WO2012041578A1 - High frequency test probe - Google Patents

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WO2012041578A1
WO2012041578A1 PCT/EP2011/063451 EP2011063451W WO2012041578A1 WO 2012041578 A1 WO2012041578 A1 WO 2012041578A1 EP 2011063451 W EP2011063451 W EP 2011063451W WO 2012041578 A1 WO2012041578 A1 WO 2012041578A1
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WO
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contact
attenuator
outer conductor
frequency
conductor
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Application number
PCT/EP2011/063451
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German (de)
French (fr)
Inventor
Matthias Zapatka
Klaus König
Original Assignee
Ingun Prüfmittelbau Gmbh
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06772—High frequency probes

Definitions

  • the invention relates to a high-frequency test pin according to the preamble of the main claim. Furthermore, the present invention relates to a high-frequency test arrangement with at least one such test pin.
  • contact pins are known as test probes for contacting an electrically measured product in the test field or quality control for decades.
  • contact pins (test pins) play an important role, because they provide flexible support, often with the aid of springs or similar force stores, the electrical connection from an electrical test infrastructure to a test object.
  • Critical is in addition to the mechanical strength and suitability for a variety of testing especially a safe electrical contact.
  • Attenuators that can be mounted externally to the test pin are known. Attenuators are used to selectively attenuate a signal when, for example, a maximum level must be maintained or to adapt the input resistance of an element to the line impedance and thus to prevent unwanted reflections in the line. If an attenuator is attached externally to a test pin, it creates a further contact point between two components, which is another error / interference source for the signal to be transmitted.
  • the patch attenuator requires additional space, but compact test arrangements often do not have the necessary space for cables, other components, and accessories.
  • an attenuator mounted on the test pin increases the mechanical load on the test pin, for example by an additional transverse force and the center of gravity is displaced away from the contact point, whereby any leverage forces are amplified on the contact point. Overall, the centering accuracy is negatively affected.
  • the present invention seeks to improve a test pin according to the preamble of the main claim in conjunction with an attenuator so that a compact and low-loss construction is made possible and the high-frequency properties are improved by the Transition points caused interference, especially for high frequencies are minimized, and at the same time an input-side adjustment by the attenuator, whereby reflections are minimized.
  • the high-frequency probe with the features of the main claim manages to get along with very few contact points between individual elements and thus to obtain over the prior art, a particularly advantageous transmission behavior. Furthermore, a particularly compact construction is made possible, whereby the mechanical load on the test pin and other components is reduced on the one hand compared to the state of the art and on the other hand the space requirement is reduced, whereby more compact and more precise test setups can be made possible.
  • the attenuator extends in the direction of the inner conductor and interrupts this or continues for a certain section on. In this way, a particularly compact design is possible, wherein an advantageous transmission characteristic is achieved by the attenuator forms a part of the inner conductor.
  • the transitions between the inner conductor and the attenuator are preferably soldered, whereby good electrical properties and a firm grip are ensured. It has proven to be structurally advantageous to develop the contact of the attenuator to the outer conductor in the form of an integrally ansitzenden flange, as can be taken so well on the geometry of the cavity further development. In a cylindrical test pin or cylindrical cavity an annular flange has been found to be particularly advantageous because it can be used accurately.
  • the flange is axially supported on an inner annular shoulder of the outer conductor, and pressed by spring means, in particular a compression spring, against the annular shoulder becomes.
  • spring means in particular a compression spring
  • the spring means secure the fixed positioning.
  • spring means may alternatively be used in addition to the conventional compression spring also preferably electrically conductive elastomers, disc spring (packages), multi-corrugated spring washers or Faltebälge.
  • the spring means are formed so as to cause an axial spring movement of a mecanicleiter Scotlandelements.
  • This suspension makes it possible to compensate for manufacturing tolerances at the high frequency contact partner.
  • the spring means used to strengthen the position of the attenuator for this purpose a particularly compact design allows. It has proven to be advantageous to construct the outer conductor in several parts, as this allows easier mounting.
  • at least two coaxial elements are used, which are movable relative to each other.
  • One of the elements is designed as a preferably tapered contact point and serves to make contact with the high-frequency contact partner.
  • the other preferred radially outer element can serve this as a sleeve, which allows a modular assembly of the test pin.
  • the attenuator can be inserted into the radially outer sleeve, whereupon the spring means and finally follow the formed as a contact point outer conductor element.
  • the elements of the outer conductor are guided one behind the other in the axial direction and are preferably delimited by a flanging which runs at least in sections along the conical side surface of the element designed as a contact point.
  • a flanging which runs at least in sections along the conical side surface of the element designed as a contact point.
  • the axially acting spring means are preferably provided along the interrupted by a portion of the attenuator inner conductor.
  • manufacturing tolerance at the high-frequency contact partner can be compensated and shocks, such as when starting or stopping or during operation, be intercepted.
  • the test arrangement furthermore has at least one high-frequency contact partner (test object), an evaluation unit and a transmission path between the test pin and the evaluation unit. This enables the realization of even complex test systems.
  • the resistance values of the attenuator are adapted to the characteristic impedance of the transmission line and / or the input impedance of the evaluation unit, with typical values for this example being 50 ohms or 75 ohms.
  • the invention allows in a surprisingly simple and advantageous manner to improve the arrangement of test pin and attenuator so that a particularly compact design with as few transition points between individual elements is possible.
  • Targeted signal attenuation and rejection suppression are achieved in a low-wear, highly contact-safe and cost-effective manner.
  • FIG. 1 shows a longitudinal section through a coaxial RF test pin according to the invention
  • Fig. 2 is an equivalent circuit diagram of the arrangement according to Fig.1;
  • Fig. 3 is a frequency / attenuation diagram for illustrating simulated reflection attenuation values for a circuit according to Fig. 2;
  • Fig. 4 is a frequency / attenuation diagram illustrating simulated transmission loss values for a circuit of Fig. 2;
  • test pin 8 is in its outer contour 9 is substantially cylindrical. Furthermore, an outer radial flange 13 is provided on the test pin 8, which provides for a firm axial hold of the test pin 8 in a test arrangement and additionally serves as anti-rotation.
  • the test pin has contacts for contacting both an inner conductor 14 and an outer conductor 16.
  • an external contacting is provided, through which in particular an evaluation unit 34 can be contacted via a transmission path 32.
  • it has contacts 12 for a high frequency contactor 30, not shown, which are formed in the form of a contact tip.
  • the outer conductor 16 extends coaxially to the center axis of the test pin 8, which essentially consists of an outer conductor sleeve 18, which forms the majority of the outer contour 9 of the test pin 8, and an outer conductor contact tip 20.
  • the contact tip 20 serves to pick up a signal or the ground at the high-frequency contact partner 30.
  • the outer conductor sleeve 18 and the outer conductor contact tip 20 are displaceable relative to one another, which enables the outer conductor contact tip 20 to be axially adapted to manufacturing tolerances at the high-frequency contact partner 30.
  • An outer conductor spring 26 provides a restoring force to the outer conductor contact tip 20.
  • the attenuator 22 is formed here as a one-piece disk attenuator.
  • the cavity 21 is fitted in its inner contour fit to the attenuator 22, which contributes to a good grip.
  • the attenuator 22 is connected to the inner conductor 14 at two contact points 25.
