WO2023187869A1 - テスト支援装置、テスト支援方法、およびテスト支援プログラム - Google Patents

テスト支援装置、テスト支援方法、およびテスト支援プログラム Download PDF

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WO2023187869A1
WO2023187869A1 PCT/JP2022/014870 JP2022014870W WO2023187869A1 WO 2023187869 A1 WO2023187869 A1 WO 2023187869A1 JP 2022014870 W JP2022014870 W JP 2022014870W WO 2023187869 A1 WO2023187869 A1 WO 2023187869A1
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WO
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test
design element
viewpoint
influence
degree
Prior art date
Application number
PCT/JP2022/014870
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
菜摘子 藤井
潤二 加藤
Original Assignee
三菱電機株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
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    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/36—Preventing errors by testing or debugging software

Definitions

  • the present disclosure relates to a test support device, a test support method, and a test support program that support testing in software development.
  • test viewpoint a concept called "test viewpoint.”
  • test perspective matrix is a matrix table in which software functions are shown on the vertical axis and test perspectives are shown on the horizontal axis, during test design.
  • Patent No. 6865942 Japanese Patent Application Publication No. 2020-154563 JP2016-212633A
  • a specification that is indirectly affected is, for example, a specification related to another function that may change the execution timing of software by changing a certain specification, and the behavior may change accordingly.
  • test cases when using technology to extract test cases using keyword searches based on changes, there is a possibility that a large number of test cases with low relevance will be extracted, or necessary test cases will not be extracted due to spelling errors. A possibility arises.
  • the present disclosure has been made to solve such problems, and provides a test support device, a test support method, and a test support program that can reduce test design man-hours and test implementation man-hours in software development.
  • the purpose is to
  • a test support device that supports tests performed when changing software specifications, and includes specification information, source code, traceability information, and changed specifications. Based on the information, calculate the degree of influence of the design element that indicates the degree of influence that the change specification included in the change specification information has on the design element, and generate change affected location information with degree of influence that indicates the relationship between the design element and the degree of influence of the design element. Based on the created change affected location creation unit with impact level, specification information, change specification information, and test perspective database, extracts whether or not there is a correspondence between design elements and test perspectives, and calculates the correspondence between design elements and test perspectives.
  • test perspective matrix creation unit Based on the test perspective matrix creation unit that creates a test perspective matrix that shows , calculate the degree of influence of the design element test perspective pair that indicates the influence of the change specification on the design element test perspective pair, which is a pair of design element and test perspective, and calculate the degree of influence of the design element test perspective pair and the design element test perspective pair influence.
  • a test perspective matrix with influence creation part that creates a test perspective matrix with influence that shows the relationship between test viewpoints with influence, test information that shows the correspondence between design element test viewpoint pairs and test cases, and a test viewpoint matrix with influence creation part.
  • the test case priority creation unit calculates the test case priority, which is the priority of the test case, based on the created test viewpoint matrix with impact, and the test with impact created by the test viewpoint matrix creation unit with impact.
  • the display control unit includes a display control unit that performs control to display at least one of the viewpoint matrix and the test case priorities calculated by the test case priority generation unit.
  • FIG. 1 is a block diagram showing an example of a configuration of a test support device according to a first embodiment
  • FIG. FIG. 3 is a diagram for explaining the operation of the test support device according to the first embodiment.
  • FIG. 3 is a diagram showing an example of specification information according to the first embodiment.
  • FIG. 3 is a diagram showing an example of traceability information according to the first embodiment.
  • 7 is a diagram showing an example of changed specification information according to the first embodiment.
  • FIG. FIG. 3 is a diagram illustrating an example of change affected location information with influence degree according to the first embodiment.
  • FIG. 3 is a diagram showing an example of a test viewpoint database according to the first embodiment.
  • FIG. 3 is a diagram showing an example of a test viewpoint matrix according to the first embodiment.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a test viewpoint matrix with influence according to the first embodiment;
  • FIG. 3 is a diagram showing an example of test information according to the first embodiment.
  • 3 is a diagram illustrating an example of test case priority information according to the first embodiment.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating an example of the configuration of a test support device according to Embodiment 1.
  • FIG. 2 is a block diagram showing an example of the configuration of a test support device according to a second embodiment.
  • FIG. 7 is a diagram for explaining the operation of the test support device according to the second embodiment.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a test viewpoint matrix with adjusted influence according to the second embodiment.
  • FIG. 3 is a block diagram showing an example of the configuration of a test support device according to a third embodiment.
  • FIG. 7 is a diagram for explaining the operation of the test support device according to the third embodiment. 7 is a diagram illustrating an example of a consistency determination result according to Embodiment 3.
  • FIG. 7 is a diagram showing an example of revised specification test information according to the third embodiment; FIG.
  • FIG. 1 is a block diagram showing an example of the configuration of a test support device 10 according to the first embodiment.
  • the test support device 10 is realized by a computer.
  • the test support device 10 includes hardware such as a processor 11, a memory 12, a storage 13, and a communication interface 14.
  • the processor 11 is connected to other hardware via signal lines and controls the connected hardware.
  • the processor 11 is an IC (Integrated Circuit) that performs processing. Specific examples of the processor 11 include a CPU (Central Processing Unit), a DSP (Digital Signal Processor), and a GPU (Graphics Processing Unit).
  • a CPU Central Processing Unit
  • DSP Digital Signal Processor
  • GPU Graphics Processing Unit
  • the memory 12 is a storage device that temporarily stores data. Specific examples of the memory 12 include SRAM (Static Random Access Memory), DRAM (Dynamic Random Access Memory), and the like.
  • the storage 13 is a storage device that stores data.
  • a specific example of the storage 13 is an HDD (Hard Disk Drive).
  • the storage 13 includes an SD (Secure Digital (registered trademark)) memory card, CF (CompactFlash (registered trademark)), NAND flash, flexible disk, optical disk, compact disc, Blu-ray (registered trademark) disk, DVD (Digital Versatile Disk), etc. It may be a portable storage medium.
  • the communication interface 14 is an interface for communicating with an external device. Specific examples of the communication interface 14 include ports such as Ethernet (registered trademark), USB (Universal Serial Bus), and HDMI (High-Definition Multimedia Interface, registered trademark).
  • the test support device 10 includes, as functional components, a change affected location creation unit 21 with impact level, a test viewpoint matrix creation unit 22, a test viewpoint matrix creation unit 23 with impact level, and a test case priority creation unit 24.
  • a display control section 25 is also provided.
  • the functions of the change affected location creation unit 21 with impact level, the test viewpoint matrix creation unit 22, the test viewpoint matrix creation unit 23 with impact level, the test case priority creation unit 24, and the display control unit 25 are realized by software. .
  • the storage 13 implements the following functions: a change affected location creation unit 21 with impact level, a test viewpoint matrix creation unit 22, a test viewpoint matrix creation unit 23 with impact level, a test case priority creation unit 24, and a display control unit 25.
  • the program to do this is stored in memory. These programs are read into the memory 12 by the processor 11 and executed by the processor 11. As a result, the functions of the change affected location creation unit 21 with impact level, the test viewpoint matrix creation unit 22, the test viewpoint matrix creation unit 23 with impact level, the test case priority creation unit 24, and the display control unit 25 are realized. .
  • FIG. 1 shows a case where the test support device 10 includes one processor 11.
  • the test support device 10 may include a plurality of processors that replace the processor 11. These plurality of processors perform the respective functions of a change affected location creation unit 21 with impact level, a test viewpoint matrix creation unit 22 , a test viewpoint matrix creation unit 23 with impact level, a test case priority creation unit 24 , and a display control unit 25 . Sharing the execution of the program to be realized.
  • Each processor like the processor 11, is an IC that performs processing.
  • test support device 10 The operation of the test support device 10 according to the first embodiment will be explained with reference to FIG. 2.
  • the operation of the test support device 10 according to the first embodiment corresponds to the test support method according to the first embodiment. Further, the operation of the test support device 10 according to the first embodiment corresponds to the processing of the test support program according to the first embodiment.
  • the change affected part creation unit 21 with impact degree receives input of specification information 31, source code 32, traceability information 33, and change specification information 34 via the communication interface 14, and writes them into the memory 12. Then, the change affected location creation unit 21 with impact degree processes the specification information 31, source code 32, traceability information 33, and change specification information 34, and creates change impact location information 35 with impact degree.
  • the specification information 31 is, for example, a specification such as a requirements specification and a software design document, or a part of a description written in the specification.
  • the specification information 31 is, for example, a list of the titles of each request and function and their detailed descriptions.
  • FIG. 3 is a diagram showing specification information 31 used as a specific example in the first embodiment. In the request shown in FIG. 3, for example, the second line describes the details of the request titled Request I.
  • the traceability information 33 is, for example, a list of which design element in an adjacent higher-level specification or lower-level specification each design element (requirement, function, function, etc.) is associated with.
  • Adjacent specifications are, for example, when a requirements design process, a functional design process, a function design process, and a test design process are each executed in sequence using the output of the previous process as input, Indicates each design element to be output.
  • the adjacent lower-level specification of the request is a function
  • the upper-level specification adjacent to the function is a requirement.
  • FIG. 4 is a diagram showing traceability information 33 used as a specific example in the first embodiment.
  • the second and third lines indicate that request I is achieved by function A and function B.
  • Traceability information 33 may be created manually or automatically using a tool or script.
  • the change specification information 34 is, for example, a change specification created for change development, or a part of the description written in the change specification.
  • the change specification information 34 is, for example, a list of titles and details of each change specification.
  • FIG. 5 is a diagram showing change specification information 34 used as a specific example in the first embodiment.
  • the second line shows details of the change specification titled Change ⁇ and that the change target is Function B.
  • the change target is a design element that is targeted for change in the change specification among the design elements described in the related specification information 31.
  • a request or a function may be described in the change target, or both a request and a function may be described.
  • a plurality of design elements may be described in the change target. If there is no change target in the related specification information 31, such as when creating a new function during change development, it may be left blank.
  • the change affected location information 35 with impact degree lists the degree of influence (hereinafter referred to as "design element impact degree") for each design element of the specification information 31 from the change specifications described in the change specification information 34. This is what I did.
  • the design element influence degree is the degree of influence that each design element receives when the contents of the change target are changed according to the change specifications. Impact means, for example, the possibility that the specifications of each design element will need to be changed, or the operation of the target software regarding each design element will be changed.
  • FIG. 6 is a diagram showing the change affected location information 35 with impact degree used as a specific example in the first embodiment, and is a list showing the design element influence degree regarding the change ⁇ . In FIG.
  • the second line indicates that the degree of influence of the design element of the change ⁇ is “0”, which is the largest.
  • the third line indicates that the request I is influenced by the design element influence degree "2" from the change ⁇ .
  • the smaller the numerical value of the design element influence degree the greater the influence, indicating that the influence of function B, which is the target of change ⁇ , is the largest, and the influence of requirement II and the fourth function is the smallest. It shows.
  • the change-affected part creation unit 21 creates a list of design elements based on the specification information 31, and selects the third row of the first column of the table of change-affected part information 35 with influence shown in FIG. Described below.
  • the change affected location creation unit 21 creates a list of change specifications based on the change specification information 34, and creates a list of change specifications in the first column of the table of change affected location information 35 with impact shown in FIG. Write it on the first line.
  • the change impact location creation unit 21 with impact degree calculates the degree of design element impact that each change specification has on each design element based on the source code 32 and the traceability information 33. Information on dependencies between functions in the source code 32 and distance information included in the traceability information 33 are used to calculate the design element influence degree.
  • the change affected location creation unit 21 calculates the degree of association between each design element (hereinafter referred to as "degree of association between design elements") based on the traceability information 33. For example, since change ⁇ is a change specification that changes function B, the degree of association between design elements between change ⁇ and function B is set to “1”. Further, since Function B is directly associated with Requirement I, the degree of association between design elements between Function B and Requirement I is set to "1". The degree of relationship between design elements between change ⁇ and request I is set to 2 by adding the degree of relationship between design elements between change ⁇ and function B, and the degree of relationship between design elements between function B and request I. .
