DE3903486A1 - Verfahren und schaltung zur wahl einer ersatzspalte - Google Patents
Verfahren und schaltung zur wahl einer ersatzspalteInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf auf ein Verfahren
zur Wahl einer Ersatzspalte, sowie auf eine diesbezügliche
Schaltung zum Lesen und Speichern aus einer und in eine
Speicherzelle, unter Verwendung von MOS-Transistoren.
In einer Schaltung aus MOS-Transistoren zum Lesen und
Speichern von Daten aus einer und in eine Speicherzelle
gibt es eine normale Bitzeile und eine Ersatz-Bitzeile.
Wenn mit der normalen Bitzeile etwas nicht stimmt, ist es
weithin üblich, daß die Daten aus einer und in eine
Speicherzelle gelesen und geschrieben werden, die mit der
Ersatz-Bitzeile verbunden ist.
Nach dem Stand der Technik zur Wahl einer mit einer
Ersatz-Bitzeile verbundenen Ersatzspalte gibt jedoch ein
durch Unterbrechen einer Sicherung der Ersatzspalte
erzeugtes Taktsignal einen Ersatzspaltendecoder nach
Sperren des normalen Spaltendecoders frei. Diese Methode
verursacht die weiter unten beschriebenen Fehler.
Zum ersten: Da die Ersatzspalte nach Sperren des
Normalspaltendecoders gewählt werden muß, vergeht einige
Zeit, wodurch die Geschwindigkeit bei Benutzung der
Ersatzspalte abnimmt. Wenn die Ersatzspalte und die
normale Spalte zusammen ohne diesen Zeitvertrag gewählt
werden, bildet sich im Falle eines Lesezyklus ein
Gleichstrompfad durch eine Eingangs/Ausgangszeile zwischen
einem Leseverstärker (sense amplifier) der Ersatz-Bitzeile
und einem solchen einer normalen Bitzeile während des
Lesezyklus; während im Falle eines Schreibzyklus der
Belastungseffekt einer Bitzeile verdoppelt wird, weil die
Daten gleichzeitig durch die Ersatz-Bitzeile und die
normale Bitzeile geschrieben werden.
Zum zweiten: Wenn die Ersatzspalte gewählt wird, wird der
Aufbau der Logik komplizierter, da das Taktsignal zur Wahl
der Ersatzspalte an den Normaldecoder gelegt wird, um den
Normalspaltendecoder freizugeben.
Es ist ein Ziel der Erfindung, ein Verfahren zur Wahl
einer Ersatzspalte zu schaffen, bei dem kein
Geschwindigkeitsverlust auftritt, weil bei der Wahl der
Ersatzspalte die Funktion der Sperrung der normalen Spalte
ersetzt wird durch die sich aus der Struktur ergebende
Funktion, bei der die mit der normalen Spalte verbundene
Eingangs/Ausgangszeile gegen einen äußeren
Lese/Schreibpfad isoliert werden kann, und bei der beim
Decodieren der Ersatzspalte kein Zeitverzug auftritt.
Daher kann beim Lesezyklus die Gleichstromquelle zwischen
dem Leseverstärker der Ersatz-Bitzeile und dem der
normalen Bitzeile ausgeschaltet werden. Und da die normale
Eingangs/Ausgangszeile in diesem Falle offen ist, geht die
Wirkung des Bitzeilenbelastungseffektes bei der Wahl der
Ersatzspalte auf einen sehr kleinen Wert zurück.
Infolgedessen kann ein schneller Lese- und Schreibvorgang
erfolgen.
Weiter führt der Wegfall des Sperrens des
Normalspaltendecoders zu einer Vereinfachung der
Decodierlogik, weil sich das Taktsignal zur Wahl der
Ersatzspalte nicht auf das Decodieren des
Normalspaltendecoders bezieht.
Ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung besteht darin,
einen Ersatzspaltenwählkreis zu schaffen, der eine
Ersatz-Bitzeile von einer normalen Bitzeile bei der Wahl
des Spaltendecoders trennen kann. Eine
Zeilen-Schalteinheit ist intern mit der mit der
Ersatz-Bitzeile verbundenen E/A-Einheit verbunden, sowie
mit der mit der normalen Bitzeile verbundenen E/A-Einheit;
und sie ist weiter mit dem normalen Aktivierungskreis
(pull-up ciruit) verbunden, welcher in der mit der
normalen Bitzeile verbundenen E/A-Einheit aufgebaut ist;
und diese beiden Kreise werden durch die Ausgabe des
Ersatzspaltendecoders gesteuert.