  • the attenuator 22 in sections an annular flange 24, through which it contacts the outer conductor 16. This annular flange 24 engages an annular shoulder 23 of the outer conductor 16 and is pressed axially by the outer conductor spring 26 and thus establishes an electrical contact.
  • the attenuator 22 contacts the outer conductor 16 at its outer periphery.
  • an inner conductor 14 It is mechanically protected by the outer conductor 16.
  • the inner conductor 14 has a contact tip 15 for contacting the high-frequency contact partner 30.
  • the inner conductor 14 is partially formed by regions of the attenuator 22.
  • the inner conductor 14 is sprung by an inner conductor spring 28 to the high-frequency contact partner 30 and sprung by the spring 29 to the contacts 10 for external contact.
  • insulation means which are located at the contacts 10 for an external contact and electrically isolate the outer conductor 16 from the inner conductor 14, and thus prevent a short circuit between them.
  • the signal course of the inner conductor 14 extends from a contact of the test pin 8 with the contact partner 30 on the inner of the contacts 12 via a spring portion 28 to the attenuator 22. From the attenuator 22, the signal extends over a further spring portion 29 to the contacts 10 for the external contact.
  • the waveform on the outer conductor 16 extends from the outer contact of the contacts 12 both over the outer sleeve 18 and over the Outer conductor contact tip 20 and the outer conductor spring 26.
  • the signal of the outer conductor 16 goes from the point of contact with the attenuator on to the contacts 10 for the external contact.
  • the electrical equivalent circuit diagram of the test pin 8 with attenuator 22 shown in FIG. 1 is shown in FIG.
  • the electrical properties of the test pin 8 without the attenuator 22 are represented by the black box element 70.
  • the attenuator 22 realizes between the inner conductor 14 and the outer conductor 16, a damping circuit in the form of a T-circuit, which here by the three resistors 72, 74 and 75 is shown.
  • the outer conductor 16 is represented by the ground symbol.
  • test pin is connected at one point to the contact partner 30 at point 38. At the other end, it is connected to the evaluation unit at point 36, in which case a transmission link 32 (not shown in any more detail) with further electrical properties may be present therebetween.
  • FIG. 3 plots the results of a simulation on the circuit shown in FIG. 2 for an expected return loss.
  • the frequency is plotted in GHz on the x-axis of the coordinate system.
  • the expected return loss in dB On the y-axis the expected return loss in dB.
  • Line 50 shows the return loss without attenuator.
  • Line 52 shows the return loss with a 3 dB attenuator.
  • a shift of about -6 dB is observed in comparison to line 50.
  • Line 54 shows the return loss with a 10 dB attenuator.
  • Even at frequencies of 4 GHz an absolute return loss of about -40 dB can be guaranteed with a 10 dB attenuator.
  • FIG. 4 shows the results for a simulation on the circuit shown in FIG. 2 for an expected transmission attenuation.
  • the frequency in GHz is plotted on the x-axis of the coordinate system.
  • On the y-axis the expected transmission loss in dB.
  • Line 60 shows the transmission loss without attenuator.
  • Line 52 shows the transmission loss with a 3 dB attenuator.
  • Line 64 shows the return loss with a 10 dB attenuator.
  • FIGS. 3 and 4 show that improved backflow damping can be achieved at the expense of an attenuated transmission signal. If, for example, the return loss is to be improved by -6 dB, then a 3 dB attenuator can be inserted into the test pin. In another example, it may be desirable to selectively attenuate the transmission signal by -10 dB by inserting a 10 dB attenuator. In the case of reflux, an additional attenuation of about -20 dB is obtained in this case.
  • the attenuator 22 may be arranged according to the invention in other locations within the strigtorss next to the position shown in the example, which is immediately following movable contact parts, for example, the connection 10 for an external contacting.
  • test object high-frequency contact partner

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

The invention relates to a high frequency test probe (8) for detachably contacting a high frequency contact partner (30) having an inner and an outer contact, in particular a high frequency socket or high frequency connector or a contacting point on a printed circuit board, comprising a coaxially constructed arrangement of an outer conductor (16) and an inner conductor (14) guided resiliently relative thereto in the axial direction. At one end said arrangement provides contacts (12) for the high frequency contact partner (30), and at the other end (10) the outer and inner conductors can be contacted externally, wherein an attenuation element (22) is provided in a cavity (21) formed by the outer conductor (16). In order to achieve a predetermined attenuation effect on a transmitted and/or reflected input signal, the attenuation element contacts the inner and outer conductors at contact sections (25, 27).

Description

Hochfrequenz-Prüfstift  High-frequency test probe
Die Erfindung betrifft einen Hochfrequenz-Prüfstift nach dem Oberbegriff des Hauptanspruchs. Ferner betrifft die vorliegende Erfindung eine Hochfrequenz- Prüfanordnung mit mindestens einem derartigen Prüfstift. The invention relates to a high-frequency test pin according to the preamble of the main claim. Furthermore, the present invention relates to a high-frequency test arrangement with at least one such test pin.
Aus dem Stand der Technik sind Kontaktstifte als Prüfstifte zum Kontaktieren eines elektrisch zu messenden Produkts im Prüffeld oder Qualitätskontrolle seit Jahrzehnten bekannt. Dabei spielen Kontaktstifte (Prüfstifte) eine wichtige Rolle, denn sie stellen, oftmals mit Hilfe von Federn oder dergleichen Kraftspeichern flexibel unterstützt, die elektrische Verbindung von einer elektrischen Prüfinfrastruktur zu einem Testobjekt her. Kritisch ist dabei neben der mechanischen Belastbarkeit und Tauglichkeit für eine Vielzahl von Prüfvorgängen insbesondere auch eine sichere elektrische Kontaktgabe. From the state of the art contact pins are known as test probes for contacting an electrically measured product in the test field or quality control for decades. In this case, contact pins (test pins) play an important role, because they provide flexible support, often with the aid of springs or similar force stores, the electrical connection from an electrical test infrastructure to a test object. Critical is in addition to the mechanical strength and suitability for a variety of testing especially a safe electrical contact.
Ferner sind aufsetzbare Dämpfungsglieder, die extern an den Prüfstift anmontiert werden können, bekannt. Dämpfungsglieder werden eingesetzt, um ein Signal gezielt abzuschwächen, wenn beispielsweise ein Maximalpegel eingehalten werden muss oder um den Eingangswiderstand eines Elementes an den Leitungswellenwiderstand anzupassen und somit ungewollte Reflexionen in der Leitung zu verhindern. Wird ein Dämpfungsglied extern an einen Prüfstift angebracht, so entsteht eine weitere Kontaktstelle zwischen zwei Bauteilen, die eine weitere Fehler-/Störquelle für das zu übertragende Signal darstellt. Furthermore, attachable attenuators that can be mounted externally to the test pin are known. Attenuators are used to selectively attenuate a signal when, for example, a maximum level must be maintained or to adapt the input resistance of an element to the line impedance and thus to prevent unwanted reflections in the line. If an attenuator is attached externally to a test pin, it creates a further contact point between two components, which is another error / interference source for the signal to be transmitted.
Durch schlechte Übertragungscharakteristika und/oder schlechten Kontakt an der Kontaktstelle können so durch die Verschlechterung des Signals nur eingeschränkte Bandbreiten, insbesondere niederfrequente Bandbreiten für die Signalübertragung, benutzt werden. Due to poor transmission characteristics and / or poor contact at the contact point, only limited bandwidths, in particular low-frequency bandwidths for signal transmission, can be used by the deterioration of the signal.
