WO2021010749A1 - 근적외선 조사부를 구비하는 뇌전도 측정 장치 - Google Patents

근적외선 조사부를 구비하는 뇌전도 측정 장치 Download PDF

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WO2021010749A1
WO2021010749A1 PCT/KR2020/009326 KR2020009326W WO2021010749A1 WO 2021010749 A1 WO2021010749 A1 WO 2021010749A1 KR 2020009326 W KR2020009326 W KR 2020009326W WO 2021010749 A1 WO2021010749 A1 WO 2021010749A1
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WO
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electrode
irradiation
data processor
electroencephalogram
unit
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PCT/KR2020/009326
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Inventor
원혁
김진승
Original Assignee
주식회사 이엠텍
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    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B5/00—Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons
    • A61B5/0059—Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons using light, e.g. diagnosis by transillumination, diascopy, fluorescence
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B5/00—Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61N—ELECTROTHERAPY; MAGNETOTHERAPY; RADIATION THERAPY; ULTRASOUND THERAPY
    • A61N5/00—Radiation therapy
    • A61N5/06—Radiation therapy using light

Definitions

  • the present invention relates to an electroencephalogram measuring device including a near-infrared irradiation unit.
  • Traumatic brain injury TBI
  • stroke multiple sclerosis
  • MS schizophrenia
  • autism insomnia
  • post-traumatic stress disorder PTSD
  • dementia dementia
  • Alzheimer's disease Alzheimer's disease
  • Parkinson's disease Parkinson's disease
  • brain stimulation has been used for some time based on the fact that the nervous system responds to these techniques in a practical way. Many of these technologies are based on electromagnetic shock.
  • EEG is a recording of the brain's electrical activity from electrodes attached to several places on the human scalp, and is often used for sleep studies, monitoring of deep anesthesia, diagnosing epilepsy and other brain diseases or dysfunctions, and normal brain function. It appears differently depending on the state of mind and body, and is an index that measures the activity of the brain.
  • Electroencephalography measures the flow of electricity generated when signals are transmitted from the nervous system to the cranial nerves by attaching electrodes to the scalp or cortex, using a wet electrode used with a conductive gel or a dry electrode without using a conductive gel. Can be used.
  • An object of the present invention is to provide an electroencephalogram measuring apparatus including a near-infrared irradiation unit capable of detecting an electrical signal of the brain while performing brain stimulation with near-infrared rays when measuring EEG.
  • the electrode module of the electroencephalogram measuring apparatus of the present invention includes a base, a plurality of electrode protrusions formed on one side of the base, at least one light irradiation protrusion formed on one side of the base to irradiate near infrared rays, and the other side of the base. It consists of a coupling part connected to the electrical connection wiring.
  • the distance between the electrode protrusions and the light irradiation protrusions is constant.
  • the light irradiation protrusion is formed in the center of the base, and the plurality of electrode protrusions are formed in the periphery of the base at regular intervals.
  • an irradiation portion for irradiating near-infrared rays is formed in the interior or interior space of the light irradiation protrusion.
  • a window for transmitting the near-infrared rays irradiated from the irradiation portion is provided at one end of the light irradiation protrusion.
  • an opening through which the near-infrared ray irradiated from the irradiation portion is transmitted is formed at one end of the light irradiation protrusion.
  • the electroencephalogram measuring apparatus of the present invention includes at least one electrode module including an electrode unit for measuring EEG and an irradiation unit for irradiating near-infrared rays, a connection part providing electrical connection with at least one electrode module, and at least through the connection part.
  • An electroencephalogram measurement function that is electrically connected to one or more electrode modules and obtains an EEG measurement value by controlling the electrode unit, and a data processor that performs a near-infrared irradiation function by controlling the irradiation unit.
  • the data processor independently control the electrode unit and the irradiation unit.
  • the data processor performs a near-infrared irradiation function while performing an electroencephalogram measurement function to measure EEG for near-infrared stimulation.
  • the data processor independently controls at least one electrode module.
  • the data processor stores mounting position information on an inspection area of an inspection object in which at least one electrode module is mounted.
  • the data processor controls the operation of the irradiation unit at a specific position using the mounting position information.
  • the data processor stores information on the light irradiation characteristics of the irradiation unit.
  • the information on the light irradiation characteristic preferably includes at least one of a reference duty ratio range, a reference light intensity range, a reference frequency range, and a reference wavelength range.
  • the data processor reads information on the light irradiation characteristics to control the irradiation unit, but includes a set duty ratio belonging to the reference duty ratio range, a set light intensity belonging to the reference light intensity range, and a set frequency belonging to the reference frequency range, It is desirable to irradiate near-infrared rays according to a set wavelength that falls within the reference wavelength range.
  • the reference light intensity range is 16 to 26 mW/cm 2
  • the reference duty ratio range is 2 to 10%
  • the reference frequency range is 1 Hz to 1 kHz
  • the reference wavelength range is 750 nm to 1300 nm.
  • the present invention can detect electrical signals of the brain while performing brain stimulation with near-infrared rays when measuring EEG.
  • the brain stimulation effect can be detected in real time. It has the effect of stimulating the brain without interfering with it.
  • the present invention has the effect of being able to measure electroencephalograms according to various light stimuli at various locations by using a combination of variable control of a set value of light irradiation characteristics and selective operation control of an irradiation unit using mounting position information.
  • FIG. 1 is a control configuration diagram of an electroencephalogram measuring apparatus having a near-infrared irradiation unit according to the present invention.
  • FIG. 2 is a perspective view of the electrode module of FIG. 1 according to the first embodiment.
  • FIG. 3 is a perspective view of the second embodiment of the electrode module of FIG. 1.
  • expressions such as “A or B”, “at least one of A or/and B”, or “one or more of A or/and B” may include all possible combinations of items listed together.
  • “A or B”, “at least one of A and B”, or “at least one of A or B” includes (1) at least one A, (2) at least one B, Or (3) it may refer to all cases including both at least one A and at least one B.
  • first”, “second”, “first”, or “second” used in this document can modify various elements regardless of their order and/or importance, and It is used to distinguish it from the component, but does not limit the component.
  • a first user device and a second user device may represent different user devices regardless of order or importance.
  • a first component may be referred to as a second component, and similarly, a second component may be renamed to a first component.
