WO2010084165A1 - Capteur de champ magnetique a jauge de contrainte suspendue - Google Patents

Capteur de champ magnetique a jauge de contrainte suspendue Download PDF

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WO2010084165A1
WO2010084165A1 PCT/EP2010/050710 EP2010050710W WO2010084165A1 WO 2010084165 A1 WO2010084165 A1 WO 2010084165A1 EP 2010050710 W EP2010050710 W EP 2010050710W WO 2010084165 A1 WO2010084165 A1 WO 2010084165A1
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sensor
magnetic field
magnetic
axis
suspended
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PCT/EP2010/050710
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Arnaud Walther
Philippe Robert
Olivier Redon
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Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives
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Definitions

  • the invention relates to the field of magnetic sensors, and more particularly that of devices and methods for the measurement of magnetic fields, single or multi axis, by a miniature sensor of the MEMS or NEMS type.
  • the targeted applications are for example the measurement of the Earth's magnetic field to reconstruct an orientation (compass-type application), but also all applications that use a magnetic field measurement (remote current measurement for example).
  • Hall effect sensors GMR (giant magnetoresistance) sensors
  • AMR (anisotropic magnetoresistance) sensors fluxgate or magnetometric sensors
  • Lorentz force sensors or magnetic material sensors are some examples.
  • One of the problems frequently encountered relates to the manufacture of a sensor capable of producing a magnetic field measurement along several axes. Sensors measuring the components of a magnetic field along 2 axes located in the plane of the sensor have already been made. But as soon as it is desired to perform in addition a measurement of the vertical component of the magnetic field (component perpendicular to the plane of the sensor), the realization of such a sensor becomes much more complex, particularly if it is desired that this sensor also performs the measurement of the magnetic field components in the plane of the sensor.
  • sensors are not suitable for performing certain magnetic field measurements.
  • Hall effect sensors have resolutions too low to accurately determine the direction of this magnetic field.
  • GMR sensors present a hysteresis and perform a low-field nonlinear measurement
  • sensors also have a significant power consumption, such as AMR and fluxgate sensors, which can be a disadvantage, for example when these sensors are intended to be used in embedded applications.
  • Lorentz force sensors have, when it is desired to achieve an accurate measurement of a magnetic field such as the Earth's magnetic field, large sizes. Moreover, their operation in resonant mode requires quality factors that can only be achieved by expensive vacuum packaging.
  • sensors with hard magnetic materials do not require current for a force or torque to be created in the presence of a magnetic field, which is an advantage in terms of power consumption.
  • the sensors with existing magnetic materials have other major drawbacks: detection according to only 1 or 2 axes, non-integrated sensor, too much sensitivity to accelerations, or too weak sensitivity of magnetic field detection.
  • An object of the present invention is therefore to propose a highly integrated and compact magnetic field sensor, for example entirely feasible in microsystem or nanosystem technology, that is to say of the MEMS or NEMS type, allowing a mono magnetic field detection. -axis or multi-axis, insensitive to acceleration and high magnetic sensitivity.
  • the invention proposes a magnetic field sensor comprising at least:
  • a body comprising magnetic means capable of forming a torque exerted on the body under the action of an external magnetic field to be detected, connecting means, distinct from the body, mechanically connecting the body to a mounting portion of the sensor by at least one connection axis pivot perpendicular to the direction of the magnetic field to be detected, means for detecting a stress exerted by the body under the action of the couple, distinct from the connecting means, comprising at least one suspended strain gauge of which at least a first portion is mechanically connected to the embedding portion, at least a second portion being mechanically connected to the body, and at least a third portion disposed between the first and second portion is suspended between the embedding portion and the body .
  • Such a device makes it possible in particular to measure the components of the earth's magnetic field (equal to about 50 ⁇ T) with a good orientation accuracy (typically less than about 1 °).
  • a good orientation accuracy typically less than about 1 °.
  • such a sensor can be used in a portable and autonomous application in view of its small size, its low mass and its potentially low power consumption depending on the detection means used.
  • This device also applies to other types of magnetic field measurement, such as measuring a remote current.
  • a sensor comprises several distinct parts: the body, the connecting means and the detection means.
  • the strain gauge is suspended between the embedding portion and the body.
  • at least two parts (for example end parts) of the gauge are mechanically connected (for example by a flush connection) to the embedding portion and the body.
  • at least a third portion of the strain gauge is suspended between these two elements, this third part being in contact with any element of the sensor, and is not in particular in contact with the connecting means.
  • the magnetic field detection means are suspended, that is to say decorrelated from the body comprising the magnetic means and the rest of the sensor, it is possible to independently optimize the different parts of the sensor, namely the body, the detection means and the connecting means. In particular, it is possible to make these three parts such that they have different thicknesses. It is also possible to position these detection means in different places and to choose the location of the detection means so that they can make a good measure of the stress exerted by the body.
  • the strain gauge as it is suspended between the embedding portion and the body, it is possible to make the gauge such that its section is as small as possible, which optimizes the sensitivity detection thereof.
  • a suspended strain gauge and not implanted in a sensor element, it also avoids the appearance of leakage currents that would appear if the strain gauge was made by implantation. of dopants in a sensor element, for example on the connecting means.
  • the sensor structure can intrinsically create, the design of the latter, a stress amplification on the suspended gauge, thus improving the sensitivity of the measurement performed.
  • a body comprising magnetic means capable of forming a torque exerted on the body under the action of an external magnetic field to be detected
  • connecting means mechanically connecting the body to an embedding portion of the sensor by at least one axis pivot connection perpendicular to the direction of the magnetic field to be detected; means for detecting a constraint exerted by the body under the action of the couple, comprising at least one strain gauge suspended between the embedding portion and the body.
  • the suspended strain gauge may be disposed outside the axis of the pivot connection and / or perpendicular to the axis of the pivot connection.
  • the strain gauge may be preferably shifted, at least in said plane of the body, relative to the axis of the pivot connection.
  • the strain gauge may be preferably disposed in at least in a plane perpendicular to that of the body and offset with respect to the axis of the pivot connection.
  • the magnetic means may comprise a ferromagnetic material, preferably hard, whose direction of magnetization is perpendicular to the direction of the magnetic field to be detected and to the axis of the pivot connection. Such magnetic means have the particular advantage of operating without electricity, thereby helping to reduce the power consumption of the sensor.
  • the ferromagnetic material may for example be CoPt, or NdFeB, or SmCo. These materials have the particular advantage of having a high coercivity, for example greater than about 0.1 T, which implies that they do not need to be re-magnetized during the life of the sensor, unlike the magnetic layers present in AMR type sensors of the prior art.
  • the ferromagnetic material may be a soft ferromagnetic material, that is to say having a low coercivity, for example less than or equal to about 1 mT, and for example based on FeNi or CoFe.
  • the magnetization of a soft ferromagnetic material varies as a function of the external magnetic field, in particular as a function of the magnetic field to be measured.
  • the body comprising the magnetic means may have an elongated shape in a direction orthogonal to the direction of the magnetic field to be measured, inducing so-called "shape" anisotropy in said direction orthogonal to the direction of the magnetic field to be measured.
  • the length / width ratio of this elongate shape may be greater than or equal to 5. Moreover, since the measurement of a magnetic field from a soft ferromagnetic material is non-linear, it is possible to minimize this non-linearity. linearity by maximizing the field of shape anisotropy (which will depend on the shape and properties of the magnetic material) so that it is very large, for example of a ratio greater than or equal to 100, with respect to the fields of measure.
  • the magnetic means comprise a soft ferromagnetic material
  • the sensor may also comprise magnetization means.
  • said ferromagnetic material adapted to magnetize the soft ferromagnetic material by a magnetic field of polarization which can be fixed or variable, and such that the ferromagnetic material and these magnetization means are intended to form an electromagnet.
  • These magnetization means may comprise at least one coil intended to be traversed by a constant or variable current, this coil being able to be integrated into the structure and positioned on the body of the sensor, or for example to be external to the other elements of the sensor and to macroscopic dimensions.
  • the soft ferromagnetic material has properties similar to a hard ferromagnetic material, that is to say that it has a magnetization that does not vary as a function of the external magnetic field, by arranging the ferromagnetic material in a particular stack of layers.
  • the magnetic means may comprise a stack of one or more layers of ferromagnetic material arranged alternately with one or more layers of antiferromagnetic material.
  • each stack of layers can form a set of parallel blocks and disjoint them. These blocks may be of rectangular parallelepipedal shape, each block may comprise a portion of each layer of the stack.
  • these blocks are of elongate shape parallel to the direction of the magnetization axis, this introduces a shape anisotropy in a direction orthogonal to the direction of the magnetic field to be measured.
  • the magnetic means may comprise at least one coil intended to be traversed by an electric current in a plane for generating a magnetic field induced direction perpendicular to the direction of the magnetic field to be detected.
  • the magnetic means have their size sensitive to the field to be measured which is potentially controlled variable (for example, when the magnetic means comprise at least one soft ferromagnetic material disposed in a variable polarization field, the sensitive variable corresponding in this case to the magnetization of the ferromagnetic material, or when the magnetic means comprise at least one coil to be traversed by a variable current, the sensitive variable corresponding in this case to the current of the coil), it is possible to vary this sensitive quantity at a frequency substantially close to a mechanical resonance frequency of the sensor body, making it possible to resonate the body of the sensor and to amplify the force exerted on the sensor means. detection of the sensor by the quality factor of the mechanical resonator thus formed (which may be greater than 100000). Thus, it is possible to increase the sensitivity of the sensor by this quality factor.
  • the body may comprise a box in which are disposed the magnetic means or a face on which are arranged the magnetic means.
  • the body may comprise a box in which the ferromagnetic material or materials are arranged or a face on which is disposed the coil.
  • the connecting means may comprise at least one hinge.
  • this hinge may have a thickness less than or equal to that of the body.
  • the body may be of substantially rectangular parallelepiped shape.
  • the body may comprise two main faces parallel to, or facing, one with respect to the other, the hinge being connectable to another face of the body substantially perpendicular to the two main faces of the body.
  • the suspended strain gauge may be of the piezoresistive type and comprise at least one beam, for example a straight beam, based on a semiconductor material or at least one beam based on a metallic material, for example bent in a U-shape, Greek or serpentine.
  • the senor can operate at ambient pressure and therefore does not require encapsulation.
  • the detection means may further comprise means for measuring the electrical resistance of the suspended strain gauge.
  • the suspended strain gauge may be of resonator type and comprise at least one vibrating beam, the detection means may further comprise means for exciting the vibrating beam and means for measuring a variation of the vibration frequency of the vibrating beam. beam.
  • the detection means may further comprise means for exciting the vibrating beam and means for measuring a variation of the vibration frequency of the vibrating beam. beam.
  • the excitation means of the vibrating beam may comprise at least one DC and / or AC voltage generator electrically connected to at least one excitation electrode coupled to the vibrating beam, and the means for measuring a variation of the vibration frequency of the beam may comprise at least means for measuring a frequency variation of the electric potential of at least one detection electrode coupled to the vibrating beam.
  • the means for measuring the variation of the vibration frequency may be piezoresistive means.
  • the senor may further comprise at least one second strain gauge suspended between the embedding portion and the body, the two suspended strain gauges being able to be arranged on either side of the axis of the connection. pivot.
  • the strain gauges can be arranged symmetrically with respect to the axis of the pivot connection.
  • the sensor may comprise at least one strain gauge suspended between the embedding portion and the Wheatstone dot-mounted body.
  • one or more of these strain gages may be Wheatstone bridge mounted.
  • the other resistors of the Wheatstone bridge may be reference resistors.
  • the senor may further comprise: a second body comprising second magnetic means capable of forming a second pair exerting on the second body under the action of the magnetic field to be detected substantially similar to the first body, second connecting means mechanically connecting the second body to a mounting portion of the sensor by at least one pivot connection of axis perpendicular to the direction of the magnetic field to be detected,
  • second means for detecting a stress exerted by the second body under the action of the second pair comprising at least a second strain gauge suspended between the embedding portion and the second body and intended to work in a differential manner; compression or tension with respect to the first suspended strain gauge working respectively in tension or in compression.
  • This differential arrangement makes it possible, by virtue of the differential detection carried out by the sensor, to decorrelate a signal (in compression or in tension) originating from an acceleration of a signal originating from a torque exerted on the bodies under the action of an external magnetic field.
  • the body of the sensor may comprise two main faces parallel to, or facing, one with respect to the other, and for example of substantially square shape, and comprise a recess passing through the two main faces, the sections in the planes passing through the two main faces may for example have a substantially square shape, the recess may be centered with respect to the sections of the two main faces.
  • the sensor may furthermore comprise:
  • each connecting means each being able to mechanically connect a wall of the body, each wall being able to be perpendicular to the two main faces of the body and forming a side of the recess, to the embedding portion of the sensor disposed in the recess; a pivot connection axis perpendicular to the direction of the magnetic field to be detected and perpendicular to the two main faces of the body,
  • At least one piezoresistive strain gauge suspended between the embedding portion of the sensor and the body.
  • a sensor comprises a plurality of suspended strain gages, they can be arranged in pairs on either side of each of the axes of the pivot links of the connecting means.
  • the body may have a shape such that the center of gravity of the body is substantially close to, or at the level of, the axis of the pivot connection.
  • the body forms a substantially balanced mass around the axis of the pivot connection.
  • the sensor may be MEMS and / or NEMS type.
  • the sensor can be made from an SOI substrate.
  • this sensor in planar technology, for example in an SOI substrate, it is possible to co-integrate it with, for example, a tri-axis accelerometer that can be produced in an analogous manner, for example from the same substrate, or to realize with this technology a differential sensor to go directly to the extent of an acceleration. It is thus possible to create elevation units for performing both an orientation and a measurement of displacements.
  • this sensor can form a MEMS structure and / or NEMS requiring no assembly, which reduces its cost of implementation and increase the robustness and compactness of the sensor.
  • the invention also relates to a magnetic field sensor with two or three directions respectively comprising two or three magnetic sensors as described above, the magnetic sensors being arranged such that the directions of the magnetic fields to be measured by these sensors are perpendicular to each other. compared to others. It is thus possible to measure, by means of several co-integrated mono-axis sensors, the components of a magnetic field along 2 or 3 axes, including the axis perpendicular to the plane of the sensor. When this sensor is a three-way magnetic field sensor, the axes of the pivot links of two of the magnetic sensors may be perpendicular to the axis of the pivot connection of the third magnetic sensor.
  • Each magnetic sensor may comprise at least one ferromagnetic material whose direction of magnetization may be perpendicular to the direction of the component of the magnetic field to be detected by said sensor and perpendicular to the axis of the pivot connection of said sensor.
  • each magnetic sensor may comprise at least one ferromagnetic material whose direction of magnetization is perpendicular to the axis of the pivot connection of said sensor, the magnetization directions of the ferromagnetic materials of the three magnetic sensors being similar, and which may further comprise at least one magnetic flux guide able to reorient magnetic field lines in a first direction perpendicular to the initial direction of said field lines, said magnetic flux guide being able to be coupled to one of the three magnetic sensors such as that this sensor can measure the magnetic field formed by said reoriented field lines.
  • the sensor may further comprise at least a fourth magnetic sensor similar to the sensor to which is coupled the magnetic flux guide, said magnetic flux guide may be adapted to reorient magnetic field lines in a second direction perpendicular to the initial direction said field lines and opposite to the first direction of reorientation of the field lines, the magnetic flux guide being further coupled to the fourth magnetic sensor such that the fourth sensor can measure the magnetic field formed by said reoriented field lines according to the second direction.
  • the magnetic flux guide may comprise at least one amplification element of magnetic field lines.
  • the invention also relates to a method for producing a magnetic field sensor comprising at least the steps of: producing a body comprising magnetic means capable of forming a torque exerted on the body under the action of a external magnetic field to be detected, - embodiment of connecting means, distinct from the body, mechanically connecting the body to a recessing portion of the sensor by at least one axis pivot connection perpendicular to the direction of the magnetic field to be detected, - embodiment means for detecting a stress exerted by the body under the action of the torque, distinct from the connecting means, comprising at least one suspended strain gauge of which at least a first part is mechanically connected to the embedding portion, at least a second part being mechanically connected to the body, and at least a third part of which disposed between the first and second portion is suspended between the recess portion and the body.
  • FIGS. 1A, 1B, 2A and 2B represent top views and profile of magnetic field sensors, objects of the present invention, according to a first and a second embodiment
  • FIGS. 3 and 4 show top views of a magnetic field sensor, object of the present invention, according to variants of the second embodiment,
  • FIGS. 5A, 5B, 6A and 6B show top and side views of magnetic field sensors, objects of the present invention, according to a third and a fourth embodiment
  • FIG. 7 represents a view from above of a magnetic field sensor, object of the present invention, according to a fifth embodiment
  • FIG. 8 represents a view from above of a three-dimensional magnetic field sensor, object of the present invention, according to a particular embodiment
  • FIGS. 9A and 9B represent alternative embodiments of the elements of a sensor; three-dimensional magnetic field object of the present invention,
  • FIGS. 10A and 10B represent examples of stackings of ferromagnetic and antiferromagnetic material layers of magnetic field sensors, objects of the present invention
  • FIGS. HA and HB represent alternative embodiments of a three-dimensional magnetic field sensor, object of the present invention.
  • FIGS. 12A and 12B schematically represent examples of balanced bodies of magnetic field sensors, objects of the present invention, according to particular embodiments,
  • FIGS. 13A to 13J and 14A to 14H show process steps for producing a magnetic field sensor, object of the present invention, according to particular embodiments.
  • FIGS. 1A and 1B An example of a magnetic field sensor 100 according to a first embodiment will be described in connection with FIGS. 1A and 1B, which respectively represent a view from above and a profile view of the sensor 100.
  • the sensor 100 is made from an SOI substrate comprising a stack formed by a semiconductor-based support layer 102, a dielectric layer 104 and a surface layer 106 also based on semiconductor.
  • the semiconductor of the layers 102 and 106 is, for example, monocrystalline or polycrystalline silicon.
  • the surface layer 106 could also be based on SiGe or any other type III-V material.
  • the dielectric layer 104 is for example based on SiO 2.
  • the sensor 100 could be made from another type of substrate (bulk, semiconductor on glass, etc.).
  • the sensor 100 comprises a body 108 forming a mobile part of the sensor 100 and comprising magnetic means capable of moving the body 108 under the action of a magnetic field.
  • the body 108 comprises a box 110 formed in the surface layer 106 and in which is disposed a ferromagnetic material 112 forming a permanent magnet and having a magnetization permanent direction B magnet (represented by an arrow parallel to the axis x in Figs. 1A and 1B) perpendicular to the direction of an external magnetic field B ext i (also represented by an arrow in Figs. 1A and 1B) that the sensor 100 is intended to detect.
  • the ferromagnetic material 112 is for example based on CoPt, or NdFeB or SmCo.
  • the ferromagnetic material 112 may be a soft ferromagnetic material with low coercivity, for example FeNi or CoFe.
  • the sensor 100 it is also possible for the sensor 100 to comprise magnetization means capable of magnetizing the ferromagnetic material 112 and thus forming an electromagnet. These magnetization means may comprise a coil, disposed on the body 108 or next to the sensor 100, to be traversed by a variable or constant current.
  • the body 108 is in the form of a rectangular parallelepiped whose first main face 118, called the lower face, lies in a plane passing through the face of the surface layer 106 in contact with the dielectric layer 104, and parallel to the plane (X, Y), and a second main face 120, opposite to the face lower 118, called upper face.
  • the lower faces 118 and upper 120 are parallel to a plane called plane of the sensor 100, itself parallel to the plane (X, Y).
  • the ferromagnetic material 112 also forms a rectangular parallelepiped block.
  • the sensor 100 is intended to detect a magnetic field B ext i having a single component perpendicular to the plane of the sensor 100.
  • the body 108 has, for example, dimensions along the X and Y axes between about a few micrometers , for example 20 microns, and 1 mm, and a thickness (dimension along the Z axis) equal to about 1 micron, or between about 0.1 microns and 10 microns, see a few tens of micrometers.
  • the block formed by the ferromagnetic material 112 has a width W (dimension along the y axis) which may be between a few micrometers and 500 microns, for example equal to about 10 microns, and a length L (dimension along the x axis) may be between about 20 microns and 500 microns, and for example equal to about 100 microns.
  • the aspect ratio L / W of the block formed by the ferromagnetic material 112 may be large and for example equal to or greater than about 5, especially when the ferromagnetic material 112 is a soft ferromagnetic material.
  • the body 108, and more precisely the box 110, is connected to a fixed part of the sensor 100, or embedding portion 114, formed by a portion of the surface layer 106, by two hinges 116.
  • the hinges 116 are portions of silicon etched in the surface layer 106, which have a rectangular parallelepiped shape and which have a thickness (dimension along the Z axis) of between about a few nanometers, or a few tens of nanometers, and a few micrometers, for example between about 50 nm and 500 nm.
  • the hinges 116 form a pivot connection axis parallel to the axis Y between the embedding portion 114 and the box 110.
