WO2009037810A1 - Dispositif de mesure, instrument et procédé de mesure, et procédé d'échantillonnage - Google Patents
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Abstract
L'invention concerne un dispositif de mesure capable d'introduire simplement et quantitativement un échantillon dans une chambre de mesure sans l'inonder, et un instrument de mesure, un procédé de mesure et un procédé d'échantillonnage employant le dispositif de mesure. Le dispositif de mesure (1) comprend une première chambre de réception d'échantillon, (11) pourvue d'une ouverture d'introduction d'échantillon (13a), qui reçoit un échantillon introduit par l'ouverture d'introduction d'échantillon ; une seconde chambre de réception d'échantillon (12) pourvue d'une ouverture d'évacuation des gaz (19) et qui reçoit l'échantillon évacué par l'ouverture d'évacuation des gaz et évacué de la première chambre de réception d'échantillon communiquant avec la seconde chambre de réception d'échantillon (12) ; un film de séparation gaz-liquide (9) pour couvrir l'ouverture d'évacuation des gaz de la seconde chambre de réception d'échantillon, et séparer l'échantillon reçu dans la seconde chambre de réception d'échantillon, la séparation étant effectuée de façon à empêcher l'évacuation de l'échantillon par l'ouverture d'évacuation des gaz ; et un mécanisme de mise sous pression pour mettre sous pression, du côté de l'échantillon, la surface liquide de l'échantillon reçu dans la seconde chambre de réception d'échantillon.
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2008
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