DE19604802C2 - Abbildungssystem und Verfahren zum Erzeugen einer Querschnittsabbildung eines Objekts - Google Patents
Abbildungssystem und Verfahren zum Erzeugen einer Querschnittsabbildung eines ObjektsInfo
- Publication number
- DE19604802C2 DE19604802C2 DE19604802A DE19604802A DE19604802C2 DE 19604802 C2 DE19604802 C2 DE 19604802C2 DE 19604802 A DE19604802 A DE 19604802A DE 19604802 A DE19604802 A DE 19604802A DE 19604802 C2 DE19604802 C2 DE 19604802C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- rays
- linear
- ray
- source
- ray detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/044—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using laminography or tomosynthesis
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/419—Imaging computed tomograph
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Immunology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine computerisierte Schicht
bildaufnahme oder Laminographie und insbesondere auf Syste
me, welche ein durchgehendes lineares Abtastverfahren für
eine schnelle Untersuchung mit hoher Auflösung verwenden.
Schichtbildaufnahmetechniken werden häufig verwendet, um
Querschnittsabbildungen ausgewählter Ebenen innerhalb von
Objekten zu erzeugen. Die herkömmliche Schichtbildaufnahme
benötigt eine koordinierte Bewegung beliebiger zwei oder
drei Hauptkomponenten, die ein Schichtbildaufnahmesystem
bilden, d. h. einer Strahlungsquelle, eines Objekts, das ge
rade untersucht wird und eines Detektors. Die koordinierte
Bewegung der zwei Komponenten kann in einem beliebigen einer
Vielzahl von Mustern sein, einschließlich der folgenden, je
doch nicht auf diese begrenzt: z. B. in einem linearen, einem
kreisförmigen, einem elliptischen oder einem zufälligen Mu
ster. Unabhängig davon, welches Muster einer koordinierten
Bewegung ausgewählt ist, ist die Konfiguration der Quelle,
des Objekts und des Detektors derart, daß ein beliebiger
Punkt in der Objektebene immer auf den gleichen Punkt in der
Bildebene projiziert wird, und daß ein beliebiger Punkt
außerhalb der Objektebene auf eine Mehrzahl von Punkten in
der Bildebene während eines Zyklus der Musterbewegung pro
jiziert wird. Auf diese Art und Weise wird eine Quer
schnittsabbildung der gewünschten Ebene innerhalb des Ob
jekts auf dem Detektor gebildet. Die Abbildungen anderer
Ebenen innerhalb des Objekts erfahren eine Bewegung bezüg
lich des Detektors, wodurch ein verwischter Hintergrund auf
dem Detektor erzeugt wird, auf den die scharfe Querschnitts
abbildung der gewünschten Brennpunktebene innerhalb des Ob
jekts gelegt wird. Obwohl ein beliebiges Muster einer koor
dinierten Bewegung verwendet werden kann, werden im allgemeinen
kreisförmige Muster bevorzugt, da sie leichter er
zeugt werden können.
Das U.S. Patent Nr. 4,926,452 mit dem Titel "AUTOMATED
LAMINOGRAPHY SYSTEM FOR INSPECTION OF ELECTRONICS", das an
Baker u. a. erteilt worden ist, beschreibt ein durchgehend
kreisförmig abgetastetes Schichtbildaufnahmesystem, bei dem
das Objekt fest bleibt, während sich die Röntgenstrahlen
quelle und der Detektor in einem koordinierten kreisförmigen
Muster bewegen. Die sich bewegende Röntgenstrahlenquelle
weist eine Mikrofokus-Röntgenstrahlenröhre auf, bei der ein
Elektronenstrahl in einem kreisförmigen Abtastmuster auf ein
Anodenziel abgelenkt wird. Die resultierende Bewegung der
Röntgenstrahlenquelle ist mit einem rotierenden Röntgen
strahlendetektor synchronisiert, der die Röntgenstrahlen
schattenabbildung in eine optische Abbildung umwandelt, da
mit sie betrachtet und in eine feste Videokamera integriert
werden kann, wodurch eine Querschnittsabbildung des Objekts
gebildet wird. Ein Computersystem steuert ein automatisier
tes Positionierungssystem, das das Objekt, das untersucht
wird, trägt, und bewegt aufeinanderfolgende interessierende
Bereiche in das Blickfeld. Um eine hohe Bildqualität beizu
behalten, steuert ein Computersystem ferner die Synchroni
sation der Elektronenstrahlablenkung und die Drehung des op
tischen Systems, wodurch Ungenauigkeiten der mechanischen
Anordnungen des Systems ausgeglichen werden.
Schichtbildaufnahmen-Querschnittsabbildungen können ferner
innerhalb des Datenspeichers eines Computers gebildet wer
den, indem zwei oder mehrere einzelne Bilder, die durch ko
ordiniertes Positionieren von zwei der drei Hauptkomponen
ten, welche das Schichtbildaufnahmesystem aufweist, d. h.,
einer Quelle, eines Objekts und eines Detektors, kombiniert
werden. Die Abbildungen werden innerhalb des Computerspei
chers kombiniert, derart, daß ein beliebiger Punkt in der
Objekt-Brennpunktebene in einer Abbildung immer mit demsel
ben Punkt in der Objekt-Brennpunktebene einer anderen Abbil
dung kombiniert wird, wobei diese andere Abbildung aus einer
unterschiedlichen winkligen Ansicht des gleichen Objekts be
steht. Wenn die einzelnen Ansichten von dem Detektor aufge
nommen werden, der einen kreisförmigen Weg beschreibt, dann
bildet die kombinierte Abbildung, die aus den einzelnen Ab
bildungen gebildet ist, näherungsweise eine durchgehend
kreisförmig abgetastete Abbildung (wie es in dem U.S. Patent
Nr. 4,926,452 beschrieben ist, welches oben erörtert wurde),
wenn die Anzahl einzelner Abbildungen sehr groß ist. Ein ma
thematisches Verschieben der Pixelkombinationen der vielen
einzelnen Abbildungen resultiert in der Veränderung der Po
sition der Brennpunktebene in dem Objekt. Somit ist dieses
Verfahren zum Erzeugen einer Querschnittsabbildung eines Ob
jekts gegenüber Bewegungs- und Verwischungsverfahren vor
teilhaft, da aus einem Satz von Abbildungen viele Schicht
aufnahmen-Querschnittsabbildungen verschiedener Brennpunkt
ebenen gebildet werden können. Diese Technik wurde als syn
thetische Schichtbildaufnahme oder als computerisierte syn
thetische Querschnittsabbildung bezeichnet.
Die Schichtbildaufnahmetechniken, die oben beschrieben wur
den, werden gegenwärtig in einem breiten Bereich von An
wendungen einschließlich der medizinischen und industriellen
Röntgenstrahlenabbildung verwendet. Die Schichtbildaufnahme
ist besonders zum Untersuchen von Objekten geeignet, welche
verschiedene Schichten mit unterscheidbaren Merkmalen inner
halb jeder Schicht aufweisen. Bestimmte frühere Schichtbild
aufnahmesysteme, welche derartige Querschnittsabbildungen
erzeugen, zeigen jedoch typischerweise Unzulänglichkeiten
bei der Auflösung und/oder Untersuchungsgeschwindigkeit,
weshalb sie selten verwendet werden. Diese Unzulänglichkei
ten treten häufig aufgrund der Schwierigkeiten beim Errei
chen einer koordinierten Hochgeschwindigkeitsbewegung der
Quelle und des Detektors mit einem Genauigkeitsgrad auf, der
ausreichend ist, um eine Querschnittsabbildung mit hoher
Auflösung zu erzeugen.
Bei einem Schichtbildaufnahmesystem, welches ein festes Ob
jekt betrachtet und welches ein Gesichtsfeld aufweist, das
kleiner als das untersuchte Objekt ist, kann es notwendig
sein, das Objekt innerhalb des Gesichtsfeldes herum zu be
wegen, wodurch viele Schichtbildaufnahmen erzeugt werden,
welche, wenn sie zusammengestückelt werden, eine Abbildung
des gesamten Objekts bilden. Dies wird häufig durch Tragen
des Objekts auf einem mechanischen Handhabungssystem, wie
z. B. einem X, Y, Z-Positionierungstisch, erreicht. Der Tisch
wird dann bewegt, um die gewünschten Abschnitte des Objekts
in das Gesichtsfeld zu bringen. Eine Bewegung in der X- und
der Y-Richtung positioniert den zu untersuchenden Bereich,
während die Bewegung in der Z-Richtung das Objekt auf und
nieder bewegt, um die Ebene innerhalb des Objekts auszuwäh
len, in der die Querschnittsabbildung genommen werden soll.
Während es dieses Verfahren effektiv ermöglicht, daß ver
schiedene Bereiche und Ebenen des Objekts betrachtet werden
können, existieren inhärente Begrenzungen, die der Geschwin
digkeit und Genauigkeit derartiger mechanischer Bewegungen
zugeordnet sind. Diese Begrenzungen wirken derart, daß sie
die Zykluszeit wirksam erhöhen, wodurch die Raten reduziert
werden, mit denen eine Untersuchung stattfinden kann. Ferner
erzeugen diese mechanischen Bewegungen Schwingungen, welche
dahin tendieren, die Systemauflösung und Genauigkeit zu re
duzieren.
Das U.S. Patent Nr. 5,259,012 mit dem Titel "LAMINOGRAHY
SYSTEM AND METHOD WITH ELECTROMAGNETICALLY DIRECTED MULTI
PATH RADIATION SOURCE", das an Baker u. a. erteilt worden
ist, beschreibt ein System, welches es ermöglicht, daß viele
Positionen innerhalb eines Objekts ohne eine mechanische
Bewegung des Objekts abgebildet werden. Das Objekt wird
zwischen eine rotierende Röntgenstrahlenquelle und einen
synchronisiert rotierenden Detektor gelegt. Eine Brennpunkt
ebene innerhalb des Objekts wird auf dem Detektor abgebil
det, derart, daß eine Querschnittsabbildung des Objekts
erzeugt wird. Die Röntgenstrahlenquelle wird durch Ablenken
eines Elektronenstrahls auf eine Zielanode erzeugt. Die
Zielanode emittiert Röntgenstrahlen, wo die Elektroden auf
das Ziel fallen. Der Elektronenstrahl wird durch eine Elektronenkanone
erzeugt, welche X- und Y-Ablenkspulen zum Ab
lenken des Elektronenstrahls in der X- und der Y-Richtung
aufweist. Ablenkungsspannungssignale werden an die X- und an
die Y-Ablenkspule angelegt und bewirken, daß die Röntgen
strahlenquelle in einem kreisförmigen Spurenweg rotiert. Ei
ne zusätzliche Gleichspannung, die an die X- oder an die
Y-Ablenkungsspule angelegt wird, bewirkt, daß sich der
kreisförmige Weg, den die Röntgenstrahlenquelle verfolgt, in
der X- oder Y-Richtung um eine Strecke verschiebt, die der
Größe der Gleichspannung proportional ist. Dies bewirkt ein
anderes Gesichtsfeld, das abgebildet werden soll, welches in
der X- oder in der Y-Richtung von der vorher abgebildeten
Region verschoben ist. Veränderungen des Radius des Röntgen
strahlenquellenwegs resultieren in einer Veränderung der
Z-Höhe der abgebildeten Brennpunktebene. Dieses System löst
viele Probleme früherer Schichtbildaufnahmesysteme beim Er
zeugen von Querschnittsabbildungen mit hoher Auflösung und
hoher Geschwindigkeit. Dieses System stellt eine Verbesse
rung gegenüber dem dar, das in dem U.S. Patent Nr. 4,926,452
beschrieben ist, da es die Untersuchung von Objekten er
laubt, die größer als das Gesichtsfeld sind, indem Quer
schnittsabbildungen außerhalb der Drehachse der Quelle und
des Detektors erzeugt werden, wodurch eine Hauptquelle der
mechanischen Bewegung eliminiert wird. Zusätzlich wird die
Auswahl der Brennpunktebene durch elektronische Größenein
stellung des Durchmessers der kreisförmigen Abtastung er
reicht, wodurch die mechanische Z-Bewegung von dem System,
das in dem U.S. Patent Nr. 4,926,452 beschrieben ist, elimi
niert wird. Das Verfahren zum Erzeugen von Querschnittsab
bildungen, das in dem U.S. Patent Nr. 5,259,012 beschrieben
ist, kann theoretisch doppelt so schnell laufen wie das
System, das in dem U.S. Patent Nr. 4,926,452 beschrieben
ist, da es nicht auf eine mechanische Bewegung warten muß.
Es weist die gleichen Begrenzungen wie das System, das in
dem U.S. Patent Nr. 4.926,452 beschrieben ist, bezüglich der
Quellenleistung und Lichtfleckengrößenbegrenzungen auf. So
mit stellt die Gesamtuntersuchungsgeschwindigkeit lediglich
eine zwei- bis dreifache Verbesserung dar, während eine beträchtliche
Komplexität an elektronischen Schaltungsanord
nungen und Kalibrationsanstrengungen hinzugefügt werden.
Während das System, das in dem U.S. Patent Nr. 5,259,012
beschrieben ist, zwar keinen X, Y, Z-Tisch benötigt, um das zu
untersuchende Objekt zu positionieren, benötigt es immer
noch eine sehr komplexe und große Röntgenstrahlenröhre, um
es zu ermöglichen, daß das System arbeitet. Der Durchmesser
der Röntgenstrahlenröhre muß etwas größer als die größte
horizontale Abmessung des zu untersuchenden Objekts bei der
Querschnittsabbildung sein. Andernfalls muß das Objekt oder
der Detektor und die Röntgenstrahlenröhre in der X-Richtung
und/oder der Y-Richtung bewegt werden, um das gesamte Objekt
zu untersuchen. Ein weiterer Nachteil dieses Systems ist die
Anforderung, daß das rotierende Detektorabbildungssystem auf
einer schnellen Rotation einer mechanischen Anordnung bei
600 oder mehr Umdrehungen pro Minute (RPM; RPM = Revolution
per Minute) aufbaut.
Das U.S. Patent Nr. 5,020,086 mit dem Titel "Microfocus
X-Ray System", das an Peugeot erteilt worden ist, offenbart
ein System zur Tomosynthese, bei dem ein Objekt durch einen
Röntgenstrahl aus einer kreisförmigen Position auf einem
Ziel abgetastet wird, die daraus resultiert, daß der Elek
tronenstrahl durch geeignete Steuerungssignale von einer
Strahlensteuerung, welche an die Ablenkspulen einer Mikro
fokus-Röntgenstrahlenröhre angelegt werden, in einem Kreis
abgetastet wird. Die Tomosynthese wird durch das bekannte
Verfahren einer In-Register-Kombination einer Serie von di
gitalen Röntgenstrahlenabbildungen erreicht, die durch Rönt
genstrahlen erzeugt worden sind, welche aus verschiedenen
Positionen austreten. Dies wird erreicht, indem eine Rönt
genstrahlenquelle an vielen Punkten auf einem Kreis um eine
Mittelachse positioniert werden. Dieses System eliminiert
einiges an mechanischer Bewegung, die von dem System, das in
dem U.S. Patent Nr. 4,926,452 beschrieben worden ist, benö
tigt wird, derart, daß der Detektor nicht rotieren muß.
