WO2024147218A1 - System and operation history management method - Google Patents

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WO2024147218A1
WO2024147218A1 PCT/JP2023/036064 JP2023036064W WO2024147218A1 WO 2024147218 A1 WO2024147218 A1 WO 2024147218A1 JP 2023036064 W JP2023036064 W JP 2023036064W WO 2024147218 A1 WO2024147218 A1 WO 2024147218A1
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健一 新保
裕 植松
忠信 鳥羽
巧 上薗
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株式会社日立製作所
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Abstract

The present invention can use state data of further reduced traffic to manage an operation history of an electronic apparatus or the like. A memory resource of an edge-side processor system stores threshold value information and an operation history generation program. The processor of the edge-side processor system transmits, to a server-side processor system, operation history information including threshold value IDs when an operation environment of the electronic apparatus is greater than the threshold value. A memory resource of a server-side processor system stores a cumulative failure rate calculation program and an operation history management program. For each threshold value class corresponding to each of the threshold value IDs, the processor of the server-side processor system calculates a cumulative failure rate based on a cumulative operation time with respect to the total operation time of the electronic apparatus under each operation environment, estimates the remaining life on the basis of the cumulative failure rate, and generates operation history management information including the remaining life and the cumulative operation time under a stress environment.

Description

システムおよび稼働履歴管理方法System and operation history management method
 本発明は、システムおよび稼働履歴管理方法に関する。本発明は2023年1月6日に出願された日本国特許の出願番号2023-001070の優先権を主張し、文献の参照による織り込みが認められる指定国については、その出願に記載された内容は参照により本出願に織り込まれる。 The present invention relates to a system and an operation history management method. The present invention claims priority to Japanese Patent Application No. 2023-001070 filed on January 6, 2023, and the contents of that application are incorporated by reference into this application in designated countries where incorporation by reference to literature is permitted.
 電子機器を扱う技術分野においては、サーキュラーエコノミーの実現にあたり、資源最適化を狙いとした電子機器(コンポーネント)の二次利用・リユースの拡大が想定されている。また、近年では、メンテナンス性や性能寿命(性能不足、低消費電力化)時のサポート性の向上を目的に、電子機器あるいは電子機器に搭載される電子部品のモジュール化が進み、モジュール単位での交換サービスが展開されつつある。 In the field of technology that handles electronic devices, it is expected that the secondary use and reuse of electronic devices (components) will expand with the aim of optimizing resources in order to realize a circular economy. In recent years, electronic devices and the electronic components installed in electronic devices have been modularized in order to improve maintainability and support during performance lifespans (performance deficiencies, low power consumption), and replacement services on a module basis are being developed.
 このようなことから、電子機器や電子部品は、今後、保守部品としてリユースされる場合や、別装置で二次利用される場合が増えて行くことが想定される。そのため、電子機器等は、製品性能や寿命の観点から、ライフサイクルを通じてどれくらいの時間、どのような環境下で稼働してきたか、という環境影響(ストレス影響)も含めた稼働履歴を把握管理し、事業者間で情報を共有することが重要と考えられる。 For these reasons, it is expected that electronic devices and electronic components will increasingly be reused as maintenance parts or used secondary in other devices in the future. For this reason, it is considered important to understand and manage the operating history of electronic devices, etc., from the perspective of product performance and lifespan, including the environmental impact (stress impact) of how long they have been operated throughout their life cycle and in what environment, and to share this information between businesses.
 一方で、例えば、複数の事業者が所有する膨大な数のエッジ機器や、各々のデータが繋がりを持つことで新しい価値を生み出すオープンな産業システムにおいては、管理対象の電子機器等の稼働履歴を把握管理するために、機器の状態データやセンサデータなどをリアルタイムで常時収集しようとすると、データ量や通信コストが膨大になる、という課題がある。 On the other hand, in open industrial systems where new value is created by connecting a huge number of edge devices owned by multiple businesses and the data from each device, there is an issue of huge data volumes and communication costs when trying to constantly collect device status data and sensor data in real time to understand and manage the operation history of the electronic devices being managed.
 なお、特許文献1には、装置から出力される状態データを取得し、指定部品の累積故障率を求める技術が開示されている。具体的には、特許文献1には、「在庫管理システムは、複数の装置と、複数の装置が接続された情報管理装置と、情報処理装置とを備える。情報処理装置は、複数の装置に使用されている同一仕様の個々の指定部品の標準駆動条件下における標準累積故障率に対して駆動条件による加速度を考慮したある時点の累積故障率を複数の装置に使用されている同一仕様の全ての指定部品について加算した値である累積故障率の総和を算出し、該算出した累積故障率の総和に基づいて指定部品の適正在庫数を導出する。」と記載されている。 Patent Document 1 discloses a technology for obtaining status data output from a device and calculating the cumulative failure rate of a specified part. Specifically, Patent Document 1 states that "the inventory management system includes a plurality of devices, an information management device to which the plurality of devices are connected, and an information processing device. The information processing device calculates the sum of cumulative failure rates, which is a value obtained by adding up the cumulative failure rate at a certain point in time that takes into account acceleration due to driving conditions to the standard cumulative failure rate under standard driving conditions for each specified part with the same specifications used in the plurality of devices, for all specified parts with the same specifications used in the plurality of devices, and derives the appropriate inventory number of the specified parts based on the calculated sum of cumulative failure rates."
特開2018-142256号公報JP 2018-142256 A
 特許文献1に記載のシステムでは、駆動状態を示すデータを装置から取得し、取得データを用いて算出した累積故障率をもとに部品の在庫数を決定している。しかしながら、同文献のシステムは、閉じられた環境下である工場内の装置から状態データを取得することを想定している。そのため、特許文献1のシステムでは、機器の状態データの収集にあたり、データ量や通信コストが膨大となる課題については考慮されていない。 In the system described in Patent Document 1, data indicating the operating status is acquired from the equipment, and the number of parts to be stocked is determined based on the cumulative failure rate calculated using the acquired data. However, the system in this document is designed to acquire status data from equipment inside a factory, which is a closed environment. As a result, the system in Patent Document 1 does not take into consideration the issue of huge amounts of data and communication costs when collecting equipment status data.
 本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、より通信量を低減した状態データを用いて電子機器等の稼働履歴を管理することを目的とする。 The present invention was made in consideration of the above problems, and aims to manage the operation history of electronic devices and the like using status data with reduced communication traffic.
 本願は、上記課題の少なくとも一部を解決する手段を複数含んでいるが、その例を挙げるならば、以下のとおりである。上記の課題を解決する本発明の一態様に係るシステムは、エッジ機器に搭載された、プロセッサおよびメモリリソースを含むエッジ側プロセッサシステムと、前記エッジ側プロセッサシステムと通信可能であり、サーバ計算機に搭載された、プロセッサおよびメモリリソースを含むサーバ側プロセッサシステムと、を有するシステムであって、前記エッジ側プロセッサシステムの前記メモリリソースは、少なくとも、電子機器または電子部品の故障までの期間を速める所定の劣化要因に対応するしきい値が登録されているしきい値情報と、稼働履歴生成プログラムと、を記憶し、前記稼働履歴生成プログラムを実行することで、前記エッジ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:前記電子機器または電子部品の稼働環境が前記しきい値を超えた場合、当該しきい値を識別するしきい値IDを含む稼働履歴情報を生成し、生成した前記稼働履歴情報を前記サーバ側プロセッサシステムに送信し、前記サーバ側プロセッサシステムの前記メモリリソースは、少なくとも、累積故障率算出プログラムと、稼働履歴管理プログラムと、を記憶し、前記累積故障率算出プログラムを実行することで、前記サーバ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:前記しきい値IDに対応するしきい値区分ごとに、前記電子機器または電子部品の総稼働時間に対する各稼働環境下での累積稼働時間を算出し、前記累積稼働時間に基づき前記電子機器または電子部品の累積故障率を算出し、前記累積故障率と、製品寿命と、に基づき、前記電子機器または電子部品の余寿命を推定し、前記稼働履歴管理プログラムを実行することで、前記サーバ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:前記余寿命と、前記稼働環境のうち少なくともストレス環境下での前記累積稼働時間と、を含む稼働履歴管理情報を生成する。 The present application includes multiple means for solving at least a portion of the above-mentioned problems, examples of which are as follows: A system according to one aspect of the present invention for solving the above-mentioned problems comprises an edge-side processor system mounted on an edge device, including a processor and memory resources, and a server-side processor system mounted on a server computer, capable of communicating with the edge-side processor system, including a processor and memory resources, wherein the memory resource of the edge-side processor system stores at least threshold value information in which threshold values corresponding to predetermined degradation factors that shorten the time until failure of an electronic device or electronic component are registered, and an operation history generation program, and by executing the operation history generation program, the processor of the edge-side processor system: when the operating environment of the electronic device or electronic component exceeds the threshold value, generates operation history information including a threshold value ID that identifies the threshold value, and to the server-side processor system, the memory resource of the server-side processor system stores at least a cumulative failure rate calculation program and an operation history management program, and by executing the cumulative failure rate calculation program, the processor of the server-side processor system: calculates the cumulative operation time under each operation environment relative to the total operation time of the electronic device or electronic component for each threshold category corresponding to the threshold ID, calculates the cumulative failure rate of the electronic device or electronic component based on the cumulative operation time, estimates the remaining life of the electronic device or electronic component based on the cumulative failure rate and product life, and by executing the operation history management program, the processor of the server-side processor system: generates operation history management information including the remaining life and the cumulative operation time under at least a stress environment of the operation environment.
 本発明によれば、より通信量を低減した状態データを用いて電子機器等の稼働履歴を管理することができる。 According to the present invention, it is possible to manage the operation history of electronic devices, etc., using status data with reduced communication traffic.
エッジ側プロセッサシステムの概略構成の一例を示した図である。FIG. 1 is a diagram illustrating an example of a schematic configuration of an edge-side processor system. しきい値情報の一例を示した図である。FIG. 11 is a diagram illustrating an example of threshold information. サーバ側プロセッサシステムの概略構成の一例を示した図である。FIG. 1 is a diagram illustrating an example of a schematic configuration of a server-side processor system. システムの処理の概要例を示した図である。FIG. 2 is a diagram showing an example of an outline of the processing of the system. 稼働履歴情報の生成処理の一例を示したフロー図である。FIG. 11 is a flow diagram illustrating an example of a process for generating operation history information. 図6(a)は、稼働履歴情報の一例を示した図である。図6(b)は、稼働履歴情報の送信履歴の一例を示した図である。Fig. 6(a) is a diagram showing an example of operation history information, and Fig. 6(b) is a diagram showing an example of a transmission history of operation history information. イベントの発生タイミングと稼働環境の変化との関係の一例を示した図である。1 is a diagram illustrating an example of a relationship between an event occurrence timing and a change in an operating environment. 稼働履歴管理情報の生成処理の一例を示したフロー図である。FIG. 11 is a flow diagram illustrating an example of a process for generating operation history management information. 稼働履歴管理情報の生成処理における具体的な計算内容の一例を示した図である。11 is a diagram showing an example of specific calculation contents in a generation process of operation history management information. FIG. 図10(a)は、製品寿命内での余寿命の推定グラフを示した図である。図10(b)は、製品寿命以降の余寿命の推定グラフを示した図である。Fig. 10(a) is a graph showing an estimation of remaining life within the product life, and Fig. 10(b) is a graph showing an estimation of remaining life after the product life. 稼働履歴管理情報の一例を示した図である。FIG. 2 is a diagram showing an example of operation history management information. 第二実施形態に係る稼働履歴情報の送信履歴の一例を示した図である。FIG. 11 is a diagram showing an example of a transmission history of operation history information according to the second embodiment. 図13(a)は、劣化要因が温度の場合のイベント発生タイミングと稼働環境の変化との関係の一例を示した図である。図13(b)は、劣化要因が振動の場合のイベント発生タイミングと稼働環境の変化との関係の一例を示した図である。13A and 13B are diagrams showing an example of the relationship between the event occurrence timing and the change in the operating environment when the deterioration factor is temperature and vibration, respectively. 第二実施形態に係る稼働履歴管理情報の生成処理における累積故障率の具体的な計算内容の一例を示した図である。13 is a diagram showing an example of specific calculation contents of a cumulative failure rate in the generation process of operation history management information according to the second embodiment. FIG. 特徴値算出処理の概要例を示した図である。FIG. 13 is a diagram showing an example of an outline of a feature value calculation process. フリート事業者や中古車販売業者向けのサービス形態の一例を示した図である。FIG. 1 is a diagram showing an example of a service form for fleet operators and used car dealers. リユース・二次利用ベンダ向けのサービス形態の一例を示した図である。FIG. 13 is a diagram showing an example of a service form for reuse/secondary use vendors. 製造会社(OEM)やリユース・二次利用ベンダ向けのサービス形態の一例を示した図である。FIG. 13 is a diagram showing an example of a service format for manufacturing companies (OEMs) and reuse/secondary use vendors.
 以下、本発明の各実施形態について図面を用いて説明する。 Each embodiment of the present invention will be explained below with reference to the drawings.
 <システムの概略構成>
 本システムは、サーバ計算機のプロセッサシステム(以下、「サーバ側プロセッサシステム」という場合がある)と、電子機器や電子部品が搭載されているエッジ機器(例えば、自動車や鉄道などの移動体、家電あるいは医療機器など)が有するプロセッサシステム(以下、「エッジ側プロセッサシステム」という場合がある)と、から構成されている。また、サーバ側プロセッサシステムと、エッジ側プロセッサシステムとは、所定の通信ネットワーク(例えば、インターネット、LAN(Local Area Network)あるいはWAN(Wide Area Network)など)により相互通信可能に接続されている。
<System Overview>
This system is composed of a processor system of a server computer (hereinafter sometimes referred to as a "server-side processor system") and a processor system (hereinafter sometimes referred to as an "edge-side processor system") of an edge device (e.g., a mobile object such as an automobile or train, a home appliance, or a medical device) equipped with electronic devices and electronic components. The server-side processor system and the edge-side processor system are connected to each other so as to be able to communicate with each other via a predetermined communication network (e.g., the Internet, a LAN (Local Area Network), or a WAN (Wide Area Network)).
 本システムは、エッジ機器に搭載されている電子機器や電子部品ついて、これらの電子機器等が標準環境やストレス環境でどのくらいの時間稼働していたか、という環境影響を含めた稼働履歴の把握管理に用いられる。 This system will be used to understand and manage the operating history of electronic devices and electronic components installed in edge devices, including the environmental impacts, such as how long these devices have been operating in standard and stressed environments.
 具体的には、本システムは、電子機器等について、通常環境やストレス環境といった各環境下での累積稼働時間に基づき累積故障率を算出する。また、本システムは、算出した累積故障率と製品寿命とに基づいて電子機器等の余寿命を算出し、各環境下における稼働時間および余寿命を登録した稼働履歴管理情報を生成する。 Specifically, the system calculates the cumulative failure rate of electronic devices, etc., based on the cumulative operating time in each environment, such as a normal environment or a stress environment. The system also calculates the remaining life of electronic devices, etc., based on the calculated cumulative failure rate and product life, and generates operation history management information that registers the operating time and remaining life in each environment.
 より具体的には、エッジ側プロセッサシステムは、電子機器等に接続されているセンサ(例えば、温度センサ)から取得したセンサ情報(温度を示すセンサ値)に基づき、電子機器等の稼働環境(例えば、電子機器あるいは電子機器の周辺温度など)を検知する。また、エッジ側プロセッサシステムは、電子機器の稼働環境が所定のしきい値を跨いだ(超えた)場合、すなわち、稼働環境に対応するしきい値区分が変化した場合、変化後のしきい値区分に関する情報を含む稼働履歴情報を生成し、サーバ側プロセッサシステムに送信する。 More specifically, the edge-side processor system detects the operating environment of the electronic device, etc. (e.g., the temperature of the electronic device or the surrounding area of the electronic device, etc.) based on sensor information (sensor value indicating temperature) obtained from a sensor (e.g., a temperature sensor) connected to the electronic device, etc. Furthermore, when the operating environment of the electronic device crosses (exceeds) a predetermined threshold, i.e., when the threshold classification corresponding to the operating environment changes, the edge-side processor system generates operation history information including information on the threshold classification after the change and transmits it to the server-side processor system.
 また、サーバ側プロセッサシステムは、取得した稼働履歴情報に基づき電子機器等の総稼働時間に対する稼働環境ごと(しきい値区分ごと)の累積稼働時間の割合を算出し、これを用いて電子機器等の累積故障率を算出する。 The server-side processor system also calculates the ratio of the cumulative operating time for each operating environment (for each threshold classification) to the total operating time of the electronic devices, etc. based on the acquired operating history information, and uses this to calculate the cumulative failure rate of the electronic devices, etc.