  • the change affected location creation unit 21 uses the degree of association between design elements from the change ⁇ calculated in this way to each design element as the design element impact degree in the change affected location information 35 with impact shown in FIG. Record in the second column of the table. If there is a design element whose relationship cannot be traced from change ⁇ , enter “-” to indicate no impact, as shown in the 8th line of the table of change affected location information 35 with impact level shown in Figure 6. It's okay.
  • the change affected location creation unit 21 with influence degree may use the information of the source code 32 when calculating the design element influence degree.
  • the change affected location creation unit 21 with impact degree calculates the dependency strength between each function in the source code 32 using static analysis technology or the like. For example, if there is a dependency such as a function call between the third function and the fifth function, the degree of association between design elements between the third function and the fifth function is set to "1" or the reciprocal of the dependence strength. As a result, the degree of association between design elements between the change ⁇ and the fifth function is “2”, which is the degree of association between design elements between the change ⁇ and the third function, and the degree of association between design elements between the third function and the fifth function is “2”.
  • the change affected part creation unit 21 calculates the degree of association between design elements based on the dependence strength between each function in the source code 32, it calculates the degree of relationship between design elements based on the degree of dependence between each function in the source code 32.
  • the paths of dependencies between functions may be traced and the degrees of association between design elements may be added, such as tracing the paths between design elements and adding the degrees of association between design elements.
  • the degree of association between design elements between the third function and the fourth function is The result is "2", which is the sum of the degree of association between design elements between the function and the sixth function and the degree of association between design elements between the sixth function and the fourth function.
  • the path of the traceability information 33 is in a loop, there is a possibility that multiple paths between each item will occur.
  • the path from change ⁇ to function C is a path (path ⁇ ) that follows function B, request I, function A, and the second function, or function B, the third function, the sixth function, and There is a path (path ⁇ ) that follows the fourth function.
  • the change affected part creation unit 21 calculates the degree of association between the design elements between the change ⁇ and the function C in the route ⁇ , The smaller value of the change ⁇ in the path ⁇ and the degree of association between design elements with the function C may be used as the design element influence degree.
  • the change affected location creation unit 21 with impact level further inputs the test viewpoint database 36 and identifies weaknesses of the product or function in which the software is incorporated, regarding descriptions of design elements, function comments, test viewpoint descriptions, test case descriptions, etc. It is determined whether the keyword is included or not, and the influence degree (hereinafter referred to as "functional test viewpoint pair influence degree (design element test viewpoint pair influence degree)") in the test viewpoint matrix 38 with influence degree (see FIG. 9) is determined. You may adjust the value. Specifically, for example, if "interrupt timing" is set as a weak point keyword and the description of test viewpoint b in the test viewpoint database 36 includes the keyword "interrupt timing", change impact with impact level is determined. The location creation unit 21 subtracts an arbitrary value from the value of the functional test viewpoint pair impact degree regarding the test viewpoint b in the test viewpoint matrix 38 with impact degree.
  • the change affected location creation unit 21 writes the created change affected location information 35 with impact degree into the memory 12.
  • test viewpoint matrix creation unit 22 receives input of specification information 31, changed specification information 34, and test viewpoint database 36 via the communication interface 14, and writes them into the memory 12.
  • test viewpoint matrix creation unit 22 creates a test viewpoint matrix 37 based on the specification information 31, the changed specification information 34, and the test viewpoint database 36.
  • the test viewpoint database 36 is a list of test viewpoint titles and descriptions regarding their details.
  • FIG. 7 is a diagram showing the test viewpoint database 36 used as a specific example in the first embodiment. In FIG. 7, for example, the second line describes the details of the test viewpoint titled test viewpoint a.
  • a test perspective is a classification of the purpose of conducting a test or the object to be confirmed in a test, for example, functional requirements such as "communication data" and “screen display”, or "efficiency”, “reliability”, and These are non-functional requirements such as "maintainability”.
  • the test viewpoint matrix 37 is a list of relationships between design elements and test viewpoints.
  • FIG. 8 is a diagram showing a test viewpoint matrix 37 used as a specific example in the first embodiment.
  • the second line indicates that function A corresponds to test viewpoint a and test viewpoint b.
  • a function corresponds to a test perspective, it means, for example, that a design description related to the relevant test perspective is included in the specification, or that the implementation of tests related to the relevant test perspective is recommended.
  • test viewpoint matrix creation unit 22 The processing of the test viewpoint matrix creation unit 22 will be described below with reference to FIGS. 2, 7, and 8.
  • the test viewpoint matrix creation unit 22 creates a list of design elements based on the specification information 31, and writes it in the second row of the first column of the table of the test viewpoint matrix 37 shown in FIG.
  • the design elements may be limited to arbitrary granularity.
  • the description is limited to functions. The following description will be made on the premise that the items listed in the first column of the table of the test viewpoint matrix 37 shown in FIG. 8 are limited to functions, but functions may be replaced with other granularity.
  • test viewpoint matrix creation unit 22 creates a list of change specifications based on the change specification information 34, and writes it at the end of the first column of the table of the test viewpoint matrix 37 shown in FIG.
  • test viewpoint matrix creation unit 22 creates a list of test viewpoints based on the test viewpoint database 36, and writes them in the first row and second column of the table of the test viewpoint matrix 37 shown in FIG.
  • the test viewpoint matrix creation unit 22 determines whether each design element corresponds to the test viewpoint based on the title and description of each design element in the specification information 31 and the title and description of the change specification in the change specification information 34. Extract. When there is a correspondence between a certain design element and a certain test viewpoint, the test viewpoint matrix creation unit 22 writes " ⁇ " in the cell where the design element and the test viewpoint intersect in the test viewpoint matrix 37. If there is no correspondence between a certain design element and a certain test viewpoint, the test viewpoint matrix creation unit 22 writes "-" in the cell where the design element and the test viewpoint intersect in the test viewpoint matrix 37.
  • a method such as keyword search is used for titles and descriptions. An operator may manually extract whether or not there is a correspondence between a design element and a test viewpoint.
  • the test viewpoint matrix creation unit 22 writes the created test viewpoint matrix 37 into the memory 12.
  • the test viewpoint matrix creation unit 23 with impact level is based on the change influence location information 35 with impact level created by the change impact location creation unit 21 with impact rating, and the test viewpoint matrix 37 created by the test viewpoint matrix creation unit 22. , a test viewpoint matrix 38 with influence degree is created.
  • the test viewpoint matrix 38 with influence is a list in which " ⁇ " shown in the cells in the test viewpoint matrix 37 are replaced with numerical values of the functional test viewpoint pair influence.
  • the functional test viewpoint pair influence degree is a degree indicating how much a functional test viewpoint pair (design element test viewpoint pair), which is a combination of a certain function and a certain test viewpoint, is influenced by an arbitrary change specification.
  • FIG. 9 is a diagram showing a test viewpoint matrix 38 with influence degree used as a specific example in the first embodiment. In FIG.
  • the second line indicates that the combination of function A and test viewpoint a receives the function test viewpoint pair influence degree "3" from change ⁇ , and the combination of function A and test viewpoint b is It is shown that the functional test viewpoint pair influence degree is "3" from the change ⁇ .
  • test perspective matrix creation unit 23 with influence degree will be explained with reference to FIGS. 2 and 9.
  • test viewpoint matrix creation unit 23 with influence copies the contents of the test viewpoint matrix 37 into the test viewpoint matrix 38 with influence.
  • the design element impact of each design element listed in the first column of the test viewpoint matrix 38 with impact shown in FIG. In the cell below, write it as the degree of influence of the functional test viewpoint pair.
  • the design element influence degree of function A is "3" in the change affected location information 35 with influence degree shown in FIG. 6, and the second row to which function A corresponds in the test viewpoint matrix 38 with influence degree shown in FIG. Since the columns in which the cell value is " ⁇ " are the second and third columns, the functional test viewpoint pair is placed in the second and third columns of the second row of the test viewpoint matrix 38 with influence shown in FIG. Enter the impact level "3".
  • the design element threshold is a threshold for determining the significance of the design element influence degree. For example, if the design element threshold is set to a design element impact degree of "3" or less, the design element impact degree of function C in the change affected location information 35 with influence shown in FIG. 6 is "5", so the design element threshold value is larger than Therefore, the test perspective matrix with influence creation unit 23 does not write the function test perspective pair influence on the fourth line of the test perspective matrix with influence 38 shown in FIG. Leave it as is.
  • the test viewpoint matrix with influence degree generation unit 23 writes the created test viewpoint matrix with influence degree 38 into the memory 12.
  • test case priority creation unit 24 receives input of test information 39 via the communication interface 14 and writes it into the memory 12 .
  • the test case priority creation unit 24 creates test case priority information 40 based on the test information 39 and the test viewpoint matrix with influence degree 38 created by the test viewpoint matrix with impact degree creation unit 23 .
  • the test information 39 describes the correspondence between design elements, test viewpoints, and test cases, and is, for example, a list of functions, test viewpoints, test case titles, and test case descriptions.
  • a test case indicates preconditions, a series of procedures, expected results, etc. regarding a test to be performed to confirm the operation or performance of a certain function from a certain test perspective.
  • FIG. 10 is a diagram showing test information 39 used as a specific example in the first embodiment. In FIG. 10, for example, in the second line, details of a test case titled 1st test case are described as a test case corresponding to the combination of function A and test viewpoint a.
  • the test case priority information 40 is a list of test case titles and their priorities (hereinafter referred to as "test case priorities").
  • the test case priority is a degree indicating which test case should be prioritized in test execution or test design when the contents of the change target are changed according to the change specification.
  • FIG. 11 is a diagram showing test case priority information 40 used as a specific example in the first embodiment. In FIG. 11, for example, the second line shows that the test case priority of the first test case is "3", and the sixth line shows that the test case priority of the fifth test case is "1". It has been shown that From this, it can be seen that the first test case should be given priority over the fifth test case.
  • test case priority generation unit 24 The processing of the test case priority generation unit 24 will be described below with reference to FIGS. 2, 10, and 11.
  • test case priority creation unit 24 creates a list of test cases based on the test information 39, and writes them in the second row of the first column of the table of test case priority information 40 shown in FIG. .
  • the test case priority generation unit 24 extracts the corresponding function and test viewpoint of each test case based on the test information 39, and creates the function test viewpoint pair impact of the corresponding cell in the test viewpoint matrix 38 with impact. is written as the test case priority in the second column of the table of test case priority information 40 shown in FIG.
  • the first test case on the second line of the table of test case priority information 40 shown in FIG. 11 corresponds to function A and test viewpoint a according to the second line of test information 39 shown in FIG.
  • the function test viewpoint pair influence of function A and test viewpoint a is "3". Therefore, the test case priority creation unit 24 writes test case priority "3" in the second row and second column of the table of test case priority information 40 shown in FIG. 11.
  • the test case priority generation unit 24 may rearrange the test cases according to the magnitude of the test case priority values.
  • the test case priority creation unit 24 writes the created test case priority information 40 into the memory 12.
  • the display control unit 25 displays either the test viewpoint matrix with influence 38 created by the test viewpoint matrix with impact creation unit 23 or the test case priority information 40 created by the test case priority creation unit 24, or both. Both are controlled to be displayed on a display device (not shown) via the communication interface 14.
  • the display control unit 25 may cause the display device to display at least one of the test information 39, the change affected location information 35 with impact degree, and the test viewpoint matrix 37, which are intermediate products, via the communication interface 14. good.
  • the test support apparatus 10 determines the priority order of test implementation and test design of each test case related to the test in software specification change.
  • the test designer can determine whether or not to change test cases and create new test cases in order of the likelihood of being affected by the change, thereby reducing test design man-hours. be able to.
  • the tester only needs to narrow down the test to test cases that are likely to be affected by changes, and thus can reduce the number of man-hours required for testing.
  • the test designer and the test implementer can now confirm the priority of the test case based on the granularity of the test viewpoint, and it is possible to facilitate confirmation of the validity of the priority of the test case.
  • the test support device 10 includes a change affected location creation unit 21 with impact degree, a test viewpoint matrix creation unit 22, a test viewpoint matrix creation unit 23 with impact degree, a test case priority creation unit 24, and a display control The case where each function of the unit 25 is realized by software has been described.
