WO2023012905A1 - 反射特性解析装置、反射特性解析方法、及び反射特性解析プログラム - Google Patents

反射特性解析装置、反射特性解析方法、及び反射特性解析プログラム Download PDF

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匡史 岩渕
智明 小川
泰司 鷹取
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日本電信電話株式会社
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    • H01Q3/44—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system varying the electric or magnetic characteristics of reflecting, refracting, or diffracting devices associated with the radiating element
    • H01Q3/46—Active lenses or reflecting arrays
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
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    • H04B7/00—Radio transmission systems, i.e. using radiation field
    • H04B7/02—Diversity systems; Multi-antenna system, i.e. transmission or reception using multiple antennas
    • H04B7/04—Diversity systems; Multi-antenna system, i.e. transmission or reception using multiple antennas using two or more spaced independent antennas
    • H04B7/0413—MIMO systems

Definitions

  • the present disclosure relates to technology for analyzing the reflection characteristics of a dynamic reflector (RIS: Reconfigurable Intelligent Surface).
  • RIS Reconfigurable Intelligent Surface
  • a dynamic reflector used for wireless communication is known.
  • a dynamic reflector is composed of a large number of reflective elements and reflects incident radio waves.
  • the reflective properties, such as the reflective direction, of the dynamic reflector can be dynamically controlled.
  • By using such a dynamic reflector it is possible to form a propagation path that bypasses obstacles or to form a plurality of propagation paths for a single terminal device. This makes it possible to improve communication performance such as communication quality and spatial multiplexing number.
  • Non-Patent Document 1 discloses a method of analyzing radio wave propagation characteristics in an anechoic chamber containing a pyramidal absorber using the ray tracing method.
  • the normal ray-tracing method cannot consider the influence of the amount of absorption in directions other than the regular reflection direction of the absorber. Therefore, the amount of absorption in all directions other than the normal reflection direction of the absorber is calculated in advance by electromagnetic field analysis. After that, the radio wave propagation characteristics are analyzed by the ray tracing method in consideration of paths other than the regular reflection direction.
  • One object of the present disclosure is to provide a technique capable of reducing calculation time without reducing analysis accuracy when analyzing the reflection characteristics of a dynamic reflector.
  • a first aspect relates to a reflection property analyzer for analyzing reflection properties of a dynamic reflector.
  • the reflection characteristic analyzer is a ray tracing calculation unit that calculates the incident angle of the electromagnetic wave incident on the dynamic reflector by the ray tracing method; an electromagnetic field analysis unit that obtains the incident angle calculated by the ray tracing calculation unit and calculates, based on electromagnetic field analysis, reflection characteristics when an electromagnetic wave is incident on the dynamic reflector at the incident angle.
  • a second aspect relates to a reflection property analyzer for analyzing the reflection property of a dynamic reflector.
  • a reflectance property analyzer includes one or more processors.
  • the one or more processors are a first process of calculating the incident angle of the electromagnetic wave incident on the dynamic reflector by a ray tracing method; and a second process of obtaining the angle of incidence calculated by the first process and calculating, based on electromagnetic field analysis, reflection characteristics when the electromagnetic wave is incident on the dynamic reflector at the angle of incidence.
  • a third aspect relates to a reflection property analysis method for analyzing the reflection property of the dynamic reflector.
  • the reflection characteristic analysis method is a first process of calculating the incident angle of the electromagnetic wave incident on the dynamic reflector by a ray tracing method; and a second process of acquiring the incident angle calculated by the first process and calculating, based on electromagnetic field analysis, reflection characteristics when the electromagnetic wave is incident on the dynamic reflector at the incident angle.
  • a fourth aspect relates to a reflection property analysis program executed by a computer.
  • the reflection characteristic analysis program causes the computer to execute the above reflection characteristic analysis method.
  • the reflection property analysis program causes a computer to implement the above reflection property analysis device.
