WO2007057578A1 - Procede et systeme de reconstruction de surfaces d'objets par imagerie de polarisat! on - Google Patents

Procede et systeme de reconstruction de surfaces d'objets par imagerie de polarisat! on Download PDF

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lighting
polarization
images
reconstruction
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Olivier Morel
Christophe Stolz
Patrick Gorria
Ralph Seulin
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Universite de Bourgogne
Original Assignee
Universite de Bourgogne
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    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • GPHYSICS
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    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/21Polarisation-affecting properties
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    • G03B15/02Illuminating scene
    • G03B15/06Special arrangements of screening, diffusing, or reflecting devices, e.g. in studio

Definitions

  • the present invention relates to a method for reconstructing the surface of objects by polarization imaging and the system for implementing such a method.
  • the invention also relates to the application of the system and method to the inspection of highly reflective metal surfaces.
  • the reflections from the illumination disrupt the acquisition of the images and therefore require confinement of the object to be inspected in order to fully control the lighting parameters.
  • a first known solution is to use laser scanners. This solution requires a matification of the object, by dusting. It therefore requires a complex manipulation of the object, which is not very compatible with the industrial constraints of online production control.
  • the unpolarized light OI After reflection on the SR surface of the object to be inspected, the unpolarized light OI becomes partially linearly polarized.
  • the reflection model of FRESNEL By studying the parameters of the reflected polarized light OR, it is possible to calculate the normal in all points of the surface thanks to the reflection model of FRESNEL.
  • the three-dimensional surface of the examined object is then obtained by integrating the field of normals.
  • the normal in all points of the SR surface is related to the angle of reflection of the wave ⁇ and the angle of incidence ⁇ ( Figure 1).
  • One of the major difficulties of this technique is to remove the ambiguity concerning the angle ⁇ .
  • Several systems based on this method of polarization reconstruction with the exploitation of the coefficients of FRESNEL have been developed, in particular for the analysis of reflective or transparent surfaces of a dielectric nature.
  • the system developed by RAHMANN disclosed in the publication S. Rahmann, Reconstruction of specular surfaces using polarization imaging, SPIE Proc. Conference on Polarization and Color Techniques in Industrial Inspection, pp.
  • the disclosed system requires several points of view, at least two, and preferably three, and poses the problem of matching the two or more images in order to reconstruct the surface.
  • only the polarization angle information is used to reconstruct the surface of the dielectric object and in fact, the ambiguity problem remains when only two images are used.
  • the method and system developed by MIYAZAKI disclosed in the publication D. Miyazaki, M. Kagesawa, and K. Ikeuchi, Determining shapes of transparent objects from two polarization images, IEEE Trans. Anal pattern. Intell. Machine 26 (1), pp.
  • the transparent surface images are reconstructed from a double image, with a slight inclination of the object, and using the polarization angle and polarization degree information.
  • the ambiguity concerning the angle ⁇ is raised algorithmically starting from the information at the edge of the object, which implies, on the one hand, that the contour of the object is digitized, and on the other hand, that the information of the sign is correctly propagated on the whole surface.
  • US Pat. No. 5,028,138 discloses another technique for exploiting polarization data. The purpose of this patent is to determine certain characteristics of an object such as its shape (smooth or rough surface) and its electrical conductivity from the light wave reflected on the surface of this object.
  • the goal is not to reconstruct the analyzed surface in three dimensions by imagery but to be able to essentially classify the surface of the object as being metallic or dielectric.
  • the method exploits two values, the plane of incidence and the ratio of the polarization coefficients of FRESNEL. This method does not use the degree of polarization of the light wave but is based on the angle of incidence of the wave (related to the plane of incidence) and on the complex reflection index, which depends on the nature of the material on the surface of which the analyzed light wave is reflected.
  • the method is based on the determination of the plane of incidence and the orientation of said plane.
  • the determination of the angle of incidence is based on the assumption that the plane of incidence contains the normal to the surface and that the normal at a point is therefore constrained by the degree of polarization and the polarization angle at that point. point.
  • the subject of the present invention is a polarization imaging surface reconstruction system comprising a single camera in polar position, a rotating polarizer, a lighting dome and a computer notable in that it comprises a network of lighting devices whose power is controlled, said network of lighting fixtures being intended to illuminate the lighting dome in four overlapping segments each covering a half-surface of the dome.
