JP2002077051A - 光信号処理装置 - Google Patents

光信号処理装置

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JP2002077051A JP2000264186A JP2000264186A JP2002077051A JP 2002077051 A JP2002077051 A JP 2002077051A JP 2000264186 A JP2000264186 A JP 2000264186A JP 2000264186 A JP2000264186 A JP 2000264186A JP 2002077051 A JP2002077051 A JP 2002077051A
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一夫 廣西
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、ＷＤＭ信号光の複数の光信号の変
調位相に安定した時間秩序を与えることができる光信号
処理装置の提供を課題としている。 【解決手段】 本発明による光信号処理装置は、ＷＤＭ
（波長分割多重）に適合するために、光デマルチプレク
サ２及び光マルチプレクサ４を備えている。光デマルチ
プレクサは入力ポート及び複数の出力ポートを有し、入
力ポート２は異なる波長を有する複数の光信号を波長分
割多重して得られたＷＤＭ信号光が供給される。光マル
チプレクサは出力ポート及び複数の入力ポートを有して
いる。光デマルチプレクサの複数の出力ポートと光マル
チプレクサの複数の入力ポートはそれぞれ複数の光パス
６により接続される。光パスには遅延調整器８が設けら
れる。複数の光信号の少なくとも一つの位相が検出器１
２により検出され、検出された変調位相に基づきコント
ローラ１４が遅延調整器８を制御する。これにより、各
光信号の位相を容易に一致させることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、全光再生中継に適
した光信号処理装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光レベルで波形整形を行う従来の波形整
形器として、マッハツェンダ干渉計（ＭＺＩ）型光ゲー
トがある。この光ゲートは、位相シフトを与えるための
第１及び第２の非線形光学媒質を含むマッハツェンダ干
渉計を例えば光導波路基板上に集積化して構成される。
連続波（ＣＷ）光としてのプロープ光が等分配されて第
１及び第２の非線形光学媒質に供給される。このとき、
等分配されたプローブ光の干渉により出力光が得られな
いように干渉計の光路長が設定されている。
【０００３】第１及び第２の非線形光学媒質の一方には
更に光信号が供給される。光信号及びプローブ光のパワ
ーを適切に設定することによって、光信号に同期する変
換光信号がこの光ゲートから出力される。変換光信号は
プローブ光と同じ波長を有している。
【０００４】第１及び第２の非線形光学媒質の各々とし
て半導体光アンプ（ＳＯＡ）を用いることが提案されて
いる。例えば、波長１．５μｍ帯において、両端面を無
反射化処理したＩｎＧａＡｓ−ＳＯＡを各非線形光学媒
質として用い、これらをＩｎＰ／ＧａＩｎＡｓＰ基板上
に集積化したものが作製されている。
【０００５】従来知られている他の波形整形装置とし
て、非線形光ループミラー（ＮＯＬＭ）がある。ＮＯＬ
Ｍは、方向性結合される第１及び第２の光路を含む第１
の光カプラと、第１及び第２の光路を接続するループ光
路と、ループ光路に方向性結合される第３の光路を含む
第２の光カプラとを備えている。
【０００６】ループ光路の一部又は全体を非線形光学媒
質から構成するとともに、第１及び第３の光路にそれぞ
れプローブ光及び光信号を供給することによって、変換
光信号が第２の光路から出力される。
【０００７】ＮＯＬＭにおける非線形光学媒質としては
光ファイバが一般的である。特に、非線形光学媒質とし
てＳＯＡを用いたＮＯＬＭはＳＬＡＬＯＭ（Semiconduc
torLaser Amplifier in a Loop Mirror）と称される。
【０００８】ところで、近年実用化されている光ファイ
バ通信システムにおいては、伝送路損失や分岐損失等に
よる信号パワーの低下を、エルビウムドープファイバ増
幅器（ＥＤＦＡ）等の光増幅器を用いて補償している。
光増幅器はアナログ増幅器であり、信号を線形増幅する
ものである。この種の光増幅器においては、増幅に伴っ
て発生する自然放出光（ＡＳＥ）雑音の付加により信号
対雑音比（Ｓ／Ｎ比）が低下するので、中継数ひいては
伝送距離に限界が生じる。また、光ファイバの持つ波長
分散やファイバ内の非線形光学効果による波形劣化も伝
送限界を与える要因である。こうした限界を打破するた
めには、信号をデジタル的に処理する再生中継器が必要
であり、その実現が望まれている。特に、全ての処理を
光レベルにおいて行う全光再生中継器は、信号のビット
レートやパルス形状等に依存しないトランスペアレント
な動作を実現する上で重要である。
【０００９】全光再生中継器に必要な機能は、振幅再生
又はリアンプリフィケーション（Ｒｅａｍｐｌｉｆｉｃ
ａｔｉｏｎ）と、波形整形又はリシェイピング（Ｒｅｓ
ｈａｐｉｎｇ）と、タイミング再生又はリタイミング
（Ｒｅｔｉｍｉｎｇ）とである。これらの機能は３Ｒ機
能と称され、特に前二者は２Ｒ機能と称される。
【００１０】波形整形器と光増幅器を組み合わせること
により、或いは光増幅機能を有する波形整形器を用いる
ことにより、２Ｒ機能を提供することができる。また、
それに加えてクロック再生器を並行して用いることによ
り３Ｒ機能を提供することができる。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】異なる波長を有する複
数の光信号を波長分割多重（ＷＤＭ）して得られたＷＤ
Ｍ信号光に対応して、光レベル時間多重（ＯＴＤＭ）型
の全光再生中継器を用いる場合、入力する複数の光信号
の変調位相に安定した時間秩序がないと、安定した再生
処理を行うことができないという問題がある。
