JP2001257592A - 計測装置 - Google Patents
計測装置Info
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- JP2001257592A JP2001257592A JP2000064637A JP2000064637A JP2001257592A JP 2001257592 A JP2001257592 A JP 2001257592A JP 2000064637 A JP2000064637 A JP 2000064637A JP 2000064637 A JP2000064637 A JP 2000064637A JP 2001257592 A JP2001257592 A JP 2001257592A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/25—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
- G01R19/2506—Arrangements for conditioning or analysing measured signals, e.g. for indicating peak values ; Details concerning sampling, digitizing or waveform capturing
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R22/00—Arrangements for measuring time integral of electric power or current, e.g. electricity meters
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- Analogue/Digital Conversion (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Measurement And Recording Of Electrical Phenomena And Electrical Characteristics Of The Living Body (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 被計測入力をＡ／Ｄ変換して計測するにあた
り、被計測入力幅が大きく変化してもＡ／Ｄ変換器の飽
和を排除して、適正なゲイン倍率を使用できて計測誤差
を小さくする。 【解決手段】 被計測入力をゲイン付与手段３０にて任
意ゲイン倍率に増幅して各ゲイン倍率のアナログデータ
をＡ／Ｄ変換器８によりディジタルデータに変換する。
Ａ／Ｄ変換後の各任意倍率のディジタルデータをメモリ
手段９に記録して、メモリ内のディジタルデータのうち
ゲイン倍率の最も大きいデータからＡ／Ｄ変換時の飽和
を示すデータを検索して、飽和データが存在する一連の
データを無効にして飽和データの存在しないデータを演
算処理対象として選択する。
り、被計測入力幅が大きく変化してもＡ／Ｄ変換器の飽
和を排除して、適正なゲイン倍率を使用できて計測誤差
を小さくする。 【解決手段】 被計測入力をゲイン付与手段３０にて任
意ゲイン倍率に増幅して各ゲイン倍率のアナログデータ
をＡ／Ｄ変換器８によりディジタルデータに変換する。
Ａ／Ｄ変換後の各任意倍率のディジタルデータをメモリ
手段９に記録して、メモリ内のディジタルデータのうち
ゲイン倍率の最も大きいデータからＡ／Ｄ変換時の飽和
を示すデータを検索して、飽和データが存在する一連の
データを無効にして飽和データの存在しないデータを演
算処理対象として選択する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、電流、電圧、電
力、電力量などをＡ／Ｄ変換器を使用して計測を行う計
測装置に関するものである。
力、電力量などをＡ／Ｄ変換器を使用して計測を行う計
測装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図３は、例えば特開平１０−２６６４１
号公報に示された従来の計測装置の回路ブロック図、図
４は複数の回路電流検出のタイミングを説明する図であ
る。図において、１は電圧検出手段、２は電流検出手段
であり、複数の回路電流をそれぞれ各個に検出するよう
になっている。電流検出手段２は変流器を介して検出さ
れる電流をサンプリング処理のために電流比例の電圧信
号に変える。３は各電流検出手段２の次段に挿入された
オートレンジ回路、４は入力回路切替手段であり、各オ
