WO2023180264A1 - Leiterplatte, metall-keramik-substrat als einsatz und verfahren zur herstellung einer leiterplatte - Google Patents
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Definitions
- Circuit board metal-ceramic substrate as an insert and method for producing a circuit board
- the present invention relates to a circuit board, a metal-ceramic substrate as an insert for such a circuit board and a method for producing a circuit board.
- Circuit boards are well known from the prior art. Such circuit boards serve as carriers for electrical circuits that are formed or composed of conductor tracks, electrical components and/or connections. The electrical circuits are preferably formed on one component side of the circuit board.
- Such circuit boards also called PCBs (printed circuit boards), usually consist of a plastic, in particular a fiber-reinforced plastic, an epoxy resin and/or a hard paper.
- PCBs printed circuit boards
- the use of such materials proves to be particularly cost-effective and easy to handle during the manufacturing process.
- the materials mentioned for printed circuit boards have a limited thermal conductivity, which is, however, necessary in order to transport away heat that is generated by certain electrical components during operation. This ability to isolate is also limited. With the increasing performance of electronic components, circuit boards made from common materials are therefore unsuitable for permanently withstanding the stresses that arise during operation and for providing good insulation properties.
- circuit boards that are designed as metal-ceramic substrates are characterized by a high insulation capacity and they typically have higher thermal conductivities compared to those above mentioned materials.
- the production of metal-ceramic substrates is more complex and cost-intensive than the production of circuit boards made of plastic, epoxy resin and/or hard paper.
- the present invention aims to provide printed circuit boards that meet the high demands for heat dissipation and in particular for insulation capability in the area of the electrical component and at the same time can be produced at a lower cost.
- circuit board according to claim 1 a metal-ceramic substrate according to claim 9 and a method according to claim 10. Further exemplary embodiments can be found in the subclaims and the description.
- a circuit board for electrical components and/or conductor tracks comprising
- an insert which is integrated into the base body in an assembled state, wherein the insert is a metal-ceramic substrate and wherein the metal-ceramic substrate is at least partially covered by an insulating element on a side surface facing the base body in the assembled state, in particular surrounded, is.
- the base body of the circuit board is not completely made of one of the common materials, such as plastic, hard paper and / or epoxy resin, but rather a section of the circuit board is made of at least a metal Ceramic substrate is shaped.
- the metal-ceramic substrate is embedded or inserted into the base body of the circuit board in order to specifically ensure locally increased thermal conductivity.
- the insert is arranged in a direction perpendicular to the main extension plane below the electrical or electronic component, which is responsible for increased heat development during operation.
- the insulation element does not surround any component.
- a component is mounted or can be mounted on the insert, this component is arranged at least on a side surface that is free from being covered by the insulation element.
- the insulation element is arranged in a direction parallel to the stacking direction below the electrical component (without being in contact with the component) and/or on an upper side of the ceramic element facing away from the ceramic element, which is used as a connection or contact surface for the component and therefore not on the side surface, which is essentially covered by the insulation element.
- the electrical component is preferably free of insulation elements, i.e. H. is not in contact with the insulating element of the side surface of the insert.
- the insulation element is preferably to be distinguished from the base body.
- the base body differs from the insulation element in terms of physical properties, for example because they are made from different materials.
- the insulation element can therefore be distinguished from one another as individual building blocks.
- the insulation element does not have any adhesive or adhesive effect.
- the insulation element is unsuitable for forming an independent, cohesive connection with the base body.
- An additional, preferably separate, adhesive element or a positive and/or frictional locking means is provided for fixing.
- the metal-ceramic substrate is preferably coated with the insulating element, ie a coating is formed.
- the component metallization is essentially free of structuring and forms a continuous metal layer without electrically insulating interruption. Furthermore, it is provided that only in the area above the pullback, i.e. H. above the section of the ceramic element that protrudes from the component metallization, the insulation element is arranged and not between two metal sections of the component metallization that are separated from one another, for example by an insulation trench, if the component metallization is structured.
- the metal-ceramic substrate is surrounded or encased on its side surface at least in sections, preferably completely, by an insulating element.
- this insulating element is arranged in the assembled state between the base body and the metal-ceramic substrate and supports or reinforces the insulating effect of the metal-ceramic substrate used, in particular the avoidance of creepage or air gaps along the surface of the Ceramic between the component and backside metallization. This sometimes makes it possible to reduce a first length with which the ceramic element protrudes relative to the component metallization to form a pullback or even to completely forego the formation of a pullback. In this case, the insulation element represents the required insulation.
- the insulation element can also be used for further insulation from the base body.
- the insulation element can extend over the entire height of the insert or, for example, it is along a height extension of the Insert, which runs perpendicular to the main extension plane, ie along a stacking direction of the metal-ceramic substrate, interrupted at least in sections.
- the insulation element extends over a first height in a direction perpendicular to the main extension plane, with the ratio of the first height to a total height of the insert, measured in the same direction, preferably having a value between 0.4 and 1 between 0.6 and 1 and particularly preferably between 0.7 and 1.
- an annular, circumferential insulation element is formed, which can be used in targeted areas for insulation protection between the component metallization and the backside metallization.
- the insulation element extends as an annular casing at the height of the ceramic element of the metal-ceramic substrate and in this area provides insulation protection between the component metallization and the backside metallization.
- the first height in this case assumes a value through which the ratio of a first thickness of the ceramic element measured perpendicular to the main extension plane to the first height of the insulation element has a value between 0.5 and 2, preferably between 0.8 and 1 .5 and particularly preferably between 1.1 and 1.5. It is preferably provided that the insulation element is part of the insert.
- the insulation element is a coating on the side surface and/or forms a cladding body or encapsulation body, which is produced, for example, as part of a casting, spraying, spraying, dipping or injection molding process.
- the material used for the insulation element is free of ceramic and/or comprises ceramic particles that are incorporated into a corresponding plastic matrix.
- the insulation element is essentially made of a plastic, an epoxy resin and/or a hard paper, which particularly preferably corresponds to that from which the base body is formed.
- the metal-ceramic substrate has a ceramic element, a component metallization and preferably a backside metallization, wherein the insulating element surrounds the component metallization and/or the ceramic element at least in sections, preferably completely, on the side facing the base body in the assembled state. It is conceivable that the insulating element only surrounds the component metallization and/or the ceramic element and/or the backside metallization, that is, the insulating element only surrounds a specific partial area, which is predetermined by one or more components of the metal-ceramic substrate. It is also conceivable that the insulation element only encases or surrounds the component metallization and the ceramic element and/or only the ceramic element and the backside metallization.
- the insulation element extends from the area of the component metallization to the area of the ceramic element and/or to the area of the backside metallization, without completely covering the component metallization, the ceramic element and/or the backside metallization on their side surfaces.
- the metal-ceramic substrate When surrounding or encasing, the metal-ceramic substrate is preferably surrounded by a closed curve of the insulation element in a plane that runs parallel to the main extension plane.
- the ceramic element is formed between the component metallization and the backside metallization.
- the component metallization, the ceramic element and the backside metallization are arranged one above the other along a stacking direction that runs perpendicular to the main extension plane.
- the metal-ceramic substrate consists of component metallization, ceramic element and backside metallization.
- Essential components of metal-ceramic substrates are: Insulating layer, which is preferably made entirely of ceramic, and at least one metal layer bonded to the insulating layer. Because of their comparatively high insulation strength, insulation layers made of ceramic have proven to be particularly advantageous in power electronics. By structuring the metal layer, conductor tracks and/or connection surfaces for the electrical components can then be realized.
- the component metallization is not structured, but rather forms a closed surface.
- the prerequisite for providing such a metal-ceramic substrate is a permanent connection of the metal layer to the ceramic layer.
- a so-called direct metal bonding process ie a DCB or DAB process
- connection via an active soldering process ie a thick film layer process, diffusion bonding and/or hot isostatic bonding is also conceivable.
- the materials for the metal layer or metallization are copper, aluminum, molybdenum, tungsten and/or their alloys such as. B. CuZr, AlSi or AIMgSi, as well as laminates such as CuW, CuMo, CuAl and / or AICu or MMC (metal matrix composite), such as CuW, CuMo or AISiC, are conceivable. Furthermore, it is preferably provided that the metal layer or metallization on the manufactured metal-ceramic substrate is surface-modified, in particular as component metallization.
- a surface modification for example, is a seal with a precious metal, especially silver; and/or gold, or (electroless) nickel or ENIG (“electroless nickel immersion gold”) or edge casting on the metallization to suppress crack formation or widening is conceivable.
- the metal of the component metallization also differs from the metal of the backside metallization.
- SiC
- the insulation element is flush with the ceramic element in a direction parallel to the main extension plane and/or protrudes relative to the ceramic element.
- the ceramic element projects relative to the insulation element in a direction parallel to the main extension plane.
- an upper side of the component metallization facing away from the ceramic element is arranged below an upper side of the base body when viewed in the stacking direction in the assembled state.
- the top side of the component metallization is designed to be recessed from the course of the top side of the base body when the insert is integrated into the circuit board.
- the top side of the component metallization has a recess depth of 10 pm to 200 pm, preferably between 10 pm and 150 pm and particularly preferably between 10 pm and 100 pm, relative to the top side of the base body.
- an underside of the backside metallization facing away from the ceramic element has a recessed course relative to the underside of the base body, preferably with one of the recess depths mentioned above.
- the insert is therefore smaller than the thickness of the base body when viewed in the stacking direction and it is also preferably provided that the top and bottom of the insert are not flush with the top and bottom of the base body. It is conceivable that on the back of the circuit board the insert is only flush with the underside of the base body.
- the insulation element at least partially covers a side of the component metallization facing away from the ceramic element.
- the top side of the metal-ceramic substrate is also covered, at least in sections, with the insulation element.
- an edge section or edge region ie an outer edge region in a plane running parallel to the main extension plane, of the component metallization or the top side of the component metallization is additionally covered with the insulating element in order to further insulate the component metallization from the base body of the circuit board to realize.
- the edge region is preferably understood to be the surface formed on the outer edge, which forms up to 15%, preferably up to 10% and particularly preferably up to 5% of the total surface on the outside of the component metallization facing away from the ceramic element.
- the component metallization covers more than 10%, preferably more than 30% and particularly preferably more than 50% of the top side of the component metallization, even outside the edge region, and only allows access to the component metallization in certain areas in order to achieve the component metallization to further isolate it from the base body and at the same time ensure sufficient access for connecting a component metallization. It is also conceivable that conductor tracks run over the insulation element in order to realize an electrical connection between a partial section of the base body and the component metallization.
- the ceramic element of the metal-ceramic substrate protrudes by a first length in a direction parallel to the main extension plane relative to the component metallization of the metal-ceramic substrate.
- a corresponding protruding area which is also known as a pullback, serves in particular for electrical insulation of component metallization and backside metallization and can preferably also be used as a positive locking means when inserting or fixing the insert into or on the base body of the circuit board.
- the component metallization and/or the ceramic element and/or the backside metallization with a Insulating element is covered with an essentially constant width, so that the metal-ceramic substrate insert coated with the insulating element also has a corresponding projection at the height of the ceramic element, which is due to the protrusion of the ceramic element by a first length.
- the width of the insulation element is dimensioned in a direction parallel to the main extension plane.
- the insert and/or the insulating element interacts with the base body in a form-fitting manner in a direction perpendicular to the main extension plane and is preferably connected to the base body in a materially bonded manner.
- a frictional connection between the insert and the base body can also be achieved.
- the positive connection preferably acts in both possible directions, which run perpendicular to the main plane of extension of the base body.
- further inserts are arranged in the base body.
- the insert is only flush with the base body on the component side and the back of the metal-ceramic substrate is enclosed by the base body.
- the metal-ceramic substrate or the insert is embedded or inserted into a recess in the base body of the circuit board. This also results in a positive fit parallel to the main extension plane.
- the metal-ceramic substrate and the base body are designed such that their thermal expansion coefficients are as similar as possible.
- a difference in the thermal expansion coefficient of the insert and the base body is kept as small as possible.
- a corresponding thickness of the ceramic element in the metal-ceramic substrate is set.
- a stabilization layer is provided to adapt the thermomechanical expansion coefficient or that several metal layers and / or different metallizations (e.g. component metallizations and back metallizations are made of different metals or materials) are used in order to achieve the desired adaptation in a corresponding manner to care. This can ensure that expansions that occur during operation do not create significant mechanical stresses between the base plate and the metal-ceramic substrate, which could, for example, lead to the formation of cracks.
- different ceramic layers are used in a metal-ceramic substrate with several ceramic layers.
- the component metallization or the insulation element and/or the ceramic element ensure a corresponding side profile, in particular with a corresponding modulation depth.
- the side surface of the insulating element and/or the component metallization and/or the ceramic element and/or the metal-ceramic substrate can be curved, oblique, stepped, nose-shaped and/or shaped in another way in order to ensure positive connection in a direction perpendicular to the main extension plane condition.
- the insulation element is located on a location that is not parallel to the main line.
- the side surface running on the backing plane is profiled.
- the profiling takes place on a side that faces the base body in the assembled state and is in contact with the base body.
- the insulation element has a width in a direction parallel to the main extension plane, which assumes a value between 10 pm and 800 pm, preferably between 150 pm and 500 pm and particularly preferably between 250 pm and 350 pm.
- This provides a comparatively thin insulation layer, which has proven to be sufficient to ensure additional significant insulation protection between the component metallization and the backside metallization, especially if the first length is less than 80 pm, preferably less than 50 pm and preferably less than 25 pm.
- the insulation element has, in a direction parallel to the main extension plane, a width averaged along the first height of the insulation element, which assumes a value that is greater than 250 pm, preferably greater than 350 pm and particularly preferably greater than 500 pm . It has been found that such wide insulation elements are suitable for forming an effective and additional insulation layer. In particular, such a wide insulation element also allows thinner ceramic elements to be realized, preferably with thicker component metallizations and backside metallizations.
- the component metallization and/or the backside metallization are thicker than the thickness of the insulation element. This places higher demands on the insulation element, particularly with regard to electrical insulation strength between the component metallization and the backside metallization.
- the ceramic element has a first thickness
- the base body has a second thickness
- the component metallization has a third thickness has, wherein a ratio between the first thickness and the second thickness and / or a ratio between the first thickness and the third thickness has a value between 0.01 and 0.3, preferably between 0.01 and 0.2 and particularly preferably between 0.01 and 0.15.
- a comparatively thin ceramic is advantageously used.
- the insulation element surrounds the side surfaces of the metal-ceramic substrate to increase the insulation.