  • the incident angle of the electromagnetic wave incident on the dynamic reflector is calculated by the ray tracing method before executing the electromagnetic field analysis. Then, the reflection characteristics of the dynamic reflector are calculated by performing an electromagnetic field analysis with respect to the angle of incidence calculated in advance. Since there is no need to perform electromagnetic field analysis for incident angles in all directions, the computation time is greatly reduced. In addition, since each incident angle of the electromagnetic wave incident on the dynamic reflector is used, the analysis accuracy does not deteriorate. That is, when analyzing the reflection characteristics of the dynamic reflector, it is possible to reduce the calculation time without lowering the analysis accuracy.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a functional configuration example of a reflection characteristic analysis device according to an embodiment of the present disclosure
  • FIG. 6 is a flow chart showing processing by the reflection characteristic analysis device according to the embodiment of the present disclosure
  • FIG. 4 is a conceptual diagram for explaining processing by the reflection characteristic analysis device according to the embodiment of the present disclosure
  • FIG. 4 is a conceptual diagram for explaining processing by the reflection characteristic analysis device according to the embodiment of the present disclosure
  • FIG. 4 is a conceptual diagram showing an example of processing by the reflection characteristic analysis device according to the embodiment of the present disclosure
  • 1 is a block diagram showing a hardware configuration example of a reflection characteristic analysis device according to an embodiment of the present disclosure
  • a dynamic reflector used in wireless communication is composed of many reflective elements and reflects incident radio waves.
  • the reflective properties, such as the reflective direction, of the dynamic reflector can be dynamically controlled.
  • a dynamic reflector is a metasurface reflector.
  • the dynamic reflector is called "RIS".
  • the present embodiment provides a technique for analyzing reflection characteristics of RIS.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a functional configuration example of a reflection characteristic analysis device 1 according to this embodiment.
  • a reflection characteristic analyzer 1 analyzes the reflection characteristic of RIS.
  • the reflection characteristic analysis device 1 includes a ray trace calculation unit 10, an incident angle storage unit 20, and an electromagnetic field analysis unit 30 as functional blocks.
  • FIG. 2 is a flowchart showing processing by the reflection characteristic analysis device 1 according to this embodiment.
  • step S10 the ray tracing calculation unit 10 calculates the incident angle ⁇ i of the electromagnetic wave entering the RIS by the ray tracing method.
  • FIG. 3 is a conceptual diagram for explaining step S10.
  • the ray tracing calculation unit 10 calculates one or more rays (incident paths) incident on the RIS from the transmission point based on the ray tracing method, and calculates the incident angle ⁇ i of each ray on the RIS.
  • the incident angle storage unit 20 stores (memorizes) an incident angle list 25 indicating one or more incident angles ⁇ i calculated by the ray trace calculation unit 10.
  • step S ⁇ b>30 the electromagnetic field analysis unit 30 acquires the incident angle list 25 stored in the incident angle storage unit 20 . Then, the electromagnetic field analysis unit 30 performs electromagnetic field analysis and calculates reflection characteristics by using only the incident angles ⁇ i indicated in the incident angle list 25 instead of the incident angles in all directions. More specifically, the electromagnetic field analysis unit 30 calculates reflection characteristics based on electromagnetic field analysis when an electromagnetic wave with each incident angle ⁇ i is incident on the RIS. Electromagnetic field analysis is performed by, for example, the FDTD (Finite Difference Time Domain) method.
  • FIG. 4 is a conceptual diagram for explaining step S30.
  • the electromagnetic field analysis unit 30 performs electromagnetic field analysis on the electromagnetic waves incident at the incident angle ⁇ i, and calculates the reflection angle ⁇ r with respect to the incident angle ⁇ i based on the result.
  • the electromagnetic field analysis unit 30 outputs reflection characteristic data 35 indicating the reflection characteristic of the RIS thus calculated.
  • the incident angle ⁇ i of the electromagnetic wave incident on the RIS is calculated by the ray tracing method before executing the electromagnetic field analysis. Then, the reflection characteristics of the RIS are calculated by performing the electromagnetic field analysis only for the incident angle ⁇ i calculated in advance. Since there is no need to perform electromagnetic field analysis for incident angles in all directions, the computation time is greatly reduced. Also, since each incident angle ⁇ i of the electromagnetic wave incident on the RIS is used, the analysis accuracy does not deteriorate. That is, according to this embodiment, when analyzing the reflection characteristics of the RIS, it is possible to reduce the calculation time without lowering the analysis accuracy.