  • Some component eg, a first component
  • another component eg, a second component
  • the certain component may be directly connected to the other component or may be connected through another component (eg, a third component).
  • a component eg, a first component
  • the component and the It may be understood that no other component (eg, a third component) exists between the different components.
  • a device configured to may mean that the device “can” along with other devices or parts.
  • a processor configured (or configured) to perform A, B, and C means a dedicated processor (eg, an embedded processor) for performing the operation, or executing one or more software programs stored in a memory device. By doing so, it may mean a generic-purpose processor (eg, a CPU or an application processor) capable of performing corresponding operations.
  • FIG. 1 is a control configuration diagram of an electroencephalogram measuring apparatus having a near-infrared irradiation unit according to the present invention.
  • the electroencephalogram measuring apparatus includes a plurality of electrode parts 111 in contact with the test object, and at least one irradiation part 121 that independently emits near-infrared rays to the test target with respect to the plurality of electrode parts 111, and a data processor 290 ), and an input from a user (e.g., power on/off, electroencephalogram measurement operation/stop, light irradiation characteristic setting value change, near-infrared irradiation operation/stop, etc.)
  • An input unit 210 applied to the data processor 290, a display unit 220 displaying a user interface for controlling an electroencephalogram measurement operation and a near-infrared irradiation operation, and the electrode module 100 and the data processor 290
  • connection unit 230 electrically connected to each other and the above-described components (electrode module 100, input unit 210, display unit 220, etc.)
  • EEG measurement operation and near-infrared irradiation operation are independently
  • the electrode part 111 is in contact with the test area (for example, the tester's head, etc.) and includes electrode plates for measuring electrodes, reference electrodes, and ground electrodes. And, an electrical connection wiring between the electrode part 111 and the connection part 230 is implemented.
  • the test area for example, the tester's head, etc.
  • the connection part 230 is implemented.
  • the irradiation unit 121 is formed adjacent to the electrode unit 111, but an optical device (e.g., LED, etc.) that independently emits near-infrared rays to an inspection area (eg, the examiner's head skin, etc.) It is configured to include, and an electrical connection wiring between the irradiation unit 121 and the connection unit 230 is implemented.
  • the irradiation unit 121 emits near-infrared rays having a wavelength in the range of 750 nm to 1300 nm. The near-infrared light irradiation on the test subject may penetrate the test subject and provide stimulation.
  • near-infrared rays are absorbed by the mitochondrial CCO enzyme (Cytochrome C Oxidase) in the skin to be tested to increase the production of ATP (Adenosine triphosphate; the main energy source in the human body), and stimulate vascular endothelial cells and red blood cells to be oxidized. Increases production of nitrogen (NO, Nitric Oxide; prevents blood clotting, relaxes smooth muscles).
  • the CCO stimulation effect is best at a wavelength of 810 nm, and such near-infrared rays can penetrate the brain through the examiner's skull, causing brain stimulation.
  • Electrode module 100 Detailed configurations of the electrode module 100 are described below.
  • connection unit 230 is configured for electrical connection between the electrode module 100 and the data processor 290, and various connectors may be used. Electrical connection wires between the connection part 230 and the electrode module 100 are detachable.
  • Electrode module 100 Although one electrode module 100 is shown in FIG. 1, it should be understood that a plurality of electrode modules 100 are electrically connected to one or more connection parts 230 by electrical connection wiring.
  • the data processor 290 includes a processor (e.g., CPU, MICROPROCESSOR, MCU, etc.) for performing an electroencephalogram measurement operation and a near-infrared irradiation operation, and a set value of the light irradiation characteristic of the irradiation unit 121 and an electroencephalogram measurement operation and data processing. It is configured to include a storage space (for example, memory, etc.) for storing the algorithm for and the like.
  • a processor e.g., CPU, MICROPROCESSOR, MCU, etc.
  • an algorithm for measuring an electroencephalogram and data processing corresponds to a technique already known to those of ordinary skill in the art to which the present invention belongs, and a detailed description thereof is omitted.
  • the set value of the light irradiation characteristic of the irradiation unit 121 includes a set value for characteristics such as intensity (intensity), repetition, and depth (penetration depth) of the magnetic pole of the irradiation unit 121.
  • the intensity (intensity) of the stimulus relates to the effect of the stimulus or the magnitude of the effect, and is related to the light intensity of the near-infrared ray.
  • the repetition of the stimulation affects the effect of the stimulation, and is related to the frequency and duty ratio of the near-infrared rays.
  • the included set duty ratio (duty ratio set value) emits near-infrared rays of the set frequency (frequency set value) included in the reference frequency range of 1 Hz to 1 kHz.
  • the depth of the magnetic pole is the depth of penetration into the inspection area of the object to be inspected, and is related to the wavelength of the near-infrared ray. It emits near-infrared rays of the wavelength (wavelength setting value). Within the above reference wavelength range, the penetration depth remains constant without significant change.
  • each of the reference duty ratio range, the reference light intensity range, the reference frequency range, and the reference wavelength range stored in the data processor 290 is set so as to minimize an increase in temperature of the brain or only increase the temperature of less than 6°C.
  • the data processor 290 reads a set value of the light irradiation characteristic and controls the irradiation unit 121 to perform a near-infrared irradiation operation.
  • the data processor 290 may control the electrode module 100 to individually perform an EEG measurement operation and a near-infrared irradiation operation. That is, the data processor 290 detects electrical signals of the brain by controlling the electrode part 111 and the irradiation part 121 independently of each other or alternately, and at the same time stimulating the brain with near-infrared rays, thereby stimulating the brain stimulation effect in real time. It has the effect of being able to detect. Such near-infrared irradiation can stimulate the brain without interference with electrical signals during the EEG measurement operation.
  • the data processor 290 controls the irradiation unit 121 to stimulate the brain with a certain range over the entire test area, and thus EEG for brain stimulation.
  • the measured value may be obtained through the electrode unit 111.
  • the data processor 290 may cause the near-infrared irradiation operation to be performed on only a part of the plurality of electrode modules 100 and the electrode part 111 of the plurality of electrode modules 100 to perform the EEG measurement operation. .
  • the data processor 290 may store mounting position information on the test area of the test object in which the electrode module 100 is mounted.
  • the data processor 290 can perform a near-infrared irradiation operation by selectively operating only the irradiation unit 121 capable of performing light irradiation on a specific location or specific area using the mounting location information.