- a further aspect of the present invention is a metal-ceramic substrate that is used as an insert for a printed circuit board according to the present invention, wherein the insert is at least partially surrounded by an insulating element on a side surface that does not run parallel to the main extension plane. All of the properties and advantages described for the circuit board apply analogously to the metal-ceramic substrate that is used as an insert and vice versa.
- the insert is completely surrounded by an insulating element on the non-parallel side surfaces.
- Such an insert can be inserted into any base body of a suitable size without hesitation.
- the insulation element is not independently adhesive. This simplifies the handling of the insert, especially when it is inserted into the base body.
- the metal-ceramic substrate is provided as an insert together with the insulation element and is installed together with the insulation element connected to the metal-ceramic substrate.
- the insulation element itself is adhesive and a protective cover is provided, which is preferably only removed when the insert is to be inserted into the base plate.
- the insulation element surrounds the metal-ceramic substrate in a closed manner at least in a height section of the metal-ceramic substrate.
- the insulation element surrounds the component metallization, the ceramic element and/or the backside metallization in a strip-like manner.
- the ceramic element and/or the backside metallization is surrounded or covered by the insulating element.
- the strip-shaped course of the insulation element is preferably closed in a parallel to the main extension plane.
- a further subject of the present invention is a method for producing an insert which is intended for a printed circuit board according to the invention, comprising:
- the base body is made of a different material than the insert.
- the base body is essentially free of ceramic or does not provide any ceramic element as an insulating layer or stabilizing layer.
- the base body preferably contains less than 10% by weight, preferably less than 5% by weight and particularly preferably less than 3% by weight of ceramic.
- a proportion of the metal-ceramic substrate in the proportion of the circuit board is less than 50%, preferably less than 30% and particularly preferably less than 15%.
- the insert extends from the component side of the base plate to the back of the base body of the circuit board. In other words: the insert closes flush with the The base body is essentially flush on both sides, ie the component side and the back, in a direction perpendicular to the main extension plane.
- the positive connection between the base body and the metal-ceramic substrate serving as an insert in particular creates a permanent bond between the metal-ceramic substrate and the base body, which prevents the insert from detaching from the circuit board.
- the metal-ceramic substrate is profiled on a side surface that is not parallel to the main extension plane and/or
- a ceramic element of the metal-ceramic substrate protrudes by a first length in a direction parallel to the main extension plane relative to a component metallization and / or the backside metallization of the metal-ceramic substrate, the metal-ceramic substrate being surrounded by an insulating element.
- the side profiling can be supported by the insulation element or maintained with an insulation element that has a constant width over the entire height of the insert.
- a side surface, in particular a side surface of the component metallization and/or backside metallization and/or of the insulating element is curved concavely and/or convexly.
- the component metallization and/or the insulation element is designed to be stepped.
- the base body engages in the recessed or protruding courses on the side surfaces of the insulation element, the component metallization and/or back metallization, in order to cause the positive connection in one direction or both directions, which runs perpendicular to the main extension plane or get lost.
- the outermost edge of the component metallization and/or the insulation element is stepped, in particular stepped in such a way that the open area the step is formed on the side facing the component side and/or the back.
- a component can be arranged on the component metallization in such a way that the heat spread is completely recorded by the component metallization, taking into account isotropic transport of the heat.
- the sections of the component metallization that do not contribute to heat transport are removed in a corresponding manner in this stepped course and replaced by the base body.
- a protruding section of the ceramic element is used to form the positive connection. In particular, this is the section that is known as the so-called pullback and ensures sufficient insulation between the component metallization and the backside metallization.
- the first length assumes a value between 1 pm and 200 pm, preferably between 20 pm and 100 pm and particularly preferably between 25 pm and 60 pm.
- the first length preferably relates to a projection with which the ceramic element protrudes in a direction parallel to the main extension plane relative to the insulation element, which, for example, surrounds the component metallization.
- the metal-ceramic substrate in particular with the insulation element, has a maximum extension in a plane parallel to the main extension plane, which has a value between 1 mm and 200 mm, preferably between 4 mm and 60 mm and particularly preferably between 6 mm and 30 mm.
- a maximum extension in a plane parallel to the main extension plane which has a value between 1 mm and 200 mm, preferably between 4 mm and 60 mm and particularly preferably between 6 mm and 30 mm.
- comparatively small-sized inserts are provided, which depend on demand can be used to locally increase the thermal conductivity in the circuit board.
- a comparatively large number of individual stakes can be provided from a large map.
- Such a large card is determined by the format immediately after the component metallization is connected to the backside metallization, which is done using a corresponding connection process.
- the first length also takes on a negative value. Then the component metallization and/or the backside metallization and/or the insulation element that surrounds the component metallization and/or backside metallization protrudes from the ceramic element in a direction parallel to the main extension plane.
- the absolute value of the first length can assume the values mentioned above.
- the side surface is profiled in such a way, that is to say has such a side profile, that a modulation depth or height is established which has a value between 1 pm and 200 pm, preferably between 20 pm and 100 pm and particularly preferably between 25 pm and 60 pm.
- the modulation depth or height is to be understood as a deviation from an imaginary, cylindrical external course, measured in a direction parallel to the main extension plane, which is assigned to a narrowest point of the metal-ceramic substrate (measured in planes parallel to the main extension plane).
- the imaginary cylindrical outer course extends perpendicular to the main extension plane.
- the modulation depth can correspond to the first length. It is also conceivable that the modulation depth is caused by the component metallization and/or the ceramic element protruding relative to the backside metallization in a direction parallel to the main extension plane. For example, it is also conceivable that the side surface in the area of the ceramic element has an oblique course relative to the stacking direction (in other words: the top and bottom of the ceramic element have different angles large diameters or dimensions). In particular, the above applies analogously to the modulation depth of the side profiling of the insulation element.
- the course of the side surface or side surfaces in the area of the component metallization and/or back side metallization extends parallel to the stacking direction (i.e. the cross section of the component metallization and/or the back side metallization, viewed in the stacking direction, is essentially in the area of the component metallization or the Backside metallization constant.).
- the modulation depth is then preferably realized by a shoulder at the level of the ceramic element and/or by a corresponding geometry of the insulation element.
- the modulation depth can be generated by profiling or modulation in the area of the ceramic element and/or the insulating element, whereby the profiling in the stacking direction can take place continuously over the thickness of the ceramic element or the insulating element or discretely or abruptly at the level of the ceramic element.
- the insert has one or more projections which protrude or protrude in a direction parallel to the main extension plane compared to the general course of the outer circumference of the insert.
- This, preferably nose-shaped, projection can advantageously cause an additional positive connection in the circumferential direction along the outer circumference, which supports a rotationally fixed arrangement in the base body. It has been found to be advantageous that such a projection is created by cutting out the metal-ceramic substrates from a large card using laser light and/or water cutting. Due to a constant width of the insulation element, this projection then also forms on the insert with the insulation element.
- the metal-ceramic substrate has a round profile or a rounded corner in the main plane of extension.
- a corresponding design of the cross section of the insert in a plane that runs parallel to the main extension plane is particularly useful for this reason as advantageous because this can reduce a notch effect on the base body of the circuit board. This in turn allows the lifespan of the circuit board to be extended with use.
- the metal-ceramic substrate has a ceramic element, with a component metallization being connected to the ceramic element, wherein
- a stabilization layer for example in the form of a further ceramic element, is provided or formed, with a metallic intermediate layer being arranged between the ceramic element and the stabilization layer, and/or
- the component metallization and/or the backside metallization comprises a first metal layer and/or a second metal layer, wherein the first metal layer and the second metal layer are arranged one above the other.
- the thermal expansion coefficient of the insert by appropriately designing the metal-ceramic substrate in order to adapt it to the thermal expansion coefficient of the base body.
- the stabilization layer can also be used to optimize the thermomechanical expansion coefficient of the insert in such a way that mechanical stresses between the base body and the insert are reduced.
- the first metal layer differs from a second metal layer with respect to a grain size, wherein preferably a grain size in the first metal layer is smaller than a grain size in the second metal layer and/or particularly preferably a thickness of the first metal layer is thinner than a second metal layer.
- a thickness of the component metallization differs from a thickness of the backside metallization. This makes it possible in an advantageous manner to determine the height of the ceramic element within the base body of the circuit board. influence and in particular to ensure that the insulating ceramic element is arranged offset towards the back and away from the component side in the base body or vice versa.
- profiling of a side surface that does not run parallel to the main extension plane and/or realization of a ceramic element protruding relative to the component metallization and/or the rear side metallization in a direction parallel to the main extension plane is provided on the metal-ceramic substrate.
- profiling and/or cutting takes place, for example by etching, by mechanical processing, for example by means of milling, by processing with laser light and/or by a water jet.
- a component side and/or back running essentially parallel to the main extension plane is covered with a protective layer or resist layer and then the side surface is profiled using an etching medium and/or the ceramic element is partially exposed.
- a desired profiling of the side surface and the exposure of a laterally projecting section of the ceramic element are easily achieved by means of a simple etching process.
- the side surfaces are then covered, at least in sections, preferably completely, with an insulating element.
- the insert is separated from a metal-ceramic substrate provided as a large card.
- the side surfaces of the inserts are ground or polished before being inserted into the base body.
- Fig.1 schematic representation of a circuit board according to a first preferred embodiment of the present invention in a top view (top) and a sectional view (bottom)
- Fig. 2 Use according to a first preferred embodiment of the present invention
- FIG. 3 Insert according to a second preferred embodiment of the present invention
- Fig. 4 Insert according to a third preferred embodiment of the present invention
- FIG. 1 shows a circuit board 100 according to a first preferred embodiment of the present invention in a top view (top) and a sectional view (bottom).
- Such printed circuit boards 100 serve in particular as carriers for circuits which are formed from electrical or electronic components 5, connections 7 and/or conductor tracks 4.
- the electrical or electronic components 5, the conductor tracks 4 and/or the connections 7, for example in the form of soldering surfaces (pats) or soldering eyes, are preferably arranged or connected to a component side BS of the circuit board 100.
- plastics in particular fiber-reinforced plastics, epoxy resin and/or hard paper as materials for a base body 2, which extends essentially along a main extension plane HSE and on its component side BS the connections 7, electronic components 5 and/or conductor tracks 4 are formed or connected.
- Circuit boards 100 which are designed as metal-ceramic substrates, can, however, due to their increased thermal conductivity, in particular compared to circuit boards made of base bodies 2 made of the above-mentioned materials, i.e. H. Plastics, in particular fiber-reinforced plastics, epoxy resin and/or hard paper, which dissipate the resulting heat to a sufficient extent, are, however, more complex to produce and cost-intensive.
- H. Plastics in particular fiber-reinforced plastics, epoxy resin and/or hard paper, which dissipate the resulting heat to a sufficient extent, are, however, more complex to produce and cost-intensive.
- the circuit board 100 In order to use the positive properties of a circuit board 100 made of a plastic, an epoxy resin or a hard paper and the positive properties of a metal-ceramic substrate, in particular its thermal conductivity, it is preferably provided that the circuit board 100 according to the embodiment shown in Figure 1 a base body 2 which extends along the main extension plane HSE and into which an insert 1 is integrated, the insert 1 being provided as a metal-ceramic substrate. It is preferably provided that the metal-ceramic substrate, which is used as insert 1, is arranged in the circuit board 100 at those locations where increased heat development is to be expected.
- the insert 1 is arranged in a stacking direction S running perpendicular to the main extension plane HSE below an electrical component 5 or several electrical components 5 in order to dissipate its heat generation during operation can. It is preferably provided that an expansion A of the insert 1 is larger than an expansion of the electrical component measured parallel to the main extension plane HSE in order to guarantee effective heat dissipation.
- At least one insert 1, preferably several inserts 1, are integrated into the base body 2 of the circuit board 100.
- a component side BS of the insert 1 is essentially flush with a component side BS of the base body 2 and/or a back RS of the insert 1 is flush with the back RS of the base body 2.
- a proportion of a volume of the insert 1 or several inserts 1 in the volume of the base body 2 or the entire circuit board 100 is less than 50%, preferably less than 30% and particularly preferably less than 15%. It has been found that with such low proportions it is already possible to effectively improve the thermal properties of the circuit board 100 and at the same time to work predominantly with materials for the base body 2 that are easy to process and less cost-intensive than metal-ceramic -Substrates.
- the selection of the materials is carried out in such a way that the differences in the thermal expansion coefficients are kept as small as possible in order to prevent thermomechanical Stresses lead to cracks and/or damage to the circuit board 100 and/or to the metal-ceramic substrate.
- the thermal expansion coefficient of the insert 1 differs from the thermal expansion coefficient of the base body 2 is not more than 30%, preferably not more than 15% and particularly preferably not more than 10% of the thermal expansion coefficient of the insert 1.
- the person skilled in the art uses, for example, simulations for the respective compositions of the inserts and compares these with the values for the base body 2.
- the insert 1 is cylindrical and / or essentially rectangular, in particular has a square cross section, with the corners being rounded.
- an insert 1 is illustrated as a first exemplary embodiment of the present invention.
- a component metallization 20 is connected to a ceramic element 30 in a first step.
- the connection of the component metallization 20 and/or the backside metallization 20' is preferably carried out by a direct metal connection process, such as a DCB or DAB process, by a soldering process, in particular an active solder metal process, by a diffusion connection process and/or hot isostatic pressing. Connection via thick film technology is also conceivable.
- the inserts 1 are preferably separated from a large card, i.e. H. isolated.
- the insert 1 has a ceramic element 30, a component metallization 20 and a backside metallization 20 '.
- the component metallization 20 faces the component side BS of the circuit board 100, while the back side metallization 20 'faces the back side RS.
- the ceramic element 30 has a first thickness D1
- the component metallization 20 has a third thickness D3
- the backside metallization 20 ' has a fourth thickness D4.
- the third thickness D3 is the same size as the fourth thickness D4.
- the third thickness D3 is larger than the fourth thickness D4 or vice versa, whereby the ceramic element 30 is advantageously inside the insert 1 can be positioned differently along the stacking direction S running perpendicular to the main extension plane HSE.
- this makes it possible to provide a thicker component metallization 20, which provides high thermal conductivity in the area facing the component 5 due to the increased third thickness. This can prove beneficial in dissipating heat.
- the ceramic element 30 with the first thickness D1 is dimensioned such that a ratio between the first thickness D1 to the component metallization 20 and/or a ratio of the first thickness D1 to the second thickness D2 of the base body 2 assumes a ratio , which is between 0.01 and 0.3, preferably between 0.01 and 0.2 and particularly preferably between 0.01 and 0.15.