Praktische Begrenzungen der Pixelgröße und Auflösung tendie
ren jedoch dahin, das System von Peugeot auf Untersuchungen
von Objekten mit kleinen Gesichtsfeldern begrenzen. Zusätz
lich benötigt das System immer noch einen X, Y-Tisch, um das
Objekt unter das Gesichtsfeld zu positionieren. Die Ge
schwindigkeit eines kommerziellen Prototypen dieses Systems
ist nicht wesentlich höher als bei dem System, das in dem
U.S. Patent Nr. 5,259,012 beschrieben ist, dasselbe weist
jedoch etwas niedrigere Herstellungskosten auf.
Obwohl das System, das in dem U.S. Patent Nr. 4,926,452 be
schrieben ist, einen ordentlichen kommerziellen Erfolg auf
wies, und obwohl ein bestimmtes kommerzielles Interesse an
den beiden Systemen vorhanden ist, die in dem U.S. Patent
Nr. 5,020,086 und in dem U.S. Patent Nr. 5,259,012 be
schrieben sind, wünscht die Industrie immer noch ein Quer
schnittuntersuchungssystem, welches bei einer noch höheren
Untersuchungsgeschwindigkeit arbeitet, wohingegen es weniger
als die existierenden industriellen Querschnittuntersu
chungssysteme kosten soll. Wenn ein neues Querschnittsabbil
dungssystem die Forderungen nach niedrigen Kosten und hoher
Leistungsfähigkeit erfüllen könnte, würden die kommerziellen
Anwendungen und die Verwendung im Vergleich zur herkömmli
chen Technologie rapide anwachsen, wodurch der Nutzen für
die Elektronikindustrie zur Schaltungsplatinenuntersuchung
wesentlich erhöht sein würde.
Die US-A-4,064,440 betrifft ein Untersuchungsgerät für sich
bewegende Objekte, welches Röntgen- oder Gamma-Strahlen ver
wendet. Das Untersuchungsgerät umfaßt eine Strahlungsquelle
und eine Mehrzahl von Detektoren. Über eine Abschirmung wird
Strahlung von der Quelle nur durch ein Objekt zu den Detek
toren geleitet.
Die GB 2 084 832 A betrifft eine Vorrichtung zur Erzeugung
von Schnittbildern eines dreidimensionalen Objekts, die eine
große Anzahl von Quellen in einer Strahlungsquellenebene um
faßt, um beschränkte Strahlungsstrahlen zu bilden, welche
sich schneiden und mit demselben Strahlquerschnitt in einer
Bestrahlungsebene überlappen. Ferner ist ein Strahlungsbildumwandlungsgerät
vorgesehen um Abbildungen zu empfangen, die
aufgrund der Strahlen 4 erzeugt wurden.
G. Roziere et al. Halbleiterbildaufnehmer für die Röntgen
technik, Elektronik 17/22, 8. 1986, S. 62 bis 66 beschreibt
Halbleiterbildaufnehmer für die Röntgentechnik, welche aus
einer Mehrzahl von photoempfindlichen Elementen gebildet
sind, wobei jedes der Elemente mit einer röntgenstrahlen
empfindlichen Beschichtung versehen ist.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein
Abbildungssystem und ein Verfahren zum Erzeugen einer Quer
schnittsabbildung eines Objekts zu schaffen, um eine verbes
serte, preisgünstigere und einfachere Querschnittsabbildung
mit hoher Geschwindigkeit und Auflösung zu schaffen.
Diese Aufgabe wird durch ein Abbildungssystem gemäß Anspruch
1, durch ein Abbildungssystem gemäß Anspruch 2, durch ein
Verfahren gemäß Anspruch 6 und durch ein Verfahren gemäß An
spruch 7 gelöst.
Dementsprechend bestehen Vorteile der vor
liegenden Erfindung darin, daß sie eine verbesserte, preis
günstigere und einfachere Art und Weise schafft, um das
Querschnittsabbilden mit hoher Geschwindigkeit und hoher
Auflösung für die Untersuchung elektrischer Verbindungen zu
erreichen, als es bei bekannten Systemen der Fall ist.
Ein Vorteil der vorliegenden Erfindung besteht darin, daß
die teuere und komplexe Röntgenstrahlenröhre vom
abgetasteten Strahlentyp, die in den U.S. Patenten mit den
Nummern 5,020,086 und 5,259,012 verwendet wird, vermieden
wird und durch ein preisgünstiges
Standard-Röntgenstrahlensystem ersetzen wird.
Ein weiterer Vorteil der vorliegenden Erfindung besteht
darin, daß der teuere X, Y-Positionierungstisch (U.S. Patent
Nr. 5,020,086) oder der X, Y, Z-Tisch (U.S. Patent Nr.
5,259,012) durch ein preisgünstiges, hochzuverlässiges
Einzelachsensystem mit durchgehender Bewegung ersetzt wird.
Ein weiterer Vorteil der vorliegenden Erfindung besteht
darin, daß die teuere und hochkomplexe Röntgenstrahlenröhre
mit großem Durchmesser und das System, welche in dem U.S.
Patent Nr. 5,259,012 verwendet wird, durch ein
preisgünstiges Standard-Röntgenstrahlensystem ersetzt wird.
Ein weiterer Vorteil der vorliegenden Erfindung besteht
darin, daß die komplexen Drehdetektorsysteme, die in den
U.S. Patenten mit den Nummern 4,926,452 und 5,259,012
offenbart sind, und der teuere Vakuumröhrendetektor mit
großem Durchmesser, der in dem U.S. Patent Nr. 5,020,086
offenbart ist, durch herkömmliche, hochzuverlässige,
massenproduzierte, preisgünstige Festkör
per-Hochleistungsdetektoren vom linearen Linienabtasttyp
ersetzt wird.
Die vorliegende Erfindung schafft ein wesentlich verbesser
tes, computerisiertes Schichtbildaufnahmesystem oder auch
Laminographiesystem, welches ein durchgehendes Abtastver
fahren für eine Hochgeschwindigkeitsuntersuchung mit hoher
Auflösung verwendet. Gemäß einem Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung benötigt das System keine Bewegung
des Detektors, der Röntgenstrahlenröhre, der Lichtflecke der
Röntgenstrahlen oder des Röntgenstrahls selbst. Die einzige
Bewegung, die benötigt wird, ist eine sanfte lineare Bewe
gung des abzubildenden Objekts. Die vorliegende Erfindung
ist schneller als bekannte Schichtbildaufnahmesysteme für
die Untersuchung elektrischer Verbindungen auf einer Schal
tungsplatine.
Schaltungsplatinen werden mit einer Geschwindigkeit von etwa 7,62 mm
(0,3 Zoll) pro Sekunde mit gleichmäßiger Geschwindigkeit in
das Röntgenstrahlen-Schichtbildaufnahme-Abtastgerät einge
speist. Die Schaltungsplatinen sind um etwa 17,78 mm (0,7 Zoll)
voneinander getrennt. Die Vorrichtung, die die gleichförmige
lineare Bewegung liefert, ist ein sich bewegender
Kettenriemen, der die Schaltungsplatinen auf ihren zwei ge
genüberliegenden parallelen Seiten trägt.
Das Detektorsystem umfaßt minimal zwei lineare Abtastdetek
toren (vorzugsweise vier lineare Abtastdetektoren), die in
einer winkligen Beziehung zu der Schaltungsplatine symme
trisch angeordnet sind. Die linearen Abtastdetektoren sind
derart befestigt, daß sie sehr nahe an der Unterseite der zu
testenden Platine angeordnet sind. Jeder lineare Abtastde
tektor weist eine dünne Auflage aus Röntgenstrahlen-empfind
lichem Phosphor auf der Detektoroberfläche auf und erreicht
eine Auflösung von etwa 16 lp/mm (lp/mm = Linienpaare pro
Millimeter). Zusätzlich weist jeder lineare Abtastdetektor
eine eingebaute elektronische Anordnung auf, um einen 8- bis
16-Bit-Datenstrom mit einer Digitalelektronik zu schaffen,
die direkt mit einem Personalcomputer (PC) in schnittstel
lenmäßiger Verbindung steht.
Die Röntgenstrahlenquelle umfaßt mindestens eine Quelle von
Röntgenstrahlen (vorzugsweise zwei), die derart ausgerichtet
sind, daß jede Röntgenstrahlenröhre zwei Fächerstrahlen aus
Röntgenstrahlen abgibt. Die Röntgenstrahlenquellen sind be
züglich der Schaltungsplatine befestigt, um den bevorzugten
Schichtbildaufnahmewinkel zu schaffen und sie sind in dem
bevorzugten Abstand von der Schaltungsplatine und den line
aren Abtastdetektoren befestigt, daß die Kombination ihrer
Lichtfleckgröße und des Platine-zu-Detektor-Abstands und die
verfügbare Röntgenstrahlenleistung derart zusammenwirken, um
eine Abbildung mit hoher Auflösung mit ausreichenden Licht
pegeln auf dem Detektor zu schaffen.
Die bevorzugte Quelle ist eine Standard-Röntgenstrahlenröh
re, die in der Lage ist, bei 125 Kilovolt (kV) mit einem
Anodenstrom in dem Bereich von etwa 0,1 Milliampere (mA) bis
1,0 mA zu arbeiten. Wenn zwei Röhren verwendet werden, kön
nen beide Röhren durch eine einzige Hochspannungs-
Versorgung versorgt werden. Die bevorzugte Brennpunktgröße
der Röntgenstrahlenröhre liegt in dem Bereich von etwa 100 µm
bis 1000 µm im Durchmesser.
Die Daten von jedem linearen Abtastdetektor werden verwen
det, um innerhalb einer Computerspeichers ein vollständiges
Röntgenstrahlenbild der (21,59 cm × 30,48 cm)-Schaltungs
platinen ((8,5 Zoll × 12 Zoll)-Schaltungsplatinen) zu erzeu
gen. Bei einem Vier-Detektor-System beträgt die minimale
Speicheranforderung etwa 260 Megabyte. Damit das System eine
Schaltungsplatine analysieren kann, während eine andere Ab
bildung einer zweiten Schaltungsplatine erfaßt wird, benö
tigt es zusätzliche 260 Megabyte an Speicher. Somit werden
insgesamt 520 Megabyte Speicher bei einem System benötigt,
das vier lineare Abtastdetektoren aufweist und das einen
Satz von vier Abbildungen erfaßt, während der vorher erfaßte
Satz von vier Abbildungen gerade analysiert wird. Es wird
bevorzugt, daß der Computerspeicher derart entworfen ist,
daß er den Detektoren zum Bilderfassen, und dann einem Ab
bildungsanalysecomputer zugeschaltet werden kann, um die
Scheibenabbildung oder -Abbildungen zur Analyse zu erzeugen,
obwohl diese variable Speicherzuschaltung kein Merkmal dar
stellt.
Schichtbildaufnahmescheiben werden durch Kombinieren der
vier getrennten Abbildungen durch Verschieben der Pixelposi
tionen in X und Y erzeugt, damit sie einer spezifischen
Brennpunktebene in dem Objekt entsprechen. Eine beliebige
Anzahl von Brennpunktebenen kann durch dieses Verfahren aus
einem einzigen Satz von vier Abbildungen erzeugt werden.
Die Schichtbildaufnahmeabbildungen werden dann auf eine her
kömmliche Art und Weise analysiert, um Daten über die Quali
tät der elektrischen Verbindung auf der Schaltungsplatine zu
ergeben.
Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung
werden nachfolgend bezugnehmend auf die beiliegenden Zeich
nungen detaillierter erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht eines Schichtbildauf
nahmesystems mit durchgehender linearer Abtastung
gemäß der vorliegenden Erfindung.
Fig. 2 eine Ansicht von oben des Schichtbildaufnahmesy
stems mit durchgehender linearer Abtastung von Fig.
1.
Fig. 3 eine Seitenansicht des Schichtbildaufnahmesystems
mit durchgehender linearer Abtastung, das in den
Fig. 1 und 2 gezeigt ist.
Fig. 4 eine Endansicht von dem Schaltungsglatinen-Ladungs
ende des Schichtabbildungssystems mit durchgehender
linearer Abtastung aus, das in den Fig. 1, 2 und 3
gezeigt ist.
Fig. 5 ein Testobjekt zum Demonstrieren des Schichtbild
aufnahmeverfahrens.
Fig. 6a bis 6d herkömmliche Schattenbildabbildungen des
Testobjekts, das in Fig. 5 gezeigt ist, die in je
dem der vier linearen Röntgenstrahlendetektoren ge
bildet werden.
Fig. 7 eine Querschnitts-Schichtbildaufnahmeabbildung des
Testobjekts in einer Brennpunktebene, die aus der
Kombination der herkömmlichen Schichtbildaufnahme
abbildungen, die in den Fig. 6a bis 6d gezeigt
sind, abgeleitet ist.
Fig. 8 eine perspektivische Ansicht eines alternativen
Ausführungsbeispiels eines Schichtbildaufnahmesy
stems mit durchgehender linearer Abtastung gemäß
der vorliegenden Erfindung.
In den Fig. 1, 2, 3 und 4 sind eine perspektivische Ansicht,
eine Ansicht von oben, eine Seitenansicht bzw. eine Endan
sicht eines Schichtbildaufnahmesystems mit durchgehender
linearer Abtastung gemäß der vorliegenden Erfindung gezeigt.
Unter Bezugnahme auf die Fig. 1, 2, 3 und 4 sind eine erste
Röntgenstrahlenquelle 10 und eine zweite Röntgenstrahlen
quelle 20 über und entlang gegenüberliegender Seiten eines
Fördersystems 30 positioniert. Die erste Röntgenstrahlen
quelle 10 umfaßt einen vorderen Kollimator 32 und einen hin
teren Kollimator 34. Auf ähnliche Weise umfaßt die zweite
Röntgenstrahlenquelle 20 einen vorderen Kollimator 36 und
einen hinteren Kollimator 38. Ein erster linearer Röntgen
strahlendetektor 40 ist neben einem zweiten linearen Rönt
genstrahlendetektor 50 auf der rechten Seite (in der posi
tiven X-Richtung) einer Mittellinie (nicht gezeigt) entlang
der Y-Richtung positioniert, welche durch Verbinden der er
sten Röntgenstrahlenquelle 10 mit der zweiten Röntgenstrah
lenquelle 20 definiert ist. Ein dritter linearer Röntgen
strahlendetektor 60 ist neben einem vierten linearen Rönt
genstrahlendetektor 70 auf der linken Seite (in der negati
ven X-Richtung) der Mittellinie, die die erste und die zwei
te Röntgenstrahlenquelle 10, 20 verbindet, positioniert. Der
erste, der zweite, der dritte und der vierte lineare Rönt
genstrahlendetektor 40, 50, 60, 70 sind unter dem Fördersy
stem 30 positioniert. Das Fördersystem 30 umfaßt eine erste
Antriebskettenvorrichtung 80 und eine Führungsschiene 82 auf
einer ersten Seite und eine zweite Kettenantriebsvorrichtung
84 und eine zweite Führungsschiene 86 auf einer zweiten Sei
te. Ein synchronisierter Antriebsmotor 90 ist mit der ersten
und mit der zweiten Kettenantriebsvorrichtung 80, 84 verbun
den. Der synchronisierte Antriebsmotor 90 ist mit einem
Steuerungscomputer und einem Abbildungsanalysesystem 100
durch Motorversorgungs- und Steuerungsleitungen 104 verbun
den. Der Steuerungscomputer und das Abbildungsanalysesystem
100 sind ferner mittels Detektorversorgungs-, Steuerungs-
und Signal-Leitungen 106 mit dem ersten, dem zweiten, dem
dritten und dem vierten linearen Röntgenstrahlendetektor 40,
50, 60, 70 verbunden.
