WO2003079102A1 - Procede de fabrication de modulateur optique - Google Patents

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WO2003079102A1
WO2003079102A1 PCT/JP2003/003372 JP0303372W WO03079102A1 WO 2003079102 A1 WO2003079102 A1 WO 2003079102A1 JP 0303372 W JP0303372 W JP 0303372W WO 03079102 A1 WO03079102 A1 WO 03079102A1
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WO
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substrate
manufacturing
optical
optical modulator
optical waveguide
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Application number
PCT/JP2003/003372
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English (en)
French (fr)
Inventor
Jungo Kondo
Yukio Mizuno
Minoru Imaeda
Atsuo Kondo
Original Assignee
Ngk Insulators, Ltd.
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Publication date
Application filed by Ngk Insulators, Ltd. filed Critical Ngk Insulators, Ltd.
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/21Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  by interference
    • G02F1/225Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  by interference in an optical waveguide structure

Definitions

  • the present invention relates to a method for manufacturing an optical modulator that can be suitably used for a high-speed, large-capacity optical fiber communication system or the like.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of a conventional optical modulator.
  • the optical modulator 10 shown in FIG. 1 includes a coplanar type (CPW) type modulation electrode for modulating light guided in an optical waveguide. That is, the optical modulator 10 is composed of a substrate 1 made of an X-cut plate of lithium niobate, and a Mach-Zehnder optical waveguide formed directly below the main surface IA of the substrate 1 by a titanium diffusion method or the like. 2, a buffer layer 3 made of silicon oxide or the like formed on the main surface IA, and a center electrode 4 and ground electrodes 5-1 and 5-2 formed on the buffer layer 3.
  • CPW coplanar type
  • FIG. 2 is a cross-sectional view showing another example of the conventional optical modulator.
  • the optical modulator 20 shown in FIG. 2 includes a CPW modulation electrode for modulating light guided in the optical waveguide. That is, this optical modulator 20 is composed of a substrate 11 made of a Z-cut plate of lithium niobate and a Mach-Zehnder type formed directly below the main surface 11 A of the substrate 11 by a titanium diffusion method or the like.
  • the buffer layers 3 and 13 are formed by the light guided in the optical waveguides 2 and 12 and the microwave applied to the modulation electrode. It is provided for the purpose of improving speed matching.
  • the buffer layers 3 and 13 included on the substrates 1 and 11 cause a DC drift.
  • the light guided through the optical waveguides 2 and 12 is applied to the light because the modulation signal is applied from the modulation electrode via the buffer layers 3 and 13.
  • the substantial modulation signal voltage has been reduced. For this reason, it is necessary to apply a relatively high voltage to the modulation electrode in order to effectively drive the optical modulators 10 and 20, which is contrary to the demand for reducing the driving voltage. .
  • the optical waveguide 12 is arranged asymmetrically with respect to the center electrode 14, the size of the chip becomes large and causes noise, and the driving circuit becomes complicated. As a result, the cost of the entire modulator increases.
  • the present invention provides a method of manufacturing an optical modulator having a novel configuration that can achieve speed matching without having a buffer layer and does not cause the above-described problems. Disclosure of the invention
  • the method of manufacturing an optical modulator according to the present invention includes a step of forming an optical waveguide directly below a main surface of a substrate made of a material having an electro-optical effect; and a step of guiding the inside of the optical waveguide on the main surface of the substrate. Forming a modulation electrode for modulating the waved light; bonding the main surface of the substrate to the base substrate via the modulation electrode; and fixing the base substrate.
  • the modulation electrode and the thin portion are A step of peeling the base substrate from the substrate after bonding so as to be located in the groove portion (first manufacturing method).
  • the method for manufacturing an optical modulator according to the present invention may further include a step of forming an optical waveguide directly below a main surface of a substrate made of a material having an electro-optical effect; and forming the optical waveguide on the main surface of the substrate.
  • the thin part A step of peeling the base substrate from the substrate after bonding so as to be located in the groove portion (second manufacturing method).
  • the present inventors have succeeded in developing an optical modulator having a novel configuration that can achieve speed matching without having a buffer layer and can further reduce the coupling loss when the optical fibers are coupled. .
  • FIG. 3 is a plan view showing an example of a novel optical modulator according to the manufacturing method of the present invention.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view of the optical modulator shown in FIG. 3 taken along line AA. It is.
  • the optical modulator 30 shown in FIGS. 3 and 4 has a substrate 21 made of a material having an electro-optic effect, for example, lithium niobate, and a substrate 21 directly below a main surface 21 A of the substrate 21.
  • the center electrode 24 and the ground electrodes 25-1, 25-2 constitute a CPW modulation electrode for modulating light guided in the optical waveguide 22.
  • a predetermined process is performed on the back surface of the substrate 21 to form a thin portion 26 in a region adjacent to the optical waveguide 22.
  • a support substrate 27 is attached to the back surface 21 B of the substrate 21 with a thermosetting resin 29 such as an epoxy film.
  • a groove 28 is formed in the supporting substrate 27, and the substrate 21 and the supporting substrate 27 are attached such that the main surface 27A of the supporting substrate 27 is attached to the back surface 21B of the substrate 21.
  • the optical waveguide 2 in the groove 28 2 and the thin portion 26 are positioned.