  • Another object of the invention is the method of reconstruction of a surface by remarkable polarization imaging in that it comprises a step of constructing an image I quad containing the information on the orientation of the normals according to the four quadrants of the illumination dome, from four images from the illumination of four segments of the dome each covering a half-area of the dome, so that each quadrant is covered by two of said segments.
  • the azimuthal angle ⁇ is determined with a specific algorithm.
  • the invention has the final object the use of the system and the method described above for the inspection of surfaces of highly reflective metal objects obtained by stamping and polishing.
  • FIG. 1 is a representation of the reflection of a non-polarized wave on a reflective surface and its parameters
  • FIG. 2 is a schematic perspective view of the polarization imaging reconstruction system according to the invention, with a torn zone in the dome showing the interior of the latter;
  • FIGS. 3a to 3d are schematic views of the top of the lighting dome representing the four segments of a half-space allowing the construction of an image
  • the polarization imaging reconstruction system 1 consists of a single digital camera 2, a rotating polarizer 3, a lighting dome 4 and a computer 5 for data acquisition and processing.
  • the system 1 comprises a network of lighting devices 6 whose power supply is controlled, that is to say that it allows the selective and controlled ignition of the apparatuses. lighting to illuminate the lighting dome by predefined segments.
  • the illumination pattern is four overlapping segments of half a surface, so that each quadrant of the dome is covered by two of said segments.
  • the network of controlled lighting devices 6 is arranged at the periphery of the inner base of the dome 4, for example in concentric rings.
  • the lighting devices are light-emitting diodes (LEDs) emitting a white light, in the visible range.
  • the LEDs have the advantage of emitting light in a rather directional way, which facilitates the control of the illumination of the dome 4.
  • the digital camera 2 is a camera with CCD sensor. It is placed in a polar position above the dome 4 and the object to be analyzed.
  • the objective of this camera is preferably provided with a telecentric lens in order to have an optimal orthographic reconstruction of the analyzed surface.
  • the rotating polarizer 3 is quite conventionally constituted by a polarizing filter and a liquid crystal component.
  • the hemispherical lighting dome 4 has an aperture 7 at its apex allowing images to be taken by the camera. This lighting dome 4 serves to isolate the object whose surface is to analyze light sources surrounding the system and thus to avoid unwanted light disturbances. The dome 4 also makes it possible to ensure homogeneous diffusion of the light coming from the luminaires 6.
  • a digital camera advantageously used to acquire images with at least 1024 gray levels, the low degree of polarization in the case of metal surfaces requiring a certain sensitivity of the equipment.
  • the system also includes a set of software installed on the computer 5 for controlling the lighting of the dome, the acquisition of images and the calculation.
  • This software package includes algorithms based on the FRESNEL reflection model; the integration of the field of the normals is carried out starting from mathematical models using the values of the angles ⁇ and ⁇ determined.
  • These mathematical models are derived from the FOURIER equations: the FOURIER transform makes it possible to integrate the surface of the object from the values of ⁇ and ⁇ .
  • Another object of the present invention is a method of reconstructing the surface of an object by polarization imaging.
  • this method comprises a step of constructing an image Iqu ad containing the information on the orientation of the normals according to the four quadrants of the lighting dome, from four images originating from the lighting four segments of the dome each covering a half-area of the dome, so that each quadrant is covered by two of said segments.
  • the images are taken in polar view.
  • the quad I image thus obtained has only four gray levels.
  • This step is part of a succession of steps that constitute the reconstruction process.
  • This method essentially comprises the following succession of steps: - introduction of the object whose surface must be examined under the illumination dome, in the axis of the camera;
  • control method will also include a step of comparing the reconstructed image with the theoretical model, which will determine whether the inspected surface meets the required criteria or not.
  • the method according to the invention requires about ten seconds from the start of the image acquisition sequence of the surface to the digital reconstruction of this surface.
  • the polarization image reconstruction technique based on the FRESNEL reflection model has limitations: objects must be highly reflective. However, this constraint can be restricted to an appropriate wavelength, for which the reflected light component is larger than the refracted light at the surface of the object. Thus, it is conceivable to apply the technique according to the invention to translucent objects, glass or polymethyl methacrylate, for example, using UV light sources.
  • the values of slope of the surface of the object must be less than 80 °.
  • a person skilled in the art is able to determine new mathematical models exploiting the data of the method according to the invention and which have a higher degree of reliability, making it possible to push back this limit of the slopes.