Im Betrieb sind Schaltungsplatinen 120a, 120b, 120c auf den
Kettenantriebsvorrichtungen 80, 84 positioniert und diesel
ben werden durch die Führungsschienen 82, 86 durch das För
dersystem 30 geführt. Zwecks des Beschreibens des Betriebs
der Erfindung werden Schaltungsplatinen mit einer Größe von
21,59 cm × 30,48 cm (8,5 Zoll × 12 Zoll) angenommen. Es kön
nen ebenfalls andere Größen verwendet werden, wobei diese
Abmessungen in keiner Weise irgendeine Begrenzung darstel
len. Die Schaltungsplatinen 120a, 120b, 120c werden durch
die Antriebskettenvorrichtungen 80, 84 mit einer konstanten
Geschwindigkeit von etwa 7,62 mm/s (0,3 Zoll/s) durch den
synchronisierten Antriebsmotor 90 sanft vorgeschoben. Die
Schaltungsplatinen 120a, 120b, 120c sind voneinander um etwa
1,778 cm (0,7 Zoll) getrennt. Der synchronisierte Antriebs
motor 90 wird durch den Steuerungs- und Abbildungsanalyse
computer 100 über die Motorversorgungs- und Steuerungslei
tungen 104 betrieben. Fig. 1 und 2 zeigen folgenden Zustand:
a) die Untersuchung der Schaltungsplatine 120c ist vollen
det; b) die Untersuchung der Schaltungsplatine 120b wird ge
rade durchgeführt; und c) die Schaltungsplatine 120a wurde
gerade auf das Fördersystem 30 geladen, wobei dieselbe un
mittelbar nach der Vollendung der Untersuchung der Schal
tungsplatine 120b untersucht werden wird.
Die Röntgenstrahlen aus den Quellen 10 und 20 werden durch Kollimato
ren 32, 34, 36, 38 ausgerichtet (d. h. kollimiert), um die
Winkelausbreitung der Strahlung aus der ersten und
zweiten Röntgenstrahlenquelle 10, 20 in sowohl der X-Richtung
als auch der Y-Richtung zu begrenzen, derart, daß jede Rönt
genstrahlenquelle 10, 20 zwei Fächerstrahlen von Röntgen
strahlen erzeugt. Die erste Röntgenstrahlenquelle 10 gibt
Fächerstrahlen von Röntgenstrahlen 130, 132 ab, während die
zweite Röntgenstrahlenquelle 20 Fächerstrahlen von Röntgenstrahlen
134, 136 abgibt. Die Röntgenstrahlenquellen 10, 20
sind auf eine herkömmliche Art und Weise in einer Position
befestigt, welche geeignete Schichtbildaufnahmewinkel zum
Erzeugen von Querschnittsabbildungen der Schaltungsplatine
120b schaffen. Die Röntgenstrahlenquellen 10, 20 sind bei
spielsweise, wie es in den Fig. 1 und 4 zu sehen ist, in
Winkeln von etwa ±45° bezüglich der Normalen der Schal
tungsplatine 120b (der Z-Richtung) positioniert. Zusätzlich
sind die Röntgenstrahlenquellen 10, 20 in einem Abstand von
der Schaltungsplatine 120b und von den linearen Röntgen
strahlendetektoren 40, 50, 60, 70 positioniert, derart, daß
die Kombination folgender Größen zusammenwirkt, um ausrei
chende Strahlungspegel an den linearen Röntgenstrahlendetektoren
40, 50, 60, 70 zu schaffen, um Abbildungen mit hoher Auflö
sung zu schaffen: 1) die Brennpunktlichtfleckgrößen der
Röntgenstrahlenquellen 10, 20; 2) der Abstand zwischen der
Schaltungsplatine 120b und den linearen Röntgenstrahlende
tektoren 40, 50, 60, 70 (typischerweise 2,54 cm (1 Zoll)
oder weniger); und 3) die Leistungsausgabe der Röntgenstrah
lenquellen 10, 20.
Die bevorzugten Röntgenstrahlenquellen 10, 20 sind industri
elle Standard-Röntgenstrahlenröhren, die bei Spannungen bis
zu 120 Kilovolt mit einem Anodenstrom im Bereich von etwa
0,1 mA bis 1,0 mA betreibbar sind. Die erste und die zweite
Röntgenstrahlenröhre 10, 20 können beide durch eine einzige
Hochspannungs-Versorgung (nicht gezeigt) versorgt
werden. Die bevorzugte Brennpunktlichtfleckgröße der Rönt
genstrahlen 10, 20 liegt im Bereich von 100 µm bis 1000 µm
im Durchmesser.
Die Schaltungsplatine 120b, die gerade untersucht wird, wird
von Röntgenstrahlen bestrahlt, die von den Röntgenstrahlen
quellen 10, 20 erzeugt werden. Die Winkelausbreitung der
Röntgenstrahlen, die von der ersten Röntgenstrahlenquelle 10
emittiert werden, werden: 1) in der X-Richtung durch den
vorderen Kollimator 32 in dem schmalen Fächerstrahl von
Röntgenstrahlen 130 ausgerichtet, welcher konfiguriert ist,
um nur einen ersten kleinen Abschnitt der Schaltungsplatine
120b und eine vordere Oberfläche des ersten linearen Rönt
genstrahlendetektor 40 zu beleuchten, nachdem er durch den
beleuchteten ersten kleinen Abschnitt der Schaltungsplatine
120b durchgelaufen ist; und 2) in der X-Richtung durch den
hinteren Kollimator 34 in den schmalen Fächerstrahl von
Röntgenstrahlen 132 ausgerichtet, welcher konfiguriert ist,
um nur einem dritten kleinen Abschnitt einer Schaltungspla
tine 120b und die vordere Oberfläche des dritten linearen
Röntgenstrahlendetektors 60 zu beleuchten, nachdem er durch
den dritten schmalen Abschnitt der Schaltungsplatine 120b
durchgelaufen ist. Auf ähnliche Weise werden Röntgenstrah
len, die von der zweiten Röntgenstrahlenquelle 20 emittiert
werden: 1) in der X-Richtung durch den vorderen Kollimator
36 in den schmalen Fächerstrahl von Röntgenstrahlen 134 aus
gerichtet, der konfiguriert ist, um nur einen zweiten klei
nen Abschnitt der Schaltungsplatine 120b und die vordere
Oberfläche des zweiten linearen Röntgenstrahlendetektors 50
zu beleuchten, nachdem er durch den zweiten kleinen Ab
schnitt der Schaltungsplatine 120b durchgelaufen ist; und 2)
in der X-Richtung durch den hinteren Kollimator 38 in den
schmalen Fächerstrahl von Röntgenstrahlen 136 ausgerichtet,
welcher konfiguriert ist, um nur einen vierten kleinen Ab
schnitt der Schaltungsplatine 120b und die vordere Oberflä
che des vierten linearen Röntgenstrahlendetektors 70 zu be
leuchten, nachdem er durch den vierten kleinen Abschnitt der
Schaltungsplatine 120b durchgelaufen ist. Somit empfängt der
erste lineare Röntgenstrahlendetektor 40 nur Röntgenstrah
len, die von der ersten Röntgenstrahlenquelle 10 erzeugt
werden und durch den vorderen Kollimator 32 emittiert wer
den. Der zweite lineare Röntgenstrahlendetektor 50 empfängt
nur Röntgenstrahlen, die von der zweiten Röntgenstrahlen
quelle 20 erzeugt und durch den vorderen Kollimator 36 emit
tiert werden. Der dritte lineare Röntgenstrahlendetektor 60
empfängt nur Röntgenstrahlen, die von der ersten Röntgen
strahlenquelle 10 erzeugt und durch den hinteren Kollimator
34 emittiert werden. Der vierte lineare Röntgenstrahlende
tektor 70 empfängt nur Röntgenstrahlen, die von der zweiten
Röntgenstrahlenquelle 20 erzeugt und durch den hinteren Kol
limator 38 emittiert werden. Zusätzlich wird, wie es am be
sten in den Fig. 2 und 4 dargestellt ist, jeder der schmalen
Fächerstrahlen von Röntgenstrahlen 130, 132, 134, 136 in der
Y-Richtung durch seinen jeweiligen Kollimator 32, 34, 36, 38
auf eine Art und Weise ausgerichtet, welche es verhindert,
daß sich Röntgenstrahlen über die horizontale Ausdehnung
(Y-Richtung) seines jeweiligen linearen Röntgenstrahlende
tektors 40, 50, 60, 70 hinaus erstrecken.
Das Fördersystem 30 transportiert die zu testende Schal
tungsplatine 120b durch die vier ausgerichteten Fächer
strahlen von Röntgenstrahlen 130, 132, 134, 136. Röntgen
strahlen, welche durch die Schaltungsplatine 120b laufen,
werden von den linearen Röntgenstrahlendetektoren 40, 50,
60, 70 erfaßt. Jeder lineare Röntgenstrahlendetektor 40, 50,
60, 70 wandelt das Muster von Röntgenstrahlen, die durch die
zu testende Schaltungsplatine 120b gelaufen sind, in ein
elektrisches Signal um, das über die Detektorversorgungs-,
Steuerungs- und Signalleitungen 106 zu dem Steuerungscom
puter und zu dem Abbildungsanalysesystem 100 zum Verarbeiten
gesendet wird.
Die linearen Röntgenstrahlendetektoren 40, 50, 60, 70 sind
bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel etwa 21,59 cm (8,5 Zoll)
breit und weisen eine horizontale Auflösung (X-Rich
tung) von etwa 16 bis 20 Linienpaaren pro Millimeter (lp/mm)
auf. Dies entspricht etwa 400 bis 500 Linienpaaren pro Zoll
(157,5 bis 197 Linienpaaren pro Zentimeter) oder 800 bis
1000 Punkten pro Zoll in der Terminologie des Desktopab
tastens. Jeder der linearen Röntgenstrahlendetektoren 40,
50, 60, 70 weist eine eingebaute Digitalisierungselektronik
zum Schaffen eines digitalisierten Datenstroms von 8 Bit bis
16 Bit auf, wobei sie direkt mit dem Steuerungscomputer und
dem Abbildungsanalysesystem 100 in schnittstellenmäßiger
Verbindung stehen. Die linearen Röntgenstrahlendetektoren
40, 50, 60, 70 sind aus Standard-Linienabtastungsdetektoren
gebildet, die bei Desktop-Publishing-Abtastgeräten verwendet
werden. Jeder lineare Röntgenstrahlendetektor 40, 50, 60, 70
weist eine dünne Beschichtung aus Röntgenstrahlen-empfindli
chem Phosphor auf, die direkt auf der Vorderseite des licht
empfindlichen Bereichs des Detektors abgelegt ist. Typi
scherweise ist der Röntgenstrahlen-empfindliche Phosphor
Gadolinium-Oxysulfid, wobei jedoch ebenfalls weitere Ma
terialien verwendet werden können, wie z. B. Cadmium-Wolfra
mat. Die Daten aus jedem linearen Röntgenstrahlendetektor
40, 50, 60, 70 erzeugen eine vollständige Röntgenstrahlen-
Schattenbildabbildung der zu testenden (21,59 cm × 30,48 cm)-Schaltungsplatine
120b, während sie über den jeweiligen
Detektor läuft. (Siehe die Fig. 6a bis 6d).
Die linearen Röntgenstrahlendetektoren 40, 50, 60, 70 sind
Ladungs-gekoppelten Bauelementen (CCD; CCD = Charge Coupled
Devices) ähnlich, die allgemein in Videokameras zu finden
sind. Die Ladungs-gekoppelten Bauelemente, die in Videoka
meras verwendet werden, sind typischerweise integrierte
Festkörper-Schaltungschips mit einem zweidimensionalen Array
von diskreten lichtempfindlichen Elementen, die auf densel
ben gebildet sind. Die linearen Röntgenstrahlendetektoren
40, 50, 60, 70 sind lineare oder eindimensionale Arrays von
diskreten lichtempfindlichen Elementen, die auf einem einzi
gen Chip gebildet sind. Lineare Arrays werden üblicherweise
in Taschenabtastgeräten bei Flughafensicherheitsstationen
verwendet, um Röntgenstrahlen-Schattenbildabbildungen mit
niedriger Auflösung einer Tasche zu erzeugen.
Ein geeigneter linearer Röntgenstrahlendetektor, der als der
RLS-Detektor (RLS = Radiographic Line Scan = radiographische
Linienabtastung) bekannt ist, ist kommerziell bei Bio-Ima
ging Research, Inc. in Lincolnshire, Illinois erhältlich.
Ein Artikel von Charles R. Smith und Joseph W. Erker, mit
dem Titel "Low cost, high resolution x-ray detector system
for digital radiography and computed tomography", SPIE X-Ray
Detector Physics and Applications II, Bd. 2009, 1993, S.
31-35, umfaßt eine detaillierte Beschreibung dieses Bauele
ments. Ein weiterer geeigneter linearer Detektor, der als
der IL-C8-6000 Turbosensor bekannt ist, ist bei Dalsa in
Waterloo, Canada, erhältlich. Ein weiterer Hersteller von
linearen Arrays ist EG & G Reticon, welcher ein Diodenarray
der Modellnummer RL2048S herstellt, welches ein monolithi
sches, selbstabtastendes lineares Photodiodenarray mit 2048
Photodiodensensorelementen mit einer 25 Mikrometer Mitte-
zu-Mitte-Beabstandung ist. Dieses Bauelement besteht aus
einer Reihe von Photodioden, wobei jede einen zugeordneten
Speicherkondensator aufweist, auf dem der Photostrom inte
griert wird, und einen Multiplexschalter zum Auslesen durch
ein unabhängiges integriertes Schieberegister aufweist. So
mit existieren mehrere Bezugsquellen für kommerziell verfüg
bare lineare Arraybauelemente, welche zur Verwendung bei der
vorliegenden Erfindung angepaßt werden können.
Während es bevorzugt wird, daß jeder der 21,59 cm (8,5 Zoll)
langen linearen Röntgenstrahlendetektoren 40, 50, 60, 70 ei
ne einzige Einheit ist, wird es für einen Fachmann offen
sichtlich sein, daß kürzere Einheiten kombiniert werden kön
nen, um jede beliebige gewünschte Gesamtlänge zu erhalten.
Das heißt, daß zwei der oben erwähnten IL-C8-6000-Turbosen
soren, von denen jeder 15,24 cm (6 Zoll) lang ist, etwas
versetzt befestigt werden können, derart, daß das Ende des
einen mit dem Ende des anderen übereinstimmt, wodurch ein
Erfassungsbereich für eine 30,48 cm (12 Zoll) breite Schal
tungsplatine geschaffen ist. Alternativ kann ein Linsensy
stem oder eine Glasfaseroptik-Reduziereinrichtung zwischen
einem Röntgenstrahlen-Szintillationsbildschirm der gewünsch
ten Länge und dem linearen Sensor einer kürzeren Länge posi
tioniert sein. Die auf dem Bildschirm erzeugte Abbildung
wird dann durch das Linsensystem auf den linearen Sensor mit
einer kürzeren Länge fokussiert oder durch eine geeignete
reduzierende Glasfaseroptik auf den linearen Sensor gerich
tet.