Weiterhin erfordert das aufgesetzte Dämpfungsglied zusätzlich Raum, jedoch weisen kompakte Prüfanordnungen oft nicht den notwendigen Platz für Kabel, weitere Komponenten und Zubehörteile auf. Weiterhin erhöht ein an den Prüfstift aufgesetztes Dämpfungsglied die mechanische Last auf den Prüfstift, beispielsweise durch eine zusätzliche Querkraft und der Schwerpunkt wird von der Kontaktstelle weg verlagert, wodurch etwaige Hebelkräfte auf die Kontaktstelle verstärkt werden. Insgesamt wird die Zentriergenauigkeit negativ beeinflusst. Furthermore, the patch attenuator requires additional space, but compact test arrangements often do not have the necessary space for cables, other components, and accessories. Furthermore, an attenuator mounted on the test pin increases the mechanical load on the test pin, for example by an additional transverse force and the center of gravity is displaced away from the contact point, whereby any leverage forces are amplified on the contact point. Overall, the centering accuracy is negatively affected.
Ausgehend von dem dargestellten allgemeinen Stand der Technik liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, einen Prüfstift nach dem Oberbegriff des Hauptanspruchs im Zusammenwirken mit einem Dämpfungsglied so zu verbessern, dass ein kompakter und verlustarmer Aufbau ermöglicht wird und die Hochfrequenz-Eigenschaften verbessert werden, indem die von Übergangsstellen verursachten Störungen, insbesondere für hohe Frequenzen, minimiert werden, und indem gleichzeitig eine eingangsseitige Anpassung durch das Dämpfungsglied erfolgt, wodurch Reflektionen minimiert werden. Based on the illustrated prior art, the present invention seeks to improve a test pin according to the preamble of the main claim in conjunction with an attenuator so that a compact and low-loss construction is made possible and the high-frequency properties are improved by the Transition points caused interference, especially for high frequencies are minimized, and at the same time an input-side adjustment by the attenuator, whereby reflections are minimized.
Die Aufgabe wird durch den Hochfrequenz-Prüfstift mit den Merkmalen des Hauptanspruchs gelöst; vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen beschrieben. Zusätzlich Schutz im Rahmen der vorliegenden Erfindung wird beansprucht für eine Hochfrequenz-Prüfanordnung mit den Merkmalen des unabhängigen Anspruchs 0. The object is achieved by the high-frequency probe with the features of the main claim; advantageous developments of the invention are described in the subclaims. Additional protection in the context of the present invention is claimed for a high-frequency test arrangement having the features of independent claim 0.
Der Hochfrequenz-Prüfstift mit den Merkmalen des Hauptanspruchs schafft es, mit besonders wenigen Kontaktstellen zwischen einzelnen Elementen auszukommen und so gegenüber dem Stand der Technik ein besonders vorteilhaftes Übertragungsverhalten zu erhalten. Weiterhin wird ein besonders kompakter Aufbau ermöglicht, wodurch gegenüber dem Stand der Technik einerseits die mechanische Belastung an Prüfstift und anderen Bauteilen verringert wird und andererseits der Raumbedarf gesenkt wird, wodurch sich kompaktere und präzisere Prüfaufbauten ermöglichen lassen. The high-frequency probe with the features of the main claim manages to get along with very few contact points between individual elements and thus to obtain over the prior art, a particularly advantageous transmission behavior. Furthermore, a particularly compact construction is made possible, whereby the mechanical load on the test pin and other components is reduced on the one hand compared to the state of the art and on the other hand the space requirement is reduced, whereby more compact and more precise test setups can be made possible.
In den Rahmen der Erfindung fallen sämtliche Kombinationen aus zumindest zwei von in den Ansprüchen, der Beschreibung und/oder den Figuren offenbarten Merkmalen. In einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung erstreckt sich das Dämpfungsglied in der Richtung des Innenleiters und unterbricht diesen bzw. führt diesen für einen bestimmten Abschnitt weiter. Hierdurch wird ein besonders kompakter Aufbau möglich, wobei eine vorteilhafte Übertragungscharakteristik erreicht wird, indem das Dämpfungsglied einen Teil des Innenleiters ausbildet. Die Übergänge zwischen dem Innenleiter und dem Dämpfungsglied sind bevorzugterweise verlötet, wodurch gute elektrische Eigenschaften und ein fester Halt gewährleistet werden. Es hat sich weiterbildungsgemäß als konstruktiv vorteilhaft herausgestellt, den Kontakt von Dämpfungsglied zum Außenleiter in Form eines einstückig ansitzenden Flansches auszubilden, da so gut auf die Geometrie des Hohlraumes Rücksicht genommen werden kann. Bei einem zylinderförmigen Prüfstift bzw. zylinderförmigen Hohlraum hat ein Ringflansch sich als besonders vorteilhaft herausgestellt, da dieser passgenau eingesetzt werden kann. All combinations of at least two of the features disclosed in the claims, the description and / or the figures fall within the scope of the invention. In a preferred embodiment of the invention, the attenuator extends in the direction of the inner conductor and interrupts this or continues for a certain section on. In this way, a particularly compact design is possible, wherein an advantageous transmission characteristic is achieved by the attenuator forms a part of the inner conductor. The transitions between the inner conductor and the attenuator are preferably soldered, whereby good electrical properties and a firm grip are ensured. It has proven to be structurally advantageous to develop the contact of the attenuator to the outer conductor in the form of an integrally ansitzenden flange, as can be taken so well on the geometry of the cavity further development. In a cylindrical test pin or cylindrical cavity an annular flange has been found to be particularly advantageous because it can be used accurately.
Um einen besonders guten Kontakt zum Außenleiter zu gewährleisten und somit eine gute Übertragungscharakteristik zu erhalten, hat es sich als weiterbildungsgemäß praktikabel erwiesen, dass der Flansch sich axial an einem innenliegenden Ringabsatz des Außenleiters abstützt, und von Federmitteln, insbesondere einer Druckfeder, gegen den Ringabsatz gedrückt wird. Hieraus ergibt sich eine große, fest ansitzende Kontaktfläche zum Außenleiter. Die Federmittel sichern die feste Positionierung. Als weitere Federmittel können alternativ neben der konventionellen Druckfeder auch bevorzugt elektrisch leitende Elastomere, Tellerfeder(-pakete), multigewellte Federscheiben oder Faltebälge verwendet werden. In order to ensure a particularly good contact with the outer conductor and thus to obtain a good transfer characteristics, it has proven to be practical for the invention that the flange is axially supported on an inner annular shoulder of the outer conductor, and pressed by spring means, in particular a compression spring, against the annular shoulder becomes. This results in a large, firmly ansitzende contact surface to the outer conductor. The spring means secure the fixed positioning. As a further spring means may alternatively be used in addition to the conventional compression spring also preferably electrically conductive elastomers, disc spring (packages), multi-corrugated spring washers or Faltebälge.
