WO2023105169A1 - Procédé de caractérisation électrique de cellules d'un module photovoltaïque - Google Patents
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Classifications
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- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02S—GENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRARED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
- H02S50/00—Monitoring or testing of PV systems, e.g. load balancing or fault identification
Definitions
- the field of the invention is that of the characterization of photovoltaic modules in order, for example, to optimize their manufacturing processes or to study their aging.
- the invention relates more particularly to an electrical characterization of cells making up a photovoltaic module by means of the observation of light emitted by the phenomenon of electroluminescence.
- a photovoltaic module is made up of individual cells connected in series or in series-parallel in order to obtain the desired power by increasing the voltage rather than by increasing the current which is a source of loss by the Joule effect.
- This arrangement is common to all photovoltaic module technologies, whether the module is made up of silicon cells or of thin-film cells based on CIGS, CdTe or Perovskite.
- the characterization of a photovoltaic module can be carried out by carrying out electrical measurements of the current-voltage I-V type which make it possible to quantify the power of the module as well as its essential electrical characteristics which are the series resistance, the parallel resistance, the recombination current, even the ideality factor.
- Electroluminescence imaging is another characterization method which makes it possible to identify zones of weak/strong electronic recombination and/or mechanical rupture (cracks) and thus to make a qualitative judgment cell by cell, without quantification.
- the object of the invention is to provide a solution which can make it possible to obtain a quantitative evaluation of the individual electrical characteristics of the various cells making up a photovoltaic module.
- the invention proposes a method for the electrical characterization of cells making up a photovoltaic module which comprises a step of receiving measurements of light intensity emitted by electroluminescence by each of the cells as a function of a voltage applied to the module.
- This method also comprises a step of determining, from measurements of light intensity emitted by electroluminescence by each of the cells in a first range of voltage applied to the module, hierarchical relationships or analytical relationships between first electrical parameters characteristic of the cells.
- This method further comprises a step of determining, from measurements of light intensity emitted by electroluminescence by each of the cells in a second voltage range applied to the module, hierarchical relationships or analytical relationships between second electrical parameters characteristic of the cells .
- determination of hierarchical relationships between parameters is meant the establishment of a hierarchy between these parameters.
- determination of analytical relationships between parameters is meant the fact of linking these parameters by analytical equations and of calculating these parameters.
- the determination steps include the determination of analytical relationships between the first and the second electrical parameters characteristic of the cells;
- the determination steps comprise, for each of the branches, the determination of analytical relationships between the first and the second electrical parameters characteristic of the cells of the branch;
- the determination steps comprise the determination of hierarchical relationships between the first and the second electrical parameters characteristic of the cells;
- the determination steps each comprise a hierarchy of light intensity measurements emitted by electroluminescence by each of the cells respectively in the first voltage range applied to the module and in the second voltage range applied to the module;
- the estimation of the parameters of the electrical model of the module comprises the resolution of an optimization problem exploiting said hierarchical relations or said analytical relations as constraints, the parameters thus estimated making it possible to match, for each of the cells, the light intensity measurements carried out for the cell with a light intensity calculated for the cell from the electrical model of the module;
- the parameters of the electrical model include one or more characteristic electrical parameters of the module
- the first characteristic electrical parameter of a cell is a leakage resistance of the cell
- the second electrical parameter is a dark current of the cell
- the first voltage range covers lower voltages than the voltages covered by the second voltage range
- the light intensity measurements emitted by electroluminescence by each of the cells are average intensity measurements.
- FIG. 1 is a diagram of an electrical model of a cell of a photovoltaic module
- FIG. 2 is a diagram of an electrical model of a photovoltaic module composed of four cells connected in series;
- FIG. 3 represents the electroluminescence intensity of the cells of a module, one of the cells of which is assigned a lower parallel resistance than that of the other cells of the module, as a function of the voltage applied to the module;
- FIG. 4 represents the electroluminescence intensity of the cells of a module, one of the cells of which is affected by a higher recombination current than that of the other cells of the module, as a function of the voltage applied to the module;
- FIG. 5 represents electroluminescence intensity measurements for different cells of a module, from which hierarchical or analytical relationships between electrical parameters of the cells can be determined;
- FIG. 6 represents electroluminescence intensity measurements for different cells of a module
- Figure 7 given by way of comparison with Figure 6, represents the electroluminescence intensity of the cells as resulting from an electrical model whose electrical parameters are taken from an example of solving an optimization problem ;
- FIG. 8 is a diagram representing the sequence of the main steps of a possible embodiment of the method according to the invention.
- the subject of the invention is a method for the electrical characterization of cells making up a photovoltaic module, this method comprising the determination of characteristic electrical parameters of each of the cells (for example parallel resistance, series resistance, ideality factor(s), recombination in the dark).
- FIG. 1 shows an example of an electrical model (i.e. an equivalent circuit) of a cell of a photovoltaic module which here includes a diode D as well as the series resistance Rs and the parallel resistance Rp characteristic of the cell.
- a model with two diodes is possible.
- Figure 2 illustrates an electrical model of a module made up of four cells in series, each having the model of figure 1 as an equivalent circuit.
- the invention is based on the observation made by the inventors that certain electrical parameters of the cells constituting the module have effects on the intensity of electroluminescence, and this for different voltage ranges. With multiple pictures of electroluminescence obtained by varying the voltage applied to the module, it is thus possible to obtain an evaluation of a module which deals with all of its electrical parameters at the scale of the cells, and in particular to determine hierarchical relationships or analytical between the characteristic electrical parameters of the cells.
- Modeling carried out by the inventors made it possible to establish the comparative evolution of the electroluminescence intensity of a cell (called defective) affected by a lower parallel resistance compared to the others, all other things being equal.
- This modeling is based on a module with four cells connected in series, one of which is defective and the other three of which have a reference parallel resistance taken equal to 1000 Q.