  • Each of the hinges 116 is connected to an end of the same side of the box 110 perpendicular to the main faces 118 120.
  • the hinges 116 are disposed in the extension of the plane in which the lower surface 118 of the body 108 is located.
  • these hinges 116 can be connected to a height different from the body 108, for example in the extension of the plane in which is the upper face 120 of the body 108.
  • the sensor 100 comprises a void space 122 formed between the body 108 and the support layer 102, as well as between the hinges 116 and the support layer 102.
  • This empty space 122 corresponds to the space occupied by a portion of the dielectric layer 104. which was removed during the realization of the sensor 100.
  • the hinges 116 provide a mechanical support body 108, maintaining it in a plane parallel to the plane of the sensor 100.
  • the sensor 100 also comprises means 124 for detecting a displacement of the body 108 under the action of an external magnetic field Bexti directed perpendicular to the magnetization permanent direction B magnet and perpendicular to the plane of the sensor 100.
  • an external magnetic field Bexti directed perpendicular to the magnetization permanent direction B magnet and perpendicular to the plane of the sensor 100.
  • Such a magnetic field B ext i tends to subject the magnetic mass 112, and therefore to the body 108, a rotation about the axis of the pivot connection formed by the hinges 116 between the embedding portion 114 and the body 108.
  • this axis is parallel to the Y axis (and therefore perpendicular to B magnet and B ex ti) and passes through the junction between the hinges 116 and the recess portion 114, at the middle of the thickness of the hinges 116.
  • the hinges 116 are secured adjacent the two ends of the same side of the body 108, they prevent any external forces, for example due to accelerations experienced by the sensor 100 and oriented in the plane of the sensor 100, bring into rotating the body 108 in the plane of the sensor 100, that is to say preventing rotation of the body 108 along axes parallel to the Z and X axes.
  • the detection means 124 are here a strain gauge suspended between the embedding portion 114 and the upper face 120 of the body 108.
  • This strain gauge 124 is disposed in a plane which is substantially parallel to the plane of the sensor 100.
  • a space separates the strain gauge 124 hinges 116.
  • the strain gauge 124 could in this case case be suspended between the lower face 118 of the body 108 and the recess portion 114.
  • the detection means 124 and the hinges 116 are not arranged in the same plane parallel to the plane of the sensor 100 so that the means detection 124 can detect a displacement of the body 108 when subjected to the magnetic field B ex ti •
  • the rotational movement of the body 108 around the pivot axis formed by the hinges 116 results in the application of a force exerted on the strain gauge 124 which is perpendicular to the magnetic field B ext i and which is located in the plane of rotation of the body 108 (plane parallel to the plane (X, Z)).
  • this force represented by an arrow and designated by the reference Fi, puts the strain gauge 124 in tension since the rotation of the body 108 is directed in the direction of the magnetic field B ex
  • the strain gauge 124 would be subjected to a force directed in the direction opposite to the force Fi shown and which would put the strain gauge 124 in compression.
  • this sensor 100 intrinsically creates an amplification of the stresses on the gauge 124 because the suspended strain gauge 124, the hinges 116 and the body 108 form a lever arm structure.
  • the strain gauge 124 is piezoresistive type and is formed by a metal beam. This beam is here bent in the shape of a "U". Thus, two ends 123 of the beam 124 are disposed against the embedding portion 114 and mechanically connected (by a recess connection) to the embedding portion 114, and a substantially semicircular portion 125 formed by the folded area of the beam 124, the beam is disposed against the body 108 and mechanically connected (by a recess connection) to the body 108.
  • the strain gauge 124 here comprises two parts 127 disposed between the ends 123 and the shaped part 125 of a semicircle which are suspended between the recess portion 114 and the body 108 in a void space 129 formed between the body 108 and the recess portion 114 and in which are the two hinges 116.
  • the beam 124 Given the micrometric dimensions or nanometer of the beam 124, it can also be called micro-beam or nano-beam, or micro-wire or nano-wire.
  • the beam 124 has an initial resistance R, when B ex ti is zero, which varies by +/- ⁇ R when the beam 124 is put under compression or tension by a movement of the body 108 in the presence of a magnetic field B ext i not zero, the value of ⁇ R being proportional to the value of B ext i •
  • R initial resistance
  • the gauge of piezoresistive stress 124 could be formed by a beam based on a semiconductor material, or more generally based on any type of material having piezoresistive properties.
  • the sensor 100 comprises means 126 for measuring the electrical resistance of the strain gauge 124, here an ohmmeter, connected to two electrical contacts 128.
  • Each electrical contact 128 is formed by a metal portion disposed on the embedding zone 114. each electrical contact 128 being connected to one of the two ends of the strain gauge 124, that is to say to one of the two ends of the beam 124. It is thus possible to measure the variations ⁇ R of the resistance of the gauge. of constraint 124.
  • the sensor 100 therefore comprises magnetic field measuring means 124 which are suspended between the embedding portion 114, forming a fixed part of the sensor 100, and the body 108, forming a moving part of the sensor 100. These measuring means 124 are thus decorrelated from the structure sensitive to the magnetic field, that is to say the body 108 comprising the permanent magnet 112.
  • the sensor 100 therefore comprises three parts that, given the decorrelation between the measuring means 124 and the part sensitive to the magnetic field 108, being optimized independently of one another: a first part sensitive to the magnetic field and comprising the permanent magnet, that is to say the body 108, a second stress-sensitive part obtained when the first part is subjected to a magnetic field, that is to say the detection means 124, and a third part connecting the first part to an anchor or embedding portion, that is, the hinges 116.
  • This optimization can for example relate to the thicknesses (dimensions parallel to the Z axis) of each of these parts that can be chosen independently of each other.
  • FIGS. 2A and 2B An example of a magnetic field sensor 200 according to a second embodiment will be described in connection with FIGS. 2A and 2B, which respectively represent a view from above and a profile view of the sensor 200.
  • the senor 200 is made from an SOI substrate comprising the layers 102, 104 and 106 (not shown in FIG. 2A), and comprises the body 108, the portion recess 114, the strain gauge 124 and the measuring means 126.
  • the sensor 200 is not intended to detect a magnetic field perpendicular to the plane of the sensor 200 (similar to the plane of the sensor 100 and parallel to the plane (X, Y)) but a magnetic field B ext 2 oriented in the plane of the sensor 200, here parallel to the Y axis, and perpendicular to the magnetization direction B magnet .
  • the body is not intended to detect a magnetic field perpendicular to the plane of the sensor 200 (similar to the plane of the sensor 100 and parallel to the plane (X, Y)) but a magnetic field B ext 2 oriented in the plane of the sensor 200, here parallel to the Y axis, and perpendicular to the magnetization direction B magnet .
  • This magnetic field B ext 2 tends to subject the ferromagnetic material 112, and therefore to the body 108, to rotate about an axis perpendicular to the plane of the sensor 200.
  • this axis is parallel to the Z axis (and therefore perpendicular to B magnet and B ext 2) and passes through the junction between the hinge 216 and the recess portion 114.
  • the hinge 216 filled here the same role of mechanical support and pivot connection of the body 108 vis-à-vis the embedding portion 114 as the hinges 116 previously described.
  • the strain gauge 124 of the sensor 200 is made next to the hinge 216.
  • the strain gauge 124 in the presence of the magnetic field to be detected B ext 2 shown in FIGS. 2A and 2B (that is to say having a component parallel to the Y axis), the strain gauge 124 is set in compression by a force F 2 as shown in Figures 2A and 2B, from which it is possible to deduce the value of B ext 2 according to the same principle that the sensor 100 (measuring the variation of the electrical resistance of the strain gauge 124). If the component of the magnetic field to be detected is in the opposite direction to B ex t2, the strain gauge 124 is then tensioned by a force of direction opposite the force F 2 .
  • the detection means 124 comprise by a piezoresistive strain gauge formed by a suspended metal beam, but by a suspended semiconductor beam.
  • this beam is based on silicon and is formed by etching a portion of the surface layer of the SOI substrate from which the sensor 200 is made.
  • the silicon beam 124 is here substantially straight, and has a first end 123 mechanically connected (by a recess connection) to the embedding portion 114, a second end 125 mechanically connected (by a connection recess) to the box 110 of the body 108, and a central portion 127 which is suspended in the empty space 129 formed between the body 108 and the recess portion 114.
  • one of the electrical contacts 128 is here formed on a first portion of the embedding portion 114 near the first free end of the beam 124 and a second contact electrical 128 is formed on a portion of the recess portion 114 to which is connected the hinge 216.
  • FIG. 4 represents a view from above of the sensor 200 in a second variant of the second embodiment.
  • the detection means 124 do not comprise a piezoresistive strain gauge but a resonator 204, which can also be called a vibrating or vibrating beam, for example made by etching in the surface layer 106, and having a first end 203 mechanically connected (by a recess connection) to the embedding portion 114, a second end 205 mechanically connected (by a connection in detent) to the body 108, and a central portion 207 suspended between the embedding portion 114 and the body 108, in the empty space 129 formed between the body 108 and the embedding portion 114.
  • a resonator 204 which can also be called a vibrating or vibrating beam, for example made by etching in the surface layer 106, and having a first end 203 mechanically connected (by a recess connection) to the embedding portion 114, a second end 205 mechanically connected (by a connection in detent) to the body 108, and a central portion 207 suspended between the embedd
  • the detection means 124 further comprise two excitation electrodes 206 intended to vibrate the resonator 204, as well as a detection electrode 208 disposed between the two excitation electrodes 206 and intended to detect a variation of the vibration frequency of the resonator 204.
  • An electrical contact 128 is formed on each of the electrodes 206 and 208, and only on the embedding portion 114.
  • a voltage generator 202 delivering a DC component and an AC component, is connected to the two electrical contacts 128 formed on the excitation electrodes 206.
  • a voltmeter 210 is connected between the contact electrical 128 disposed on the detection electrode 208 and the mass (the embedding portion 114 is further connected to ground).
  • the vibration frequency of the resonator 204 equal to the frequency of the AC component of the voltage applied between the excitation electrodes 206, this voltage being slaved to the resonance frequency of the beam by the means of measuring the frequency variation, namely the voltmeter 210, is thus modified.
  • This frequency variation is detected by the detection electrode 208 and the voltmeter 210. From this measured frequency difference, it is then possible to deduce the value of B ex t2.
  • This sensor 300 comprises a first detection structure 100a similar to the sensor 100 previously described.
  • the sensor 300 also includes a second detection structure 100b having the same elements as the first detection structure 100a, but arranged in a different manner.
  • the bodies 108a and 108b of the two detection structures 100a and 100b are similar, the ferromagnetic materials 112a and 112b of the two structures 100a, 100b having the same magnetization direction (B magnet ) oriented parallel to the axis Z.
  • the other elements of the two detection structures 100a and 100b namely the recess portions 114a, 114b, the hinges 116a, 116b, the detection means 124a, 124b and the electrical contacts 128a, 128b are arranged axially symmetrical with the relative to each other along an axis perpendicular to the plane (X, Y) which is parallel to the plane of the sensor 300 and to the planes of the detection structures 100a and 100b.
  • the hinges 116a are connected to a first side of the body 108a in the first structure 100a
  • the hinges 116b are connected, in the second detection structure 100b, to a second side of the body 108b opposite a first side of the body 108b corresponding, by structural analogy, to the first side of the body 108a.
  • the sensor 300 makes it possible to carry out a differential measurement of a magnetic field.
  • the force Fi created which is similar in terms of orientation and value for the two detection structures 100a , 100b taking into account the same magnetization orientation B magnet of the two ferromagnetic materials 112a, 112b, results in a tensioning of the detection means 124a of the first detection structure 100a and a compression of the detection means 124b of the second detection structure 100b.
  • Such a differential sensor 300 has the advantage of not being sensitive to accelerations parallel to the magnetic field B ex ti intended to be measured because, in the presence of such acceleration, additional compression and tension is experienced, in addition to the force Fi created by the magnetic field B ext i, by one and the other of the two detection means 124a, 124b.
  • This additional compression and this tension being complementary with respect to each other, it is thus possible to deduce, from the measurements made by the ohmmeters 126a, 126b, the value of Fi while being free of the effects of the acceleration, and thus calculate the actual value of B ex ti •
  • FIGS. 6A and 6B respectively represent a view from above and a profile view of the sensor 400.
  • the sensor 400 comprises first detection means 124a, corresponding to the strain gauge 124 of the sensor 200, but also second detection means 124b, for example similar to the first detection means 124a.
  • These detection means 124a, 124b therefore each comprise a piezoresistive strain gauge formed by a metal bent bent "U" shaped and suspended between the body 108 and the embedding portion 114.
  • the hinge 216 is disposed between the first and the second detection means 124a, 124b. It can thus be seen that the strain gauges 124a, 124b are disposed on either side of the axis of rotation of the body 108 situated at the hinge 216.
  • this sensor 400 forms a differential magnetic field measuring structure.
  • the movement of the body 108 corresponding to a rotation of the body 108 about an axis perpendicular to the plane of the sensor 400, results in a force F2 compression applied to the first detection means 124a, and a force F 3 voltage applied to the second detection means 124b.
  • the sensor 500 is made from an SOI substrate comprising a stack formed by a semiconductor-based support layer 102, a dielectric layer 104 and a surface layer. 106 also based on semiconductor.
  • the sensor 500 comprises a body 508 comprising magnetic means.
  • the body 508 comprises a box 510 formed in the surface layer of the SOI substrate and in which is disposed a ferromagnetic material 512 forming a permanent magnet having a permanent magnetization direction B magnet perpendicular to the direction of an external magnetic field B ext 2 that the sensor 500 is intended to detect.
  • the ferromagnetic material 512 is for example similar in nature to the ferromagnetic material 112 previously described.
  • the body 508 has a rectangular parallelepiped shape of which a first main face, called lower face and not visible in Figure 7, is included in a plane passing through the face of the surface layer in contact with the dielectric layer, and parallel to the plane (X, Y), and a second main face 520, opposite to the lower face, called the upper face.
  • the lower and upper faces 520 are parallel to a plane called plane of the sensor 500 (parallel to the plane (X, Y)).
  • the body 508 further comprises a recess 509 whose section in a plane parallel to the plane (X, Y) has a substantially square shape.
  • An inner wall of the box 510 forms the contour of the recess 509, and an outer wall of the box 510 forms the outer contour of the body 508.
  • the body 508 is connected to a fixed portion of the sensor 500 called the embedding portion 514 and formed in particular by a portion of the surface layer disposed in the recess 509.
  • the connection between the body 508 and the embedding portion 514 is formed by four hinges 516a to 516d, for example similar to the hinge 216 previously described in connection with the 200 and 400.
  • each of the hinges 516a-516d connects one side of the embedding area 514 to a side of the inner wall of the box 510, at the recess 509.
  • the sensor 500 also comprises detection means comprising four piezoresistive strain gauges 524a to 524d, each formed by a metal beam bent in the shape of a "U” and suspended between one side of the box 510, at its inner wall delimiting the recess 509, and four corners of the recess portion 514.
  • the four piezoresistive strain gauges 524a-524d extend perpendicular to the direction of the magnetic field to be detected B ex t2, in the plane (X, Y).
  • the magnetic field B ext 2 tends to subject the ferromagnetic material 512, and thus to the body 508, to a rotation about an axis parallel to the axis Z, ie perpendicular to the plane of the sensor 500, and whose position in the plane of the sensor 500 corresponds substantially to the center of the embedding portion 514.
  • each of the piezoresistive strain gauges 524a-524d are connected to a pair of electrical contacts 528a-528d formed on the embedding portion 514.
  • one of the electrical contacts of each of the four gauges of FIG. piezoresistive stress 524a-524d is connected to a voltage generator Vi 530, the other four electrical contacts being connected to a voltmeter 532 measuring a voltage V 2 , thus forming a Wheatstone bridge.
  • V 1 (IxAXdRxR 3 - (- 2x4xdRxR 3 )) _ dR 2 ⁇ (4xdRxR 2 l4xdRxR 2 ) ⁇ 1 R
  • the value of B ex t2 is then deduced from the value of ⁇ R.
  • the magnetic field sensors 100 to 500 previously described perform a measurement of a magnetic field along a given axis, that is to say magnetic fields having a single component along an axis. It is also possible to make sensors performing a measurement of a magnetic field comprising components along 2 axes perpendicular to each other, that is to say realizing a magnetic field measurement in two dimensions ( 2D sensor). For this, a first structure similar to one of the previously described sensors capable of detecting the magnetic field B ex ti and a second structure similar to one of the previously described sensors capable of detecting the magnetic field B ext 2 which is perpendicular to B is produced on a first structure similar to one of the previously described sensors.
  • a 2D sensor is thus obtained comprising two measurement structures which correspond for example to the sensors 100 and 200, or 100 and 400, or 100 and 500, or else 300 and 200, or 300 and 400, or 300 and 500.
  • FIG. 8 An example of such a sensor 600 is shown in FIG. 8.
  • This sensor 600 comprises a first structure 602 similar to the sensor 100 previously described and able to measure a component B 6 X t A of the magnetic field to be measured parallel to the Z axis.
  • this first structure 602 could be similar to the sensor 300.
  • the sensor 600 further comprises a second structure 604 similar to the sensor 200 previously described and able to measure a component B ext B of the magnetic field parallel to the axis Y.
  • this second structure 604 could be similar to the sensor 400 or the sensor 500.
  • the sensor 600 also comprises a third structure 606 which has the same elements as the second structure 604, but which has undergone a 90 ° rotation in the plane (X, Y).
  • the strain gauge of this third structure 606, which undergoes a compression or tension force parallel to the Y axis, is therefore able to measure a component B ext c of the magnetic field parallel to the axis X.
  • the material ferromagnetic 608 of the body of this third structure has a magnetic orientation B magnet 2 perpendicular to the magnetic orientation B magnet i of the ferromagnetic materials 610 and 612 of the first and second structures 602 and 604, and parallel to the axis X.
  • This ferromagnetic material 608 can be obtained, during the production of the sensor 600, or by depositing a ferromagnetic material having from the beginning such a magnetic orientation and therefore different from the ferromagnetic materials 610 and 612, or by first depositing the same ferromagnetic material than that of the first and second structures 604 and 606 (the three portions of ferromagnetic material 608, 610 and 612 therefore have the orientation of magnetic magnet B magnet i), then by heating locally, by laser example, while applying a perpendicular magnetic field of a value lower than the coercivity field of the magnets at room temperature, the ferromagnetic material 608 in order to modify this magnetic orientation until obtaining the magnetic orientation B magnet 2
  • the third structure 606 of the sensor 600 may be replaced by the structure 614 shown in Figure 9A.
  • This structure 614 is similar to the first structure 602, except for the ferromagnetic material 616 of the third structure having a magnetic orientation imant3 B parallel to the axis Z.
  • Such a ferromagnetic material may be different at the origin of ferromagnetic materials 610 and 612, or be obtained by localized heating in a magnetic field of a ferromagnetic material similar to those of the first and second structures 602 and 604.
  • the third structure 606 of the sensor 600 can be replaced by the structure 618 shown in Figure 9B.
  • This structure 618 is similar to the structure 614, except that this structure 618 does not comprise ferromagnetic material or box. Indeed, unlike structures and Previously described sensors, this structure 618 comprises a body 622 here based on semiconductor, for example silicon, in the form of rectangular parallelepiped and dimensions for example similar to those of the body 108 described in connection with Figures IA and IB.
  • a coil 620 is disposed on the periphery of a main face of the body 622. Thus, when this coil 622 is traversed by a current and in the presence of the magnetic field B ex tc, the body 622 is subjected to a rotation force similar to that which the magnetic material 616 of the structure 614 undergoes.
  • the three structures 602, 604 and 606 comprise, in the respective body of each of the structures 602, 604 and 606, not a single ferromagnetic material 608, 610, 612 as is the case in the example shown in FIG. a stack of layers alternately comprising ferromagnetic material layers and antiferromagnetic material layers as shown in Figure 10A.
  • This stack can be formed so that each layer based on ferromagnetic material, referenced 902.1 - 902.4 in the example of Figure 10A, is disposed between two layers of antiferromagnetic material 904.1 - 904.5.
  • the ferromagnetic material may be a soft ferromagnetic material, having a high saturation magnetization, for example greater than about 1000 emu / cm (about 1.26 T).
  • a ferromagnetic material may be, for example, an alloy of Fe, Co, and Ni.
  • the antiferromagnetic material may be an Mn-based alloy, for example of the NiMn, or PtMn, or PdPtMn type. In other examples, the antiferromagnetic material may be FeMn, or IrMn, or NiO, or Fe 2 O 3 .
  • the layers of antiferromagnetic material 904.1 - 904.5 may have a thickness t '(dimension along the z axis shown in FIG. 10A) for example between approximately 2 nm and 50 nm, for example of the order of 20 nm.
  • the layers based on ferromagnetic material 902.1 - 902.4 may have a thickness t (dimension along the z axis shown in FIG. 10A) for example between about 2 nm and 40 nm, for example of the order of 10 nm.
  • This stack comprises for example a total number of layers of between approximately 8 and 50 (9 in the example of FIG.