Bevorzugt sind die Federmittel so ausgebildet, dass sie eine axiale Federbewegung eines Außenleiterkontaktelements bewirken. Durch diese Federung wird es ermöglicht, Fertigungstoleranzen am Hochfrequenz- Kontaktpartner auszugleichen. Werden die Federmittel zum Festigen der Position des Dämpfungsgliedes hierfür mit verwendet, ermöglicht sich ein besonders kompakter Aufbau. Es hat sich als vorteilhaft herausgestellt, den Außenleiter mehrteilig aufzubauen, da hierdurch eine leichtere Montage ermöglicht wird. Hierzu werden mindestens zwei koaxiale Elemente verwendet, die relativ zueinander beweglich sind. Eines der Elemente ist als bevorzugt konisch zulaufende Kontaktstelle ausgebildet und dient der Kontaktierung des Hochfrequenzkontaktpartners. Das andere bevorzugt radial außenliegende Element kann diesem als Hülse dienen, wodurch sich eine modulare Montage des Prüfstiftes ermöglicht. So kann beispielsweise zuerst das Dämpfungsglied in die radial außenliegende Hülse eingeführt werden, worauf die Federmittel und abschließend das als Kontaktstelle ausgebildete Außenleiterelement folgen. Preferably, the spring means are formed so as to cause an axial spring movement of a Außenleiterkontaktelements. This suspension makes it possible to compensate for manufacturing tolerances at the high frequency contact partner. If the spring means used to strengthen the position of the attenuator for this purpose, a particularly compact design allows. It has proven to be advantageous to construct the outer conductor in several parts, as this allows easier mounting. For this purpose, at least two coaxial elements are used, which are movable relative to each other. One of the elements is designed as a preferably tapered contact point and serves to make contact with the high-frequency contact partner. The other preferred radially outer element can serve this as a sleeve, which allows a modular assembly of the test pin. Thus, for example, first the attenuator can be inserted into the radially outer sleeve, whereupon the spring means and finally follow the formed as a contact point outer conductor element.
Bevorzugt sind die Elemente des Außenleiters in axialer Richtung hintereinander geführt und bevorzugt durch eine Bördelung begrenzt, die zumindest abschnittsweise entlang der konischen Seitenfläche des als Kontaktstelle ausgebildeten Elements verläuft. So wird ein fester Zusammenhalt des Prüfstiftes gewährleist und insbesondere verhindert, dass die Außenleiterkontaktstelle aus dem Prüfstift fallen kann. Besonders vorteilhaft ist es, wenn das Dämpfungsglied einstückig als Scheibendämpfungsglied ausgebildet ist. Hierdurch ermöglicht sich eine einfache Montage, bei der wenige Einzelteile verwendet werden. Besonders bei dem sich innerhalb des Prüfstifts befindlichen Dämpfungsgliedes ist es vorteilhaft wenn leicht einsetzbar und leicht wieder ausbaubar ist, unter anderem um defekte Dämpfungsglieder effizient austauschen zu können. Preferably, the elements of the outer conductor are guided one behind the other in the axial direction and are preferably delimited by a flanging which runs at least in sections along the conical side surface of the element designed as a contact point. Thus, a firm cohesion of the test pin is guaranteed and in particular prevents the outer conductor contact point from falling out of the test pin. It when the attenuator is integrally formed as a disc attenuator is particularly advantageous. This allows a simple installation, are used in the few items. Especially when located within the test pin attenuator, it is advantageous if easy to use and easy to remove again, among other things to be able to exchange defective attenuators efficiently.
Bevorzugt werden der entlang des durch einen Abschnitt des Dämpfungsgliedes unterbrochenen Innenleiters axial wirkende Federmittel vorgesehen. Hierdurch können Fertigungstoleranz am Hochfrequenz- Kontaktpartner ausgeglichen werden und Stöße, etwa beim An- oder Absetzen oder während des Betriebes, abgefangen werden. Im Rahmen der Erfindung liegt es, mit mindestens einem der erfindungsgemäßen Prüfstifte, bevorzugt einer Mehrzahl dieser Prüfstifte, eine Hochfrequenz-Prüfanordnung in Form eines Prüfadapters zu realisieren, welcher an bzw. in einem bevorzugt plattenförmigen Trägerelement eine Mehrzahl von Prüfstiften aufweist. Die Prüfanordnung weist weiterhin mindestens einen Hochfrequenz-Kontaktpartner (Prüfling) auf, eine Auswerteeinheit und eine Übertragungsstrecke zwischen Prüfstift und Auswerteeinheit. Dies ermöglicht das Realisieren auch komplexer Prüfsysteme. Um besonders gute Übertragungsverhältnisse zu erhalten, werden die Widerstandswerte des Dämpfungsgliedes an den Wellenwiderstand der Übertragungsleitung und/oder die Eingangsimpedanz der Auswerteeinheit angepasst, wobei typische Werte hierfür beispielsweise 50 Ohm oder 75 Ohm betragen. Hierdurch werden störende Reflexionen auf der Übertragungsleitung, welche besonders im hochfrequenzmäßigen Betrieb auftreten, unterdrückt. The axially acting spring means are preferably provided along the interrupted by a portion of the attenuator inner conductor. As a result, manufacturing tolerance at the high-frequency contact partner can be compensated and shocks, such as when starting or stopping or during operation, be intercepted. It is within the scope of the invention to use at least one of the test probes according to the invention, preferably a plurality of test probes, to realize a high-frequency test arrangement in the form of a test adapter which has a plurality of test probes on or in a preferably plate-shaped carrier element. The test arrangement furthermore has at least one high-frequency contact partner (test object), an evaluation unit and a transmission path between the test pin and the evaluation unit. This enables the realization of even complex test systems. In order to obtain particularly good transmission ratios, the resistance values of the attenuator are adapted to the characteristic impedance of the transmission line and / or the input impedance of the evaluation unit, with typical values for this example being 50 ohms or 75 ohms. As a result, disturbing reflections on the transmission line, which occur especially in high-frequency operation, suppressed.
Im Ergebnis ermöglicht die Erfindung in überraschend einfacher und vorteilhafter Weise, die Anordnung von Prüfstift und Dämpfungsglied so zu verbessern, dass ein besonders kompakter Aufbau mit möglichst wenigen Übergangsstellen zwischen Einzelelementen ermöglicht wird. Gezielte Signaldämpfung und Reflexionsunterdrückung werden auf eine verschleißarme, hochgradig kontaktsichere und preisgünstige Weise ermöglicht. As a result, the invention allows in a surprisingly simple and advantageous manner to improve the arrangement of test pin and attenuator so that a particularly compact design with as few transition points between individual elements is possible. Targeted signal attenuation and rejection suppression are achieved in a low-wear, highly contact-safe and cost-effective manner.
Weitere Vorteile, Merkmale und Einzelheiten der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung bevorzugter Ausführungsbeispiele sowie anhand der Zeichnungen. Further advantages, features and details of the invention will become apparent from the following description of preferred embodiments and from the drawings.