  • each function of the change affected part creation unit 21 with impact degree, the test viewpoint matrix creation unit 22, the test viewpoint matrix creation unit 23 with influence degree, the test case priority creation unit 24, and the display control unit 25 is implemented by hardware. The case where this is realized by software will be explained. In the following, the differences from the first embodiment regarding the first modification will be explained.
  • test support device 10 The configuration of the test support device 10 according to modification example 1 will be described below with reference to FIG. 12.
  • the test support device 10 includes a processing circuit 15 instead of the processor 11, memory 12, and storage 13.
  • the processing circuit 15 includes a change affected location creation unit 21 with impact level, a test viewpoint matrix creation unit 22, a test viewpoint matrix creation unit 23 with impact level, a test case priority creation unit 24, a display control unit 25, a memory 12, and a storage. It is a dedicated electronic circuit that realizes each of the 13 functions.
  • the processing circuit 15 is assumed to be a single circuit, a composite circuit, a programmed processor, a parallel programmed processor, a logic IC, a GA (Gate Array), an ASIC (Application Specific Integrated Circuit), or an FPGA (Field-Programmable Gate Array). be done.
  • Each function of the change affected part creation unit 21 with influence level, the test viewpoint matrix creation unit 22, the test viewpoint matrix creation unit 23 with impact level, the test case priority creation unit 24, and the display control unit 25 is implemented in one processing circuit 15.
  • the functions of the change affected part creation unit 21 with impact level, the test viewpoint matrix creation unit 22, the test viewpoint matrix creation unit 23 with impact level, the test case priority creation unit 24, and the display control unit 25 may be implemented. It may be realized by distributing it to a plurality of processing circuits 15.
  • each function of the change affected part creation unit 21 with impact degree, the test viewpoint matrix creation unit 22, the test viewpoint matrix creation unit 23 with influence degree, the test case priority creation unit 24, and the display control unit 25 is implemented by hardware.
  • the functions are implemented using hardware, some functions may be implemented using hardware, and other functions may be implemented using software.
  • modification example 2 among the change affected part creation unit 21 with impact degree, the test viewpoint matrix creation unit 22, the test viewpoint matrix creation unit 23 with influence degree, the test case priority creation unit 24, and the display control unit 25, Some functions may be implemented in hardware, and other functions may be implemented in software.
  • the processor 11, memory 12, storage 13, and processing circuit 15 are collectively referred to as a "processing circuitry.” That is, the functions of each functional component are realized by processing circuitry.
  • the second embodiment differs from the first embodiment in that the value of the design element influence degree or the functional test viewpoint pair influence degree is adjusted. In the second embodiment, this different point will be explained, and the explanation of the same point will be omitted.
  • the test support device 16 differs from the test support device 10 shown in FIG. 1 in that the processor 17 includes an influence adjustment section 26.
  • the influence adjustment unit 26 is realized by software like other functional components.
  • the influence adjustment unit 26 may be partially or entirely realized by hardware like other functional components.
  • test support device 16 according to the second embodiment corresponds to the test support method according to the second embodiment. Further, the operation of the test support device 10 according to the second embodiment corresponds to the processing of the test support program according to the second embodiment.
  • the influence adjustment unit 26 allows the operator to change the value of the design element influence degree or the value of the functional test viewpoint pair influence degree with respect to the test viewpoint matrix 38 with influence degree created by the test viewpoint matrix with influence degree generation unit 23.
  • the instructions are received, the values are changed, and the adjusted test viewpoint matrix 41 with influence is created.
  • the adjusted test viewpoint matrix with influence degree 41 is a list in which the value of the functional test viewpoint pair influence degree in the test viewpoint matrix with influence degree 38 is changed according to a change instruction from the operator.
  • FIG. 15 is a diagram showing an adjusted test viewpoint matrix 41 with influence degree used as a specific example in the second embodiment.
  • the test case priority creation unit 24 creates test case priority information 40 based on the adjusted test viewpoint matrix with impact 41 instead of the test viewpoint matrix with impact.
  • the influence adjustment unit 26 displays the test viewpoint matrix 38 with influence on the display device via the communication interface 14.
  • the influence adjustment unit 26 copies the contents of the test viewpoint matrix with influence 38 to the adjusted test viewpoint matrix with influence 41.
  • the influence degree adjustment unit 26 receives an instruction to change the value of the functional test viewpoint pair influence degree from the operator via the communication interface 14, and changes the corresponding value in the adjusted test viewpoint matrix 41 with influence degree. Specifically, for example, the operator sends an instruction such as "Decrease the function test viewpoint pair influence degree of function A and test viewpoint b by 1" via the communication interface 14.
  • the influence adjustment unit 26 adjusts the cell in the third column of the second row corresponding to the functional test viewpoint pair influence of function A and test viewpoint b in the table of the adjusted test viewpoint matrix 41 with influence shown in FIG. Change the value from "3" to "2".
  • the influence level adjustment unit 26 displays the change influence point information 35 with influence degree on the display device via the communication interface 14, receives an instruction to change the value of the design element influence degree from the operator, and adjusts the change influence point information 35 with influence degree.
  • the value of the design element influence degree in the location information 35 may be changed.
  • the influence degree adjustment unit 26 recalculates the value of the functional test viewpoint pair influence degree based on the changed value of the design element influence degree, and creates a test viewpoint matrix 41 with adjusted influence degree.
  • the influence adjustment unit 26 may receive the test viewpoint priority from the operator via the communication interface 14 and change the value of the functional test viewpoint pair impact in the adjusted impact-attached test viewpoint matrix 41.
  • the test viewpoint priority is a priority value given to a specified test viewpoint. Specifically, for example, the operator sends an instruction such as "the test viewpoint priority of test viewpoint b is 1" via the communication interface 14.
  • the influence adjustment unit 26 subtracts 1 from "3" by subtracting the value of the cell in the 2nd row and 3rd column corresponding to the test viewpoint b in the table of the adjusted impact-added test viewpoint matrix 41 shown in FIG. Change it to "2".
  • the influence adjustment unit 26 changes the value of the cell in the third column of the third row corresponding to test viewpoint b in the table of the adjusted impact test viewpoint matrix 41 shown in FIG. 15 from "1" to 1. Subtract it and change it to "0".
  • the value of the functional test viewpoint pair influence degree using the test viewpoint priority may be changed by four arithmetic operations such as subtraction and division, or by other calculation methods. In this way, the influence level adjustment unit 26 weights the functional test perspective pair influences based on the test perspective priorities to create the adjusted influence-attached test perspective matrix 41.
  • the influence adjustment unit 26 may also receive the design element priority from the operator via the communication interface 14 and change the value of the functional test viewpoint pair influence in the adjusted impact-attached test viewpoint matrix 41. .
  • the design element priority is a priority value given to a specified design element. Specifically, for example, the operator sends an instruction such as "the design element priority of function B is 1" via the communication interface 14.
  • the influence adjustment unit 26 subtracts 1 from “1” by 1 for the value of the cell in the 2nd column of the 3rd row corresponding to function B in the table of the adjusted test viewpoint matrix 41 with influence shown in FIG. 0”.
  • the influence adjustment unit 26 subtracts 1 from “1” by subtracting 1 from “1” the value of the cell in the 3rd row and 3rd column corresponding to function B in the table of the adjusted influence-attached test viewpoint matrix 41 shown in FIG. and change it to “0”. Similarly, the influence adjustment unit 26 subtracts 1 from “1” by subtracting 1 from “1” the value of the cell in the 4th column of the 3rd row corresponding to function B in the table of the adjusted impact test viewpoint matrix 41 shown in FIG. and change it to “0”.
  • the value of the functional test viewpoint pair influence degree using the design element priority may be changed by four arithmetic operations such as subtraction and division, or by other calculation methods.
  • the influence adjustment unit 26 writes the adjusted influence-attached test viewpoint matrix 41 into the memory 12.
  • the test support device 16 uses the result of the operator arbitrarily adjusting the value of the design element influence degree or the functional test viewpoint pair influence degree for the test execution and test design of each test case. Reflect in priorities.
  • the test designer can prioritize whether or not to change or create a new test case related to a weak point, thereby reducing the number of man-hours required for test design.
  • the tester only needs to narrow down the test cases to test cases related to weak points, thereby reducing the number of man-hours required for testing.
  • a weak point is, for example, a function or a test perspective in which a defect has occurred in the past, or a function or a test perspective in which a defect is likely to occur.
  • Embodiment 3 differs from Embodiment 1 in that consistency of the test viewpoint matrix with influence is determined. In Embodiment 3, this different point will be explained, and the explanation of the same point will be omitted.
  • the test support device 18 differs from the test support device 10 shown in FIG. 1 in that the processor 19 includes a consistency determination section 27.
  • the consistency determination unit 27 is realized by software like other functional components. Further, the consistency determination unit 27 may be partially or entirely realized by hardware like other functional components.
  • test support device 18 The operation of the test support device 18 according to the third embodiment will be described with reference to FIG. 17.
  • test support device 18 according to the third embodiment corresponds to the test support method according to the third embodiment. Further, the operation of the test support device 18 according to the third embodiment corresponds to the processing of the test support program according to the third embodiment.
  • the consistency determining unit 27 determines whether or not there are any inconsistencies between written contents of the test perspective matrix with influence 38, the test information 39, and the revised specification test information 43 created by the test perspective matrix with influence generation unit 23. is checked to determine consistency, a inconsistent portion is detected as a violation of consistency, and a consistency determination result 42 is created.
  • the consistency determination result 42 is a list that describes locations and contents related to consistency violations.
  • FIG. 18 is a diagram showing the consistency determination result 42 used as a specific example in the third embodiment. For example, the second line indicates a consistency violation of change ⁇ , and the change ⁇ and test viewpoint c do not correspond. It is shown that.
  • the revised specification test information 43 is test information regarding revised specification information obtained by merging changed specification information with specification information. Merging changed specification information is a process of reflecting changed specification information, which was created separately from the pre-change specification information, in the pre-change specification information after the change development is completed.
  • FIG. 19 is a diagram showing the revised specification test information 43 used as a specific example in the third embodiment.
  • the 12th line shows the revised specification test information 43 that was designed as a test case for change ⁇ in the test information 39 shown in FIG. This shows that the 11th test case has been organized as the 11th test case of function B.
  • the display control unit 25 controls displaying the consistency determination result 42 created by the consistency determination unit 27 on the display device via the communication interface 14.
  • the consistency determination unit 27 extracts a list of test viewpoints to which the change specification corresponds based on the test viewpoint matrix 38 with impact. Specifically, in the example of FIG. 9, the consistency determination unit 27 extracts test viewpoint a and test viewpoint b as test viewpoints to which change ⁇ corresponds.
  • the consistency determination unit 27 extracts a list of design elements affected by the change specification based on the test viewpoint matrix 38 with impact degree. At this time, design elements whose corresponding design element impact values are larger than the design element threshold value or functional test viewpoint pairs whose corresponding functional test viewpoint pair impact values are larger than the functional test viewpoint pair threshold value are excluded and extracted. Good too.
  • the functional test viewpoint pair threshold is a threshold for determining the significance of the functional test viewpoint pair influence degree. Specifically, in the example of FIG. 9, the consistency determination unit 27 extracts functions A and B, in which the numerical value of the functional test viewpoint pair influence degree is described, as design elements affected by the change ⁇ . . Note that, since the design element influence degree of function C is larger than the design element threshold of "3," the numerical value of the function test viewpoint pair influence degree is not described. Therefore, the consistency determination unit 27 does not include function C in the functions to be extracted.
  • the consistency determination unit 27 extracts a list of test viewpoints to which the design elements affected by the changed specifications correspond, based on the test viewpoint matrix with influence degree 38. Specifically, in the example of FIG. 9, the consistency determination unit 27 extracts test viewpoints a, test viewpoint b, and test viewpoint c as test viewpoints to which function A and function B extracted earlier correspond.
  • the consistency determination unit 27 compares the list of test viewpoints corresponding to the change specification and the list of test viewpoints corresponding to the design elements affected by the change specification, based on the test viewpoint matrix 38 with impact degree. do. Specifically, in the example of FIG. 9, the consistency determination unit 27 generates a list of test viewpoints a and b, which are test viewpoints to which the change specification corresponds, and a list of test viewpoints to which function A and function B correspond. The lists of test viewpoints a, test viewpoint b, and test viewpoint c are compared, and it is detected that test viewpoint c is not included only in the test viewpoint to which the change specification corresponds.