  • the number of layers being adapted in particular as a function of the thicknesses t and t 'of the layers so that the stacking have a total thickness for example between about 100 nm and 600 nm, and for example substantially equal to about 100 nm.
  • each block formed by such a stack of layers has a width W (dimension along the y-axis of FIG. 10A, corresponding to the dimensions along the y-axis for the structures 602 and 604 represented in FIG. 8, and according to FIG. x-axis for the structure 606 of Figure 8) for example between about 20 microns and 500 microns, for example of the order of 20 microns, and a length L (dimension along the x-axis of Figure 10A, corresponding to the dimensions according to the x-axis for the structures 602 and 604 of FIG.
  • each block can be large and for example greater than or equal to 5.
  • one or more of these stackings of layers of the structures 602, 604 and 606 may be in the form of a set of sub-blocks, referenced 906.1 to 906.3 in an example of FIG. 10B, parallelepipedal rectangles, parallels and disjointed between them.
  • This width Wi is for example between about 0.25 ⁇ m and 10 ⁇ m, and preferably less than about 5 ⁇ m.
  • Such sub-blocks can be obtained by performing an engraving, for example of the IBE type (ionic etching), in the layers of stacked ferromagnetic and antiferromagnetic materials.
  • the stackings of ferromagnetic and antiferromagnetic material layers are intended to be oriented magnetically in a manner similar to the magnetic materials 608, 610 and 612 shown in FIG. 8, that is to say in the direction of magnetic orientation B magnet i for the structures 602 and 604, and in the direction of the magnetic orientation B magnet 2 for the structure 606, these two magnetic orientations B magnet i and B magnet 2 being perpendicular to each other.
  • a magnetic setting annealing is carried out, the temperature of which makes it possible to carry out a in order of the antiferromagnetic material.
  • the annealing step is performed at a temperature greater than or equal to the ordering temperature of this material.
  • This ordering temperature is typically greater than about 250 ° C.
  • the annealing step is carried out at a temperature above the blocking temperature or Néel temperature of this material, is typically between about 150 0 C and 250 0 C.
  • the annealing can be carried out for example at a temperature greater than 260 ° C. when the antiferromagnetic material is PtMn.
  • a magnetic field B is applied, oriented so as to form a non-zero angle, for example equal to approximately 45 °, with respect to magnetic orientations B magnet i and B magnet 2 •
  • the difficult axis is the axis for which the magnetic field applied to align the magnetization of the block, that is to say the stack of layers, is the most important, the magnetic field necessary to saturate the magnetization along the smallest dimension, that is to say the width W, of stacks of layers. In a case where stacks of layers of different widths are made, a magnetic field saturation greater than the saturation field of the stack of layers of smaller width is applied.
  • the saturating field applied can be much greater than said predetermined value, and can be for example of the order IT or 2T.
  • the intensity of the applied magnetic field is reduced, so that the applied magnetic field modulus projected along the x axis, corresponding to the axis in which the length of the layer stacks of the structures 602 and 604 is measured, is greater than or equal to a saturation field H L of the layer stacks of the structures 602 and 604, and the modulus of the applied magnetic field projected along the y axis, corresponding to the axis in which the length of the stack of layers of the structure 606 is measured, is greater than or equal to the saturation field H L of the stack of layers of the structure 606.
  • the module of the applied magnetic field projected along the y-axis is less than the saturation field of the stacks of layers of the structures 602 and 604 along their difficult axis of magnetization.
  • the modulus of the applied magnetic field projected along the x-axis is smaller than the saturation field along the difficult axis of magnetization of the stack of layers of the structure 606.
  • the modulus of the applied magnetic field projected along the y axis can be 20 times lower than the saturation field of the stack of layers of the structures 602 and 604 along their axis difficult to magnetize, to ensure an alignment of the magnetizations in the stacks of layers of the structures 602 and 604 at 5 ° of their main direction (direction parallel to their length L).
  • Hw 4 * ⁇ * Ms * t * t + WL 2 with: t: thickness of the set of layers based on ferromagnetic material for a stack;
  • M 3 saturation magnetization of the ferromagnetic material
  • L largest dimension of magnetic material layers, ie length
  • W the smallest dimension of the layers of magnetic materials, that is, the width.
  • the modulus of the projected field along the smallest dimension is preferably less than about 5% of H L to ensure alignment better than 5 ° with respect to the largest dimension and less than about 2% for alignment. better than 2 ° in relation to the largest dimension.
  • the magnetization in the stack of layers of the structure 602 will be misaligned about 20 ° with respect to its main direction while the misalignment will be only 5 ° in the stack layers of structure 604.
  • the annealing temperature is reduced in order to generate in each stack of layers, an exchange between the antiferromagnetic material and the ferromagnetic material, which finally freeze the magnetization directions.
  • structures 602 and 604 are obtained each comprising a stack of layers of ferromagnetic and antiferromagnetic materials having an identical magnetization orientation in a direction that may be substantially parallel to that of the x axis or differ from less than 5 ° from that of the x-axis, while the structure 606 may comprise a stack of ferromagnetic and antiferromagnetic material layers having a different orientation magnetization, which is substantially orthogonal to that of the layer stacks of the structures 602 and 604.
  • the first structure 602 makes it possible to measure the component B ext A of the magnetic field which is parallel to the axis z and the second structure 604.1 makes it possible to measure the component B ext B of the magnetic field which parallels the axis there.
  • This sensor 600 further comprises a third structure 604.2, similar to the second structure 604.1.
  • This third structure 604.2 is coupled to a magnetic flux guide 650 for redirecting the component B ext c of the magnetic field in a direction perpendicular to the magnetization direction B magnet i of the magnetic material 612 of the third structure 604.2, namely in parallel to the y axis, allowing the third structure to measure the component B ex tc of the magnetic field.
  • the flow guide 650 is made from soft ferromagnetic material and has a structure for redirecting the parallel magnetic field lines to the x axis in magnetic field lines parallel to the y axis.
  • the magnetic flux guide 650 comprises a funnel-shaped input element 652 having an input of width equal to Ly and an output of width equal to Lx corresponding to the length (dimension along the x axis) of the block formed by the magnetic material 612.
  • the input element 652 is connected to a first elbow member 654 which forms a 90 ° angle and makes it possible to reorient parallel to the y-axis the magnetic field lines which are input into the element d This reoriented magnetic field can then be measured by the third structure 604.2.
  • the magnetic flux guide 650 also comprises a second elbow element 656 for reorienting the field lines parallel to the x axis, these reoriented lines then being "discharged" by an inverted funnel-shaped output member 658, having an input of width equal to Lx and an output of width equal to Ly.
  • the different elements of the magnetic flux guide 650 form a symmetrical structure around the third structure 604.2.
  • the input element 652 of the magnetic flux guide 650 makes it possible to amplify the field lines substantially proportional to the ratio Ly / Lx, which may be for example equal to approximately 5.
  • magnetic flux guide 650 makes it possible to produce a tri-axis sensor from structures that can all be made from a magnetic material of the same magnetic orientation (B magnet i in the example of FIG. HA).
  • the third structure 604.2 coupled to the magnetic flux guide 650 makes it possible to measure the component B ex tc of the magnetic field.
  • the third structure 604.2 is sensitive to the B 6 X t B component of the magnetic field as well as to a possible acceleration parallel to the y axis.
  • the sensor 600 can be produced according to another variant represented on Figure HB.
  • the sensor 600 shown in Figure HB it comprises the structure 602 and three structures similar to the structure 604 of Figure 8, referenced 604.1, 604.2 and 604.3 in Figure HB.
  • the first structure 602 makes it possible to measure a component B 6 X t A of the magnetic field to be measured parallel to the Z axis and the second structure 604.1 makes it possible to measure a component B ext B of the magnetic field parallel to the Y axis.
  • the other two structures 604.2 and 604.3 operate differentially to measure the B extc component of the magnetic field.
  • these two structures 604.2 and 604.3 are coupled to a flux guide 660.
  • the flux guide 660 comprises a first input element 662.1 and a first elbow element 664.1, for example similar to the input element 652 and to the first elbow member 654 previously described in connection with Figure HA, the first elbow member 664.1 for bringing the reoriented field lines parallel to the y-axis in the third structure 604.2.
  • the flux guide 660 comprises a second input element 662.2 and a second elbow element 664.2 making it possible to redirect field lines of the component B ex tc of the field magnetic parallel to the y-axis and in a direction opposite to that of the reorientation carried out by the first input element 662.1 and the first elbow element 664.1.
  • the flux guide 660 also comprises a third element 666 making it possible to reorient the outgoing field lines of the structures 604.2 and 604.3 and to route them to an output element 668, for example similar to the output element 658 previously described in connection with FIG. figure HA.
  • the body connecting elements and the strain gauges of the third and fourth structures 604.2 and 604.3 are arranged on the same side of the body so that the assembly formed by the third and fourth structures 604.2 and 604.3 as well as the guide magnetic flux 660 is insensitive to the component B ext B of the magnetic field and to an acceleration parallel to the y axis.
  • the input element or elements of the flux guides 650 and 660 can also be made in a non-flared manner, these elements comprising in this case a uniform width Lx.
  • the flux guides 650 and 660 perform a reorientation of the field lines without prior amplification.
  • the input element (s) it would also be possible for the input element (s) to be made in a non-flared manner, but for the bent element (s) of the flux guides to comprise a flared part in order to amplify, not field lines, according to the B ex component. tc of the magnetic field, but an amplification of the field lines reoriented parallel to the y axis.
  • the sensors described above are made in surface technology from an SOI substrate, thus allowing these sensors to be made completely integrated into the SOI substrate.
  • the bodies of these sensors comprising a ferromagnetic material disposed in a box may be replaced by monolithic bodies each comprising a coil disposed on one of the main faces of the body, similarly to the structure 618 detection described above.
  • the bodies of the previously described sensors may not comprise a box in which a ferromagnetic material is arranged, but may be formed by several layers of magnetic material stacked on top of one another.
  • the ferromagnetic material or materials used may be hard or soft.
  • this material it is also possible for this material to be arranged in the form of a stack of layers based on ferromagnetic and antiferromagnetic materials, as previously described in a variant. embodiment of the sensor 600.
  • this sensitive quantity can be varied at a frequency substantially close to a mechanical resonance frequency of the body of the sensor, making it possible to resonate the body of the sensor and to amplify the force exerted on the sensor detection means by the quality factor of the mechanical resonator thus formed.
  • the bodies of these sensors may have a shape such that the center of gravity of the body is substantially at the pivot axis of the connecting means of the sensor.
  • a first embodiment of such a body 702 is shown schematically in Figure 12A.
  • the magnetic means although not shown in this figure, are distributed in a balanced and homogeneous manner on and / or in the body 702.
  • the body 702 has a shape, in the plane (x, y), substantially rectangular, the dimension along the x-axis is greater than that along the y-axis, having a recess 704 forming an access to the center of gravity of the body 702.
  • the body 702 has a shape of "U" whose center of gravity is substantially at a wall 705 revealed by the recess 704.
  • the body 702 is connected to a hinge 706 substantially at its center of gravity (by the wall 705), this hinge 706 being intended to be also connected to an embedding zone of the sensor, not shown in FIG. 12A.
  • Two strain gauges 708a, 708b of the sensor comprising the body 702 are also connected to the wall 705 of the body 702.
  • Such a body 702 forms a mass balanced around the connecting axis of the hinge 706 (axis parallel to the axis z) and can for example be used in the sensor 400 previously described, instead of the body 108, to detect a magnetic field oriented along the y axis.
  • FIG. 12B A second embodiment of such a body 802 is shown schematically in Figure 12B.
  • the magnetic means are not represented but are for example distributed homogeneously and balanced on and / or in the body 802.
  • the body 802 has a shape, in the plane (x, y), substantially rectangular.
  • the body 802 has a central recess 804 in which is disposed an embedding zone 807 of the sensor connected to the body 802 by two hinges 806 forming a connecting axis parallel to the y-axis substantially at the center of gravity of the body 802.
  • the body 802 further comprises two other recesses 804b in which strain gages 808a, 808b are arranged and connected to the body 802.
  • Such a body 802 forms a balanced mass around the connecting axis formed by the hinges 806 and can for example be used in the sensor 100 previously described, instead of the body 108, in order to detect a magnetic field oriented according to the z axis.
  • Such encapsulation can also protect ferromagnetic materials used such as NdFeB or SmCo which are sensitive to corrosion and chemical attack, and mechanically fragile. Such encapsulation can be carried out analogously to conventional MEMS device encapsulation.
  • vacuum encapsulation of the previously described sensors reduces Brownian noise. Magnetic materials can in this case be protected by passivation layers.
  • all the previously described sensors may comprise a stress amplification cell comprising for example at least two rigid arms mechanically connected to each other by at least one connecting element at a first end, a second end of a first of the two rigid arms being mechanically connected to the body, a second end of a second of the two rigid arms being connected to an embedding zone, said connecting element, or the first ends of the two rigid arms , being mechanically connected to one end of the suspended strain gauge (this end corresponding to that connected to the body of the previously described sensors).
  • a stress amplification cell may in particular be made in the plane of the sensor, for example in the surface layer of the SOI substrate from which the sensor is made.
  • FIGS. 13A to 13J side views
  • the sensor 100 is made from an SOI substrate comprising the layers 102, 104 and 106 previously described.
  • the layer 102, 104 and 106 previously described.
  • the layer 102, 104 and 106 previously described.
  • the SiO 2 layer 104 has a thickness equal to about 750 microns
  • the SiO 2 layer 104 has a thickness equal to about
  • a layer 107 based on SiN is further deposited on the surface layer 106, for example by LPCVD (low pressure chemical vapor deposition). This layer 107 is intended to form an etching mask.
  • a lithography and etching for example DRIE (Deep Reactive Ion Etching), is then performed in the surface layer 106 to release portions of the surface layer 106 for forming the hinges 116 (FIG. 13B). This etching is performed with a stop on the dielectric layer 104.
  • the portions of the surface layer 106 are then thinned to form the hinges 116.
  • This thinning is performed until the thickness (dimension along the Z axis) desired for the hinges 116 is obtained.
  • This thinning is performed when the hinges have a thickness less than that of the body of the sensor, as is the case for the sensors 100 and 300. However, when one of the sensors 200, 400 or 500 is realized in which the thickness of the hinge is substantially equal to that of the body, this thinning step is not implemented.
  • a plug oxide 109 for example phosphosilicate glass, is then deposited on the entire device in order to temporarily fill the empty spaces around the hinges 116.
  • the capping oxide on the SiN layer 107 is then removed. for example by chemical mechanical planarization with a stop on the SiN layer 107 in order to keep only the capping oxide 109 found in the cavities formed in the surface layer 106 by the previous etching step (FIG. 13D).
  • lithography and time etching for example DRIE, are carried out in the silicon surface layer 106 with a stop in the silicon surface layer 106 to form a location 111 in which the ferromagnetic material 112 of the sensor 100 is intended to be deposited.
  • the ferromagnetic material is then deposited over the entire device to fill the slot 111.
  • the ferromagnetic material on the SiN layer 107 is then removed for example by a chemical mechanical planarization with a stop on the SiN layer 107. in order to retain only the ferromagnetic material 112 in the location 111 ( Figure 13F).
  • the annealing and magnetization of the ferromagnetic material 112 are then carried out in order to define the direction of magnetization B magnet of the material
  • a passivation layer 113 for example based on SiN and for example of thickness equal to about 0.3 ⁇ m, is then deposited on the device, except at the location at the level of which the strain gauge is intended to be suspended
  • openings are then made in the protective layer 115 and in particular above the free ends of the strain gauge 124 in order to make the electrical contacts 128 by deposition of metallizations, and also to perform a deep etching. in the surface layer 106 in order to delimit and form the contour of the box 110.
  • an etching of the oxide present on the device that is to say the protective layer 115, as well as the oxide of plugging 109 and the portion of the SiO 2 layer 104 under the box 110 and under the hinges 116, thus releasing the body 108 and the hinges 116 from the rest of the sensor 100 (Figure 13J).
  • FIGS. 14A to 14H profile views
  • piezoresistive formed by a silicon beam in its variant described with reference to FIG. 3, that is to say comprising a gauge.
  • the senor is made from an SOI substrate comprising the layers 102, 104 and 106 previously described.
  • the silicon layer 102 has a thickness equal to about 750 ⁇ m
  • the SiO 2 layer 104 has a thickness equal to about 0.4 ⁇ m
  • the silicon surface layer 106 has a thickness equal to about 200 nm. .
  • Etching is performed in the surface layer 106 to form the piezoresistive gauge 124, that is to say here a nanoscale silicon.
  • an oxide deposit is then produced on the device, thus filling the zones previously etched in the layer 106 defining the piezoresistive strain gauge 124. This oxide is then etched so as to retain only a portion 117 at the level of the piezoresistive gauge 124.
  • a thick epitaxy of the silicon layer 106 is then made, covering in particular the oxide portion 117, then the deposition of a passivation layer 107, here based on SiN, on the epitaxial layer 106 (FIG. 14C).
  • a passivation layer 107 here based on SiN
  • lithography and time etching are carried out by example DRIE, in the epitaxial silicon layer 106, with a stop in the epitaxial silicon layer 106, to form the slot 111 in which the ferromagnetic material 112 of the sensor 200 is intended to be deposited (FIG. 14D).
  • the ferromagnetic material is then deposited on the entire device in order to fill in particular the location 111.
  • the ferromagnetic material lying on the SiN layer 107 is then removed for example by a mechanical-chemical planarization with a stop on the SiN layer. 107 in order to retain only the ferromagnetic material 112 in the location 111.
  • Annealing and magnetization of the ferromagnetic material 112 is then performed in order to define the magnetization direction B magnet of the material 112, here parallel to the axis X.
  • a passivation layer 113 for example based on SiN and for example with a thickness of about 0.3 ⁇ m, is then deposited on the device (FIG. 14E).
  • Portions of the passivation layer 113 are then etched and the electrical contacts 128 are then made by depositing metal layers and etching at the portions previously etched in the passivation layer 113 (FIG. 14F).
  • etching is then carried out in the passivation layer 113 and in the epitaxial silicon layer 106 in order to define the box 110 as well as the hinge (not referenced) intended to mechanically connect and form the pivot connection between the box 110 and the rest of the box.
  • device Figure 14G.
  • Portions of the dielectric layer 104 as well as the oxide portion 117 are then etched, for example by wet etching, to release the box 110, the strain gauge 124 and the hinge from the rest of the sensor 200 (FIG. 14H). . It is also possible to subsequently remove, for example by etching, the passivation layer 113.

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Abstract

Capteur (100) de champ magnétique comportant au moins : - un corps (108) comprenant des moyens magnétiques (112) aptes à former un couple s' exerçant sur le corps sous l'action d'un champ magnétique extérieur à détecter, - des moyens de liaison (116), distincts du corps, reliant mécaniquement le corps à une portion d'encastrement (114) du capteur par au moins une liaison pivot d'axe perpendiculaire à la direction du champ magnétique à détecter, - des moyens de détection d'une contrainte exercée par le corps sous l'action du couple, distincts des moyens de liaison, comportant au moins une jauge de contrainte suspendue (124) ) dont une première partie (123) est reliée mécaniquement à la portion d'encastrement, une deuxième partie (125) étant reliée mécaniquement au corps, et dont une troisième partie (127) disposée entre la première et la deuxième partie est suspendue entre la portion d'encastrement et le corps.

Description

CAPTEUR DE CHAMP MAGNETIQUE A JAUGE DE CONTRAINTE
SUSPENDUE
DESCRIPTION
DOMAINE TECHNIQUE
L' invention concerne le domaine des capteurs magnétiques, et plus particulièrement celui des dispositifs et procédés pour la mesure de champs magnétiques, mono ou multi axes, par un capteur miniature de type MEMS ou NEMS.
Les applications visées sont par exemple la mesure du champ magnétique terrestre pour reconstituer une orientation (application de type boussole) , mais également toutes les applications qui font appel à une mesure de champ magnétique (mesure de courant à distance par exemple) .
ÉTAT DE LA TECHNIQUE ANTÉRIEURE
De nombreuses technologies, basées sur différents principes physiques, ont été développées pour réaliser une mesure de champ magnétique par un capteur miniature. On peut citer notamment les capteurs à effet Hall, les capteurs GMR (à magnétorésistance géante) , les capteurs AMR (à magnétorésistance anisotrope) , les capteurs fluxgate ou magnétométriques, les capteurs à force de Lorentz ou les capteurs à matériaux magnétiques.
Un des problèmes fréquemment rencontrés concerne la fabrication d'un capteur apte à réaliser une mesure de champ magnétique selon plusieurs axes. Des capteurs mesurant les composantes d'un champ magnétique selon 2 axes se trouvant dans le plan du capteur ont déjà été réalisés. Mais dès que l'on souhaite réaliser en plus une mesure de la composante verticale du champ magnétique (composante perpendiculaire au plan du capteur) , la réalisation d'un tel capteur devient beaucoup plus complexe, en particulier si l'on souhaite que ce capteur réalise également la mesure des composantes du champ magnétique se trouvant dans le plan du capteur.