【００１２】よって、本発明の目的はＷＤＭ信号光の各
光信号の変調位相に安定した時間秩序を与えることがで
きる光信号処理装置を提供することである。
【００１３】
【課題を解決するための手段】本発明によると、入力ポ
ート及び複数の出力ポートを有し上記入力ポートには異
なる波長を有する複数の光信号を波長分割多重して得ら
れたＷＤＭ信号光が供給される光デマルチプレクサと、
出力ポート及び複数の入力ポートを有する光マルチプレ
クサと、上記複数の出力ポートと上記複数の入力ポート
とをそれぞれ接続する複数の光パスと、上記複数の光パ
スの少なくとも一つに設けられた少なくとも一つの遅延
調整器と、上記複数の光信号の少なくとも一つの変調位
相を検出する検出器と、上記検出器により検出された位
相に基づき上記遅延調整器を制御するコントローラとを
備えた光信号処理装置が提供される。
【００１４】この構成によると、上述の条件に従ってコ
ントローラが遅延調整器を制御することによって、ＷＤ
Ｍ信号光の各光信号の変調位相に安定した時間秩序を与
えることができる。
【００１５】本発明の他の側面によると、変調位相調整
部と全光再生部とを備えた光信号処理装置であって、上
記変調位相調整部は、入力ポート及び複数の出力ポート
を有し上記入力ポートには異なる波長を有する複数の光
信号を波長分割多重して得られたＷＤＭ信号光が供給さ
れる光デマルチプレクサと、出力ポート及び複数の入力
ポートを有する光マルチプレクサと、上記複数の出力ポ
ートと上記複数の入力ポートとをそれぞれ接続する複数
の光パスと、上記複数の光パスの少なくとも一つに設け
られた少なくとも一つの遅延調整器と、上記複数の光信
号の少なくとも一つの変調位相を検出する検出器と、上
記検出器により検出された位相に基き上記遅延調整器を
制御するコントローラとを備えている光信号処理装置が
提供される。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の望ましい実施の形
態を添付図面に従って詳細に説明する。全図を通して同
一又は類似の部分には同一の符号が付される。
【００１７】図１を参照すると、本発明による光信号処
理システムの実施形態が示されている。このシステム
は、光ファイバ伝送路１におけるＷＤＭ信号光の伝搬方
向上流側から順に変調位相調整部３及び全光再生部５を
設けて、構成される。変調位相調整部３は、ＷＤＭ信号
光の各波長の光信号の変調位相を測定し、それを調整す
ることによってある時間秩序を保った状態でＷＤＭ信号
光を出力する。変調位相調整部３の具体的構成について
は後述する。全光再生部５としては、前述したマッハツ
ェンダ干渉計型光ゲートやＮＯＬＭを用いることができ
る。
【００１８】図２は本発明による光信号処理装置の基本
構成を示すブロック図である。本発明による装置は、例
えば、図１に示される変調位相調整部３として使用する
ことができる。
【００１９】図２に示される装置は、ＷＤＭに適合する
ために、入力ポート及び複数の出力ポートを有する光デ
マルチプレクサ（ＤＥＭＵＸ）２と、出力ポート及び複
数の入力ポートを有する光マルチプレクサ（ＭＵＸ）４
とを備えている。光デマルチプレクサ２の入力ポートに
は、異なる波長を有する複数の光信号を波長分割多重し
て得られたＷＤＭ信号光が供給される。光デマルチプレ
クサ２において、入力ポートと各出力ポートとは特定の
波長によって光学的に結合される。また、光マルチプレ
クサ４において、各入力ポートと出力ポートとは特定の
波長によって光学的に結合される。
【００２０】光デマルチプレクサ２の複数の出力ポート
と光マルチプレクサ４の複数の入力ポートはそれぞれ複
数の光パス６によって接続されている。複数の光パス６
の少なくとも一つには遅延調整器８が設けられている。
本実施形態では、全ての光パス６に遅延調整器８が設け
られている。
【００２１】ＷＤＭ信号光は、光デマルチプレクサ２に
よって複数の光信号に分けられ、それぞれ遅延調整器８
による遅延を受けた後、再び光マルチプレクサ４によっ
て波長分割多重される。光マルチプレクサ４から出力さ
れたＷＤＭ信号光は、光カプラ１０によりその一部がモ
ニタ光として取り出された後この装置から出力される。
【００２２】モニタ光は検出器１２に供給される。検出
器１２は、ＷＤＭ信号光の複数の光信号の少なくとも一
つの位相を検出する。そして、コントローラ１４が検出
器１２により検出された変調位相に基き遅延調整器８を
制御する。
【００２３】図３は本発明による光信号処理装置の第１
実施形態を示す主要部のブロック図である。光カプラ１
０（図２参照）からのモニタ光は、光カプラ１６により
２分岐され、その一方は光フィルタ１８に供給され他方
はチューナブル光フィルタ２８に供給される。光フィル
タ１８は基準となる波長λｓを有する光信号を通過させ
る。光フィルタ１８を通過した光信号は、光／電気変換
器（Ｏ／Ｅ）２０により電気信号に変換され、その電気
信号は増幅器２２により増幅されてバンドパスフィルタ
２４に供給される。バンドパスフィルタ２４を通過する
ことによって基準クロック成分が抽出され、再生された
基準クロック成分は増幅器２６により増幅されて位相比
較器３８に供給される。
【００２４】チューナブル光フィルタ２８は任意の波長
λｉを有する光信号を通過させる。チューナブル光フィ
ルタ２８を通過した光信号は光／電気変換器３０により
電気信号に変換され、その電気信号は増幅器３２により
増幅されてバンドパスフィルタ３４に供給される。バン
ドパスフィルタ３４を通過することによってクロック成
分が抽出され、そのクロック成分は増幅器３６により増
幅されて位相比較器３８に供給される。位相比較器３８
は供給された基準クロック成分及びクロック成分の位相
比較を行い、その結果はコントローラ１４に与えられ
る。コントローラ１４は、基準クロック成分及びクロッ
ク成分の位相が一致するように波長λｉの遅延調整器８
による遅延を制御する。尚、チューナブル光フィルタ２
８が通過させる光信号の波長λｉはコントローラ１４か
らの信号によって選択される。
【００２５】図３に示される実施形態のように基準クロ
ックとクロックの位相同期を行うためには、位相同期ル
