WO2006049189A1 - 有機単分子層の形成方法および機能素子の製造方法 - Google Patents

有機単分子層の形成方法および機能素子の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2006049189A1
WO2006049189A1 PCT/JP2005/020153 JP2005020153W WO2006049189A1 WO 2006049189 A1 WO2006049189 A1 WO 2006049189A1 JP 2005020153 W JP2005020153 W JP 2005020153W WO 2006049189 A1 WO2006049189 A1 WO 2006049189A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
semiconductor substrate
hydrogen
terminated
type semiconductor
organic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2005/020153
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Kohei Uosaki
Satoru Takakusagi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hokkaido University NUC
Original Assignee
Hokkaido University NUC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hokkaido University NUC filed Critical Hokkaido University NUC
Publication of WO2006049189A1 publication Critical patent/WO2006049189A1/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G9/00Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
    • H01G9/20Light-sensitive devices
    • H01G9/2045Light-sensitive devices comprising a semiconductor electrode comprising elements of the fourth group of the Periodic Table with or without impurities, e.g. doping materials
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P14/00Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars
    • H10P14/60Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of insulating materials
    • H10P14/68Organic materials, e.g. photoresists
    • H10P14/683Organic materials, e.g. photoresists carbon-based polymeric organic materials, e.g. polyimides, poly cyclobutene or PVC
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D3/00Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials
    • B05D3/06Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials by exposure to radiation
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/542Dye sensitized solar cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Definitions

