WO2019001817A1 - Elektronisches bauteil zum aussenden und empfangen von radar-signalen - Google Patents
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- H01Q9/0407—Substantially flat resonant element parallel to ground plane, e.g. patch antenna
Definitions
- the invention relates to an electronic component for emitting and / or receiving radar signals, as well as a distance measuring device based thereon.
- Radar-based distance measurement is used in a wide range of applications.
- Corresponding distance measuring devices are used, for example, for position determination in aviation, for distance measurement in motor vehicles or for level measurement in the process automation of large industrial plants.
- FMCW Frequency Modulated Continuous Wave
- pulse transit time method Both methods are implemented within predefined radar frequency bands operated (in the context of this invention, the term "radar signal” to signals or electromagnetic waves with frequencies between 0.03 GHz and 300 GHz).
- radar frequency bands are used at 6 GHz, 26 GHz or 79 GHz.
- the higher frequency bands are preferred, since in these cases a larger absolute bandwidth can be used. This in turn achieves a higher resolution. This is an important requirement, in particular for level measurement, since, depending on the application, the most accurate possible knowledge of the filling level is required.
- Another advantage of using high frequencies is that the radar-based distance meter can be equipped with a smaller antenna without reducing the antenna's condensing effect. In level measurement, for example, thereby reduced
- Connection flanges for attachment to the container possible. Therefore, it is desirable to operate level or distance measurement generally at frequencies higher than 79 GHz (up to radar frequencies of 300 GHz). Radar signals at frequencies above 100 GHz can no longer be routed between the semiconductor chip on which the radar signal is generated and the printed circuit board via hybrid connection technologies. Because the dimensions of the
- connection structures such as bonding wires or solder joints to the respective electronic components in the order of the wavelength of the radar signals, interfere with these connection structures as parasitic elements, the transmission behavior.
- many of the materials commonly used in electronics cause increasing losses with the frequency, by which the millimeter-wave signals are considerably attenuated even over short distances.
- Millimeter wave circuits with standard technologies is for this reason with increasing frequency more difficult. This not least has an effect on the resolution and the accuracy of the level measurement.
- monolithic semiconductor devices are used for generating or receiving radar signals, in particular above 60 GHz.
- An advantage of monolithic realization is that both the signal generation unit for generating the radar signal to be transmitted, and the evaluation unit for distance determination can be combined in a half-liter module based on the received radar signal. This avoids that the high-frequency radar signals must be routed via external tracks, solder joints or bonding wires. This reduces just at high frequencies, the susceptibility of the distance measuring device.
- the semiconductor module comprises a primary radiator.
- a planar antenna which is realized as a semiconductor structure of the semiconductor component, or which is applied to the semiconductor component by micromechanical methods.
- a corresponding semiconductor module is described inter alia in the publication DE 10 2015 1 19 690 A1. Due to the usually planar arrangement and the small dimension of the
- the radar signal is emitted in almost the complete half space in front of the semiconductor device. The same applies to the reception of the reflected radar signal, which is received undirected from this half-space without additional bundling.
- a certain minimum bundling (this is equivalent to a maximum beam angle) of the transmitted radar signal or the radar signal to be received necessary. This causes the emitted radar signal is focused in the direction of the product surface, so that the reflected radar signal from any interference echoes from the edge region of the container (ie echoes that are not from the surface of the contents to be detected , but from peripheral sturgeon result) is superimposed.
- a maximum angle of 35 ° is set for level measurement.
- a bundling angle of 3 ° is desired.
- the convergent angle corresponds to that angle at which, starting from the vector of the maximum power of the emitted radar signal, its power has been reduced to 50% or -3 dB.
- a convex lens or a parabolic mirror In order to effect such a bundling, a convex lens or a parabolic mirror must be connected upstream of the primary radiator or the semiconductor component. There the complete half-space must be covered in front of the semiconductor module, the aperture of the lens or the concave mirror is designed to be correspondingly large. But this is associated with considerable total reflection losses, especially in the edge region of the optics. A reduction of the total reflection losses is only possible by means of a reduction of the aperture. In this case, however, not the complete half space is covered. Thus, the emission efficiency is reduced in both cases. This in turn limits the security with which the distance to be determined can be detected clearly and without errors. Especially in the case of level measurement, however, a high power efficiency is required. For although level gauges must be designed explosion-proof and their power consumption is accordingly limited constructively, error-free level detection is depending on the application essential. The invention is therefore based on the object, in particular for level measurement to provide a safe, efficient and accurate distance measuring device.
- the invention solves this problem by an electronic component for emitting and / or receiving a radar signal. For this it includes:
- a semiconductor device configured to emit and / or receive the radar signal by means of a primary radiator
- a carrier having a surface, wherein the semiconductor device is arranged for electrical contacting on the surface of the carrier.
- the electronic component is characterized in that the
- Surface of the support has at least one so configured first stage to focus the radar signal when emitting and / or receiving in approximately a vertical direction to the surface of the carrier.
- the surface of the carrier is preferably designed to be electrically conductive at least in the region of the first stage.
- the electronic component according to the invention is thus achieved that the emitted or received radar signal can already be bundled at the level of the electronic component and thus very efficient. As a result, the use of subsequent, space-intensive bundling measures can be greatly reduced.
- the electronic component is predestined for use as a distance measuring device, and in particular for level measurement, since efficient bundling here contributes to error-free filling level detection
- efficient bundling here contributes to error-free filling level detection
- the semiconductor module is designed to generate the radar signal to be transmitted at a frequency of more than 100 GHz, in particular more than 150 GHz.
- the achievable resolution is additionally increased by the increased frequency.
- a suitable design variant is that the first stage has a contour enclosing the semiconductor module, in particular a round or rectangular surrounding contour.
- increased bundling can also be achieved by the electronic component comprising a second stage, which is arranged with respect to the semiconductor component outside the first stage.
- a measure of the bundling according to the invention is that the stage has a minimum distance to the primary radiator and a height corresponding to a total of about a quarter of the wavelength of the radar signal emitted, or an integer multiple thereof.
- Embodiment variants of the radar signal when emitting and / or receiving a bundling with a beam angle of 60 ° maximum, in particular less than 40 ° can be effected.
- the first stage is designed to decrease or increase in the direction of the semiconductor module.
- the first stage can either form a depression of the surface of the carrier, in which case the semiconductor component is arranged inside the depression. Or the first stage forms the surface of the carrier sockeiförmig, wherein the semiconductor device is arranged in this case on the base.
- the carrier may be designed so that the first stage on the surface of the carrier forms a trench structure adjacent to the semiconductor package.
- the first stage next to the semiconductor module not as a trench, but as a wall or conversion on the surface of the carrier.
- the carrier must be designed accordingly as a leadframe.