ートレンジ回路３の入力を切り替える。５はサンプリン
グの時分割手段、６はサンプルホールド回路、７はマル
チプレクサ、８はＡ／Ｄ変換器、９はＡ／Ｄ変換により
量子化された計測データを記憶しておくメモリ、１０は
時分割電力量演算手段であり、演算手段１１、演算結果
メモリ１２、ビットシフト手段１３、オートレンジ切替
手段１４から構成される。２０は時分割電力量演算手段
１０で演算される電力を各回路毎に積算する回路毎電力
量演算手段である。
号公報に示された従来の計測装置の回路ブロック図、図
４は複数の回路電流検出のタイミングを説明する図であ
る。図において、１は電圧検出手段、２は電流検出手段
であり、複数の回路電流をそれぞれ各個に検出するよう
になっている。電流検出手段２は変流器を介して検出さ
れる電流をサンプリング処理のために電流比例の電圧信
号に変える。３は各電流検出手段２の次段に挿入された
オートレンジ回路、４は入力回路切替手段であり、各オ
ートレンジ回路３の入力を切り替える。５はサンプリン
グの時分割手段、６はサンプルホールド回路、７はマル
チプレクサ、８はＡ／Ｄ変換器、９はＡ／Ｄ変換により
量子化された計測データを記憶しておくメモリ、１０は
時分割電力量演算手段であり、演算手段１１、演算結果
メモリ１２、ビットシフト手段１３、オートレンジ切替
手段１４から構成される。２０は時分割電力量演算手段
１０で演算される電力を各回路毎に積算する回路毎電力
量演算手段である。
【０００３】次に従来の計測装置の動作について説明す
る。入力回路切替手段４では図４に示されるように複数
の電流検出回路２からの入力を順次切り替えてゆく。こ
のとき、電力の演算のためには実効値を計測する必要か
ら、電流検出は交流波形の１／２周期の倍数を単位
（ｔ）に順次切り替えてゆく。被計測回路の計測が一巡
すると最初の回路へ戻る。たがって一巡に要する時間
（Ｔ）に１回に被計測回路毎に計測される電流・電圧は
Ａ／Ｄ変換器８でディジタル量子化され、演算手段１１
で電力値に乗算される。演算結果メモリ１２、ビットシ
フト手段１３により、順次切り替え計測のために飛ばさ
れた部分の補完演算をして回路毎電力量演算手段２０に
て積算して、回路毎に電力量を得る。オートレンジ切替
手段１４では演算処理される部位の電流検出手段２での
入力レベルを基に次回の入力レベルにオートレンジ回路
３へフィードバックして計測制度が最適レベルに維持で
きるようにしている。
る。入力回路切替手段４では図４に示されるように複数
の電流検出回路２からの入力を順次切り替えてゆく。こ
のとき、電力の演算のためには実効値を計測する必要か
ら、電流検出は交流波形の１／２周期の倍数を単位
（ｔ）に順次切り替えてゆく。被計測回路の計測が一巡
すると最初の回路へ戻る。たがって一巡に要する時間
（Ｔ）に１回に被計測回路毎に計測される電流・電圧は
Ａ／Ｄ変換器８でディジタル量子化され、演算手段１１
で電力値に乗算される。演算結果メモリ１２、ビットシ
フト手段１３により、順次切り替え計測のために飛ばさ
れた部分の補完演算をして回路毎電力量演算手段２０に
て積算して、回路毎に電力量を得る。オートレンジ切替
手段１４では演算処理される部位の電流検出手段２での
入力レベルを基に次回の入力レベルにオートレンジ回路
３へフィードバックして計測制度が最適レベルに維持で
きるようにしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来の計測装置では、
現在の演算結果に基づいたゲインをフィードバックして
次回の計測に使用している。入力値へのゲイン制御は、
オートレンジ回路３で前回の計測サイクルデータの値に
基づいて、次回の計測サイクルへフィードバックする
が、複数の回路を順次に計測しているので前回の計測サ
イクルデータは一巡に時間（Ｔ）を要する。このため、
この間に被計測入力幅が大きく変化する可能性が高く、
最適なゲイン制御が得られない。したがって、前回入力
値が小さく今回の入力値が大きい場合、今回の入力に対
してゲインが大きすぎると、Ａ／Ｄ変換部の入力データ
が飽和してしまい、また逆に、前回入力値が大きくて今
回入力値が小さい場合は、ゲインが小さくなりすぎ、Ａ
／Ｄ変換誤差が大きくなっていた。このため、計測デー
タの誤差が大きくなるという課題があった。
現在の演算結果に基づいたゲインをフィードバックして
次回の計測に使用している。入力値へのゲイン制御は、
オートレンジ回路３で前回の計測サイクルデータの値に
基づいて、次回の計測サイクルへフィードバックする
が、複数の回路を順次に計測しているので前回の計測サ
イクルデータは一巡に時間（Ｔ）を要する。このため、
この間に被計測入力幅が大きく変化する可能性が高く、