  • the consistency determination unit 27 writes in the consistency determination result 42 that the test viewpoint c does not correspond, as a violation of the consistency of the change ⁇ .
  • the consistency determination unit 27 extracts a list of function-test viewpoint pairs to which the change specification and each design element correspond based on the test viewpoint matrix 38 with impact. At this time, the consistency determination unit 27 may exclude functional test viewpoint pairs whose functional test viewpoint pair influence degree is greater than a functional test viewpoint pair threshold. Specifically, when the functional test viewpoint pair threshold is "2", in the example of FIG. A pair with viewpoint a, a pair between function B and test viewpoint b, a pair between function B and test viewpoint b, a pair between change ⁇ and test viewpoint a, and a pair between change ⁇ and test viewpoint b are extracted.
  • the consistency determination unit 27 checks whether there is a test case corresponding to the functional test viewpoint pair extracted earlier based on the test information 39. Specifically, in the example of FIG. 9, the consistency determination unit 27 detects that there is no test case corresponding to the pair of change ⁇ and test viewpoint b.
  • the consistency determination unit 27 writes in the consistency determination result 42 that there is no test case corresponding to the pair of change ⁇ and test viewpoint b, as a consistency violation of change ⁇ .
  • the consistency determination unit 27 compares the test information 39 and the revised specification test information 43, and extracts how the test cases related to the changed specifications are reflected in the specification information.
  • the identity of the test case in the test information 39 and the test case in the revised specification test information 43 is determined based on the coincidence of test case names or the similarity of test case descriptions. Specifically, in the example of FIG. 19, the consistency determination unit 27 determines that the 11th test case is organized as a test case of a pair of function B and test viewpoint c, and that the 12th test case is organized as a test case of function B and test viewpoint c. and test viewpoint a are arranged as a pair of test cases.
  • the consistency determination unit 27 extracts a list of design elements affected by the change specification based on the test viewpoint matrix 38 with impact degree. At this time, the consistency determination unit 27 may limit the design elements to design elements having functional test viewpoint pairs whose functional test viewpoint pair influence degree is equal to or less than a functional test viewpoint pair threshold. Specifically, when the function test viewpoint pair threshold is "4", in the example of FIG. 9, the consistency determination unit 27 detects function A and function B as design elements affected by the change specification.
  • the consistency determination unit 27 determines whether the function newly associated with the organized test case is included in the list of design elements affected by the change specification extracted earlier. Specifically, in the example of FIG. 19, it is detected that the 12th test case corresponds to a function that is not included in the list of design elements affected by the change specification.
  • the consistency determination unit 27 determines that the consistency violation of the 12th test case corresponds to function C, which is not included in the list of design elements affected by the change specification, in the consistency determination result 42. Describe it.
  • the consistency determination unit 27 extracts a list of test viewpoints to which the change specification corresponds based on the test viewpoint matrix 38 with impact degree. Specifically, in the example of FIG. 9, the consistency determination unit 27 extracts test viewpoint a and test viewpoint b as test viewpoints to which the change specification corresponds.
  • the consistency determining unit 27 determines whether the test viewpoint newly associated with the organized test case is included in the list of test viewpoints to which the change specification extracted earlier corresponds. Specifically, in the example of FIG. 19, it is detected that the eleventh test case corresponds to a test viewpoint that is not included in the list of test viewpoints to which the change specification corresponds.
  • the consistency determination unit 27 determines in the consistency determination result 42 that the change specification corresponds to test viewpoint c that is not included in the list of corresponding test viewpoints, as a consistency violation of the 11th test case. Describe it.
  • the consistency determination unit 27 writes the consistency determination result 42 into the memory 12.
  • the test support device 18 detects a consistency violation regarding the changed specification.
  • the specification designer can discover the possibility of specification omission regarding the changed specification in the changed development and the possibility of specification omission regarding the specification before the change to which the changed development is applied.
  • Test designers can discover possible design omissions in test cases.
  • the test designer can discover the possibility of a mistake in test case redesign when merging the changed specification with the original specification.
  • Test support device 11 Processor, 12 Memory, 13 Storage, 14 Communication interface, 15 Processing circuit, 16 Test support device, 17 Processor, 18 Test support device, 19 Processor, 21 Change affected location creation unit with impact level, 22 Test Viewpoint matrix creation unit, 23 Test viewpoint matrix creation unit with impact, 24 Test case priority creation unit, 25 Display control unit, 26 Impact adjustment unit, 27 Consistency determination unit, 31 Specification information, 32 Source code, 33 Traceability Information, 34 Change specification information, 35 Change affected location information with impact level, 36 Test perspective database, 37 Test perspective matrix, 38 Test perspective matrix with impact level, 39 Test information, 40 Test case priority information, 41 Adjusted impact level 42. Consistency judgment results, 43. Revised specification test information.

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Abstract

本開示は、ソフトウェア開発における試験設計工数および試験実施工数を削減することが可能なテスト支援装置を提供することを目的とする。本開示によるテスト支援装置は、設計要素と設計要素影響度との関係を示す影響度付き変更影響箇所情報を作成する影響度付き変更影響箇所作成部と、設計要素とテスト観点との対応関係を示すテスト観点マトリクスを作成するテスト観点マトリクス作成部と、設計要素テスト観点ペアと設計要素テスト観点ペア影響度との関係を示す影響度付きテスト観点マトリクスを作成する影響度付きテスト観点マトリクス作成部と、テストケースの優先度であるテストケース優先度を算出するテストケース優先度作成部と、影響度付きテスト観点マトリクスとテストケース優先度とのうちの少なくとも一方を表示する制御を行う表示制御部とを備える。