- a ceramic element 30 that is thin compared to the component metallization 20 and the base body 2 is used to ensure both good heat dissipation and the desired insulation strength.
- the ceramic element 30 projects in a direction parallel to the main extension plane HSE by a first length L1 relative to the component metallization 20 and/or the backside metallization 20'.
- a so-called pullback is formed on the outer circumference of the metal-ceramic substrate 1.
- the top of the insert 1 facing the component side BS and the underside of the insert 1 facing the back RS are connected to one another via side surfaces SF that do not run parallel to the main extension plane HSE.
- the side surfaces SF of the metal-ceramic substrate face the base body 2 of the circuit board 100 in the assembled state.
- the side surface SF of the metal-ceramic substrate includes sections of the component metallization 20, the ceramic element 30 and the backside metallization 20 '.
- an insulation element 8 covers the side surface SF of the metal-ceramic substrate at least partially covered.
- the insulation element 8 is arranged in the assembled state between the base body 2 and the metal-ceramic substrate.
- the insulation element 8 can be a coating with a corresponding insulation layer, which, for example, has a width B between 10 pm and 800 pm, preferably between 150 pm and 500 pm and particularly preferably between 250 pm and 350 pm in a parallel to the main extension plane HSE rated direction.
- a width B between 10 pm and 800 pm, preferably between 150 pm and 500 pm and particularly preferably between 250 pm and 350 pm in a parallel to the main extension plane HSE rated direction.
- the insulation element 8 completely covers or surrounds the component metallization 20 and the backside metallization 20'.
- the side surface of the ceramic element 30 is free of the insulation element 8 and the insulation element 8 extends above and below the ceramic element 30.
- the cladding element 8 is an encapsulation with a filling material, which is, for example, in Embodiment of Figure 2 is flush with the outer circumference of the ceramic element 30.
- the corresponding filling material is and / or contains, for example, a plastic, in particular a fiber-reinforced plastic, an epoxy resin and / or a hard paper and particularly preferably made of the same material as the base body 2 of the circuit board 100. It is particularly preferred if the filling material is for the insulation element 8 has additional insulating components, such as ceramic particles, which are distributed in the filling material of the insulation element 8.
- the insulation element 8 is designed such that it exclusively surrounds the component metallization 20, in particular over the entire height of the component metallization 20. Alternatively, it is conceivable that only the backside metallization 20 'is enclosed by an insulation element 8. In the exemplary embodiment shown in FIG. 3, the partial section of the side surface remains SF of the metal-ceramic substrate, in which ceramic element 30 and backside metallization 20 'are arranged, essentially free of an insulating element 8.
- the insulation element 8 extends along a first height H1 measured perpendicular to the main extension plane HSE, with a ratio of the first height H1 to a total height H2 of the entire insert 1 having a value between 0.4 and 1, preferably between 0. 5 and 1 and particularly preferably between 0.7 and 1.
- the insulation element 8 completely surrounds the metal-ceramic substrate on its side surfaces SF.
- the top and bottom i.e. the outside of the metal-ceramic substrate facing the component side BS and the outside facing the back RS, are free of an insulating element 8.
- the insulating element 8 is additionally at least in sections and/or completely covers the component side BS and/or back RS. In this case, at least a partial area on the component side BS is preferably left free in order to allow corresponding connection options for a component 5 to the component metallization 20.
- a first length L1 of the protruding section of the ceramic element 30 has a value between 0.01 and 0.3, preferably between 0, in relation to a second length L2 of the component metallization 20 and/or back side metallization 20', which is dimensioned parallel to the main extension plane HSE .01 and 0.2 and particularly preferably between 0.01 and 0.1.
- the second length L2 of the component metallization 20 differs from the second length L2 of the backside metallization 20 ' (not shown).
- the component side BS and/or backside RS of the metal-ceramic substrate remain free of an insulating element 8 or a part of the insulating element 8 in order to provide corresponding connection surfaces to the component side BS or to allow direct access of the cooling element to the backside metallization 20'.
- FIG. 5 A fourth exemplary embodiment of the present invention is shown in FIG.
- the embodiment in Figure 5 essentially corresponds to that from Figure 4, with the insulation element 8 having a side profile on the side surface SF.
- the insulation element 8 having a side profile on the side surface SF.
- a side profiling it is advantageously possible to achieve a positive connection between the base body 2 and the insert 1, which fixes and permanently holds the insert 1 in the base body 2 of the circuit board 100.
- a cohesive connection between the insert and the base body is also realized.
- the side surface SF of the insert 1 with insulation element 8 has a side profile in order to thereby form a positive connection with the base body 2 in a direction perpendicular to the main extension plane HSE.
- the insulation element 8 in the area of the component metallization 20 and/or backside metallization 20' or the component metallization 20 and/or backside metallization 20' has a corresponding side surface profile, which is suitable for a corresponding side profile for a positive connection.
- the ceramic element 30 protrudes relative to the metal layer and/or component metallization 20 and/or relative to the insulation element 8 in a direction that runs parallel to the main extension plane HSE, in order to thereby cause a corresponding positive connection in a direction that runs perpendicular to the main extension plane HSE.
- the side profile is a concave and/or convex shaped section, which can also extend, for example, over the entire second height of the insert 1. It is conceivable that the side profiling is specified, for example, by the insulation element 8. It is conceivable that the side profile is created when the insulation element 8 is formed, for example by a corresponding mold, or by subsequent processing, for example by machining.
- the side profile is formed by an at least partially stepped, oblique, curved or tapering course of the insulation element 8. It is also conceivable that the side surface SF of the insert 1 and/or the insulation element 8 has a wave shape or forms several local maximums and minimums in the width B in order to be designed for the desired positive connection.
- FIG. 1 A fifth exemplary embodiment of the present invention is shown in FIG. This embodiment differs in that the component metallization 20 protrudes relative to the backside metallization 20' in order to realize a side surface profile of the insert 1, which causes a positive connection between the insert 1 and the base body 2.
- a modulation depth M is determined by the component metallization 20 protruding in a direction parallel to the main extension plane HSE.
- the side surface SF of the insert 1 in the area of the ceramic element 30 has an oblique course compared to the stacking direction S. This causes the protruding shape of the side surface SF in the area of the component metallization 20.
- the backside metallization 20' protrudes relative to the ceramic element 30.
- the side surface SF of the metal-ceramic substrate 1 is preferably completely covered with an insulating element 8.
- the insulation element 8 has a substantially constant width B over its entire height.
- the insert 1 from Figure 6 is to be assigned a corresponding side surface profiling, since due to the constant thickness or constant width of the insulating element 8, the contour of the side surface SF of the metal-ceramic substrate is also present on the outside of the insulating element 8.
- this embodiment proves to be particularly easy to produce, since the entire side surface SF only needs to be covered with a constantly wide insulation layer 8 in order to ensure the desired additional insulation protection.
Landscapes
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Abstract
Leiterplatte (100) für elektrische Bauteile (5) und/oder Leiterbahnen (4), umfassend - einen Grundkörper (2), der sich entlang einer Haupterstreckungsebene (HSE) erstreckt, und - einen Einsatz (1), der in einem montierten Zustand in den Grundkörper (2) integriert ist, wobei der Einsatz (1) ein Metall-Keramik-Substrat (10) ist, wobei das Metall-Keramik-Substrat (1) an einer im montierten Zustand dem Grundkörper (2) zugewandten Seitenfläche (SF) zumindest abschnittsweise von einem Isolationselement (8) bedeckt, insbesondere umgeben, ist.
Description
Leiterplatte, Metall-Keramik-Substrat als Einsatz und Verfahren zur Herstellung einer Leiterplatte
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Leiterplatte, ein Metall-Keramik-Substrat als Einsatz für eine solche Leiterplatte und ein Verfahren zur Herstellung einer Leiterplatte.
Leiterplatten sind hinlänglich aus dem Stand der Technik bekannt. Solche Leiterplatten dienen als Träger für elektrische Schaltkreise, die aus Leiterbahnen, elektrischen Komponenten und/oder Anschlüssen gebildet bzw. zusammengesetzt sind. Hierbei sind die elektrischen Schaltkreise vorzugsweise an einer Bauteilseite der Leiterplatte ausgebildet. Üblicherweise bestehen solche Leiterplatten, auch PCB (printed circuit board) genannt, aus einem Kunststoff, insbesondere einem faserverstärkten Kunststoff, einem Epoxidharz und/oder einem Hartpapier. Die Verwendung solcher Materialien erweist sich insbesondere als kostengünstig und einfach in der Handhabung während des Fertigungsprozesses. Allerdings hat es sich herausgestellt, dass die genannten Materialien für Leiterplatten eine begrenzte Wärmeleitfähigkeit aufweisen, die allerdings erforderlich ist, um Wärme abzutransportieren, die im Betrieb von bestimmten elektrischen Bauteilen ausgeht. Auch diese Isolationsfähigkeit ist eingeschränkt. Mit dem zunehmenden Leistungsvermögen von elektronischen Bauteilen sind die aus den üblichen Materialien gefertigten Leiterplatten daher ungeeignet, dauerhaft den im Betrieb entstehenden Belastungen standzuhalten und gute Isolationseigenschaften bereitzustellen.
Auf der anderen Seite zeichnen sich Leiterplatten, die als Metall-Keramik-Sub- strate ausgebildet sind, durch eine hohe Isolationsfähigkeit aus und sie weisen typischerweise höhere Wärmeleitfähigkeiten im Vergleich zu denjenigen der oben
genannten Materialien auf. Allerdings ist die Herstellung von Metall-Keramik-Subs- traten aufwendiger und kostenintensiver als die Herstellung von Leiterplatten aus Kunststoff, Epoxidharz und/oder Hartpapier.
Ausgehend vom Stand der Technik macht es sich die vorliegende Erfindung zur Aufgabe, Leiterplatten bereitzustellen, die den gehobenen Ansprüchen zum Wärmeabtransport und insbesondere zur Isolationsfähigkeit im Bereich des elektrischen Bauteils genügen und gleichzeitig mit einem geringeren Kostenaufwand produziert werden können.
Diese Aufgabe wird gelöst durch eine Leiterplatte gemäß Anspruch 1 , ein Metall- Keramik-Substrat gemäß Anspruch 9 und ein Verfahren gemäß Anspruch 10. Weitere Ausführungsbeispiele sind den Unteransprüchen und der Beschreibung zu entnehmen.
Gemäß einem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine Leiterplatte für elektrische Bauteile und/oder Leiterbahnen vorgesehen, umfassend
- einen Grundkörper, der sich entlang einer Haupterstreckungsebene erstreckt, und
- einen Einsatz, der in einem montierten Zustand in den Grundkörper integriert ist, wobei der Einsatz ein Metall-Keramik-Substrat ist und wobei das Metall-Keramik- Substrat an einer im montierten Zustand dem Grundkörper zugewandten Seitenfläche zumindest abschnittsweise von einem Isolationselement bedeckt, insbesondere umgeben, ist.
Gegenüber den aus dem Stand der Technik bekannten Leiterplatten ist es bevorzugt vorgesehen, dass der Grundkörper der Leiterplatte nicht vollständig aus einem der gängigen Materialien, wie beispielsweise Kunststoff, Hartpapier und/oder Epoxidharz, gebildet ist, sondern ein Abschnitt der Leiterplatte zumindest aus einem Metall-Keramik-Substrats geformt ist. Insbesondere ist das Metall-Keramik- Substrat eingebettet bzw. eingesetzt in den Grundkörper der Leiterplatte, um gezielt lokal für eine erhöhte Wärmeleitfähigkeit zu sorgen. Dadurch ist es beispielsweise möglich, in der Leiterplatte Metall-Keramik-Substrate als Einsätze in solchen
Bereichen einzufügen bzw. einzubetten, in denen mit einer erhöhten Wärmeentwicklung zu rechnen ist. Beispielsweise ist der Einsatz in einer senkrecht zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Richtung unterhalb des elektrischen oder elektronischen Bauteils angeordnet, das im Betrieb verantwortlich ist für eine erhöhte Wärmeentwicklung. Gleichzeitig ist es möglich, den Großteil des Grundkörpers aus einem Material, wie beispielsweise einem Kunststoff, insbesondere einem faserverstärkten Kunststoff, Epoxidharz oder einem Hartpapier, zu fertigen, das kostengünstig und einfach zu verarbeiten ist.
Insbesondere ist es vorgesehen, dass das Isolationselement kein Bauteil umgibt. Mit anderen Worten: Sofern ein Bauteil am Einsatz montiert wird bzw. montierbar ist, wird dieses Bauteil zumindest an einer Seitenfläche angeordnet, die frei von einer Bedeckung durch das Isolationselement ist. Vorzugsweise ist das Isolationselement in einer parallel zur Stapelrichtung verlaufenden Richtung unterhalb des elektrischen Bauteils angeordnet (ohne in Kontakt mit dem Bauteil zu stehen) und/oder an einer dem Keramikelement abgewandten Oberseite des Keramikelements, die als Anbindungs- bzw. Kontaktfläche für das Bauteil genutzt wird und somit nicht an der Seitenfläche, die im Wesentlichen vom Isolationselement bedeckt ist. Das elektrische Bauteil ist bevorzugt isolationselementfrei, d. h. ist nicht in Kontakt mit dem Isolationselement der Seitenfläche des Einsatzes.
Dabei ist das Isolationselement bevorzugt von dem Grundkörper zu unterscheiden. Beispielsweise unterscheidet sich der Grundkörper von dem Isolationselement in Hinblick auf die physikalischen Eigenschaften, beispielsweise weil es sich um unterschiedliche Materialien handelt. Im eingesetzten Zustand sind somit der Grundkörper, der Einsatz und das Isolationselement voneinander als einzelne Bausteine zu unterscheiden. Weiterhin ist es bevorzugt vorgesehen, dass von dem Isolationselement keinerlei Haft- bzw. Klebwirkung ausgeht. Mit anderen Worten: das Isolationselement ist ungeeignet, eine eigenständige stoffschlüssige Verbindung mit dem Grundkörper einzugehen. Zum Fixieren ist ein zusätzliches, vorzugsweise separates, Klebstoffelement oder ein Form- und/oder Kraftschlussmittel vorgesehen.
Vorzugsweise ist das Metall-Keramik-Substrat mit dem Isolationselement beschichtet, d. h. es bildet sich eine Beschichtung aus.