最適なゲイン制御が得られない。したがって、前回入力
値が小さく今回の入力値が大きい場合、今回の入力に対
してゲインが大きすぎると、Ａ／Ｄ変換部の入力データ
が飽和してしまい、また逆に、前回入力値が大きくて今
回入力値が小さい場合は、ゲインが小さくなりすぎ、Ａ
／Ｄ変換誤差が大きくなっていた。このため、計測デー
タの誤差が大きくなるという課題があった。
【０００５】この発明は、かかる課題を解決するために
なされたものであり、複数の回路を順次に計測する場合
であっても、入力値が急激に変化するような場合でもＡ
／Ｄ変換のために安定したゲイン制御を行い、計測誤差
を最小限に抑えることを目的とする。
なされたものであり、複数の回路を順次に計測する場合
であっても、入力値が急激に変化するような場合でもＡ
／Ｄ変換のために安定したゲイン制御を行い、計測誤差
を最小限に抑えることを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明に係る計測装置
は、ゲイン付与手段により任意ゲイン倍率に増幅された
それぞれの被計測アナログ入力をサンプリングしてＡ／
Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器と、Ａ／Ｄ変換後のそれぞれ任
意倍率のディジタルデータを記録するメモリ手段と、メ
モリ手段内のディジタルデータのうちゲイン倍率の最も
大きいデータからＡ／Ｄ変換時の飽和を示すデータを検
索して、飽和データが存在する一連のディジタルデータ
を無効にして飽和データの存在しないディジタルデータ
を選択するゲイン最適値選択回路とを備え、飽和のない
ディジタルデータでもって電力等の演算処理するように
したものである。
は、ゲイン付与手段により任意ゲイン倍率に増幅された
それぞれの被計測アナログ入力をサンプリングしてＡ／
Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器と、Ａ／Ｄ変換後のそれぞれ任
意倍率のディジタルデータを記録するメモリ手段と、メ
モリ手段内のディジタルデータのうちゲイン倍率の最も
大きいデータからＡ／Ｄ変換時の飽和を示すデータを検
索して、飽和データが存在する一連のディジタルデータ
を無効にして飽和データの存在しないディジタルデータ
を選択するゲイン最適値選択回路とを備え、飽和のない
ディジタルデータでもって電力等の演算処理するように
したものである。
【０００７】また、飽和データが２個以上連続存在する
ときにそのディジタルデータを無効にするようにしたも
のである。
ときにそのディジタルデータを無効にするようにしたも
のである。
【０００８】そして、複数の被計測アナログ入力を順次
切り替えながらゲイン付与手段に入力させる入力回路切
替手段を備えたものである。
切り替えながらゲイン付与手段に入力させる入力回路切
替手段を備えたものである。
【０００９】
【発明の実施の形態】実施の形態１．図１はこの発明の
実施の形態１を示す計測装置の回路ブロック図、図２は
入力ゲイン倍率とＡ／Ｄ変換の関係を説明する図であ
る。図において、従来装置図３と同一符号は同一または
同等の機能を有するものである。１５はゲイン最適値選
択回路、３０はゲイン付与手段であり、各電流検出手段
２にて検出した電流値に対し、おのおの複数の任意のゲ
イン倍率（例として×１、×３、×９）を乗算する。
実施の形態１を示す計測装置の回路ブロック図、図２は
入力ゲイン倍率とＡ／Ｄ変換の関係を説明する図であ
る。図において、従来装置図３と同一符号は同一または
同等の機能を有するものである。１５はゲイン最適値選
択回路、３０はゲイン付与手段であり、各電流検出手段
２にて検出した電流値に対し、おのおの複数の任意のゲ
イン倍率（例として×１、×３、×９）を乗算する。
【００１０】以下、実施の形態１の計測装置の動作につ
いて説明する。各電流検出手段２にて検出された電流値
は入力回路切替手段４において、従来装置の説明と同様
に実効値が得られるよう交流波形の１／２周期の倍数を
単位に順次切り替えてゆく。入力回路切替手段４で計測
対象に切り替えられた計測結果にゲイン付与手段３０が
それぞれ任意のゲイン倍率（×１、×３、×９）を乗算
する。それぞれにゲイン倍率が乗算された入力信号は時
分割手段５でサンプリングされサンプルホールド回路６
を通じてＡ／Ｄ変換器８でディジタル信号に変換され
る。
いて説明する。各電流検出手段２にて検出された電流値
は入力回路切替手段４において、従来装置の説明と同様
に実効値が得られるよう交流波形の１／２周期の倍数を
単位に順次切り替えてゆく。入力回路切替手段４で計測
対象に切り替えられた計測結果にゲイン付与手段３０が
それぞれ任意のゲイン倍率（×１、×３、×９）を乗算