Die Daten von den linearen Röntgenstrahlendetektoren 40, 50,
60, 70 werden in einer Speicherbank innerhalb des Steue
rungscomputers und des Abbildungsanalysesystems 100 gespei
chert. Für ein System mit einer Auflösung von 800 DPI (DPI =
Dots Per Inch = Punkte pro Zoll) und einer Breite von 21,59 cm
(8,5 Zoll) existieren 6800 Pixel entlang der Breite (X-
Richtung) von 21,59 cm (8,5 Zoll), welche der Breite der zu
testenden Schaltungsplatine 120b entspricht. Bei einer Auf
lösung von 800 DPI entspricht die Länge von 30,48 cm (12 Zoll)
der zu testenden Schaltungsplatine 120b 9600 Pixeln
entlang der Längenrichtung (Y-Richtung). Somit muß die Spei
cherbank, die verwendet wird, um die vollständige Abbildung
der 21,59 cm × 30,48 cm (8,5 Zoll × 12 Zoll) - Schaltungs
platine 120b zu speichern, eine Speicherkapazität von 6800 ×
9600 × 8 Bits oder etwa 65 Megabyte aufweisen. Da vier li
neare Röntgenstrahlendetektoren 40, 50, 60, 70 vorhanden
sind, ist ein Gesamtspeicher von 260 Megabyte notwendig.
Wenn das System Abbildungen für eine Schaltungsplatine 120c
analysieren soll, während das System die Abbildungen der
nächsten Schaltungsplatine 120b erfaßt, muß die Speicherbank
innerhalb des Steuerungscomputers und des Bildanalysesystems
100 verdoppelt werden, um eine Gesamtgröße von 520 Megabyte
aufzuweisen. Die Speicherbank ist derart entworfen, daß eine
erste Hälfte der Speicherbank mit den linearen Röntgenstrah
lendetektoren 40, 50, 60, 70 verbunden ist, während ein Bild
gerade erfaßt wird, während eine zweite Hälfte der Speicher
bank, welche die Abbildungen für die vorherige Schaltungs
platine enthält, mit dem Bildanalyseabschnitt des Steue
rungscomputers und des Bildanalysesystems 100 verbunden ist.
Wenn die Abbildungserfassung in der ersten Hälfte der Spei
cherbank und die Abbildungsanalyse der Daten in der zweiten
Hälfte der Speicherbank vollendet sind, wird die erste Hälf
te der Speicherbank von den linearen Röntgenstrahlendetek
toren 40, 50, 60, 70 abgetrennt und mit dem Abbildungsana
lyseabschnitt des Steuerungscomputers und Bildanalysesystems
100 verbunden, und die zweite Hälfte der Speicher
bank wird von dem Bildanalyseabschnitt des Steuerungscomputers
und Bildanalysesystems 100 abgetrennt und mit den linearen
Röntgenstrahlendetektoren 40, 50, 60, 70 verbunden.
Wie vorher beschrieben wurde, erzeugen der erste, der zwei
te, der dritte und der vierte lineare Röntgenstrahlendetek
tor 40, 50, 60, 70 jeder für sich eine herkömmliche Röntgen
strahl-Schattenbildabbildung des gerade untersuchten Ob
jekts, das beispielsweise eine Schaltungsplatine 120b ist.
Eine Schichtbildaufnahme-Querschnittsabbildung des Objekts
wird aus den vier resultierenden Schattenbildabbildungen auf
eine herkömmliche Art und Weise gebildet. Diese Technik ist
detailliert in dem U.S. Patent Nr. 3,818,220 mit dem Titel
"Variable Depth Laminagraphy", das an Richards erteilt wor
den ist, und in dem U.S. Patent Nr. 3,499,146, mit dem Titel
"VARIABLE DEPTH LAMINAGRAPHY WITH MEANS FOR HIGHLIGHTING THE
DETAIL OF SELECTED LAMINA", beschrieben, das an Richards er
teilt worden ist.
Fig. 5 zeigt ein Testobjekt 140 zum Darstellen der Technik
des Erzeugens einer Schichtbildaufnahme-Querschnittsabbil
dung einer ausgewählten Ebene innerhalb des Testobjekts 140
aus vier Schattenbildabbildungen 160, 260, 360, 460 (siehe
die Fig. 6a bis 6d). Das Testobjekt 140 enthält Muster in
der Gestalt eines Pfeils 142, eines Kreises 144 und eines
Kreuzes 146, die innerhalb des Testobjekts 140 in drei ver
schiedenen Ebenen 152, 154 bzw. 156 eingebettet sind.
In den Fig. 6a bis 6d sind die Schattenbildabbildungen ge
zeigt, die von den vier linearen Röntgenstrahlendetektoren
40, 50, 60, 70 erzeugt werden. Das Testobjekt 140 ist auf
dem Fördersystem 30 ausgerichtet, wie es in den Fig. 1 bis 4
gezeigt ist, wobei der Pfeil 142 in der negativen X-Richtung
zeigt, d. h. zu der Schaltungsplatine 120a hin. Fig. 6b zeigt
eine Schattenbildabbildung 160 des Testobjekts 140, welche
durch den ersten linearen Röntgenstrahlendetektor 40 erzeugt
worden ist. Der Pfeil 142 bildet eine Abb. 162a (a =
arrow = Pfeil), der Kreis 144 bildet eine Abb. 162c (c
= circle = Kreis) und das Kreuz 146 bildet eine Abb.
162x (x = cross = Kreuz). Fig. 6a zeigt eine Schattenbildab
bildung 260 des Testobjekts 140, das durch den zweiten li
nearen Röntgenstrahlendetektor 50 erzeugt worden ist. Der
Pfeil 142 bildet eine Abb. 262a, der Kreis 144 bildet
eine Abb. 262c und das Kreuz 146 bildet eine Abb.
262x. Fig. 6d zeigt eine Schattenbildabbildung 360 des Test
objekts 140, das durch den dritten linearen Röntgenstrahlen
detektor 60 erzeugt worden ist. Der Pfeil 142 bildet eine
Abb. 362a, der Kreis 144 bildet eine Abb. 362c und
das Kreuz 146 bildet eine Abb. 362x. Fig. 6c zeigt eine
Schattenbildabbildung 460 des Testobjekts 140, die durch den
vierten linearen Röntgenstrahlendetektor 70 erzeugt worden
ist. Der Pfeil 142 bildet eine Abb. 462a, der Kreis 144
bildet eine Abb. 462c und das Kreuz 146 bildet eine
Abb. 462x.
Die Bildung einer Schichtbildaufnahme-Querschnittsabbildung
einer ausgewählten Ebene innerhalb des Testobjekts 140 aus
den vier Schattenbildabbildungen 160, 260, 360, 460 wird
durch Zusammenfügen der vier Schattenbildabbildungen 160,
260, 360, 460 auf eine Art und Weise erreicht, welche die
Abbildungen in einer ausgewählten Ebene auf Kosten der Ab
bildungen in den anderen Ebenen verstärkt. Die Art und Wei
se, auf die die vier Schattenbildabbildungen 160, 260, 360,
460 zusammengefügt werden, um eine Schichtbildaufnahme-Quer
schnittsabbildung 500 des Pfeils 142 in der Ebene 152 zu
bilden, ist in Fig. 7 gezeigt. Wie es in Fig. 7 gezeigt ist,
wird jede der vier Schattenbildabbildungen 160, 260, 360,
460 um einen für jede jeweilige Abbildung in der X-Richtung
und/oder der Y-Richtung geeigneten Abstand verschoben, wobei
der Abstand bewirkt, daß die vier Abbildungen des Pfeils
162a, 262a, 362a, 462a sich im wesentlichen überlappen, wo
durch eine verstärkte Abbildung des Pfeils 562 in der
Schichtbildaufnahme-Querschnittsabbildung 500 erzeugt wird.
Der Bereich, der die verstärkte Abbildung des Pfeils 562
umgibt, besteht aus den vier Abbildungen des Kreises 162c,
262c, 362, 462c und den vier Abbildungen des Kreuzes 162x,
262x, 362x, 462x. Da die Abbildungen des Kreises und des
Kreuzes über verschiedene Positionen verstreut sind, ver
stärken sie sich nicht untereinander, wie es dagegen die
überlappenden Abbildungen des Pfeils 162a, 262a, 362a, 462a
tun. Auf eine ähnliche Art und Weise können die vier Schat
tenbildabbildungen 160, 260, 360, 460 zusammengefügt werden,
um Schichtbildaufnahme-Querschnittsabbildungen des Kreises
144 in der Ebene 154 oder des Kreuzes 146 in der Ebene 156
oder irgendeiner anderen vorher ausgewählten Ebene innerhalb
des Testobjekts 140 zu bilden.
Das oben beschriebene bevorzugte Ausführungsbeispiel be
schreibt eine Vorrichtung mit durchgehender Abtastung und
ein Verfahren zur Hochgeschwindigkeitsuntersuchung mit hoher
Auflösung, welches keine Bewegung des Detektors, der Rönt
genstrahlenröhre, des Lichtflecks der Röntgenstrahlen oder
des Röntgenstrahls selbst benötigt. Die einzige benötigte
Bewegung ist eine sanfte lineare Bewegung des abzubildenden
Testobjekts. Ein Fachmann wird jedoch erkennen, daß ein
äquivalentes System ein System ist, bei dem das Testobjekt,
das abgebildet wird, fest bleibt und der Röntgenstrahlende
tektor (die Röntgenstrahlendetektoren), die Röntgenstrahlen
röhre (die Röntgenstrahlenröhren) und der Strahl (die Strah
len) der Röntgenstrahlen eine sanfte lineare Bewegung bezüg
lich des abzubildenden festen Testobjekts ausführen, wodurch
Schattenbildabbildungen erzeugt werden, welche zusammenge
fügt werden können, um Schichtbildaufnahme-Querschnittsab
bildungen einer beliebigen vorher ausgewählten Ebene inner
halb des festen Testobjekts zu bilden, wie vorher beschrie
ben wurde. Fig. 8 zeigt ein Beispiel eines derartigen äqui
valenten Systems, bei dem das abzubildende Testobjekt fest
bleibt und die Röntgenstrahlenröhre (die Röntgenstrahlenröh
ren) und der Röntgenstrahlendetektor (die Röntgenstrahlende
tektoren) eine sanfte lineare Bewegung bezüglich des festen
abzubildenden Testobjekts ausführen. In Fig. 8 werden die
gleichen Bezugszeichen für identische oder entsprechende
Elemente der Ausführungsbeispiele, die in den vorherigen Fi
guren gezeigt sind, verwendet.
Wie es in Fig. 8 gezeigt ist, sind die erste Röntgenstrah
lenquelle 10 und die zweite Röntgenstrahlenquelle 20 auf
einem oberen Arm 602 einer C-förmigen Kanalträgereinheit 604
befestigt, derart, daß sie über und entlang gegenüberlie
gender Seiten der Schaltungsplatinen 120 positioniert sind,
welche auf einer Schaltungsplatinen-Trägereinheit 608 ange
ordnet sind. Die Schaltungsplatinen-Trägereinheit 608 weist
Öffnungen 610 auf, über denen die Schaltungsplatinen 120 an
geordnet sind, derart, daß die Röntgenstrahlen 130, 132,
134, 136 auf ihren Wegen von den Röntgenstrahlenquellen 10,
20 zu den Röntgenstrahlendetektoren 40, 50, 60, 70 nur durch
die Schaltungsplatinen 120 laufen, d. h. nicht durch die
Schaltungsplatinen-Trägereinheit 608. Die erste Röntgen
strahlenquelle 10 umfaßt den vorderen Kollimator 32 und den
hinteren Kollimator 34. Auf ähnliche Weise umfaßt die zweite
Röntgenstrahlenquelle 20 den vorderen Kollimator 36 und den
hinteren Kollimator 38 (in Fig. 8 nicht gezeigt). Der erste,
der zweite, der dritte und der vierte lineare Röntgenstrah
lendetektor 40, 50, 60, 70 sind auf einem unteren Arm 606
der C-förmigen Kanalträgereinheit 604 befestigt. Der erste
lineare Röntgenstrahlendetektor 40 ist neben dem zweiten
linearen Röntgenstrahlendetektor 50 auf der rechten Seite
(in der positiven X-Richtung) einer Mittellinie (nicht ge
zeigt) entlang der Y-Richtung, die durch Verbinden der er
sten Röntgenstrahlenquelle 10 mit der zweiten Röntgenstrah
lenquelle 20 definiert ist, befestigt. Der dritte lineare
Röntgenstrahlendetektor 60 ist neben dem vierten linearen
Röntgenstrahlendetektor 70 auf der linken Seite (in der ne
gativen X-Richtung) der Mittellinie positioniert, die die
erste und die zweite Röntgenstrahlenquelle 10, 20 verbindet.
Der erste, der zweite, der dritte und der vierte lineare
Röntgenstrahlendetektor 40, 50, 60, 70 sind somit unter den
Schaltungsplatinen 120, unter den Schaltungsplatinen-Trä
gereinheitsöffnungen 610 und unter der
Schaltungsplatinenträgereinheit 608 positioniert. Die C-förmige
Kanalträgereinheit 604 ist auf Gleitschienen 612 befestigt,
wodurch es ermöglicht wird, daß sich die C-förmige Kanal
trägereinheit 604 zusammen mit der befestigten ersten und
der befestigten zweiten Röntgenstrahlenquelle 10, 20 und dem
ersten, zweiten, dritten und vierten linearen Röntgenstrah
lendetektor 40, 50, 60, 70 als eine Einheit in der positiven
und der negativen X-Richtung bewegen. Der synchronisierte
Antriebsmotor 9 (Fig. 1) steuert die Bewegung der C-förmigen
Kanalträgereinheit 604 auf den Gleitschienen 612. Wie vorher
erörtert wurde, ist der synchronisierte Antriebsmotor 90 mit
dem Steuerungscomputer und Bildanalysesystem 100 (Fig. 1)
verbunden. Der Steuerungscomputer und das Bildanalysesystem
100 sind ferner mit dem ersten, dem zweiten, dem dritten und
dem vierten linearen Röntgenstrahlendetektor 40, 50, 60, 70
verbunden.
Im Betrieb arbeitet das Ausführungsbeispiel von Fig. 8 auf
dieselbe Art und Weise wie das Ausführungsbeispiel von Fig.
1, das vorher beschrieben wurde, wobei jedoch folgende Aus
nahme besteht. Bei dem Ausführungsbeispiel in Fig. 1 wird
eine lineare Abtastung der Schaltungsplatinen durch Halten
der ersten und der zweiten Röntgenstrahlenquelle 10, 20 und
des ersten, zweiten, dritten und vierten linearen Röntgen
strahlendetektors 40, 50, 60, 70 in einer befestigten oder
festen Position und durch Bewegen der Schaltungsplatinen
120a, 120b, 120c durch die Röntgenstrahlen 130, 132, 134,
136 auf dem Fördersystem 30 durchgeführt. Bei dem Ausfüh
rungsbeispiel in Fig. 8 wird eine lineare Abtastung der
Schaltungsplatinen durch die Röntgenstrahlen 130, 132, 134,
136 durch Halten der Schaltungsplatinen 120a, 120b, 120c in
einer befestigten oder festen Position auf der Schaltungs
platinen-Trägereinheit 608 und durch Bewegen der C-förmigen
Kanalträgereinheit 604 mit der befestigten ersten und zwei
ten Röntgenstrahlenquelle 10, 20 und dem ersten, zweiten,
dritten und vierten linearen Röntgenstrahlendetektor 40, 50,
60, 70 entlang den Schaltungsplatinen 120 über die Gleit
schienen 612 durchgeführt. Ein Fachmann wird erkennen, daß
die linearen Abtastungen, die somit durch die Ausführungsbeispiele
von Fig. 1 und Fig. 8 erzeugt werden, äquivalent
sind.