Weiterhin ist es bevorzugt vorstellbar, dass die Bauteilmetallisierung im Wesentlichen frei von einer Strukturierung ist und eine durchgängige Metallschicht ohne elektrisch isolierende Unterbrechung bildet. Ferner ist es vorgesehen, dass ausschließlich im Bereich oberhalb des Pullbacks, d. h. oberhalb des gegenüber der Bauteilmetallisierung vorstehenden Abschnitts des Keramikelements, das Isolationselement angeordnet ist und nicht zwischen zwei beispielsweise durch einen Isolationsgraben voneinander getrennten Metallabschnitten der Bauteilmetallisierung, sofern die Bauteilmetallisierung strukturiert ist.
Insbesondere erweist es sich als besonders vorteilhaft, wenn das Metall-Keramik- Substrat an seiner Seitenfläche zumindest abschnittsweise, bevorzugt vollständig von einem Isolationselement umgeben bzw. ummantelt ist. Durch das seitliche Anordnen des Isolationselements ist dieses Isolationselement im montierten Zustand zwischen dem Grundkörper und dem Metall-Keramik-Substrat angeordnet und unterstützt bzw. verstärkt die Isolationswirkung des eingesetzten Metall-Keramik- Substrat, insbesondere die Vermeidung von Kriech- oder Luftstrecken entlang der Oberfläche der Keramik zwischen der Bauteil- und Rückseitenmetallisierung. Dies gestattet es mitunter eine erste Länge, mit der das Keramikelement zur Ausbildung eines Pullbacks gegenüber der Bauteilmetallisierung vorsteht, zu reduzieren oder sogar gänzlich auf die Ausbildung eines Pullbacks zu verzichten. In diesem Fall stellt das Isolationselement die erforderliche Isolation dar. Dies ist insbesondere deswegen von Vorteil, weil ein Prepregmaterial (Isolator) beim Laminieren der Leiterplatte die durch den Pullback gebildeten Hohlräme ausfüllen muss. Ein entsprechender Pullback begründet allerdings die Gefahr von Isolationsproblemen durch Kriech- oder Luftstrecken auf der Keramikoberfläche zwischen Bauteilmetallisierung und Rückseitenmetallisierung. Dies lässt sich mit einem reduzierten Pullback vermeiden. Sofern im Grundkörper Leiterbahnen ausgebildet sind, kann das Isolationselement außerdem zur weiteren Isolation auch vom Grundkörper genutzt werden. Dabei kann sich das Isolationselement über die gesamte Höhe des Einsatzes erstrecken oder es ist beispielsweise entlang einer Höhenerstreckung des
Einsatzes, die senkrecht zur Haupterstreckungsebene, d. h. entlang einer Stapelrichtung des Metall-Keramik-Substrats, verläuft, zumindest abschnittsweise unterbrochen.
Beispielsweise ist es auch vorstellbar, dass sich das Isolationselement in einer senkrecht zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Richtung über eine erste Höhe erstreckt, wobei das Verhältnis der ersten Höhe zu einer Gesamthöhe des Einsatzes, bemessen in derselben Richtung, einen Wert zwischen 0,4 und 1 , bevorzugt zwischen 0,6 und 1 und besonders bevorzugt zwischen 0,7 und 1 annimmt. Dadurch wird beispielsweise ein ringförmig, umlaufendes Isolationselement ausgebildet, das gezielt bereichsweise für einen Isolationsschutz zwischen Bauteilmetallisierung und Rückseitenmetallisierung herangezogen werden kann. Beispielsweise ist es vorstellbar, dass sich das Isolationselement als ringförmige Ummantelung auf der Höhe des Keramikelements des Metall-Keramik-Substrats erstreckt und in diesem Bereich für einen Isolationsschutz zwischen Bauteilmetallisierung und Rückseitenmetallisierung sorgt. Weiterhin ist es vorstellbar, dass die erste Höhe in diesem Fall einen Wert annimmt, durch den das Verhältnis einer senkrecht zur Haupterstreckungsebene bemessenen ersten Dicke des Keramikelements zur ersten Höhe des Isolationselements einen Wert zwischen 0,5 und 2, bevorzugt zwischen 0,8 und 1 ,5 und besonders bevorzugt zwischen 1 ,1 und 1 ,5 annimmt. Bevorzugt ist es vorgesehen, dass das Isolationselement Teil des Einsatzes ist.
Weiterhin ist es bevorzugt vorgesehen, dass das Isolationselement eine Beschichtung an der Seitenfläche ist und/oder einen Verkleidungskörper bzw. Verkapselungskörper ausformt, der beispielsweise im Rahmen eines Guss-, Spritz-, Sprüh- Tauch- oder Spritzgussverfahrens hergestellt wird. Vorzugsweise ist das für das Isolationselement verwendete Material frei von Keramik und/oder umfasst Keramikpartikel, die in eine entsprechende Kunststoffmatrix eingearbeitet sind. Besonders bevorzugt ist es vorgesehen, dass das Isolationselement im Wesentlichen aus einem Kunststoff, einem Epoxidharz und/oder einem Hartpapier ausgebildet ist, das besonders bevorzugt demjenigen entspricht, aus dem der Grundkörper geformt ist.
Bevorzugt ist es vorgesehen, dass das Metall-Keramik-Substrat ein Keramikelement, eine Bauteilmetallisierung und vorzugsweise eine Rückseitenmetallisierung aufweist, wobei das Isolationselement zumindest abschnittsweise, vorzugsweise vollständig, an der im montierten Zustand dem Grundkörper zugewandten Seite die Bauteilmetallisierung und/oder das Keramikelement umgibt. Dabei ist es vorstellbar, dass das Isolationselement nur die Bauteilmetallisierung und/oder das Keramikelement und/oder die Rückseitenmetallisierung umgibt, d. h. das Isolationselement umgibt jeweils nur einen bestimmten Teilbereich, der durch einen oder mehrere Bestandteile des Metall-Keramik-Substrats vorgegeben ist. Vorstellbar ist auch, dass das Isolationselement nur die Bauteilmetallisierung und das Keramikelement und/oder nur das Keramikelement und die Rückseitenmetallisierung ummantelt bzw. umgibt. Insbesondere ist es möglich, durch eine entsprechende Anordnung des Isolationselements am Umfang oder an der Seitenfläche des Metall- Keramik-Substrats anwendungsangepasst die Isolation zwischen Einsatz und Grundkörper zu erhöhen. Ferner ist es vorstellbar, dass sich das Isolationselement vom Bereich der Bauteilmetallisierung bis in den Bereich des Keramikelements und/oder bis in den Bereich der Rückseitenmetallisierung erstreckt, ohne die Bauteilmetallisierung, das Keramikelement und/oder die Rückseitenmetallisierung vollständig an ihren Seitenflächen zu bedecken.
Beim Umgeben bzw. Ummanteln wird das Metall-Keramik-Substrat vorzugsweise in einer parallel zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Ebene von einer geschlossenen Kurve des Isolationselements umgeben.
Vorzugsweise ist es vorgesehen, dass das Keramikelement zwischen der Bauteilmetallisierung und der Rückseitenmetallisierung ausgebildet ist. Dabei sind die Bauteilmetallisierung, das Keramikelement und die Rückseitenmetallisierung entlang einer senkrecht zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Stapelrichtung übereinander angeordnet. Insbesondere ist es vorgesehen, dass das Metall-Kera- mik-Substrat aus Bauteilmetallisierung, Keramikelement und Rückseitenmetallisierung besteht. Wesentliche Bestandteile der Metall-Keramik-Substrate sind eine
Isolationsschicht, die bevorzugt vollständig aus einer Keramik gefertigt ist, und wenigstens eine an die Isolationsschicht angebundene Metallschicht. Wegen ihrer vergleichsweise hohen Isolationsfestigkeiten haben sich aus Keramik gefertigte Isolationsschichten in der Leistungselektronik als besonders vorteilhaft erwiesen. Durch eine Strukturierung der Metallschicht können sodann Leiterbahnen und/oder Anschlussflächen für die elektrischen Bauteile realisiert werden. Vorzugsweise ist es vorgesehen, dass beim als Einsatz vorgesehenen Metall-Keramik-Substrat die Bauteilmetallisierung nicht strukturiert ist, sondern eine geschlossene Fläche ausbildet. Voraussetzung für das Bereitstellen eines solchen Metall-Keramik-Sub- strats ist eine dauerhafte Anbindung der Metallschicht an die Keramikschicht. Neben einem sogenannten Direktmetallanbindungsverfahren, d. h. einem DCB- oder DAB-Verfahren, ist auch die Anbindung über ein Aktivlotverfahren, ein Dickfilmschichtverfahren, Diffusionsbonden und/oder heißisostatisches Anbinden denkbar.
Als Materialien für die Metallschicht bzw. Metallisierungen sind Kupfer, Aluminium, Molybdän, Wolfram und/oder deren Legierungen wie z. B. CuZr, AlSi oder AIMgSi, sowie Laminate wie CuW, CuMo, CuAI und/oder AICu oder MMC (metal matrix composite), wie CuW, CuMo oder AISiC, vorstellbar. Weiterhin ist bevorzugt vorgesehen, dass die Metallschicht bzw. Metallisierung am gefertigten Metall-Kera- mik-Substrat, insbesondere als Bauteilmetallisierung, oberflächenmodifiziert ist. Als Oberflächenmodifikation ist beispielsweise eine Versiegelung mit einem Edelmetall, insbesondere Silber; und/oder Gold, oder (electroless) Nickel oder ENIG („electroless nickel immersion gold“) oder ein Kantenverguss an der Metallisierung zur Unterdrückung einer Rissbildung bzw. -Weitung denkbar. Beispielsweise unterscheidet sich auch das Metall der Bauteilmetallisierung von dem Metall der Rückseitenmetallisierung.
Vorzugsweise weist das Keramikelement AI2O3, SisN4, AIN, eine HPSX-Keramik (d. h. eine Keramik mit einer AI2O3- Matrix, die einen x-prozentigen Anteil an ZrÜ2 umfasst, beispielsweise AI2O3 mit 9% ZrÜ2 = HPS9 oder AI2O3 mit 25% ZrÜ2 = HPS25), SiC, BeO, MgO, hochdichtes MgO (> 90% der theoretischen Dichte), TSZ (tetragonal stabilisiertes Zirkonoxid) als Material für die Keramik auf.
Es ist dabei auch vorstellbar, dass das Keramikelement als Verbund- bzw. Hybridkeramik ausgebildet ist, bei der zur Kombination verschiedener gewünschter Eigenschaften mehrere Keramikschichten, die sich jeweils in Hinblick auf ihre materielle Zusammensetzung unterscheiden, übereinander angeordnet und zu einem Keramikelement zusammengefügt sind.
Insbesondere ist es vorgesehen oder bevorzugt vorgesehen, dass bei einer Ummantelung der Bauteilmetallisierung bzw. dessen Seitenfläche das Isolationselement in einer parallel zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Richtung mit dem Keramikelement bündig abschließt und oder gegenüber dem Keramikelement vorsteht. Alternativ ist es auch vorstellbar, dass das Keramikelement gegenüber dem Isolationselement in einer parallel zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Richtung vorsteht.
Bevorzugt ist es vorgesehen, dass an der Bauteilseite eine dem Keramikelement abgewandte Oberseite der Bauteilmetallisierung im montierten Zustand in Stapelrichtung gesehen unterhalb einer Oberseite des Grundkörpers angeordnet ist. Mit anderen Worten: An der Bauteilseite ist die Oberseite der Bauteilmetallisierung rückspringend zum Verlauf der Oberseite des Grundkörpers ausgebildet, wenn der Einsatz in die Leiterplatte integriert ist. Beispielsweise weist im eingebetteten Zustand des Einsatzes die Oberseite der Bauteilmetallisierung gegenüber der Oberseite des Grundkörpers eine Rücksprungstiefe von 10 pm bis 200 pm, bevorzugt zischen 10 pm und 150 pm und besonders bevorzugt zwischen 10 pm und 100 pm auf. Alternativ oder ergänzend ist es vorgesehen, dass an der Rückseite eine dem Keramikelement abgewandte Unterseite der Rückseitenmetallisierung einen rückspringen Verlauf gegenüber der Unterseite des Grundkörpers aufweist, bevorzugt mit einer der oben benannten Rücksprungtiefen. Der Einsatz ist somit in Stapelrichtung gesehen kleiner als die Dicke des Grundkörpers und zudem ist es vorzugsweise vorgesehen, dass Oberseite und Unterseite des Einsatzes beide nicht bündig mit der Oberseite und Unterseite des Grundkörpers abschließen. Vorstellbar ist, dass an der Rückseite der Leiterplatte der Einsatz nur mit der Unterseite bündig mit der Unterseite des Grundkörpers abschließt.
Vorzugsweise ist es vorgesehen, dass das Isolationselement zumindest abschnittsweise eine von dem Keramikelement abgewandte Seite der Bauteilmetallisierung bedeckt. Mit anderen Worten: Es wird die Oberseite des Metall-Keramik- Substrats zumindest abschnittsweise ebenfalls mit dem Isolationselement abgedeckt. Beispielsweise ist es vorstellbar, dass ein Randabschnitt bzw. Randbereich, d. h. ein in einer parallel zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Ebene äußere Randbereich, der Bauteilmetallisierung bzw. der Oberseite der Bauteilmetallisierung zusätzlich mit dem Isolationselement abgedeckt ist, um eine weiter Isolation der Bauteilmetallisierung gegenüber dem Grundkörper der Leiterplatte zu realisieren. Dabei versteht man bevorzugt als Randbereich die am äußeren Rand ausgebildete Fläche, die bis zu 15 %, bevorzugt bis zu 10% und besonders bevorzugt bis zu 5 % der Gesamtoberfläche an der dem Keramikelement abgewandten Außenseite der Bauteilmetallisierung bildet. Vorstellbar ist auch, dass die Bauteilmetallisierung zu mehr als 10 %, bevorzugt zu mehr als 30 % und besonders bevorzugt zu mehr als 50 % die Oberseite der Bauteilmetallisierung, auch außerhalb des Randbereichs, bedeckt und nur bereichsweise Zugang zu der Bauteilmetallisierung zulässt, um die Bauteilmetallisierung weiter von dem Grundkörper zu isolieren und gleichzeitig einen ausreichenden Zugang zu gewährleisten für den Anschluss einer Bauteilmetallisierung. Es ist auch vorstellbar, dass Leiterbahnen über das Isolationselement verlaufen, um auf diese Weise eine elektrische Verbindung zwischen einem Teilabschnitt des Grundkörpers und der Bauteilmetallisierung zu realisieren.