 また、サーバ側プロセッサシステムは、製品寿命と累積故障率との比較に基づき電子機器等の余寿命を算出する。また、サーバ側プロセッサシステムは、標準環境およびストレス環境の各々の累積稼働時間と、余寿命と、を対応付けて登録した稼働履歴管理情報を生成する。 The server-side processor system also calculates the remaining lifespan of electronic devices, etc. based on a comparison between the product lifespan and the cumulative failure rate. The server-side processor system also generates operation history management information that associates and registers the cumulative operation time in the standard environment and the stress environment with the remaining lifespan.
 また、本システムは、エッジ側プロセッサシステムにフィードバックされた稼働履歴管理情報と、最新の稼働履歴情報と、を用いて特徴値を生成し、エッジ側プロセッサシステムで算出された特徴値と、サーバ側プロセッサシステムで算出された特徴値と、の比較に基づき、エッジ側プロセッサシステムにおける稼働履歴管理情報の改ざんを検知する。 In addition, this system generates a feature value using the operation history management information fed back to the edge-side processor system and the latest operation history information, and detects tampering with the operation history management information in the edge-side processor system based on a comparison between the feature value calculated in the edge-side processor system and the feature value calculated in the server-side processor system.
 このような本システムによれば、より通信量を低減した状態データを用いて電子機器等の稼働履歴を管理することができる。特に、エッジ側プロセッサシステムからサーバ側プロセッサシステムに送信される稼働履歴情報は、しきい値区分を用いて電子機器等の稼働環境を表すことで簡略化され、そのデータ量が低減されている。また、稼働履歴情報は、生成時にのみサーバ側プロセッサシステムに送られるため、通信回数が低減されている。そのため、本システムでは、エッジ機器とサーバ計算機との間の通信量およびそれに伴う通信コストの低減に寄与することができる。  With this system, the operation history of electronic devices and the like can be managed using status data with reduced communication traffic. In particular, the operation history information sent from the edge-side processor system to the server-side processor system is simplified by using threshold classifications to represent the operating environment of the electronic devices and the like, reducing the amount of data. In addition, because the operation history information is sent to the server-side processor system only when it is generated, the number of communications is reduced. As a result, this system can contribute to reducing the amount of communication traffic between edge devices and server computers and the associated communication costs.
 また、本システムは、稼働履歴の改ざんを検知することができるため、例えば、二次利用・リユース時といった電子機器を搭載したエッジ機器の所有者が変更される際に生じ得る稼働履歴の改ざん防止に寄与することができる。 In addition, because this system can detect tampering with operation history, it can help prevent tampering with operation history that can occur when the owner of edge devices equipped with electronic devices changes, for example, during secondary use or reuse.
 以下では、エッジ側プロセッサシステムおよびサーバ側プロセッサシステムの各構成および処理について詳細に説明する。なお、エッジ側プロセッサシステムが搭載されるエッジ機器は特に限定されないが、以下では、自動車の場合を一例に挙げて以下の説明を行う。 The following describes in detail the configurations and processes of the edge-side processor system and the server-side processor system. Note that the edge device on which the edge-side processor system is mounted is not particularly limited, but the following description will be given using an automobile as an example.
 <エッジ側プロセッサシステム100の構成>
 図1は、エッジ側プロセッサシステム100の概略構成の一例を示した図である。エッジ側プロセッサシステム100は、外部装置10(サーバ側プロセッサシステムを含む)との情報通信に基づき、様々な情報(稼働履歴情報を含む)を外部装置10に送信するプロセッサシステムである。
<Configuration of edge-side processor system 100>
1 is a diagram showing an example of a schematic configuration of an edge-side processor system 100. The edge-side processor system 100 is a processor system that transmits various information (including operation history information) to an external device 10 (including a server-side processor system) based on information communication with the external device 10.
 <<外部装置10(サーバ側プロセッサシステムを含む)>>
 エッジ側プロセッサシステム100から見た場合の外部装置10には、サーバ側プロセッサシステムが含まれる。外部装置10は、エッジ側プロセッサシステム100で実行される処理に用いられる情報を収集し、当該プロセッサシステム100に送信する。また、外部装置10は、エッジ側プロセッサシステム100から送信された情報を取得し、当該情報を用いて様々な処理を実行する。
<<External Device 10 (including Server Side Processor System)>>
The external device 10 when viewed from the edge-side processor system 100 includes a server-side processor system. The external device 10 collects information used in processing executed in the edge-side processor system 100 and transmits the information to the processor system 100. The external device 10 also acquires information transmitted from the edge-side processor system 100 and executes various processes using the information.
 <<エッジ側プロセッサシステム100の詳細>>
 エッジ側プロセッサシステム100は、メモリリソース30に格納されている各種プログラムおよび情報をプロセッサ20が読み込むことにより、稼働履歴情報の生成処理など各種の処理を実行する。
<<Details of the Edge Side Processor System 100>>
The edge-side processor system 100 executes various processes, such as generating operation history information, by the processor 20 reading various programs and information stored in the memory resource 30.
 なお、エッジ側プロセッサシステム100は、一例として、ECU(Electronic Control Unit)といった電子機器や、ECUに内蔵されているチップ(電子部品)に実装されて実現される。すなわち、エッジ側プロセッサシステム100は、電子機器や電子部品に組み込まれることで、これらの電子機器等が有するプロセッサやメモリなどのリソースを自身のプロセッサ20およびメモリリソース30として使用する。 The edge-side processor system 100 is implemented, for example, in an electronic device such as an ECU (Electronic Control Unit) or a chip (electronic component) built into the ECU. In other words, the edge-side processor system 100 is incorporated into an electronic device or electronic component, and uses resources such as the processor and memory of these electronic devices as its own processor 20 and memory resource 30.
 なお、エッジ側プロセッサシステム100の実装先は、特に限定されるものではない。例えば、エッジ側プロセッサシステム100は、エッジ機器に搭載されている各種の電子機器、電子部品およびセンサ(例えば、温度センサなど)から出力された情報を取得でき、自身で生成した稼働履歴情報をサーバ側プロセッサシステムに送信可能な他のECU、当該他のECUの内蔵チップ、ユニット(例えば、通信ユニットを含む)または装置に実装されても良い。 The location where the edge-side processor system 100 is implemented is not particularly limited. For example, the edge-side processor system 100 may be implemented in another ECU, an internal chip of the other ECU, a unit (including, for example, a communication unit), or a device that can acquire information output from various electronic devices, electronic components, and sensors (e.g., a temperature sensor) mounted on the edge device and transmit operation history information generated by itself to the server-side processor system.
 あるいは、エッジ側プロセッサシステム100は、電子機器等に実装される形態ではなく、エッジ機器内において独立したプロセッサやメモリリソースを有するプロセッサシステムとして実現されても良い。以下では、エッジ側プロセッサシステム100がECU(電子機器)に実装されている場合を例に説明する。 Alternatively, the edge-side processor system 100 may be realized as a processor system having independent processors and memory resources within an edge device, rather than being implemented in an electronic device, etc. The following describes an example in which the edge-side processor system 100 is implemented in an ECU (electronic device).
 図示するように、エッジ側プロセッサシステム100は、プロセッサ20と、メモリリソース30と、NI(Network Interface Device)40と、を有している。なお、エッジ側プロセッサシステム100は、サーバ側プロセッサシステムと同様に、UI(User Interface Device)を備えていても良い。 As shown in the figure, the edge-side processor system 100 has a processor 20, a memory resource 30, and an NI (Network Interface Device) 40. Note that the edge-side processor system 100 may also have a UI (User Interface Device) like the server-side processor system.
 プロセッサ20は、メモリリソース30に格納されている各種プログラムを読み込んで、各プログラムに対応する処理を実行する演算装置である。なお、プロセッサ20は、マイクロプロセッサ、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、FPGA(Field Programmable Gate Array)、あるいはその他の演算できる半導体デバイス等が一例として挙げられる。 The processor 20 is an arithmetic device that reads various programs stored in the memory resource 30 and executes the processing corresponding to each program. Examples of the processor 20 include a microprocessor, a CPU (Central Processing Unit), a GPU (Graphics Processing Unit), an FPGA (Field Programmable Gate Array), or other semiconductor devices capable of performing calculations.
 メモリリソース30は、各種情報を記憶する記憶装置である。具体的には、メモリリソース30は、例えばRAM(Random Access Memory)やROM(Read Only Memory)などの不揮発性あるいは揮発性の記憶媒体である。なお、メモリリソース30は、例えばフラッシュメモリ、ハードディスクあるいはSSD(Solid State Drive)などの書き換え可能な記憶媒体や、USB(Universal Serial Bus)メモリ、メモリカードおよびハードディスクであっても良い。 Memory resource 30 is a storage device that stores various information. Specifically, memory resource 30 is a non-volatile or volatile storage medium such as RAM (Random Access Memory) or ROM (Read Only Memory). Note that memory resource 30 may also be a rewritable storage medium such as a flash memory, a hard disk, or an SSD (Solid State Drive), or a USB (Universal Serial Bus) memory, a memory card, or a hard disk.
 NI40は、外部装置10との間で情報通信を行う通信装置である。NI40は、所定の通信ネットワークNを介して外部装置10との間で情報通信を行う。また、NI40は、各種センサ60と情報通信を行う。また、NI40は、例えば、CAN(Controller Area Network)70を介して、GPS(Global Positioning System)受信装置80と情報通信を行う。 The NI 40 is a communication device that communicates information with the external device 10. The NI 40 communicates information with the external device 10 via a specific communication network N. The NI 40 also communicates information with various sensors 60. The NI 40 also communicates information with a GPS (Global Positioning System) receiver 80, for example, via a CAN (Controller Area Network) 70.
 また、NI40は、エッジ機器が通信ユニットを有する場合には、当該通信ユニットを介して、外部装置10との間で情報通信を行う。なお、以下で特に言及しない場合、エッジ側プロセッサシステム100と外部装置10との情報通信は、NI40を介して実行されているものとする。 Furthermore, if the edge device has a communication unit, the NI 40 communicates information with the external device 10 via the communication unit. Unless otherwise specified below, it is assumed that information communication between the edge-side processor system 100 and the external device 10 is performed via the NI 40.
 また、エッジ側プロセッサシステム100の各構成、機能、処理手段等は、それらの一部または全部を、例えば集積回路で設計する等によりハードウェアで実現しても良い。また、エッジ側プロセッサシステム100は、各機能の一部または全部を、ソフトウェアにより実現することもできるし、ソフトウェアとハードウェアとの協働により実現することもできる。また、エッジ側プロセッサシステム100は、固定的な回路を有するハードウェアを用いても良いし、少なくとも一部の回路を変更可能なハードウェアを用いてもよい。 Furthermore, each configuration, function, processing means, etc. of the edge-side processor system 100 may be realized in part or in whole by hardware, for example by designing it as an integrated circuit. Furthermore, the edge-side processor system 100 may realize each function in part or in whole by software, or by a combination of software and hardware. Furthermore, the edge-side processor system 100 may use hardware having fixed circuits, or may use hardware having at least some of the circuits that are changeable.
 また、エッジ側プロセッサシステム100は、UI51を有する場合、各プログラムにより実現される機能や処理の一部または全部をユーザ(オペレータ)が実施することで、システムを実現することもできる。なお、エッジ側プロセッサシステム100は、当該プロセッサシステムの代わりにシステム外部のスマートフォンやタブレット等のプロセッサシステム(外部プロセッサシステムと呼ぶ)に、ユーザへの出力処理や、ユーザからの入力処理の一部を任せる場合がある。このような場合、エッジ側プロセッサシステム100(又はそのプロセッサ20、プログラム)は、各処理やプログラムの他の部分を実行するために、以下を行っても良い。 In addition, if the edge-side processor system 100 has a UI 51, the system can be realized by having a user (operator) execute some or all of the functions and processes realized by each program. Note that the edge-side processor system 100 may entrust output processing to the user and some of the input processing from the user to a processor system outside the system (called an external processor system) such as a smartphone or tablet instead of the processor system itself. In such cases, the edge-side processor system 100 (or its processor 20, program) may do the following to execute each process or other parts of the program.
 UI51を用いたユーザへの出力の代わりとして、NI40を介して外部プロセッサシステムに、ユーザへの出力に必要なデータの送信をする。当該データの例としては、出力するデータそのもの、出力データを別プロセッサシステムで生成するためのデータが考えられるが、外部プロセッサシステムでユーザ出力を行う処理が記述されたプログラムやWebデータであっても良い。 Instead of outputting to the user using UI 51, data required for outputting to the user is sent to the external processor system via NI 40. Examples of such data include the data to be output itself, and data for generating output data in another processor system, but it may also be a program or web data that describes the process of performing user output in the external processor system.
 また、エッジ側プロセッサシステム100は、UI51を用いたユーザからの入力又は操作受信の代わりとして、NI40を介して外部プロセッサシステムから、ユーザ入力又は操作を示すデータを受信する。別な視点では、ユーザへのデータ出力の意味は、エッジ側プロセッサシステム100自身が行うことも含む以外に、当該プロセッサシステム100以外の別の存在に当該データ出力をさせる(使役)ことを含めても良い。また、ユーザからの入力又は操作受信の意味は、エッジ側プロセッサシステム100のユーザへの直接出力や受信をする以外に、エッジ側プロセッサシステム100が間接的に当該受信をすることを含めても良い。 In addition, instead of receiving input or operation from the user using the UI 51, the edge-side processor system 100 receives data indicating a user input or operation from the external processor system via the NI 40. From another perspective, the meaning of outputting data to the user may include the edge-side processor system 100 itself outputting the data, as well as having another entity other than the processor system 100 output the data (assisting it). In addition, the meaning of receiving input or operation from the user may include the edge-side processor system 100 indirectly receiving the data, as well as directly outputting or receiving the data from the user to the edge-side processor system 100.
 また、以下で説明するメモリリソース30内のデータベースや各種の情報は、データを格納できる領域であれば、ファイル等やデータベース以外のデータ構造であっても良い。また、1つのプログラムが複数のプログラムの役割を兼ねても良い。また、その逆であっても良い。すなわち、1以上のプログラムが図示する各プログラムの処理を行っても良い。 Furthermore, the database and various information within the memory resource 30 described below may be a data structure other than a database, such as a file, as long as it is an area capable of storing data. Furthermore, one program may fulfill the roles of multiple programs, or vice versa. In other words, one or more programs may perform the processing of each program shown in the figure.
 なお、エッジ側プロセッサシステム100で実行されるプログラムは、当該プロセッサシステム100が読み込み可能な不揮発ストレージ媒体に格納されても良い。なお、当該不揮発ストレージ媒体に格納されたプログラムは、直接、エッジ側プロセッサシステム100が読み込んでも良いが、プログラム配信用のプロセッサシステムが当該媒体からプログラムを読み込み、その後、プログラム配信用のプロセッサシステムからエッジ側プロセッサシステム100に当該プログラムを送信(配信)しても良い。なお、当該不揮発ストレージ媒体の例は、メモリリソース30として説明した不揮発メモリが例として考えられるが、それ以外の光ディスク媒体でも良い。 The program executed by the edge-side processor system 100 may be stored in a non-volatile storage medium that can be read by the processor system 100. The program stored in the non-volatile storage medium may be directly read by the edge-side processor system 100, or the program distribution processor system may read the program from the medium and then transmit (distribute) the program from the program distribution processor system to the edge-side processor system 100. An example of the non-volatile storage medium is the non-volatile memory described as the memory resource 30, but other optical disk media may also be used.
 <<しきい値情報110>>
 しきい値情報110は、電子機器の稼働環境を区分するしきい値が登録されている情報である。具体的には、しきい値情報110には、しきい値や、当該しきい値に対する稼働環境の変化方向を示す極性などの情報が含まれている。より具体的には、しきい値情報110は、しきい値IDと、パラメータと、しきい値と、極性と、が対応付けられた複数のレコードを有している。
<<Threshold Information 110>>
The threshold information 110 is information in which thresholds for classifying the operating environment of an electronic device are registered. Specifically, the threshold information 110 includes information such as a threshold and a polarity indicating a direction of change in the operating environment relative to the threshold. More specifically, the threshold information 110 has a plurality of records in which a threshold ID, a parameter, a threshold, and a polarity are associated with each other.
 なお、しきい値情報110は、電子機器の故障までの期間を速める所定の劣化要因(例えば、温度や振動など)の各々に対応した種類のものがある。以下では、劣化要因が温度である場合を例に説明する。 The threshold information 110 includes types corresponding to each of the predetermined degradation factors (e.g., temperature, vibration, etc.) that shorten the time until an electronic device breaks down. The following describes an example in which the degradation factor is temperature.