ープを用いることができる。
【００２６】図４は一般的な位相同期ループの構成を示
すブロック図である。位相同期ループにおいて、周波数
差及び位相差が同時に縮小することを以下に説明する。
【００２７】入力信号Ｖｉ（ｔ），ＶＣＯ（電圧制御発
振器）の出力Ｖｏ（ｔ）は、それぞれ、 Ｖｉ（ｔ）＝ｓｉｎ（ωｉｔ＋φｉ（ｔ）） Ｖｏ（ｔ）＝ｃｏｓ（ωｏｔ＋φｏ（ｔ）） で与えられるので、乗算回路を用いた位相比較器の出力
は、 Ｖｅ（ｔ）＝Ｋｅ ｓｉｎ（ωｉｔ＋φｉ（ｔ））×ｃ
ｏｓ（ωｏｔ＋φｏ（ｔ））＝１／２Ｋｅ｛ｓｉｎ
（（ωｉ−ωｏ）ｔ＋φｉ（ｔ）−φｏ（ｔ））＋ｓｉ
ｎ（（ωｉ＋ωｏ）ｔ＋φｉ（ｔ）＋φ０（ｔ）｝ となる。第２項は回路の周波数制限から減衰すると考え
ると、差周波数成分だけになり、 Ｖｅ（ｔ）＝１／２Ｋｅ ｓｉｎ（（ωｉ−ωｏ）ｔ＋
φｉ（ｔ）−φｏ（ｔ）） となる。角周波数ωの差を位相項φに含めると考える
と、 Ｖｅ（ｔ）＝１／２Ｋｅ ｓｉｎ（φｉ（ｔ）−φｏ
（ｔ）） が得られる。ループフィルタのインバルス応答関数をｆ
（ｔ）とすると、ループフィルタの出力Ｖｄは、 Ｖｄ（ｔ）＝∫0∽Ｖｅ（τ）ｆ（ｔ−τ）ｄτ となる。因果性からｔ−τ＜０でｆ（ｔ）＝０であるの
で、上式を変形すると、 Ｖｄ（ｔ）＝∫0∽Ｖｅ（ｔ−τ）ｆ（ｔ）ｄτ が得られる。また、ＶＣＯの出力をφ0とすると、 ｄφ0（ｔ）／ｄｔ＝Ｋｏ Ｖｄ（ｔ） となる。以上の式から、 ｄφ0（ｔ）／ｄｔ＝ＫｏＫｅ∫0∽Ｖｅ（ｔ−τ）ｆ
（ｔ）ｄτ＝Ｋ∫0∽｛ｓｉｎ（φｉ（ｔ−τ））−ｓ
ｉｎ（φｏ（ｔ−τ））｝ｆ（ｔ）ｄτ≒Ｋ∫0∽
｛（φｉ（ｔ−τ））−（φｏ（ｔ−τ））｝ｆ（ｔ）
ｄτ となる。ここで、Ｋ＝１／２ＫｏＫｅ，ｓｉｎθ≒θこ
の式をラプラス変換すると、 Φｏ（Ｓ）＝Ｋ（Φｉ（Ｓ）−Φｏ（Ｓ））Ｆ（Ｓ）／
Ｓ となる。よって、
【００２８】
【数式１】
【００２９】が得られる。Ｈ（Ｓ）＝Φｏ（Ｓ）／Φｉ
（Ｓ）＝ＫＦ（Ｓ）／（Ｓ＋ＫＦ（Ｓ）） とすると、位相誤差関数Ｅ（Ｓ）は、 Ｅ（Ｓ）＝ｌ−Ｈ（Ｓ）＝（Φｉ（Ｓ）−Φｏ（Ｓ））
／Φｉ（Ｓ）＝Φｅ（Ｓ）／Φｉ（Ｓ） となる。
【００３０】入力信号とＶＣＯの自然発振周波数との間
にΔｆの周波数差があった場合、定常位相誤差φｅｓ
は、ラプラス変換の最終値定理（ラプラス変換の微分公
式から導出できる） と、ｔ＝０でφｉ（ｔ）＝２πΔｆｔ＋θｏつまり、φ
ｉ（Ｓ）＝２πΔｆ／Ｓ2＋θｏ／Ｓとを用いて、
【００３１】
【数式２】
【００３２】となる。
【００３３】つまり、最初の位相誤差（周波数差を含
む）は位相同期ループによってＫＦ（０）分の１に縮小
される。
【００３４】図５は本発明による光信号処理装置の第２
実施形態を示す主要部のブロック図である。ここでは、
検出器１２（図２参照）は、任意の波長を有する光信号
を通過させるチューナブル光フィルタ４０と、チューナ
ブル光フィルタ４０を通過した第１の波長（基準波長）
λｓを有する光信号及び第２の波長λｉを有する光信号
に基きそれぞれ第１及び第２のクロックを再生する回路
と、第１及び第２のクロックの位相比較を行う位相比較
器５０とを含む。クロックを再生する回路は、チューナ
ブル光フィルタ４０を通過した光信号を電気信号に変換
する光／電気変換器４２と、変換器４２の出力を増幅す
る増幅器４４と、増幅器４４の出力が供給されるバンド
パスフィルタ４６と、バンドパスフィルタ４６の出力を
増幅する増幅器４８とを含む。
【００３５】位相比較器５０、ループフィルタ５２、ス
イッチ５４及びＶＣＯ５６によって位相同期ループが構
成されている。スイッチ５４、ＶＣＯ５６及びチューナ
ブル光フィルタ４０はコントローラ１４によって制御さ
れる。
【００３６】次に、図５に示される装置の動作のフロー
を詳細に説明する。
【００３７】まず、チューナブル光フィルタ４０が波長
λｓの光信号のみを通過させるようにコントローラ１４
がチューナブル光フィルタ４０をチューニングする。次
いで、コントローラ１４によってスイッチ５４がオン状
態にされ、位相同期ループが機能するようにされる。つ
まり、この状態では、ループフィルタ５２の出力に従っ
てＶＣＯ５６の発振状態が変化する。このとき、位相同
期ループの動作に従って、波長λｓの光信号のクロック
に同期した基準クロックが得られる。ＶＣＯ５６はルー
プフィルタ５２の出力をメモリする機能を有しているの
で、基準クロックの周波数及び位相は固定化することが
できる。
【００３８】次いでコントローラ１４によってスイッチ
５４がオフ状態にされる。
【００３９】その後、チューナブル光フィルタ４０が波
長λｉの光信号のみを通過させるようにコントローラ１
４がチューナブル光フィルタ４０をチューニングする。
その後、位相比較器５０で波長λｉの光信号から得られ
たクロックと波長λｓの光信号のクロックに同期した基
準クロックとの位相差が測定され、その結果はコントロ
ーラ１４に供給される。そして、測定された位相差が望
ましい値、例えば位相差０になるようにコントローラ１
４が波長λｉの遅延調整器８を制御する。
【００４０】図６は本発明による光信号処理装置の第３
実施形態を示す主要部のブロック図である。ここでは、
図３に示されるのと同じように、光フィルタ１８と、チ
ューナブル光フィルタ２８と、光／電気変換器２０及び
３０と、増幅器２２，２６，３２及び３６と、バンドパ
スフィルタ２４及び３４とが用いられている。また、波
長λｓの光信号から得られるクロックに関連して、図５
に示される構成に準じて位相同期ループが構成されてい
る。この位相同期ループは、位相比較器５０、ループフ
ィルタ５２及びＶＣＯ５６´からなり、ＶＣ０５６´は
ループフィルタ５２の出力メモリ機能を有していない。
これに伴い、スイッチ５４（図５参照）は省略されてい
る。
【００４１】この実施形態では、位相同期ループを用い
て常時波長λｓの光信号のクロックに同期した基準クロ
ックを発振させておいて、その基準クロックと波長λｉ
の光信号から得られるクロック成分とを位相比較器５８
に入力している。そして、測定される位相差が最も小さ
くなるようにコントローラ１４がλｉの遅延調整器８を
制御する。
【００４２】このように、本実施形態では、光フィルタ
