JP2001308531A - Multilayer printed wiring board - Google Patents

Multilayer printed wiring board

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JP2001308531A
JP2001308531A JP2000123574A JP2000123574A JP2001308531A JP 2001308531 A JP2001308531 A JP 2001308531A JP 2000123574 A JP2000123574 A JP 2000123574A JP 2000123574 A JP2000123574 A JP 2000123574A JP 2001308531 A JP2001308531 A JP 2001308531A
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JP
Japan
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layer
signal
hole
socket
electrode pins
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JP2000123574A
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Japanese (ja)
Inventor
Kenichi Tokuno
健市 得能
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multilayer printed wiring board by which connection of signal wires to electrode pins can be performed with reliability and no plating failure occurs even if pitch of the signal wires is reduced. SOLUTION: The board 1 on which a socket 2 provided with several electrode pins 6 of narrow pitch is mounted forms multiple layers comprising a power supply layer 11, a ground layer 12 and a signal layer 13. The signal layer 13 has an inner layer 8a of signal wires in its inside and is further provided with through holes 16 into which the electrode pins 6 are inserted. Each through hole 16 is comprised of a part 16b of regular diameter whose internal diameter is a normal value, and a part 16a of small diameter whose internal diameter near the inner layer 8a of signal wires is smaller than that of the part 16b of regular diameter.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、多層プリント配線
基板に関し、特に、狭ピッチの電極ピンを有するソケッ
トが装着され、電極ピンをスルーホールに挿入して半田
接続する構造の多層プリント配線基板に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer printed wiring board, and more particularly to a multilayer printed wiring board having a structure in which a socket having narrow pitch electrode pins is mounted, and the electrode pins are inserted into through holes and connected by soldering. .

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置においては、初期故障を短時
間で抽出するため、電圧を印加した状態で高温環境下に
置くバーンインテストを行っている。これにより、初期
不良が市場に出荷されるのを防止している。バーンイン
は、回路パターンが形成され、必要な電子部品が実装さ
れた基板と、この基板に半導体装置を装着するソケット
を備えて構成されるバーンインボードが用いられる。
2. Description of the Related Art In a semiconductor device, in order to extract an initial failure in a short time, a burn-in test is performed in a high-temperature environment with a voltage applied. This prevents the initial failure from being shipped to the market. The burn-in uses a board on which a circuit pattern is formed and on which necessary electronic components are mounted, and a burn-in board including a socket for mounting a semiconductor device on the board.

【0003】図3は、バーンインボードの一例を示す。
表面及び内部に回路パターンが形成された基板1上に
は、バーンインの対象となる半導体装置5を装着するた
めの複数のソケット2が取り付けられている。基板1の
裏面(下面)の所定位置には、抵抗、コンデンサ等の受
動部品3が取り付けられている。ソケット2はマトリク
ス状に配置された複数のソケット電極ピン6を有してお
り、このソケット電極ピン6は基板1に設けられたスル
ーホール(図示せず)に挿入され、半田付けされてい
る。基板1の一端には、回路パターンに接続され、外部
との接続に用いられるエッジ電極部4が設けられ、この
部分を除いて基板1の裏面全体が保護カバー7で覆われ
ている。
FIG. 3 shows an example of a burn-in board.
A plurality of sockets 2 for mounting a semiconductor device 5 to be burned in are mounted on a substrate 1 on which a circuit pattern is formed on the surface and inside. At a predetermined position on the back surface (lower surface) of the substrate 1, a passive component 3 such as a resistor or a capacitor is attached. The socket 2 has a plurality of socket electrode pins 6 arranged in a matrix. The socket electrode pins 6 are inserted into through holes (not shown) provided in the substrate 1 and soldered. An edge electrode portion 4 connected to a circuit pattern and used for connection to the outside is provided at one end of the substrate 1, and the entire back surface of the substrate 1 is covered with a protective cover 7 except for this portion.