De plus, certains types de capteurs ne sont pas adaptés pour réaliser certaines mesures de champ magnétique. Par exemple, pour réaliser une mesure du champ magnétique terrestre, les capteurs à effet Hall ont des résolutions trop faibles pour déterminer avec précision la direction de ce champ magnétique. Les capteurs GMR présentent quant à eux une hystérésis et réalisent une mesure non linéaire à bas champ
(inférieure à environ 100 μT) incompatible avec une mesure du champ magnétique terrestre (égal à environ 50 μT) .
D' autres types de capteurs présentent également une consommation électrique importante, comme par exemple les capteurs AMR et fluxgate, ce qui peut être un inconvénient, par exemple lorsque ces capteurs sont destinés à être utilisés dans des applications embarquées .
Les capteurs à force de Lorentz présentent, lorsque l'on souhaite réaliser une mesure précise d'un champ magnétique tel que le champ magnétique terrestre, des tailles importantes. De plus, leur fonctionnement en mode résonant nécessite des facteurs de qualité importants qui ne peuvent être obtenus que par un packaging sous vide coûteux.
Par rapport aux capteurs à force de Lorentz, les capteurs à matériaux magnétiques dures ne nécessitent pas de courant pour qu'une force ou un couple soit créé en présence d'un champ magnétique, ce qui représente un avantage en termes de consommation électrique. Toutefois, les capteurs à matériaux magnétiques existants présentent d'autres inconvénients majeurs : détection selon seulement 1 ou 2 axes, capteur non intégré, trop grande sensibilité aux accélérations, ou encore trop faible sensibilité de détection de champ magnétique.
EXPOSÉ DE L'INVENTION
Un but de la présente invention est donc de proposer un capteur de champ magnétique fortement intégré et compact, par exemple entièrement réalisable en technologie microsystème ou nanosystème, c'est-à- dire de type MEMS ou NEMS, autorisant une détection de champ magnétique mono-axe ou multi-axes, peu sensible aux accélérations et de forte sensibilité magnétique.
Pour cela, l'invention propose un capteur de champ magnétique comportant au moins :
- un corps comprenant des moyens magnétiques aptes à former un couple s' exerçant sur le corps sous l'action d'un champ magnétique extérieur à détecter, des moyens de liaison, distincts du corps, reliant mécaniquement le corps à une portion d'encastrement du capteur par au moins une liaison pivot d'axe perpendiculaire à la direction du champ magnétique à détecter, des moyens de détection d'une contrainte exercée par le corps sous l'action du couple, distincts des moyens de liaison, comportant au moins une jauge de contrainte suspendue dont au moins une première partie est reliée mécaniquement à la portion d'encastrement, au moins une deuxième partie étant reliée mécaniquement au corps, et dont au moins une troisième partie disposée entre la première et la deuxième partie est suspendue entre la portion d'encastrement et le corps.
Un tel dispositif permet notamment de réaliser la mesure des composantes du champ magnétique terrestre (égales à environ 50μT) avec une bonne précision d'orientation (typiquement inférieure à environ 1°) . De plus, un tel capteur peut être utilisé dans une application portable et autonome compte tenu de son encombrement réduit, de sa faible masse et de sa consommation électrique potentiellement faible selon les moyens de détection utilisés.
Ce dispositif s'applique également à d'autres types de mesure de champ magnétique, tel que la mesure d'un courant à distance. Un tel capteur comporte plusieurs parties distinctes : le corps, les moyens de liaison et les moyens de détection. Dans ce capteur, la jauge de contrainte est suspendue entre la portion d'encastrement et le corps. Pour cela, au moins deux parties (par exemple des parties d'extrémité) de la jauge sont reliées mécaniquement (par exemple par une liaison encastrement) à la portion d'encastrement et au corps. Ainsi, au moins une troisième partie de la jauge de contrainte se trouve suspendue entre ces deux éléments, cette troisième partie étant en contact avec aucun élément du capteur, et n'est notamment pas en contact avec les moyens de liaison.
Etant donné que les moyens de détection du champ magnétique sont suspendus, c'est-à-dire décorrélés du corps comportant les moyens magnétiques et du reste du capteur, il est possible d'optimiser indépendamment les unes des autres les différentes parties du capteur, à savoir le corps, les moyens de détection et les moyens de liaison. En particulier, il est possible de réaliser ces trois parties telles qu'elles aient des épaisseurs différentes. Il est également possible de positionner ces moyens de détection à différents endroits et de choisir l'emplacement des moyens de détection afin qu'ils puissent réaliser une bonne mesure de la contrainte exercée par le corps.
De plus, en réalisant la jauge de contrainte telle qu'elle soit suspendue entre la portion d'encastrement et le corps, il est possible de réaliser cette jauge telle que sa section soit la plus réduite possible, ce qui permet d'optimiser la sensibilité de détection de celle-ci. En faisant appel à une jauge de contrainte suspendue, et non implantée dans un élément du capteur, on évite également l'apparition de courants de fuite qui apparaîtraient si la jauge de contrainte était réalisée par implantation de dopants dans un élément du capteur, par exemple sur les moyens de liaison.
De plus, étant donné que la mesure du champ magnétique est réalisée par la jauge suspendue, c'est- à-dire un moyen décorrélé de la partie sensible au champ magnétique, à savoir le corps, la structure du capteur peut créer intrinsèquement, en fonction du design de celui-ci, une amplification de contrainte sur la jauge suspendue, améliorant ainsi la sensibilité de la mesure réalisée.
Il est également proposé un capteur de champ magnétique comportant au moins :
- un corps comprenant des moyens magnétiques aptes à former un couple s' exerçant sur le corps sous l'action d'un champ magnétique extérieur à détecter,
- des moyens de liaison reliant mécaniquement le corps à une portion d'encastrement du capteur par au moins une liaison pivot d'axe perpendiculaire à la direction du champ magnétique à détecter, - des moyens de détection d'une contrainte exercée par le corps sous l'action du couple, comportant au moins une jauge de contrainte suspendue entre la portion d'encastrement et le corps.
La jauge de contrainte suspendue peut être disposée en dehors de l'axe de la liaison pivot et/ou perpendiculairement à l'axe de la liaison pivot.
Ainsi, dans le cas d'un couple d'axe perpendiculaire au plan du corps, la jauge de contrainte peut être de préférence décalée, au moins dans ledit plan du corps, par rapport à l'axe de la liaison pivot. Dans le cas d'un couple d'axe situé dans le plan du corps, la jauge de contrainte peut être de préférence disposée dans au moins dans un plan perpendiculaire à celui du corps et décalée par rapport à l'axe de la liaison pivot. Les moyens magnétiques peuvent comporter un matériau ferromagnétique, de préférence dur, dont la direction d' aimantation est perpendiculaire à la direction du champ magnétique à détecter et à l'axe de la liaison pivot. De tels moyens magnétiques ont notamment pour avantage de fonctionner sans électricité, participant ainsi à réduire la consommation électrique du capteur.
Le matériau ferromagnétique peut par exemple être du CoPt, ou du NdFeB, ou encore du SmCo. Ces matériaux ont notamment pour avantage de présenter une forte coercivité, par exemple supérieure à environ 0,1 T, ce qui implique qu'ils n'ont pas besoin d'être ré-aimantés durant la vie du capteur, contrairement aux couches magnétiques présentes dans les capteurs de type AMR de l'art antérieur.
Dans une variante, le matériau ferromagnétique peut être un matériau ferromagnétique doux, c'est-à-dire présentant une faible coercivité, par exemple inférieure ou égale à environ 1 mT, et par exemple à base de FeNi ou de CoFe. L'aimantation d'un matériau ferromagnétique doux varie en fonction du champ magnétique extérieur, en particulier en fonction du champ magnétique à mesurer. Ainsi, lorsque les moyens magnétiques comportent un matériau ferromagnétique doux, le corps comprenant les moyens magnétiques peut avoir une forme allongée dans une direction orthogonale à la direction du champ magnétique à mesurer, induisant une anisotropie dite « de forme » dans ladite direction orthogonale à la direction du champ magnétique à mesurer. Le rapport longueur/largeur de cette forme allongée peut être supérieur ou égal à 5. De plus, étant donné que la mesure d'un champ magnétique à partir d'un matériau ferromagnétique doux est non-linéaire, il est possible de minimiser cette non-linéarité en maximisant le champ d' anisotropie de forme (qui dépendra de la forme et des propriétés du matériau magnétique) de sorte qu'il soit très grand, par exemple d'un rapport supérieur ou égal à 100, par rapport aux champs à mesurer.
Pour minimiser la non-linéarité de la mesure d'un champ magnétique réalisée à partir d'un matériau ferromagnétique doux, il est également possible, lorsque les moyens magnétiques comportent un matériau ferromagnétique doux, que le capteur puisse comporter également des moyens d' aimantation dudit matériau ferromagnétique aptes à aimanter le matériau ferromagnétique doux par un champ magnétique de polarisation qui peut être fixe ou variable, et tels que le matériau ferromagnétique et ces moyens d' aimantation soient destinés à former un électroaimant. Ces moyens d'aimantation peuvent comporter au moins une bobine destinée à être parcourue par un courant constant ou variable, cette bobine pouvant être intégrée à la structure et positionnée sur le corps du capteur, ou être par exemple extérieure aux autres éléments du capteur et de dimensions macroscopiques . Enfin, il est également possible que le matériau ferromagnétique doux présente des propriétés analogues à un matériau ferromagnétique dur, c'est-à- dire qu' il ait une aimantation ne variant pas en fonction du champ magnétique extérieur, en disposant le matériau ferromagnétique dans un empilement de couches particulier. En effet, les moyens magnétiques peuvent comporter un empilement d'une ou plusieurs couches de matériau ferromagnétique disposées de manière alternée avec une ou plusieurs couches de matériau antiferromagnétique. Dans une telle variante, chaque empilement de couches peut former un ensemble de blocs parallèles et disjoints entre eux. Ces blocs peuvent être de forme parallélépipédique rectangle, chaque bloc pouvant comporter une portion de chaque couche de l'empilement. De plus, lorsque ces blocs sont de forme allongée parallèlement à la direction de l'axe d'aimantation, cela introduit une anisotropie de forme dans une direction orthogonale à la direction du champ magnétique à mesurer.
Dans une autre variante, les moyens magnétiques peuvent comporter au moins une bobine destinée à être traversée par un courant électrique dans un plan permettant de générer un champ magnétique induit de direction perpendiculaire à la direction du champ magnétique à détecter.
Dans les cas où les moyens magnétiques ont leur grandeur sensible au champ à mesurer qui est potentiellement variable de manière maitrisée (par exemple, lorsque les moyens magnétiques comportent au moins un matériau ferromagnétique doux disposé dans un champ de polarisation variable, la grandeur sensible correspondant dans ce cas à l'aimantation du matériau ferromagnétique, ou lorsque les moyens magnétiques comportent au moins une bobine destinée à être parcourue par un courant variable, la grandeur sensible correspondant dans ce cas au courant de la bobine) , il est possible de faire varier cette grandeur sensible à une fréquence sensiblement proche d'une fréquence de résonance mécanique du corps du capteur, permettant de faire entrer en résonance le corps du capteur et amplifier la force s' exerçant sur les moyens de détection du capteur par le facteur de qualité du résonateur mécanique ainsi formé (qui peut être supérieur à 100000) . Ainsi, il est possible de démultiplier la sensibilité du capteur par ce facteur de qualité.
Le corps peut comporter un caisson dans lequel sont disposés les moyens magnétiques ou une face sur laquelle sont disposés les moyens magnétiques. Ainsi, le corps peut comporter un caisson dans lequel le ou les matériaux ferromagnétiques sont disposés ou une face sur laquelle est disposée la bobine.
Les moyens de liaison peuvent comporter au moins une charnière. De préférence, cette charnière peut avoir une épaisseur inférieure ou égale à celle du corps.
Le corps peut être de forme sensiblement parallélépipédique rectangle. Le corps peut comporter deux faces principales parallèles, ou en regard, l'une par rapport à l'autre, la charnière pouvant être reliée à une autre face du corps sensiblement perpendiculaire aux deux faces principales du corps. La jauge de contrainte suspendue peut être de type piézorésistif et comporter au moins une poutre, par exemple droite, à base d'un matériau semiconducteur ou au moins une poutre à base d'un matériau métallique, par exemple pliée en forme de U, de grecque, ou encore de serpentin.
En mettant en œuvre une détection de type piézorésistif, le capteur peut fonctionner à pression ambiante et ne nécessite donc pas d' encapsulation . Les moyens de détection peuvent comporter en outre des moyens de mesure de la résistance électrique de la jauge de contrainte suspendue.
La jauge de contrainte suspendue peut être de type résonateur et comporter au moins une poutre vibrante, les moyens de détection pouvant comporter en outre des moyens d'excitation de la poutre vibrante et des moyens de mesure d'une variation de la fréquence de vibration de la poutre. Ainsi, en réalisant une telle détection, mettant en œuvre par exemple une détection capacitive de la fréquence de résonance de la poutre vibrante, la consommation électrique du capteur reste faible. On entend par poutre vibrante aussi bien une poutre de forme sensiblement longitudinale qu'une poutre d'une toute autre forme, par exemple en forme de diapason.
Les moyens d'excitation de la poutre vibrante peuvent comporter au moins un générateur de tension à composantes continue et/ou alternative relié électriquement à au moins une électrode d'excitation couplée à la poutre vibrante, et les moyens de mesure d'une variation de la fréquence de vibration de la poutre peuvent comporter au moins des moyens de mesure d'une variation de fréquence du potentiel électrique d' au moins une électrode de détection couplée à la poutre vibrante. Les moyens de mesure de la variation de la fréquence de vibration peuvent être des moyens piézorésistifs.
Dans une variante, le capteur peut comporter en outre au moins une seconde jauge de contrainte suspendue entre la portion d'encastrement et le corps, les deux jauges de contrainte suspendues pouvant être disposées de part et d'autre de l'axe de la liaison pivot. Cette variante permet notamment de réaliser une détection différentielle de champ magnétique et d'obtenir ainsi une meilleure précision de mesure du champ magnétique. De préférence, les jauges de contrainte peuvent être disposées de manière symétrique par rapport à l'axe de la liaison pivot.
Le capteur peut comporter au moins une jauge de contrainte suspendue entre la portion d'encastrement et le corps montée en point de Wheatstone. Lorsque le capteur comporte plusieurs jauges de contrainte suspendues, une ou plusieurs de ces jauge de contrainte peuvent être montées en pont de Wheatstone. Dans le cas où une seule jauge de contrainte est montée en pont de Wheatstone, les autres résistances du pont de Wheatstone peuvent être des résistances de référence.
Dans une autre variante, le capteur peut comporter en outre : - un second corps comprenant des seconds moyens magnétiques aptes à former un second couple s' exerçant sur le second corps sous l'action du champ magnétique à détecter de manière sensiblement similaire au premier corps, des seconds moyens de liaison reliant mécaniquement le second corps à une portion d'encastrement du capteur par au moins une liaison pivot d'axe perpendiculaire à la direction du champ magnétique à détecter,
- des seconds moyens de détection d'une contrainte exercée par le second corps sous l'action du second couple, comportant au moins une seconde jauge de contrainte suspendue entre la portion d'encastrement et le second corps et destinée à travailler de manière différentielle en compression ou tension par rapport à la première jauge de contrainte suspendue travaillant respectivement en tension ou en compression.
Ce montage différentiel permet, de part la détection différentielle réalisée par le capteur, de décorréler un signal (en compression ou en tension) provenant d'une accélération d'un signal provenant d'un couple exercée sur les corps sous l'action d'un champ magnétique extérieur.
Dans une autre variante, le corps du capteur, par exemple de forme sensiblement parallélépipédique rectangle, peut comporter deux faces principales parallèles, ou en regard, l'une par rapport à l'autre, et par exemple de forme sensiblement carrée, et comporter un évidement traversant les deux faces principales, les sections dans les plans passant par les deux faces principales pouvant par exemple avoir une forme sensiblement carrée, l' évidement pouvant être centré par rapport aux sections des deux faces principales. Dans ce cas, le capteur peut comporter en outre :
- au moins deux moyens de liaison pouvant chacun relier mécaniquement une paroi du corps, chaque paroi pouvant être perpendiculaire aux deux faces principales du corps et former un côté de l'évidement, à la portion d'encastrement du capteur disposée dans l'évidement par une liaison pivot d'axe perpendiculaire à la direction du champ magnétique à détecter et perpendiculaire aux deux faces principales du corps,
- au moins une jauge de contrainte piézorésistive suspendue entre la portion d'encastrement du capteur et le corps. Lorsqu'un tel capteur comporte plusieurs jauges de contrainte suspendues, celles-ci peuvent être disposées deux à deux de part et d'autre de chacun des axes des liaisons pivots des moyens de liaison.
Ces variantes de réalisation ont pour avantage de réaliser des mesures différentielles de champ magnétique. Ainsi, ces capteurs ne sont pas ou peu sensibles aux accélérations que peuvent subir les capteurs durant une mesure de champ magnétique.
Dans une autre variante, le corps peut avoir une forme telle que le centre de gravité du corps soit sensiblement proche, ou au niveau, de l'axe de la liaison pivot. Ainsi, le corps forme une masse sensiblement équilibrée autour de l'axe de la liaison pivot. Cette variante permet de minimiser la sensibilité du capteur aux accélérations durant une mesure de champ magnétique. Le centre de gravité des moyens magnétiques peut être sensiblement proche de l'axe de la liaison pivot .
Le capteur peut être de type MEMS et/ou NEMS. Avantageusement, le capteur peut être réalisé à partir d'un substrat SOI. En réalisant ce capteur en technologie planaire, par exemple dans un substrat SOI, il est possible de le co-intégrer avec par exemple un accéléromètre tri-axes pouvant être réalisé de manière analogue, par exemple à partir du même substrat, ou encore de réaliser avec cette technologie un capteur différentiel pour remonter directement à la mesure d'une accélération. On peut ainsi réaliser des centrales d'altitude permettant de réaliser à la fois une orientation et une mesure de déplacements. De plus, ce capteur peut former une structure MEMS et/ou NEMS ne nécessitant aucun assemblage, ce qui permet de réduire son coût de réalisation et d'accroître la robustesse et la compacité du capteur.
L' invention concerne également un capteur de champ magnétique à deux ou trois directions comportant respectivement deux ou trois capteurs magnétiques tel que décrits précédemment, les capteurs magnétiques étant disposés tels que les directions des champs magnétiques destinées à être mesurées par ces capteurs soient perpendiculaires les unes par rapport aux autres. On peut ainsi mesurer, grâce à plusieurs capteurs mono-axe co-intégrés, les composantes d'un champ magnétique selon 2 ou 3 axes, y compris l'axe perpendiculaire au plan du capteur. Lorsque ce capteur est un capteur de champ magnétique à trois directions, les axes des liaisons pivot de deux des capteurs magnétiques peuvent être perpendiculaires par rapport à l'axe de la liaison pivot du troisième capteur magnétique.
Chaque capteur magnétique peut comporter au moins un matériau ferromagnétique dont la direction d' aimantation peut être perpendiculaire à la direction de la composante du champ magnétique à détecter par ledit capteur et perpendiculaire à l'axe de la liaison pivot dudit capteur.
Dans une variante, chaque capteur magnétique peut comporter au moins un matériau ferromagnétique dont la direction d' aimantation est perpendiculaire à l'axe de la liaison pivot dudit capteur, les directions d'aimantation des matériaux ferromagnétiques des trois capteurs magnétiques pouvant être similaires, et pouvant comporter en outre au moins un guide de flux magnétique apte à réorienter des lignes de champ magnétique selon une première direction perpendiculaire à la direction initiale desdites lignes de champ, ledit guide de flux magnétique pouvant être couplé à l'un des trois capteurs magnétiques tel que ce capteur puisse mesurer le champ magnétique formé par lesdites lignes de champ réorientées.
Le capteur peut comporter en outre au moins un quatrième capteur magnétique similaire au capteur auquel est couplé le guide de flux magnétique, ledit guide de flux magnétique pouvant être apte à réorienter des lignes de champ magnétique selon une seconde direction perpendiculaire à la direction initiale desdites lignes de champ et opposée à la première direction de réorientation des lignes de champ, le guide de flux magnétique pouvant être en outre couplé au quatrième capteur magnétique tel que ce quatrième capteur puisse mesurer le champ magnétique formé par lesdites lignes de champ réorientées selon la seconde direction .
Le guide de flux magnétique peut comporter au moins un élément d'amplification de lignes de champ magnétique.
De manière générale, on peut ajuster la gamme de mesure du champ magnétique à détecter en modifiant certains paramètres des moyens magnétiques
(par exemple le volume du matériau magnétique et/ou la nature du matériau magnétique) et/ou en modifiant la taille de la jauge de contrainte et/ou son positionnement .