- FIG. 3 thus represents the average intensity of electroluminescence EL of the defective cell (in arbitrary units) as a function of the voltage V applied to the module (in Volt), and this for different values of parallel resistance of the defective cell.
- the parallel resistance of the faulty cell is 1000 Q for the Dref curve, 500 Q for the DI curve and 50 Q for the D3 curve.
- FIG. 3 also represents the average intensity of electroluminescence EL of each of the three other cells as a function of the voltage V applied to the module, and this for the different values of parallel resistance of the defective cell.
- the parallel resistance of the faulty cell is 1000 Q for the Aref curve, 500 Q for the Al curve and 50 Q for the A2 curve.
- FIG. 5 thus represents the average intensity of electroluminescence EL of the defective cell as a function of the voltage V applied to the module, and this for different values of recombination current of the defective cell.
- the recombination current of the defective cell is 10 14 A for curve Eref, 6.10 12 A for curve El and 10 10 A for curve E2.
- FIG. 4 also represents the average intensity of electroluminescence EL of each of the three other cells as a function of the voltage V applied to the module, and this for the different recombination current values of the defective cell.
- the recombination current of the defective cell is 10 12 A for curve B1 and 10 10 A for curve B2.
- the defective cell with a high recombination current has a less intense electroluminescence intensity than that of the other cells but also and again that the electroluminescence intensity of the cells with lower recombination current is all the more increased.
- the method according to the invention comprises:
- step MES for receiving light intensity measurements emitted by electroluminescence by each of the cells (for example an average electroluminescence intensity per cell) as a function of a voltage applied to the module;
- step RI of determining, from measurements of light intensity emitted by electroluminescence by each of the cells in a first voltage range applied to the module, hierarchical relationships or analytical relationships between first electrical parameters characteristic of the cells (i.e. establishment a hierarchy between the first electrical parameters characteristic of the cells or calculation of said first parameters);
- Performing the measurements thus comprises the ordered recording of a set of electroluminescence images over an extended voltage range, for example from 0V to Voc+20% where Voc designates the open circuit voltage. These images are then used to determine an electroluminescence intensity per cell as a function of the voltage applied to the module, for example an average intensity per cell.
- the first characteristic electrical parameter of a cell can be a leakage resistance of the cell
- the second electrical parameter can be a dark current of the cell
- the first voltage range can cover voltages lower than the voltages covered by the second voltage range.
- the EL luminescence emitted by a module/a cell can be modeled in the following form depending on the energy E of the photons and the location r on the module/cell and depending on the voltage V across the terminals of the module/cell, EQE(E,r) being the external quantum efficiency, the emission of the body black (Planck's law), QE cam the quantum efficiency of the camera used, q the elementary charge, k the Boltzmann constant and T the temperature in Kelvin.
- the constant A is then calculated according to , for a voltage
- a similar calculation can make it possible to determine A in the case of a module composed of cells in series-parallel.
- step RI it is possible, in a first range of voltage applied to the module covering voltages lower than the open circuit voltage Voc, to determine analytical relationships between the parallel resistances of the cells.
- the total parallel resistance of the module Rp mod uie is equal to the sum of the parallel resistances of the cells in series
- the Rp mod value can be determined by means of current-voltage measurement and analysis of the module.
- step R2 it is possible, in a second voltage range applied to the module covering voltages higher than the open circuit voltage Voc, to determine analytical relationships between the dark currents of the cells.
- equation (7) becomes The dark current of the modulated module I 0 and its modulated series resistance Rs can be determined by means of a measurement and a current-voltage analysis of the module.
- a hierarchy of the electroluminescence intensities per cell allows a relative qualification and a hierarchy of each of the cells that make up the module and of one or more of their electrical parameters. This hierarchization is in particular carried out in several voltage ranges applied to the module.
- this hierarchization is carried out, during step R1, in the first voltage range to determine hierarchical relationships between the first electrical parameters characteristic of each of the cells and, during step R2, in the second voltage range to determine hierarchical relationships between the second electrical parameters characteristic of each of the cells.
- FIG. 5 illustrates in this respect the average electroluminescence intensity I1, I2, I3, I4 of each of four cells making up a module as a function of the voltage V applied to the module. These cells have the following characteristics:
- the method according to the invention exploits the hierarchical relationships (any type of module) or the analytical relationships (typically those determined for a series-parallel module) to estimate the values of the characteristic electrical parameter(s) of the cells composing the module.
- This estimation can in particular be carried out by exploiting the electrical parameters as ranked or calculated during steps R1 and R2 as constraints on the values of the characteristic electrical parameter(s) of the cells that it is desired to determine.
- the method according to this embodiment comprises a step FIT during which these values are determined by solving an optimization problem using as constraints the electrical parameters as prioritized or calculated during steps R1 and R2, this resolution aimed at determining parameters of an electrical model of the module (for example a model of diodes in series in accordance with FIG. 2) which make it possible to match the light intensity measurements (resulting from the MES step) with a light intensity calculated from of the electrical model of the module, said parameters of the electrical model including the characteristic electrical parameters of the cells.
- an electrical model of the module for example a model of diodes in series in accordance with FIG. 2
- the intensity calculated from the electrical model forms a theoretical intensity which it is sought to align, via the optimization of the parameters of the electrical model, with the actual intensity resulting from the measurements.
- the simplified expressions stated previously allow to determining the intensity of electroluminescence generated by the electrical model for given values of the electrical parameters characteristic of the various cells. More particularly, the intensity of electroluminescence of a cell is a function of the voltage across the terminals of the diode of the cell, voltage which results from the model and the values of the electrical parameters characteristic of the various cells and which can for example be determined at using electrical circuit simulation software such as LTSpice®
- Figure 6 represents electroluminescence intensity measurements Cml, Cm2, Cm3, Cm4 for different cells of a module while Figure 7 represents the electroluminescence intensity of cells Cdl, Cd2, Cd3, Cd4 as derived of the electrical model whose electrical parameters come from the resolution of the optimization problem. For each of the cells, there is a good match between the measurements and the intensity resulting from the electrical model of the module.
