WO2024042995A1

WO2024042995A1 - 光検出装置、および光検出システム

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Publication number: WO2024042995A1
Application number: PCT/JP2023/027591
Authority: WO
Inventors: 尚米山
Original assignee: ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社
Priority date: 2022-08-24
Filing date: 2023-07-27
Publication date: 2024-02-29

Abstract

［課題］本開示では、より効率的に３次元形状を計測可能な光検出装置、および光検出システムを提供する。［解決手段］本開示によれば、予め定められたパタンを有する投影画像が投影された計測範囲を撮像する撮像部と、撮像部が撮像した撮像画像データに基づき、計測範囲の３次元距離データを生成する信号処理部と、を備え、信号処理部は、撮像画像データに基づく２次元座標の歪みを補正する歪補正部を有する、光検出装置が提供される。

Description

光検出装置、および光検出システム

　本開示は、光検出装置、および光検出システムに関する。

　プロジェクタとカメラとを有し、パタン投影法によって物体の３次元形状を計測する光検出装置が知られている。

国際公開２０１８／１６８７５７号

　このような光検出装置は、距離情報に基づいて算出した歪パラメータからエピポーラ線の歪を補正し、３次元点の位置を再計算する場合がある。しかしながら、距離に基づいて歪パラメータを適応的に変えながら歪補正を実施するため演算量が膨大になってしまう。このため、回路規模の大型化、及びレイテンシの悪化などが生じる恐れがある。

　そこで、本開示では、より効率的に３次元形状を計測可能な光検出装置、および光検出システムを提供する。

　上記の課題を解決するために、本開示によれば、
　予め定められたパタンを有する投影画像が投影された計測範囲を撮像する撮像部と、
　前記撮像部が撮像した撮像画像データに基づき、前記計測範囲の３次元距離データを生成する信号処理部と、を備え、
　前記信号処理部は、前記撮像画像データに基づく２次元座標の歪みを補正する歪補正部を有する、光検出装置が提供される。

　前記投影画像を投影する投影部を更に備えてもよい。

　前記撮像部は撮像光学系を有し、
　前記投影部は投影光学系を有し、
　前記撮像光学系の光軸と、前記投影光学系の光軸とは平行であってもよい。

　前記歪補正部は、前記撮像画像データのｘ座標の２乗とｙ座標の２乗とに基づくｒの２乗に応じて、歪補正を行ってもよい。

　前記信号処理部は、前記歪補正部が歪み補正処理をした前記撮像画像データに基づき、前記計測範囲の３次元距離データを生成する距離計測部を、更に有してもよい。

　前記歪補正部は、エピポーラ線が直線に近づくように、前記撮像画像データを補正してもよい。

　前記歪補正部は、
　エピポーラ線が直線に近づくように、前記撮像画像データを補正する第１歪補正部と、
　前記第１歪補正部よりも演算速度が速く、且つ補正精度が抑制された第２歪補正部と、を有し、
　所定の条件により、前記第１歪補正部又は前記第２歪補正部の一方を選択して歪補正を行ってもよい。

　前記歪補正部は、
　所定の条件により、前記第１歪補正部、及び前記第２歪補正部のいずれを用いるかを判定する判定部を更に有してもよい。

　前記判定部は、撮像光学系の撮像倍率に応じて、前記第１歪補正部、及び前記第２歪補正部のいずれを用いるかを判定してもよい。

　前記歪補正部は、前記撮像画像データのｘ座標の２乗とｙ座標の２乗とに基づくｒの２乗に応じて、歪補正を行うことが可能であり、
　前記第１歪補正部は、前記ｒの２乗、４乗、及び６乗に基づき、歪補正し、
　前記第２歪補正部は、前記ｒの２乗、及び４乗に基づき、歪補正してもよい。

　前記距離計測部は、歪補正後の前記撮像画像データの一方向に向けて特徴点を抽出してもよい。

　前記距離計測部は、三角測量の原理を用いて前記３次元距離データを生成してもよい。

　前記信号処理部は、
　前記撮像画像データにおけるエピポーラ線が直線に近づくように、前記撮像画像データを補正する第２歪補正部と、
　前記第２歪補正部で歪み補正された前記撮像画像データに基づき前記３次元距離データを生成する距離計測部と、
　前記３次元距離データの２次元座標におけるエピポーラ線が更に直線に近づくように、前記２次元座標を補正する第１歪補正部と、
　を有してもよい。

　画像データの範囲を制限する関心領域読み出し部を、更に備え、
　前記信号処理部は、前記制限された範囲において、前記計測範囲の３次元距離データを生成してもよい。

　前記信号処理部は、前記撮像画像データに基づき前記３次元距離データを生成する距離計測部を、更に有し、
　前記歪補正部は、
　前記３次元距離データの２次元座標におけるエピポーラ線が直線に近づくように、前記２次元座標を補正してもよい。

　前記第１歪補正部と、前記第２歪補正部とは、前記ｒの２乗、及び４乗の演算を行う処理部を共有してもよい。

　予め定められた投影パタンを、投影光学系を介して計測範囲に投影する投影装置と、
　前記投影パタンが投影された計測範囲を、撮像光学系を介して撮像する撮像装置と、
　前記撮像装置が撮像した撮像画像データに基づき、前記計測範囲の３次元距離データを生成する処理装置と、を備え、
　前記処理装置は、前記撮像画像データに基づく２次元座標の歪みを補正する歪補正部を有してもよい。

　上記の課題を解決するために、本開示によれば、
　予め定められた投影パタンを、投影光学系を介して計測範囲に投影する投影装置と、
　前記投影パタンが投影された計測範囲を、撮像光学系を介して撮像する撮像装置と、
　前記撮像装置が撮像した撮像画像データに基づき、前記計測範囲の３次元距離データを生成する処理装置と、を備え、
　前記処理装置は、前記撮像画像データに基づく２次元座標の歪みを補正する歪補正部を有する、光検出システムが提供される。