１８を通過した光信号に基き基準クロックを発生するよ
うにしている。そのために、位相比較器５０、ループフ
ィルタ５２及びＶＣＯ５６´を含む位相同期ループが用
いられている。
【００４３】図７は本発明による光信号処理装置の第４
実施形態を示すブロック図である。光カプラ１０により
抽出されたモニタ光としてのＷＤＭ信号光は、任意の波
長を有する光信号を通過させる光フィルタ６０に供給さ
れる。基準パルス光を発生するために、発振器６２によ
り駆動されるパルス光源６４が用いられている。光フィ
ルタ６０を通過した光信号及び基準パルス光は利得飽和
デバイス（ＳＧＤ）６６に供給される。利得飽和デバイ
ス６６の出力は光測定部６８に供給される。光測定部６
８は利得飽和デバイス６６から出力される光の平均パワ
ーを検出する。この場合、コントローラ１４は、光測定
部６８により検出された平均パワーが小さくなるように
対応する遅延調整器８を制御する。
【００４４】図８の（Ａ）及び（Ｂ）を参照すると、そ
れぞれ利得飽和デバイス６６の入力及び出力の波形が示
されている。パルス光源６４から出力される基準パルス
光は、各光信号のクロック周波数のＮ（Ｎは自然数）分
の１のクロック周波数を有している。また、基準パルス
光のパルス幅は光信号のパルス幅とほぼ等しい。図では
Ｎ＝１として波形が示されている。
【００４５】図８の（Ａ）に示されるように、光信号と
基準パルス光のタイミングがずれている場合、図８の
（Ｂ）に示されるように、利得飽和デバイス６６におけ
る利得飽和の結果、光信号と基準パルス光が重なってい
る部分のパワーは各パワーの和よりも小さくなる。より
特定的には、光信号と基準パルス光の変調位相が一致し
ている場合に利得飽和デバイス６６から出力される光の
平均パワーが最小値となる。従って、図７に示される光
測定部６８で検出された平均パワーが最小になるように
コントローラ１４が遅延調整器８を制御することによっ
て、各光信号の変調位相を基準パルス光の変調位相に一
致させることができる。
【００４６】光信号のクロック周波数のＮ分の１の発振
周波数が発振器６２及びパルス光源６４において得られ
ていない場合には、コントローラ１４が発振器６２の発
振周波数を微調整することができる。即ち、利得飽和デ
バイス６６の平均出力パワーの変動の時間周期が大きく
なるように発振周波数を調整することによって、光信号
のクロック周波数のＮ分の１のクロック周波数を有する
基準パルス光が得られる。
【００４７】図９は本発明による光信号処理装置の第５
実施形態を示すブロック図である。ここでは、基準波長
λｓの光信号を通過させる光フィルタ７０と任意の波長
λｉを有する光信号を通過させる光フィルタ７２とを並
列に設け、これらを通過した光信号が利得飽和デバイス
６６に入力するようにしている。光測定部６８及びコン
トローラ１４は図７に示される実施形態と同じように機
能する。
【００４８】この構成によると、発振器６２及びパルス
光源６４を用いることなしに、図７に示される実施形態
における原理に準じて波長λｉの光信号の位相を波長λ
ｓの光信号の変調位相に一致させることができる。尚、
光フィルタ７０及び７２が無くても動作は可能である。
【００４９】図１０は本発明による光信号処理装置の第
６実施形態を示すブロック図である。光カプラ１０によ
り抽出されたモニタ光としてのＷＤＭ信号光は任意の波
長を有する光信号を通過させる光フィルタ６０に供給さ
れる。基準パルス光を発生するために、発振器６２によ
り駆動されるパルス光源６４が用いられている。光フィ
ルタ６０を通過した光信号及び基準パルス光は可飽和吸
収デバイス（ＳＡ）７４に供給される。可飽和吸収デバ
イス７４の出力は光測定部６８に供給される。光測定部
６８は可飽和吸収デバイス７４から出力される光の平均
パワーを検出する。この場合、コントローラ１４は、光
測定部６８により検出された平均パワーが小さくなるよ
うに対応する遅延調整器８を制御する。
【００５０】図１１の（Ａ）及び（Ｂ）を参照すると、
それぞれ可飽和吸収デバイス７４の入力及び出力の波形
が示されている。パルス光源６４から出力される基準パ
ルス光は、各光信号のクロック周波数のＮ（Ｎは自然
数）分の１のクロック周波数を有している。また、基準
光パルスのパルス幅は、光信号のパルス幅とほぼ等し
い。図ではＮ＝１として波形が示されている。
【００５１】図１１の（Ａ）に示されるように、光信号
と基準パルス光のタイミングがずれている場合、図１１
の（Ｂ）に示されるように、可飽和吸収デバイス７４に
おける可飽和吸収効果の結果、光信号と基準パルス光が
重なっている部分のパワーは各パワーの和よりも大きく
なる。より特定的には、光信号と基準パルス光の変調位
相が一致している場合に可飽和吸収デバイス７４から出
力される光の平均パワーが最大値となる。従って、図１
０に示される光測定部６８で検出された平均パワーが最
大になるようにコントローラ１４が遅延調整器８を制御
することによって、各光信号の位相を基準パルス光の変
調位相に一致させることができる。
【００５２】光信号のクロック周波数のＮ分の１の発振
周波数が発振器６２及びパルス光源６４において得られ
ていない場合には、コントローラ１４が発振器６２の発
振周波数を微調整することができる。即ち、利得飽和デ
バイス６６の平均出力パワーの変動の時間周期が大きく
なるように発振周波数を調整することによって、光信号
のクロック周波数のＮ分の１のクロック周波数を有する
基準パルス光が得られる。
【００５３】図１２は本発明による光信号処理装置の第
７実施形態を示すブロック図である。ここでは、基準波
長λｓの光信号を通過させる光フィルタ７０と任意の波
長λｉを有する光信号を通過させる光フィルタ７２とを
並列に設け、これらを通過した光信号が可飽和吸収デバ
イス７４に入力するようにしている。光測定部６８及び
コントローラ１４は図１０に示される実施形態と同じよ
うに機能する。
【００５４】この構成によると、発振器６２及びパルス
光源６４を用いることなしに、図１０に示される実施形
態における原理に準じて波長λｉの光信号の変調位相を
波長λｓの光信号の位相に一致させることができる。
尚、光フィルタ７０及び７２が無くても動作は可能であ