  • the present invention relates to a method for forming an organic monomolecular layer and a method for producing a functional element, and is suitable for application to, for example, the formation of an organic monomolecular layer on a hydrogen-terminated Si substrate.
  • Hydrogen-terminated Si monolayers built on Si surfaces via Si-C bonds are excellent in orientation and stability, and are expected to be applied to the construction of new functional molecular devices.
  • the organic monolayer formation methods reported to date include thermal reactions (eg, M. E. Quayum, T. Kondo, S. ihonyanagi, D. Miyamoto and K. Uosaki, Chem. Lett., 2 (2002)
  • the problem to be solved by the present invention is that a method for forming an organic monomolecular layer and a functional element capable of easily forming an organic monomolecular layer on a semiconductor substrate typified by an Si substrate with high orientation It is to provide a manufacturing method. Disclosure of the invention
  • the first invention is:
  • An organic monomolecular layer is formed on the surface of the hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate by using an electrode reaction in a solution containing a Grignard reagent using a terminated p-type semiconductor substrate as a working electrode. This is a method for forming an organic monomolecular layer.
  • the first invention is a first invention.
  • the surface of the hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate is a hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate made of at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C and having a diamond-type structure as a working electrode.
  • the hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate is allowed to undergo an electrode reaction in a solution containing a Grignard reagent while being irradiated with light having a photon energy equal to or higher than the energy gap of the hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate.
  • the third invention is a first invention.
  • a hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate composed of at least one element selected from the group consisting of Ge and C and having a diamond structure is used as a working electrode.
  • the hydrogen termination is performed by causing an electrode reaction in a solution containing a Grignard reagent while selectively irradiating the surface with light having a photon energy higher than the energy gap of the n-type semiconductor substrate.
  • An organic monomolecular layer formation method characterized in that an organic monomolecular layer having a predetermined pattern is formed on the surface of an n-type semiconductor substrate.
  • the fourth invention is:
  • the organic monomolecular layer is formed on the surface of the hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate by using an electrode reaction in a solution containing a Grignard reagent using a terminated p-type semiconductor substrate as a working electrode. It is characterized by that.
  • the fifth invention is:
  • the surface of the hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate is a hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate made of at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C and having a diamond-type structure as a working electrode.
  • the hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate is subjected to an electrode reaction in a solution containing a Grignard reagent while being irradiated with light having a photon energy higher than the energy gap of the hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate.
  • Organic simple on the surface A molecular layer is formed.
  • the sixth invention is:
  • the surface of the hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate is a hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate made of at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C and having a diamond-type structure as a working electrode.
  • the hydrogen termination is carried out by causing an electrode reaction in a solution containing a Grignard reagent while selectively irradiating light having a photon energy equal to or greater than the energy gap of the n-type semiconductor substrate. It is characterized in that an organic monomolecular layer having a predetermined pattern is formed on the surface of an n-type semiconductor substrate.
  • the seventh invention is a.
  • An organic monomolecular layer was formed on the surface of the hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate by using an n-type semiconductor substrate terminated as a working electrode and performing an electrode reaction in a solution containing a diazo compound. This is a method for forming an organic monomolecular layer.
  • the surface of the hydrogen-terminated P-type semiconductor substrate is a hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate composed of at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C and having a diamond-type structure as a working electrode.
  • the hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate is subjected to an electrode reaction in a solution containing a diazo compound while being irradiated with light having a photon energy greater than the energy gap of the hydrogen-terminated P-type semiconductor substrate.
  • Organic single molecule on the surface This is a method of forming an organic monomolecular layer characterized in that a layer is formed.
  • the surface of the hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate is made of a hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate composed of at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C and having a diamond-type structure as a working electrode.
  • the tenth invention is:
  • the organic single molecule layer is formed on the surface of the hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate by performing an electrode reaction in a solution containing a diazo compound using a terminated n-type semiconductor substrate as a working electrode. It is characterized by that.
  • the first invention is a first invention.
  • the surface of the hydrogen-terminated P-type semiconductor substrate is made of a hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate made of at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C and having a diamond-type structure as a working electrode.
  • the electrode reaction is carried out in a solution containing a diazo compound while irradiating light having a photon energy greater than the energy gap of the hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate.
  • an organic monomolecular layer is formed on the surface of the hydrogen-terminated P-type semiconductor substrate.
  • the first I invention is a first I invention.
  • the surface of the hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate is made of a hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate composed of at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C and having a diamond-type structure as a working electrode.
  • a hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate composed of at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C and having a diamond-type structure as a working electrode.
  • the 13th invention is a first invention.
  • a terminated p-type semiconductor substrate as the working electrode and conducting an electrode reaction in a solution containing an organic compound in which active species are generated by an oxidation reaction
  • an organic single layer is formed on the surface of the hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate. This is a method of forming an organic monomolecular layer characterized by forming a molecular layer.
  • the 14th invention is a first invention.
  • the surface of the hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate is a hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate made of at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C and having a diamond-type structure as a working electrode.
  • An organic monomolecular layer is formed by forming an organic monomolecular layer on the surface of the hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate by performing an electrode reaction in a solution containing a substance.
  • the 15th invention is:
  • the surface of the hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate is a hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate made of at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C and having a diamond-type structure as a working electrode.
  • An electrode reaction is performed in a solution containing an organic compound in which active species are generated by an oxidation reaction while selectively irradiating light having photon energy higher than the energy gap of the hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate.
  • the organic monomolecular layer is formed by forming an organic monomolecular layer having a predetermined pattern on the surface of the hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate.
  • the 16th invention is:
  • a diamond structure consisting of at least one element selected from the group consisting of G e and C, or S i and at least one element selected from the group consisting of G e and C
  • the 17th invention is a first invention.
  • the surface of the hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate is a hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate made of at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C and having a diamond-type structure as a working electrode.
  • the hydrogen termination is carried out by causing an electrode reaction in a solution containing an organic compound in which an active species is generated by an oxidation reaction while irradiating light having a photon energy larger than the energy gap of the n-type semiconductor substrate.
  • An organic monomolecular layer is formed on the surface of an n-type semiconductor substrate.
  • the 18th invention is:
  • a hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate composed of at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C and having a diamond-type structure is used as a working electrode.
  • An electrode reaction is carried out in a solution containing an organic compound in which active species are generated by an oxidation reaction while selectively irradiating the surface of the substrate with light having a photon energy greater than the energy gap of the hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate.
  • an organic monomolecular layer having a predetermined pattern is formed on the surface of the hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate.
  • the 19th invention is:
  • an n-type semiconductor substrate terminated as a working electrode and performing an electrode reaction in a solution containing an organic compound in which active species are generated by a reduction reaction an organic single layer is formed on the surface of the hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate. This is a method of forming an organic monomolecular layer characterized by forming a molecular layer.
  • the 20th invention is:
  • a hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate comprising at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C and having a diamond-type structure. Used as a working electrode, active species are generated by a reduction reaction while irradiating the surface of the hydrogen-terminated P-type semiconductor substrate with light having a photon energy higher than that of the hydrogen-terminated P-type semiconductor substrate.
  • An organic monomolecular layer forming method characterized in that an organic monomolecular layer is formed on the surface of the hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate by performing an electrode reaction in a solution containing an organic compound. is there.
  • the second invention is a first invention.
  • the surface of the hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate is made of a hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate composed of at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C and having a diamond-type structure as a working electrode.
  • An electrode reaction is performed in a solution containing an organic compound in which active species are generated by a reduction reaction while selectively irradiating light having a photon energy higher than the energy gap of the hydrogen-terminated P-type semiconductor substrate.
  • an organic monomolecular layer is formed by forming an organic monomolecular layer having a predetermined pattern on the surface of the hydrogen-terminated P-type semiconductor substrate.
  • the second invention is
  • a terminated n-type semiconductor substrate as a working electrode and performing an electrode reaction in a solution containing an organic compound in which active species are generated by a reduction reaction
  • the above-mentioned organic compound is formed on the surface of the hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate. It is characterized by forming a monomolecular layer.
  • the second invention is a first invention.
  • a hydrogen-terminated P-type semiconductor substrate composed of at least one element selected from the group consisting of Si, Ge, and C and having a diamond-type structure is used as the working electrode, and the surface of the hydrogen-terminated P-type semiconductor substrate.
  • the electrode reaction is performed in a solution containing an organic compound in which active species are generated by a reduction reaction.
  • An organic monomolecular layer is formed on the surface of the hydrogen-terminated P-type semiconductor substrate.
  • the fourth invention is:
  • the surface of the hydrogen-terminated P-type semiconductor substrate is made of a hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate made of at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C and having a diamond-type structure as a working electrode.
  • An electrode reaction is performed in a solution containing an organic compound in which active species are generated by a reduction reaction while selectively irradiating light having a photon energy larger than the energy gap of the hydrogen-terminated P-type semiconductor substrate.
  • an organic monomolecular layer having a predetermined pattern is formed on the surface of the hydrogen-terminated P-type semiconductor substrate.
  • At least one element selected from the group consisting of Ge and C, or at least one element selected from the group consisting of Si and Ge and C Specifically, the semiconductor substrate composed of G e substrate, C (diamond) substrate, S i C substrate, S i G e x substrate (however, 0 to X 1) and the like.
  • a semiconductor substrate made of at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C is specifically an Si substrate, a Ge substrate, a C (diamond) substrate, and an SiC.
  • the surface of the p-type or n-type semiconductor substrate is hydrogen-terminated (H—) in order to inactivate dangling bonds on the surface and prevent oxidation.
  • the plane orientation of the semiconductor substrate is selected as necessary, but preferably a (1 1 1) plane orientation is used.
  • the counter electrode and the reference electrode are selected optimally as necessary.
  • Light having various photon energies of hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate or hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate can be light from various lamp light sources or laser light sources.
  • This light irradiation generates electron-hole pairs in a hydrogen-terminated P-type semiconductor substrate or a hydrogen-terminated II-type semiconductor substrate.
  • a mask made of a material that does not transmit this light may be used. You may scan the light.
  • the mask By configuring the mask in the form of a diffraction grating and irradiating this mask with monochromatic light, it is possible to irradiate light into the shape of the diffraction pattern.
  • an organic monomolecular layer is formed in the shape of this diffraction pattern. Can be formed.
  • various pattern-shaped organic monolayers can be formed.
  • the Grignard reagent is a general term for RM g X (R is a hydrocarbon group, X is a halogen) type organomagnesium compound, and when R is aliphatic, X is C i, Br In general, when R is aromatic, X is Br or I.
  • various compounds are used as organic compounds that generate active species (radicals, etc.) by oxidation reaction or organic compounds that generate active species (radical force, etc.) by reduction reaction.
  • the above Grignard reagents or diazo compounds are representative examples.
  • Other examples of this organic compound include alkyl halide RX (R is an alkyl group, X is a halogen) or cyclopropenium.
  • the functional element is to be interpreted in the broadest sense, and it is almost organic. Any molecular layer can be used, regardless of function or application. Specifically, various molecular electronics elements, solar cells, hydrogen generators, molecular recognition devices. In addition to DNA chips, for example, a micro contact stamping stamp (master) is also included. For example, by introducing a functional group (one NH 2 , -COOH, etc.) to the other end of the organic monolayer, functional structures (nanoparticles, metal complexes, biomolecules, etc.) can be fixed to the substrate surface with good controllability. can do.
  • a functional group one NH 2 , -COOH, etc.
  • a hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate or a hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate is used as a working electrode, and when a hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate is used, a Grignard reagent is contained while further irradiating light.
  • a Grignard reagent is contained while further irradiating light.
  • a hydrogen-terminated n-type semiconductor substrate or a hydrogen-terminated P-type semiconductor substrate is used as a working electrode, and a hydrogen-terminated p-type semiconductor substrate is used, further irradiation with light is performed.
  • an electrode reaction in a solution containing a compound an organic monolayer with one end covalently bonded to Si, Ge, or C can be easily formed with high orientation by electrochemical or photoelectrochemical methods. can do.
  • oxidation is further performed while irradiating light.
  • an organic monolayer with one end covalently bonded to Si, Ge or C is electrochemically or photoelectrochemically It can be formed easily and with high orientation.
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing a reaction mechanism in a method for forming an organic monomolecular layer according to the first embodiment of the present invention
  • FIG. 2 is an illustration of the organic monomolecular layer according to the first embodiment of the present invention
  • FIG. 3 is a schematic diagram showing an example of a mask used in the apparatus shown in FIG. 2
  • FIG. 4 is an organic single molecule according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is an SEM of the sample obtained in Example 3 of the method for forming an organic monomolecular layer according to the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a photograph showing an SEM image of the sample obtained in Example 4 of the method for forming an organic monolayer according to the third embodiment of the present invention, and FIG.
  • Example 5 of the method of forming an organic monolayer according to the third embodiment of the invention A photograph showing an SEM image of a sample
  • FIG. 8 is a schematic diagram showing a current-potential curve in Example 6 of the method for forming an organic monolayer according to the fourth embodiment of the present invention