【0004】図4は、ソケット電極ピン6と基板1の接
続部の詳細を示す。基板1は、半導体装置に電源を供給
する電源配線が設けられた電源層11、グランド用の配
線が設けられると共に電源層11に積層されたグランド
層12、グランド層12に積層された信号層13を備え
た多層構造を有している。信号層13は、内部に内層信
号配線8aが設けられ、表面にパターン配線8bが形成
され、パターン配線8bはエッジ電極部4に延伸してい
る。ソケット2のソケット電極ピン6は、基板1を貫通
させて設けられたスルーホール10に挿入され、半田9
により半田接続されている。
FIG. 4 shows the details of the connection between the socket electrode pins 6 and the substrate 1. The substrate 1 includes a power supply layer 11 provided with power supply wiring for supplying power to the semiconductor device, a ground layer 12 provided with wiring for grounding and laminated on the power supply layer 11, and a signal layer 13 laminated on the ground layer 12. Having a multilayer structure. The signal layer 13 has an inner layer signal wiring 8 a provided inside, a pattern wiring 8 b formed on the surface, and the pattern wiring 8 b extends to the edge electrode portion 4. The socket electrode pins 6 of the socket 2 are inserted into through holes 10 provided through the substrate 1, and solder 9
Are connected by soldering.

【0005】図5は、基板1上の内層信号配線8aとソ
ケット電極ピン6の配置を示す。ソケット電極ピン6
は、内側信号ピン14と外側信号ピン15からなり、内
側信号ピン14には、外側に配置された信号ピンの間を
通して引き回された内層信号配線8aが接続されてい
る。
FIG. 5 shows the arrangement of the inner layer signal wiring 8a and the socket electrode pins 6 on the substrate 1. Socket electrode pin 6
Is composed of an inner signal pin 14 and an outer signal pin 15, and the inner signal pin 14 is connected to an inner layer signal wiring 8a routed between signal pins arranged on the outside.

【0006】スルーホール10はソケット電極ピン6の
接続を行うために、内面に施されたメッキ加工による導
体層(図示せず)が形成されている。ソケット電極ピン
6は、導体層半田付けされる。
In the through hole 10, a conductor layer (not shown) is formed on the inner surface by plating to connect the socket electrode pins 6. The socket electrode pins 6 are soldered to a conductor layer.

【0007】特開平8−264940号公報では、多層
基板のスルーホールに第1の外径による貫通孔を開け、
ついで第1の外径による貫通孔と同軸にして第2の外径
を所定の深さに開ける。こうして形成されたスルーホー
ルにメッキ加工による導体層を形成する。導体層は、第
2の外径では厚くし、第1の外径では薄くし、肉厚が厚
くなり易い開口部でも内部と同一の厚みになるように
し、スルーホール全体では均一な内径になるようにす
る。
In Japanese Unexamined Patent Publication No. Hei 8-264940, a through hole having a first outer diameter is formed in a through hole of a multilayer substrate.
Next, a second outer diameter is opened to a predetermined depth so as to be coaxial with the through hole having the first outer diameter. A conductor layer is formed in the through hole thus formed by plating. The conductor layer is made thicker at the second outer diameter, thinner at the first outer diameter, and has the same thickness as the inside even at the opening where the thickness tends to be thicker, and has a uniform inner diameter over the entire through hole. To do.