Diese zeigen in: Fig. 1 einen Längsschnitt durch einen erfindungsgemäßen koaxialen HF- Prüfstift; 1 shows a longitudinal section through a coaxial RF test pin according to the invention;
Fig. 2 ein Ersatzschaltbild der Anordnung gemäß Fig.1 ; Fig. 3 ein Frequenz/Dämpfungs-Diagramm zur Darstellung von simulierten Reflektionsdämpfungswerten für eine Schaltung gemäß Fig. 2; Fig. 2 is an equivalent circuit diagram of the arrangement according to Fig.1; Fig. 3 is a frequency / attenuation diagram for illustrating simulated reflection attenuation values for a circuit according to Fig. 2;
Fig. 4 ein Frequenz/Dämpfungs-Diagramm zur Darstellung von simulierten Transmissionsdämpfungswerten für eine Schaltung gemäß Fig. 2; Fig. 4 is a frequency / attenuation diagram illustrating simulated transmission loss values for a circuit of Fig. 2;
Fig. 1 zeigt in der Längsschnittansicht einen Hochfrequenz-Prüfstift 8 gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung. Der Prüfstift 8 ist in seiner Außenkontur 9 im Wesentlichen zylinderförmig. Weiterhin ist am Prüfstift 8 ein äußerer radialer Flansch 13 vorgesehen, der für einen festen axialen Halt des Prüfstifts 8 in einer Prüfanordnung sorgt und zusätzlich als Verdrehsicherung dient. An seinem linken und rechten Ende weist der Prüfstift jeweils Kontakte zum Kontaktieren sowohl eines Innenleiters 14 als auch eines Außenleiters 16 auf. An den Kontakten 10 am linken Ende ist hier ein externes Kontaktieren vorgesehen, durch das insbesondere eine Auswerteeinheit 34 über eine Übertragungsstrecke 32 kontaktiert werden kann. Am rechten Ende weist er Kontakte 12 für einen nicht dargestellten Hochfrequenz-Kontaktpartner 30 auf, die in Form einer Kontaktspitze ausgebildet sind. 1 shows a longitudinal section view of a high-frequency test probe 8 according to a preferred embodiment of the invention. The test pin 8 is in its outer contour 9 is substantially cylindrical. Furthermore, an outer radial flange 13 is provided on the test pin 8, which provides for a firm axial hold of the test pin 8 in a test arrangement and additionally serves as anti-rotation. At its left and right ends, the test pin has contacts for contacting both an inner conductor 14 and an outer conductor 16. At the contacts 10 at the left end here an external contacting is provided, through which in particular an evaluation unit 34 can be contacted via a transmission path 32. At the right end, it has contacts 12 for a high frequency contactor 30, not shown, which are formed in the form of a contact tip.
Der Außenleiter 16 verläuft koaxial zur Mittelachse des Prüfstifts 8, der sich im Wesentlichen aus einer Außenleiterhülse 18, die den Großteil der Außenkontur 9 des Prüfstiftes 8 bildet, und einer Außenleiterkontaktspitze 20 zusammensetzt. Die Kontaktspitze 20 dient zum Abgreifen eines Signals bzw. der Masse am Hochfrequenz-Kontaktpartner 30. Die Außenleiterhülse 18 und die Außenleiterkontaktspitze 20 sind relativ zueinander verschiebbar, wodurch ermöglicht wird, dass die Außenleiterkontaktspitze 20 sich axial an Fertigungstoleranzen am Hochfrequenz-Kontaktpartner 30 anpassen kann. Eine Außenleiterfeder 26 sorgt für eine Rückstellkraft an der Außenleiterkontaktspitze 20. Durch den Außenleiter 16 wird ein Hohlraum 21 gebildet, in dem sich ein Dämpfungsglied 22 befindet. Das Dämpfungsglied 22 ist hier als einstückiges Scheibendämpfungsglied ausgebildet. Der Hohlraum 21 ist in seiner Innenkontur passgenau an das Dämpfungsglied 22 angepasst, was zu einem guten Halt beiträgt. Das Dämpfungsglied 22 ist an zwei Kontaktstellen 25 mit dem Innenleiter 14 verbunden. Weiterhin weist das Dämpfungsglied 22 abschnittsweise einen Ringflansch 24 auf, durch den es den Außenleiter 16 kontaktiert. Dieser Ringflansch 24 setzt an einem Ringabsatz 23 des Außenleiters 16 an und wird durch die Außenleiterfeder 26 axial an diesen angedrückt und stellt so einen elektrischen Kontakt her. Weiterhin kontaktiert das Dämpfungsglied 22 den Außenleiter 16 an seinem äußeren Umfang. The outer conductor 16 extends coaxially to the center axis of the test pin 8, which essentially consists of an outer conductor sleeve 18, which forms the majority of the outer contour 9 of the test pin 8, and an outer conductor contact tip 20. The contact tip 20 serves to pick up a signal or the ground at the high-frequency contact partner 30. The outer conductor sleeve 18 and the outer conductor contact tip 20 are displaceable relative to one another, which enables the outer conductor contact tip 20 to be axially adapted to manufacturing tolerances at the high-frequency contact partner 30. An outer conductor spring 26 provides a restoring force to the outer conductor contact tip 20. By the outer conductor 16, a cavity 21 is formed, in which an attenuator 22 is located. The attenuator 22 is formed here as a one-piece disk attenuator. The cavity 21 is fitted in its inner contour fit to the attenuator 22, which contributes to a good grip. The attenuator 22 is connected to the inner conductor 14 at two contact points 25. Furthermore, the attenuator 22 in sections an annular flange 24, through which it contacts the outer conductor 16. This annular flange 24 engages an annular shoulder 23 of the outer conductor 16 and is pressed axially by the outer conductor spring 26 and thus establishes an electrical contact. Furthermore, the attenuator 22 contacts the outer conductor 16 at its outer periphery.
Entlang der Mittelachse des Prüfstifts 8 verläuft ein Innenleiter 14. Er wird vom Außenleiter 16 mechanisch geschützt. Am rechten Rand des Prüfstifts 8 weist der Innenleiter 14 eine Kontaktspitze 15 zum Kontaktieren des Hochfrequenz- Kontaktpartners 30 auf. In seinem axialen Verlauf ist der Innenleiter 14 abschnittsweise durch Bereiche des Dämpfungsglieds 22 ausgebildet. Der Innenleiter 14 wird durch eine Innenleiterfeder 28 zum Hochfrequenz- Kontaktpartner 30 hin gefedert und durch die Feder 29 zu den Kontakten 10 für eine externe Kontaktierung hin gefedert. Along the central axis of the test pin 8 extends an inner conductor 14. It is mechanically protected by the outer conductor 16. At the right edge of the test pin 8, the inner conductor 14 has a contact tip 15 for contacting the high-frequency contact partner 30. In its axial course, the inner conductor 14 is partially formed by regions of the attenuator 22. The inner conductor 14 is sprung by an inner conductor spring 28 to the high-frequency contact partner 30 and sprung by the spring 29 to the contacts 10 for external contact.
Nicht eingezeichnet sind Isolationsmittel die sich bei den Kontakten 10 für eine externe Kontaktierung befinden und den Außenleiter 16 vom Innenleiter 14 elektrisch trennen, und somit einen Kurzschluss zwischen diesen verhindern. Not shown are insulation means which are located at the contacts 10 for an external contact and electrically isolate the outer conductor 16 from the inner conductor 14, and thus prevent a short circuit between them.
Der Signalverlauf des Innenleiters 14 verläuft von einem Kontakt des Prüfstifts 8 mit dem Kontaktpartner 30 am inneren der Kontakte 12 über einen Federbereich 28 zum Dämpfungsglied 22. Vom Dämpfungsglied 22 verläuft das Signal über einen weiteren Federbereich 29 zu den Kontakten 10 für die externe Kontaktierung. The signal course of the inner conductor 14 extends from a contact of the test pin 8 with the contact partner 30 on the inner of the contacts 12 via a spring portion 28 to the attenuator 22. From the attenuator 22, the signal extends over a further spring portion 29 to the contacts 10 for the external contact.
