からの反射光を受光する観察光学系と、該観察光学系により受光された反射光束を被検眼眼底像として表示する表示手段と、該表示手段により表示された眼底像に対して前記検査視標の呈示位置を指定する指定手段と、を有し、前記制御手段は前記指定手段によって指定された呈示位置に対応した被検眼眼底上に前記検査視標を呈示するようにマイクロミラーデバイスの微小ミラーを偏向駆動することを特徴とする。
本発明によれば、装置を小型化することができるとともに、安定した視標呈示をおこなうことができる。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図1は本実施形態に用いる視野計の光学系構成図、図2は制御系を示すブロック図である。なお、本実施形態の視野計は被検眼眼底を観察・撮影することができるようになっている。
Eは被検眼を示す。ハロゲンランプからなる観察用光源1から出射される光束は、図示なき赤外フィルタによって赤外光束とされ、光軸L1に置かれたコンデンサレンズ2、コールドミラー3を介してリングスリット4を照明する。リングスリット4からの光束は、リレーレンズ5を介して穴開きミラー6の開口部近傍に中間像を形成するとともに、光軸L2上に置かれた穴開きミラー6の周辺面で反射される。穴開きミラー6で反射したリングスリット光束は、対物レンズ7により被検眼Eの瞳孔付近で一旦結像した後、拡散して被検眼眼底部を一様に照明する。なお、コールドミラー3は可視光を反射し、赤外光を透過する特性を有している。また、キセノンフラッシュランプからなる撮影用光源8から出射されたフラッシュ光は、コンデンサレンズ9を経た後、コールドミラー3により反射してリングスリット4、リレーレンズ5、穴開きミラー6、対物レンズ7を介して被検眼Eの眼底を照明する。このような構成により照明光学系を形成している。
被検眼Eの眼底からの反射光は、光軸L2上に配置された対物レンズ7、穴開きミラー6、レンズ10〜12、を経た後、赤外光を反射し可視光を透過する特性を有するビームスプリッタ13にて反射し、レンズ14に導光され赤外域に感度を持つ観察用カメラ15の受光面に結像する。なお、レンズ11は光軸方向に駆動可能であり、光軸L2上におけるレンズ11の位置を変化させることにより、被検眼Eの眼底と観察用カメラ15及び後述する撮影用カメラ18の受光面とを共役な関係にすることができる。本実施形態の眼科装置は、このような構成にて観察光学系を形成している。
また、撮影光学系は、光軸L2上に配置される観察光学系の対物レンズ7からビームスプリッタ13までを共用する。ビームスプリッタ13を透過した眼底からの反射光束(可視光束)は、レンズ16を経た後、ミラー17にて反射し、可視光に感度を有する撮影用カメラ18に入射し、その受光面に眼底像を結像させるように構成されている。なお、観察用カメラ15の受光面と撮影用カメラ18の受光面とは共役な位置になるように設置されている。
また、視野計測を行うための光学系は、撮像光学系として用いられる対物レンズ7からレンズ16までを共用し、マイクロミラーデバイス19、ハロゲンランプからなる光源20にて構成される。なお、光源20は本実施形態ではハロゲンランプを用いており、マイクロミラーデバイス19全体を均一に照明することができる。マイクロミラーデバイス19は、CMOS半導体上に独立して動く一辺が10数μmの矩形の微小ミラーが数十万〜数百万単位で集合したものであり、各微小ミラーは印加する電圧を制御することにより所定方向に各々偏向するようになっている。なお、本実施形態では電圧を印加させて微小ミラーが偏向しているときに、光源20からの照明光束を被検眼眼底に導光することができるようになっている。また、視野計測時にはミラー17は図示なき駆動装置によって光軸L2上から退避するようになっている。また、固視標を呈示する光学系は、固視目標となる点光源21、リレーレンズ22を備え、ハーフミラー23を介して光軸L2上のビームスプリッタ13から対物レンズ7までの撮影光学系の光路を共用する。なお、点光源21はレンズ11の移動により被検眼Eの眼底と略共役な位置となるように配置されている。なお、本実施の形態では点光源21により被検眼Eに固視標を呈示するものとしているが、これに限るものではなく、マイクロミラーデバイス19の微小ミラーの偏向により固視標を形成し、被検眼Eに呈示するようにすることもできる。
図2は本実施形態の視野計における制御系を示したブロック図である。30は本実施形態の視野計のシステム全体を駆動制御するための制御部であり、観察用光源1、撮影用光源8、マイクロミラーデバイス19、光源20、モニター31、画像処理部32、画像切換部33、メモリ34、応答ボタン35、マウス等の入力デバイス36が接続されている。応答ボタン35は視野計測時に被検者が検査視標を視認できたときに使用するものである。また、制御部30には眼底撮影モードや視野計測モードの切換スイッチや、マイクロミラーデバイス19にて形成される視標の位置,輝度,大きさ等を設定するための各種設定スイッチが備えられているコントロール部37も接続されている。
画像処理部32は、撮影用カメラ18からのデジタル画像に対して色調補正等の画像処理を行う。また、画像処理部32は観察用カメラ15にて得られる画像に対しても画像処理を行うことができるようになっている。画像切換部33はモニター31の表示を観察用カメラ15の動画観察画像や撮影用カメラ18からの静止画像に切り換える。メモリ34は撮影用カメラ18にて撮影された画像や、視野計測において得られた被検者の応答情報を記憶する。
以上のような構成を備える視野計について、その動作を説明する。