Vorzugsweise ist es vorgesehen, dass das Keramikelement des Metall-Keramik- Substrats in einer parallel zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Richtung gegenüber der Bauteilmetallisierung des Metall-Keramik-Substrats um eine erste Länge vorsteht. Ein entsprechender vorstehender Bereich, der auch als Pullback bekannt ist, dient insbesondere zur elektrischen Isolation von Bauteilmetallisierung und Rückseitenmetallisierung und kann bevorzugt auch als Formschlussmittel genutzt werden beim Einsetzen bzw. Fixieren des Einsatzes in den bzw. am Grundkörper der Leiterplatte. Dabei ist es vorstellbar, dass die Bauteilmetallisierung und/oder das Keramikelement und/oder die Rückseitenmetallisierung mit einem
Isolationselement mit im wenentlichen konstanter Breite bedeckt wird, sodass auch der mit dem Isolationselement ummantelte Metall-Keramik-Substrat-Einsatz einen entsprechenden Vorsprung auf Höhe des Keramikelements aufweist, der zurückzuführen ist auf den Überstand des Keramikelements um eine erst Länge. Die Breite des Isolationselemenst wird in einer parallel zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Richtung bemessen.
Vorzugsweise ist es vorgesehen, dass der Einsatz und/oder das Isolationselement in einer senkrecht zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Richtung mit dem Grundkörper formschlüssig zusammenwirkt und vorzugsweise stoffschlüssig mit dem Grundkörper verbunden ist. Dadurch wird eine besonders stabile und dauerhafte Verbindung zwischen Grundkörper und Einsatz realisiert, die insbesondere deshalb von Vorteil ist, weil aufgrund der unterschiedlichen thermischen Ausdehnungskoeffizienten für Metall, Keramik und Epoxidharz eine Anbindung über ein reibschlüssiges Verfahren in der Regel zu keiner dauerhaften Bindung führt. Entsprechend wird durch eine entsprechende Modulationstiefe der Seitenfläche ein gewünschter Formschluss realisiert, der es verhindert, dass das Metall-Keramik- Substrat unter Einfluss von Temperatur seine geometrische Gestalt ändert und dadurch die Leiterplatte beeinträchtigt.
Falls gewünscht, kann dadurch auch zusätzlich ein Kraftschluss zwischen Einsatz und Grundkörper erzielt werden.
Vorzugsweise wirkt der Formschluss in beide möglichen Richtungen, die senkrecht zur Haupterstreckungsebene des Grundkörpers verlaufen. Weiterhin ist es vorstellbar, dass neben dem Einsatz weitere Einsätze im Grundkörper angeordnet sind. Zudem ist es denkbar, dass der Einsatz nur an der Bauteilseite bündig mit dem Grundkörper abschließt und die Rückseite des Metall-Keramik-Substrats ist umschlossen vom Grundkörper. Mit anderen Worten: Das Metall-Keramik-Substrat bzw. der Einsatz ist in eine Vertiefung im Grundkörper der Leiterplatte eingelassen bzw. eingesetzt. Dadurch ergibt sich auch ein Formschluss parallel zur Haupterstreckungsebene.
Insbesondere ist es vorgesehen, dass das Metall-Keramik-Substrat und der Grundkörper derart gestaltet sind, dass ihre thermischen Ausdehnungskoeffizienten möglichst ähnlich sind. Mit anderen Worten: Eine Differenz des thermischen Ausdehnungskoeffizienten des Einsatzes und des Grundkörpers wird möglichst klein gehalten. Hierzu wird beispielsweise eine entsprechende Dicke des Keramikelements im Metall-Keramik-Substrat eingestellt. Vorstellbar ist auch, dass zur Anpassung des thermomechanischen Ausdehnungskoeffizienten eine Stabilisierungsschicht vorgesehen ist oder mehrere Metallschichten und/oder verschiedene Metallisierungen (z. B. sind Bauteilmetallisierungen und Rückmetallisierungen aus verschiedenen Metallen bzw. Materialien gefertigt) verwendet werden, um in entsprechender Weise für die gewünschte Anpassung zu sorgen. Dadurch kann sichergestellt werden, dass durch im Betrieb entstehende Ausdehnungen keine signifikanten mechanischen Spannungen zwischen der Grundplatte und dem Metall- Keramik-Substrat entstehen, die beispielsweise zur Rissbildung führen könnten. Vorzugsweise ist es auch vorstellbar, dass verschiedene Keramiklagen in einem Metall-Keramik-Substrate mit mehreren Keramiklagen verwendet werden.
Es hat sich als vorteilhaft erwiesen, wenn zusätzlich zu dem Formschluss ein Stoffschluss zwischen der Seitenfläche des Einsatzes und dem Grundkörper realisiert wird.
Vorzugsweise ist es vorgesehen, dass beispielsweise die Bauteilmetallisierung bzw. das Isolationselement und/oder das Keramikelement für eine entsprechende Seitenprofilierung, insbesondere mit einer entsprechenden Modulationstiefe, sorgen. Dabei kann die Seitenfläche des Isolationselements und/oder der Bauteilmetallisierung und/oder des Keramikelements und/oder des Metall-Keramik-Substrats gebogen, schräg, gestuft, nasenförmig und/oder andersartig ausgeformt sein, um den Formschluss in einer senkrecht zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Richtung zu bedingen.
Vorzugsweise ist es vorgesehen, dass zum Ausbilden des formschlüssigen Zusammenwirkens das Isolationselement an einer nicht parallel zur Haupterstre-
ckungsebene verlaufenden Seitenfläche profiliert ist. Insbesondere erfolgt die Profilierung an einer Seite, die im montierten Zustand dem Grundkörper zugewandt ist und mit dem Grundkörper in Kontakt steht.
Vorzugsweise ist es vorgesehen, dass das Isolationselement in einer parallel zur Haupterstreckungsebene bemessenen Richtung eine Breite aufweist, die einen Wert zwischen 10 pm und 800 pm, bevorzugt zwischen 150 pm und 500 pm und besonders bevorzugt zwischen 250 pm und 350 pm annimmt. Dadurch wird eine vergleichsweise dünne Isolationsschicht bereitgestellt, die sich als ausreichend erwiesen hat, um einen zusätzlich signifikanten Isolationsschutz zwischen Bauteilmetallisierung und Rückseitenmetallisierung zu gewährleisten, insbesondere wenn die erste Länge kleiner ist als 80 pm, bevorzugt kleiner als 50 pm und bevorzugt kleiner als 25 pm.
Insbesondere ist es vorgesehen, dass das Isolationselement in einer parallel zur Haupterstreckungsebene bemessenen Richtung eine entlang der ersten Höhe des Isolationselement gemittelte Breite aufweist, die einen Wert annimmt, der größer als 250 pm, bevorzugt größer als 350 pm und besonders bevorzugt größer als 500 pm ist. Es hat sich herausgestellt, dass derartig breite Isolationselemente geeignet sind, einen wirkungsvollen und zusätzlichen Isolationsschicht zu bilden. Insbesondere gestattet ein solch breites Isolationselement, auch dünnere Keramikelemente, bevorzugt mit dickeren Bauteilmetallisierungen und Rückseitenmetallisierungen zu realisieren.
Bevorzugt ist es vorgesehen, dass die Bauteilmetallisierung und/oder die Rückseitenmetallisierung dicker sind als die Dicke des Isolationselements. Dadurch stellen sich höhere Anforderung an das Isolationselement, insbesondere in Hinblick auf eine elektrische Isolationsfestigkeit zwischen Bauteilmetallisierung und Rückseitenmetallisierung.
Vorzugsweise ist es vorgesehen, dass, bemessen in einer senkrecht zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Richtung, das Keramikelement eine erste Dicke, der Grundkörper eine zweite Dicke und die Bauteilmetallisierung eine dritte Dicke
aufweist, wobei ein Verhältnis zwischen der ersten Dicke und zu der zweiten Dicke und/oder ein Verhältnis zwischen der ersten Dicke und der Dritten Dicke einen Wert zwischen 0,01 und 0,3, bevorzugt zwischen 0,01 und 0,2 und besonders bevorzugt zwischen 0,01 und 0,15 annimmt. Dadurch wird in vorteilhafterweise eine vergleichsweise dünne Keramik herangezogen. Hier erweist es sich als besonders vorteilhaft, wenn zur Erhöhung der Isolation das Isolationselement die Seitenflächen des Metall-Keramik-Substrats umgibt.
Ein weiterer Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Metall-Keramik-Substrat, dass als Einsatz für eine Leiterplatte gemäß der vorliegenden Erfindung genutzt wird, wobei der Einsatz an eine nicht parallel zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Seitenfläche zumindest abschnittsweise von einem Isolationselement umgeben ist. Alle für die Leiterplatte beschriebenen Eigenschaften und Vorteile ergeben sich analog für das Metall-Keramik-Substrat, das als Einsatz verwendet wird und andersrum.
Insbesondere ist es im Stand der Technik gänzlich unüblich, die Seitenflächen des Metall-Keramik-Elements, insbesondere auf Höhe des Keramikelements, mit einem Isolationselements zu bedecken. Vorzugsweise ist es vorgesehen, dass der Einsatz an den nicht parallelen verlaufenden Seitenflächen vollständig von einem Isolationselement umgeben ist. Ein solcher Einsatz lässt sich insbesondere bedenkenlos in einen beliebigen Grundkörper mit geeigneter Größe einsetzen. Insbesondere ist das Isolationselement nicht selbstständig adhäsiv. Das vereinfacht die Handhabung des Einsatzes, insbesondere bei dessen Einsatz in den Grundkörper.
Ferner ist es vorgesehen, dass das Metall-Keramik-Substrat als Einsatz zusammen mit dem Isolationselement bereitgestellt wird und zusammen mit dem an das Metall-Keramik-Substrat angebundenen Isolationselement verbaut wird. Dabei ist es vorstellbar, dass das Isolationselement selbst adhäsiv ist und eine Schutzbedeckung vorgesehen ist, die bevorzugt erst abgenommen wird, wenn der Einsatz in die Grundplatte eingesetzt werden soll.
Insbesondere ist es vorgesehen, dass das Isolationselement zumindest in einem Höhenabschnitt des Metall-Keramik-Substrats, das Metall-Keramik-Substrat geschlossen umgibt. Beispielsweise umgibt das Isolationselement streifenförmig die Bauteilmetallisierung, das Keramikelement und/oder die Rückseitenmetallisierung. Es ist auch vorstellbar, dass nur ein Teilabschnitt bzw. ein Höhenabschnitt der Bauteilmetallisierung, des Keramikelements und/oder der Rückseitenmetallisierung von dem Isolationselement umgeben bzw. bedeckt ist. Dabei ist der streifenförmige Verlauf des Isolationselements in einer parallel zur Haupterstreckungsebene vorzugsweise geschlossen.
Ein weiterer Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist ein Verfahren zur Herstellung eines Einsatzes, das vorgesehen ist für eine erfindungsgemäße Leiterplatte umfassend:
- Bereitstellen eines Metall-Keramik-Substrats mit einer Haupterstreckungsebene,
- zumindest abschnittsweises Verkleiden des Metall-Keramik-Substrat mit einem Isolationselement und
- Einsetzen des Einsatzes mit dem Isolationselement in den Grundkörper. Alle für die Leiterplatte beschriebenen Vorteile und Eigenschaften gelten analog für das Verfahren und andersrum.
Vorzugsweise ist es vorgesehen, dass der Grundkörper aus einem anderen Material gefertigt ist als der Einsatz. Insbesondere ist es vorgesehen, dass der Grundkörper im Wesentlichen frei von Keramik ist oder kein Keramikelement als Isolationsschicht oder Stabilisierungsschicht vorsieht. Vorzugsweise enthält der Grundkörper weniger als 10 Gew.-%, bevorzugt weniger als 5 Gew.-% und besonders bevorzugt weniger als 3 Gew.-% Keramik.
Dabei ist es insbesondere vorgesehen, dass ein Anteil des Metall-Keramik-Sub- strats am Anteil der Leiterplatte kleiner als 50%, vorzugsweise kleiner als 30% und besonders bevorzugt kleiner als 15% ist. Weiterhin ist es vorgesehen, dass der Einsatz von der Bauteilseite der Grundplatte bis zur Rückseite des Grundkörpers der Leiterplatte reicht. Mit anderen Worten: der Einsatz schließt bündig mit dem
Grundkörper in einer senkrecht zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Richtung zu beiden Seiten, d. h. zur Bauteilseite und zur Rückseite, im Wesentlichen bündig ab. Durch den Formschluss zwischen dem Grundkörper und dem als Einsatz dienenden Metall-Keramik-Substrat wird insbesondere eine dauerhafte Bindung zwischen dem Metall-Keramik-Substrat und dem Grundkörper realisiert, die verhindert, dass sich der Einsatz aus der Leiterplatte löst.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform ist es vorgesehen, dass zum Ausbilden des formschlüssigen Zusammenwirkens
- das Metall-Keramik-Substrat an einer nicht parallel zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Seitenfläche profiliert ist und/oder
- ein Keramikelement des Metall-Keramik-Substrats in einer parallel zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Richtung gegenüber einer Bauteilmetallisierung und/oder der Rückseitenmetallisierung des Metall-Keramik- Substrats um eine erste Länge vorsteht, wobei das Metall-Keramik-Substrat von einem Isolationselement umgeben ist. Dabei kann die Seitenprofilierung durch das Isolationselement unterstützt werden o- der mit einem Isolationselement, das eine konstante Breite über die gesamte Höhe des Einsatzes aufweist, erhalten bleiben.
Beispielsweise ist es vorgesehen, dass eine Seitenfläche, insbesondere eine Seitenfläche der Bauteilmetallisierung und/oder Rückseitenmetallisierung und/oder des Isolationselements konkav und/oder konvex gewölbt ist. Alternativ ist es auch vorstellbar, dass die Bauteilmetallisierung und/oder das Isolationselement gestuft ausgebildet ist. Insbesondere ist es vorgesehen, dass der Grundkörper in die rückstehenden bzw. vorstehenden Verläufe an den Seitenflächen des Isolationselements, der Bauteilmetallisierung und/oder Rückmetallisierung eingreifen, um so den Formschluss in eine Richtung bzw. beide Richtungen zu veranlassen, die senkrecht zur Haupterstreckungsebene verläuft bzw. verlaufen. Beispielsweise ist es vorstellbar, dass der äußerste Rand der Bauteilmetallisierung und/oder des Isolationselements gestuft ist, insbesondere derart gestuft, dass der offene Bereich
der Stufe auf der der Bauteilseite und/oder der Rückseite zugewandten Seite ausgebildet ist. In entsprechender Weise kann ein Bauteil derart auf der Bauteilmetallisierung angeordnet werden, dass unter Berücksichtigung eines isotropen Transports der Wärme die Wärmespreizung von der Bauteilmetallisierung vollständig erfasst wird. Die ohnehin hier nicht zum Wärmetransport beitragenden Abschnitte der Bauteilmetallisierung werden in diesem gestuften Verlauf in entsprechender Weise entnommen und durch den Grundkörper ersetzt. Vorzugsweise wird ein vorstehender Abschnitt des Keramikelements zur Ausbildung des Formschlusses verwendet. Insbesondere handelt es sich um den Abschnitt, der als sogenannter Pullback bekannt ist und für die ausreichende Isolation zwischen Bauteilmetallisierung und Rückseitenmetallisierung sorgt.