- the electrical model also has one or more characteristic electrical parameters of the module as parameters.
- the constraints on solving the optimization problem can also include the characteristic electrical parameter(s) of the module. This or these parameters can for example be determined by means of a measurement and a current-voltage analysis of the module or even be the subject of an analytical resolution by retaining the following expressions: and
- the quantification of the series resistance Rsi of a cell i can be carried out in the following way, using the relationships highlighted in the publication Ory et al, “Extended quantitative characterization of solar cell from calibrated voltagedependent electroluminescence imaging” (J. Appl. Phys. 129, 043106 (2021)).
- the electroluminescence curves are fitted according to the following model, which makes it possible to obtain intermediate parameters
- the invention is not limited to the method described above but also extends to a system for the electrical characterization of cells making up a photovoltaic module, which may comprise a system for acquiring electroluminescence images, and comprising a processor configured to put implement the method described above as well as to a computer program product comprising instructions which, when the program is executed by a computer, lead the latter to implement the method described above.
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Abstract
L'invention porte sur un procédé de caractérisation électrique de cellules composant un module photovoltaïque. Ce procédé comprend la réalisation (MES) de mesures d'intensité lumineuse émise par électroluminescence par chacune des cellules en fonction d'une tension appliquée au module. Ce procédé comprend par ailleurs la détermination (R1), à partir des mesures d'intensité lumineuse émise par électroluminescence par chacune des cellules dans une première plage de tension appliquée au module, de relations hiérarchiques ou de relations analytiques entre des premiers paramètres électriques caractéristiques des cellules. Ce procédé comprend en outre la détermination (R2), à partir des mesures d'intensité lumineuse émise par électroluminescence par chacune des cellules dans une deuxième plage de tension appliquée au module, de relations hiérarchiques ou de relations analytiques entre des deuxièmes paramètres électriques caractéristiques des cellules.
Description
Procédé de caractérisation électrique de cellules d'un module photovoltaïque
DOMAINE TECHNIQUE
Le domaine de l'invention est celui de la caractérisation des modules photovoltaïques afin par exemple d'en optimiser les processus de fabrication ou d'en étudier le vieillissement.
L'invention porte plus particulièrement sur une caractérisation électrique de cellules composant un module photovoltaïque au moyen de l'observation d'une lumière émise par phénomène d'électroluminescence.
TECHNIQUE ANTÉRIEURE
Un module photovoltaïque se compose de cellules individuelles connectées en série ou en série-parallèle afin d'obtenir la puissance recherchée par augmentation de la tension plutôt que par augmentation du courant qui est source de perte par effet Joule. Cette disposition est commune à toutes les technologies de module photovoltaïque, que le module soit composé de cellules silicium ou bien de cellules en couches minces à base de CIGS, CdTe ou Pérovskite.
La caractérisation d'un module photovoltaïque peut être réalisée en menant des mesures électriques de type courant-tension l-V qui permettent de quantifier la puissance du module ainsi que ses caractéristiques électriques essentielles que sont la résistance série, la résistance parallèle, le courant de recombinaison, voire le facteur d'idéalité.
Ces caractéristiques sont obtenues de manière globale pour le module. Une fois le module fabriqué, la caractérisation individuelle des cellules est impossible par cette méthode. On notera que si la caractérisation individuelle des cellules est possible avant assemblage pour les modules à cellules silicium, cela reste impossible pour les modules à cellules en couches minces.
Or on cherche à connaître les caractéristiques électriques ci-dessus mentionnées cellule par cellule afin de pouvoir étudier le module non seulement juste après fabrication, mais également après vieillissement accéléré ou en production.
L'imagerie d'électroluminescence est une autre méthode de caractérisation qui permet d'identifier des zones de faible/forte recombinaisons électroniques et/ou de rupture mécanique (fissures) et ainsi de porter un jugement qualitatif cellule par cellule, sans quantification.
L'identification des causes de la moindre performance d'un module photovoltaïque constitué de la mise en série de cellules individuelles (ou de champs de modules mis en série) n'est cependant pas aisée à partir de la réalisation d'une seule image d'électroluminescence ou bien photoluminescence.
En particulier, la distinction de l'effet de la résistance parallèle (également dénommée résistance shunt) ou du courant de recombinaison dans l'obscurité (caractéristique des défauts électroniques) n'est pas alors pas faisable. Il est connu qu'une image d'électroluminescence à faible tension met en évidence les zones de shunt (fuite de courant) d'un dispositif photovoltaïque (cellule ou module). En revanche, dans le cas d'un module associant des cellules en série, la mesure à une seule tension basse ne permet pas d'arbitrer avec certitude entre une plus faible résistance parallèle dans le cas où le courant de recombinaison dans l'obscurité serait également plus faible pour la même cellule. De même, une image à forte tension ne permet pas de distinguer une perte d'intensité d'électroluminescence due à une résistance série plus élevée ou un courant de recombinaison dans l'obscurité plus élevée et encore moins une combinaison des deux sources de perte.
EXPOSÉ DE L'INVENTION
L'invention a pour objectif de fournir une solution qui puisse permettre d'obtenir une évaluation quantitative des caractéristiques électriques individuelles des différentes cellules composant un module photovoltaïque.
A cet effet, l'invention propose un procédé de caractérisation électrique de cellules composant un module photovoltaïque qui comprend une étape de réception de mesures d'intensité lumineuse émise par électroluminescence par chacune des cellules en fonction d'une tension appliquée au module. Ce procédé comprend par ailleurs une étape de détermination, à partir des mesures d'intensité lumineuse émise par électroluminescence
par chacune des cellules dans une première plage de tension appliquée au module, de relations hiérarchiques ou de relations analytiques entre des premiers paramètres électriques caractéristiques des cellules. Ce procédé comprend en outre une étape de détermination, à partir des mesures d'intensité lumineuse émise par électroluminescence par chacune des cellules dans une deuxième plage de tension appliquée au module, de relations hiérarchiques ou de relations analytiques entre des deuxièmes paramètres électriques caractéristiques des cellules.