  • FIG. FIG. 10 shows a SEM image of the sample obtained in Example 6 of the method for forming an organic monolayer according to the fourth embodiment of the invention
  • FIG. 10 and FIG. 11 show the fourth embodiment of the present invention.
  • Fig. 12 shows how to form an organic monomolecular layer according to the fifth embodiment of the present invention.
  • FIG. 13 is a schematic diagram showing a method for manufacturing a master for a micro contact printing stamp according to a sixth embodiment of the present invention.
  • a p-type H-semiconductor substrate is used as the working electrode.
  • the p-type H-semiconductor substrate is composed of at least one element selected from the group consisting of Ge and C, or at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C, Has a diamond-type structure.
  • a solution containing a Grignard reagent is used as the electrolytic solution.
  • a p-type H-semiconductor substrate is brought into contact with the electrolytic solution as a working electrode, and a predetermined counter electrode and a reference electrode are immersed in the electrolytic solution, and the p-type H-semiconductor substrate is predetermined with respect to the reference electrode.
  • the electrode reaction is performed.
  • the terminal C of R contained in the Grignard reagent to be used is covalently bonded to Ge, C, etc. on the surface of the p-type H-semiconductor substrate.
  • an organic monomolecular layer is formed with high orientation according to the atomic arrangement on the surface of the p-type H-semiconductor substrate.
  • Figure 1 shows the reaction mechanism when an organic monolayer is formed on the surface of a p-type H-semiconductor substrate.
  • the semiconductor substrate is a Ge substrate.
  • the reaction mechanism is as follows. (1) As an initial stage, Grignard reagent is positively oxidized to generate radicals (R ⁇ ). (2) R ⁇ pulls out the terminal hydrogen on the surface of the Ge substrate, generating Ge radicals. (3) Ge radical reacts with R ', and R is fixed to the surface of the Ge substrate via the Ge-C bond. This is the same as when the semiconductor substrate is a Si substrate (see Reference 2).
  • FIG. 2 schematically shows an example of an apparatus used for the above reaction.
  • a cylinder 2 is attached to the side surface of the reaction tank 1.
  • An opening 3 is provided on the bottom surface of the cylinder 2 and communicates with the inside of the reaction tank 1 through the opening 3.
  • Inside reaction tank 1. Contains solution 4 containing a Grignard reagent or diazo compound.
  • a solution 4 containing a Grignard reagent is used.
  • a substrate 5 is attached in a state of being sealed by a 0-ring 6, and its surface is in contact with the solution 4.
  • the substrate 5 is a p-type H-semiconductor substrate.
  • an ohmic contact 7 is formed, and the ohmic contact 7 is connected to the working electrode 8.
  • a counter electrode 9 and a reference electrode 10 are immersed in the solution 4.
  • a transparent window 11 is attached to the side of the reaction vessel 1 facing the substrate 5.
  • the surface of the substrate 5 can be irradiated with the light 13 from the light source 12 provided outside the reaction vessel 1 through the transparent window 11.
  • the light source 1 2 a lamp light source or a laser light source is used.
  • the transparent window 1 1 is provided with a mask 14 as required.
  • Figure 3 shows an example of the mask 14.
  • Example 1 a p-type H—G e (1 1 1) single crystal substrate (B dope, resistivity 1 — 1 0 ⁇ ⁇ cm, ohmic contact (In) — Z n)), Ag wire for reference electrode 10 and Pt plate for counter electrode 9.
  • a C 18 H 37 Mg C 1 / THF (tetrahydrofuran) solution was used as the solution 4.
  • octadecyl (C 18 H 37 ) monolayer was bonded to the G e (1 1 1) surface via G e—C bond.
  • the electrochemical reaction was performed in a glove box under a high purity Ar atmosphere.
  • an organic monomolecular layer such as an octadecyl monomolecular layer can be easily and highly oriented on a p-type semiconductor substrate such as a p-type Ge substrate.
  • an n-type H-semiconductor substrate is used as the working electrode.
  • This n-type H semiconductor substrate is made of at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C, and has a diamond structure.
  • a solution containing a Grignard reagent is used as the electrolytic solution. Then, an n-type H—semiconductor substrate is contacted with this electrolytic solution as a working electrode, and a predetermined counter electrode and a reference electrode are immersed in the electrolytic solution.
  • the n-type H-semiconductor substrate By irradiating the n-type H-semiconductor substrate with light having a photon energy equal to or greater than the energy gap, the n-type H-semiconductor substrate is set to a predetermined potential with respect to the reference electrode to cause an electrode reaction.
  • the terminal C of R contained in the Grignard reagent to be used is covalently bonded to Si, Ge or C on the surface of the n-type H-semiconductor substrate.
  • an organic monolayer is formed with high orientation according to the atomic arrangement on the surface of the n-type H-semiconductor substrate.
  • Example 2 an n-type H_S i (1 1 1) single crystal substrate (P-doped, resistivity 1—10 ⁇ ⁇ cm, ohmic contact (I n—Ga)) is applied to the working electrode substrate 5.
  • An Ag wire was used for the reference electrode 10 and a Pt plate was used for the counter electrode 9.
  • As the solution 4 a C I8 H 37 Mg C 1 / THF solution was used.
  • a xenon lamp (20.0 mW) with a wavelength of 400 nm or less was used as the light source for irradiating the n-type H-Si (1 1 1) single crystal substrate.
  • photoelectrochemical reaction the octadecyl monolayer was bonded to the S i (1 1 1) surface via the Si 1 C bond.
  • the photoelectrochemical reaction was performed in a glove box under a high purity Ar atmosphere.
  • Fig. 4 is a current-potential curve obtained when a 0.5M C 18 H 37 Mg C 1 / THF solution was used.
  • an organic monomolecular layer such as an octadecyl monomolecular layer can be easily and highly oriented on an n-type semiconductor substrate such as an n-type Si substrate.
  • an n-type H-semiconductor substrate is used as the working electrode.
  • This n-type H-semiconductor substrate is made of at least one element selected from the group consisting of Si, Ge, and C, and has a diamond structure.
  • a solution containing a Grignard reagent is used as the electrolytic solution. Then, an n-type H—semiconductor substrate is brought into contact with the electrolyte as a working electrode, and a predetermined counter electrode and a reference electrode are immersed in the electrolyte, and the energy gap of the n-type H—semiconductor substrate.
  • the n-type H-semiconductor substrate is set to a predetermined potential with respect to the reference electrode. Let the electrode reaction occur. As a result, C at the end of R contained in the Grignard reagent to be covalently bonded to Si, Ge or C on the surface of the n-type H-semiconductor substrate in the irradiated region. At this time, an organic monomolecular layer is selectively formed with high orientation according to the atomic arrangement on the surface of the n-type H-semiconductor substrate.
  • Example 3 an n-type H—S i (1 1 1) single crystal substrate (P doping, resistivity 1 1 1 ⁇ ⁇ cm. — Ga a)), Ag wire was used for reference electrode 10 and Pt plate was used for counter electrode 9, and 0.5M C 18 H 37 Mg C 1 / THF solution was used for solution 4.
  • Mask 14 is a transmission grid (TEM) observation grid with periodic holes and bars on the micrometer scale (5
  • a 0 mesh (pitch: 500 mm, hole size: 45 mm, bar size: 50 m) was placed on the front surface of the n-type H—S i (1 1 1) single crystal substrate.
  • the octadecyl monolayer is converted to S via a Si 1 C bond.
  • FIG. 5 shows a scanning electron microscope (SEM) image of the surface of the n-type H—S i (1 1 1) single crystal substrate that has undergone the photoelectrochemical reaction as described above.
  • the n-type H—S i (1 1 1) single crystal substrate was set to a potential of +2.0 V with respect to the reference electrode 10 and held for 30 seconds. From Fig.
  • Example 4 the substrate 5 serving as the working electrode is applied to an n-type H—S i (1 1 1) single crystal substrate (P-doped, resistivity 1—10 ⁇ ⁇ cm, ohmic contact (I n—Ga) )), Ag wire was used for the reference electrode 10 and Pt plate was used for the counter electrode 9.
  • a 0.5M C 18 H 37 Mg C 1 / THF solution was used as the solution 4 .
  • An Nd: YAG laser (10 Hz, 53 2 nm, 300 mW) was used as the light source for irradiating the n-type H—Si (1 1 1) single crystal substrate.
  • Mask 14 is a periodic hole on the micrometer scale.
  • FIG. 6 shows an SEM image of the surface of the n-type H—S i (1 1 1) single crystal substrate that has been subjected to the photoelectrochemical reaction as described above.
  • the n-type H—S i (1 1 1) single crystal substrate was set to a potential of +2.0 V with respect to the reference electrode 10 and held for 30 seconds.
  • Figure 6 shows that the octadecyl monolayer on the n-type H—S i (1 1 1) single crystal substrate that was not irradiated by mask 14 (the area corresponding to the mesh bar) is It can be seen that the octadecyl monolayer was formed only in the region that was not formed and was irradiated with light (the region corresponding to the holes in the mesh).
  • Example 5 an n-type H—S i (1 1 1) single crystal substrate (P-doped, resistivity 1—10 ⁇ ⁇ cm, ohmic contact (I n— G) a)), Ag wire for reference electrode 10 and Pt plate for counter electrode 9 were used.
  • As the solution 4 a 0.5 MC 18 H 37 Mg C 1 ZTHF solution was used.
  • As the light source for irradiating the n-type H—S i (1 1 1) single crystal substrate an Nd: YAG laser (1 0 Hz, 5 3 2 nm, 3 0 mW) was used. .
  • a single-hole TEM observation Cu grid having a diameter of 1.0 mm was placed on the front surface of an n-type H—S i (1 1 1) single crystal substrate.
  • N-type H—S i (1 1 1) single crystal substrate was irradiated by photoelectrochemical reaction
  • the octadecyl monolayer was bound to the S i (1 1 1) surface via S i—C bonds.
  • the photoelectrochemical reaction was performed in a glove box under a high purity Ar atmosphere.
  • FIG. 7 shows a SEM image of the surface of the n-type H—S i (1 1 1) single crystal substrate that has been subjected to the photoelectrochemical reaction as described above. However, the working electrode was set to a potential of +2.0 V with respect to the reference electrode and held for 300 seconds. Next explained is a method for forming an organic monomolecular layer according to the fourth embodiment of the invention.
  • an n-type H-semiconductor substrate is used as the working electrode.
  • This n-type H-semiconductor substrate is made of at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C, and has a diamond-type structure.
  • a solution containing a Grignard reagent is used as the electrolytic solution. Then, an n-type H—semiconductor substrate is brought into contact with this electrolytic solution as a working electrode, and a predetermined counter electrode and a reference electrode are immersed in this electrolytic solution.
  • an electrode reaction is performed by changing the potential of the n-type H-semiconductor substrate with respect to the reference electrode.
  • C at the end of R contained in the Grignard reagent used is covalently bonded to Si, Ge or C on the surface of the n-type H-semiconductor substrate in the irradiated region.
  • an organic monomolecular layer is selectively formed with high orientation according to the atomic arrangement on the surface of the n-type H-semiconductor substrate.
  • Mg is deposited on the surface of the n-type H-semiconductor substrate in the area that was not irradiated with light.
  • Example 6 n-type H—S i (1 1 1) A crystal substrate (P dopant, resistivity 110 ⁇ ⁇ cm, ohmic contact (In_Ga)), Ag wire for the reference electrode 10, and Pt plate for the counter electrode 9 were used.
  • As the solution 4 a 0.5 MC 18 H 37 Mg C 1 / THF solution was used.
  • Mask 14 is a TEM observation Cu grid (50 mesh (pitch 5) with periodic holes and bars on the micrometer scale.
  • Fig. 8 shows the current-potential curve at this time.
  • FIG. 9 shows a SEM image of the surface of an n-type H—S i (1 1 1) single crystal substrate that has undergone a photoelectrochemical reaction by the potential operation shown in FIG. Figure 9 shows that octadecyl monolayers and Mg layers are alternately formed on the n-type H-Si (1 1 1) single crystal substrate reflecting the periodic structure of the mask 14 Recognize.
  • Fig. 10 shows a high-resolution SEM image of the Mg layer part of Fig. 9.
  • Fig. 11 shows a high-resolution SEM image of the octadecyl monolayer shown in Fig. 9.
  • an organic monolayer such as an octadecyl monolayer can be easily and highly oriented on an n-type semiconductor substrate such as an n-type Si substrate and selectively formed into a desired pattern.
  • Mg layer can be formed in the region between these organic monolayers.
  • an n-type H-semiconductor substrate is used as a working electrode.
  • This n-type H-semiconductor substrate is composed of at least one element selected from the group consisting of Ge and C, or at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C, and diamond.
  • a solution containing a diazo compound is used as the electrolytic solution.
  • an n-type H-semiconductor substrate is brought into contact with the electrolytic solution as a working electrode, and a predetermined counter electrode and a reference electrode are immersed in the electrolytic solution, and the n-type H-semiconductor substrate is set at a predetermined potential with respect to the reference electrode.
  • the electrode reaction is performed.
  • the terminal C of R contained in the diazo compound to be covalently bonded to Ge, C, etc. on the surface of the n-type H-semiconductor substrate.
  • an organic monolayer is formed with high orientation according to the atomic arrangement on the surface of the n-type H-semiconductor substrate.
  • Figure 12 shows the reaction mechanism when an organic monolayer is formed on the surface of an n-type H-semiconductor substrate.
  • the semiconductor substrate is a Ge substrate.
  • the reaction mechanism is as follows. (1) A diazo compound forms a radical (R ') by a one-electron reduction reaction. (2) R ⁇ pulls out the terminal hydrogen on the surface of the Ge substrate, generating Ge radicals. (3) The Ge radical reacts with R-, and R is fixed to the surface of the Ge substrate through the Ge-C bond.
  • Example 7 an n-type H_G e (1 1 1) single crystal substrate (P-doped, resistivity 110 ⁇ ⁇ cm, ohmic contact (I n—Ga)) is applied to the working electrode substrate 5. ), Ag wire for the reference electrode 10 and Pt plate for the counter electrode 9. Solution 4 contains 0.05 MH 2 SO 4 and 1 mM
  • an organic monomolecular layer such as a diazobenzene monomolecular layer can be formed easily and with high orientation on an n-type semiconductor substrate such as an n-type Ge substrate.
  • a sixth embodiment of the present invention will be described.
  • a stamp used in a micro contact printing method for example, A. Kumar, GM Whites et al., Langmuir, 10 (1994) 1498.
  • the manufacturing method of the master will be explained.
  • a p-type H-semiconductor substrate is used as a master substrate for a microcontact printing stamp.
  • This P-type H—semiconductor substrate is composed of at least one element selected from the group consisting of Ge and C, or at least one element selected from the group consisting of Si, Ge and C. It has a diamond type structure.
  • a hydrophilic organic monomolecular layer is formed only in a predetermined region of the surface of the p-type H-semiconductor substrate, or an organic monomolecular layer having a hydrophilic group is formed. Are formed with the hydrophilic group facing outward.
  • a hydrophobic organic monomolecular layer is formed in the same manner as in the first embodiment only in the region where the hydrophilic organic monomolecular layer or the organic monomolecular layer having a hydrophilic group is not formed.
  • an organic monomolecular layer having a hydrophobic group is formed with the hydrophobic group facing outward.
  • a hydrophilic photocurable polymer is formed only on the surface of the surface of the p-type semiconductor substrate where a hydrophilic organic monomolecular layer or an organic monomolecular layer having a hydrophilic group is formed.
  • the photocurable polymer is cured by irradiating light onto the surface of the p-type semiconductor substrate on which the photocurable polymer is formed.
  • a master stamp for micro printing is manufactured.
  • the stamp is produced by copying the pattern of the micro contact printing master manufactured as described above onto a stamp material such as polydimethylsiloxane (PDMS).
  • a stamp material such as polydimethylsiloxane (PDMS).
  • a solution of molecules for example, thiol, aminosilane, etc.
  • a self-assembled film is formed on the substrate according to the pattern of the master.
  • a substrate surface stamped with aminosilane has a positive charge, and therefore attracts a negatively charged DNA. Therefore, when a DNA solution is applied to the substrate surface, DNA is adsorbed only on the aminosilane film, and a DNA pattern is formed.
  • Example 8 the substrate .5, which is the working electrode, is applied to the p-type H—G e (1 1 1) single crystal substrate (B-dope, resistivity 1—10 ⁇ ⁇ cm, ohmic contact (I n — Z n)), Ag wire for reference electrode 10 and Pt plate for counter electrode 9.
  • a microcontact printing stamp master was manufactured according to the procedure shown in FIG.
  • a solution of benzene diazonium salt having a hydrophilic group X (OH, NH 2 , N0 2 etc.) is used as the solution 4.
  • the p-type H—Ge (1 1 1) single crystal substrate is immersed in this solution 4, and the potential of the p-type H—Ge (lll) single crystal substrate is made negative, so that this p-type H—Ge (1 1 1)
  • This p-type H_Ge (1 1 1) single crystal substrate is selectively irradiated with light having a photon energy higher than that of the single crystal substrate using a mask.
  • the benzene derivative monolayer was bonded in a predetermined pattern with the hydrophilic group X facing outward.
  • the electrochemical reaction was carried out in a glove box under a high purity Ar atmosphere.
  • the Grignard reagent shown in Fig. 13 was used as Solution 4, and the p-type H-Ge (11 1) single crystal substrate on which the benzene derivative monolayer was formed was squeezed into Solution 4.
  • This p-type H—Ge (1 1 1) single crystal substrate undergoes an electrochemical reaction with a positive potential.
  • a hydrophobic benzene monolayer was bonded to the surface of Ge (111) surface not covered with a benzene derivative monolayer having a hydrophilic group X via a Ge-C bond.
  • the electrochemical reaction was performed in a glove box under a high purity Ar atmosphere.
  • hydrophilic photocurable polymer is formed on the P-type Ge (1 1 1) single crystal substrate on which the organic monomolecular layer is formed as described above, and then cured by irradiation with light. To form a polymer pattern.
  • hydrophilic photocurable polymers include polyethylene glycol dimethacrylate. Use relays.
  • a master for a micro contact printing stamp can be easily manufactured using a p-type semiconductor substrate such as a p-type Ge substrate.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Abstract

