WO2004083772A3 - Procede de mesure d'objets tridimensionnels par ombroscopie optique a une seule vue - Google Patents

Procede de mesure d'objets tridimensionnels par ombroscopie optique a une seule vue Download PDF

Info

Publication number
WO2004083772A3
WO2004083772A3 PCT/FR2004/050099 FR2004050099W WO2004083772A3 WO 2004083772 A3 WO2004083772 A3 WO 2004083772A3 FR 2004050099 W FR2004050099 W FR 2004050099W WO 2004083772 A3 WO2004083772 A3 WO 2004083772A3
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
observation
measurement
dimensional objects
image
backlit shadowgraphy
Prior art date
Application number
PCT/FR2004/050099
Other languages
English (en)
Other versions
WO2004083772A2 (fr
Inventor
Francis Lamy
Ghislain Pascal
Yvon Voisin
Alain Diou
Original Assignee
Commissariat Energie Atomique
Francis Lamy
Ghislain Pascal
Yvon Voisin
Alain Diou
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Commissariat Energie Atomique, Francis Lamy, Ghislain Pascal, Yvon Voisin, Alain Diou filed Critical Commissariat Energie Atomique
Priority to US10/547,783 priority Critical patent/US7307740B2/en
Priority to AU2004221630A priority patent/AU2004221630B2/en
Priority to EP04718994A priority patent/EP1601932A2/fr
Priority to CA2518702A priority patent/CA2518702C/fr
Priority to JP2006505848A priority patent/JP2006519990A/ja
Publication of WO2004083772A2 publication Critical patent/WO2004083772A2/fr
Publication of WO2004083772A3 publication Critical patent/WO2004083772A3/fr

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/08—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Procédé de mesure d'objets tridimensionnels par ombroscopie optique à une seule vue. Selon l'invention, pour mesurer au moins un paramètre géométrique d'un tel objet (32) , par exemple l'épaisseur d'une sphère creuse, translucide ou transparente vis vis d'une lumière visible, on détermine des caractéristiques optiques de l'objet, à l'aide desquelles on établit au moins un modèle optique de la propagation de la lumière à travers l'objet, ce modèle comportant une équation qui relie le paramètre au résultat d'une observation effectuée directement sur une image de l'objet, cette image étant acquise en observant cet objet par ombroscopie à une seule vue, on acquiert cette image, on effectue l'observation, et l'on détermine le paramètre à l'aide de l'équation et du résultat de l'observation.
PCT/FR2004/050099 2003-03-12 2004-03-10 Procede de mesure d'objets tridimensionnels par ombroscopie optique a une seule vue WO2004083772A2 (fr)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/547,783 US7307740B2 (en) 2003-03-12 2004-03-10 Method for measurement of three-dimensional objects by single-view backlit shadowgraphy
AU2004221630A AU2004221630B2 (en) 2003-03-12 2004-03-10 Method for measurement of three-dimensional objects by single-view backlit shadowgraphy
EP04718994A EP1601932A2 (fr) 2003-03-12 2004-03-10 Procede de mesure d objets tridimensionnels par ombroscopie optique a une seule vue
CA2518702A CA2518702C (fr) 2003-03-12 2004-03-10 Procede de mesure d'objets tridimensionnels par ombroscopie optique a une seule vue
JP2006505848A JP2006519990A (ja) 2003-03-12 2004-03-10 一視角方向逆光シャドウグラフィによる三次元の物体を測定する方法

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0350045A FR2852389B1 (fr) 2003-03-12 2003-03-12 Procede de mesure d'objets tridimensionnels par ombroscopie optique a une seule vue
FR0350045 2003-03-12

Publications (2)

Publication Number Publication Date
WO2004083772A2 WO2004083772A2 (fr) 2004-09-30
WO2004083772A3 true WO2004083772A3 (fr) 2004-11-11

Family

ID=32893399

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/FR2004/050099 WO2004083772A2 (fr) 2003-03-12 2004-03-10 Procede de mesure d'objets tridimensionnels par ombroscopie optique a une seule vue

Country Status (8)