Description

テスト支援装置、テスト支援方法、およびテスト支援プログラム
　本開示は、ソフトウェア開発におけるテストを支援するテスト支援装置、テスト支援方法、およびテスト支援プログラムに関する。
　近年、ソフトウェアの大規模化に伴いテストケースが増加しており、度重なるソフトウェアの変更開発において開発者が全てのテストケースの回帰試験を実施することは困難である。また、仕様の変更に伴い修正が必要となるテストケースを、開発者が手動で抽出することも困難である。
　テストケースがどのような目的および観点で設計されたものかを特定し易くするために、「テスト観点」と呼ばれる概念によってテストケースを分類する方法が提案されている。また、縦軸にソフトウェアの機能を示し、横軸にテスト観点を示した行列の表である「テスト観点マトリクス」を、テスト設計時に活用する技術がある。
　従来、ソフトウェアの仕様変更時の差分情報に基づいて、実施するテストケースまたは修正するテストケースを絞り込む技術が提案されている（例えば、特許文献１，２，３参照）。
特許第６８６５９４２号公報 特開２０２０－１５４５６３号公報 特開２０１６－２１２６３３号公報
　従来技術では、変更する仕様に直接対応付けられたテストケースを抽出する技術であるため、変更する仕様から間接的に影響を受ける仕様に対応付けられたテストケースを抽出することができない。間接的に影響を受ける仕様とは、例えば、ある仕様を変更することによってソフトウェアの実行のタイミングが変わり、それによって挙動が変わる恐れのある別の機能に関する仕様等である。
　また、変更内容に基づくキーワード検索等を使用してテストケースを抽出する技術を使用する場合、関連性が低いテストケースが大量に抽出される可能性、または表記ゆれによって必要なテストケースが抽出されない可能性が生じる。
　さらに、従来技術では、テストケース単位で抽出または優先度の付与を実施するため、大量に抽出されたテストケースの妥当性を開発者が目視で確認することは困難である。
　本開示は、このような問題を解決するためになされたものであり、ソフトウェア開発における試験設計工数および試験実施工数を削減することが可能なテスト支援装置、テスト支援方法、およびテスト支援プログラムを提供することを目的とする。
　上記の課題を解決するために、本開示によるテスト支援装置は、ソフトウェアの仕様を変更する際に実施するテストを支援するテスト支援装置であって、仕様情報、ソースコード、トレーサビリティ情報、および変更仕様情報に基づいて、変更仕様情報に含まれる変更仕様が設計要素に及ぼす影響度を示す設計要素影響度を算出し、設計要素と設計要素影響度との関係を示す影響度付き変更影響箇所情報を作成する影響度付き変更影響箇所作成部と、仕様情報、変更仕様情報、およびテスト観点データベースに基づいて、設計要素とテスト観点との対応の有無を抽出し、設計要素とテスト観点との対応関係を示すテスト観点マトリクスを作成するテスト観点マトリクス作成部と、影響度付き変更影響箇所作成部が作成した影響度付き変更影響箇所情報と、テスト観点マトリクス作成部が作成したテスト観点マトリクスとに基づいて、変更仕様が設計要素とテスト観点とのペアである設計要素テスト観点ペアに及ぼす影響度を示す設計要素テスト観点ペア影響度を算出し、設計要素テスト観点ペアと設計要素テスト観点ペア影響度との関係を示す影響度付きテスト観点マトリクスを作成する影響度付きテスト観点マトリクス作成部と、設計要素テスト観点ペアとテストケースとの対応関係を示すテスト情報と、影響度付きテスト観点マトリクス作成部が作成した影響度付きテスト観点マトリクスとに基づいて、テストケースの優先度であるテストケース優先度を算出するテストケース優先度作成部と、影響度付きテスト観点マトリクス作成部が作成した影響度付きテスト観点マトリクスと、テストケース優先度作成部が算出したテストケース優先度とのうちの少なくとも一方を表示する制御を行う表示制御部とを備える。
　本開示によれば、ソフトウェア開発における試験設計工数および試験実施工数を削減することが可能となる。
　本開示の目的、特徴、態様、および利点は、以下の詳細な説明と添付図面とによって、より明白となる。
実施の形態１によるテスト支援装置の構成の一例を示すブロック図である。 実施の形態１によるテスト支援装置の動作を説明するための図である。 実施の形態１による仕様情報の一例を示す図である。 実施の形態１によるトレーサビリティ情報の一例を示す図である。 実施の形態１による変更仕様情報の一例を示す図である。 実施の形態１による影響度付き変更影響箇所情報の一例を示す図である。 実施の形態１によるテスト観点データベースの一例を示す図である。 実施の形態１によるテスト観点マトリクスの一例を示す図である。 実施の形態１による影響度付きテスト観点マトリクスの一例を示す図である。 実施の形態１によるテスト情報の一例を示す図である。 実施の形態１によるテストケース優先度情報の一例を示す図である。 実施の形態１によるテスト支援装置の構成の一例を示す図である。 実施の形態２によるテスト支援装置の構成の一例を示すブロック図である。 実施の形態２によるテスト支援装置の動作を説明するための図である。 実施の形態２による調整済み影響度付きテスト観点マトリクスの一例を示す図である。 実施の形態３によるテスト支援装置の構成の一例を示すブロック図である。 実施の形態３によるテスト支援装置の動作を説明するための図である。 実施の形態３による整合性判定結果の一例を示す図である。 実施の形態３による改訂仕様テスト情報の一例を示す図である。
　＜実施の形態１＞
　＜構成＞
　図１は、実施の形態１によるテスト支援装置１０の構成の一例を示すブロック図である。
　テスト支援装置１０は、コンピュータによって実現される。テスト支援装置１０は、プロセッサ１１、メモリ１２、ストレージ１３、および通信インタフェース１４の各ハードウェアを備える。プロセッサ１１は、信号線を介して他のハードウェアに接続され、接続されたハードウェアを制御する。
　プロセッサ１１は、プロセッシングを行うＩＣ（Integrated Circuit）である。プロセッサ１１の具体例としては、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）、およびＧＰＵ（Graphics Processing Unit）などが挙げられる。
　メモリ１２は、データを一時的に記憶する記憶装置である。メモリ１２の具体例としては、ＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）などが挙げられる。
　ストレージ１３は、データを保管する記憶装置である。ストレージ１３の具体例としては、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）などが挙げられる。なお、ストレージ１３は、ＳＤ（Secure Digital、登録商標）メモリカード、ＣＦ（CompactFlash、登録商標）、ＮＡＮＤフラッシュ、フレキシブルディスク、光ディスク、コンパクトディスク、ブルーレイ（登録商標）ディスク、ＤＶＤ（Digital Versatile Disk）などの可搬記憶媒体であってもよい。
　通信インタフェース１４は、外部の装置と通信するためのインタフェースである。通信インタフェース１４の具体例としては、Ethernet（登録商標）、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）、ＨＤＭＩ（High-Definition Multimedia Interface、登録商標）などのポートが挙げられる。
　テスト支援装置１０は、機能構成要素として、影響度付き変更影響箇所作成部２１と、テスト観点マトリクス作成部２２と、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３と、テストケース優先度作成部２４と、表示制御部２５とを備えている。影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能は、ソフトウェアによって実現される。
　ストレージ１３には、影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能を実現するプログラムが記憶されている。これらのプログラムは、プロセッサ１１によってメモリ１２に読み込まれ、プロセッサ１１によって実行される。これにより、影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能が実現される。
　図１では、テスト支援装置１０が１つのプロセッサ１１を備える場合について示している。しかし、テスト支援装置１０は、プロセッサ１１を代替する複数のプロセッサを備えてもよい。これら複数のプロセッサは、影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能を実現するプログラムの実行を分担する。各プロセッサは、プロセッサ１１と同様、プロセッシングを行うＩＣである。
　＜動作＞
　実施の形態１によるテスト支援装置１０の動作について、図２を参照して説明する。
　実施の形態１によるテスト支援装置１０の動作は、実施の形態１によるテスト支援方法に相当する。また、実施の形態１によるテスト支援装置１０の動作は、実施の形態１によるテスト支援プログラムの処理に相当する。
　＜影響度付き変更影響箇所作成部２１の処理＞
　影響度付き変更影響箇所作成部２１は、通信インタフェース１４を介して、仕様情報３１、ソースコード３２、トレーサビリティ情報３３、および変更仕様情報３４の入力を受け付けてメモリ１２に書き込む。そして、影響度付き変更影響箇所作成部２１は、仕様情報３１、ソースコード３２、トレーサビリティ情報３３、および変更仕様情報３４を加工し、影響度付き変更影響箇所情報３５を作成する。
　仕様情報３１は、例えば、要求仕様書およびソフトウェア設計書などの仕様書、あるいは当該仕様書内に記載された記述の一部である。仕様情報３１は、例えば、各要求および機能の標題と、それらの詳細に関する記述とをリスト化したものである。図３は、実施の形態１で具体例として使用する仕様情報３１を示す図である。図３に示す要求において、例えば２行目には要求Ｉという標題の要求の詳細が記述されている。
　トレーサビリティ情報３３は、例えば、各設計要素（要求、機能、関数など）が、隣接する上位仕様または下位仕様のどの設計要素と対応付くかをリスト化したものである。隣接する仕様とは、例えば、要求設計工程、機能設計工程、関数設計工程、および試験設計工程が、それぞれ一つ前の工程の成果物を入力としてシーケンスを実施する場合に、隣接する設計工程から出力される各設計要素のことを示す。例えば、先の例の場合、要求の隣接する下位仕様は機能であり、機能の隣接する上位仕様は要求である。設計要素が対応付くとは、２つまたは２つ以上の設計要素が関連を持つことを意味している。例えば、ある要求を達成するためにある機能が設計された場合、これらの要求と機能とは対応付くといえる。図４は、実施の形態１で具体例として使用するトレーサビリティ情報３３を示す図である。図４に示す要求において、例えば２行目と３行目は、要求Ｉが機能Ａおよび機能Ｂによって達成されることを示している。トレーサビリティ情報３３は、手動で作成してもよく、ツールまたはスクリプトを使用して自動で作成してもよい。
　変更仕様情報３４は、例えば、変更開発のために作成される変更仕様書、または当該変更仕様書内に記載された記述の一部である。変更仕様情報３４は、例えば、各変更仕様の標題とその詳細に関する記述とをリスト化したものである。図５は、実施の形態１で具体例として使用する変更仕様情報３４を示す図である。図５において、例えば２行目は、変更αという標題の変更仕様の詳細と、変更対象が機能Ｂであることを示している。変更対象とは、関連する仕様情報３１に記載されている設計要素のうち、変更仕様が変更の対象としている設計要素である。変更対象には、機能の他に、要求または関数が記載されていてもよく、要求および関数の両方が記載されていてもよい。変更対象には、複数の設計要素が記載されていてもよい。変更開発において新規に機能を作成する場合等、関連する仕様情報３１に変更対象が無い場合は空白でもよい。
　影響度付き変更影響箇所情報３５は、例えば、仕様情報３１の各設計要素について、変更仕様情報３４に記載されている変更仕様から受ける影響度（以下、「設計要素影響度」という）をリスト化したものである。設計要素影響度とは、変更仕様の通りに変更対象の内容を変更した場合に、各設計要素が受ける影響の度合いである。影響とは、例えば、各設計要素の仕様の変更が必要になる可能性、または各設計要素に関する対象ソフトウェアの動作が変更される可能性等を意味する。図６は、実施の形態１で具体例として使用する影響度付き変更影響箇所情報３５を示す図であり、変更αに関する設計要素影響度を示すリストである。図６において、例えば２行目は、変更αの設計要素影響度が最も大きい「０」であることを示している。また、例えば３行目は、要求Ｉが変更αから設計要素影響度「２」の影響を受けることを示す。図６では、設計要素影響度の数値が小さいほど影響が大きいことを示しており、変更αの変更対象である機能Ｂの影響が最も大きく、要求ＩＩおよび第４関数の影響が最も小さいことを示している。
　以下では、図２～６を参照して、影響度付き変更影響箇所作成部２１の処理について説明する。
　まず、影響度付き変更影響箇所作成部２１は、仕様情報３１を元に、設計要素の一覧を作成し、図６に示す影響度付き変更影響箇所情報３５の表の１列目の３行目以降に記載する。
　次に、影響度付き変更影響箇所作成部２１は、変更仕様情報３４を元に、変更仕様の一覧を作成し、図６に示す影響度付き変更影響箇所情報３５の表の１列目の２行目に記載する。
　次に、影響度付き変更影響箇所作成部２１は、ソースコード３２およびトレーサビリティ情報３３を元に、各変更仕様が各設計要素に与える設計要素影響度を算出する。設計要素影響度の算出には、ソースコード３２内の関数同士の依存関係の情報、およびトレーサビリティ情報３３に含まれている距離情報を使用する。
　具体的には、影響度付き変更影響箇所作成部２１は、トレーサビリティ情報３３を元に、各設計要素間の関連度合い（以下、「設計要素間関連度合い」という）を算出する。例えば、変更αは機能Ｂを変更する変更仕様であるため、変更αと機能Ｂとの設計要素間関連度合いは「１」とする。また、機能Ｂは要求Ｉと直接対応付けられているため、機能Ｂと要求Ｉとの設計要素間関連度合いは「１」とする。変更αと要求Ｉとの設計要素間関連度合いは、変更αと機能Ｂとの設計要素間関連度合いと、機能Ｂと要求Ｉとの設計要素間関連度合いとを加算して「２」とする。影響度付き変更影響箇所作成部２１は、このようにして算出した変更αから各設計要素への設計要素間関連度合いを、設計要素影響度として図６に示す影響度付き変更影響箇所情報３５の表の２列目に記載する。もし変更αから関連を辿ることのできない設計要素がある場合は、図６に示す影響度付き変更影響箇所情報３５の表の８行目のように、影響なしを意味する「―」を記載してもよい。