【0008】また、多層基板の金属配線パターンは極め
て薄いため、スルーホール内に露出する面積も小さく、
メッキ加工による導体層との接触面積が小さくなり、接
続不良を生じる場合がある。そこで、特開平8−153
971号公報では、積層板毎にスルーホールの内径を異
ならせ、上層に対して金属配線パターンの露出面を形成
し、スルーホール内の半田との接触面積が広くなるよう
にしている。
Further, since the metal wiring pattern of the multilayer substrate is extremely thin, the area exposed in the through hole is small,
The contact area with the conductor layer due to the plating process is reduced, and a connection failure may occur. Therefore, Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-153
In JP-A-971, the inner diameter of the through-hole is made different for each laminated plate, the exposed surface of the metal wiring pattern is formed on the upper layer, and the contact area with the solder in the through-hole is increased.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の多層プ
リント配線基板によると、0.65〜0.75mmピッ
チの狭ピッチソケットを用いた場合、スルーホール10
のアスペクト比(=基板厚/スルーホール径)が高くな
り、スルーホール内壁をメッキする際、スルーホールに
メッキ液を流し難くなり、メッキ不良(接続信頼性を低
下させる原因になる)が生じやすい。
However, according to the conventional multilayer printed wiring board, when a narrow pitch socket having a pitch of 0.65 to 0.75 mm is used, a through hole 10 is required.
Aspect ratio (= substrate thickness / through-hole diameter) increases, and when plating the inner wall of the through-hole, it becomes difficult to flow the plating solution through the through-hole, and poor plating (which causes a reduction in connection reliability) is likely to occur. .

【0010】さらに、スルーホール10の内径が小さく
なると、ソケット電極ピン6とスルーホール10とを半
田付けするための半田量を増加させ難くなるほか、半田
9とスルホール10の内壁との接触面積が小さくなり、
接続強度が弱くなる。この結果、ピン接続の信頼性が低
下する。
Further, when the inner diameter of the through hole 10 is reduced, it is difficult to increase the amount of solder for soldering the socket electrode pin 6 and the through hole 10, and the contact area between the solder 9 and the inner wall of the through hole 10 is reduced. Smaller,
Connection strength is weakened. As a result, the reliability of the pin connection decreases.

【0011】また、特開平8−264940号公報によ
ると、スルーホール内の導体層が均一の内径になるよう
に、導体層の肉厚が大きくなり易い開口部を必要なスル
ーホール内径よりも大きい第2の外径としたものであ
り、ソケット電極ピンの間隔が大きくなることは避けら
れない。したがって、狭ピッチソケットのために信号配
線のピッチが狭くなると、適用することはできない。
According to Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-264940, an opening in which the thickness of the conductor layer is likely to be large is larger than the required inside diameter of the through-hole so that the conductor layer in the through-hole has a uniform inside diameter. This is the second outer diameter, and it is inevitable that the interval between the socket electrode pins becomes large. Therefore, if the pitch of the signal wiring becomes narrow due to the narrow pitch socket, it cannot be applied.

【0012】さらに、特開平8−153971号公報に
よると、積層板毎にスルーホール内径が異なるため、多
層になるほどスルーホールの最大直径が大きくなる。こ
のため、狭ピッチソケットのために信号配線のピッチが
狭くなると、適用することはできない。
Further, according to Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-153971, since the inner diameter of the through-hole differs for each laminated plate, the maximum diameter of the through-hole increases as the number of layers increases. For this reason, if the pitch of the signal wiring becomes narrow due to the narrow pitch socket, it cannot be applied.

【0013】したがって、本発明の目的は、狭ピッチソ
ケットへの適用によって信号配線のピッチが狭くなって
も、電極ピンとの接続が確実に行え、メッキ不良を生じ
ることのない多層プリント配線基板を提供することにあ
る。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a multilayer printed wiring board which can be reliably connected to electrode pins even if the pitch of signal wiring is narrowed by application to a narrow pitch socket, and which does not cause plating failure. Is to do.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するため、狭ピッチの複数の電極ピンを備えたソケ
ットが装着され、内部に信号配線が形成された信号層を
備えた多層プリント配線基板において、前記複数の電極
ピンを挿入して半田接続するために用いられ、前記信号
層の前記信号配線の近傍の内径を他の部分よりも小さく
したスルーホールを備えることを特徴とする多層プリン
ト配線基板を提供する。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above object, the present invention provides a multi-layer comprising a signal layer in which a socket having a plurality of electrode pins having a narrow pitch is mounted and a signal wiring is formed inside. The printed wiring board includes a through hole that is used to insert and solder the plurality of electrode pins and that has an inner diameter near the signal wiring of the signal layer smaller than other parts. Provided is a multilayer printed wiring board.