Der Signalverlauf am Außenleiter 16 verläuft vom äußeren Kontakt der Kontakte 12 sowohl über die Außenhülse 18 als auch über die Außenleiterkontaktspitze 20 sowie die Außenleiterfeder 26. Das Signal des Außenleiters 16 geht von der Kontaktstelle mit dem Dämpfungsglied weiter zu den Kontakten 10 für die externe Kontaktierung. Das elektrische Ersatzschaltbild des in Fig.1 gezeigten Prüfstifts 8 mit Dämpfungsglied 22 ist in Fig. 2 gezeigt. Die elektrischen Eigenschaften des Prüfstifts 8 ohne das Dämpfungsglied 22 sind durch das Blackbox-Element 70 dargestellt. Das Dämpfungsglied 22 verwirklicht zwischen Innenleiterleiter 14 und Außenleiter 16 eine Dämpfungsschaltung in Form einer T-Schaltung, welche welche hier durch die drei Widerstände 72, 74 und 75 dargestellt ist. Der Außenleiter 16 ist durch das Massesymbol dargestellt. The waveform on the outer conductor 16 extends from the outer contact of the contacts 12 both over the outer sleeve 18 and over the Outer conductor contact tip 20 and the outer conductor spring 26. The signal of the outer conductor 16 goes from the point of contact with the attenuator on to the contacts 10 for the external contact. The electrical equivalent circuit diagram of the test pin 8 with attenuator 22 shown in FIG. 1 is shown in FIG. The electrical properties of the test pin 8 without the attenuator 22 are represented by the black box element 70. The attenuator 22 realizes between the inner conductor 14 and the outer conductor 16, a damping circuit in the form of a T-circuit, which here by the three resistors 72, 74 and 75 is shown. The outer conductor 16 is represented by the ground symbol.
Der Prüfstift ist am Punkt 38 einends mit dem Kontaktpartner 30 verbunden. Anderenends ist er am Punkt 36 mit der Auswerteeinheit verbunden, wobei hier möglicherweise noch eine nicht näher dargestellte Übertragungsstrecke 32 mit weiteren elektrischen Eigenschaften dazwischen liegen kann. The test pin is connected at one point to the contact partner 30 at point 38. At the other end, it is connected to the evaluation unit at point 36, in which case a transmission link 32 (not shown in any more detail) with further electrical properties may be present therebetween.
In Fig. 3 sind die Ergebnisse einer Simulation an der in Fig.2 gezeigten Schaltung für eine zu erwartenden Rückflussdämpfung aufgetragen. Auf der x- Achse des Koordinatensystems ist die Frequenz in GHz aufgetragen. Auf der y- Achse die erwartete Rückflussdämpfung in dB. Linie 50 zeigt die Rückflussdämpfung ohne Dämpfungsglied. Linie 52 zeigt die Rückflussdämpfung mit einem 3 dB Dämpfungsglied. Hier ist gegenüber Linie 50 eine Verschiebung um ca. -6 dB festzustellen. Linie 54 zeigt die Rückflussdämpfung mit einem 10 dB Dämpfungsglied. Hier ist gegenüber Linie 50 eine Verschiebung von ca. -20 dB zu erkennen. Selbst bei Frequenzen von 4 GHz kann hier mit einem 10 dB Dämpfungsglied eine absolute Rückflussdämpfung von ca. -40 dB gewährleistet werden. Durch geeignete Wahl des Dämpfungsgliedes 22 kann also ein unerwünschter Rücklauf des Eingangsignals erfolgreich unterdrückt werden. In Fig. 4 sind die Ergebnisse für eine Simulation an der in Fig.2 gezeigten Schaltung für eine zu erwartenden Transmissionsdämpfung. Auf der x-Achse des Koordinatensystems ist die Frequenz in GHz aufgetragen. Auf der y-Achse die erwartete Transmissionsdämpfung in dB. Linie 60 zeigt die Transmissionsdämpfung ohne Dämpfungsglied. Linie 52 zeigt die Transmissionsdämpfung mit einem 3 dB Dämpfungsglied. Linie 64 zeigt die Rückflussdämpfung mit einem 10 dB Dämpfungsglied. FIG. 3 plots the results of a simulation on the circuit shown in FIG. 2 for an expected return loss. The frequency is plotted in GHz on the x-axis of the coordinate system. On the y-axis the expected return loss in dB. Line 50 shows the return loss without attenuator. Line 52 shows the return loss with a 3 dB attenuator. Here, a shift of about -6 dB is observed in comparison to line 50. Line 54 shows the return loss with a 10 dB attenuator. Here you can see a shift of about -20 dB compared to line 50. Even at frequencies of 4 GHz, an absolute return loss of about -40 dB can be guaranteed with a 10 dB attenuator. By suitable choice of the attenuator 22, therefore, an undesired return of the input signal can be successfully suppressed. FIG. 4 shows the results for a simulation on the circuit shown in FIG. 2 for an expected transmission attenuation. The frequency in GHz is plotted on the x-axis of the coordinate system. On the y-axis the expected transmission loss in dB. Line 60 shows the transmission loss without attenuator. Line 52 shows the transmission loss with a 3 dB attenuator. Line 64 shows the return loss with a 10 dB attenuator.
Die Kombination von Fig. 3 und Fig. 4 zeigt, dass man auf Kosten eines abgeschwächten Transmissionssignals eine verbesserte Rückflüssdämpfung erzielen kann. Soll beispielsweise die Rückflussdämpfung um -6 dB verbessert werden, so kann ein 3 dB Dämpfungsglied in den Prüfstift eingefügt werden. In einem anderen Beispiel kann es gewünscht sein, das Transmissionssignal gezielt um -10 dB abzuschwächen, indem man ein 10 dB Dämpfungsglied einfügt. Im Rückfluss erhält man in diesem Fall zusätzlich eine Dämpfung von ca. -20 dB. The combination of FIGS. 3 and 4 shows that improved backflow damping can be achieved at the expense of an attenuated transmission signal. If, for example, the return loss is to be improved by -6 dB, then a 3 dB attenuator can be inserted into the test pin. In another example, it may be desirable to selectively attenuate the transmission signal by -10 dB by inserting a 10 dB attenuator. In the case of reflux, an additional attenuation of about -20 dB is obtained in this case.
Die vorliegende Erfindung ist nicht auf das gezeigte Ausführungsbeispiel beschränkt, das Dämpfungsglied 22 kann neben der im Beispiel gezeigten Position, die unmittelbar im Anschluss an bewegliche Kontaktteile ist, erfindungsgemäß auch an anderen Stellen innerhalb des Prüfstifts angeordnet sein kann, beispielsweise beim Anschluss 10 für eine externe Kontaktierung. The present invention is not limited to the embodiment shown, the attenuator 22 may be arranged according to the invention in other locations within the Prüfstifts next to the position shown in the example, which is immediately following movable contact parts, for example, the connection 10 for an external contacting.