　前記投影光学系の光軸と、前記撮像光学系の光軸とは、平行であり、
　歪補正部は、エピポーラ線が直線に近づくように、前記撮像画像データを補正してもよい。

　上記の課題を解決するために、本開示によれば、
　予め定められた投影パタンを、投影光学系を介して計測範囲に投影する投影装置と、
　前記投影パタンが投影された計測範囲を、第1撮像光学系を介して撮像する第1撮像装置と、
　前記投影パタンが投影された計測範囲を、第２撮像光学系を介して撮像する第２撮像装置と、
を備え、
　前記第２撮像装置は、前記第1撮像装置が撮像した第1撮像画像データと、前記第２撮像装置が撮像した第２撮像画像データと、に基づき、前記計測範囲の３次元距離データを生成する信号処理部を備え、　
　前記信号処理部は、前記第１撮像画像データの２次元座標の歪み、及び前記第２撮像画像データの２次元座標の歪みを補正する歪補正部を有する、光検出システムが提供される。

　前記第1撮像光学系の光軸と、前記第２撮像光学系の光軸とは、平行であり、
　前記歪補正部は、エピポーラ線が直線に近づくように、前記第1撮像画像データ、及び前記第２撮像画像データを補正してもよい。

本技術を適用した光検出装置の概略構成例を示している図。光検出装置の構成例を示すブロック図。レンズ歪補正部の処理例を示す図。距離計測部の構成例を示すブロック図。２値化処理部の処理例を示す図。特徴点の座標を用いた三角測量の処理例を示す図。補正前の画像の座標と補正後の座標との関係を示す図。歪パラメータに関する画像例を示す図。歪補正部の処理例を模式的に示す図。歪補正部の歪パラメータを用いた処理例を模式的に示す図。歪補正部の歪パラメータが補正効果を有する状況を概念的に示す図。第２実施形態に係る歪補正部の構成例を示すブロック図。第１歪補正部と、第２歪補正部との処理例を示すフローチャート。第３実施形態に係る処理部の構成例を示すブロック図。第４実施形態に係る光検出装置の構成例を示すブロック図。第５実施形態に係る処理部の構成例を示すブロック図。第６実施形態に係る歪補正部の構成例を示すブロック図。第７実施形態に係る光検出システムの構成例を示す図。第８実施形態に係る光検出システムの構成例を示す図。

　以下、図面を参照して、光検出装置、および光検出システムの実施形態について説明する。以下では、光検出装置、および光検出システムの主要な構成部分を中心に説明するが光検出装置、および光検出システムには、図示又は説明されていない構成部分や機能が存在しうる。以下の説明は、図示又は説明されていない構成部分や機能を除外するものではない。

（第１実施形態）
　図１は、本技術を適用した光検出装置の概略構成例を示している図である。図１に示す光検出装置１は、例えば投影部１０、及び撮像部２０を少なくとも有する。光検出装置１は、例えば携帯可能な装置として、より小型化可能な装置として構成される。

　投影部１０は、例えばプロジェクタであり、明部と暗部の２種類の輝度を有する投影画像Ｐ１０を生成して計測範囲Ｓ１０に照射する。投影画像Ｐ１０は、例えば、図１に示されるような、格子パタンである。この格子パタンには、固有の幾何学形状を有する特徴点が二次元の格子状に配置されている。例えば各特徴点には、それぞれ固有のコードとして特徴量が割り振られている。

　また、各特徴点には、投影部１０の主点位置に対する三次元座標が予め割振られている。なお、投影画像Ｐ１０は、格子パタンであるが、これに限定されない。例えば、規則的または不規則的な所定の間隔で配置されたドット形状からなる複数のスポットＳＰを明部とし、その他の領域を暗部とするパタン光などでもよい。

　撮像部２０は、例えばカメラであり、計測範囲Ｓ１０の投影画像Ｐ１０を撮像画像データＩ１０として撮像する。光検出装置１は、撮像画像Ｉ１０上での特徴点の座標を検出し、後述するように三角測量の原理により、投影部１０又は撮像部２０の主点位置からの計測範囲Ｓ１０の距離値を生成する。

　図２は、光検出装置１の構成例を示すブロック図である。図２に示すように、光検出装置１は、投影部１０と、撮像部２０と、駆動制御部３０と、信号処理部４０と、カメラインターフェース部５０と、を備える。

　投影部１０は、光軸Ｌ１０を有する投影光学系１０１と、液晶部１０２とを有する。液晶部１０２は、二次元状の投影画像Ｐ１０を輝度画像として生成する。また、この投影画像Ｐ１０における行方向の位置をｘｐ座標とし、列方向の位置をｙｐ座標とする。液晶部１０２は、例えば後述するメモリ４０２に記憶されている投影画像Ｐ１０（図１参照）の原データを用いて、投影画像Ｐ１０を輝度画像として生成する。これにより、上述のように、投影部１０は、投影光学系１０１を介して、投影画像Ｐ１０を計測範囲Ｓ１０に投影する。

　撮像部２０は、光軸Ｌ２０を有する撮像光学系２０１と、二次元状に撮像素子が配置された画像アレイ部２０２と、を有する。光軸Ｌ１０と光軸Ｌ２０は、平行である。画像アレイ部２０２は、例えば、ＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ　Ｍｅｔａｌ　Ｏｘｉｄｅ　Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）イメージセンサーである。すなわち、画像アレイ部２０２は、撮像光学系２０１を介して計測範囲Ｓ１０の投影画像Ｐ１０（図１参照）を撮像して、撮像画像データＩ１０を生成する。画像アレイ部２０２の行方向の位置をｘ座標とし、列方向の位置をｙ座標とする。

　駆動制御部３０は、例えばＣＰＵ（ＣｅｎｔｒａｌＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）を含んで構成される。駆動制御部３０は、例えば操作部（不図示）の入力信号に基づき、投影部１０及び撮像部２０を制御する。

　信号処理部４０は、例えばＣＰＵ（ＣｅｎｔｒａｌＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）を含んで、一つの半導体基板上に構成される。すなわち、この信号処理部４０は、メモリ４０２と、パラメータメモリ４０４と、レンズ歪補正部４０６と、距離計測部４０８とを備える。なお、本実施形態に係るレンズ歪補正部４０６が歪補正部に対応する。

　メモリ４０２は、信号処理部４０の所定のプログラムを記憶すると共に、投影画像Ｐ１０（図１参照）の原データ、及び撮像画像データＩ１０を記憶することが可能である。パラメータメモリ４０４は、投影画像Ｐ１０の各特徴点に関連づけて座標、及び特徴点の幾何学的特徴を数値化した特徴量を記憶する。

　また、メモリ４０２は、後述する距離演算で必要となる投影部１０の主点位置、撮像部２０の主点位置、及び主点位置間の距離、撮像部２０における撮像光学系２０１の歪パラメータなどを記憶している。すなわち、この信号処理部４０は、メモリ４０２に記憶されるプログラムにしたがい、パラメータメモリ４０４に記憶される各情報を用いて、信号処理を行うことにより、計測範囲Ｓ１０の主点位置からの距離値を生成する。