る。
【００５５】図７に示される実施形態において、パルス
光源６４から出力される基準パルス光の高さ（振幅）を
変化させて利得飽和デバイス６６の平均出力を測定する
と、光信号のパルス高さの分布が狭い場合には、利得飽
和を起こすパルス高さが揃っているので、利得飽和デバ
イス６６の出力と基準パルス光高さとの関係は、図１３
に示されるように、ある点で直線の傾きが変化する形で
与えられる。一方、光信号のパルス高さの分布が広い場
合には、利得飽和を起こすパルス高さの分布が広いた
め、利得飽和デバイス６６の出力と基準パルス光高さと
の関係は比較的なだらかな曲線で与えられる。従って、
利得飽和デバイス６６の出力と基準パルス光高さとの関
係に基き光信号のパルス高さの分布を検出することがで
きる。
【００５６】図１０に示される実施形態において、パル
ス光源６４から出力される基準パルス光の高さ（振幅）
を変化させて可飽和吸収デバイス７４の平均出力を測定
すると、光信号のパルス高さの分布が狭い場合には、可
飽和吸収を起こすパルス高さが揃っているので、可飽和
吸収デバイス７４の出力と基準パルス光高さとの関係
は、図１４に示されるように、ある点で直線の傾きが変
化する形で与えられる。一方、光信号のパルス高さの分
布が広い場合には、可飽和吸収を起こすパルス高さの分
布が広いため、可飽和吸収デバイス７４の出力と基準パ
ルス光高さとの関係は比較的なだらかな曲線で与えられ
る。従って、可飽和吸収デバイス７４の出力と基準パル
ス光高さとの関係に基き光信号のパルス高さの分布を検
出することができる。
【００５７】図７の実施形態において、利得飽和デバイ
ス６６に入力する光信号のパルス幅が変化する場合を考
える。図１５は利得飽和デバイス６６の出力と相対位相
（基準パルス光と光信号の変調位相差）との関係を表し
ている。光信号のパルス幅が狭い方がパルスパワーの中
で利得飽和効果として働く割合が大きくなるので、相対
位相の変化に対する利得飽和デバイス６６の出力の変化
が大きくなる。従って、利得飽和デバイス６６の出力と
相対位相との関係を得ることによって、光信号のパルス
幅に関する情報を得ることができる。
【００５８】図１０の実施形態において、可飽和吸収デ
バイス７４に入力する光信号のパルス幅が変化する場合
を考える。図１６は可飽和吸収デバイス７４の出力と相
対位相（基準パルス光と光信号の変調位相差）との関係
を表している。光信号のパルス幅が狭い方がパルスパワ
ーの中で可飽和吸収効果として働く割合が大きくなるの
で、相対位相の変化に対する可飽和吸収デバイス７４の
出力の変化が大きくなる。従って、可飽和吸収デバイス
７４の出力と相対位相との関係を得ることによって、光
信号のパルス幅に関する情報を得ることができる。
【００５９】図１７は本発明による光信号処理装置の他
の基本構成を示すブロック図である。この基本構成は、
図２に示される基本構成と対比して、各光信号のビット
レートと同じビットレートのＲＺ信号に基き強度変調を
行う光変調器７６が光マルチプレクサ４の出力側に付加
的に設けられている点で特徴付けられる。
【００６０】図１７に示される装置の動作原理を図１８
により説明する。光変調器７６（図１７参照）の入力に
おいては、図２に示される基本構成の動作に従って、Ｗ
ＤＭ信号光の各光信号の位相差はできるだけ小さくされ
ている。そのように処理されたＷＤＭ信号光が光変調器
７６によって強度変調される。変調信号としては、各光
信号よりもデューティが僅かに小さいＲＺ信号の連続符
号を用いることができる。光変調器７６による変調によ
って、各光信号の位相の偏差に当たる部分の光パワーが
ほぼ０になり、ＷＤＭ信号光における変調位相差をより
小さくすることができる。光変調器７６としてはマッハ
ツェンダ光変調器その他の光変調器を用いることができ
る。
【００６１】また、利得飽和デバイス６６（例えば図７
参照）としては、半導体光増幅器やＤＦＢレーザを用い
ることができる。更に、可飽和吸収デバイス７４（例え
ば図１０参照）としては、例えば逆バイアスされた半導
体光増幅器を用いることができる。
【００６２】図１９は本発明の実施に使用可能な遅延調
整器の実施形態を示す平面図である。ここでは、遅延調
整器８は、異なる光路長を有する少なくとも２つの光導
波路７８と、少なくとも２つの光導波路７８を切り換え
る少なくとも２つの光スイッチ８０とを備えている。図
示された例では、６つの光導波路７８を切り換えるため
に４つの光スイッチ８０が用いられている。並設された
光導波路７８間の遅延時間差をΔτ１，Δτ２，…，Δ
τｎとなるように設定することによって、遅延時間の調
整幅を変更することができる。
【００６３】この構成によると、Ｓｉ基板上に形成した
ガラス導波路等を用いることによって、遅延調整器をア
レイ構成で複数集積化することが容易である。
【００６４】図２０は本発明の実施に使用することがで
きる遅延調整器の他の実施形態を示す斜視図である。こ
こでは、遅延調整器８は圧電効果を有する部材８２と、
部材８２に巻回された光ファイバ８４と、部材８２に電
圧を印加する可変電圧源８６とを備えている。部材８２
としては例えば円筒形に形成された圧電物質を用いるこ
とができる。この実施形態によると、可変電圧源８６に
よって部材８２に印加される電圧を変化させることによ
って、部材８２の形状を変化させて光信号の遅延時間を
変化させることができる。
【００６５】尚、利得飽和デバイスの付加的詳細につい
ては、K. Inoue, "Suppression ofsignal fluctuation
induced by crosstalk light in a gain saturated las
erdiode amplifier", IEEE Photon. Technol. Lett.,
vol.8, pp. 458, 1996を、また、可飽和吸収デバイス
の付加的詳細については、I. Ogura, et al., "Picosec
ond all-optical gate using a saturable absorber in
mode-locked laserdiodes", IEEE Photon. Technol.