Country Link
US (1) US7307740B2 (fr)
EP (1) EP1601932A2 (fr)
JP (1) JP2006519990A (fr)
CN (1) CN100376865C (fr)
AU (1) AU2004221630B2 (fr)
CA (1) CA2518702C (fr)
FR (1) FR2852389B1 (fr)
WO (1) WO2004083772A2 (fr)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2875295B1 (fr) * 2004-09-10 2006-11-17 Commissariat Energie Atomique Procede de mesure d'objets tridimensionnels par ombroscopie optique a une seule vue, utilisant les lois optiques de la propagation de la lumiere
JP5094018B2 (ja) * 2005-12-28 2012-12-12 三菱レイヨン株式会社 中空糸膜の製造方法
FR2905170B1 (fr) * 2006-08-23 2009-02-27 Commissariat Energie Atomique Procede de mesure sans contact d'objets tridimensionnels a deux couches par ombroscopie optique a une seule vue
FR2934901B1 (fr) 2008-08-05 2012-07-13 Commissariat Energie Atomique Procede de mesure sans contact de l'indice de refraction d'un materiau par tomographie par coherence optique, application a la mesure de la masse volumique d'un materiau poreux.
US8939369B2 (en) 2011-01-24 2015-01-27 Datalogic ADC, Inc. Exception detection and handling in automated optical code reading systems
FR2988846B1 (fr) * 2012-03-27 2014-04-11 Msc & Sgcc Procede et installation de mesure de la repartition de verre dans des recipients
JP7056131B2 (ja) * 2017-12-15 2022-04-19 オムロン株式会社 画像処理システム、画像処理プログラム、および画像処理方法
CN108333145B (zh) * 2018-01-02 2020-07-17 浙江大学 一种icf靶丸的检测新装置及定位方法
CN113446941B (zh) * 2021-07-28 2022-08-16 蚌埠威而特旋压科技有限公司 一种电机皮带轮智能生产线
CN113592808B (zh) * 2021-07-28 2024-04-02 福建威而特旋压科技有限公司 一种皮带轮视觉检测方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3994599A (en) * 1974-01-23 1976-11-30 Owens-Illinois, Inc. Method and apparatus for measuring wall thickness and concentricity of tubular glass articles
FR2335824A1 (fr) * 1975-12-17 1977-07-15 Western Electric Co Procede et appareil de determination d'un parametre d'une fibre optique
US4168907A (en) * 1977-12-30 1979-09-25 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Method for inspecting transparent rods
WO2001065204A1 (fr) * 2000-03-01 2001-09-07 Plastic Technologies, Inc. Procede et appareil de mesure de l'epaisseur de la paroi d'un recipient plastique

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4227806A (en) * 1978-10-16 1980-10-14 Western Electric Company, Inc. Methods for non-destructively determining parameters of an optical fiber preform
JPS56162002A (en) * 1980-05-19 1981-12-12 Nec Corp Method and device for measuring dimension of glass tube
JPS5772003A (en) * 1980-10-22 1982-05-06 Nec Corp Method of measuring inner diameter of transparent tube
JPS57194013U (fr) * 1981-06-04 1982-12-09
US4610542A (en) * 1984-11-16 1986-09-09 Owens-Illinois, Inc. System for detecting selective refractive defects in transparent articles
EP0294889A1 (fr) * 1987-06-10 1988-12-14 Koninklijke Philips Electronics N.V. Dispositif pour effectuer des mesures sur un objet transparent, procédé de fabrication d'une fibre et fibre fabriquée par la mise en oeuvre d'un tel procédé
US4859861A (en) * 1988-05-16 1989-08-22 Becton, Dickinson And Company Measuring curvature of transparent or translucent material
FR2651312B1 (fr) * 1989-08-25 1992-01-17 France Etat Procede et dispositif de caracterisation geometrique de tubes transparents.
US5365340A (en) * 1992-12-10 1994-11-15 Hughes Aircraft Company Apparatus and method for measuring the thickness of thin films
US6124141A (en) * 1998-01-07 2000-09-26 International Business Machines Corporation Non-destructive method and device for measuring the depth of a buried interface
US6859285B1 (en) * 1999-08-31 2005-02-22 Og Technologies, Inc. Optical observation device and method for observing articles at elevated temperatures
US6704661B1 (en) * 2001-07-16 2004-03-09 Therma-Wave, Inc. Real time analysis of periodic structures on semiconductors

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3994599A (en) * 1974-01-23 1976-11-30 Owens-Illinois, Inc. Method and apparatus for measuring wall thickness and concentricity of tubular glass articles
FR2335824A1 (fr) * 1975-12-17 1977-07-15 Western Electric Co Procede et appareil de determination d'un parametre d'une fibre optique
US4168907A (en) * 1977-12-30 1979-09-25 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Method for inspecting transparent rods
WO2001065204A1 (fr) * 2000-03-01 2001-09-07 Plastic Technologies, Inc. Procede et appareil de mesure de l'epaisseur de la paroi d'un recipient plastique