  • an electroencephalogram measurement operation for partial optical stimulation may be performed using the electrode unit 111. That is, the data processor 290 may obtain an EEG measurement value related to the location of the optical stimulus.
  • the electroencephalogram measurement device may include a communication unit (not shown) capable of performing wired or wireless communication with an electronic communication device (eg, a computer terminal, a smartphone, a server, etc.), and the data processor 290 It is also possible to transmit the measured value by the brain degree measurement operation to the electronic communication device through the communication unit.
  • the data processor 290 may update the set value by receiving and storing the set value of the light irradiation characteristic of the irradiation unit 121 from the electronic communication device through the communication unit.
  • FIG. 2 is a perspective view of the electrode module of FIG. 1 according to the first embodiment.
  • the electrode module 100 includes a base 101 and a coupling portion 102 formed on one side of the base 101 and coupled to a connection portion 230 and an electrical connection wire.
  • a plurality of electrode protrusions 110 each having an electrode part 111 formed on the inner or outer surface thereof, and at least one light irradiation protrusion 120 having an irradiation part 121 formed therein are formed. .
  • the plurality of electrode protrusions 110 are formed at regular intervals along the periphery of the base 101, and the light irradiation protrusions 120 are formed in the center of the base 101, and light irradiation with each of the plurality of electrode protrusions 110 The spacing between the protrusions 120 is formed equally. As illustrated in FIG. 2, a plurality of electrode protrusions 110 may be formed in the circumferential direction of the light irradiation protrusion 120. With this arrangement, each of the plurality of electrode protrusions 110 can evenly detect the EEG according to the near-infrared irradiation operation by the irradiation unit 121.
  • the light irradiation protrusion 120 has a window 122 formed of a light-transmitting, particularly near-infrared-transmitting material at its end, and near-infrared rays from the irradiation portion 121 formed therein pass through the window 122 to be irradiated to the outside.
  • the irradiation part 121 is mounted inside or in the inner space of the light irradiation protrusion 120 so as to be protected against external force.
  • the electrode module 100 includes the irradiation unit 121 for near-infrared irradiation, it is possible to stimulate the brain without signal interference using near-infrared rays even during EEG measurement.
  • FIG. 3 is a perspective view of an electrode part of FIG. 1 according to a second embodiment.
  • the electrode module 100 includes a base 101 and a coupling portion 102 as shown in FIG. 2, and a plurality of electrode protrusions 110 are formed on the base 101.
  • the difference between the electrode module 100 of FIG. 3 and the electrode module of FIG. 2 is the light irradiation protrusion 120a formed in the center of the base 101.
  • An opening 122a is formed at the end of the light-irradiation protrusion 120a so that the near-infrared rays of the irradiation part 121 formed inside the light-irradiation protrusion 120a or the inner space are irradiated to the outside.
  • the opening 122a penetrates between the outside and the irradiation portion 121, and the irradiation portion 121 is formed in the light irradiation protrusion 120a to be protected from external impact.
  • the electroencephalogram measuring apparatus is electrically connected to the plurality of electrode modules 100, and can independently control each of the plurality of electrode modules 100, and the electrode unit 111 and the irradiation unit in the electrode module 100 Each of 121 can also be controlled independently.
  • a plurality of electrode modules 100 are disposed on the user's scalp or head at predetermined intervals, and the data processor 290 operates at least one irradiation unit 121 while receiving EEG measurement values from the plurality of electrode modules 100. It can also be operated to apply light stimulation. Upon light stimulation from the irradiation unit 121, the data processor 290 variably controls at least one of a set frequency, a set wavelength, a set light intensity, and a set duty ratio within a range included in the light irradiation characteristics to be different from each other. It is also possible to irradiate near-infrared rays, which is an optical characteristic.
  • the data processor 290 applies optical stimulation by selectively operating the irradiation unit 121 at a specific position using the mounting position information, and receives the EEG measurement values by the optical stimulation from the plurality of electrode modules 100. Can be licensed.
  • the data processor 290 combines the variable control of the setting value of the light irradiation characteristic of the irradiation unit 121 described above and the selective operation control of the irradiation unit 121 using the mounting position information, EEG according to stimulation can be measured.
  • At least a part of a device eg, a processor or its functions
  • a method eg, operations
  • a computer-readable storage media in the form of a program module. It can be implemented with stored instructions.
  • the one or more processors may perform a function corresponding to the command.
  • the computer-readable storage medium may be, for example, a memory.
  • Computer-readable recording media include hard disks, floppy disks, magnetic media (e.g. magnetic tape), optical media (e.g., CD-ROM, DVD (Digital Versatile Disc), magnetic- It may include optical media (eg floptical disk), hardware devices (eg ROM, RAM, flash memory, etc.), etc.
  • program instructions such as those made by a compiler, may be included. It may include not only machine code but also high-level language code that can be executed by a computer using an interpreter, etc.
  • the above-described hardware device may be configured to operate as one or more software modules to perform operations of various embodiments. The same goes for vice versa.
  • a processor or functions performed by the processor according to various embodiments of the present disclosure may include at least one or more of the above-described components, some of the above-described components may be omitted, or additional other components may be further included.
  • Operations performed by a module, a program module, or other components according to various embodiments may be executed sequentially, in parallel, repeatedly, or in a heuristic manner. Also, some operations may be executed in a different order, omitted, or other operations may be added.

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Abstract

본 발명은 근적외선 조사부를 구비하는 뇌전도 측정 장치에 관한 것이다. 본 발명인 뇌전도 측정 장치는 뇌전도를 측정하는 전극부와, 근적외선을 조사하는 조사부를 포함하는 적어도 하나 이상의 전극 모듈과, 적어도 하나 이상의 전극 모듈과의 전기적 연결을 제공하는 접속부와, 접속부를 통하여 적어도 하나 이상의 전극 모듈과 전기적으로 연결되며, 전극부를 제어하여 뇌전도 측정값을 획득하는 뇌전도 측정 기능과, 조사부를 제어하여 근적외선 조사 기능을 수행하는 데이터 프로세서를 포함하여 구성된다.

Description

근적외선 조사부를 구비하는 뇌전도 측정 장치
본 발명은 근적외선 조사부를 구비하는 뇌전도 측정 장치에 관한 것이다.