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Abstract

La présente invention a pour objet un système (1) de reconstruction de surfaces par imagerie de polarisation comportant une unique caméra numérique (2) en position polaire, un polariseur tournant (3), un dôme d' éclairage (4) et un ordinateur (5), remarquable en ce qu' il comporte un réseau d'appareils d'éclairage (6) dont l'alimentation est pilotée, ledit réseau d'appareils d' éclairage (6) étant destiné à illuminer le dôme d'éclairage (4) selon quatre segments chevauchants couvrant chacun une demi-surface du dôme . L'invention a également pour objet un procédé de reconstruction d'une surface, remarquable en ce qu'il comporte une étape de construction d'une image contenant l'information sur l'orientation des normales selon les quatre quadrants du dôme d'éclairage, exploitant l'éclairage piloté du système selon l'invention. Les objets de l'invention sont particulièrement applicables à l'inspection de surfaces métalliques fortement réfléchissantes présentant des motifs en relief.

Description

PROCEDE ET SYSTEME DE RECONSTRUCTION DE SURFACES D'OBJETS PAR IMAGERIE DE POLARISATION
La présente invention a pour objet un procédé de reconstruction de la surface d'objets par imagerie de polarisation ainsi que le système de mise en œuvre d'un tel procédé. L'invention a également pour objet l'application du système et du procédé à l'inspection de surfaces métalliques fortement réfléchissantes.
Parmi les outils de contrôle qualité, les systèmes d'inspection visuelle automatique sont de plus en plus répandus. Toutefois, pour certains produits, ces systèmes présentent des limites et des contraintes d' application assez spécifiques.
En particulier dans le domaine des surfaces métalliques réfléchissantes, les reflets provenant de l'éclairage perturbent l'acquisition des images et nécessitent donc un confinement de l'objet à inspecter afin de maîtriser entièrement les paramètres d'éclairage.
Une première solution connue est d'utiliser des scanners lasers. Cette solution requiert une matification de l'objet, par poudrage. Elle nécessite donc une manipulation complexe de l'objet, peu compatible avec les contraintes industrielles de contrôle de production en ligne.
On connaît par ailleurs des systèmes basés sur les techniques de profilométrie comme par exemple le système « ONDULO » décrit dans la publication de Y. Surrel, G. Baséotto, Contrôles de défauts de forme par déflectométrie : diverses applications industrielles, Proc. Colloque francophone Méthodes et Techniques Optiques pour l'Industrie (1), pp.223-230, 2002. Ces systèmes sont particulièrement bien adaptés à la détection de défauts d'aspect sur des surfaces métalliques réfléchissantes à faible courbure. Ils s'avèrent toutefois délicats à utiliser pour des objets ayant des pentes importantes liées à la présence de motifs en relief. Une autre technique est celle de reconstruction de la surface par imagerie de polarisation. L'information obtenue par les images de polarisation permet de reconstruire la forme des décors apparaissant à la surface. Par comparaison des données de la surface mesurée avec la surface théorique, on en déduit si l'objet examiné est conforme ou non.
On rappellera brièvement les éléments théoriques soustendants cette technique de reconstruction par imagerie de polarisation, en référence à- la figure 1.
Après réflexion sur la surface SR de l'objet à inspecter, la lumière non polarisée OI devient partiellement linéairement polarisée. En étudiant les paramètres de la lumière polarisée réfléchie OR, on parvient à calculer la normale en tous points de la surface grâce au modèle de réflexion de FRESNEL. La surface tridimensionnelle de l'objet examiné est ensuite obtenue par intégration du champ des normales.
L'exploitation de la séquence d'images de polarisation permet de calculer les composantes de l'onde polarisée OR qui sont le degré de polarisation p et l'angle de polarisation φ. On procède ensuite au calcul des normales qui va être exploité pour reconstruire la surface.
La normale en tous points de la surface SR est liée à l'angle de réflexion de l'onde θ et l'angle d'incidence φ (figure 1). Cette normale peut s'écrire selon la formule : n= (tanθcos^, tanθsinjz), 1) . Grâce à l'indice de réfraction complexe de l'objet étudié, une relation peut être établie entre le degré de polarisation p et l'angle θ. En outre, comme la composante linéairement polarisée de la lumière réfléchie est orthogonale au plan d'incidence PI, l'angle φ est lié à l'angle de polarisation φ par : φ = φ ± π/2. Une des difficultés majeures de cette technique est de lever l'ambiguïté concernant l'angle φ. Plusieurs systèmes basés sur cette méthode de reconstruction par polarisation avec l'exploitation des coefficients de FRESNEL ont été mis au point, notamment pour l'analyse de surfaces réfléchissantes ou transparentes de nature diélectrique.