【0015】この構成によれば、信号層の信号配線の近
傍ではスルーホールの内径が他の部分に比べて小さくな
るため、ソケットの電極ピンが狭ピッチとなってもアス
ペクト比が高くならず、スルーホールと電極ピンの接続
が確実に行われ、メッキ不良を生じることがない。
According to this structure, since the inside diameter of the through hole is smaller in the vicinity of the signal wiring of the signal layer than in other portions, the aspect ratio does not increase even if the pitch of the electrode pins of the socket is narrow. The connection between the through-hole and the electrode pin is ensured, and no plating failure occurs.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。図1は、本発明の多層プリント配
線基板の第1の実施の形態を示す。以下においては、多
層プリント配線基板をバーンインボードに用いた場合に
ついて説明する。また、多層プリント配線基板を基板と
して説明する。バーンインボードとしての全体図は図3
に示した通りであり、バーンインボード内層信号配線8
aとソケット電極ピン6の配置も図5の通りであるの
で、ここでは説明を省略する。また、ソケット2には、
0.65〜0.75mmピッチの狭ピッチソケットが用
いられる。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a first embodiment of a multilayer printed wiring board according to the present invention. Hereinafter, a case where a multilayer printed wiring board is used for a burn-in board will be described. Also, a multilayer printed wiring board will be described as a substrate. Figure 3 shows the overall view of the burn-in board
And the signal wiring 8 in the burn-in board inner layer.
5 and the arrangement of the socket electrode pins 6 are also as shown in FIG. Also, in socket 2,
A narrow pitch socket having a pitch of 0.65 to 0.75 mm is used.

【0017】電源配線を有する電源層11、グランド用
の配線が設けられたグランド層12、及び内部に内層信
号配線8aが形成された信号層13よりなる多層構造の
基板1の上面の所定位置には、半導体装置5を装着する
ための複数のソケット2が装着されている。ソケット2
のソケット電極ピン6が挿入されるスルーホール16
は、細径部16aと標準径部16bからなる。電源層1
1及びグランド層12の部分に設けられた標準径部16
bは、ソケット電極ピン6のピッチに応じた従来よりの
内径とし、細径部16aは信号層13の内層信号配線8
aの部分に設けられ、標準径部16bより小さい内径に
加工されている。スルーホール16の全体の形状は瓶型
を成している。このように標準径部16bを設けた形状
により、内層信号配線8aにおける細径部16aの深さ
が浅くなりアスペクト比は低くなる。
A power supply layer 11 having a power supply wiring, a ground layer 12 provided with a ground wiring, and a signal layer 13 having an internal signal wiring 8a formed therein are provided at predetermined positions on the upper surface of the multilayered substrate 1. Has a plurality of sockets 2 for mounting the semiconductor device 5. Socket 2
Through holes 16 into which the socket electrode pins 6 are inserted.
Consists of a small diameter portion 16a and a standard diameter portion 16b. Power supply layer 1
1 and a standard diameter portion 16 provided on the ground layer 12
b is the conventional inner diameter corresponding to the pitch of the socket electrode pins 6, and the small diameter portion 16 a is the inner layer signal wiring 8 of the signal layer 13.
It is provided in the portion a and is machined to an inner diameter smaller than the standard diameter portion 16b. The overall shape of the through hole 16 is a bottle shape. By providing the standard diameter portion 16b in this manner, the depth of the small diameter portion 16a in the inner layer signal wiring 8a becomes shallow and the aspect ratio becomes low.