외상적 뇌 손상(TBI), 뇌졸중, 다발경화증(MS), 정신분열병, 자폐증, 불면증, 외상후 스트레스 장애(PTSD), 치매 및 알츠하이머병(Alzheimer's disease: Alzheimer's), 파킨슨병(Parkinson's disease: Parkinson's) 및 다수의 다른 신경학적 상태 및 장애 등의 만성적인 뇌질환에 대해 약제를 사용하는 치료법의 경우, 많은 부작용과 단점이 존재한다.
이에 대한, 대안적인 치료요법 중의 하나인, 뇌 자극술은, 신경계가 실질적인 방식으로 이들 기술에 반응한다는 사실을 기반으로 하여, 얼마 동안 사용되어 왔다. 이들 기술들 중 많은 것은 전자기 충격을 기반으로 한다.
뇌전도는 사람의 두피 여러 곳에 부착한 전극으로부터 뇌의 전기적 활동을 기록한 것으로, 수면 연구, 깊은 마취 상태의 감시, 간질 진단 및 기타 뇌의 병 또는 역기능, 정상적인 뇌 기능의 연구에 종종 사용된다. 심신 상태에 따라 다르게 나타나며, 뇌의 활동 상황을 측정하는 지표가 된다.
뇌전도는 두피나 피질에 전극을 부착하여, 신경계에서 뇌신경 사이에 신호가 전달될 때 생기는 전기의 흐름을 측정하는데, 전도성 젤과 함께 사용되는 습식 전극을 이용하거나, 전도성 젤을 사용하지 않는 건식 전극을 사용할 수 있다.
종래 뇌전도 측정 시에, 뇌의 일부분에 자극을 주고 반응을 관찰할 때, 전기적인 자극의 경우 뇌전도 측정 신호에 간섭이 미친다는 단점이 있었다.
본 발명은 뇌전도 측정 시에 근적외선으로 뇌자극을 수행하면서 뇌의 전기 신호를 감지할 수 있는 근적외선 조사부를 구비하는 뇌전도 측정 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명인 뇌전도 측정 장치의 전극 모듈은 베이스와, 베이스의 일측면에 형성된 복수의 전극 돌기부와, 베이스의 일측면에 형성되어 근적외선을 조사하는 적어도 하나 이상의 광조사 돌기부와, 베이스의 타측면에 형성되어 전기적 연결 배선에 연결되는 결합부를 포함하여 구성된 다.
또한, 전극 돌기부 각각과 광조사 돌기부의 간격은 일정한 것이 바람직하다.
또한, 광조사 돌기부는 베이스의 중앙에 형성되고, 복수의 전극 돌기부는 베이스의 주변부에 일정 간격으로 형성된 것이 바람직하다.
또한, 광조사 돌기부의 내부 또는 내부 공간에 근적외선을 조사하는 조사부가 형성된 것이 바람직하다.
또한, 광조사 돌기부의 일단에는 조사부로부터 조사된 근적외선을 투과시키는 창이 구비된 것이 바람직하다.
또한, 광조사 돌기부의 일단에는 조사부로부터 조사된 근적외선을 투과시키는 개구가 형성된 것이 바람직하다.
또한, 본 발명인 뇌전도 측정 장치는 뇌전도를 측정하는 전극부와, 근적외선을 조사하는 조사부를 포함하는 적어도 하나 이상의 전극 모듈과, 적어도 하나 이상의 전극 모듈과의 전기적 연결을 제공하는 접속부와, 접속부를 통하여 적어도 하나 이상의 전극 모듈과 전기적으로 연결되며, 전극부를 제어하여 뇌전도 측정값을 획득하는 뇌전도 측정 기능과, 조사부를 제어하여 근적외선 조사 기능을 수행하는 데이터 프로세서를 포함하여 구성된 다.
또한, 데이터 프로세서는 전극부와 조사부를 독립적으로 제어하는 것이 바람직하다.
또한, 데이터 프로세서는 뇌전도 측정 기능을 수행하는 중에 근적외선 조사 기능을 수행하여 근적외선 자극에 대한 뇌전도를 측정하는 것이 바람직하다.
또한, 데이터 프로세서는 적어도 하나 이상의 전극 모듈을 독립적으로 제어하는 것이 바람직하다.
또한, 데이터 프로세서는 적어도 하나 이상의 전극 모듈이 장착되는 검사 대상의 검사 영역에 대한 장착 위치 정보를 저장하는 것이 바람직하다.
또한, 데이터 프로세서는 장착 위치 정보를 이용하여 특정 위치의 조사부를 동작 제어하는 것이 바람직하다.
또한, 데이터 프로세서는 조사부의 광조사 특성에 대한 정보를 저장하는 것이 바람직하다.
또한, 광조사 특성에 대한 정보는 기준 듀티비 범위와 기준 광 강도 범위, 기준 주파수 범위, 기준 파장 범위 중의 적어도 하나 이상을 포함하는 것이 바람직하다.
또한, 데이터 프로세서는 광조사 특성에 대한 정보를 판독하여 조사부를 제어하되, 기준 듀티비 범위에 속하는 설정 듀티비와, 기준 광 강도 범위에 속하는 설정 광 강도와, 기준 주파수 범위에 속하는 설정 주파수와, 기준 파장 범위에 속하는 설정 파장에 따른 근적외선이 조사되도록 하는 것이 바람직하다.
또한, 기준 광 강도 범위는 16 ~ 26 mW/cm2 이고, 기준 듀티비 범위는 2 ~ 10%이고, 기준 주파수 범위는 1 Hz ~ 1 kHz이고, 기준 파장 범위는 750㎚ ~ 1300㎚인 것이 바람직하다.
본 발명은 뇌전도 측정 시에 근적외선으로 뇌자극을 수행하면서 뇌의 전기 신호를 감지할 수 있으며, 특히 근적외선으로 뇌를 자극함으로써, 뇌 자극 효과를 실시간으로 감지할 수 있으며, 뇌전도 측정 동작 시에 전기 신호에 대한 간섭 없이 뇌를 자극할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 광조사 특성의 설정값의 가변 제어와, 장착 위치 정보를 이용한 조사부의 선택적 동작 제어를 복합적으로 이용하여, 다양한 위치에서 다양한 광 자극에 따른 뇌전도를 측정할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 따른 근적외선 조사부를 구비하는 뇌전도 측정 장치의 제어 구성도이다.