Si、GeおよびCからなる群より選ばれた少なくとも一種の元素からなり、ダイアモンド型構造を有する水素終端化n型半導体基板を作用電極に用い、その水素終端化n型半導体基板の表面に水素終端化n型半導体基板のエネルギーギャップ以上の光子エネルギーを有する光を選択的に照射しながら、グリニャール試薬を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、水素終端化n型半導体基板の表面に有機単分子層を所定のパターンに形成する。

Description

明 細 .書 有機単分子層の形成方法および機能素子の製造方法 技術分野
この発明は、 有機単分子層の形成方法および機能素子の製造方法に 関し、 例えば、 水素終端化 S i基板上への有機単分子層の形成に適用 して好適なものである。 背景技術
水素終端化 S i表面上へ S i— C結合を介して構築した有機単分子 層は、 配向性および安定性に優れていることから、 新しい機能性分子 デバイス構築への応用が期待される。 現在までに報告されている有機 単分子層の形成方法には、 熱反応 (例えば、 M. E. Quayum, T. Kondo, S. ihonyanagi, D. Miyamoto and K. Uosaki, Chem. Lett. , 2 (2002)
208(文献 1 ))、 光反応、 電気化学的手法などがある。
このうちグリニャール (Grignard) 試薬を用いた有機単分子層の電 気化学的形成は、 他の手法では溶液プロセスでの導入が難しい炭素鎖 長の短い分子層を構築することができるため、 近年いくつかの報告例 がある (例えば、 S. Fellah, A. Teyssot, F. Ozanam, J. -N. Chazal viel, J. Vigneron and A. Etcheberry, Langmuir, 18 (2002) 5851 (文 献 2))。
また、 ジァゾニゥム塩の電気化学的還元により水素終端化 S i ( 1 1 1 ) 表面上にフユニル分子層を形成する報告例がある (P. Allongu e, C. Henry de Vi 1 leneuve, G. Cherouvr ler, R. Corte s, M. -C. B ernard, Journal of Electroanalytical Chemistry 550-551 (2003) 16 1 - 174 (文献 3 ) )。
しかしながら、 上記文献 2、 3で報告された有機単分子層の形成方 法は、 詳細については不明な点が多く、 実用化には程遠いと考えられ る。
そこで、 この発明が解決しょうとする課題は、 有機単分子層を S i 基板に代表される半導体基板上に容易にしかも高い配向性で形成する ことができる有機単分子層の形成方法および機能素子の製造方法を提 供することである。 発明の開示
上記課題を解決するために、 第 1の発明は、
G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素、 また は、 S i と G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元 素とからなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基 板を作用電極に用い、 グリニャール試薬を含む溶液中で電極反応を行 わせることにより、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に有機単分 子層を形成するようにしたことを特徴とする有機単分子層の形成方法 である。
第 1の発明は、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に上記水素終 端化 n型半導体基板のエネルギーギヤッブ以上の光子エネルギーを有 する光を照射しながら、 グリニャ一ル試薬を含む溶液中で電極反応を 行わせることにより、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に有機単 分子層を形成するようにしたことを特徴とする有機単分子層の形成方 法である。
第 3の発明は、
S i:、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に上記水素終 端化 n型半導体基板のエネルギーギヤップ以上の光子エネルギーを有 する光を選択的に照射しながら、 グリニャール試薬を含む溶液中で電 極反応を行わせることにより、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面 に所定のパターンの有機単分子層を形成するようにしたことを特徴と する有機単分子層の形成方法である。
第 4の発明は、
有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素、 また は、 S i と G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元 素とからなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基 板を作用電極に用い、 グリニャール試薬を含む溶液中で電極反応を行 わせることにより、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に上記有機 単分子層を形成するようにしたことを特徴とするものである。
第 5の発明は、
有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に上記水素終 端化 n型半導体基板のエネルギーギヤップ以上の光子エネルギーを有 する光を照射しながら、 グリニャール試薬を含む溶液中で電極反応を 行わせることにより、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に有機単 分子層を形成するようにしたことを特徴とするものである。
第 6の発明は、
有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に上記水素終 端化 n型半導体基板のエネルギーギャップ以上の光子エネルギ一を有 する光を選択的に照射しながら、 グリニャール試薬を含む溶液中で電 極反応を行わせることにより、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面 に所定のパタ一ンの有機単分子層を形成するようにしたことを特徴と するものである。
第 7の発明は、
G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素、 また は、 S i と G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元 素とからなり、 ダイァモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基 板を作用電極に用い、 ジァゾ化合物を含む溶液中で電極反応を行わせ ることにより、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に有機単分子層 を形成するようにしたことを特徴とする有機単分子層の形成方法であ る。
第 8の発明は、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種め元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 P型半導体基板の表面に上記水素終 端化 P型半導体基板のエネルギーギヤップ以上の光子エネルギーを有 する光を照射しながら、 ジァゾ化合物を含む溶液中で電極反応を行わ せることにより、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に有機単分子 層を形成するようにしたことを特徴とする有機単分子層の形成方法で ある。
第 9の発明は、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に上記水素終 端化 P型半導体基板のエネルギーギャップ以上の光子エネルギーを有 する光を選択的に照射しながら、 ジァゾ化合物を含む溶液中で電極反 応を行わせることにより、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に所 定のパターンの有機単分子層を形成するようにしたことを特徴とする 有機単分子層の形成方法である。
第 1 0の発明は、
有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素、 また は、 S i と G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元 素とからなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基 板を作用電極に用い、 ジァゾ化合物を含む溶液中で電極反応を行わせ ることにより、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に上記有機単分 子層を形成するようにしたことを特徴とするものである。
第 1 1の発明は、
有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 P型半導体基板の表面に上記水素終 端化 p型半導体基板のエネルギーギャップ以上の光子エネルギ一を有 する光を照射しながら、 ジァゾ化合物を含む溶液中で電極反応を行わ せることにより、 上記水素終端化 P型半導体基板の表面に有機単分子 層を形成するようにしたことを特徴とするものである。
第 1 Iの発明は、
有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に上記水素終 端化 P型半導体基板のエネルギーギヤップ以上の光子エネルギーを有 する光を選択的に照射しながら、 ジァゾ化合物を含む溶液中で電極反 応を行わせることにより、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に所 定のパターンの有機単分子層を形成するようにしたことを特徴とする ものである。
第 1 3の発明は、
G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素、 また は、 S i と G eおよび Cからなる群より選ばれだ少なく とも一種の元 素とからなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基 板を作用電極に用い、 酸化反応により活性種が生成される有機化合物 を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素終端化 p型 半導体基板の表面に有機単分子層を形成するようにしたことを特徴と する有機単分子層の形成方法である。
第 1 4の発明は、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に上記水素終 端化 n型半導体基板のエネルギーギヤップ以上の光子エネルギーを有 する光を照射しながら、 酸化反応により活性種が生成される有機化合 物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素終端化 n 型半導体基板の表面に有機単分子層を形成するようにしたことを特徴 とする有機単分子層の形成方法である。
第 1 5の発明は、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に上記水素終 端化 n型半導体基板のエネルギーギヤップ以上の光子エネルギーを有 する光を選択的に照射しながら、 酸化反応により活性種が生成される 有機化合物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素 終端化 n型半導体基板の表面に所定のパターンの有機単分子層を形成 するようにしたことを特徴とする有機単分子層の形成方法である。 第 1 6の発明は、
有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素、 また は、 S i と G eおよび Cからなる群より選ばれた少なくとも一種の元 素とからなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基 板を作用電極に用い、 酸化反応により活性種が生成される有機化合物 を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素終端化 p型 半導体基板の表面に上記有機単分子層を形成するようにしたことを特 徴とするものである。
第 1 7の発明は、
有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に上記水素終 端化 n型半導体基板のエネルギーギャップ以上の光子エネルギーを有 する光を照射しながら、 酸化反応により活性種が生成される有機化合 物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素終端化 n 型半導体基板の表面に有機単分子層を形成するようにしたことを特徴 とするものである。
第 1 8の発明は、
有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく と-も一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に上記水素終 端化 n型半導体基板のエネルギーギヤップ以上の光子エネルギーを有 する光を選択的に照射しながら、 酸化反応により活性種が生成される 有機化合物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素 終端化 n型半導体基板の表面に所定のパターンの有機単分子層を形成 するようにしたことを特徴とするものである。
第 1 9の発明は、
G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素、 また は、 S i と G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元 素とからなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基 板を作用電極に用い、 還元反応により活性種が生成される有機化合物 を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素終端化 n型 半導体基板の表面に有機単分子層を形成するようにしたことを特徴と する有機単分子層の形成方法である。
第 2 0の発明は、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 P型半導体基板の表面に上記水素終 端化 P型半導体基板のエネルギーギヤップ以上の光子エネルギーを有 する光を照射しながら、 還元反応により活性種が生成される有機化合 物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素終端化 p 型半導体基板の表面に有機単分子層を形成するようにしたことを特徴 とする有機単分子層の形成方法である。
第 2 1の発明は、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に上記水素終 端化 P型半導体基板のエネルギーギヤップ以上の光子エネルギーを有 する光を選択的に照射しながら、 還元反応により活性種が生成される 有機化合物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素 終端化 P型半導体基板の表面に所定のパターンの有機単分子層を形成 するようにしたことを特徴とする有機単分子層の形成方法である。 第 2 2の発明は、
有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素、 また は、 S i と G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元 素とからなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基 板を作用電極に用い、 還元反応により活性種が生成される有機化合物 を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素終端化 n型 半導体基板の表面に上記有機単分子層を形成するようにしたことを特 徴とするものである。
第 2 3の発明は、
有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、 S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 P型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 P型半導体基板め表面に上記水素終 端化 p型半導体基板のエネルギーギャップ以上の光子エネルギーを有 する光を照射しながら、 還元反応により活性種が生成される有機化合 物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素終端化 P 型半導体基板の表面に有機単分子層を形成するようにしたことを特徴 とするものである。