Weiterhin kann es vorgesehen sein, das Dämpfungsglied erfindungsgemäß in einer Buchse anstelle eines Prüfstiftes vorzusehen. Bezugszeichenliste Furthermore, it can be provided according to the invention to provide the attenuator in a socket instead of a test pin. LIST OF REFERENCE NUMBERS
8 Prüfstift 8 test pin
9 Außenkontur des Prüfstifts  9 outer contour of the test pin
10 Kontakte extern  10 contacts externally
12 Kontakte Prüfling (Hochfrequenz-Kontaktpartner) 12 contacts test object (high-frequency contact partner)
13 Außenflansch des Prüfstifts 13 outer flange of the test pin
14 Innenleiter  14 inner conductors
15 Innenleiterkontaktspitze  15 inner conductor contact tip
16 Außenleiter  16 outer conductor
18 Außenleiterhülse  18 outer conductor sleeve
20 Außenleiterkontaktspitze  20 outer conductor contact point
21 Hohlraum  21 cavity
22 Dämpfungsglied  22 attenuator
23 Ringabsatz  23 ring heel
24 Ringflansch  24 ring flange
25 Lötstellen  25 solder joints
26 Feder (Außenleiter)  26 spring (outer conductor)
27 Kontaktstelle zwischen Dämpfungsglied und Außenleiter 27 contact point between attenuator and outer conductor
28 Feder (Innenleiter) 28 spring (inner conductor)
29 Feder am externen Kontakt (Innenleiter)  29 Spring on external contact (inner conductor)
30 Kontaktpartner (Prüfling)  30 contact partners (examinee)
32 Übertragungsstrecke  32 transmission path
34 Auswerteeinheit  34 evaluation unit
36 Eingang (Punkt 1)  36 input (point 1)
38 Ausgang (Punkt 2)  38 output (point 2)
50 Rückflussdämpfung bei Dämpfungsglied mit 0 dB 50 Return loss at attenuator 0 dB
52 Rückflussdämpfung bei Dämpfungsglied mit 3 dB52 Return loss at attenuator with 3 dB
54 Rückflussdämpfung bei Dämpfungsglied mit 10 dB54 Return loss at attenuator with 10 dB
60 Transmissionsdämpfung bei Dämpfungsglied mit 0 dB60 Transmission loss at attenuator with 0 dB
62 Transmissionsdämpfung bei Dämpfungsglied mit 3 dB62 Transmittance attenuation at attenuator with 3 dB
64 Transmissionsdämpfung bei Dämpfungsglied mit 10 dB Prüfstift-Blackbox-Element 64 transmission loss at attenuator with 10 dB Test pin Blackbox element
T-Widerstandselement 1 des Dämpfungsgliedes T-Widerstandselement 2 des Dämpfungsgliedes T-Widerstandselement 3 des Dämpfungsgliedes T-resistive element 1 of the attenuator T-resistive element 2 of the attenuator T-resistive element 3 of the attenuator

Claims

Schutzansprüche protection claims
Hochfrequenz-Prüfstift (8) zum lösbaren Kontaktieren eines einen Innen- sowie einen Außenkontakt aufweisenden Hochfrequenz-Kontaktpartners (30), insbesondere Hochfrequenzkontaktbuchse oder -Stecker oder eine Kontaktierungsstelle auf einer Leiterplatte, mit einer koaxial ausgebildeten, einends Kontakte (12) für den Hochfrequenz-Kontaktpartner (30) anbietenden Anordnung aus einem Außenleiter (16) sowie einem relativ dazu in axialer Richtung federnd geführten Innenleiter (14), welche anderenends ( 0) extern kontaktierbar sind, dadurch gekennzeichnet, dass in einem durch den Außenleiter (16) gebildeten Hohlraum (21) ein Dämpfungsglied (22) vorgesehen ist, welches zum Realisieren einer vorbestimmten Dämpfungswirkung auf ein transmittiertes und/oder reflektiertes Eingangssignal an Kontaktabschnitten (25, 27) den Innen- und Außenleiter kontaktiert. High-frequency test pin (8) for detachably contacting a high-frequency contact partner (30) having an inner and an outer contact, in particular a high-frequency contact socket or plug or a contacting point on a printed circuit board, with a coaxially formed, one-piece contacts (12) for the high-frequency contact Contact partner (30) offering arrangement of an outer conductor (16) and a relative thereto in the axial direction resiliently guided inner conductor (14) which are externally contacted (0) externally, characterized in that in a formed by the outer conductor (16) cavity ( 21) an attenuator (22) is provided which contacts the inner and outer conductors to realize a predetermined attenuation effect on a transmitted and / or reflected input signal at contact portions (25, 27).
Vorrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass das Dämpfungsglied (22) sich in der Richtung des Innenleiters (14) erstreckend ausgebildet ist, wobei bevorzugt Abschnitte des Innenleiters (14) das Dämpfungsglied (22) an Kontaktstellen (25) fest kontaktieren, insbesondere an den Kontaktstellen (25) mit dem Dämpfungsglied (22) verlötet sind. Apparatus according to claim 1, characterized in that the damping member (22) is formed extending in the direction of the inner conductor (14), wherein preferably portions of the inner conductor (14) the damping member (22) at contact points (25) firmly contact, in particular the contact points (25) with the attenuator (22) are soldered.
Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass ein Abschnitt des Dämpfungsgliedes (22) als einstückig ansitzender Flansch (24), insbesondere Ringflansch, zum Kontaktieren des Außenleiters (16) ausgebildet ist. Apparatus according to claim 1 or 2, characterized in that a portion of the damping member (22) as integrally ansitzender flange (24), in particular annular flange, for contacting the outer conductor (16) is formed.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Flansch (24) sich axial an einem innenliegenden Ringabsatz (23) des Außenleiters (16) abstützt, und von Federmitteln (26), insbesondere einer Druckfeder, gegen den Ringabsatz (23) gedrückt wird. 4. Apparatus according to claim 3, characterized in that the flange (24) axially on an inner annular shoulder (23) of the outer conductor (16) is supported, and of spring means (26), in particular a compression spring, pressed against the annular shoulder (23) becomes.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Federmittel (26) so ausgebildet sind, dass diese eine axiale Federbewegung eines Außenleiter-Kontaktelements bewirken. 6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Außenleiter (16) aus mindestens zwei koaxial angeordneten Elementen (18, 20) besteht, die bevorzugt relativ zueinander beweglich sind und von denen eines als bevorzugt konisch zulaufendes Kontaktelement (20) und ein zweites als radial außenliegende Hülse ( 8) ausgebildet ist. 5. The device according to claim 4, characterized in that the spring means (26) are formed so that they cause an axial spring movement of an outer conductor contact element. 6. Device according to one of claims 1 to 5, characterized in that the outer conductor (16) consists of at least two coaxially arranged elements (18, 20), which are preferably movable relative to each other and of which a preferably tapered contact element (20 ) And a second radially outer sleeve (8) is formed.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Elemente (18, 20) gegeneinander durch einen materialverformten Abschnitt, insbesondere eine Bördelung, gegeneinander gerichtet sind. 8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass das Dämpfungsglied (22) einstückig als Scheibendämpfungsglied realisiert ist. 7. The device according to claim 6, characterized in that the elements (18, 20) against each other by a material-deformed section, in particular a flange, are directed against each other. 8. Device according to one of claims 1 to 7, characterized in that the damping member (22) is realized in one piece as a disc damping member.