On connaît ainsi le système développé par RAHMANN, divulgué dans la publication S. Rahmann, Reconstruction of specular surfaces using polarization imaging, SPIE Proc. Conférence on Polarization and Color Techniques in Industrial Inspection, pp. 22-33, 1999. Le système divulgué nécessite plusieurs points de vue, au moins deux et de préférence trois, et pose le problème de correspondance des deux images ou plus afin de reconstruire la surface. En outre, seule l'information de l'angle de polarisation est utilisée pour reconstruire la surface de l'objet diélectrique et de fait, le problème d'ambiguïté subsiste lorsqu'on utilise seulement deux images. On connaît par ailleurs la méthode et le système développés par MIYAZAKI exposés dans la publication D. Miyazaki, M. Kagesawa, and K. Ikeuchi, Determining shapes of transparent objects from two polarization images, IEEE Trans. Pattern Anal. Machine Intell. 26(1), pp. 73-82,2004. Les images de surfaces transparentes sont reconstruites à partir d'une double prise d'image, avec une légère inclinaison de l'objet, et en utilisant les informations d' angle de polarisation et de degré de polarisation. Dans cette méthode, l'ambiguïté concernant l'angle φ est levée de manière algorithmique en partant de l'information au bord de l'objet, ce qui implique, d'une part, que le contour de l'objet soit numérisé, et d'autre part, que l'information du signe soit correctement propagée sur toute la surface. Le brevet américain US 5.028.138 divulgue une autre technique d'exploitation des données de polarisation. Le but de ce brevet est de déterminer certaines caractéristiques d'un objet comme sa forme (surface lisse ou rugueuse) et sa conductivité électrique à partir de l'onde lumineuse réfléchie à la surface de cet objet. Le but n'est pas de reconstruire la surface analysée en trois dimensions par imagerie mais de pouvoir essentiellement classer la surface de l'objet comme étant métallique ou diélectrique. Le procédé exploite deux valeurs, le plan d' incidence et le ratio des coefficients de polarisation de FRESNEL. Ce procédé n'utilise pas le degré de polarisation de l'onde lumineuse mais se base sur l'angle d'incidence de l'onde (lié au plan d'incidence) et sur l'indice de réflexion complexe, qui dépend de la nature du matériau sur la surface duquel se réfléchit l'onde lumineuse analysée.
Dans cette technique, le problème de l'orientation de la normale et de la levée de l'ambiguïté concernant l'angle d'incidence n'est pas abordé car d'une part, le but n'est pas de reconstruire une surface et, d'autre part, le procédé est basé sur la détermination du plan d'incidence et de l'orientation dudit plan. La détermination de l'angle d'incidence se fonde sur l'hypothèse que le plan d' incidence contient la normale à la surface et que la normale en un point est donc contrainte par le degré de polarisation et l'angle de polarisation en ce point. La comparaison entre une valeur précalculée du ratio des coefficients de polarisation de Fresnel avec différents angles d' incidence pour des surfaces connues et le ratio calculé pour chaque pixel de la caméra qui effectue la mesure, permet de déduire l'angle d'incidence en se référant à ces valeurs théoriques précalculées. La valeur extrapolée ou mesurée du ration des coefficients de FRESNEL permet de classer la nature de la surface du matériau en diélectrique ou métallique.
La présente invention a donc pour objet de proposer une méthode et un système alternatifs de reconstruction par imagerie de polarisation qui ne présentent pas les contraintes des systèmes connus. En particulier, ils ne nécessitent pas de manipulation de l'objet dont la surface est à inspecter, et le temps nécessaire à l'acquisition et au traitement des données est court afin de permettre un contrôle sur une ligne de production. A cet égard, la présente invention a pour objet un système de reconstruction de surfaces par imagerie de polarisation comportant une caméra unique en position polaire, un polariseur tournant, un dôme d'éclairage et un ordinateur remarquable en ce qu'il comporte un réseau d'appareils d'éclairage dont l'alimentation est pilotée, ledit réseau d'appareils d'éclairage étant destiné à illuminer le dôme d' éclairage selon quatre segments chevauchants couvrants chacun une demi-surface du dôme.
Un autre objet de l'invention est le procédé de reconstruction d'une surface par imagerie de polarisation remarquable en ce qu' il comporte une étape de construction d'une image Iquad contenant l'information sur l'orientation des normales selon les quatre quadrants du dôme d'éclairage, à partir de quatre images provenant de l'éclairage de quatre segments du dôme couvrant chacun une demi-surface du dôme, de manière à ce que chaque quadrant soit couvert par deux desdits segments. Comme cela sera détaillé plus loin, à partir de l'angle de polarisation φ et de l'image IqUad ainsi construite, l'angle azimutal φ est déterminé avec un algorithme spécifique.
On comprend bien l'avantage de cette méthode qui ne nécessite aucune manipulation de l'objet ni de connaissance de la bordure de celui-ci. En outre, elle permet avantageusement de s'affranchir du calage d'alignement du dôme d'éclairage et du zéro de la caméra polarimétrique .