第 4の発明は、
有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 P型半導体基板の表面に上記水素終 端化 P型半導体基板のエネルギーギャップ以上の光子エネルギーを有 する光を選択的に照射しながら、 還元反応により活性種が生成される 有機化合物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素 終端化 P型半導体基板の表面に所定のパターンの有機単分子層を形成 するようにしたことを特徴とするものである。
第 1〜第 2 4の発明において、 G eおよび Cからなる群より選ばれ た少なく とも一種の元素、 または、 S i と G eおよび Cからなる群よ り選ばれた少なく とも一種の元素とからなる半導体基板は、 具体的に は、 G e基板、 C (ダイァモン ド) 基板、 S i C基板、 S i G e x 基板 (ただし、 0く Xく 1 ) などである。 また、 S i、 G eおよび C からなる群より選ばれた少なく とも一種の元素からなる半導体基板は、 具体的には、 S i基板、 G e基板、 C (ダイァモン ド) 基板、 S i C 基板、 S i n G Θ , 基板 (ただし、 0 < x < 1 ) などである。 この 半導体基板としては、 好ましくは単結晶のものが用いられる。 p型ま たは n型半導体基板の表面を水素終端化 (H—) しているのは、 表面 のダングリングボンドを不活性化し、 酸化などを防止するためである。 この半導体基板の面方位は必要に応じて選ばれるが、 好適には ( 1 1 1 ) 面方位のものが用いられる。 水素終端化 p型半導体基板または水 素終端化 n型半導体基板を作用電極として用いる場合、 対極および参 照電極は、 必要に応じて最適なものが選ばれる。 水素終端化 p型半導 体基板または水素終端化 n型半導体基板のェネルギ一ギヤップ以上の 光子エネルギーを有する光としては、 各種のランプ光源やレーザ光源 などによる光を用いることができる。 この光の照射により、 水素終端 化 P型半導体基板または水素終端化 II型半導体基板中に電子一正孔対 が生成される。 この光を水素終端化 p型半導体基板または水素終端化 n型半導体基板の表面に選択的に照射するためには、 この光を透過し ない物質からなるマスクを用いてもよいし、 レ一ザ光を走査してもよ い。 マスクを回折格子状に構成し、 単色性の光をこのマスクに照射す ることにより、 回折パターンの形状に光を照射することができ、 結果 として、 この回折パターンの形状に有機単分子層を形成することがで きる。 回折格子として種々のものを用いることにより、 種々のパ夕一 ン形状の有機単分子層を形成することができる。
第 1〜第 6の発明において、 グリニャール試薬は、 R M g X ( Rは 炭化水素基、 Xはハロゲン) 型有機マグネシウム化合物の総称であり、 Rが脂肪族の場合は Xが C i、 B r、 Iのもの、 Rが芳香族の場合は Xが B rか Iのものが一般的である。
第 7〜第 1 2の発明において、 ジァゾ化合物は、 ジァゾ基 = N 2 を 有する一般式 R C H N 2 または R 2 C N 2 型の化合物であり、 芳香族 ァミンから誘導されるジァゾニゥム塩と関連化合物も含む。 第 1 3〜第 24の発明において、 酸化反応により活性種 (ラジカル など) が生成される有機化合物または還元反応により活性種 (ラジ力 ルなど) が生成される有機化合物としては種々のものを用いることが でき、 上記のグリニヤール試薬またはジァゾ化合物はその代表例であ る。 この有機化合物の他の例としては、 ハロゲン化アルキル (alkyl halide) RX (Rはアルキル基、 Xはハロゲン) ゃシクロプロぺニゥ ム (cyclopropenium) が挙げられる。 ハロゲン化アルキルを用いた場
¾ 1/し
RX+ e—→R · +X_
によりラジカル R ·が発生する。 シクロプロべ二ゥムを用いた場合に
Figure imgf000013_0001
によりラジカルが発生する。
第 4〜第 6、 第 1 0〜第 1 2、 第 1 6〜第 1 8および第 2 2〜第 2 4の発明において、 機能素子は、 最も広義に解釈するものとし、 およ そ有機単分子層を用いるものであれば、 どのようなものであってもよ く、 機能および用途とも問わないが、 具体的には各種の分子エレク ト ロニクス素子、 太陽電池、 水素発生装置、 分子認識装置、 DNAチッ プなどのほか、 例えばマイクロコンタク トプリンティング用スタンプ の錡型 (マスター) なども含まれる。 例えば、 有機単分子層の他端に 官能基 (一 NH2 、 -COOHなど) を導入することにより、 機能性 構造体 (ナノ粒子、 金属錯体、 生体分子など) を制御性よく基板表面 に固定することができる。 この発明によれば、 水素終端化 p型半導体基板または水素終端化 n 型半導体基板を作用電極に用い、 水素終端化 n型半導体基板を用いる 場合にはさらに光を照射しながら、 グリニャール試薬を含む溶液中で 電極反応を行わせることにより、 一端が S i、 G eまたは Cと共有結 合した有機単分子層を電気化学的または光電気化学的に容易にしかも 高い配向性で形成することができる。
また、 この発明によれば、 水素終端化 n型半導体基板または水素終 端化 P型半導体基板を作用電極に用い、 水素終端化 p型半導体基板を 用いる場合にはさらに光を照射しながら、 ジァゾ化合物を含む溶液中 で電極反応を行わせることにより、 一端が S i、 G eまたは Cと共有 結合した有機単分子層を電気化学的または光電気化学的に容易にしか も高い配向性で形成することができる。
また、 この発明によれば、 水素終端化 p型半導体基板または水素終 端化 n型半導体基板を作用電極に用い、 水素終端化 n型半導体基板を 用いる場合にはさらに光を照射しながら、 酸化反応により活性種が生 成される有機化合物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 一端が S i、 G eまたは Cと共有結合した有機単分子層を電気化学的 または光電気化学的に容易にしかも高い配向性で形成することができ る。
また、 この発明によれば、 水素終端化 n型半導体基板または水素終 端化 p型半導体基板を作用電極に用い、 水素終端化 p型半導体基板を 用いる場合にはさらに光を照射しながら、 還元反応により活性種が生 成される有機化合物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 一端が S i、 G eまたは Cと共有結合した有機単分子層を電気化学的 または光電気化学的に容易にしかも高い配向性で形成することができ る。 図面の簡単な説明
第 1図は、 この発明の第 1の実施形態による有機単分子層の形成方 法における反応機構を示す略線図、 第 2図は、 この発明の第 1の実施 形態による有機単分子層の形成方法に用いる装置を示す略線図、 第 3 図は、 第 2図に示す装置において用いるマスクの一例を示す略線図、 第 4図は、 この発明の第 2の実施形態による有機単分子層の形成方法 の実施例 2における電流電位曲線を示す略線図、 第 5図は、 この発明 の第 3の実施形態による有機単分子層の形成方法の実施例 3において 得られた試料の S E M像を示す写真、 第 6図は、 この発明の第 3の実 施形態による有機単分子層の形成方法の実施例 4において得られた試 料の S E M像を示す写真、 第 7図は、 この発明の第 3の実施形態によ る有機単分子層の形成方法の実施例 5において得られた試料の S E M 像を示す写真、 第 8図は、 この発明の第 4の実施形態による有機単分 子層の形成方法の実施例 6における電流電位曲線を示す略線図、 第 9 図は、 この発明の第 4の実施形態による有機単分子層の形成方法の実 施例 6において得られた試料の S E M像を示す写真、 第 1 0図および 第 1 1図は、 この発明の第 4の実施形態による有機単分子層の形成方 法の実施例 6において得られた試料の高分解能 S E M像を示す写真、 第 1 2図は、 この発明の第 5の実施形態による有機単分子層の形成方 法における反応機構を示す略線図、 第 1 3図は、 この発明の第 6の実 施形態によるマイ クロコンタク トプリ ンティング用スタンプのマスタ 一の製造方法を示す略線図である。 発明を実施するための最良の形態
以下、 この発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。 まず、 この発明の第 1の実施形態による有機単分子層の形成方法に ついて説明する。
この第 1の実施形態においては、 p型 H—半導体基板を作用電極に 用いる。 この p型 H—半導体基板は、 G eおよび Cからなる群より選 ばれた少なく とも一種の元素、 または、 S i と G eおよび Cからなる 群より選ばれた少なく とも一種の元素からなり、 ダイアモンド型構造 を有する。 電解液として、 グリニャール試薬を含む溶液を用いる。 そ して、 この電解液に作用電極として p型 H—半導体基板を接触させ、 さらにこの電解液中に所定の対極および参照電極を浸漬し、 参照電極 に対して p型 H—半導体基板を所定の電位に設定することにより、 電 極反応を行わせる。 この結果、 p型 H—半導体基板の表面の G e、 C などに、 使用するグリニャール試薬に含まれる Rの末端の Cが共有結 合する。 このとき、 p型 H—半導体基板の表面の原子配列に従い、 高 い配向性で有機単分子層が形成される。
第 1図に p型 H—半導体基板の表面に有機単分子層が形成されると き'の反応機構を示す。 ただし、 半導体基板は G e基板とする。 反応機 構は以下の通りである。 ( 1 ) 初期段階としてグリニャール試薬が陽 極酸化され、 ラジカル (R · ) が発生する。 ( 2 ) R ·が G e基板表 面の終端水素を引き抜き、 G eラジカルが発生する。 ( 3 ) G eラジ カルと R ' とが反応し、 G e— C結合を介して Rが G e基板表面に固 定される。 これは半導体基板が S i基板である場合と同様である (文 献 2参照) 。
第 2図に上記の反応に用いる装置の一例を模式的に示す。 第 2図に 示すように、 この装置においては、 反応槽 1の側面に円筒 2が取り付 けられている。 この円筒 2の底面には開口 3が設けられており、 この 開口 3を通じて反応槽 1の内部と連通している。 反応槽 1の内部には. グリニヤ一ル試薬またはジァゾ化合物を含む溶液 4が入れられている。 この第 1の実施形態においては、 グリニャール試薬を含む溶液 4を用 いる。 円筒 2の内部には基板 5が 0—リング 6によりシールされた状 態で取り付けられており、 その表面が溶液 4と接触している。 この第 1の実施形態においては、 基板 5は p型 H—半導体基板である。 基板 5の裏面にはォ一ミックコンタク ト 7が形成されており、 このォ一ミ ックコンタク ト 7が作用電極 8に接続されている。 溶液 4には対極 9 および参照電極 1 0が浸漬されている。 反応槽 1の側面の、 基板 5と 対向する部位には透明窓 1 1が取り付けられている。 そして、 反応槽 1の外部に設けられた光源 1 2からの光 1 3をこの透明窓 1 1 を通し て基板 5の表面に照射することができるようになつている。 光源 1 2 としては、 ランプ光源ゃレ一ザ光源が用いられる。 透明窓 1 1には、 必要に応じてマスク 1 4が設けられる。 マスク 1 4の一例としてメッ シュを第 3図に示す。
〈実施例 1〉
実施例 1では、 作用電極である基板 5に p型 H— G e ( 1 1 1 ) 単 結晶基板 (B ド一プ、 抵抗率 1 — 1 0 Ω · cm、 ォーミックコンタク ト ( I n— Z n))、 参照電極 1 0に A g線、 対極 9に P t板を用いた。 溶液 4には、 C 18H37M g C 1 /THF (テトラヒドロフラン) 溶液 を用いた。 電気化学反応により、 G e ( 1 1 1 ) 表面に G e— C結合 を介してォクタデシル (C 18H37) 単分子層が結合した。 電気化学反 応は、 高純度 A r雰囲気下グローブボックス内で行った。
この第 1の実施形態によれば、 ォクタデシル単分子層などの有機単 分子層を p型 G e基板などの p型半導体基板上に容易にしかも高い配 向性で形成することができる。
次に、 この発明の第 2の実施形態による有機単分子層の形成方法に ついて説明する。
この第 2の実施形態においては、 n型 H—半導体基板を作用電極に 用いる。 この n型 H 半導体基板は、 S i、 Geおよび Cからなる群 より選ばれた少なく とも一種の元素からなり、 ダイアモンド型構造を 有する。 電解液として、 グリニャール試薬を含む溶液を用いる。 そ.し て、 この電解液に作用電極として n型 H—半導体基板を接^ ¾させ、 さ らにこの電解液中に所定の対極および参照電極を浸漬し、 この n型 H 一半導体基板のエネルギーギヤップ以上の光子エネルギーを有する光 をこの n型 H—半導体基板に照射しながら参照電極に対して n型 H— 半導体基板を所定の電位に設定することにより、 電極反応を行わせる。 この結果、 n型 H—半導体基板の表面の S i、 Geまたは Cに、 使用 するグリニヤール試薬に含まれる Rの末端の Cが共有結合する。 この とき、 n型 H—半導体基板の表面の原子配列に従い、 高い配向性で有 機単分子層が形成される。
〈実施例 2〉
実施例 2では、 作用電極である基板 5に n型 H_S i ( 1 1 1 ) 単 結晶基板 (Pドープ、 抵抗率 1— 1 0Ω · cm、 ォーミックコンタク ト ( I n— G a))、 参照電極 1 0に Ag線、 対極 9に P t板を用いた。 溶液 4には、 C I8H37Mg C 1 /THF溶液を用いた。 この n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板に照射する光の光源には、 4 0 0 nm以下 の波長をカツ トしたキセノンランプ ( 2 0 0 mW) を用いた。 光電気 化学反応により、 ォクタデシル単分子層が S i一 C結合を介して S i ( 1 1 1 ) 表面に結合した。 光電気化学反応は、 高純度 A r雰囲気下 グロ一ブボックス内で行った。
第 4図は 0. 5M C 18H37M g C 1 /THF溶液を用いた場合に 得られた電流電位曲線である。 この第 2の実施形態によれば、 ォクタデシル単分子層などの有機単 分子層を n型 S i基板などの n型半導体基板上に容易にしかも高い配 向性で形成することができる。
次に、 この発明の第 3の実施形態による有機単分子層の形成方法に ついて説明する。
この第 3の実施形態においては、 n型 H—半導体基板を作用電極に 用いる。 この n型 H—半導体基板は、 S i、 Geおよび Cからなる群 より選ばれた少なくとも一種の元素からなり、 ダイアモンド型構造を 有する。 電解液として、 グリニャール試薬を含む溶液を用いる。 そし て、 この電解液に作用電極として n型 H—半導体基板を接触させ、 さ らにこの電解液中に所定の対極およぴ参照電極を浸漬し、 この n型 H —半導体基板のエネルギーギヤップ以上の光子エネルギ一を有する光 をマスクを用いてこの n型 H—半導体基板に選択的に照射しながら参 照電極に対して n型 H—半導体基板を所定の電位に設定することによ り、 電極反応を行わせる。 この結果、 光が照射された領域の n型 H— 半導体基板の表面の S i、 G eまたは Cに、 使用するグリニャール試 薬に含まれる Rの末端の Cが共有結合する。 このとき、 n型 H—半導 体基板の表面の原子配列に従い、 高い配向性で有機単分子層が選択的 に形成される。
〈実施例 3 >
実施例 3では、 作用電極である基板 5に n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単 結晶基板 (Pド一プ、 抵抗率 1一 1 0 Ω · cm. ォ一ミックコンタク ト ( I n— G a))、 参照電極 1 0に Ag線、 対極 9に P t板を用いた , 溶液 4には、 0. 5M C18H37Mg C 1 /THF溶液を用いた。 こ の n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板に照射する光の光源には、 Nd : YAGレ一ザ一 ( 1 0 Hz、 5 3 2 n m、 3 0 0 mW) を用いた。 マスク 1 4としては、 マイクロメートルスケールの周期的なホールお よびバーを持つ透過型電子顕微鏡 (TEM) 観察用 Cuグリッ ド ( 5
0メッシュ (ピッチ 5 0 0 wm、 ホール寸法 4 5 0 wm、 バ一寸法 5 0 m))を n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板の前面に置いた。 光電 気化学反応により、 n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板の光が照射さ れた領域において、 ォクタデシル単分子層が S i一 C結合を介して S
1 ( 1 1 1 ) 表面に結合した。 光電気化学反応は、'高純度 A r雰囲気 下グロ一ブボックス内で行った。