Par détermination de relations hiérarchiques entre des paramètres, on entend l'établissement d'une hiérarchie entre ces paramètres. Par détermination de relations analytiques entre des paramètres, on entend le fait de lier ces paramètres par des équations analytiques et de calculer ces paramètres.
Certains aspects préférés mais non limitatifs de ce procédé sont les suivants :
- les cellules étant connectées en série pour former une unique branche de cellules, les étapes de détermination comprennent la détermination de relations analytiques entre les premiers et les deuxièmes paramètres électriques caractéristiques des cellules ;
- les cellules étant réparties en plusieurs branches parallèles et étant connectées en série sur chaque branche, les étapes de détermination comprennent, pour chacune des branches, la détermination de relations analytiques entre les premiers et les deuxièmes paramètres électriques caractéristiques des cellules de la branche ;
- les étapes de détermination comprennent la détermination de relations hiérarchiques entre les premiers et les deuxièmes paramètres électriques caractéristiques des cellules ;
- les étapes de détermination comprennent chacune une hiérarchisation des mesures d'intensité lumineuse émise par électroluminescence par chacune des cellules respectivement dans la première plage de tension appliquée au module et dans la deuxième plage de tension appliquée au module ;
- il comprend en outre une étape d'estimation, à l'aide des relations hiérarchiques ou des relations analytiques, de paramètres d'un modèle électrique du module incluant les premiers et les deuxièmes paramètres électriques caractéristiques des cellules ;
- l'estimation des paramètres du modèle électrique du module comprend la résolution d'un problème d'optimisation exploitant en tant que contraintes lesdites relations hiérarchiques ou lesdites relations analytiques, les paramètres ainsi estimés permettant de mettre en correspondance, pour chacune des cellules, les mesures d'intensité lumineuse réalisées pour la cellule avec une intensité lumineuse calculée pour la cellule à partir du modèle électrique du module ;
- les paramètres du modèle électrique incluent un ou plusieurs paramètres électriques caractéristiques du module ;
- le premier paramètre électrique caractéristique d'une cellule est une résistance de fuite de la cellule, le deuxième paramètre électrique est un courant d'obscurité de la cellule et la première plage de tension couvre des tensions plus faibles que les tensions couvertes par la deuxième plage de tension ;
- il comprend en outre la détermination d'une résistance série de chacune des cellules ;
- les mesures d'intensité lumineuse émise par électroluminescence par chacune des cellules sont des mesures d'intensité moyenne.
BRÈVE DESCRIPTION DES DESSINS
D'autres aspects, buts, avantages et caractéristiques de l'invention apparaîtront mieux à la lecture de la description détaillée suivante de formes de réalisation préférées de celle-ci, donnée à titre d'exemple non limitatif, et faite en référence aux dessins annexés sur lesquels :
La figure 1 est un schéma d'un modèle électrique d'une cellule d'un module photovoltaïque ;
La figure 2 est un schéma d'un modèle électrique d'un module photovoltaïque composé de quatre cellules connectées en série ;
La figure 3 représente l'intensité d'électroluminescence des cellules d'un module dont l'une des cellules est affectée d'une résistance parallèle plus faible que celle des autres cellules du module, en fonction de la tension appliquée au module ;
La figure 4 représente l'intensité d'électroluminescence des cellules d'un module dont l'une des cellules est affectée d'un courant de recombinaison plus élevé que celui des autres cellules du module, en fonction de la tension appliquée au module ;
La figure 5 représente des mesures d'intensité d'électroluminescence pour différentes cellules d'un module, à partir desquelles des relations hiérarchiques ou analytiques entre des paramètres électriques des cellules peuvent être déterminées ;
La figure 6 représente des mesures d'intensité d'électroluminescence pour différentes cellules d'un module ;
La Figure 7, donnée à titre de comparaison avec la figure 6, représente l'intensité d'électroluminescence des cellules telle que découlant d'un modèle électrique dont les paramètres électriques sont issus d'un exemple de résolution d'un problème d'optimisation ;
La figure 8 est un schéma représentant l'enchaînement des principales étapes d'un mode de réalisation possible du procédé selon l'invention.
EXPOSÉ DÉTAILLÉ DE MODES DE RÉALISATION PARTICULIERS
L'invention a pour objet un procédé de caractérisation électrique de cellules composant un module photovoltaïque, ce procédé comprenant la détermination de paramètres électriques caractéristiques de chacune des cellules (par exemple résistance parallèle, résistance série, facteur(s) d'idéalité, courant de recombinaison dans l'obscurité).
On a à cet égard représenté sur la figure 1 un exemple de modèle électrique (i.e. un circuit équivalent) d'une cellule d'un module photovoltaïque qui inclut ici une diode D ainsi que la résistance série Rs et la résistance parallèle Rp caractéristiques de la cellule. Un modèle avec deux diodes est possible. La figure 2 illustre quant à elle un modèle électrique d'un module composé de quatre cellules en série ayant chacune pour circuit équivalent le modèle de la figure 1.
L'invention est basée sur le constat réalisé par les inventeurs que certains paramètres électriques des cellules constituant le module ont des effets sur l'intensité d'électroluminescence, et ce pour des plages de tension différentes. Avec plusieurs images
d'électroluminescence obtenues en faisant varier la tension appliquée au module, il est ainsi possible d'obtenir une évaluation d'un module qui traite de l'ensemble de ses paramètres électriques à l'échelle des cellules, et notamment de déterminer des relations hiérarchiques ou analytiques entre les paramètres électriques caractéristiques des cellules.