도 2는 도 1의 전극 모듈의 제 1 실시예의 사시도이다.
도 3은 도 1의 전극 모듈의 제 2 실시예의 사시도이다.
이하에서, 본 발명은 실시예와 도면을 통하여 상세하게 설명된다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 실시 예의 다양한 변경(modification), 균등물(equivalent), 및/또는 대체물(alternative)을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다.
본 문서에서, "가진다", "가질 수 있다", "포함한다", 또는 "포함할 수 있다" 등의 표현은 해당 특징(예: 수치, 기능, 동작, 또는 부품 등의 구성요소)의 존재를 가리키며, 추가적인 특징의 존재를 배제하지 않는다.
본 문서에서, "A 또는 B", "A 또는/및 B 중 적어도 하나", 또는 "A 또는/및 B 중 하나 또는 그 이상" 등의 표현은 함께 나열된 항목들의 모든 가능한 조합을 포함할 수 있다. 예를 들면, "A 또는 B", "A 및 B 중 적어도 하나", 또는 "A 또는 B 중 적어도 하나"는, (1) 적어도 하나의 A를 포함, (2) 적어도 하나의 B를 포함, 또는 (3) 적어도 하나의 A 및 적어도 하나의 B 모두를 포함하는 경우를 모두 지칭할 수 있다.
본 문서에서 사용된 "제1", "제2", "첫째", 또는 "둘째" 등의 표현들은 다양한 구성요소들을, 순서 및/또는 중요도에 상관없이 수식할 수 있고, 한 구성요소를 다른 구성요소와 구분하기 위해 사용될 뿐 해당 구성요소들을 한정하지 않는다. 예를 들면, 제1 사용자 기기와 제2 사용자 기기는, 순서 또는 중요도와 무관하게, 서로 다른 사용자 기기를 나타낼 수 있다. 예를 들면, 본 문서에 기재된 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 바꾸어 명명될 수 있다.
어떤 구성요소(예: 제1 구성요소)가 다른 구성요소(예: 제2 구성요소)에 "(기능적으로 또는 통신적으로) 연결되어((operatively or communicatively) coupled with/to)" 있다거나 "접속되어(connected to)" 있다고 언급된 때에는, 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나, 다른 구성요소(예: 제3 구성요소)를 통하여 연결될 수 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소(예: 제1 구성요소)가 다른 구성요소(예: 제2 구성요소)에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 상기 어떤 구성요소와 상기 다른 구성요소 사이에 다른 구성요소(예: 제3 구성요소)가 존재하지 않는 것으로 이해될 수 있다.
본 문서에서 사용된 표현 "~하도록 구성된(또는 설정된)(configured to)"은 상황에 따라, 예를 들면, "~에 적합한(suitable for)", "~하는 능력을 가지는(having the capacity to)", "~하도록 설계된(designed to)", "~하도록 변경된(adapted to)", "~하도록 만들어진(made to)", 또는 "~를 할 수 있는(capable of)"과 바꾸어 사용될 수 있다. 용어 "~하도록 구성(또는 설정)된"은 하드웨어적으로 "특별히 설계된(specifically designed to)"것만을 반드시 의미하지 않을 수 있다. 대신, 어떤 상황에서는, "~하도록 구성된 장치"라는 표현은, 그 장치가 다른 장치 또는 부품들과 함께 "~할 수 있는" 것을 의미할 수 있다. 예를 들면, 문구 "A, B, 및 C를 수행하도록 구성(또는 설정)된 프로세서"는 해당 동작을 수행하기 위한 전용 프로세서(예: 임베디드 프로세서), 또는 메모리 장치에 저장된 하나 이상의 소프트웨어 프로그램들을 실행함으로써, 해당 동작들을 수행할 수 있는 범용 프로세서(generic-purpose processor)(예: CPU 또는 application processor)를 의미할 수 있다.
본 문서에서 사용된 용어들은 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 다른 실시 예의 범위를 한정하려는 의도가 아닐 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함할 수 있다. 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 용어들은 본 문서에 기재된 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가질 수 있다. 본 문서에 사용된 용어들 중 일반적인 사전에 정의된 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 동일 또는 유사한 의미로 해석될 수 있으며, 본 문서에서 명백하게 정의되지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다. 경우에 따라서, 본 문서에서 정의된 용어일지라도 본 문서의 실시 예들을 배제하도록 해석될 수 없다.
도 1은 본 발명에 따른 근적외선 조사부를 구비하는 뇌전도 측정 장치의 제어 구성도이다.
뇌전도 측정 장치는 검사 대상에 접촉하는 복수의 전극부(111)와, 복수의 전극부(111)에 대해서 독립적으로 검사 대상에 근적외선을 방출하는 적어도 하나 이상의 조사부(121)를 구비하며 데이터 프로세서(290)에 의해 제어되는 전극 모듈(100)과, 사용자로부터의 입력(예를 들면, 전원 온/오프, 뇌전도 측정 동작/중지, 광조사 특성의 설정값 변경, 근적외선 조사 동작/중지 등)을 획득하여 데이터 프로세서(290)에 인가하는 입력부(210)와, 뇌전도 측정 동작 및 근적외선 조사 동작의 제어를 위한 사용자 인터페이스 등을 표시하는 표시부(220)와, 전극 모듈(100)와 데이터 프로세서(290) 간을 전기적으로 연결하는 접속부(230)와, 상술된 구성요소(전극 모듈(100), 입력부(210), 표시부(220) 등)을 제어하여 뇌전도 측정 동작과 근적외선 조사 동작을 독립적으로 또는 선택적으로 또는 교번하여 또는 동시에 수행하는 데이터 프로세서(290)를 포함하여 구성된다. 다만, 전원부(미도시)와, 입력부(210), 표시부(220) 등은 본 발명이 속하는 기술 분야의 통상의 기술자에게 당연히 인식되는 기술에 불과하여, 그 상세한 설명이 생략된다.
전극 모듈(100)에 대해서, 전극부(111)는 검사 대상의 검사 영역(예를 들면, 검사자의 머리 등)에 접촉하며, 측정 전극, 기준 전극, 접지 전극 등을 위한 전극판들을 포함하여 구성되며, 전극부(111)와 접속부(230) 간의 전기적 연결 배선이 구현된다.