- that region of the housing through which the beam path of the radar signal passes that is, the region above the primary radiator which connects perpendicular to the surface of the carrier or leadframe to the primary radiator) is to be interpreted correspondingly transparent to the radar signal. It would be possible for this purpose to provide a recess in this area and / or to use a correspondingly transparent housing material in this area. It's not a QFN case
- the electronic component according to the invention makes it possible to realize a radar-based distance measuring device for determining a distance to an object. Due to the electrical component, such a distance measuring device is thus characterized by a bundling of the radar signal.
- a distance measuring device for use as a distance measuring device, the following blocks are to be implemented in the semiconductor module:
- a signal generation unit designed to generate the radar signal to be transmitted
- an evaluation unit which is designed to determine the distance based on the received radar signal.
- a distance measuring device can be realized that, if appropriate, can be operated without further bundling measures. If, depending on the field of application of the distance measuring device, further bundling is expedient, then a corresponding lens, a waveguide and / or an antenna could be arranged on the electronic component in order to transmit the transmitted radar signal and the received radar signal to bundle.
- a lens can be integrated into the housing of the electronic component such that the lens is arranged in front of the primary radiator of the semiconductor module in the beam path of the radar signal. Alternatively, the lens could of course
- the distance measuring device Due to the optimized bundling of the distance measuring device according to the invention, it makes sense to use the distance measuring device for determining a filling level of a filling material located in a container.
- the distance meter is like this be interpreted and arranged at a known installation height on the container to determine the level by means of the measured distance to the product surface.
- the electronic component according to the invention can thus be realized a safe, accurate and efficient level gauge.
- Fig. 1 an electronic component according to the prior art for
- Fig. 2 an inventive electronic component for emitting and / or
- Receiving radar signals, Fig. 3 and Fig. 4 the electronic component according to the invention in further
- Fig. 5 a possible use of the electronic component according to the invention in a level gauge.
- an electronic component V designed according to the prior art is shown in FIG. 1, which serves for emitting and receiving radar signals SHF, EHF, in particular at above 100 GHz: core of the electronic component V is a Semiconductor module 2, which comprises a primary radiator 21 for emitting and / or receiving radar signals SHF, EHF on its upper side.
- the primary radiator 21 forms a planar antenna structure, for example, meander-shaped, either as a monolithic substructure of the
- Semiconductor module 2 is formed, or is mounted as a hybrid structure on the semiconductor device 2 (for example by means of micromechanical or other back-end method).
- the semiconductor module 2 could also be designed with two primary radiators 21 which each serve separately for transmitting and receiving.
- the following functional blocks are implemented in the semiconductor module 2 by default:
- a signal generation unit designed to generate the radar signal to be transmitted, the primary radiator, which emits the radar signal in the direction of the object and receives the reflected radar signal on the object, as well
- an evaluation unit which is designed to determine the distance based on the received radar signal.
- the signal generation unit When using the FMCW method, the signal generation unit
- VCO - Voltage Controlled Oscillator also known as "VCO - Voltage Controlled Oscillator”
- PLL Phase Locked Loop
- the voltage-controlled oscillator is controlled in such a way that at the output thereof a signal is set with the FMCW-typical "sawtooth-shaped" frequency change (ie a time-linear change which periodically repeats within the frequency band).
- Amplifier along a transmitting / receiving switch the primary radiator 31, so that this signal is emitted as a radar signal SHF.
- the radar signal EHF is received again as a function of the transit time (and thus as a function of the distance to the object) from the primary radiator 21 and via the transmitting / receiving switch of the
- the evaluation unit can be designed in the semiconductor device as it is usual in FMCW according to the prior art: in essence, this includes a mixer that mixes the received signal of the transmitting / receiving switch with the signal, which on pages the signal generating unit is applied to the output of the voltage controlled oscillator. The mixing results in a so-called difference signal whose frequency changes linearly with the distance to be measured.
- An appropriate measuring module for measuring this frequency makes it possible for the evaluation unit to
- the semiconductor module 2 is applied to a planar surface 31 of a carrier 3.
- the carrier 3 acts as a leadframe of a housing of the
- the semiconductor device 2 is applied to the carrier 3, for example by means of chip bonding or gluing.
- the term "beam cone” in the context of this invention refers to that of the bundling angle rotationally symmetrical Cone, along the axis of which the radar signal SHF is emitted at maximum power, and the convergent angle is defined by the angle at which, starting from the axis of the maximum power of the transmitted radar signal, its power is 50% or about Due to the generally reciprocal properties of antennas in terms of their directivity, which is equally prevalent when transmitting and receiving (and thus also the reciprocal property of the primary radiator 21), this beam cone of the primary radiator 21 also corresponds to the directivity upon reception of the R adar signal EHF.
- An inventive electronic module 1 a smaller
- Bundling angle, and associated therewith has a narrowed beam cone oriented approximately perpendicular to the surface 31 for emitting a radar signal SHF and / or for receiving a radar signal EHF is shown in FIG. 2 (the reciprocal arrow in FIG. 2 again the axis along which the radar signal SHF is transmitted with the maximum power, which corresponds to the axis of the
- the constriction of the beam cone that is, the bundling oriented approximately perpendicularly to the surface 31, is effected according to the invention by a step 32a on the surface 31 of the carrier 3.
- the stage 32a is implemented so that it completely surrounds the semiconductor module 21 in the form of a rectangle.
- the step 32a rises toward the semiconductor device 21. This results in a sock-shaped arrangement of the semiconductor module 21 on the surface 31 of the carrier 3.
- the degree of bundling is influenced not only by the stage 32a itself, but also significantly by their dimensioning.
- the stage 31 a has a minimum distance to the primary radiator and a height, wherein the minimum distance and the height in the sum about one quarter of the wavelength of the transmitted radar signal SHF, or an integer multiple thereof.
- FIG. 3 A second embodiment variant of the electronic component according to the invention is shown in FIG. 3:
- the embodiment variant shown here differs from the electrical component 1 shown in FIG. 2 in that the step 32a does not have a straight but a corrugated contour. Instead of a corrugation, the step could alternatively be provided with a wavy contour in order to achieve an increased bundling as well as corrugation.
- FIG. 4 shows an alternative possibility for designing the stage 32b, in which the semiconductor module 2 is not completely enclosed by the stage 32b.
- the stage 32b is designed as a wall, which surrounds the semiconductor module 2 on three sides (of course conceivable would also be a one- or two-sided conversion).
- a corresponding trench structure could also be used for the bundling.
- FIG. 4 a further measure according to the invention for increasing the bundling is shown in FIG. 4. It is a second stage 33, which is arranged with respect to the semiconductor device 2 outside the first stage 32b.
- the second stage 33 is configured as a second wall. Logically, these could be
- FIG. 5 shows a possible use of the electronic component 1 according to the invention in a level gauge 1 1.