 図2は、しきい値情報110の一例を示した図である。しきい値IDは、しきい値と極性とによって特定されるしきい値区分を示す識別情報であって、電子機器の稼働環境を特定する情報でもある。すなわち、電子機器の稼働環境は、しきい値IDによって特定される。パラメータは、劣化要因を示す情報であり、本例は温度を示す「Tmp」が登録されている。 FIG. 2 shows an example of threshold information 110. The threshold ID is identification information indicating a threshold division specified by a threshold and a polarity, and is also information specifying the operating environment of the electronic device. In other words, the operating environment of the electronic device is specified by the threshold ID. The parameter is information indicating the deterioration factor, and in this example, "Tmp" indicating temperature is registered.
 しきい値は、各稼働環境を区分する境界値を示している。本例では、ECU内における温度が各しきい値に該当する。極性は、しきい値に対する稼働環境の変化方向を示す情報である。例えば、「L→H」は、或るしきい値に対して稼働環境がLow(当該しきい値未満)からHigh(当該しきい値以上)に変化したことを示し、「H→L」はその逆であることを示している。 The threshold values indicate the boundary values that distinguish each operating environment. In this example, the temperature inside the ECU corresponds to each threshold. The polarity is information that indicates the direction of change in the operating environment relative to the threshold. For example, "L→H" indicates that the operating environment has changed from Low (below the threshold) to High (above the threshold) relative to a certain threshold, and "H→L" indicates the opposite.
 ここで、しきい値ID「000」が対応付けられているレコードを例に説明すると、当該レコードは、電子機器の稼働環境が、150℃未満から150℃以上に変化したことを示している。 Here, taking as an example a record associated with threshold ID "000", this record indicates that the operating environment of the electronic device has changed from less than 150°C to 150°C or higher.
 また、しきい値情報110には、電子機器を搭載するエッジ機器(自動車)の電源がOFF状態からON状態あるいはON状態からOFF状態になったことを示すしきい値ID(しきい値ID「200」や「201」)も登録されている。なお、パラメータの「IGN」(Ignition)は、エッジ機器の電源を示している。 The threshold information 110 also registers a threshold ID (threshold ID "200" or "201") that indicates that the power supply of the edge device (automobile) that is equipped with the electronic device has changed from OFF to ON or from ON to OFF. The parameter "IGN" (Ignition) indicates the power supply of the edge device.
 また、本例の電子機器(ECU)では、しきい値ID「006」~「009」に対応する稼働環境が標準環境に該当し、それ以上の温度範囲を示すしきい値ID「005」~「000」や、それ未満の温度範囲を示すしきい値ID「010」~「011」に対応する稼働環境がストレス環境に該当する。 In addition, in this example electronic device (ECU), the operating environment corresponding to threshold IDs "006" to "009" corresponds to a standard environment, while the operating environments corresponding to threshold IDs "005" to "000" indicating a higher temperature range and threshold IDs "010" to "011" indicating a lower temperature range correspond to a stress environment.
 なお、しきい値情報110は、このようなデータ構造に限定されるものではなく、少なくとも、しきい値区分、しきい値および極性に関する情報を含んでいれば良い。 Note that the threshold information 110 is not limited to this data structure, but may include at least information regarding the threshold category, threshold, and polarity.
 <<機器構成情報120>>
 機器構成情報120は、エッジ機器に搭載されている電子機器等の構成に関する情報である。具体的には、機器構成情報120には、エッジ機器に搭載されている電子機器を特定する情報(例えば、機器ID)や各構成機器の製品寿命など、電子機器に関する様々な情報が登録されている。なお、機器構成情報120には、例えば、当該エッジ機器である自動車の車両IDや車両識別番号(VIN:Vehicle Identification Number)が含まれていても良い。
<<Device Configuration Information 120>>
The device configuration information 120 is information on the configuration of electronic devices mounted on edge devices. Specifically, the device configuration information 120 registers various information on electronic devices, such as information for identifying the electronic devices mounted on the edge devices (e.g., device IDs) and the product lifespans of the respective components. Note that the device configuration information 120 may also include, for example, the vehicle ID and vehicle identification number (VIN) of the automobile that is the edge device.
 <<特徴値情報130>>
 特徴値情報130は、例えば、ストリーム暗号や一方向ハッシュ関数により稼働履歴管理情報および稼働履歴情報を用いて生成された特徴値である。なお、特徴値に関する処理の詳細は、後述の第三実施形態で説明する。
<<Characteristic Value Information 130>>
The characteristic value information 130 is, for example, a characteristic value generated by using the operation history management information and the operation history information by a stream cipher or a one-way hash function. Details of the process related to the characteristic value will be described later in the third embodiment.
 <<稼働履歴生成プログラム210>>
 稼働履歴生成プログラム210は、稼働履歴情報の生成処理を行う。具体的には、稼働履歴生成プログラム210は、温度センサからセンサ情報(温度を示すセンサ値)を取得し、しきい値情報110を用いて、最新のセンサ値と前回のセンサ値との比較により電子機器の稼働環境がしきい値を超えたか否かを判定する。また、稼働履歴生成プログラム210は、稼働環境がしきい値を超えたと判定した場合、変化後の稼働環境に対応するしきい値IDを含む稼働履歴情報を生成し、サーバ側プロセッサシステムに送信する。
<<Operation History Generation Program 210>>
The operation history generation program 210 performs a process of generating operation history information. Specifically, the operation history generation program 210 acquires sensor information (sensor value indicating temperature) from a temperature sensor, and uses the threshold information 110 to compare the latest sensor value with the previous sensor value to determine whether the operation environment of the electronic device has exceeded the threshold. Furthermore, when the operation history generation program 210 determines that the operation environment has exceeded the threshold, it generates operation history information including a threshold ID corresponding to the changed operation environment, and transmits the information to the server-side processor system.
 また、稼働履歴生成プログラム210は、自動車のイグニッションのON/OFFを検知するセンサからセンサ情報(イグニッションがOFF状態からON状態またはON状態からOFF状態になったことを示すセンサ値)を取得した場合にも、対応するしきい値IDを含む稼働履歴情報を生成し、サーバ側プロセッサシステムに送信する。なお、稼働履歴情報の生成処理の詳細は後述する。 In addition, when the operation history generation program 210 acquires sensor information (sensor value indicating that the ignition has changed from OFF to ON or from ON to OFF) from a sensor that detects the ON/OFF state of the automobile ignition, it also generates operation history information including the corresponding threshold ID and transmits it to the server-side processor system. The process of generating operation history information will be described in detail later.
 <<特徴値算出プログラム220>>
 特徴値算出プログラム220は、稼働履歴情報を用いて特徴値を算出する。具体的には、特徴値算出プログラム220は、ストリーム暗号や一方向ハッシュ関数により、稼働履歴管理情報および稼働履歴情報を用いて特徴値を算出する。また、特徴値算出プログラム220は、算出した特徴値をメモリリソース30内に記憶すると共に、当該特徴値をサーバ側プロセッサシステムに送信する。なお、特徴値算出処理の詳細は、後述の第三実施形態で説明する。
<<Feature Value Calculation Program 220>>
The characteristic value calculation program 220 calculates the characteristic value using the operation history information. Specifically, the characteristic value calculation program 220 calculates the characteristic value using the operation history management information and the operation history information by a stream cipher or a one-way hash function. Furthermore, the characteristic value calculation program 220 stores the calculated characteristic value in the memory resource 30 and transmits the calculated characteristic value to the server-side processor system. Details of the characteristic value calculation process will be described later in the third embodiment.
 <<位置情報出力プログラム230>>
 位置情報出力プログラム230は、エッジ機器の位置情報を出力する。具体的には、位置情報出力プログラム230は、例えば、GPS受信装置80から出力された情報を用いて当該車両の現在位置を特定し、サーバ側プロセッサシステムに送信する。なお、当該処理の詳細は、後述の第四実施形態で説明する。
<<Position information output program 230>>
The position information output program 230 outputs the position information of the edge device. Specifically, the position information output program 230 identifies the current position of the vehicle using information output from the GPS receiver 80, for example, and transmits the current position to the server-side processor system. Details of this process will be described later in the fourth embodiment.
 以上、エッジ側プロセッサシステム100の構成の一例について説明した。 The above describes an example of the configuration of the edge-side processor system 100.
 <サーバ側プロセッサシステム300の構成>
 図3は、サーバ側プロセッサシステム300の概略構成の一例を示した図である。サーバ側プロセッサシステム300は、外部装置11(本実施形態では、エッジ側プロセッサシステム100を含む)との情報通信に基づき、外部装置11に対して種々のサービス(クラウドサービスを含む)を提供するサーバ装置である。
<Configuration of Server Side Processor System 300>
3 is a diagram showing an example of a schematic configuration of a server-side processor system 300. The server-side processor system 300 is a server device that provides various services (including cloud services) to an external device 11 (including the edge-side processor system 100 in this embodiment) based on information communication with the external device 11.
 <<外部装置11(エッジ側プロセッサシステム100を含む)>>
 サーバ側プロセッサシステム300から見た場合の外部装置11には、エッジ側プロセッサシステム100が含まれる。外部装置11は、サーバ側プロセッサシステム300で実行される処理に用いられる情報を当該プロセッサシステムに送信する。また、外部装置11は、サーバ側プロセッサシステム300から出力された情報を取得し、当該情報を用いて様々な処理を実行する。
<<External Device 11 (including Edge Side Processor System 100)>>
The external device 11 when viewed from the server-side processor system 300 includes the edge-side processor system 100. The external device 11 transmits information used in processing executed in the server-side processor system 300 to the server-side processor system 300. The external device 11 also acquires information output from the server-side processor system 300 and executes various processes using the information.
 <<サーバ側プロセッサシステム300の詳細>>
 サーバ側プロセッサシステム300は、メモリリソース301格納された各種プログラムおよび情報をプロセッサ21が読み込むことにより、稼働履歴管理情報の生成処理などを実行する。
<<Details of the Server Side Processor System 300>>
The server-side processor system 300 executes processes such as generating operation history management information by the processor 21 reading various programs and information stored in the memory resource 301 .
 なお、サーバ側プロセッサシステム300は、例えば、サーバ計算機、クラウドサーバあるいはパーソナルコンピュータ、タブレット端末、スマートフォンなどの計算機であり、少なくともこれら計算機を1つ以上含むシステムである。 The server-side processor system 300 is, for example, a server computer, a cloud server, or a computer such as a personal computer, a tablet terminal, or a smartphone, and is a system that includes at least one of these computers.
 図示するように、サーバ側プロセッサシステム300は、プロセッサ21と、メモリリソース31と、NI41と、UI51と、を有している。 As shown in the figure, the server-side processor system 300 has a processor 21, a memory resource 31, an NI 41, and a UI 51.
 なお、プロセッサ21、メモリリソース31およびNI41は、エッジ側プロセッサシステム100と同じであるため、詳細な説明は省略する。UI51は、ユーザ(オペレータ)の指示をサーバ側プロセッサシステム300に入力する入力装置、および、サーバ側プロセッサシステム300で生成された情報等を出力する出力装置である。入力装置には、例えばキーボード、タッチパネル、マウスなどのポインティングデバイスや、マイクロフォンのような音声入力装置などがある。 Note that the processor 21, memory resource 31, and NI 41 are the same as those in the edge-side processor system 100, and therefore a detailed description will be omitted. The UI 51 is an input device that inputs user (operator) instructions to the server-side processor system 300, and an output device that outputs information generated by the server-side processor system 300. Examples of input devices include pointing devices such as a keyboard, a touch panel, and a mouse, and a voice input device such as a microphone.
 また、出力装置には、例えばディスプレイ、プリンタ、音声合成装置などがある。なお、以下で特に言及しない場合は、サーバ側プロセッサシステム300に対するユーザの操作(例えば、情報の入力、出力および処理の実行指示など)は、UI51を介して実行されているものとする。 In addition, output devices include, for example, displays, printers, and voice synthesizers. Unless otherwise specified below, user operations on the server-side processor system 300 (for example, inputting and outputting information, and issuing instructions to execute processing, etc.) are assumed to be performed via the UI 51.
 また、サーバ側プロセッサシステム300の各構成、機能、処理手段等は、それらの一部または全部を、例えば集積回路で設計する等によりハードウェアで実現しても良い。また、サーバ側プロセッサシステム300は、各機能の一部または全部を、ソフトウェアにより実現することもできるし、ソフトウェアとハードウェアとの協働により実現することもできる。また、サーバ側プロセッサシステム300は、固定的な回路を有するハードウェアを用いても良いし、少なくとも一部の回路を変更可能なハードウェアを用いてもよい。 Furthermore, the configurations, functions, processing means, etc. of the server-side processor system 300 may be realized in part or in whole in hardware, for example by designing them as integrated circuits. Furthermore, the server-side processor system 300 may realize some or all of the functions in software, or may realize them through a combination of software and hardware. Furthermore, the server-side processor system 300 may use hardware having fixed circuits, or may use hardware having at least some of the circuits that are changeable.
 また、サーバ側プロセッサシステム300は、各プログラムにより実現される機能や処理の一部または全部をユーザ(オペレータ)が実施することで、システムを実現することもできる。 In addition, the server-side processor system 300 can also be realized by a user (operator) implementing some or all of the functions and processes realized by each program.
 なお、以下で説明するメモリリソース31内のデータベースや各種の情報は、データを格納できる領域であれば、ファイル等やデータベース以外のデータ構造であっても良い。また、1つのプログラムが複数のプログラムの役割を兼ねても良い。また、その逆であっても良い。すなわち、1以上のプログラムが図示する各プログラムの処理を行っても良い。 Note that the database and various information within memory resource 31 described below may be a data structure other than a database, such as a file, as long as it is an area capable of storing data. Also, one program may fulfill the roles of multiple programs, or vice versa. In other words, one or more programs may perform the processing of each program shown in the figure.
 なお、サーバ側プロセッサシステム300で実行されるプログラムは、当該プロセッサシステム300が読み込み可能な不揮発ストレージ媒体に格納されても良い。また、当該不揮発ストレージ媒体に格納されたプログラムは、直接、サーバ側プロセッサシステム300が読み込んでも良いが、プログラム配信用のプロセッサシステムが当該媒体からプログラムを読み込み、その後、プログラム配信用のプロセッサシステムからサーバ側プロセッサシステム300に当該プログラムを送信(配信)しても良い。なお、当該不揮発ストレージ媒体の例は、メモリリソース30として説明した不揮発メモリが例として考えられるが、それ以外の光ディスク媒体でも良い。 The programs executed by the server-side processor system 300 may be stored in a non-volatile storage medium that can be read by the processor system 300. The programs stored in the non-volatile storage medium may be read directly by the server-side processor system 300, or the program distribution processor system may read the programs from the medium and then transmit (distribute) the programs to the server-side processor system 300. An example of the non-volatile storage medium is the non-volatile memory described as the memory resource 30, but other optical disk media may also be used.
 <<しきい値DB310>>
 しきい値DB(Database)310は、電子機器の故障までの期間を速める各種の劣化要因に対応したしきい値情報(しきい値情報110)を格納しているデータベースである。なお、当該データベース310に格納されているしきい値情報110のデータ構造は、図2に示したしきい値情報110と同じであるため、詳細な説明は省略する。
<<Threshold DB 310>>
The threshold DB (database) 310 is a database that stores threshold information (threshold information 110) corresponding to various degradation factors that shorten the time until an electronic device breaks down. Note that the data structure of the threshold information 110 stored in the database 310 is the same as that of the threshold information 110 shown in FIG. 2, so a detailed description thereof will be omitted.
 なお、劣化要因には、温度以外にも、例えば振動や電流など様々な種類がある。例えば、劣化要因が振動の場合のしきい値情報110は、振動数を各しきい値とする情報であって、前述のパラメータには、振動を示す情報(例えば、「Acc」)が登録されている。また、劣化要因が電流の場合のしきい値情報110は、電流値を各しきい値とする情報であって、前述のパラメータには、電流を示す情報(例えば、「I」)が登録されている。 In addition to temperature, there are various types of degradation factors, such as vibration and current. For example, when the degradation factor is vibration, the threshold information 110 is information in which the threshold values are vibration frequencies, and the aforementioned parameters have registered information indicating vibration (for example, "Acc"). When the degradation factor is current, the threshold information 110 is information in which the threshold values are current values, and the aforementioned parameters have registered information indicating current (for example, "I").