조사부(121)는 전극부(111)에 인접하여 형성되나 독립적으로 검사 대상의 검사 영역(예를 들면, 검사자의 머리 피부 등)에 대한 근적외선 방출을 수행하는 광소자(예를 들면, LED 등)를 포함하여 구성되며, 조사부(121)와 접속부(230) 간의 전기적 연결 배선이 구현된다. 조사부(121)는 750nm 내지 1300nm 범위의 파장을 지닌 근적외선을 방출한다. 검사 대상에 대한 근적외선 광조사는 검사 대상에 침투하여 자극을 제공할 수 있다. 즉, 알려진 바와 같이, 근적외선은 검사 대상 피부 내의 미토콘드리아의 CCO 효소(Cytochrome C Oxidase)에 의해 흡수되어 ATP(Adenosine triphosphate; 인체 내의 주된 에너지원) 생성을 증가시키며, 혈관 내피세포와 적혈구를 자극하여 산화질소(NO, Nitric Oxide; 산화 질소, 혈액의 응고를 방지함, 평활근을 이완시킴) 생성을 증가시킨다. 특히, 810nm의 파장에서 CCO 자극 효과가 가장 좋으며, 이러한 근적외선은 검사자의 두개골을 통과하여 뇌에 침투할 수 있어, 뇌 자극을 야기한다.
전극 모듈(100)의 상세한 구성들은 하기에서 기재된다.
접속부(230)는 전극 모듈(100)과 데이터 프로세서(290) 간의 전기적 연결을 위한 구성으로 다양한 커넥터들이 사용될 수 있다. 접속부(230)와 전극 모듈(100) 간의 전기적 연결 배선들은 탈착 가능하다.
도 1에는 하나의 전극 모듈(100)이 도시되나, 복수의 전극 모듈(100)이 전기적 연결 배선에 의해 하나의 또는 복수의 접속부(230)에 전기적으로 연결되는 것으로 이해되어야 한다.
데이터 프로세서(290)는 뇌전도 측정 동작과 근적외선 조사 동작을 수행하기 위한 프로세서(예를 들면, CPU, MICROPROCESSOR, MCU 등)와, 조사부(121)의 광조사 특성의 설정값과 뇌전도 측정 동작 및 데이터 처리를 위한 알고리즘 등을 저장하는 저장 공간(예를 들면, 메모리 등) 등을 포함하여 구성된다.
먼저, 뇌전도 측정 동작 및 데이터 처리를 위한 알고리즘은 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자에게 이미 널리 알려진 기술에 해당되어, 그 상세한 설명이 생략된다.
조사부(121)의 광조사 특성의 설정값은 조사부(121)의 자극의 강도(세기), 반복, 깊이(침투 깊이) 등의 특성에 대한 설정값을 포함한다. 먼저, 자극의 강도(세기)는 자극의 영향이나 효과의 크기에 대한 것으로 근적외선의 광 강도에 관련되며, 본 실시예에서는 데이터 프로세서(290)의 제어에 의해 조사부(121)가 16 ~ 26 mW/cm2 범위(기준 광 강도 범위)에 포함되는 설정 광 강도(intensity)(광 강도 설정값)의 근적외선을 방출한다. 자극의 반복은 자극의 효과에 영향을 미치며, 근적외선의 주파수 및 듀티비에 관련되며, 본 실시예에서는 데이터 프로세서(290)의 제어에 의해 조사부(121)가 2 ~ 10%인 기준 듀티비 범위에 포함되는 설정 듀티비(듀티비 설정값)로 1 Hz ~ 1 kHz인 기준 주파수 범위에 포함되는 설정 주파수(주파수 설정값)의 근적외선을 방출한다. 다음으로, 자극의 깊이는 검사 대상의 검사 영역 내로의 침투 깊이로, 근적외선의 파장에 관련되며, 본 실시예에서는, 조사부(290)는 750㎚ 내지 1300㎚ 범위(기준 파장 범위)에 포함되는 설정 파장(파장 설정값)의 근적외선을 방출한다. 위 기준 파장 범위 내에서는 그 침투 깊이가 큰 변화없이 일정하게 유지된다.
또한, 정상 체온(36.5℃)에서 뇌의 온도 분포는 35.6 ~ 36.1℃)이며, 뇌의 온도가 42℃가 되면 뇌 조직이 열로 인해 변성되거나 파괴된다. 뇌의 온도가 정상 온도 분포에서 6℃이상 상승하면 위험하게 된다. 이러한 온도 상승 문제에서, 근적외선이 검사 영역에 조사되는 경우, 뇌의 온도 상승 요인이 될 수 있다. 따라서, 데이터 프로세서(290)에 저장되는 기준 듀티비 범위와 기준 광 강도 범위, 기준 주파수 범위, 기준 파장 범위 각각은 뇌의 온도 상승을 최소화하거나 6℃ 미만의 온도 상승만이 이루어지도록 설정된다.
데이터 프로세서(290)는 광조사 특성의 설정값을 판독하여 조사부(121)를 제어하여 근적외선 조사 동작을 수행한다.
데이터 프로세서(290)는 전극 모듈(100)를 제어하여 뇌전도 측정 동작과 근적외선 조사 동작을 개별적으로 수행할 수도 있다. 즉, 데이터 프로세서(290)는 전극부(111) 및 조사부(121)를 서로 독립적으로 동시에 또는 교번하여 제어하여 뇌의 전기 신호를 감지하는 동시에, 근적외선으로 뇌를 자극함으로써, 뇌 자극 효과를 실시간으로 감지할 수 있다는 효과가 있다. 이러한 근적외선 조사는 뇌전도 측정 동작 시에 전기 신호에 대한 간섭 없이 뇌를 자극할 수 있다. 복수의 전극 모듈(100)이 검사 영역인 두피에 균일하게 정착된 경우, 데이터 프로세서(290)는 조사부(121)를 제어하여 검사 영역 전체에 일정 범위를 두고 뇌를 자극하여, 뇌 자극에 대한 뇌전도 측정값을 전극부(111)를 통하여 획득할 수도 있다. 또한, 데이터 프로세서(290)는 복수의 전극 모듈(100) 중에서 일부에 대해서만 근적외선 조사 동작을 수행하도록 하고, 복수의 전극 모듈(100)의 전극부(111)가 뇌전도 측정 동작을 수행하도록 할 수도 있다.