このときの電流電位曲線は第 4図と同じである。
第 5図は、 上記のようにして光電気化学反応を行った n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板の表面の走査型電子顕镞鏡 (S EM) 像を示す。 ただし、 n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板は参照電極 1 0に対して + 2. 0 Vの電位に設定し、 3 0 0秒間保持した。 第 5図より、 n型 H- S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板上の、 マスク 1 4により光が照射され なかった領域 (メ ッシュのバーに対応する領域) にはォクタデシル単 分子層は形成されておらず、 光が照射された領域 (メッシュのホール に対応する領域) にのみォクタデシル単分子層が形成されていること がわかる。
〈実施例 4〉
実施例 4では、 作用電極である基板 5に n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単 結晶基板 (Pドープ、 抵抗率 1— 1 0Ω · cm、 ォ一ミックコンタク ト ( I n— G a))、 参照電極 1 0に Ag線、 対極 9に P t板を用いた。 溶液 4には、 0. 5M C18H37Mg C 1 /THF溶液を用いた。 こ の n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板に照射する光の光源には、 Nd : YAGレーザー ( 1 0 Hz、 5 3 2 n m、 3 0 0 mW) を用いた。 マスク 1 4としては、 マイクロメートルスケールの周期的なホールお よびバ一を持つ T E M観察用 C 11グリッ ド ( 4 0 0メッシュ (ピッチ 6 3〃m、 ホール寸法 3 0 wm、 バー寸法 3 3〃m))を n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板の前面に置いた。 光電気化学反応により、 n型 H- S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板の光が照射された領域において、 ォク タデシル単分子層が S i—C結合を介して S i ( 1 1 1 ) 表面に結合 した。 光電気化学反応は、 高純度 A r雰囲気下グローブボックス内で 行った。
このときの電流電位曲線は第 4図と同じである。
第 6図は、 上記のようにして光電気化学反応を行った n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板の表面の S EM像を示す。 ただし、 n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板は参照電極 1 0に対して + 2. 0 Vの電位に 設定し、 3 0 0秒間保持した。 第 6図より、 n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板上の、 マスク 1 4により光が照射されなかった領域 (メッ シュのバーに対応する領域) にはォクタデシル単分子層は形成されて おらず、 光が照射された領域 (メッシュのホールに対応す.る領域) に のみォクタデシル単分子層が形成されていることがわかる。
〈実施例 5 >
実施例 5では、 作用電極である基板 5に n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単 結晶基板 (Pドープ、 抵抗率 1— 1 0 Ω · c m、 ォ一ミックコンタク ト ( I n— G a))、 参照電極 1 0に Ag線、 対極 9に P t板を用いた。 溶液 4には、 0. 5 M C18H37Mg C 1 ZTHF溶液を用いた。 こ の n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板に照射する光の光源には、 Nd : Y AGレーザ一 ( 1 0 H z、 5 3 2 nm、 3 0 0 mW) を用いた。 マスク 1 4としては、 直径 1. 0 mmの単孔の T EM観察用 C uグリ ッ ドを n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板の前面に置いた。 光電気化 学反応により、 n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板の光が照射された 領域において、 ォクタデシル単分子層が S i—C結合を介して S i ( 1 1 1 ) 表面に結合した。 光電気化学反応は、 高純度 A r雰囲気下 グローブボックス内で行つた。
このときの電流電位曲線は第 4図と同じである。
第 7図は、 上記のようにして光電気化学反応を行った n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板の表面の S E M像を示す。 ただし、 作用電極は 参照電極に対して + 2 . 0 Vの電位に設定し、 3 0 0秒間保持した。 次に、 この発明の第 4の実施形態による有機単分子層の形成方法に ついて説明する。
この第 4の実施形態においては、 n型 H—半導体基板を作用電極に 用いる。 この n型 H—半導体基板は、 S i、 G eおよび Cからなる群 より選ばれた少なく とも一種の元素からなり、 ダイアモンド型構造を 有する。 電解液として、 グリニャール試薬を含む溶液を用いる。 そし て、 この電解液に作用電極として n型 H—半導体基板を接触させ、 さ らにこの電解液中に所定め対極および参照電極を浸漬し、 この n型 H —半導体基板のエネルギ一ギヤップ以上の光子エネルギーを有する光 をマスクを用いてこの n型 H—半導体基板に選択的に照射しながら、 参照電極に対する n型 H—半導体基板の電位を変化させることにより 電極反応を行わせる。 この結果、 光が照射された領域の n型 H—半導 体基板の表面の S i、 G eまたは Cに、 使用するグリニャール試薬に 含まれる Rの末端の Cが共有結合する。 このとき、 n型 H—半導体基 板の表面の原子配列に従い、 高い配向性で有機単分子層が選択的に形 成される。 これと同時に、 光が照射されなかった領域の n型 H—半導 体基板の表面に M gが堆積する。
〈実施例 6〉
実施例 6では、 作用電極である基板 5に n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単 結晶基板 (Pド一プ、 抵抗率 1一 1 0Ω · cm、 ォ一ミックコンタク ト ( I n_G a))、 参照電極 1 0に Ag線、 対極 9に P t板を用いた。 溶液 4には、 0. 5 M C18H37Mg C 1 /THF溶液を用いた。 こ の n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板に照射する光の光源には、 Nd : YAGレーザー ( 1 O.H z、 5 3 2 nm、 3 0 0 mW) を用いた。 マスク 1 4としては、 マイクロメートルスケールの周期的なホールお よびバ一を持つ TEM観察用 C uグリ ッ ド ( 5 0メッシュ (ピッチ 5
0 0 urn, ホール寸法 4 5 0 m、 バー寸法 5 0 m))を n型 H— S
1 ( 1 1 1 ) 単結晶基板の前面に置いた。 光電気化学反応により、 n 型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板の光が照射された領域において、 ォ ク夕デシル単分子層が S i— C結合を介して S i ( 1 1 1 ) 表面に結 合した。 また、 n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板の光が照射されな かった領域において、 Mg層が S i ( 1 1 1 ) 表面に結合した。 光電 気化学反応は、 高純度 A r雰囲気下グロ一ブボックス内で行った。
このときの電流電位曲線を第 8図に示す。
第 9図は、 第 8図に示す電位操作により光電気化学反応を行った n 型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板の表面の S EM像を示す。 第 9図よ り、 n型 H— S i ( 1 1 1 ) 単結晶基板上に、 マスク 1 4の周期構造 を反映してォクタデシル単分子層および M g層が交互に形成されてい ることがわかる。 第 1 0図は第 9図の Mg層の部分の高分解能 S EM 像を示す。 また、 第 1 1図は第 9図のォクタデシル単分子層の部分の 高分解能 S EM像を示す。
この第 4の実施形態によれば、 ォクタデシル単分子層などの有機単 分子層を n型 S i基板などの n型半導体基板上に容易にしかも高い配 向性で、 所望のパターンに選択的に形成することができるとともに、 これらの有機単分子層の間の領域に M g層を形成することができる。 次に、 この発明の第 5の実施形態による有機単分子層の形成方法に ついて説明する。
この第 5の実施形態においては、 n型 H—半導体基板を作用電極に 用いる。 この n型 H—半導体基板は、 G eおよび Cからなる群より選 ばれた少なく とも一種の元素、 または、 S i と Geおよび Cからなる 群より選ばれた少なく とも一種の元素からなり、 ダイアモンド型構造 を有する。 電解液として、 ジァゾ化合物を含む溶液を用いる。 そして、 この電解液に作用電極として n型 H—半導体基板を接触させ、 さらに この電解液中に所定の対極および参照電極を浸漬し、 参照電極に対し て n型 H—半導体基板を所定の電位に設定することにより、 電極反応 を行わせる。 この結果、 n型 H—半導体基板の表面の G e、 Cなどに、 使用するジァゾ化合物に含まれる Rの末端の Cが共有結合する。 この とき、 n型 H—半導体基板の表面の原子配列に従い、 高い配向性で有 機単分子層が形成される。
第 1 2図に n型 H—半導体基板の表面に有機単分子層が形成される ときの反応機構を示す。 ただし、 半導体基板は G e基板とする。 反応 機構は以下の通りである。 ( 1 ) 1電子還元反応によりジァゾ化合物 がラジカル (R ' ) を形成する。 ( 2 ) R ·が G e基板表面の終端水 素を引き抜き、 Geラジカルが発生する。 ( 3 ) Geラジカルと R - とが反応し、 G e—C結合を介して Rが G e基板表面に固定される。 〈実施例 7〉
実施例 7では、 作用電極である基板 5に n型 H_G e ( 1 1 1 ) 単 結晶基板 (Pドープ、 抵抗率 1一 1 0 Ω · c m、 ォ一ミックコンタク ト ( I n— G a))、 参照電極 1 0に A g線、 対極 9に P t板を用いた。 溶液 4には、 0. 0 5 M H2 S〇4 と 1 mMの
Figure imgf000025_0001
N2+BF4一 との水溶液を用いた。 電気化学反応により、 G e ( 1 1 1 ) 表面に G e— C結合を介してジァゾベンゼン単分子層が結合した。 電気化学反 応は、 高純度 A r雰囲気下グローブボックス内で行った。
この第 5の実施形態によれば、 ジァゾベンゼン単分子層などの有機 単分子層を n型 G e基板などの n型半導体基板上に容易にしかも高い 配向性で形成することができる。
次に、 この発明の第 6の実施形態について説明する。 この第 6の実 施形態においては、 機能素子の一例として、 マイクロコンタク トプリ ンティング法 (例えば、 A. Kumar, G. M. Whi tes ide et al. , Langmu i r, 10 (1994) 1498) に用いられるスタンプのマスターの製造方法につ いて説明する。
この第 6の実施形態においては、 マイクロコンタク トプリンティン グ用スタンプのマスターの基板として p型 H—半導体基板を用いる。 この P型 H—半導体基板は、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少 なくとも一種の元素、 または、 S i と G eおよび Cからなる群より選 ばれた少なく とも一種の元素からなり、 ダイアモンド型構造を有する。 まず、 この p型 H—半導体基板の表面の所定領域にのみ、 親水性の 有機単分子層を形成し、 あるいは、 親水基を有する有機単分子層をそ の親水基を外側に向けて形成する。
次に、 この親水性の有機単分子層あるいは親水基を有する有機単分 子層が形成されていない領域にのみ、 第 1の実施形態と同様にして疎 水性の有機単分子層を形成し、 あるいは、 疎水基を有する有機単分子 層をその疎水基を外側に向けて形成する。
次に、 p型半導体基板の表面の、 親水性の有機単分子層あるいは親 水基を有する有機単分子層が形成された領域にのみ、 親水性の光硬化 性ポリマーを形成する。
次に、 この光硬化性ポリマ一が形成された p型半導体基板の表面に 光を照射することにより、 この光硬化性ポリマーを硬化させる。 以上のようにして、 マイクロコン夕ク トプリンティング用スタンプ のマスタ一が製造される。
次に、 このマイクロコンタク トプリ ンティング用スタンプのマスタ 一の使用方法の一例について説明する。
上述のようにして製造されたマイクロコンタク トプリンティング用 ス夕ンプのマスタ一のパターンを例えばポリジメチルシロキサン (P D M S ) などのスタンプ材に写し取ることでスタンプを作製する。 こ のスタンプに自己組織化膜を作る分子 (例えば、 チオール、 アミノシ ランなど) の溶液を塗布し、 これをプリンティングを行う基板に押し 付ける。 こうすることで、 マスタ一のパターンに従って基板上に自己 組織化膜が形成される。 具体例を挙げ.ると、 例えばアミ ノシランがス タンプされた基板表面は正の電荷を持つので、 負電荷を持つ D N Aを 引き付ける。 そこで、 この基板表面に D N A溶液を塗布すると、 D N Aがアミノシラン膜の上にだけ吸着し、 D N Aのパターンが形成され る。
〈実施例 8 > 実施例 8では、 作用電極である基板.5に p型 H— G e ( 1 1 1 ) 単 結晶基板 (Bド一プ、 抵抗率 1— 1 0Ω · cm、 ォ一ミックコンタク ト ( I n— Z n))、 参照電極 1 0に Ag線、 対極 9に P t板を用いた。 この P型 H— Ge ( 1 1 1 ) 単結晶基板を用い、 第 1 3図に示す手順 でマイクロコンタク トプリンティング用スタンプのマスターを製造し た。
まず、 溶液 4として、 親水基 X (OH、 NH2 、 N02 など) を有 するベンゼンジァゾニゥム塩の溶液を用いる。 この溶液 4に p型 H— G e ( 1 1 1 ) 単結晶基板を浸潰し、 この p型 H— Ge ( l l l ) 単 結晶基板の電位を負にして、 この p型 H— Ge ( 1 1 1 ) 単結晶基板 のエネルギーギヤップ以上の光子エネルギーを有する光をマスクを用 いてこの p型 H_Ge ( 1 1 1 ) 単結晶基板に選択的に照射する。 こ う して、 ベンゼン誘導体単分子層が親水基 Xを外側に向けて所定のパ ターンで結合した。 電気化学反応は、 高純度 A r雰囲気下グロ一ブボ ックス内で行った。
次に、 溶液 4として第 1 3図に示すグリニャール試薬を用い、 この 溶液 4に、 上記のベンゼン誘導体単分子層が形成された p型 H— G e ( 1 1 1 ) 単結晶基板を浸潰し、 この p型 H— Ge ( 1 1 1 ) 単結晶 基板の電位を正にして電気化学反応を行う。 こう して、 親水基 Xを有 するベンゼン誘導体単分子層で覆われていない部分の G e ( 1 1 1 ) 表面に G e— C結合を介して疎水性のベンゼン単分子層が結合した。 電気化学反応は、 高純度 A r雰囲気下グローブボックス内で行った。 次に、 上記のようにして有機単分子層が形成された P型 Ge ( 1 1 1 ) 単結晶基板の上に親水性の光硬化性ポリマーを形成した後、 これ に光を照射して硬化させ、 ポリマ一パターンを形成する。 親水性の光 硬化性ポリマーとしては、 例えば、 ポリエチレングリコ一ルジメタク リ レ一トを用いる。
以上により、 マイクロコンタク トプリンティング用ス夕ンプのマス ターが製造された。
この第 6の実施形態によれば、 マイクロコンタク トプリンティング 用スタンプのマスタ一を p型 G e基板などの p型半導体基板を用いて 容易に製造することができる。
以上、 この発明の実施形態および実施例について具体的に説明した が、 この発明は、 上述の実施形態および実施例に限定されるものでは なく、 この発明の技術的思想に基づく各種の変形が可能である。
例えば、 上述の実施形態および実施例において挙げた数値、 材料、 条件、 プロセスなどはあくまでも例に過ぎず、 必要に応じて、 これら と異なる数値、 材料、 条件、 プロセスなどを用いてもよい。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素、 ま たは、 S i と G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の 元素とからなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体 基板を作用電極に用い、 グリニャール試薬を含む溶液中で電極反応を 行わせることにより、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に有機単 分子層を形成するようにしたことを特徴とする有機単分子層の形成方 法。