Enfin, l'invention a pour dernier objet l'utilisation du système et de la méthode exposée précédemment pour l'inspection de surfaces d'objets métalliques fortement réfléchissants obtenus par estampage et polissage.
D'autres avantages et caractéristiques de l'invention ressortiront mieux de la description détaillée qui va suivre en lesquels :
- la figure 1 est une représentation de la réflexion d'une onde non-polarisée sur une surface réfléchissante et de ses paramètres ;
- la figure 2 est une vue schématique en perspective du système de reconstruction par imagerie de polarisation selon l'invention, avec une zone déchirée dans le dôme montrant l'intérieur de celui-ci ; - les figures 3a à 3d sont des vues schématiques du dessus du dôme d'éclairage représentant les quatre segments d'un demi-espace permettant la construction d'une image
1quad • En référence à la figure 2, le système 1 de reconstruction par imagerie de polarisation selon l'invention est constitué d'une unique caméra numérique 2, d'un polariseur tournant 3, d'un dôme d'éclairage 4 et d'un ordinateur 5 pour l'acquisition et le traitement des données.
Selon une caractéristique essentielle de l'invention, le système 1 comporte un réseau d' appareils d' éclairage 6 dont l'alimentation est pilotée, c'est-à-dire qu'elle permet l'allumage sélectif et contrôlé des appareils d'éclairage afin d'illuminer le dôme d'éclairage par segments prédéfinis. Selon l'invention, le schéma d' illumination est de quatre segments chevauchants d' une demi-surface, de sorte que chaque quadrant du dôme soit couvert par deux desdits segments. Le réseau d' appareils d' éclairage 6 pilotés est disposé à la périphérie de la base intérieure du dôme 4, par exemple en anneaux concentriques.
Selon une variante d'exécution préférée, les appareils d'éclairage sont des diodes électroluminescentes (LED) émettant une lumière blanche, dans le domaine du visible. Les LED ont l'avantage d'émettre la lumière de façon assez directionnelle, ce qui facilite le contrôle de l'illumination du dôme 4.
Il va bien entendu de soi que l'homme de l'art pourra mettre en œuvre tout type d'appareil d'éclairage sous le dôme en fonction de la nature de la surface à analyser, sans sortir du cadre de la présente invention.
La caméra numérique 2 est une caméra avec capteur CCD. Elle est placée en position polaire au-dessus du dôme 4 et de l'objet à analyser. L'objectif de cette caméra est muni de préférence d'une lentille télécentrique afin d'avoir une reconstruction orthographique optimale de la surface analysée. Le polariseur tournant 3 est de façon assez conventionnelle constitué d'un filtre polariseur et d'un composant à cristaux liquides.
Le dôme d'éclairage 4 hémisphérique comporte une ouverture 7 à son sommet permettant la prise d' images par la caméra. Ce dôme d'éclairage 4 sert à isoler l'objet dont la surface est à analyser des sources lumineuses environnant le système et à éviter ainsi des perturbations lumineuses non désirées. Le dôme 4 permet également d' assurer une diffusion homogène de la lumière provenant des appareils d'éclairage 6.
On utilisera avantageusement une caméra numérique permettant d'acquérir des images avec au moins 1024 niveaux de gris, le faible degré de polarisation dans le cas des surfaces métalliques nécessitant une certaine sensibilité de l'appareillage.
En fonction de la résolution souhaitée, on pourra adapter différentes optiques permettant d' atteindre le degré de précision requis en fonction de la nature des motifs à contrôler. Le système permet ainsi de numériser un objet avec un pas inférieur à lOμm.
On comprend bien que ce système ne comportant qu'une seule caméra en position polaire est nettement moins coûteux que des systèmes à plusieurs caméras et présente une simplicité d'utilisation facilitant son installation sur des lignes de production d'objets métalliques emboutis.
Bien entendu, le système comporte également un ensemble de logiciels installés sur l'ordinateur 5 pour le pilotage de l'éclairage du dôme, l'acquisition des images et le calcul. Cet ensemble de logiciel inclut des algorithmes basés sur le modèle de réflexion de FRESNEL ; l'intégration du champ des normales est réalisée à partir de modèles mathématiques utilisant les valeurs des angles θ et ψ déterminées. Ces modèles mathématiques sont dérivés des équations de FOURIER : la transformée de FOURIER permet d'intégrer la surface de l'objet à partir des valeurs de θ et φ. Un autre objet de la présente invention est une méthode de reconstruction de la surface d'un objet par imagerie de polarisation.
Selon une caractéristique essentielle de l'invention, ce procédé comporte une étape de construction d'une image Iquad contenant l'information sur l'orientation des normales selon les quatre quadrants du dôme d'éclairage, à partir de quatre images provenant de l'éclairage de quatre segments du dôme couvrant chacun une demi-surface du dôme, de manière à ce que chaque quadrant soit couvert par deux desdits segments. Les images sont donc prises en vue polaire.