【0018】スルーホール16にソケット電極ピン6を
通して半田付けする際、細径部16aでは半田供給量が
少なくなるが、標準径部16bには十分に半田が浸透す
るので、半田接続が不十分になることはない。したがっ
て、接続の信頼性が確保される。また、スルーホール1
6内の導電層の形成は、メッキ加工により行われるが、
標準径部16bが存在するために、メッキ液がスルーホ
ール16内に流れ易くなるので、容易にメッキ加工が行
える。
When soldering the through-hole 16 through the socket electrode pins 6, the amount of supplied solder is small in the small diameter portion 16a, but the solder is sufficiently penetrated into the standard diameter portion 16b, so that the solder connection is insufficient. It will not be. Therefore, the reliability of the connection is ensured. In addition, through hole 1
The conductive layer in 6 is formed by plating.
The presence of the standard diameter portion 16b makes it easier for the plating solution to flow into the through hole 16, so that plating can be easily performed.

【0019】次に、本発明の他の実施の形態について図
面を参照して詳細に説明する。図2は本発明の多層プリ
ント配線基板の他の実施の形態を示す。図2において
は、図1と同一であるものには同一引用数字を用いたの
で、ここでは重複する説明を省略する。本実施の形態
は、ソケット電極ピン6の相互間に内層信号配線8aが
水平に2本併設された構成の場合である。この場合も、
信号層13の内の内層信号配線8aに隣接するスルーホ
ール16の内径を小さくした構造により、ソケット電極
ピン6と基板スルーホール16との接続の信頼性を損な
うことなく、隣接するスルーホール16間の内層配線形
成可能エリアを広げることができ、ピン間配線数を増や
すことが可能となる。この結果、多層基板の層数を減ら
すことができ、基板コストを削減することが可能にな
る。
Next, another embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 2 shows another embodiment of the multilayer printed wiring board of the present invention. In FIG. 2, the same reference numerals are used for the same components as those in FIG. 1, and thus the duplicate description will be omitted. The present embodiment is a case where two inner layer signal wires 8a are horizontally provided side by side between the socket electrode pins 6. Again,
With a structure in which the inside diameter of the through hole 16 adjacent to the inner layer signal wiring 8a in the signal layer 13 is reduced, the reliability of the connection between the socket electrode pin 6 and the substrate through hole 16 is not impaired. The area where the inner layer wiring can be formed can be expanded, and the number of wirings between pins can be increased. As a result, the number of layers of the multilayer substrate can be reduced, and the cost of the substrate can be reduced.

【0020】図1及び図2の構造の多層プリント配線基
板を用いたバーンインボードによりバーンインを行う方
法について説明すると、ソケット2に半導体装置5を搭
載したバーンインボードを恒温槽を備えたバーンイン装
置にセットし、所定温度に加熱した後、半導体装置5に
電圧の印加やテスト信号を入力を行い、所定の時間にわ
たり試験状態にする。
A method of performing burn-in by a burn-in board using a multilayer printed wiring board having the structure shown in FIGS. 1 and 2 will be described. A burn-in board having a semiconductor device 5 mounted on a socket 2 is set in a burn-in apparatus having a constant temperature bath. Then, after heating to a predetermined temperature, a voltage is applied to the semiconductor device 5 or a test signal is input, and the semiconductor device 5 is brought into a test state for a predetermined time.

【0021】上記実施の形態においては、信号層13が
基板1の片面の表層に設けられているものとしたが、反
対側でもよいし、中央部に設けられていてもよい。
In the above embodiment, the signal layer 13 is provided on one surface of the substrate 1, but may be provided on the opposite side or in the center.