Une modélisation réalisée par les inventeurs a permis d'établir l'évolution comparée de l'intensité d'électroluminescence d'une cellule (dite défectueuse) affectée par une résistance parallèle plus faible comparée aux autres, toutes choses égales par ailleurs. Cette modélisation est basée sur un module à quatre cellules connectées en série dont l'une est défectueuse et dont les trois autres présentent une résistance parallèle de référence prise égale à 1000 Q.
La figure 3 représente ainsi l'intensité moyenne d'électroluminescence EL de la cellule défectueuse (en unité arbitraire) en fonction de la tension V appliquée au module (en Volt), et ce pour différentes valeurs de résistance parallèle de la cellule défectueuse. Ainsi, la résistance parallèle de la cellule défectueuse est de 1000 Q pour la courbe Dref, de 500 Q pour la courbe DI et de 50 Q pour la courbe D3.
La figure 3 représente également l'intensité moyenne d'électroluminescence EL de chacune des trois autres cellules en fonction de la tension V appliquée au module, et ce pour les différentes valeurs de résistance parallèle de la cellule défectueuse. Ainsi, la résistance parallèle de la cellule défectueuse est de 1000 Q pour la courbe Aref, de 500 Q pour la courbe Al et de 50 Q pour la courbe A2.
On constate de la figure 3 qu'à faible tension (de 0 à 4V environ), la cellule à faible résistance parallèle voit son intensité d'électroluminescence diminuer, mais également que l'intensité d'électroluminescence des autres cellules augmente en regard ce qui n'est pas intuitif.
Une modélisation similaire a permis de comparer l'effet d'un courant de recombinaison plus élevé dans une cellule (dite défectueuse) que dans les autres (pour lesquelles le courant de recombinaison est de 6.10 14 A). La figure 5 représente ainsi l'intensité moyenne d'électroluminescence EL de la cellule défectueuse en fonction de la tension V appliquée au module, et ce pour différentes valeurs de courant de recombinaison
de la cellule défectueuse. Ainsi, le courant de recombinaison de la cellule défectueuse est de 10 14 A pour la courbe Eref, de 6.10 12 A pour la courbe El et de 10 10 A pour la courbe E2. La figure 4 représente également l'intensité moyenne d'électroluminescence EL de chacune des trois autres cellules en fonction de la tension V appliquée au module, et ce pour les différentes valeurs de courant de recombinaison de la cellule défectueuse. Ainsi, le courant de recombinaison de la cellule défectueuse est de 10 12 A pour la courbe B1 et de 10 10 A pour la courbe B2.
On constate de la figure 4 que sur une plage de tension entre 2V et 5V, la cellule défectueuse à fort courant de recombinaison présente une intensité d'électroluminescence moins intense que celle des autres cellules mais aussi et encore que l'intensité d'électroluminescence des cellules à plus faible courant de recombinaison en est d'autant plus augmentée.
Exploitant ces constats, et en référence à la figure 1, le procédé selon l'invention comprend :
- une étape MES de réception de mesures d'intensité lumineuse émise par électroluminescence par chacune des cellules (par exemple une intensité d'électroluminescence moyenne par cellule) en fonction d'une tension appliquée au module ;
- une étape RI de détermination, à partir des mesures d'intensité lumineuse émise par électroluminescence par chacune des cellules dans une première plage de tension appliquée au module, de relations hiérarchiques ou de relations analytiques entre des premiers paramètres électriques caractéristiques des cellules (i.e. établissement d'une hiérarchie entre les premiers paramètres électriques caractéristiques des cellules ou calcul desdites premiers paramètres);
- un étape de détermination (R2), à partir des mesures d'intensité lumineuse émise par électroluminescence par chacune des cellules dans une deuxième plage de tension appliquée au module, de relations hiérarchiques ou de relations analytiques entre des deuxièmes paramètres électriques caractéristiques des cellules (i.e. établissement d'une hiérarchie entre les premiers paramètres électriques caractéristiques des cellules ou calcul desdites premiers paramètres).
La réalisation des mesures comprend ainsi l'enregistrement ordonné d'un ensemble d'images d'électroluminescence sur une plage de tension étendue, par exemple de 0V à Voc+20% où Voc désigne la tension circuit ouvert. Ces images sont ensuite exploitées pour déterminer une intensité d'électroluminescence par cellule en fonction de la tension appliquée au module, par exemple une intensité moyenne par cellule.
Par ailleurs, le premier paramètre électrique caractéristique d'une cellule peut être une résistance de fuite de la cellule, le deuxième paramètre électrique peut être un courant d'obscurité de la cellule et la première plage de tension peut couvrir des tensions plus faibles que les tensions couvertes par la deuxième plage de tension.
Il est connu que la luminescence EL émise par un module/une cellule peut se modéliser sous la forme suivante en fonction de l'énergie E des photons et de l'emplacement r sur le module/cellule et en fonction de la tension V aux bornes du module/cellule, EQE(E,r) étant le rendement quantique externe, l'émission du corps
noir (loi de Planck), QEcam le rendement quantique de la caméra utilisée, q la charge élémentaire, k la constante de Boltzmann et T la température en Kelvin.
Plusieurs hypothèses peuvent être faites pour simplifier cette expression.
- Supposer EQE(E,r) constant. On obtient alors pour chaque cellule en fonction de la tension aux bornes
de la diode de la cellule i du module ;
- Supposer que les EQE(E,r) des cellules du modèle sont proportionnels entre eux par exemple sous la forme EQE(E, r) = On obtient alors pour chaque
cellule * constante * en fonction de la
tension aux bornes de la diode de la cellule i du module. Cette méthode permet une modélisation plus réaliste, mais nécessite de mesurer ou évaluer le coefficient
Détermination de relations analytiques et calcul des paramètres électriques
De la relation énoncée précédemment, il ressort que la tension aux bornes de chaque diode « i » de chaque
cellule « i » (source de la luminescence (1), A
représentant la constante.