Lett., vol. 10, pp. 603, 1998を参照されたい。
【００６６】図２１は本発明の実施に使用することがで
きる遅延調整器の更に他の実施形態を示す平面図であ
る。この実施形態は、図１９に示される実施形態と対比
して、光スイッチ８０及び８０間に設けられる光導波路
７８の数を増やして得られる遅延時間の自由度を大きく
している点で特徴付けられる。
【００６７】遅延調整器において、光スイッチ８０によ
り異なる遅延量の光導波路７８を切り替えるときに、遅
延量の差が大きいと切り替え時に光信号のパルス幅が大
きくなり波形劣化が大きくなる。また、遅延量の差が入
力する光信号の波長の整数倍から大きく外れると、干渉
による光信号の劣化が大きくなる。
【００６８】そこで、この実施形態では、遅延量が最も
近い光導波路７８間の遅延量の差が入力する光信号のビ
ットレートの逆数の１／３以下で、且つ、遅延量の差が
入力する光信号の波長の概ね整数倍となるようにして、
上記問題に対処している。即ち、遅延量が異なる光導波
路７８を光スイッチ８０により切り替えるときに、遅延
量の差を光信号のビットレートの逆数の１／３以下にす
ることにより、光信号のパルス幅は４／３倍以下の幅に
収まり、波形劣化を少なくすることができる。また、遅
延量の差が光信号の波長の概ね整数倍となるようにして
いるので、切り替え時に２つの光導波路７８を通る光が
強め合う条件で動作させることができ、干渉による光信
号の劣化が少なくなる。
【００６９】図２２は図１に示されるシステムに適用可
能なパルス幅圧縮装置の構成図である。入力側の光ファ
イバ１と位相調整部３との間に一対のレンズ８８及び８
８によりコリメート光学系を形成し、そのコリメート光
学系に一対の反射型の回折格子９０及び９０を設けたも
のである。
【００７０】遅延調整器において、前述した実施形態の
ように複数の光スイッチ８０と複数の光導波路７８とを
組み合わせた場合に、光スイッチ８０の切り替え時には
不可避的に光信号のパルス幅が増大してある程度の波形
劣化が生じる。そこで、図２２に示されるように、位相
調整部３に光信号が入力する前に光信号のパルス幅を圧
縮しておくことによって、パルス幅増大による波形劣化
が少なくなる。
【００７１】光ファイバ１が正常分散を有している場
合、光ファイバ１内で自己位相変調に伴う正のチャープ
（光パルスの後端へ向かうにつれて周波数が増大する動
的波長変動）が生じる。この正のチャープが生じた光信
号を回折格子９０及び９０で反射させることによって、
負の群速度分散（周波数の低い成分が遅くなる減少）を
与えることができ、光信号パルスの圧縮が可能である。
【００７２】図２３は図１に示される全光再生部５の実
施形態を示すブロック図である。全光再生部５は、信号
光を供給されて中間信号光を出力する第１の波形整形装
置１０２と、中間信号光を第１及び第２の信号光に分割
する光分岐器（例えば光カプラ）１０４と、第１の信号
光を供給されてクロックパルスを出力する複数のクロッ
ク再生器７２（＃１，…，＃４）と、第２の信号光及び
クロックパルスを供給されてクロックパルスに同期した
再生信号光を出力する第２の波形整形装置１０６とを備
えている。
【００７３】波形整形装置１０２及び１０６の各々とし
ては、非線形光学ループミラー（ＮＯＬＭ）を用いるこ
とができる。
【００７４】この基本構成によると、波形整形装置１０
２及び１０６を用いていることにより、或いは、これに
加えて図示しない光増幅器を用いていることにより、光
レベルでの２Ｒ機能（リアンプリフィケーション及びリ
シェイピング）を得ることができる。また、クロック再
生器７２（＃１，…，＃４）で得られたクロックパルス
を波形整形装置１０６に供給して、クロックパルスと第
２の信号光とのＡＮＤを取るようにしているので、光レ
ベルでのリタイミングを行うことができ、光レベルでの
３Ｒ機能（２Ｒ機能及びリタイミング）を得ることがで
きる。
【００７５】ＷＤＭ信号光は、偏波制御器１２２と、光
遅延回路１１８としての光ファイバ１２０とを介して第
１の波形整形装置１０２に供給される。光ファイバ１２
０は波長分散β2を有しており、ＷＤＭ信号光の複数の
光信号の各タイミングを時間軸上で変化させる。偏波制
御器１２２は、波形整形装置１０２及び１０６等が偏波
依存性を有している可能性に対処するために設けられて
おり、ＷＤＭ信号光の複数の光信号の各偏波状態を一定
にするように機能する。偏波制御器１２２は、例えば、
ＳＯＡ（半導体光増幅器）におけるＸＰＭ（相互位相変
調）或いはＸＧＭ（相互利得変調）を用いた光ゲートを
各波長チャネルに適用することによって構成され得る。
【００７６】偏波制御器１２２として上述のような光ゲ
ートを用いている場合、偏波制御器１２２から出力され
る光の偏波面は、その光ゲートにおけるプローブ光の偏
波面に確定されるので、波形整形装置１０２及び１０６
等における偏波依存性に対処することができる。この場
合、偏波制御器１２２から出力された光の偏波面を維持
してその光を第１の波形整形装置１０２に供給するため
に、光ファイバ１２０として偏波面維持ファイバ（ＰＭ
Ｆ）を用いることが望ましい。尚、光ファイバ１２０に
おける偏波面維持能力が十分でない場合には、偏波制御
器１２２は光ファイバ１２０と第１の波形整形装置１０
２との間に設けられていても良い。
【００７７】ＷＤＭ信号光の光信号の波長はそれぞれλ
S1，…，λS4であり、互いに異なる。これらの光信号は
データの繰り返し時間Ｔに比べて十分短い時間幅を有す
る光パルスによる強度変調により得られている。これら
の光信号は、光ファイバ１２０により順にＴ／４の時間
だけシフトさせられる。このようなＷＤＭ信号光が第１
の波形整形装置１０２に供給されると、４チャネルの波
長全てが単一の波長に変換されるので、第１の波形整形
装置１０２から出力される中間信号光は光時分割多重信
号（ＯＴＤＭ信号）となる。このようにして波長分割多
重信号を時分割多重信号に変換することができる（ＷＤ
Ｍ／ＯＴＤＭ変換）。
【００７８】ここでは、４チャネルの波長分割多重信号
を例示しているが、チャネル数は４には限定されない。
例えば、Ｎ（Ｎは１より大きい整数）チャネルの波長分
割多重信号が用いられている場合には、Ｎチャネルの光
時分割多重信号が得られる。この場合、Ｎ大の光遅延回
路が用いられ、これらにおける時間シフトはＴ／Ｎに設
定される。
【００７９】第１の波形整形装置１０２は、ＷＤＭ／Ｏ
ＴＤＭ変換の機能を有しており、単一波長を有する光時
分割多重信号を中間信号光として出力する。波形整形装
置１０２としてＮＯＬＭが用いられている場合には、中
間信号光の波長はＮＯＬＭのプローブ光の波長λ1に一
致する。波形整形装置１０２から出力された中間信号光
は、光分岐器１０４により第１及び第２の信号光に分割
され、第１の信号光は各々クロック再生器７２（＃１，
…，＃４）に供給され、第２の信号光は第２の波形整形
装置１０６に供給される。
【００８０】クロック再生器７２（＃１，…，＃４）
は、第１の信号光に基いてそれぞれ波長λC1，…，λC4