検者は観察用光源1を点灯させ、赤外光にて被検眼眼底を照らしモニター31に映る被検眼Eの眼底を観察する。次に、検者はレンズ11を光軸方向に移動することによってモニター31に眼底像が明確に映るようにする。
検者はコントロール部37を用いて視野計測モードに切り換え、被検者の視野計測を行う。視野計測モードが設定されている間は、ミラー17は光軸L2上から退避している。また、制御部は点光源21を点灯させて被検者に固視標を呈示させるとともに、光源20を点灯させて検査視標形成用の光束をマイクロミラーデバイス19全体に照射させる。検者は被検者に対して固視標を固視させることにより、モニター31の眼底像表示画面の中心に被検眼E眼底の中心窩が位置するようにする。
次に、検者はコントロール部37を用いて視野計測用の検査視標の輝度や大きさ(形状)を設定した後、図3に示すように検者はモニター31の眼底像表示画面に表示されているカーソル100を入力デバイス36のマウスを用いて移動させ、被検眼Eの眼底に呈示する視野計測用の検査視標の呈示位置(計測点)を指定する。検査視標の位置指定はマウスのクリックボタンをクリックすることにより決定される。マウス操作によってモニター31上の眼底像の所望位置に対する検査視標の呈示指令がなされると、制御部30はモニター31の眼底表示画面上に設定した検査視標呈示位置に対応するマイクロミラーデバイス19の微小ミラーのみを偏向駆動させる。また同時に制御部30はコントロール部37にて設定された検査視標の輝度が得られるように光源20の出射光量を調節する。図4は入力デバイス36により設定された検査視標の呈示位置に対応したマイクロミラーデバイス19の微小ミラーの偏向駆動状態を示した図である。図中、斜線部分で示した微小ミラーが偏向駆動したミラーであり、偏向駆動させた微小ミラーの集合体の形状により検査視標の大きさ(形状)を規定するようにしている。本実施形態では図4に示すように四角形の検査視標を呈示させるものとしているが、これに限るものではなく円形、文字や記号等の検査視標を形成することができる。なお、本実施の形態では、検査視標の位置指定をマウス操作によって行うものとしているが、これに限るものではなく、予め検査視標の呈示位置が順次決定されている検査プログラムをメモリに記憶しておき、この検査プログラムを実行させることにより、検査視標の呈示位置を自動的に決定させるようにすることも可能である。また、本実施形態では固視標となる点光源21を固定としてるが、これに限るものではなく、点光源21を駆動させる機構を持たせることにより、被検者の固視を誘導させ、表示画面の中心に被検眼眼底の中心窩以外の箇所を持ってくることもできる。
被検眼Eとマイクロミラーデバイス19とは、レンズ11によって共役な位置関係となっているため、マイクロミラーデバイス19にて反射し被検眼Eに向かう光束(偏向された微小ミラーによって反射した光束)は、被検眼Eの眼底にて結像することにより検査視標を被検者に呈示することとなる。被検者は固視を行いながら、呈示された検査視標が視認できたときは応答ボタン35を用いて検者及び装置側に視認できた旨を伝える。検査視標が視認できなかったときは、検者はコントロール部37を用いて検査視標の条件(輝度、大きさ、呈示位置等)を替えて再び被検者に検査視標を呈示する。
被検眼Eに呈示した検査視標は、画像処理部32によって図3に示すように呈示位置マーク101,102としてモニター31の被検眼Eの眼底像に重畳(合成)して表示される。なお、応答ボタン35が使用され、検査視標が視認できたとされる場合には、塗りつぶしの呈示位置マーク101が表示され、視認できなかった場合には白抜きの呈示位置マーク102が画面上に表示される。また、被検眼Eの眼底の各点に呈示する検査視標の輝度は、呈示位置マークをカラー表示(例えば輝度が低い場合には赤系統色、輝度が高い場合には青系統色等)することで、その輝度段階が表示される。また、各計測点における計測結果は、応答ボタン35による視認の可否情報とともに視標の呈示位置情報、形状、輝度の条件等が付与された状態でメモリ34に逐次記憶される。制御部30は得られた計測結果を基に解析を行い、モニター31に図3に示すようなイソプター(等感度線)を表示する。
このように照明光源とマイクロミラーデバイスとを組み合わせて検査視標を形成するため、LCD等の電子表示パネルを用いた透過型の視標呈示装置に比べ、視野計測に必要な検査光量が十分に得られるとともに、長期使用による劣化が生じ難い。
以上の実施形態では、各計測点を検者がマウスにて指定するようにしているが、これに限るものではなく、メモリ34に予め記憶してあるプログラムを実行し、検査視標をプログラムに従って各計測点に自動的に表示させることもできる。また、本実施形態では検査視標は各計測点で固定表示させる静的な視野計測を行うものとしているが、これに限るものではなく、検査視標を呈示した状態で移動させて計測を行う動的な視野計測に用いることもできる。さらに以上の実施形態ではマイクロミラーデバイスを用いて視野計測のための検査視標を形成するものとしているが、被検者の視力測定のためにマイクロミラーデバイスの微小ミラーを偏向駆動させてランドルト環等を形成し、被検眼の視力測定に用いることも可能である。
本実施形態に用いる視野計の光学系を示した図である。 本実施形態に用いる視野計の制御系を示したブロック図である。 モニターに表示される眼底像の様子を示した図である。 マイクロミラーデバイスの微小ミラーの偏向駆動の様子を示した図である。
符号の説明
1 観察用光源
8 撮影用光源
15 観察用カメラ
19 マイクロミラーデバイス
20 光源
21 点光源
30 制御部
31 モニター
36 入力デバイス
37 コントロール部