Considérant un module constitué de m cellules connectées en série pour former une unique branche de cellules, supposant que la constante A est commune à toutes les cellules et sachant que la tension aux bornes du module Vmod est égale à la somme des tensions i i i. i i . i i i i aux bornes des « m » diodes, la constante A se calcule alors selon
, pour une tension
Un calcul similaire peut permettre de déterminer A dans le cas d'un module composé de cellules en série-parallèle.
Au cours de l'étape RI, il est possible, dans une première plage de tension appliquée au module couvrant des tensions plus faibles que la tension de circuit ouvert Voc, de déterminer des relations analytiques entre les résistances parallèles des cellules.
A faible tension, le modèle électrique de la diode se simplifie de la manière suivante avec
Ie courant parcourant la cellule Ie courant parcourant
le module et Rpt la résistance parallèle de la cellule i. On peut alors montrer la relation analytique suivante pour tout couple de cellules (i,j)
D'autre part, la résistance parallèle totale du module Rpmoduie est égale à la somme des résistances parallèles des cellules en série
_ ,
On a alors
(3).
La valeur Rpmod peut être déterminée au moyen d'une mesure et d'une analyse courant-tension du module.
Dans le cas d'un module constituée d'une unique branche de cellules en série, la relation analytique est complètement explicitée. Elle peut être calculée pour plusieurs valeurs de tension afin d'améliorer sa précision.
Dans le cas d'un module avec deux branches en parallèle de cellules en série, la résistance parallèle totale Rpmod dans l'équation (3) doit être remplacée par la résistance totale de la branche dans laquelle se trouve la cellule concernée avec
Ainsi, dans le cas de figure d'un module série-parallèle dans lequel les cellules sont réparties en plusieurs branches parallèles et sont connectées en série sur chaque branche, le calcul explicite ne peut pas être conduit jusqu'au bout et une résolution numérique tel que décrite ci-après peut alors être réalisée. Notamment, les relations analytiques (2) (qui ne sont alors valables que pour les cellules au sein d'une même branche) ainsi que l'égalité des tensions entre les branches peuvent être exploitées en tant que contraintes à la résolution d'un problème d'optimisation.
Lors de l'étape R2, il est possible, dans une deuxième plage de tension appliquée au module couvrant des tensions plus fortes que la tension de circuit ouvert Voc, de déterminer des relations analytiques entre les courants d'obscurité des cellules.
Pour cela, il est supposé dans un premier temps que la résistance série de chaque cellule, et donc du module, est négligeable. A forte tension, le modèle électrique de chaque diode peut être simplifié sous la forme et la relation analytique entre les
courants d'obscurité de deux cellules en série (i,j) au sein d'un module est donnée par (4), avec ni le facteur d'idéalité de la diode i et Ini son courant
d'obscurité.
Le plus souvent, à forte tension, ni=n=constante et la relation (4) devient
La relation analytique s'exprime alors au moyen des mesures d'électroluminescence selon
L'égalité des courants permet
Dans cette plage de forte tension, l'effet de la résistance série peut être significatif.
Dans ce cas, l'équation (7) devient
Le courant d'obscurité du module I0_moduie et sa résistance série Rsmoduie peuvent être déterminés au moyen d'une mesure et d'une analyse courant-tension du module.
Ici aussi, la relation analytique entre les courants de recombinaison dans l'obscurité des différentes cellules est complètement explicitée. Dans certains cas plus complexes (facteur d'idéalité différents d'une cellule à l'autre, module mixte parallèle/série), la méthode reste similaire.
Détermination de relations hiérarchiques
Une hiérarchisation des intensités d'électroluminescence par cellule permet une qualification relative et une hiérarchisation de chacune des cellules qui composent le module et d'un ou plusieurs de leurs paramètres électriques. Cette hiérarchisation est notamment réalisée dans plusieurs plages de tension appliquée au module.
Notamment, cette hiérarchisation est réalisée, lors de l'étape RI, dans la première plage de tension pour déterminer des relations hiérarchiques entre les premiers paramètres électriques caractéristiques de chacune des cellules et, lors de l'étape R2, dans la deuxième plage de tension pour déterminer des relations hiérarchiques entre les deuxièmes paramètres électriques caractéristiques de chacune des cellules.
La figure 5 illustre à cet égard l'intensité d'électroluminescence moyenne 11, 12, 13, 14 de chacune de quatre cellules composant un module en fonction de la tension V appliquée au module. Ces cellules présentent les caractéristiques suivantes :
En comparant ces intensités dans un plage de faibles tensions (de 0 à 2V), on constate que l'intensité d'électroluminescence 12 et 13 des cellules 2 et 3 est similaire tandis que
celle 11 de la cellule 1 est inférieure à celle 12, 13 des cellules 2 et 3 et que celle 14 de la cellule 4 est inférieure à celle de la cellule 1. On peut en déduire que les résistances de fuite Rpl et Rp3 des cellules 1 et 3 sont similaires tandis que la résistance de fuite Rpl de la cellule 1 leur est inférieure et que la résistance de fuite Rp4 de la cellule 4 est elle-même inférieure à celle de la cellule 1, soit : Rp4<Rpl<Rp2=Rp3.
En comparant par ailleurs les intensités dans une plage de tensions plus élevées (de 4 à 6V), on constate que l'intensité d'électroluminescence 11 et 13 des cellules 1 et 3 est similaire tandis que celle 12 de la cellule 2 est inférieure à celle des cellules 1 et 3 et que celle 14 de la cellule 4 est inférieure à celle 12 de la cellule 2. On peut en déduire que les courants d'obscurité loi et Io3 des cellules 1 et 3 sont similaires tandis que le courant d'obscurité de la cellule 2 leur est supérieur et que le courant d'obscurité Io4 de la cellule 4 est lui-même supérieur à celui de la cellule 2, soit : loi =lo3<lo2<lo4.
Exploitation des relations hiérarchiques ou analytiques dans le cadre d'une résolution numérique
Dans un mode de réalisation possible, le procédé selon l'invention exploite les relations hiérarchiques (tout type de module) ou les relations analytiques (typiquement celles déterminées pour un module série-parallèle) pour estimer les valeurs du ou des paramètres électriques caractéristiques des cellules composant le module.