  • FIG. 5 is a conceptual diagram showing an example of processing by the reflection characteristic analysis apparatus 1 according to the present embodiment.
  • the raytrace calculation unit 10 calculates the incident angle ⁇ i of the electromagnetic wave incident on the RIS by the raytrace method.
  • the incident angle ⁇ i is defined, for example, by a combination of an incident azimuth angle and an incident elevation angle.
  • an incident angle ⁇ i has an incident azimuth angle of 30 degrees and an incident elevation angle of zero.
  • the incident angle list 25 indicates one or more incident angles ⁇ i calculated by the ray trace calculator 10 .
  • the electromagnetic field analysis unit 30 performs electromagnetic field analysis using the incident angles ⁇ i shown in the incident angle list 25 .
  • the electromagnetic field analysis unit 30 (conversion script) calculates the angle of reflection ⁇ r with respect to the angle of incidence ⁇ i based on the result of the electromagnetic field analysis.
  • Reflection characteristic data 35 indicates the reflection characteristic of the RIS thus calculated. For example, the reflection characteristic data 35 indicates the correspondence between the incident angle ⁇ i and the reflection angle ⁇ r. Reflection property data 35 may further include reflection coefficients.
  • the reflection characteristic data 35 may be fed back to the ray tracing calculator 10 and reflected in the ray tracing.
  • the ray trace calculator 10 rewrites the reflection angle ⁇ r of the electromagnetic wave (ray) in the RIS with the reflection angle ⁇ r indicated by the reflection characteristic data 35 .
  • the ray-trace calculation unit 10 calculates the radio wave propagation characteristics in an environment including the RIS based on the reflection characteristics data 35 by the ray-trace method.
  • FIG. 6 is a block diagram showing a hardware configuration example of the reflection characteristic analysis apparatus 1 according to the present embodiment.
  • the reflection characteristic analysis device 1 includes one or more processors 110 (hereinafter simply referred to as “processors 110"), one or more storage devices 120 (hereinafter simply referred to as “storage devices 120”), and a user interface 140.
  • processors 110 hereinafter simply referred to as "processors 110”
  • storage devices 120 hereinafter simply referred to as “storage devices 120”
  • user interface 140 is a computer containing
  • the processor 110 executes various types of information processing.
  • the processor 110 includes, for example, a CPU (Central Processing Unit).
  • CPU Central Processing Unit
  • the storage device 120 stores various information necessary for processing by the processor 110 and various information generated by processing by the processor 110 .
  • the storage device 120 stores the incident angle list 25, reflection property data 35, and the like.
  • Examples of the storage device 120 include volatile memory, nonvolatile memory, HDD (Hard Disk Drive), SSD (Solid State Drive), and the like.
  • the incident angle storage section 20 shown in FIG. 1 is implemented by a storage device 120 .
  • the reflection property analysis program 130 is a computer program (software) executed by the processor 110 .
  • the functions of the reflection characteristic analysis apparatus 1 are realized by the processor 110 executing the reflection characteristic analysis program 130 .
  • a reflection property analysis program 130 is stored in the storage device 120 .
  • the reflection property analysis program 130 may be recorded on a computer-readable recording medium. Reflection property analysis program 130 may be provided via a network.
  • the reflection characteristic analysis program 130 includes a ray tracing simulator 131 and an electromagnetic field analysis simulator 132.
  • the ray tracing simulator 131 is a three-dimensional radio wave propagation simulator (eg, RapLab) that performs ray tracing.
  • the electromagnetic field analysis simulator 132 is a three-dimensional electromagnetic field simulator (eg, XFdtd) that performs electromagnetic field analysis.
  • the processor 110 executes the raytrace simulator 131 to implement the raytrace calculator 10 shown in FIG. Further, the electromagnetic field analysis unit 30 shown in FIG. 1 is realized by the processor 110 executing the electromagnetic field analysis simulator 132 .
  • the user interface 140 receives input from the user and presents various information to the user.
  • User interface 140 includes an input device and a display device. Examples of input devices include a keyboard, mouse, touch panel, and the like.
  • input devices include a keyboard, mouse, touch panel, and the like.
  • a user operates the ray tracing simulator 131 and the electromagnetic field analysis simulator 132 by using an input device.
  • a simulation result is displayed on the display device.

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Abstract

反射特性解析装置は、動的反射板（RIS: Reconfigurable Intelligent Surface）の反射特性を解析する。反射特性解析装置は、レイトレース計算部と電磁界解析部とを備える。レイトレース計算部は、動的反射板へ入射する電磁波の入射角をレイトレース法によって算出する。電磁界解析部は、レイトレース計算部によって算出された入射角を取得し、当該入射角で電磁波が動的反射板に入射した場合の反射特性を電磁界解析に基づいて算出する。

Description

反射特性解析装置、反射特性解析方法、及び反射特性解析プログラム
　本開示は、動的反射板（RIS: Reconfigurable Intelligent Surface）の反射特性を解析する技術に関する。
　無線通信に利用される動的反射板が知られている。動的反射板は、多数の反射素子から構成され、入射される電波を反射する。動的反射板の反射方向等の反射特性は、動的に制御可能である。そのような動的反射板を利用することによって、障害物を迂回する伝搬パスを形成したり、単一の端末装置に対して複数の伝搬パスを形成したりすることが可能となる。これにより、通信品質や空間多重数といった通信性能を向上させることが可能となる。
　非特許文献１は、ピラミッド型吸収体を含む電波暗室内の電波伝搬特性をレイトレース法により解析する手法を開示している。通常のレイトレース法では、吸収体の正規反射方向以外の吸収量の影響を考慮することができない。そこで、吸収体の正規反射方向以外の全方向の吸収量が、電磁界解析により事前に算出される。その後、レイトレース法により、正規反射方向以外のパスも考慮して電波伝搬特性の解析が行われる。
「ピラミッド型吸収体の検証、３ＧＨｚのピラミッド型吸収体の最適反射点検索によるレイトレース法の電波暗室解析」，株式会社　構造計画研究所　（https://network.kke.co.jp/consulting_samples/anechoic_chamber/task.shtml）
　動的反射板の反射特性を解析することを考える。動的反射板の場合、電波の入射角と反射角は必ずしも一致しない。そこで、入射角に対する反射角を求めるために、電磁界解析を利用することが考えられる。但し、動的反射板の電磁界解析には時間がかかる。例えば、ある一つの入射角に対する電磁界解析には１時間程度を要する。従って、全方向の入射角に対する反射角を全て求めるためには膨大な計算時間がかかる。
　本開示の１つの目的は、動的反射板の反射特性を解析する際に、解析精度を低下させることなく計算時間を削減することができる技術を提供することにある。
　第１の観点は、動的反射板の反射特性を解析する反射特性解析装置に関連する。
　反射特性解析装置は、
　動的反射板へ入射する電磁波の入射角をレイトレース法によって算出するレイトレース計算部と、
　レイトレース計算部によって算出された入射角を取得し、当該入射角で電磁波が動的反射板に入射した場合の反射特性を電磁界解析に基づいて算出する電磁界解析部と
　を備える。
　第２の観点は、動的反射板の反射特性を解析する反射特性解析装置に関連する。
　反射特性解析装置は、１又は複数のプロセッサを備える。
　１又は複数のプロセッサは、
　動的反射板へ入射する電磁波の入射角をレイトレース法によって算出する第１処理と、
　第１処理によって算出された入射角を取得し、当該入射角で電磁波が動的反射板に入射した場合の反射特性を電磁界解析に基づいて算出する第２処理と
　を実行するように構成される。
　第３の観点は、動的反射板の反射特性を解析する反射特性解析方法に関連する。
　反射特性解析方法は、
　動的反射板へ入射する電磁波の入射角をレイトレース法によって算出する第１処理と、
　第１処理によって算出された入射角を取得し、当該入射角で電磁波が動的反射板に入射した場合の反射特性を電磁界解析に基づいて算出する第２処理と
　を含む。
　第４の観点は、コンピュータによって実行される反射特性解析プログラムに関連する。反射特性解析プログラムは、上記の反射特性解析方法をコンピュータに実行させる。あるいは、反射特性解析プログラムは、上記の反射特性解析装置をコンピュータに実現させる。
　本開示によれば、電磁界解析の実行前に、動的反射板へ入射する電磁波の入射角がレイトレース法によって算出される。そして、事前に算出された入射角に対して電磁界解析を行うことにより、動的反射板の反射特性が算出される。全方向の入射角に対して電磁界解析を行う必要はないため、計算時間が大幅に削減される。また、動的反射板へ入射する電磁波の各入射角は用いられるため、解析精度は低下しない。すなわち、動的反射板の反射特性を解析する際に、解析精度を低下させることなく計算時間を削減することが可能となる。
本開示の実施の形態に係る反射特性解析装置の機能構成例を示すブロック図である。 本開示の実施の形態に係る反射特性解析装置による処理を示すフローチャートである。 本開示の実施の形態に係る反射特性解析装置による処理を説明するための概念図である。 本開示の実施の形態に係る反射特性解析装置による処理を説明するための概念図である。 本開示の実施の形態に係る反射特性解析装置による処理の一例を示す概念図である。 本開示の実施の形態に係る反射特性解析装置のハードウェア構成例を示すブロック図である。
　添付図面を参照して、本開示の実施の形態を説明する。
　１．概要
　無線通信に利用される動的反射板（RIS: Reconfigurable Intelligent Surface）は、多数の反射素子から構成され、入射される電波を反射する。動的反射板の反射方向等の反射特性は、動的に制御可能である。例えば、動的反射板は、メタサーフェス反射板である。そのような動的反射板を利用することによって、障害物を迂回する伝搬パスを形成したり、単一の端末装置に対して複数の伝搬パスを形成したりすることが可能となる。これにより、通信品質や空間多重数といった通信性能を向上させることが可能となる。
　以下の説明において、動的反射板を「ＲＩＳ」と呼ぶ。本実施の形態は、ＲＩＳの反射特性を解析する技術を提供する。
　図１は、本実施の形態に係る反射特性解析装置１の機能構成例を示すブロック図である。反射特性解析装置１は、ＲＩＳの反射特性を解析する。反射特性解析装置１は、機能ブロックとして、レイトレース計算部１０、入射角記憶部２０、及び電磁界解析部３０を含んでいる。
　図２は、本実施の形態に係る反射特性解析装置１による処理を示すフローチャートである。
　まず、ステップＳ１０（第１処理）において、レイトレース計算部１０は、ＲＩＳへ入射する電磁波の入射角θｉを、レイトレース法によって算出する。図３は、ステップＳ１０を説明するための概念図である。レイトレース計算部１０は、レイトレース法に基づいて、送信点からＲＩＳに入射する１以上のレイ（入射パス）を計算し、各レイのＲＩＳへの入射角θｉを算出する。
　続くステップＳ２０において、入射角記憶部２０は、レイトレース計算部１０によって算出された１以上の入射角θｉを示す入射角リスト２５を格納（記憶）する。
　その後、ステップＳ３０（第２処理）において、電磁界解析部３０は、入射角記憶部２０に格納された入射角リスト２５を取得する。そして、電磁界解析部３０は、全方向の入射角ではなく入射角リスト２５で示される入射角θｉだけを用いることにより、電磁界解析を行い反射特性を算出する。より詳細には、電磁界解析部３０は、各入射角θｉの電磁波がＲＩＳに入射した場合の反射特性を電磁界解析に基づいて算出する。電磁界解析は、例えば、ＦＤＴＤ（Finite Difference Time Domain）法により行われる。図４は、ステップＳ３０を説明するための概念図である。電磁界解析部３０は、入射角θｉで入射する電磁波に対して電磁界解析を行い、その結果に基づいて入射角θｉに対する反射角θｒを算出する。電磁界解析部３０は、このようにして算出したＲＩＳの反射特性を示す反射特性データ３５を出力する。
　以上に説明されたように、本実施の形態によれば、電磁界解析の実行前に、ＲＩＳへ入射する電磁波の入射角θｉがレイトレース法によって算出される。そして、事前に算出された入射角θｉに対してだけ電磁界解析を行うことにより、ＲＩＳの反射特性が算出される。全方向の入射角に対して電磁界解析を行う必要はないため、計算時間が大幅に削減される。また、ＲＩＳへ入射する電磁波の各入射角θｉは用いられるため、解析精度は低下しない。すなわち、本実施の形態によれば、ＲＩＳの反射特性を解析する際に、解析精度を低下させることなく計算時間を削減することが可能となる。
　２．具体例
　図５は、本実施の形態に係る反射特性解析装置１による処理の一例を示す概念図である。
　レイトレース計算部１０は、ＲＩＳへ入射する電磁波の入射角θｉをレイトレース法によって算出する。入射角θｉは、例えば、入射方位角と入射仰角の組み合わせにより定義される。例えば、ある入射角θｉの入射方位角は３０度であり、入射仰角は０である。入射角リスト２５は、レイトレース計算部１０によって算出された１以上の入射角θｉを示す。
　電磁界解析部３０は、入射角リスト２５で示される入射角θｉを用いることによって電磁界解析を行う。電磁界解析部３０（変換スクリプト）は、電磁界解析の結果に基づいて、入射角θｉに対する反射角θｒを算出する。反射角θｒは、例えば、反射方位角と反射仰角の組み合わせにより定義される。例えば、上記の入射方位角＝３０度、入射仰角＝０度の入射角θｉに対して、反射方位角θ＝４５度、反射仰角＝０度の反射角θｒが算出される。反射特性データ３５は、このようにして算出されたＲＩＳの反射特性を示す。例えば、反射特性データ３５は、入射角θｉと反射角θｒとの対応関係を示す。反射特性データ３５は、更に、反射係数を含んでいてもよい。
　反射特性データ３５は、レイトレース計算部１０にフィードバックされ、レイトレースに反映されてもよい。例えば、レイトレース計算部１０は、ＲＩＳにおける電磁波（レイ）の反射角θｒを、反射特性データ３５で示される反射角θｒで書き換える。このように、レイトレース計算部１０は、反射特性データ３５に基づいて、ＲＩＳを含む環境における電波伝搬特性をレイトレース法によって算出する。
　３．ハードウェア構成例
　図６は、本実施の形態に係る反射特性解析装置１のハードウェア構成例を示すブロック図である。反射特性解析装置１は、１又は複数のプロセッサ１１０（以下、単に「プロセッサ１１０」と呼ぶ）、１又は複数の記憶装置１２０（以下、単に「記憶装置１２０」と呼ぶ）、及びユーザインタフェース１４０を含むコンピュータである。
　プロセッサ１１０は、各種情報処理を実行する。プロセッサ１１０は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）を含んでいる。
　記憶装置１２０は、プロセッサ１１０による処理に必要な各種情報や、プロセッサ１１０による処理によって生成される各種情報を格納する。例えば、記憶装置１２０は、入射角リスト２５、反射特性データ３５、等を格納する。記憶装置１２０としては、揮発性メモリ、不揮発性メモリ、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）、ＳＳＤ（Solid State Drive）、等が例示される。図１で示された入射角記憶部２０は、記憶装置１２０により実現される。
　反射特性解析プログラム１３０は、プロセッサ１１０によって実行されるコンピュータプログラム（ソフトウェア）である。プロセッサ１１０が反射特性解析プログラム１３０を実行することによって、反射特性解析装置１の機能が実現される。反射特性解析プログラム１３０は、記憶装置１２０に格納される。反射特性解析プログラム１３０は、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録されてもよい。反射特性解析プログラム１３０は、ネットワーク経由で提供されてもよい。
　より詳細には、反射特性解析プログラム１３０は、レイトレースシミュレータ１３１と電磁界解析シミュレータ１３２を含んでいる。レイトレースシミュレータ１３１は、レイトレースを行う３次元電波伝搬シミュレータ（例：RapLab）である。電磁界解析シミュレータ１３２は、電磁界解析を行う３次元電磁界シミュレータ（例：XFdtd）である。プロセッサ１１０がレイトレースシミュレータ１３１を実行することにより、図１で示されたレイトレース計算部１０が実現される。また、プロセッサ１１０が電磁界解析シミュレータ１３２を実行することにより、図１で示された電磁界解析部３０が実現される。
　ユーザインタフェース１４０は、ユーザからの入力を受け付け、また、ユーザに各種情報を提示する。ユーザインタフェース１４０は入力装置と表示装置を含んでいる。入力装置としては、キーボード、マウス、タッチパネル、等が例示される。ユーザは、入力装置を用いることによって、レイトレースシミュレータ１３１や電磁界解析シミュレータ１３２を操作する。シミュレーション結果は、表示装置に表示される。
　　　１　　反射特性解析装置
　　１０　　レイトレース計算部
　　２０　　入射角記憶部
　　２５　　入射角リスト
　　３０　　電磁界解析部
　　３５　　反射特性データ
　１１０　　プロセッサ
　１２０　　記憶装置
　１３０　　反射特性解析プログラム
　１３１　　レイトレースシミュレータ
　１３２　　電磁界解析シミュレータ
　１４０　　ユーザインタフェース
　ＲＩＳ　　動的反射板

Claims (8)

  1. 　動的反射板の反射特性を解析する反射特性解析装置であって、
    　前記動的反射板へ入射する電磁波の入射角をレイトレース法によって算出するレイトレース計算部と、
    　前記レイトレース計算部によって算出された前記入射角を取得し、前記入射角で前記電磁波が前記動的反射板に入射した場合の前記反射特性を電磁界解析に基づいて算出する電磁界解析部と
    　を備える
    　反射特性解析装置。
  2. 　請求項１に記載の反射特性解析装置であって、
    　更に、前記レイトレース計算部によって算出された前記入射角を格納する入射角記憶部を備え、
    　前記電磁界解析部は、前記入射角記憶部に格納された前記入射角を取得して前記反射特性を算出する
    　反射特性解析装置。
  3. 　請求項１又は２に記載の反射特性解析装置であって、
    　前記レイトレース計算部は、更に、前記電磁界解析部によって算出された前記反射特性に基づいて、前記動的反射板を含む環境における電波伝搬特性をレイトレース法によって算出する
    　反射特性解析装置。
  4. 　動的反射板の反射特性を解析する反射特性解析装置であって、
    　１又は複数のプロセッサを備え、
    　前記１又は複数のプロセッサは、
    　前記動的反射板へ入射する電磁波の入射角をレイトレース法によって算出する第１処理と、
    　前記第１処理によって算出された前記入射角を取得し、前記入射角で前記電磁波が前記動的反射板に入射した場合の前記反射特性を電磁界解析に基づいて算出する第２処理と
    　を実行するように構成された
    　反射特性解析装置。
  5. 　請求項４に記載の反射特性解析装置であって、
    　更に、前記第１処理によって算出された前記入射角を格納する１又は複数の記憶装置を備え、
    　前記第２処理において、前記１又は複数のプロセッサは、前記１又は複数の記憶装置に格納された前記入射角を取得して前記反射特性を算出する
    　反射特性解析装置。
  6. 　動的反射板の反射特性を解析する反射特性解析方法であって、
    　前記動的反射板へ入射する電磁波の入射角をレイトレース法によって算出する第１処理と、
    　前記第１処理によって算出された前記入射角を取得し、前記入射角で前記電磁波が前記動的反射板に入射した場合の前記反射特性を電磁界解析に基づいて算出する第２処理と
    　を含む
    　反射特性解析方法。
  7. 　請求項６に記載の反射特性解析方法であって、
    　前記第１処理によって算出された前記入射角を１又は複数の記憶装置に格納する処理を更に含み、
    　前記第２処理は、前記１又は複数の記憶装置に格納された前記入射角を取得して前記反射特性を算出する処理を含む
    　反射特性解析方法。
  8. 　コンピュータによって実行され、請求項６又は７に記載の反射特性解析方法を前記コンピュータに実行させる反射特性解析プログラム。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010268254A (ja) * 2009-05-15 2010-11-25 Hitachi Ltd 無線局配置探索装置
JP2015080061A (ja) * 2013-10-16 2015-04-23 三菱電機株式会社 無線ネットワーク置局設計装置及び無線ネットワーク置局設計システム

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010268254A (ja) * 2009-05-15 2010-11-25 Hitachi Ltd 無線局配置探索装置
JP2015080061A (ja) * 2013-10-16 2015-04-23 三菱電機株式会社 無線ネットワーク置局設計装置及び無線ネットワーク置局設計システム

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
SARKAR DEBDEEP; MIKKI SAID; ANTAR YAHIA M. M.: "Engineering the Eigenspace Structure of Massive MIMO Links Through Frequency-Selective Surfaces", IEEE ANTENNAS AND WIRELESS PROPAGATION LETTERS, IEEE, PISCATAWAY, NJ, US, vol. 18, no. 12, 1 December 2019 (2019-12-01), US , pages 2701 - 2705, XP011762003, ISSN: 1536-1225, DOI: 10.1109/LAWP.2019.2949236 *
SARKAR DEBDEEP; MIKKI SAID; ANTAR YAHIA: "An Electromagnetic Framework for the Deployment of Reconfigurable Intelligent Surfaces to Control Massive MIMO Channel Characteristics", 2020 14TH EUROPEAN CONFERENCE ON ANTENNAS AND PROPAGATION (EUCAP), EURAAP, 15 March 2020 (2020-03-15), pages 1 - 4, XP033789311, DOI: 10.23919/EuCAP48036.2020.9135824 *
YONGMING HUANG, YINGHUA LU, XIAOJUN FENG, HONGXIN ZHANG, DAQING CHEN: "A novel technique for indoor radio propagation modeling", ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY, 2002 3RD INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON MAY 21-24, 2002, PISCATAWAY, NJ, USA,IEEE, 21 May 2002 (2002-05-21) - 24 May 2002 (2002-05-24), pages 335 - 338, XP010630624, ISBN: 978-0-7803-7277-1 *

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