Vorzugsweise ist es vorgesehen, dass die erste Länge einen Wert zwischen 1 pm und 200 pm, bevorzugt zwischen 20 pm und 100 pm und besonders bevorzugt zwischen 25 pm und 60 pm annimmt. Dabei betrifft die erste Länge bevorzugt einen Überstand, mit dem das Keramikelement gegenüber dem Isolationselement, das beispielsweise die Bauteilmetallisierung umgibt, in einer parallel zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Richtung vorsteht.
Es hat sich herausgestellt, dass durch eine entsprechende Dimensionierung bereits ein wirkungsvoller Formschluss realisiert werden kann und durch die zusätzliche isolierende Wirkung des Materials, aus dem der Grundkörper der Leiterplatte geformt ist, gleichzeitig auch die elektrische Isolation zwischen Bauteilmetallisierung und Rückseitenmetallisierung gewährleistet wird. Durch diesen vergleichsweise sehr kleinen vorstehenden Abschnitt des Keramikelements, d. h. diesen vergleichsweise kleinen sogenannten Pullback, ist eine möglichst platzsparende Integration des Einsatzes, d. h. des Metall-Keramik-Substrats, im Grundkörper der Leiterplatte möglich. Vorzugsweise ist es vorgesehen, dass das Metall-Keramik- Substrat, insbesondere mit dem Isolationselement, in einer parallel zur Haupterstreckungsebene bemessenen Ebene eine maximale Ausdehnung aufweist, die einen Wert zwischen 1 mm und 200 mm, bevorzugt zwischen 4 mm und 60 mm und besonders bevorzugt zwischen 6 mm und 30 mm annimmt. Dadurch werden vergleichsweise kleindimensionierte Einsätze bereitgestellt, die bedarfsabhängig
für eine lokale Erhöhung der Wärmeleitfähigkeit in der Leiterplatte herangezogen werden können. Insbesondere können vergleichsweise viele einzelne Einsätze aus einer Großkarte bereitgestellt werden. Eine solche Großkarte wird festgelegt durch das Format unmittelbar nach der Anbindung der Bauteilmetallisierung an die Rückseitenmetallisierung, was über ein entsprechendes Anbindungsverfahren erfolgt.
Es ist auch vorstellbar, dass die erste Länge auch einen negativen Wert annimmt. Dann steht die Bauteilmetallisierung und/oder die Rückseitenmetallisierung und/oder das Isolationselement, das die Bauteilmetallisierung und/oder Rückseitenmetallisierung umgibt, gegenüber dem Keramikelement in einer Richtung parallel zur Haupterstreckungsebene vor. Dabei kann der Absolutwert der ersten Länge die oben genannten Werte annehmen.
Insbesondere ist es vorgesehen, dass die Seitenfläche derart profiliert ist, d. h. eine derartige Seitenprofilierung aufweist, dass sich eine Modulationstiefe bzw. - höhe einstellt, die einen Wert zwischen 1 pm und 200 pm, bevorzugt zwischen 20 pm und 100 pm und besonders bevorzugt zwischen 25 pm und 60 pm annimmt. Dabei ist als Modulationstiefe bzw. - höhe eine in einer parallel zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Richtung bemessene Abweichung von einem gedachten, zylindrischen Außenverlauf zu verstehen, der einer schmälsten Stelle des Me- tall-Keramik-Substrats zugeordnet ist (gemessen in Ebenen parallel zur Haupterstreckungsebene). Der gedachte zylindrische Außenverlauf erstreckt sich dabei senkrecht zur Haupterstreckungsebene. Sofern die Modulationstiefe durch ein gegenüber der Bauteilmetallisierung und/oder Rückseitenmetallisierung und/oder dem Isolationselement vorstehendes Keramikelement gebildet wird, kann die Modulationstiefe der ersten Länge entsprechen. Es ist auch vorstellbar, dass die Modulationstiefe dadurch verursacht wird, dass die Bauteilmetallisierung und/oder das Keramikelement gegenüber der Rückseitenmetallisierung in einer parallel zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Richtung vorsteht. Beispielsweise ist es auch vorstellbar, dass das die Seitenfläche im Bereich des Keramikelements einen gegenüber der Stapelrichtung schrägen Verlauf aufweist (mit anderen Worten: Die Oberseite und die Unterseite des Keramikelements haben unterschiedlich
große Durchmesser bzw. Abmaße). Insbesondere gilt dies obiges analog für die Modulationstiefe der Seitenprofilierung des Isolationselements.
Beispielsweise ist es vorstellbar, dass sich der Verlauf der Seitenfläche bzw. Seitenflächen im Bereich der Bauteilmetallisierung und/oder Rückseitenmetallisierung parallel zur Stapelrichtung erstreckt (d. h. der Querschnitt der Bauteilmetallisierung und/oder der Rückseitenmetallisierung ist in Stapelrichtung gesehen im Wesentlichen im Bereich der Bauteilmetallisierung bzw. der Rückseitenmetallisierung konstant.). Die Modulationstiefe wird dann vorzugsweise durch einen Absatz auf Höhe des Keramikelements realisiert und/oder durch eine entsprechende Geometrie des Isolationselements. Dabei kann die Modulationstiefe durch eine Profilierung oder eine Modulierung im Bereich des Keramikelements und/oder des Isolationselement erzeugt werden, wobei die Profilierung in Stapelrichtung kontinuierlich über die Dicke des Keramikelements bzw. des Isolationselement oder diskret bzw. sprunghaft auf Höhe des Keramikelements erfolgen kann.
Weiterhin ist es vorstellbar, dass der Einsatz einen oder mehrere Vorsprünge aufweist, die in einer parallel zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Richtung gegenüber dem generellen Verlauf des äußeren Umfangs des Einsatzes vorsteht bzw. vorstehen. Dieser, vorzugsweise nasenförmige, Vorsprung kann in vorteilhafter Weise einen zusätzlichen Formschluss in Umlaufrichtung entlang des Außenumfangs bedingen, der eine drehfeste Anordnung im Grundkörper unterstützt. Es hat sich dabei in vorteilhafter Weise herausgestellt, dass ein solcher Vorsprung durch Heraustrennen der Metall-Keramik-Substrate aus einer Großkarte mittels Laserlicht und/oder Wasserschneiden entsteht. Durch eine konstante Breite des Isolationselement bildet sich dann dieser Vorsprung auch an dem Einsatz mit Isolationselement aus.
Vorzugsweise ist es vorgesehen, dass das Metall-Keramik-Substrat in der Haupt- erstreckungsebene ein rundes Profil oder eine abgerundete Ecke aufweist. Eine entsprechende Ausgestaltung des Querschnitts des Einsatzes in einer Ebene, die parallel zur Haupterstreckungsebene verläuft erweist sich insbesondere deswegen
als vorteilhaft, weil dadurch eine Kerbwirkung auf dem Grundkörper der Leiterplatte reduziert werden kann. Dadurch kann wiederrum die Lebensdauer der Leiterplatte mit Einsatz verlängert werden.
Vorzugsweise ist es vorgesehen, dass das Metall-Keramik-Substrat ein Keramikelement aufweist, wobei an dem Keramikelement eine Bauteilmetallisierung angebunden ist, wobei
-- eine Stabilisierungsschicht, beispielsweise in Form eines weiteren Keramikelements, vorgesehen bzw. ausgebildet ist, wobei zwischen dem Keramikelement und der Stabilisierungsschicht eine metallische Zwischenschicht angeordnet ist, und/oder
-- die Bauteilmetallisierung und/oder die Rückseitenmetallisierung eine erste Metallschicht und/oder eine zweite Metallschicht umfasst, wobei die erste Metallschicht und die zweite Metallschicht übereinander angeordnet sind.
Insbesondere ist es möglich, durch die entsprechende Ausgestaltung des Metall- Keramik-Substrats Einfluss zu nehmen auf den thermischen Ausdehnungskoeffizienten des Einsatzes, um diesen anzupassen an den thermischen Ausdehnungskoeffizienten des Grundkörpers. Beispielsweise ist es vorstellbar, die Stabilisierungsschicht aus einem anderen Material zu gestalten oder entsprechend zu dimensionieren. Auch die Dicke des Keramikelements kann dazu genutzt werden, den thermomechanischen Ausdehnungskoeffizienten des Einsatzes dahingehend zu optimieren, dass mechanische Spannungen zwischen dem Grundkörper und dem Einsatz reduziert werden. Vorzugsweise unterscheidet sich die erste Metallschicht von einer zweiten Metallschicht in Hinblick auf eine Körnung, wobei vorzugsweise eine Körnung in der ersten Metallschicht kleiner ist als eine Körnung in der zweiten Metallschicht und/oder besonders bevorzugt eine Dicke der ersten Metallschicht dünner ist als eine zweite Metallschicht. Weiterhin ist es vorstellbar, dass eine Dicke der Bauteilmetallisierung sich unterscheidet von einer Dicke der Rückseitenmetallisierung. Dadurch ist es in vorteilhafter Weise möglich, eine Höhenlage des Keramikelements innerhalb des Grundkörpers der Leiterplatte zu be-
einflussen und insbesondere dafür zu sorgen, dass das isolierend wirkende Keramikelement zur Rückseite hin und von der Bauteilseite weg versetzt in dem Grundkörper angeordnet ist oder andersrum.
Ferner ist es vorgesehen, dass ein Profilieren einer nicht parallel zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Seitenfläche und/oder Realisieren eines gegenüber der Bauteilmetallisierung und/oder der Rückseitenmetallisierung in einer parallel zur Haupterstreckungsebene verlaufenden Richtung vorstehenden Keramikelements am Metall-Keramik-Substrat vorgesehen ist. Insbesondere ist es vorstellbar, dass ein Profilieren und/oder Freistellen, beispielsweise durch ein Ätzen, durch eine mechanische Bearbeitung, beispielsweise mittels eines Fräsens, durch die Bearbeitung mit Laserlicht und/oder durch einen Wasserstrahl erfolgt.
Vorzugsweise ist es vorgesehen, dass eine im Wesentlichen parallel zur Haupterstreckungsebene verlaufende Bauteilseite und/oder Rückseite mit einer Schutzschicht bzw. Resistschicht bedeckt wird und anschließend mittels eines Ätzmediums die Seitenfläche profiliert und/oder das Keramikelement teilweise freigelegt wird. Dadurch wird mittels eines einfachen Ätzprozesses eine gewünschte Profilierung der Seitenfläche und das Freistellen eines seitlich vorstehenden Abschnitts des Keramikelements auf einfache Weise realisiert. Anschließend erfolgt die Bedeckung der Seitenflächen, zumindest abschnittsweise, vorzugsweise vollständig, mit einem Isolationselement. Insbesondere ist es vorgesehen, dass der Einsatz aus einem als Großkarte bereitgestellten Metall-Keramik-Substrat herausgetrennt wird.
Ferner ist es vorstellbar, dass die Seitenflächen der Einsätze vor dem Einsetzen in den Grundkörper geschliffen bzw. poliert werden.
Weitere Vorteile und Merkmale ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung bevorzugter Ausführungsformen des erfindungsgemäßen Gegenstands mit Bezug auf die beigefügten Figuren. Einzelne Merkmale der einzelnen Ausführungsform können dabei im Rahmen der Erfindung miteinander kombiniert werden.
Es zeigt:
Fig.1 : schematische Darstellung einer Leiterplatte gemäß einer ersten bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung in einer Draufsicht (oben) und einer Schnittansicht (unten)
Fig. 2: Einsatz gemäß einer ersten bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung
Fig. 3 Einsatz gemäß einer zweiten bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung
Fig. 4 Einsatz gemäß einer dritten bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung
Fig. 5. Einsatz gemäß einer vierten bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung und
Fig. 6 Einsatz gemäß einer fünften bevorzugten Ausführungsform der vorliegende Erfindung
In Figur 1 ist eine Leiterplatte 100 gemäß einer ersten bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung in einer Draufsicht (oben) und in eine Schnittansicht (unten) dargestellt. Solche Leiterplatten 100 dienen insbesondere als Träger für Schaltkreise, die aus elektrischen oder elektronischen Bauteilen 5, Anschlüssen 7 und/oder Leiterbahnen 4 gebildet werden. Die elektrischen oder elektronischen Bauteile 5, die Leiterbahnen 4 und/oder die Anschlüsse 7, beispielsweise in Form von Lötflächen (Pats) oder Lötaugen, sind dabei vorzugsweise an einer Bauteilseite BS der Leiterplatte 100 angeordnet bzw. angebunden. Für eine besonders kostengünstige Produktion derartiger Leiterplatten 100 hat es sich etabliert, Kunststoffe, insbesondere faserverstärkte Kunststoffe, Epoxidharz und/oder Hartpapier als Materialien für einen Grundkörper 2 zu verwenden, der sich im Wesentlichen entlang einer Haupterstreckungsebene HSE erstreckt und an dessen Bauteilseite
BS die Anschlüsse 7, elektronischen Bauteile 5 und/oder Leiterbahnen 4 ausgebildet bzw. angebunden sind.
Aufgrund der stetigen Weiterentwicklung im Bereich der Elektronik, insbesondere in Hinblick auf ein Leistungsvermögen der elektrischen Bauteilen 5, hat es sich herausgestellt, dass die genannten für den Grundkörper 2 verwendeten Materialien den neuen Herausforderungen, insbesondere in Hinblick auf die im Betrieb entstehende Wärme, dauerhaft nicht standhalten können. Dies ist insbesondere dadurch bedingt, dass die genannten Materialien für den Grundkörper 2 einer Leiterplatte 100 eine vergleichsweise geringe Wärmeleitfähigkeit besitzen, wodurch die im Betrieb entstehende Wärme der elektrischen Bauteile nicht in einem ausreichenden Maße abgeführt werden kann.