Deshalb wird im Falle der Wahl der Ersatzspalte die mit
der Ersatz-Bitzeile verbundene E/A-Einheit von der mit der
normalen Bitzeile verbundenen E/A-Einheit getrennt,
während die E/A-Einheit der normalen Bitzeile für den
nächsten Arbeitszyklus bereitsteht, bei unabhängiger
Aktivierung.
Fig. 1 zeigt das Schaltungsdiagramm eines
Ersatzspaltenwählkreises gemäß der vorliegenden Erfindung.
Fig. 2 gibt eine grafische Darstellung der verschiedenen
Takte für die Wahl der Ersatzspalte nach Fig. 1 wieder.
Gemäß Fig. 1 steht ein Ersatzspaltenwählkreis, in dem eine
äußere Pfadeinheit PATH der Übermittlung von Daten während
der Lese- und Schreibzyklen dient, in Verbindung mit einem
Aktivierungskreis 17, der eine konstante
Versorgungsspannung V CC liefert.
Ein Paar von Ersatzzeilen-Eingangs/Ausgangseinheiten 4 und
4′, die mit dem PATH verbunden sind, symmetrisch
jeweils mit einem Ersatz-Bitzeilenpaar 3 bzw. 3′ über
MOS-Transistorenpaare MS 1-MS 4 bzw. MS 1′-MS 4′
gekoppelt. Jede Klemme der Bitzeile des
Ersatz-Bitzeilenpaars ist an einen zugehörigen
Leseverstärker angeschlossen, der eine (nicht
dargestellte) Speicherzelle besitzt.
In gleicher Weise ist ein Paar von
Normalzeilen-Eingangs/Ausgangseinheiten 5 und 5′
symmetrisch jeweils an normale Bitzeilenpaare 6 bzw. 6′
über MOS-Transistorenpaare MN 1-MN 4 bzw. MN 1′-MN 4′
gekoppelt. Jede Klemme der Bitzeile des normalen
Bitzeilenpaars ist an einen zugehörigen Leseverstärker
angeschlossen, der eine (nicht dargestellte) Speicherzelle
besitzt. Sowohl die Eingangs/Ausgangseinheiten 4 und 4′
der Ersatzzeile, als auch die Eingangs/Ausgangseinheiten 5
und 5′ der normalen Zeile sind jeweils mit dem zugehörigen
Zeilenschalterpaar 10 und 10′ bzw. mit dem
Normalzeilen-Aktivierungspaar 20 und 20′ (pull-up pair)
gekoppelt, wobei alle Paare aus MOS-Transistoren bestehen.
Ein Ersatzspaltendecoder 1 ist mit dem Zeilenschaltpaar
und dem Normalzeilen-Aktivierungspaar gekoppelt. Das
Zeilenschaltpaar 10 und 10′ sowie
das Normalzeilen-Aktivierungspaar 20 und 20′ werden
komplementär zueinander durch einen Taktimpuls Φ D des
Ersatzspaltendecoders 1 gesteuert.
Ein mit dem Ersatzspaltendecoder 1 verbundener Inverter
I₁ veranlaßt ein Taktsignal Φ SCD , welches beim Wählen
des Ersatz-Bitzeilenpaars zur Kopplung des
Ersatz-Bitzeilenpaares 3 und 3′ mit dem PATH erzeugt wird,
und zwar durch das Anlegen des Taktsignales Φ SCD an die
MOS-Transistorpaare MS 1-MS 4 und MS 1′-MS 4′. Ein
Taktsignal Φ NCD , das eine Ausgabe des
Normalspaltendecoders 11 ist, wird an die Gates der
MOS-Transistorpaare MN 1-MN 4 und MN 1′-MN 4′ angelegt,
so daß das normale Bitzeilenpaar 6 und 6′ und das PATH
miteinander verbunden werden.