　図３は、レンズ歪補正部４０６の処理例を示す図である。Ａ図は、レンズ歪補正部４０６の処理前の撮像画像データＩ１０を二次元状の画像として示す例であり、Ｂ図は、レンズ歪補正部４０６の処理後の撮像画像データＩ１０ａを二次元状の画像として示す例である。光軸Ｌ１０と光軸Ｌ２０は、平行であるので、レンズ歪補正後のエピポーラ線Ｅ１０は、直線となり、画像アレイ部２０２の行方向と平行となる。レンズ歪補正部４０６の詳細は後述する。

　図４乃至図６を用いて、距離計測部４０８を説明する。図４は、距離計測部４０８の構成例を示すブロック図である。図４に示すように、距離計測部４０８は、レンズ歪補正部４０６による補正処理後の撮像画像データＩ１０ａを用いて、距離計測処理を行う。すなわち、この距離計測部４０８は、２値化信号処理部４０８ａと、特徴量算出部４０８ｂと、距離計測信号処理部４０８ｃとを有する。

　図５は、２値化信号処理部４０８ａの処理例を示す図である。図Ａは、レンズ歪補正部４０６の処理後の撮像画像データＩ１０ａを二次元状の画像として示す図であり、図Ｂは、２値化信号処理部４０８ａの処理後の撮像画像データＩ１０ｂを二次元状の画像として示す図である。図５に示すように、２値化信号処理部４０８ａは、所定の閾値に従い、撮像画像データＩ１０ａに基づき、２値を有する撮像画像データＩ１０ｂを生成する。

　図６は、特徴点の座標を用いた三角測量の処理例を示す図である。図Ｃは、２値の値を有する撮像画像データＩ１０ｂからの特徴点の抽出処理例を示す図であり、図Ｄは、特徴点に対応する投影画像Ｐ１０の座標を示す図である。

　図６のＣ図に示すように、レンズ歪補正部４０６の２値化処理後のエピポーラ線Ｅ１０（図３参照）は、直線となる。このため、特徴量算出部４０８ｂは、２値化処理後の撮像画像データＩ１０ｂの行方向に沿って、特徴点（ｘ、ｙ）の抽出と、特徴量を算出する。例えば、特徴量算出部４０８ｂは、エッジの座標を特徴点として抽出し、特徴点周囲の画素値を用いて特徴量を算出する。

　この場合、エピポーラ線Ｅ１０（図３参照）は、直線となっているので、特徴量算出部４０８ｂは、行方向の座標に沿って特徴点の抽出を行うことが可能となる。さらに、特徴点周囲の画素値の算出範囲も、画像が補正されているので、特徴点から列方向に所定幅の範囲から特徴量の算出を行うことが可能となる。このため、より高速に特徴量の演算が可能となる。これによりレイテンシがより上がると共に、特徴量の演算精度がより高精度となる。

　これに対して、補正前の画像（図３Ａ参照）を用いる場合には、行方向の特徴点の抽出を行うためには、エピポーラ線Ｅ１０における湾曲幅以上の列方向の範囲から特徴点の抽出、及び特徴量の演算をする必要が生じる。このため、補正前の画像（図３Ａ参照）を用いる場合には、補正後の画像（図３Ｂ参照）を用いる場合よりも演算量が、例えば数十倍から数千倍になってしまう場合がある。これから分かるように、特徴量の演算に要するメモリ容量も、補正後の画像（図３Ｂ参照）を用いる場合には、補正前の画像（図３Ａ参照）を用いる場合より少なくすることが可能となる。

　距離計測信号処理部４０８ｃは、特徴点の特徴量に対応する特徴点の座標（ｘｐ、ｙｐ）をパラメータメモリ４０４から取得する。図６に示すように、投影部１０の主点位置Ｏ１０、液晶部１０２の表示面Ｐ１０の座標は既知である。同様に、撮像部２０の画像アレイ部２０２表示面Ｐ２０の座標は既知である。このため、特徴点の座標（ｘ、ｙ）、及び特徴点に対応する座標（ｘｐ、ｙｐ）の３次元座標を、主点位置座標Ｏ１０に対して生成することが可能である。更に、主点位置Ｏ１０とＯ２０間の距離も既知である。これらから分かるように、距離計測信号処理部４０８ｃは、特徴点の座標（ｘ、ｙ）と、対応点の座標（ｘｐ、ｙｐ）を用いて、三角測量の原理により、測量点Ｔ１０の３次元座標（ｘ、ｙ、ｚ）を演算することが可能となる。このように、距離計測信号処理部４０８ｃは、計測範囲Ｓ１０（図１参照）の３次元距離データを生成することが可能である。カメラインターフェース部５０は、光検出装置１と外部装置とのインターフェースである。

　ここで、レンズ補正部４０６の詳細を説明する。再び図２に示すように、レンズ補正部４０６は、制御部４０６ａと、歪補正部４０６ｂを有する。制御部４０６ａは、駆動制御部３０と連動し、歪補正部４０６ｂを制御する。

　歪補正部４０６ｂは、パラメータメモリ４０４に記憶するパラメータを用いて、撮像画像データＩ１０の補正処理を行う。図７は、補正前の画像の座標（ｘ”、ｙ”）と補正後の座標（ｘ’、ｙ’）との関係を示す図である。Ａ図は、補正前の歪画像であり、Ｂ図は、補正後の補正画像である。パラメータメモリ４０４は、例えば（１）式及び（２）式に歪パラメータｋ１、ｋ２、ｋ３、ｐ１、ｐ２を記憶している。歪パラメータは、例えばＺｈａｎｇの手法による事前のキャリブレーションにより求めることが可能であり、予め取得されている。また、歪パラメータｋ１、ｋ２、ｋ３は半径方向の歪パラメータと称する場合があり、歪パラメータｐ１、ｐ２は円周方向の歪パラメータと称する場合がある。
ここで、

　本実施形態に係る歪補正部４０６ｂは、パラメータメモリ４０４に記憶する歪パラメータｋ１、ｋ２、ｋ３、ｐ１、ｐ２を用いて、撮像画像データＩ１０（ｘ”、ｙ”）から歪み補正をした撮像画像データＩ１０ａ（ｘ’、ｙ’）を生成する。