　影響度付き変更影響箇所作成部２１は、設計要素影響度を算出する際にソースコード３２の情報を使用してもよい。例えば、影響度付き変更影響箇所作成部２１は、静的解析技術等を用いてソースコード３２内の各関数間の依存強度を算出する。例えば、第３関数と第５関数との間に関数呼び出し等の依存関係がある場合、第３関数と第５関数との設計要素間関連度合いを「１」または依存強度の逆数等とする。その結果、変更αと第５関数との設計要素間関連度合いは、変更αと第３関数との設計要素間関連度合いである「２」と、第３関数と第５関数との設計要素間関連度合いである「１」とを加算して「３」となる。影響度付き変更影響箇所作成部２１がソースコード３２内の各関数間の依存強度を元に設計要素間関連度合いを算出する場合、トレーサビリティ情報３３に含まれる設計要素間のトレーサビリティに関する距離情報を元に、設計要素間の経路を辿り設計要素間関連度合いを加算するように関数間の依存関係の経路を辿り、設計要素間関連度合いを加算してもよい。例えば、第３関数と第６関数とに依存関係があり、かつ第６関数と第４関数とに依存関係がある場合、第３関数と第４関数との設計要素間関連度合いは、第３関数と第６関数との設計要素間関連度合いと、第６関数と第４関数との設計要素間関連度合いを加算した「２」となる。
　トレーサビリティ情報３３の経路がループしている等の場合、各項目間の経路が複数発生する可能性がある。例えば、第３関数と第６関数とに依存関係があり、かつ第６関数と第４関数とに依存関係があり、第３関数と第４関数との設計要素間関連度合いである「２」を考慮する場合、変更αから機能Ｃへの経路は、機能Ｂ、要求Ｉ、機能Ａ、および第２関数を辿る経路（経路β）、または、機能Ｂ、第３関数、第６関数、および第４関数を辿る経路（経路γ）が存在する。この場合、影響度付き変更影響箇所作成部２１は、例えば、変更αと機能Ｃとの設計要素間関連度合いを算出する際、経路βにおける変更αと機能Ｃとの設計要素間関連度合いと、経路γにおける変更αと機能Ｃとの設計要素間関連度合いとのうちの小さい方の値を設計要素影響度としてもよい。
　影響度付き変更影響箇所作成部２１は、さらにテスト観点データベース３６を入力とし、設計要素の記述、関数コメント、テスト観点の記述、またはテストケースの記述等に関して、ソフトウェアが組み込まれる製品または機能の弱点キーワードが含まれるか否かを判定し、影響度付きテスト観点マトリクス３８（図９参照）内の影響度（以下、「機能テスト観点ペア影響度（設計要素テスト観点ペア影響度）」という）の値を調整してもよい。具体的には、例えば、弱点キーワードとして「割込みタイミング」が設定されており、テスト観点データベース３６内のテスト観点ｂの記述に「割込みタイミング」というキーワードが含まれている場合、影響度付き変更影響箇所作成部２１は、影響度付きテスト観点マトリクス３８のテスト観点ｂに関する機能テスト観点ペア影響度の値から任意の値を減算する。
　影響度付き変更影響箇所作成部２１は、作成した影響度付き変更影響箇所情報３５をメモリ１２に書き込む。
　＜テスト観点マトリクス作成部２２の処理＞
　テスト観点マトリクス作成部２２は、通信インタフェース１４を介して、仕様情報３１、変更仕様情報３４、およびテスト観点データベース３６の入力を受け付け、メモリ１２に書き込む。
　次に、テスト観点マトリクス作成部２２は、仕様情報３１、変更仕様情報３４、およびテスト観点データベース３６を元に、テスト観点マトリクス３７を作成する。
　テスト観点データベース３６は、テスト観点の標題とその詳細に関する記述とをリスト化したものである。図７は、実施の形態１で具体例として使用するテスト観点データベース３６を示す図である。図７において、例えば２行目には、テスト観点ａという標題のテスト観点の詳細が記述されている。テスト観点とは、テストを実施する目的またはテストで確認する対象等の分類であり、例えば、「通信データ」および「画面表示」等の機能要件、または「効率性」、「信頼性」、および「保守性」等の非機能要件である。
　テスト観点マトリクス３７は、設計要素とテスト観点との関係をリスト化したものである。図８は、実施の形態１で具体例として使用するテスト観点マトリクス３７を示す図である。図８において、例えば２行目は、機能Ａがテスト観点ａおよびテスト観点ｂに対応することを示している。機能がテスト観点に対応するとは、例えば、該当するテスト観点に関する設計記述が仕様書内に記載されていること、または、該当するテスト観点に関するテストの実施が推奨されていることを示している。
　以下では、図２，７，８を参照して、テスト観点マトリクス作成部２２の処理について説明する。
　まず、テスト観点マトリクス作成部２２は、仕様情報３１を元に、設計要素の一覧を作成し、図８に示すテスト観点マトリクス３７の表の１列目の２行目以降に記載する。このとき、設計要素は任意の粒度に限定してもよい。図８の例では、機能に限定して記載している。以下では、図８に示すテスト観点マトリクス３７の表の１列目の記載項目を機能に限定することを前提に説明するが、機能を他の粒度に置き換えてもよい。
　次に、テスト観点マトリクス作成部２２は、変更仕様情報３４を元に、変更仕様の一覧を作成し、図８に示すテスト観点マトリクス３７の表の１列目の末尾に記載する。
　次に、テスト観点マトリクス作成部２２は、テスト観点データベース３６を元に、テスト観点の一覧を作成し、図８に示すテスト観点マトリクス３７の表の１行目の２列目以降に記載する。
　次に、テスト観点マトリクス作成部２２は、仕様情報３１の各設計要素の標題と記述、および変更仕様情報３４の変更仕様の標題と記述を元に、各設計要素とテスト観点との対応の有無を抽出する。テスト観点マトリクス作成部２２は、ある設計要素とあるテスト観点との間に対応がある場合、テスト観点マトリクス３７の設計要素とテスト観点とが交差するセルに「○」を記載する。テスト観点マトリクス作成部２２は、ある設計要素とあるテスト観点との間に対応が無い場合、テスト観点マトリクス３７の設計要素とテスト観点とが交差するセルに「―」を記載する。設計要素とテスト観点との対応の有無の抽出には、標題および記述に対してキーワード検索等の手法を使用する。設計要素とテスト観点との対応の有無の抽出は、作業者が手動で実施してもよい。
　テスト観点マトリクス作成部２２は、作成したテスト観点マトリクス３７をメモリ１２に書き込む。
　＜影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３の処理＞
　影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３は、影響度付き変更影響箇所作成部２１が作成した影響度付き変更影響箇所情報３５と、テスト観点マトリクス作成部２２が作成したテスト観点マトリクス３７とを元に、影響度付きテスト観点マトリクス３８を作成する。
　影響度付きテスト観点マトリクス３８は、テスト観点マトリクス３７内のセルに示した「○」を機能テスト観点ペア影響度の数値で置き換えたリストである。機能テスト観点ペア影響度とは、ある機能とあるテスト観点との組合せである機能テスト観点ペア（設計要素テスト観点ペア）が、任意の変更仕様からどの程度影響を受けるかを示す度合いである。図９は、実施の形態１で具体例として使用する影響度付きテスト観点マトリクス３８を示す図である。図９において、例えば２行目は、機能Ａとテスト観点ａとの組合せが、変更αから機能テスト観点ペア影響度「３」を受けることを示し、機能Ａとテスト観点ｂとの組合せが、変更αから機能テスト観点ペア影響度「３」を受けることを示している。
　以下では、図２，９を参照して、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３の処理を説明する。
　まず、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３は、テスト観点マトリクス３７の内容を影響度付きテスト観点マトリクス３８にコピーする。
　次に、影響度付き変更影響箇所情報３５を元に、図９に示す影響度付きテスト観点マトリクス３８の１列目に記載の各設計要素の設計要素影響度を、該当する行の「○」のセルに、機能テスト観点ペア影響度として記載する。例えば、図６に示す影響度付き変更影響箇所情報３５に機能Ａの設計要素影響度は「３」であり、図８に示す影響度付きテスト観点マトリクス３８の機能Ａが該当する２行目についてセルの値が「○」である列は２列目と３列目であるため、図９に示す影響度付きテスト観点マトリクス３８の２行目の２列目と３列目に機能テスト観点ペア影響度「３」を記載する。
　このとき、ある設計要素の設計要素影響度が任意の設計要素閾値よりも大きい場合、該当する設計要素が変更の影響をほとんど受けないと考えるのであれば、影響度付きテスト観点マトリクス３８の該当する設計要素の行には機能テスト観点ペア影響度を記載しない処理としてもよい。設計要素閾値とは、設計要素影響度の有意性を判断するための閾値である。例えば、設計要素閾値を設計要素影響度「３」以下に設定した場合、図６に示す影響度付き変更影響箇所情報３５における機能Ｃの設計要素影響度は「５」であるため、設計要素閾値よりも大きい。そのため、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３は、図９に示す影響度付きテスト観点マトリクス３８の機能Ｃが該当する４行目について、機能テスト観点ペア影響度を記載せずに「○」のままとする。
　影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３は、作成した影響度付きテスト観点マトリクス３８をメモリ１２に書き込む。
　＜テストケース優先度作成部２４の処理＞
　テストケース優先度作成部２４は、通信インタフェース１４を介してテスト情報３９の入力を受け付け、メモリ１２に書き込む。テストケース優先度作成部２４は、テスト情報３９と、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３が作成した影響度付きテスト観点マトリクス３８とを元に、テストケース優先度情報４０を作成する。
　テスト情報３９は、設計要素とテスト観点とテストケースとの対応が記載されたものであり、例えば、機能、テスト観点、テストケースの標題、およびテストケースの記述をリスト化したものである。テストケースとは、ある機能についてあるテスト観点における動作または性能を確認するために実施するテストに関して、前提条件、一連の手順および期待結果等を示したものである。図１０は、実施の形態１で具体例として使用するテスト情報３９を示す図である。図１０において、例えば２行目は、機能Ａとテスト観点ａとの組合せに対応するテストケースとして、第１テストケースという標題のテストケースの詳細が記述されている。
　テストケース優先度情報４０は、テストケースの標題とその優先度（以下、「テストケース優先度」という）とをリスト化したものである。テストケース優先度とは、変更仕様の通りに変更対象の内容を変更した場合に、どのテストケースを優先してテスト実施またはテスト設計を実施すべきかを示す度合いである。図１１は、実施の形態１で具体例として使用するテストケース優先度情報４０を示す図である。図１１において、例えば２行目には第１テストケースのテストケース優先度が「３」であることが示されており、６行目には第５テストケースのテストケース優先度が「１」であることが示されている。このことから、第５テストケースよりも第１テストケースを優先すべきであることが分かる。
　以下では、図２，１０，１１を参照して、テストケース優先度作成部２４の処理について説明する。
　まず、テストケース優先度作成部２４は、テスト情報３９を元に、テストケースの一覧を作成し、図１１に示すテストケース優先度情報４０の表の１列目の２行目以降に記載する。
　次にテストケース優先度作成部２４は、テスト情報３９を元に各テストケースの対応する機能とテスト観点とを抽出し、影響度付きテスト観点マトリクス３８において該当するセルの機能テスト観点ペア影響度をテストケース優先度として、図１１に示すテストケース優先度情報４０の表の２列目に記載する。例えば、図１１に示すテストケース優先度情報４０の表の２行目の第１テストケースは、図１０に示すテスト情報３９の２行目によると機能Ａおよびテスト観点ａに対応する。図９に示す影響度付きテスト観点マトリクス３８の表の２行目の２列目によると、機能Ａとテスト観点ａとの機能テスト観点ペア影響度は「３」である。そのため、テストケース優先度作成部２４は、図１１に示すテストケース優先度情報４０の表の２行目の２列目にテストケース優先度「３」を記載する。テストケース優先度作成部２４は、テストケース優先度の値の大小に応じてテストケースを並び替えてもよい。
　テストケース優先度作成部２４は、作成したテストケース優先度情報４０をメモリ１２に書き込む。
　＜表示制御部２５の処理＞
　表示制御部２５は、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３が作成した影響度付きテスト観点マトリクス３８、またはテストケース優先度作成部２４が作成したテストケース優先度情報４０のいずれか一方、あるいはその両方を、通信インタフェース１４を介して図示しない表示装置に表示するように制御する。
　表示制御部２５は、中間成果物であるテスト情報３９、影響度付き変更影響箇所情報３５、およびテスト観点マトリクス３７のうちの少なくとも１つを、通信インタフェース１４を介して表示装置に表示させてもよい。
　＜効果＞
　以上のように、実施の形態１によるテスト支援装置１０は、ソフトウェアの仕様変更における試験に関わる各テストケースのテスト実施、およびテスト設計の優先順位を決定する。
　実施の形態１によれば、テスト設計者は、変更影響を受ける可能性の高い順にテストケースの変更、および新規作成の要否を判断することができるようになり、試験設計工数の削減を図ることができる。また、テスト実施者は、変更影響を受ける可能性の高いテストケースに絞り込んでテストを実施すれば良いため、試験実施工数の削減を図ることができる。さらに、テスト設計者およびテスト実施者は、テスト観点の粒度でテストケースの優先度を確認することができるようになり、テストケースの優先度の妥当性の確認の容易化を図ることができる。
　＜変形例１＞
　実施の形態１では、テスト支援装置１０が備える影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能がソフトウェアで実現される場合について説明した。
　変形例１では、影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能がハードウェアで実現される場合について説明する。以下では、変形例１について、実施の形態１と異なる点を説明する。
　以下では、図１２を参照して、変形例１によるテスト支援装置１０の構成について説明する。
　影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能がハードウェアで実現される場合、テスト支援装置１０は、プロセッサ１１、メモリ１２、およびストレージ１３に代えて、処理回路１５を備える。処理回路１５は、影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、表示制御部２５、メモリ１２、およびストレージ１３の各機能を実現する専用の電子回路である。