An den Ersatzspaltendecoder 1 wird ein Spaltenadreßsignal
COLADD, ein Ersatzspalten-Wähltaktsignal Φ SC und ein
Taktsignal Φ Y geliefert, welches die Information bringt,
daß die Bitabtastungsoperation (bit sensing) abgeschlossen
ist. Durch die Anschaltung der Trennung einer Sicherung
wird bestimmt, ob der Logikpegel des
Ersatzpegel-Wähltaktsignals Φ SC zu hoch oder zu
niedrig ist.
Aufgrund des oben beschriebenen Schaltungsaufbaus sei nun
die Wirkungsweise der Schaltung beschrieben.
Beim Betrieb der normalen Spalte erzeugt eine Ausgabe des
Ersatzspaltendecoders 1, der sich auf hohem Pegel
befindet, ein Taktsignal Φ D , das eine normale
Eingangs/Ausgangseinheit öffnet, während sich das
Taktsignal Φ SCD durch den Inverter I₁ auf kleinem
Pegel befindet. Das Kleinpegel-Taktsignal Φ SCD wird an
das Gate der MOS-Transistoren MS 1-MS 4, MS 1′-MS 4′
gelegt, um sie abgeschaltet zu halten. Infolgedessen wird
das Ersatzzeilenpaar 3 und 3′ vom
Ersatz-Eingangs/Ausgangs-Zeilenpaar 4 und 4′ in den
geöffneten Zustand getrennt.
Das Paar der Normalzeilen-Eingangs-Ausgangseinheit 5 und
5′ und das Paar der Ersatzzeilen-Eingangs-Ausgangseinheit
4 und 4′ werden miteinander durch das Zeilenschaltpaar 10
und 10′ verbunden. Das normale Bitzeilenpaar 6 und 6′ wird
mit dem äußeren PATH durch das normale
Spaltendecodier-Taktsignal Φ NCD hohen Pegels verbunden,
das vom Normalspaltendecoder 11 erzeugt wird, so daß die
Information einer Speicherzelle tranferiert werden kann.
In diesem Zeitpunkt liefert der Aktivierungskreis 17 die
Versorgungsspannung V CC an die Zeilen der PATH-Einheit,
für Dauerbetrieb.
Zur Wahl der Ersatzspalte erscheint das Taktsignal Φ D
mit kleinem und das Taktsignal Φ SD mit großem Pegel, da
das Taktsignal Φ SC in Übereinstimmung mit der Abtrennung
der Sicherung zur Ersatzspalte erzeugt wird.
In diesem Moment macht das Hochpegel-Taktsignal Φ SCD ,
weil die PMOS-Transistoren der
Normalzeilen-Aktivierungskreise 20 und 20′ durch Anlegen
des Kleinpegel-Taktsignals Φ C leitend gemacht werden,
durch den Inverter I₁ das MOS-Transistorenpaar MS 1-MS 4
und MS 1′-MS 4′ leitend, nachdem das
Normalzeilen-Eingangs/Ausgangspaar 5 und 5′ aktiviert
wurde, so daß das Ersatz-Bitzeilenpaar 3 und 3′ mit der
äußeren PATH-Einheit verbunden wird.
Das die Wahl der Ersatzspalte anzeigende Taktsignal Φ SC
steuert nicht den Spaltendecoder 11, während das vom
Normalspaltendecoder 11 erzeugte Taktsignal Φ NCD durch
das Spaltenadreßsignal gesteuert wird. Bei hohem Pegel
werden das Paar der Ersatzzeilen-Eingangs/Ausgangseinheit
4 und 4′ und das Paar der
Normalzeilen-Eingangs/Ausgangseinheit 5 und 5′ voneinander
getrennt, womit die äußere PATH-Einheit nicht länger mit
ihnen verbunden ist, so daß die
Eingangs/Ausgangs-Zeileneinheit mit Bezug auf die normalen
Bitzeilen den nächsten Zyklus abwartet, wobei der Status
durch die Normalzeilen-Aktivierungskreise 20 und 20′
eingestellt wird. Da das Taktsignal Φ SCD stets nach der
Trennung des Paares der
Ersatzzeilen-Eingangs/Ausgangseinheit 4 und 4′ vom Paar
der Normalzeilen-Eingangs/Ausgangseinheit 5 und 5′ erzeugt
wird, kann die zur Verbindung des Ersatz-Bitzeilenpaars 3
und 3′ mit dem Normal-Bitzeilenpaar 6 und 6′ benötigte
Zeit logisch ausgeschaltet, und die zur Wahl der
Ersatzspalte durch den Ersatzspaltendecoder 1 benötigte
Zeit ohne Beziehung zu der für die Wahl der Normalspalte
benötigten Zeit definiert werden.