　ここで、図８乃至図１１を用いて、歪パラメータｋ１、ｋ２、ｋ３、ｐ１、ｐ２と補正画像との関係を説明する。図８は、歪パラメータｋ１、ｋ２、ｋ３に関する画像例を示す図である。Ａ図は、樽型と称する画像例であり、Ｂ図は、糸巻型と称する画像例である。

　図９は、歪補正部４０６ｂの処理例を模式的に示す図である。図Ａは、歪パラメータｋ１＝１、ｋ２＝０、ｋ３＝０の処理例であり、図Ｂは、歪パラメータｋ１＝０、ｋ２＝１、ｋ３＝０の処理例であり、図Ｃは、歪パラメータｋ１＝０、ｋ２＝０、ｋ３＝１の処理例である。図Ｄは、歪パラメータｋ１＝－１、ｋ２＝０、ｋ３＝０の処理例であり、図Ｅは、歪パラメータｋ１＝０、ｋ２＝－１、ｋ３＝０の処理例であり、図Ｆは、歪パラメータｋ１＝０、ｋ２＝０、ｋ３＝－１の処理例である。大きな○で示すＨ１０が補正前の座標であり、小さな○で示すＨ２０が補正後の座標を示す。

　これらの図から分かるように、糸巻型の歪画像は、歪パラメータｋ１、ｋ２、ｋ３がプラスであると補正効果を得られる。また、ｋ１、ｋ２、ｋ３の順で補正効果が小さくなる。例えば、同じ１ならば、補正後の座標の変更範囲が、ｋ３が最も小さくなる。

　一方で、樽型の歪画像は、歪パラメータｋ１、ｋ２、ｋ３がマイナスであると補正効果を得られる。また、ｋ１、ｋ２、ｋ３の順で補正効果が小さくなる。例えば、同じ１ならば、補正後の座標の変更範囲が、ｋ３が最も小さくなる。

　図１０は、歪補正部４０６ｂの歪パラメータｐ１、ｐ２を用いた処理例を模式的に示す図である。図Ａは、歪パラメータｐ１＝１、ｐ２＝０の処理例であり、図Ｂは、歪パラメータｐ１＝-1、ｐ２＝0の処理例であり、図Ｃは、歪パラメータｐ１＝0、ｐ２＝1の処理例である。図Ｄは、歪パラメータｐ１＝０、ｐ２＝－１の処理例である。大きな○で示すＨ１０が補正前の座標であり、小さな○で示すＨ２０が補正後の座標を示す。

　これらの図から分かるように、歪パラメータｐ１がプラスであると上側に湾曲をする画像に対する補正効果を得られる。歪パラメータｐ１がマイナスであると下側に湾曲をする画像に対する補正効果を得られる。歪パラメータｐ２がプラスであると右側に湾曲をする画像に対する補正効果を得られる。歪パラメータｐ２がマイナスであると左側に湾曲をする画像に対すする補正効果を得られる。

　図１１は、歪補正部４０６ｂの歪パラメータｐ１、ｐ２が補正効果を有する状況を概念的に示す図である。図１１は、光学系２１０（図１参照）のレンズＬ２００と、画素アレイ部２０２の断面を模式的に示す。Ａ図は、画素アレイ部２０２部の表面と光学系２１０（図１参照）のレンズＬ２００の光軸Ｌ２０が直交している例であり、Ｂ図は、画素アレイ部２０２部の表面と光学系２１０（図１参照）のレンズＬ２００の光軸Ｌ２０が直交していない例である。歪パラメータｐ１、ｐ２による補正は、Ｂ図に示すように、画素アレイ部２０２部の表面と光学系２１０（図１参照）のレンズＬ２００の光軸Ｌ２０が直交していない場合に有効となる。なお、本実施形態に係る光検出装置１では、例えば光検出装置１の光学系等のアライメントが製造時検査により基準を満たしている場合には、歪パラメータｐ１、ｐ２の補正効果は減少するので、ｐ１＝０、ｐ２＝０として、歪パラメータｐ１、ｐ２を用いなくてもよい。

　以上説明したように、本実施形態によれば、レンズ歪補正部４０６が、エピポーラ線Ｅ１０が直線となるように、撮像画像Ｉ１０を補正することとした。これにより、距離計測部４０８による特徴点の演算範囲を、画像の列方向の所定の範囲内に制限することが可能となる。このため、距離計測部４０８は、特徴点の抽出と、特徴量の演算を画像の列方向の所定の範囲内の制限を設けて、行方向に一方向で演算できるので、距離計測における演算処理回数を抑制すると共に、測定精度を向上させることが可能となる。

　（第２実施形態）
　第２実施形態に係る光検出装置１は、レンズ歪補正部４０６の補正処理を画像の歪みに応じて、補正に用いる歪みパラメータの数を変更する点で、第１実施形態に係る光検出装置１と相違する。以下では、第１実施形態に係る光検出装置１と相違する点を説明する。

　図１２は、第２実施形態に係るレンズ歪補正部４０６の構成例を示すブロック図である。図１２に示すように、第２実施形態に係るレンズ歪補正部４０６は、判定部４０６ｃを更に有し、歪み補正部４０６ｂは、第１歪補正部４０６ｄと、第２歪補正部４０６ｅを有する。

　判定部４０６ｃは、第１歪補正部４０６ｄと、第２歪補正部４０６ｅとのいずれかを歪み補正に用いるかを判定する。判定部４０６ｃは、ユーザーがレジスタ設定として、パラメータメモリ４０４に設定した値を参照して、第１歪補正部４０６ｄと、第２歪補正部４０６ｅとのいずれを選択する。また、判定部４０６ｃは、キャリブレーション結果から推定した精度に基づいて使用する第１歪補正部４０６ｄと、第２歪補正部４０６ｅとのいずれを選択してもよい。より具体的には、判定部４０６ｃは、歪パラメータｋ１、ｋ２、ｋ３の各パラメータの大きさにより、第１歪補正部４０６ｄと、第２歪補正部４０６ｅとのいずれを選択する。例えば、ｋ３の値が所定値を越える場合に、第１歪補正部４０６ｄを用いる。

　例えば、第１歪補正部４０６ｄは、（４）、（５）式を用いて、より高精度な補正を行う場合に用いられる。すなわち、本実施形態に係る第１歪補正部４０６ｄは、歪パラメータｋ１、ｋ２、ｋ３を用いる。なお、本実施形態に係る光検出装置１では、例えば光検出装置１の光学系等のアライメントは製造時検査により基準を満たしているので、ｐ１＝０、ｐ２＝０として、歪パラメータｐ１、ｐ２を用いない例で説明する。