 <<加速係数DB320>>
 加速係数DB(Database)320は、稼働状態に応じて電子機器の劣化速度に影響する加速係数を格納しているデータベースである。なお、加速係数は、電子機器の各稼働環境(温度状態や振動状態)に応じて異なる値となる。そのため、加速係数DB320には、電子機器の各しきい値区分と、対応する加速係数と、が対応付けられて格納されている。
<<Acceleration factor DB320>>
The acceleration coefficient DB (database) 320 is a database that stores acceleration coefficients that affect the deterioration speed of electronic devices depending on their operating conditions. The acceleration coefficients take different values depending on the operating environments (temperature conditions and vibration conditions) of the electronic devices. Therefore, the acceleration coefficient DB 320 stores each threshold category of the electronic device in association with the corresponding acceleration coefficient.
 <<故障率DB330>>
 故障率DB(Database)330は、電子機器の故障率(基準故障率)を格納しているデータベースである。なお、故障率は、電子機器が故障する頻度であり、単位時間当たりの故障数で表される。故障率DB330には、電子機器ごとに対応する故障率が格納されている。
<<Failure Rate DB330>>
The failure rate database (DB) 330 is a database that stores failure rates (reference failure rates) of electronic devices. The failure rate is the frequency at which an electronic device breaks down, and is expressed as the number of failures per unit time. The failure rate DB 330 stores a failure rate corresponding to each electronic device.
 <<機器構成DB>>
 機器構成DB(Database)340は、各エッジ機器に搭載されている電子機器の構成情報(機器構成情報120)を格納しているデータベースである。なお、機器構成情報120は、エッジ側プロセッサシステム100のメモリリソース30に記憶されている機器構成情報120と同じであるため、詳細な説明は省略する。
<<Device configuration DB>>
The device configuration database (DB) 340 is a database that stores configuration information (device configuration information 120) of the electronic devices mounted on each edge device. Note that the device configuration information 120 is the same as the device configuration information 120 stored in the memory resource 30 of the edge-side processor system 100, and therefore a detailed description thereof will be omitted.
 <<稼働履歴管理DB350>>
 稼働履歴管理DB(Database)350は、稼働履歴管理情報を格納しているデータベースである。また、稼働履歴管理情報には、標準環境やストレス環境といった各環境下での電子機器の稼働時間と、余寿命と、が登録されている。なお、稼働履歴管理情報の詳細については後述する。
<<Operation History Management DB 350>>
The operation history management DB (database) 350 is a database that stores operation history management information. In addition, the operation history management information registers the operation time and remaining life of the electronic device in each environment, such as a standard environment and a stress environment. The operation history management information will be described in detail later.
 <<特徴値管理DB360>>
 特徴値管理DB(Database)360は、サーバ側プロセッサシステム300およびエッジ側プロセッサシステム100で算出された特徴値を格納しているデータベースである。なお、特徴値に関する処理の詳細は、後述の第三実施形態で説明する。
<<Characteristic value management DB 360>>
The characteristic value management DB (database) 360 is a database that stores characteristic values calculated by the server-side processor system 300 and the edge-side processor system 100. Details of the processing related to the characteristic values will be described later in a third embodiment.
 <<温度プロファイルDB370>>
 温度プロファイルDB(Database)370は、温度プロファイルを格納しているデータベースである。なお、温度プロファイルには、例えば、エッジ機器が稼働していた地域における稼働時の天候や稼働状況に応じた電子機器の温度推移が含まれている。なお、温度プロファイルを用いた処理の詳細は、後述の第四実施形態で説明する。
<<Temperature profile DB370>>
The temperature profile DB (Database) 370 is a database that stores temperature profiles. The temperature profile includes, for example, temperature transitions of electronic devices according to the weather and operating conditions at the time of operation in the area where the edge device was operating. Details of the process using the temperature profile will be described later in the fourth embodiment.
 <<累積故障率算出プログラム410>>
 累積故障率算出プログラム410は、稼働履歴情報を用いて電子機器の累積故障率を算出する。なお、累積故障率の算出処理の詳細については後述する。
<<Cumulative Failure Rate Calculation Program 410>>
The cumulative failure rate calculation program 410 calculates the cumulative failure rate of the electronic device using the operation history information. The details of the calculation process of the cumulative failure rate will be described later.
 <<稼働履歴管理プログラム420>>
 稼働履歴管理プログラム420は、稼働履歴管理情報の生成処理を実行し、稼働履歴管理情報を生成する。具体的には、稼働履歴管理プログラム420は、標準環境およびストレス環境の各々の累積稼働時間や余寿命を含む稼働履歴管理情報を生成する。なお、稼働履歴管理情報の生成処理の詳細については後述する。
<<Operation History Management Program 420>>
The operation history management program 420 executes a generation process for operation history management information to generate operation history management information. Specifically, the operation history management program 420 generates operation history management information including the cumulative operation time and remaining life span in each of the standard environment and the stress environment. The details of the generation process for operation history management information will be described later.
 <<特徴値比較プログラム430>>
 特徴値比較プログラム430は、エッジ側プロセッサシステム100で算出された特徴値と、サーバ側プロセッサシステム300で算出された特徴値と、を比較し、稼働履歴の改ざんがある場合にはそれを検知する。なお、特徴値の比較処理の詳細は、後述の第三実施形態で説明する。
<<Characteristic Value Comparison Program 430>>
The characteristic value comparison program 430 compares the characteristic values calculated by the edge-side processor system 100 with the characteristic values calculated by the server-side processor system 300, and detects any tampering with the operation history. Details of the comparison process of the characteristic values will be described later in the third embodiment.
 以上、サーバ側プロセッサシステム300の構成の一例について説明した。 The above describes an example of the configuration of the server-side processor system 300.
 <第一実施形態>
 以下、本システムの第一実施形態について説明する。
First Embodiment
A first embodiment of the present system will be described below.
 <本システムの処理の概要>
 図4は、本システムの処理の概要例を示した図である。
<Outline of processing by this system>
FIG. 4 is a diagram showing an example of an outline of the processing of this system.
 図示するように、エッジ側プロセッサシステム100は、温度センサからセンサ情報(温度を示すセンサ値)を取得し、最新のセンサ値と前回のセンサ値との比較に基づき電子機器の稼働環境がしきい値を超えたか否かを判定する。また、エッジ側プロセッサシステム100は、稼働環境がしきい値を超えたと判定した場合、対応するしきい値IDを含む稼働履歴情報を生成し、サーバ側プロセッサシステム300に送信する。 As shown in the figure, the edge-side processor system 100 acquires sensor information (sensor value indicating temperature) from the temperature sensor, and determines whether the operating environment of the electronic device has exceeded a threshold value based on a comparison between the latest sensor value and the previous sensor value. Furthermore, if the edge-side processor system 100 determines that the operating environment has exceeded a threshold value, it generates operation history information including a corresponding threshold ID and transmits it to the server-side processor system 300.
 なお、エッジ側プロセッサシステム100は、自動車のイグニッションのON/OFFを検知するセンサからセンサ情報(イグニッションがOFF状態からON状態またはON状態からOFF状態になったことを示すセンサ値)を取得した場合にも、対応するしきい値IDを含む稼働履歴情報を生成し、サーバ側プロセッサシステム300に送信する。 In addition, when the edge-side processor system 100 acquires sensor information (sensor value indicating that the ignition has changed from OFF to ON or from ON to OFF) from a sensor that detects the ON/OFF state of the automobile ignition, it also generates operation history information including the corresponding threshold ID and transmits it to the server-side processor system 300.
 また、サーバ側プロセッサシステム300は、取得した稼働履歴情報と、しきい値DB310内の対応する劣化要因のしきい値情報110と、故障率DB330内の対応する電子機器の故障率と、加速係数DB320内の対応する加速係数と、を用いて、電子機器の累積故障率を算出する。 The server-side processor system 300 also calculates the cumulative failure rate of the electronic device using the acquired operation history information, the threshold information 110 of the corresponding degradation factor in the threshold DB 310, the failure rate of the corresponding electronic device in the failure rate DB 330, and the corresponding acceleration coefficient in the acceleration coefficient DB 320.
 また、サーバ側プロセッサシステム300は、算出した累積故障率と、機器構成DB340内の対応する電子機器の製品寿命と、を用いて、当該電子機器の余寿命を算出する。また、サーバ側プロセッサシステム300は、標準環境およびストレス環境の各々の累積稼働時間や余寿命を含む稼働履歴管理情報を生成し、稼働履歴管理DB350に格納する。 The server-side processor system 300 also calculates the remaining life of the electronic device using the calculated cumulative failure rate and the product life of the corresponding electronic device in the device configuration DB 340. The server-side processor system 300 also generates operation history management information including the cumulative operation time and remaining life in each of the standard environment and stress environment, and stores it in the operation history management DB 350.
 以上、本システムの処理の概要例について説明した。 The above explains an overview of the processing performed by this system.
 <エッジ側プロセッサシステム100の処理の詳細>
 図5は、稼働履歴情報の生成処理の一例を示したフロー図である。当該処理は、例えば、エッジ側プロセッサシステム100の起動に伴い開始される。
<Details of the processing of the edge-side processor system 100>
5 is a flow diagram showing an example of a process for generating operation history information. This process is started, for example, when the edge processor system 100 is started.
 処理が開始されると、稼働履歴生成プログラム210は、センサ情報を取得したか否かを判定する(ステップS001)。そして、センサ情報を取得していないと判定した場合(ステップS001でNo)、稼働履歴生成プログラム210は、再度、ステップS001の処理を行う。一方で、センサ情報を取得したと判定した場合(ステップS001でYes)、稼働履歴生成プログラム210は、処理をステップS002に移行する。 When processing starts, the operation history generation program 210 determines whether sensor information has been acquired (step S001). If it is determined that sensor information has not been acquired (No in step S001), the operation history generation program 210 performs the processing of step S001 again. On the other hand, if it is determined that sensor information has been acquired (Yes in step S001), the operation history generation program 210 transitions to step S002.
 ステップS002では、稼働履歴生成プログラム210は、取得したセンサ情報がエッジ機器の電源に関するセンサ情報か否かを判定する。具体的には、稼働履歴生成プログラム210は、取得したセンサ情報が、自動車のイグニッションがOFF状態からON状態あるいはON状態からOFF状態になったことを示すセンサ情報か否かを判定する。 In step S002, the operation history generation program 210 determines whether the acquired sensor information is sensor information related to the power supply of the edge device. Specifically, the operation history generation program 210 determines whether the acquired sensor information is sensor information indicating that the ignition of the automobile has changed from an OFF state to an ON state or from an ON state to an OFF state.
 そして、エッジ機器の電源に関するセンサ情報であると判定した場合(ステップS002でYes)、稼働履歴生成プログラム210は、処理をステップS004に移行する。一方で、エッジ機器の電源に関するセンサ情報ではないと判定した場合(ステップS002でNo)、稼働履歴生成プログラム210は、処理をステップS003に移行する。なお、取得したセンサ情報がエッジ機器の電源に関するセンサ情報ではない場合、稼働履歴生成プログラム210は、電子機器(ECU)内の温度を検知する温度センサからセンサ情報(温度を示すセンサ値)を取得しているものとする。 If it is determined that the sensor information is related to the power supply of the edge device (Yes in step S002), the operation history generation program 210 transitions to step S004. On the other hand, if it is determined that the sensor information is not related to the power supply of the edge device (No in step S002), the operation history generation program 210 transitions to step S003. Note that if the acquired sensor information is not related to the power supply of the edge device, the operation history generation program 210 assumes that it has acquired sensor information (sensor value indicating temperature) from a temperature sensor that detects the temperature inside the electronic device (ECU).
 ステップS003では、稼働履歴生成プログラム210は、稼働環境がしきい値を超えたか否かを判定する。具体的には、稼働履歴生成プログラム210は、しきい値情報110と、温度センサから取得したセンサ情報(温度を示すセンサ値)と、を用いて、最新のセンサ値と前回のセンサ値との比較に基づき、電子機器の稼働環境がいずれかのしきい値を超えたか否かを判定する。 In step S003, the operation history generation program 210 determines whether the operating environment has exceeded a threshold value. Specifically, the operation history generation program 210 uses the threshold value information 110 and the sensor information (sensor value indicating temperature) acquired from the temperature sensor to determine whether the operating environment of the electronic device has exceeded any of the threshold values based on a comparison between the latest sensor value and the previous sensor value.
 そして、稼働環境がしきい値を超えていないと判定した場合(ステップS003でNo)、稼働履歴生成プログラム210は、処理をステップS001に戻す。一方で、稼働環境がしきい値を超えたと判定した場合(ステップS003でYes)、稼働履歴生成プログラム210は、処理をステップS004に移行する。 If it is determined that the operating environment does not exceed the threshold value (No in step S003), the operation history generation program 210 returns the process to step S001. On the other hand, if it is determined that the operating environment has exceeded the threshold value (Yes in step S003), the operation history generation program 210 transitions the process to step S004.
 ステップS004では、稼働履歴生成プログラム210は、稼働履歴情報を生成する。具体的には、稼働履歴生成プログラム210は、機器構成情報120およびしきい値情報110を用いて、自動車の車両ID、機器IDおよびしきい値IDを特定する。また、稼働履歴生成プログラム210は、当該センサ情報を取得した日付、時刻、と、特定した車両ID、機器IDおよびしきい値IDと、イベント識別情報を対応付けた稼働履歴情報を生成する。 In step S004, the operation history generation program 210 generates operation history information. Specifically, the operation history generation program 210 uses the device configuration information 120 and the threshold information 110 to identify the vehicle ID, device ID, and threshold ID of the automobile. The operation history generation program 210 also generates operation history information that associates the date and time when the sensor information was acquired with the identified vehicle ID, device ID, and threshold ID, and event identification information.
 図6(a)は、稼働履歴情報の一例を示した図である。図示するように、稼働履歴情報は、センサ情報を取得した日付、時刻、自動車の車両ID、ECUの機器IDおよびしきい値IDにイベント識別情報(Tn)が対応付けられた簡略化された構成をしている。 FIG. 6(a) is a diagram showing an example of operation history information. As shown in the figure, the operation history information has a simplified structure in which event identification information (Tn) is associated with the date and time when the sensor information was acquired, the vehicle ID of the automobile, the device ID of the ECU, and the threshold ID.
 次に、稼働履歴生成プログラム210は、生成した稼働履歴情報をサーバ側プロセッサシステム300に送信する(ステップS005)。また、稼働履歴生成プログラム210は、処理をステップS001に戻し、ステップS001~ステップS005の処理を繰り返し実行する。 Next, the operation history generation program 210 transmits the generated operation history information to the server-side processor system 300 (step S005). The operation history generation program 210 also returns the process to step S001, and repeats the processes of steps S001 to S005.
 このように、稼働履歴生成プログラム210は、エッジ機器の電源がON状態になった後、OFF状態になるまでの間、電子機器の温度がしきい値を超える度に稼働履歴情報をサーバ側プロセッサシステム300に送信し続ける。 In this way, the operation history generation program 210 continues to send operation history information to the server-side processor system 300 each time the temperature of the electronic device exceeds the threshold value after the edge device is turned on until it is turned off.
 図6(b)は、稼働履歴情報の送信履歴の一例を示した図である。図示する送信履歴は、電子機器の電源がON状態になったイベントT0から電源がOFF状態になったイベントT7までの間に、イベントT1~T6の稼働履歴情報がサーバ側プロセッサシステム300に送信されたことを示している。 FIG. 6(b) is a diagram showing an example of a transmission history of operation history information. The illustrated transmission history shows that operation history information for events T1 to T6 was transmitted to the server-side processor system 300 between event T0, when the power of the electronic device was turned ON, and event T7, when the power was turned OFF.
 図7は、イベントの発生タイミングと稼働環境の変化との関係の一例を示した図である。図示する例は、横軸が時間を示し、縦軸が電子機器(ECU)内の温度を示している。また、横向きの破線は各々、温度のしきい値を示している。また、各しきい値により区分された各々の領域D0~D5がしきい値区分に相当する。例えば、85℃のしきい値と105℃のしきい値とにより区分された領域が示すしきい値区分D3は、稼働環境の変化方向に応じて、しきい値ID「005」または「006」に対応する。すなわち、1つのしきい値区分は、複数のしきい値IDによって特定される場合がある。他のしきい値区分についても同様のことが言える。なお、各しきい値区分を特定する情報は、例えば、対応するしきい値IDに関連付けられてメモリリソース30内に格納されていれば良い。 FIG. 7 is a diagram showing an example of the relationship between the timing of an event occurrence and changes in the operating environment. In the illustrated example, the horizontal axis indicates time, and the vertical axis indicates the temperature inside the electronic device (ECU). Each horizontal dashed line indicates a temperature threshold. Each of the regions D0 to D5 divided by each threshold corresponds to a threshold division. For example, threshold division D3 indicated by an area divided by a threshold of 85°C and a threshold of 105°C corresponds to threshold ID "005" or "006" depending on the direction of change in the operating environment. In other words, one threshold division may be specified by multiple threshold IDs. The same can be said for other threshold divisions. Note that information specifying each threshold division may be stored in memory resource 30, for example, in association with the corresponding threshold ID.