Claims (9)
1. Abbildungssystem, gekennzeichnet durch
eine erste Röntgenstrahlenquelle (10), die auf einer ersten Seite einer longitudinalen Achse (X) des Ab bildungssystems positioniert ist;
einen ersten linearen Röntgenstrahlendetektor (60), der positioniert ist, um Röntgenstrahlen (132) aufzufangen, die von der ersten Röntgenstrahlenquelle (10) in einem ersten Winkel emittiert werden;
einen zweiten linearen Röntgenstrahlendetektor (40), der positioniert ist, um Röntgenstrahlen (130) aufzufangen, die von der ersten Röntgenstrahlenquelle (10) in einem zweiten Winkel emittiert werden;
eine zweite Röntgenstrahlenquelle (20), die bezüglich der ersten Röntgenstrahlenquelle (10) auf einer zweiten Seite der longitudinalen Achse (X) des Abbildungssy stems gegenüber der ersten Seite der longitudinalen Achse (X) des Abbildungssystems positioniert ist;
einen dritten linearen Röntgenstrahlendetektor (70), der positioniert ist, um Röntgenstrahlen (136) aufzu fangen, die von der zweiten Röntgenstrahlenquelle (20) in einem dritten Winkel emittiert werden;
einen vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (50), der positioniert ist, um Röntgenstrahlen (134) aufzu fangen, die von der zweiten Röntgenstrahlenquelle (20) in einem vierten Winkel emittiert werden;
ein lineares Bewegungssystem (30), das zwischen der er sten und zweiten Röntgenstrahlenquelle (10, 20) und dem ersten, zweiten, dritten und vierten linearen Röntgen strahlendetektor (60, 40, 70, 50) positioniert ist, wo bei das lineare Bewegungssystem (30) ferner einen Trä ger (80, 84) für ein Testobjekt (140) aufweist, wobei das lineare Bewegungssystem (30) konfiguriert ist, um das Testobjekt (140) entlang der longitudinalen Achse (X) des Abbildungssystems durch die Röntgenstrahlen (130, 132, 134, 136) zu transportieren, die in dem er sten Winkel, in dem zweiten Winkel, in dem dritten Win kel und in dem vierten Winkel emittiert werden, und, nachdem sie durch das Testobjekt (140) gelaufen sind, von dem ersten linearen Röntgenstrahlendetektor (60), dem zweiten linearen Röntgenstrahlendetektor (40), dem dritten linearen Röntgenstrahlendetektor (70) bzw. dem vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (50) erfaßt werden, wodurch erste, zweite, dritte und vierte Schat tenbildabbildungen (360, 160, 460, 260) des Testobjekts (140) gebildet werden; und
ein Steuerungssystem (100), das mit dem linearen Bewe gungssystem (30) und dem ersten, zweiten, dritten und vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (60, 40, 70, 50) verbunden ist, wobei das Steuerungssystem (100) das lineare Bewegungssystem (30) und die Bildung der er sten, zweiten, dritten und vierten Schattenbildabbil dungen (360, 160, 460, 260) regelt, um eine Schicht bildaufnahme-Querschnittsabbildung (500) einer Schnitt ebene (152, 154, 156) des Testobjekts (140) zu erzeu gen.
eine erste Röntgenstrahlenquelle (10), die auf einer ersten Seite einer longitudinalen Achse (X) des Ab bildungssystems positioniert ist;
einen ersten linearen Röntgenstrahlendetektor (60), der positioniert ist, um Röntgenstrahlen (132) aufzufangen, die von der ersten Röntgenstrahlenquelle (10) in einem ersten Winkel emittiert werden;
einen zweiten linearen Röntgenstrahlendetektor (40), der positioniert ist, um Röntgenstrahlen (130) aufzufangen, die von der ersten Röntgenstrahlenquelle (10) in einem zweiten Winkel emittiert werden;
eine zweite Röntgenstrahlenquelle (20), die bezüglich der ersten Röntgenstrahlenquelle (10) auf einer zweiten Seite der longitudinalen Achse (X) des Abbildungssy stems gegenüber der ersten Seite der longitudinalen Achse (X) des Abbildungssystems positioniert ist;
einen dritten linearen Röntgenstrahlendetektor (70), der positioniert ist, um Röntgenstrahlen (136) aufzu fangen, die von der zweiten Röntgenstrahlenquelle (20) in einem dritten Winkel emittiert werden;
einen vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (50), der positioniert ist, um Röntgenstrahlen (134) aufzu fangen, die von der zweiten Röntgenstrahlenquelle (20) in einem vierten Winkel emittiert werden;
ein lineares Bewegungssystem (30), das zwischen der er sten und zweiten Röntgenstrahlenquelle (10, 20) und dem ersten, zweiten, dritten und vierten linearen Röntgen strahlendetektor (60, 40, 70, 50) positioniert ist, wo bei das lineare Bewegungssystem (30) ferner einen Trä ger (80, 84) für ein Testobjekt (140) aufweist, wobei das lineare Bewegungssystem (30) konfiguriert ist, um das Testobjekt (140) entlang der longitudinalen Achse (X) des Abbildungssystems durch die Röntgenstrahlen (130, 132, 134, 136) zu transportieren, die in dem er sten Winkel, in dem zweiten Winkel, in dem dritten Win kel und in dem vierten Winkel emittiert werden, und, nachdem sie durch das Testobjekt (140) gelaufen sind, von dem ersten linearen Röntgenstrahlendetektor (60), dem zweiten linearen Röntgenstrahlendetektor (40), dem dritten linearen Röntgenstrahlendetektor (70) bzw. dem vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (50) erfaßt werden, wodurch erste, zweite, dritte und vierte Schat tenbildabbildungen (360, 160, 460, 260) des Testobjekts (140) gebildet werden; und
ein Steuerungssystem (100), das mit dem linearen Bewe gungssystem (30) und dem ersten, zweiten, dritten und vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (60, 40, 70, 50) verbunden ist, wobei das Steuerungssystem (100) das lineare Bewegungssystem (30) und die Bildung der er sten, zweiten, dritten und vierten Schattenbildabbil dungen (360, 160, 460, 260) regelt, um eine Schicht bildaufnahme-Querschnittsabbildung (500) einer Schnitt ebene (152, 154, 156) des Testobjekts (140) zu erzeu gen.
2. Abbildungssystem, gekennzeichnet durch
eine erste Röntgenstrahlenquelle (10), die auf einer ersten Seite einer longitudinalen Achse (X) des Ab bildungssystems positioniert ist;
eine zweite Röntgenstrahlenquelle (20), die auf einer zweiten Seite der longitudinalen Achse (X) des Abbildungssystems positioniert ist;
einen ersten linearen Röntgenstrahlendetektor (60), der positioniert ist, um Röntgenstrahlen (132) aufzufangen, die von der ersten Röntgenstrahlenquelle (10) in einem ersten Winkel emittiert werden;
einen zweiten linearen Röntgenstrahlendetektor (40), der positioniert ist, um Röntgenstrahlen (130), die von der ersten Röntgenstrahlenquelle (10) in einem zweiten Winkel emittiert werden, aufzufangen;
einen dritten linearen Röntgenstrahlendetektor (70), der positioniert ist, um Röntgenstrahlen (136) aufzu fangen, die von der zweiten Röntgenstrahlenquelle (20) in einem dritten Winkel emittiert werden;
einen vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (50), der positioniert ist, um Röntgenstrahlen (134) aufzu fangen, die von der zweiten Röntgenstrahlenquelle (20) in einem vierten Winkel emittiert werden;
ein lineares Bewegungssystem (604, 612), an dem die er ste und die zweite Röntgenstrahlenquelle (10, 20) und der erste, zweite, dritte und vierte lineare Röntgen strahlendetektor (60, 40, 70, 50) befestigt sind, wobei das lineare Bewegungssystem (604, 612) ferner einen Weg aufweist, durch den ein stationäres Testobjekt (140) durchläuft, wobei das lineare Bewegungssystem (604, 612) konfiguriert ist, um die erste und die zweite Röntgenstrahlenquelle (10, 20) und den ersten, zweiten, dritten und vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (60, 40, 70, 50) an dem stationären Testobjekt (140) derart vorbei zu bewegen, daß die Röntgenstrahlen, die in dem ersten, zweiten, dritten und vierten Winkel (132, 130, 136, 134) emittiert werden, von dem ersten, zweiten, dritten bzw. vierten linearen Röntgenstrahlen detektor (60, 40, 70, 50) erfaßt werden, nachdem sie durch das stationäre Testobjekt (140) gelaufen sind, wodurch eine erste Schattenbildabbildung (360), eine zweite Schattenbildabbildung (160), eine dritte Schat tenbildabbildung (460) und eine vierte Schattenbildab bildung (260) des stationären Testobjekts (140) gebil det wird; und
ein Steuerungssystem (100), das mit dem linearen Bewe gungssystem (604, 612) und dem ersten, zweiten, dritten und vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (60, 40, 70, 50) verbunden ist, wobei das Steuerungssystem (100) das lineare Bewegungssystem (602, 612) und das Bilden der ersten, zweiten, dritten und vierten Schattenbild abbildungen (360, 160, 460, 260) steuert, um eine Schichtbildaufnahme-Querschnittsabbildung (500) einer Schnittebene (152, 154, 156) des stationären Test objekts (140) zu erzeugen.
eine erste Röntgenstrahlenquelle (10), die auf einer ersten Seite einer longitudinalen Achse (X) des Ab bildungssystems positioniert ist;
eine zweite Röntgenstrahlenquelle (20), die auf einer zweiten Seite der longitudinalen Achse (X) des Abbildungssystems positioniert ist;
einen ersten linearen Röntgenstrahlendetektor (60), der positioniert ist, um Röntgenstrahlen (132) aufzufangen, die von der ersten Röntgenstrahlenquelle (10) in einem ersten Winkel emittiert werden;
einen zweiten linearen Röntgenstrahlendetektor (40), der positioniert ist, um Röntgenstrahlen (130), die von der ersten Röntgenstrahlenquelle (10) in einem zweiten Winkel emittiert werden, aufzufangen;
einen dritten linearen Röntgenstrahlendetektor (70), der positioniert ist, um Röntgenstrahlen (136) aufzu fangen, die von der zweiten Röntgenstrahlenquelle (20) in einem dritten Winkel emittiert werden;
einen vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (50), der positioniert ist, um Röntgenstrahlen (134) aufzu fangen, die von der zweiten Röntgenstrahlenquelle (20) in einem vierten Winkel emittiert werden;
ein lineares Bewegungssystem (604, 612), an dem die er ste und die zweite Röntgenstrahlenquelle (10, 20) und der erste, zweite, dritte und vierte lineare Röntgen strahlendetektor (60, 40, 70, 50) befestigt sind, wobei das lineare Bewegungssystem (604, 612) ferner einen Weg aufweist, durch den ein stationäres Testobjekt (140) durchläuft, wobei das lineare Bewegungssystem (604, 612) konfiguriert ist, um die erste und die zweite Röntgenstrahlenquelle (10, 20) und den ersten, zweiten, dritten und vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (60, 40, 70, 50) an dem stationären Testobjekt (140) derart vorbei zu bewegen, daß die Röntgenstrahlen, die in dem ersten, zweiten, dritten und vierten Winkel (132, 130, 136, 134) emittiert werden, von dem ersten, zweiten, dritten bzw. vierten linearen Röntgenstrahlen detektor (60, 40, 70, 50) erfaßt werden, nachdem sie durch das stationäre Testobjekt (140) gelaufen sind, wodurch eine erste Schattenbildabbildung (360), eine zweite Schattenbildabbildung (160), eine dritte Schat tenbildabbildung (460) und eine vierte Schattenbildab bildung (260) des stationären Testobjekts (140) gebil det wird; und
ein Steuerungssystem (100), das mit dem linearen Bewe gungssystem (604, 612) und dem ersten, zweiten, dritten und vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (60, 40, 70, 50) verbunden ist, wobei das Steuerungssystem (100) das lineare Bewegungssystem (602, 612) und das Bilden der ersten, zweiten, dritten und vierten Schattenbild abbildungen (360, 160, 460, 260) steuert, um eine Schichtbildaufnahme-Querschnittsabbildung (500) einer Schnittebene (152, 154, 156) des stationären Test objekts (140) zu erzeugen.
3. Abbildungssystem gemäß Anspruch 1 oder 2, das ferner
folgende Merkmale aufweist:
einen ersten Kollimator (34), der bezüglich der ersten Röntgenstrahlenquelle (10) derart positioniert ist, daß der erste Kollimator (34) konfiguriert ist, um Röntgen strahlen (132), die von der ersten Röntgenstrahlenquel le (10) emittiert werden, zu dem ersten linearen Rönt genstrahlendetektor (60) zu richten, und um Röntgen strahlen, die sich in anderen Richtungen ausbreiten, zu blockieren;
einen zweiten Kollimator (32), der bezüglich der ersten Röntgenstrahlenquelle (10) derart positioniert ist, daß der zweite Kollimator (32) konfiguriert ist, um Rönt genstrahlen (130), die von der ersten Röntgenstrahlen quelle (10) emittiert werden, zu dem zweiten linearen Röntgenstrahlendetektor (40) zu richten und um Röntgen strahlen, die sich in anderen Richtungen ausbreiten, zu blockieren;
einen dritten Kollimator (38), der bezüglich der zwei ten Röntgenstrahlenquelle (20) derart positioniert ist, daß der dritte Kollimator (38) konfiguriert ist, um Röntgenstrahlen (136), die von der zweiten Röntgen strahlenquelle (20) emittiert werden, zu dem dritten linearen Röntgenstrahlendetektor (70) zu richten, und um Strahlen, die sich in anderen Richtungen ausbreiten, zu blockieren; und
einen vierten Kollimator (36), der bezüglich der zwei ten Röntgenstrahlenquelle (20) derart positioniert ist, daß der vierte Kollimator (36) konfiguriert ist, um Röntgenstrahlen (134), die von der zweiten Röntgen strahlenquelle (20) emittiert werden, zu dem vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (50) zu richten, und um Röntgenstrahlen, die sich in anderen Richtungen aus breiten, zu blockieren.
einen ersten Kollimator (34), der bezüglich der ersten Röntgenstrahlenquelle (10) derart positioniert ist, daß der erste Kollimator (34) konfiguriert ist, um Röntgen strahlen (132), die von der ersten Röntgenstrahlenquel le (10) emittiert werden, zu dem ersten linearen Rönt genstrahlendetektor (60) zu richten, und um Röntgen strahlen, die sich in anderen Richtungen ausbreiten, zu blockieren;
einen zweiten Kollimator (32), der bezüglich der ersten Röntgenstrahlenquelle (10) derart positioniert ist, daß der zweite Kollimator (32) konfiguriert ist, um Rönt genstrahlen (130), die von der ersten Röntgenstrahlen quelle (10) emittiert werden, zu dem zweiten linearen Röntgenstrahlendetektor (40) zu richten und um Röntgen strahlen, die sich in anderen Richtungen ausbreiten, zu blockieren;
einen dritten Kollimator (38), der bezüglich der zwei ten Röntgenstrahlenquelle (20) derart positioniert ist, daß der dritte Kollimator (38) konfiguriert ist, um Röntgenstrahlen (136), die von der zweiten Röntgen strahlenquelle (20) emittiert werden, zu dem dritten linearen Röntgenstrahlendetektor (70) zu richten, und um Strahlen, die sich in anderen Richtungen ausbreiten, zu blockieren; und
einen vierten Kollimator (36), der bezüglich der zwei ten Röntgenstrahlenquelle (20) derart positioniert ist, daß der vierte Kollimator (36) konfiguriert ist, um Röntgenstrahlen (134), die von der zweiten Röntgen strahlenquelle (20) emittiert werden, zu dem vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (50) zu richten, und um Röntgenstrahlen, die sich in anderen Richtungen aus breiten, zu blockieren.