　例えば、第２歪補正部４０６ｅは、（６）、（７）式を用いて、（４）、（５）式を用いる場合よりも補正精度を低下させた補正に用いられる。すなわち、本実施形態に係る第２歪補正部４０６ｅは、歪パラメータｋ３を用いず、歪パラメータｋ１、ｋ２を用いる。

　また、判定部４０６ｃは、撮像部２０から撮像光学系２０１の撮像倍率の情報を取得している。これにより、判定部４０６ｃは、撮像部２０から撮像光学系２０１の撮像倍率に応じて、第１歪補正部４０６ｄと、第２歪補正部４０６ｅとのいずれかを歪み補正に用いるかを判定することも可能である。撮像倍率が大きくなるにしたがい、レンズ歪みが低減する。このため、例えば撮像倍率が所定値を越える場合に、第２歪補正部４０６ｅを歪補正に用いる。一方で、撮像倍率が所定値未満である場合に、第１歪補正部４０６ｄを歪補正に用いる。これにより、第２歪補正部４０６ｅを歪補正に用いる場合には、演算速度をより上げることが可能となる。一方で、第１歪補正部４０６ｄを歪補正に用いる場合には、より高精度に歪み補正を行うことが可能となる。

　図１３は、第１歪補正部４０６ｄと、第２歪補正部４０６ｅとの処理例を示すフローチャートである。Ａ図が第１歪補正部４０６ｄの処理例を示し、Ｂ図が第２歪補正部４０６ｅの処理例を示す。

　図１３に示すように、第１歪補正部４０６ｄは（４）、（５）式におけるｒの２乗を演算する（ステップＳ１０）。次にループ１としてループＬ１２とＬ１６の間で、（４）、（５）式におけるｒの４乗を演算する（ステップＳ１４）。次にループ２としてループＬ１８とＬ２２の間で、（４）、（５）式におけるｒの６乗を演算する（ステップＳ２０）。そして、（４）、（５）式に従い、補正演算処理を行うステップ（Ｓ２４）。例えば、乗算２１回、加算９回の演算となる。

　一方で、第２歪補正部４０６ｅは、（６）、（７）式におけるｒの２乗を演算する（ステップＳ１０）。次にループ１としてループＬ１２とＬ１６の間で、（６）、（７）式におけるｒの４乗を演算する（ステップＳ１４）。そして、（６）、（７）式に従い、補正演算処理を行うステップ（Ｓ２６）。例えば、乗算１１回、加算５回の演算となる。これらから分かるように、第２歪補正部４０６ｅは、ｒの６乗を演算するループ２を有さないので、第１歪補正部４０６ｄよりも高速に演算が可能となる。

　また、判定部４０６ｃは、後段処理の要求する補正精度に応じて、補正式を変更してもよく、後段処理の補正精度を維持可能である。また、本実施系形態では円周方向の歪パラメータｐ１、ｐ２には対応していないが、製品の製造精度が維持されている場合には、精度への影響は軽微である。このため、演算速度を重視する場合には、非対応にすることで回路規模削減、高速化を計ることが可能である。

　以上説明したように、本実施形態によれば、レンズ歪補正部４０６の補正処理を画像の歪みに応じて、補正に用いる歪みパラメータの数を変更することとした。これにより、補正のレベルに応じて、補正パラメータの数を削減でき、処理をより高速にすることが可能となる。

　（第３実施形態）
　第３実施形態に係る光検出装置１は、第２歪補正部４０６ｅにより歪補正処理を行った補正画像に対して距離計測を行い、その後に、歪みパラメータ数を増加させた第１歪補正部４０６ｄにより歪補正処理を行う点で、第２実施形態に係る光検出装置１と相違する。以下では、第２実施形態に係る光検出装置１と相違する点を説明する。

　図１４は、第３実施形態に係る信号処理部４０の構成例を示すブロック図である。図１４に示すように、第３実施形態に係る信号処理部４０は、第１レンズ歪み補正部４０６２と、第２レンズ歪み補正部４０６４と、を有する。第１レンズ歪み補正部４０６２は、制御部４０６ａと、第２歪補正部４０６ｅとを有する。第２レンズ歪み補正部４０６４は、制御部４０６ａと、第１歪補正部４０６ｄとを有する。

　第３実施形態に係る光検出装置１は、撮像画像Ｉ１０に対して、第２歪補正部４０６ｅを行う。そして、補正後の撮像画像に対して距離計測部４０８が距離計測処理を行う。すなわち、ここまでの処理は、第２実施形態に係る信号処理部４０の低精度側の処理と同等であり、高速化が可能である。

　そして、距離計測部４０８が生成した３次元の距離計測データの（ｘ、ｙ）座標のデータに対して、第１歪補正部４０６ｄによる補正処理を行う。この場合、距離計測部４０８が生成した３次元の距離計測データを用いるので、処理点数が特徴点の数まで減っているのでより高速に、第１歪補正部４０６ｄによる補正処理を行うことが可能となる。

　以上説明したように、本実施形態によれば、第２歪補正部４０６ｅにより補正処理を行った補正画像に対して距離計測を行い、その後に、歪みパラメータ数を増加させた第１歪補正部４０６ｄを行うこととした。これにより、第１歪補正部４０６ｄを行う際の処理点数を特徴点の数まで抑制できるので、より高速に処理を行うことが可能となる。

　（第４実施形態）
　第４実施形態に係る光検出装置１は、撮像画像データＩ１０のなかから関心領域（ＲＯＩ：Ｒｅｇｉｏｎ　ｏｆ　Ｉｎｔｅｒｅｓｔ）を抽出し、撮像画像データＩ１０ａの処理範囲に制限を設けた撮像画像データＩ１０ａに対して距離計測処理を行う点で、第１実施形態に係る光検出装置１と相違する。以下では、第１実施形態に係る光検出装置１と相違する点を説明する。

　図１５は、第４実施形態に係る光検出装置１の構成例を示すブロック図である。図１５に示すように、第４実施形態に係る信号処理部４０は、ＲＯＩ読み出し部４０３を更に有する。なお、本実施形態に係るＲＯＩ読み出し部４０３が関心領域読み出し部に対応する。