する。それぞれにゲイン倍率が乗算された入力信号は時
分割手段５でサンプリングされサンプルホールド回路６
を通じてＡ／Ｄ変換器８でディジタル信号に変換され
る。
【００１１】Ａ／Ｄ変換と最適ゲイン選択の処理を図２
を用いて説明する。Ａ／Ｄ変換器８は一般に図２（イ）
の構成であり、図２（ロ）のように入力信号をレファレ
ンス電位（Ｖｒｅｆ）と接地電位（ＧＮＤ）間のアナロ
グ入力電位をサンプリングしたディジタル信号に変換す
る。ここで、同一の入力信号をゲイン倍率を異ならせた
複数のディジタルデータ群にして、これをメモリ１３へ
格納する。ディジタルデータ群は図２（ハ）〜（ホ）の
イメージでメモリ１３へ格納される。
を用いて説明する。Ａ／Ｄ変換器８は一般に図２（イ）
の構成であり、図２（ロ）のように入力信号をレファレ
ンス電位（Ｖｒｅｆ）と接地電位（ＧＮＤ）間のアナロ
グ入力電位をサンプリングしたディジタル信号に変換す
る。ここで、同一の入力信号をゲイン倍率を異ならせた
複数のディジタルデータ群にして、これをメモリ１３へ
格納する。ディジタルデータ群は図２（ハ）〜（ホ）の
イメージでメモリ１３へ格納される。
【００１２】Ａ／Ｄ変換器８は入力信号レベルがＶｒｅ
ｆまたはＧＮＤ電位を超過すると飽和現象が発生する。
ゲイン倍率が大きすぎると、この飽和現象が発生して計
測不能となる。また、入力信号レベルが小さいと分解能
が低下して計測精度が悪くなる。飽和現象を起こさない
でＶｒｅｆとＧＮＤ間のほぼ全体にわたる入力信号レベ
ルのときが分解能も高く精度の良い計測が可能である。
飽和現象が発生しないときは正常数値化されたデータが
メモリ１３へ記録される。飽和現象が発生すると例えば
１０ビットのＡ／Ｄ変換器の場合、１０ビット上限値の
ヘキサコードで「３ＦＦ」がディジタルデータの中に記
録されることになる。
ｆまたはＧＮＤ電位を超過すると飽和現象が発生する。
ゲイン倍率が大きすぎると、この飽和現象が発生して計
測不能となる。また、入力信号レベルが小さいと分解能
が低下して計測精度が悪くなる。飽和現象を起こさない
でＶｒｅｆとＧＮＤ間のほぼ全体にわたる入力信号レベ
ルのときが分解能も高く精度の良い計測が可能である。
飽和現象が発生しないときは正常数値化されたデータが
メモリ１３へ記録される。飽和現象が発生すると例えば
１０ビットのＡ／Ｄ変換器の場合、１０ビット上限値の
ヘキサコードで「３ＦＦ」がディジタルデータの中に記
録されることになる。
【００１３】メモリ１３へ記録されたディジタルデータ
を使用して演算処理の前にゲイン最適値選択回路１５で
は、ディジタルデータ群の中で最もゲイン倍率の大きい
ディジタルデータ（×９）から飽和を示すデータ（３Ｆ
Ｆ）の有無を検索する。飽和を示すデータ（３ＦＦ）が
なければこのディジタルデータを演算処理にまわす。も
し、飽和を示すデータ（３ＦＦ）が２個以上連続して存
在すれば飽和の発生と判定して、このゲインの一連のデ
ータは演算対象から除外して、次にゲイン倍率の大きい
ディジタルデータ（×３）へ検索を移す。
を使用して演算処理の前にゲイン最適値選択回路１５で
は、ディジタルデータ群の中で最もゲイン倍率の大きい
ディジタルデータ（×９）から飽和を示すデータ（３Ｆ
Ｆ）の有無を検索する。飽和を示すデータ（３ＦＦ）が
なければこのディジタルデータを演算処理にまわす。も
し、飽和を示すデータ（３ＦＦ）が２個以上連続して存
在すれば飽和の発生と判定して、このゲインの一連のデ
ータは演算対象から除外して、次にゲイン倍率の大きい
ディジタルデータ（×３）へ検索を移す。
【００１４】以下、同様に選択してゲイン倍率が大きく
て飽和を示すデータ（３ＦＦ）の無いものに至ったもの
で演算処理を実行する。飽和を示すデータ（３ＦＦ）の
検索において、一連のサンプリングデータの中に飽和デ
ータが１個だけ存在するときは、ノイズによる一過性の
飽和の場合が多くこれは無視して、サンプリング順位の
前後の値から正常数値に復元処理を行い、演算処理を実
行するようにすればノイズの影響を排除できる。
て飽和を示すデータ（３ＦＦ）の無いものに至ったもの
で演算処理を実行する。飽和を示すデータ（３ＦＦ）の
検索において、一連のサンプリングデータの中に飽和デ
ータが１個だけ存在するときは、ノイズによる一過性の
飽和の場合が多くこれは無視して、サンプリング順位の
前後の値から正常数値に復元処理を行い、演算処理を実
行するようにすればノイズの影響を排除できる。
【００１５】
【発明の効果】この発明は上説明したように、演算結果
に基づいたゲインをフィードバックして次回の計測に使
用しないで、被計測アナログ入力を任意ゲイン倍率に増
幅してＡ／Ｄ変換後のそれぞれの倍率のディジタルデー
タを最も倍率の大きいデータから順次検索して飽和デー