　処理回路１５は、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ロジックＩＣ、ＧＡ（Gate Array）、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、ＦＰＧＡ（Field－Programmable Gate Array）が想定される。
　影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能を１つの処理回路１５で実現してもよく、影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能を複数の処理回路１５に分散させて実現してもよい。
　＜変形例２＞
　変形例１では、影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能がハードウェアで実現される場合について説明したが、一部の機能がハードウェアで実現され、他の機能がソフトウェアで実現されてもよい。
　すなわち、変形例２として、影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５のうち、一部の機能がハードウェアで実現され、他の機能がソフトウェアで実現されてもよい。
　プロセッサ１１、メモリ１２、ストレージ１３、および処理回路１５を総称して「プロセッシングサーキットリー」という。すなわち、各機能構成要素の機能は、プロセッシングサーキットリーによって実現される。
　＜実施の形態２＞
　実施の形態２は、設計要素影響度または機能テスト観点ペア影響度の値を調節する点が実施の形態１と異なる。実施の形態２では、この異なる点を説明し、同一の点については説明を省略する。
　＜構成＞
　図１３を参照して、実施の形態２によるテスト支援装置１６の構成について説明する。
　テスト支援装置１６は、プロセッサ１７が影響度調整部２６を備える点が、図１に示すテスト支援装置１０と異なる。影響度調整部２６は、他の機能構成要素と同様にソフトウェアによって実現される。また、影響度調整部２６は、他の機能構成要素と同様に一部または全部をハードウェアによって実現されてもよい。
　＜動作＞
　図１４を参照して、実施の形態２に係るテスト支援装置１６の動作について説明する。
　実施の形態２によるテスト支援装置１６の動作は、実施の形態２によるテスト支援方法に相当する。また、実施の形態２によるテスト支援装置１０の動作は、実施の形態２によるテスト支援プログラムの処理に相当する。
　＜影響度調整部２６の処理＞
　影響度調整部２６は、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３が作成した影響度付きテスト観点マトリクス３８に対して、作業者から設計要素影響度の値または機能テスト観点ペア影響度の値の変更指示を受け付けて値を変更し、調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１を作成する。
　調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１は、影響度付きテスト観点マトリクス３８内の機能テスト観点ペア影響度の値を作業者からの変更指示の通りに変更したリストである。図１５は、実施の形態２で具体例として使用する調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１を示す図である。
　テストケース優先度作成部２４は、影響度付きテスト観点マトリクス３８ではなく、調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１を元に、テストケース優先度情報４０を作成する。
　以下では、図１４，１５を参照して、影響度調整部２６の処理について説明する。
　まず、影響度調整部２６は、通信インタフェース１４を介して、影響度付きテスト観点マトリクス３８を表示装置に表示させる。
　次に、影響度調整部２６は、影響度付きテスト観点マトリクス３８の内容を、調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１にコピーする。影響度調整部２６は、通信インタフェース１４を介して作業者からの機能テスト観点ペア影響度の値の変更指示を受け付け、調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１の該当する値を変更する。具体的には、例えば、作業者は通信インタフェース１４を介して「機能Ａとテスト観点ｂとの機能テスト観点ペア影響度を１減少させる」等の指示を送る。影響度調整部２６は、図１５に示す調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１の表における機能Ａとテスト観点ｂとの機能テスト観点ペア影響度に対応する２行目の３列目のセルの値を、「３」から「２」に変更する。
　なお、影響度調整部２６は、通信インタフェース１４を介して影響度付き変更影響箇所情報３５を表示装置に表示し、作業者から設計要素影響度の値の変更指示を受け付け、影響度付き変更影響箇所情報３５内の設計要素影響度の値を変更してもよい。その際、影響度調整部２６は、変更した設計要素影響度の値を元に、機能テスト観点ペア影響度の値を再計算し、調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１を作成する。
　また、影響度調整部２６は、通信インタフェース１４を介して作業者からテスト観点優先度を受け付け、調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１内の機能テスト観点ペア影響度の値を変更してもよい。テスト観点優先度とは、指定のテスト観点に与えられる優先度の値である。具体的には、例えば、作業者は通信インタフェース１４を介して「テスト観点ｂのテスト観点優先度は１」等の指示を送る。影響度調整部２６は、図１５に示す調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１の表におけるテスト観点ｂに対応する２行目の３列目のセルの値を、「３」から１減算して「２」に変更する。同様に、影響度調整部２６は、図１５に示す調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１の表におけるテスト観点ｂに対応する３行目の３列目のセルの値を、「１」から１減算して「０」に変更する。テスト観点優先度を用いた機能テスト観点ペア影響度の値の変更は、減算および除算等の四則演算でも、その他の算出方法でもよい。このように、影響度調整部２６は、テスト観点優先度に基づいて機能テスト観点ペア影響度に重み付けをして調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１を作成する。
　また、影響度調整部２６は、通信インタフェース１４を介して作業者から設計要素優先度を受け付け、調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１内の機能テスト観点ペア影響度の値を変更してもよい。設計要素優先度とは、指定の設計要素に与えられる優先度の値である。具体的には、例えば、作業者は通信インタフェース１４を介して「機能Ｂの設計要素優先度は１」等の指示を送る。影響度調整部２６は、図１５に示す調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１の表における機能Ｂに対応する３行目の２列目のセルの値を、「１」から１減算して「０」に変更する。同様に、影響度調整部２６は、図１５に示す調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１の表における機能Ｂに対応する３行目の３列目のセルの値を、「１」から１減算して「０」に変更する。同様に、影響度調整部２６は、図１５に示す調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１の表における機能Ｂに対応する３行目の４列目のセルの値を、「１」から１減算して「０」に変更する。設計要素優先度を用いた機能テスト観点ペア影響度の値の変更は、減算および除算等の四則演算でも、その他の算出方法でもよい。
　次に、影響度調整部２６は、調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１をメモリ１２に書き込む。
　＜効果＞
　以上のように、実施の形態２によるテスト支援装置１６は、作業者が設計要素影響度または機能テスト観点ペア影響度の値を任意に調整した結果を、各テストケースのテスト実施およびテスト設計の優先順位に反映する。
　実施の形態２によれば、テスト設計者は、弱点箇所に関するテストケースの変更および新規作成の要否を優先して判断することができるようになり、試験設計工数の削減を図ることができる。また、テスト実施者は、弱点箇所に関するテストケースに絞り込んでテストを実施すれば良いため、試験実施工数の削減を図ることができる。弱点箇所とは、例えば、過去に不具合が発生した機能またはテスト観点等、または、不具合が発生しやすいと考えられる機能またはテスト観点等である。
　＜実施の形態３＞
　実施の形態３は、影響度付きテスト観点マトリクスの整合性を判定する点が実施の形態１と異なる。実施の形態３では、この異なる点を説明し、同一の点については説明を省略する。
　＜構成＞
　図１６を参照して、実施の形態３によるテスト支援装置１８の構成を説明する。
　テスト支援装置１８は、プロセッサ１９が整合性判定部２７を備える点が、図１に示すテスト支援装置１０と異なる。整合性判定部２７は、他の機能構成要素と同様にソフトウェアによって実現される。また、整合性判定部２７は、他の機能構成要素と同様に一部または全部をハードウェアによって実現されてもよい。
　＜動作＞
　図１７を参照して、実施の形態３によるテスト支援装置１８の動作について説明する。
　実施の形態３によるテスト支援装置１８の動作は、実施の形態３によるテスト支援方法に相当する。また、実施の形態３によるテスト支援装置１８の動作は、実施の形態３によるテスト支援プログラムの処理に相当する。
　＜整合性判定部２７の処理＞
　整合性判定部２７は、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３が作成した影響度付きテスト観点マトリクス３８と、テスト情報３９と、改訂仕様テスト情報４３とに対して、記載内容間の矛盾の有無を確認して整合性を判定し、矛盾のある個所を整合性違反として検出し、整合性判定結果４２を作成する。
　整合性判定結果４２は、整合性違反に関する箇所と内容を記載したリストである。図１８は、実施の形態３で具体例として使用する整合性判定結果４２を示す図であり、例えば２行目は変更αの整合性違反として、変更αとテスト観点ｃとが対応していないことを示している。
　改訂仕様テスト情報４３は、変更仕様情報を仕様情報にマージした改訂仕様情報に関するテスト情報である。変更仕様情報のマージとは、変更開発の完了後に、変更前の仕様情報とは別に作成した変更仕様情報を、変更前の仕様情報に反映する作業である。図１９は、実施の形態３で具体例として使用する改訂仕様テスト情報４３を示す図であり、例えば１２行目は、図１０に示すテスト情報３９では変更αのテストケースとして設計されていた第１１テストケースが、機能Ｂの第１１テストケースとして整理されたことを示している。
　表示制御部２５は、整合性判定部２７が作成した整合性判定結果４２を、通信インタフェース１４を介して表示装置に表示する制御を行う。
　以下では、図９，１５を参照して、整合性判定部２７の処理について説明する。
　まず、整合性判定部２７は、影響度付きテスト観点マトリクス３８を元に、変更仕様が対応するテスト観点のリストを抽出する。具体的には、図９の例では、整合性判定部２７は、変更αが対応するテスト観点として、テスト観点ａとテスト観点ｂとを抽出する。
　次に、整合性判定部２７は、影響度付きテスト観点マトリクス３８を元に、変更仕様が影響を及ぼす設計要素の一覧を抽出する。このとき、該当する設計要素影響度の数値が設計要素閾値よりも大きい設計要素、または該当する機能テスト観点ペア影響度が機能テスト観点ペア閾値よりも大きい機能テスト観点ペアを除外して抽出してもよい。機能テスト観点ペア閾値とは、機能テスト観点ペア影響度の有意性を判断するための閾値である。具体的には、図９の例では、整合性判定部２７は、変更αが影響を及ぼす設計要素として、機能テスト観点ペア影響度の数値が記載されている機能Ａと機能Ｂとを抽出する。なお、機能Ｃは設計要素影響度が設計要素閾値である「３」よりも大きいため、機能テスト観点ペア影響度の数値は記載されていない。そのため、整合性判定部２７は、抽出する機能に機能Ｃを含めない。
　次に、整合性判定部２７は、影響度付きテスト観点マトリクス３８を元に、変更仕様の影響を受ける設計要素が対応するテスト観点のリストを抽出する。具体的には、図９の例では、整合性判定部２７は、先ほど抽出した機能Ａと機能Ｂとが対応するテスト観点として、テスト観点ａとテスト観点ｂとテスト観点ｃとを抽出する。
　次に、整合性判定部２７は、影響度付きテスト観点マトリクス３８を元に、変更仕様が対応するテスト観点のリストと、変更仕様が影響を及ぼす設計要素の対応するテスト観点のリストとを比較する。具体的には、図９の例では、整合性判定部２７は、変更仕様が対応するテスト観点であるテスト観点ａとテスト観点ｂとのリストと、機能Ａと機能Ｂとが対応するテスト観点であるテスト観点ａとテスト観点ｂとテスト観点ｃとのリストを比較し、変更仕様が対応するテスト観点の側にのみテスト観点ｃが含まれていないことを検出する。
　次に、整合性判定部２７は、整合性判定結果４２に、変更αの整合性違反として、テスト観点ｃが対応していないことを記載する。
　また、整合性判定部２７は、影響度付きテスト観点マトリクス３８を元に、変更仕様および各設計要素が対応する機能-テスト観点ペアのリストを抽出する。このとき、整合性判定部２７は、機能テスト観点ペア影響度が機能テスト観点ペア閾値よりも大きい機能テスト観点ペアを除外してもよい。具体的には、機能テスト観点ペア閾値が「２」である場合、図９の例では、整合性判定部２７は、変更仕様および各設計要素が対応する機能テスト観点ペアとして、機能Ｂとテスト観点ａとのペア、機能Ｂとテスト観点ｂとのペア、機能Ｂとテスト観点ｂとのペア、変更αとテスト観点ａとのペア、および変更αとテスト観点ｂとのペアを抽出する。
　次に、整合性判定部２７は、テスト情報３９を元に、先ほど抽出した機能テスト観点ペアに対応するテストケースの有無を確認する。具体的には、図９の例では、整合性判定部２７は、変更αとテスト観点ｂとのペアに対応するテストケースが存在しないことを検出する。
　次に、整合性判定部２７は、整合性判定結果４２に、変更αの整合性違反として、変更αとテスト観点ｂとのペアに対応するテストケースが存在しないことを記載する。