- the level gauge 1 1 is used to measure the level L of a container located in a filling material 13.
- the level gauge 1 1 is mounted in a known installation height h above the filling material 13 on the container 12.
- a container 12 may be up to more than 30 m high.
- the level gauge 1 1 is designed on the container 2 so that the electronic component 1 emits the radar signal SHF in the direction of the surface of the filling material 13. After reflection on the product surface receives the level gauge 1 1 and the electronic component 1, the reflected radar signal EHF in response to
- the fill level L can be determined by means of the above formula on the basis of the measured distance d.
- the distance d is calculated on the basis of the measured transit time t of the transmitted, pulsed radar signal SHF calculated.
- the distance d is determined via the instantaneous frequency difference between the emitted, frequency-modulated radar signal SHF and the received, reflected radar signal EHF.
- the level gauge 1 1 is connected via a bus system, such as "PROFIBUS",
- HART or "Wireless HART” connected to a higher-level unit 14, such as a process control system.
- a higher-level unit 14 such as a process control system.
- information about the operating state of the level gauge 1 1 can be communicated on the one hand.
- Information about the fill level L can also be transmitted in order to control the inflows or outflows present on the container.
- both the transmitted radar signal SHF and the received radar signal EHF can be bundled so that the level measuring device 1 1, if necessary, no further measures for bundling are required.
- appropriate design can be achieved by bundling that the emitted radar signal SHF is reflected only on the surface of the filling material 13. As a result, any installations outside of the beam cone enclosed by the bundling angle can not be possible.
- the level gauge 1 1 can be operated optimized performance through the increased bundling, which, inter alia, the compliance with explosion protection measures (in Europe is for
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Abstract
Die Erfindung betrifft ein elektronisches Bauteil (1) zum gebündelten Aussenden und/oder Empfangen von Radar-Signalen (SHF, EHF). Hierzu umfasst es: - Einen Halbleiter-Baustein (2), der ausgestaltet ist, um das Radar-Signal (SHF, EHF) mittels eines Primärstrahlers (21) auszusenden und/oder zu empfangen; - Einen Träger (3), auf dessen Oberfläche (31) der Halbleiter-Baustein (2) zur elektrischen Kontaktierung angeordnet ist. Erfindungsgemäß zeichnet sich das elektronische Bauteil (1) dadurch aus, dass die Oberfläche (31) des Trägers (3) zumindest eine derart ausgestaltete erste Stufe (32a, b) aufweist, um das Radar-Signal (SHF, EHF) beim Aussenden und/oder Empfangen in etwa senkrecht zur Oberfläche (31) des Trägers (3) zu bündeln. Hierdurch eignet sich das erfindungsgemäße elektronische Bauteil (1) speziell für diejenigen Anwendungen der Radar-basierten Distanzmessung, die von gebündelt ausgesendeten und empfangenen Radar-Signalen (SHF, EHF) profitieren.
Description
Elektronisches Bauteil zum Aussenden und Empfangen von Radar-Signalen
Die Erfindung betrifft ein elektronisches Bauteil zum Aussenden und/oder Empfangen von Radar-Signalen, sowie ein hierauf basierendes Distanzmessgerät.
Radar-basierte Distanzmessung wird in einem breiten Anwendungsspektrum genutzt. Entsprechende Distanzmessgeräte werden beispielsweise zur Positionsbestimmung in der Luftfahrt, zur Abstandsmessung bei Kraftfahrzeugen oder zur Füllstandsmessung in der Prozessautomation großer industrieller Anlagen eingesetzt. Hierzu können prinzipiell zwei unterschiedliche Radar-Technologien nach dem Stand der Technik angewandt werden: Zum einen FMCW („Frequency Modulated Continuos Wave", auch bekannt als Dauerstrichradar) oder das sogenannte Puls-Laufzeit-Verfahren. Beide Verfahren werden innerhalb von vordefinierten Radar-Frequenzbändern betrieben (im Rahmen dieser Erfindung beziehen sich der Begriff„Radar-Signal" auf Signale bzw. elektromagnetische Wellen mit Frequenzen zwischen 0.03 GHz und 300 GHz).
Im Bereich der Füllstandsmessung wird in Radar-Frequenzbändern bei 6 GHz, 26 GHz oder 79 GHz gearbeitet. Dabei sind die höherliegenden Frequenzbänder bevorzugt, da in diesen Fällen eine größere absolute Bandbreite genutzt werden kann. Hierdurch wird wiederum eine höhere Auflösung erreicht. Insbesondere bei der Füllstandsmessung stellt dies eine wichtige Anforderung dar, da je nach Anwendung eine möglichst genaue Kenntnis des Füllstandes erforderlich ist. Ein weiterer Vorteil bei der Verwendung hoher Frequenzen besteht darin, dass das Radar-basierte Distanzmessgerät mit einer kleineren Antenne ausgestattet werden kann, ohne dass die Bündelungs-Wirkung der Antenne vermindert wird. Bei Füllstandsmessung werden dadurch beispielsweise verkleinerte
Anschluss-Flansche zur Anbringung am Behälter möglich. Daher ist es erstrebenswert, Füllstands- bzw. Distanzmessung im Allgemeinen bei höheren Frequenzen als 79 GHz (bis hin zu Radarfrequenzen von 300 GHz) zu betreiben. Radar-Signale bei Frequenzen von über 100 GHz können zwischen dem Halbleiter-Chip, auf dem das Radar-Signal erzeugt wird, und der Leiterkarte nicht mehr über hybride Verbindungstechnologien geführt werden. Da die Dimensionen der
Verbindungsstrukturen wie Bonddrähte oder Lötstellen zu den jeweiligen elektronischen Bauteilen in der Größenordnung der Wellenlänge der Radar-Signale liegen, stören diese Verbindungsstrukturen als parasitäre Elemente das Übertragungsverhalten. Darüber hinaus verursachen viele der in der Elektronik üblichen Werkstoffe mit der Frequenz steigende Verluste, durch welche die Millimeterwellensignale schon über kurze Distanzen erheblich gedämpft werden. Die Realisierung leistungsfähiger und zuverlässiger
Millimeterwellenschaltungen mit Standardtechnologien ist aus diesem Grund mit
zunehmender Frequenz schwieriger. Dies wirkt sich nicht zuletzt auf die Auflösung und die Genauigkeit der Füllstandsmessung aus.