Also Published As

Publication number Publication date
CN1759298A (zh) 2006-04-12
CN100376865C (zh) 2008-03-26
FR2852389A1 (fr) 2004-09-17
CA2518702A1 (fr) 2004-09-30
WO2004083772A2 (fr) 2004-09-30
EP1601932A2 (fr) 2005-12-07
US20060215180A1 (en) 2006-09-28
FR2852389B1 (fr) 2005-05-13
AU2004221630B2 (en) 2009-11-26
AU2004221630A1 (en) 2004-09-30
CA2518702C (fr) 2013-06-04
JP2006519990A (ja) 2006-08-31
US7307740B2 (en) 2007-12-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE381856T1 (de) Anordnung zur räumlichen darstellung
WO2004083772A3 (fr) Procede de mesure d'objets tridimensionnels par ombroscopie optique a une seule vue
EP1939812A3 (fr) Système terminal de simulation d'essai et fonctionnement et application de procédé correspondant
EP1081767A3 (fr) Dispositif d'affichage électroluminescent et méthode de fabrication
EP1174682A3 (fr) Système de détermination de position
EP1748092A4 (fr) Feuille de cuivre et procédé de fabrication de celle-ci
DE60323630D1 (de) Verfahren und einrichtung zum bewerten einer brillenlinse oder form zum formen einer brillenlinse und verfahren und system zur herstellung einer brillenlinse
WO2007149692A3 (fr) Dispositif optiquement variable présentant une micro-optique à base de diffraction, procédé de création de ce dispositif et article l'employant
WO2008100409A3 (fr) Procédé et appareil pour déterminer des données de réflexion d'un sujet
DE602006021201D1 (de) Vermessungsinstrument und verfahren zur bereitstellung von vermessungsdaten unter verwendung eines vermessungsinstruments
EP1236985A3 (fr) Appareil et méthode pour mesurer la distribution de la dispersion chromatique
WO2009031420A1 (fr) Procédé et dispositif de détection d'un corps étranger microscopique au sein d'une plaque transparente
WO2005048829A3 (fr) Instrument diagnostique ophtalmique
ATE525637T1 (de) Verfahren zur messung der trübung eines films
WO2004081492A3 (fr) Determination de la geometrie et des dimensions d'un objet tridimensionnel
CN105527248B (zh) 用于确定局部折射值的方法及其装置
DE502006009451D1 (de) Vorrichtung zur messung von erhöhungen und/oder vertiefungen einer oberfläche
ATE395006T1 (de) Verfahren zur lagerichtigen herstellung einer kavität, insbesondere einer knochenkavität und instrument hierfür
MX2007012348A (es) Proceso y dispositivo para suprimir los reflejos parasitos durante la inspeccion en calor de objetos huecos translucidos o transparentes.
HK1037889A1 (en) Indicating the performance of a spectacle lens by displaying an index in a visually understandable mode.
Dupré Kepler’s optics without hypotheses
EP1965189A3 (fr) Lentillomètre
CN100340840C (zh) 光学形状测量或评定的方法及装置
TW200506322A (en) Measurement instrument
WO2004103169A3 (fr) Procede et dispositif permettant de mesurer la section oculaire anterieure

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A2

Designated state(s): AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BW BY BZ CA CH CN CO CR CU CZ DE DK DM DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS JP KE KG KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV MA MD MG MK MN MW MX MZ NA NI NO NZ OM PG PH PL PT RO RU SC SD SE SG SK SL SY TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN YU ZA ZM ZW

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A2

Designated state(s): BW GH GM KE LS MW MZ SD SL SZ TZ UG ZM ZW AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LU MC NL PL PT RO SE SI SK TR BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW ML MR NE SN TD TG

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2004718994

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 3837/DELNP/2005

Country of ref document: IN

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2006215180

Country of ref document: US

Ref document number: 10547783

Country of ref document: US

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2518702

Country of ref document: CA

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 20048065848

Country of ref document: CN

Ref document number: 2006505848

Country of ref document: JP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2004221630

Country of ref document: AU

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2004221630

Country of ref document: AU

Date of ref document: 20040310

Kind code of ref document: A

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 2004221630

Country of ref document: AU

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 2004718994

Country of ref document: EP

DPEN Request for preliminary examination filed prior to expiration of 19th month from priority date (pct application filed from 20040101)
WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 10547783

Country of ref document: US