Leiterplatten 100, die als Metall-Keramik-Substrate ausgebildet sind, können hingegen aufgrund ihrer erhöhten Wärmeleitfähigkeit, insbesondere gegenüber Leiterplatten aus Grundkörpern 2 aus den oben genannten Materialien, d. h. Kunststoffe, insbesondere faserverstärkte Kunststoffe, Epoxidharz und/oder Hartpapier, die entstehende Wärme in einem ausreichendem Maße abführen, sind allerdings fertigungstechnisch aufwendiger zu produzieren und kostenintensiv.
Um die positiven Eigenschaften einer Leiterplatte 100 aus einem Kunststoff, einem Epoxidharz oder einem Hartpapier und die positiven Eigenschaften eines Metall- Keramik-Substrats, insbesondere dessen Wärmeleitfähigkeit, zu nutzen, ist es vorzugsweise vorgesehen, dass die Leiterplatte 100 gemäß der in Figur 1 dargestellten Ausführungsform einen Grundkörper 2 aufweist, der sich entlang der Haupterstreckungsebene HSE erstreckt und in den ein Einsatz 1 integriert ist, wobei der Einsatz 1 als Metall-Keramik-Substrat bereitgestellt ist. Vorzugsweise ist es vorgesehen, dass das Metall-Keramik-Substrat, das als Einsatz 1 verwendet wird, in der Leiterplatte 100 an solchen Stellen angeordnet wird, an denen mit einer erhöhten Wärmeentwicklung zu rechnen ist. Beispielsweise ist es hierzu vorgesehen, dass der Einsatz 1 in einer senkrecht zur Haupterstreckungsebene HSE verlaufenden Stapelrichtung S unterhalb eines elektrischen Bauteils 5 oder mehrere elektrische Bauteile 5 angeordnet ist, um dessen Wärmeentwicklung im Betrieb abführen zu
können. Vorzugsweise ist es dabei vorgesehen, dass eine Ausdehnung A des Einsatzes 1 größer ist als eine parallel zur Haupterstreckungsebene HSE bemessene Ausdehnung des elektrischen Bauteils, um eine wirksame Wärmeabfuhr zu garantieren.
Vorzugsweise ist es dabei vorgesehen, dass mindestens ein Einsatz 1 , vorzugsweise mehrere Einsätze 1 in den Grundkörper 2 der Leiterplatte 100 integriert sind. Eine Bauteilseite BS des Einsatzes 1 schließt dabei im Wesentlichen bündig mit einer Bauteilseite BS des Grundkörpers 2 ab und/oder eine Rückseite RS des Einsatzes 1 schließt bündig mit der Rückseite RS des Grundkörpers 2 ab. Weiterhin ist es bevorzugt vorgesehen, dass ein Anteil eines Volumens des Einsatzes 1 oder mehrerer Einsätze 1 am Volumen des Grundkörpers 2 bzw. der ganzen Leiterplatte 100 kleiner als 50%, bevorzugt kleiner als 30% und besonders bevorzugt kleiner als 15% ist. Es hat sich herausgestellt, dass es mit derart niedrigen Anteilen bereits möglich ist, wirkungsvoll die thermischen Eigenschaften der Leiterplatte 100 zu verbessern und gleichzeitig überwiegend mit solchen Materialien für den Grundkörper 2 zu arbeiten, die einfach zu verarbeiten sind und weniger kostenintensiv sind als Metall-Keramik-Substrate.
Vorzugsweise ist es dabei vorgesehen, dass der Einsatz 1 , der insbesondere an der Bauteilseite BS und der Rückseite RS bündig mit der Bauteilseite BS und Rückseite RS des Grundkörpers 2 in einer senkrecht zur Haupterstreckungsrich- tung HSE verlaufenden Stapelrichtung S bündig abschließt, formschlüssig mit dem Grundkörper 2 in einer senkrecht zur Haupterstreckungsrichtung HSE verlaufenden Richtung zusammenwirkt. Dadurch wird ein sicherer Halt des Einsatzes 1 in der Leiterplatte 100 ermöglicht bzw. unterstützt. Vorzugsweise ist es vorgesehen, dass die Auswahl der Materialien, sei es ein Material des Grundkörpers 2 einerseits oder eines der Materialien oder mehrere Materialien des Keramikelements 30, derart erfolgt, dass die Differenzen der thermischen Ausdehnungskoeffizienten möglichst gering gehalten wird, um zu verhindern, dass thermomechanische Spannungen zu Rissen und/oder Schäden an der Leiterplatte 100 und/oder am Metall-Keramik-Substrat führen. Vorzugsweise weicht der thermische Ausdehnungskoeffizient des Einsatzes 1 vom thermischen Ausdehnungskoeffizienten
des Grundkörpers 2 nicht mehr ab als 30 %, bevorzugt nicht mehr als 15 % und besonders bevorzugt nicht mehr als 10 % des thermischen Ausdehnungskoeffizienten des Einsatzes 1 ab. Zur Auswahl der in Frage kommenden Einsätze verwendet der Fachmann beispielsweise Simulationen für die jeweiligen Zusammensetzungen der Einsätze und vergleicht diese mit den Werten für den Grundkörper 2. Insbesondere ist es vorgesehen, dass der Einsatz 1 zylinderförmig ausgebildet ist und/oder einen im Wesentlichen rechteckigen, insbesondere quadratischen Querschnitt aufweist, wobei die Ecken abgerundet sind.
In Figur 2 ist ein Einsatz 1 als erste beispielhafte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung illustriert. Zur Bildung eines Einsatzes, im Wesentlichen gebildet aus einem Metall-Keramik-Substrat, ist es insbesondere vorgesehen, dass in einem ersten Schritt eine Anbindung einer Bauteilmetallisierung 20 an ein Keramikelement 30 erfolgt. Die Anbindung der Bauteilmetallisierung 20 und/oder der Rückseitenmetallisierung 20' erfolgt vorzugsweise durch ein Direktmetallanbindungsverfahren, wie beispielsweise ein DCB- oder DAB-Verfahren, durch ein Lötverfahren, insbesondere ein Aktivlötmetallverfahren, durch einen Diffusionsanbindungsprozess und/oder ein heißisostatisches Pressen. Vorstellbar ist auch die Anbindung über eine Dickfilmtechnik. Vorzugsweise werden die Einsätze 1 aus einer Großkarte herausgetrennt, d. h. vereinzelt.
Insbesondere ist es vorgesehen, dass der Einsatz 1 ein Keramikelement 30, eine Bauteilmetallisierung 20 und eine Rückseitenmetallisierung 20' aufweist. Dabei ist im montierten Zustand, in dem der Einsatz 1 in die Leiterplatte 100 bzw. in den Grundkörper 2 integriert ist, die Bauteilmetallisierung 20 der Bauteilseite BS der Leiterplatte 100 zugewandt, während die Rückseitenmetallisierung 20' der Rückseite RS zugewandt ist. Dabei ist es ferner vorgesehen, dass das Keramikelement 30 eine erste Dicke D1 aufweist, die Bauteilmetallisierung 20 eine dritte Dicke D3 und die Rückseitenmetallisierung 20' eine vierte Dicke D4. Vorzugsweise ist die dritte Dicke D3 genauso groß wie die vierte Dicke D4. Es ist aber auch vorstellbar, dass beispielsweise die dritte Dicke D3 größer ist als die vierte Dicke D4 oder andersrum, wodurch mit Vorteil das Keramikelement 30 innerhalb des Einsatzes 1
entlang der senkrecht zur Haupterstreckungsebene HSE verlaufenden Stapelrichtung S unterschiedlich positioniert werden kann. Beispielsweise ist es dadurch möglich, eine dickere Bauteilmetallisierung 20 bereitzustellen, die im Bereich, der dem Bauteil 5 zugewandt ist, aufgrund der erhöhten dritten Dicke eine hohe thermische Leitfähigkeit bereitstellt. Dies kann sich als vorteilhaft beim Abführen von Wärme erweisen.
Weiterhin ist es bevorzugt vorgesehen, dass das Keramikelement 30 mit der ersten Dicke D1 derart dimensioniert ist, dass ein Verhältnis zwischen der ersten Dicke D1 zu der Bauteilmetallisierung 20 und/oder ein Verhältnis der ersten Dicke D1 zur zweiten Dicke D2 des Grundkörpers 2 ein Verhältnis annimmt, das zwischen 0,01 und 0,3, bevorzugt zwischen 0,01 und 0,2 und besonders bevorzugt zwischen 0,01 und 0,15 liegt. Dadurch wird ein im Vergleich zur Bauteilmetallisierung 20 und zum Grundkörper 2 dünnes Keramikelement 30 herangezogen, um sowohl für eine gute Wärmeableitung als auch für die gewünschte Isolationsfestigkeit zu sorgen.
Weiterhin ist es vorgesehen, dass das Keramikelement 30 in einer parallel zur Haupterstreckungsebene HSE verlaufenden Richtung um eine erste Länge L1 gegenüber der Bauteilmetallisierung 20 und/oder der Rückseitenmetallisierung 20' vorsteht. Dadurch wird ein sogenannter Pullback am Außenumfang des Metall-Ke- ramik-Substrats 1 ausgebildet. Die der Bauteilseite BS zugewandte Oberseite des Einsatzes 1 und die der Rückseite RS zugewandte Unterseite des Einsatzes 1 , sind über nicht parallel zur Haupterstreckungsebene HSE verlaufende Seitenflächen SF miteinander verbunden. Die Seitenflächen SF des Metall-Keramik-Sub- strats sind im montierten Zustand dem Grundkörper 2 der Leiterplatte 100 zugewandt. Insbesondere umfasst die Seitenfläche SF des Metall-Keramik-Substrats Teilabschnitte der Bauteilmetallisierung 20, des Keramikelements 30 und der Rückseitenmetallisierung 20'.
Um die Isolationsfestigkeit des eingefügten Einsatzes 1 , insbesondere gegenüber dem Grundkörper 2 der Leiterplatte 100 zu erhöhen, ist es bevorzugt vorgesehen, dass ein Isolationselement 8 die Seitenfläche SF des Metall-Keramik-Substrats
zumindest abschnittsweise bedeckt. Durch das Bedecken der Seitenwände bzw. Seitenflächen SF des Metall-Keramik-Substrats wird das Isolationselement 8 im montierten Zustand zwischen dem Grundkörper 2 und dem Metall-Keramik-Sub- strat angeordnet. Beispielsweise kann es sich bei dem Isolationselement 8 um eine Beschichtung mit einer entsprechenden Isolationsschicht handeln, die beispielsweise eine Breite B zwischen 10 pm und 800 pm, bevorzugt zwischen 150 pm und 500 pm und besonders bevorzugt zwischen 250 pm und 350 pm in einer parallel zur Haupterstreckungsebene HSE bemessenen Richtung aufweist. In dem in Figur 2 dargestellten Ausführungsbeispiel bedeckt bzw. umgibt das Isolationselement 8 die Bauteilmetallisierung 20 und die Rückseitenmetallisierung 20' vollständig. Insbesondere ist in dem Ausführungsbespiel der Figur 2 die Seitenfläche des Keramikelements 30 frei von dem Isolationselement 8 und das Isolationselement 8 erstreckt sich jeweils oberhalb und unterhalb des Keramikelements 30. Beispielsweise handelt es sich bei dem Verkleidungselement 8 um eine Verkapselung mit einem Füllmaterial, die beispielsweise im Ausführungsbeispiel der Figur 2 mit dem Außenumfang des Keramikelements 30 bündig abschließt. Das entsprechende Füllmaterial ist und/oder enthält beispielsweise ein Kunststoff, insbesondere ein faserverstärkter Kunststoff, ein Epoxidharz und/oder ein Hartpapier und besonders bevorzugt aus demselben Material gefertigt, wie der Grundkörper 2 der Leiterplatte 100. Besonders bevorzugt ist es vorgesehen, wenn das Füllmaterial für das Isolationselement 8 zusätzliche isolierende Bestandteile aufweist, wie beispielsweise Keramikteilchen, die im Füllmaterial des Isolationselements 8 verteilt sind.
In Figur 3 ist ein Einsatz 1 gemäß einer zweiten beispielhaften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung dargestellt. In dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel der Figur 3 ist das Isolationselement 8 derart ausgebildet, dass es ausschließlich die Bauteilmetallisierung 20 umgibt, insbesondere über die gesamte Höhe der Bauteilmetallisierung 20. Alternativ ist es vorstellbar, dass nur die Rückseitenmetallisierung 20' von einem Isolationselement 8 umschlossen ist. In dem in Figur 3 ausgeführten Ausführungsbeispiel bleibt der Teilabschnitt der Seitenfläche
SF des Metall-Keramik-Substrats, in dem Keramikelement 30 und Rückseitenmetallisierung 20' angeordnet sind, im Wesentlichen frei von einem Isolationselement 8.
Vorzugsweise ist es vorgesehen, dass sich das Isolationselement 8 entlang einer senkrecht zur Haupterstreckungsebene HSE bemessenen ersten Höhe H1 erstreckt, wobei ein Verhältnis der ersten Höhe H1 zu einer Gesamthöhe H2 des gesamten Einsatzes 1 einen Wert zwischen 0,4 und 1 , bevorzugt zwischen 0,5 und 1 und besonders bevorzugt zwischen 0,7 und 1 annimmt.
In Figur 4 ist ein Einsatz 1 gemäß einer dritten beispielhaften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung dargestellt. In der in Figur 4 dargestellten Ausführungsform umgibt das Isolationselement 8 vollständig das Metall-Keramik-Substrat an dessen Seitenflächen SF. In dem dargestellten Ausführungsbeispiel sind Oberseite und Unterseite, d.h. die der Bauteilseite BS zugewandte und die der Rückseite RS zugewandte Außenseite des Metall-Keramik-Substrats frei von einem Isolationselement 8. Es ist alternativ auch vorstellbar, dass das Isolationselement 8 zusätzlich zumindest abschnittsweise und/oder vollständig die Bauteilseite BS und/oder Rückseite RS bedeckt. Vorzugsweise wird in diesem Fall zumindest ein Teilbereich an der Bauteilseite BS freigelassen, um entsprechende Anschlussmöglichkeiten eines Bauteils 5 zur Bauteilmetallisierung 20 zuzulassen.
Insbesondere ist es vorgesehen in dem Ausführungsbeispiel der Figur 4, dass auch die Seitenflächen SF des Keramikelements 30 umgeben sind vom Isolationselement 8 und somit die Seitenflächen SF des Metall-Keramik-Substrats vollständig umschlossen sind. Beispielsweise ist es hierbei vorgesehen, dass eine erste Länge L1 des überstehenden Abschnitts des Keramikelements 30 zu einer parallel zur Haupterstreckungsebene HSE bemessene zweite Länge L2 der Bauteilmetallisierung 20 und/oder Rückseitenmetallisierung 20' einen Wert zwischen 0,01 und 0,3, bevorzugt zwischen 0,01 und 0,2 und besonders bevorzugt zwischen 0,01 und 0,1 annimmt.