L' invention concerne également un procédé de réalisation d'un capteur de champ magnétique comportant au moins les étapes de : réalisation d'un corps comprenant des moyens magnétiques aptes à former un couple s' exerçant sur le corps sous l'action d'un champ magnétique extérieur à détecter, - réalisation de moyens de liaison, distincts du corps, reliant mécaniquement le corps à une portion d'encastrement du capteur par au moins une liaison pivot d'axe perpendiculaire à la direction du champ magnétique à détecter, - réalisation de moyens de détection d'une contrainte exercée par le corps sous l'action du couple, distincts des moyens de liaison, comportant au moins une jauge de contrainte suspendue dont au moins une première partie est reliée mécaniquement à la portion d'encastrement, au moins une deuxième partie étant reliée mécaniquement au corps, et dont au moins une troisième partie disposée entre la première et la deuxième partie est suspendue entre la portion d'encastrement et le corps.
BRÈVE DESCRIPTION DES DESSINS
La présente invention sera mieux comprise à la lecture de la description d'exemples de réalisation donnés à titre purement indicatif et nullement limitatif en faisant référence aux dessins annexés sur lesquels : - les figures IA, IB, 2A et 2B représentent des vues de dessus et de profil de capteurs de champ magnétique, objets de la présente invention, selon un premier et un deuxième mode de réalisation,
- les figures 3 et 4 représentent des vues de dessus d'un capteur de champ magnétique, objet de la présente invention, selon des variantes du deuxième mode de réalisation,
- les figures 5A, 5B, 6A et 6B représentent des vues de dessus et de profil de capteurs de champ magnétique, objets de la présente invention, selon un troisième et un quatrième mode de réalisation,
- la figure 7 représente une vue de dessus d'un capteur de champ magnétique, objet de la présente invention, selon un cinquième mode de réalisation, - la figure 8 représente une vue de dessus d'un capteur de champ magnétique à trois dimensions, objet de la présente invention, selon un mode de réalisation particulier, - les figures 9A et 9B représente des variantes de réalisation des éléments d'un capteur de champ magnétique à trois dimensions, objet de la présente invention,
- les figures 1OA et 1OB représentent des exemples d'empilements de couches de matériaux ferromagnétique et antiferromagnétique de capteurs de champ magnétique, objets de la présente invention,
- les figures HA et HB représentent des variantes de réalisation d'un capteur de champ magnétique à trois dimensions, objet de la présente invention,
- les figures 12A et 12B représentent de manière schématique des exemples de corps équilibrés de capteurs de champ magnétique, objets de la présente invention, selon des modes de réalisation particuliers,
- les figures 13A à 13J et 14A à 14H représentent des étapes de procédés de réalisation d'un capteur de champ magnétique, objet de la présente invention, selon des modes de réalisations particuliers.
Des parties identiques, similaires ou équivalentes des différentes figures décrites ci-après portent les mêmes références numériques de façon à faciliter le passage d'une figure à l'autre. Les différentes parties représentées sur les figures ne le sont pas nécessairement selon une échelle uniforme, pour rendre les figures plus lisibles .
Les axes représentés sur les différentes figures décrites ci-dessous et portant la même référence sont similaires d'une figure à l'autre.
Les différentes possibilités (variantes et modes de réalisation) doivent être comprises comme n'étant pas exclusives les unes des autres et peuvent se combiner entre elles.
EXPOSÉ DÉTAILLÉ DE MODES DE RÉALISATION PARTICULIERS
Un exemple de capteur de champ magnétique 100 selon un premier mode de réalisation va être décrit en liaison avec les figures IA et IB, qui représentent respectivement une vue de dessus et une vue de profil du capteur 100.
Le capteur 100 est réalisé à partir d'un substrat SOI comportant un empilement formé par une couche support 102 à base de semi-conducteur, une couche diélectrique 104 et une couche superficielle 106 également à base de semi-conducteur. Le semi-conducteur des couches 102 et 106 est par exemple du silicium monocristallin ou polycristallin . La couche superficielle 106 pourrait également être à base de SiGe ou de tout autre matériau de type III-V. La couche diélectrique 104 est par exemple à base de Siθ2. Dans une variante, le capteur 100 pourrait être réalisé à partir d'un autre type de substrat (bulk, semiconducteur sur verre, ...) .
Le capteur 100 comporte un corps 108 formant une partie mobile du capteur 100 et comprenant des moyens magnétiques aptes à déplacer le corps 108 sous l'action d'un champ magnétique. Dans ce premier mode de réalisation, le corps 108 comporte un caisson 110 formé dans la couche superficielle 106 et dans lequel est disposé un matériau ferromagnétique 112 formant un aimant permanent et présentant une direction d'aimantation permanente Baimant (représentée par une flèche parallèle à l'axe x sur les figures IA et IB) perpendiculaire à la direction d'un champ magnétique externe Bexti (représentée également par une flèche sur les figure IA et IB) que le capteur 100 est destiné détecter. Le matériau ferromagnétique 112 est par exemple à base de CoPt, ou de NdFeB ou de SmCo.
Dans une variante, le matériau ferromagnétique 112 peut être un matériau ferromagnétique doux présentant une faible coercivité, par exemple du FeNi ou du CoFe. Dans cette variante, il est également possible que le capteur 100 comporte des moyens d' aimantation aptes à aimanter le matériau ferromagnétique 112 et former ainsi un électroaimant. Ces moyens d'aimantation peuvent comporter une bobine, disposée sur le corps 108 ou à côté du capteur 100, destinée à être parcourue par un courant variable ou constant . Dans ce premier mode de réalisation, le corps 108 a une forme de parallélépipède rectangle dont une première face principale 118, appelée face inférieure, est comprise dans un plan passant par la face de la couche superficielle 106 en contact avec la couche diélectrique 104, et parallèle au plan (X, Y), et une seconde face principale 120, opposée à la face inférieure 118, appelée face supérieure. Les faces inférieure 118 et supérieure 120 sont parallèles à un plan appelé plan du capteur 100, lui-même parallèle au plan (X, Y) . De plus, le matériau ferromagnétique 112 forme également un bloc parallélépipédique rectangle. Dans ce premier mode de réalisation, le capteur 100 est destiné à détecter un champ magnétique Bexti comportant une unique composante perpendiculaire au plan du capteur 100. Le corps 108 a par exemple des dimensions selon les axes X et Y comprises entre environ quelques micromètres, par exemple 20 μm, et 1 mm, et une épaisseur (dimension selon l'axe Z) égale à environ 1 μm, ou comprise entre environ 0,1 μm et 10 μm, voir quelques dizaines de micromètres. Le bloc formé par le matériau ferromagnétique 112 a une largeur W (dimension selon l'axe y) pouvant être comprise entre quelques micromètres et 500 μm, par exemple égale à environ 10 μm, et une longueur L (dimension selon l'axe x) pouvant être comprise entre environ 20 μm et 500 μm, et par exemple égale à environ 100 μm. Le rapport d'aspect L/W du bloc formé par le matériau ferromagnétique 112 peut être important et par exemple égal ou supérieur à environ 5, notamment lorsque le matériau ferromagnétique 112 est un matériau ferromagnétique doux .
Le corps 108, et plus précisément le caisson 110, est relié à une partie fixe du capteur 100, ou portion d'encastrement 114, formée par une portion de la couche superficielle 106, par deux charnières 116. Les charnières 116 sont des portions de silicium gravées dans la couche superficielle 106, qui ont une forme de parallélépipède rectangle et qui ont une épaisseur (dimension selon l'axe Z) comprise entre environ quelques nanomètres, ou quelques dizaines de nanomètres, et quelques micromètres, par exemple entre environ 50 nm et 500 nm. Les charnières 116 forment une liaison pivot d'axe parallèle à l'axe Y entre la portion d'encastrement 114 et le caisson 110. Chacune des charnières 116 est reliée à une extrémité d'un même côté du caisson 110 perpendiculaire aux faces principales 118 et 120. Sur l'exemple des figures IA et IB, les charnières 116 sont disposées dans le prolongement du plan dans lequel se trouve la face inférieure 118 du corps 108. Dans une variante, ces charnières 116 peuvent être reliées à une hauteur différente du corps 108, par exemple dans le prolongement du plan dans lequel se trouve la face supérieure 120 du corps 108.
Le capteur 100 comporte un espace vide 122 formé entre le corps 108 et la couche support 102, ainsi qu'entre les charnières 116 et la couche support 102. Cet espace vide 122 correspond à l'espace occupé par une portion de la couche diélectrique 104 qui a été supprimée au cours de la réalisation du capteur 100. Ainsi, au repos, c'est-à-dire lorsque le corps 108 n'est pas sollicité par un champ magnétique extérieure
(Bexti = 0), les charnières 116 réalisent un soutien mécanique du corps 108, maintenant celui-ci dans un plan parallèle au plan du capteur 100. Le capteur 100 comporte également des moyens 124 permettant de détecter un déplacement du corps 108 sous l'action d'un champ magnétique extérieur Bexti dirigé perpendiculairement à la direction d' aimantation permanente Baimant et perpendiculairement au plan du capteur 100. Un tel champ magnétique Bexti tend à faire subir à la masse magnétique 112, et donc au corps 108, une rotation autour de l'axe de la liaison pivot formée par les charnières 116 entre la portion d'encastrement 114 et le corps 108. Sur l'exemple des figures IA et IB, cet axe est parallèle à l'axe Y (et donc perpendiculaire à Baimant et à Bexti) et passe par la jonction entre les charnières 116 et la portion d'encastrement 114, au niveau du milieu de l'épaisseur des charnières 116. De plus, étant donné que les charnières 116 sont solidaires au voisinage des deux extrémités d'un même côté du corps 108, celles-ci empêchent d'éventuelles forces extérieures, par exemple dues à des accélérations subies par le capteur 100 et orientées dans le plan du capteur 100, de mettre en rotation le corps 108 dans le plan du capteur 100, c'est-à-dire empêchant les rotations du corps 108 selon des axes parallèles aux axes Z et X.
Les moyens de détection 124 sont ici une jauge de contrainte suspendue entre la portion d'encastrement 114 et la face supérieure 120 du corps 108. Cette jauge de contrainte 124 est disposée dans un plan qui est sensiblement parallèle au plan du capteur 100. Un espace sépare la jauge de contrainte 124 des charnières 116. De même, dans une variante de réalisation où les charnières seraient réalisées dans le prolongement du plan de la face supérieure 120 du corps 108, la jauge de contrainte 124 pourrait dans ce cas être suspendue entre la face inférieure 118 du corps 108 et la portion d'encastrement 114. De manière générale, les moyens de détection 124 et les charnières 116 ne sont pas disposés dans un même plan parallèle au plan du capteur 100 afin que les moyens de détection 124 puissent détecter un déplacement du corps 108 lorsqu'il est soumis au champ magnétique Bexti •
Ainsi, le mouvement de rotation du corps 108 autour de l'axe pivot formé par les charnières 116 se traduit par l'application d'une force exercée sur la jauge de contrainte 124 qui est perpendiculaire au champ magnétique Bexti et qui se trouve dans le plan de rotation du corps 108 (plan parallèle au plan (X, Z)) . Sur l'exemple des figures IA et IB, cette force, représentée par une flèche et désignée par la référence Fi, met la jauge de contrainte 124 en tension étant donné que la rotation du corps 108 est dirigée dans le sens du champ magnétique Bexti • Si le champ magnétique Bgxti était dirigé dans le sens opposé à celui représenté sur les figures IA et IB, la jauge de contrainte 124 serait soumise à une force dirigée dans la direction opposée à la force Fi représentée et qui mettrait la jauge de contrainte 124 en compression.
La structure de ce capteur 100 créé intrinsèquement une amplification des contraintes sur la jauge 124 car la jauge de contrainte suspendue 124, les charnières 116 et le corps 108 forment une structure en bras de levier. Ainsi, plus la distance entre les charnières 116 et la jauge de contrainte 124 est petite, plus la force de compression ou de tension appliquée sur la jauge de contrainte 124, résultante du champ magnétique présent, est grande.
Dans ce premier mode de réalisation du capteur 100, la jauge de contrainte 124 est de type piéorésistif et est formée par une poutre métallique. Cette poutre est ici pliée en forme de « U ». Ainsi, deux extrémités 123 de la poutre 124 sont disposées contre la portion d'encastrement 114 et reliées mécaniquement (par une liaison encastrement) à la portion d'encastrement 114, et une partie 125 sensiblement en forme de demi-cercle, formée par la zone pliée de la poutre 124, de la poutre est disposée contre le corps 108 et reliée mécaniquement (par une liaison encastrement) au corps 108. La jauge de contrainte 124 comporte ici deux parties 127 disposées entre les extrémités 123 et la partie 125 en forme de demi-cercle qui sont suspendues entre la portion d'encastrement 114 et le corps 108 dans un espace vide 129 formé entre le corps 108 et la portion d'encastrement 114 et dans lequel se trouve les deux charnières 116. Compte tenu des dimensions micrométriques ou nanométriques de la poutre 124, celle-ci peut également être appelée micro-poutre ou nano-poutre, ou encore micro-fil ou nano-fil. La poutre 124 a une résistance initiale R, lorsque Bexti est nul, qui varie de +/- ΔR lorsque la poutre 124 est mise en compression ou en tension par un mouvement du corps 108 en présence d'un champ magnétique Bexti non nul, la valeur de ΔR étant proportionnelle à la valeur de Bexti • Ainsi, en mesurant la valeur de ΔR, on peut en déduire la valeur de Bexti • Dans une variante, la jauge de contrainte piézorésistive 124 pourrait être formée par une poutre à base d'un matériau semi-conducteur, ou plus généralement à base de tout type de matériau présentant des propriétés piézorésistives . Le capteur 100 comporte des moyens de mesure 126 de la résistance électrique de la jauge de contrainte 124, ici un ohmmètre, reliés à deux contacts électriques 128. Chaque contact électrique 128 est formé par une portion métallique disposée sur la zone d'encastrement 114, chaque contact électrique 128 étant relié à une des deux extrémités de la jauge de contrainte 124, c'est-à-dire à une des deux extrémités de la poutre 124. Il est ainsi possible de mesurer les variations ΔR de la résistance de la jauge de contrainte 124.
Le capteur 100 comporte donc des moyens de mesure de champ magnétique 124 qui sont suspendus entre la portion d'encastrement 114, formant une partie fixe du capteur 100, et le corps 108, formant une partie mobile du capteur 100. Ces moyens de mesure 124 sont donc décorrélés de la structure sensible au champ magnétique, c'est-à-dire le corps 108 comportant l'aimant permanent 112. Le capteur 100 comporte donc trois parties pouvant, compte tenu de la décorrélation entre les moyens de mesure 124 et la partie sensible au champ magnétique 108, être optimisées indépendamment les unes des autres : une première partie sensible au champ magnétique et comprenant l'aimant permanent, c'est-à- dire le corps 108, une deuxième partie sensible à la contrainte obtenue lorsque la première partie est soumise à un champ magnétique, c'est-à-dire les moyens de détection 124, et - une troisième partie reliant la première partie à un ancrage ou portion d'encastrement, c'est-à- dire les charnières 116.
Cette optimisation peut par exemple porter sur les épaisseurs (dimensions parallèles à l'axe Z) de chacune de ces parties qui peuvent être choisies indépendamment les unes des autres.
Un exemple de capteur de champ magnétique 200 selon un second mode de réalisation va être décrit en liaison avec les figures 2A et 2B, qui représentent respectivement une vue de dessus et une vue de profil du capteur 200.
De manière analogue au capteur 100 selon le premier mode de réalisation, le capteur 200 est réalisé à partir d'un substrat SOI comportant les couches 102, 104 et 106 (non représentées sur la figure 2A), et comprend le corps 108, la portion d'encastrement 114, la jauge de contrainte 124 et les moyens de mesure 126.
Par rapport au capteur 100, le capteur 200 n'est pas destiné à détecter un champ magnétique perpendiculaire au plan du capteur 200 (similaire au plan du capteur 100 et parallèle au plan (X, Y)) mais un champ magnétique Bext2 orienté dans le plan du capteur 200, ici parallèle à l'axe Y, et perpendiculaire à la direction d'aimantation Baimant . Pour réaliser une telle détection, le corps
108 n'est pas relié à la zone d'encastrement 114 par les deux charnières 116, mais par une unique charnière 216 reliée au corps 108 sur toute son épaisseur, sensiblement au milieu d'un côté du corps 108 perpendiculaire aux deux faces principales 118 et 120 du corps 108, et disposée dans l'espace vide 129 séparant le corps 108 de la partie d'encastrement 114. Ce champ magnétique Bext2 tend à faire subir au matériau ferromagnétique 112, et donc au corps 108, une rotation autour d'un axe perpendiculaire au plan du capteur 200. Sur l'exemple des figures 2A et 2B, cet axe est parallèle à l'axe Z (et donc perpendiculaire à Baimant et à Bext2) et passe par la jonction entre la charnière 216 et la portion d'encastrement 114. La charnière 216 remplie ici le même rôle de maintien mécanique et de liaison pivot du corps 108 vis-à-vis de la portion d'encastrement 114 que les charnières 116 précédemment décrites .
La jauge de contrainte 124 du capteur 200 est réalisée à côté de la charnière 216. Ainsi, en présence du champ magnétique à détecter Bext2 représenté sur les figures 2A et 2B (c'est-à-dire comportant une composante parallèle à l'axe Y), la jauge de contrainte 124 est mise en compression par une force F2 telle que représentée sur les figures 2A et 2B, à partir de laquelle il est possible d'en déduire la valeur de Bext2 selon le même principe que le capteur 100 (mesure de la variation de la résistance électrique de la jauge de contrainte 124) . Si la composante du champ magnétique à détecter est dans le sens opposé à Bext2, la jauge de contrainte 124 est alors mise en tension par une force de direction opposée à la force F2. La figure 3 représente une vue de dessus du capteur 200 dans une première variante du second mode de réalisation. Dans cette variante, les moyens de détection 124 ne comportent par une jauge de contrainte piézorésistive formée par une poutre métallique suspendue, mais par une poutre de semi-conducteur suspendue. Ici, cette poutre est à base de silicium et est formée par gravure d'une portion de la couche superficielle du substrat SOI à partir duquel est réalisé le capteur 200.
Par rapport à la poutre suspendue métallique en forme de « U », la poutre de silicium 124 est ici sensiblement droite, et comporte une première extrémité 123 reliée mécaniquement (par une liaison encastrement) à la portion d'encastrement 114, une seconde extrémité 125 reliée mécaniquement (par une liaison encastrement) au caisson 110 du corps 108, et une partie centrale 127 qui se retrouve suspendue dans l'espace vide 129 formé entre le corps 108 et la portion d'encastrement 114. Etant donné que la poutre est réalisée à partir du même matériau que le caisson 110 et la portion d'encastrement 114, un des contacts électriques 128 est ici formé sur une première partie de la portion d'encastrement 114 proche de la première extrémité libre de la poutre 124 et un second contact électrique 128 est formé sur une partie de la portion d'encastrement 114 à laquelle est reliée la charnière 216. En reliant l'ohmmètre 126 entre les contacts électriques 128, on mesure la résistance et la variation de la résistance de la poutre de silicium 124, mais également la résistance du silicium de la portion d'encastrement 114 et du caisson 110 se trouvant entre les extrémités 123, 125 de la poutre 124 et les contacts électriques 128. Etant donné que la résistance électrique du silicium de la portion d'encastrement 114 et du caisson 110 entre les extrémités 123, 125 de la poutre 124 ne varie pas, la variation de résistance mesurée correspond bien à la variation de la résistance électrique de la poutre 124 suspendue . Cette variante a notamment pour avantage de ne pas imposer de contraintes sur les emplacements des contacts électriques 128 dans le capteur magnétique. Ainsi, les contacts électriques 128 peuvent être disposés à des endroits différents des extrémités de la poutre 124. De plus, cette variante permet en outre d'avoir un très grand effet piézorésistif dans la poutre 124, notamment lorsque celle-ci comporte une section dont les dimensions sont sensiblement nanométriques . La figure 4 représente une vue de dessus du capteur 200 dans une seconde variante du second mode de réalisation. Dans cette seconde variante, les moyens de détection 124 ne comportent pas de jauge de contrainte piézorésistive mais un résonateur 204, pouvant également être appelé lame vibrante ou poutre vibrante, par exemple réalisé par gravure dans la couche superficielle 106, et comportant une première extrémité 203 reliée mécaniquement (par une liaison encastrement) à la portion d'encastrement 114, une seconde extrémité 205 reliée mécaniquement (par une liaison encestrement) au corps 108, et une partie centrale 207 suspendue entre la portion d'encastrement 114 et le corps 108, dans l'espace vide 129 formé entre le corps 108 et la portion d'encastrement 114. Les moyens de détection 124 comportent en outre deux électrodes d'excitation 206 destinées à faire vibrer le résonateur 204, ainsi qu'une électrode de détection 208 disposée entre les deux électrodes d'excitation 206 et destinée à détecter une variation de la fréquence de vibration du résonateur 204. Un contact électrique 128 est formé sur chacune des électrodes 206 et 208, ainsi que sur la portion d'encastrement 114. Un générateur de tension 202, délivrant une composante continue et une composante alternative, est relié aux deux contacts électriques 128 formés sur les électrodes d'excitation 206. Enfin, un voltmètre 210 est relié entre le contact électrique 128 disposé sur l'électrode de détection 208 et la masse (la portion d'encastrement 114 étant en outre reliée également à la masse) .