9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass entlang des von einem Abschnitt des Dämpfungsgliedes (22) unterbrochenen Innenleiters axial wirkende Federmittel (28, 29) vorgesehen sind. 9. Device according to one of claims 1 to 8, characterized in that along the interrupted by a portion of the attenuator (22) inner conductor axially acting spring means (28, 29) are provided.
10. Hochfrequenzprüfanordnung mit mindestens einem Hochfrequenzprüfstift (8) nach einem der Ansprüche 1 bis 9, mindestens einem Hochfrequenz- Kontaktpartner (30), einer Auswerteeinheit (34) und einer Übertragungsstrecke (32) vom Hochfrequenz-Prüfstift (8) zur Auswerteeinheit (34), wobei bevorzugterweise das Dämpfungsglied ( 2) an den Wellenwiderstand der Übertragungsstrecke (32) und/oder eine Eingangsimpedanz an der Auswerteeinheit (34) im hochfrequenzmäßigen Betrieb angepasst ist. 10. Hochfrequenzprüfanordnung with at least one Hochfrequenzprüfstift (8) according to one of claims 1 to 9, at least one high-frequency contact partner (30), an evaluation unit (34) and a transmission path (32) from the high-frequency test pin (8) to the evaluation unit (34) , wherein preferably the attenuator (2) on the characteristic impedance of the transmission path (32) and / or an input impedance to the evaluation unit (34) is adapted in high-frequency operation.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE202014106223U1 (en) 2014-12-22 2016-03-23 Ingun Prüfmittelbau Gmbh High-frequency test probe
CN109061245A (en) * 2018-10-12 2018-12-21 上海军友射频技术有限公司 A kind of test pcb board impedance RF probe
WO2019115071A1 (en) * 2017-12-14 2019-06-20 Ingun Prüfmittelbau Gmbh High-frequency test connector device, high-frequency testing system and use of same

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011054260B4 (en) 2011-10-06 2020-06-18 Ingun Prüfmittelbau Gmbh Device and method for testing printed circuit boards

Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3701011A (en) * 1970-08-19 1972-10-24 Republic Electronics Ind Corp Probe containing diode assembly for radio frequency peak power detection
US4039976A (en) * 1975-08-14 1977-08-02 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Coaxial current probe
US4139817A (en) * 1976-09-13 1979-02-13 Tektronix, Inc. Impedance-switching connector
JPS5590861A (en) * 1978-12-28 1980-07-09 Fujitsu Ltd High-frequency coaxial probe
JPS6221066A (en) * 1985-07-19 1987-01-29 Koichi Yoshida Spring-contact type probe
US4791363A (en) * 1987-09-28 1988-12-13 Logan John K Ceramic microstrip probe blade
US5045781A (en) * 1989-06-08 1991-09-03 Cascade Microtech, Inc. High-frequency active probe having replaceable contact needles
US5175493A (en) * 1991-10-11 1992-12-29 Interconnect Devices, Inc. Shielded electrical contact spring probe assembly
US5196789A (en) * 1991-01-28 1993-03-23 Golden Joseph R Coaxial spring contact probe
EP1186895A1 (en) * 2000-09-07 2002-03-13 Lucent Technologies Inc. Improved RF test probe
WO2002042793A1 (en) * 2000-11-23 2002-05-30 Vega Grieshaber Kg System for testing an electric high frequency signal and level measuring device provided with said system
JP2003123910A (en) * 2001-10-12 2003-04-25 Murata Mfg Co Ltd Contact probe and measuring device of communication device using this contact probe
US20050253603A1 (en) * 2004-05-12 2005-11-17 Capps Charles P Ultra-broadband differential voltage probes
US7116121B1 (en) * 2005-10-27 2006-10-03 Agilent Technologies, Inc. Probe assembly with controlled impedance spring pin or resistor tip spring pin contacts
DE102009008156A1 (en) * 2009-02-09 2010-08-19 Ingun Prüfmittelbau Gmbh Cylindrical electrical high frequency test probe for use in testing field and/or measuring system, has inner and outer piston sections electrically connected with separate ohmic resistance body axially arranged between piston sections

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3701011A (en) * 1970-08-19 1972-10-24 Republic Electronics Ind Corp Probe containing diode assembly for radio frequency peak power detection
US4039976A (en) * 1975-08-14 1977-08-02 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Coaxial current probe
US4139817A (en) * 1976-09-13 1979-02-13 Tektronix, Inc. Impedance-switching connector
JPS5590861A (en) * 1978-12-28 1980-07-09 Fujitsu Ltd High-frequency coaxial probe
JPS6221066A (en) * 1985-07-19 1987-01-29 Koichi Yoshida Spring-contact type probe
US4791363A (en) * 1987-09-28 1988-12-13 Logan John K Ceramic microstrip probe blade
US5045781A (en) * 1989-06-08 1991-09-03 Cascade Microtech, Inc. High-frequency active probe having replaceable contact needles
US5196789A (en) * 1991-01-28 1993-03-23 Golden Joseph R Coaxial spring contact probe
US5175493A (en) * 1991-10-11 1992-12-29 Interconnect Devices, Inc. Shielded electrical contact spring probe assembly
EP1186895A1 (en) * 2000-09-07 2002-03-13 Lucent Technologies Inc. Improved RF test probe
WO2002042793A1 (en) * 2000-11-23 2002-05-30 Vega Grieshaber Kg System for testing an electric high frequency signal and level measuring device provided with said system
JP2003123910A (en) * 2001-10-12 2003-04-25 Murata Mfg Co Ltd Contact probe and measuring device of communication device using this contact probe
US20050253603A1 (en) * 2004-05-12 2005-11-17 Capps Charles P Ultra-broadband differential voltage probes
US7116121B1 (en) * 2005-10-27 2006-10-03 Agilent Technologies, Inc. Probe assembly with controlled impedance spring pin or resistor tip spring pin contacts
DE102009008156A1 (en) * 2009-02-09 2010-08-19 Ingun Prüfmittelbau Gmbh Cylindrical electrical high frequency test probe for use in testing field and/or measuring system, has inner and outer piston sections electrically connected with separate ohmic resistance body axially arranged between piston sections

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE202014106223U1 (en) 2014-12-22 2016-03-23 Ingun Prüfmittelbau Gmbh High-frequency test probe
WO2016102172A1 (en) 2014-12-22 2016-06-30 Ingun Prüfmittelbau Gmbh High-frequency test probe
WO2019115071A1 (en) * 2017-12-14 2019-06-20 Ingun Prüfmittelbau Gmbh High-frequency test connector device, high-frequency testing system and use of same
KR20200101374A (en) * 2017-12-14 2020-08-27 인군 프루프미텔바우 게엠베하 High frequency test connector device, high frequency test system and its use
US11747364B2 (en) 2017-12-14 2023-09-05 Ingun Prüfmittelbau Gmbh High-frequency test connector device, high frequency testing system and use of same
KR102635042B1 (en) 2017-12-14 2024-02-07 인군 프루프미텔바우 게엠베하 High frequency test connector device, high frequency test system and its uses
CN109061245A (en) * 2018-10-12 2018-12-21 上海军友射频技术有限公司 A kind of test pcb board impedance RF probe
CN109061245B (en) * 2018-10-12 2023-12-05 上海军友射频技术有限公司 Radio frequency probe for testing impedance of PCB

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