En référence aux figures 3a à 3d, on expliquera maintenant le principe de construction de l'image Iquad- Pour illuminer une demi-surface du dôme, représentée sans hachures, on active l'alimentation des appareils d'éclairage situés dans la zone correspondante, à la base du dôme. La zone non éclairée, hachurée, n'est en réalité pas aussi franche que sa représentation schématique donnée sur les figures 3a à 3d.
On associe donc par soustraction les quatre images d' intensité par paires de segments complémentaires : les images d'intensité des segments représentés en 3a et 3c et celles des segments représentés en 3b et 3d sont respectivement associées. Enfin, on combine les deux images « haut-bas » et « gauche-droite » précédemment obtenues pour former l'image IqUad-
L' image Iquad ainsi obtenue possède uniquement quatre niveaux de gris. On comprend bien l'avantage de l'éclairage de segments d'une demi-surface couvrant les quadrants du dôme par chevauchement plutôt qu' un éclairage individuel des quadrants : cette technique nécessite une prise d' images deux fois moindre. Cette étape s'inscrit dans une succession d'étapes qui constituent le procédé de reconstruction. Ce procédé comporte essentiellement ainsi la succession des étapes suivantes : - introduction de l'objet dont la surface doit être examinée sous le dôme d'illumination, dans l'axe de la caméra ;
- illumination complète du dôme ; - démarrage de la rotation du polariseur ;
- acquisition des images de polarisation pour les différentes valeurs de pas de rotation du polariseur, jusqu'à rotation complète ;
- calcul du degré de polarisation p et de l'angle de polarisation φ ;
- illuminations successives de quatre demi-surfaces du dôme couvrant chacune deux quadrants du dôme et acquisition des images d'intensité correspondantes ;
- construction de l'image segmentée Iquad ; - calcul de l'angle azimutal φ ;
- calcul des normales ;
- calcul de la surface à partir des normales obtenues ;
- affichage de la surface calculée.
Bien entendu, dans le cadre du contrôle qualité de surfaces, la méthode de contrôle comportera en outre une étape de comparaison de l'image reconstruite avec le modèle théorique, ce qui permettra de déterminer si la surface inspectée correspond aux critères requis ou non.
L'Homme de l'Art trouvera dans la littérature citée les références aux équations de FRESNEL et aux algorithmes qui peuvent être utilisés pour la reconstruction d' images de surface à partir de normales calculées par le biais de relations mathématiques impliquées dans la technique de reconstruction d'une surface par imagerie de polarisation.
Le procédé selon l'invention nécessite une dizaine de secondes à partir du démarrage de la séquence d' acquisition des images de la surface jusqu'à la reconstruction numérique de cette surface.
On comprend bien que ce procédé est donc parfaitement applicable à un contrôle qualité directement monté sur une chaîne de production et donc bien adapté aux contraintes industrielles .
La technique de reconstruction par image de polarisation basée sur le modèle de réflexion de FRESNEL comporte toutefois des limitations : les objets doivent être très réfléchissants. Toutefois, cette contrainte peut être restreinte à une longueur d'onde appropriée, pour laquelle la composante de lumière réfléchie est plus importante que la lumière réfractée à la surface de l'objet. Ainsi, on peut envisager d'appliquer la technique selon l'invention à des objets translucides, en verre ou en polyméthacrylate de méthyle par exemple, en utilisant des sources lumineuses UV.
De plus, avec une acquisition en lumière visible, pour que le modèle utilisé d'approximation entre le degré de polarisation approximé et le degré de polarisation réel en fonction de l'angle d'incidence reste valable, les valeurs de pente de la surface de l'objet doivent être inférieures à 80°. Bien entendu, l'Homme de l'Art est à même de déterminer de nouveaux modèles mathématiques exploitant les données du procédé selon l'invention et qui ont un degré de fiabilité plus élevé, permettant de repousser cette limite des pentes. Par ailleurs, des adaptations techniques du système selon l' invention doivent permettre de réduire les difficultés liées aux indices de réfraction des objets analysés et à la détermination de l'angle azimutal φ : ces adaptations consistent à utiliser un éclairage émettant sur plusieurs longueurs d'ondes spécifiques ou encore à utiliser des filtres, de sorte à avoir des images d'intensité pour différentes longueurs d'onde.
Enfin, il va de soi que si le dispositif a été spécifiquement développé pour l'inspection d'objets métalliques fortement réfléchissants obtenus par estampage et polissage, on comprend bien qu'en adaptant les paramètres de réfraction des ondes, le système et le procédé sont parfaitement utilisables pour d'autres surfaces très réfléchissantes, telles que des surfaces diélectriques .