　また、整合性判定部２７は、テスト情報３９と改訂仕様テスト情報４３とを比較し、変更仕様に関するテストケースがどのように仕様情報に反映されたかを抽出する。テスト情報３９のテストケースと改訂仕様テスト情報４３のテストケースとの同一性の判定は、テストケースの名称の一致、またはテストケースの記述の類似性等を元に判定する。具体的には、図１９の例では、整合性判定部２７は、第１１テストケースが機能Ｂとテスト観点ｃとのペアのテストケースとして整理されたこと、および、第１２テストケースが機能Ｃとテスト観点ａとのペアのテストケースとして整理されたことを抽出する。
　次に、整合性判定部２７は、影響度付きテスト観点マトリクス３８を元に、変更仕様が影響を及ぼす設計要素のリストを抽出する。このとき、整合性判定部２７は、機能テスト観点ペア影響度が機能テスト観点ペア閾値以下である機能テスト観点ペアを持つ設計要素に限定してもよい。具体的には、機能テスト観点ペア閾値が「４」である場合、図９の例では、整合性判定部２７は、変更仕様が影響を及ぼす設計要素として、機能Ａおよび機能Ｂを検出する。
　次に、整合性判定部２７は、整理されたテストケースに新たに対応付けられた機能が、先ほど抽出した変更仕様が影響を及ぼす設計要素のリストに含まれるか否かを判定する。具体的には、図１９の例では、第１２テストケースが、変更仕様の影響を及ぼす設計要素のリストに含まれない機能に対応していることを検出する。
　次に、整合性判定部２７は、整合性判定結果４２に、第１２テストケースの整合性違反として、変更仕様が影響を及ぼす設計要素のリストに含まれない機能Ｃに対応していることを記載する。
　また、整合性判定部２７は、影響度付きテスト観点マトリクス３８を元に、変更仕様が対応するテスト観点のリストを抽出する。具体的には、図９の例では、整合性判定部２７は、変更仕様が対応するテスト観点として、テスト観点ａとテスト観点ｂとを抽出する。
　次に、整合性判定部２７は、整理されたテストケースに新たに対応づけられたテスト観点が、先ほど抽出した変更仕様が対応するテスト観点のリストに含まれるか否かを判定する。具体的には、図１９の例では、第１１テストケースが、変更仕様が対応するテスト観点のリストに含まれないテスト観点に対応していることを検出する。
　次に、整合性判定部２７は、整合性判定結果４２に、第１１テストケースの整合性違反として、変更仕様が対応するテスト観点のリストに含まれないテスト観点ｃに対応していることを記載する。
　次に、整合性判定部２７は、整合性判定結果４２をメモリ１２に書き込む。
　＜効果＞
　以上のように、実施の形態３によるテスト支援装置１８は、変更仕様に関する整合性違反を検出する。
　実施の形態３によれば、仕様設計者は、変更開発における変更仕様に関する仕様漏れ、および変更開発を適用する変更前の仕様に関する仕様漏れの可能性を発見することができる。テスト設計者は、テストケースの設計漏れの可能性を発見することができる。また、テスト設計者は、変更仕様を変更前の仕様にマージする際のテストケース再設計のミスの可能性を発見することができる。
　なお、本開示の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略したりすることが可能である。
　本開示は詳細に説明されたが、上記した説明は、すべての態様において、例示であって、限定的なものではない。例示されていない無数の変形例が想定され得るものと解される。
　１０　テスト支援装置、１１　プロセッサ、１２　メモリ、１３　ストレージ、１４　通信インタフェース、１５　処理回路、１６　テスト支援装置、１７　プロセッサ、１８　テスト支援装置、１９　プロセッサ、２１　影響度付き変更影響箇所作成部、２２　テスト観点マトリクス作成部、２３　影響度付きテスト観点マトリクス作成部、２４　テストケース優先度作成部、２５　表示制御部、２６　影響度調整部、２７　整合性判定部、３１　仕様情報、３２　ソースコード、３３　トレーサビリティ情報、３４　変更仕様情報、３５　影響度付き変更影響箇所情報、３６　テスト観点データベース、３７　テスト観点マトリクス、３８　影響度付きテスト観点マトリクス、３９　テスト情報、４０　テストケース優先度情報、４１　調整済み影響度付きテスト観点マトリクス、４２　整合性判定結果、４３　改訂仕様テスト情報。

Claims (14)

  1. 　ソフトウェアの仕様を変更する際に実施するテストを支援するテスト支援装置であって、
    　仕様情報、ソースコード、トレーサビリティ情報、および変更仕様情報に基づいて、前記変更仕様情報に含まれる変更仕様が設計要素に及ぼす影響度を示す設計要素影響度を算出し、前記設計要素と前記設計要素影響度との関係を示す影響度付き変更影響箇所情報を作成する影響度付き変更影響箇所作成部と、
    　前記仕様情報、前記変更仕様情報、およびテスト観点データベースに基づいて、前記設計要素とテスト観点との対応の有無を抽出し、前記設計要素と前記テスト観点との対応関係を示すテスト観点マトリクスを作成するテスト観点マトリクス作成部と、
    　前記影響度付き変更影響箇所作成部が作成した前記影響度付き変更影響箇所情報と、前記テスト観点マトリクス作成部が作成した前記テスト観点マトリクスとに基づいて、前記変更仕様が前記設計要素と前記テスト観点とのペアである設計要素テスト観点ペアに及ぼす影響度を示す設計要素テスト観点ペア影響度を算出し、前記設計要素テスト観点ペアと前記設計要素テスト観点ペア影響度との関係を示す影響度付きテスト観点マトリクスを作成する影響度付きテスト観点マトリクス作成部と、
    　前記設計要素テスト観点ペアとテストケースとの対応関係を示すテスト情報と、前記影響度付きテスト観点マトリクス作成部が作成した前記影響度付きテスト観点マトリクスとに基づいて、前記テストケースの優先度であるテストケース優先度を算出するテストケース優先度作成部と、
    　前記影響度付きテスト観点マトリクス作成部が作成した前記影響度付きテスト観点マトリクスと、前記テストケース優先度作成部が算出した前記テストケース優先度とのうちの少なくとも一方を表示する制御を行う表示制御部と、
    を備える、テスト支援装置。
  2. 　前記影響度付き変更影響箇所作成部は、前記ソースコードにおける前記設計要素間の依存強度に基づいて前記設計要素影響度を算出する、請求項１に記載のテスト支援装置。
  3. 　前記影響度付き変更影響箇所作成部は、前記トレーサビリティ情報に含まれる前記設計要素間のトレーサビリティに関する距離情報に基づいて前記設計要素影響度を算出する、請求項１または２に記載のテスト支援装置。
  4. 　前記影響度付き変更影響箇所作成部は、少なくとも前記仕様情報および前記テスト観点データベースに含まれるキーワードが予め定められたキーワードであるか否かを判定し、当該判定結果に基づいて前記影響度付きテスト観点マトリクスにおける前記設計要素テスト観点ペア影響度を調整する、請求項１から３のいずれか１項に記載のテスト支援装置。
  5. 　前記影響度付きテスト観点マトリクスにおける前記設計要素テスト観点ペア影響度の変更指示を受け付け、当該変更指示に従って前記設計要素テスト観点ペア影響度を調整して調整済み影響度付きテスト観点マトリクスを作成する影響度調整部をさらに備える、請求項１から４のいずれか１項に記載のテスト支援装置。
  6. 　前記影響度調整部は、前記影響度付き変更影響箇所情報に含まれる前記設計要素影響度の変更指示を受け付け、当該変更指示に従って前記設計要素影響度を調整し、調整した前記設計要素影響度に基づいて前記設計要素テスト観点ペア影響度を再計算して前記調整済み影響度付きテスト観点マトリクスを作成する、請求項５に記載のテスト支援装置。
  7. 　前記影響度調整部は、前記テスト観点の優先度であるテスト観点優先度を受け付け、前記テスト観点優先度に基づいて前記設計要素テスト観点ペア影響度に重み付けをして前記調整済み影響度付きテスト観点マトリクスを作成する、請求項５に記載のテスト支援装置。
  8. 　前記影響度調整部は、前記設計要素の優先度である設計要素優先度を受け付け、前記設計要素優先度に基づいて前記設計要素テスト観点ペア影響度に重み付けをして前記調整済み影響度付きテスト観点マトリクスを作成する、請求項５に記載のテスト支援装置。
  9. 　前記影響度付きテスト観点マトリクスに基づいて、前記変更仕様が影響を及ぼす前記設計要素が対応する前記テスト観点の一覧と、前記変更仕様が対応する前記テスト観点の一覧とを比較し、両者間で差異がある箇所を整合性違反と判定する整合性判定部をさらに備える、請求項１から４のいずれか１項に記載のテスト支援装置。
  10. 　前記整合性判定部は、前記影響度付きテスト観点マトリクスおよび前記テスト情報に基づいて、前記設計要素テスト観点ペアに対応する前記テストケースが存在しない場合に前記整合性違反であると判定する、請求項９に記載のテスト支援装置。
  11. 　前記整合性判定部は、前記変更仕様情報を前記仕様情報にマージした改訂仕様情報に関するテスト情報である改訂仕様テスト情報に基づいて、前記変更仕様をテストするために設計されたテストケースが、前記変更仕様が影響を及ぼす設計要素以外の設計要素に対応している場合に前記整合性違反であると判定する、請求項９または１０に記載のテスト支援装置。
  12. 　前記整合性判定部は、前記変更仕様情報を前記仕様情報にマージした改訂仕様情報に関するテスト情報である改訂仕様テスト情報に基づいて、前記変更仕様をテストするために設計されたテストケースが、前記変更仕様が対応するテスト観点以外のテスト観点に対応している場合に前記整合性違反であると判定する、請求項９から１１のいずれか１項に記載のテスト支援装置。
  13. 　ソフトウェアの仕様を変更する際に実施するテストを支援するテスト支援方法であって、
    　仕様情報、ソースコード、トレーサビリティ情報、および変更仕様情報に基づいて、前記変更仕様情報に含まれる変更仕様が設計要素に及ぼす影響度を示す設計要素影響度を算出し、前記設計要素と前記設計要素影響度との関係を示す影響度付き変更影響箇所情報を作成し、
    　前記仕様情報、前記変更仕様情報、およびテスト観点データベースに基づいて、前記設計要素とテスト観点との対応の有無を抽出し、前記設計要素と前記テスト観点との対応関係を示すテスト観点マトリクスを作成し、
    　作成した前記影響度付き変更影響箇所情報と、作成した前記テスト観点マトリクスとに基づいて、前記変更仕様が前記設計要素と前記テスト観点とのペアである設計要素テスト観点ペアに及ぼす影響度を示す設計要素テスト観点ペア影響度を算出し、前記設計要素テスト観点ペアと前記設計要素テスト観点ペア影響度との関係を示す影響度付きテスト観点マトリクスを作成し、
    　前記設計要素テスト観点ペアとテストケースとの対応関係を示すテスト情報と、作成した前記影響度付きテスト観点マトリクスとに基づいて、前記テストケースの優先度であるテストケース優先度を算出し、
    　作成した前記影響度付きテスト観点マトリクスと、算出した前記テストケース優先度とのうちの少なくとも一方を表示する制御を行う、テスト支援方法。
  14. 　コンピュータを、ソフトウェアの仕様を変更する際に実施するテストを支援するテスト支援装置として機能させるためのテスト支援プログラムであって、
    　仕様情報、ソースコード、トレーサビリティ情報、および変更仕様情報に基づいて、前記変更仕様情報に含まれる変更仕様が設計要素に及ぼす影響度を示す設計要素影響度を算出し、前記設計要素と前記設計要素影響度との関係を示す影響度付き変更影響箇所情報を作成する手順と、
    　前記仕様情報、前記変更仕様情報、およびテスト観点データベースに基づいて、前記設計要素とテスト観点との対応の有無を抽出し、前記設計要素と前記テスト観点との対応関係を示すテスト観点マトリクスを作成する手順と、
    　作成した前記影響度付き変更影響箇所情報と、作成した前記テスト観点マトリクスとに基づいて、前記変更仕様が前記設計要素と前記テスト観点とのペアである設計要素テスト観点ペアに及ぼす影響度を示す設計要素テスト観点ペア影響度を算出し、前記設計要素テスト観点ペアと前記設計要素テスト観点ペア影響度との関係を示す影響度付きテスト観点マトリクスを作成する手順と、
    　前記設計要素テスト観点ペアとテストケースとの対応関係を示すテスト情報と、作成した前記影響度付きテスト観点マトリクスとに基づいて、前記テストケースの優先度であるテストケース優先度を算出する手順と、
    　作成した前記影響度付きテスト観点マトリクスと、算出した前記テストケース優先度とのうちの少なくとも一方を表示する制御を行う手順と、
    を前記コンピュータに実行させる、テスト支援プログラム。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07210424A (ja) * 1994-01-14 1995-08-11 Toshiba Corp ソフトウェアテスト支援システム
JP2015026222A (ja) * 2013-07-25 2015-02-05 富士通株式会社 テストプログラム、テスト方法及びテスト装置
JP2017138851A (ja) * 2016-02-04 2017-08-10 株式会社ベリサーブ 試験設計支援システム、試験設計支援方法、及び試験設計支援プログラム

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07210424A (ja) * 1994-01-14 1995-08-11 Toshiba Corp ソフトウェアテスト支援システム
JP2015026222A (ja) * 2013-07-25 2015-02-05 富士通株式会社 テストプログラム、テスト方法及びテスト装置
JP2017138851A (ja) * 2016-02-04 2017-08-10 株式会社ベリサーブ 試験設計支援システム、試験設計支援方法、及び試験設計支援プログラム

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
"Software Engineering Frontline 2010; 1st ed.", 31 August 2010, MODERN SCIENCE SOCIETY, JP, ISBN: 978-4-7649-0394-4, article KYOKO OHASHI ET AL.: "Efforts to build traceability in business application development", pages: 155 - 160, XP009550186 *
VERISERVE CO., LTD.: "Test design support tool TESTRUCTURE - the definitive edition for high-quality test design!", ET & IOT TECHNOLOGY WEST (EMBEDDED COMPREHENSIVE TECHNOLOGY EXHIBITION & IOT COMPREHENSIVE TECHNOLOGY EXHIBITION KANSAI), JUNE 13-14, 2019, EMBEDDED SYSTEMS TECHNOLOGY ASSOCIATION, JP, 13 June 2019 (2019-06-13) - 14 June 2019 (2019-06-14), JP, XP009550193 *

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