Die Fig. 2 gibt eine grafische Darstellung der
verschiedenen Takte für die Wahl der Ersatzspalte nach
Fig. 1 wieder. Das Taktsignal stellt ein
Reihenadreß-Strobsignal und ein
Spaltenadreß-Strobensignal dar, und bei jedem kleinen Pegel
jedes der Signale werden zutreffende Reihen- oder
Spaltenadreßsignale an Adressenleitungen geliefert. Nach
Ablauf einer vorbestimmten Zeit, die bei einer
verschiedenen Logik am -Signal verschieden ist, ist die
Abtastung (bzw. das Lesen) der Bitzeilen beendet und es
wird ein Taktsignal Φ Y erzeugt, welches die Anschaltung
an die Eingangs/Ausgangszeilen anzeigt. In Übereinstimmung
mit dem Signal Φ Y wird das Signal Φ NCD des
Ausgangssignals des Normalspaltendecoders 11 zur
Verbindung der PATH-Einheit mit den
Normalbitzeileneinheiten bei der Wahl der Normalbitzeile
erzeugt, während bei der Wahl der Ersatzspalte das
Taktsignal Φ SC aus dem Spaltenadreßsignal zur Anzeige
der Wahl der Ersatzspalte erzeugt wird. Die Wahl der
Normalspalte oder der Ersatzspalte wird entsprechend dem
Ein- oder Aus-Status der Sicherung definiert. Bei der Wahl
der Ersatzspalte wird das Taktsignal Φ NCD aus dem
Spaltensignal der Spaltenadresse erzeugt, während die für
die Wahl der Ersatzspalte sowie für die Wahl der
Normalspalte jeweils benötigte Zeit ohne Bezug aufeinander
definiert werden können. Deshalb kann der bei der Wahl der
Ersatzspalte auftretende Zeitverzug aus der Betrachtung
ausscheiden.
Bei der Wahl der Ersatzspalte muß aber als erstes das
Taktsignal Φ D erzeugt werden, welches die
Normalzeilen-Eingangs/Ausgangseinheiten leitend macht,
während im ausgeschalteten Zustand der Normalbitzeile das
Taktsignal Φ SDD des Ersatzspaltendecoders zur Verbindung
der Ersatzbitzeile mit der PATH-Einheit erzeugt wird.
Wie oben beschrieben, sind in der erfindungsgemäßen
Schaltung die Ersatz-Eingangs/Ausgangseinheiten, die mit
den Ersatzbitzeilenpaaren verbunden sind, von den
Normal-Eingangs/Ausgangseinheiten, die mit den
Ersatzbitzeilenpaaren verbunden sind, getrennt angeordnet,
und jede Bitzeile wird mit Hilfe der entsprechenden
Zeilenschalteinheit gewählt, die durch den
Ersatzspaltendecoder gesteuert wird.
Die für die Wahl der Ersatzspalte benötigte Zeit kann
unabhängig von der Wahl der Normalspalte bestimmt werden,
so daß bei der Wahl der Ersatzspalte entstehende
Zeitverzug aus den Überlegungen des Benutzers ausscheiden
kann.
Zusätzlich kann bei der Wahl der Benzugsspalte der
Decodierkreis des Normalspaltendecoders vereinfacht
werden, weil das Sperren des Normalspaltendecoders
entfällt.
Die vorliegende Erfindung ist in keiner Weise auf das oben
beschriebene Ausführungsbeispiel beschränkt. Verschiedene
Abänderungen der offenbarten Ausführungsform, ebenso wie
weitere Ausführungsformen der Erfindung sind für Fachleute
aufgrund der Erfindungsbeschreibung offensichtlich. Es
wird daher davon ausgegangen, daß die beigefügten
Patentansprüche jede solcher Abänderungsformen als
eindeutig in den Erfindungsrahmen fallend abdecken.