Daher werden zur Erzeugung bzw. zum Empfang von Radar-Signalen, insbesondere oberhalb von 60 GHz, monolithische Halbleiter-Bausteine eingesetzt. Vorteilhaft an monolithischer Realisierung ist, dass sowohl die Signalerzeugungs-Einheit zur Erzeugung des auszusendenden Radar-Signals, als auch die Auswerte-Einheit zur Abstands- Bestimmung anhand des empfangenen Radar-Signals in einem Halbliter-Baustein vereint werden können. Hierdurch wird vermieden, dass die hochfrequenten Radar-Signale über externe Leiterbahnen, Lötverbindungen oder Bonddrähte geführt werden müssen. Dies vermindert gerade bei hohen Frequenzen die Störanfälligkeit des Distanzmessgerätes.
Zum Aussenden des Radar-Signals und/oder zum Empfang des reflektierten Radar- Signals umfasst der Halbleiter-Baustein einen Primärstrahler. Dabei handelt es sich beispielsweise um eine Planar-Antenne, die als Halbleiterstruktur des Halbleiter- Bausteins realisiert ist, oder die mittels mikromechanischer Verfahren auf den Halbleiter- Baustein aufgebracht ist. Ein entsprechender Halbleiter-Baustein wird unter anderem in der Veröffentlichungsschrift DE 10 2015 1 19 690 A1 beschrieben. Aufgrund der in der Regel planaren Anordnung und der kleinen Dimension des
Primärstrahlers wird das Radar-Signal in nahezu den kompletten Halbraum vor dem Halbleiter-Baustein ausgesendet. Gleiches gilt für den Empfang des reflektierten Radar- Signals, welches ohne zusätzliche Bündelung ungerichtet aus diesem Halbraum empfangen wird.
Zumindest zur Füllstandsmessung ist jedoch eine gewisse Mindest-Bündelung (dies ist gleichbedeutend mit einem maximalen Bündelungswinkel) des auszusendenden Radar- Signals bzw. des zu empfangenen Radar-Signals notwendig. Hierdurch wird bewirkt, dass das ausgesendete Radar-Signal in Richtung der Füllgut-Oberfläche fokussiert wird, so dass das reflektierte Radar-Signal nicht von etwaigen Stör-Echos aus dem Randbereich des Behälters (also Echos, die nicht von der Oberfläche des zu detektierenden Füllgutes, sondern von peripheren Störkörpern resultieren) überlagert wird. Typischerweise wird bei Füllstandsmessung ein Bündelungswinkel von maximal 35 ° eingestellt. Standardmäßig wird ein Bündelungswinkel von 3° angestrebt. Dabei entspricht der Bündelungswinkel gemäß der gängigen Definition demjenigen Winkel, bei dem sich ausgehend vom Vektor der Maximal-Leistung des ausgesendeten Radar-Signals dessen Leistung auf 50 % bzw. um -3 dB verringert hat.
Um solch eine Bündelung zu bewirken, muss dem Primärstrahler beziehungsweise dem Halbleiter-Baustein eine konvexe Linse oder ein Parabolspiegel vorgeschaltet werden. Da
der komplette Halbraum vor dem Halbleiter-Baustein abgedeckt werden muss, ist die Apertur der Linse bzw. des Hohlspiegels entsprechend groß auszulegen. Hiermit sind aber gerade im Randbereich der Optik erhebliche Totalreflexions-Verluste verbunden. Eine Verringerung der Totalreflexions-Verluste ist nur mittels einer Verkleinerung der Apertur möglich. In diesem Fall wird jedoch nicht der komplette Halbraum abgedeckt. Somit ist die Abstrahl- bzw. Empfangs-Effizienz in beiden Fällen vermindert. Dies schränkt wiederum die Sicherheit ein, mit welcher der zu bestimmende Abstand eindeutig und fehlerfrei detektiert werden kann. Gerade im Falle von Füllstandsmessung ist jedoch eine hohe Leistungs-Effizienz erforderlich. Denn obwohl Füllstandsmessgeräte explosionssicher ausgelegt sein müssen und deren Leistungsaufnahme dementsprechend konstruktiv begrenzt wird, ist eine fehlerfreie Füllstands-Detektion je nach Einsatzgebiet unerlässlich. Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, insbesondere zur Füllstandsmessung ein sicheres, effizientes und genaues Distanzmessgerät bereitzustellen.
Die Erfindung löst diese Aufgabe durch ein elektronisches Bauteil zum Aussenden und/oder zum Empfangen eines Radar-Signals. Hierzu umfasst es:
Einen Halbleiter-Baustein, der ausgestaltet ist, um das Radar-Signal mittels eines Primärstrahlers auszusenden und/oder zu empfangen,
einen Träger mit einer Oberfläche, wobei der Halbleiter-Baustein zur elektrischen Kontaktierung auf der Oberfläche des Trägers angeordnet ist.
Erfindungsgemäß zeichnet sich das elektronische Bauteil dadurch aus, dass die
Oberfläche des Trägers zumindest eine derart ausgestaltete erste Stufe aufweist, um das Radar-Signal beim Aussenden und/oder Empfangen in etwa senkrechter Richtung zur Oberfläche des Trägers zu bündeln. Hierzu ist die Oberfläche des Trägers vorzugsweise zumindest im Bereich der ersten Stufe elektrisch leitfähig ausgestaltet.
Mittels des erfindungsgemäßen elektronischen Bauteils wird somit erreicht, dass das ausgesendete bzw. empfangene Radar-Signal bereits auf Ebene des elektronischen Bauteils und somit sehr effizient gebündelt werden kann. Hierdurch kann der Einsatz nachträglicher, platzintensiver Bündelungs-Maßnahmen stark vermindert werden.
Dadurch ist das elektronische Bauteil zum Einsatz als Distanzmessgerät, und insbesondere zur Füllstandsmessung prädestiniert, da hier eine effiziente Bündelung zu einer fehlerfreien Füllstands-Detektion beiträgt
Zur effizienten Bündelung des Radar-Signals ist es im Rahmen der Erfindung außerdem von Vorteil, wenn der Halbleiter-Baustein ausgestaltet ist, um das auszusendende Radar- Signal mit einer Frequenz von mehr als 100 GHz, insbesondere mehr als 150 GHz zu erzeugen. Bei Einsatz des elektronischen Bauteils zur Distanzmessung wird durch die erhöhte Frequenz darüber hinaus die erzielbare Auflösung erhöht.