4. Abbildungssystem gemäß Anspruch 1 oder 2,
bei dem der erste, zweite, dritte und vierte lineare
Röntgenstrahlendetektor (60, 40, 70, 50) ferner durch
monolithische, selbst-abtastende, lineare Photodioden
arrays gekennzeichnet sind.
5. Abbildungssystem gemäß Anspruch 4, ferner gekennzeich
net durch
ein Röntgenstrahlen-Szintillationsmaterial, das auf dem
ersten, zweiten, dritten und vierten linearen Photo
diodenarray-Röntgenstrahlendetektor aufgebracht ist.
6. Verfahren zum Erzeugen einer Querschnittsabbildung
(500) eines Objekts (140), gekennzeichnet durch
folgende Schritte:
Bereitstellen einer ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10), die auf einer ersten Seite einer longitudinalen Achse (X) eines linearen Bewegungssystems (30) posi tioniert ist;
Erfassen von Röntgenstrahlen (132), die von der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) erzeugt werden, mit ei nem ersten linearen Röntgenstrahlendetektor (60), nach dem die Röntgenstrahlen (132) aus einer ersten Winkel ausrichtung auf das Objekt (140) aufgetroffen sind und dasselbe durchdrungen haben;
Erfassen von Röntgenstrahlen (130), die von der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) erzeugt werden, mit ei nem zweiten linearen Röntgenstrahlendetektor (40), nachdem die Röntgenstrahlen (130) aus einer zweiten Winkelausrichtung auf das Objekt (140) aufgetroffen sind und dasselbe durchdrungen haben;
Bereitstellen einer zweiten Quelle von Röntgenstrahlen (20), die bezüglich der ersten Röntgenstrahlenquelle (10) auf einer zweiten Seite der longitudinalen Achse (X) des linearen Bewegungssystems (30) positioniert ist;
Erfassen von Röntgenstrahlen (136), die durch die zwei te Quelle von Röntgenstrahlen (20) erzeugt werden, mit einem dritten Röntgenstrahlendetektor (70), nachdem die Röntgenstrahlen (136) aus einer dritten Winkelausrich tung auf das Objekt (140) aufgetroffen sind und das selbe durchdrungen haben;
Erfassen von Röntgenstrahlen (134), die durch die zwei te Quelle von Röntgenstrahlen (20) erzeugt werden, mit einem vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (50), nachdem die Röntgenstrahlen (134) aus einer vierten Winkelausrichtung auf das Objekt (140) aufgetroffen sind und dasselbe durchdrungen haben;
Bewegen des Objekts (140) zwischen der ersten und zwei ten Quelle von Röntgenstrahlen (10, 20) und dem ersten, zweiten, dritten und vierten linearen Röntgenstrahlen detektor (60, 40, 70, 50) entlang eines im wesentlichen linearen Wegs, der im wesentlichen parallel zu der longitudinalen Achse (X) des linearen Bewegungssystems (30) ist;
Erzeugen einer ersten Röntgenstrahlen-Schattenbildab bildung (360) des Objekts (140) mit den Röntgenstrah len, die von dem ersten linearen Röntgenstrahlendetek tor (60) erfaßt werden, während das Objekt (140) den im wesentlichen linearen Weg zwischen der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) und dem ersten linearen Rönt genstrahlendetektor (60) durchquert;
Erzeugen einer zweiten Röntgenstrahlen-Schattenbildab bildung (160) des Objekts (140) mit den Röntgenstrah len, die von dem zweiten linearen Röntgenstrahlendetek tor (40) erfaßt werden, während das Objekt (140) den im wesentlichen linearen Weg zwischen der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) und dem zweiten linearen Rönt genstrahlendetektor (40) durchquert;
Erzeugen einer dritten Röntgenstrahlen-Schattenbildab bildung (460) des Objekts (140) mit den Röntgenstrah len, die von dem dritten linearen Röntgenstrahlendetek tor (70) erfaßt werden, während das Objekt (140) den im wesentlichen linearen Weg zwischen der zweiten Quelle von Röntgenstrahlen (20) und dem dritten linearen Rönt genstrahlendetektor (70) durchquert;
Erzeugen einer vierten Röntgenstrahlen-Schattenbildab bildung (260) des Objekts (140) mit den Röntgenstrah len, die von dem vierten linearen Röntgenstrahlendetek tor (50) erfaßt werden, während das Objekt (140) den im wesentlichen linearen Weg zwischen der zweiten Quelle von Röntgenstrahlen (20) und dem vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (50) durchquert; und
Kombinieren der ersten, der zweiten, der dritten und der vierten Röntgenstrahlen-Schattenbildabbildung (360, 160, 460, 260) des Objekts (140), um eine Querschnitts abbildung (500) des Objekts (140) zu bilden.
Bereitstellen einer ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10), die auf einer ersten Seite einer longitudinalen Achse (X) eines linearen Bewegungssystems (30) posi tioniert ist;
Erfassen von Röntgenstrahlen (132), die von der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) erzeugt werden, mit ei nem ersten linearen Röntgenstrahlendetektor (60), nach dem die Röntgenstrahlen (132) aus einer ersten Winkel ausrichtung auf das Objekt (140) aufgetroffen sind und dasselbe durchdrungen haben;
Erfassen von Röntgenstrahlen (130), die von der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) erzeugt werden, mit ei nem zweiten linearen Röntgenstrahlendetektor (40), nachdem die Röntgenstrahlen (130) aus einer zweiten Winkelausrichtung auf das Objekt (140) aufgetroffen sind und dasselbe durchdrungen haben;
Bereitstellen einer zweiten Quelle von Röntgenstrahlen (20), die bezüglich der ersten Röntgenstrahlenquelle (10) auf einer zweiten Seite der longitudinalen Achse (X) des linearen Bewegungssystems (30) positioniert ist;
Erfassen von Röntgenstrahlen (136), die durch die zwei te Quelle von Röntgenstrahlen (20) erzeugt werden, mit einem dritten Röntgenstrahlendetektor (70), nachdem die Röntgenstrahlen (136) aus einer dritten Winkelausrich tung auf das Objekt (140) aufgetroffen sind und das selbe durchdrungen haben;
Erfassen von Röntgenstrahlen (134), die durch die zwei te Quelle von Röntgenstrahlen (20) erzeugt werden, mit einem vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (50), nachdem die Röntgenstrahlen (134) aus einer vierten Winkelausrichtung auf das Objekt (140) aufgetroffen sind und dasselbe durchdrungen haben;
Bewegen des Objekts (140) zwischen der ersten und zwei ten Quelle von Röntgenstrahlen (10, 20) und dem ersten, zweiten, dritten und vierten linearen Röntgenstrahlen detektor (60, 40, 70, 50) entlang eines im wesentlichen linearen Wegs, der im wesentlichen parallel zu der longitudinalen Achse (X) des linearen Bewegungssystems (30) ist;
Erzeugen einer ersten Röntgenstrahlen-Schattenbildab bildung (360) des Objekts (140) mit den Röntgenstrah len, die von dem ersten linearen Röntgenstrahlendetek tor (60) erfaßt werden, während das Objekt (140) den im wesentlichen linearen Weg zwischen der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) und dem ersten linearen Rönt genstrahlendetektor (60) durchquert;
Erzeugen einer zweiten Röntgenstrahlen-Schattenbildab bildung (160) des Objekts (140) mit den Röntgenstrah len, die von dem zweiten linearen Röntgenstrahlendetek tor (40) erfaßt werden, während das Objekt (140) den im wesentlichen linearen Weg zwischen der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) und dem zweiten linearen Rönt genstrahlendetektor (40) durchquert;
Erzeugen einer dritten Röntgenstrahlen-Schattenbildab bildung (460) des Objekts (140) mit den Röntgenstrah len, die von dem dritten linearen Röntgenstrahlendetek tor (70) erfaßt werden, während das Objekt (140) den im wesentlichen linearen Weg zwischen der zweiten Quelle von Röntgenstrahlen (20) und dem dritten linearen Rönt genstrahlendetektor (70) durchquert;
Erzeugen einer vierten Röntgenstrahlen-Schattenbildab bildung (260) des Objekts (140) mit den Röntgenstrah len, die von dem vierten linearen Röntgenstrahlendetek tor (50) erfaßt werden, während das Objekt (140) den im wesentlichen linearen Weg zwischen der zweiten Quelle von Röntgenstrahlen (20) und dem vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (50) durchquert; und
Kombinieren der ersten, der zweiten, der dritten und der vierten Röntgenstrahlen-Schattenbildabbildung (360, 160, 460, 260) des Objekts (140), um eine Querschnitts abbildung (500) des Objekts (140) zu bilden.
7. Verfahren zum Erzeugen einer Querschnittsabbildung
(500) eines stationären Objekts (140) gekennzeichnet
durch folgende Schritte:
Bereitstellen einer ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10), die auf einer ersten Seite einer longitudinalen Achse (X) eines linearen Bewegungssystems (604, 612) po sitioniert ist;
Erfassen von Röntgenstrahlen (132), die von der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) erzeugt werden, mit ei nem ersten linearen Röntgenstrahlendetektor (60), nach dem die Röntgenstrahlen (132) aus einer ersten Winkel ausrichtung auf das stationäre Objekt (140) aufgetrof fen sind und dasselbe durchdrungen haben;
Erfassen von Röntgenstrahlen (130), die von der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) erzeugt werden, mit ei nem zweiten linearen Röntgenstrahlendetektor (40), nachdem die Röntgenstrahlen (130) aus einer zweiten Winkelausrichtung auf das stationäre Objekt (140) auf getroffen sind und dasselbe durchdrungen haben;
Bereitstellen einer zweiten Quelle von Röntgenstrahlen (20), die auf einer zweiten Seite der longitudinalen Achse (X) des linearen Bewegungssystems (604, 612) posi tioniert ist;
Erfassen von Röntgenstrahlen (136), die durch die zwei te Quelle von Röntgenstrahlen (20) erzeugt werden, mit einem dritten Röntgenstrahlendetektor (70), nachdem die Röntgenstrahlen (136) aus einer dritten Winkelausrich tung auf das Objekt (140) aufgetroffen sind und dassel be durchdrungen haben;
Erfassen von Röntgenstrahlen (134), die durch die zwei te Quelle von Röntgenstrahlen (20) erzeugt werden, mit einem vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (50), nachdem die Röntgenstrahlen (134) aus einer vierten Winkelausrichtung auf das Objekt (140) aufgetroffen sind und dasselbe durchdrungen haben;
Bewegen der ersten und der zweiten Quelle von Röntgen strahlen (10, 20) und des ersten, zweiten, dritten und vierten linearen Röntgenstrahlendetektors (60, 40, 70, 50) entlang eines im wesentlichen linearen Wegs an dem stationären Objekt (140) vorbei, derart, daß die Rönt genstrahlen (132, 130, 136, 134) der ersten und der zweiten Quelle von Röntgenstrahlen (10, 20) das sta tionäre Objekt (140) durchdringen und von dem ersten, zweiten, dritten und vierten linearen Röntgenstrahlen detektor (60, 40) erfaßt werden;
Erzeugen einer ersten Röntgenstrahlen-Schattenbildab bildung (360) des stationären Objekts (140) mit den Röntgenstrahlen, die von dem ersten linearen Röntgen strahlendetektor (60) erfaßt werden, während der erste lineare Röntgenstrahlendetektor (60) und die erste Quelle von Röntgenstrahlen (10) den im wesentlichen li nearen Weg an dem stationären Objekt (140) vorbei durchqueren;
Erzeugen einer zweiten Röntgenstrahlen-Schattenbildab bildung (160) des stationären Objekts (140) mit den Röntgenstrahlen, die von dem zweiten linearen Röntgen strahlendetektor (40) erfaßt werden, während der zweite lineare Röntgenstrahlendetektor (40) und die erste Quelle von Röntgenstrahlen (10) den im wesentlichen li nearen Weg an dem stationären Objekt (140) vorbei durchqueren;
Erzeugen einer dritten Röntgenstrahlen-Schattenbildab bildung (460) des Objekts (140) mit den Röntgenstrah len, die von dem dritten linearen Röntgenstrahlendetek tor (70) erfaßt werden, während der dritte lineare Röntgenstrahlendetektor (70) und die zweite Quelle von Röntgenstrahlen (20) den im wesentlichen linearen Weg an dem stationären Objekt (140) vorbei durchqueren;
Erzeugen einer vierten Röntgenstrahlen-Schattenbildab bildung (260) des Objekts (140) mit den Röntgenstrah len, die von dem vierten linearen Röntgenstrahlendetek tor (50) erfaßt werden, während der vierte lineare Röntgenstrahlendetektor (50) und die zweite Quelle von Röntgenstrahlen (20) den im wesentlichen linearen Weg an dem stationären Objekt (140) vorbei durchqueren; und
Kombinieren der ersten, der zweiten, der dritten und der vierten Röntgenstrahlen-Schattenbildabbildung (360, 160, 460, 260) des stationären Objekts (140), um eine Querschnittsabbildung (500) des stationären Objekts (140) zu bilden.