Claims (4)
1. Verfahren zur Wahl einer Ersatzspalte, bei dem ein
Ersatz-Eingangs/Ausgangs-Zeilenpaar, das mit einem
Ersatz-Bitzeilenpaar verbunden ist, und ein normales
Eingangs/Ausgangs-Zeilenpaar, das mit einem normalen
Bit-Zeilenpaar verbunden ist, voneinander getrennt
werden, wenn eine Ersatzspalte gewählt wird, und
miteinander verbunden werden, wenn die normale Spalte
gewählt wird.
2. Verfahren zur Wahl einer Ersatzspalte nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß das normale
Eingangs/Ausgangs-Zeilenpaar, welches mit dem normalen
Bit-Zeilenpaar verbunden ist, eine
Aktivierungs-Versorgungsspannung erhält, um einen
nächsten Lese/Schreibzyklus vorzubereiten, wenn das
Ersatz-Bitzeilenpaar und das normale Bit-Zeilenpaar
getrennt werden.
3. Ersatzspaltenwählkreis, mit:
einem Zeilenspaltpaar, das zwischen einem
Ersatz-Eingangs/Ausgangs-Zeilenpaar, welches mit einer
Ersatz-Bitzeile verbunden ist, und einem normalen
Eingangs/Ausgangs-Zeilenpaar, welches mit einem
normalen Bit-Zeilenpaar verbunden ist, angeordnet ist,
wobei das Zeilenschaltpaar von einer Ausgabe eines
Ersatzspaltendecoders gesteuert wird; und mit einem
normalen Zeilenaktivierungspaar, das mit der
entsprechenden normalen Eingangs/Ausgangszeile
verbunden ist, so daß es durch die Ausgabe des
Ersatzspaltendecoders gesteuert wird.
4. Ersatzspaltenwählkreis, der weiter einen Inverter
aufweist, welcher ein Taktsignal mit invertierter
Signalphase besitzt, und Verbindungen des
Ersatz-Eingangs/Ausgangs-Zeilenpaars mit dem
Ersatz-Bitzeilenpaar.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019880005598A KR910003594B1 (ko) | 1988-05-13 | 1988-05-13 | 스페어컬럼(column)선택방법 및 회로 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3903486A1 true DE3903486A1 (de) | 1989-11-23 |
DE3903486C2 DE3903486C2 (de) | 1991-06-27 |
Family
ID=19274345
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3903486A Granted DE3903486A1 (de) | 1988-05-13 | 1989-02-06 | Verfahren und schaltung zur wahl einer ersatzspalte |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5045720A (de) |
JP (1) | JP2583304B2 (de) |
KR (1) | KR910003594B1 (de) |
DE (1) | DE3903486A1 (de) |
FR (1) | FR2631483B1 (de) |
GB (1) | GB2218547B (de) |
HK (1) | HK1000188A1 (de) |
NL (1) | NL193547C (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4112891A1 (de) * | 1990-04-19 | 1991-10-24 | Sharp Kk | Halbleiterspeicher mit redundanten bitleitungen |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9223226D0 (en) * | 1992-11-05 | 1992-12-16 | Algotronix Ltd | Improved configurable cellular array (cal ii) |
US5392245A (en) * | 1993-08-13 | 1995-02-21 | Micron Technology, Inc. | Redundancy elements using thin film transistors (TFTs) |
US5369314A (en) * | 1994-02-22 | 1994-11-29 | Altera Corporation | Programmable logic device with redundant circuitry |
KR0172393B1 (ko) * | 1995-11-22 | 1999-03-30 | 김광호 | 탄력적인 컬럼구제 기능을 가지는 반도체 메모리 장치 |
US6091258A (en) * | 1997-02-05 | 2000-07-18 | Altera Corporation | Redundancy circuitry for logic circuits |
US6034536A (en) * | 1997-02-05 | 2000-03-07 | Altera Corporation | Redundancy circuitry for logic circuits |
US6107820A (en) * | 1997-05-23 | 2000-08-22 | Altera Corporation | Redundancy circuitry for programmable logic devices with interleaved input circuits |
US6201404B1 (en) | 1998-07-14 | 2001-03-13 | Altera Corporation | Programmable logic device with redundant circuitry |
JP3307360B2 (ja) * | 1999-03-10 | 2002-07-24 | 日本電気株式会社 | 半導体集積回路装置 |