 図示するように、イベントT0およびT7は、エッジ機器の電源がON状態になった時と、OFF状態になった時を示している。また、イベントT1は、しきい値の一つである85℃を基準に、稼働環境が85℃未満から85℃以上に変化した時を示している。この場合のしきい値区分は、D3が対応する。 As shown in the figure, events T0 and T7 indicate when the power supply of the edge device is turned ON and OFF. Event T1 indicates when the operating environment changes from below 85°C to above 85°C, based on 85°C, which is one of the threshold values. The threshold classification in this case corresponds to D3.
 同様に、イベントT2は、しきい値の一つである105℃を基準に、稼働環境が105℃未満から105℃以上に変化した時を示している。この場合のしきい値区分は、D4が対応する。また、イベントT3は、しきい値の一つである105℃を基準に、稼働環境が105℃以上から105℃未満に変化した時を示している。この場合のしきい値区分は、D3が対応する。 Similarly, event T2 indicates when the operating environment changes from below 105°C to above 105°C, based on 105°C, one of the threshold values. The corresponding threshold category in this case is D4. Event T3 indicates when the operating environment changes from above 105°C to below 105°C, based on 105°C, one of the threshold values. The corresponding threshold category in this case is D3.
 また、イベントT4は、しきい値の一つである85℃を基準に、稼働環境が85℃以上から85℃未満に変化した時を示している。この場合のしきい値区分は、D2が対応する。また、イベントT5は、しきい値の一つである20℃を基準に、稼働環境が20℃以上から20℃未満に変化した時を示している。この場合のしきい値区分は、D1が対応する。また、イベントT6は、しきい値の一つである20℃を基準に、稼働環境が20℃未満から20℃以上に変化した時を示している。この場合のしきい値区分は、D2が対応する。 Event T4 indicates when the operating environment changes from 85°C or higher to less than 85°C, based on 85°C, which is one of the threshold values. The corresponding threshold category in this case is D2. Event T5 indicates when the operating environment changes from 20°C or higher to less than 20°C, based on 20°C, which is one of the threshold values. The corresponding threshold category in this case is D1. Event T6 indicates when the operating environment changes from less than 20°C to 20°C or higher, based on 20°C, which is one of the threshold values. The corresponding threshold category in this case is D2.
 本例の電子機器(ECU)は、図2のしきい値情報110に示したように、イベントT2~T3と、イベントT5~T6の間がストレス環境下での稼働となり、それ以外のイベント間は標準環境下での稼働となる。 As shown in the threshold information 110 in FIG. 2, the electronic device (ECU) in this example operates in a stressful environment between events T2 and T3 and between events T5 and T6, and operates in a standard environment between the other events.
 なお、π0~π4は、温度影響の加速係数を示しており、加速係数の各々は、所定のしきい値区分に対応付けられている。例えば、加速係数π3は、しきい値区分D4に対応付けられている。また、例えば加速係数π2は、しきい値区分D3とD2の両方に対応付けられている。 Note that π0 to π4 indicate acceleration coefficients for temperature effects, and each acceleration coefficient corresponds to a specific threshold classification. For example, acceleration coefficient π3 corresponds to threshold classification D4. For example, acceleration coefficient π2 corresponds to both threshold classifications D3 and D2.
 以上、エッジ側プロセッサシステム100の処理の詳細について説明した。 The above explains the details of the processing of the edge-side processor system 100.
 <サーバ側プロセッサシステム300の処理の詳細>
 図8は、稼働履歴管理情報の生成処理の一例を示したフロー図である。当該処理は、例えば、エッジ機器の電源がON状態となったことを示す稼働履歴情報の取得に伴い開始される。
<Details of Processing by Server Side Processor System 300>
8 is a flow diagram showing an example of a process for generating operation history management information. This process is started, for example, when operation history information indicating that an edge device has been powered on is obtained.
 図9は、稼働履歴管理情報の生成処理における具体的な計算内容の一例を示した図である。以下では、図8および図9を用いて稼働履歴管理情報の生成処理について詳細に説明する。 FIG. 9 shows an example of the specific calculation contents in the generation process of the operation history management information. The generation process of the operation history management information will be explained in detail below with reference to FIG. 8 and FIG. 9.
 処理が開始されると、累積故障率算出プログラム410は、新たに稼働履歴情報を取得したか否かを判定する(ステップS010)。そして、当該情報を取得していないと判定した場合(ステップS010でNo)、累積故障率算出プログラム410は、再度、ステップS010の処理を行う。一方で、当該情報を取得したと判定した場合(ステップS010でYes)、累積故障率算出プログラム410は、処理をステップS011に移行する。 When processing begins, the cumulative failure rate calculation program 410 determines whether new operation history information has been acquired (step S010). If it is determined that the information has not been acquired (No in step S010), the cumulative failure rate calculation program 410 performs the processing of step S010 again. On the other hand, if it is determined that the information has been acquired (Yes in step S010), the cumulative failure rate calculation program 410 transitions to step S011.
 ステップS011では、累積故障率算出プログラム410は、該当するしきい値区分の稼働時間を計算する。具体的には、累積故障率算出プログラム410は、稼働履歴情報に含まれるしきい値IDに基づき、対応する所定のしきい値区分を特定する。また、累積故障率算出プログラム410は、最新の稼働履歴情報と、前回取得した稼働履歴情報と、を用いて、イベント発生時間の差分に基づき、特定したしきい値区分の稼働時間を計算する。 In step S011, the cumulative failure rate calculation program 410 calculates the operating time of the corresponding threshold category. Specifically, the cumulative failure rate calculation program 410 identifies a corresponding predetermined threshold category based on a threshold ID included in the operation history information. In addition, the cumulative failure rate calculation program 410 uses the latest operation history information and the previously acquired operation history information to calculate the operating time of the identified threshold category based on the difference in event occurrence time.
 より具体的には、本例では、しきい値区分D2の稼働時間t0は、T1-T0により算出される。同様に、しきい値区分D3、D4の稼働時間t1、t2、t3は各々、T2-T1、T3-T2、T4-T3により算出される。 More specifically, in this example, the operating time t0 of threshold category D2 is calculated by T1-T0. Similarly, the operating times t1, t2, and t3 of threshold categories D3 and D4 are calculated by T2-T1, T3-T2, and T4-T3, respectively.
 次に、累積故障率算出プログラム410は、各しきい値区分の累積稼働時間と、総稼働時間とを計算する(ステップS012)。なお、しきい値区分D3のように稼働時間が複数ある場合(図示する例では、t1とt3)には、それらの稼働時間を合算した値が当該しきい値区分の稼働時間となる。 Next, the cumulative failure rate calculation program 410 calculates the cumulative operating time and the total operating time for each threshold category (step S012). Note that when there are multiple operating times, such as threshold category D3 (t1 and t3 in the illustrated example), the sum of these operating times becomes the operating time for that threshold category.
 また、総稼働時間Tallは、t0、t1、t2、t3などそれまでの稼働時間tnの総和により算出される。 The total operating time Tall is calculated by adding up the operating times tn up to that point, such as t0, t1, t2, and t3.
 次に、累積故障率算出プログラム410は、総稼働時間に対するしきい値区分の累積稼働時間の割合(以下、「個別稼働時間割合」という場合がある)を各しきい値区分ごとに計算する(ステップS013)。具体的には、累積故障率算出プログラム410は、総稼働時間に対するしきい値区分D0の累積稼働時間の割合TR0について、D0の累積稼働時間TD0/総稼働時間Tallの演算式により算出する。 Next, the cumulative failure rate calculation program 410 calculates the ratio of the cumulative operation time of the threshold category to the total operation time (hereinafter, sometimes referred to as the "individual operation time ratio") for each threshold category (step S013). Specifically, the cumulative failure rate calculation program 410 calculates the ratio TR0 of the cumulative operation time of threshold category D0 to the total operation time using the formula: cumulative operation time TD0 of D0 / total operation time Tall.
 同様に、累積故障率算出プログラム410は、総稼働時間に対するしきい値区分D1~D4の累積稼働時間の割合TR1~TR4について、D1~D4の各々の累積稼働時間TD1~TD4/総稼働時間Tallの演算式により算出する。 Similarly, the cumulative failure rate calculation program 410 calculates the ratios TR1 to TR4 of the cumulative operation times of the threshold divisions D1 to D4 to the total operation time using the formula: cumulative operation times TD1 to TD4 for each of D1 to D4 / total operation time Tall.
 次に、累積故障率算出プログラム410は、各しきい値区分の累積稼働時間の割合に基づき累積故障率を計算する(ステップS014)。具体的には、累積故障率算出プログラム410は、個別稼働時間割合の各々に対応する加速係数を乗算した値の総和と、電子機器の故障率λrefと、の乗算に基づき、当該電子機器の累積故障率故障率λunitを計算する。なお、故障率λrefは、故障率DB330に格納されている当該電子機器の故障率である。 Next, the cumulative failure rate calculation program 410 calculates the cumulative failure rate based on the percentage of cumulative operation time for each threshold category (step S014). Specifically, the cumulative failure rate calculation program 410 calculates the cumulative failure rate λunit of the electronic device based on the multiplication of the sum of values obtained by multiplying the acceleration coefficients corresponding to each individual operation time percentage by the failure rate λref of the electronic device. The failure rate λref is the failure rate of the electronic device stored in the failure rate DB 330.
 次に、累積故障率算出プログラム410は、電子機器の余寿命を推定(算出)する(ステップS015)。具体的には、累積故障率算出プログラム410は、例えば機器構成DB340から該当する電子機器の製品寿命を特定し、累積故障率との比較に基づき当該電子機器の余寿命を計算する。 Next, the cumulative failure rate calculation program 410 estimates (calculates) the remaining life of the electronic device (step S015). Specifically, the cumulative failure rate calculation program 410 identifies the product life of the corresponding electronic device from, for example, the device configuration DB 340, and calculates the remaining life of the electronic device based on a comparison with the cumulative failure rate.
 図10(a)は、製品寿命内での余寿命の推定グラフを示した図である。図10(b)は、製品寿命以降の余寿命の推定グラフを示した図である。ここで、図10(a)、(b)の横軸は電子機器の稼働時間を示し、縦軸はステップS014で算出された累積故障率を示している。また、本例では、標準的な使用による製品寿命として10年が想定され、10年が経過すると累積故障率が故障率の上限λlimitに達することを示している。 FIG. 10(a) is a graph showing an estimate of remaining life within the product's lifespan. FIG. 10(b) is a graph showing an estimate of remaining lifespan after the product's lifespan. Here, the horizontal axis of FIGS. 10(a) and (b) shows the operating time of the electronic device, and the vertical axis shows the cumulative failure rate calculated in step S014. In this example, the product lifespan under standard use is assumed to be 10 years, and it shows that after 10 years the cumulative failure rate will reach the upper limit of the failure rate λlimit.
 なお、図10(a)の例では、稼働時間に対して累積故障率が標準的な使用に比べて低く、ストレス環境での稼働時間が少なかったことを示している。この場合、当該電子機器は、破線Nで示された稼働時間分の余寿命があると推定される。なお、余寿命期間における累積故障率の増加傾向を示す破線Nは、例えば、標準的な使用で想定される累積故障率の増加傾向を示す線Pと同じ傾きが設定されれば良い。 In the example of FIG. 10(a), the cumulative failure rate is lower with respect to the operating time than in standard use, indicating that the operating time in a stressful environment was short. In this case, the electronic device is estimated to have a remaining life of the operating time indicated by dashed line N. Note that dashed line N, which indicates the increasing trend of the cumulative failure rate during the remaining life period, may be set to have the same slope as line P, which indicates the increasing trend of the cumulative failure rate expected in standard use, for example.
 また、図10(b)の例では、稼働時間が製品寿命を超過しているものの、図10(a)の場合と同様に、稼働時間に対して累積故障率が標準的な使用に比べて低く、ストレス環境での稼働時間が少ないことを示している。この場合、当該電子機器は、破線Mで示された稼働時間分の余寿命があると推定される。また、破線Mは、破線Nと同様、標準的な使用で想定される累積故障率の増加傾向を示す線Qと同じ傾きが設定される。 In the example of FIG. 10(b), although the operating time exceeds the product lifespan, as in the case of FIG. 10(a), the cumulative failure rate relative to the operating time is lower than in standard use, indicating that the operating time in a stressful environment is short. In this case, the electronic device is estimated to have a remaining lifespan of the operating time indicated by dashed line M. Also, like dashed line N, dashed line M is set to have the same slope as line Q, which indicates the increasing trend in the cumulative failure rate expected in standard use.
 次に、稼働履歴管理プログラム420は、稼働履歴管理情報を生成する(ステップS016)。具体的には、稼働履歴管理プログラム420は、エッジ機器である自動車の車両IDと、対象となる電子機器の機器IDと、標準環境およびストレス環境の各々における稼働時間と、余寿命と、を含む稼働履歴管理情報を生成する。 Next, the operation history management program 420 generates operation history management information (step S016). Specifically, the operation history management program 420 generates operation history management information that includes the vehicle ID of the automobile, which is the edge device, the device ID of the target electronic device, the operation time in each of the standard environment and the stress environment, and the remaining lifespan.
 図11は、稼働履歴管理情報の一例を示した図である。稼働履歴管理プログラム420は、例えば、車両IDと、機器IDとを稼働履歴情報から特定する。また、稼働履歴管理プログラム420は、しきい値情報110と、ステップS012で算出した各しきい値区分の累積稼働時間と、に基づき標準環境およびストレス環境の累積稼働時間を算出する。また、稼働履歴管理プログラム420は、これらの車両IDと、機器IDと、標準環境の累積稼働時間と、ストレス環境の累積稼働時間と、ステップS015で推定した余寿命と、を含む稼働履歴管理情報を生成(更新)する。 FIG. 11 is a diagram showing an example of operation history management information. The operation history management program 420 identifies, for example, a vehicle ID and an equipment ID from the operation history information. The operation history management program 420 also calculates the cumulative operation times in the standard environment and the stress environment based on the threshold information 110 and the cumulative operation times for each threshold category calculated in step S012. The operation history management program 420 also generates (updates) operation history management information including the vehicle ID, equipment ID, cumulative operation time in the standard environment, cumulative operation time in the stress environment, and the remaining life estimated in step S015.
 また、稼働履歴管理プログラム420は、ステップS016の処理を行うと、再度、処理をステップS010に戻す。 Furthermore, after performing the processing of step S016, the operation history management program 420 returns the processing to step S010 again.
 なお、エッジ機器の電源がOFF状態になった後、次に電源がON状態になった場合には、それまでの各しきい値区分における稼働時間、累積稼働時間および総稼働時間が引き継がれ、それらの時間をベースとして、電源がON状態になった後の稼働時間等が加算されていく。 In addition, if the edge device is turned off and then turned on again, the operating time, cumulative operating time, and total operating time for each threshold category up to that point will be carried over, and the operating time after the power was turned on will be added based on these times.
 以上、サーバ側プロセッサシステム300の処理の詳細について説明した。 The above describes the details of the processing of the server-side processor system 300.
 このような本システムによれば、より通信量を低減した状態データを用いて電子機器等の稼働履歴を管理することができる。特に、エッジ側プロセッサシステムからサーバ側プロセッサシステムに送信される稼働履歴情報は、しきい値区分を用いて電子機器等の稼働環境を表すことで簡略化され、そのデータ量が低減されている。また、稼働履歴情報は、生成時にのみサーバ側プロセッサシステムに送られるため、通信回数が低減されている。そのため、本システムでは、エッジ機器とサーバ計算機との間の通信量およびそれに伴う通信コストの低減に寄与することができる。  With this system, the operation history of electronic devices and the like can be managed using status data with reduced communication traffic. In particular, the operation history information sent from the edge-side processor system to the server-side processor system is simplified by using threshold classifications to represent the operating environment of the electronic devices and the like, reducing the amount of data. In addition, because the operation history information is sent to the server-side processor system only when it is generated, the number of communications is reduced. As a result, this system can contribute to reducing the amount of communication traffic between edge devices and server computers and the associated communication costs.
 また、本システムによれば、電子機器等が標準環境およびストレス環境の各々でどのくらいの時間稼働してきたかという情報や余寿命について管理することができる。 In addition, this system makes it possible to manage information about how long electronic devices have been operating in standard and stressful environments, as well as their remaining lifespan.