Zwecks einer symmetrischen Bündelung des Radar-Signals (in Bezug zur Senkrechten der Träger-Oberfläche) besteht eine geeignete Ausgestaltungsvariante darin, dass die erste Stufe eine den Halbleiter-Baustein umschließende Kontur, insbesondere eine rund oder rechteckig umschließende Kontur, aufweist. Außerdem hat es sich für eine verbesserte Bündelung als vorteilhaft erweisen, die Kontur der ersten Stufe zumindest teilweise geriffelt oder wellig auszugestalten. Eine wiederum erhöhte Bündelung kann ebenfalls dadurch erreicht werden, dass das elektronische Bauteil eine zweite Stufe, die in Bezug zum Halbleiter-Bauteil außerhalb der ersten Stufe angeordnet ist, umfasst. Außerdem besteht eine Maßnahme zur Bündelung erfindungsgemäß darin, dass die Stufe einen minimalen Abstand zu dem Primärstrahler und eine Höhe aufweist, die in Summe in etwa einem Viertel der Wellenlänge des ausgesendeten Radar-Signals, oder einem ganzzahligen Vielfachen hiervon entsprechen. Durch eine entsprechende
Ausgestaltung der ersten Stufe und/oder der zweiten Stufe in einer dieser
Ausgestaltungsvarianten kann des Radar-Signals beim Aussenden und/oder Empfangen eine Bündelung mit einem Bündelungswinkel von maximal 60°, insbesondere weniger als 40° bewirkt werden.
Im Rahmen der Erfindung ist es per se nicht vorgeschrieben, ob die erste Stufe in Richtung des Halbleiter-Bausteins abfallend oder ansteigend ausgestaltet ist.
Dementsprechend kann die erste Stufe entweder eine Vertiefung der Oberfläche des Trägers ausbilden, wobei der Halbleiter-Baustein in diesem Fall innerhalb der Vertiefung angeordnet ist. Oder die erste Stufe bildet die Oberfläche des Trägers sockeiförmig aus, wobei der Halbleiter-Baustein in diesem Fall auf dem Sockel angeordnet ist.
Sofern die Stufe weder einen Sockel, noch eine Vertiefung ausbildet, kann der Träger alternativ auch so konzipiert werden, dass die erste Stufe auf der Oberfläche des Trägers eine Grabenstruktur neben dem Halbleiter-Baustein ausbildet. Analog hierzu ist es des Weiteren auch möglich, die erste Stufe neben dem Halbleiter-Baustein nicht als Graben, sondern als Wand beziehungsweise Umwandung auf der Oberfläche des Trägers auszubilden.
Zum Schutz und zur vereinfachten externen Kontaktierung des erfindungsgemäßen elektronischen Bauteils kann generell auf alle gängigen Gehäusebauformen
zurückgegriffen werden. Hierbei bietet es sich insbesondere an, das elektronische Bauteil
durch ein QFN-Gehäuse (engl. QFN: Quad Fiat No Leads Package) zu kapseln. In diesem Fall ist der Träger entsprechend als Leadframe auszugestalten. Auch derjenige Bereich des Gehäuses, durch den der Strahlengang des Radar-Signals verläuft (also derjenige Bereich oberhalb des Primärstrahlers, der senkrecht zur Oberfläche des Trägers bzw. Leadframes an den Primärstrahler anschließt), ist entsprechend transparent für das Radar-Signal auszulegen. Möglich wäre zu diesem Zweck, eine Aussparung in diesem Bereich vorzusehen und/oder ein entsprechend transparentes Gehäuse-Material in diesem Bereich zu verwenden. Anstelle eines QFN-Gehäuses ist es nicht
ausgeschlossen, eine andere Gehäuseformen für elektronische Bauteile (z. B. DIL, SOP, SSOP, BGA) in Abhängigkeit des Einsatzzweckes des erfindungsgemäßen
elektronischen Bauteils einzusetzen.
Das erfindungsgemäße elektronische Bauteil ermöglicht insbesondere die Realisierung eines Radar-basierten Distanzmessgerätes zur Bestimmung eines Abstandes zu einem Objekt. Aufgrund des elektrischen Bauteils zeichnet sich ein solches Distanzmessgerät somit durch eine Bündelung des Radar-Signals aus. Zum Einsatz als Distanzmessgerät sind im Halbleiter-Baustein folgende Blöcke zu implementieren:
Eine Signalerzeugungs-Einheit, die ausgelegt ist, um das auszusendende Radar- Signal zu erzeugen,
- einen derart ausgestalteten Primärstrahler, um das Radar-Signal in Richtung des
Objektes auszusenden, und um das am Objekt reflektierte Radar-Signal zu empfangen, und
eine Auswerte-Einheit, die ausgelegt ist, um anhand des empfangenen Radar- Signals den Abstand zu bestimmen.
Durch diesen Aufbau kann bei entsprechender Auslegung des erfindungsgemäßen elektronischen Bauteils ein Distanzmessgerät realisiert werden, dass gegebenenfalls ohne weitere bündelnde Maßnahmen betrieben werden kann. Falls in Abhängigkeit des Anwendungsgebietes des Distanzmessgerätes dennoch eine weitergehende Bündelung zweckdienlich ist, so könnte an dem elektronischen Bauteil eine entsprechende Linse, ein Hohlleiter und/oder eine Antenne in der Art angeordnet werden, um das ausgesendete Radar-Signal und das empfangenen Radar-Signals weiter zu bündeln. Hierzu kann beispielsweise eine Linse so in das Gehäuse des elektronischen Bauteils integriert werden, dass die Linse vor dem Primärstrahler des Halbleiter-Bausteins im Strahlengang des Radar-Signals angeordnet ist. Alternativ könnte die Linse natürlich auch
entsprechend oberhalb des Gehäuses des elektronischen Bauteils angebracht sein.
Aufgrund der optimierten Bündelung des erfindungsgemäßen Distanzmessgerätes bietet es sich an, das Distanzmessgerät zur Bestimmung eines Füllstandes eines in einem Behälter befindlichen Füllgutes einzusetzen. In diesem Fall ist das Distanzmessgerät so
auszulegen und in einer vorbekannten Einbauhöhe am Behälter anzuordnen, um mittels des gemessenen Abstandes zur Füllgut-Oberfläche den Füllstand zu bestimmen. Auf Grundlage des erfindungsgemäßen elektronischen Bauteils kann somit ein sicheres, genaues und effizientes Füllstandsmessgerät realisiert werden.
Anhand der nachfolgenden Figuren wird das erfindungsgemäße elektronische Bauteil näher erläutert. Es zeigt:
Fig. 1 : ein elektronisches Bauteil nach dem Stand der Technik zum
Aussenden/Empfangen von Radar-Signalen,
Fig. 2: ein erfindungsgemäßes elektronisches Bauteil zum Aussenden und/oder
Empfangen von Radar-Signalen, Fig. 3 und Fig. 4: das erfindungsgemäße elektronische Bauteil in weiteren
Ausgestaltungsvarianten, und
Fig. 5: eine mögliche Verwendung des erfindungsgemäßen elektronischen Bauteils in einem Füllstandsmessgerät.