Ainsi, lorsque la force F2 est appliquée sur le résonateur 204 en raison du mouvement du corps 108 dû à la présence du champ magnétique Bext2, la fréquence de vibration du résonateur 204, égale à la fréquence de la composante alternative de la tension appliquée entre les électrodes d'excitation 206, cette tension étant asservie sur la fréquence de résonance de la poutre par les moyens de mesure de la variation de fréquence, à savoir le voltmètre 210, se trouve donc modifiée. Cette variation de fréquence est détectée par l'électrode de détection 208 et le voltmètre 210. A partir de cette différence de fréquence mesurée, on peut alors en déduire la valeur de Bext2 • Un exemple de capteur de champ magnétique
300 selon un troisième mode de réalisation va être décrit en liaison avec les figures 5A et 5B, qui représentent respectivement une vue de dessus et une vue de profil du capteur 300.
Ce capteur 300 comporte une première structure de détection 100a similaire au capteur 100 précédemment décrit. De plus, le capteur 300 comporte également une seconde structure de détection 100b comportant les mêmes éléments que la première structure de détection 100a, mais disposés d'une manière différente. Les corps 108a et 108b des deux structures de détection 100a et 100b sont similaires, les matériaux ferromagnétiques 112a et 112b des deux structures 100a, 100b ayant la même direction d'aimantation (Baimant) orientée parallèlement à l'axe Z. Par contre, les autres éléments des deux structures de détection 100a et 100b, à savoir les portions d'encastrement 114a, 114b, les charnières 116a, 116b, les moyens de détection 124a, 124b et les contacts électriques 128a, 128b sont disposés de manière axialement symétrique les uns par rapport aux autres selon un axe perpendiculaire au plan (X, Y) qui est parallèle au plan du capteur 300 et aux plans des structures de détection 100a et 100b. Ainsi, en considérant que les charnières 116a sont reliées à un premier côté du corps 108a dans la première structure 100a, les charnières 116b sont reliées, dans la seconde structure de détection 100b, à un second côté du corps 108b opposé à un premier côté du corps 108b correspondant, par analogie de structure, au premier côté du corps 108a.
Ainsi, le capteur 300 permet de réaliser une mesure différentielle d'un champ magnétique. Lorsque les corps 108a, 108b des deux structures de détection 100a, 100b sont soumis à un même champ magnétique, ici Bexti, la force Fi créée, qui est similaire en terme d'orientation et de valeur pour les deux structures de détection 100a, 100b compte tenu de la même orientation d'aimantation Baimant des deux matériaux ferromagnétiques 112a, 112b, se traduit par une mise en tension des moyens de détection 124a de la première structure de détection 100a et une mise en compression des moyens de détection 124b de la seconde structure de détection 100b.
Un tel capteur 300 différentiel présente comme avantage de ne pas être sensible aux accélérations parallèles au champ magnétique Bexti destiné à être mesuré car, en présence d'une telle accélération, une compression et une tension supplémentaire est subie, en plus de la force Fi créée par le champ magnétique Bexti, par l'un et l'autre des deux moyens de détection 124a, 124b. Cette compression et cette tension supplémentaires étant complémentaires l'une par rapport à l'autre, il est donc possible de déduire, à partir des mesures réalisées par les ohmmètres 126a, 126b, la valeur de Fi en s' affranchissant des effets de l'accélération, et donc de calculer la valeur réelle de Bexti • Un exemple de capteur de champ magnétique
400 selon un quatrième mode de réalisation va être décrit en liaison avec les figures 6A et 6B qui représentent respectivement une vue de dessus et une vue de profil du capteur 400.
Par rapport au capteur 200 précédemment décrit, le capteur 400 comporte des premiers moyens de détection 124a, correspondant à la jauge de contrainte 124 du capteur 200, mais également des seconds moyens de détection 124b, par exemple similaires aux premiers moyens de détection 124a. Ces moyens de détection 124a, 124b comportent donc chacun une jauge de contrainte piézorésistive formée par une poutre métallique pliée en forme de « U » et suspendue entre le corps 108 et la portion d'encastrement 114. La charnière 216 est disposée entre les premiers et les seconds moyens de détection 124a, 124b. On voit donc que les jauges de contrainte 124a, 124b sont disposées de part et d'autre de l'axe de rotation du corps 108 se trouvant au niveau de la charnière 216.
Ainsi, de manière analogue au capteur 300, ce capteur 400 forme une structure de mesure différentielle de champ magnétique. Lorsque le corps 108 est soumis au champ magnétique Bext2 représenté sur les figures 6A et 6B, le mouvement du corps 108, correspondant à une rotation du corps 108 autour d'un axe perpendiculaire au plan du capteur 400, se traduit par une force F2 de compression appliquée sur les premiers moyens de détection 124a, et une force F3 de tension appliquée sur les seconds moyens de détection 124b.
Un exemple de capteur de champ magnétique 500 selon un cinquième mode de réalisation va être décrit en liaison avec la figure 7 qui représente une vue de dessus du capteur 500.
De manière analogue aux capteurs 100, 200, 300 et 400 précédemment décrits, le capteur 500 est réalisé à partir d'un substrat SOI comportant un empilement formé par une couche support 102 à base de semi-conducteur, couche diélectrique 104 et une couche superficielle 106 également à base de semi-conducteur. Le capteur 500 comporte un corps 508 comprenant des moyens magnétiques. Dans ce cinquième mode de réalisation, le corps 508 comporte un caisson 510 formé dans la couche superficielle du substrat SOI et dans lequel est disposé un matériau ferromagnétique 512 formant un aimant permanent présentant une direction d'aimantation permanente Baimant perpendiculaire à la direction d'un champ magnétique externe Bext2 que le capteur 500 est destiné détecter. Le matériau ferromagnétique 512 est par exemple de nature similaire au matériau ferromagnétique 112 précédemment décrit. Dans ce cinquième mode de réalisation, le corps 508 a une forme de parallélépipède rectangle dont une première face principale, appelée face inférieure et non visible sur la figure 7, est comprise dans un plan passant par la face de la couche superficielle en contact avec la couche diélectrique, et parallèle au plan (X, Y), et une seconde face principale 520, opposée à la face inférieure, appelée face supérieure. Les faces inférieure et supérieure 520 sont parallèles à un plan appelé plan du capteur 500 (parallèle au plan (X, Y)) . Le corps 508 comporte en outre un évidement 509 dont la section dans un plan parallèle au plan (X, Y) a une forme sensiblement carrée. Une paroi intérieure du caisson 510 forme le contour de l'évidement 509, et une paroi extérieure du caisson 510 forme le contour extérieur du corps 508. Le corps 508 est relié à une partie fixe du capteur 500 appelée portion d'encastrement 514 et formée notamment par une portion de la couche superficielle disposée dans l'évidement 509. La liaison entre le corps 508 et la portion d'encastrement 514 est réalisée par quatre charnières 516a à 516d, par exemple similaires à la charnière 216 précédemment décrite en liaison avec les capteurs 200 et 400. La portion d'encastrement 514 ayant une section de forme sensiblement carrée dans un plan parallèle au plan (X, Y), chacune des charnières 516a - 516d relie un côté de la zone d'encastrement 514 à un côté de la paroi intérieure du caisson 510, au niveau de l'évidement 509.
Le capteur 500 comporte également des moyens de détection comprenant quatre jauges de contrainte piézorésistives 524a à 524d, chacune formée par une poutre métallique pliée en forme de « U » et suspendue entre un côté du caisson 510, au niveau de sa paroi intérieure délimitant l'évidement 509, et quatre coins de la portion d'encastrement 514. Les quatre jauges de contrainte piézorésistives 524a - 524d s'étendent perpendiculairement à la direction du champ magnétique à détecter Bext2, dans le plan (X, Y) .
Le champ magnétique Bext2 tend à faire subir au matériau ferromagnétique 512, et donc au corps 508, une rotation autour d'un axe parallèle à l'axe Z, c'est-à-dire perpendiculaire au plan du capteur 500, et dont la position dans le plan du capteur 500 correspond sensiblement au centre de la portion d'encastrement 514.
Ainsi, il en résulte que le mouvement de rotation du corps 508 autour de la portion d'encastrement 514 se traduit par l'application d'une force F4 de compression exercée sur deux des moyens de détection 524a, 524c se trouvant au niveau de deux coins opposés de la portion d'encastrement 514 et une force F5 de tension exercée sur les deux autres moyens de détection 524b, 524d se trouvant au niveau des deux autres coins opposés de la portion d'encastrement 514, ces deux forces F4 et F5 étant perpendiculaires au champ magnétique Bext2 et se trouvant dans le plan du capteur 500. Dans l'hypothèse où le champ magnétique à détecter est orienté dans la direction opposée à celle de Bext2, la force de compression F4 serait appliquée sur les moyens de détection 524b, 524d et la force de tension F5 serait appliquée sur les moyens de détection 524a, 524c.
Les deux extrémités de chacune des jauges de contrainte piézorésistives 524a - 524d sont reliées à une paire de contacts électriques 528a - 528d formés sur la portion d'encastrement 514. Dans ce cinquième mode de réalisation, un des contacts électriques de chacune des quatre jauges de contrainte piézorésistives 524a - 524d est relié à un générateur de tension Vi 530, les quatre autres contacts électriques étant reliés à un voltmètre 532 mesurant une tension V2, formant ainsi un pont de Wheatstone. Au niveau des jauges de contrainte piézorésistives 524a et 524c subissant la force de compression F4, on a donc une variation de résistance -ΔR, et au niveau des jauges de contrainte piézorésistives 524b et 524d subissant la force de tension F5, on a donc une variation de résistance +ΔR. En considérant que les quatre jauges de contrainte 524a - 524d ont chacune une résistance initiale R similaire les unes aux autres, on a donc :
V1(IxAXdRxR3 -(-2x4xdRxR3)) _ dR 2 ~ (4xdRxR2l4xdRxR2) ~ 1 R
V7XR Soit : AR=^
V1
On déduit alors de la valeur de ΔR la valeur de Bext2 • On donne ci-dessous, à titre d'exemples, des valeurs théoriques de caractéristiques obtenues avec le capteur 200 précédemment décrit et comportant un corps 108 dont les dimensions dans le plan (X, Y), correspondant aux parois extérieure du caisson 110, sont égales à environ 100 μm, et dont l'épaisseur (dimension selon l'axe Z) est égale à environ 1 μm. La jauge de contrainte 124 de ce capteur 200 est ici un nanofil de silicium monté en pont de Wheatstone avec trois résistances de référence selon le principe précédemment décrit pour le capteur 500, et de hauteur égale à environ 500 nm, de largeur égale à environ 100 nm et de longueur égale à environ 1 μm : Sensibilité = 21 V/V/T Densité de bruit (à IkHz, avec une tension Vbridge de 5V) = 8 nV/Hz0'5
Résolution (pour une bande passante de 50 Hz et une tension Vbridge, c'est-à-dire la tension aux bornes du pont de Wheatstone, de 5V) = 4,2.10"10 T
FuIl Scale (domaine de mesure) = 9.10 -4 Les capteurs de champ magnétique 100 à 500 précédemment décrits réalisent une mesure d'un champ magnétique selon un axe donné, c'est-à-dire des champs magnétiques comportant une unique composante selon un axe. Il est également possible de réaliser des capteurs réalisant une mesure d'un champ magnétique comportant des composantes selon 2 axes perpendiculaires l'un par rapport à l'autre, c'est-à-dire réalisant une mesure de champ magnétique en deux dimensions (capteur 2D) . Pour cela, on réalise sur une première structure similaire à un des capteurs précédemment décrits apte à détecter le champ magnétique Bexti et une seconde structure similaire à un des capteurs précédemment décrits apte à détecter le champ magnétique Bext2 qui est perpendiculaire à Bexti • Les deux structures permettent donc de mesurer les composantes du champ magnétique selon deux directions perpendiculaires l'une par rapport à l'autre. On obtient ainsi un capteur 2D comportant deux structures de mesure qui correspondent par exemple aux capteurs 100 et 200, ou 100 et 400, ou 100 et 500, ou encore 300 et 200, ou 300 et 400, ou 300 et 500.
Il est également possible de réaliser un capteur réalisant une mesure d'un champ magnétique comportant des composantes selon 3 axes perpendiculaires les uns par rapport aux autres, c'est- à-dire réalisant une mesure de champ magnétique selon trois directions. Un exemple d'un tel capteur 600 est représenté sur la figure 8. Ce capteur 600 comporte une première structure 602 similaire au capteur 100 précédemment décrit et apte à mesurer une composante B6XtA du champ magnétique à mesurer parallèle à l'axe Z.
Dans une variante, cette première structure 602 pourrait être similaire au capteur 300. Le capteur 600 comporte en outre une seconde structure 604 similaire au capteur 200 précédemment décrit et apte à mesurer une composante BextB du champ magnétique parallèle à l'axe Y. Dans une variante, cette seconde structure 604 pourrait être similaire au capteur 400 ou au capteur 500.
Enfin, le capteur 600 comporte également une troisième structure 606 qui comporte les mêmes éléments que la seconde structure 604, mais ayant subis une rotation à 90° dans le plan (X, Y) . Ainsi, la jauge de contrainte de cette troisième structure 606, qui subie une force de compression ou de tension parallèle à l'axe Y, est donc apte à mesurer une composante Bextc du champ magnétique parallèle à l'axe X. Le matériau ferromagnétique 608 du corps de cette troisième structure a une orientation magnétique Baimant2 perpendiculaire à l'orientation magnétique Baimanti des matériaux ferromagnétiques 610 et 612 de la première et de la deuxième structure 602 et 604, et parallèle à l'axe X. Ce matériau ferromagnétique 608 peut être obtenu, lors de la réalisation du capteur 600, soit en déposant un matériau ferromagnétique ayant dès l'origine une telle orientation magnétique et donc différent des matériaux ferromagnétiques 610 et 612, soit en déposant tout d' abord le même matériau ferromagnétique que celui des première et deuxième structures 604 et 606 (les trois portions de matériau ferromagnétique 608, 610 et 612 ont donc l'orientation magnétique Baimanti) , puis en chauffant localement, par exemple par laser, tout en appliquant un champ magnétique perpendiculaire d'une valeur inférieure au champ de coercivité des aimants à température ambiante, le matériau ferromagnétique 608 afin de modifier cette orientation magnétique jusqu'à obtenir l'orientation magnétique Baimant2 •
Les variantes de réalisation précédemment décrites pour le capteur 100 (utilisation d'un matériau ferromagnétique doux couplé ou non avec des moyens d'aimantation) peuvent également s'appliquer aux capteurs 200 à 600 précédemment décrits.
Dans une variante de réalisation de ce capteur 3D, la troisième structure 606 du capteur 600 peut être remplacée par la structure 614 représentée sur la figure 9A. Cette structure 614 est similaire à la première structure 602, exceptée concernant le matériau ferromagnétique 616 de cette troisième structure qui comporte une orientation magnétique Baimant3 parallèle à l'axe Z. Un tel matériau ferromagnétique peut être différent à l'origine des matériaux ferromagnétiques 610 et 612, ou être obtenu par chauffage localisé sous champ magnétique d'un matériau ferromagnétique similaire à ceux des première et deuxième structures 602 et 604. Dans une seconde variante de réalisation, la troisième structure 606 du capteur 600 peut être remplacée par la structure 618 représentée sur la figure 9B . Cette structure 618 est similaire à la structure 614, exceptée que cette structure 618 ne comporte pas de matériau ferromagnétique ni de caisson. En effet, à la différence des structures et des capteurs précédemment décrits, cette structure 618 comporte un corps 622 ici à base de semi-conducteur, par exemple de silicium, en forme de parallélépipède rectangle et de dimensions par exemple similaires à celles du corps 108 décrit en liaison avec les figures IA et IB. Une bobine 620 est disposée sur la périphérie d'une face principale du corps 622. Ainsi, lorsque cette bobine 622 est traversée par un courant et en présence du champ magnétique Bextc, le corps 622 est soumis à une force de rotation analogue à celle que subi le matériau magnétique 616 de la structure 614. Cette structure 618 permet donc de réaliser une détection de la composante Bextc du champ magnétique parallèle à l'axe X. Dans une troisième variante de réalisation, il est possible que les trois structures 602, 604 et 606 comportent, dans le corps respectif de chacune des structures 602, 604 et 606, non pas un seul matériau ferromagnétique 608, 610, 612 comme c'est le cas dans l'exemple représenté sur la figure 8, mais un empilement de couches comprenant, de manière alternée, des couches à base de matériau ferromagnétique et des couches à base de matériau antiferromagnétique, tel que représenté sur la figure 10A. Cet empilement peut être formé de sorte que chaque couche à base de matériau ferromagnétique, référencées 902.1 - 902.4 sur l'exemple de la figure 10A, soit disposée entre deux couches de matériau antiferromagnétique 904.1 - 904.5.
Le matériau ferromagnétique peut être un matériau ferromagnétique doux, ayant une forte aimantation à saturation, par exemple supérieure à environ 1000 emu/cm (environ 1,26 T) . Un tel matériau ferromagnétique peut être par exemple un alliage de Fe, de Co, et de Ni. Le matériau antiferromagnétique peut être un alliage à base de Mn, par exemple du type NiMn, ou PtMn, ou PdPtMn. Selon d'autres exemples, le matériau antiferromagnétique peut être du FeMn, ou de 1'IrMn, ou du NiO, ou du Fe2O3.
Etant donné que les couches de matériau antiferromagnétique 904.1 - 904.5 sont disposées de part et d'autre de chacune des couches de matériau ferromagnétique 902.1 - 902.4, un couplage d'échange aux interfaces entre le matériau antiferromagnétique et le matériau ferromagnétique permet de bloquer l'aimantation de la couche de matériau ferromagnétique intercalée dans une direction définie lors d'un recuit de mise en ordre définissant l'orientation magnétique de ces matériaux.
Les couches de matériau antiferromagnétique 904.1 - 904.5 peuvent avoir une épaisseur t' (dimension selon l'axe z représenté sur la figure 10A) par exemple comprise entre environ 2 nm et 50 nm, par exemple de l'ordre de 20 nm. Les couches à base de matériau ferromagnétique 902.1 - 902.4 peuvent avoir une épaisseur t (dimension selon l'axe z représenté sur la figure 10A) par exemple comprise entre environ 2 nm et 40 nm, par exemple de l'ordre de 10 nm. Cet empilement comporte par exemple un nombre total de couches compris entre environ 8 et 50 (9 sur l'exemple de la figure 10A) , le nombre de couches étant adapté notamment en fonction des épaisseurs t et t' des couches afin que l'empilement ait une épaisseur totale par exemple comprise entre environ 100 nm et 600 nm, et par exemple sensiblement égale à environ 100 nm.
Ces empilements de couches forment, dans chaque structure 602, 604 et 606 du capteur 600, des blocs parallélépipédiques rectangles, de forme allongée ou longiligne. Ainsi, chaque bloc formé par un tel empilement de couches comporte une largeur W (dimension selon l'axe y de la figure 10A, correspondant aux dimensions selon l'axe y pour les structures 602 et 604 représentées sur la figure 8, et selon l'axe x pour la structure 606 de la figure 8) par exemple comprise entre environ 20 μm et 500 μm, par exemple de l'ordre de 20 μm, et une longueur L (dimension selon l'axe x de la figure 10A, correspondant aux dimensions selon l'axe x pour les structures 602 et 604 de la figure 8, et selon l'axe y pour la structure 606 de la figure 8) par exemple comprise entre environ 20 μm et 500 μm, par exemple de l'ordre de 100 μm. Le rapport d'aspect L/W de chaque bloc peut être important et par exemple supérieur ou égal à 5.
Dans une variante, un ou plusieurs de ces empilements de couches des structures 602, 604 et 606 peuvent être sous la forme d'un ensemble de sous-blocs, référencés 906.1 à 906.3 sur un exemple de la figure 10B, parallélépipédiques rectangles, parallèles et disjoints entre eux. Subdiviser les blocs, ou empilements de couches, en sous-blocs parallélépipédiques, ayant en particulier chacun un rapport d' aspect entre une longueur L et une largeur Wi important, par exemple tel que L/W1 ≥ 10, permet d' introduire une anisotropie de forme dans une direction orthogonale à la direction du champ magnétique à détecter, et donc de garantir un bon alignement des aimantations le long de leurs directions principales respectives correspondant à la direction de leur plus grande dimension L. Cette largeur Wi est par exemple comprise entre environ 0,25 μm et 10 μm, et préférentiellement inférieure à environ 5 μm. De tels sous-blocs peuvent être obtenus en effectuant une gravure par exemple de type IBE (gravure ionique) dans les couches de matériaux ferromagnétique et antiferromagnétique empilées.