　ＲＯＩ読み出し部４０３は、信号処理部４０が用いる撮像画像データＩ１０の処理範囲を制限する。処理範囲は、予め設定された範囲でもよく、或いは、認識処理により測定対象を抽出した範囲でもよい。認識処理には、汎用的な処理を用いることが可能である。例えば、測定対象が人物の顔である場合には、一般的な顔抽出処理アルゴリズムを用いることが可能である。

　ＲＯＩ読み出し部４０３は、例えば撮像画像データＩ１０のなかから関心領域を切り出し、撮像画像データＩ１０の容量を削減して、メモリ４０２に記憶させる。データ切り出し後の処理は、第１実施形態に係る光検出装置１と同等に行うことが可能である。なお、歪み補正部４０６ｂは、例えば歪パラメータｐ１、ｐ２を用いない（４）、（５）式を用いてもよい。

　或いは、ＲＯＩ読み出し部４０３は、関心領域を示す座標情報を撮像画像データＩ１０と共にメモリ４０２に記憶させてもよい。この場合には、関心領域を示す座標情報で示す範囲の撮像画像データＩ１０に対して、第１実施形態に係る光検出装置１と同等に行うことが可能である。

　以上説明したように、本実施形態によれば、ＲＯＩ読み出し部４０３が、撮像画像データＩ１０のなかから関心領域（ＲＯＩ）を抽出し、撮像画像データＩ１０の処理範囲に制限を設けることとした。これにより、信号処理部４０は、処理範囲を限定することが可能となり、より演算速度を上げることが可能となる。

　（第５実施形態）
　第５実施形態に係る光検出装置１は、距離計測部４０８により距離計測が行われた後の３次元データに対して補正処理を行う点で、第１実施形態に係る光検出装置１と相違する。以下では、第１実施形態に係る光検出装置１と相違する点を説明する。

　図１６は、第５実施形態に係る信号処理部４０の構成例を示すブロック図である。図１６に示すように、第５実施形態に係る信号処理部４０では、距離計測部４０８により距離計測が行われた後の３次元データに対して、歪補正部４０６ｂが歪み補正を行うものである。

　歪補正部４０６ｂは、距離計測部４０８により生成された３次元データの平面座標（ｘ、ｙ）に対して、例えば（４）、（５）式を用いて歪み補正を行う。この場合、距離計測部４０８により生成された３次元データの２次元座標の点数は、特徴点の数に減少しているので、歪補正部４０６ｂの演算処理をより高速に行うことが可能となる。また、歪み補正後の平面座標（ｘ、ｙ）には、補正前のｚ座標の値も対応づけられているので、歪補正部４０６ｂは、３次元データとして、歪み補正後のデータを生成する。

　以上説明したように、本実施形態によれば、距離計測部４０８により距離計測が行われた後の３次元データに対して、歪補正部４０６ｂが歪み補正を行うこととした。これにより、歪補正部４０６ｂが補正処理を行うデータ数が、特徴点の数に応じて減少するので、歪補正部４０６ｂの演算処理をより高速に行うことが可能となる。

　（第６実施形態）
　第６実施形態に係る光検出装置１は、第１歪補正部４０６ｄと、第２歪補正部４０６ｅとの処理回路の一部を共有化する点で、第２実施形態に係る光検出装置１と相違する。以下では、第２実施形態に係る光検出装置１と相違する点を説明する。

　図１７は、第６実施形態に係るレンズ歪補正部４０６の構成例を示すブロック図である。図１２に示すように、第６実施形態に係るレンズ歪補正部４０６は、第１歪補正部４０６ｄと、第２歪補正部４０６ｅとの処理回路の一部として処理回路Ｃ４０６を共有化する。

　例えば、（４）、（６）式のｒの２乗、４乗演算を行う回路を共有化する。同様に、（５）、（７）式のｒの２乗、４乗演算を行う回路を共有化する。これにより、信号処理部４０の回路規模をより小型化することが可能となる。

　（第７実施形態）
　第７実施形態に係る光検出システム１０００は、第１実施形態に係る光検出装置１をシステムとして構成する点で、第１実施形態に係る光検出装置１と相違する。以下では、第１実施形態に係る光検出装置１と相違する点を説明する。

　図１８は、第７実施形態に係る光検出システム１０００の構成例を示す図である。図１８に示すように、第７実施形態に係る光検出システム１０００は、投影装置１０ａと、撮像装置２０ａと、処理装置４０ａと、を備える。投影装置１０ａは、例えばプロジェクタであり、投影部１０と同等の構成を有する。

　また、撮像装置２０ａは、例えばカメラであり、撮像部２０と同等の構成を有する。処理装置４０ａは、例えばプロセッサであり、信号処理部４０と同等の構成を有する。すなわち、投影装置１０ａにおける投影光学系の光軸と、撮像装置２０ａにおける撮像光学系の光軸とは、平行である。また、処理装置４０ａは、撮像装置２０ａが撮像した画像データに基づく２次元座標の歪みを補正するレンズ歪補正部４０６を有する。すなわち、このレンズ歪補正部４０６は、エピポーラ線が直線に近づくように、画像データを補正することが可能である。

　このように、光検出システム１０００は、投影装置１０ａと、撮像装置２０ａと、処理装置４０ａと、を独立した装置と構成することも可能である。このように、投影装置１０ａと、撮像装置２０ａと、処理装置４０ａと、を独立した装置とすることで、投影装置１０ａと、撮像装置２０ａと、処理装置４０ａとの配置を自在に変更可能となる。なお、処理装置４０ａには、第１乃至題実施形態に係る光検出装置１の信号処理部４０と同等の構成を有するように構成可能である。

　（第８実施形態）
　第８実施形態に係る光検出システム１０００ａは、ステレオを撮影可能な撮像装置２０bを更に有する点で、第７実施形態に係る光検出システム１０００と相違する。以下では、第７実施形態に係る光検出システム１０００と相違する点を説明する。

　図１９は、第８実施形態に係る光検出システム１０００ａの構成例を示す図である。図１９に示すように、第８実施形態に係る光検出システム１０００ａは、投影装置１０ａと、撮像装置２０ａと、撮像装置２０ｂと、を備える。撮像装置２０aにおける撮像光学系の光軸は、撮像装置２０ｂにおける撮像光学系の光軸と平行である。すなわち、撮像装置２０ａと、撮像装置２０ｂとのエピポーラ線は平行となる。また、撮像装置２０ｂは、信号処理部４０と同等の構成も有する。信号処理部４０は、撮像装置２０ａと、撮像装置２０ｂとの撮像画像データそれぞれに対して、歪み補正を行う。すなわち、信号処理部４０のレンズ歪補正部４０６は、撮像装置２０ａと、撮像装置２０ｂとの撮像画像データにおけるエピポーラ線が直線に近づくように、画像データを補正することが可能である。