Weiterhin ist es vorstellbar, dass sich die zweite Länge L2 der Bauteilmetallisierung 20 unterscheidet von der zweiten Länge L2 der Rückseitenmetallisierung 20' (nicht dargestellt).
Bevorzugt bleiben Bauteilseite BS und/oder Rückseite RS des Metall-Keramik- Substrats frei von einem Isolationselement 8 oder einem Teil des Isolationselements 8, um entsprechende Anschlussflächen zur Bauteilseite BS bereitzustellen bzw. um einen direkten Zugang des Kühlelements zu der Rückseitenmetallisierung 20' zuzulassen.
In Figur 5 ist eine vierte beispielhafte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung dargestellt. Dabei entspricht die Ausführungsform in Figur 5 im Wesentlichen derjenigen aus Figur 4, wobei das Isolationselement 8 an der Seitenfläche SF eine Seitenprofilierung aufweist. Mittels einer solchen Seitenprofilierung ist es mit Vorteil möglich einen Formschluss zwischen Grundkörper 2 und Einsatz 1 zu realisieren, der den Einsatz 1 in dem Grundkörper 2 der Leiterplatte 100 fixiert und dauerhaft festhält. Vorzugsweise wird zusätzlich eine stoffschlüssige Verbindung zwischen Einsatz und Grundkörper realisiert.
Weiterhin ist es vorstellbar, dass in allen anderen beispielhaft dargestellten Ausführungsformen die Seitenfläche SF des Einsatzes 1 mit Isolationselement 8 eine Seitenprofilierung aufweist, um dadurch einen Formschluss mit dem Grundkörper 2 in einer senkrecht zur Haupterstreckungsebene HSE verlaufenden Richtung zu bilden. Beispielsweise ist es dabei vorstellbar, dass lediglich das Isolationselement 8 im Bereich der Bauteilmetallisierung 20 und/oder Rückseitenmetallisierung 20' oder die Bauteilmetallisierung 20 und/oder Rückseitenmetallisierung 20' einen entsprechenden Seitenflächenverlauf aufweist, der zu einer entsprechenden Seitenprofilierung für einen Formschluss geeignet ist. Vorstellbar ist auch, dass das Keramikelement 30 gegenüber der Metallschicht und/oder Bauteilmetallisierung 20 und/oder gegenüber dem Isolationselement 8 in einer parallel zur Haupterstreckungsebene HSE verlaufenden Richtung vorsteht, um dadurch einen entsprechenden Formschluss in einer senkrecht zur Haupterstreckungsebene HSE verlaufenden Richtung zu bedingen.
Beispielsweise handelt es sich bei der Seitenprofilierung um einen konkav und/oder konvex geformten Abschnitt, der sich beispielsweise auch über die gesamte zweite Höhe des Einsatzes 1 erstrecken kann. Dabei ist es vorstellbar, dass die Seitenprofilierung beispielsweise durch das Isolationselement 8 vorgegeben wird. Es ist dabei vorstellbar, dass die Seitenprofilierung beim Bilden des Isolationselements 8, beispielsweise durch eine entsprechende Gussform, oder durch nachträgliches Bearbeiten, beispielsweise durch eine spanende Bearbeitung, entsteht. Ferner ist es vorstellbar, dass die Seitenprofilierung durch einen zumindest abschnittsweise gestuften, schrägen, gebogenen bzw. verjüngenden Verlauf des Isolationselements 8 ausgebildet ist. Es ist auch vorstellbar, dass sich die Seitenfläche SF des Einsatzes 1 und/oder des Isolationselements 8 wellenförmig ausprägt bzw. mehrere lokale Maximums und Minimums in der Breite B ausbildet, um für den gewünschten Formschluss ausgebildet zu sein.
In Figur 6 ist eine fünfte beispielhafte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung dargestellt. Dabei unterscheidet sich diese Ausführungsform dahingehend, dass die Bauteilmetallisierung 20 gegenüber der Rückseitenmetallisierung 20' vorsteht, um einen Seitenflächenverlauf des Einsatzes 1 zu realisieren, der einen Formschluss zwischen Einsatz 1 und Grundkörper 2 verursacht. Durch die in einer parallel zur Haupterstreckungsebene HSE vorlaufenden Richtung vorstehende Bauteilmetallisierung 20 wird eine Modulationstiefe M festgelegt. Außerdem ist zu erkennen, dass die Seitenfläche SF des Einsatzes 1 im Bereich des Keramikelements 30 einen gegenüber der Stapelrichtung S schrägen Verlauf hat. Dadurch wird der vorstehende Verlauf der Seitenfläche SF im Bereich der Bauteilmetallisierung 20 verursacht. Alternativ ist es auch vorstellbar, dass die Rückseitenmetallisierung 20' gegenüber dem Keramikelement 30 vorsteht. In dem in Figur 6 dargestellten Beispiel sind die Verläufe der Seitenfläche SF im Bereich der Bauteilmetallisierung 20 und der Rückseitenmetallisierung 20' parallel zur Stapelrichtung S. Vorstellbar ist auch, dass der Verlauf der Seitenfläche SF im Bereich der Rückseitenmetallisierung 20 und/oder Bauteilmetallisierung 20' zur Ausbildung der Modu-
lationstiefe bzw. - höhe beiträgt. Grundsätzlich ist es auch denkbar, dass die Seitenflächen SF mehrere lokale Maxima und/oder Minima in ihrer Modulations- tiefe/höhe M aufweisen.
Insbesondere ist es in dem Ausführungsbeispiel der Figur 6 vorgesehen, dass die Seitenfläche SF des Metall-Keramik-Substrats 1 vorzugsweise vollständig mit einem Isolationselement 8 verkleidet ist. Dabei weist das Isolationselement 8 im Wesentlichen über die gesamte Höhe eine im wesentlichen konstante Breite B auf. Dem Einsatz 1 aus Figur 6 ist eine entsprechende Seitenflächenprofilierung zuzusprechen, da aufgrund der konstanten Dicke bzw. konstanten Breite des Isolationselements 8 die Kontur der Seitenfläche SF des Metall-Keramik-Substrats auch an der Außenseite des Isolationselements 8 vorliegt. Insbesondere erweist sich diese Ausführungsform als besonders einfach herzustellen, da die gesamte Seitenfläche SF lediglich mit einer konstant breiten Isolationsschicht 8 bedeckt werden muss, um den gewünschten zusätzlichen Isolationsschutz zu gewährleisten.
Bezugszeichen:
1 Einsatz
2 Grundkörper
4 Leiterbahn
5 Bauteil
7 Anschluss
8 Isolationselement
20 Bauteilmetallisierung
20' Rückseitenmetallisierung
30 Keramikelement
100 Leiterplatte
HSE Haupterstreckungsebene
S Stapelrichtung
D1 erste Dicke
D2 zweite Dicke
D3 dritte Dicke
L1 erste Länge
L2 zweite Länge
M Modulationstiefe SF Seitenfläche
RS Rückseite
BS Bauteilseite
B Breite
H1 erste Höhe H2 Gesamthöhe
Claims
Ansprüche Leiterplatte (100) für elektrische Bauteile (5) und/oder Leiterbahnen (4), umfassend
- einen Grundkörper (2), der sich entlang einer Haupterstreckungsebene (HSE) erstreckt, und
- einen Einsatz (1 ), der in einem montierten Zustand in den Grundkörper (2) integriert ist, wobei der Einsatz (1 ) ein Metall-Keramik-Substrat (10) ist und wobei das Metall-Keramik-Substrat (1 ) an einer im montierten Zustand dem Grundkörper (2) zugewandten Seitenfläche (SF) zumindest abschnittsweise von einem Isolationselement (8) bedeckt, insbesondere umgeben, ist. Leiterplatte (100) gemäß Anspruch 1 , wobei das Metall-Keramik-Substrat (1 ) ein Keramikelement (30), eine Bauteilmetallisierung (20) und vorzugsweise eine Rückseitenmetallisierung (20‘) aufweist, wobei das Isolationselement (9) zumindest abschnittsweise, vorzugsweise vollständig an der im montierten Zustand dem Grundkörper (2) zugewandten Seiten das Keramikelement (30) umgibt. Leiterplatte (100) gemäß Anspruch 1 oder 2, wobei das Metall-Keramik-Sub- strat (1 ) ein Keramikelement (30), eine Bauteilmetallisierung (20) und vorzugsweise eine Rückseitenmetallisierung (20‘) aufweist, wobei das Isolationselement (9) zumindest abschnittsweise, vorzugsweise vollständig an der im montierten Zustand dem Grundkörper (2) zugewandten Seiten die Bauteilmetallisierung (20) umgibt. Leiterplatte (100) gemäß Anspruch 2 oder 3, wobei das Isolationselement (8) zumindest abschnittsweise eine von dem Keramikelement (30) abgewandte Oberseite der Bauteilmetallisierung (20) bedeckt.
5. Leiterplatte (100) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Keramikelement (30) des Metall-Keramik-Substrats (10) in einer parallel zu Haupterstreckungsebene (HSE) verlaufenden Richtung gegenüber einer Bauteilmetallisierung (20) des Metall-Keramik-Substrats (10) um eine erste Länge (L1 ) vorsteht.
6. Leiterplatte (100) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Einsatz (1 ) und/oder das Isolationselement (8) in einer senkrecht zur Haupt- erstreckungsebene (HSE) verlaufenden Richtung mit dem Grundkörper (2) formschlüssig zusammenwirkt.
7. Leiterplatte (100) gemäß Anspruch 5, wobei der Einsatz (1 ) und/oder das Isolationselement (8) stoffschlüssig mit dem Grundkörper (2) verbunden ist.
8. Leiterplatte (100) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei zum Ausbilden des formschlüssigen Zusammenwirkens das Isolationselement (8) an einer nicht parallel zur Haupterstreckungsebene (HSE) verlaufenden Seitenfläche (SF) profiliert ist.
9. Leiterplatte (100) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Isolationselement (8) in einer parallel zur Haupterstreckungsebene (HSE) bemessenen Richtung eine entlang der ersten Höhe des Isolationselement gemittelte Breite (B) aufweist, die einen Wert zwischen 10 pm und 800 pm, bevorzugt zwischen 150 pm und 500 pm und besonders bevorzugt zwischen 250 pm und 350 pm annimmt.
10. Leiterplatte (100) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Isolationselement (8) in einer parallel zur Haupterstreckungsebene (HSE) bemessenen Richtung eine entlang der ersten Höhe des Isolationselement (8) gemittelte Breite (B) aufweist, die einen Wert annimmt, der größer als 250 pm, bevorzugt größer als 350 pm und besonders bevorzugt größer als 500 pm ist.
Leiterplatte (100) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei bemessen in einer senkrecht zur Haupterstreckungsebene (HSE) verlaufenden Richtung das Keramikelement (30) eine erste Dicke (D1 ), der Grundkörper (2) eine zweite Dicke (D2) und die Bauteilmetallisierung (20) eine dritte Dicke (D3) aufweist, wobei
-- ein Verhältnis zwischen der ersten Dicke (D1 ) zu der zweiten Dicke (D2) und/oder
-- ein Verhältnis zwischen der ersten Dicke (D1 ) und der dritten Dicke (D3) einen Wert zwischen 0,01 und 0,3, bevorzugt zwischen 0,01 und 0,2 und bevorzugt zwischen 0,01 und 0,15 annimmt. Metall Keramik Substrate (10), das als Einsatz (1 ) für eine Leiterplatte (100) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche geeignet ist, wobei der Einsatz (1 ) an einer nicht parallelen verlaufenden Seitenfläche (SF) zumindest abschnittsweise von einem Isolationselement (8) umgeben ist. Metall-Keramik-Substrat (10) gemäß Anspruch 12, wobei der Einsatz (1 ) an der nicht parallelen verlaufenden Seitenfläche (SF) vollständig von einem Isolationselement (8) umgeben ist. Metall-Keramik-Substrat (10) gemäß Anspruch 12 oder 13, wobei das Isolationselement (8) zumindest in einem Höhenabschnitt des Metall-Keramik-Sub- strats (10) das Metall-Keramik-Substrat (10) geschlossen umgibt. Verfahren zur Herstellung einer Leiterplatte (100) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 11 , umfassend:
- Bereitstellen eines Metall-Keramik-Substrats (10) mit einer Haupterstreckungsebene (HSE),
- zumindest abschnittsweises Verkleiden des Metall-Keramik-Elements (1 ) mit einem Isolationselement (8) und
- Einsetzen des Einsatzes mit dem Isolationselement in den Grundkörper
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Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20120199955A1 (en) * | 2011-02-08 | 2012-08-09 | Subtron Technology Co. Ltd. | Package carrier and manufacturing method thereof |
DE102017205453B3 (de) * | 2017-03-30 | 2018-07-12 | Continental Automotive Gmbh | Verfahren zum Bestücken einer Leiterplatte und Bestückungsvorrichtung |
DE102018104521A1 (de) * | 2018-02-28 | 2019-08-29 | Rogers Germany Gmbh | Metall-Keramik-Substrat und Verfahren zur Herstellung eines Metall-Keramik-Substrats |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004019431A1 (de) | 2004-04-19 | 2005-11-10 | Siemens Ag | Hybrider Leiterplattenaufbau zur kompakten Aufbautechnik von elektrischen Bauelementen |
CN108235559A (zh) | 2016-12-21 | 2018-06-29 | 钰桥半导体股份有限公司 | 具有隔离件及桥接件的线路板及其制法 |
-
2022
- 2022-03-24 DE DE102022106953.2A patent/DE102022106953A1/de active Pending
-
2023
- 2023-03-21 WO PCT/EP2023/057112 patent/WO2023180264A1/de unknown
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20120199955A1 (en) * | 2011-02-08 | 2012-08-09 | Subtron Technology Co. Ltd. | Package carrier and manufacturing method thereof |
DE102017205453B3 (de) * | 2017-03-30 | 2018-07-12 | Continental Automotive Gmbh | Verfahren zum Bestücken einer Leiterplatte und Bestückungsvorrichtung |
DE102018104521A1 (de) * | 2018-02-28 | 2019-08-29 | Rogers Germany Gmbh | Metall-Keramik-Substrat und Verfahren zur Herstellung eines Metall-Keramik-Substrats |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102022106953A1 (de) | 2023-09-28 |
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