Les empilements de couches de matériaux ferromagnétique et antiferromagnétique sont destinés être orientés magnétiquement de manière similaire aux matériaux magnétiques 608, 610 et 612 représentés sur la figure 8, c'est-à-dire selon la direction de l'orientation magnétique Baimanti pour les structures 602 et 604, et selon la direction de l'orientation magnétique Baimant2 pour la structure 606, ces deux orientations magnétiques Baimanti et Baimant2 étant perpendiculaires l'une par rapport l'autre.
Lors de la réalisation des structures 602, 604 et 606 selon cette variante de réalisation, après avoir réalisé les empilements de couches 902.1 - 902.4 et 904.1 - 904.5, on effectue un recuit de mise en ordre magnétique, dont la température permet de réaliser une mise en ordre du matériau antiferromagnétique .
Lorsque le matériau antiferromagnétique est non ordonné, par exemple du type NiMn, ou PtMn, ou PdPtMn, c'est-à-dire un matériau qui ne présente pas de couplage d'échange après dépôt, l'étape de recuit est effectuée à une température supérieure ou égale à la température de mise en ordre de ce matériau. Cette température de mise en ordre est typiquement supérieure à environ 2500C. Pour un matériau antiferromagnétique ordonné tel que du FeMn, ou du IrMn, ou du NiO, ou du Fe2Û3, c'est-à-dire qui présente un couplage d'échange après dépôt, l'étape de recuit est effectuée à une température supérieure à la température de blocage ou de la température de Néel de ce matériau, soit typiquement comprise entre environ 1500C et 2500C. Le recuit peut être effectué par exemple à une température supérieure à 2600C lorsque le matériau antiferromagnétique est du PtMn. Au cours du recuit, en particulier au début de celui-ci, on applique un champ magnétique B, orienté de manière à former un angle non nul, et par exemple égale à environ 45°, par rapport aux orientations magnétiques Baimanti et Baimant2 • Le champ magnétique appliqué peut être un champ saturant d' intensité î? = Bsat prévue supérieure à une valeur prédéterminée de champ correspondant au champ de saturation des blocs selon leur axe difficile. L'axe difficile est l'axe pour lequel le champ magnétique appliqué pour aligner l'aimantation du bloc, c'est-à-dire de l'empilement de couches, est le plus important, soit le champ magnétique nécessaire pour saturer l'aimantation le long de la plus petite dimension, c'est-à-dire la largeur W, des empilements de couches. Dans un cas où l'on réalise des empilements de couches de largeurs différentes, un champ magnétique saturant supérieur au champ de saturation de l'empilement de couches de plus faible largeur est appliqué .
Le champ saturant appliqué peut être très supérieur à ladite valeur prédéterminée, et peut être par exemple de l'ordre IT ou 2T.
Au cours du recuit, on réduit l'intensité du champ magnétique appliqué, de sorte que le module du champ magnétique appliqué projeté le long de l'axe x, correspondant à l'axe dans lequel la longueur des empilements de couches des structures 602 et 604 est mesurée, est supérieur ou égal à un champ de saturation HL des empilements de couches des structures 602 et 604, et que le module du champ magnétique appliqué projeté le long de l'axe y, correspondant à l'axe dans lequel la longueur de l'empilement de couches de la structure 606 est mesurée, est supérieur ou égal au champ de saturation HL du de l'empilement de couches de la structure 606. Ainsi, le module du champ magnétique appliqué projeté le long de l'axe y est inférieur au champ de saturation des empilements de couches des structures 602 et 604 selon leur axe difficile d'aimantation. De plus, le module du champ magnétique appliqué projeté le long de l'axe x est inférieur au champ de saturation selon l'axe difficile d'aimantation de l'empilement de couches de la structure 606.
Le module du champ magnétique appliqué projeté le long de l'axe y peut être 20 fois plus faible que le champ de saturation des empilements de couches des structures 602 et 604 selon leur axe difficile d'aimantation, afin de garantir un alignement des aimantations dans les empilements de couches des structures 602 et 604 à 5° de leur direction principale (direction parallèle à leur longueur L) .
Le champ de saturation HL d'un empilement de couches de longueur L orientée selon l'axe x peut être évalué à l'aide de la formule suivante :
Figure imgf000051_0001
Le champ de saturation Hw de ce même empilement de couches selon l'axe y peut être évalué à l'aide la formule suivante :
1 W
Hw = 4 *π *Ms*t* t + W L2 avec : t : épaisseur de l'ensemble des couches à base de matériau ferromagnétique pour un empilement ;
M3 : aimantation à saturation du matériau ferromagnétique ;
L : dimension la plus grande des couches de matériaux magnétiques, c'est-à-dire la longueur ;
W : dimension la plus petite des couches de matériaux magnétiques, c'est-à-dire la largeur.
Par exemple, pour des empilements de couches d'environ 100 μm de longueur, 2 μm de largeur et d'environ 100 nanomètres d'épaisseur, on a HL = 1.10"4 T et Hw = 0,513 T.
En appliquant un champ de 0,03 T à 45°, on peut obtenir une orientation de l'aimantation à mieux que 5° du grand axe d'un bloc quelque soit son orientation . Le module du champ projeté le long de la dimension la plus petite est de préférence inférieur à environ 5% de HL afin de garantir un alignement meilleur que 5° par rapport à la dimension la plus grande et inférieur à environ 2% pour un alignement meilleur que 2° par rapport à la dimension la plus grande .
Dans le cas où les empilements de couches des structures 602 et 604 ont des largeurs différentes, on obtiendra alors des alignements différents par rapport aux directions principales, c'est-à-dire les directions selon les longueurs L de chaque empilement de couches.
Par exemple, si les couches de l'empilement de la structure 602 ont une première largeur W = Wl =
10 μm et que les couches de l'empilement de la seconde structure 604 ont une deuxième largeur W = W2 = 2 μm, les couches des empilements des structures 602 et 604 ayant une longueur L = 100 μm et qu'on applique par exemple un champ magnétique égal à environ 0,03 T, l'aimantation dans l'empilement de couches de la structure 602 sera désalignée d'environ 20° par rapport à sa direction principale alors que le désalignement ne sera que de 5° dans l'empilement de couches de la structure 604.
Pour ne pas avoir à mettre en œuvre des champs magnétiques trop faibles dans le four de recuit
11 peut être préférable de réaliser des empilements de couches de largeur W inférieure à environ 2 μm. Après avoir réduit l'intensité du champ magnétique, on réduit la température de recuit afin de générer dans chaque empilement de couches, un échange entre le matériau antiferromagnétique et le matériau ferromagnétique, ce qui permet de figer définitivement les directions d'aimantation. A l'issue du recuit, on obtient des structures 602 et 604 comportant chacune un empilement de couches de matériaux ferromagnétique et antiferromagnétique ayant une orientation d'aimantation identique dans une direction qui peut être sensiblement parallèle à celle de l'axe x ou différer de moins de 5° de celle de l'axe x, tandis que la structure 606 peut comporter un empilement de couches de matériaux ferromagnétique et antiferromagnétique ayant une aimantation d'orientation différente, qui est sensiblement orthogonale à celle des empilements de couches des structures 602 et 604.
Avec un tel capteur, si un champ magnétique perturbateur fort comme celui d'un aimant venait renverser l'orientation d'aimantation des structures 602, 604 et 606, cette orientation serait restaurée dès que l'aimant serait éloigné du capteur. Le long du petit axe (largeur), l'aimantation pourrait tourner en présence d'une perturbation magnétique mais retournerait à sa position initiale en fin de perturbation.
Dans une quatrième variante de réalisation du capteur 600 représentée sur la figure HA, il est possible que celui-ci soit réalisé à partir de la première structure 602 et de deux structures 604.1 et 604.2 similaires à la structure 604 représentée sur la figure 8. De manière analogue au capteur 600 représenté sur la figure 8, la première structure 602 permet de mesurer la composante BextA du champ magnétique qui est parallèle à l'axe z et la seconde structure 604.1 permet de mesurer la composante BextB du champ magnétique qui parallèle à l'axe y.
Ce capteur 600 comporte en outre une troisième structure 604.2, similaire à la seconde structure 604.1. Cette troisième structure 604.2 est couplée à un guide de flux magnétique 650 permettant de réorienter la composante Bextc du champ magnétique dans une direction perpendiculaire à la direction d'aimantation Baimanti du matériau magnétique 612 de la troisième structure 604.2, à savoir parallèlement à l'axe y, permettant à la troisième structure de mesurer la composante Bextc du champ magnétique.
Le guide de flux 650 est réalisé à partir de matériau ferromagnétique doux et comporte une structure permettant de réorienter les lignes de champ magnétique parallèles à l'axe x en lignes de champ magnétique parallèles à l'axe y. Le guide de flux magnétique 650 comporte un élément d'entrée 652 en forme d'entonnoir présentant une entrée de largeur égale à Ly et une sortie de largeur égale à Lx correspondant à la longueur (dimension selon l'axe x) du bloc formé par le matériau magnétique 612. L'élément d'entrée 652 est relié à un premier élément coudé 654 qui forme un angle à 90° et permet de réorienter parallèlement à l'axe y les lignes de champ magnétique qui sont entrées dans l'élément d'entrée 652. Ce champ magnétique réorienté peut ensuite être mesuré par la troisième structure 604.2. Le guide de flux magnétique 650 comporte également un second élément coudé 656 permettant de réorienter les lignes de champs parallèlement à l'axe x, ces lignes réorientées étant ensuite « évacuées » par un élément de sortie 658 en forme d'entonnoir inversé, présentant une entrée de largeur égale à Lx et une sortie de largeur égale à Ly. Les différents éléments du guide de flux magnétique 650 forment une structure symétrique autour de la troisième structure 604.2. L'élément d'entrée 652 du guide de flux magnétique 650 permet de réaliser une amplification des lignes de champs sensiblement proportionnelle au rapport Ly/Lx, qui peut être par exemple égal à environ 5. Ainsi, pour une composante Bextc = 50 μT, l'induction mesurée par la troisième structure 604.2 peut correspondre à une induction orientée parallèlement à l'axe y telle que By = -218 μT . Pour une composante Bextc = - 50 μT, l'induction mesurée par la troisième structure 604.2 peut correspondre à une induction orientée parallèlement à l'axe y telle que By = 225 μT .
L'utilisation d'un tel guide de flux magnétique 650 permet de réaliser un capteur tri-axe à partir de structures pouvant être toutes réalisées à partir d'un matériau magnétique de même orientation magnétique (Baimanti sur l'exemple de la figure HA) .
Dans l'exemple du capteur 600 représenté sur la figure HA, la troisième structure 604.2 couplée au guide de flux magnétique 650 permet de mesurer la composante Bextc du champ magnétique. Toutefois, la troisième structure 604.2 est sensible à la composante B6XtB du champ magnétique ainsi qu'à une éventuelle accélération parallèle à l'axe y. Afin d'insensibiliser la structure destinée à mesurer la composante Bextc du champ magnétique par rapport à la composante BextB du champ magnétique et à une accélération selon l'axe y, le capteur 600 peut être réalisé selon une autre variante représentée sur la figure HB.
Dans cette variante de réalisation du capteur 600 représentée sur la figure HB, celui-ci comporte la structure 602 et trois structures similaire à la structure 604 de la figure 8, référencées 604.1, 604.2 et 604.3 sur la figure HB. De manière analogue au capteur 600 représenté sur la figure HA, la première structure 602 permet de mesurer une composante B6XtA du champ magnétique à mesurer parallèle à l'axe Z et la seconde structure 604.1 permet de mesurer une composante BextB du champ magnétique parallèle à l'axe Y.
Les deux autres structures 604.2 et 604.3 fonctionnent de manière différentielle afin de mesurer la composante Bextc du champ magnétique. Pour cela, ces deux structures 604.2 et 604.3 sont couplées à un guide de flux 660. Le guide de flux 660 comporte un premier élément d'entrée 662.1 et un premier élément coudé 664.1, par exemple similaires à l'élément d'entrée 652 et au premier élément coudé 654 précédemment décrits en liaison avec la figure HA, le premier élément coudé 664.1 permettant d'amener les lignes de champ réorientées parallèlement à l'axe y dans la troisième structure 604.2. De manière analogue, le guide de flux 660 comporte un second élément d'entrée 662.2 et un second élément coudé 664.2 permettant de réorienter des lignes de champ de la composante Bextc du champ magnétique parallèlement à l'axe y et dans une direction opposée à celle de la réorientation réalisée par le premier élément d'entrée 662.1 et le premier élément coudé 664.1. Le guide de flux 660 comporte également un troisième élément 666 permettant de réorienter les lignes de champ sortantes des structures 604.2 et 604.3 et de les acheminer vers un élément de sortie 668 par exemple similaire à l'élément de sortie 658 précédemment décrit en liaison avec la figure HA. Dans cette variante, les éléments de liaison du corps et les jauges de contraintes des troisième et quatrième structures 604.2 et 604.3 sont disposés du même côté du corps afin que l'ensemble formé par les troisième et quatrième structures 604.2 et 604.3 ainsi que le guide de flux magnétique 660 soit insensible à la composante BextB du champ magnétique et à une accélération parallèle à l'axe y.
Le ou les éléments d'entrée des guides de flux 650 et 660 peuvent également être réalisés de manière non évasée, ces éléments comportant dans ce cas une largeur uniforme Lx. Dans ce cas, les guides de flux 650 et 660 réalisent une réorientation des lignes de champ sans amplification préalable. Il serait également possible que le ou les éléments d'entrée soient réalisés de manière non évasée, mais que le ou les éléments coudés des guides de flux comportent une partie évasée afin de réaliser une amplification non pas des lignes de champs selon la composante Bextc du champ magnétique, mais une amplification des lignes de champ réorientées parallèlement à l'axe y. Les capteurs décrits précédemment sont réalisés en technologie de surface à partir d'un substrat SOI, permettant ainsi à ces capteurs d'être réalisés de manière complètement intégrés dans le substrat SOI.
Dans une variante des capteurs 100 à 500 précédemment décrits, les corps de ces capteurs comportant un matériau ferromagnétique disposé dans un caisson peuvent être remplacés par des corps monolithiques comportant chacun une bobine disposée sur une des faces principales du corps, de manière analogue à la structure de détection 618 décrite ci-dessus. De plus, dans une autre variante, les corps des capteurs précédemment décrits pourraient ne pas comporter un caisson dans lequel est disposé un matériau ferromagnétique, mais être formé par plusieurs couches de matériau magnétiques empilées les unes sur les autres .
De plus, dans les capteurs 100 à 600 précédemment décrits, le ou les matériaux ferromagnétiques utilisés peuvent être durs ou doux. Enfin, lorsqu'un des capteurs 100 à 600 est réalisé avec un matériau ferromagnétique doux, il est également possible que ce matériau soit disposé sous la forme d'un empilement de couches à base de matériaux ferromagnétique et antiferromagnétique, tel que précédemment décrit en variante de réalisation du capteur 600.
Lorsque l'un des capteurs 100 à 600 fait appel à un matériau ferromagnétique doux ou à un corps monolithique comportant une bobine (comme par exemple la structure de détection 618 précédemment décrite) , c'est-à-dire lorsque la grandeur sensible du capteur au champ à mesurer est variable, on peut faire varier cette grandeur sensible à une fréquence sensiblement proche d'une fréquence de résonance mécanique du corps du capteur, permettant de faire entrer en résonance le corps du capteur et amplifier la force s' exerçant sur les moyens de détection du capteur par le facteur de qualité du résonateur mécanique ainsi formé. Dans une variante de réalisation des différents capteurs précédemment décrits dans lesquels les corps ont une forme sensiblement rectangulaire et dont l'axe des moyens de liaison se trouve sensiblement au niveau d'un des côtés du corps, les corps de ces capteurs peuvent avoir une forme telle que le centre de gravité du corps se trouve sensiblement au niveau de l'axe de pivot des moyens de liaison du capteur.
En effet, en présence d'une accélération, le corps du capteur subit un champ de force δF = pα , avec a l'accélération et p la masse volumique du matériau du corps. Le couple qui résulte de ce champ de force en un point de coordonnées r s'écrit :
Cpivot = \{r -ro)xδFdV , où F0 est la coordonnée v du pivot et V le volume du corps . Vu que δF peut être considéré comme constant à l'échelle du corps, si le corps est équilibré au niveau du pivot, se traduisant par le fait que , alors le couple Cpιvot
Figure imgf000059_0001
s' exerçant sur le corps au niveau du pivot est nul, de même que la sensibilité du corps aux accélérations. De la même manière, les moyens magnétiques, situés sur le corps du capteur, peuvent être avantageusement équilibrés par rapport au pivot de sorte que le couple qui s'exerce au niveau de ce pivot et qui résulte du champ de force s' exerçant sur un matériau magnétique en présence d'un gradient de champ δF = {m-grad)B soit sensiblement proche de 0 dans ce cas, et par conséquent que la sensibilité du capteur aux gradients de champ le soit aussi. Un premier exemple de réalisation d'un tel corps 702 est représenté schématiquement sur la figure 12A. Les moyens magnétiques, bien que non représentés sur cette figure, sont répartis de manière équilibrée et homogène sur et/ou dans le corps 702. Sur cette figure 12A, le corps 702 a une forme, dans le plan (x,y), sensiblement rectangulaire, dont la dimension selon l'axe x est supérieure à celle selon l'axe y, comportant un évidement 704 formant un accès au centre de gravité du corps 702. Le corps 702 a donc une forme de « U » dont le centre de gravité se trouve sensiblement au niveau d'une paroi 705 révélée par 1' évidement 704. Le corps 702 est relié à une charnière 706 sensiblement au niveau de son centre de gravité (par la paroi 705), cette charnière 706 étant destinée à être également reliée à une zone d'encastrement du capteur non représentée sur la figure 12A. Deux jauges de contraintes 708a, 708b du capteur comportant le corps 702 sont également reliées à la paroi 705 du corps 702. Un tel corps 702 forme une masse équilibrée autour de l'axe de liaison de la charnière 706 (axe parallèle à l'axe z) et peut par exemple être utilisé dans le capteur 400 précédemment décrit, à la place du corps 108, afin de détecter un champ magnétique orienté selon l'axe y.
Un second exemple de réalisation d'un tel corps 802 est représenté schématiquement sur la figure 12B. Là encore, les moyens magnétiques ne sont pas représentés mais sont par exemple répartis de manière homogène et équilibrée sur et/ou dans le corps 802. Sur cette figure 12B, le corps 802 a une forme, dans le plan (x,y), sensiblement rectangulaire. Le corps 802 comporte un évidement central 804 dans lequel est disposé une zone d'encastrement 807 du capteur reliée au corps 802 par deux charnières 806 formant un axe de liaison parallèle à l'axe y sensiblement au niveau du centre de gravité du corps 802. Le corps 802 comporte en outre deux autres évidements 804b dans lesquels des jauges de contraintes 808a, 808b sont disposées et reliées au corps 802.
Un tel corps 802 forme une masse équilibrée autour de l'axe de liaison formé par les charnières 806 et peut par exemple être utilisé dans le capteur 100 précédemment décrit, à la place du corps 108, afin de détecter un champ magnétique orienté selon l'axe z.
Il est possible de réaliser en outre une encapsulation des capteurs précédemment décrits, par exemple lorsque l'on souhaite que ces capteurs fonctionnent sous une atmosphère particulière. Une telle encapsulation peut également permettre de protéger les matériaux ferromagnétiques utilisés tels que le NdFeB ou le SmCo qui sont sensibles à la corrosion et aux attaques chimiques, et mécaniquement fragiles. Une telle encapsulation peut être réalisée de manière analogue à une encapsulation classique de dispositif de type MEMS. De plus, une encapsulation sous vide des capteurs précédemment décrits permet de réduire le bruit Brownien. Les matériaux magnétiques peuvent dans ce cas être protégés par des couches de passivation .
Enfin, tous les capteurs précédemment décrits peuvent comporter une cellule d'amplification de contrainte comprenant par exemple au moins deux bras rigides reliés mécaniquement l'un à l'autre par au moins un élément de liaison au niveau d'une première de leurs extrémités, une seconde extrémité d'un premier des deux bras rigides étant reliée mécaniquement au corps, une seconde extrémité d'un second des deux bras rigides étant reliée à une zone d'encastrement, ledit élément de liaison, ou les premières extrémités des deux bras rigides, étant relié mécaniquement à une extrémité de la jauge de contrainte suspendue (cette extrémité correspondant à celle reliée au corps des capteurs précédemment décrits) . Une telle cellule d'amplification de contrainte peut notamment être réalisée dans le plan du capteur, par exemple dans la couche superficielle du substrat SOI à partir duquel est réalisé le capteur. En couplant les capteurs de champ magnétique décrits précédemment avec une ou plusieurs cellules d'amplification de contraintes, on améliore la sensibilité des mesures de champ magnétique réalisées par ces capteurs. On décrit maintenant en liaison avec les figures 13A à 13J (vues de profil) un exemple d'un premier procédé de réalisation du capteur 100 précédemment décrit en liaison avec les figures IA et IB.