Cette estimation peut notamment être réalisée en venant exploiter les paramètres électriques tels que hiérarchisés ou calculés lors des étapes RI et R2 en tant que contraintes sur les valeurs du ou des paramètres électriques caractéristiques des cellules que l'on cherche à déterminer.
Plus précisément, le procédé selon ce mode de réalisation comprend une étape FIT au cours de laquelle ces valeurs sont déterminées en venant résoudre un problème d'optimisation exploitant en tant que contraintes les paramètres électriques tels que hiérarchisés ou calculés lors des étapes RI et R2, cette résolution visant à déterminer des paramètres d'un modèle électrique du module (par exemple un modèle de diodes en série conformément à la figure 2) qui permettent de mettre en correspondance les mesures d'intensité lumineuse (issues de l'étape MES) avec une intensité lumineuse calculée à partir
du modèle électrique du module, lesdits paramètres du modèle électrique incluant les paramètres électriques caractéristiques des cellules.
L'intensité calculée à partir du modèle électrique forme ici une intensité théorique que l'on cherche à aligner, via l'optimisation des paramètres du modèle électrique, à l'intensité réelle issue des mesures.
En d'autres termes, la résolution du problème d'optimisation sous contraintes permet de déterminer les valeurs des différents paramètres électriques de chaque cellule (par exemple la résistance parallèle, la résistance série et le courant de recombinaison dans l'obscurité) de sorte que l'intensité d'électroluminescence théoriquement engendrée par le modèle électrique exploitant ces valeurs soit suffisamment proche (par exemple au sens d'une erreur quadratique) des mesures.
Dans ce cadre, les expressions simplifiées énoncées précédemment (comme par exemple la relation
= constante * permettent de
déterminer l'intensité d'électroluminescence engendrée par le modèle électrique pour des valeurs données des paramètres électriques caractéristiques des différentes cellules. Plus particulièrement, l'intensité d'électroluminescence d'une cellule est fonction de la tension aux bornes de la diode de la cellule, tension qui découle du modèle et des valeurs des paramètres électriques caractéristiques des différentes cellules et qui peut par exemple être déterminée au moyen d'un logiciel de simulation de circuit électrique tel que LTSpice®
La figure 6 représente des mesures d'intensité d'électroluminescence Cml, Cm2, Cm3, Cm4 pour différentes cellules d'un module tandis que la figure 7 représente l'intensité d'électroluminescence des cellules Cdl, Cd2, Cd3, Cd4 telle que découlant du modèle électrique dont les paramètres électriques sont issus de la résolution du problème d'optimisation. On constate pour chacune des cellules une bonne adéquation entre les mesures et l'intensité découlant du modèle électrique du module.
Dans un mode de réalisation possible, le modèle électrique a également pour paramètres un ou plusieurs paramètres électriques caractéristiques du module. Dans ce mode de réalisation, les contraintes à la résolution du problème d'optimisation peuvent également comprendre le ou les paramètres électriques caractéristiques du module. Ce ou ces paramètres peuvent par exemple être déterminées au moyen d'une mesure et d'une
analyse courant-tension du module ou encore faire l'objet d'une résolution analytique en retenant les expressions suivantes : et
Quantification de la résistance série
La quantification de la résistance série Rsi d'une cellule i peut quant à elle s'opérer de la manière suivante en faisant appel à des relations mises en évidence dans la publication Ory et al, « Extended quantitative characterization of solar cell from calibrated voltagedependent electroluminescence imaging » (J. Appl. Phys. 129, 043106 (2021)). Les courbes d'électroluminescence sont ajustées selon le modèle suivant, ce qui permet d'obtenir des paramètres intermédiaires
La relation suivante est applicable d'après la publication citée :
L'invention n'est pas limitée au procédé précédemment décrit mais s'étend également à un système de caractérisation électrique de cellules composant un module photovoltaïque, pouvant comprendre un système d'acquisition des images d'électroluminescence, et comprenant un processeur configuré pour mettre en œuvre le procédé précédemment décrit ainsi qu'à un produit programme d'ordinateur comprenant des instructions qui, lorsque le programme est exécuté par un ordinateur, conduisent celui- ci à mettre en œuvre le procédé précédemment décrit.
Claims
1. Procédé de caractérisation électrique de cellules composant un module photovoltaïque, comprenant les étapes de :
- réception (MES) de mesures d'intensité lumineuse émise par électroluminescence par chacune des cellules en fonction d'une tension appliquée au module ;
- à partir des mesures d'intensité lumineuse émise par électroluminescence par chacune des cellules dans une première plage de tension appliquée au module, établissement d'une hiérarchie entre des premiers paramètres électriques caractéristiques des cellules ou calcul desdits premiers paramètres caractéristiques;
- à partir des mesures d'intensité lumineuse émise par électroluminescence par chacune des cellules dans une deuxième plage de tension appliquée au module, établissement d'une hiérarchie entre des deuxièmes paramètres électriques caractéristiques des cellules ou calcul desdits deuxièmes paramètres caractéristiques.
2. Procédé selon la revendication 1, dans lequel les cellules sont connectées en série pour former une unique branche de cellules et dans lequel l'étape d'établissement d'une hiérarchie entre les premiers paramètres électriques caractéristiques des cellules ou de calcul desdits premiers paramètres caractéristiques comprend le calcul des premiers paramètres électriques caractéristiques des cellules et l'étape d'établissement d'une hiérarchie entre les deuxièmes paramètres électriques caractéristiques des cellules ou de calcul desdits deuxièmes paramètres caractéristiques comprend le calcul des deuxièmes paramètres électriques caractéristiques des cellules.