US7131039B2 (en) * | 2002-12-11 | 2006-10-31 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Repair techniques for memory with multiple redundancy |
US9244799B2 (en) | 2014-01-06 | 2016-01-26 | International Business Machines Corporation | Bus interface optimization by selecting bit-lanes having best performance margins |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3441473A1 (de) * | 1983-12-15 | 1985-06-27 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo | Halbleiterspeicher |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4228528B2 (en) * | 1979-02-09 | 1992-10-06 | Memory with redundant rows and columns | |
DE3071955D1 (en) * | 1979-06-15 | 1987-05-27 | Fujitsu Ltd | Semiconductor memory device |
JPS5685934A (en) * | 1979-12-14 | 1981-07-13 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Control signal generating circuit |
US4538245A (en) * | 1982-04-12 | 1985-08-27 | Seeq Technology, Inc. | Enabling circuit for redundant word lines in a semiconductor memory array |
DE3311427A1 (de) * | 1983-03-29 | 1984-10-04 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Integrierter dynamischer schreib-lesespeicher |
GB2158613B (en) * | 1984-04-19 | 1987-07-15 | Nissan Motor | Fail-safe circuit for a control system |
JPH0648822B2 (ja) * | 1985-03-04 | 1994-06-22 | 株式会社日立製作所 | デイジタル伝送系における異常処理方法 |
JP2530610B2 (ja) * | 1986-02-27 | 1996-09-04 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
JPS62153700U (de) * | 1986-03-20 | 1987-09-29 | ||
JPS62250600A (ja) * | 1986-04-22 | 1987-10-31 | Sharp Corp | 半導体集積回路装置 |
KR890003488B1 (ko) * | 1986-06-30 | 1989-09-22 | 삼성전자 주식회사 | 데이터 전송회로 |
KR890003691B1 (ko) * | 1986-08-22 | 1989-09-30 | 삼성전자 주식회사 | 블럭 열 리던던씨 회로 |
JP2603206B2 (ja) * | 1987-03-16 | 1997-04-23 | シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト | 多段集積デコーダ装置 |
US4800302A (en) * | 1987-07-17 | 1989-01-24 | Trw Inc. | Redundancy system with distributed mapping |
-
1988
- 1988-05-13 KR KR1019880005598A patent/KR910003594B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1989
- 1989-02-03 GB GB8902434A patent/GB2218547B/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-02-03 NL NL8900265A patent/NL193547C/nl not_active IP Right Cessation
- 1989-02-06 DE DE3903486A patent/DE3903486A1/de active Granted
- 1989-02-06 FR FR8901469A patent/FR2631483B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1989-02-06 JP JP1027351A patent/JP2583304B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-09-05 US US07/579,209 patent/US5045720A/en not_active Expired - Lifetime
-
1997
- 1997-09-02 HK HK97101703A patent/HK1000188A1/xx not_active IP Right Cessation
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3441473A1 (de) * | 1983-12-15 | 1985-06-27 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo | Halbleiterspeicher |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4112891A1 (de) * | 1990-04-19 | 1991-10-24 | Sharp Kk | Halbleiterspeicher mit redundanten bitleitungen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR910003594B1 (ko) | 1991-06-07 |
NL193547C (nl) | 2000-01-04 |
NL8900265A (nl) | 1989-12-01 |
KR890017704A (ko) | 1989-12-16 |
FR2631483A1 (fr) | 1989-11-17 |
NL193547B (nl) | 1999-09-01 |
JP2583304B2 (ja) | 1997-02-19 |
US5045720A (en) | 1991-09-03 |
GB8902434D0 (en) | 1989-03-22 |
GB2218547A (en) | 1989-11-15 |
DE3903486C2 (de) | 1991-06-27 |
JPH0218796A (ja) | 1990-01-23 |
FR2631483B1 (fr) | 1994-01-07 |
GB2218547B (en) | 1992-10-14 |
HK1000188A1 (en) | 1998-01-23 |
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