2 . S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元 素からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基板 を作用電極に用い、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に上記水素 終端化 n型半導体基板のエネルギーギヤップ以上の光子エネルギーを 有する光を照射しながら、 グリニャール試薬を含む溶液中で電極反応 を行わせることにより、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に有機 単分子層を形成するようにしたことを特徴とする有機単分子層の形成 方法。
3 . S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元 素からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基板 を作用電極に用い、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に上記水素 終端化 n型半導体基板のエネルギーギャップ以上の光子エネルギーを 有する光を選択的に照射しながら、 グリニヤール試薬を含む溶液中で 電極反応を行わせることにより、 上記水素終端化 n型半導体基板の表 面に所定のパタ一ンの有機単分子層を形成するようにしたことを特徴 とする有機単分子層の形成方法。
4 . 有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素、 また は、 S i と G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元 素とからなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基 板を作用電極に用い、 グリニャール試薬を含む溶液中で電極反応を行 わせることにより、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に上記有機 単分子層を形成するようにしたことを特徴とする機能素子の製造方法。
5 . 有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に上記水素終 端化 n型半導体基板のエネルギーギャップ以上の光子エネルギーを有 する光を照射しながら、 グリニャール試薬を含む溶液中で電極反応を 行わせることにより、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に有機単 分子層を形成するようにしたことを特徴とする機能素子の製造方法。
6 . 有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 n型半導体基板の衾面に上記水素終 端化 n型半導体基板のエネルギーギャップ以上の光子エネルギーを有 する光を選択的に照射しながら、 グリニャール試薬を含む溶液中で電 極反応を行わせることにより、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面 に所定のパターンの有機単分子層を形成するようにしたことを特徴と する機能素子の製造方法。
7 . G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素、 ま たは、 S i と G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の 元素とからなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体 基板を作用電極に用い、 ジァゾ化合物を含む溶液中で電極反応を行わ せることにより、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に有機単分子 層を形成するようにしたことを特徴とする有機単分子層の形成方法。 8 . S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元 素からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基板 を作用電極に用い、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に上記水素 終端化 P型半導体基板のエネルギーギャップ以上の光子エネルギーを ' 有する光を照射しながら、 ジァゾ化合物を含む溶液中で電極反応を行 わせることにより、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に有機単分 子層を形成するようにしたことを特徴とする有機単分子層の形成方法。 9 . S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元 素からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基板 を作用電極に用い、 上記水素終端化 P型半導体基板の表面に上記水素 終端化 P型半導体基板のエネルギーギヤップ以上の光子エネルギーを 有する光を選択的に照射しながら、 ジァゾ化合物を含む溶液中で電極 反応を行わせることにより、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に 所定のパターンの有機単分子層を形成するようにしたことを特徴とす る有機単分子層の形成方法。
1 0 . 有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
G eおよび Cからなる群より選ばれた少なくとも一種の元素、 また は、 S i と G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元 素とからなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基 板を作用電極に用い、 ジァゾ化合物を含む溶液中で電極反応を行わせ ることにより、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に上記有機単分 子層を形成するようにしたことを特徴とする機能素子の製造方法。
1 1 . 有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、 S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に上記水素終 端化 P型半導体基板のエネルギーギヤップ以上の光子エネルギーを有 する光を照射しながら、 ジァゾ化合物を含む溶液中で電極反応を行わ せることにより、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に有機単分子 層を形成するようにしたことを特徴とする機能素子の製造方法。 1 2 . 有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に上記水素終 端化 P型半導体基板のエネルギーギャップ以上の光子エネルギーを有 する光を選択的に照射しながら、 ジァゾ化合物を含む溶液中で電極反 応を行わせることにより、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に所 定のパターンの有機単分子層を形成するようにしたことを特徴とする 機能素子の製造方法。
1 3 . G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素、 または、 S' i と G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種 の元素とからなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導 体基板を作用電極に用い、 酸化反応により活性種が生成される有機化 合物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に有機単分子層を形成するようにしたことを特 徴とする有機単分子層の形成方法。
1 4 . S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の 元素からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基 板を作用電極に用い、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に上記水 素終端化 n型半導体基板のエネルギーギャップ以上の光子エネルギー を有する光を照射しながら、 酸化反応により活性種が生成される有機 化合物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素終端 化 n型半導体基板の表面に有機単分子層を形成するようにしたことを 特徴とする有機単分子層の形成方法。
1 5 . S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の 元素からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基 板を作用電極に用い、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に上記水 素終端化 n型半導体基板のエネルギーギャップ以上の光子エネルギー を有する光を選択的に照射しながら、 酸化反応により活性種が生成ざ れる有機化合物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記 水素終端化 n型半導体基板の表面に所定のパターンの有機単分子層を 形成するようにしたことを特徴とする有機単分子層の形成方法。 1 6 . 有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素、 また は、 S i と G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元 素とからなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基 板を作用電極に用い、 酸化反応により活性種が生成される有機化合物 を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素終端化 p型 半導体基板の表面に上記有機単分子層を形成するようにしたことを特 徴とする機能素子の製造方法。
1 7 . 有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイァモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に上記水素終 端化 n型半導体基板のエネルギーギヤップ以上の光子エネルギーを有 する光を照射しながら、 酸化反応により活性種が生成される有機化合 物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素終端化 n 型半導体基板の表面に有機単分子層を形成するようにしたことを特徴 とする機能素子の製造方法。
1 8 . 有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 , からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に上記水素終 端化 n型半導体基板のエネルギーギヤップ以上の光子エネルギーを有 する光を選択的に照射しながら、 酸化反応により活性種が生成される 有機化合物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより.、 上記水素 終端化 n型半導体基板の表面に所定のパターンの有機単分子層を形成 するようにしたことを特徴とする機能素子の製造方法。
1 9 . G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素、 または、 S i と G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種 の元素とからなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導 体基板を作用電極に用い、 還元反応により活性種が生成される有機化 合物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素終端化 n型半導体基板の表面に有機単分子層を形成するようにしたことを特 徴とする有機単分子層の形成方法。
2 0 . S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なくとも一種の 元素からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基 板を作用電極に用い、 上記水素終端化 P型半導体基板の表面に上記水 素終端化 P型半導体基板のエネルギーギャップ以上の光子エネルギー を有する光を照射しながら、 還元反応により活性種が生成される有機 化合物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素終端 化 P型半導体基板の表面に有機単分子層を形成するようにしたことを 特徴とする有機単分子層の形成方法。
2 1 . S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の 元素からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基 板を作用電極に用い、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に上記水 素終端化 p型半導体基板のエネルギーギヤップ以上の光子ェネルギー を有する光を選択的に照射しながら、 還元反応により活性種が生成さ れる有機化合物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記 水素終端化 P型半導体基板の表面に所定のパターンの有機単分子層を 形成するようにしたことを特徴とする有機単分子層の形成方法。
2 2 . 有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素、 また は、 S i と G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元 素とからなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 n型半導体基 板を作用電極に用い、 還元反応により活性種が生成される有機化合物 を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 .上記水素終端化 n型 半導体基板の表面に上記有機単分子層を形成するようにしたことを特 徴とする機能素子の製造方法。
2 3 . 有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なく とも一種の元素 からなり、 ダイアモン ド型構造を有する水素終端化 p型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に上記水素終 端化 p型半導体基板のエネルギーギャップ以上の光子エネルギーを有 する光を照射しながら、 還元反応により活性種が生成される有機化合 物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素終端化 p 型半導体基板の表面に有機単分子層を形成するようにしたことを特徴 とする機能素子の製造方法。
2 4 . 有機単分子層を用いる機能素子の製造方法において、
S i、 G eおよび Cからなる群より選ばれた少なくとも一種の元素 からなり、 ダイアモンド型構造を有する水素終端化 p型半導体基板を 作用電極に用い、 上記水素終端化 p型半導体基板の表面に上記水素終 端化 p型半導体基板のエネルギーギャップ以上の光子エネルギーを有 する光を選択的に照射しながら、 還元反応により活性種が生成される 有機化合物を含む溶液中で電極反応を行わせることにより、 上記水素 終端化 P型半導体基板の表面に所定のパターンの有機単分子層を形成 するようにしたことを特徴とする機能素子の製造方法。
PCT/JP2005/020153 2004-11-02 2005-10-27 有機単分子層の形成方法および機能素子の製造方法 Ceased WO2006049189A1 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004-319487 2004-11-02
JP2004319487 2004-11-02