3. Procédé selon la revendication 1, dans lequel les cellules sont réparties en plusieurs branches parallèles et sont connectées en série sur chaque branche, dans lequel l'étape d'établissement d'une hiérarchie entre les premiers paramètres électriques caractéristiques des cellules ou de calcul desdits premiers paramètres caractéristiques comprend, pour chacune des branches, le calcul des premiers paramètres électriques caractéristiques des cellules de la branche et dans lequel l'étape d'établissement d'une
hiérarchie entre les deuxièmes paramètres électriques caractéristiques des cellules ou de calcul desdits deuxièmes paramètres caractéristiques comprend, pour chacune des branches, le calcul des deuxièmes paramètres électriques caractéristiques des cellules de la branche.
4. Procédé selon la revendication 1, dans lequel l'étape d'établissement d'une hiérarchie entre les premiers paramètres électriques caractéristiques des cellules ou de calcul desdits premiers paramètres caractéristiques comprend l'établissement d'une hiérarchie entre les premiers paramètres électriques caractéristiques des cellules et l'étape d'établissement d'une hiérarchie entre les deuxièmes paramètres électriques caractéristiques des cellules ou de calcul desdits deuxièmes paramètres caractéristiques comprend l'établissement d'une hiérarchie entre les deuxièmes paramètres électriques caractéristiques des cellules.
5. Procédé selon la revendication 4, dans lequel l'établissement d'une hiérarchie entre les premiers paramètres électriques caractéristiques des cellules et l'établissement d'une hiérarchie entre les deuxièmes paramètres électriques caractéristiques des cellules comprennent chacun une hiérarchisation des mesures d'intensité lumineuse émise par électroluminescence par chacune des cellules respectivement dans la première plage de tension appliquée au module et dans la deuxième plage de tension appliquée au module.
6. Procédé selon l'une des revendications 3 à 5, comprenant en outre une étape d'estimation, à l'aide des premiers et deuxièmes paramètres électriques caractéristiques des cellules calculés selon la revendication 3 ou hiérarchisés selon la revendication 4, de paramètres d'un modèle électrique du module incluant les premiers et les deuxièmes paramètres électriques caractéristiques des cellules.
7. Procédé selon la revendication 6, dans lequel l'estimation des paramètres du modèle électrique du module comprend la résolution (FIT) d'un problème d'optimisation exploitant en tant que contraintes le calcul ou la hiérarchie des premiers et deuxièmes paramètres
électriques caractéristiques des cellules , les paramètres ainsi estimés permettant de mettre en correspondance, pour chacune des cellules, les mesures d'intensité lumineuse réalisées pour la cellule avec une intensité lumineuse calculée pour la cellule à partir du modèle électrique du module.
8. Procédé selon l'une des revendications 6 et 7, dans lequel lesdits paramètres du modèle électrique incluent un ou plusieurs paramètres électriques caractéristiques du module.
9. Procédé selon l'une des revendications 1 à 8, dans lequel chacun des premiers paramètres électriques caractéristiques d'une cellule est une résistance de fuite de la cellule, chacun des deuxièmes paramètres électriques est un courant d'obscurité de la cellule et la première plage de tension couvre des tensions plus faibles que les tensions couvertes par la deuxième plage de tension.
10. Procédé selon l'une des revendications 1 à 9, comprenant en outre la détermination d'une résistance série de chacune des cellules.
11. Procédé selon l'une des revendications 1 à 10, dans lequel les mesures d'intensité lumineuse émise par électroluminescence par chacune des cellules sont des mesures d'intensité moyenne.
12. Système de caractérisation électrique de cellules composant un module photovoltaïque, comprenant un processeur configuré pour mettre en œuvre le procédé selon l'une des revendications 1 à 11.
13. Produit programme d'ordinateur comprenant des instructions qui, lorsque le programme est exécuté par un ordinateur, conduisent celui-ci à mettre en œuvre le procédé selon l'une des revendications 1 à 11.
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|---|---|---|---|
| FR2113241A FR3130476B1 (fr) | 2021-12-09 | 2021-12-09 | Procédé de caractérisation électrique de cellules d’un module photovoltaïque |
| FR2113241 | 2021-12-09 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| WO2023105169A1 true WO2023105169A1 (fr) | 2023-06-15 |
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|---|---|---|---|
| PCT/FR2022/052284 WO2023105169A1 (fr) | 2021-12-09 | 2022-12-08 | Procédé de caractérisation électrique de cellules d'un module photovoltaïque |
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Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2343534A1 (fr) * | 2009-12-23 | 2011-07-13 | General Electric Company | Système d'imagerie à photon permettant de détecter les défauts dans des dispositifs photovoltaïques et procédé associé |
| CN108680486A (zh) * | 2018-05-02 | 2018-10-19 | 河海大学常州校区 | 一种光伏组件长期耐候性能测试方法 |
| EP3447908A1 (fr) * | 2017-08-25 | 2019-02-27 | Electricité de France | Procede d'analyse quantitative d'une installation comprenant un module electroluminescent |
-
2021
- 2021-12-09 FR FR2113241A patent/FR3130476B1/fr active Active
-
2022
- 2022-12-08 WO PCT/FR2022/052284 patent/WO2023105169A1/fr unknown
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2343534A1 (fr) * | 2009-12-23 | 2011-07-13 | General Electric Company | Système d'imagerie à photon permettant de détecter les défauts dans des dispositifs photovoltaïques et procédé associé |
| EP3447908A1 (fr) * | 2017-08-25 | 2019-02-27 | Electricité de France | Procede d'analyse quantitative d'une installation comprenant un module electroluminescent |
| CN108680486A (zh) * | 2018-05-02 | 2018-10-19 | 河海大学常州校区 | 一种光伏组件长期耐候性能测试方法 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| ORY ET AL.: "Extended quantitative characterization of solar cell from calibrated voltage-dependent electroluminescence imaging", J. APPL. PHYS., vol. 129, 2021, pages 043106, XP012253246, DOI: 10.1063/5.0021095 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR3130476B1 (fr) | 2024-05-24 |
| FR3130476A1 (fr) | 2023-06-16 |
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