を有するクロックパルスを再生する。特にこの実施形態
では、第２の波形整形装置１０６から出力される再生信
号光における波長関係を入力されたＷＤＭ信号光におけ
る波長関係に一致させるために、波長λC1，…，λC4は
波長λS1，…，λS4にそれぞれ等しく設定される。尚、
各クロックパルスの周波数は、ＷＤＭ信号光を構成して
いる複数の光信号の各々の速度（繰り返し周波数；ビッ
トレートに対応）に相当している。
【００８１】クロック再生器７２（＃２，＃３及び＃
４）と第２の波形整形装置１０６との間には、それぞれ
光遅延回路１２４（＃１，＃２及び＃３）が付加的に設
けられている。光遅延回路１２４（＃１，＃２及び＃
３）はそれぞれクロックパルスに遅延時間τ1，τ2及び
τ3を与える。遅延時間τ1，τ2及びτ3は、それぞれ、
中間信号光におけるあるパルスから次のパルス、その次
のパルス、及びその次の次のパルスまでの時間間隔に設
定される。
【００８２】この構成によると、第２の波形整形装置１
０６において、時分割多重信号としての中間信号光（第
２の信号光）が複数のクロックパルスを一括してスイッ
チングすることができるので、第１の波形整形装置１０
２に入力されたＷＤＭ信号光に対する３Ｒ機能が可能に
なる。また、波形整形装置１０２及び１０６をＷＤＭ信
号光の複数の波長チャネルに共用しているので、装置構
成を簡単にしてシステムの信頼性を高めることができ
る。
【００８３】図２４は図１に示される全光再生部５の他
の実施形態を示すブロック図である。この実施形態は、
図２３の実施形態では各クロックパルスが中間信号光と
しての光時分割多重信号に基いて得られているのと対比
して、波形成形されるべきＷＤＭ信号光に基いて各クロ
ックパルスが得られている点で特徴付けられる。
【００８４】そのために、この実施形態では、図２３に
示される光分岐器１０４に代えて、第１の波形整形装置
１０２の上流側、より特定的には偏波制御器１２２と光
ファイバ１２０との間に光分岐器１０４´を設けてい
る。光分岐器１０４´で分岐されたＷＤＭ信号光の一部
は、ＷＤＭ信号光の波長チャネル数に応じた複数の光フ
ィルタ１２６（＃１，…，＃４）に供給される。光フィ
ルタ１２６（＃１，…，＃４）はそれぞれ、ＷＤＭ信号
光の複数の光信号の波長λS1，…，λS4に対応する通過
帯域を有している。従って、光フィルタ１２６（＃１，
…，＃４）によってそれぞれＷＤＭ信号光の複数の光信
号を抽出することができる。
【００８５】クロック再生器７２（＃１，…，＃４）の
各々は、抽出された各光信号に基いて容易に各クロック
パルスを再生することができる。
【００８６】この実施形態によると、図２３に示される
実施形態による場合と同様に、第２の波形整形装置１０
６において、光時分割多重信号としての中間信号光（第
２の信号光）が複数のクロックパルスを一括してスイッ
チングすることができるので、第１の波形整形装置１０
２に入力されたＷＤＭ信号光に対する３Ｒ機能が可能に
なる。
【００８７】本発明は以下の付記を含むものである。
【００８８】（付記１） 入力ポート及び複数の出力ポ
ートを有し上記入力ポートには異なる波長を有する複数
の光信号を波長分割多重して得られたＷＤＭ信号光が供
給される光デマルチプレクサと、出力ポート及び複数の
入力ポートを有する光マルチプレクサと、上記複数の出
力ポートと上記複数の入力ポートとをそれぞれ接続する
複数の光パスと、上記複数の光パスの少なくとも一つに
設けられた少なくとも一つの遅延調整器と、上記複数の
光信号の少なくとも一つの変調位相を検出する検出器
と、上記検出器により検出された位相に基き上記遅延調
整器を制御するコントローラとを備えた光信号処理装
置。
【００８９】（付記２） 上記光マルチプレクサの出力
ポートに接続され上記各信号のビットレートと同じビッ
トレートのＲＺ信号に基き強度変調を行う光変調器を更
に備えた付記１記載の光信号処理装置。
【００９０】（付記３） 上記検出器は、基準となる波
長を有する光信号を通過させる光フィルタと、上記光フ
ィルタを通過した光信号に基き基準クロックを再生する
回路と、任意の波長を有する光信号を通過させるチュー
ナブル光フィルタと、上記チューナブル光フィルタを通
過した光信号に基きクロックを再生する回路と、上記基
準クロック及び上記クロックの位相比較を行う位相比較
器とを含む付記１記載の光信号処理装置。
【００９１】（付記４） 上記検出器は、任意の波長を
有する光信号を通過させるチューナブル光フィルタと、
上記チューナブル光フィルタを通過した第１の波長を有
する第１の光信号及び第２の波長を有する第２の光信号
に基づきそれぞれ第１及び第２のクロックを再生する回
路と、上記第１及び第２のクロックの位相比較を行う位
相比較器とを含む付記１記載の光信号処理装置。
【００９２】（付記５） 上記検出器は、基準となる波
長を有する光信号を通過させる光フィルタと、上記光フ
ィルタを通過した光信号に基き基準クロックを発生する
回路と、任意の波長を有する光信号を通過させるチュー
ナブル光フィルタと、上記チューナブル光フィルタを通
過した光信号に基きクロックを再生する回路と、上記基
準クロック及び上記クロックの位相比較を行う位相比較
器とを含む付記１記載の光信号処理装置。
【００９３】（付記６） 上記検出器は、基準パルス光
を発生するパルス光源と、任意の波長を有する光信号を
通過させる光フィルタと、上記光フィルタを通過した光
信号及び上記基準パルス光が供給される利得飽和デバイ
スとを含み、上記コントローラは上記利得飽和デバイス
から出力される光の平均パワーが小さくなるように上記
遅延調整器を制御する回路を含む付記１記載の光信号処
理装置。
【００９４】（付記７） 上記基準パルス光は上記各光
信号のクロック周波数のＮ（Ｎは自然数）分の１のクロ
ック周波数を有する付記６記載の光信号処理装置。
【００９５】（付記８） 上記利得飽和デバイスから出
力される光の平均パワーに基いて上記各光信号のパルス
高さの分布を検出する手段を更に備えた付記６記載の光
信号処理装置。
【００９６】（付記９） 上記検出器は、第１の波長を
有する光信号を通過させる第１の光フィルタと、第２の
波長を有する光信号を通過させる第２の光フィルタと、
上記第１及び第２の光フィルタをそれぞれ通過した光信
号が供給される利得飽和デバイスとを含み、上記コント
ローラは上記利得飽和デバイスから出力される光の平均
パワーが小さくなるように上記遅延調整器を制御する回
路を含む付記１記載の光信号処理装置。
【００９７】（付記１０） 上記検出器は、基準パルス
光を発生するパルス光源と、任意の波長を有する光信号
を通過させる光フィルタと、上記光フィルタを通過した
光信号及び上記基準パルス光が供給される可飽和吸収デ
バイスとを含み、上記コントローラは上記可飽和吸収デ
バイスから出力される光の平均パワーが大きくなるよう
に上記遅延調整器を制御する回路を含む付記１記載の光
信号処理装置。
【００９８】（付記１１） 上記基準パルス光は上記各