 <第二実施形態>
 次に、本システムの第二実施形態について説明する。第二実施形態に係る本システムは、複数の劣化要因を考慮して算出した累積故障率に基づき電子機器の余寿命を算出する。具体的には、第二実施形態では、劣化要因が温度と振動である場合の累積故障率および余寿命の算出について説明する。なお、以下では、第一実施形態と異なる点を中心に説明し、同一の構成および処理については、詳細な説明を省略する。
Second Embodiment
Next, a second embodiment of the present system will be described. The present system according to the second embodiment calculates the remaining life of an electronic device based on a cumulative failure rate calculated taking into account a plurality of degradation factors. Specifically, in the second embodiment, the calculation of the cumulative failure rate and the remaining life when the degradation factors are temperature and vibration will be described. Note that the following mainly describes the points that are different from the first embodiment, and detailed descriptions of the same configurations and processes will be omitted.
 図12は、本実施形態に係る稼働履歴情報の送信履歴の一例を示した図である。図示する送信履歴は、電子機器の電源がON状態になったイベントTsから電源がOFF状態になったイベントTeまでの間に、イベントT1~T11の稼働履歴情報がサーバ側プロセッサシステム300に送信されたことを示している。なお、TTは、劣化要因が温度である場合のイベントを指し、ATは、劣化要因が振動である場合のイベントを指している。 FIG. 12 is a diagram showing an example of a transmission history of operation history information according to this embodiment. The illustrated transmission history shows that operation history information for events T1 to T11 was transmitted to the server-side processor system 300 between event Ts, when the power of the electronic device was turned ON, and event Te, when the power was turned OFF. Note that TT indicates an event where the deterioration cause is temperature, and AT indicates an event where the deterioration cause is vibration.
 図13(a)は、劣化要因が温度の場合のイベント発生タイミングと稼働環境の変化との関係の一例を示した図である。図13(b)は、劣化要因が振動の場合のイベント発生タイミングと稼働環境の変化との関係の一例を示した図である。 FIG. 13(a) is a diagram showing an example of the relationship between the timing of an event occurrence and changes in the operating environment when the deterioration factor is temperature. FIG. 13(b) is a diagram showing an example of the relationship between the timing of an event occurrence and changes in the operating environment when the deterioration factor is vibration.
 なお、これらの図では、劣化要因が温度の場合のしきい値区分を各々TD0~TD5で示し、劣化要因が振動の場合のしきい値区分を各々AD0~AD5で示している。また、温度影響の加速係数を各々Tπ0~Tπ4で示し、振動影響の加速係数を各々Aπ0~Aπ4で示している。 In these figures, the threshold divisions when the degradation factor is temperature are indicated as TD0 to TD5, and the threshold divisions when the degradation factor is vibration are indicated as AD0 to AD5. Additionally, the acceleration coefficients for temperature effects are indicated as Tπ0 to Tπ4, and the acceleration coefficients for vibration effects are indicated as Aπ0 to Aπ4.
 複数の劣化要因を考慮した電子機器の累積故障率を計算する場合、累積故障率算出プログラム410は、各々の劣化要因ごとにステップS011~S014の処理を行う。 When calculating the cumulative failure rate of an electronic device that takes into account multiple degradation factors, the cumulative failure rate calculation program 410 performs steps S011 to S014 for each degradation factor.
 図14は、稼働履歴管理情報の生成処理における累積故障率の具体的な計算内容の一例を示した図である。図示するステップS011~S014は、前述の稼働履歴管理情報の生成処理におけるステップ番号に対応している。 FIG. 14 shows an example of the specific calculation contents of the cumulative failure rate in the generation process of the operation history management information. Steps S011 to S014 shown in the figure correspond to the step numbers in the generation process of the operation history management information described above.
 図示するように、累積故障率算出プログラム410は、劣化要因が温度の場合と、振動の場合との各々について、別個に個別稼働時間割合を計算する。 As shown in the figure, the cumulative failure rate calculation program 410 calculates the individual operating time ratios separately for cases where the degradation factor is temperature and cases where the degradation factor is vibration.
 また、累積故障率算出プログラム410は、ステップS014において、劣化要因が温度の場合の個別稼働時間割合の各々に対応する加速係数を乗算した値の総和と、劣化要因が振動の場合の個別稼働時間割合の各々に対応する加速係数を乗算した値の総和と、を合算した値に対して電子機器の故障率λrefを乗算することにより、当該電子機器の累積故障率λunitを計算する。 In addition, in step S014, the cumulative failure rate calculation program 410 calculates the cumulative failure rate λunit of the electronic device by multiplying the sum of the values obtained by multiplying the acceleration coefficients corresponding to the individual operation time ratios when the degradation factor is temperature and the sum of the values obtained by multiplying the acceleration coefficients corresponding to the individual operation time ratios when the degradation factor is vibration by the failure rate λref of the electronic device.
 また、累積故障率算出プログラム410は、ステップS015において、累積故障率に基づき電子機器の余寿命を推定する。また、累積故障率算出プログラム410は、ステップS016において、推定した余寿命と、標準環境における累積稼働時間と、ストレス環境における累積稼働時間と、を含む稼働履歴管理情報を生成する。 In step S015, the cumulative failure rate calculation program 410 estimates the remaining life of the electronic device based on the cumulative failure rate. In step S016, the cumulative failure rate calculation program 410 generates operation history management information including the estimated remaining life, the cumulative operation time in a standard environment, and the cumulative operation time in a stress environment.
 なお、劣化要因は、温度や振動に限られるものではなく、例えば、電流などその他の劣化要因もあるが、例えば3つ以上の劣化要因を考慮して累積故障率や余寿命を算出する場合でも、本実施形態と同じように計算することで、これらの累積故障率や余寿命を算出することができる。 Note that degradation factors are not limited to temperature and vibration, and there are other degradation factors such as current, but even when calculating the cumulative failure rate and remaining life taking into account three or more degradation factors, the cumulative failure rate and remaining life can be calculated by performing calculations in the same way as in this embodiment.
 以上、本システムの第二実施形態について説明した。 The above describes the second embodiment of this system.
 このような本システムによれば、複数の劣化要因を考慮して電子機器の余寿命を推定することができる。そのため、本システムによれば、より精度良く電子機器の余寿命を推定し、信頼度の高い稼働履歴管理情報を生成および管理することができる。  This system can estimate the remaining lifespan of electronic devices by taking multiple degradation factors into account. As a result, this system can estimate the remaining lifespan of electronic devices with greater accuracy, and generate and manage highly reliable operation history management information.
 <第三実施形態>
 次に、本システムの第三実施形態について説明する。第三実施形態に係る本システムは、エッジ側プロセッサシステム100およびサーバ側プロセッサシステム300が稼働履歴管理情報と稼働履歴情報とを用いて算出した特徴値に基づき、稼働履歴の改ざんを検知する。なお、以下では、第一実施形態および第二実施形態と異なる点を中心に説明し、同一の構成および処理については、詳細な説明を省略する。
Third Embodiment
Next, a third embodiment of the present system will be described. The present system according to the third embodiment detects tampering of operation history based on feature values calculated by the edge-side processor system 100 and the server-side processor system 300 using operation history management information and operation history information. In the following, differences from the first and second embodiments will be mainly described, and detailed descriptions of the same configurations and processes will be omitted.
 <<特徴値算出処理>>
 <<<エッジ側プロセッサシステム100の処理>>>
 図15は、特徴値算出処理の概要例を示した図である。図示するように、エッジ側プロセッサシステム100の特徴値算出プログラム220は、サーバ側プロセッサシステム300から自身のエッジ機器を対象とした稼働履歴管理情報のフィードバックを取得する(1)。また、特徴値算出プログラム220は、稼働履歴生成プログラム210により生成された最新の稼働履歴情報を取得する。また、特徴値算出プログラム220は、稼働履歴管理情報と、稼働履歴情報と、を用いて特徴値を算出する(2)。なお、特徴値の算出方法には、例えば、ストリーム暗号(例えば、LFSR:Linear Feedback Shift Registerなど)や一方向ハッシュ関数(例えば、SHA512などのアルゴリズム)が用いられれば良い。
<<Feature value calculation process>>
<<<<Processing of Edge Side Processor System 100>>>
15 is a diagram showing an outline example of the characteristic value calculation process. As shown in the figure, the characteristic value calculation program 220 of the edge-side processor system 100 acquires feedback of operation history management information targeted at its own edge device from the server-side processor system 300 (1). In addition, the characteristic value calculation program 220 acquires the latest operation history information generated by the operation history generation program 210. In addition, the characteristic value calculation program 220 calculates the characteristic value using the operation history management information and the operation history information (2). Note that, for example, a stream cipher (e.g., LFSR: Linear Feedback Shift Register) or a one-way hash function (e.g., an algorithm such as SHA512) may be used as a method for calculating the characteristic value.
 このようなエッジ側プロセッサシステム100による特徴値算出処理は、例えば、稼働履歴管理情報のフィードバックをサーバ側プロセッサシステム300から受け付けた後、最新の稼働履歴情報を取得したタイミングで実行されれば良い。なお、稼働履歴管理情報のフィードバックは、定期的(例えば、エッジ側プロセッサシステム100の起動時、所定時刻、数時間おき、あるいは数日おき等)に実行されれば良い。 The feature value calculation process by the edge-side processor system 100 may be executed, for example, when the latest operation history information is acquired after feedback of operation history management information is received from the server-side processor system 300. The feedback of operation history management information may be executed periodically (for example, when the edge-side processor system 100 is started, at a specified time, every few hours, or every few days, etc.).
 また、算出された最新の特徴値Aには、稼働履歴管理情報および最新の稼働履歴情報を用いて算出された特徴値と、前回の特徴値算出処理で算出された特徴値に最新の稼働履歴情報を結合した値から算出された特徴値の両方が含まれている。 The calculated latest characteristic value A includes both a characteristic value calculated using the operation history management information and the latest operation history information, and a characteristic value calculated from a value obtained by combining the latest operation history information with the characteristic value calculated in the previous characteristic value calculation process.
 また、特徴値算出プログラム220は、算出した最新の特徴値Aをメモリリソース30内に記憶すると共に(3)、最新の稼働履歴情報と併せて、当該特徴値Aをサーバ側プロセッサシステム300に送信する。 The characteristic value calculation program 220 also stores the latest calculated characteristic value A in the memory resource 30 (3), and transmits the characteristic value A together with the latest operation history information to the server-side processor system 300.
 なお、メモリリソース30には、最新の特徴値が記憶されるが、複数回分の特徴値が記憶されても良い。 Note that the latest characteristic value is stored in the memory resource 30, but characteristic values from multiple times may also be stored.
 以上、エッジ側プロセッサシステム100による特徴値算出処理について説明した。 The above describes the feature value calculation process performed by the edge-side processor system 100.
 <<<サーバ側プロセッサシステム300の処理>>>
 次に、サーバ側プロセッサシステム300の特徴値比較プログラム430は、エッジ側プロセッサシステム100から取得した最新の稼働履歴情報と、エッジ側プロセッサシステム100に対してフィードバックした稼働履歴管理情報と、を用いて、エッジ側プロセッサシステム100の特徴値算出プログラム220が特徴値を算出した方法と同じ方法(アルゴリズム)により特徴値A´を算出する(5)。なお、算出された特徴値A´には、特徴値Aに含まれる特徴値に対応する種類の特徴値が含まれているものとする。
<<<<Processing of Server Side Processor System 300>>>
Next, the feature value comparison program 430 of the server-side processor system 300 uses the latest operation history information acquired from the edge-side processor system 100 and the operation history management information fed back to the edge-side processor system 100 to calculate a feature value A' by the same method (algorithm) as the method used by the feature value calculation program 220 of the edge-side processor system 100 to calculate the feature value (5). Note that the calculated feature value A' includes a type of feature value corresponding to the feature value included in the feature value A.
 次に、特徴値比較プログラム430は、算出した最新の特徴値A´をメモリリソース30に記憶すると共に(6)、特徴値Aと、特徴値A´とを比較する(7)。また、特徴値比較プログラム430は、特徴値Aと、特徴値A´とが異なる値を示す場合、エッジ側プロセッサシステム100にフィードバックした稼働履歴管理情報が改ざんされたことを検知する(8)。 Then, the characteristic value comparison program 430 stores the calculated latest characteristic value A' in the memory resource 30 (6) and compares the characteristic value A with the characteristic value A' (7). Furthermore, if the characteristic value A and the characteristic value A' indicate different values, the characteristic value comparison program 430 detects that the operation history management information fed back to the edge-side processor system 100 has been tampered with (8).
 以上、本システムの第三実施形態について説明した。 The above describes the third embodiment of this system.
 このような本システムによれば、改ざんが検知された場合、例えば、当該エッジ機器を稼働履歴の管理対象から外したり、エッジ機器のユーザに対して電子機器の交換を提案するなど、様々な対応を行うことができる。 If this system detects tampering, various measures can be taken, such as removing the edge device from the list of devices that are subject to operation history management or suggesting to the user of the edge device that they be replaced.
 特に、電子機器がリユース・二次利用時に別のエッジ機器に載せ替えられると、当該エッジ機器の管理元が変わることになる。稼働履歴の改ざんは、このような電子機器の載せ替えのタイミングで発生する場合が多い。特に、稼働履歴の改ざんは、リユース・二次利用される電子機器の余寿命が十分残っていることをアピールする目的で行われる場合が多い。本システムによれば、稼働履歴の改ざんを検知することで、例えば、リユース・二次利用の製品ユーザ等に対して改ざんがあったことを通知したり、電子機器の交換を提案するなど、当該ユーザにおけるメリットを提供することができる。 In particular, when an electronic device is replaced with another edge device during reuse or secondary use, the management source of that edge device changes. Falsification of operation history often occurs at the timing of such electronic device replacement. In particular, falsification of operation history is often done for the purpose of appealing that the electronic device being reused or secondary used has a sufficient remaining lifespan. By detecting falsification of operation history, this system can provide benefits to the user, for example, by notifying the user of the reused or secondary use product that tampering has occurred or by suggesting a replacement of the electronic device.
 <第四実施形態>
 次に、本システムの第四実施形態について説明する。第四実施形態に係る本システムは、エッジ側プロセッサシステム100から稼働履歴情報を取得できない環境あるいは仕様の場合、気象情報と、温度プロファイルと、を用いて、電子機器の稼働環境を推定し、余寿命を算出する。なお、以下では、第一実施形態~第三実施形態と異なる点を中心に説明し、同一の構成および処理については、詳細な説明を省略する。
<Fourth embodiment>
Next, a fourth embodiment of the present system will be described. In the case of an environment or specifications in which operation history information cannot be obtained from the edge processor system 100, the present system according to the fourth embodiment estimates the operating environment of the electronic device using meteorological information and a temperature profile, and calculates the remaining life. Note that the following description will focus on the differences from the first to third embodiments, and detailed descriptions of the same configurations and processes will be omitted.
 <<温度プロファイルを用いた余寿命の算出処理>> <<Calculation of remaining life using temperature profile>>
 まず、エッジ側プロセッサシステム100の位置情報出力プログラム230は、GPS受信装置80からの出力情報を用いて、エッジ機器の現在位置を特定する位置情報を定期的(例えば、数分おき、あるいは数時間おき等)に算出し、サーバ側プロセッサシステム300に送信する。 First, the location information output program 230 of the edge-side processor system 100 uses the output information from the GPS receiver 80 to periodically (e.g., every few minutes or every few hours) calculate location information that identifies the current location of the edge device, and transmits it to the server-side processor system 300.
 サーバ側プロセッサシステム300の累積故障率算出プログラム410は、エッジ側プロセッサシステム100から取得した位置情報に基づき、当該地域における気象情報を所定の気象情報配信サービスから取得する。また、累積故障率算出プログラム410は、取得した当該地域における天候などの気象条件に対応する電子機器の温度環境の推移を温度プロファイルを用いて特定する。 The cumulative failure rate calculation program 410 of the server-side processor system 300 acquires weather information for the relevant area from a specified weather information distribution service based on the location information acquired from the edge-side processor system 100. In addition, the cumulative failure rate calculation program 410 uses a temperature profile to identify the transition of the temperature environment of the electronic equipment corresponding to the weather conditions, such as the weather, in the acquired relevant area.
 これにより、累積故障率算出プログラム410は、例えば図7に示すような電子機器の温度推移を推定することができる。すなわち、累積故障率算出プログラム410は、温度に関する稼働履歴情報と同じ内容の情報を推定することができる。 As a result, the cumulative failure rate calculation program 410 can estimate the temperature transition of an electronic device, for example, as shown in FIG. 7. In other words, the cumulative failure rate calculation program 410 can estimate information that is the same as the operation history information regarding temperature.
 また、累積故障率算出プログラム410は、推定した温度推移に基づき、前述の稼働履歴管理情報の生成処理を実行することで、電子機器の累積故障率や余寿命を算出する。 The cumulative failure rate calculation program 410 also calculates the cumulative failure rate and remaining lifespan of the electronic device by executing the generation process of the operation history management information described above based on the estimated temperature transition.