Zur Veranschaulichung der Erfindung ist in Fig. 1 ein nach dem Stand der Technik konzipiertes elektronisches Bauteil V gezeigt, dass zum Aussenden und zum Empfang von Radar-Signalen SHF, EHF, insbesondere bei oberhalb von 100 GHz dient: Kern des elektronischen Bauteils V ist ein Halbleiter-Baustein 2, der zum Aussenden und/oder Empfangen von Radar-Signalen SHF, EHF auf dessen Oberseite einen Primärstrahler 21 umfasst. Dabei bildet der Primärstrahler 21 eine planare Antennen-Struktur aus, beispielsweise Mäander-förmig, die entweder als monolithische Teilstruktur des
Halbleiter-Bausteins 2 ausgebildet ist, oder als hybride Struktur auf dem Halbleiter- Baustein 2 angebracht wird (beispielsweise mittels mikromechanischen- oder sonstigen Back-end Verfahren). Alternativ zu der in Fig. 1 dargestellten Ausführungsvariante könnte der Halbleiter-Baustein 2 auch mit zwei Primärstrahlern 21 ausgelegt werden, die jeweils separat zum Senden bzw. Empfangen dienen. Zur Erzeugung des Radar-Signals SHF sowie zum Empfang eines entsprechenden Radar- Signals EHF sind im Halbleiter-Baustein 2 standardmäßig folgende Funktionsblöcke implementiert:
Eine Signalerzeugungs-Einheit, die ausgelegt ist, um das auszusendende Radar- Signal zu erzeugen,
der Primärstrahler, der das Radar-Signal in Richtung des Objektes aussendet und das am Objekt reflektierte Radar-Signal empfängt, sowie
eine Auswerte-Einheit, die ausgelegt ist, um anhand des empfangenen Radar- Signals den Abstand zu bestimmen.
Bei Anwendung des FMCW-Verfahrens kann die Signalerzeugungs-Einheit
schaltungstechnisch beispielsweise realisiert werden, wie es beim FMCW- Verfahren aus dem Stand der Technik bereits bekannt ist: Mittels eines spannungsgesteuerten
Oszillators (auch bekannt als„VCO - Voltage Controlled Oscillator"), der über einer PLL („Phase Locked Loop") geregelt und durch einen Taktoszillator getaktet wird. Dabei wird der spannungsgesteuerte Oszillator so gesteuert, dass sich an dessen Ausgang ein Signal mit der bei FMCW typischen„sägezahnförmigen" Frequenzänderung (also eine zeitlich lineare Änderung, die periodisch innerhalb des Frequenzbandes repetiert) einstellt. Dieses Signal wird (gegebenenfalls über einen entsprechenden Sende- Verstärker) entlang einer Sende-/Empfangsweiche dem Primärstrahler 31 zugeführt, so dass dieses Signal als Radar-Signal SHF ausgesendet wird.
Nach Reflektion an dem Objekt, dessen Abstand zu bestimmen ist, wird das Radar-Signal EHF in Abhängigkeit der Laufzeit (und somit in Abhängigkeit des Abstandes zum Objekt) vom Primärstrahler 21 wieder empfangen und über die Sende-/Empfangsweiche der
Auswerte-Einheit zugeführt. Anstelle eines einzigen Primärstrahlers 21 , über den sowohl gesendet als auch empfangen wird, wäre es natürlich auch denkbar, zwei separate Primärstrahler 21 , die jeweils zum Senden und zum Empfangen dienen, auf dem
Halbleiter-Baustein 21 zu implementieren. In diesem Fall wäre keine Sende- /Empfangsweiche erforderlich.
Auch die Auswerte-Einheit kann im Halbleiter-Baustein so konzipiert werden, wie es bei FMCW nach dem Stand der Technik üblich ist: Im Kern umfasst diese einen Mischer, der das empfangene Signal der Sende-/Empfangsweiche mit dem Signal mischt, welches auf Seiten der Signalerzeugungs-Einheit am Ausgang des spannungsgesteuerten Oszillators anliegt. Durch das Mischen resultiert ein so genanntes Differenzsignal, dessen Frequenz sich linear mit dem zu messenden Abstand ändert. Durch einen entsprechenden Mess- Baustein zur Messung dieser Frequenz ist es der Auswerte-Einheit möglich,
beispielsweise auf Basis digitaler Signalverarbeitung den Abstand zu bestimmen.
Rückseitig ist der Halbleiter-Baustein 2 auf einer planaren Oberfläche 31 eines Trägers 3 aufgebracht. Der Träger 3 fungiert dabei als Leadframe eines Gehäuses des
elektronischen Bauteils V. Wie nach dem Stand der Technik üblich, ist der Halbleiter- Baustein 2 auf dem Träger 3 zum Beispiel mittels Chip-Bonden oder Kleben aufgebracht. Im dargestellten Ausführungsbeispiel erfolgt die elektrische Kontaktierung des Halbleiter-
Bausteins 2 zu den entsprechenden Kontaktflächen des Leadframes mittels Bonddrähten 4.
Aufgrund der planaren Auslegung und den kleinen Dimensionen des Primärstrahlers 21 im Bereich von maximal einigen hundert μιτι erstreckt sich dessen Strahlkegel nahezu in den kompletten Halbraum oberhalb des Trägers 3. Dabei bezieht sich der Begriff „Strahlkegel" im Rahmen dieser Erfindung auf denjenigen vom Bündelungswinkel rotationssymmetrisch umschlossenen Kegel, entlang dessen Achse das Radar-Signal SHF mit der maximalen Leistung ausgesendet wird. Der Bündelungswinkel wiederum definiert sich über denjenigen Winkel, bei dem sich ausgehend von der Achse der Maximai- Leistung des ausgesendeten Radar-Signals dessen Leistung auf 50 % bzw. um -3 dB verringert hat. Aufgrund der allgemein reziproken Eigenschaften von Antennen bezüglich deren Richtwirkung, die gleichermaßen beim Senden und beim Empfangen vorherrscht (und somit auch der reziproken Eigenschaft des Primärstrahlers 21 ), entspricht dieser Strahlkegel des Primärstrahlers 21 auch der Richtwirkung beim Empfang des Radar- Signals EHF.
Ein erfindungsgemäßer elektronischer Baustein 1 , der einen geringeren
Bündelungswinkel, und damit verbunden einen in etwa senkrecht zur Oberfläche 31 ausgerichteten, verengten Strahlkegel zum Aussenden eines Radar-Signals SHF und/oder zum Empfang eines Radar-Signals EHF aufweist, ist in Fig. 2 dargestellt (dabei illustriert der reziproke Pfeil in Fig. 2 wiederum die Achse, entlang derer das Radar-Signal SHF mit der maximalen Leistung ausgesendet wird; dies entspricht somit die Achse des
Strahlkegels).