Claims (3)

  1. 検査視標を被検眼に呈示し、該検査視標の視認の応答を行うことにより被検眼の視野計測を行う視野計において、所定の方向に偏向可能な微小ミラーの集合体からなるマイクロミラーデバイスと、該マイクロミラーデバイスに視標形成用の光束を照射する光源と、前記マイクロミラーデバイスにおける個々の微小ミラーの偏向駆動を制御して前記被検眼に向けて反射する光束を規制することにより被検眼に呈示する検査視標を形成させる制御手段と、を備えることを特徴とする視野計。
  2. 請求項1の視野計は、前記マイクロミラーデバイスの微小ミラーの偏向駆動により形成される前記検査視標光束を被検眼眼底に導光するための導光光学系を備えるとともに、該導光光学系には前記被検眼眼底とマイクロミラーデバイスの微小ミラーの反射面とが共役な位置関係を得るために前記導光光学系の光軸上を前後方向に駆動する光学部材を有することを特徴とする視野計。
  3. 請求項1の視野計は、前記被検眼に赤外域の照明光を照射する照明光学系と、該照明光学系により照明された被検眼眼底からの反射光を受光する観察光学系と、該観察光学系により受光された反射光束を被検眼眼底像として表示する表示手段と、該表示手段により表示された眼底像に対して前記検査視標の呈示位置を指定する指定手段と、を有し、前記制御手段は前記指定手段によって指定された呈示位置に対応した被検眼眼底上に前記検査視標を呈示するようにマイクロミラーデバイスの微小ミラーを偏向駆動することを特徴とする視野計。



JP2003340139A 2003-09-30 2003-09-30 視野計 Withdrawn JP2005102946A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003340139A JP2005102946A (ja) 2003-09-30 2003-09-30 視野計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003340139A JP2005102946A (ja) 2003-09-30 2003-09-30 視野計

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005102946A true JP2005102946A (ja) 2005-04-21