Bereitstellen einer ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10), die auf einer ersten Seite einer longitudinalen Achse (X) eines linearen Bewegungssystems (604, 612) po sitioniert ist;
Erfassen von Röntgenstrahlen (132), die von der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) erzeugt werden, mit ei nem ersten linearen Röntgenstrahlendetektor (60), nach dem die Röntgenstrahlen (132) aus einer ersten Winkel ausrichtung auf das stationäre Objekt (140) aufgetrof fen sind und dasselbe durchdrungen haben;
Erfassen von Röntgenstrahlen (130), die von der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) erzeugt werden, mit ei nem zweiten linearen Röntgenstrahlendetektor (40), nachdem die Röntgenstrahlen (130) aus einer zweiten Winkelausrichtung auf das stationäre Objekt (140) auf getroffen sind und dasselbe durchdrungen haben;
Bereitstellen einer zweiten Quelle von Röntgenstrahlen (20), die auf einer zweiten Seite der longitudinalen Achse (X) des linearen Bewegungssystems (604, 612) posi tioniert ist;
Erfassen von Röntgenstrahlen (136), die durch die zwei te Quelle von Röntgenstrahlen (20) erzeugt werden, mit einem dritten Röntgenstrahlendetektor (70), nachdem die Röntgenstrahlen (136) aus einer dritten Winkelausrich tung auf das Objekt (140) aufgetroffen sind und dassel be durchdrungen haben;
Erfassen von Röntgenstrahlen (134), die durch die zwei te Quelle von Röntgenstrahlen (20) erzeugt werden, mit einem vierten linearen Röntgenstrahlendetektor (50), nachdem die Röntgenstrahlen (134) aus einer vierten Winkelausrichtung auf das Objekt (140) aufgetroffen sind und dasselbe durchdrungen haben;
Bewegen der ersten und der zweiten Quelle von Röntgen strahlen (10, 20) und des ersten, zweiten, dritten und vierten linearen Röntgenstrahlendetektors (60, 40, 70, 50) entlang eines im wesentlichen linearen Wegs an dem stationären Objekt (140) vorbei, derart, daß die Rönt genstrahlen (132, 130, 136, 134) der ersten und der zweiten Quelle von Röntgenstrahlen (10, 20) das sta tionäre Objekt (140) durchdringen und von dem ersten, zweiten, dritten und vierten linearen Röntgenstrahlen detektor (60, 40) erfaßt werden;
Erzeugen einer ersten Röntgenstrahlen-Schattenbildab bildung (360) des stationären Objekts (140) mit den Röntgenstrahlen, die von dem ersten linearen Röntgen strahlendetektor (60) erfaßt werden, während der erste lineare Röntgenstrahlendetektor (60) und die erste Quelle von Röntgenstrahlen (10) den im wesentlichen li nearen Weg an dem stationären Objekt (140) vorbei durchqueren;
Erzeugen einer zweiten Röntgenstrahlen-Schattenbildab bildung (160) des stationären Objekts (140) mit den Röntgenstrahlen, die von dem zweiten linearen Röntgen strahlendetektor (40) erfaßt werden, während der zweite lineare Röntgenstrahlendetektor (40) und die erste Quelle von Röntgenstrahlen (10) den im wesentlichen li nearen Weg an dem stationären Objekt (140) vorbei durchqueren;
Erzeugen einer dritten Röntgenstrahlen-Schattenbildab bildung (460) des Objekts (140) mit den Röntgenstrah len, die von dem dritten linearen Röntgenstrahlendetek tor (70) erfaßt werden, während der dritte lineare Röntgenstrahlendetektor (70) und die zweite Quelle von Röntgenstrahlen (20) den im wesentlichen linearen Weg an dem stationären Objekt (140) vorbei durchqueren;
Erzeugen einer vierten Röntgenstrahlen-Schattenbildab bildung (260) des Objekts (140) mit den Röntgenstrah len, die von dem vierten linearen Röntgenstrahlendetek tor (50) erfaßt werden, während der vierte lineare Röntgenstrahlendetektor (50) und die zweite Quelle von Röntgenstrahlen (20) den im wesentlichen linearen Weg an dem stationären Objekt (140) vorbei durchqueren; und
Kombinieren der ersten, der zweiten, der dritten und der vierten Röntgenstrahlen-Schattenbildabbildung (360, 160, 460, 260) des stationären Objekts (140), um eine Querschnittsabbildung (500) des stationären Objekts (140) zu bilden.
8. Verfahren gemäß Anspruch 6 oder 7, das ferner durch
folgende Schritte gekennzeichnet ist:
Ausrichten der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) mit einem ersten Kollimator (34), der konfiguriert ist, um Röntgenstrahlen (132), die von der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) emittiert werden, zu dem ersten linearen Röntgenstrahlendetektor (60) zu richten, und um Röntgenstrahlen, die sich in anderen Richtungen aus breiten, zu blockieren;
Ausrichten der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) mit einem zweiten Kollimator (32), der konfiguriert ist, um Röntgenstrahlen (130), die von der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) emittiert werden, zu dem zweiten linearen Röntgenstrahlendetektor (40) zu rich ten, und um Röntgenstrahlen, die sich in anderen Rich tungen ausbreiten, zu blockieren;
Ausrichten der zweiten Quelle von Röntgenstrahlen (20) mit einem dritten Kollimator (38), der konfiguriert ist, um Röntgenstrahlen (136), die von der zweiten Quelle von Röntgenstrahlen (20) emittiert werden, zu dem dritten linearen Röntgenstrahlendetektor (70) zu richten, und um Röntgenstrahlen, die sich in anderen Richtungen ausbreiten, zu blockieren; und
Ausrichten der zweiten Quelle von Röntgenstrahlen (20) mit einem vierten Kollimator (36) der konfiguriert ist, um Röntgenstrahlen (134), die von der zweiten Quelle von Röntgenstrahlen (20) emittiert werden, zu dem vier ten linearen Röntgenstrahlendetektor (50) zu richten, und um Röntgenstrahlen, die sich in anderen Richtungen ausbreiten, zu blockieren.
Ausrichten der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) mit einem ersten Kollimator (34), der konfiguriert ist, um Röntgenstrahlen (132), die von der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) emittiert werden, zu dem ersten linearen Röntgenstrahlendetektor (60) zu richten, und um Röntgenstrahlen, die sich in anderen Richtungen aus breiten, zu blockieren;
Ausrichten der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) mit einem zweiten Kollimator (32), der konfiguriert ist, um Röntgenstrahlen (130), die von der ersten Quelle von Röntgenstrahlen (10) emittiert werden, zu dem zweiten linearen Röntgenstrahlendetektor (40) zu rich ten, und um Röntgenstrahlen, die sich in anderen Rich tungen ausbreiten, zu blockieren;
Ausrichten der zweiten Quelle von Röntgenstrahlen (20) mit einem dritten Kollimator (38), der konfiguriert ist, um Röntgenstrahlen (136), die von der zweiten Quelle von Röntgenstrahlen (20) emittiert werden, zu dem dritten linearen Röntgenstrahlendetektor (70) zu richten, und um Röntgenstrahlen, die sich in anderen Richtungen ausbreiten, zu blockieren; und
Ausrichten der zweiten Quelle von Röntgenstrahlen (20) mit einem vierten Kollimator (36) der konfiguriert ist, um Röntgenstrahlen (134), die von der zweiten Quelle von Röntgenstrahlen (20) emittiert werden, zu dem vier ten linearen Röntgenstrahlendetektor (50) zu richten, und um Röntgenstrahlen, die sich in anderen Richtungen ausbreiten, zu blockieren.
9. Verfahren gemäß Anspruch 6 oder 7,
bei dem die Schritte des Erfassens von Röntgenstrahlen
mit dem ersten, zweiten, dritten und vierten linearen
Röntgenstrahlendetektor (60, 40, 70, 50) ferner den
Schritt des Bereitstellens von Röntgenstrahlen-empfind
lichen, monolithischen, selbst-abtastenden, linearen
Photodiodenarrays aufweisen.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/419,794 US5583904A (en) | 1995-04-11 | 1995-04-11 | Continuous linear scan laminography system and method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19604802A1 DE19604802A1 (de) | 1996-10-24 |
DE19604802C2 true DE19604802C2 (de) | 2001-06-07 |
Family
ID=23663791
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19604802A Expired - Fee Related DE19604802C2 (de) | 1995-04-11 | 1996-02-09 | Abbildungssystem und Verfahren zum Erzeugen einer Querschnittsabbildung eines Objekts |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5583904A (de) |
JP (1) | JPH08328176A (de) |
DE (1) | DE19604802C2 (de) |
Families Citing this family (56)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5687209A (en) * | 1995-04-11 | 1997-11-11 | Hewlett-Packard Co. | Automatic warp compensation for laminographic circuit board inspection |
DE19756697A1 (de) * | 1997-12-19 | 1999-07-01 | Manfred Dr Ing Pfeiler | Vorrichtung zur Stückgut-Röntgentomosynthese |
US6236709B1 (en) | 1998-05-04 | 2001-05-22 | Ensco, Inc. | Continuous high speed tomographic imaging system and method |
US6314201B1 (en) | 1998-10-16 | 2001-11-06 | Agilent Technologies, Inc. | Automatic X-ray determination of solder joint and view delta Z values from a laser mapped reference surface for circuit board inspection using X-ray laminography |
US6201850B1 (en) * | 1999-01-26 | 2001-03-13 | Agilent Technologies, Inc. | Enhanced thickness calibration and shading correction for automatic X-ray inspection |
JP3926055B2 (ja) * | 1999-03-03 | 2007-06-06 | 株式会社ブリヂストン | タイヤの内部検査方法及び装置 |
US6628745B1 (en) * | 2000-07-01 | 2003-09-30 | Martin Annis | Imaging with digital tomography and a rapidly moving x-ray source |
US6825856B1 (en) | 2000-07-26 | 2004-11-30 | Agilent Technologies, Inc. | Method and apparatus for extracting measurement information and setting specifications using three dimensional visualization |
US6373917B1 (en) | 2000-08-30 | 2002-04-16 | Agilent Technologies, Inc. | Z-axis elimination in an X-ray laminography system using image magnification for Z plane adjustment |
US6671349B1 (en) | 2000-11-13 | 2003-12-30 | Olganix Corporation | Tomosynthesis system and registration method |
US6748046B2 (en) * | 2000-12-06 | 2004-06-08 | Teradyne, Inc. | Off-center tomosynthesis |
DE10102324A1 (de) * | 2001-01-19 | 2002-07-25 | Philips Corp Intellectual Pty | Röntgeneinrichtung für die Tomosynthese |
US6324249B1 (en) | 2001-03-21 | 2001-11-27 | Agilent Technologies, Inc. | Electronic planar laminography system and method |
JP2003156454A (ja) * | 2001-11-26 | 2003-05-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | X線検査装置とその制御方法と調整方法 |
US6853744B2 (en) * | 2001-12-14 | 2005-02-08 | Agilent Technologies, Inc. | System and method for confirming electrical connection defects |
US6847900B2 (en) * | 2001-12-17 | 2005-01-25 | Agilent Technologies, Inc. | System and method for identifying solder joint defects |
US6970531B2 (en) * | 2002-10-07 | 2005-11-29 | General Electric Company | Continuous scan RAD tomosynthesis system and method |
US6738450B1 (en) | 2002-12-10 | 2004-05-18 | Agilent Technologies, Inc. | System and method for cost-effective classification of an object under inspection |
GB0306259D0 (en) * | 2003-03-19 | 2003-04-23 | Pilkington Plc | Method to determine the optical quality of a glazing |
US7231013B2 (en) * | 2003-03-21 | 2007-06-12 | Agilent Technologies, Inc. | Precise x-ray inspection system utilizing multiple linear sensors |
US6895072B2 (en) | 2003-03-26 | 2005-05-17 | Heimann Systems Corp. | Apparatus and method for non-destructive inspection of material in containers |
GB0307345D0 (en) * | 2003-03-29 | 2003-05-07 | Pilkington Plc | Glazing inspection |
US7433507B2 (en) * | 2003-07-03 | 2008-10-07 | Ge Medical Systems Global Technology Co. | Imaging chain for digital tomosynthesis on a flat panel detector |
US7436991B2 (en) * | 2003-08-29 | 2008-10-14 | Agilent Technologies, Inc. | Image buffers and access schedules for image reconstruction systems |
US7200534B2 (en) * | 2005-03-07 | 2007-04-03 | Agilent Technologies, Inc. | Radiographic imaging systems and methods for designing same |
US7177391B2 (en) * | 2005-03-29 | 2007-02-13 | Surescan Corporation | Imaging inspection apparatus |
US7354197B2 (en) * | 2005-06-01 | 2008-04-08 | Endicott Interconnect Technologies, Inc. | Imaging inspection apparatus with improved cooling |
US7261466B2 (en) * | 2005-06-01 | 2007-08-28 | Endicott Interconnect Technologies, Inc. | Imaging inspection apparatus with directional cooling |
US7505554B2 (en) * | 2005-07-25 | 2009-03-17 | Digimd Corporation | Apparatus and methods of an X-ray and tomosynthesis and dual spectra machine |
US20070189460A1 (en) * | 2006-02-15 | 2007-08-16 | Buck Dean C | Precise x-ray inspection system |
US7319737B2 (en) * | 2006-04-07 | 2008-01-15 | Satpal Singh | Laminographic system for 3D imaging and inspection |
CN101071109B (zh) * | 2006-05-08 | 2010-05-12 | 清华大学 | 一种多段直线轨迹成像的货物安全检查系统 |
CN101074935B (zh) * | 2006-05-19 | 2011-03-23 | 清华大学 | 探测器阵列及设备 |
US20080089567A1 (en) * | 2006-10-11 | 2008-04-17 | Eliasson Tracy K | Artifact reduction in an x-ray imaging system |
EA010609B1 (ru) * | 2006-10-24 | 2008-10-30 | Закрытое Акционерное Общество "Рентгенпром" ( Зао "Рентгенпром") | Способ рентгеновского контроля объекта исследования и установка для его реализации |
CN101210895B (zh) * | 2006-12-28 | 2011-09-28 | 清华同方威视技术股份有限公司 | 一种双视角扫描辐射成像的方法及系统 |
US7529336B2 (en) | 2007-05-31 | 2009-05-05 | Test Research, Inc. | System and method for laminography inspection |
EP2165314B1 (de) * | 2007-06-06 | 2014-08-20 | De La Rue International Limited | Vorrichtung zum analysieren eines sicherheitsdokuments |
US8472676B2 (en) | 2007-06-06 | 2013-06-25 | De La Rue International Limited | Apparatus and method for analysing a security document |
WO2008149052A1 (en) * | 2007-06-06 | 2008-12-11 | De La Rue International Limited | Apparatus and method for analysing a security document |
CN101358936B (zh) * | 2007-08-02 | 2011-03-16 | 同方威视技术股份有限公司 | 一种利用双视角多能量透射图像进行材料识别的方法及系统 |
US8331525B2 (en) | 2007-10-01 | 2012-12-11 | Pratt & Whitney Rocketdyne, Inc. | Characteristic X-ray computed laminography system for home made explosives (HME) detection |
US20090232277A1 (en) * | 2008-03-14 | 2009-09-17 | General Electric Company | System and method for inspection of items of interest in objects |
JP5559471B2 (ja) * | 2008-11-11 | 2014-07-23 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出装置、放射線画像取得システム、放射線検査システム、及び放射線検出方法 |
US7986764B2 (en) * | 2008-12-08 | 2011-07-26 | Morpho Detection, Inc. | X-ray laminography device, object imaging system, and method for operating a security system |
US20110142201A1 (en) * | 2009-12-15 | 2011-06-16 | General Electric Company | Multi-view imaging system and method |
CN101839871B (zh) * | 2010-05-18 | 2011-12-28 | 华南理工大学 | 一种x射线分层摄影检测方法与系统 |
GB201010233D0 (en) | 2010-06-18 | 2010-07-21 | Univ Nottingham Trent | Improvements in or relating to sample analysis |
CN103558862B (zh) * | 2013-10-21 | 2017-04-05 | 华南理工大学 | 一种x射线物象点自主精密追踪控制系统及方法 |
JP6450075B2 (ja) * | 2014-02-24 | 2019-01-09 | アンリツインフィビス株式会社 | X線検査装置 |