 以上、本システムの第四実施形態について説明した。 The above describes the fourth embodiment of this system.
 このような本システムによれば、エッジ側プロセッサシステム100から稼働履歴情報を取得できない場合でも、気象情報と温度プロファイルとに基づいて、稼働履歴情報と同等内容の情報を推定することができる。その結果、本システムでは、稼働履歴情報を取得できない場合でも、電子機器の累積故障率や余寿命を推定することができる。 With this system, even if operation history information cannot be obtained from the edge processor system 100, information equivalent to the operation history information can be estimated based on meteorological information and temperature profile. As a result, even if operation history information cannot be obtained, this system can estimate the cumulative failure rate and remaining life of electronic devices.
 <本システムのサービス形態>
 図16~図18は、本システムが適用されたサービス形態の一例を示した図である。
<Service form of this system>
16 to 18 are diagrams showing examples of service forms to which this system is applied.
 図16は、フリート事業者や中古車販売業者向けのサービス形態の一例を示した図である。図示する稼働履歴管理システムが、本システムに該当する。なお、本システムは、エッジ機器の製造会社(図示する例では、OEM:Original Equipment Manufacturerと記載)あるいはデータ管理事業者により保有、管理、運用されている。 FIG. 16 shows an example of a service format for fleet operators and used car dealers. The operation history management system shown in the figure corresponds to this system. This system is owned, managed, and operated by the edge device manufacturer (in the example shown, this is referred to as OEM: Original Equipment Manufacturer) or a data management company.
 当該サービスでは、データ管理事業者等は、フリート事業者(多数のエッジ機器を所有、管理する事業者)や中古車販売業者に対して、電子機器の稼働履歴(余寿命やストレス環境下での稼働時間などを含む稼働履歴管理情報)を有償提供するサービスを行う。これにより、データ管理事業者等は、当該サービスの利用料による収入を得ることができる。 In this service, data management businesses etc. provide fleet operators (businesses that own and manage a large number of edge devices) and used car dealers with the operation history of electronic devices (operation history management information including remaining lifespan and operating time under stressful environments) for a fee. This allows data management businesses etc. to earn income from the usage fees for the service.
 また、データ管理事業者等は、稼働、リユース状況の把握により、製品寿命に達していない電子機器の廃棄の抑制に寄与することで、環境目標(CO2の削減など)に貢献できる、というメリットを得ることができる。また、データ管理事業者は、社会貢献に基づく企業としてのブランイメージ向上、というメリットを得ることもできる。 In addition, by understanding the operation and reuse status, data management businesses etc. can contribute to reducing the disposal of electronic devices that have not yet reached the end of their product life, thereby gaining the benefit of contributing to environmental goals (such as reducing CO2 emissions). Data management businesses can also gain the benefit of improving their corporate brand image based on their contributions to society.
 また、フリート事業者Aは、電子機器の長期利用に伴って、エッジ機器の稼働率向上というメリットを得ることができる。 Fleet operator A can also benefit from improved utilization rates of edge devices as a result of long-term use of electronic devices.
 また、中古車販売業者は、フリート事業者Aから車を購入する際、稼働履歴の把握に基づいて、買取り価格の妥当性を確認できる、というメリットを得ることができる。また、中古車販売業者は、稼働履歴に基づいて、対象車両に搭載されている電子機器の製品寿命やストレス環境下での稼働時間などを把握できるため、故障の可能性が高い電子機器については販売前に交換しておくことができる。これにより、中古車販売業者は、販売先のユーザやフリート事業者Bに対して信用の向上というメリットを得ることができる。 Furthermore, when purchasing a car from fleet operator A, the used car dealer can obtain the benefit of being able to confirm the appropriateness of the purchase price based on an understanding of the operating history. Furthermore, based on the operating history, the used car dealer can obtain information such as the product lifespan of the electronic devices installed in the target vehicle and the operating time under stressful conditions, and can therefore replace any electronic devices that are highly likely to break down before the sale. This allows the used car dealer to obtain the benefit of improved credibility with the users to whom the car is sold and with fleet operator B.
 また、中古車販売業者から車を購入するフリート事業者Bは、稼働履歴の把握に基づいて、購入価格の妥当性を確認できる、というメリットを得ることができる。また、フリート事業者Bは、電子機器の長期利用に伴って、エッジ機器の稼働率向上というメリットを得ることができる。 Furthermore, Fleet Operator B, who purchases a car from a used car dealer, can obtain the benefit of being able to confirm the appropriateness of the purchase price based on an understanding of the operating history. Fleet Operator B can also obtain the benefit of improved operating rates of edge devices as electronic devices are used for a long period of time.
 このように、本システムは、データ管理事業者やフリート事業者および中古車販売業者といったステークホルダーに対して多くのメリットを提供することができる。 In this way, this system can provide many benefits to stakeholders such as data management companies, fleet operators, and used car dealers.
 図17は、リユース・二次利用ベンダ向けのサービス形態の一例を示した図である。当該サービスでは、データ管理事業者は、リユース・二次利用ベンダやディーラ・整備会社に対して、電子機器の稼働履歴(余寿命やストレス環境下での稼働時間などを含む稼働履歴管理情報)を有償提供するサービスを行う。これにより、データ管理事業者は、当該サービスの利用料による収入を得るというメリットを得ることができる。 FIG. 17 shows an example of a service format for reuse/secondary use vendors. In this service, the data management business provides the operation history of electronic devices (operation history management information including remaining life and operation time under stressful conditions) to reuse/secondary use vendors, dealers, and maintenance companies for a fee. This allows the data management business to benefit from income from the usage fees for the service.
 また、リユース・二次利用ベンダは、稼働履歴に応じて最適な販売価格と保証期間を設定できる、というメリットを得ることができる。また、リユース・二次利用ベンダは、稼働履歴の把握に基づき、ディーラ・整備会社から電子機器を買い取る際に、買取り価格の妥当性を確認できる、というメリットを得ることができる。 In addition, reuse and secondary use vendors can benefit from being able to set optimal sales prices and warranty periods based on the operating history. In addition, reuse and secondary use vendors can benefit from being able to check the appropriateness of the purchase price when purchasing electronic devices from dealers and repair companies based on an understanding of the operating history.
 また、ディーラ・整備会社は、稼働履歴に応じた最適な販売価格を設定できる、というメリットを得ることができる。また、中古車販売業者やその他製品ベンダは、リユース・二次利用ベンダからの部品調達コストを低減できる、というメリットを得ることができる。 Furthermore, dealers and repair companies can benefit by being able to set optimal sales prices based on operating history. Also, used car dealers and other product vendors can benefit by being able to reduce the cost of procuring parts from reuse and secondary use vendors.
 このように、本システムは、データ管理事業者、リユース・二次利用ベンダ、ディーラ・整備会社、中古車販売業者およびその他製品ベンダといったステークホルダーに対して多くのメリットを提供することができる。 In this way, this system can provide many benefits to stakeholders such as data management businesses, reuse and secondary use vendors, dealers and maintenance companies, used car dealers, and other product vendors.
 図18は、製造会社(OEM)やリユース・二次利用ベンダ向けのサービス形態の一例を示した図である。当該サービスでは、データ管理事業者は、リユース・二次利用ベンダ、ディーラ・整備会社、製造会社(OEM)およびユーザ(事業者)に対して、電子機器の稼働履歴(余寿命やストレス環境下での稼働時間などを含む稼働履歴管理情報)を有償提供するサービスを行う。これにより、データ管理事業者は、当該サービスの利用料による収入を得るというメリットを得ることができる。 Figure 18 shows an example of a service format for manufacturing companies (OEMs) and reuse/secondary use vendors. In this service, the data management business provides a paid service of electronic device operation history (operation history management information including remaining lifespan and operation time under stressful conditions) to reuse/secondary use vendors, dealers/repair companies, manufacturing companies (OEMs), and users (businesses). This allows the data management business to benefit by earning income from fees for the service.
 また、リユース・二次利用ベンダは、稼働履歴の把握により、ディーラ・整備会社から中古の電子機器(電子部品を含む)の買取り価格の妥当性を確認できる、というメリットを得ることができる。また、リユース・二次利用ベンダは、稼働履歴に応じて、最適な販売価格と保証期間を設定できる、というメリットを得ることができる。また、リユース・二次利用ベンダは、稼働履歴の把握に基づき、買い取った中古の電子機器(電子部品を含む)の選別、ランク分けの工数を削減できる、というメリットを得ることができる。 In addition, by understanding the operating history, reuse/secondary use vendors can gain the advantage of being able to confirm the appropriateness of the purchase price of used electronic devices (including electronic components) from dealers and repair companies. In addition, reuse/secondary use vendors can gain the advantage of being able to set the optimal sales price and warranty period according to the operating history. In addition, reuse/secondary use vendors can gain the advantage of being able to reduce the labor required for sorting and ranking the used electronic devices (including electronic components) that they purchase based on an understanding of the operating history.
 また、ディーラ・整備会社は、稼働履歴に応じた最適な販売価格を設定できる、というメリットを得ることができる。また、ユーザ(事業者)は、稼働履歴の把握に基づき、高品質なリユース車両を所有できる、というメリットを得ることができる。また、ユーザ(事業者)は、稼働履歴の把握に基づき、購入コストを低減できる、というメリットを得ることができる。 Furthermore, dealers and repair companies can benefit from being able to set optimal sales prices based on the operating history.Furthermore, users (businesses) can benefit from being able to own high-quality reused vehicles based on an understanding of the operating history.Furthermore, users (businesses) can benefit from being able to reduce purchasing costs based on an understanding of the operating history.
 また、製造会社(OEM)は、稼働履歴の把握に基づき、リユース品の品質を確認できる、というメリットを得ることができる。また、製造会社は、リユース品を使った車両の品質担保というメリットを得ることができる。また、製造会社は、短納期化、安定供給というメリットを得ることができる。 In addition, the manufacturing company (OEM) can benefit from being able to check the quality of the reused products based on an understanding of the operating history. In addition, the manufacturing company can benefit from the assurance of quality for vehicles that use reused products. In addition, the manufacturing company can benefit from shorter delivery times and a stable supply.
 このように、本システムは、データ管理事業者、リユース・二次利用ベンダ、ディーラ・整備会社、製造会社(OEM)およびユーザ(事業者)といったステークホルダーに対して多くのメリットを提供することができる。 In this way, this system can provide many benefits to stakeholders such as data management businesses, reuse and secondary use vendors, dealers and maintenance companies, manufacturers (OEMs), and users (businesses).
 以上、本システムのサービス形態について説明した。 The above explains the service model of this system.
 なお、このようなエッジ側プロセッサシステム100およびサーバ側プロセッサシステム300に係る計算機は、少なくとも、メモリリソース30(31)内のプログラムを、他の計算機でも実行可能なように、当該他の計算機に対して配信するプログラム配信サーバとして機能しても良い。 In addition, the computers related to such edge-side processor system 100 and server-side processor system 300 may function as a program distribution server that distributes at least the programs in the memory resource 30 (31) to other computers so that the programs can be executed on the other computers.
 また、本発明は、上記した実施形態および変形例に限定されるものではなく、同一の技術的思想の範囲内において様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加、削除、置換をすることが可能である。 Furthermore, the present invention is not limited to the above-mentioned embodiments and modifications, but includes various modifications within the scope of the same technical idea. For example, the above-mentioned embodiments have been described in detail to clearly explain the present invention, and are not necessarily limited to those having all of the configurations described. Furthermore, it is possible to replace part of the configuration of one embodiment with the configuration of another embodiment, and it is also possible to add the configuration of another embodiment to the configuration of one embodiment. Furthermore, it is possible to add, delete, or replace part of the configuration of each embodiment with other configurations.
 また、上記説明では、制御線や情報線は、説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えて良い。 In addition, in the above explanation, the control lines and information lines are those that are considered necessary for the explanation, and do not necessarily show all the control lines and information lines in the product. In reality, it can be assumed that almost all components are interconnected.
100・・・エッジ側プロセッサシステム、20・・・プロセッサ、30・・・メモリリソース、40・・・NI(ネットワークインターフェースデバイス)、60・・・各種センサ、70・・・CAN、80・・・GPS受信装置、110・・・しきい値情報、120・・・機器構成情報、130・・・特徴値情報、210・・・稼働履歴生成プログラム、220・・・特徴値算出プログラム、230・・・位置情報出力プログラム、300・・・サーバ側プロセッサシステム、21・・・プロセッサ、31・・・メモリリソース、41・・・NI(ネットワークインターフェースデバイス)、51・・・UI(ユーザインターフェースデバイス)、310・・・しきい値DB、320・・・加速係数DB、330・・・故障率DB、340・・・機器構成DB、350・・・稼働履歴管理DB、360・・・特徴値管理DB、370・・・温度プロファイルDB、410・・・累積故障率算出プログラム、420・・・稼働履歴管理プログラム、430・・・特徴値比較プログラム、10(11)・・・外部装置、N・・・通信ネットワーク 100: Edge-side processor system, 20: Processor, 30: Memory resource, 40: NI (Network Interface Device), 60: Various sensors, 70: CAN, 80: GPS receiver, 110: Threshold information, 120: Equipment configuration information, 130: Feature value information, 210: Operation history generation program, 220: Feature value calculation program, 230: Location information output program, 300: Server-side processor system, 21: Processor, 31: Memory Resources, 41... NI (Network Interface Device), 51... UI (User Interface Device), 310... Threshold DB, 320... Acceleration Coefficient DB, 330... Failure Rate DB, 340... Equipment Configuration DB, 350... Operation History Management DB, 360... Feature Value Management DB, 370... Temperature Profile DB, 410... Cumulative Failure Rate Calculation Program, 420... Operation History Management Program, 430... Feature Value Comparison Program, 10 (11)... External Device, N... Communication Network

Claims (14)

  1.  エッジ機器に搭載された、プロセッサおよびメモリリソースを含むエッジ側プロセッサシステムと、
     前記エッジ側プロセッサシステムと通信可能であり、サーバ計算機に搭載された、プロセッサおよびメモリリソースを含むサーバ側プロセッサシステムと、を有するシステムであって、
     前記エッジ側プロセッサシステムの前記メモリリソースは、少なくとも、電子機器または電子部品の故障までの期間を速める所定の劣化要因に対応するしきい値が登録されているしきい値情報と、稼働履歴生成プログラムと、を記憶し、
     前記稼働履歴生成プログラムを実行することで、前記エッジ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:
     前記電子機器または電子部品の稼働環境が前記しきい値を超えた場合、当該しきい値を識別するしきい値IDを含む稼働履歴情報を生成し、
     生成した前記稼働履歴情報を前記サーバ側プロセッサシステムに送信し、
     前記サーバ側プロセッサシステムの前記メモリリソースは、少なくとも、累積故障率算出プログラムと、稼働履歴管理プログラムと、を記憶し、
     前記累積故障率算出プログラムを実行することで、前記サーバ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:
     前記しきい値IDに対応するしきい値区分ごとに、前記電子機器または電子部品の総稼働時間に対する各稼働環境下での累積稼働時間を算出し、
     前記累積稼働時間に基づき前記電子機器または電子部品の累積故障率を算出し、
     前記累積故障率と、製品寿命と、に基づき、前記電子機器または電子部品の余寿命を推定し、
     前記稼働履歴管理プログラムを実行することで、前記サーバ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:
     前記余寿命と、前記稼働環境のうち少なくともストレス環境下での前記累積稼働時間と、を含む稼働履歴管理情報を生成する
    ことを特徴とするシステム。
    An edge-side processor system including a processor and a memory resource, the edge-side processor system being mounted on an edge device;
    A system including a server-side processor system that is capable of communicating with the edge-side processor system and is mounted on a server computer and includes a processor and a memory resource,
    The memory resource of the edge processor system stores at least threshold value information in which threshold values corresponding to predetermined deterioration factors that shorten the time until failure of an electronic device or electronic component are registered, and an operation history generation program;
    By executing the operation history generation program, the processor of the edge-side processor system:
    When the operating environment of the electronic device or electronic component exceeds the threshold, generating operation history information including a threshold ID for identifying the threshold;
    Transmitting the generated operation history information to the server-side processor system;
    the memory resource of the server-side processor system stores at least a cumulative failure rate calculation program and an operation history management program;
    By executing the cumulative failure rate calculation program, the processor of the server-side processor system:
    Calculating a cumulative operating time of the electronic device or electronic component under each operating environment with respect to a total operating time of the electronic device or electronic component for each threshold category corresponding to the threshold ID;
    Calculating a cumulative failure rate of the electronic device or electronic component based on the cumulative operating time;
    estimating a remaining life of the electronic device or electronic component based on the cumulative failure rate and the product life;
    By executing the operation history management program, the processor of the server-side processor system:
    A system that generates operation history management information including the remaining lifespan and the accumulated operation time under at least a stress environment among the operating environments.