Claims

REVENDICATIONS
1 - Système (1) de reconstruction de surfaces par imagerie de polarisation comportant une caméra (2) unique en position polaire, un polariseur tournant (3), un dôme d'éclairage (4) et un ordinateur (5), caractérisé en ce qu'il comporte un réseau d'appareils d'éclairage (6) dont l'alimentation est pilotée, ledit réseau d'appareils d'éclairage (6) étant destiné à illuminer le dôme d'éclairage (4) selon quatre segments chevauchants couvrant chacun une demi-surface du dôme.
2 - Système (1) selon la revendication 1, caractérisé en ce que le réseau d'appareils d'éclairage (6) est situé à la périphérie interne du dôme (4) .
3 - Système (1) selon l'une quelconque des revendications 1 ou 2, caractérisé en ce que les appareils d'éclairage sont des diodes électroluminescentes.
4 - Procédé de reconstruction d'une surface par imagerie de polarisation, mettant en œuvre le système selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé en ce qu'il comporte une étape de construction d'une image Iquad contenant l'information sur l'orientation des normales selon les quatre quadrants du dôme d'éclairage (4), à partir de quatre images provenant de l'éclairage de quatre segments du dôme couvrant chacun une demi-surface du dôme, de manière à ce que chaque quadrant soit couvert par deux desdits segments.
5 - Procédé de reconstruction par imagerie de polarisation selon la revendication précédente, caractérisé en ce qu'il comporte la succession des étapes suivantes :
- introduction de l'objet dont la surface doit être examinée sous le dôme d'illumination (4), dans l'axe de la caméra (2) ;
- illumination complète du dôme (4) ; démarrage de la rotation du polariseur (3) ; acquisition des images de polarisation pour les différentes valeurs de pas de rotation du polariseur (3), jusqu'à rotation complète ; - calcul du degré de polarisation p et de l'angle de polarisation φ ; illuminations successives de quatre demi-surfaces du dôme (4) couvrant chacune deux quadrants du dôme et acquisition des images d' intensité correspondantes ; construction de l'image segmentée Iquad ; calcul de l'angle azimutal φ ; calcul des normales ; calcul de la surface à partir des normales obtenues ; affichage de la surface calculée.
6 - Utilisation du système selon l'une quelconque des revendications 1 à 3 ou du procédé selon l'une quelconque des revendications 4 et 5 pour le contrôle de la surface d'objets fortement réfléchissants.
7 - Utilisation du système selon l'une quelconque des revendications 1 à 3 ou du procédé selon l'une quelconque des revendications 4 et 5 pour l'inspection de l'estampage de plaques métalliques fortement réfléchissantes.
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011071929A2 (fr) 2009-12-07 2011-06-16 Photon-X, Inc. Système de visualisation tridimensionnelle
JP2017032409A (ja) * 2015-07-31 2017-02-09 凸版印刷株式会社 三次元形状計測装置、三次元形状計測方法及び薄膜計測装置
DE102016105037A1 (de) * 2015-11-04 2017-05-04 Michael Fritz Tabletop-Fotostudio, Verfahren zur Erstellung einer digitalen Repräsentation eines Objekts und/oder zur interaktiven Darstellung eines Objekts
RU2693327C1 (ru) * 2018-09-14 2019-07-02 Общество с ограниченной ответственностью "Научно-исследовательский центр информационных технологий СПбГУ" (ООО "ИТ центр СПбГУ") Способ реконструкции 3D модели статичного объекта и устройство для его реализации
CN114787648A (zh) * 2019-11-30 2022-07-22 波士顿偏振测定公司 用于使用偏振提示进行透明对象分段的系统和方法
CN117523112A (zh) * 2024-01-05 2024-02-06 深圳市宗匠科技有限公司 三维模型建立方法及其系统、控制设备及存储介质
WO2024113260A1 (fr) * 2022-11-30 2024-06-06 电子科技大学 Procédé de reconstruction tridimensionnelle de polarisation binoculaire
EP4567734A2 (fr) 2016-04-12 2025-06-11 Quidient, LLC Moteur de reconstruction de scènes quotidiennes