タが存在するディジタルデータを無効にして飽和データ
の存在しないディジタルデータを選択するようにして、
Ａ／Ｄ変換において入力値が急激に変化するような場合
でも安定したゲイン制御が得られ、分解能の高い計測が
行えるので、計測誤差を小さくすることができる。
に基づいたゲインをフィードバックして次回の計測に使
用しないで、被計測アナログ入力を任意ゲイン倍率に増
幅してＡ／Ｄ変換後のそれぞれの倍率のディジタルデー
タを最も倍率の大きいデータから順次検索して飽和デー
タが存在するディジタルデータを無効にして飽和データ
の存在しないディジタルデータを選択するようにして、
Ａ／Ｄ変換において入力値が急激に変化するような場合
でも安定したゲイン制御が得られ、分解能の高い計測が
行えるので、計測誤差を小さくすることができる。
【００１６】また、一連のサンプリングデータの中に飽
和データが２個以上連続して存在するときを飽和現象と
判定して、飽和データが１個だけ存在するときは、ノイ
ズによる一過性の飽和と判定して、サンプリング順位の
前後の値から正常数値に復元処理を行い、演算処理を実
行するのでノイズの影響を排除できる。
和データが２個以上連続して存在するときを飽和現象と
判定して、飽和データが１個だけ存在するときは、ノイ
ズによる一過性の飽和と判定して、サンプリング順位の
前後の値から正常数値に復元処理を行い、演算処理を実
行するのでノイズの影響を排除できる。
【００１７】そして、入力回路切替手段により被計測入
力を順次切り替えてＡ／Ｄ変換するようにしたので、多
回路の計測を同時に行うことができる。特定の被計測入
力は計測一巡時間間隔で計測するが、この場合におい
て、計測間隔間の入力値の急激な変化があっても、安定
したゲイン制御と、分解能の高い計測が得られる。
力を順次切り替えてＡ／Ｄ変換するようにしたので、多
回路の計測を同時に行うことができる。特定の被計測入
力は計測一巡時間間隔で計測するが、この場合におい
て、計測間隔間の入力値の急激な変化があっても、安定
したゲイン制御と、分解能の高い計測が得られる。
【図１】 この発明の計測装置の回路ブロック図であ
る。
る。
【図２】 この発明の計測装置の入力ゲイン倍率とＡ／
Ｄ変換の関係を説明する図である。
Ｄ変換の関係を説明する図である。
【図３】 従来の計測装置の回路ブロック図である。
【図４】 複数の回路電流検出のタイミングを説明する
図である。
図である。
1 電圧検出手段、 ２電流検出手段、 ４ 入力
回路切替手段、５ 時分割手段、 ６ サンプルホー
ルド回路、 ８ Ａ／Ｄ変換器、９ メモリ、 １
０ 時分割電力量演算手段、 １１ 演算手段、１２
演算結果メモリ、 ２０ 回路毎電力量演算手段
回路切替手段、５ 時分割手段、 ６ サンプルホー
ルド回路、 ８ Ａ／Ｄ変換器、９ メモリ、 １
０ 時分割電力量演算手段、 １１ 演算手段、１２
演算結果メモリ、 ２０ 回路毎電力量演算手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 谷 真樹 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 桑田 照巳 東京都千代田区大手町二丁目６番２号 三 菱電機エンジニアリング株式会社内 Ｆターム(参考） 2G035 AA17 AB01 AB04 AD28 AD45 AD65 5J022 AA01 BA01 BA08 CA02 CA10 CB07 CC02 CD02 CE01 CF08
Claims (3)
- 【請求項１】 被計測アナログ入力を複数任意のゲイン
倍率に増幅するゲイン付与手段と、このゲイン付与手段
により任意倍率に増幅されたそれぞれの被計測入力をサ
ンプリングによりＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器と、Ａ／
Ｄ変換されたそれぞれ任意倍率のディジタルデータを記
録するメモリ手段と、このメモリ手段に記録された任意
倍率のディジタルデータの最も倍率の大きいデータから
上記Ａ／Ｄ変換時の飽和を示すデータを検索して飽和デ
ータが存在するディジタルデータを無効にして飽和デー
タの存在しないディジタルデータを選択するゲイン最適
値選択回路とを備え、選択された上記ディジタルデータ
でもって演算処理することを特徴とする計測装置。 - 【請求項２】 飽和データが２個以上連続存在するとき
にそのディジタルデータを無効にすることを特徴とする
請求項1に記載の計測装置。 - 【請求項３】 複数の被計測アナログ入力を順次切り替
えながらゲイン付与手段に入力させる入力回路切替手段
を備えたことを特徴とする請求項1または２に記載の計