Comme représenté sur la figure 13A, le capteur 100 est réalisé à partir d'un substrat SOI comportant les couches 102, 104 et 106 précédemment décrites. Dans cet exemple de réalisation, la couche
102 de silicium a une épaisseur égale à environ 750 μm, la couche de Siθ2 104 a une épaisseur égale à environ
0,4 μm et la couche superficielle de silicium 106 a une épaisseur égale à environ 5 μm. Une couche 107 à base de SiN est en outre déposée sur la couche superficielle 106, par exemple par LPCVD (dépôt chimique en phase vapeur à basse pression) . Cette couche 107 est destinée à former un masque de gravure. On réalise ensuite une lithographie et une gravure, par exemple DRIE (gravure ionique réactive profonde), dans la couche superficielle 106 pour libérer des portions de la couche superficielle 106 destinées à former les charnières 116 (figure 13B) . Cette gravure est réalisée avec arrêt sur la couche diélectrique 104.
Comme représenté sur la figure 13C, on réalise ensuite un amincissement desdites portions de la couche superficielle 106 afin de former les charnières 116. Cet amincissement est réalisé jusqu'à obtenir l'épaisseur (dimension selon l'axe Z) souhaitée pour les charnières 116. Cet amincissement est réalisé lorsque les charnières ont une épaisseur inférieure à celle du corps du capteur, comme c'est le cas pour les capteurs 100 et 300. Toutefois, lorsque l'on réalise l'un des capteurs 200, 400 ou 500 dans lesquels l'épaisseur de la charnière est sensiblement égale à celle du corps, cette étape d'amincissement n'est pas mise en œuvre.
On dépose ensuite un oxyde de bouchage 109, par exemple du verre de phosphosilicate, sur l'ensemble du dispositif afin de remplir temporairement les espaces vides autour des charnières 116. L'oxyde de bouchage se trouvant sur la couche de SiN 107 est ensuite supprimé par exemple par une planarisation mécano-chimique avec arrêt sur la couche de SiN 107 afin de ne conserver que l'oxyde de bouchage 109 se trouvant dans les cavités formées dans la couche superficielle 106 par la précédente étape de gravure (figure 13D) . Comme représenté sur la figure 13E, on réalise une lithographie et une gravure au temps, par exemple DRIE, dans la couche superficielle de silicium 106 avec arrêt dans la couche superficielle de silicium 106 pour former un emplacement 111 dans lequel le matériau ferromagnétique 112 du capteur 100 est destiné à être déposé.
Le matériau ferromagnétique est ensuite déposé sur l'ensemble du dispositif afin de remplir l'emplacement 111. Le matériau ferromagnétique se trouvant sur la couche de SiN 107 est ensuite supprimé par exemple par une planarisation mécano-chimique avec arrêt sur la couche de SiN 107 afin de ne conserver que le matériau ferromagnétique 112 se trouvant dans l'emplacement 111 (figure 13F) . On réalise ensuite un recuit et une aimantation du matériau ferromagnétique 112 afin de définir la direction d' aimantation Baimant du matériau
112, ici parallèle à l'axe X. On dépose ensuite une couche de passivation 113, par exemple à base de SiN et par exemple d'épaisseur égale à environ 0,3 μm, sur le dispositif, excepté à l'emplacement au niveau duquel la jauge de contrainte est destinée à être suspendue
(figure 13G) .
On réalise ensuite un dépôt de la jauge métallique 124 puis un dépôt d'une couche de protection 115 à base de Siθ2 sur l'ensemble du dispositif, destinée à protéger notamment la jauge de contrainte 124 (figure 13H) .
Comme représenté sur la figure 131, on réalise alors des ouvertures dans le couche de protection 115 et notamment au-dessus des extrémités libres de la jauge de contrainte 124 afin de réaliser les contacts électriques 128 par dépôt de métallisations, et réaliser également une gravure profonde dans la couche superficielle 106 afin de délimiter et former le contour du caisson 110. Enfin, on réalise une gravure de l'oxyde présent sur le dispositif, c'est-à-dire la couche de protection 115, ainsi que l'oxyde de bouchage 109 et la portion de la couche de Siθ2 104 se trouvant sous le caisson 110 et sous les charnières 116, libérant ainsi le corps 108 et les charnières 116 du reste du capteur 100 (figure 13J) .
Bien que décrit pour la réalisation du capteur 100, les étapes décrites ci-dessus pourraient également s'appliquer pour la réalisation des autres capteurs 200, 300, 400, 500 et 600 précédemment décrits . On décrit maintenant en liaison avec les figures 14A à 14H (vues de profil) un exemple d'un second procédé de réalisation du capteur 200, dans sa variante décrite en liaison avec la figure 3, c'est-à- dire comportant une jauge piézorésistive formée par une poutre de silicium.
Comme représenté sur la figure 14A, le capteur est réalisé à partir d'un substrat SOI comportant les couches 102, 104 et 106 précédemment décrites. Dans cet exemple de réalisation, la couche 102 de silicium a une épaisseur égale à environ 750 μm, la couche de Siθ2 104 a une épaisseur égale à environ 0,4 μm et la couche superficielle de silicium 106 a une épaisseur égale à environ 200 nm. On réalise une gravure dans la couche superficielle 106 afin de former la jauge piézorésistive 124, c'est-à-dire ici une nano- poutre de silicium.
Comme représenté sur la figure 14B, on réalise ensuite un dépôt d'oxyde sur le dispositif, remplissant ainsi les zones précédemment gravées dans la couche 106 définissant la jauge de contrainte piézorésistive 124. Cet oxyde est ensuite gravé afin de ne conserver qu'une portion 117 au niveau de la jauge piézorésistive 124. On réalise ensuite une épitaxie épaisse de la couche de silicium 106, recouvrant notamment la portion d'oxyde 117, puis le dépôt d'une couche de passivation 107, ici à base de SiN, sur la couche 106 épitaxiée (figure 14C) . De manière analogue à la figure 13E, on réalise une lithographie et une gravure au temps, par exemple DRIE, dans la couche de silicium épitaxiée 106, avec arrêt dans la couche de silicium épitaxiée 106, pour former l'emplacement 111 dans lequel le matériau ferromagnétique 112 du capteur 200 est destiné à être déposé (figure 14D) .
Le matériau ferromagnétique est ensuite déposé sur l'ensemble du dispositif afin de remplir notamment l'emplacement 111. Le matériau ferromagnétique se trouvant sur la couche de SiN 107 est ensuite supprimé par exemple par une planarisation mécano-chimique avec arrêt sur la couche de SiN 107 afin de ne conserver que le matériau ferromagnétique 112 se trouvant dans l'emplacement 111. On réalise ensuite un recuit et une aimantation du matériau ferromagnétique 112 afin de définir la direction d'aimantation Baimant du matériau 112, ici parallèle à l'axe X. On dépose ensuite une couche de passivation 113, par exemple à base de SiN et par exemple d'épaisseur égale à environ 0,3 μm, sur le dispositif (figure 14E) .
On grave ensuite des portions de la couche de passivation 113 puis les contacts électriques 128 sont ensuite réalisées par dépôt de couches métalliques et gravure au niveau des portions précédemment gravées dans la couche de passivation 113 (figure 14F) .
On réalise ensuite une gravure dans la couche de passivation 113 et dans la couche de silicium épitaxiée 106 afin de délimiter le caisson 110 ainsi que la charnière (non référencée) destinée à relier mécanique et former la liaison pivot entre le caisson 110 et le reste du dispositif (figure 14G) . Des parties de la couche diélectrique 104 ainsi que la portion d'oxyde 117 sont ensuite gravées, par exemple par une gravure humide, afin de libérer le caisson 110, la jauge de contrainte 124 et la charnière du reste du capteur 200 (Figure 14H) . Il est également possible de supprimer ensuite, par exemple par gravure, la couche de passivation 113.
Bien que décrit pour la réalisation du capteur 200, le procédé décrit ci-dessus pourrait également s'appliquer pour la réalisation des autres capteurs 100, 300, 400, 500 et 600 précédemment décrits.

Claims

REVENDICATIONS
1. Capteur (100, 200, 300, 400, 500, 602, 604, 604.1 - 604.3, 606) de champ magnétique comportant au moins :
- un corps (108, 508, 622, 702, 802) comprenant des moyens magnétiques (112, 512, 608, 610, 612, 620) aptes à former un couple s' exerçant sur le corps (108, 508, 622, 702, 802) sous l'action d'un champ magnétique extérieur à détecter, des moyens de liaison (116, 216, 516, 706, 806), distincts du corps (108, 508, 622, 702, 802), reliant mécaniquement le corps (108, 508, 622, 702, 802) à une portion d'encastrement (114, 514, 807) du capteur par au moins une liaison pivot d'axe perpendiculaire à la direction du champ magnétique à détecter,
- des moyens de détection d'une contrainte exercée par le corps (108, 508, 622, 702, 802) sous l'action du couple, distincts des moyens de liaison
(116, 216, 516, 706, 806), comportant au moins une jauge de contrainte suspendue (124, 204, 524, 708a,
708b, 808a, 808b) dont au moins une première partie
(123, 203) est reliée mécaniquement à la portion d'encastrement (114, 514, 807), au moins une deuxième partie (125, 205) étant reliée mécaniquement au corps
(108, 508, 622, 702, 802), et dont au moins une troisième partie (127, 207) disposée entre la première
(123, 203) et la deuxième partie (125, 205) est suspendue entre la portion d'encastrement (114, 514,
807) et le corps (108, 508, 622, 702, 802) .
2. Capteur (100, 200, 300, 400, 500, 602, 604, 604.1 - 604.3, 606) selon la revendication 1, dans lequel la jauge de contrainte suspendue (124, 204, 524, 708a, 708b, 808a, 808b) est disposée en dehors de l'axe de la liaison pivot et/ou perpendiculairement à l'axe de la liaison pivot.
3. Capteur (100, 200, 300, 400, 500, 602, 604, 604.1, 606) selon l'une des revendications précédentes, dans lequel les moyens magnétiques comportent au moins un matériau ferromagnétique (112, 512, 608, 610, 612) dont la direction d'aimantation est perpendiculaire à la direction du champ magnétique à détecter et à l'axe de la liaison pivot, ou au moins une bobine (620) destinée à être traversée par un courant électrique dans un plan permettant de générer un champ magnétique induit de direction perpendiculaire à la direction du champ magnétique à détecter.
4. Capteur (100, 200, 300, 400, 500, 602,
604, 604.1, 606) selon la revendication 3, dans lequel le matériau ferromagnétique (112, 512, 608, 610, 612) est un matériau ferromagnétique doux.
5. Capteur (100, 200, 300, 400, 500, 602,
604, 604.1, 606) selon la revendication 4, comportant en outre des moyens d' aimantation du matériau ferromagnétique (112, 512, 608, 610, 612) tels que le matériau ferromagnétique (112, 512, 608, 610, 612) et lesdits moyens d'aimantation soient destinés à former un électroaimant.
6. Capteur (100, 200, 300, 400, 500, 602, 604, 604.1, 606) selon l'une des revendications 1 à 3, dans lequel les moyens magnétiques comportent un empilement d'une ou plusieurs couches de matériau ferromagnétique (902.1 - 902.4) disposées de manière alternée avec une ou plusieurs couches de matériau antiferromagnétique (904.1 - 904.5) .
7. Capteur (100, 200, 300, 400, 500, 602, 604, 604.1, 606) selon la revendication 6, dans lequel chaque empilement de couches forme un ensemble de blocs (906.1, 906.2, 906.3) parallèles et disjoints entre eux.
8. Capteur (100, 200, 300, 400, 500, 602, 604, 604.1 - 604.3, 606) selon l'une des revendications précédentes, dans lequel le corps (108, 508, 622, 702, 802) comporte un caisson (110, 510) dans lequel sont disposés les moyens magnétiques (112, 512, 608, 610, 612) ou une face sur laquelle sont disposés les moyens magnétiques (620) .
9. Capteur (100, 200, 300, 400, 500, 602, 604, 604.1 - 604.3, 606) selon l'une des revendications précédentes, les moyens de liaison comportant au moins une charnière (116, 216, 516, 706, 806) .
10. Capteur (100, 200, 300, 400, 602, 604, 604.1 - 604.3, 606) selon la revendication 9, dans lequel le corps (108, 622, 702, 802) comporte deux faces principales (118, 120) parallèles l'une par rapport à l'autre, la charnière (116, 216, 706, 806) étant reliée à une autre face du corps (108, 622, 702, 802) sensiblement perpendiculaire aux deux faces principales du corps (108, 622, 702, 802) .
11. Capteur (100, 200, 300, 400, 500, 602,
604, 604.1 - 604.3, 606) selon l'une des revendications précédentes, dans lequel la jauge de contrainte suspendue (124, 524, 708a, 708b, 808a, 808b) est de type piézorésistif et comporte au moins une poutre à base d'un matériau semi-conducteur ou à base d'un matériau métallique.
12. Capteur (100, 200, 300, 400, 500, 602, 604, 604.1 - 604.3, 606) selon la revendication 11, dans lequel les moyens de détection comportent en outre des moyens (126, 530, 532) de mesure de la résistance électrique de la jauge de contrainte suspendue (124, 524, 708a, 708b, 808a, 808b) .
13. Capteur (200) selon l'une des revendications 1 à 10, dans lequel la jauge de contrainte suspendue est de type résonateur et comporte au moins une poutre vibrante (204), les moyens de détection comportant en outre des moyens d'excitation (202, 206) de la poutre vibrante (204) et des moyens de mesure (208, 210) d'une variation de la fréquence de vibration de la poutre (204) .
14. Capteur (200) selon la revendication 13, dans lequel les moyens d'excitation de la poutre vibrante (204) comportent au moins un générateur de tension à composantes continue et/ou alternative (202) relié électriquement à au moins une électrode d'excitation (206) couplée à la poutre vibrante (204), et les moyens de mesure d'une variation de la fréquence de vibration de la poutre (204) comportent au moins des moyens de mesure (210) d'une variation de fréquence du potentiel électrique d' au moins une électrode de détection (208) couplée à la poutre vibrante (204) .
15. Capteur (400) selon l'une des revendications précédentes, comportant en outre au moins une seconde jauge de contrainte (124b) suspendue entre la portion d'encastrement (114) et le corps
(108), les deux jauges de contrainte suspendues (124a, 124b) étant disposées de part et d'autre de l'axe de la liaison pivot.
16. Capteur (500) selon l'une des revendications précédentes, comportant au moins une jauge de contrainte suspendue (524) entre la portion d'encastrement (514) et le corps (508) montée en pont de Wheatstone.
17. Capteur (300) selon l'une des revendications précédentes, comportant en outre : un second corps (108b) comprenant des seconds moyens magnétiques (112b) aptes à former un second couple s' exerçant sur le second corps (108b) sous l'action du champ magnétique à détecter de manière sensiblement similaire au premier corps (108a), des seconds moyens de liaison (116b) reliant mécaniquement le second corps (108b) à une portion d'encastrement (114b) du capteur (300) par au moins une liaison pivot d'axe perpendiculaire à la direction du champ magnétique à détecter,
- des seconds moyens de détection d'une contrainte exercée par le second corps (108b) sous l'action du second couple, comportant au moins une seconde jauge de contrainte (124b) suspendue entre la portion d'encastrement (114b) et le second corps (108b) et destinée à travailler de manière différentielle en compression ou tension par rapport à la première jauge de contrainte suspendue (124a) travaillant respectivement en tension ou en compression.
18. Capteur (500) selon l'une des revendications 1 à 16, dans lequel le corps (508), comporte deux faces principales (520) parallèles l'une par rapport à l'autre, et comporte un évidement (509) traversant les deux faces principales (520) et centré par rapport aux sections des deux faces principales (520), le capteur (500) comportant en outre :
- au moins deux moyens de liaison (516a - 516d) reliant chacun mécaniquement une paroi du corps (508), chaque paroi étant perpendiculaire aux deux faces principales (520) du corps (508) et formant un côté de l'évidement (509), à la portion d'encastrement
(514) du capteur (500) disposée dans l'évidement (509) par une liaison pivot d'axe perpendiculaire à la direction du champ magnétique à détecter et perpendiculaire aux deux faces principales (520) du corps (508) ,
- au moins une jauge de contrainte piézorésistive (524a - 524d) suspendue entre la portion d'encastrement (514) du capteur (500) et le corps (508) .
19. Capteur (100, 200, 300, 400, 500, 602, 604, 604.1 - 604.3, 606) selon l'une des revendications précédentes, le capteur étant de type MEMS et/ou NEMS.
20. Capteur (100, 200, 300, 400, 500, 602, 604, 604.1 - 604.3, 606) selon l'une des revendications précédentes, dans lequel le corps (702, 802) a une forme telle que le centre de gravité du corps (702, 802) soit sensiblement proche de l'axe de la liaison pivot .
21. Capteur (100, 200, 300, 400, 500, 602, 604, 604.1 - 604.3, 606) selon l'une des revendications précédentes, dans lequel le centre de gravité des moyens magnétiques (112, 512, 608, 610, 612, 620) est sensiblement proche de l'axe de la liaison pivot.
22. Capteur (600) de champ magnétique à deux ou trois directions comportant respectivement deux ou trois capteurs magnétiques (602, 604, 604.1 - 604.2, 606) selon l'une des revendications 1 à 21, les capteurs magnétiques (602, 604, 604.1 - 604.2, 606) étant disposés tels que les directions des champs magnétiques destinées à être mesurés par ces capteurs (602, 604, 604.1 - 604.2, 606) sont perpendiculaires les unes par rapport aux autres.
23. Capteur (600) de champ magnétique à trois directions selon la revendication 22, dans lequel les axes des liaisons pivot de deux des capteurs magnétiques (604, 604.1 - 604.2, 606) sont perpendiculaires par rapport à l'axe de la liaison pivot du troisième capteur magnétique (602) .
24. Capteur (600) selon la revendication 23, dans lequel chaque capteur magnétique (602, 604, 606) comporte au moins un matériau ferromagnétique dont la direction d' aimantation est perpendiculaire à la direction de la composante du champ magnétique à détecter par ledit capteur (602, 604, 606) et perpendiculaire à l'axe de la liaison pivot dudit capteur (602, 604, 606) .
25. Capteur (600) selon la revendication 23, dans lequel chaque capteur magnétique (602, 604.1 - 604.3) comporte au moins un matériau ferromagnétique (610, 612) dont la direction d'aimantation est perpendiculaire à l'axe de la liaison pivot dudit capteur (602, 604.1 - 604.3), les directions d'aimantation des matériaux ferromagnétiques (610, 612) des trois capteurs magnétiques (602, 604.1 - 604.3) étant similaires, et comportant en outre au moins un guide de flux magnétique (650, 660) apte à réorienter des lignes de champ magnétique selon une première direction perpendiculaire à la direction initiale desdites lignes de champ, ledit guide de flux magnétique (650, 660) étant couplé à l'un des trois capteurs magnétiques (604.2) tel que ce capteur (604.2) puisse mesurer le champ magnétique formé par lesdites lignes de champ réorientées.
26. Capteur (600) selon la revendication 25, comportant en outre au moins un quatrième capteur magnétique (604.3) similaire au capteur (604.2) auquel est couplé le guide de flux magnétique (660), ledit guide de flux magnétique (660) étant apte à réorienter des lignes de champ magnétique selon une seconde direction perpendiculaire à la direction initiale desdites lignes de champ et opposée à la première direction de réorientation des lignes de champ, le guide de flux magnétique (660) étant en outre couplé au quatrième capteur magnétique (604.3) tel que ce quatrième capteur (604.3) puisse mesurer le champ magnétique formé par lesdites lignes de champ réorientées selon la seconde direction.
27. Capteur (600) selon l'une des revendications 25 ou 26, dans lequel le guide de flux magnétique (650, 660) comporte au moins un élément d'amplification (652, 662.1, 662.2) de lignes de champ magnétique .
28. Procédé de réalisation d'un capteur
(100, 200, 300, 400, 500, 602, 604, 604.1 - 604.3, 606) de champ magnétique comportant au moins les étapes de :
- réalisation d'un corps (108, 508, 622,
702, 802) comprenant des moyens magnétiques (112, 512, 608, 610, 612, 620) aptes à former un couple s'exerçant sur le corps (108, 508, 622, 702, 802) sous l'action d'un champ magnétique extérieur à détecter, - réalisation de moyens de liaison (116, 216, 516, 706, 806), distincts du corps (108, 508, 622, 702, 802), reliant mécaniquement le corps (108, 508, 622, 702, 802) à une portion d'encastrement (114, 514, 807) du capteur par au moins une liaison pivot d'axe perpendiculaire à la direction du champ magnétique à détecter,
- réalisation de moyens de détection d'une contrainte exercée par le corps (108, 508, 622, 702, 802) sous l'action du couple, distincts des moyens de liaison (116, 216, 516, 706, 806), comportant au moins une jauge de contrainte suspendue (124, 204, 524, 708a, 708b, 808a, 808b) dont au moins une première partie est reliée mécaniquement à la portion d'encastrement (114, 514, 807), au moins une deuxième partie étant reliée mécaniquement au corps (108, 508, 622, 702, 802), et dont au moins une troisième partie disposée entre la première et la deuxième partie est suspendue entre la portion d'encastrement (114, 514, 807) et le corps (108, 508, 622, 702, 802) .
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