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2006049189A1 true WO2006049189A1 (ja) 2006-05-11

Family

ID=36319194

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2005/020153 Ceased WO2006049189A1 (ja) 2004-11-02 2005-10-27 有機単分子層の形成方法および機能素子の製造方法

Country Status (1)

Country Link
WO (1) WO2006049189A1 (ja)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6284317B1 (en) * 1998-04-17 2001-09-04 Massachusetts Institute Of Technology Derivatization of silicon surfaces
US20020197389A1 (en) * 1999-11-19 2002-12-26 Buriak Jillian M. Functionalized silicon surfaces
US20030021967A1 (en) * 2000-02-20 2003-01-30 Jacob Sagiv Constructive nanolithography
JP2003309061A (ja) * 2002-04-18 2003-10-31 Japan Science & Technology Corp シリコンウェハー上の有機単分子膜の光パターニング
JP2005079410A (ja) * 2003-09-01 2005-03-24 Japan Science & Technology Agency 分子デバイスとその製造方法
JP2005161266A (ja) * 2003-12-04 2005-06-23 Japan Science & Technology Agency 界面電子移動触媒分子層構成体とその形成方法並びに光エネルギー変換方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6284317B1 (en) * 1998-04-17 2001-09-04 Massachusetts Institute Of Technology Derivatization of silicon surfaces
US20020197389A1 (en) * 1999-11-19 2002-12-26 Buriak Jillian M. Functionalized silicon surfaces
US20030021967A1 (en) * 2000-02-20 2003-01-30 Jacob Sagiv Constructive nanolithography
JP2003309061A (ja) * 2002-04-18 2003-10-31 Japan Science & Technology Corp シリコンウェハー上の有機単分子膜の光パターニング
JP2005079410A (ja) * 2003-09-01 2005-03-24 Japan Science & Technology Agency 分子デバイスとその製造方法
JP2005161266A (ja) * 2003-12-04 2005-06-23 Japan Science & Technology Agency 界面電子移動触媒分子層構成体とその形成方法並びに光エネルギー変換方法

Non-Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
BOUKHERROUB R. ET AL.: "New Synthetic Routes to Alkyl Monolayers on the Si(111) Surface", LANGMUIR, THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY, vol. 15, no. 11, 25 May 1999 (1999-05-25), pages 3831 - 3835, XP000925257 *
MASUDA T. AND UOSAKI K.: "Construction of Organic Monolayers with Electron Transfer Function on a Hydrogen Terminated Si(111) Surface via Silicon-Carbon Bond and Their Electrochemical Characteristics in Dark and Under Illumination", CHEMISTRY LETTERS, CSJ: THE CHEMICAL SOCIETY OF JAPAN, vol. 33, no. 7, 5 July 2004 (2004-07-05), pages 788 - 789, XP002998028 *
UOSAKI K., SATO Y., KONDO T.: "Jiko Soshikika Tanbunshiso Shushoku Denkyoku ni okeru Denshi Ido Hanno", KAGAKU KOGYO, KAGAKU KOGYOSHA, vol. 45, no. 12, 1 December 1993 (1993-12-01), pages 9 - 15, XP003007370 *
YAMADA T. ET AL.: "Evaluation of Organic Monolayers Formed on Si(111): Exploring the Possibilities for Application in Electron Beam Nanoscale Patterning", JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. PART 1, THE INSTITUTE OF PURE AND APPLIED PHYSICS, vol. 40, no. 8, 15 August 2001 (2001-08-15), pages 4845 - 4853, XP001110886 *
YAMADA T., TAKANO N., OSAKA T.: "Electron beam nanometer-scale Fabrication of Si(111) usng alkyl monolayers", RIKEN REVIEW, RIKEN, no. 45, March 2002 (2002-03-01), pages 9 - 21, XP003007371 *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Nayak et al. Enhanced photocatalytic activities of RhB degradation and H2 evolution from in situ formation of the electrostatic heterostructure MoS2/NiFe LDH nanocomposite through the Z-scheme mechanism via p–n heterojunctions
Shanker et al. 2D materials and their heterostructures for photocatalytic water splitting and conversion of CO2 to value chemicals and fuels
Werts et al. Nanometer scale patterning of Langmuir− Blodgett films of gold nanoparticles by electron beam lithography
Sakamoto et al. A photofunctional bottom-up bis (dipyrrinato) zinc (II) complex nanosheet
Gao et al. Morphology evolution of ZnO thin films from aqueous solutions and their application to solar cells
Wong et al. What a difference a bond makes: the structural, chemical, and physical properties of methyl-terminated Si (111) surfaces
Schmeltzer et al. Hydride abstraction initiated hydrosilylation of terminal alkenes and alkynes on porous silicon
Nguyen et al. Novel amorphous molybdenum selenide as an efficient catalyst for hydrogen evolution reaction
Zhang et al. Enhanced electrocatalytic activity of ethanol oxidation reaction on palladium–silver nanoparticles via removable surface ligands
Pan et al. Fabrication, characterization, and optoelectronic properties of layer-by-layer films based on terpyridine-modified MWCNTs and ruthenium (III) ions
García-Dalí et al. Molecular functionalization of 2H-Phase MoS2 nanosheets via an electrolytic route for enhanced catalytic performance
Choi et al. Direct printing synthesis of self-organized copper oxide hollow spheres on a substrate using copper (II) complex ink: Gas sensing and photoelectrochemical properties
KR101199782B1 (ko) 금속 나노입자가 담지된 탄소나노구조체, 이의 제조방법 및 이의 연료전지용 전극 촉매로의 응용
Zhou et al. A feasible and environmentally friendly method to simultaneously synthesize MoS2 quantum dots and pore-rich monolayer MoS2 for hydrogen evolution reaction
Hu et al. Activation matters: hysteresis effects during electrochemical looping of colloidal Ag nanowire catalysts
Basher et al. Development of zinc-oxide nanorods on chemically etched zinc plates suitable for high-efficiency photovoltaics solar cells
Zhang et al. Enhancement of the photoelectrocatalytic H2 evolution on a rutile-TiO2 (001) surface decorated with dendritic MoS2 monolayer nanoflakes
Shearer et al. Removing defects in WSe2 via surface oxidation and etching to improve solar conversion performance
Ha et al. Recent developments in porous metal chalcogenides for environmental remediation and sustainable energy
Navarro-Pardo et al. Graphene oxide/cobalt-based nanohybrid electrodes for robust hydrogen generation
Liu et al. ALD-Deposited NiO approaches the performance of platinum as a hydrogen evolution cocatalyst on carbon nitride
Ashrafi et al. Introduction of MoS2–FeS2 with an S-vacancy defect as an efficient bifunctional electrocatalyst for hydrogen evolution reaction and ferrocyanide and iodide oxidation reactions
Ejeromedoghene et al. Evaluation of zinc sulfide heterostructures as catalysts for the transformation of CO 2 into valuable chemicals and clean energy generation
Lotfi et al. Light-driven photocatalytic hydrogen evolution on spindle-like mos x nanostructures grown on poly-salicylic acid synthesized through bipolar electrochemistry
Park et al. Laser-synthesized Ru-anchored few-layer black phosphorus for superior hydrogen evolution: role of acoustic levitation

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BW BY BZ CA CH CN CO CR CU CZ DE DK DM DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS JP KE KG KM KN KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV LY MA MD MG MK MN MW MX MZ NA NG NI NO NZ OM PG PH PL PT RO RU SC SD SE SG SK SL SM SY TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN YU ZA ZM ZW

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): BW GH GM KE LS MW MZ NA SD SL SZ TZ UG ZM ZW AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IS IT LT LU LV MC NL PL PT RO SE SI SK TR BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW ML MR NE SN TD TG

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 05799957

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: JP

WWW Wipo information: withdrawn in national office

Country of ref document: JP