  2.  請求項1に記載のシステムであって、
     前記しきい値情報には、少なくとも、
     前記劣化要因に対応するしきい値と、当該しきい値に区分された前記電子機器または電子部品の前記稼働環境を示す前記しきい値IDと、が含まれている
    ことを特徴とするシステム。
    2. The system of claim 1,
    The threshold information includes at least
    A system comprising a threshold value corresponding to the deterioration factor, and a threshold ID indicating the operating environment of the electronic device or electronic component classified according to the threshold value.
  3.  請求項2に記載のシステムであって、
     前記しきい値IDには、前記しきい値区分に対応する前記稼働環境の種類として、標準環境およびストレス環境が対応付けられている
    ことを特徴とするシステム。
    3. The system of claim 2,
    A system characterized in that the threshold ID is associated with a standard environment and a stress environment as the type of operating environment corresponding to the threshold category.
  4.  請求項1に記載のシステムであって、
     前記累積故障率算出プログラムを実行することで、前記サーバ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:
     前記電子機器または電子部品の総稼働時間に対する前記稼働環境下での前記累積稼働時間の割合を前記しきい値区分ごとに算出し、
     前記しきい値区分ごとに算出した各稼働環境下での前記累積稼働時間の割合の各々に、前記しきい値区分に対応する前記劣化要因の加速係数を掛け合わせた値の総和と、前記電子機器または電子部品の基準故障率と、を乗算することで、前記累積故障率を算出する
    ことを特徴とするシステム。
    2. The system of claim 1,
    By executing the cumulative failure rate calculation program, the processor of the server-side processor system:
    Calculating a ratio of the cumulative operation time in the operation environment to a total operation time of the electronic device or electronic component for each threshold category;
    A system characterized by calculating the cumulative failure rate by multiplying the sum of values obtained by multiplying each of the percentages of cumulative operating time under each operating environment calculated for each threshold category by an acceleration coefficient of the deterioration factor corresponding to the threshold category, and multiplying the sum by a reference failure rate of the electronic device or electronic component.
  5.  請求項4に記載のシステムであって、
     前記累積故障率算出プログラムを実行することで、前記サーバ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:
     前記電子機器または電子部品の前記累積故障率と、製品寿命に対応する累積故障率の上限値との比較に基づき、前記余寿命を推定する
    ことを特徴とするシステム。
    5. The system of claim 4,
    By executing the cumulative failure rate calculation program, the processor of the server-side processor system:
    A system for estimating the remaining life based on a comparison of the cumulative failure rate of the electronic device or electronic component with an upper limit of the cumulative failure rate corresponding to the product life.
  6.  請求項1に記載のシステムであって、
     前記サーバ側プロセッサシステムの前記メモリリソースは、複数ある前記劣化要因の各々に対応する前記しきい値情報をさらに記憶し、
     前記累積故障率算出プログラムを実行することで、前記サーバ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:
     前記劣化要因の各々に対応する前記しきい値情報を用いて、当該劣化要因ごとに前記累積稼働時間を算出し、
     前記劣化要因ごとの前記累積稼働時間の総和に基づき前記電子機器または電子部品の前記累積故障率を算出し、
     前記累積故障率と、前記製品寿命と、に基づき、前記電子機器または電子部品の余寿命を推定する
    ことを特徴とするシステム。
    2. The system of claim 1,
    the memory resource of the server-side processor system further stores the threshold information corresponding to each of the plurality of degradation factors;
    By executing the cumulative failure rate calculation program, the processor of the server-side processor system:
    calculating the cumulative operating time for each of the deterioration factors using the threshold information corresponding to each of the deterioration factors;
    calculating the cumulative failure rate of the electronic device or electronic component based on the sum of the cumulative operating time for each of the deterioration factors;
    A system for estimating a remaining life of the electronic device or electronic component based on the cumulative failure rate and the product life.
  7.  請求項6に記載のシステムであって、
     前記複数の劣化要因には、少なくとも、温度、振動および電流が含まれる
    ことを特徴とするシステム。
    7. The system of claim 6,
    The system, wherein the plurality of degradation factors include at least temperature, vibration, and current.
  8.  請求項1に記載のシステムであって、
     前記エッジ側プロセッサシステムの前記メモリリソースは、特徴値算出プログラムをさらに記憶し、
     前記特徴値算出プログラムを実行することで、前記エッジ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:
     前記サーバ側プロセッサシステムからフィードバックされた前記稼働履歴管理情報と、前記稼働履歴情報と、を用いて特徴値を算出し、
     算出した前記特徴値と、前記稼働履歴情報と、を前記サーバ側プロセッサシステムに送信し、
     前記サーバ側プロセッサシステムの前記メモリリソースは、特徴値比較プログラムをさらに記憶し、
     前記特徴値算出プログラムを実行することで、前記サーバ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:
     前記エッジ側プロセッサシステムにフィードバックした前記稼働履歴管理情報と、前記稼働履歴情報と、を用いて特徴値を算出し、
     前記算出した特徴値と、前記エッジ側プロセッサシステムで算出された前記特徴値と、を比較することで、前記エッジ側プロセッサシステムにおける前記稼働履歴管理情報の改ざんを検知する
    ことを特徴とするシステム。
    2. The system of claim 1,
    The memory resource of the edge-side processor system further stores a feature value calculation program;
    By executing the feature value calculation program, the processor of the edge-side processor system:
    Calculating a feature value using the operation history management information fed back from the server-side processor system and the operation history information;
    Transmitting the calculated characteristic value and the operation history information to the server-side processor system;
    The memory resource of the server-side processor system further stores a feature value comparison program;
    By executing the feature value calculation program, the processor of the server-side processor system:
    Calculating a feature value using the operation history management information fed back to the edge-side processor system and the operation history information;
    A system characterized by detecting tampering with the operation history management information in the edge-side processor system by comparing the calculated characteristic value with the characteristic value calculated in the edge-side processor system.
  9.  請求項8に記載のシステムであって、
     前記特徴値には、
     前記稼働履歴管理情報および前記稼働履歴情報を用いて算出された特徴値と、前回処理で算出された前記特徴値に前記稼働履歴情報を結合した値から算出された特徴値と、が含まれている
    ことを特徴とするシステム。
    9. The system of claim 8,
    The characteristic values include:
    The system includes a feature value calculated using the operation history management information and the operation history information, and a feature value calculated from a value obtained by combining the operation history information with the feature value calculated in a previous process.
  10.  請求項1に記載のシステムであって、
     前記エッジ側プロセッサシステムの前記メモリリソースは、位置情報出力プログラムをさらに記憶し、
     前記位置情報出力プログラムを実行することで、前記エッジ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:
     前記エッジ側プロセッサシステムが搭載されているエッジ機器の位置情報を前記サーバ側プロセッサシステムに送信し、
     前記サーバ側プロセッサシステムの前記メモリリソースは、前記エッジ機器が稼働していた地域における稼働時の天候に関するプロファイル条件と、当該条件時に測定された前記電子機器の温度推移と、を含む温度プロファイル情報をさらに記憶し、
     前記累積故障率算出プログラムを実行することで、前記サーバ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:
     前記エッジ機器の前記位置情報に対応する地域の前記天候と、前記温度推移と、の対応関係に基づき、前記電子機器または電子部品の温度環境の温度推移を推定し、
     前記温度推移に基づき、前記電子機器または電子部品の前記累積故障率および前記余寿命を推定する
    ことを特徴とするシステム。
    2. The system of claim 1,
    The memory resource of the edge side processor system further stores a position information output program;
    By executing the position information output program, the processor of the edge side processor system:
    transmitting location information of an edge device on which the edge-side processor system is mounted to the server-side processor system;
    The memory resource of the server-side processor system further stores temperature profile information including a profile condition related to weather in a region where the edge device was operating and a temperature transition of the electronic device measured under the profile condition;
    By executing the cumulative failure rate calculation program, the processor of the server-side processor system:
    estimating a temperature transition of a temperature environment of the electronic device or electronic component based on a correspondence relationship between the weather in a region corresponding to the location information of the edge device and the temperature transition;
    A system for estimating the cumulative failure rate and the remaining life of the electronic device or electronic component based on the temperature transition.
  11.  エッジ機器に搭載された、プロセッサおよびメモリリソースを含むエッジ側プロセッサシステムと、
     前記エッジ側プロセッサシステムと通信可能であり、サーバ計算機に搭載された、プロセッサおよびメモリリソースを含むサーバ側プロセッサシステムと、を有するシステムが実行する稼働履歴管理方法であって、
     前記エッジ側プロセッサシステムの前記メモリリソースは、少なくとも、電子機器または電子部品の故障までの期間を速める所定の劣化要因に対応するしきい値が登録されているしきい値情報と、稼働履歴生成プログラムと、を記憶するステップを行い、
     前記稼働履歴生成プログラムを実行することで、前記エッジ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:
     前記電子機器または電子部品の稼働環境が前記しきい値を超えた場合、当該しきい値を識別するしきい値IDを含む稼働履歴情報を生成するステップと、
     生成した前記稼働履歴情報を前記サーバ側プロセッサシステムに送信するステップと、を行い、
     前記サーバ側プロセッサシステムの前記メモリリソースは、少なくとも、累積故障率算出プログラムと、稼働履歴管理プログラムと、を記憶するステップを行い、
     前記累積故障率算出プログラムを実行することで、前記サーバ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:
     前記しきい値IDに対応するしきい値区分ごとに、前記電子機器または電子部品の総稼働時間に対する各稼働環境下での累積稼働時間を算出するステップと、
     前記累積稼働時間に基づき前記電子機器または電子部品の累積故障率を算出するステップと、
     前記累積故障率と、製品寿命と、に基づき、前記電子機器または電子部品の余寿命を推定するステップとを行い、
     前記稼働履歴管理プログラムを実行することで、前記サーバ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:
     前記余寿命と、前記稼働環境のうち少なくともストレス環境下での前記累積稼働時間と、を含む稼働履歴管理情報を生成するステップを行う
    ことを特徴とする稼働履歴管理方法。
    An edge-side processor system including a processor and a memory resource, the edge-side processor system being mounted on an edge device;
    A system including a server-side processor system capable of communicating with the edge-side processor system and including a processor and a memory resource, the server-side processor system being mounted on a server computer, comprising:
    The memory resource of the edge processor system performs a step of storing at least threshold value information in which threshold values corresponding to predetermined deterioration factors that shorten the time until failure of an electronic device or electronic component are registered, and an operation history generating program;
    By executing the operation history generation program, the processor of the edge-side processor system:
    generating operation history information including a threshold ID for identifying a threshold value when the operating environment of the electronic device or electronic component exceeds the threshold value;
    transmitting the generated operation history information to the server-side processor system;
    The memory resource of the server-side processor system performs a step of storing at least a cumulative failure rate calculation program and an operation history management program;
    By executing the cumulative failure rate calculation program, the processor of the server-side processor system:
    calculating a cumulative operating time of the electronic device or electronic component under each operating environment with respect to a total operating time of the electronic device or electronic component for each threshold category corresponding to the threshold ID;
    calculating a cumulative failure rate of the electronic device or electronic component based on the cumulative operating time;
    and estimating a remaining life of the electronic device or electronic component based on the cumulative failure rate and the product life.
    By executing the operation history management program, the processor of the server-side processor system:
    An operation history management method, comprising the step of generating operation history management information including the remaining life and the accumulated operation time under at least a stress environment among the operating environments.
  12.  請求項11に記載の稼働履歴管理方法であって、
     前記サーバ側プロセッサシステムの前記メモリリソースは、複数ある前記劣化要因の各々に対応する前記しきい値情報をさらに記憶するステップを行い、
     前記累積故障率算出プログラムを実行することで、前記サーバ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:
     前記劣化要因の各々に対応する前記しきい値情報を用いて、当該劣化要因ごとに前記累積稼働時間を算出するステップと、
     前記劣化要因ごとの前記累積稼働時間の総和に基づき前記電子機器または電子部品の前記累積故障率を算出するステップと、
     前記累積故障率と、前記製品寿命と、に基づき、前記電子機器または電子部品の余寿命を推定するステップと、を行う
    ことを特徴とする稼働履歴管理方法。
    The operation history management method according to claim 11,
    The memory resource of the server-side processor system further performs a step of storing the threshold information corresponding to each of the plurality of deterioration factors;
    By executing the cumulative failure rate calculation program, the processor of the server-side processor system:
    calculating the cumulative operating time for each of the deterioration factors by using the threshold information corresponding to each of the deterioration factors;
    calculating the cumulative failure rate of the electronic device or electronic component based on the sum of the cumulative operating time for each of the deterioration factors;
    and estimating a remaining life of the electronic device or electronic component based on the cumulative failure rate and the product life.
  13.  請求項11に記載の稼働履歴管理方法であって、
     前記エッジ側プロセッサシステムの前記メモリリソースは、特徴値算出プログラムをさらに記憶するステップを行い、
     前記特徴値算出プログラムを実行することで、前記エッジ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:
     前記サーバ側プロセッサシステムからフィードバックされた前記稼働履歴管理情報と、前記稼働履歴情報と、を用いて特徴値を算出するステップと、
     算出した前記特徴値と、前記稼働履歴情報と、を前記サーバ側プロセッサシステムに送信するステップと、を行い、
     前記サーバ側プロセッサシステムの前記メモリリソースは、特徴値比較プログラムをさらに記憶するステップを行い、
     前記特徴値算出プログラムを実行することで、前記サーバ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:
     前記エッジ側プロセッサシステムにフィードバックした前記稼働履歴管理情報と、前記稼働履歴情報と、を用いて特徴値を算出するステップと、
     前記算出した特徴値と、前記エッジ側プロセッサシステムで算出された前記特徴値と、を比較することで、前記エッジ側プロセッサシステムにおける前記稼働履歴管理情報の改ざんを検知するステップと、を行う
    ことを特徴とする稼働履歴管理方法。
    The operation history management method according to claim 11,
    The memory resource of the edge-side processor system further performs a step of storing a feature value calculation program;
    By executing the feature value calculation program, the processor of the edge-side processor system:
    calculating a feature value using the operation history management information fed back from the server-side processor system and the operation history information;
    transmitting the calculated characteristic value and the operation history information to the server-side processor system;
    The memory resource of the server-side processor system further performs a step of storing a feature value comparison program;
    By executing the feature value calculation program, the processor of the server-side processor system:
    calculating a feature value using the operation history management information fed back to the edge-side processor system and the operation history information;
    and detecting tampering with the operation history management information in the edge-side processor system by comparing the calculated characteristic value with the characteristic value calculated in the edge-side processor system.
  14.  請求項11に記載の稼働履歴管理方法であって、
     前記エッジ側プロセッサシステムの前記メモリリソースは、位置情報出力プログラムをさらに記憶するステップを行い、
     前記位置情報出力プログラムを実行することで、前記エッジ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:
     前記エッジ側プロセッサシステムが搭載されているエッジ機器の位置情報を前記サーバ側プロセッサシステムに送信するステップを行い、
     前記サーバ側プロセッサシステムの前記メモリリソースは、前記エッジ機器が稼働していた地域における稼働時の天候に関するプロファイル条件と、当該条件時に測定された前記電子機器の温度推移と、を含む温度プロファイル情報をさらに記憶するステップを行い、
     前記累積故障率算出プログラムを実行することで、前記サーバ側プロセッサシステムの前記プロセッサは:
     前記エッジ機器の前記位置情報に対応する地域の前記天候と、前記温度推移と、の対応関係に基づき、前記電子機器または電子部品の温度環境の温度推移を推定するステップと、
     前記温度推移に基づき、前記電子機器または電子部品の前記累積故障率および前記余寿命を推定するステップと、を行う
    ことを特徴とする稼働履歴管理方法。
    The operation history management method according to claim 11,
    The memory resource of the edge side processor system further performs a step of storing a position information output program;
    By executing the position information output program, the processor of the edge side processor system:
    transmitting location information of an edge device on which the edge-side processor system is mounted to the server-side processor system;
    The memory resource of the server-side processor system further performs a step of storing temperature profile information including a profile condition related to weather at the time of operation in the area where the edge device was operating and a temperature transition of the electronic device measured under the profile condition;
    By executing the cumulative failure rate calculation program, the processor of the server-side processor system:
    estimating a temperature transition of a temperature environment of the electronic device or electronic component based on a correspondence relationship between the weather in a region corresponding to the location information of the edge device and the temperature transition;
    and estimating the cumulative failure rate and the remaining life of the electronic device or electronic component based on the temperature transition.
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