　そして、信号処理部４０は、歪み補正後の撮像画像データそれぞれの特徴点を用いて距離画像データを生成する。このように、撮像装置２０ａと、撮像装置２０ｂと、を独立に構成した光検出システム１０００ａに対しても、撮像装置２０ａと、撮像装置２０ｂとの撮像画像データそれぞれに対して、歪み補正を行うことにより、演算処理速度をより高速にすることが可能である。

　なお、本技術は以下のような構成を取ることができる。

（１）
　予め定められたパタンを有する投影画像が投影された計測範囲を撮像する撮像部と、
　前記撮像部が撮像した撮像画像データに基づき、前記計測範囲の３次元距離データを生成する信号処理部と、を備え、
　前記信号処理部は、前記撮像画像データに基づく２次元座標の歪みを補正する歪補正部を有する、光検出装置。

（２）
　前記投影画像を投影する投影部を更に備える、（１）に記載の光検出装置。

（３）
　前記撮像部は撮像光学系を有し、
　前記投影部は投影光学系を有し、
　前記撮像光学系の光軸と、前記投影光学系の光軸とは平行である、（２）に記載の光検出装置。

（４）
　前記歪補正部は、前記撮像画像データのｘ座標の２乗とｙ座標の２乗とに基づくｒの２乗に応じて、歪補正を行う、（３）に記載の光検出装置。

（５）
　前記信号処理部は、前記歪補正部が歪み補正処理をした前記撮像画像データに基づき、前記計測範囲の３次元距離データを生成する距離計測部を、更に有する、（３）に記載の光検出装置。

（６）
　前記歪補正部は、エピポーラ線が直線に近づくように、前記撮像画像データを補正する、（５）に記載の光検出装置。

（７）
　前記歪補正部は、
　エピポーラ線が直線に近づくように、前記撮像画像データを補正する第１歪補正部と、
　前記第１歪補正部よりも演算速度が速く、且つ補正精度が抑制された第２歪補正部と、を有し、
　所定の条件により、前記第１歪補正部又は前記第２歪補正部の一方を選択して歪補正を行う、（６）に記載の光検出装置。

（８）
　前記歪補正部は、
　所定の条件により、前記第１歪補正部、及び前記第２歪補正部のいずれを用いるかを判定する判定部を更に有する、（７）に記載の光検出装置。

（９）
　前記判定部は、撮像光学系の撮像倍率に応じて、前記第１歪補正部、及び前記第２歪補正部のいずれを用いるかを判定する、（８）に記載の光検出装置。

（１０）
　前記歪補正部は、前記撮像画像データのｘ座標の２乗とｙ座標の２乗とに基づくｒの２乗に応じて、歪補正を行うことが可能であり、
　前記第１歪補正部は、前記ｒの２乗、４乗、及び６乗に基づき、歪補正し、
　前記第２歪補正部は、前記ｒの２乗、及び４乗に基づき、歪補正する、（９）に記載の光検出装置。

（１１）
　前記距離計測部は、歪補正後の前記撮像画像データの一方向に向けて特徴点を抽出する、（１０）に記載の光検出装置。

（１２）
　前記距離計測部は、三角測量の原理を用いて前記３次元距離データを生成する、（１１）に記載の光検出装置。

（１３）
　前記信号処理部は、
　前記撮像画像データにおけるエピポーラ線が直線に近づくように、前記撮像画像データを補正する第２歪補正部と、
　前記第２歪補正部で歪み補正された前記撮像画像データに基づき前記３次元距離データを生成する距離計測部と、
　前記３次元距離データの2次元座標におけるエピポーラ線が更に直線に近づくように、前記2次元座標を補正する第１歪補正部と、
　を有する、（１１）に記載の光検出装置。

（１４）
　画像データの範囲を制限する関心領域読み出し部を、更に備え、
　前記信号処理部は、前記制限された範囲において、前記計測範囲の３次元距離データを生成する、（１）に記載の光検出装置。

（１５）
　前記信号処理部は、前記撮像画像データに基づき前記３次元距離データを生成する距離計測部を、更に有し、
　前記歪補正部は、
　前記３次元距離データの2次元座標におけるエピポーラ線が直線に近づくように、前記2次元座標を補正する、（１）に記載の光検出装置。

（１６）
　前記第１歪補正部と、前記第２歪補正部とは、前記ｒの２乗、及び４乗の演算を行う処理部を共有する、（１０）に記載の光検出装置。

（１７）
　予め定められた投影パタンを、投影光学系を介して計測範囲に投影する投影装置と、
　前記投影パタンが投影された計測範囲を、撮像光学系を介して撮像する撮像装置と、
　前記撮像装置が撮像した撮像画像データに基づき、前記計測範囲の３次元距離データを生成する処理装置と、を備え、
　前記処理装置は、前記撮像画像データに基づく２次元座標の歪みを補正する歪補正部を有する、光検出システム。

（１８）
　前記投影光学系の光軸と、前記撮像光学系の光軸とは、平行であり、
　歪補正部は、エピポーラ線が直線に近づくように、前記撮像画像データを補正する、（１７）に記載の光検出システム。

（１９）
　予め定められた投影パタンを、投影光学系を介して計測範囲に投影する投影装置と、
　前記投影パタンが投影された計測範囲を、第1撮像光学系を介して撮像する第1撮像装置と、
　前記投影パタンが投影された計測範囲を、第２撮像光学系を介して撮像する第２撮像装置と、
を備え、
　前記第２撮像装置は、前記第1撮像装置が撮像した第1撮像画像データと、前記第２撮像装置が撮像した第２撮像画像データと、に基づき、前記計測範囲の３次元距離データを生成する信号処理部を備え、
　前記信号処理部は、前記第１撮像画像データの２次元座標の歪み、及び前記第２撮像画像データの２次元座標の歪みを補正する歪補正部を有する、光検出システム。

（２０）
　前記第1撮像光学系の光軸と、前記第２撮像光学系の光軸とは、平行であり、
　前記歪補正部は、エピポーラ線が直線に近づくように、前記第1撮像画像データ、及び前記第２撮像画像データを補正する、（１９）に記載の光検出システム。