測装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000064637A JP2001257592A (ja) | 2000-03-09 | 2000-03-09 | 計測装置 |
| TW090103879A TWI263052B (en) | 2000-03-09 | 2001-02-21 | Measuring device |
| EP01104526A EP1132744A3 (en) | 2000-03-09 | 2001-03-02 | Measuring device |
| KR1020010011231A KR100363127B1 (ko) | 2000-03-09 | 2001-03-05 | 계측장치 |
| CNB011109602A CN1174254C (zh) | 2000-03-09 | 2001-03-06 | 测量装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000064637A JP2001257592A (ja) | 2000-03-09 | 2000-03-09 | 計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001257592A true JP2001257592A (ja) | 2001-09-21 |
Family
ID=18584308
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000064637A Pending JP2001257592A (ja) | 2000-03-09 | 2000-03-09 | 計測装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP1132744A3 (ja) |
| JP (1) | JP2001257592A (ja) |
| KR (1) | KR100363127B1 (ja) |
| CN (1) | CN1174254C (ja) |
| TW (1) | TWI263052B (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6987387B2 (en) | 2002-01-30 | 2006-01-17 | Kabushiki Kaisha Bridgestone | Measurement value output device, measurement value monitoring device, current value output device and current monitoring device |
| JP2013070893A (ja) * | 2011-09-29 | 2013-04-22 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2014163734A (ja) * | 2013-02-22 | 2014-09-08 | Hioki Ee Corp | 波形測定装置、電流測定装置および電力測定装置 |
| JP2015152488A (ja) * | 2014-02-17 | 2015-08-24 | オムロン株式会社 | 電流測定装置、その制御方法、制御プログラム、並びに記録媒体、および電力測定装置 |
Families Citing this family (4)
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|---|---|---|---|---|
| DE602006008766D1 (de) * | 2005-04-19 | 2009-10-08 | Nxp Bv | Testpräparierte integrierte schaltung mit interner stromversorgungsdomäne |
| DE502006007907D1 (de) | 2005-08-02 | 2010-10-28 | Phoenix Contact Gmbh & Co | Messvorrichtung zum Messen eines periodischen Analogsignals |
| US8031455B2 (en) * | 2007-01-05 | 2011-10-04 | American Power Conversion Corporation | System and method for circuit overcurrent protection |
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