Die Verengung des Strahlkegels, also die in etwa senkrecht zur Oberfläche 31 ausgerichtete Bündelung wird erfindungsgemäß durch eine Stufe 32a auf der Oberfläche 31 des Trägers 3 bewirkt. Erfindungsgemäß gibt es mehrere Möglichkeiten zur Ausgestaltung der Stufe 32a. Bei dem in Fig. 2 dargestellten Ausführungsbeispiel ist die Stufe 32a so umgesetzt, dass sie den Halbleiter-Baustein 21 in Form eines Rechteckes komplett umschließt. Darüber hinaus steigt die Stufe 32a in Richtung des Halbleiter-Bausteins 21 hin an. Damit ergibt sich eine Sockei-förmige Anordnung des Halbleiter-Bausteins 21 auf der Oberfläche 31 des Trägers 3. Als alternative Realisierung der Stufe 32a wäre es auch denkbar, die Oberfläche 31 nicht Sockei-förmig auszulegen, sondern mit einer entsprechenden Vertiefung zu versehen, in der der Halbleiter-Baustein 2 angeordnet ist.
Der Grad der Bündelung wird nicht nur durch die Stufe 32a selbst, sondern auch maßgeblich von deren Dimensionierung beeinflusst. In diesem Zusammenhang ist es
vorzuziehen, wenn die Stufe 31 a einen minimalen Abstand zu dem Primärstrahler und eine Höhe aufweist, wobei der minimale Abstand und die Höhe in der Summe etwa einem Viertel der Wellenlänge des ausgesendeten Radar-Signals SHF, oder einem ganzzahligen Vielfachen hiervon entsprechen.
Eine zweite Ausgestaltungsvariante des erfindungsgemäßen elektronischen Bauteils ist in Fig. 3 abgebildet: Die hier dargestellte Ausführungsvariante unterschiedet sich von dem in Fig. 2 gezeigten elektrischen Bauteil 1 insofern, als dass die Stufe 32a keine gerade, sondern eine geriffelte Kontur aufweist. Anstelle einer Riffelung könnte die Stufe alternativ auch mit einer welligen Kontur versehen werden, um wie auch bei Riffelung eine erhöhte Bündelung zu erreichen.
Fig. 4 zeigt eine alternative Möglichkeit zur Ausgestaltung der Stufe 32b, bei der der Halbleiter-Baustein 2 nicht komplett durch die Stufe 32b umschlossen ist. In diesem Fall ist die Stufe 32b als Wand ausgestaltet, die den Halbleiter-Baustein 2 zu drei Seiten hin umwandet (denkbar wäre natürlich auch eine ein- oder zweiseitige Umwandung). Analog zu einer Umwandung wäre zur Bündelung auch eine entsprechende Grabenstruktur einsetzbar. Darüber hinaus ist in Fig. 4 eine weitere erfindungsgemäße Maßnahme zur Erhöhung der Bündelung dargestellt. Es handelt sich um eine zweiten Stufe 33, die in Bezug zum Halbleiter-Baustein 2 außerhalb der ersten Stufe 32b angeordnet ist. In diesem Fall ist die zweite Stufe 33 als zweite Wand ausgestaltet. Logischerweise ließe sich diese
Maßnahme in Form einer dritten, vierten, usw. Stufe erweitern.
In Fig. 5 ist eine mögliche Verwendung des erfindungsgemäßen elektronischen Bauteils 1 in einem Füllstandsmessgerät 1 1 gezeigt. Hierbei dient das Füllstandsmessgerät 1 1 zur Messung des Füllstandes L eines in einem Behälter 12 befindlichen Füllgutes 13. Dazu ist das Füllstandsmessgerät 1 1 in einer vorbekannten Einbauhöhe h oberhalb des Füllgutes 13 am Behälter 12 angebracht. Je nach Prozess-Anlage kann solch ein Behälter 12 bis zu mehr als 30 m hoch sein.
Das Füllstandsmessgerät 1 1 ist so am Behälter 2 konzipiert, dass das elektronische Bauteil 1 das Radar-Signal SHF in Richtung der Oberfläche des Füllgutes 13 aussendet. Nach Reflektion an der Füllgut-Oberfläche empfängt das Füllstandsmessgerät 1 1 bzw. das elektronische Bauteil 1 das reflektierte Radar-Signal EHF in Abhängigkeit des
Abstandes d = h - L zur Füllgut-Oberfläche. Da die Einbauhöhe h bekannt ist, lässt sich mittels der obigen Formel anhand des gemessenen Abstandes d der Füllstand L bestimmen. Bei Implementierung des Puls-Laufzeit Verfahrens wird der Abstand d auf Basis der gemessenen Laufzeit t des ausgesendeten, pulsförmigen Radar-Signals SHF
berechnet. Im Falle des FMCW-Verfahrens wird der Abstand d über die momentane Frequenzdifferenz zwischen dem ausgesendeten, frequenzmodulierten Radar-Signal SHF und dem empfangenen, reflektierten Radar-Signal EHF ermittelt. In der Regel ist das Füllstandsmessgerät 1 1 über ein Bussystem, etwa„PROFIBUS",
„HART" oder„Wireless HART" mit einer übergeordneten Einheit 14, beispielsweise einem Prozessleitsystem, verbunden. Hierüber können zum einen Informationen über den Betriebszustand des Füllstandsmessgerätes 1 1 kommuniziert werden. Es können auch Informationen über den Füllstand L übermittelt werden, um gegebenenfalls die am Behälter vorhandenen Zu- oder Abflüsse zu steuern. Durch die Ausstattung des
Füllstandsmessgerätes 1 1 mit dem erfindungsgemäßen elektronischen Bauteil 1 kann sowohl das ausgesendete Radar-Signal SHF als auch das empfangene Radar-Signal EHF gebündelt werden, so dass am Füllstandsmessgerät 1 1 gegebenenfalls keine weiteren Maßnahmen zur Bündelung erforderlich sind. Bei entsprechender Auslegung kann durch die Bündelung erreicht werden, dass das ausgesendete Radar-Signal SHF nur an der Oberfläche des Füllgutes 13 reflektiert wird. Hierdurch können etwaige Einbauten außerhalb des vom Bündelungswinkel umschlossenen Strahlkegels nicht zu
Störreflektionen führen. Darüber hinaus kann das Füllstandsmessgerät 1 1 durch die erhöhte Bündelung leistungsoptimiert betrieben werden, wodurch unter anderem das Einhalten von Explosionsschutz-Maßnahmen (im europäischen Raum ist für
Füllstandsmessgeräte bezüglich Explosionsschutz die Normenreihe EN 600/79 geltend) vereinfacht wird.