　本開示の態様は、上述した個々の実施形態に限定されるものではなく、当業者が想到しうる種々の変形も含むものであり、本開示の効果も上述した内容に限定されない。すなわち、特許請求の範囲に規定された内容およびその均等物から導き出される本開示の概念的な思想と趣旨を逸脱しない範囲で種々の追加、変更および部分的削除が可能である。

　１：光検出装置、１０：投影部、１０ａ：投影装置、２０：撮像部、２０ａ、２０ｂ：撮像装置、４０：信号処理部、４０ａ：処理装置、１０１：投影光学系、２０１：撮像光学系、４０６：レンズ歪補正部、４０６ｃ：判定部、４０６ｄ：第１歪補正部４０６ｅ：第２歪補正部、４０８：距離計測部、１０００、１０００ａ：光検出システム。

Claims

　予め定められたパタンを有する投影画像が投影された計測範囲を撮像する撮像部と、
　前記撮像部が撮像した撮像画像データに基づき、前記計測範囲の３次元距離データを生成する信号処理部と、を備え、
　前記信号処理部は、前記撮像画像データに基づく２次元座標の歪みを補正する歪補正部を有する、光検出装置。
　前記投影画像を投影する投影部を更に備える、請求項１に記載の光検出装置。
　前記撮像部は撮像光学系を有し、
　前記投影部は投影光学系を有し、
　前記撮像光学系の光軸と、前記投影光学系の光軸とは平行である、請求項２に記載の光検出装置。
　前記歪補正部は、前記撮像画像データのｘ座標の２乗とｙ座標の２乗とに基づくｒの２乗に応じて、歪補正を行う、請求項３に記載の光検出装置。
　前記信号処理部は、前記歪補正部が歪み補正処理をした前記撮像画像データに基づき、前記計測範囲の３次元距離データを生成する距離計測部を、更に有する、請求項３に記載の光検出装置。
　前記歪補正部は、エピポーラ線が直線に近づくように、前記撮像画像データを補正する、請求項５に記載の光検出装置。
　前記歪補正部は、
　エピポーラ線が直線に近づくように、前記撮像画像データを補正する第１歪補正部と、
　前記第１歪補正部よりも演算速度が速く、且つ補正精度が抑制された第２歪補正部と、を有し、
　所定の条件により、前記第１歪補正部又は前記第２歪補正部の一方を選択して歪補正を行う、請求項６に記載の光検出装置。
　前記歪補正部は、
　所定の条件により、前記第１歪補正部、及び前記第２歪補正部のいずれを用いるかを判定する判定部を更に有する、請求項７に記載の光検出装置。
　前記判定部は、撮像光学系の撮像倍率に応じて、前記第１歪補正部、及び前記第２歪補正部のいずれを用いるかを判定する、請求項８に記載の光検出装置。
　前記歪補正部は、前記撮像画像データのｘ座標の２乗とｙ座標の２乗とに基づくｒの２乗に応じて、歪補正を行うことが可能であり、
　前記第１歪補正部は、前記ｒの２乗、４乗、及び６乗に基づき、歪補正し、
　前記第２歪補正部は、前記ｒの２乗、及び４乗に基づき、歪補正する、請求項９に記載の光検出装置。
　前記距離計測部は、歪補正後の前記撮像画像データの一方向に向けて特徴点を抽出する、請求項１０に記載の光検出装置。
　前記距離計測部は、三角測量の原理を用いて前記３次元距離データを生成する、請求項１１に記載の光検出装置。
　前記信号処理部は、
　前記撮像画像データにおけるエピポーラ線が直線に近づくように、前記撮像画像データを補正する第２歪補正部と、
　前記第２歪補正部で歪み補正された前記撮像画像データに基づき前記３次元距離データを生成する距離計測部と、
　前記３次元距離データの2次元座標におけるエピポーラ線が更に直線に近づくように、前記2次元座標を補正する第１歪補正部と、
　を有する、請求項１１に記載の光検出装置。
　画像データの範囲を制限する関心領域読み出し部を、更に備え、
　前記信号処理部は、前記制限された範囲において、前記計測範囲の３次元距離データを生成する、請求項１に記載の光検出装置。
　前記信号処理部は、前記撮像画像データに基づき前記３次元距離データを生成する距離計測部を、更に有し、
　前記歪補正部は、
　前記３次元距離データの2次元座標におけるエピポーラ線が直線に近づくように、前記2次元座標を補正する、請求項１に記載の光検出装置。
　前記第１歪補正部と、前記第２歪補正部とは、前記ｒの２乗、及び４乗の演算を行う処理部を共有する、請求項１０に記載の光検出装置。
　予め定められた投影パタンを、投影光学系を介して計測範囲に投影する投影装置と、
　前記投影パタンが投影された計測範囲を、撮像光学系を介して撮像する撮像装置と、
　前記撮像装置が撮像した撮像画像データに基づき、前記計測範囲の３次元距離データを生成する処理装置と、を備え、
　前記処理装置は、前記撮像画像データに基づく２次元座標の歪みを補正する歪補正部を有する、光検出システム。
　前記投影光学系の光軸と、前記撮像光学系の光軸とは、平行であり、
　歪補正部は、エピポーラ線が直線に近づくように、前記撮像画像データを補正する、請求項１７に記載の光検出システム。
　予め定められた投影パタンを、投影光学系を介して計測範囲に投影する投影装置と、
　前記投影パタンが投影された計測範囲を、第1撮像光学系を介して撮像する第1撮像装置と、
　前記投影パタンが投影された計測範囲を、第２撮像光学系を介して撮像する第２撮像装置と、
を備え、
　前記第２撮像装置は、前記第1撮像装置が撮像した第1撮像画像データと、前記第２撮像装置が撮像した第２撮像画像データと、に基づき、前記計測範囲の３次元距離データを生成する信号処理部を備え、　
　前記信号処理部は、前記第１撮像画像データの２次元座標の歪み、及び前記第２撮像画像データの２次元座標の歪みを補正する歪補正部を有する、光検出システム。
　前記第1撮像光学系の光軸と、前記第２撮像光学系の光軸とは、平行であり、
　前記歪補正部は、エピポーラ線が直線に近づくように、前記第1撮像画像データ、及び前記第２撮像画像データを補正する、請求項１９に記載の光検出システム。