【0022】[0022]

【発明の効果】以上説明した通り、本発明の多層プリン
ト配線基板によれば、信号層の前記信号配線の近傍では
標準径の部分に比べて内径を小さくしたスルーホールを
備えた構成にしたので、スルーホールメッキ不良の減
少、および接続部半田量と接続面積の増加が可能にな
り、ソケット電極ピンとスルーホールとの接続信頼性を
向上させることができる。
As described above, according to the multilayer printed wiring board of the present invention, the through hole having the smaller inner diameter than the standard diameter portion is provided near the signal wiring of the signal layer. In addition, it is possible to reduce defective through-hole plating, increase the amount of solder at the connection portion and increase the connection area, and improve the connection reliability between the socket electrode pin and the through-hole.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のバーンインボードの第1の実施の形態
の主要部を示す正面断面図である。
FIG. 1 is a front sectional view showing a main part of a first embodiment of a burn-in board of the present invention.

【図2】本発明のバーンインボードの他の実施の形態の
主要部を示す正面断面図である。
FIG. 2 is a front sectional view showing a main part of another embodiment of the burn-in board of the present invention.

【図3】バーンインボードの全体構成を示す正面断面図
である。
FIG. 3 is a front sectional view showing the entire configuration of the burn-in board.

【図4】ソケット電極ピンと基板の接続部の詳細を示す
正面断面図である。
FIG. 4 is a front sectional view showing details of a connection portion between a socket electrode pin and a substrate.

【図5】図3のバーンインボードの基板上の内層信号配
線とソケット電極ピンの配置の詳細を示す正面断面図で
ある。
5 is a front sectional view showing details of the arrangement of inner layer signal wiring and socket electrode pins on the substrate of the burn-in board of FIG. 3;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 ソケット 5 半導体装置 6 ソケット電極ピン 8a 内層信号配線 8b パターン配線 9 半田 11 電源層 12 グランド層 13 信号層 16 スルーホール 16a 細径部 16b 標準径部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Socket 5 Semiconductor device 6 Socket electrode pin 8a Inner layer signal wiring 8b Pattern wiring 9 Solder 11 Power supply layer 12 Ground layer 13 Signal layer 16 Through hole 16a Small diameter section 16b Standard diameter section

フロントページの続き Fターム(参考) 5E317 AA24 BB01 BB11 CC31 CC53 CD34 GG07 GG14 5E338 AA03 BB04 BB13 BB14 BB25 BB75 CC01 CC04 CC06 EE11 EE23 EE33 EE51 5E346 AA42 BB02 BB03 BB04 BB06 FF04 HH11 HH26 HH33 Continued on the front page F term (reference) 5E317 AA24 BB01 BB11 CC31 CC53 CD34 GG07 GG14 5E338 AA03 BB04 BB13 BB14 BB25 BB75 CC01 CC04 CC06 EE11 EE23 EE33 EE51 5E346 AA42 BB02 BB03 BB04 BB06 H33H33

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 狭ピッチの複数の電極ピンを備えたソケ
ットが装着され、内部に信号配線が形成された信号層を
備えた多層プリント配線基板において、 前記複数の電極ピンを挿入して半田接続するために用い
られ、前記信号層の前記信号配線の近傍の内径を他の部
分よりも小さくしたスルーホールを備えることを特徴と
する多層プリント配線基板。
1. A multilayer printed wiring board having a signal layer in which a socket having a plurality of narrow pitch electrode pins is mounted and in which a signal wiring is formed, wherein the plurality of electrode pins are inserted and soldered. A multi-layer printed wiring board, characterized in that the multi-layer printed wiring board includes a through hole having a smaller inner diameter than the other portion of the signal layer in the vicinity of the signal wiring.
【請求項2】 前記スルーホールは、0.65〜0.7
5mmのピッチであることを特徴とする請求項1記載の
多層プリント配線基板。
2. The semiconductor device according to claim 2, wherein the through hole has a thickness of 0.65 to 0.7.
2. The multilayer printed circuit board according to claim 1, wherein the pitch is 5 mm.
【請求項3】 前記信号層は、最外層に配置されている
ことを特徴とする請求項1記載の多層プリント配線基
板。
3. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the signal layer is disposed on an outermost layer.
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