光信号のクロック周波数のＮ（Ｎは自然数）分の１のク
ロック周波数を有する付記１０記載の光信号処理装置。
【００９９】（付記１２） 上記可飽和吸収デバイスか
ら出力される光の平均パワーに基いて上記各光信号のパ
ルス高さの分布を検出する手段を更に備えた付記１０記
載の光信号処理装置。
【０１００】（付記１３） 上記検出器は、第１の波長
を有する光信号を通過させる第１の光フィルタと、第２
の波長を有する光信号を通過させる第２の光フィルタ
と、上記第１及び第２の光フィルタをそれぞれ通過した
光信号が供給される可飽和吸収デバイスとを含み、上記
コントローラは上記可飽和吸収デバイスから出力される
光の平均パワーが大きくなるように上記遅延調整器を制
御する回路を含む付記１記載の光信号処理装置。
【０１０１】（付記１４） 上記遅延調整器は、異なる
光路長を有する少なくとも２つの光導波路と、上記少な
くとも２つの光導波路を切り換える少なくとも２つの光
スイッチとを含む付記１記載の光信号処理装置。
【０１０２】（付記１５） 上記遅延調整器は、圧電効
果を有する部材と、上記部材に巻回された光ファイバ
と、上記部材に電圧を印加する可変電圧源とを含む付記
１記載の光信号処理装置。
【０１０３】（付記１６） 位相調整部と全光再生部と
を備えた光信号処理装置であって、上記位相調整部は、
入力ポート及び複数の出力ポートを有し上記入力ポート
には異なる波長を有する複数の光信号を波長分割多重し
て得られたＷＤＭ信号光が供給される光デマルチプレク
サと、出力ポート及び複数の入力ポートを有する光マル
チプレクサと、上記複数の出力ポートと上記複数の入力
ポートとをそれぞれ接続する複数の光パスと、上記複数
の光パスの少なくとも一つに設けられた少なくとも一つ
の遅延調整器と、上記複数の光信号の少なくとも一つの
変調位相を検出する検出器と、上記検出器により検出さ
れた変調位相に基き上記遅延調整器を制御するコントロ
ーラとを備えている光信号処理装置。
【０１０４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によると、
ＷＤＭ信号光の複数の光信号の変調位相に安定した時間
秩序を与えることができる光信号処理装置の提供が可能
になるという効果が生じる。また、この光信号処理装置
と全光再生器とを組み合わせることによって、安定した
動作が可能な全光再生中継器の提供が可能になるという
効果が生じる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は本発明によるシステムの実施形態を示す
ブロック図である。
【図２】図２は本発明による光信号処理装置の基本構成
を示すブロック図である。
【図３】図３は本発明による光信号処理装置の第１実施
形態を示す主要部のブロック図である。
【図４】図４は位相同期ループの構成を示すブロック図
である。
【図５】図５は本発明による光信号処理装置の第２実施
形態を示す主要部のブロック図である。
【図６】図６は本発明による光信号処理装置の第３実施
形態を示す主要部のブロック図である。
【図７】図７は本発明による光信号処理装置の第４実施
形態を示すブロック図である。
【図８】図８の（Ａ）及び（Ｂ）はそれぞれ図７に示さ
れる利得飽和デバイス６６の入力及び出力の波形を示す
図である。
【図９】図９は本発明による光信号処理装置の第５実施
形態を示すブロック図である。
【図１０】図１０は本発明による光信号処理装置の第６
実施形態を示すブロック図である。
【図１１】図１１の（Ａ）及び（Ｂ）はそれぞれ図１０
に示される可飽和吸収デバイス７４の入力及び出力の波
形を示す図である。
【図１２】図１２は本発明による光信号処理装置の第７
実施形態を示すブロック図である。
【図１３】図１３は図７に示される利得飽和デバイス６
６の出力と基準パルス光の高さとの関係を示すグラフで
ある。
【図１４】図１４は図１０に示される可飽和吸収デバイ
ス７４の出力と基準パルス光の高さとの関係を示すグラ
フである。
【図１５】図１５は図７に示される利得飽和デバイス６
６の出力と相対位相の関係を示すグラフである。
【図１６】図１６は図１０に示される可飽和吸収デバイ
ス７４の出力と相対位相の関係を示すグラフである。
【図１７】図１７は本発明による光信号処理装置の他の
基本構成を示すブロック図である。
【図１８】図１８は図１７に示される装置の動作原理を
説明するための図である。
【図１９】図１９は本発明の実施に使用することができ
る遅延調整器の実施形態を示す平面図である。
【図２０】図２０は本発明の実施に使用することができ
る遅延調整器の他の実施形態を示す斜視図である。
【図２１】図２１は本発明の実施に使用することができ
る遅延調整器の更に他の実施形態を示す平面図である。
【図２２】図２２は図１に示されるシステムに適用可能
なパルス幅圧縮装置の構成図である。
【図２３】図２３は図１に示される全光再生部の実施形
態を示すブロック図である。
【図２４】図２４は図１に示される全光再生部の他の実
施形態を示すブロック図である。
【符号の説明】
１ 光ファイバ伝送路 ２ 光デマルチプレクサ ３ 変調位相調整部 ４ 光マルチプレクサ ５ 全光再生部 ８ 遅延調整器 １２ 検出器 １４ コントローラ １６ カプラ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 入力ポート及び複数の出力ポートを有し
    上記入力ポートには異なる波長を有する複数の光信号を
    波長分割多重して得られたＷＤＭ信号光が供給される光
    デマルチプレクサと、 出力ポート及び複数の入力ポートを有する光マルチプレ
    クサと、 上記複数の出力ポートと上記複数の入力ポートとをそれ
    ぞれ接続する複数の光パスと、 上記複数の光パスの少なくとも一つに設けられた少なく
    とも一つの遅延調整器と、 上記複数の光信号の少なくとも一つの変調位相を検出す
    る検出器と、 上記検出器により検出された位相に基き上記遅延調整器
    を制御するコントローラとを備えた光信号処理装置。
  2. 【請求項２】 変調位相調整部と全光再生部とを備えた
    光信号処理装置であって、 上記変調位相調整部は、 入力ポート及び複数の出力ポートを有し上記入力ポート
    には異なる波長を有する複数の光信号を波長分割多重し
    て得られたＷＤＭ信号光が供給される光デマルチプレク
    サと、 出力ポート及び複数の入力ポートを有する光マルチプレ
    クサと、 上記複数の出力ポートと上記複数の入力ポートとをそれ
    ぞれ接続する複数の光パスと、 上記複数の光パスの少なくとも一つに設けられた少なく
    とも一つの遅延調整器と、 上記複数の光信号の少なくとも一つの変調位相を検出す
    る検出器と、 上記検出器により検出された位相に基き上記遅延調整器
    を制御するコントローラとを備えている光信号処理装
    置。
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