데이터 프로세서(290)는 전극 모듈(100)이 장착되는 검사 대상의 검사 영역에 대한 장착 위치 정보를 저장할 수 있다. 데이터 프로세서(290)는 장착 위치 정보를 이용하여 특정 위치나 특정 부위에 광 조사를 수행할 수 있는 조사부(121)만을 선택적으로 동작시켜 근적외선 조사 동작을 수행할 수 있으며, 이러한 특정 위치나 특정 부위에 대한 광 자극을 수행하면서, 전극부(111)를 이용하여 부분적인 광 자극에 대한 뇌전도 측정 동작을 수행하도록 할 수도 있다. 즉, 데이터 프로세서(290)는 광 자극의 위치에 연관된 뇌전도 측정값을 획득할 수 있다.
또한, 뇌전도 측정 장치는 전자 통신 장치(예를 들면, 컴퓨터 단말기, 스마트폰, 서버 등)과 유선 또는 무선 통신을 수행할 수 있는 통신부(미도시)를 구비할 수 있고, 데이터 프로세서(290)는 통신부를 통하여 뇌정도 측정 동작에 의한 측정값을 전자 통신 장치로 전송할 수도 있다. 또한, 데이터 프로세서(290)는 통신부를 통하여 전자 통신 장치로부터 조사부(121)의 광 조사 특성의 설정값을 수신하여 저장함으로써, 설정값의 업데이트를 수행할 수도 있다.
도 2는 도 1의 전극 모듈의 제 1 실시예의 사시도이다.
전극 모듈(100)은 베이스(101)와, 베이스(101)의 일측면에 형성되며 접속부(230)와 전기적 연결 배선과 결합되는 결합부(102)를 포함하여 구성된다.
베이스(101)의 타측면에는, 내부나 외면에 전극부(111)가 각각 형성된 복수의 전극 돌기부(110)와, 내부에 조사부(121)가 형성된 적어도 하나 이상의 광조사 돌기부(120)가 형성된다.
복수의 전극 돌기부(110)는 베이스(101)의 주변부를 따라서 일정 간격으로 형성되며, 광조사 돌기부(120)는 베이스(101)의 중앙에 형성되어, 복수의 전극 돌기부(110) 각각과 광조사 돌기부(120) 간의 간격은 동일하게 형성된다. 도 2의 예시와 같이, 광조사 돌기부(120)의 원주 방향으로 복수의 전극 돌기부(110)가 형성될 수 있다. 이러한 배치에 의해, 조사부(121)에 의한 근적외선 조사 동작에 따른 뇌전도를 복수의 전극 돌기부(110) 각각이 균등하게 감지할 수 있도록 한다.
광조사 돌기부(120)는, 단부에 광 투과성, 특히 근적외선 투과성 재질로 형성된 창(122)을 구비하고, 내부에 형성된 조사부(121)로부터의 근적외선이 창(122)을 투과하여 외부로 조사될 수 있도록 한다. 조사부(121)가 광조사 돌기부(120)의 내부 또는 내부 공간에 장착되어, 외부 충력에 대해서도 보호되도록 한다.
이렇게 전극 모듈(100)이 근적외선 조사를 위한 조사부(121)를 구비함에 따라, 뇌전도 측정 중에도 근적외선을 이용하여 신호 간섭 없이 뇌를 자극할 수 있다.
도 3은 도 1의 전극부의 제 2 실시예의 사시도이다.
제 2 실시예에 따른 전극 모듈(100)는 도 2에서와 같이 베이스(101)와 결합부(102)를 포함하여 구성되며, 베이스(101)에 복수 개의 전극 돌기부(110)가 형성된다.
도 3의 전극 모듈(100)이 도 2의 전극 모듈과 다른 점은, 베이스(101)의 중앙에 형성된 광조사 돌기부(120a)이다. 광조사 돌기부(120a) 내부 또는 내부 공간의 형성된 조사부(121)의 근적외선이 외부로 조사되도록, 광조사 돌기부(120a)의 단부에 개구(122a)가 형성된다. 개구(122a)는 외부와 조사부(121) 사이를 관통하며, 광조사 돌기부(120a) 내에 조사부(121)가 형성되어 외부 충격으로부터 보호된다.
본 발명에 따른 뇌전도 측정 장치는 복수 개의 전극 모듈(100)과 전기적으로 연결되며, 복수 개의 전극 모듈(100) 각각을 독립적으로 제어할 수 있으며, 전극 모듈(100) 내의 전극부(111)와 조사부(121)도 각각 독립적으로 제어할 수 있다.
복수의 전극 모듈(100)이 사용자의 두피 또는 머리에 소정 간격을 두고 배치되며, 데이터 프로세서(290)는 복수의 전극 모듈(100)로부터의 뇌전도 측정값을 인가 받으면서 적어도 하나 이상의 조사부(121)를 동작시켜 광 자극을 인가할 수도 있다. 이러한 조사부(121)로부터 광 자극 시에, 데이터 프로세서(290)는 광조사 특성에 포함되는 범위 내에서, 설정 주파수, 설정 파장, 설정 광 강도, 설정 듀티비 중의 적어도 하나 이상을 가변 제어하여 서로 상이한 광 특성인 근적외선을 조사할 수도 있다.
또한, 데이터 프로세서(290)는 장착 위치 정보를 이용하여, 특정 위치의 조사부(121)를 선택적으로 동작시켜 광 자극을 인가하고, 복수의 전극 모듈(100)로부터 이러한 광 자극에 의한 뇌전도 측정값을 인가 받을 수 있다.
또한, 데이터 프로세서(290)는 상술된 조사부(121)의 광조사 특성의 설정값의 가변 제어와, 장착 위치 정보를 이용한 조사부(121)의 선택적 동작 제어를 복합적으로 이용하여, 다양한 위치에서 다양한 광 자극에 따른 뇌전도를 측정할 수 있다.
다양한 실시 예에 따른 장치(예: 프로세서 또는 그 기능들) 또는 방법(예: 동작들)의 적어도 일부는, 예컨대, 프로그램 모듈의 형태로 컴퓨터로 읽을 수 있는 저장매체(computer-readable storage media)에 저장된 명령어로 구현될 수 있다. 상기 명령어가 프로세서에 의해 실행될 경우, 상기 하나 이상의 프로세서가 상기 명령어에 해당하는 기능을 수행할 수 있다. 컴퓨터로 읽을 수 있는 저장매체는, 예를 들면, 메모리가 될 수 있다.