Bezugszeichenliste
1 Elektronisches Bauteil
2 Halbleiter-Baustein
3 Träger
4 Bonddraht
1 1 Distanzmessgerät
12 Behälter
13 Füllgut
14 Übergeordnete Einheit
21 Primärstrahler
31 Oberfläche
32a Sockel
32b Wand
33 Zweite Stufe
d Abstand
EHF Reflektiertes Radar-Signal
h Einbauhöhe
L Füllstand
SHF Radar-Signal
Claims
1. Elektronisches Bauteil zum Aussenden und/oder Empfangen eines Radar-Signals (SHF, EHF ), umfassend:
- Einen Halbleiter-Baustein (2), der ausgestaltet ist, um das Radar-Signal (SHF, EHF) mittels eines Primärstrahlers (21 ) auszusenden und/oder zu empfangen, einen Träger (3) mit einer Oberfläche (31 ), wobei der Halbleiter-Baustein (2) zur elektrischen Kontaktierung auf der Oberfläche (31 ) des Trägers (3) angeordnet ist,
dadurch gekennzeichnet, dass
die Oberfläche (31 ) des Trägers (3) zumindest eine derart ausgestaltete erste Stufe (32a, b) aufweist, um das Radar-Signal (SHF, EHF) beim Aussenden und/oder Empfangen in etwa senkrecht zur Oberfläche (31 ) des Trägers (3) zu bündeln.
2. Elektronisches Bauteil nach Anspruch 1 ,
dadurch gekennzeichnet, dass
der Halbleiter-Baustein (2) ausgestaltet ist, um das auszusendende Radar-Signal (SHF) mit einer Frequenz von mehr als 100 GHz, insbesondere mehr als 150 GHz zu erzeugen.
3. Elektronisches Bauteil nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, dass
die Oberfläche (31 ) des Trägers (3) zur Bündelung des Radar-Signals (SHF, EHF) zumindest im Bereich der ersten Stufe (32a, b) elektrisch leitfähig ist.
4. Elektronisches Bauteil nach Anspruch 1 , 2 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, dass
die erste Stufe (32a, b) eine den Halbleiter-Baustein (2) umschließende Kontur, insbesondere eine rund oder rechteckig umschließende Kontur, aufweist.
5. Elektronisches Bauteil nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, dass
die Kontur der ersten Stufe (32a) zumindest teilweise geriffelt oder wellig ausgestaltet ist.
6. Elektronisches Bauteil nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, dass
die erste Stufe (32a, b) eine Vertiefung der Oberfläche (31 ) des Trägers (3) ausbildet, wobei der Halbleiter-Baustein (2) innerhalb der Vertiefung angeordnet ist.
7. Elektronisches Bauteil nach Anspruch 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, dass
die erste Stufe (32a, b) die Oberfläche (31 ) des Trägers (3) sockeiförmig ausbildet, wobei der Halbleiter-Baustein (2) auf dem Sockel (32a) angeordnet ist.
8. Elektronisches Bauteil nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, dass
die erste Stufe (32) auf der Oberfläche (31 ) des Trägers (3) eine Grabenstruktur neben dem Halbleiter-Baustein (2) ausbildet.
9. Elektronisches Bauteil nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, dass
die erste Stufe (32) neben dem Halbleiter-Baustein (2) eine Wand (32b) auf der
Oberfläche (31 ) des Trägers (3) ausbildet.
10. Elektronisches Bauteil nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass
das elektronische Bauteil eine zweite Stufe (33), die in Bezug zum Halbleiter-Bauteil (2) außerhalb der ersten Stufe (32a, b) angeordnet ist, umfasst.
1 1. Elektronisches Bauteil nach einem der Ansprüche 2 bis 10,
dadurch gekennzeichnet, dass
die Stufe (31 a,b) einen minimalen Abstand zu dem Primärstrahler und eine Höhe aufweist, die in Summe in etwa einem Viertel der Wellenlänge des ausgesendeten Radar- Signals (SHF), oder einem ganzzahligen Vielfachen hiervon entsprechen.
12. Elektronisches Bauteil nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass
das elektronische Bauteil durch ein Gehäuse, insbesondere ein QFN-Gehäuse gekapselt ist, wobei der Träger (3) als Leadframe ausgestaltet ist.
13. Elektronisches Bauteil nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass
die zumindest erste Stufe (32a, b) und/oder die zweite Stufe (33) derart ausgestaltet sind/ist, um das Radar-Signal (SHF, EHF) beim Aussenden und/oder Empfangen in einem Winkel von maximal 60°, insbesondere weniger als 40° zu bündeln.
14. Radar-basiertes Distanzmessgerät (1 1 ) zur Bestimmung eines Abstandes (d) zu einem Objekt (14), mit:
einem elektronischen Bauteil (1 ) nach zumindest einem der vorhergehenden
Ansprüche, wobei der Halbleiter-Baustein (2) umfasst:
eine Signalerzeugungs-Einheit, die ausgelegt ist, um das auszusendende Radar-Signal (SHF) ZU erzeugen,
einen derart ausgestalteten Primärstrahler (21 ), um das Radar-Signal (SHF) in Richtung des Objektes (14) auszusenden, und um das am Objekt (14) reflektierte Radar-Signal (EHF) ZU empfangen,
eine Auswerte-Einheit, die ausgelegt ist, um anhand des empfangenen Radar-Signals (EHF) den Abstand (d) zu bestimmen.
15. Radar-basiertes Distanzmessgerät (1 1 ) nach Anspruch 14, wobei an dem elektronischen Bauteil (1 ) eine Linse, ein Hohlleiter und/oder eine Antenne derart angeordnet sind/ist, um das ausgesendete Radar-Signal (SHF) und das empfangenen Radar-Signals (SHF, EHF) weiter ZU bündeln.
16. Verwendung des Radar-basierten Distanzmessgerätes (1 1 ) nach Anspruch 14 oder 15 zur Bestimmung eines Füllstandes (L) eines in einem Behälter (12) befindlichen Füllgutes (13), wobei das Distanzmessgerät (1 1 ) so ausgelegt und in einer vorbekannten Einbauhöhe (h) am Behälter (12) angeordnet ist, um mittels des gemessenen Abstandes (d) zur Oberfläche des Füllgutes (13) den Füllstand (L) zu bestimmen.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US16/627,393 US11408974B2 (en) | 2017-06-30 | 2018-05-09 | Electronic component for emitting and receiving radar signals |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102017114686.5A DE102017114686A1 (de) | 2017-06-30 | 2017-06-30 | Elektronisches Bauteil zum Aussenden und Empfangen von Radar-Signalen |
DE102017114686.5 | 2017-06-30 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
WO2019001817A1 true WO2019001817A1 (de) | 2019-01-03 |
Family
ID=62148381
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/EP2018/061994 WO2019001817A1 (de) | 2017-06-30 | 2018-05-09 | Elektronisches bauteil zum aussenden und empfangen von radar-signalen |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11408974B2 (de) |
DE (1) | DE102017114686A1 (de) |
WO (1) | WO2019001817A1 (de) |
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