JP6358812B2 (ja) * | 2014-02-24 | 2018-07-18 | アンリツインフィビス株式会社 | X線検査装置 |
JP6462228B2 (ja) * | 2014-03-28 | 2019-01-30 | アンリツインフィビス株式会社 | X線検査装置 |
WO2016176480A1 (en) | 2015-04-28 | 2016-11-03 | Delta Subsea Llc | Systems, apparatuses, and methods for monitoring undersea pipelines |
JP2020020730A (ja) * | 2018-08-03 | 2020-02-06 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | X線透過検査装置及びx線透過検査方法 |
US10684118B1 (en) * | 2019-04-09 | 2020-06-16 | Asm Technology Singapore Pte Ltd | Apparatus for determining an orientation of a die |
US11992350B2 (en) * | 2022-03-15 | 2024-05-28 | Sigray, Inc. | System and method for compact laminography utilizing microfocus transmission x-ray source and variable magnification x-ray detector |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4064440A (en) * | 1976-06-22 | 1977-12-20 | Roder Frederick L | X-ray or gamma-ray examination device for moving objects |
GB2084832A (en) * | 1980-10-04 | 1982-04-15 | Philips Nv | Fluoroscopy apparatus for forming sectional images of a three-dimensional object |
US4926452A (en) * | 1987-10-30 | 1990-05-15 | Four Pi Systems Corporation | Automated laminography system for inspection of electronics |
Family Cites Families (79)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2511853A (en) * | 1950-06-20 | Radiographic scanning unit | ||
US2720596A (en) * | 1955-10-11 | Spiral laminagraph | ||
US2259708A (en) * | 1937-06-14 | 1941-10-21 | Schiebold Ernst | Testing materials by x-ray |
BE468984A (de) * | 1939-11-02 | |||
US2667585A (en) * | 1951-02-15 | 1954-01-26 | Hartford Nat Bank & Trust Co | Device for producing screening images of body sections |
DE1033844B (de) * | 1951-09-04 | 1958-07-10 | Ialicenciaia Talalmanyokat Ert | Roentgenapparat fuer Bewegungsbestrahlung |
BE533316A (de) * | 1953-11-14 | |||
NL207028A (de) * | 1956-05-09 | |||
CH355225A (de) * | 1958-01-22 | 1961-06-30 | Foerderung Forschung Gmbh | Verfahren und Einrichtung zum Kontrollieren und Korrigieren der Lage des durch einen Kathodenstrahl erzeugten Brennflecks auf der Antikathode einer Röntgenröhre |
US3149257A (en) * | 1962-04-25 | 1964-09-15 | Dean E Wintermute | X-ray devices for use on the human body |
US3499146A (en) * | 1966-10-10 | 1970-03-03 | Albert G Richards | Variable depth laminagraphy with means for highlighting the detail of selected lamina |
US3780291A (en) * | 1971-07-07 | 1973-12-18 | American Science & Eng Inc | Radiant energy imaging with scanning pencil beam |
US3818220A (en) * | 1971-11-03 | 1974-06-18 | A Richards | Variable depth laminagraphy |
US3832546A (en) * | 1972-04-14 | 1974-08-27 | Xonics Inc | X-ray system with aligned source and slits |
DE2218384C3 (de) * | 1972-04-15 | 1980-03-20 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Holographisches Verfahren zur Herstellung eines dreidimensionalen Bildes aus einer Serie von zweidimensionalen Bildern unterschiedlicher Perspektive |
US3742229A (en) * | 1972-06-29 | 1973-06-26 | Massachusetts Inst Technology | Soft x-ray mask alignment system |
US3812288A (en) * | 1972-11-21 | 1974-05-21 | Edax Int Inc | Television display system |
US3928769A (en) * | 1973-03-19 | 1975-12-23 | Trw Inc | Laminographic instrument |
US3894234A (en) * | 1974-01-28 | 1975-07-08 | Us Navy | Radial scanner |
US3984684A (en) * | 1974-02-06 | 1976-10-05 | Douglas Fredwill Winnek | Three-dimensional radiography |
US3962579A (en) * | 1974-02-28 | 1976-06-08 | Douglas Fredwill Winnek | Three-dimensional radiography |
US4032785A (en) * | 1974-03-28 | 1977-06-28 | United States Steel Corporation | Tire inspection machine presenting an x-ray image of the entire width of the tire |
JPS5154793A (de) * | 1974-08-28 | 1976-05-14 | Emi Varian Ltd | |
US4007375A (en) * | 1975-07-14 | 1977-02-08 | Albert Richard D | Multi-target X-ray source |
GB1579341A (en) * | 1976-04-28 | 1980-11-19 | Emi Ltd | X-ray generating tubes |
FR2351422A1 (fr) * | 1976-05-14 | 1977-12-09 | Thomson Csf | Dispositif detecteur, localisateur solide d'impacts de rayonnement ionisants |
DE2647167A1 (de) * | 1976-10-19 | 1978-04-20 | Siemens Ag | Verfahren zur herstellung von schichtaufnahmen mit roentgen- oder aehnlich durchdringenden strahlen |
DE2658533A1 (de) * | 1976-12-23 | 1978-06-29 | Siemens Ag | Geraet zur darstellung von durchleuchtungs-koerperschichtbildern |
US4075489A (en) * | 1977-01-21 | 1978-02-21 | Simulation Physics | Method and apparatus involving the generation of x-rays |
US4130759A (en) * | 1977-03-17 | 1978-12-19 | Haimson Research Corporation | Method and apparatus incorporating no moving parts, for producing and selectively directing x-rays to different points on an object |
US4179100A (en) * | 1977-08-01 | 1979-12-18 | University Of Pittsburgh | Radiography apparatus |
US4139776A (en) * | 1977-09-22 | 1979-02-13 | Cgr Medical Corporation | System for circular and complex tomography |
US4234792A (en) * | 1977-09-29 | 1980-11-18 | Raytheon Company | Scintillator crystal radiation detector |
US4228353A (en) * | 1978-05-02 | 1980-10-14 | Johnson Steven A | Multiple-phase flowmeter and materials analysis apparatus and method |
US4260898A (en) * | 1978-09-28 | 1981-04-07 | American Science And Engineering, Inc. | X-ray imaging variable resolution |
US4211927A (en) * | 1978-11-24 | 1980-07-08 | Cgr Medical Corporation | Computerized tomography system |
US4392235A (en) * | 1979-08-16 | 1983-07-05 | General Electric Company | Electronically scanned x-ray tomography system |
US4287425A (en) * | 1979-12-31 | 1981-09-01 | Pfizer, Incorporated | Construction of a CT scanner using heavy ions or protons |
US4352021A (en) * | 1980-01-07 | 1982-09-28 | The Regents Of The University Of California | X-Ray transmission scanning system and method and electron beam X-ray scan tube for use therewith |
DE3010780A1 (de) * | 1980-03-20 | 1981-09-24 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Strahlendiagnostikeinrichtung |
US4400620A (en) * | 1980-06-26 | 1983-08-23 | Blum Alvin S | Photon emission tomographic apparatus |
DE3028996A1 (de) * | 1980-07-31 | 1982-03-04 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Kurzzeit-tomosyntheseanordnung |
US4414682A (en) * | 1980-11-17 | 1983-11-08 | American Science And Engineering, Inc. | Penetrating radiant energy imaging system with multiple resolution |
DE3070721D1 (en) * | 1980-12-18 | 1985-07-04 | Ibm | Process for inspecting and automatically classifying objects presenting configurations with dimensional tolerances and variable rejecting criteria depending on placement, apparatus and circuits therefor |
US4415980A (en) * | 1981-03-02 | 1983-11-15 | Lockheed Missiles & Space Co., Inc. | Automated radiographic inspection system |
US4426722A (en) * | 1981-03-12 | 1984-01-17 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | X-Ray microbeam generator |
US4385434A (en) * | 1981-06-08 | 1983-05-31 | Visidyne, Inc. | Alignment system |
DE3134076A1 (de) * | 1981-08-28 | 1983-03-10 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | "vorrichtung zur schichtweisen darstellung eines koerpers" |
US4472824A (en) * | 1982-08-04 | 1984-09-18 | The Perkin-Elmer Corporation | Apparatus for effecting alignment and spacing control of a mask and wafer for use in X-ray lithography |
US4491956A (en) * | 1982-09-10 | 1985-01-01 | Winnek Douglas Fredwill | Method and apparatus for making three-dimensional radiographs |
JPS59157505A (ja) * | 1983-02-28 | 1984-09-06 | Hitachi Ltd | パタ−ン検査装置 |
US5020086A (en) * | 1983-07-05 | 1991-05-28 | Ridge, Inc. | Microfocus X-ray system |
US4521902A (en) * | 1983-07-05 | 1985-06-04 | Ridge, Inc. | Microfocus X-ray system |
GB2149630A (en) * | 1983-09-20 | 1985-06-12 | British Gas Corp | Real time radiographic inspection |
US4575751A (en) * | 1983-11-15 | 1986-03-11 | Rca Corporation | Method and subsystem for plotting the perimeter of an object |
US4561104A (en) * | 1984-01-16 | 1985-12-24 | Honeywell Inc. | Automated inspection of hot steel slabs |
US4688241A (en) * | 1984-03-26 | 1987-08-18 | Ridge, Inc. | Microfocus X-ray system |
US4618970A (en) * | 1984-04-05 | 1986-10-21 | Imatron, Inc. | Beam positioning arrangement for use in a scanning electron beam computed tomography scanner and method |
US4731855A (en) * | 1984-04-06 | 1988-03-15 | Hitachi, Ltd. | Pattern defect inspection apparatus |
JPH0676975B2 (ja) * | 1984-09-26 | 1994-09-28 | 新技術事業団 | 表面原子配列構造の観察方法 |
JPS61293657A (ja) * | 1985-06-21 | 1986-12-24 | Matsushita Electric Works Ltd | 半田付け外観検査方法 |
JPH0646550B2 (ja) * | 1985-08-19 | 1994-06-15 | 株式会社東芝 | 電子ビ−ム定位置照射制御方法および電子ビ−ム定位置照射制御装置 |
JPH0680420B2 (ja) * | 1985-09-20 | 1994-10-12 | 株式会社日立製作所 | X線ct装置 |
JPH0678993B2 (ja) * | 1985-11-15 | 1994-10-05 | 株式会社日立メデイコ | X線ct装置 |
US4688939A (en) * | 1985-12-27 | 1987-08-25 | At&T Technologies, Inc. | Method and apparatus for inspecting articles |
US4720633A (en) * | 1986-01-17 | 1988-01-19 | Electro-Scan Corporation | Scanning electron microscope for visualization of wet samples |
DE3605141A1 (de) * | 1986-02-18 | 1987-08-20 | Messerschmitt Boelkow Blohm | Digitaler positionsgeber |
US4809308A (en) * | 1986-02-20 | 1989-02-28 | Irt Corporation | Method and apparatus for performing automated circuit board solder quality inspections |
US4803639A (en) * | 1986-02-25 | 1989-02-07 | General Electric Company | X-ray inspection system |
US4718075A (en) * | 1986-03-28 | 1988-01-05 | Grumman Aerospace Corporation | Raster scan anode X-ray tube |
US4730350A (en) * | 1986-04-21 | 1988-03-08 | Albert Richard D | Method and apparatus for scanning X-ray tomography |
US5081656A (en) * | 1987-10-30 | 1992-01-14 | Four Pi Systems Corporation | Automated laminography system for inspection of electronics |
US5097492A (en) * | 1987-10-30 | 1992-03-17 | Four Pi Systems Corporation | Automated laminography system for inspection of electronics |
FR2626432B1 (fr) * | 1988-01-25 | 1995-10-13 | Commissariat Energie Atomique | Appareil de tomographie a rayons x |
EP0336282B1 (de) * | 1988-04-08 | 1992-06-10 | Siemens Aktiengesellschaft | Plasma-Röntgenröhre, insbesondere zur Röntgen-Vorionisierung von Gaslasern, Verfahren zur Erzeugung von Röntgenstrahlung mit einer solchen Röntgenröhre und Verwendung letzterer |
US4852131A (en) * | 1988-05-13 | 1989-07-25 | Advanced Research & Applications Corporation | Computed tomography inspection of electronic devices |
US4977328A (en) * | 1989-03-02 | 1990-12-11 | U.S. Philips Corporation | Method of detecting a marker provided on a specimen |
US5259012A (en) * | 1990-08-30 | 1993-11-02 | Four Pi Systems Corporation | Laminography system and method with electromagnetically directed multipath radiation source |
US5199054A (en) * | 1990-08-30 | 1993-03-30 | Four Pi Systems Corporation | Method and apparatus for high resolution inspection of electronic items |
-
1995
- 1995-04-11 US US08/419,794 patent/US5583904A/en not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-02-09 DE DE19604802A patent/DE19604802C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-04-09 JP JP8086706A patent/JPH08328176A/ja not_active Ceased
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4064440A (en) * | 1976-06-22 | 1977-12-20 | Roder Frederick L | X-ray or gamma-ray examination device for moving objects |
GB2084832A (en) * | 1980-10-04 | 1982-04-15 | Philips Nv | Fluoroscopy apparatus for forming sectional images of a three-dimensional object |
US4926452A (en) * | 1987-10-30 | 1990-05-15 | Four Pi Systems Corporation | Automated laminography system for inspection of electronics |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
ROZIERE, G. et al.: Halbleiterbildaufnehmer für die Röntgentechnik, Elektronik 17/22.8.1986, S. 62-66 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5583904A (en) | 1996-12-10 |
JPH08328176A (ja) | 1996-12-13 |
DE19604802A1 (de) | 1996-10-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19604802C2 (de) | Abbildungssystem und Verfahren zum Erzeugen einer Querschnittsabbildung eines Objekts | |
DE19723074C2 (de) | Automatische Verwölbungskompensation für eine laminographische Schaltungsplatinenuntersuchung | |
DE4216929C2 (de) | Einrichtung zur Abbildung eines Gegenstandes mittels gestreuter Strahlung | |
DE60033723T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Abtasten eines Gegenstandes in einem rechnergestützten Tomographen | |
DE19946738B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Prüfen von elektrischen Verbindungen an einer Schaltungsplatine | |
DE4015180C2 (de) | ||
DE2708612A1 (de) | Vorrichtung zur gewinnung eines roentgenstrahlbildes in einer querschnittsebene eines objekts | |
DE19525605A1 (de) | Röntgen-Detektoranordnung mit verringertem effektivem Abstand | |
DE19526930A1 (de) | Detektorsignal-Integration von volumetrischen CT Scanner-Detektorarrays | |
CH563013A5 (de) | ||
DE2513137B2 (de) | Strahlendiagnostisches Gerät | |
DE102013108367A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Aufnahme von Durchstrahlungsbildern bei einer Computertomografie | |
CH616581A5 (de) | ||
EP0057957A1 (de) | Vorrichtung zur nichtmedizinischen Untersuchung eines Körpers | |
DE10351741A1 (de) | Präzises Röntgenüberprüfungssystem, das mehrere lineare Sensoren benutzt | |
DE19901901A1 (de) | Verfahren und Gerät zur Desensibilisierung von Einfallwinkelfehlern bei einer Mehrschnitt-Computer-Tomographie-Erfassungseinrichtung | |
DE19953613A1 (de) | CT-Gerät sowie Verfahren zum Betrieb eines CT-Geräts | |
DE10135873A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung für submillimeter-CT-Schnitte mit vergrößertem erfassten Gebiet | |
DE19756697A1 (de) | Vorrichtung zur Stückgut-Röntgentomosynthese | |
DE19913929A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Bestimmen von Eigenschaften einer Materialbahn | |
EP0578664B1 (de) | Einrichtung zur röntgenbestrahlung von objekten | |
EP0219897B1 (de) | Anordnung zum Erzeugen von Röntgenaufnahmen mittels eines Fotoleiters | |
DE4233830C2 (de) | Strahlpositionsmonitor | |
DE3825703A1 (de) | Roentgendiagnostikeinrichtung mit rechteckfoermiger detektoranordnung | |
DE10356601B4 (de) | Vorrichtung zur Röntgentomographie mit einem elektromagnetisch abgelenkten Elektronenstrahl |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: AGILENT TECHNOLOGIES, INC. (N.D.GES.D.STAATES DELA |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: AGILENT TECHNOLOGIES, INC. (N.D.GES.D. STAATES, US |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |