WO2021060924A1 - Electronic device and method for controlling temperature - Google Patents

Electronic device and method for controlling temperature Download PDF

Info

Publication number
WO2021060924A1
WO2021060924A1 PCT/KR2020/013109 KR2020013109W WO2021060924A1 WO 2021060924 A1 WO2021060924 A1 WO 2021060924A1 KR 2020013109 W KR2020013109 W KR 2020013109W WO 2021060924 A1 WO2021060924 A1 WO 2021060924A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
temperature
processor
electronic device
component
reference temperature
Prior art date
Application number
PCT/KR2020/013109
Other languages
French (fr)
Korean (ko)
Inventor
구경하
김건탁
윤하중
이승주
장세영
장현태
Original Assignee
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from KR1020200118455A external-priority patent/KR20210037548A/en
Application filed by 삼성전자 주식회사 filed Critical 삼성전자 주식회사
Priority to US15/734,060 priority Critical patent/US11520387B2/en
Publication of WO2021060924A1 publication Critical patent/WO2021060924A1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05DSYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
    • G05D23/00Control of temperature
    • G05D23/19Control of temperature characterised by the use of electric means
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/16Constructional details or arrangements
    • G06F1/20Cooling means
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F9/00Arrangements for program control, e.g. control units
    • G06F9/06Arrangements for program control, e.g. control units using stored programs, i.e. using an internal store of processing equipment to receive or retain programs
    • G06F9/46Multiprogramming arrangements
    • G06F9/50Allocation of resources, e.g. of the central processing unit [CPU]

Definitions

  • the present disclosure relates to an electronic device and method for performing temperature control.
  • the electronic device may perform throttling to limit the performance of the electronic device based on the temperature of a component (eg, a processor) of the electronic device.
  • a component eg, a processor
  • the temperature of a component of the electronic device may be controlled within a guaranteed temperature by performing throttling.
  • the performance of the electronic device may be limited.
  • the guaranteed temperature of the processor may be higher than the guaranteed temperature of other components and/or the temperature of the surface of the electronic device (eg, a housing).
  • throttling may be performed before the temperature of the component reaches the guaranteed temperature of the component. Accordingly, the performance of the electronic device may decrease before the temperature of the component reaches the guaranteed temperature of the component. Accordingly, there may be a need for a method of maintaining the operation performance of the electronic device as high as possible by delaying the timing at which throttling is performed as much as possible.
  • an electronic device includes a temperature measuring unit configured to measure a temperature of each of a plurality of components of the electronic device and a control unit configured to change based on a first reference temperature.
  • a temperature measuring unit configured to measure a temperature of each of a plurality of components of the electronic device
  • a control unit configured to change based on a first reference temperature.
  • the control unit sets the operating frequency of the control unit to a first Set by frequency.
  • the operating frequency of the control unit is set as the second operating frequency.
  • a method of operating an electronic device is provided.
  • the method includes measuring a temperature of a processor of the electronic device through a first temperature sensor of the electronic device, and changing an operating frequency of the processor to a first operating frequency when the temperature of the processor reaches the first reference temperature.
  • the first reference temperature is measured by measuring the temperature of at least one of a plurality of components of the electronic device through a second temperature sensor of the electronic device, and based on a third reference temperature lower than the first reference temperature of the processor. Change the operating frequency. When the temperature of at least one component reaches a second reference temperature, the processor is set to a second operating frequency.
  • one or more features selected from any one embodiment described in the present disclosure may be combined with one or more features selected from any other embodiment described in the present disclosure, and alternatives to these features.
  • two or more physically separate components may alternatively be integrated into a single component if the integration is possible, and a single component formed as such. If the same function is performed by means of, the integration is possible. Conversely, a single component of any embodiment described in the present disclosure may alternatively be implemented as two or more separate components that achieve the same function, as appropriate.
  • the electronic device and its operating method may delay the timing of deterioration of the operating performance of the electronic device by delaying the timing at which the processor performs throttling based on the temperature of the electronic device as much as possible.
  • the electronic device and its operating method can maintain the operating performance of the electronic device as high as possible by delaying a time point when the operating performance of the electronic device deteriorates.
  • FIG. 1 is a block diagram of an electronic device in a network environment according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 2A is a block diagram of an electronic device according to an exemplary embodiment.
  • 2B is a block diagram of an electronic device according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 3 is a flowchart illustrating an operation of an electronic device according to an exemplary embodiment.
  • 4A is a graph illustrating a change in operating frequency of a processor of an electronic device according to an exemplary embodiment.
  • 4B is a graph illustrating a temperature change of a processor of an electronic device according to an exemplary embodiment.
  • 4C is a graph showing changes in temperature of a component of an electronic device according to an exemplary embodiment.
  • 5A is a block diagram of an electronic device according to an exemplary embodiment.
  • 5B is a block diagram of an electronic device according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 6 is a flowchart illustrating an operation of an electronic device according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 7A is a graph illustrating a change in operating frequency of a processor of an electronic device according to an exemplary embodiment.
  • 7B is a graph illustrating a temperature change of a processor of an electronic device according to an exemplary embodiment.
  • 7C is a graph showing a temperature change of a component of an electronic device according to an exemplary embodiment.
  • 7D is a graph illustrating temperature changes of components of an electronic device according to an exemplary embodiment.
  • 7E is a graph illustrating temperature changes of components of an electronic device according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 8 is a block diagram of an electronic device according to an embodiment.
  • FIG. 9 is a flowchart illustrating an operation according to whether an electronic device slides according to an embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 10 is a diagram illustrating a change in distance between components according to whether an electronic device slides according to an embodiment of the present disclosure.
  • the electronic device 101 includes a processor 120, a memory 130, an input device 150, an audio output device 155, a display device 160, an audio module 170, and a sensor module ( 176, interface 177, haptic module 179, camera module 180, power management module 188, battery 189, communication module 190, subscriber identification module 196, or antenna module 197 ) Can be included.
  • a sensor module 176, interface 177, haptic module 179, camera module 180, power management module 188, battery 189, communication module 190, subscriber identification module 196, or antenna module 197
  • at least one of these components eg, the display device 160 or the camera module 180
  • the sensor module 176 may be implemented while being embedded in the display device 160 (eg, a display).
  • the processor 120 for example, executes software (eg, a program 140) to implement at least one other component (eg, a hardware or software component) of the electronic device 101 connected to the processor 120. It can be controlled and can perform various data processing or operations. According to an embodiment, as at least a part of data processing or operation, the processor 120 may transfer commands or data received from other components (eg, the sensor module 176 or the communication module 190) to the volatile memory 132. It is loaded into, processes commands or data stored in the volatile memory 132, and the result data may be stored in the nonvolatile memory 134.
  • software eg, a program 140
  • the processor 120 may transfer commands or data received from other components (eg, the sensor module 176 or the communication module 190) to the volatile memory 132. It is loaded into, processes commands or data stored in the volatile memory 132, and the result data may be stored in the nonvolatile memory 134.
  • the processor 120 includes a main processor 121 (eg, a central processing unit or an application processor), and a secondary processor 123 (eg, a graphic processing unit, an image signal processor) that can be operated independently or together. , A sensor hub processor, or a communication processor). Additionally or alternatively, the coprocessor 123 may be set to use less power than the main processor 121 or to be specialized for a designated function. The secondary processor 123 may be implemented separately from the main processor 121 or as a part thereof.
  • a main processor 121 eg, a central processing unit or an application processor
  • a secondary processor 123 eg, a graphic processing unit, an image signal processor
  • the coprocessor 123 may be set to use less power than the main processor 121 or to be specialized for a designated function.
  • the secondary processor 123 may be implemented separately from the main processor 121 or as a part thereof.
  • the processor 120 controls temperature based on the temperature of the processor 120, the temperature of at least one other hardware component of the electronic device 101 connected to the processor 120, or a combination thereof. You can do it.
  • the co-processor 123 is, for example, in place of the main processor 121 while the main processor 121 is in an inactive (eg, sleep) state, or the main processor 121 is active (eg, executing an application). ) While in the state, together with the main processor 121, at least one of the components of the electronic device 101 (for example, the display device 160, the sensor module 176, or the communication module 190) It is possible to control at least some of the functions or states associated with it.
  • the coprocessor 123 eg, an image signal processor or a communication processor
  • may be implemented as a part of other functionally related components eg, the camera module 180 or the communication module 190). have.
  • the memory 130 may store various types of data used by at least one component of the electronic device 101 (eg, the processor 120 or the sensor module 176 ).
  • the data may include, for example, software (eg, the program 140) and input data or output data for commands related thereto.
  • the memory 130 may include a volatile memory 132 or a nonvolatile memory 134.
  • the program 140 may be stored as software in the memory 130, and may include, for example, an operating system 142, middleware 144, or an application 146.
  • the input device 150 may receive a command or data to be used for a component of the electronic device 101 (eg, the processor 120) from outside (eg, a user) of the electronic device 101.
  • the input device 150 may include, for example, a microphone, a mouse, a keyboard, or a digital pen (eg, a stylus pen).
  • the sound output device 155 may output an sound signal to the outside of the electronic device 101.
  • the sound output device 155 may include, for example, a speaker or a receiver.
  • the speaker can be used for general purposes such as multimedia playback or recording playback, and the receiver can be used to receive incoming calls.
  • the receiver may be implemented separately from the speaker or as part of the speaker.
  • the display device 160 may visually provide information to the outside of the electronic device 101 (eg, a user).
  • the display device 160 may include, for example, a display, a hologram device, or a projector and a control circuit for controlling the device.
  • the display device 160 may include a touch circuitry set to sense a touch, or a sensor circuit (eg, a pressure sensor) set to measure the strength of a force generated by the touch. have.
  • the audio module 170 may convert sound into an electrical signal, or conversely, may convert an electrical signal into sound. According to an embodiment, the audio module 170 acquires sound through the input device 150, the sound output device 155, or an external electronic device (eg: Sound can be output through the electronic device 102) (for example, a speaker or headphones).
  • an external electronic device eg: Sound can be output through the electronic device 102
  • Sound can be output through the electronic device 102
  • the sensor module 176 detects an operating state (eg, power or temperature) of the electronic device 101, or an external environmental state (eg, a user state), and generates an electrical signal or data value corresponding to the detected state. can do.
  • the sensor module 176 is, for example, a gesture sensor, a gyro sensor, an atmospheric pressure sensor, a magnetic sensor, an acceleration sensor, a grip sensor, a proximity sensor, a color sensor, an infrared (IR) sensor, a biometric sensor, It may include a temperature sensor, a humidity sensor, or an illuminance sensor.
  • the interface 177 may support one or more specified protocols that may be used for the electronic device 101 to connect directly or wirelessly with an external electronic device (eg, the electronic device 102 ).
  • the interface 177 may include, for example, a high definition multimedia interface (HDMI), a universal serial bus (USB) interface, an SD card interface, or an audio interface.
  • connection terminal 178 may include a connector through which the electronic device 101 can be physically connected to an external electronic device (eg, the electronic device 102).
  • the connection terminal 178 may include, for example, an HDMI connector, a USB connector, an SD card connector, or an audio connector (eg, a headphone connector).
  • the haptic module 179 may convert an electrical signal into a mechanical stimulus (eg, vibration or movement) or an electrical stimulus that a user can perceive through tactile or motor sensations.
  • the haptic module 179 may include, for example, a motor, a piezoelectric element, or an electrical stimulation device.
  • the camera module 180 may capture a still image and a video.
  • the camera module 180 may include one or more lenses, image sensors, image signal processors, or flashes.
  • the power management module 188 may manage power supplied to the electronic device 101.
  • the power management module 388 may be implemented as at least a part of, for example, a power management integrated circuit (PMIC).
  • PMIC power management integrated circuit
  • the battery 189 may supply power to at least one component of the electronic device 101.
  • the battery 189 may include, for example, a non-rechargeable primary cell, a rechargeable secondary cell, or a fuel cell.
  • the communication module 190 may support establishing a direct (eg, wired) communication channel or a wireless communication channel between the electronic device 101 and an external electronic device, and performing communication through the established communication channel.
  • the communication module 190 operates independently of the processor 120 (eg, an application processor) and may include one or more communication processors supporting direct (eg, wired) communication or wireless communication.
  • the communication module 190 is a wireless communication module 192 (eg, a cellular communication module, a short-range wireless communication module, or a global navigation satellite system (GNSS) communication module) or a wired communication module 194 (eg : A local area network (LAN) communication module, or a power line communication module) may be included.
  • GNSS global navigation satellite system
  • the corresponding communication module is a first network (for example, a short-range communication network such as Bluetooth, WiFi direct or IrDA (infrared data association)) or a second network (for example, a cellular network, the Internet, or a computer network (for example, LAN) Alternatively, it may communicate with an external electronic device through a long-distance communication network such as a WAN).
  • a first network for example, a short-range communication network such as Bluetooth, WiFi direct or IrDA (infrared data association)
  • a second network for example, a cellular network, the Internet, or a computer network (for example, LAN)
  • a long-distance communication network such as a WAN.
  • These various types of communication modules may be integrated into one component (eg, a single chip), or may be implemented as a plurality of separate components (eg, multiple chips).
  • the wireless communication module 192 uses subscriber information stored in the subscriber identification module 196 (eg, International Mobile Subscriber Identifier (IMSI)) to access the electronic device 101 within a communication network such as a first network or a second network. Can be verified and authenticated.
  • subscriber information stored in the subscriber identification module 196 eg, International Mobile Subscriber Identifier (IMSI)
  • IMSI International Mobile Subscriber Identifier
  • the antenna module 197 may transmit a signal or power to the outside (eg, an external electronic device) or receive from the outside.
  • the antenna module may include one antenna including a conductor formed on a substrate (eg, a PCB) or a radiator formed of a conductive pattern.
  • the antenna module 197 may include a plurality of antennas. In this case, at least one antenna suitable for a communication method used in a communication network such as the first network or the second network may be selected from the plurality of antennas by, for example, the communication module 190.
  • the signal or power may be transmitted or received between the communication module 190 and an external electronic device through the at least one selected antenna.
  • other components eg, RFIC
  • other than the radiator may be additionally formed as part of the antenna module 197.
  • At least some of the components are connected to each other through a communication method (e.g., a bus, general purpose input and output (GPIO), serial peripheral interface (SPI), or mobile industry processor interface (MIPI))) between peripheral devices and a signal ( E.g. commands or data) can be exchanged with each other.
  • a communication method e.g., a bus, general purpose input and output (GPIO), serial peripheral interface (SPI), or mobile industry processor interface (MIPI)
  • GPIO general purpose input and output
  • SPI serial peripheral interface
  • MIPI mobile industry processor interface
  • commands or data may be transmitted or received between the electronic device 101 and the external electronic device 104 through the server 108 connected to the second network 199.
  • Each of the electronic devices 102 and 104 may be a device of the same or different type as the electronic device 101.
  • all or part of the operations executed by the electronic device 101 may be executed by one or more of the external electronic devices 102, 104, or 108.
  • the electronic device 101 needs to perform a function or service automatically or in response to a request from a user or another device, the electronic device 101
  • One or more external electronic devices receiving the request may execute at least a part of the requested function or service, or an additional function or service related to the request, and transmit a result of the execution to the electronic device 101.
  • the electronic device 101 may process the result as it is or additionally and provide it as at least a part of a response to the request.
  • cloud computing distributed computing, or client-server computing technology may be used.
  • the electronic device may be a device of various types.
  • the electronic device may include, for example, a portable communication device (eg, a smartphone), a computer device, a portable multimedia device, a portable medical device, a camera, a wearable device, or a home appliance.
  • a portable communication device eg, a smartphone
  • a computer device e.g., a laptop, a desktop, a tablet, or a smart phone
  • a portable multimedia device e.g., a portable medical device
  • a camera e.g., a camera
  • a wearable device e.g., a portable medical device
  • a home appliance e.g., a portable medical device, a portable medical device, a camera, a wearable device, or a home appliance.
  • the electronic device according to the embodiment of the present document is not limited to the above-described devices.
  • first, second, or first or second may be used simply to distinguish the component from other Order) is not limited.
  • Some (eg, first) component is referred to as “coupled” or “connected” to another (eg, second) component, with or without the terms “functionally” or “communicatively”.
  • module used in this document may include a unit implemented in hardware, software, or firmware, and may be used interchangeably with terms such as logic, logic blocks, parts, or circuits.
  • the module may be an integrally configured component or a minimum unit of the component or a part thereof that performs one or more functions.
  • the module may be implemented in the form of an application-specific integrated circuit (ASIC).
  • ASIC application-specific integrated circuit
  • An embodiment of the present document is one or more commands stored in a storage medium (eg, internal memory 136 or external memory 138) that can be read by a machine (eg, electronic device 101). It may be implemented as software (for example, the program 140) including them.
  • the processor eg, the processor 120 of the device (eg, the electronic device 101) may call and execute at least one command among one or more commands stored from a storage medium. This enables the device to be operated to perform at least one function according to the at least one command invoked.
  • the one or more instructions may include code generated by a compiler or code executable by an interpreter.
  • a storage medium that can be read by a device may be provided in the form of a non-transitory storage medium.
  • non-transitory only means that the storage medium is a tangible device and does not contain a signal (e.g., electromagnetic waves), and this term refers to the case where data is semi-permanently stored in the storage medium. It does not distinguish between temporary storage cases.
  • a signal e.g., electromagnetic waves
  • a method according to an embodiment disclosed in this document may be provided by being included in a computer program product.
  • Computer program products can be traded between sellers and buyers as commodities.
  • the computer program product is distributed in the form of a device-readable storage medium (e.g. compact disc read only memory (CD-ROM)), or through an application store (e.g. Play Store TM ) or two user devices (e.g. It can be distributed (e.g., downloaded or uploaded) directly between, e.g. smartphones)
  • a device such as a server of a manufacturer, a server of an application store, or a memory of a relay server.
  • each component (eg, module or program) of the above-described components may include a singular number or a plurality of entities.
  • one or more components or operations among the above-described corresponding components may be omitted, or one or more other components or operations may be added.
  • a plurality of components eg, a module or program
  • the integrated component may perform one or more functions of each component of the plurality of components in the same or similar to that performed by the corresponding component among the plurality of components prior to the integration. .
  • operations performed by a module, program, or other component may be sequentially, parallel, repeatedly, or heuristically executed, or one or more of the above operations may be executed in a different order or omitted. , Or one or more other actions may be added.
  • the electronic device and its operating method may delay the timing of deterioration of the operation performance of the electronic device by delaying the throttling timing according to the temperature of the components of the electronic device.
  • the electronic device and its operation method can maintain the operation performance of the electronic device as high as possible by delaying the time point of deterioration of the operation performance of the electronic device.
  • 2A is a block diagram of an electronic device 201 according to an embodiment.
  • 2B is a block diagram of an electronic device 201 according to an exemplary embodiment.
  • the temperature sensor 220 and the component 230 may be implemented separately.
  • the temperature sensor 220 may be mounted inside the component 230.
  • the electronic device 201 may include at least one of a processor 210, a temperature sensor 220, or a component 230.
  • the processor 210 may include a temperature sensor 211 that measures the temperature of the processor 210.
  • the processor 210 may correspond to the processor 120 of FIG. 1.
  • the temperature sensor 211, the temperature sensor 220, or a combination thereof may be included in the sensor module 176 of FIG. 1.
  • the component 230 may be a component previously determined to require temperature management.
  • component 230 may refer to any component that may be damaged depending on temperature.
  • the component 230 includes a memory 130, an input device 150, an audio output device 155, a display device 160, an audio module 170, a sensor module 176 of FIG. 1, Interface 177, connection terminal 178, haptic module 179, camera module 180, power management module 188, battery 189, communication module 190, subscriber identification module 196, antenna module (197), or a combination thereof.
  • the component 230 may correspond to a housing (not shown) of the electronic device 210.
  • the temperature of the component 230 measured by the temperature sensor 220 represents the surface temperature of the electronic device 210. I can.
  • the processor 210 may measure the temperature of the processor 210 based on a temperature measurement value input from the temperature sensor 211. In an embodiment, the processor 210 may measure the temperature of the component 230 based on a temperature measurement value input from the temperature sensor 220 while measuring the temperature of the processor 210.
  • the processor 210 may perform a first temperature control on the processor 210 based on the temperature of the processor 210.
  • temperature control for the processor 210 may also be referred to as throttling.
  • the processor 210 may perform the first temperature control so that the temperature of the processor 210 is identified below an upper limit temperature guaranteed for the processor 210.
  • the upper guaranteed temperature for the processor 210 is the highest temperature in the temperature range in which the processor 210 is not damaged by the temperature of the processor 210 (eg, the guaranteed temperature range for the processor 210). Can respond to.
  • the processor 210 when the temperature of the processor 210 reaches the warranty upper limit temperature, so that the temperature of the processor 210 exists within the first temperature range according to the warranty upper limit temperature, the processor 210 ) Can be reduced by a predetermined degree. In one embodiment, the processor 210, even after reducing the operating performance of the processor 210 by a predetermined degree, if the temperature of the processor 210 exceeds the upper limit temperature of the first temperature range, the processor 210 The operating performance of the processor 210 may be further reduced by a predetermined degree so that the temperature exists within the first temperature range.
  • the processor 210 may compare the temperature of the processor 210 and the upper limit temperature of the first temperature range for each preset period to reduce the operating performance of the processor 210 by a preset degree. In an embodiment, a period in which the processor 210 reduces the operating performance of the processor 210 by a predetermined degree may be preset.
  • the upper limit temperature of the first temperature range may correspond to the upper limit temperature guaranteed.
  • the lower limit temperature of the first temperature range may correspond to a temperature lower than the guaranteed upper limit temperature by a control temperature (eg, 5 degrees Celsius (°C)).
  • the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing the maximum operating frequency of the processor 210. In an embodiment, the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing the maximum operating frequency of the processor 210 by a preset frequency. In an embodiment, the maximum operating frequency may be an upper limit value of an operating frequency set in a frequency range in which the processor 210 can operate. For example, if the frequency range in which the processor 210 can operate is 0 to 2 gigahertz (GHz), and the maximum operating frequency is 1.8 gigahertz (GHz), the processor 210 is 0 to 1.8 gigahertz (GHz). ) Can be operated at a frequency within.
  • GHz gigahertz
  • GHz gigahertz
  • GHz gigahertz
  • the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing a current value input from the processor 210 to the component 230. In an embodiment, the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing a current value input from the processor 210 to the component 230 by a preset current value.
  • the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing the maximum operating frequency of the processor 210 and simultaneously reducing a current value input to the component 230.
  • the processor 210 when the temperature of the processor 210 is less than the lower limit temperature of the first temperature range, the processor 210 so that the temperature of the processor 210 exists within the first temperature range.
  • the operating performance of can be increased by a predetermined degree. In one embodiment, the processor 210, even after increasing the operating performance of the processor 210 by a predetermined degree, if the temperature of the processor 210 is less than the lower limit temperature of the first temperature range, the processor 210 The operating performance of the processor 210 may be additionally increased by a predetermined degree so that the temperature exists within the first temperature range. In an embodiment, the processor 210 may compare the temperature of the processor 210 and the lower limit temperature of the first temperature range for each preset period to increase the operating performance of the processor 210 by a preset degree.
  • the processor 210 may increase the operating performance of the processor 210 by increasing the operating frequency of the processor 210. In an embodiment, the processor 210 may increase the operating performance of the processor 210 by increasing the maximum operating frequency of the processor 210 by a preset frequency.
  • the processor 210 may increase the operating performance of the processor 210 by increasing a current value input from the processor 210 to the component 230. In an embodiment, the processor 210 may increase the operating performance of the processor 210 by increasing a current value input from the processor 210 to the component 230 by a preset current value.
  • the processor 210 may increase the operating performance of the processor 210 by increasing the maximum operating frequency of the processor 210 and simultaneously increasing a current value input to the component 230.
  • the processor 210 based on the temperature of the processor 210, while performing the first temperature control, based on the temperature measurement value input from the temperature sensor 220, the component 230 You can measure the temperature.
  • the processor 210 may perform a second temperature control on the processor 210 based on the temperature of the component 230.
  • the processor 210 based on the temperature of the component 230, by controlling the temperature of the processor 210, the temperature of the component 230 is identified below the warranty upper limit temperature for the component 230 If possible, the second temperature control can be performed.
  • the upper warranty temperature for component 230 is the highest temperature in the temperature range in which component 230 is not damaged by the temperature of component 230 (e.g., the warranty temperature range for component 230). Can respond to.
  • the second temperature control may further limit the operating performance of the processor 210 than the first temperature control.
  • the processor 210 when the temperature of the component 230 exceeds the control reference temperature determined based on the component reference temperature of the component 230, the processor 210 performs a second temperature control on the processor 210 can do. In one embodiment, when the temperature of the component 230 exceeds the control reference temperature of the component 230 while performing the first temperature control on the processor 210, the processor 210 Second temperature control can be performed.
  • the control reference temperature determined based on the component reference temperature of the component 230 may be a temperature corresponding to a ratio (eg, 90%) set with respect to the warranty upper limit temperature of the component 230.
  • the ratio set with respect to the component reference temperature of the component 230 may be determined as a rise rate corresponding to the rise rate (°C/sec) of the temperature of the component 230 with respect to time.
  • the component reference temperature of the component 230 may correspond to the highest temperature (eg, the warranty upper limit temperature) in a temperature range in which the component 230 is not damaged by the temperature of the component 230.
  • the second temperature control may be a control for identifying the temperature of the processor 210 within a second temperature range according to the reference temperature of the component 230.
  • the second temperature range may be lower than the first temperature range.
  • the upper limit temperature of the second temperature range may correspond to a temperature corresponding to a preset ratio of the component reference temperature of the component 230.
  • the lower limit temperature of the second temperature range may correspond to a temperature lower than the upper limit temperature of the second temperature range by a control temperature (eg, 2 degrees Celsius (°C)).
  • the control temperature may correspond to 2 degrees (°C).
  • the lower limit temperature of the second temperature range may be 59 degrees (°C).
  • the processor 210 while performing the second temperature control, when the temperature of the processor 210 exceeds the upper limit temperature of the second temperature range, the temperature of the processor 210 is the second temperature range
  • the operating performance of the processor 210 may be reduced by a predetermined degree.
  • the processor 210 even after reducing the operating performance of the processor 210 by a predetermined degree, if the temperature of the processor 210 exceeds the upper limit temperature of the second temperature range, the processor 210 The operating performance of the processor 210 may be further reduced by a predetermined degree so that the temperature exists within the second temperature range.
  • the processor 210 may compare the temperature of the processor 210 and the upper limit temperature of the second temperature range for each preset period to reduce the operating performance of the processor 210 by a preset degree. In an embodiment, a period in which the processor 210 reduces the operating performance of the processor 210 by a predetermined degree may be preset.
  • the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing the maximum operating frequency of the processor 210. In an embodiment, the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing the maximum operating frequency of the processor 210 by a preset frequency.
  • the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing a current value input from the processor 210 to the component 230. In an embodiment, the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing a current value input from the processor 210 to the component 230 by a preset current value.
  • the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing the maximum operating frequency of the processor 210 and simultaneously reducing a current value input to the component 230.
  • the processor 210 while performing the second temperature control, when the temperature of the processor 210 is less than the lower limit temperature of the second temperature range, the temperature of the processor 210 is the second temperature range To exist within, the operating performance of the processor 210 may be increased by a predetermined degree. In one embodiment, the processor 210, even after increasing the operating performance of the processor 210 by a predetermined degree, if the temperature of the component processor 210 is less than the lower limit temperature of the second temperature range, the processor 210 The operating performance of the processor 210 may be additionally increased by a preset degree so that the temperature of is within the second temperature range. In an embodiment, the processor 210 may compare the temperature of the processor 210 and the lower limit of the second temperature range for each preset period to increase the operating performance of the processor 210 by a preset degree.
  • the processor 210 may increase the operating performance of the processor 210 by increasing the maximum operating frequency of the processor 210. In an embodiment, the processor 210 may increase the operating performance of the processor 210 by increasing the maximum operating frequency of the processor 210 by a preset frequency.
  • the processor 210 may increase the operating performance of the processor 210 by increasing a current value input from the processor 210 to the component 230. In an embodiment, the processor 210 may increase the operating performance of the processor 210 by increasing a current value input from the processor 210 to the component 230 by a preset current value.
  • the processor 210 when the processor 210 switches from the first temperature control to the second temperature control, the processor 210 continues until the temperature of the processor 210 decreases from the first temperature range to the second temperature range. 210) can reduce the operation performance.
  • FIG. 3 is a flowchart illustrating an operation of an electronic device (eg, the electronic device 201 of FIG. 2) according to an exemplary embodiment.
  • 4A is a graph illustrating a change in a maximum operating frequency of a processor (eg, the processor 210 of FIG. 2A or 2B) of the electronic device 201, according to an exemplary embodiment.
  • 4B is a graph illustrating a temperature change of the processor 210 of the electronic device 201 according to an exemplary embodiment.
  • 4C is a graph showing a temperature change of a component (eg, component 230) of the electronic device 201 according to an exemplary embodiment.
  • the operation of FIG. 3 may be described with reference to the electronic device 201 of FIG. 2A or 2B.
  • the graphs of FIGS. 4A to 4C may be described with reference to the electronic device 201 of FIG. 2A or 2B.
  • the processor of the electronic device 201 may measure the first temperature of the processor 210 and the second temperature of the component 230. have.
  • the processor 210 determines the first temperature of the processor 210 based on a temperature measurement value input from a temperature sensor for the processor 210 (eg, the temperature sensor 211 of FIG. 2 ). Can be measured.
  • the processor 210 determines the second temperature of the component 230 based on a temperature measurement value input from a temperature sensor for the component 230 (eg, the temperature sensor 220 of FIG. 2 ). Can be measured.
  • the second temperature may rise steadily.
  • the maximum operating frequency of the processor 210 in the first period may be 2 gigahertz (GHz).
  • the temperature increase rate (°C/sec) of the processor 210 may be higher than the temperature increase rate (°C/sec) of the component 230.
  • the processor 210 may determine whether the first temperature of the processor 210 has reached the first reference temperature.
  • the first reference temperature may be a temperature at which the processor 210 is not damaged by the temperature of the processor 210 (eg, a guaranteed temperature for the processor 210).
  • the processor 210 may perform operation 330. In an embodiment, if it is determined that the first temperature of the processor 210 has not reached the first reference temperature ('No'), the processor 210 may perform operation 310.
  • a first temperature of the processor 210 may reach a first reference temperature.
  • the processor 210 may perform first throttling on the processor 210.
  • the first throttling for the processor 210 is an operation of adjusting the performance of the processor 210 so that the first temperature of the processor 210 is within a first temperature range according to the first reference temperature. I can.
  • the upper limit of the first temperature range may correspond to the first reference temperature.
  • the lower limit of the first temperature range may correspond to a temperature lower than the first reference temperature by the reference performance control range.
  • the processor 210 when the temperature of the processor 210 exceeds the upper limit of the first temperature range, by reducing the maximum operating frequency of the processor 210, the first throttle for the processor 210 Ring can be performed. In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 exceeds the upper limit of the first temperature range, by limiting the current value input from the processor 210 to the component 230, the processor 210 ) Can be performed first throttling. In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 exceeds the upper limit of the first temperature range, reduces the maximum operating frequency of the processor 210, and at the same time the current input to the component 230 By limiting the value, first throttling for the processor 210 may be performed.
  • the processor 210 when the temperature of the processor 210 is less than the lower limit of the first temperature range, by reducing the maximum operating frequency of the processor 210, the first throttle for the processor 210 Ring can be performed. In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 is less than the lower limit of the first temperature range, by limiting the current value input from the processor 210 to the component 230, the processor 210 ) Can be performed first throttling. In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 is less than the lower limit of the first temperature range, reduces the maximum operating frequency of the processor 210, and at the same time the current input to the component 230 By limiting the value, first throttling for the processor 210 may be performed.
  • the first temperature of the processor 210 is within a first temperature range according to the first reference temperature.
  • the processor 210 may perform the first throttling.
  • the maximum operating frequency of the processor 210 may decrease compared to before the first throttling.
  • the maximum operating frequency of the processor 210 in the second section may be lower than the maximum operating frequency of the processor 210 in the first section.
  • the maximum operating frequency of the processor 210 in the second period may be 1.8 gigahertz (GHz).
  • a first temperature of the processor 210 may exist in a first temperature range according to a first reference temperature.
  • the second temperature of the component 230 may be steadily increased.
  • the temperature increase rate of the component 230 may be lower than the temperature increase rate before the first time point.
  • the processor 210 may determine whether the second temperature of the component 230 has reached the control reference temperature.
  • the control reference temperature may correspond to a temperature corresponding to a preset ratio (eg, 90%) of the component reference temperature (eg, the warranty upper limit temperature) of the component 230.
  • the processor 210 may perform operation 360. In an embodiment, if it is determined that the second temperature of the component 230 has not reached the control reference temperature ('No'), the processor 210 may perform operation 340.
  • the second temperature of the component 230 may reach a control reference temperature.
  • the processor 210 may perform second throttling on the processor 210.
  • the second throttling for the processor 210 is an operation of adjusting the performance of the processor 210 so that the first temperature of the processor 210 is within a second temperature range according to the second reference temperature.
  • the upper limit of the second temperature range may correspond to the second reference temperature.
  • the lower limit of the second temperature range may correspond to a temperature lower than the second reference temperature by the reference performance control range.
  • the second reference temperature may be lower than the first reference temperature.
  • the processor 210 when the temperature of the processor 210 exceeds the upper limit of the second temperature range, by reducing the maximum operating frequency of the processor 210, the second throttle for the processor 210 Ring can be performed. In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 exceeds the upper limit of the second temperature range, by limiting the current value input from the processor 210 to the component 230, the processor 210 ) May perform second throttling. In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 exceeds the upper limit of the second temperature range, reduces the maximum operating frequency of the processor 210, and at the same time the current input to the component 230 By limiting the value, second throttling for the processor 210 may be performed.
  • the processor 210 when the temperature of the processor 210 is less than the lower limit of the second temperature range, by reducing the maximum operating frequency of the processor 210, the second throttle for the processor 210 Ring can be performed. In an embodiment, when the temperature of the processor 210 is less than the lower limit of the second temperature range, the processor 210 limits a current value input from the processor 210 to the component 230 ) May perform second throttling. In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 is less than the lower limit of the second temperature range, reduces the maximum operating frequency of the processor 210, and at the same time the current input to the component 230 By limiting the value, second throttling for the processor 210 may be performed.
  • the processor 210 may perform the second throttling. 4A and 4B, in the third section, since the first temperature of the processor 210 exceeds the upper limit of the second temperature range, the operation of reducing the maximum operating frequency of the processor 210 is continuously performed. Can be. Accordingly, the maximum operating frequency of the processor 210 in the third section may be lower than the maximum operating frequency of the processor 210 in the second section. In an embodiment, the maximum operating frequency of the processor 210 in the third period may be 1.5 gigahertz (GHz).
  • the second temperature of the component 230 may be steadily increased.
  • the temperature increase rate of the component 230 may be lower than the temperature increase rate before the second time point.
  • the processor 210 performs a second throttling so that the first temperature of the processor 210 is in a range corresponding to the second reference temperature. You can do it.
  • the operation of increasing the maximum operating frequency of may be performed alternately. Accordingly, the maximum operating frequency of the processor 210 in the fourth section may be equal to or lower than the maximum operating frequency of the processor 210 in the third section.
  • the second temperature of the component 230 may exist in a range corresponding to the first component reference temperature.
  • FIG. 5A and 5B are block diagrams of an electronic device 501 according to an exemplary embodiment.
  • the electronic device 501 of FIG. 5A compared to the electronic device 501 of FIG. 5B, at least one temperature sensor 521, 523, 525 and at least one component 531, 533, 535 are separately implemented. There may be.
  • each of the at least one temperature sensor 521, 523, and 525 is located inside each of the at least one component 531, 533, and 535. It may be implemented.
  • the electronic device 501 includes a processor 510, at least one temperature sensor 521, 523, 525, or at least one component 531, 533, 535. ) Can be included.
  • a temperature sensor 511 that measures the temperature of the processor 510 may be included.
  • the processor 510 may correspond to the processor 120 of FIG. 1.
  • the temperature sensor 511, at least one temperature sensor 521, 523, 525, or a combination thereof may be included in the sensor module 176 of FIG. 1.
  • the at least one component 531, 533, 535 may refer to an arbitrary component that may be damaged according to temperature.
  • the at least one component 531, 533, 535 is the memory 130, the input device 150, the sound output device 155, the display device 160, and the audio module 170 of FIG. 1. , Sensor module 176, interface 177, connection terminal 178, haptic module 179, camera module 180, power management module 188, battery 189, communication module 190, subscriber identification It may correspond to the module 196, the antenna module 197, or a combination thereof. In an embodiment, at least one of the components 531, 533, and 535 may correspond to the housing of the electronic device 510.
  • At least one component 531, 533, 535 when at least one component 531, 533, 535 is the housing of the electronic device 510, at least one component 531, 533 measured by the at least one temperature sensor 521, 523, 525 The temperature of, 535 may represent the surface temperature of the electronic device 510. In an embodiment, at least one of the components 531, 533, and 535 may refer to different components.
  • the processor 510 may measure the temperature of the processor 510 based on a temperature measurement value input from the temperature sensor 511. In one embodiment, the processor 510, while measuring the temperature of the processor 510, based on a temperature measurement value input from the at least one temperature sensor 521, 523, 525, at least one component 531 , 533, 535) can be measured.
  • the processor 510 may perform a first temperature control on the processor 510 based on the temperature of the processor 510.
  • temperature control of the processor 510 may also be referred to as throttling.
  • the processor 510 may perform the first temperature control so that the temperature of the processor 510 is identified below the upper limit temperature guaranteed for the processor 510.
  • the upper guaranteed temperature for the processor 510 is the highest temperature in the temperature range in which the processor 510 is not damaged by the temperature of the processor 510 (eg, the guaranteed temperature range for the processor 510). Can respond to.
  • the processor 510 based on the temperature of the processor 510, while performing the first temperature control, based on a temperature measurement value input from the temperature sensors 521, 523, and 525 , It is possible to measure the temperature of the components 531, 533, and 535.
  • the processor 510 may perform second temperature control on the processor 510 based on the temperatures of the components 531, 533, and 535.
  • the processor 510 controls the temperature of the processor 510 based on the temperature of the components 531, 533, and 535, thereby controlling the temperature of each of the components 531, 533, and 535.
  • the second temperature control may be performed so that the components 531, 533, and 535 are identified below the guaranteed temperature.
  • the second temperature control may further limit the operating performance of the processor 510 than the first temperature control.
  • the processor 510 controls the temperature of at least one component (eg, component 531) among the components 531, 533, and 535 is determined based on the component reference temperature of the component. When the reference temperature is exceeded, the second temperature control for the processor 510 may be performed.
  • the processor 510 applies a weight for the temperature of each of the parts 531, 533, and 535, and based on the temperature to which the weight of each of the parts 531, 533, and 535 is applied.
  • Second temperature control for the processor 510 may be performed.
  • the processor 510 is based on the degree of affecting the temperature of a predetermined component (eg, a housing) among the components 531, 533, and 535, the components 531, 533, and 535 ) Weight for each temperature can be applied.
  • the degree of influence on the temperature of a predetermined component is the temperature of any of the components 531, 533, and 535 (eg, component 531), and/or the temperature It can be proportional to the correlation between the rate of rise and the temperature of a predetermined part (eg housing), and/or the rate of temperature rise.
  • the processor 510 may perform the second temperature control even before reaching the control reference temperature of an arbitrary component by applying a weight to the temperature of each of the components 531, 533, and 535. .
  • control reference temperature may be set for each of the components 531, 533, and 535.
  • control reference temperature for each of the parts 531, 533, and 535 corresponds to a ratio (eg, 90%) set for the reference temperature of each part of the parts 531, 533, and 535. It can be temperature.
  • the ratio set for the reference temperature of each part of the parts 531, 533, and 535 corresponds to the rate of increase over time (°C/sec) of the temperature of each of the parts 531, 533, and 535 It can be determined by the rate of increase.
  • the second temperature control is a second temperature range according to the reference temperature of a component (for example, component 531) whose temperature exceeds a control reference temperature among components 531, 533, and 535. It may be a control for identifying the temperature of the processor 510 within.
  • the second temperature range may be set with respect to a component reference temperature of each of the components 531, 533, and 535. In an embodiment, when two or more of the parts 531, 533, and 535 have a temperature exceeding the control reference temperature, the second temperature range is Temperature control can be performed. In an embodiment, the second temperature range may be lower than the first temperature range.
  • the processor 510 when the temperature of the component 531 exceeds the control reference temperature determined based on the component reference temperature of the component 531, the processor 510 is based on the second temperature range according to the component 531.
  • the second temperature control for the processor 510 may be performed.
  • the temperature of the component 533 is the component 533 If the control reference temperature determined based on the component reference temperature of is exceeded, based on a second temperature range having a lower temperature range among the second temperature range according to the component 531 and the second temperature range according to the component 533 Second temperature control for the processor 510 may be performed.
  • FIG. 6 is a flowchart illustrating an operation of an electronic device (eg, the electronic device 501 of FIGS. 5A and 5B) according to an exemplary embodiment.
  • 7A is a graph illustrating a change in a maximum operating frequency of a processor (eg, the processor 510 of FIGS. 5A and 5B) of the electronic device 501 according to an exemplary embodiment.
  • 7B is a graph illustrating a temperature change of the processor 510 of the electronic device 501 according to an exemplary embodiment.
  • 7C is a graph showing a temperature change of a component 531 of the electronic device 501 according to an exemplary embodiment.
  • 7D is a graph showing a temperature change of a component 533 of the electronic device 501 according to an exemplary embodiment.
  • 7E is a graph showing a temperature change of a component 535 of the electronic device 501 according to an exemplary embodiment.
  • the processor of the electronic device 501 for example, the processor 510 of FIGS. 5A and 5B ), the first temperature and the components 531 and 533 of the processor 510, and 535)
  • Each second temperature can be measured.
  • the processor 510 is based on a temperature measurement value input from a temperature sensor for the processor 510 (eg, the temperature sensor 511 of FIGS. 5A and 5B ).
  • the first temperature can be measured.
  • the processor 210, the temperature measurement value input from the temperature sensor for each of the components 531, 533, and 535 (for example, the temperature sensors 521, 523, 525 of FIG. 5) Based on this, the second temperature of each of the components 531, 533, and 535 may be measured.
  • the maximum operating frequency of the processor 510 in the first period may be 2 gigahertz (GHz).
  • the temperature increase rate (°C/sec) of the processor 510 may be higher than the temperature increase rate (°C/sec) of each of the components 531, 533, and 535.
  • the processor 510 may determine whether the first temperature of the processor 510 has reached the first reference temperature.
  • the first reference temperature may be a temperature at which the processor 510 is not damaged by the temperature of the processor 510 (eg, a guaranteed temperature for the processor 510 ).
  • the processor 510 may perform operation 630. In an embodiment, if it is determined that the first temperature of the processor 510 has not reached the first reference temperature ('No'), the processor 510 may perform operation 610.
  • a first temperature of the processor 510 may reach a first reference temperature.
  • the processor 510 may perform first throttling on the processor 510.
  • the first throttling for the processor 510 is an operation of adjusting the performance of the processor 510 so that the first temperature of the processor 510 is within a first temperature range according to the first reference temperature. I can.
  • the upper limit of the first temperature range may correspond to the first reference temperature.
  • the lower limit of the first temperature range may correspond to a temperature lower than the first reference temperature by the reference performance control range.
  • the first temperature of the processor 510 is within a first temperature range according to the first reference temperature.
  • the processor 510 may perform the first throttling.
  • the maximum operating frequency of the processor 510 may decrease compared to before performing the first throttling.
  • the maximum operating frequency of the processor 510 in the second section may be lower than the maximum operating frequency of the processor 510 in the first section.
  • the maximum operating frequency of the processor 510 in the second period may be 1.8 gigahertz (GHz).
  • a first temperature of the processor 510 may exist in a first temperature range according to a first reference temperature.
  • 7C to 7E, in the second section the second temperature of each of the components 531, 533, and 535 may steadily increase.
  • 7C to 7E, in the second section the temperature increase rate of each of the components 531, 533, and 535 may be lower than the temperature increase rate before the first time point.
  • the processor 510 may identify a second temperature that has reached the control reference temperature of each of the corresponding components 531, 533, and 535 among the second temperatures.
  • the control reference temperature of each of the parts 531, 533, and 535 is a temperature corresponding to a preset ratio (eg, 90%) of the reference temperature of each of the parts 531, 533, and 535 Can respond to.
  • a second temperature of the component 531 among the components 531, 533, and 535 may reach the control reference temperature.
  • the processor 510 may perform second throttling on the processor 510.
  • the second throttling for the processor 510 is an operation of adjusting the performance of the processor 510 so that the first temperature of the processor 510 is within a second temperature range according to the second reference temperature. I can.
  • the processor 510 may perform second throttling. 7A and 7B, in the third section, since the first temperature of the processor 510 exceeds the upper limit of the second temperature range, the operation of reducing the maximum operating frequency of the processor 510 is continuously performed. Can be. Accordingly, the maximum operating frequency of the processor 510 in the third section may be lower than the maximum operating frequency of the processor 510 in the second section. In an embodiment, the maximum operating frequency of the processor 510 in the third period may be 1.5 gigahertz (GHz).
  • the second temperature of each of the components 531, 533, and 535 may steadily increase.
  • the temperature increase rate of each of the components 531, 533, and 535 may be lower than the temperature increase rate before the second time point.
  • the first temperature of the processor 510 is the second temperature according to the reference temperature of the part 531.
  • the processor 510 may perform second throttling to exist in a range corresponding to the reference temperature. 7A and 7B, in the fourth section, the operation of reducing the maximum operating frequency of the processor 510 and the processor 510 so that the first temperature of the processor 510 exists within the second temperature range.
  • the operation of increasing the maximum operating frequency of may be performed alternately. Accordingly, the maximum operating frequency of the processor 510 in the fourth section may be equal to or lower than the maximum operating frequency of the processor 510 in the fourth section.
  • the second temperature of the component 533 among the components 531, 533, and 535 may reach the control reference temperature.
  • the first temperature of the processor 510 is the second temperature according to the component reference temperature of the component 531.
  • the processor 510 may perform the second throttling to exist in a lower temperature range among the range corresponding to the reference temperature and the range corresponding to the third reference temperature according to the component reference temperature of the component 533.
  • 7A and 7B, in the fifth section an operation of reducing the maximum operating frequency of the processor 510 so that the first temperature of the processor 510 exists within a temperature range according to the third reference temperature, and The operation of increasing the maximum operating frequency of the processor 510 may be alternately performed. Accordingly, the maximum operating frequency of the processor 510 in the sixth section may be equal to or lower than the maximum operating frequency of the processor 510 in the fifth section.
  • the electronic device (eg, the electronic device 201 of FIG. 2 ), and an operation method thereof, include a processor (eg, the processor 210 of FIG. 2 ), which is a component (eg, the electronic device 201 of FIG. 2 ).
  • a processor eg, the processor 210 of FIG. 2
  • the timing of deterioration of the operating performance of the processor 210 may be delayed.
  • the electronic device for example, the electronic device 201 of FIG. 2 and its operation method according to an exemplary embodiment delay the deterioration of the operation performance of the processor 210, thereby performing the operation of the processor 210. You can keep the performance as high as possible.
  • Example 1 of the present disclosure includes a processor, a first temperature sensor that measures the temperature of the processor, a second temperature sensor that measures the temperature of each of a plurality of components of the electronic device, and a memory operatively connected to the processor.
  • the memory may be an electronic device having a characteristic including instructions executed by the processor.
  • the processor of the electronic device of the example of the present disclosure may have a characteristic of measuring the temperature of the processor through the first temperature sensor.
  • the processor of the electronic device may change the maximum operating frequency of the processor based on the first reference temperature.
  • the processor of the electronic device of the exemplary embodiment of the present disclosure may have a characteristic of measuring the temperature of at least one of the plurality of parts through the second temperature sensor.
  • the processor of the electronic device of the exemplary embodiment of the present disclosure changes the maximum operating frequency of the processor based on a third reference temperature lower than the first reference temperature. It can have a characteristic.
  • the processor of the electronic device of the example of the present disclosure may have a characteristic of determining the first reference temperature based on an upper temperature limit value of the processor.
  • the processor of the electronic device of the example of the present disclosure may have a feature of determining the second reference temperature based on an upper temperature limit value of the at least one component.
  • the processor of the electronic device of the example of the present disclosure may have a characteristic of determining the third reference temperature based on an upper temperature limit value of the at least one component.
  • the processor of the electronic device of the exemplary embodiment of the present disclosure when the temperature of the processor reaches a first temperature upper limit value corresponding to the first reference temperature, of the processor It may have a characteristic of lowering the maximum operating frequency by a specified frequency.
  • the processor of the electronic device may have a characteristic of increasing the maximum operating frequency of the processor by a specified frequency when the temperature of the processor reaches a first lower limit temperature corresponding to the first reference temperature.
  • the processor of the electronic device of the exemplary embodiment of the present disclosure when the temperature of the processor reaches a second temperature upper limit value corresponding to the third reference temperature, It may have a characteristic of lowering the maximum operating frequency of the processor by a specified frequency.
  • the processor of the electronic device may increase the maximum operating frequency of the processor by a specified frequency when the temperature of the processor reaches a second lower temperature limit corresponding to the third reference temperature.
  • At least one component of the electronic device of the example of the present disclosure may have a feature of a display, a battery, or a combination thereof.
  • the processor of the electronic device of the exemplary embodiment of the present disclosure measures the temperature of at least one activated component among the plurality of components through the second temperature sensor, and the temperature of the at least one activated component is a second reference temperature. May have a feature that identifies reaching
  • the processor of the electronic device may have a feature of identifying components of the at least one component whose temperature reaches a second reference temperature of each of the at least one component.
  • the processor of the electronic device of the exemplary embodiment of the present disclosure identifies the lowest second reference temperature among the second reference temperatures of each of the identified components, and the processor based on a third reference temperature corresponding to the identified second reference temperature. It may have a feature of changing the maximum operating frequency of.
  • the processor of the electronic device of the example of the present disclosure may have a feature that the first temperature sensor is integrally configured with the processor.
  • the electronic device 801 of FIG. 8 is a block diagram of an electronic device 801 according to an embodiment.
  • the electronic device 801 of FIG. 8 may correspond to the electronic device 101 of FIG. 1.
  • the electronic device 801 of FIG. 8 may correspond to the electronic device 201 of FIG. 2A or 2B.
  • the electronic device 801 of FIG. 8 may correspond to the electronic device 501 of FIG. 5A or 5B.
  • the electronic device 801 may include a control unit 810, a temperature measurement unit 820, a component 830, or a combination thereof.
  • the controller 810 may correspond to the processor 120 of FIG. 1.
  • the controller 810 of FIG. 8 may correspond to the processor 210 of FIG. 2A or 2B.
  • the controller 810 of FIG. 8 may correspond to the processor 510 of FIG. 5A or 5B.
  • the temperature measuring unit 820 may be included in the sensor module 176 of FIG. 1.
  • the temperature measuring unit 820 of FIG. 8 may correspond to the temperature sensor 220 of FIG. 2A or 2B.
  • the temperature measuring unit 820 of FIG. 8 may correspond to the temperature sensor 520 of FIG. 5A or 5B.
  • the component 830 includes the memory 130, the input device 150, the sound output device 155, the display device 160, the audio module 170, the sensor module 176 of FIG. 1, Interface 177, connection terminal 178, haptic module 179, camera module 180, power management module 188, battery 189, communication module 190, subscriber identification module 196, antenna module (197), or a combination thereof.
  • the component 830 may correspond to a housing (not shown) of the electronic device 210.
  • the component 830 may correspond to the component 230 of FIG. 2A or 2B. In one embodiment, the component 830 may correspond to the component 230 of FIG. 2A or 2B. In an embodiment, the component 830 may correspond to the components 531, 533, and 535 of FIG. 5A or 5B, respectively.
  • FIG. 9 is a flowchart illustrating an operation according to whether an electronic device (eg, the electronic device 201 of FIG. 2) slides according to an exemplary embodiment.
  • 10 is a diagram illustrating a change in distance between components according to whether an electronic device (eg, the electronic device 201 of FIG. 2) slides according to an embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 9 may be described with reference to the electronic device 201 of FIG. 2A or 2B.
  • the processor of the electronic device 201 may measure the first temperature of the processor 210 and the second temperature of the component 230. have.
  • the processor 210 determines the first temperature of the processor 210 based on a temperature measurement value input from a temperature sensor for the processor 210 (eg, the temperature sensor 211 of FIG. 2 ). Can be measured.
  • the processor 210 determines the second temperature of the component 230 based on a temperature measurement value input from a temperature sensor for the component 230 (eg, the temperature sensor 220 of FIG. 2 ). Can be measured.
  • the processor 210 can be measured.
  • the processor 210 determines the second temperature of the component 230 based on a temperature measurement value input from a temperature sensor for the component 230 (eg, the temperature sensor 220 of FIG. 2 ). Can be measured.
  • the processor 210 may determine whether the first temperature of the processor 210 has reached the first reference temperature.
  • the first reference temperature may be a temperature at which the processor 210 is not damaged by the temperature of the processor 210 (eg, a guaranteed temperature for the processor 210).
  • the processor 210 may perform operation 930. In an embodiment, if it is determined that the first temperature of the processor 210 has not reached the first reference temperature (“No”), the processor 210 may perform operation 910.
  • the processor 210 may perform first throttling on the processor 210.
  • operation 930 may correspond to operation 320 of FIG. 3.
  • the processor 210 may determine whether the electronic device 201 slides.
  • the processor 210 is in a non-sliding state 1010 (eg, slide close) and a sliding state 1030 (eg, slide open) of the electronic device 201. ), one of the states can be determined.
  • the sliding state 1030 may be referred to as an extended state.
  • the non-sliding state 1010 may be referred to as an unextended state.
  • the processor 210 may perform operation 950. In an embodiment, if it is determined that the state of the electronic device 201 is the non-sliding state 1010 (“No”), the processor 210 may perform operation 960.
  • the processor 210 may identify the first temperature correction value.
  • the first temperature correction value may be a correction value for correcting the second temperature of the component 230.
  • the first temperature correction value may be a predetermined value based on the first distance L1 between the processor 210 and the component 230.
  • the processor 210 may identify a second temperature correction value.
  • the second temperature correction value may be a correction value for correcting the second temperature of the component 230.
  • the second temperature correction value may be a predetermined value based on the second distance L2 between the processor 210 and the component 230.
  • the first temperature correction value and the second temperature correction value may be positive correction values. In an embodiment, the first temperature correction value may be larger than the second temperature correction value. In an embodiment, as the distance between the processor 210 and the component 230 decreases, the temperature correction value may increase. However, in another embodiment, as the distance between the processor 210 and the component 230 decreases, the temperature correction value may decrease. Also, the first temperature correction value may be a value smaller than the second temperature correction value.
  • the processor 210 may determine whether the corrected second temperature of the component 230 has reached the control reference temperature. In an embodiment, the processor 210 may determine whether the corrected second temperature has reached the control reference temperature based on the first temperature correction value of the component 230. In an embodiment, the processor 210 may determine whether the corrected second temperature has reached the control reference temperature based on the second temperature correction value of the component 230.
  • the processor 210 may perform operation 980. In an embodiment, if it is determined that the corrected second temperature of the component 230 has not reached the control reference temperature (“No”), the processor 210 may perform operation 970.
  • the processor 210 may perform second throttling on the processor 210.
  • operation 980 may correspond to operation 360 of FIG. 3.
  • the electronic device (eg, the electronic device 201 of FIG. 2 ), and an operation method thereof, include a processor (eg, the processor 210 of FIG. 2 ), which is a component (eg, the electronic device 201 of FIG. 2 ).
  • a processor eg, the processor 210 of FIG. 2
  • the timing of deterioration of the operating performance of the processor 210 may be delayed.
  • the electronic device for example, the electronic device 201 of FIG. 2 and its operation method according to an exemplary embodiment delay the deterioration of the operation performance of the processor 210, thereby performing the operation of the processor 210. You can keep the performance as high as possible.
  • An example of the present disclosure provides an electronic device including a component, a temperature measuring unit, and a control unit.
  • a temperature measuring unit eg, a temperature sensor of an electronic device according to an example of the present disclosure may measure the temperature of each of a plurality of components of the electronic device.
  • the controller In response to the temperature of the controller measured by the temperature measuring unit reaching a first reference temperature, the controller (eg, processor) of the electronic device according to the exemplary embodiment of the present disclosure operates the controller based on the first reference temperature.
  • the frequency can be changed to the first operating frequency.
  • the controller In response to the temperature of the at least one component reaching a third reference temperature while operating at the same frequency changed based on the first reference temperature, based on a third reference temperature lower than the first reference temperature, the The operating frequency of the control unit may be changed to the second operating frequency.
  • Components of an electronic device include a memory, an input device, an audio output device, a display device, an audio module, a sensor module, an interface, a connection terminal, a haptic module, a camera module, a power management module, a battery, a communication module, It may be a subscriber identification module, an antenna module, or a combination thereof.
  • a computer-readable storage medium storing one or more programs (software modules) may be provided.
  • One or more programs stored in a computer-readable storage medium are configured to be executable by one or more processors in an electronic device (device).
  • the one or more programs include instructions that cause the electronic device to execute methods according to embodiments described in the claims or specification of the present disclosure.
  • These programs include random access memory, non-volatile memory including flash memory, read only memory (ROM), and electrically erasable programmable ROM.
  • EEPROM electrically erasable programmable read only memory
  • magnetic disc storage device compact disc-ROM (CD-ROM), digital versatile discs (DVDs), or other types of It may be stored in an optical storage device or a magnetic cassette. Alternatively, it may be stored in a memory composed of a combination of some or all of them. In addition, a plurality of configuration memories may be included.
  • the program is a communication network such as the Internet, an intranet, a local area network (LAN), a wide LAN (WLAN), or a storage area network (SAN), or a communication network composed of a combination thereof. It may be stored in an accessible storage device. Such a storage device may access a device performing an embodiment of the present disclosure through an external port. In addition, a separate storage device on the communication network may access a device performing an embodiment of the present disclosure.
  • LAN local area network
  • WLAN wide LAN
  • SAN storage area network
  • Examples described in this disclosure include non-limiting example implementations of components corresponding to one or more features specified by the appended independent claims, and these features (or Their corresponding components), individually or in combination, may contribute to improving one or more technical problems that may be inferred by a person skilled in the art from the present disclosure.
  • Additional example implementations include one or more components taken jointly and individually, in any and all permutations, of any herein described implementation. It can be realized by doing. Still other example implementations may also be realized by combining one or more features of the appended claims with selected one or more elements of any of the example implementations described in this disclosure.
  • any example implementation described in this disclosure may be omitted.
  • One or more components that may be omitted are components that a person skilled in the art would directly and clearly understand as not so essential to the function of the present technology in light of a technical problem discernible from the present disclosure.
  • a person skilled in the art does not need to modify other components or features of the further alternative example to compensate for the change, even if such omitted components are replaced or removed.
  • further example implementations may be included within the present disclosure, in accordance with the present technology, although a selected combination of features and/or components thereof is not specifically mentioned.
  • Two or more physically separate components of any described example implementation described in this disclosure may alternatively be integrated into a single component, if their integration is possible, and in a single component so formed. If the same function is performed by means of, the integration is possible. Conversely, a single component of any example implementation described in this disclosure may, alternatively, be implemented as two or more separate components that achieve the same functionality, where appropriate.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Power Sources (AREA)

Abstract

According to an embodiment, an electronic device comprises: a processor; a first temperature sensor for measuring the temperature of the processor; a second temperature sensor for measuring the temperature of each of a plurality of components of the electronic device; and a memory operatively connected to the processor. The memory can store instructions which, when executed, enable the processor to measure the temperature of the processor by means of the first temperature sensor, change an operating frequency of the processor on the basis of a first reference temperature in response to the temperature of the processor reaching the first reference temperature, measure the temperature of at least one component among the plurality of components by means of the second temperature sensor, and change the operating frequency of the processor on the basis of a third reference temperature lower than the first reference temperature in response to the temperature of at least one component reaching a second reference temperature.

Description

온도 제어를 수행하는 전자 장치 및 방법Electronic device and method for performing temperature control
본 개시는 온도 제어를 수행하는 전자 장치 및 방법에 관한 것이다.The present disclosure relates to an electronic device and method for performing temperature control.
전자 장치는 전자 장치의 부품(예: 프로세서)의 온도에 기반하여 전자 장치의 성능을 제한하는 스로틀링을 수행할 수 있다. 이러한 전자 장치는 스로틀링을 수행함으로써 전자 장치의 부품의 온도가 보증 온도 이내로 제어될 수 있다. 이러한 전자 장치가 스로틀링을 수행함에 따라 전자 장치의 성능이 제한될 수 있다.The electronic device may perform throttling to limit the performance of the electronic device based on the temperature of a component (eg, a processor) of the electronic device. In such an electronic device, the temperature of a component of the electronic device may be controlled within a guaranteed temperature by performing throttling. As such an electronic device performs throttling, the performance of the electronic device may be limited.
전자 장치(electronic device)는 프로세서의 보증 온도가 다른 부품의 보증 온도, 및/또는 전자 장치의 표면(예: 하우징)의 온도보다 높을 수 있다. 이러한 전자 장치가 프로세서의 온도에 기반하여 스로틀링을 수행하는 경우, 부품의 온도가 부품의 보증 온도에 도달하기 전에 스로틀링을 수행할 수 있다. 따라서, 전자 장치의 성능이 부품의 온도가 부품의 보증 온도에 도달하기 이전에 하락할 수 있다. 따라서, 스로틀링을 수행하는 시점을 최대한 지연시킴으로써, 전자 장치의 동작 성능을 최대한 높게 유지하는 방안이 요구될 수 있다.In an electronic device, the guaranteed temperature of the processor may be higher than the guaranteed temperature of other components and/or the temperature of the surface of the electronic device (eg, a housing). When such an electronic device performs throttling based on the temperature of the processor, throttling may be performed before the temperature of the component reaches the guaranteed temperature of the component. Accordingly, the performance of the electronic device may decrease before the temperature of the component reaches the guaranteed temperature of the component. Accordingly, there may be a need for a method of maintaining the operation performance of the electronic device as high as possible by delaying the timing at which throttling is performed as much as possible.
본 개시는 적어도 위에서 설명된 단점을 해결하고, 적어도 아래 설명된 장점을 제공하기 위해 작성되었다.This disclosure has been written to address at least the disadvantages described above, and to provide at least the advantages described below.
본 개시의 일 실시예에 따르면 전자 장치가 제공된다. 전자 장치는 전자 장치의 다수의 부품들 각각의 온도를 측정하도록 구성된 온도 측정부 및 제1 기준 온도에 기초하여 변경하도록 구성된 제어부를 포함한다. 상기 제어부는, 상기 온도 측정부를 통해 측정된 상기 제어부의 온도가 상기 제1 기준 온도에 도달하여 상기 제1 기준 온도보다 낮은 제3 기준 온도를 기준으로 변화하는 경우, 상기 제어부의 동작 주파수를 제1 주파수로 설정한다. 상기 제어부가 상기 제1 동작 주파수에서 동작하는 동안 상기 다수의 부품들 중 적어도 하나의 부품의 온도가 제2 기준 온도에 도달할 때, 상기 제어부의 동작 주파수를 제2 동작 주파수로 설정한다.According to an embodiment of the present disclosure, an electronic device is provided. The electronic device includes a temperature measuring unit configured to measure a temperature of each of a plurality of components of the electronic device and a control unit configured to change based on a first reference temperature. When the temperature of the control unit measured through the temperature measuring unit reaches the first reference temperature and changes based on a third reference temperature lower than the first reference temperature, the control unit sets the operating frequency of the control unit to a first Set by frequency. When the temperature of at least one of the plurality of components reaches a second reference temperature while the control unit is operating at the first operating frequency, the operating frequency of the control unit is set as the second operating frequency.
본 개시의 일 실시예에 따르면 전자 장치의 동작 방법이 제공된다.According to an embodiment of the present disclosure, a method of operating an electronic device is provided.
상기 방법은 전자 장치의 제 1 온도 센서를 통해 전자 장치의 프로세서의 온도를 측정하고, 제 1 기준 온도에 기초하여 상기 프로세서의 온도가 도달하면 상기 프로세서의 동작 주파수를 제 1 작동 주파수로 변경하는 단계를 포함한다. 상기 제 1 기준 온도는, 전자 장치의 제 2 온도 센서를 통해 전자 장치의 다수의 부품들 중 적어도 하나의 부품의 온도를 측정하고, 제 1 기준 온도보다 낮은 제 3 기준 온도를 기준으로 상기 프로세서의 동작 주파수를 변경한다. 적어도 하나의 부품의 온도가 제 2 기준 온도에 도달할 때 상기 프로세서를 제 2 작동 주파수로 설정한다.The method includes measuring a temperature of a processor of the electronic device through a first temperature sensor of the electronic device, and changing an operating frequency of the processor to a first operating frequency when the temperature of the processor reaches the first reference temperature. Includes. The first reference temperature is measured by measuring the temperature of at least one of a plurality of components of the electronic device through a second temperature sensor of the electronic device, and based on a third reference temperature lower than the first reference temperature of the processor. Change the operating frequency. When the temperature of at least one component reaches a second reference temperature, the processor is set to a second operating frequency.
본 발명의 다양한 각각의 측면들 및 특징들은 첨부된 청구항들에서 정의된다. 종속 청구항들의 특징들의 조합들(combinations)은, 단지 청구항들에서 명시적으로 제시되는 것뿐만 아니라, 독립항들의 특징들과 적절하게 조합될 수 있다.Each of the various aspects and features of the invention are defined in the appended claims. Combinations of features of the dependent claims may be suitably combined with features of the independent claims, as well as only those explicitly presented in the claims.
또한, 본 개시에서 기술된 임의의 하나의 실시 예(any one embodiment) 중 선택된 하나 이상의 특징들은 본 개시에서 기술된 임의의 다른 실시 예 중 선택된 하나 이상의 특징들과 조합될 수 있으며, 이러한 특징들의 대안적인 조합이 본 개시에서 논의된 하나 이상의 기술적 문제를 적어도 부분적으로 경감시키거나, 본 개시로부터 통상의 기술자에 의해 식별될 수 있는(discernable) 기술적 문제를 적어도 부분적으로 경감시키고, 나아가 실시 예의 특징들(embodiment features)의 이렇게 형성된 특정한 조합(combination) 또는 순열(permutation)이 통상의 기술자에 의해 양립 불가능한(incompatible) 것으로 이해되지만 않는다면, 그 조합은 가능하다.In addition, one or more features selected from any one embodiment described in the present disclosure may be combined with one or more features selected from any other embodiment described in the present disclosure, and alternatives to these features. A combination of at least partially alleviates one or more technical problems discussed in the present disclosure, or at least partly alleviates technical problems discernable by a person skilled in the art from the present disclosure, and furthermore, features of the embodiments ( Combinations are possible, provided that the particular combination or permutation thus formed of embodiment features is not understood to be incompatible by one of ordinary skill in the art.
본 개시에 기술된 임의의 예시 구현(any described example implementation)에 있어서 둘 이상의 물리적으로 별개의 구성 요소들은 대안적으로, 그 통합이 가능하다면 단일 구성 요소로 통합될 수도 있으며, 그렇게 형성된 단일한 구성 요소에 의해 동일한 기능이 수행된다면, 그 통합은 가능하다. 반대로, 본 개시에 기술된 임의의 실시 예(any embodiment)의 단일한 구성 요소는 대안적으로, 적절한 경우, 동일한 기능을 달성하는 둘 이상의 별개의 구성 요소들로 구현될 수도 있다.In any described example implementation described in the present disclosure, two or more physically separate components may alternatively be integrated into a single component if the integration is possible, and a single component formed as such. If the same function is performed by means of, the integration is possible. Conversely, a single component of any embodiment described in the present disclosure may alternatively be implemented as two or more separate components that achieve the same function, as appropriate.
본 발명의 특정 실시 예들(certain embodiments)의 목적은 종래 기술과 관련된 문제점 및/또는 단점들 중 적어도 하나를, 적어도 부분적으로, 해결, 완화 또는 제거하는 것에 있다. 특정 실시 예들(certain embodiments)은 후술하는 장점들 중 적어도 하나를 제공하는 것을 목적으로 한다.It is an object of certain embodiments of the present invention to solve, alleviate or eliminate, at least in part, at least one of the problems and/or disadvantages associated with the prior art. Certain embodiments aim to provide at least one of the advantages described below.
일 실시 예에 따른 전자 장치 및 이의 동작 방법은 프로세서가 전자 장치의 부품의 온도에 기반하여 스로틀링하는 시점을 최대한 늦춤으로써 전자 장치의 동작 성능 하락 시점을 지연시킬 수 있다.According to an embodiment of the present disclosure, the electronic device and its operating method may delay the timing of deterioration of the operating performance of the electronic device by delaying the timing at which the processor performs throttling based on the temperature of the electronic device as much as possible.
일 실시 예에 따른 전자 장치 및 이의 동작 방법은 전자 장치의 동작 성능 하락 시점을 지연시킴으로써 전자 장치의 동작 성능을 최대한 높게 유지할 수 있다.According to an embodiment of the present disclosure, the electronic device and its operating method can maintain the operating performance of the electronic device as high as possible by delaying a time point when the operating performance of the electronic device deteriorates.
본 개시에서 얻을 수 있는 효과는 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The effects obtainable in the present disclosure are not limited to the effects mentioned above, and other effects not mentioned may be clearly understood by those of ordinary skill in the technical field to which the present disclosure belongs from the following description. will be.
본 개시 내용의 특정 실시예의 및 다른 측면, 특징 및 이점은 첨부된 도면과 함께 다음의 상세한 설명으로부터 더 명백해질 것이다.Certain embodiments and other aspects, features, and advantages of the present disclosure will become more apparent from the following detailed description in conjunction with the accompanying drawings.
도 1은, 일 실시 예에 따른 네트워크 환경 내의 전자 장치의 블럭도이다.1 is a block diagram of an electronic device in a network environment according to an exemplary embodiment.
도 2a는, 일 실시 예에 따른 전자 장치의 블럭도이다.2A is a block diagram of an electronic device according to an exemplary embodiment.
도 2b는, 일 실시 예에 따른 전자 장치의 블럭도이다.2B is a block diagram of an electronic device according to an exemplary embodiment.
도 3은, 일 실시 예에 따른 전자 장치의 동작을 나타내는 흐름도이다.3 is a flowchart illustrating an operation of an electronic device according to an exemplary embodiment.
도 4a는, 일 실시 예에 따른 전자 장치의 프로세서의 동작 주파수 변화를 나타내는 그래프이다.4A is a graph illustrating a change in operating frequency of a processor of an electronic device according to an exemplary embodiment.
도 4b는, 일 실시 예에 따른 전자 장치의 프로세서의 온도 변화를 나타내는 그래프이다.4B is a graph illustrating a temperature change of a processor of an electronic device according to an exemplary embodiment.
도 4c는, 일 실시 예에 따른 전자 장치의 부품의 온도 변화를 나타내는 그래프이다.4C is a graph showing changes in temperature of a component of an electronic device according to an exemplary embodiment.
도 5a는, 일 실시 예에 따른 전자 장치의 블럭도이다.5A is a block diagram of an electronic device according to an exemplary embodiment.
도 5b는, 일 실시 예에 따른 전자 장치의 블럭도이다.5B is a block diagram of an electronic device according to an exemplary embodiment.
도 6은, 일 실시 예에 따른 전자 장치의 동작을 나타내는 흐름도이다.6 is a flowchart illustrating an operation of an electronic device according to an exemplary embodiment.
도 7a는, 일 실시 예에 따른 전자 장치의 프로세서의 동작 주파수 변화를 나타내는 그래프이다.7A is a graph illustrating a change in operating frequency of a processor of an electronic device according to an exemplary embodiment.
도 7b는, 일 실시 예에 따른 전자 장치의 프로세서의 온도 변화를 나타내는 그래프이다.7B is a graph illustrating a temperature change of a processor of an electronic device according to an exemplary embodiment.
도 7c는, 일 실시 예에 따른 전자 장치의 부품의 온도 변화를 나타내는 그래프이다.7C is a graph showing a temperature change of a component of an electronic device according to an exemplary embodiment.
도 7d는, 일 실시 예에 따른 전자 장치의 부품의 온도 변화를 나타내는 그래프이다.7D is a graph illustrating temperature changes of components of an electronic device according to an exemplary embodiment.
도 7e는, 일 실시 예에 따른 전자 장치의 부품의 온도 변화를 나타내는 그래프이다.7E is a graph illustrating temperature changes of components of an electronic device according to an exemplary embodiment.
도 8은, 일 실시 예에 따른 전자 장치의 블록도이다.8 is a block diagram of an electronic device according to an embodiment.
도 9는 본 개시의 일 실시 예에 따른 전자 장치의 슬라이딩 여부에 따른 동작을 나타내는 흐름도이다.9 is a flowchart illustrating an operation according to whether an electronic device slides according to an embodiment of the present disclosure.
도 10은 본 개시의 일 실시 예에 따른 전자 장치의 슬라이딩 여부에 따른 부품들 간의 거리 변화를 예시하는 도면이다.10 is a diagram illustrating a change in distance between components according to whether an electronic device slides according to an embodiment of the present disclosure.
도 1은, 일 실시 예에 따른, 전자 장치(101)의 블록도이다. 일실시예에 따르면, 전자 장치(101)는 프로세서(120), 메모리(130), 입력 장치(150), 음향 출력 장치(155), 표시 장치(160), 오디오 모듈(170), 센서 모듈(176), 인터페이스(177), 햅틱 모듈(179), 카메라 모듈(180), 전력 관리 모듈(188), 배터리(189), 통신 모듈(190), 가입자 식별 모듈(196), 또는 안테나 모듈(197)을 포함할 수 있다. 어떤 실시예에서는, 전자 장치(101)에는, 이 구성요소들 중 적어도 하나(예: 표시 장치(160) 또는 카메라 모듈(180))가 생략되거나, 하나 이상의 다른 구성 요소가 추가될 수 있다. 어떤 실시예에서는, 이 구성요소들 중 일부들은 하나의 통합된 회로로 구현될 수 있다. 예를 들면, 센서 모듈(176)(예: 지문 센서, 홍채 센서, 또는 조도 센서)은 표시 장치(160)(예: 디스플레이)에 임베디드된 채 구현될 수 있다1 is a block diagram of an electronic device 101 according to an exemplary embodiment. According to an embodiment, the electronic device 101 includes a processor 120, a memory 130, an input device 150, an audio output device 155, a display device 160, an audio module 170, and a sensor module ( 176, interface 177, haptic module 179, camera module 180, power management module 188, battery 189, communication module 190, subscriber identification module 196, or antenna module 197 ) Can be included. In some embodiments, at least one of these components (eg, the display device 160 or the camera module 180) may be omitted or one or more other components may be added to the electronic device 101. In some embodiments, some of these components may be implemented as one integrated circuit. For example, the sensor module 176 (eg, a fingerprint sensor, an iris sensor, or an illuminance sensor) may be implemented while being embedded in the display device 160 (eg, a display).
프로세서(120)는, 예를 들면, 소프트웨어(예: 프로그램(140))를 실행하여 프로세서(120)에 연결된 전자 장치(101)의 적어도 하나의 다른 구성요소(예: 하드웨어 또는 소프트웨어 구성요소)을 제어할 수 있고, 다양한 데이터 처리 또는 연산을 수행할 수 있다. 일실시예에 따르면, 데이터 처리 또는 연산의 적어도 일부로서, 프로세서(120)는 다른 구성요소(예: 센서 모듈(176) 또는 통신 모듈(190))로부터 수신된 명령 또는 데이터를 휘발성 메모리(132)에 로드하고, 휘발성 메모리(132)에 저장된 명령 또는 데이터를 처리하고, 결과 데이터를 비휘발성 메모리(134)에 저장할 수 있다. 일실시예에 따르면, 프로세서(120)는 메인 프로세서(121)(예: 중앙 처리 장치 또는 어플리케이션 프로세서), 및 이와는 독립적으로 또는 함께 운영 가능한 보조 프로세서(123)(예: 그래픽 처리 장치, 이미지 시그널 프로세서, 센서 허브 프로세서, 또는 커뮤니케이션 프로세서)를 포함할 수 있다. 추가적으로 또는 대체적으로, 보조 프로세서(123)은 메인 프로세서(121)보다 저전력을 사용하거나, 또는 지정된 기능에 특화되도록 설정될 수 있다. 보조 프로세서(123)는 메인 프로세서(121)와 별개로, 또는 그 일부로서 구현될 수 있다.The processor 120, for example, executes software (eg, a program 140) to implement at least one other component (eg, a hardware or software component) of the electronic device 101 connected to the processor 120. It can be controlled and can perform various data processing or operations. According to an embodiment, as at least a part of data processing or operation, the processor 120 may transfer commands or data received from other components (eg, the sensor module 176 or the communication module 190) to the volatile memory 132. It is loaded into, processes commands or data stored in the volatile memory 132, and the result data may be stored in the nonvolatile memory 134. According to an embodiment, the processor 120 includes a main processor 121 (eg, a central processing unit or an application processor), and a secondary processor 123 (eg, a graphic processing unit, an image signal processor) that can be operated independently or together. , A sensor hub processor, or a communication processor). Additionally or alternatively, the coprocessor 123 may be set to use less power than the main processor 121 or to be specialized for a designated function. The secondary processor 123 may be implemented separately from the main processor 121 or as a part thereof.
프로세서(120)는, 프로세서(120)의 온도, 프로세서(120)에 연결된 전자 장치(101)의 적어도 하나의 다른 하드웨어 구성요소의 온도, 또는 이들의 조합에 기초하여 온도 제어(예: 스로틀링)를 수행할 수 있다.The processor 120 controls temperature based on the temperature of the processor 120, the temperature of at least one other hardware component of the electronic device 101 connected to the processor 120, or a combination thereof. You can do it.
보조 프로세서(123)는, 예를 들면, 메인 프로세서(121)가 인액티브(예: 슬립) 상태에 있는 동안 메인 프로세서(121)를 대신하여, 또는 메인 프로세서(121)가 액티브(예: 어플리케이션 실행) 상태에 있는 동안 메인 프로세서(121)와 함께, 전자 장치(101)의 구성요소들 중 적어도 하나의 구성요소(예: 표시 장치(160), 센서 모듈(176), 또는 통신 모듈(190))와 관련된 기능 또는 상태들의 적어도 일부를 제어할 수 있다. 일실시예에 따르면, 보조 프로세서(123)(예: 이미지 시그널 프로세서 또는 커뮤니케이션 프로세서)는 기능적으로 관련 있는 다른 구성 요소(예: 카메라 모듈(180) 또는 통신 모듈(190))의 일부로서 구현될 수 있다.The co-processor 123 is, for example, in place of the main processor 121 while the main processor 121 is in an inactive (eg, sleep) state, or the main processor 121 is active (eg, executing an application). ) While in the state, together with the main processor 121, at least one of the components of the electronic device 101 (for example, the display device 160, the sensor module 176, or the communication module 190) It is possible to control at least some of the functions or states associated with it. According to an embodiment, the coprocessor 123 (eg, an image signal processor or a communication processor) may be implemented as a part of other functionally related components (eg, the camera module 180 or the communication module 190). have.
메모리(130)는, 전자 장치(101)의 적어도 하나의 구성요소(예: 프로세서(120) 또는 센서 모듈(176))에 의해 사용되는 다양한 데이터를 저장할 수 있다. 데이터는, 예를 들어, 소프트웨어(예: 프로그램(140)) 및, 이와 관련된 명령에 대한 입력 데이터 또는 출력 데이터를 포함할 수 있다. 메모리(130)는, 휘발성 메모리(132) 또는 비휘발성 메모리(134)를 포함할 수 있다.The memory 130 may store various types of data used by at least one component of the electronic device 101 (eg, the processor 120 or the sensor module 176 ). The data may include, for example, software (eg, the program 140) and input data or output data for commands related thereto. The memory 130 may include a volatile memory 132 or a nonvolatile memory 134.
프로그램(140)은 메모리(130)에 소프트웨어로서 저장될 수 있으며, 예를 들면, 운영 체제(142), 미들웨어(144) 또는 어플리케이션(146)을 포함할 수 있다. The program 140 may be stored as software in the memory 130, and may include, for example, an operating system 142, middleware 144, or an application 146.
입력 장치(150)는, 전자 장치(101)의 구성요소(예: 프로세서(120))에 사용될 명령 또는 데이터를 전자 장치(101)의 외부(예: 사용자)로부터 수신할 수 있다. 입력 장치(150)는, 예를 들면, 마이크, 마우스, 키보드, 또는 디지털 펜(예: 스타일러스 펜)을 포함할 수 있다.The input device 150 may receive a command or data to be used for a component of the electronic device 101 (eg, the processor 120) from outside (eg, a user) of the electronic device 101. The input device 150 may include, for example, a microphone, a mouse, a keyboard, or a digital pen (eg, a stylus pen).
음향 출력 장치(155)는 음향 신호를 전자 장치(101)의 외부로 출력할 수 있다. 음향 출력 장치(155)는, 예를 들면, 스피커 또는 리시버를 포함할 수 있다. 스피커는 멀티미디어 재생 또는 녹음 재생과 같이 일반적인 용도로 사용될 수 있고, 리시버는 착신 전화를 수신하기 위해 사용될 수 있다. 일실시예에 따르면, 리시버는 스피커와 별개로, 또는 그 일부로서 구현될 수 있다.The sound output device 155 may output an sound signal to the outside of the electronic device 101. The sound output device 155 may include, for example, a speaker or a receiver. The speaker can be used for general purposes such as multimedia playback or recording playback, and the receiver can be used to receive incoming calls. According to one embodiment, the receiver may be implemented separately from the speaker or as part of the speaker.
표시 장치(160)는 전자 장치(101)의 외부(예: 사용자)로 정보를 시각적으로 제공할 수 있다. 표시 장치(160)는, 예를 들면, 디스플레이, 홀로그램 장치, 또는 프로젝터 및 해당 장치를 제어하기 위한 제어 회로를 포함할 수 있다. 일실시예에 따르면, 표시 장치(160)는 터치를 감지하도록 설정된 터치 회로(touch circuitry), 또는 상기 터치에 의해 발생되는 힘의 세기를 측정하도록 설정된 센서 회로(예: 압력 센서)를 포함할 수 있다.The display device 160 may visually provide information to the outside of the electronic device 101 (eg, a user). The display device 160 may include, for example, a display, a hologram device, or a projector and a control circuit for controlling the device. According to an embodiment, the display device 160 may include a touch circuitry set to sense a touch, or a sensor circuit (eg, a pressure sensor) set to measure the strength of a force generated by the touch. have.
오디오 모듈(170)은 소리를 전기 신호로 변환시키거나, 반대로 전기 신호를 소리로 변환시킬 수 있다. 일실시예에 따르면, 오디오 모듈(170)은, 입력 장치(150)를 통해 소리를 획득하거나, 음향 출력 장치(155), 또는 전자 장치(101)와 직접 또는 무선으로 연결된 외부 전자 장치(예: 전자 장치(102)) (예: 스피커 또는 헤드폰))를 통해 소리를 출력할 수 있다.The audio module 170 may convert sound into an electrical signal, or conversely, may convert an electrical signal into sound. According to an embodiment, the audio module 170 acquires sound through the input device 150, the sound output device 155, or an external electronic device (eg: Sound can be output through the electronic device 102) (for example, a speaker or headphones).
센서 모듈(176)은 전자 장치(101)의 작동 상태(예: 전력 또는 온도), 또는 외부의 환경 상태(예: 사용자 상태)를 감지하고, 감지된 상태에 대응하는 전기 신호 또는 데이터 값을 생성할 수 있다. 일실시예에 따르면, 센서 모듈(176)은, 예를 들면, 제스처 센서, 자이로 센서, 기압 센서, 마그네틱 센서, 가속도 센서, 그립 센서, 근접 센서, 컬러 센서, IR(infrared) 센서, 생체 센서, 온도 센서, 습도 센서, 또는 조도 센서를 포함할 수 있다.The sensor module 176 detects an operating state (eg, power or temperature) of the electronic device 101, or an external environmental state (eg, a user state), and generates an electrical signal or data value corresponding to the detected state. can do. According to an embodiment, the sensor module 176 is, for example, a gesture sensor, a gyro sensor, an atmospheric pressure sensor, a magnetic sensor, an acceleration sensor, a grip sensor, a proximity sensor, a color sensor, an infrared (IR) sensor, a biometric sensor, It may include a temperature sensor, a humidity sensor, or an illuminance sensor.
인터페이스(177)는 전자 장치(101)이 외부 전자 장치(예: 전자 장치(102))와 직접 또는 무선으로 연결되기 위해 사용될 수 있는 하나 이상의 지정된 프로토콜들을 지원할 수 있다. 일실시예에 따르면, 인터페이스(177)는, 예를 들면, HDMI(high definition multimedia interface), USB(universal serial bus) 인터페이스, SD카드 인터페이스, 또는 오디오 인터페이스를 포함할 수 있다.The interface 177 may support one or more specified protocols that may be used for the electronic device 101 to connect directly or wirelessly with an external electronic device (eg, the electronic device 102 ). According to an embodiment, the interface 177 may include, for example, a high definition multimedia interface (HDMI), a universal serial bus (USB) interface, an SD card interface, or an audio interface.
연결 단자(178)는, 그를 통해서 전자 장치(101)가 외부 전자 장치(예: 전자 장치(102))와 물리적으로 연결될 수 있는 커넥터를 포함할 수 있다. 일실시예에 따르면, 연결 단자(178)는, 예를 들면, HDMI 커넥터, USB 커넥터, SD 카드 커넥터, 또는 오디오 커넥터(예: 헤드폰 커넥터)를 포함할 수 있다.The connection terminal 178 may include a connector through which the electronic device 101 can be physically connected to an external electronic device (eg, the electronic device 102). According to an embodiment, the connection terminal 178 may include, for example, an HDMI connector, a USB connector, an SD card connector, or an audio connector (eg, a headphone connector).
햅틱 모듈(179)은 전기적 신호를 사용자가 촉각 또는 운동 감각을 통해서 인지할 수 있는 기계적인 자극(예: 진동 또는 움직임) 또는 전기적인 자극으로 변환할 수 있다. 일실시예에 따르면, 햅틱 모듈(179)은, 예를 들면, 모터, 압전 소자, 또는 전기 자극 장치를 포함할 수 있다.The haptic module 179 may convert an electrical signal into a mechanical stimulus (eg, vibration or movement) or an electrical stimulus that a user can perceive through tactile or motor sensations. According to an embodiment, the haptic module 179 may include, for example, a motor, a piezoelectric element, or an electrical stimulation device.
카메라 모듈(180)은 정지 영상 및 동영상을 촬영할 수 있다. 일실시예에 따르면, 카메라 모듈(180)은 하나 이상의 렌즈들, 이미지 센서들, 이미지 시그널 프로세서들, 또는 플래시들을 포함할 수 있다.The camera module 180 may capture a still image and a video. According to an embodiment, the camera module 180 may include one or more lenses, image sensors, image signal processors, or flashes.
전력 관리 모듈(188)은 전자 장치(101)에 공급되는 전력을 관리할 수 있다. 일실시예에 따르면, 전력 관리 모듈(388)은, 예를 들면, PMIC(power management integrated circuit)의 적어도 일부로서 구현될 수 있다.The power management module 188 may manage power supplied to the electronic device 101. According to an embodiment, the power management module 388 may be implemented as at least a part of, for example, a power management integrated circuit (PMIC).
배터리(189)는 전자 장치(101)의 적어도 하나의 구성 요소에 전력을 공급할 수 있다. 일실시예에 따르면, 배터리(189)는, 예를 들면, 재충전 불가능한 1차 전지, 재충전 가능한 2차 전지 또는 연료 전지를 포함할 수 있다.The battery 189 may supply power to at least one component of the electronic device 101. According to an embodiment, the battery 189 may include, for example, a non-rechargeable primary cell, a rechargeable secondary cell, or a fuel cell.
통신 모듈(190)은 전자 장치(101)와 외부 전자 장치 간의 직접(예: 유선) 통신 채널 또는 무선 통신 채널의 수립, 및 수립된 통신 채널을 통한 통신 수행을 지원할 수 있다. 통신 모듈(190)은 프로세서(120)(예: 어플리케이션 프로세서)와 독립적으로 운영되고, 직접(예: 유선) 통신 또는 무선 통신을 지원하는 하나 이상의 커뮤니케이션 프로세서를 포함할 수 있다. 일실시예에 따르면, 통신 모듈(190)은 무선 통신 모듈(192)(예: 셀룰러 통신 모듈, 근거리 무선 통신 모듈, 또는 GNSS(global navigation satellite system) 통신 모듈) 또는 유선 통신 모듈(194)(예: LAN(local area network) 통신 모듈, 또는 전력선 통신 모듈)을 포함할 수 있다. 이들 통신 모듈 중 해당하는 통신 모듈은 제 1 네트워크(예: 블루투스, WiFi direct 또는 IrDA(infrared data association) 같은 근거리 통신 네트워크) 또는 제 2 네트워크(예: 셀룰러 네트워크, 인터넷, 또는 컴퓨터 네트워크(예: LAN 또는 WAN)와 같은 원거리 통신 네트워크)를 통하여 외부 전자 장치와 통신할 수 있다. 이런 여러 종류의 통신 모듈들은 하나의 구성 요소(예: 단일 칩)로 통합되거나, 또는 서로 별도의 복수의 구성 요소들(예: 복수 칩들)로 구현될 수 있다. 무선 통신 모듈(192)은 가입자 식별 모듈(196)에 저장된 가입자 정보(예: 국제 모바일 가입자 식별자(IMSI))를 이용하여 제 1 네트워크 또는 제 2 네트워크와 같은 통신 네트워크 내에서 전자 장치(101)를 확인 및 인증할 수 있다.The communication module 190 may support establishing a direct (eg, wired) communication channel or a wireless communication channel between the electronic device 101 and an external electronic device, and performing communication through the established communication channel. The communication module 190 operates independently of the processor 120 (eg, an application processor) and may include one or more communication processors supporting direct (eg, wired) communication or wireless communication. According to an embodiment, the communication module 190 is a wireless communication module 192 (eg, a cellular communication module, a short-range wireless communication module, or a global navigation satellite system (GNSS) communication module) or a wired communication module 194 (eg : A local area network (LAN) communication module, or a power line communication module) may be included. Among these communication modules, the corresponding communication module is a first network (for example, a short-range communication network such as Bluetooth, WiFi direct or IrDA (infrared data association)) or a second network (for example, a cellular network, the Internet, or a computer network (for example, LAN) Alternatively, it may communicate with an external electronic device through a long-distance communication network such as a WAN). These various types of communication modules may be integrated into one component (eg, a single chip), or may be implemented as a plurality of separate components (eg, multiple chips). The wireless communication module 192 uses subscriber information stored in the subscriber identification module 196 (eg, International Mobile Subscriber Identifier (IMSI)) to access the electronic device 101 within a communication network such as a first network or a second network. Can be verified and authenticated.
안테나 모듈(197)은 신호 또는 전력을 외부(예: 외부 전자 장치)로 송신하거나 외부로부터 수신할 수 있다. 일실시예에 따르면, 안테나 모듈은 서브스트레이트(예: PCB) 위에 형성된 도전체 또는 도전성 패턴으로 이루어진 방사체를 포함하는 하나의 안테나를 포함할 수 있다. 일실시예에 따르면, 안테나 모듈(197)은 복수의 안테나들을 포함할 수 있다. 이런 경우, 제 1 네트워크 또는 제 2 네트워크와 같은 통신 네트워크에서 사용되는 통신 방식에 적합한 적어도 하나의 안테나가, 예를 들면, 통신 모듈(190)에 의하여 상기 복수의 안테나들로부터 선택될 수 있다. 신호 또는 전력은 상기 선택된 적어도 하나의 안테나를 통하여 통신 모듈(190)과 외부 전자 장치 간에 송신되거나 수신될 수 있다. 어떤 실시예에 따르면, 방사체 이외에 다른 부품(예: RFIC)이 추가로 안테나 모듈(197)의 일부로 형성될 수 있다.The antenna module 197 may transmit a signal or power to the outside (eg, an external electronic device) or receive from the outside. According to an embodiment, the antenna module may include one antenna including a conductor formed on a substrate (eg, a PCB) or a radiator formed of a conductive pattern. According to an embodiment, the antenna module 197 may include a plurality of antennas. In this case, at least one antenna suitable for a communication method used in a communication network such as the first network or the second network may be selected from the plurality of antennas by, for example, the communication module 190. The signal or power may be transmitted or received between the communication module 190 and an external electronic device through the at least one selected antenna. According to some embodiments, other components (eg, RFIC) other than the radiator may be additionally formed as part of the antenna module 197.
상기 구성요소들 중 적어도 일부는 주변 기기들간 통신 방식(예: 버스, GPIO(general purpose input and output), SPI(serial peripheral interface), 또는 MIPI(mobile industry processor interface))를 통해 서로 연결되고 신호(예: 명령 또는 데이터)를 상호간에 교환할 수 있다.At least some of the components are connected to each other through a communication method (e.g., a bus, general purpose input and output (GPIO), serial peripheral interface (SPI), or mobile industry processor interface (MIPI))) between peripheral devices and a signal ( E.g. commands or data) can be exchanged with each other.
일실시예에 따르면, 명령 또는 데이터는 제 2 네트워크(199)에 연결된 서버(108)를 통해서 전자 장치(101)와 외부의 전자 장치(104) 간에 송신 또는 수신될 수 있다. 전자 장치(102, 104) 각각은 전자 장치(101)와 동일한 또는 다른 종류의 장치일 수 있다. 일실시예에 따르면, 전자 장치(101)에서 실행되는 동작들의 전부 또는 일부는 외부 전자 장치들(102, 104, or 108) 중 하나 이상의 외부 장치들에서 실행될 수 있다. 예를 들면, 전자 장치(101)가 어떤 기능이나 서비스를 자동으로, 또는 사용자 또는 다른 장치로부터의 요청에 반응하여 수행해야 할 경우에, 전자 장치(101)는 기능 또는 서비스를 자체적으로 실행시키는 대신에 또는 추가적으로, 하나 이상의 외부 전자 장치들에게 그 기능 또는 그 서비스의 적어도 일부를 수행하라고 요청할 수 있다. 상기 요청을 수신한 하나 이상의 외부 전자 장치들은 요청된 기능 또는 서비스의 적어도 일부, 또는 상기 요청과 관련된 추가 기능 또는 서비스를 실행하고, 그 실행의 결과를 전자 장치(101)로 전달할 수 있다. 전자 장치(101)는 상기 결과를, 그대로 또는 추가적으로 처리하여, 상기 요청에 대한 응답의 적어도 일부로서 제공할 수 있다. 이를 위하여, 예를 들면, 클라우드 컴퓨팅, 분산 컴퓨팅, 또는 클라이언트-서버 컴퓨팅 기술이 이용될 수 있다.According to an embodiment, commands or data may be transmitted or received between the electronic device 101 and the external electronic device 104 through the server 108 connected to the second network 199. Each of the electronic devices 102 and 104 may be a device of the same or different type as the electronic device 101. According to an embodiment, all or part of the operations executed by the electronic device 101 may be executed by one or more of the external electronic devices 102, 104, or 108. For example, when the electronic device 101 needs to perform a function or service automatically or in response to a request from a user or another device, the electronic device 101 In addition or in addition, it is possible to request one or more external electronic devices to perform the function or at least part of the service. One or more external electronic devices receiving the request may execute at least a part of the requested function or service, or an additional function or service related to the request, and transmit a result of the execution to the electronic device 101. The electronic device 101 may process the result as it is or additionally and provide it as at least a part of a response to the request. For this, for example, cloud computing, distributed computing, or client-server computing technology may be used.
본 문서에 개시된 일 실시 예에 따른 전자 장치는 다양한 형태의 장치가 될 수 있다. 전자 장치는, 예를 들면, 휴대용 통신 장치(예: 스마트폰), 컴퓨터 장치, 휴대용 멀티미디어 장치, 휴대용 의료 기기, 카메라, 웨어러블 장치, 또는 가전 장치를 포함할 수 있다. 본 문서의 실시예에 따른 전자 장치는 전술한 기기들에 한정되지 않는다.The electronic device according to the exemplary embodiment disclosed in this document may be a device of various types. The electronic device may include, for example, a portable communication device (eg, a smartphone), a computer device, a portable multimedia device, a portable medical device, a camera, a wearable device, or a home appliance. The electronic device according to the embodiment of the present document is not limited to the above-described devices.
본 문서의 일 실시 예 및 이에 사용된 용어들은 본 문서에 기재된 기술적 특징들을 특정한 실시예들로 한정하려는 것이 아니며, 해당 실시예의 다양한 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 또는 관련된 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다. 아이템에 대응하는 명사의 단수 형은 관련된 문맥상 명백하게 다르게 지시하지 않는 한, 상기 아이템 한 개 또는 복수 개를 포함할 수 있다. 본 문서에서, "A 또는 B", "A 및 B 중 적어도 하나",“또는 B 중 적어도 하나,”"A, B 또는 C," "A, B 및 C 중 적어도 하나,”및 “B, 또는 C 중 적어도 하나"와 같은 문구들 각각은 그 문구들 중 해당하는 문구에 함께 나열된 항목들 중 어느 하나, 또는 그들의 모든 가능한 조합을 포함할 수 있다. "제 1", "제 2", 또는 "첫째" 또는 "둘째"와 같은 용어들은 단순히 해당 구성요소를 다른 해당 구성요소와 구분하기 위해 사용될 수 있으며, 해당 구성요소들을 다른 측면(예: 중요성 또는 순서)에서 한정하지 않는다. 어떤(예: 제 1) 구성요소가 다른(예: 제 2) 구성요소에, “기능적으로” 또는 “통신적으로”라는 용어와 함께 또는 이런 용어 없이, “커플드” 또는 “커넥티드”라고 언급된 경우, 그것은 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로(예: 유선으로), 무선으로, 또는 제 3 구성요소를 통하여 연결될 수 있다는 것을 의미한다.An embodiment of this document and terms used therein are not intended to limit the technical features described in this document to specific embodiments, and should be understood to include various changes, equivalents, or substitutes for the corresponding embodiment. In connection with the description of the drawings, similar reference numerals may be used for similar or related components. The singular form of a noun corresponding to an item may include one or more of the above items unless clearly indicated otherwise in a related context. In this document, “A or B”, “at least one of A and B”, “or at least one of B,” “A, B or C,” “at least one of A, B and C,” and “B, Or each of the phrases such as "at least one of C" may include any one of the items listed together in the corresponding phrase among the phrases, or all possible combinations thereof. Terms such as "first", "second", or "first" or "second" may be used simply to distinguish the component from other Order) is not limited. Some (eg, first) component is referred to as “coupled” or “connected” to another (eg, second) component, with or without the terms “functionally” or “communicatively”. When mentioned, it means that any of the above components may be connected to the other components directly (eg by wire), wirelessly, or via a third component.
본 문서에서 사용된 용어 "모듈"은 하드웨어, 소프트웨어 또는 펌웨어로 구현된 유닛을 포함할 수 있으며, 예를 들면, 로직, 논리 블록, 부품, 또는 회로 등의 용어와 상호 호환적으로 사용될 수 있다. 모듈은, 일체로 구성된 부품 또는 하나 또는 그 이상의 기능을 수행하는, 상기 부품의 최소 단위 또는 그 일부가 될 수 있다. 예를 들면, 일실시예에 따르면, 모듈은 ASIC(application-specific integrated circuit)의 형태로 구현될 수 있다.The term "module" used in this document may include a unit implemented in hardware, software, or firmware, and may be used interchangeably with terms such as logic, logic blocks, parts, or circuits. The module may be an integrally configured component or a minimum unit of the component or a part thereof that performs one or more functions. For example, according to an embodiment, the module may be implemented in the form of an application-specific integrated circuit (ASIC).
본 문서의 일 실시 예는 기기(machine)(예: 전자 장치(101)) 의해 읽을 수 있는 저장 매체(storage medium)(예: 내장 메모리(136) 또는 외장 메모리(138))에 저장된 하나 이상의 명령어들을 포함하는 소프트웨어(예: 프로그램(140))로서 구현될 수 있다. 예를 들면, 기기(예: 전자 장치(101))의 프로세서(예: 프로세서(120))는, 저장 매체로부터 저장된 하나 이상의 명령어들 중 적어도 하나의 명령을 호출하고, 그것을 실행할 수 있다. 이것은 기기가 상기 호출된 적어도 하나의 명령어에 따라 적어도 하나의 기능을 수행하도록 운영되는 것을 가능하게 한다. 상기 하나 이상의 명령어들은 컴파일러에 의해 생성된 코드 또는 인터프리터에 의해 실행될 수 있는 코드를 포함할 수 있다. 기기로 읽을 수 있는 저장매체는, 비일시적(non-transitory) 저장매체의 형태로 제공될 수 있다. 여기서, '비일시적'은 저장매체가 실재(tangible)하는 장치이고, 신호(signal)(예: 전자기파)를 포함하지 않는다는 것을 의미할 뿐이며, 이 용어는 데이터가 저장매체에 반영구적으로 저장되는 경우와 임시적으로 저장되는 경우를 구분하지 않는다.An embodiment of the present document is one or more commands stored in a storage medium (eg, internal memory 136 or external memory 138) that can be read by a machine (eg, electronic device 101). It may be implemented as software (for example, the program 140) including them. For example, the processor (eg, the processor 120) of the device (eg, the electronic device 101) may call and execute at least one command among one or more commands stored from a storage medium. This enables the device to be operated to perform at least one function according to the at least one command invoked. The one or more instructions may include code generated by a compiler or code executable by an interpreter. A storage medium that can be read by a device may be provided in the form of a non-transitory storage medium. Here,'non-transitory' only means that the storage medium is a tangible device and does not contain a signal (e.g., electromagnetic waves), and this term refers to the case where data is semi-permanently stored in the storage medium. It does not distinguish between temporary storage cases.
일실시예에 따르면, 본 문서에 개시된 일 실시 예에 따른 방법은 컴퓨터 프로그램 제품(computer program product)에 포함되어 제공될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 상품으로서 판매자 및 구매자 간에 거래될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체(예: compact disc read only memory (CD-ROM))의 형태로 배포되거나, 또는 어플리케이션 스토어(예: 플레이 스토어TM)를 통해 또는 두개의 사용자 장치들(예: 스마트폰들) 간에 직접, 온라인으로 배포(예: 다운로드 또는 업로드)될 수 있다. 온라인 배포의 경우에, 컴퓨터 프로그램 제품의 적어도 일부는 제조사의 서버, 어플리케이션 스토어의 서버, 또는 중계 서버의 메모리와 같은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체에 적어도 일시 저장되거나, 임시적으로 생성될 수 있다.According to an embodiment, a method according to an embodiment disclosed in this document may be provided by being included in a computer program product. Computer program products can be traded between sellers and buyers as commodities. The computer program product is distributed in the form of a device-readable storage medium (e.g. compact disc read only memory (CD-ROM)), or through an application store (e.g. Play Store TM ) or two user devices (e.g. It can be distributed (e.g., downloaded or uploaded) directly between, e.g. smartphones) In the case of online distribution, at least a part of the computer program product may be temporarily stored or temporarily generated in a storage medium that can be read by a device such as a server of a manufacturer, a server of an application store, or a memory of a relay server.
일 실시 예에 따르면, 상기 기술한 구성요소들의 각각의 구성요소(예: 모듈 또는 프로그램)는 단수 또는 복수의 개체를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전술한 해당 구성요소들 중 하나 이상의 구성요소들 또는 동작들이 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 구성요소들 또는 동작들이 추가될 수 있다. 대체적으로 또는 추가적으로, 복수의 구성요소들(예: 모듈 또는 프로그램)은 하나의 구성요소로 통합될 수 있다. 이런 경우, 통합된 구성요소는 상기 복수의 구성요소들 각각의 구성요소의 하나 이상의 기능들을 상기 통합 이전에 상기 복수의 구성요소들 중 해당 구성요소에 의해 수행되는 것과 동일 또는 유사하게 수행할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 모듈, 프로그램 또는 다른 구성요소에 의해 수행되는 동작들은 순차적으로, 병렬적으로, 반복적으로, 또는 휴리스틱하게 실행되거나, 상기 동작들 중 하나 이상이 다른 순서로 실행되거나, 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 동작들이 추가될 수 있다.According to an embodiment, each component (eg, module or program) of the above-described components may include a singular number or a plurality of entities. According to an embodiment, one or more components or operations among the above-described corresponding components may be omitted, or one or more other components or operations may be added. Alternatively or additionally, a plurality of components (eg, a module or program) may be integrated into one component. In this case, the integrated component may perform one or more functions of each component of the plurality of components in the same or similar to that performed by the corresponding component among the plurality of components prior to the integration. . According to an embodiment, operations performed by a module, program, or other component may be sequentially, parallel, repeatedly, or heuristically executed, or one or more of the above operations may be executed in a different order or omitted. , Or one or more other actions may be added.
전자 장치 및 그 동작 방법은 전자 장치의 구성 요소의 온도에 따라 스로틀 링 시점을 지연시켜 전자 장치의 동작 성능 저하 시점을 지연시킬 수 있다.The electronic device and its operating method may delay the timing of deterioration of the operation performance of the electronic device by delaying the throttling timing according to the temperature of the components of the electronic device.
전자 장치 및 그 동작 방법은 전자 장치의 동작 성능 저하 시점을 지연시켜 전자 장치의 동작 성능을 최대한 높게 유지할 수 있다.The electronic device and its operation method can maintain the operation performance of the electronic device as high as possible by delaying the time point of deterioration of the operation performance of the electronic device.
도 2a는, 일 실시 예에 따른 전자 장치(201)의 블럭도이다. 도 2b는, 일 실시 예에 따른 전자 장치(201)의 블럭도이다. 도 2a의 전자 장치(201)는 도 2b의 전자 장치(201)와 비교하여, 온도 센서(220)와 부품(230)이 별개로 구현되어 있을 수 있다. 도 2b의 전자 장치(201)는 도 2a의 전자 장치(201)와 비교하여, 온도 센서(220)가 부품(230)의 내부에 실장되어 있을 수 있다.2A is a block diagram of an electronic device 201 according to an embodiment. 2B is a block diagram of an electronic device 201 according to an exemplary embodiment. In the electronic device 201 of FIG. 2A, compared to the electronic device 201 of FIG. 2B, the temperature sensor 220 and the component 230 may be implemented separately. In the electronic device 201 of FIG. 2B, compared to the electronic device 201 of FIG. 2A, the temperature sensor 220 may be mounted inside the component 230.
일 실시 예에서, 도 2a, 및 도 2b를 참조하면, 전자 장치(201)는 프로세서(210), 온도 센서(220), 또는 부품(230) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는 프로세서(210)의 온도를 측정하는 온도 센서(211)를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는 도 1의 프로세서(120)에 대응할 수 있다. 일 실시 예에서, 온도 센서(211), 온도 센서(220), 또는 이들의 조합은, 도 1에서의 센서 모듈(176)에 포함될 수 있다. 일 실시 예에서, 부품(230)은, 온도 관리가 필요한 것으로 사전에 결정된 부품일 수 있다. 일 실시 예에서, 부품(230)은, 온도에 따라 손상될 수 있는 임의 부품을 지칭할 수 있다. 일 실시 예에서, 부품(230)은, 도 1의 메모리(130), 입력 장치(150), 음향 출력 장치(155), 표시 장치(160), 오디오 모듈(170), 센서 모듈(176), 인터페이스(177), 연결 단자(178), 햅틱 모듈(179), 카메라 모듈(180), 전력 관리 모듈(188), 배터리(189), 통신 모듈(190), 가입자 식별 모듈(196), 안테나 모듈(197), 또는 이들의 조합에 대응할 수 있다. 일 실시 예에서, 부품(230)은, 전자 장치(210)의 하우징(미도시)에 대응할 수 있다. 일 실시 예에서, 부품(230)이 전자 장치(210)의 하우징(미도시)인 경우, 온도 센서(220)가 측정하는 부품(230)의 온도는, 전자 장치(210)의 표면 온도를 나타낼 수 있다.In an embodiment, referring to FIGS. 2A and 2B, the electronic device 201 may include at least one of a processor 210, a temperature sensor 220, or a component 230. In one embodiment, the processor 210 may include a temperature sensor 211 that measures the temperature of the processor 210. In an embodiment, the processor 210 may correspond to the processor 120 of FIG. 1. In an embodiment, the temperature sensor 211, the temperature sensor 220, or a combination thereof may be included in the sensor module 176 of FIG. 1. In an embodiment, the component 230 may be a component previously determined to require temperature management. In one embodiment, component 230 may refer to any component that may be damaged depending on temperature. In an embodiment, the component 230 includes a memory 130, an input device 150, an audio output device 155, a display device 160, an audio module 170, a sensor module 176 of FIG. 1, Interface 177, connection terminal 178, haptic module 179, camera module 180, power management module 188, battery 189, communication module 190, subscriber identification module 196, antenna module (197), or a combination thereof. In an embodiment, the component 230 may correspond to a housing (not shown) of the electronic device 210. In one embodiment, when the component 230 is a housing (not shown) of the electronic device 210, the temperature of the component 230 measured by the temperature sensor 220 represents the surface temperature of the electronic device 210. I can.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 온도 센서(211)로부터 입력되는 온도 측정 값에 기반하여, 프로세서(210)의 온도를 측정할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 온도를 측정하는 동안, 온도 센서(220)로부터 입력되는 온도 측정 값에 기반하여, 부품(230)의 온도를 측정할 수 있다.In an embodiment, the processor 210 may measure the temperature of the processor 210 based on a temperature measurement value input from the temperature sensor 211. In an embodiment, the processor 210 may measure the temperature of the component 230 based on a temperature measurement value input from the temperature sensor 220 while measuring the temperature of the processor 210.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 온도에 기반하여, 프로세서(210)에 대한 제1 온도 제어를 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)에 대한 온도 제어는 스로틀링(throttling)으로도 지칭할 수 있다.In an embodiment, the processor 210 may perform a first temperature control on the processor 210 based on the temperature of the processor 210. In an embodiment, temperature control for the processor 210 may also be referred to as throttling.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 온도가 프로세서(210)에 대한 보증 상한 온도 이하에서 식별되도록, 제1 온도 제어를 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)에 대한 보증 상한 온도는 프로세서(210)가 프로세서(210)의 온도에 의해 손상되지 않는 온도 범위(예: 프로세서(210)에 대한 보증 온도 범위)에서 가장 높은 온도에 대응할 수 있다.In an embodiment, the processor 210 may perform the first temperature control so that the temperature of the processor 210 is identified below an upper limit temperature guaranteed for the processor 210. In one embodiment, the upper guaranteed temperature for the processor 210 is the highest temperature in the temperature range in which the processor 210 is not damaged by the temperature of the processor 210 (eg, the guaranteed temperature range for the processor 210). Can respond to.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 온도가 보증 상한 온도에 도달하는 경우, 프로세서(210)의 온도가 보증 상한 온도에 따른 제1 온도 범위 내에서 존재하도록, 프로세서(210)의 동작 성능을 미리 설정된 정도만큼 감소시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 동작 성능을 미리 설정된 정도만큼 감소시킨 이후에도 프로세서(210)의 온도가 제1 온도 범위의 상한 온도를 초과하는 경우, 프로세서(210)의 온도가 제1 온도 범위 내에서 존재하도록, 프로세서(210)의 동작 성능을 미리 설정된 정도만큼 추가로 감소시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는 프로세서(210)의 온도와 제1 온도 범위의 상한 온도 간을 사전 설정된 주기마다 비교하여 프로세서(210)의 동작 성능을 미리 설정된 정도만큼 감소시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)가 프로세서(210)의 동작 성능을 미리 설정된 정도만큼 감소시키는 주기는 사전 설정될 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 온도 범위의 상한 온도는 보증 상한 온도에 대응할 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 온도 범위의 하한 온도는 보증 상한 온도에서 제어 온도(예: 5 도(℃))만큼 낮은 온도에 대응할 수 있다.In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 reaches the warranty upper limit temperature, so that the temperature of the processor 210 exists within the first temperature range according to the warranty upper limit temperature, the processor 210 ) Can be reduced by a predetermined degree. In one embodiment, the processor 210, even after reducing the operating performance of the processor 210 by a predetermined degree, if the temperature of the processor 210 exceeds the upper limit temperature of the first temperature range, the processor 210 The operating performance of the processor 210 may be further reduced by a predetermined degree so that the temperature exists within the first temperature range. In an embodiment, the processor 210 may compare the temperature of the processor 210 and the upper limit temperature of the first temperature range for each preset period to reduce the operating performance of the processor 210 by a preset degree. In an embodiment, a period in which the processor 210 reduces the operating performance of the processor 210 by a predetermined degree may be preset. In an embodiment, the upper limit temperature of the first temperature range may correspond to the upper limit temperature guaranteed. In an embodiment, the lower limit temperature of the first temperature range may correspond to a temperature lower than the guaranteed upper limit temperature by a control temperature (eg, 5 degrees Celsius (°C)).
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 감소시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 감소시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 사전 설정된 주파수만큼 감소시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 감소시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 최대 동작 주파수는, 프로세서(210)가 동작 가능한 주파수 범위에서 설정되는 동작 주파수의 상한 값일 수 있다. 예를 들어, 프로세서(210)가 동작 가능한 주파수 범위가 0 내지 2 기가 헤르츠(GHz)이고, 최대 동작 주파수가 1.8 기가 헤르츠(GHz)인 경우, 프로세서(210)는, 0 내지 1.8 기가 헤르츠(GHz) 이내의 주파수에서 동작할 수 있다.In an embodiment, the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing the maximum operating frequency of the processor 210. In an embodiment, the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing the maximum operating frequency of the processor 210 by a preset frequency. In an embodiment, the maximum operating frequency may be an upper limit value of an operating frequency set in a frequency range in which the processor 210 can operate. For example, if the frequency range in which the processor 210 can operate is 0 to 2 gigahertz (GHz), and the maximum operating frequency is 1.8 gigahertz (GHz), the processor 210 is 0 to 1.8 gigahertz (GHz). ) Can be operated at a frequency within.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)에서 부품(230)으로 입력되는 전류 값을 감소시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 감소시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)에서 부품(230)으로 입력되는 전류 값을 사전 설정된 전류 값만큼 감소시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 감소시킬 수 있다.In an embodiment, the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing a current value input from the processor 210 to the component 230. In an embodiment, the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing a current value input from the processor 210 to the component 230 by a preset current value.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 감소시키고, 동시에 부품(230)으로 입력되는 전류 값을 감소시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 감소시킬 수 있다.In an embodiment, the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing the maximum operating frequency of the processor 210 and simultaneously reducing a current value input to the component 230.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 온도가 제1 온도 범위의 하한 온도에 미달하는 경우, 프로세서(210)의 온도가 제1 온도 범위 내에서 존재하도록, 프로세서(210)의 동작 성능을 미리 설정된 정도만큼 증가시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 동작 성능을 미리 설정된 정도만큼 증가시킨 이후에도 프로세서(210)의 온도가 제1 온도 범위의 하한 온도에 미달하는 경우, 프로세서(210)의 온도가 제1 온도 범위 내에서 존재하도록, 프로세서(210)의 동작 성능을 미리 설정된 정도만큼 추가로 증가시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는 프로세서(210)의 온도와 제1 온도 범위의 하한 온도 간을 사전 설정된 주기마다 비교하여 프로세서(210)의 동작 성능을 미리 설정된 정도만큼 증가시킬 수 있다.In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 is less than the lower limit temperature of the first temperature range, the processor 210 so that the temperature of the processor 210 exists within the first temperature range. The operating performance of can be increased by a predetermined degree. In one embodiment, the processor 210, even after increasing the operating performance of the processor 210 by a predetermined degree, if the temperature of the processor 210 is less than the lower limit temperature of the first temperature range, the processor 210 The operating performance of the processor 210 may be additionally increased by a predetermined degree so that the temperature exists within the first temperature range. In an embodiment, the processor 210 may compare the temperature of the processor 210 and the lower limit temperature of the first temperature range for each preset period to increase the operating performance of the processor 210 by a preset degree.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 동작 주파수를 증가시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 증가시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 사전 설정된 주파수만큼 증가시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 증가시킬 수 있다.In an embodiment, the processor 210 may increase the operating performance of the processor 210 by increasing the operating frequency of the processor 210. In an embodiment, the processor 210 may increase the operating performance of the processor 210 by increasing the maximum operating frequency of the processor 210 by a preset frequency.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)에서 부품(230)으로 입력되는 전류 값을 증가시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 증가시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)에서 부품(230)으로 입력되는 전류 값을 사전 설정된 전류 값만큼 증가시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 증가시킬 수 있다.In an embodiment, the processor 210 may increase the operating performance of the processor 210 by increasing a current value input from the processor 210 to the component 230. In an embodiment, the processor 210 may increase the operating performance of the processor 210 by increasing a current value input from the processor 210 to the component 230 by a preset current value.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 증가시키고, 동시에 부품(230)으로 입력되는 전류 값을 증가시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 증가시킬 수 있다.In an embodiment, the processor 210 may increase the operating performance of the processor 210 by increasing the maximum operating frequency of the processor 210 and simultaneously increasing a current value input to the component 230.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 온도에 기반하여, 제1 온도 제어를 수행하는 동안, 온도 센서(220)로부터 입력되는 온도 측정 값에 기반하여, 부품(230)의 온도를 측정할 수 있다.In one embodiment, the processor 210, based on the temperature of the processor 210, while performing the first temperature control, based on the temperature measurement value input from the temperature sensor 220, the component 230 You can measure the temperature.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 부품(230)의 온도에 기반하여, 프로세서(210)에 대한 제2 온도 제어를 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 부품(230)의 온도에 기반하여, 프로세서(210)의 온도를 제어함으로써, 부품(230)의 온도가 부품(230)에 대한 보증 상한 온도 이하에서 식별되도록, 제2 온도 제어를 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 부품(230)에 대한 보증 상한 온도는 부품(230)이 부품(230)의 온도에 의해 손상되지 않는 온도 범위(예: 부품(230)에 대한 보증 온도 범위)에서 가장 높은 온도에 대응할 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 온도 제어는 제1 온도 제어보다 프로세서(210)의 동작 성능을 더 제한하는 것일 수 있다.In an embodiment, the processor 210 may perform a second temperature control on the processor 210 based on the temperature of the component 230. In one embodiment, the processor 210, based on the temperature of the component 230, by controlling the temperature of the processor 210, the temperature of the component 230 is identified below the warranty upper limit temperature for the component 230 If possible, the second temperature control can be performed. In one embodiment, the upper warranty temperature for component 230 is the highest temperature in the temperature range in which component 230 is not damaged by the temperature of component 230 (e.g., the warranty temperature range for component 230). Can respond to. In an embodiment, the second temperature control may further limit the operating performance of the processor 210 than the first temperature control.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 부품(230)의 온도가 부품(230)의 부품 기준 온도에 기초하여 결정되는 제어 기준 온도를 초과하면, 프로세서(210)에 대한 제2 온도 제어를 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)에 대한 제1 온도 제어를 수행하는 중 부품(230)의 온도가 부품(230)의 제어 기준 온도를 초과하면, 프로세서(210)에 대한 제2 온도 제어를 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 부품(230)의 부품 기준 온도에 기초하여 결정되는 제어 기준 온도는 부품(230)의 보증 상한 온도에 대해 설정된 비율(예: 90%)에 상응하는 온도일 수 있다. 일 실시 예에서, 부품(230)의 부품 기준 온도에 대해 설정된 비율은 부품(230)의 온도의 시간에 대한 상승률(℃/sec)에 상응하는 상승률로 결정될 수 있다. 일 실시 예에서, 부품(230)의 부품 기준 온도는 부품(230)이 부품(230)의 온도에 의해 손상되지 않는 온도 범위에서 가장 높은 온도(예: 보증 상한 온도)에 대응할 수 있다.In one embodiment, when the temperature of the component 230 exceeds the control reference temperature determined based on the component reference temperature of the component 230, the processor 210 performs a second temperature control on the processor 210 can do. In one embodiment, when the temperature of the component 230 exceeds the control reference temperature of the component 230 while performing the first temperature control on the processor 210, the processor 210 Second temperature control can be performed. In an embodiment, the control reference temperature determined based on the component reference temperature of the component 230 may be a temperature corresponding to a ratio (eg, 90%) set with respect to the warranty upper limit temperature of the component 230. In one embodiment, the ratio set with respect to the component reference temperature of the component 230 may be determined as a rise rate corresponding to the rise rate (°C/sec) of the temperature of the component 230 with respect to time. In one embodiment, the component reference temperature of the component 230 may correspond to the highest temperature (eg, the warranty upper limit temperature) in a temperature range in which the component 230 is not damaged by the temperature of the component 230.
일 실시 예에서, 제2 온도 제어는, 프로세서(210)의 온도가 부품(230)의 부품 기준 온도에 따른 제2 온도 범위 내에서 식별되도록 하기 위한 제어일 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 온도 범위는 제1 온도 범위보다 낮을 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 온도 범위의 상한 온도는 부품(230)의 부품 기준 온도의 사전 설정된 비율에 상응하는 온도에 대응할 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 온도 범위의 하한 온도는 제2 온도 범위의 상한 온도에서 제어 온도(예: 2 도(℃))만큼 낮은 온도에 대응할 수 있다. 일 실시 예에서, 제어 온도는 2 도(℃)에 대응할 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 온도 범위의 상한 온도 61 도(℃)이고, 제어 온도가 2 도(℃)인 경우, 제2 온도 범위의 하한 온도는 59 도(℃)일 수 있다.In an embodiment, the second temperature control may be a control for identifying the temperature of the processor 210 within a second temperature range according to the reference temperature of the component 230. In an embodiment, the second temperature range may be lower than the first temperature range. In an embodiment, the upper limit temperature of the second temperature range may correspond to a temperature corresponding to a preset ratio of the component reference temperature of the component 230. In one embodiment, the lower limit temperature of the second temperature range may correspond to a temperature lower than the upper limit temperature of the second temperature range by a control temperature (eg, 2 degrees Celsius (°C)). In one embodiment, the control temperature may correspond to 2 degrees (℃). In an embodiment, when the upper limit temperature of the second temperature range is 61 degrees (℃) and the control temperature is 2 degrees (℃), the lower limit temperature of the second temperature range may be 59 degrees (℃).
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 제2 온도 제어를 수행하는 동안, 프로세서(210)의 온도가 제2 온도 범위의 상한 온도를 초과하는 경우, 프로세서(210)의 온도가 제2 온도 범위 내에서 존재하도록, 프로세서(210)의 동작 성능을 미리 설정된 정도만큼 감소시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 동작 성능을 미리 설정된 정도만큼 감소시킨 이후에도 프로세서(210)의 온도가 제2 온도 범위의 상한 온도를 초과하는 경우, 프로세서(210)의 온도가 제2 온도 범위 내에서 존재하도록, 프로세서(210)의 동작 성능을 미리 설정된 정도만큼 추가로 감소시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는 프로세서(210)의 온도와 제2 온도 범위의 상한 온도 간을 사전 설정된 주기마다 비교하여 프로세서(210)의 동작 성능을 미리 설정된 정도만큼 감소시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)가 프로세서(210)의 동작 성능을 미리 설정된 정도만큼 감소시키는 주기는 사전 설정될 수 있다.In one embodiment, the processor 210, while performing the second temperature control, when the temperature of the processor 210 exceeds the upper limit temperature of the second temperature range, the temperature of the processor 210 is the second temperature range In order to exist within, the operating performance of the processor 210 may be reduced by a predetermined degree. In one embodiment, the processor 210, even after reducing the operating performance of the processor 210 by a predetermined degree, if the temperature of the processor 210 exceeds the upper limit temperature of the second temperature range, the processor 210 The operating performance of the processor 210 may be further reduced by a predetermined degree so that the temperature exists within the second temperature range. In an embodiment, the processor 210 may compare the temperature of the processor 210 and the upper limit temperature of the second temperature range for each preset period to reduce the operating performance of the processor 210 by a preset degree. In an embodiment, a period in which the processor 210 reduces the operating performance of the processor 210 by a predetermined degree may be preset.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 감소시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 감소시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 사전 설정된 주파수만큼 감소시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 감소시킬 수 있다.In an embodiment, the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing the maximum operating frequency of the processor 210. In an embodiment, the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing the maximum operating frequency of the processor 210 by a preset frequency.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)에서 부품(230)으로 입력되는 전류 값을 감소시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 감소시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)에서 부품(230)으로 입력되는 전류 값을 사전 설정된 전류 값만큼 감소시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 감소시킬 수 있다.In an embodiment, the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing a current value input from the processor 210 to the component 230. In an embodiment, the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing a current value input from the processor 210 to the component 230 by a preset current value.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 감소시키고, 동시에 부품(230)으로 입력되는 전류 값을 감소시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 감소시킬 수 있다.In an embodiment, the processor 210 may reduce the operating performance of the processor 210 by reducing the maximum operating frequency of the processor 210 and simultaneously reducing a current value input to the component 230.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 제2 온도 제어를 수행하는 동안, 프로세서(210)의 온도가 제2 온도 범위의 하한 온도에 미달하는 경우, 프로세서(210)의 온도가 제2 온도 범위 내에서 존재하도록, 프로세서(210)의 동작 성능을 미리 설정된 정도만큼 증가시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 동작 성능을 미리 설정된 정도만큼 증가시킨 이후에도 부품 프로세서(210)의 온도가 제2 온도 범위의 하한 온도에 미달하는 경우, 프로세서(210)의 온도가 제2 온도 범위 내에서 존재하도록, 프로세서(210)의 동작 성능을 미리 설정된 정도만큼 추가로 증가시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는 프로세서(210)의 온도와 제2 온도 범위의 하한 간을 사전 설정된 주기마다 비교하여 프로세서(210)의 동작 성능을 미리 설정된 정도만큼 증가시킬 수 있다.In one embodiment, the processor 210, while performing the second temperature control, when the temperature of the processor 210 is less than the lower limit temperature of the second temperature range, the temperature of the processor 210 is the second temperature range To exist within, the operating performance of the processor 210 may be increased by a predetermined degree. In one embodiment, the processor 210, even after increasing the operating performance of the processor 210 by a predetermined degree, if the temperature of the component processor 210 is less than the lower limit temperature of the second temperature range, the processor 210 The operating performance of the processor 210 may be additionally increased by a preset degree so that the temperature of is within the second temperature range. In an embodiment, the processor 210 may compare the temperature of the processor 210 and the lower limit of the second temperature range for each preset period to increase the operating performance of the processor 210 by a preset degree.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 증가시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 증가시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 사전 설정된 주파수만큼 증가시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 증가시킬 수 있다.In an embodiment, the processor 210 may increase the operating performance of the processor 210 by increasing the maximum operating frequency of the processor 210. In an embodiment, the processor 210 may increase the operating performance of the processor 210 by increasing the maximum operating frequency of the processor 210 by a preset frequency.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)에서 부품(230)으로 입력되는 전류 값을 증가시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 증가시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)에서 부품(230)으로 입력되는 전류 값을 사전 설정된 전류 값만큼 증가시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 증가시킬 수 있다.In an embodiment, the processor 210 may increase the operating performance of the processor 210 by increasing a current value input from the processor 210 to the component 230. In an embodiment, the processor 210 may increase the operating performance of the processor 210 by increasing a current value input from the processor 210 to the component 230 by a preset current value.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는 제1 온도 제어에서 제2 온도 제어로 전환하는 경우, 프로세서(210)의 온도가, 제1 온도 범위에서 제2 온도 범위로 감소할 때까지 지속적으로 프로세서(210)의 동작 성능을 감소시킬 수 있다.In one embodiment, when the processor 210 switches from the first temperature control to the second temperature control, the processor 210 continues until the temperature of the processor 210 decreases from the first temperature range to the second temperature range. 210) can reduce the operation performance.
도 3은, 일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 2의 전자 장치(201))의 동작을 나타내는 흐름도이다. 도 4a는, 일 실시 예에 따른 전자 장치(201)의 프로세서(예: 도 2a, 또는 도 2b의 프로세서(210))의 최대 동작 주파수 변화를 나타내는 그래프이다. 도 4b는, 일 실시 예에 따른 전자 장치(201)의 프로세서(210)의 온도 변화를 나타내는 그래프이다. 도 4c는, 일 실시 예에 따른 전자 장치(201)의 부품(예: 부품(230))의 온도 변화를 나타내는 그래프이다. 일 실시 예에서, 도 3의 동작은 도 2a, 또는 도 2b의 전자 장치(201)를 참조하여 설명될 수 있다. 일 실시 예에서, 도 4a 내지 도 4c의 그래프는 도 2a, 또는 도 2b의 전자 장치(201)를 참조하여 설명될 수 있다.3 is a flowchart illustrating an operation of an electronic device (eg, the electronic device 201 of FIG. 2) according to an exemplary embodiment. 4A is a graph illustrating a change in a maximum operating frequency of a processor (eg, the processor 210 of FIG. 2A or 2B) of the electronic device 201, according to an exemplary embodiment. 4B is a graph illustrating a temperature change of the processor 210 of the electronic device 201 according to an exemplary embodiment. 4C is a graph showing a temperature change of a component (eg, component 230) of the electronic device 201 according to an exemplary embodiment. In an embodiment, the operation of FIG. 3 may be described with reference to the electronic device 201 of FIG. 2A or 2B. In an embodiment, the graphs of FIGS. 4A to 4C may be described with reference to the electronic device 201 of FIG. 2A or 2B.
일 실시 예에서, 동작 310에서, 전자 장치(201)의 프로세서(예: 도 2의 프로세서(210))는, 프로세서(210)의 제1 온도와 부품(230)의 제2 온도를 측정할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)에 대한 온도 센서(예: 도 2의 온도 센서(211))로부터 입력되는 온도 측정 값에 기반하여, 프로세서(210)의 제1 온도를 측정할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 부품(230)에 대한 온도 센서(예: 도 2의 온도 센서(220))로부터 입력되는 온도 측정 값에 기반하여, 부품(230)의 제2 온도를 측정할 수 있다.In an embodiment, in operation 310, the processor of the electronic device 201 (for example, the processor 210 of FIG. 2) may measure the first temperature of the processor 210 and the second temperature of the component 230. have. In an embodiment, the processor 210 determines the first temperature of the processor 210 based on a temperature measurement value input from a temperature sensor for the processor 210 (eg, the temperature sensor 211 of FIG. 2 ). Can be measured. In an embodiment, the processor 210 determines the second temperature of the component 230 based on a temperature measurement value input from a temperature sensor for the component 230 (eg, the temperature sensor 220 of FIG. 2 ). Can be measured.
도 4a 내지 도 4c를 참조하면, 제1 시점(TP1) 이전의 제1 구간에는, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수가 상대적으로 높게 유지됨에 따라, 프로세서(210)의 제1 온도와 부품(230)의 제2 온도가 꾸준히 상승할 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 구간에서의 프로세서(210)의 최대 동작 주파수는, 2 기가 헤르츠(GHz)일 수 있다. 도 4b 내지 도 4c를 참조하면, 프로세서(210)의 온도 상승률(℃/sec)은 부품(230)의 온도 상승률(℃/sec)보다 높을 수 있다.4A to 4C, in the first section before the first time point TP1, as the maximum operating frequency of the processor 210 is maintained relatively high, the first temperature of the processor 210 and the component 230 ), the second temperature may rise steadily. In an embodiment, the maximum operating frequency of the processor 210 in the first period may be 2 gigahertz (GHz). 4B to 4C, the temperature increase rate (°C/sec) of the processor 210 may be higher than the temperature increase rate (°C/sec) of the component 230.
일 실시 예에서, 동작 320에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 제1 온도가 제1 기준 온도에 도달하였는지를 판단할 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 기준 온도는 프로세서(210)가 프로세서(210)의 온도에 의해 손상되지 않는 온도(예: 프로세서(210)에 대한 보증 온도)일 수 있다.In an embodiment, in operation 320, the processor 210 may determine whether the first temperature of the processor 210 has reached the first reference temperature. In an embodiment, the first reference temperature may be a temperature at which the processor 210 is not damaged by the temperature of the processor 210 (eg, a guaranteed temperature for the processor 210).
일 실시 예에서, 프로세서(210)의 제1 온도가 제1 기준 온도에 도달한 것으로 판단되면('예'), 프로세서(210)는 동작 330을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)의 제1 온도가 제1 기준 온도에 도달하지 않은 것으로 판단되면('아니오'), 프로세서(210)는 동작 310을 수행할 수 있다.In an embodiment, if it is determined that the first temperature of the processor 210 has reached the first reference temperature ('Yes'), the processor 210 may perform operation 330. In an embodiment, if it is determined that the first temperature of the processor 210 has not reached the first reference temperature ('No'), the processor 210 may perform operation 310.
도 4b를 참조하면, 제1 시점(TP1)에는, 프로세서(210)의 제1 온도가 제1 기준 온도에 도달할 수 있다.Referring to FIG. 4B, at a first time point TP1, a first temperature of the processor 210 may reach a first reference temperature.
일 실시 예에서, 동작 330에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)에 대한 제1 스로틀링을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)에 대한 제1 스로틀링은 프로세서(210)의 제1 온도가 제1 기준 온도에 따른 제1 온도 범위 내에서 존재하도록 프로세서(210)의 성능을 조절하는 동작일 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 온도 범위의 상한은 제1 기준 온도에 대응할 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 온도 범위의 하한은 제1 기준 온도로부터 기준 성능 제어 범위만큼 낮은 온도에 대응할 수 있다.In an embodiment, in operation 330, the processor 210 may perform first throttling on the processor 210. In one embodiment, the first throttling for the processor 210 is an operation of adjusting the performance of the processor 210 so that the first temperature of the processor 210 is within a first temperature range according to the first reference temperature. I can. In an embodiment, the upper limit of the first temperature range may correspond to the first reference temperature. In an embodiment, the lower limit of the first temperature range may correspond to a temperature lower than the first reference temperature by the reference performance control range.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 온도가 제1 온도 범위의 상한을 초과하는 경우, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 감소시킴으로써, 프로세서(210)에 대한 제1 스로틀링을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 온도가 제1 온도 범위의 상한을 초과하는 경우, 프로세서(210)에서 부품(230)으로 입력되는 전류 값을 제한함으로써, 프로세서(210)에 대한 제1 스로틀링을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 온도가 제1 온도 범위의 상한을 초과하는 경우, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 감소시키고, 동시에 부품(230)으로 입력되는 전류 값을 제한함으로써, 프로세서(210)에 대한 제1 스로틀링을 수행할 수 있다.In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 exceeds the upper limit of the first temperature range, by reducing the maximum operating frequency of the processor 210, the first throttle for the processor 210 Ring can be performed. In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 exceeds the upper limit of the first temperature range, by limiting the current value input from the processor 210 to the component 230, the processor 210 ) Can be performed first throttling. In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 exceeds the upper limit of the first temperature range, reduces the maximum operating frequency of the processor 210, and at the same time the current input to the component 230 By limiting the value, first throttling for the processor 210 may be performed.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 온도가 제1 온도 범위의 하한에 미달하는 경우, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 감소시킴으로써, 프로세서(210)에 대한 제1 스로틀링을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 온도가 제1 온도 범위의 하한에 미달하는 경우, 프로세서(210)에서 부품(230)으로 입력되는 전류 값을 제한함으로써, 프로세서(210)에 대한 제1 스로틀링을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 온도가 제1 온도 범위의 하한에 미달하는 경우, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 감소시키고, 동시에 부품(230)으로 입력되는 전류 값을 제한함으로써, 프로세서(210)에 대한 제1 스로틀링을 수행할 수 있다.In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 is less than the lower limit of the first temperature range, by reducing the maximum operating frequency of the processor 210, the first throttle for the processor 210 Ring can be performed. In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 is less than the lower limit of the first temperature range, by limiting the current value input from the processor 210 to the component 230, the processor 210 ) Can be performed first throttling. In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 is less than the lower limit of the first temperature range, reduces the maximum operating frequency of the processor 210, and at the same time the current input to the component 230 By limiting the value, first throttling for the processor 210 may be performed.
도 4a, 및 도 4b를 참조하면, 제1 시점(TP1) 및 제2 시점(TP2) 사이의 제2 구간에는, 프로세서(210)의 제1 온도가 제1 기준 온도에 따른 제1 온도 범위에 존재하도록, 프로세서(210)가 제1 스로틀링을 수행할 수 있다. 도 4a를 참조하면, 제2 구간에는, 프로세서(210)가 제1 스로틀링을 수행함에 따라, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수가 제1 스로틀링을 수행하기 전보다 감소할 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 구간에서의 프로세서(210)의 최대 동작 주파수는, 제1 구간에서의 프로세서(210)의 최대 동작 주파수보다 낮을 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 구간에서의 프로세서(210)의 최대 동작 주파수는, 1.8 기가 헤르츠(GHz)일 수 있다. 도 4b를 참조하면, 제2 구간에는, 프로세서(210)가 제1 스로틀링을 수행함에 따라, 프로세서(210)의 제1 온도가 제1 기준 온도에 따른 제1 온도 범위에서 존재할 수 있다. 도 4c를 참조하면, 제2 구간에는, 부품(230)의 제2 온도는 꾸준히 상승할 수 있다. 도 4c를 참조하면, 제2 구간에는, 부품(230)의 온도 상승률은 제1 시점 이전의 온도 상승률보다 낮을 수 있다.4A and 4B, in the second section between the first time point TP1 and the second time point TP2, the first temperature of the processor 210 is within a first temperature range according to the first reference temperature. To be present, the processor 210 may perform the first throttling. Referring to FIG. 4A, in the second period, as the processor 210 performs first throttling, the maximum operating frequency of the processor 210 may decrease compared to before the first throttling. In an embodiment, the maximum operating frequency of the processor 210 in the second section may be lower than the maximum operating frequency of the processor 210 in the first section. In an embodiment, the maximum operating frequency of the processor 210 in the second period may be 1.8 gigahertz (GHz). Referring to FIG. 4B, in a second period, as the processor 210 performs first throttling, a first temperature of the processor 210 may exist in a first temperature range according to a first reference temperature. Referring to FIG. 4C, in the second section, the second temperature of the component 230 may be steadily increased. Referring to FIG. 4C, in the second section, the temperature increase rate of the component 230 may be lower than the temperature increase rate before the first time point.
일 실시 예에서, 동작 350에서, 프로세서(210)는, 부품(230)의 제2 온도가 제어 기준 온도에 도달하였는지를 판단할 수 있다. 일 실시 예에서, 제어 기준 온도는 부품(230)의 부품 기준 온도(예: 보증 상한 온도))의 사전 설정된 비율(예: 90%)에 상응하는 온도에 대응할 수 있다.In an embodiment, in operation 350, the processor 210 may determine whether the second temperature of the component 230 has reached the control reference temperature. In an embodiment, the control reference temperature may correspond to a temperature corresponding to a preset ratio (eg, 90%) of the component reference temperature (eg, the warranty upper limit temperature) of the component 230.
일 실시 예에서, 부품(230)의 제2 온도가 제어 기준 온도에 도달한 것으로 판단되면('예'), 프로세서(210)는 동작 360을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 부품(230)의 제2 온도가 제어 기준 온도에 도달하지 않은 것으로 판단되면('아니오'), 프로세서(210)는 동작 340을 수행할 수 있다.In one embodiment, if it is determined that the second temperature of the component 230 has reached the control reference temperature ('Yes'), the processor 210 may perform operation 360. In an embodiment, if it is determined that the second temperature of the component 230 has not reached the control reference temperature ('No'), the processor 210 may perform operation 340.
도 4c를 참조하면, 제2 시점(TP2)에는, 부품(230)의 제2 온도가 제어 기준 온도에 도달할 수 있다.Referring to FIG. 4C, at a second time point TP2, the second temperature of the component 230 may reach a control reference temperature.
일 실시 예에서, 동작 360에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)에 대한 제2 스로틀링을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)에 대한 제2 스로틀링은 프로세서(210)의 제1 온도가 제2 기준 온도에 따른 제2 온도 범위 내에서 존재하도록 프로세서(210)의 성능을 조절하는 동작일 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 온도 범위의 상한은 제2 기준 온도에 대응할 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 온도 범위의 하한은 제2 기준 온도로부터 기준 성능 제어 범위만큼 낮은 온도에 대응할 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 기준 온도는 제1 기준 온도보다 낮을 수 있다.In an embodiment, in operation 360, the processor 210 may perform second throttling on the processor 210. In one embodiment, the second throttling for the processor 210 is an operation of adjusting the performance of the processor 210 so that the first temperature of the processor 210 is within a second temperature range according to the second reference temperature. I can. In an embodiment, the upper limit of the second temperature range may correspond to the second reference temperature. In an embodiment, the lower limit of the second temperature range may correspond to a temperature lower than the second reference temperature by the reference performance control range. In an embodiment, the second reference temperature may be lower than the first reference temperature.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 온도가 제2 온도 범위의 상한을 초과하는 경우, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 감소시킴으로써, 프로세서(210)에 대한 제2 스로틀링을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 온도가 제2 온도 범위의 상한을 초과하는 경우, 프로세서(210)에서 부품(230)으로 입력되는 전류 값을 제한함으로써, 프로세서(210)에 대한 제2 스로틀링을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 온도가 제2 온도 범위의 상한을 초과하는 경우, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 감소시키고, 동시에 부품(230)으로 입력되는 전류 값을 제한함으로써, 프로세서(210)에 대한 제2 스로틀링을 수행할 수 있다.In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 exceeds the upper limit of the second temperature range, by reducing the maximum operating frequency of the processor 210, the second throttle for the processor 210 Ring can be performed. In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 exceeds the upper limit of the second temperature range, by limiting the current value input from the processor 210 to the component 230, the processor 210 ) May perform second throttling. In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 exceeds the upper limit of the second temperature range, reduces the maximum operating frequency of the processor 210, and at the same time the current input to the component 230 By limiting the value, second throttling for the processor 210 may be performed.
일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 온도가 제2 온도 범위의 하한에 미달하는 경우, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 감소시킴으로써, 프로세서(210)에 대한 제2 스로틀링을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 온도가 제2 온도 범위의 하한에 미달하는 경우, 프로세서(210)에서 부품(230)으로 입력되는 전류 값을 제한함으로써, 프로세서(210)에 대한 제2 스로틀링을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 온도가 제2 온도 범위의 하한에 미달하는 경우, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 감소시키고, 동시에 부품(230)으로 입력되는 전류 값을 제한함으로써, 프로세서(210)에 대한 제2 스로틀링을 수행할 수 있다.In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 is less than the lower limit of the second temperature range, by reducing the maximum operating frequency of the processor 210, the second throttle for the processor 210 Ring can be performed. In an embodiment, when the temperature of the processor 210 is less than the lower limit of the second temperature range, the processor 210 limits a current value input from the processor 210 to the component 230 ) May perform second throttling. In one embodiment, the processor 210, when the temperature of the processor 210 is less than the lower limit of the second temperature range, reduces the maximum operating frequency of the processor 210, and at the same time the current input to the component 230 By limiting the value, second throttling for the processor 210 may be performed.
도 4a, 및 도 4b를 참조하면, 제2 시점(TP2) 및 제3 시점(TP3) 사이의 제3 구간에는, 프로세서(210)의 제1 온도가 제1 기준 온도에서 제2 기준 온도로 낮아지도록, 프로세서(210)가 제2 스로틀링을 수행할 수 있다. 도 4a, 및 도 4b를 참조하면, 제3 구간에는, 프로세서(210)의 제1 온도가 제2 온도 범위의 상한을 초과하므로, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 감소시키는 동작이 지속적으로 수행될 수 있다. 이에 따라, 제3 구간에서의 프로세서(210)의 최대 동작 주파수는, 제2 구간에서의 프로세서(210)의 최대 동작 주파수보다 낮을 수 있다. 일 실시 예에서, 제3 구간에서의 프로세서(210)의 최대 동작 주파수는, 1.5 기가 헤르츠(GHz)일 수 있다.4A and 4B, in the third section between the second time point TP2 and the third time point TP3, the first temperature of the processor 210 is lowered from the first reference temperature to the second reference temperature. Thus, the processor 210 may perform the second throttling. 4A and 4B, in the third section, since the first temperature of the processor 210 exceeds the upper limit of the second temperature range, the operation of reducing the maximum operating frequency of the processor 210 is continuously performed. Can be. Accordingly, the maximum operating frequency of the processor 210 in the third section may be lower than the maximum operating frequency of the processor 210 in the second section. In an embodiment, the maximum operating frequency of the processor 210 in the third period may be 1.5 gigahertz (GHz).
도 4c를 참조하면, 제3 구간에는, 부품(230)의 제2 온도는 꾸준히 상승할 수 있다. 도 4c를 참조하면, 제3 구간에는, 부품(230)의 온도 상승률은 제2 시점 이전의 온도 상승률보다 낮을 수 있다.Referring to FIG. 4C, in the third section, the second temperature of the component 230 may be steadily increased. Referring to FIG. 4C, in the third section, the temperature increase rate of the component 230 may be lower than the temperature increase rate before the second time point.
도 4a, 및 도 4b를 참조하면, 제3 시점 이후인 제4 구간에는, 프로세서(210)의 제1 온도가 제2 기준 온도에 대응하는 범위에 존재하도록, 프로세서(210)가 제2 스로틀링을 수행할 수 있다. 도 4a, 및 도 4b를 참조하면, 제4 구간에는, 프로세서(210)의 제1 온도가 제2 온도 범위 이내에서 존재하도록, 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 감소시키는 동작과 프로세서(210)의 최대 동작 주파수를 증가시키는 동작이 교번하여 수행될 수 있다. 이에 따라, 제4 구간에서의 프로세서(210)의 최대 동작 주파수는, 제3 구간에서의 프로세서(210)의 최대 동작 주파수와 동일하거나 낮을 수 있다.4A and 4B, in a fourth section after the third point in time, the processor 210 performs a second throttling so that the first temperature of the processor 210 is in a range corresponding to the second reference temperature. You can do it. 4A and 4B, in the fourth section, the operation of reducing the maximum operating frequency of the processor 210 and the processor 210 so that the first temperature of the processor 210 exists within the second temperature range. The operation of increasing the maximum operating frequency of may be performed alternately. Accordingly, the maximum operating frequency of the processor 210 in the fourth section may be equal to or lower than the maximum operating frequency of the processor 210 in the third section.
도 4c를 참조하면, 제4 구간에는, 부품(230)의 제2 온도는 제1 부품 기준 온도에 대응하는 범위에서 존재할 수 있다.Referring to FIG. 4C, in the fourth section, the second temperature of the component 230 may exist in a range corresponding to the first component reference temperature.
도 5a, 및 도 5b는, 일 실시 예에 따른 전자 장치(501)의 블럭도이다. 도 5a의 전자 장치(501)는 도 5b의 전자 장치(501)와 비교하여, 적어도 하나의 온도 센서(521, 523, 525)와 적어도 하나의 부품(531, 533, 535)이 별개로 구현되어 있을 수 있다. 도 5b의 전자 장치(501)는 도 5a의 전자 장치(501)와 비교하여, 적어도 하나의 온도 센서(521, 523, 525) 각각이 적어도 하나의 부품(531, 533, 535) 각각의 내부에 실장되어 있을 수 있다.5A and 5B are block diagrams of an electronic device 501 according to an exemplary embodiment. In the electronic device 501 of FIG. 5A, compared to the electronic device 501 of FIG. 5B, at least one temperature sensor 521, 523, 525 and at least one component 531, 533, 535 are separately implemented. There may be. In the electronic device 501 of FIG. 5B, compared to the electronic device 501 of FIG. 5A, each of the at least one temperature sensor 521, 523, and 525 is located inside each of the at least one component 531, 533, and 535. It may be implemented.
일 실시 예에서, 도 5a, 및 도 5b를 참조하면, 전자 장치(501)는 프로세서(510), 적어도 하나의 온도 센서(521, 523, 525), 또는 적어도 하나의 부품(531, 533, 535)을 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(510)의 온도를 측정하는 온도 센서(511)를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(510)는 도 1의 프로세서(120)에 대응할 수 있다. 일 실시 예에서, 온도 센서(511), 적어도 하나의 온도 센서(521, 523, 525), 또는 이들의 조합은, 도 1에서의 센서 모듈(176)에 포함될 수 있다. 일 실시 예에서, 적어도 하나의 부품(531, 533, 535)은, 온도에 따라 손상될 수 있는 임의 부품을 지칭할 수 있다. 일 실시 예에서, 적어도 하나의 부품(531, 533, 535)은, 도 1의 메모리(130), 입력 장치(150), 음향 출력 장치(155), 표시 장치(160), 오디오 모듈(170), 센서 모듈(176), 인터페이스(177), 연결 단자(178), 햅틱 모듈(179), 카메라 모듈(180), 전력 관리 모듈(188), 배터리(189), 통신 모듈(190), 가입자 식별 모듈(196), 안테나 모듈(197), 또는 이들의 조합에 대응할 수 있다. 일 실시 예에서, 적어도 하나의 부품(531, 533, 535)은, 전자 장치(510)의 하우징에 대응할 수 있다. 일 실시 예에서, 적어도 하나의 부품(531, 533, 535)이 전자 장치(510)의 하우징인 경우, 적어도 하나의 온도 센서(521, 523, 525)가 측정하는 적어도 하나의 부품(531, 533, 535)의 온도는, 전자 장치(510)의 표면 온도를 나타낼 수 있다. 일 실시 예에서, 적어도 하나의 부품(531, 533, 535)은 서로 다른 부품을 지칭할 수 있다.In an embodiment, referring to FIGS. 5A and 5B, the electronic device 501 includes a processor 510, at least one temperature sensor 521, 523, 525, or at least one component 531, 533, 535. ) Can be included. In an embodiment, a temperature sensor 511 that measures the temperature of the processor 510 may be included. In an embodiment, the processor 510 may correspond to the processor 120 of FIG. 1. In an embodiment, the temperature sensor 511, at least one temperature sensor 521, 523, 525, or a combination thereof may be included in the sensor module 176 of FIG. 1. In an embodiment, the at least one component 531, 533, 535 may refer to an arbitrary component that may be damaged according to temperature. In an embodiment, the at least one component 531, 533, 535 is the memory 130, the input device 150, the sound output device 155, the display device 160, and the audio module 170 of FIG. 1. , Sensor module 176, interface 177, connection terminal 178, haptic module 179, camera module 180, power management module 188, battery 189, communication module 190, subscriber identification It may correspond to the module 196, the antenna module 197, or a combination thereof. In an embodiment, at least one of the components 531, 533, and 535 may correspond to the housing of the electronic device 510. In an embodiment, when at least one component 531, 533, 535 is the housing of the electronic device 510, at least one component 531, 533 measured by the at least one temperature sensor 521, 523, 525 The temperature of, 535 may represent the surface temperature of the electronic device 510. In an embodiment, at least one of the components 531, 533, and 535 may refer to different components.
일 실시 예에서, 프로세서(510)는, 온도 센서(511)로부터 입력되는 온도 측정 값에 기반하여, 프로세서(510)의 온도를 측정할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(510)는, 프로세서(510)의 온도를 측정하는 동안, 적어도 하나의 온도 센서(521, 523, 525)로부터 입력되는 온도 측정 값에 기반하여, 적어도 하나의 부품(531, 533, 535)의 온도를 측정할 수 있다.In an embodiment, the processor 510 may measure the temperature of the processor 510 based on a temperature measurement value input from the temperature sensor 511. In one embodiment, the processor 510, while measuring the temperature of the processor 510, based on a temperature measurement value input from the at least one temperature sensor 521, 523, 525, at least one component 531 , 533, 535) can be measured.
일 실시 예에서, 프로세서(510)는, 프로세서(510)의 온도에 기반하여, 프로세서(510)에 대한 제1 온도 제어를 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(510)에 대한 온도 제어는 스로틀링으로도 지칭할 수 있다. In an embodiment, the processor 510 may perform a first temperature control on the processor 510 based on the temperature of the processor 510. In an embodiment, temperature control of the processor 510 may also be referred to as throttling.
일 실시 예에서, 프로세서(510)는, 프로세서(510)의 온도가 프로세서(510)에 대한 보증 상한 온도 이하에서 식별되도록, 제1 온도 제어를 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(510)에 대한 보증 상한 온도는 프로세서(510)가 프로세서(510)의 온도에 의해 손상되지 않는 온도 범위(예: 프로세서(510)에 대한 보증 온도 범위)에서 가장 높은 온도에 대응할 수 있다.In an embodiment, the processor 510 may perform the first temperature control so that the temperature of the processor 510 is identified below the upper limit temperature guaranteed for the processor 510. In one embodiment, the upper guaranteed temperature for the processor 510 is the highest temperature in the temperature range in which the processor 510 is not damaged by the temperature of the processor 510 (eg, the guaranteed temperature range for the processor 510). Can respond to.
일 실시 예에서, 프로세서(510)는, 프로세서(510)의 온도에 기반하여, 제1 온도 제어를 수행하는 동안, 온도 센서들(521, 523, 및 525)로부터 입력되는 온도 측정 값에 기반하여, 부품들(531, 533, 및 535)의 온도를 측정할 수 있다.In one embodiment, the processor 510, based on the temperature of the processor 510, while performing the first temperature control, based on a temperature measurement value input from the temperature sensors 521, 523, and 525 , It is possible to measure the temperature of the components 531, 533, and 535.
일 실시 예에서, 프로세서(510)는, 부품들(531, 533, 및 535)의 온도에 기반하여, 프로세서(510)에 대한 제2 온도 제어를 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(510)는, 부품들(531, 533, 및 535)의 온도에 기반하여, 프로세서(510)의 온도를 제어함으로써, 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 온도가 부품들(531, 533, 및 535) 각각에 대한 보증 온도 이하에서 식별되도록, 제2 온도 제어를 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 온도 제어는 제1 온도 제어보다 프로세서(510)의 동작 성능을 더 제한하는 것일 수 있다.In an embodiment, the processor 510 may perform second temperature control on the processor 510 based on the temperatures of the components 531, 533, and 535. In one embodiment, the processor 510 controls the temperature of the processor 510 based on the temperature of the components 531, 533, and 535, thereby controlling the temperature of each of the components 531, 533, and 535. The second temperature control may be performed so that the components 531, 533, and 535 are identified below the guaranteed temperature. In an embodiment, the second temperature control may further limit the operating performance of the processor 510 than the first temperature control.
일 실시 예에서, 프로세서(510)는, 부품들(531, 533, 및 535) 중 적어도 하나의 부품((예: 부품(531))의 온도가 해당 부품의 부품 기준 온도에 기초하여 결정되는 제어 기준 온도를 초과하면, 프로세서(510)에 대한 제2 온도 제어를 수행할 수 있다.In one embodiment, the processor 510 controls the temperature of at least one component (eg, component 531) among the components 531, 533, and 535 is determined based on the component reference temperature of the component. When the reference temperature is exceeded, the second temperature control for the processor 510 may be performed.
일 실시 예에서, 프로세서(510)는, 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 온도에 대한 가중치를 적용하고, 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 가중치가 적용된 온도에 기반하여, 프로세서(510)에 대한 제2 온도 제어를 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(510)는, 부품들(531, 533, 및 535) 중 미리 지정된 부품(예: 하우징)의 온도에 영향을 미치는 정도에 기반하여, 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 온도에 대한 가중치를 적용할 수 있다. 일 실시 예에서, 미리 지정된 부품(예: 하우징)의 온도에 영향을 미치는 정도는, 부품들(531, 533, 및 535) 중 임의 부품(예: 부품(531))의 온도, 및/또는 온도 상승률과 미리 지정된 부품(예: 하우징)의 온도, 및/또는 온도 상승률 간의 상관 관계에 비례할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(510)는, 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 온도에 대한 가중치를 적용함으로써, 임의 부품의 제어 기준 온도에 도달하기 전에도 제2 온도 제어를 수행할 수 있다.In one embodiment, the processor 510 applies a weight for the temperature of each of the parts 531, 533, and 535, and based on the temperature to which the weight of each of the parts 531, 533, and 535 is applied. , Second temperature control for the processor 510 may be performed. In one embodiment, the processor 510 is based on the degree of affecting the temperature of a predetermined component (eg, a housing) among the components 531, 533, and 535, the components 531, 533, and 535 ) Weight for each temperature can be applied. In one embodiment, the degree of influence on the temperature of a predetermined component (eg, a housing) is the temperature of any of the components 531, 533, and 535 (eg, component 531), and/or the temperature It can be proportional to the correlation between the rate of rise and the temperature of a predetermined part (eg housing), and/or the rate of temperature rise. In an embodiment, the processor 510 may perform the second temperature control even before reaching the control reference temperature of an arbitrary component by applying a weight to the temperature of each of the components 531, 533, and 535. .
일 실시 예에서, 제어 기준 온도는, 부품들(531, 533, 및 535) 각각에 대하여 설정될 수 있다. 일 실시 예에서, 부품들(531, 533, 및 535) 각각에 대한 제어 기준 온도는 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 부품 기준 온도에 대해 설정된 비율(예: 90%)에 상응하는 온도일 수 있다. 일 실시 예에서, 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 부품 기준 온도에 대해 설정된 비율은 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 온도의 시간에 대한 상승률(℃/sec)에 상응하는 상승률로 결정될 수 있다. In an embodiment, the control reference temperature may be set for each of the components 531, 533, and 535. In one embodiment, the control reference temperature for each of the parts 531, 533, and 535 corresponds to a ratio (eg, 90%) set for the reference temperature of each part of the parts 531, 533, and 535. It can be temperature. In one embodiment, the ratio set for the reference temperature of each part of the parts 531, 533, and 535 corresponds to the rate of increase over time (℃/sec) of the temperature of each of the parts 531, 533, and 535 It can be determined by the rate of increase.
일 실시 예에서, 제2 온도 제어는, 부품들(531, 533, 및 535) 중 온도가 제어 기준 온도를 초과한 부품((예: 부품(531))의 부품 기준 온도에 따른 제2 온도 범위 내에서 프로세서(510)의 온도가 식별되도록 하기 위한 제어일 수 있다. In one embodiment, the second temperature control is a second temperature range according to the reference temperature of a component (for example, component 531) whose temperature exceeds a control reference temperature among components 531, 533, and 535. It may be a control for identifying the temperature of the processor 510 within.
일 실시 예에서, 제2 온도 범위는, 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 부품 기준 온도에 대하여 설정될 수 있다. 일 실시 예에서, 부품들(531, 533, 및 535) 중 온도가 제어 기준 온도를 초과한 부품이 둘 이상인 경우, 둘 이상의 제2 온도 범위 중 온도 범위가 낮은 제2 온도 범위에 기초하여 제2 온도 제어가 수행될 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 온도 범위는 제1 온도 범위보다 낮을 수 있다.In an embodiment, the second temperature range may be set with respect to a component reference temperature of each of the components 531, 533, and 535. In an embodiment, when two or more of the parts 531, 533, and 535 have a temperature exceeding the control reference temperature, the second temperature range is Temperature control can be performed. In an embodiment, the second temperature range may be lower than the first temperature range.
일 실시 예에서, 프로세서(510)는, 부품(531)의 온도가 부품(531)의 부품 기준 온도에 기초하여 결정되는 제어 기준 온도를 초과하면, 부품(531)에 따른 제2 온도 범위에 기초하여 프로세서(510)에 대한 제2 온도 제어를 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 부품(531)에 따른 제2 온도 범위에 기초하여 프로세서(510)에 대한 제2 온도 제어를 수행하는 중, 프로세서(510)는, 부품(533)의 온도가 부품(533)의 부품 기준 온도에 기초하여 결정되는 제어 기준 온도를 초과하면, 부품(531)에 따른 제2 온도 범위 및 부품(533)에 따른 제2 온도 범위 중 낮은 온도 범위를 가지는 제2 온도 범위에 기초하여 프로세서(510)에 대한 제2 온도 제어를 수행할 수 있다. In an embodiment, when the temperature of the component 531 exceeds the control reference temperature determined based on the component reference temperature of the component 531, the processor 510 is based on the second temperature range according to the component 531. Thus, the second temperature control for the processor 510 may be performed. In one embodiment, while performing the second temperature control for the processor 510 based on the second temperature range according to the component 531, the processor 510, the temperature of the component 533 is the component 533 If the control reference temperature determined based on the component reference temperature of is exceeded, based on a second temperature range having a lower temperature range among the second temperature range according to the component 531 and the second temperature range according to the component 533 Second temperature control for the processor 510 may be performed.
도 6은, 일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 5a, 및 도 5b의 전자 장치(501))의 동작을 나타내는 흐름도이다. 도 7a는, 일 실시 예에 따른 전자 장치(501)의 프로세서(예: 도 5a, 및 도 5b의 프로세서(510))의 최대 동작 주파수 변화를 나타내는 그래프이다. 도 7b는, 일 실시 예에 따른 전자 장치(501)의 프로세서(510)의 온도 변화를 나타내는 그래프이다. 도 7c는, 일 실시 예에 따른 전자 장치(501)의 부품(531)의 온도 변화를 나타내는 그래프이다. 도 7d는, 일 실시 예에 따른 전자 장치(501)의 부품(533)의 온도 변화를 나타내는 그래프이다. 도 7e는, 일 실시 예에 따른 전자 장치(501)의 부품(535)의 온도 변화를 나타내는 그래프이다.6 is a flowchart illustrating an operation of an electronic device (eg, the electronic device 501 of FIGS. 5A and 5B) according to an exemplary embodiment. 7A is a graph illustrating a change in a maximum operating frequency of a processor (eg, the processor 510 of FIGS. 5A and 5B) of the electronic device 501 according to an exemplary embodiment. 7B is a graph illustrating a temperature change of the processor 510 of the electronic device 501 according to an exemplary embodiment. 7C is a graph showing a temperature change of a component 531 of the electronic device 501 according to an exemplary embodiment. 7D is a graph showing a temperature change of a component 533 of the electronic device 501 according to an exemplary embodiment. 7E is a graph showing a temperature change of a component 535 of the electronic device 501 according to an exemplary embodiment.
일 실시 예에서, 동작 610에서, 전자 장치(501)의 프로세서(예: 도 5a, 및 도 5b의 프로세서(510))는, 프로세서(510)의 제1 온도와 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 제2 온도를 측정할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(510)는, 프로세서(510)에 대한 온도 센서(예: 도 5a, 및 도 5b의 온도 센서(511))로부터 입력되는 온도 측정 값에 기반하여, 프로세서(510)의 제1 온도를 측정할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 부품들(531, 533, 및 535) 각각에 대한 온도 센서(예: 도 5의 온도 센서들(521, 523, 525))로부터 입력되는 온도 측정 값에 기반하여, 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 제2 온도를 측정할 수 있다.In an embodiment, in operation 610, the processor of the electronic device 501 (for example, the processor 510 of FIGS. 5A and 5B ), the first temperature and the components 531 and 533 of the processor 510, and 535) Each second temperature can be measured. In one embodiment, the processor 510 is based on a temperature measurement value input from a temperature sensor for the processor 510 (eg, the temperature sensor 511 of FIGS. 5A and 5B ). The first temperature can be measured. In one embodiment, the processor 210, the temperature measurement value input from the temperature sensor for each of the components 531, 533, and 535 (for example, the temperature sensors 521, 523, 525 of FIG. 5) Based on this, the second temperature of each of the components 531, 533, and 535 may be measured.
도 7a 내지 도 7e를 참조하면, 제1 시점(TP1) 이전의 제1 구간에는, 프로세서(510)의 최대 동작 주파수가 상대적으로 높게 유지됨에 따라, 프로세서(510)의 제1 온도와 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 제2 온도가 꾸준히 상승할 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 구간에서의 프로세서(510)의 최대 동작 주파수는, 2 기가 헤르츠(GHz)일 수 있다. 도 7b 내지 도 7c를 참조하면, 프로세서(510)의 온도 상승률(℃/sec)은 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 온도 상승률(℃/sec)보다 높을 수 있다.7A to 7E, in the first section before the first time point TP1, as the maximum operating frequency of the processor 510 is maintained relatively high, the first temperature and the components ( 531, 533, and 535) each of the second temperature may increase steadily. In an embodiment, the maximum operating frequency of the processor 510 in the first period may be 2 gigahertz (GHz). 7B to 7C, the temperature increase rate (°C/sec) of the processor 510 may be higher than the temperature increase rate (°C/sec) of each of the components 531, 533, and 535.
일 실시 예에서, 동작 620에서, 프로세서(510)는, 프로세서(510)의 제1 온도가 제1 기준 온도에 도달하였는지를 판단할 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 기준 온도는 프로세서(510)가 프로세서(510)의 온도에 의해 손상되지 않는 온도(예: 프로세서(510)에 대한 보증 온도)일 수 있다.In an embodiment, in operation 620, the processor 510 may determine whether the first temperature of the processor 510 has reached the first reference temperature. In an embodiment, the first reference temperature may be a temperature at which the processor 510 is not damaged by the temperature of the processor 510 (eg, a guaranteed temperature for the processor 510 ).
일 실시 예에서, 프로세서(510)의 제1 온도가 제1 기준 온도에 도달한 것으로 판단되면('예'), 프로세서(510)는 동작 630을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(510)의 제1 온도가 제1 기준 온도에 도달하지 않은 것으로 판단되면('아니오'), 프로세서(510)는 동작 610을 수행할 수 있다.In an embodiment, if it is determined that the first temperature of the processor 510 has reached the first reference temperature ('Yes'), the processor 510 may perform operation 630. In an embodiment, if it is determined that the first temperature of the processor 510 has not reached the first reference temperature ('No'), the processor 510 may perform operation 610.
도 7b를 참조하면, 제1 시점(TP1)에는, 프로세서(510)의 제1 온도가 제1 기준 온도에 도달할 수 있다.Referring to FIG. 7B, at a first time point TP1, a first temperature of the processor 510 may reach a first reference temperature.
일 실시 예에서, 동작 630에서, 프로세서(510)는, 프로세서(510)에 대한 제1 스로틀링을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(510)에 대한 제1 스로틀링은 프로세서(510)의 제1 온도가 제1 기준 온도에 따른 제1 온도 범위 내에서 존재하도록 프로세서(510)의 성능을 조절하는 동작일 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 온도 범위의 상한은 제1 기준 온도에 대응할 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 온도 범위의 하한은 제1 기준 온도로부터 기준 성능 제어 범위만큼 낮은 온도에 대응할 수 있다.In an embodiment, in operation 630, the processor 510 may perform first throttling on the processor 510. In one embodiment, the first throttling for the processor 510 is an operation of adjusting the performance of the processor 510 so that the first temperature of the processor 510 is within a first temperature range according to the first reference temperature. I can. In an embodiment, the upper limit of the first temperature range may correspond to the first reference temperature. In an embodiment, the lower limit of the first temperature range may correspond to a temperature lower than the first reference temperature by the reference performance control range.
도 7a, 및 도 7b를 참조하면, 제1 시점(TP1) 및 제2 시점(TP2) 사이의 제2 구간에는, 프로세서(510)의 제1 온도가 제1 기준 온도에 따른 제1 온도 범위에 존재하도록, 프로세서(510)가 제1 스로틀링을 수행할 수 있다. 도 7a를 참조하면, 제2 구간에는, 프로세서(510)가 제1 스로틀링을 수행함에 따라, 프로세서(510)의 최대 동작 주파수가 제1 스로틀링을 수행하기 전보다 감소할 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 구간에서의 프로세서(510)의 최대 동작 주파수는, 제1 구간에서의 프로세서(510)의 최대 동작 주파수보다 낮을 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 구간에서의 프로세서(510)의 최대 동작 주파수는, 1.8 기가 헤르츠(GHz)일 수 있다. 도 7b를 참조하면, 제2 구간에는, 프로세서(510)가 제1 스로틀링을 수행함에 따라, 프로세서(510)의 제1 온도가 제1 기준 온도에 따른 제1 온도 범위에서 존재할 수 있다. 도 7c 내지 도 7e를 참조하면, 제2 구간에는, 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 제2 온도는 꾸준히 상승할 수 있다. 도 7c 내지 도 7e를 참조하면, 제2 구간에는, 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 온도 상승률은 제1 시점 이전의 온도 상승률보다 낮을 수 있다.7A and 7B, in the second section between the first time point TP1 and the second time point TP2, the first temperature of the processor 510 is within a first temperature range according to the first reference temperature. To be present, the processor 510 may perform the first throttling. Referring to FIG. 7A, in the second period, as the processor 510 performs first throttling, the maximum operating frequency of the processor 510 may decrease compared to before performing the first throttling. In an embodiment, the maximum operating frequency of the processor 510 in the second section may be lower than the maximum operating frequency of the processor 510 in the first section. In an embodiment, the maximum operating frequency of the processor 510 in the second period may be 1.8 gigahertz (GHz). Referring to FIG. 7B, in a second period, as the processor 510 performs first throttling, a first temperature of the processor 510 may exist in a first temperature range according to a first reference temperature. 7C to 7E, in the second section, the second temperature of each of the components 531, 533, and 535 may steadily increase. 7C to 7E, in the second section, the temperature increase rate of each of the components 531, 533, and 535 may be lower than the temperature increase rate before the first time point.
일 실시 예에서, 동작 640에서, 프로세서(510)는, 제2 온도들 중 대응하는 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 제어 기준 온도에 도달한 제2 온도를 식별할 수 있다. 일 실시 예에서, 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 제어 기준 온도는 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 부품 기준 온도의 사전 설정된 비율(예: 90%)에 상응하는 온도에 대응할 수 있다.In an embodiment, in operation 640, the processor 510 may identify a second temperature that has reached the control reference temperature of each of the corresponding components 531, 533, and 535 among the second temperatures. In one embodiment, the control reference temperature of each of the parts 531, 533, and 535 is a temperature corresponding to a preset ratio (eg, 90%) of the reference temperature of each of the parts 531, 533, and 535 Can respond to.
도 7c 내지 도 7e를 참조하면, 제2 시점(TP2)에는, 부품들(531, 533, 및 535) 중 부품(531)의 제2 온도가 제어 기준 온도에 도달할 수 있다.7C to 7E, at a second point in time TP2, a second temperature of the component 531 among the components 531, 533, and 535 may reach the control reference temperature.
일 실시 예에서, 동작 650에서, 프로세서(510)는, 프로세서(510)에 대한 제2 스로틀링을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(510)에 대한 제2 스로틀링은 프로세서(510)의 제1 온도가 제2 기준 온도에 따른 제2 온도 범위 내에서 존재하도록 프로세서(510)의 성능을 조절하는 동작일 수 있다.In an embodiment, in operation 650, the processor 510 may perform second throttling on the processor 510. In one embodiment, the second throttling for the processor 510 is an operation of adjusting the performance of the processor 510 so that the first temperature of the processor 510 is within a second temperature range according to the second reference temperature. I can.
도 7a, 및 도 7b를 참조하면, 제2 시점(TP2) 및 제3 시점(TP3) 사이의 제3 구간에는, 프로세서(510)의 제1 온도가 제1 기준 온도에서 제2 기준 온도로 낮아지도록, 프로세서(510)가 제2 스로틀링을 수행할 수 있다. 도 7a, 및 도 7b를 참조하면, 제3 구간에는, 프로세서(510)의 제1 온도가 제2 온도 범위의 상한을 초과하므로, 프로세서(510)의 최대 동작 주파수를 감소시키는 동작이 지속적으로 수행될 수 있다. 이에 따라, 제3 구간에서의 프로세서(510)의 최대 동작 주파수는, 제2 구간에서의 프로세서(510)의 최대 동작 주파수보다 낮을 수 있다. 일 실시 예에서, 제3 구간에서의 프로세서(510)의 최대 동작 주파수는, 1.5 기가 헤르츠(GHz)일 수 있다.7A and 7B, in a third section between the second time point TP2 and the third time point TP3, the first temperature of the processor 510 is lowered from the first reference temperature to the second reference temperature. Thus, the processor 510 may perform second throttling. 7A and 7B, in the third section, since the first temperature of the processor 510 exceeds the upper limit of the second temperature range, the operation of reducing the maximum operating frequency of the processor 510 is continuously performed. Can be. Accordingly, the maximum operating frequency of the processor 510 in the third section may be lower than the maximum operating frequency of the processor 510 in the second section. In an embodiment, the maximum operating frequency of the processor 510 in the third period may be 1.5 gigahertz (GHz).
도 7c 내지 도 7e를 참조하면, 제3 구간에는, 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 제2 온도는 꾸준히 상승할 수 있다. 도 7c 내지 도 7e를 참조하면, 제3 구간에는, 부품들(531, 533, 및 535) 각각의 온도 상승률은 제2 시점 이전의 온도 상승률보다 낮을 수 있다.7C to 7E, in the third section, the second temperature of each of the components 531, 533, and 535 may steadily increase. 7C to 7E, in the third section, the temperature increase rate of each of the components 531, 533, and 535 may be lower than the temperature increase rate before the second time point.
도 7c 내지 도 7e를 참조하면, 제3 시점(TP3) 및 제4 시점(TP4) 사이의 제4 구간에는, 프로세서(510)의 제1 온도가 부품(531)의 부품 기준 온도에 따른 제2 기준 온도에 대응하는 범위에 존재하도록, 프로세서(510)가 제2 스로틀링을 수행할 수 있다. 도 7a, 및 도 7b를 참조하면, 제4 구간에는, 프로세서(510)의 제1 온도가 제2 온도 범위 이내에서 존재하도록, 프로세서(510)의 최대 동작 주파수를 감소시키는 동작과 프로세서(510)의 최대 동작 주파수를 증가시키는 동작이 교번하여 수행될 수 있다. 이에 따라, 제4 구간에서의 프로세서(510)의 최대 동작 주파수는, 제4 구간에서의 프로세서(510)의 최대 동작 주파수와 동일하거나 낮을 수 있다.7C to 7E, in the fourth section between the third time point TP3 and the fourth time point TP4, the first temperature of the processor 510 is the second temperature according to the reference temperature of the part 531. The processor 510 may perform second throttling to exist in a range corresponding to the reference temperature. 7A and 7B, in the fourth section, the operation of reducing the maximum operating frequency of the processor 510 and the processor 510 so that the first temperature of the processor 510 exists within the second temperature range. The operation of increasing the maximum operating frequency of may be performed alternately. Accordingly, the maximum operating frequency of the processor 510 in the fourth section may be equal to or lower than the maximum operating frequency of the processor 510 in the fourth section.
도 7c 내지 도 7e를 참조하면, 제4 시점(TP4)에는, 부품들(531, 533, 및 535) 중 부품(533)의 제2 온도가 제어 기준 온도에 도달할 수 있다.7C to 7E, at a fourth point in time TP4, the second temperature of the component 533 among the components 531, 533, and 535 may reach the control reference temperature.
도 7c 내지 도 7e를 참조하면, 제4 시점(TP4) 및 제5 시점(TP5) 사이의 제5 구간에는, 프로세서(510)의 제1 온도가 부품(531)의 부품 기준 온도에 따른 제2 기준 온도에 대응하는 범위, 및 부품(533)의 부품 기준 온도에 따른 제3 기준 온도에 대응하는 범위 중 낮은 온도 범위에 존재하도록, 프로세서(510)가 제2 스로틀링을 수행할 수 있다. 도 7a, 및 도 7b를 참조하면, 제5 구간에는, 프로세서(510)의 제1 온도가 제3 기준 온도에 따른 온도 범위 이내에서 존재하도록, 프로세서(510)의 최대 동작 주파수를 감소시키는 동작과 프로세서(510)의 최대 동작 주파수를 증가시키는 동작이 교번하여 수행될 수 있다. 이에 따라, 제6 구간에서의 프로세서(510)의 최대 동작 주파수는, 제5 구간에서의 프로세서(510)의 최대 동작 주파수와 동일하거나 낮을 수 있다.7C to 7E, in a fifth section between the fourth time point TP4 and the fifth time point TP5, the first temperature of the processor 510 is the second temperature according to the component reference temperature of the component 531. The processor 510 may perform the second throttling to exist in a lower temperature range among the range corresponding to the reference temperature and the range corresponding to the third reference temperature according to the component reference temperature of the component 533. 7A and 7B, in the fifth section, an operation of reducing the maximum operating frequency of the processor 510 so that the first temperature of the processor 510 exists within a temperature range according to the third reference temperature, and The operation of increasing the maximum operating frequency of the processor 510 may be alternately performed. Accordingly, the maximum operating frequency of the processor 510 in the sixth section may be equal to or lower than the maximum operating frequency of the processor 510 in the fifth section.
일 실시 예에서, 상술한 바와 같은, 전자 장치(예: 도 2의 전자 장치(201)), 및 이의 동작 방법은, 프로세서(예: 도 2의 프로세서(210))가 부품(예: 도 2의 부품(230))에 대한 온도에 기반하여 스로틀링에 진입하는 시점을 최대한 늦춤으로써, 프로세서(210)의 동작 성능 하락 시점을 지연시킬 수 있다. 상술한 바와 같은, 일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 2의 전자 장치(201)), 및 이의 동작 방법은, 프로세서(210)의 동작 성능 하락 시점을 지연시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 최대한 높게 유지할 수 있다.In one embodiment, as described above, the electronic device (eg, the electronic device 201 of FIG. 2 ), and an operation method thereof, include a processor (eg, the processor 210 of FIG. 2 ), which is a component (eg, the electronic device 201 of FIG. 2 ). By delaying the timing of entering throttling based on the temperature of the component 230 of, the timing of deterioration of the operating performance of the processor 210 may be delayed. As described above, the electronic device (for example, the electronic device 201 of FIG. 2) and its operation method according to an exemplary embodiment delay the deterioration of the operation performance of the processor 210, thereby performing the operation of the processor 210. You can keep the performance as high as possible.
본 개시의 예시 1은, 프로세서, 상기 프로세서의 온도를 측정하는 제1 온도 센서, 상기 전자 장치의 다수의 부품들 각각의 온도를 측정하는 제2 온도 센서 및 상기 프로세서와 작동적으로 연결된 메모리를 포함하고, 상기 메모리는 상기 프로세서에 의해 실행되는 인스트럭션들을 포함하는 특징을 가지는 전자 장치일 수 있다. Example 1 of the present disclosure includes a processor, a first temperature sensor that measures the temperature of the processor, a second temperature sensor that measures the temperature of each of a plurality of components of the electronic device, and a memory operatively connected to the processor. And, the memory may be an electronic device having a characteristic including instructions executed by the processor.
본 개시의 예시의 전자 장치의 프로세서는 상기 제1 온도 센서를 통해, 상기 프로세서의 온도를 측정하는 특징을 가질 수 있다.The processor of the electronic device of the example of the present disclosure may have a characteristic of measuring the temperature of the processor through the first temperature sensor.
본 개시의 예시의 전자 장치의 프로세서는 상기 프로세서의 온도가 제1 기준 온도에 도달함에 응답하여, 상기 제1 기준 온도에 기반하여 상기 프로세서의 최대 동작 주파수를 변경하는 특징을 가질 수 있다.In response to the temperature of the processor reaching a first reference temperature, the processor of the electronic device according to an exemplary embodiment of the present disclosure may change the maximum operating frequency of the processor based on the first reference temperature.
본 개시의 예시의 전자 장치의 프로세서는 상기 제2 온도 센서를 통해, 상기 다수의 부품들 중 적어도 하나의 부품의 온도를 측정하는 특징을 가질 수 있다. The processor of the electronic device of the exemplary embodiment of the present disclosure may have a characteristic of measuring the temperature of at least one of the plurality of parts through the second temperature sensor.
본 개시의 예시의 전자 장치의 프로세서는 상기 적어도 하나의 부품의 온도가 제2 기준 온도에 도달함에 응답하여, 상기 제1 기준 온도보다 낮은 제3 기준 온도에 기반하여 상기 프로세서의 최대 동작 주파수를 변경하는 특징을 가질 수 있다.In response to the temperature of the at least one component reaching a second reference temperature, the processor of the electronic device of the exemplary embodiment of the present disclosure changes the maximum operating frequency of the processor based on a third reference temperature lower than the first reference temperature. It can have a characteristic.
본 개시의 예시의 전자 장치의 프로세서는 상기 프로세서의 온도 상한 값에 기반하여 상기 제1 기준 온도를 결정하는 특징을 가질 수 있다.The processor of the electronic device of the example of the present disclosure may have a characteristic of determining the first reference temperature based on an upper temperature limit value of the processor.
본 개시의 예시의 전자 장치의 프로세서는 상기 적어도 하나의 부품의 온도 상한 값에 기반하여, 상기 제2 기준 온도를 결정하는 특징을 가질 수 있다.The processor of the electronic device of the example of the present disclosure may have a feature of determining the second reference temperature based on an upper temperature limit value of the at least one component.
본 개시의 예시의 전자 장치의 프로세서는 상기 적어도 하나의 부품의 온도 상한 값에 기반하여, 상기 제3 기준 온도를 결정하는 특징을 가질 수 있다.The processor of the electronic device of the example of the present disclosure may have a characteristic of determining the third reference temperature based on an upper temperature limit value of the at least one component.
본 개시의 예시의 전자 장치의 프로세서는 상기 프로세서의 온도가 제1 기준 온도에 도달함에 응답하여, 상기 프로세서의 온도가 상기 제1 기준 온도에 대응하는 제1 온도 상한 값에 도달하면, 상기 프로세서의 최대 동작 주파수를 지정된 주파수만큼 하향시키는 특징을 가질 수 있다.In response to the temperature of the processor reaching a first reference temperature, the processor of the electronic device of the exemplary embodiment of the present disclosure, when the temperature of the processor reaches a first temperature upper limit value corresponding to the first reference temperature, of the processor It may have a characteristic of lowering the maximum operating frequency by a specified frequency.
본 개시의 예시의 전자 장치의 프로세서는 상기 프로세서의 온도가 상기 제1 기준 온도에 대응하는 제1 온도 하한 값에 도달하면, 상기 프로세서의 최대 동작 주파수를 지정된 주파수만큼 상향시키는 특징을 가질 수 있다.The processor of the electronic device according to the exemplary embodiment of the present disclosure may have a characteristic of increasing the maximum operating frequency of the processor by a specified frequency when the temperature of the processor reaches a first lower limit temperature corresponding to the first reference temperature.
본 개시의 예시의 전자 장치의 프로세서는 상기 적어도 하나의 부품의 온도가 제2 기준 온도에 도달함에 응답하여, 상기 프로세서의 온도가 상기 제3 기준 온도에 대응하는 제2 온도 상한 값에 도달하면, 상기 프로세서의 최대 동작 주파수를 지정된 주파수만큼 하향시키는 특징을 가질 수 있다.In response to the temperature of the at least one component reaching a second reference temperature, the processor of the electronic device of the exemplary embodiment of the present disclosure, when the temperature of the processor reaches a second temperature upper limit value corresponding to the third reference temperature, It may have a characteristic of lowering the maximum operating frequency of the processor by a specified frequency.
본 개시의 예시의 전자 장치의 프로세서는 상기 프로세서의 온도가 상기 제3 기준 온도에 대응하는 제2 온도 하한 값에 도달하면, 상기 프로세서의 최대 동작 주파수를 지정된 주파수만큼 상향시키는 특징을 가질 수 있다.The processor of the electronic device according to the exemplary embodiment of the present disclosure may increase the maximum operating frequency of the processor by a specified frequency when the temperature of the processor reaches a second lower temperature limit corresponding to the third reference temperature.
본 개시의 예시의 전자 장치의 적어도 하나의 부품은, 디스플레이, 배터리, 또는 이들의 조합인 특징을 가질 수 있다.At least one component of the electronic device of the example of the present disclosure may have a feature of a display, a battery, or a combination thereof.
본 개시의 예시의 전자 장치의 프로세서는 상기 제2 온도 센서를 통해, 상기 다수의 부품들 중 활성화된 적어도 하나의 부품의 온도를 측정하고, 상기 활성화된 적어도 하나의 부품의 온도가 제2 기준 온도에 도달함을 식별하는 특징을 가질 수 있다.The processor of the electronic device of the exemplary embodiment of the present disclosure measures the temperature of at least one activated component among the plurality of components through the second temperature sensor, and the temperature of the at least one activated component is a second reference temperature. May have a feature that identifies reaching
본 개시의 예시의 전자 장치의 프로세서는 상기 적어도 하나의 부품 중 온도가 상기 적어도 하나의 부품 각각의 제2 기준 온도에 도달한 부품들을 식별하는 특징을 가질 수 있다.The processor of the electronic device according to the exemplary embodiment of the present disclosure may have a feature of identifying components of the at least one component whose temperature reaches a second reference temperature of each of the at least one component.
본 개시의 예시의 전자 장치의 프로세서는 상기 식별된 부품들 각각의 제2 기준 온도 중 가장 낮은 제2 기준 온도를 식별하고, 식별된 제2 기준 온도에 대응하는 제3 기준 온도에 기반하여 상기 프로세서의 최대 동작 주파수를 변경하는 특징을 가질 수 있다.The processor of the electronic device of the exemplary embodiment of the present disclosure identifies the lowest second reference temperature among the second reference temperatures of each of the identified components, and the processor based on a third reference temperature corresponding to the identified second reference temperature. It may have a feature of changing the maximum operating frequency of.
본 개시의 예시의 전자 장치의 프로세서는 일 실시 예에서, 상기 제1 온도 센서는 상기 프로세서와 일체로 구성되는 특징을 가질 수 있다.In an embodiment, the processor of the electronic device of the example of the present disclosure may have a feature that the first temperature sensor is integrally configured with the processor.
도 8은, 일 실시 예에 따른 전자 장치(801)의 블럭도이다. 도 8의 전자 장치(801)는, 도 1의 전자 장치(101)에 대응할 수 있다. 도 8의 전자 장치(801)는, 도 2a, 또는 도 2b의 전자 장치(201)에 대응할 수 있다. 도 8의 전자 장치(801)는, 도 5a, 또는 도 5b의 전자 장치(501)에 대응할 수 있다.8 is a block diagram of an electronic device 801 according to an embodiment. The electronic device 801 of FIG. 8 may correspond to the electronic device 101 of FIG. 1. The electronic device 801 of FIG. 8 may correspond to the electronic device 201 of FIG. 2A or 2B. The electronic device 801 of FIG. 8 may correspond to the electronic device 501 of FIG. 5A or 5B.
일 실시 예에서, 전자 장치(801)는, 제어부(810), 온도 측정부(820), 부품(830), 또는 이들의 조합을 포함할 수 있다.In an embodiment, the electronic device 801 may include a control unit 810, a temperature measurement unit 820, a component 830, or a combination thereof.
일 실시 예에서, 제어부(810)는, 도 1의 프로세서(120)에 대응할 수 있다. 도 8의 제어부(810)는, 도 2a, 또는 도 2b의 프로세서(210)에 대응할 수 있다. 도 8의 제어부(810)는, 도 5a, 또는 도 5b의 프로세서(510)에 대응할 수 있다.In an embodiment, the controller 810 may correspond to the processor 120 of FIG. 1. The controller 810 of FIG. 8 may correspond to the processor 210 of FIG. 2A or 2B. The controller 810 of FIG. 8 may correspond to the processor 510 of FIG. 5A or 5B.
일 실시 예에서, 온도 측정부(820)는, 도 1의 센서 모듈(176)에 포함될 수 있다. 도 8의 온도 측정부(820)는, 도 2a, 또는 도 2b의 온도 센서(220)에 대응할 수 있다. 도 8의 온도 측정부(820)는, 도 5a, 또는 도 5b의 온도 센서(520)에 대응할 수 있다.In an embodiment, the temperature measuring unit 820 may be included in the sensor module 176 of FIG. 1. The temperature measuring unit 820 of FIG. 8 may correspond to the temperature sensor 220 of FIG. 2A or 2B. The temperature measuring unit 820 of FIG. 8 may correspond to the temperature sensor 520 of FIG. 5A or 5B.
일 실시 예에서, 부품(830)은, 도 1의 메모리(130), 입력 장치(150), 음향 출력 장치(155), 표시 장치(160), 오디오 모듈(170), 센서 모듈(176), 인터페이스(177), 연결 단자(178), 햅틱 모듈(179), 카메라 모듈(180), 전력 관리 모듈(188), 배터리(189), 통신 모듈(190), 가입자 식별 모듈(196), 안테나 모듈(197), 또는 이들의 조합에 대응할 수 있다. 일 실시 예에서, 부품(830)은, 전자 장치(210)의 하우징(미도시)에 대응할 수 있다.In an embodiment, the component 830 includes the memory 130, the input device 150, the sound output device 155, the display device 160, the audio module 170, the sensor module 176 of FIG. 1, Interface 177, connection terminal 178, haptic module 179, camera module 180, power management module 188, battery 189, communication module 190, subscriber identification module 196, antenna module (197), or a combination thereof. In an embodiment, the component 830 may correspond to a housing (not shown) of the electronic device 210.
일 실시 예에서, 부품(830)은, 도 2a, 또는 도 2b의 부품(230)에 대응할 수 있다. 일 실시 예에서, 부품(830)은, 도 2a, 또는 도 2b의 부품(230)에 대응할 수 있다. 일 실시 예에서, 부품(830)은, 도 5a, 또는 도 5b의 부품들(531, 533, 535)에 각각 대응할 수 있다.In one embodiment, the component 830 may correspond to the component 230 of FIG. 2A or 2B. In one embodiment, the component 830 may correspond to the component 230 of FIG. 2A or 2B. In an embodiment, the component 830 may correspond to the components 531, 533, and 535 of FIG. 5A or 5B, respectively.
도 9는, 일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 2의 전자 장치(201))의 슬라이딩 여부에 따른 동작을 나타내는 흐름도이다. 도 10은 본 개시의 일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 2의 전자 장치(201))의 슬라이딩 여부에 따른 부품들 간의 거리 변화를 예시하는 도면이다.9 is a flowchart illustrating an operation according to whether an electronic device (eg, the electronic device 201 of FIG. 2) slides according to an exemplary embodiment. 10 is a diagram illustrating a change in distance between components according to whether an electronic device (eg, the electronic device 201 of FIG. 2) slides according to an embodiment of the present disclosure.
일 실시 예에서, 도 9의 동작은 도 2a, 또는 도 2b의 전자 장치(201)를 참조하여 설명될 수 있다.In an embodiment, the operation of FIG. 9 may be described with reference to the electronic device 201 of FIG. 2A or 2B.
일 실시 예에서, 동작 910에서, 전자 장치(201)의 프로세서(예: 도 2의 프로세서(210))는, 프로세서(210)의 제1 온도와 부품(230)의 제2 온도를 측정할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)에 대한 온도 센서(예: 도 2의 온도 센서(211))로부터 입력되는 온도 측정 값에 기반하여, 프로세서(210)의 제1 온도를 측정할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 부품(230)에 대한 온도 센서(예: 도 2의 온도 센서(220))로부터 입력되는 온도 측정 값에 기반하여, 부품(230)의 제2 온도를 측정할 수 있다.In an embodiment, in operation 910, the processor of the electronic device 201 (eg, the processor 210 of FIG. 2) may measure the first temperature of the processor 210 and the second temperature of the component 230. have. In an embodiment, the processor 210 determines the first temperature of the processor 210 based on a temperature measurement value input from a temperature sensor for the processor 210 (eg, the temperature sensor 211 of FIG. 2 ). Can be measured. In an embodiment, the processor 210 determines the second temperature of the component 230 based on a temperature measurement value input from a temperature sensor for the component 230 (eg, the temperature sensor 220 of FIG. 2 ). Can be measured.
도 10을 참조하면, 프로세서(210)는, 프로세서(210)에 대한 온도 센서(예: 도 2의 온도 센서(211))로부터 입력되는 온도 측정 값에 기반하여, 프로세서(210)의 제1 온도를 측정할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 부품(230)에 대한 온도 센서(예: 도 2의 온도 센서(220))로부터 입력되는 온도 측정 값에 기반하여, 부품(230)의 제2 온도를 측정할 수 있다.Referring to FIG. 10, based on a temperature measurement value input from a temperature sensor for the processor 210 (eg, the temperature sensor 211 of FIG. 2 ), the processor 210 Can be measured. In an embodiment, the processor 210 determines the second temperature of the component 230 based on a temperature measurement value input from a temperature sensor for the component 230 (eg, the temperature sensor 220 of FIG. 2 ). Can be measured.
일 실시 예에서, 동작 920에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)의 제1 온도가 제1 기준 온도에 도달하였는지를 판단할 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 기준 온도는 프로세서(210)가 프로세서(210)의 온도에 의해 손상되지 않는 온도(예: 프로세서(210)에 대한 보증 온도)일 수 있다.In an embodiment, in operation 920, the processor 210 may determine whether the first temperature of the processor 210 has reached the first reference temperature. In an embodiment, the first reference temperature may be a temperature at which the processor 210 is not damaged by the temperature of the processor 210 (eg, a guaranteed temperature for the processor 210).
일 실시 예에서, 프로세서(210)의 제1 온도가 제1 기준 온도에 도달한 것으로 판단되면(‘예’), 프로세서(210)는 동작 930을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)의 제1 온도가 제1 기준 온도에 도달하지 않은 것으로 판단되면(‘아니오’), 프로세서(210)는 동작 910을 수행할 수 있다.In an embodiment, when it is determined that the first temperature of the processor 210 has reached the first reference temperature ('Yes'), the processor 210 may perform operation 930. In an embodiment, if it is determined that the first temperature of the processor 210 has not reached the first reference temperature (“No”), the processor 210 may perform operation 910.
일 실시 예에서, 동작 930에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)에 대한 제1 스로틀링을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 동작 930은 도 3의 동작 320에 대응할 수 있다.In an embodiment, in operation 930, the processor 210 may perform first throttling on the processor 210. In an embodiment, operation 930 may correspond to operation 320 of FIG. 3.
일 실시 예에서, 동작 940에서, 프로세서(210)는, 전자 장치(201)의 슬라이딩 여부를 판단할 수 있다.In an embodiment, in operation 940, the processor 210 may determine whether the electronic device 201 slides.
도 10을 참조하면, 프로세서(210)는, 전자 장치(201)의 슬라이딩 되지 않은 상태(1010)(예: 슬라이드 클로즈(slide close)) 및 슬라이딩 상태(1030)(예: 슬라이드 오픈(slide open)) 중 하나의 상태를 판단할 수 있다. 일 실시 예에서, 슬라이딩 상태(1030)는 펼쳐진(extended) 상태로 지칭될 수 있다. 일 실시 예에서, 슬라이딩 되지 않은 상태(1010)는 펼쳐지지 않은(unextended) 상태로 지칭될 수 있다.Referring to FIG. 10, the processor 210 is in a non-sliding state 1010 (eg, slide close) and a sliding state 1030 (eg, slide open) of the electronic device 201. ), one of the states can be determined. In an embodiment, the sliding state 1030 may be referred to as an extended state. In one embodiment, the non-sliding state 1010 may be referred to as an unextended state.
일 실시 예에서, 전자 장치(201)의 상태가 슬라이딩 상태(1030)인 것으로 판단되면(‘예’), 프로세서(210)는 동작 950을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 전자 장치(201)의 상태가 슬라이딩 되지 않은 상태(1010)인 것으로 판단되면(‘아니오’), 프로세서(210)는 동작 960을 수행할 수 있다.In an embodiment, when it is determined that the state of the electronic device 201 is the sliding state 1030 ('Yes'), the processor 210 may perform operation 950. In an embodiment, if it is determined that the state of the electronic device 201 is the non-sliding state 1010 (“No”), the processor 210 may perform operation 960.
일 실시 예에서, 동작 950에서, 프로세서(210)는, 제1 온도 보정 값을 식별할 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 온도 보정 값은 부품(230)의 제2 온도를 보정하기 위한 보정 값일 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 온도 보정 값은 프로세서(210)와 부품(230) 간의 제1 거리(L1)에 기반하여 사전 결정된 값일 수 있다.In an embodiment, in operation 950, the processor 210 may identify the first temperature correction value. In an embodiment, the first temperature correction value may be a correction value for correcting the second temperature of the component 230. In an embodiment, the first temperature correction value may be a predetermined value based on the first distance L1 between the processor 210 and the component 230.
일 실시 예에서, 동작 960에서, 프로세서(210)는, 제2 온도 보정 값을 식별할 수 있다. 일 실시 예에서, 제2온도 보정 값은 부품(230)의 제2 온도를 보정하기 위한 보정 값일 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 온도 보정 값은 프로세서(210)와 부품(230) 간의 제2 거리(L2)에 기반하여 사전 결정된 값일 수 있다.In an embodiment, in operation 960, the processor 210 may identify a second temperature correction value. In an embodiment, the second temperature correction value may be a correction value for correcting the second temperature of the component 230. In an embodiment, the second temperature correction value may be a predetermined value based on the second distance L2 between the processor 210 and the component 230.
일 실시 예에서, 제1 온도 보정 값 및 제2 온도 보정 값은 양의 보정 값일 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 온도 보정 값은 제2 온도 보정 값 보다 큰 값일 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)와 부품(230) 간의 거리가 짧아질수록 온도 보정 값을 커질 수 있다. 그러나, 다른 실시 예에서, 프로세서(210)와 부품(230) 간의 거리가 짧아질수록 온도 보정 값을 작아질 수 있다. 또한, 제1 온도 보정 값은 제2 온도 보정 값 보다 작은 값일 수 있다.In an embodiment, the first temperature correction value and the second temperature correction value may be positive correction values. In an embodiment, the first temperature correction value may be larger than the second temperature correction value. In an embodiment, as the distance between the processor 210 and the component 230 decreases, the temperature correction value may increase. However, in another embodiment, as the distance between the processor 210 and the component 230 decreases, the temperature correction value may decrease. Also, the first temperature correction value may be a value smaller than the second temperature correction value.
일 실시 예에서, 동작 970에서, 프로세서(210)는, 부품(230)의 보정된 제2 온도가 제어 기준 온도에 도달하였는지를 판단할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 부품(230)의 제1 온도 보정 값에 기반하여 보정된 제2 온도가 제어 기준 온도에 도달하였는지를 판단할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(210)는, 부품(230)의 제2 온도 보정 값에 기반하여 보정된 제2 온도가 제어 기준 온도에 도달하였는지를 판단할 수 있다.In an embodiment, in operation 970, the processor 210 may determine whether the corrected second temperature of the component 230 has reached the control reference temperature. In an embodiment, the processor 210 may determine whether the corrected second temperature has reached the control reference temperature based on the first temperature correction value of the component 230. In an embodiment, the processor 210 may determine whether the corrected second temperature has reached the control reference temperature based on the second temperature correction value of the component 230.
일 실시 예에서, 부품(230)의 보정된 제2 온도가 제어 기준 온도에 도달한 것으로 판단되면(‘예’), 프로세서(210)는 동작 980을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 부품(230)의 보정된 제2 온도가 제어 기준 온도에 도달하지 않은 것으로 판단되면(‘아니오’), 프로세서(210)는 동작 970을 수행할 수 있다.In an embodiment, if it is determined that the corrected second temperature of the component 230 has reached the control reference temperature ('Yes'), the processor 210 may perform operation 980. In an embodiment, if it is determined that the corrected second temperature of the component 230 has not reached the control reference temperature (“No”), the processor 210 may perform operation 970.
일 실시 예에서, 동작 980에서, 프로세서(210)는, 프로세서(210)에 대한 제2 스로틀링을 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 동작 980은 도 3의 동작 360에 대응할 수 있다.In an embodiment, in operation 980, the processor 210 may perform second throttling on the processor 210. In an embodiment, operation 980 may correspond to operation 360 of FIG. 3.
일 실시 예에서, 상술한 바와 같은, 전자 장치(예: 도 2의 전자 장치(201)), 및 이의 동작 방법은, 프로세서(예: 도 2의 프로세서(210))가 부품(예: 도 2의 부품(230))에 대한 온도에 기반하여 스로틀링에 진입하는 시점을 최대한 늦춤으로써, 프로세서(210)의 동작 성능 하락 시점을 지연시킬 수 있다. 상술한 바와 같은, 일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 2의 전자 장치(201)), 및 이의 동작 방법은, 프로세서(210)의 동작 성능 하락 시점을 지연시킴으로써, 프로세서(210)의 동작 성능을 최대한 높게 유지할 수 있다.In one embodiment, as described above, the electronic device (eg, the electronic device 201 of FIG. 2 ), and an operation method thereof, include a processor (eg, the processor 210 of FIG. 2 ), which is a component (eg, the electronic device 201 of FIG. 2 ). By delaying the timing of entering throttling based on the temperature of the component 230 of, the timing of deterioration of the operating performance of the processor 210 may be delayed. As described above, the electronic device (for example, the electronic device 201 of FIG. 2) and its operation method according to an exemplary embodiment delay the deterioration of the operation performance of the processor 210, thereby performing the operation of the processor 210. You can keep the performance as high as possible.
본 개시의 예시는 부품, 온도 측정부 및 제어부를 포함하는 전자 장치를 제공한다.An example of the present disclosure provides an electronic device including a component, a temperature measuring unit, and a control unit.
본 개시의 예시에 따른 전자 장치의 온도 측정부(예: 온도 센서)는 전자 장치의 다수의 부품들 각각의 온도를 측정할 수 있다.A temperature measuring unit (eg, a temperature sensor) of an electronic device according to an example of the present disclosure may measure the temperature of each of a plurality of components of the electronic device.
본 개시의 예시에 따른 전자 장치의 제어부(예: 프로세서)는 상기 온도 측정부를 통해 측정된 상기 제어부의 온도가 제1 기준 온도에 도달함에 응답하여, 상기 제1 기준 온도에 기반하여 상기 제어부의 동작 주파수를 제1 동작 주파수로 변경할 수 있다. 상기 제1 기준 온도에 기반하여 변경된 동s작 주파수로 동작하는 동안 상기 적어도 하나의 부품의 온도가 제3 기준 온도에 도달함에 응답하여, 상기 제1 기준 온도보다 낮은 제3 기준 온도에 기반하여 상기 제어부의 동작 주파수를 제2 동작 주파수로 변경할 수 있다.In response to the temperature of the controller measured by the temperature measuring unit reaching a first reference temperature, the controller (eg, processor) of the electronic device according to the exemplary embodiment of the present disclosure operates the controller based on the first reference temperature. The frequency can be changed to the first operating frequency. In response to the temperature of the at least one component reaching a third reference temperature while operating at the same frequency changed based on the first reference temperature, based on a third reference temperature lower than the first reference temperature, the The operating frequency of the control unit may be changed to the second operating frequency.
본 개시의 예시에 따른 전자 장치의 부품은, 메모리, 입력 장치, 음향 출력 장치, 표시 장치, 오디오 모듈, 센서 모듈, 인터페이스, 연결 단자, 햅틱 모듈, 카메라 모듈, 전력 관리 모듈, 배터리, 통신 모듈, 가입자 식별 모듈, 안테나 모듈, 또는 이들의 조합일 수 있다.Components of an electronic device according to an example of the present disclosure include a memory, an input device, an audio output device, a display device, an audio module, a sensor module, an interface, a connection terminal, a haptic module, a camera module, a power management module, a battery, a communication module, It may be a subscriber identification module, an antenna module, or a combination thereof.
본 개시의 청구항 또는 명세서에 기재된 실시예들에 따른 방법들은 하드웨어, 소프트웨어, 또는 하드웨어와 소프트웨어의 조합의 형태로 구현될(implemented) 수 있다.The methods according to the embodiments described in the claims or the specification of the present disclosure may be implemented in the form of hardware, software, or a combination of hardware and software.
소프트웨어로 구현하는 경우, 하나 이상의 프로그램(소프트웨어 모듈)을 저장하는 컴퓨터 판독 가능 저장 매체가 제공될 수 있다. 컴퓨터 판독 가능 저장 매체에 저장되는 하나 이상의 프로그램은, 전자 장치(device) 내의 하나 이상의 프로세서에 의해 실행 가능하도록 구성된다(configured for execution). 하나 이상의 프로그램은, 전자 장치로 하여금 본 개시의 청구항 또는 명세서에 기재된 실시예들에 따른 방법들을 실행하게 하는 명령어(instructions)를 포함한다. When implemented in software, a computer-readable storage medium storing one or more programs (software modules) may be provided. One or more programs stored in a computer-readable storage medium are configured to be executable by one or more processors in an electronic device (device). The one or more programs include instructions that cause the electronic device to execute methods according to embodiments described in the claims or specification of the present disclosure.
이러한 프로그램(소프트웨어 모듈, 소프트웨어)은 랜덤 액세스 메모리 (random access memory), 플래시(flash) 메모리를 포함하는 불휘발성(non-volatile) 메모리, 롬(ROM: read only memory), 전기적 삭제가능 프로그램가능 롬(EEPROM: electrically erasable programmable read only memory), 자기 디스크 저장 장치(magnetic disc storage device), 컴팩트 디스크 롬(CD-ROM: compact disc-ROM), 디지털 다목적 디스크(DVDs: digital versatile discs) 또는 다른 형태의 광학 저장 장치, 마그네틱 카세트(magnetic cassette)에 저장될 수 있다. 또는, 이들의 일부 또는 전부의 조합으로 구성된 메모리에 저장될 수 있다. 또한, 각각의 구성 메모리는 다수 개 포함될 수도 있다.These programs (software modules, software) include random access memory, non-volatile memory including flash memory, read only memory (ROM), and electrically erasable programmable ROM. (EEPROM: electrically erasable programmable read only memory), magnetic disc storage device, compact disc-ROM (CD-ROM), digital versatile discs (DVDs), or other types of It may be stored in an optical storage device or a magnetic cassette. Alternatively, it may be stored in a memory composed of a combination of some or all of them. In addition, a plurality of configuration memories may be included.
또한, 상기 프로그램은 인터넷(Internet), 인트라넷(Intranet), LAN(local area network), WLAN(wide LAN), 또는 SAN(storage area network)과 같은 통신 네트워크, 또는 이들의 조합으로 구성된 통신 네트워크를 통하여 접근(access)할 수 있는 부착 가능한(attachable) 저장 장치(storage device)에 저장될 수 있다. 이러한 저장 장치는 외부 포트를 통하여 본 개시의 실시 예를 수행하는 장치에 접속할 수 있다. 또한, 통신 네트워크상의 별도의 저장장치가 본 개시의 실시 예를 수행하는 장치에 접속할 수도 있다.In addition, the program is a communication network such as the Internet, an intranet, a local area network (LAN), a wide LAN (WLAN), or a storage area network (SAN), or a communication network composed of a combination thereof. It may be stored in an accessible storage device. Such a storage device may access a device performing an embodiment of the present disclosure through an external port. In addition, a separate storage device on the communication network may access a device performing an embodiment of the present disclosure.
보호 범위는 첨부되는 독립 청구항에 의해 정의된다. 추가적인 특징들은 첨부되는 종속 청구항에 의하여 특정된다. 예시 구현들(Example implementations)은 임의의 청구항으로부터, 임의의 그리고 모든 순열(permutation)들로, 공동으로 그리고 개별적으로 취해진(taken) 하나 이상의 특징들을 포함함으로써 실현될 수 있다.The scope of protection is defined by the attached independent claims. Additional features are specified by the appended dependent claims. Example implementations may be realized by including one or more features taken jointly and individually, from any claim, in any and all permutations.
본 개시에서 기술된 예시들(examples)은, 첨부되는 독립 청구항들에 의해 특정된 하나 이상의 특징들에 대응하는 구성 요소들의 비제한적인 예시 구현들(example implementations)을 포함하며, 이들 특징들(또는 이들의 대응하는 구성 요소들)은, 개별적으로 또는 조합하여, 본 개시로부터 통상의 기술자에 의해 추론될 수 있는 하나 이상의 기술적 문제를 개선하는데 기여할 수 있다.Examples described in this disclosure include non-limiting example implementations of components corresponding to one or more features specified by the appended independent claims, and these features (or Their corresponding components), individually or in combination, may contribute to improving one or more technical problems that may be inferred by a person skilled in the art from the present disclosure.
또한, 본 개시에서 기술되는 임의의 하나의 예시(example) 중 하나 이상의 선택된 구성 요소는, 본 개시에서 기술되는 다른 하나 이상의 예시(example)의 하나 이상의 선택된 구성 요소들과 조합될 수 있고, 또는 대안적으로 첨부되는 독립항의 특징들과 조합되어 추가적인 대체 예(example)를 형성할 수 있다.In addition, one or more selected components of any one example described in the present disclosure may be combined with one or more selected components of another one or more examples described in the present disclosure, or alternatively It can be combined with the features of the independent claims that are appended to it to form additional alternative examples.
추가적인 예시 구현들(example implementations)은, 본 개시에서 기술된 임의의 구현으로부터(of any herein described implementation), 임의의 그리고 모든 순열들로, 공동으로 그리고 개별적으로 취해진(taken) 하나 이상의 구성 요소들을 포함함으로써 실현될 수 있다. 또 다른 예시 구현들(example implementations)은, 첨부되는 청구항들의 하나 이상의 특징들을 본 개시에서 기술되는 임의의 예시 구현(example implementation) 중 선택된 하나 이상의 구성 요소들과 조합함으로써, 역시 실현될 수 있다.Additional example implementations include one or more components taken jointly and individually, in any and all permutations, of any herein described implementation. It can be realized by doing. Still other example implementations may also be realized by combining one or more features of the appended claims with selected one or more elements of any of the example implementations described in this disclosure.
그러한 추가적인 예시 구현들(example implementations)을 형성함에 있어서, 본 개시에서 기술되는 임의의 예시 구현(any example implementation) 중 일부 구성 요소들(some components)은 생략될 수 있다. 생략될 수 있는 하나 이상의 구성 요소들은, 통상의 기술자가 본 개시로부터 식별 가능한(discernible) 기술적 문제에 비추어 본 기술의 기능에 그렇게 필수적이지 않은 것이라고 직접적이고 명백하게 이해할 수 있는(would recognize) 구성 요소이다. 통상의 기술자는, 이러한 생략된 구성 요소들을 교체 또는 제거하더라도, 그 변경(change)을 보상하기 위하여 추가적인 대체 예(the further alternative example)의 다른 구성 요소들 또는 특징들을 수정(modification)할 필요가 없다는 점을 이해할 것이다(would recognize). 따라서, 추가적인 예시 구현들은(further example implementations), 본 기술에 따라서, 비록 그 특징들 및/또는 구성 요소들의 선택된 조합이 구체적으로 언급되지 않더라도, 본 개시 내에 포함될 수 있다.In forming such additional example implementations, some components of any example implementation described in this disclosure may be omitted. One or more components that may be omitted are components that a person skilled in the art would directly and clearly understand as not so essential to the function of the present technology in light of a technical problem discernible from the present disclosure. A person skilled in the art does not need to modify other components or features of the further alternative example to compensate for the change, even if such omitted components are replaced or removed. Would recognize. Accordingly, further example implementations may be included within the present disclosure, in accordance with the present technology, although a selected combination of features and/or components thereof is not specifically mentioned.
본 개시에 기술된 임의의 예시 구현(any described example implementation)의 둘 이상의 물리적으로 별개의 구성 요소들은 대안적으로, 그 통합이 가능하다면 단일 구성 요소로 통합될 수도 있으며, 그렇게 형성된 단일한 구성 요소에 의해 동일한 기능이 수행된다면, 그 통합은 가능하다. 반대로, 본 개시에 기술된 임의의 예시 구현(any example implementation)의 단일한 구성 요소는, 대안적으로, 적절한 경우, 동일한 기능을 달성하는 둘 이상의 별개의 구성 요소들로 구현될 수도 있다.Two or more physically separate components of any described example implementation described in this disclosure may alternatively be integrated into a single component, if their integration is possible, and in a single component so formed. If the same function is performed by means of, the integration is possible. Conversely, a single component of any example implementation described in this disclosure may, alternatively, be implemented as two or more separate components that achieve the same functionality, where appropriate.
상술한 본 개시의 구체적인 실시예들에서, 개시에 포함되는 구성 요소는 제시된 구체적인 실시 예에 따라 단수 또는 복수로 표현되었다. 그러나, 단수 또는 복수의 표현은 설명의 편의를 위해 제시한 상황에 적합하게 선택된 것으로서, 본 개시가 단수 또는 복수의 구성 요소에 제한되는 것은 아니며, 복수로 표현된 구성 요소라 하더라도 단수로 구성되거나, 단수로 표현된 구성 요소라 하더라도 복수로 구성될 수 있다.In the above-described specific embodiments of the present disclosure, components included in the disclosure are expressed in the singular or plural according to the presented specific embodiments. However, the singular or plural expression is selected appropriately for the situation presented for convenience of description, and the present disclosure is not limited to the singular or plural constituent elements, and even constituent elements expressed in plural are composed of the singular or in the singular. Even the expressed constituent elements may be composed of pluralities.
본 개시가 특정 실시 예들을 참조하여 도시되고 설명되었지만, 당업자는 본 개시의 범위를 벗어나지 않고 그 안에서 형태 및 세부 사항의 다양한 변경이 이루어질 수 있음을 이해할 것이다. 따라서, 본 개시의 범위는 실시 예에 한정되는 것으로 정의되어서는 안되며, 첨부된 청구 범위 및 그 균등한 것들에 의해 정의되어야 한다.While the present disclosure has been shown and described with reference to specific embodiments, those skilled in the art will understand that various changes in form and detail may be made therein without departing from the scope of the disclosure. Accordingly, the scope of the present disclosure should not be defined as being limited to the embodiments, but should be defined by the appended claims and their equivalents.

Claims (15)

  1. 전자 장치에 있어서, In the electronic device,
    상기 전자 장치의 다수의 부품들 각각의 온도를 측정하는 온도 측정부; 및A temperature measuring unit that measures the temperature of each of the plurality of components of the electronic device; And
    제어부를 포함하고, 상기 제어부는,It includes a control unit, the control unit,
    상기 온도 측정부를 통해 측정된 상기 제어부의 온도가 제1 기준 온도에 도달함에 응답하여, 상기 제1 기준 온도에 기반하여 상기 제어부의 동작 주파수를 변경하고,In response to the temperature of the control unit measured through the temperature measuring unit reaching a first reference temperature, the operating frequency of the control unit is changed based on the first reference temperature,
    상기 제1 기준 온도에 기반하여 변경된 동작 주파수로 동작하는 동안 상기 적어도 하나의 부품의 온도가 제2 기준 온도에 도달함에 응답하여, 상기 제1 기준 온도보다 낮은 제3 기준 온도에 기반하여 상기 제어부의 동작 주파수를 변경하도록 구성되는 전자 장치.In response to the temperature of the at least one component reaching a second reference temperature while operating at the operating frequency changed based on the first reference temperature, the controller of the control unit is based on a third reference temperature lower than the first reference temperature. An electronic device configured to change an operating frequency.
  2. 제1 항에 있어서, 상기 제어부는,The method of claim 1, wherein the control unit,
    상기 제어부의 온도 상한 값에 기반하여 상기 제1 기준 온도를 결정하도록 구성되는 전자 장치.An electronic device configured to determine the first reference temperature based on an upper temperature limit value of the controller.
  3. 제1 항, 또는 제2 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제어부는,The method according to any one of claims 1 or 2, wherein the control unit,
    상기 적어도 하나의 부품의 온도 상한 값에 기반하여, 상기 제2 기준 온도를 결정하도록 구성되는 전자 장치.An electronic device configured to determine the second reference temperature based on an upper temperature limit value of the at least one component.
  4. 제1 항, 내지 제3 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제어부는,The method according to any one of claims 1 to 3, wherein the control unit,
    상기 적어도 하나의 부품의 온도 상한 값에 기반하여, 상기 제3 기준 온도를 결정하도록 구성되는 전자 장치.An electronic device configured to determine the third reference temperature based on an upper temperature limit value of the at least one component.
  5. 제1 항, 내지 제4 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제어부는,The method according to any one of claims 1 to 4, wherein the control unit,
    상기 제어부의 온도가 제1 기준 온도에 도달함에 응답하여, In response to the temperature of the control unit reaching the first reference temperature,
    상기 제어부의 온도가 상기 제1 기준 온도에 대응하는 제1 온도 상한 값에 도달하면, 상기 제어부의 동작 주파수를 지정된 주파수만큼 하향시키고,When the temperature of the control unit reaches a first temperature upper limit value corresponding to the first reference temperature, the operating frequency of the control unit is lowered by a specified frequency,
    상기 제어부의 온도가 상기 제1 기준 온도에 대응하는 제1 온도 하한 값에 도달하면, 상기 제어부의 동작 주파수를 지정된 주파수만큼 상향시키도록 구성되는 전자 장치.When the temperature of the control unit reaches a first lower limit temperature corresponding to the first reference temperature, the electronic device is configured to increase the operating frequency of the control unit by a specified frequency.
  6. 제1 항, 내지 제5 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제어부는The method according to any one of claims 1 to 5, wherein the control unit is
    상기 적어도 하나의 부품의 온도가 제2 기준 온도에 도달함에 응답하여, In response to the temperature of the at least one component reaching a second reference temperature,
    상기 제어부의 온도가 상기 제3 기준 온도에 대응하는 제2 온도 상한 값에 도달하면, 상기 제어부의 동작 주파수를 지정된 주파수만큼 하향시키고,When the temperature of the control unit reaches a second temperature upper limit value corresponding to the third reference temperature, the operating frequency of the control unit is lowered by a specified frequency,
    상기 제어부의 온도가 상기 제3 기준 온도에 대응하는 제2 온도 하한 값에 도달하면, 상기 제어부의 동작 주파수를 지정된 주파수만큼 상향시키도록 구성되는 전자 장치.When the temperature of the control unit reaches a second lower limit of temperature corresponding to the third reference temperature, the electronic device is configured to increase the operating frequency of the control unit by a specified frequency.
  7. 제1 항, 내지 제6 항 중 어느 한 항에 있어서, The method according to any one of claims 1 to 6,
    상기 적어도 하나의 부품은, 디스플레이, 배터리, 또는 이들의 조합을 포함하는 전자 장치.The at least one component is an electronic device including a display, a battery, or a combination thereof.
  8. 제1 항, 내지 제7 항 중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 1 to 7,
    상기 온도 측정부는, 상기 다수의 부품들 중 활성화된 적어도 하나의 부품의 온도를 측정하고,The temperature measuring unit measures the temperature of at least one activated part of the plurality of parts,
    상기 제어부는 상기 활성화된 적어도 하나의 부품의 온도가 제2 기준 온도에 도달함을 식별하도록 구성되는 전자 장치.The control unit is configured to identify that the temperature of the activated at least one component reaches a second reference temperature.
  9. 제1 항, 내지 제8 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제어부는 The method of any one of claims 1 to 8, wherein the control unit is
    상기 적어도 하나의 부품 중 온도가 상기 적어도 하나의 부품 각각의 제2 기준 온도에 도달한 부품들을 식별하고, Identifying parts whose temperature has reached a second reference temperature of each of the at least one part among the at least one part,
    상기 식별된 부품들 각각의 제2 기준 온도 중 가장 낮은 제2 기준 온도를 식별하고,Identifying the lowest second reference temperature among the second reference temperatures of each of the identified parts,
    식별된 제2 기준 온도에 대응하는 제3 기준 온도에 기반하여 상기 제어부의 동작 주파수를 변경하도록 하는 전자 장치.An electronic device configured to change an operating frequency of the control unit based on a third reference temperature corresponding to the identified second reference temperature.
  10. 전자 장치의 동작 방법에 있어서, In the method of operating an electronic device,
    상기 전자 장치의 제1 온도 센서를 통해, 상기 전자 장치의 프로세서의 온도를 측정하고,Measuring the temperature of the processor of the electronic device through the first temperature sensor of the electronic device,
    프로세서의 온도가 제1 기준 온도에 도달함에 응답하여, 상기 제1 기준 온도에 기반하여 상기 프로세서의 동작 주파수를 변경하고,In response to the temperature of the processor reaching the first reference temperature, changing the operating frequency of the processor based on the first reference temperature,
    상기 전자 장치의 제2 온도 센서를 통해, 상기 전자 장치의 다수의 부품들 중 적어도 하나의 부품의 온도를 측정하고,Measuring the temperature of at least one of the plurality of components of the electronic device through a second temperature sensor of the electronic device,
    상기 적어도 하나의 부품의 온도가 제2 기준 온도에 도달함에 응답하여, 상기 제1 기준 온도보다 낮은 제3 기준 온도에 기반하여 상기 프로세서의 동작 주파수를 변경하는 방법.In response to the temperature of the at least one component reaching a second reference temperature, the method of changing the operating frequency of the processor based on a third reference temperature lower than the first reference temperature.
  11. 제10 항에 있어서, The method of claim 10,
    상기 제1 기준 온도는, 상기 프로세서의 온도 상한 값에 기반하여 결정되는 방법.The first reference temperature is determined based on an upper temperature limit value of the processor.
  12. 제10 항, 또는 제11 항 중 어느 한 항에 있어서, The method according to any one of claims 10 or 11,
    상기 제2 기준 온도는, 상기 적어도 하나의 부품의 온도 상한 값에 기반하여 결정되는 방법.The second reference temperature is determined based on an upper temperature limit value of the at least one component.
  13. 제10 항, 내지 제12 항 중 어느 한 항에 있어서, The method according to any one of claims 10 to 12,
    상기 제3 기준 온도는, 상기 적어도 하나의 부품의 온도 상한 값에 기반하여, 결정되는 방법.The third reference temperature is determined based on an upper temperature limit value of the at least one component.
  14. 제10 항, 내지 제13 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 기준 온도에 기반하여 상기 프로세서의 동작 주파수를 변경하는 동작은,The method of any one of claims 10 to 13, wherein the operation of changing the operating frequency of the processor based on the first reference temperature comprises:
    상기 프로세서의 온도가 제1 기준 온도에 도달함에 응답하여, In response to the temperature of the processor reaching the first reference temperature,
    상기 프로세서의 온도가 상기 제1 기준 온도에 대응하는 제1 온도 상한 값에 도달하면, 상기 프로세서의 동작 주파수를 지정된 주파수만큼 하향시키고,When the temperature of the processor reaches a first temperature upper limit value corresponding to the first reference temperature, the operating frequency of the processor is lowered by a specified frequency,
    상기 프로세서의 온도가 상기 제1 기준 온도에 대응하는 제1 온도 하한 값에 도달하면, 상기 프로세서의 동작 주파수를 지정된 주파수만큼 상향시키는 방법.When the temperature of the processor reaches a first temperature lower limit value corresponding to the first reference temperature, the method of increasing the operating frequency of the processor by a specified frequency.
  15. 제10 항, 내지 제14 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제3 기준 온도에 기반하여 상기 프로세서의 동작 주파수를 변경하는 동작은,The method of any one of claims 10 to 14, wherein the operation of changing the operating frequency of the processor based on the third reference temperature comprises:
    상기 적어도 하나의 부품의 온도가 제2 기준 온도에 도달함에 응답하여, In response to the temperature of the at least one component reaching a second reference temperature,
    상기 프로세서의 온도가 상기 제3 기준 온도에 대응하는 제2 온도 상한 값에 도달하면, 상기 프로세서의 동작 주파수를 지정된 주파수만큼 하향시키고,When the temperature of the processor reaches a second temperature upper limit value corresponding to the third reference temperature, the operating frequency of the processor is lowered by a specified frequency,
    상기 프로세서의 온도가 상기 제3 기준 온도에 대응하는 제2 온도 하한 값에 도달하면, 상기 프로세서의 동작 주파수를 지정된 주파수만큼 상향 시키는 방법.When the temperature of the processor reaches a second temperature lower limit value corresponding to the third reference temperature, the method of increasing the operating frequency of the processor by a specified frequency.
PCT/KR2020/013109 2019-09-27 2020-09-25 Electronic device and method for controlling temperature WO2021060924A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US15/734,060 US11520387B2 (en) 2019-09-27 2020-09-25 Electronic device and method for performing temperature control

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2019-0119952 2019-09-27
KR20190119952 2019-09-27
KR10-2020-0118455 2020-09-15
KR1020200118455A KR20210037548A (en) 2019-09-27 2020-09-15 Electronic device and method for performing control of temperature

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2021060924A1 true WO2021060924A1 (en) 2021-04-01

Family

ID=75164868

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/KR2020/013109 WO2021060924A1 (en) 2019-09-27 2020-09-25 Electronic device and method for controlling temperature

Country Status (1)

Country Link
WO (1) WO2021060924A1 (en)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100651186B1 (en) * 1999-03-30 2006-11-29 인텔 코오퍼레이션 A method and apparatus for monitoring the temperature of a processor
US20140328367A1 (en) * 2013-05-06 2014-11-06 Sensirion Ag Portable electronic device
KR20150120213A (en) * 2014-04-17 2015-10-27 삼성전자주식회사 Memory System controlling an operation performance and Operating Method thereof
KR20160026329A (en) * 2014-08-29 2016-03-09 삼성전자주식회사 Device for Controlling Performance for The Device Based on Fluctuation of Inner Temperature and Method thereof
US20160262253A1 (en) * 2015-03-04 2016-09-08 International Business Machines Corporation Electronic package with heat transfer element(s)

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100651186B1 (en) * 1999-03-30 2006-11-29 인텔 코오퍼레이션 A method and apparatus for monitoring the temperature of a processor
US20140328367A1 (en) * 2013-05-06 2014-11-06 Sensirion Ag Portable electronic device
KR20150120213A (en) * 2014-04-17 2015-10-27 삼성전자주식회사 Memory System controlling an operation performance and Operating Method thereof
KR20160026329A (en) * 2014-08-29 2016-03-09 삼성전자주식회사 Device for Controlling Performance for The Device Based on Fluctuation of Inner Temperature and Method thereof
US20160262253A1 (en) * 2015-03-04 2016-09-08 International Business Machines Corporation Electronic package with heat transfer element(s)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2019190277A1 (en) Method for processing data and electronic device supporting same
WO2019164208A1 (en) Method and electronic device for controlling voltage output to external electronic device according to size of voltage detected at signal terminal connected to external electronic device
WO2020166911A1 (en) Screen providing method and electronic device supporting same
WO2020101350A1 (en) Method for processing data using neural network and electronic device for supporting the same
WO2020218805A1 (en) Electronic device and method of controlling thereof
WO2021025401A1 (en) Electronic device for reducing power consumption and operating method thereof
WO2020256301A1 (en) Electronic device including storage and method for using the storage
WO2021085902A1 (en) Electronic device for outputting audio data of plurality of applications, and method for operating same
WO2020235843A1 (en) Apparatus for detecting feedback on voltage supplied from electronic device to external device
WO2020106085A1 (en) Electronic device and method for obtaining information associated with fingerprint
WO2019221514A1 (en) Universal flash storage, electronic device capable of connecting to a plurality type of memory devices and method thereof
WO2021145659A1 (en) Audio output device and method for controlling output speed of audio data thereof
WO2020213864A1 (en) Positioning signal receiver and operating method therefor
WO2021060924A1 (en) Electronic device and method for controlling temperature
WO2021210816A1 (en) Electronic device for reducing power consumption related to distance measurement and operating method thereof
WO2020222418A1 (en) Method for authenticating user and electronic device assisting same
WO2022055319A1 (en) Electronic device for outputting sound and method for operating the same
WO2019059524A1 (en) Electronic device and method for preventing pixel deterioration
WO2020226353A1 (en) Electronic device for establishing communication with external electronic device and method of controlling the same
WO2021162267A1 (en) Apparatus and method for converting audio output
WO2020246853A1 (en) External device including at least one antenna, and electronic device and method for improving antenna performance using same
WO2020080667A1 (en) Electronic device comprising electromagnetic detection circuit and external electronic device control method using the electronic device
WO2020171360A1 (en) Electronic device comprising logic circuit for determining connection state of connector
WO2019235740A1 (en) Electronic device for supporting plurality of nfc operation modes and method for operating electronic device
WO2021025263A1 (en) Foldable electronic device for displaying user interface and method therefor

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 20867411

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 20867411

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1