Family

ID=34535128

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003340139A Withdrawn JP2005102946A (ja) 2003-09-30 2003-09-30 視野計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005102946A (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009001458A1 (ja) * 2007-06-28 2008-12-31 Shinko Seiki Company, Limited 眼科検査装置
EP2022391A1 (en) 2007-07-31 2009-02-11 Kabushiki Kaisha TOPCON Ophtalmologic information-processing apparatus and ophthalmologic examination apparatus
WO2010113193A1 (en) * 2009-04-01 2010-10-07 Centervue S.P.A. Instrument for eye examination
JP2012011146A (ja) * 2010-07-05 2012-01-19 Nidek Co Ltd 眼科装置
JP2012511344A (ja) * 2008-12-12 2012-05-24 カール ツァイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト 視覚刺激のための高精度コントラスト比ディスプレイ
JP2013132502A (ja) * 2011-12-27 2013-07-08 Nidek Co Ltd 眼底検査装置
JP2015139527A (ja) * 2014-01-28 2015-08-03 キヤノン株式会社 眼科装置
JP2016144549A (ja) * 2015-02-09 2016-08-12 株式会社トーメーコーポレーション 視野計

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5156014B2 (ja) * 2007-06-28 2013-03-06 長太 松本 眼科検査装置
US7926947B2 (en) 2007-06-28 2011-04-19 Chota Matsumoto Ophthalmic examination system
JPWO2009001458A1 (ja) * 2007-06-28 2010-08-26 長太 松本 眼科検査装置
WO2009001458A1 (ja) * 2007-06-28 2008-12-31 Shinko Seiki Company, Limited 眼科検査装置
JP2009034480A (ja) * 2007-07-31 2009-02-19 Topcon Corp 眼科情報処理装置及び眼科検査装置
US7641339B2 (en) 2007-07-31 2010-01-05 Kabushiki Kaisha Topcon Ophthalmologic information processing apparatus and ophthalmologic examination apparatus
EP2022391A1 (en) 2007-07-31 2009-02-11 Kabushiki Kaisha TOPCON Ophtalmologic information-processing apparatus and ophthalmologic examination apparatus
JP2012511344A (ja) * 2008-12-12 2012-05-24 カール ツァイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト 視覚刺激のための高精度コントラスト比ディスプレイ
WO2010113193A1 (en) * 2009-04-01 2010-10-07 Centervue S.P.A. Instrument for eye examination
US8550626B2 (en) 2009-04-01 2013-10-08 Centervue S.P.A. Instrument for eye examination
AU2009343635B2 (en) * 2009-04-01 2014-12-11 Centervue S.P.A Instrument for eye examination
JP2012011146A (ja) * 2010-07-05 2012-01-19 Nidek Co Ltd 眼科装置
JP2013132502A (ja) * 2011-12-27 2013-07-08 Nidek Co Ltd 眼底検査装置
JP2015139527A (ja) * 2014-01-28 2015-08-03 キヤノン株式会社 眼科装置
JP2016144549A (ja) * 2015-02-09 2016-08-12 株式会社トーメーコーポレーション 視野計

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8696127B2 (en) Ophthalmic apparatus
US7506982B2 (en) Ophthalmologic photographing apparatus
US7878653B2 (en) Fundus camera
JP2002224038A (ja) 眼底カメラ
EP2679148B1 (en) Fundus photographing apparatus
JP3592050B2 (ja) 眼科装置
JP2002065610A (ja) 眼底カメラ
JP2005237901A (ja) 眼科装置
JP4850561B2 (ja) 眼科装置
US6072623A (en) Slit lamp microscope
US7309129B2 (en) Perimeter
JP5953740B2 (ja) 眼底検査装置
JP2005102946A (ja) 視野計
JP6003234B2 (ja) 眼底撮影装置
JPH0654804A (ja) 視野計
JP7301052B2 (ja) 眼科撮影装置
JP3576671B2 (ja) 眼科撮影装置
JP2000116602A (ja) 眼底カメラ
JP2013248075A (ja) 眼底検査装置
JPH08289874A (ja) 眼底カメラ
JPH0810221A (ja) 眼底視野計
JP2003088502A (ja) 眼科撮影装置
EP3695774A1 (en) Ophthalmic device
JPH11146864A (ja) 眼科装置用の作動位置決定装置および眼底撮影装置用の作動位置決定装置
JP2004141563A (ja) 眼科撮影装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060628

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080714

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080723

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20080922