컴퓨터로 판독 가능한 기록 매체는, 하드디스크, 플로피디스크, 마그네틱 매체(magnetic media)(예: 자기테이프), 광기록 매체(optical media)(예: CD-ROM, DVD(Digital Versatile Disc), 자기-광 매체(magnetoopticalmedia)(예: 플롭티컬 디스크(floptical disk)), 하드웨어 장치(예: ROM, RAM, 또는 플래시 메모리 등)등을 포함할 수 있다. 또한, 프로그램 명령에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함할 수 있다. 상술한 하드웨어 장치는 다양한 실시 예의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지다.
다양한 실시 예에 따른 프로세서 또는 프로세서에 의한 기능들은 전술한 구성요소들 중 적어도 하나 이상을 포함하거나, 일부가 생략되거나, 또는 추가적인 다른 구성요소를 더 포함할 수 있다. 다양한 실시 예에 따른 모듈, 프로그램 모듈 또는 다른 구성요소에 의해 수행되는 동작들은 순차적, 병렬적, 반복적 또는 휴리스틱(heuristic)한 방법으로 실행될 수 있다. 또한, 일부 동작은 다른 순서로 실행되거나, 생략되거나, 또는 다른 동작이 추가될 수 있다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명은 상술한 특정의 바람직한 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형의 실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재의 범위 내에 있게 된다.

Claims (16)

  1. 베이스와;
    베이스의 일측면에 형성된 복수의 전극 돌기부와;
    베이스의 일측면에 형성되어 근적외선을 조사하는 적어도 하나 이상의 광조사 돌기부와;
    베이스의 타측면에 형성되어 전기적 연결 배선에 연결되는 결합부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 뇌전도 측정 장치의 전극 모듈.
  2. 제 1 항에 있어서,
    전극 돌기부 각각과 광조사 돌기부의 간격은 일정한 것을 특징으로 하는 뇌전도 측정 장치의 전극 모듈.
  3. 제 1 항에 있어서,
    광조사 돌기부는 베이스의 중앙에 형성되고,
    복수의 전극 돌기부는 베이스의 주변부에 일정 간격으로 형성된 것을 특징으로 하는 뇌전도 측정 장치의 전극 모듈.
  4. 제 1 항 내지 제 3 항 중의 어느 한 항에 있어서,
    광조사 돌기부의 내부 또는 내부 공간에 근적외선을 조사하는 조사부가 형성된 것을 특징으로 하는 뇌전도 측정 장치의 전극 모듈.
  5. 제 4 항에 있어서,
    광조사 돌기부의 일단에는 조사부로부터 조사된 근적외선을 투과시키는 창이 구비된 것을 특징으로 하는 뇌전도 측정 장치의 전극 모듈.
  6. 제 4 항에 있어서,
    광조사 돌기부의 일단에는 조사부로부터 조사된 근적외선을 투과시키는 개구가 형성된 것을 특징으로 하는 뇌전도 측정 장치의 전극 모듈.
  7. 뇌전도를 측정하는 전극부와, 근적외선을 조사하는 조사부를 포함하는 적어도 하나 이상의 전극 모듈과;
    적어도 하나 이상의 전극 모듈과의 전기적 연결을 제공하는 접속부와;
    접속부를 통하여 적어도 하나 이상의 전극 모듈과 전기적으로 연결되며, 전극부를 제어하여 뇌전도 측정값을 획득하는 뇌전도 측정 기능과, 조사부를 제어하여 근적외선 조사 기능을 수행하는 데이터 프로세서를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 뇌전도 측정 장치.
  8. 제 7 항에 있어서,
    데이터 프로세서는 전극부와 조사부를 독립적으로 제어하는 것을 특징으로 하는 뇌전도 측정 장치.
  9. 제 7 항에 있어서,
    데이터 프로세서는 뇌전도 측정 기능을 수행하는 중에 근적외선 조사 기능을 수행하여 근적외선 자극에 대한 뇌전도를 측정하는 것을 특징으로 하는 뇌전도 측정 장치.
  10. 제 7 항에 있어서,
    데이터 프로세서는 적어도 하나 이상의 전극 모듈을 독립적으로 제어하는 것을 특징으로 하는 뇌전도 측정 장치.
  11. 제 10 항에 있어서,
    데이터 프로세서는 적어도 하나 이상의 전극 모듈이 장착되는 검사 대상의 검사 영역에 대한 장착 위치 정보를 저장하는 것을 특징으로 하는 뇌전도 측정 장치.
  12. 제 11 항에 있어서,
    데이터 프로세서는 장착 위치 정보를 이용하여 특정 위치의 조사부를 동작 제어하는 것을 특징으로 하는 뇌전도 측정 장치.
  13. 제 7 항 내지 제 12 항 중의 어느 한 항에 있어서,
    데이터 프로세서는 조사부의 광조사 특성에 대한 정보를 저장하는 것을 특징으로 하는 뇌전도 측정 장치.
  14. 제 13 항에 있어서,
    광조사 특성에 대한 정보는 기준 듀티비 범위와 기준 광 강도 범위, 기준 주파수 범위, 기준 파장 범위 중의 적어도 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 뇌전도 측정 장치.
  15. 제 14 항에 있어서,
    데이터 프로세서는 광조사 특성에 대한 정보를 판독하여 조사부를 제어하되, 기준 듀티비 범위에 속하는 설정 듀티비와, 기준 광 강도 범위에 속하는 설정 광 강도와, 기준 주파수 범위에 속하는 설정 주파수와, 기준 파장 범위에 속하는 설정 파장에 따른 근적외선이 조사되도록 하는 것을 특징으로 하는 뇌전도 측정 장치.
  16. 제 15 항에 있어서,
    기준 광 강도 범위는 16 ~ 26 mW/cm2 이고, 기준 듀티비 범위는 2 ~ 10%이고, 기준 주파수 범위는 1 Hz ~ 1 kHz이고, 기준 파장 범위는 750㎚ ~ 1300㎚인 것을 특징으로 하는 뇌전도 측정 장치.
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