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5028138A (en) * 1989-05-23 1991-07-02 Wolff Lawrence B Method of and apparatus for obtaining object data by machine vision form polarization information
US20030147086A1 (en) * 2002-02-05 2003-08-07 Allan Rosencwaig Analysis of isolated and aperiodic structures with simultaneous multiple angle of incidence measurements
US20040189903A1 (en) * 2003-03-25 2004-09-30 Alps Electric Co., Ltd. Transflective film and liquid crystal display device

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5028138A (en) * 1989-05-23 1991-07-02 Wolff Lawrence B Method of and apparatus for obtaining object data by machine vision form polarization information
US20030147086A1 (en) * 2002-02-05 2003-08-07 Allan Rosencwaig Analysis of isolated and aperiodic structures with simultaneous multiple angle of incidence measurements
US20040189903A1 (en) * 2003-03-25 2004-09-30 Alps Electric Co., Ltd. Transflective film and liquid crystal display device

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
GLEYZES P ET AL: "PROFILOMETRIE PICOMETRIQUE PAR INTERFEROMETRIE DE POLARISATION I. L'APPROCHE MONODETECTEUR", JOURNAL OF OPTICS, MASSON EDITEUR. PARIS, FR, vol. 25, no. 5, 1 September 1994 (1994-09-01), pages 207 - 224, XP000484182, ISSN: 0150-536X *
JENNEWEIN H ET AL: "HOCHPRAEZISE OPTISCHE PROFILOMETRIE AN PROBEN MIT VARIIERENDEN MATERIALIEN HIGH-PRECISION OPTICAL PROFILOMETRY AT SURFACES WITH VARYING MATERIALS", TECHNISCHES MESSEN TM, R.OLDENBOURG VERLAG. MUNCHEN, DE, vol. 66, no. 11, November 1999 (1999-11-01), pages 447 - 454, XP000949537, ISSN: 0171-8096 *

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011071929A2 (fr) 2009-12-07 2011-06-16 Photon-X, Inc. Système de visualisation tridimensionnelle
US8736670B2 (en) 2009-12-07 2014-05-27 Photon-X, Inc. 3D visualization system
JP2017032409A (ja) * 2015-07-31 2017-02-09 凸版印刷株式会社 三次元形状計測装置、三次元形状計測方法及び薄膜計測装置
DE102016105037A1 (de) * 2015-11-04 2017-05-04 Michael Fritz Tabletop-Fotostudio, Verfahren zur Erstellung einer digitalen Repräsentation eines Objekts und/oder zur interaktiven Darstellung eines Objekts
EP4567734A2 (fr) 2016-04-12 2025-06-11 Quidient, LLC Moteur de reconstruction de scènes quotidiennes
RU2693327C1 (ru) * 2018-09-14 2019-07-02 Общество с ограниченной ответственностью "Научно-исследовательский центр информационных технологий СПбГУ" (ООО "ИТ центр СПбГУ") Способ реконструкции 3D модели статичного объекта и устройство для его реализации
CN114787648B (zh) * 2019-11-30 2023-11-10 波士顿偏振测定公司 用于使用偏振提示进行透明对象分段的系统和方法
US11842495B2 (en) 2019-11-30 2023-12-12 Intrinsic Innovation Llc Systems and methods for transparent object segmentation using polarization cues
CN114787648A (zh) * 2019-11-30 2022-07-22 波士顿偏振测定公司 用于使用偏振提示进行透明对象分段的系统和方法
US12380568B2 (en) 2019-11-30 2025-08-05 Intrinsic Innovation Llc Systems and methods for transparent object segmentation using polarization cues
WO2024113260A1 (fr) * 2022-11-30 2024-06-06 电子科技大学 Procédé de reconstruction tridimensionnelle de polarisation binoculaire
CN117523112A (zh) * 2024-01-05 2024-02-06 深圳市宗匠科技有限公司 三维模型建立方法及其系统、控制设备及存储介质
CN117523112B (zh) * 2024-01-05 2024-05-17 深圳市宗匠科技有限公司 三维模型建立方法及其系统、控制设备及存储介质

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