  • the depth d of the groove 28 is 1 m or more, preferably 10! ⁇ 200 m.
  • the optical modulator 30 shown in FIGS. 3 and 4 has no buffer layer, and the thickness t 2 of the thin portion 26 is preferably larger as the difference from the thickness t 1 of the substrate 21 is larger. Is preferably 1 zm or more. From the viewpoint of significantly reducing the effective refractive index nm of the microwave, the thickness t2 is preferably equal to or less than 12.5 m, and more preferably equal to or less than 10 m.
  • the modulation signal from the modulation electrode seeps into the low dielectric portion (air) existing below the thin portion 26.
  • the speed matching condition can be satisfied without forming a buffer layer. Further, since the modulation signal is efficiently applied to the optical waveguide 22, the driving voltage of the optical modulator 30 can be reduced.
  • the portion of the substrate 21 where the optical waveguide 22 is located has a certain thickness, it is possible to suppress the cross-sectional shape of the optical waveguide 22 from being flattened. Therefore, when light is input, it is possible to suppress a reduction in coupling loss with a portion where a thin portion is not formed.
  • the thin portion 26 be formed corresponding to the region P shown in FIG.
  • This region P is a region where light guided in the optical waveguide 22 and the modulation signal from the modulation electrode substantially interact with each other.
  • the optical waveguide 22 and the center electrode 24 and the ground electrode 2 5-1 and 25-2 are regions indicated by broken lines that are substantially parallel.
  • the thin portion 26 may include the region P and may be formed over the entire length of the substrate 21 along the optical waveguide 22.
  • the thickness t1 of the substrate 21 needs to be about 5 m to 50 m. It was necessary to make it thinner. Further, the thickness t2 of the thin portion 26 is also extremely thin, not more than about 12.2, and it is necessary to further process the thinned substrate 21 to reduce the thickness to the above-mentioned thickness.
  • processing technologies for thinning and thinning are not well established, and the production yield of such optical modulators is extremely low. there were.
  • the present inventors have established the above-mentioned processing technology and have conducted intensive studies to find a method for stably obtaining an optical modulator as shown in FIGS.
  • the first manufacturing method or the second manufacturing method described above that is, after the substrate material is attached to the base substrate, the base substrate is fixed, and the substrate is thinned by predetermined machining. It has been found that the manufacturing yield of the optical modulator can be improved by performing the thinning by mechanical processing or laser processing.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of a conventional optical modulator.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view showing another example of the conventional optical modulator.
  • FIG. 3 is a plan view showing an example of the optical modulator obtained by the manufacturing method of the present invention.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view of the optical modulator shown in FIG. 3 taken along line AA.
  • FIG. 5 is a process chart showing a state in which an optical waveguide is formed on a substrate in the manufacturing method according to the first embodiment.
  • FIG. 6 is a process diagram showing a state in which a CPW modulation electrode is formed on a substrate in the manufacturing method according to the first embodiment.
  • FIG. 7 is a process diagram showing a state where a thin portion is formed on a substrate in the manufacturing method according to the first embodiment.
  • FIG. 8 is a process diagram showing a state in which the substrate and the base substrate are bonded to each other and then polished from the back surface of the substrate to reduce the thickness of the substrate in the manufacturing method according to the first embodiment. It is.
  • FIG. 9 is a sectional view showing a modification of the optical modulator.
  • FIGS. 5 to 8 are cross-sectional views illustrating the manufacturing steps of the manufacturing method according to the present embodiment.
  • a plurality of optical modulators are simultaneously manufactured on a wafer (substrate) having a predetermined size.
  • a plurality of optical modulators are manufactured on a wafer. The following description focuses on two modulators.
  • a Mach-Zehnder type optical waveguide 22 is produced by a method or the like.
  • a predetermined mask pattern is formed on the main surface 21 A of the substrate 21, and the center electrode 24 and the ground electrode are formed by using the plating method or the vapor deposition method in combination with the plating method.
  • a CPW modulation electrode composed of 25-1 and 25-2 is fabricated.
  • the thickness T of the center electrode 24 and the ground electrodes 25-1, 25-2 is preferably set to 15 m to 50 m, and the width of the center electrode 24 is preferably 5 zm. 550 / m This makes it possible to reduce the electrode loss of the modulated signal, and the gap G between the center electrode 25 and the ground electrodes 25-1 and 25-2 is It is preferably 25 m to 55 m. Thereby, it is possible to effectively modulate the light guided in the optical waveguide 22 while suppressing an increase in the driving voltage.
  • the main surface 21 A of the substrate 21 and the base substrate 31 are bonded together via a thermoplastic resin 39, and the base substrate 31 is fixed to a surface plate of a predetermined polishing processing machine. Then, the back surface 21 B of the substrate 21 is polished to reduce the thickness of the substrate 21 to a thickness t 1. As described above, the thickness t1 of the substrate 21 is set to 5 m to 50 m.
  • the base substrate 31 is fixed to a platen of a grinding machine or the like with a thermoplastic resin or the like, on the back surface 21 B of the thinned substrate 21, as shown in FIG.
  • a grinding process is performed on the thin film to form a thin portion 26 having a thickness t 2 in a region adjacent to the portion including the optical waveguide 22.
  • the thickness t2 of the thin portion 26 is 12.5 m or less.
  • the polishing table and the grinding machine are fixed.
  • the board can be the same as the board.
  • the main surface 27 A of the support substrate 27 (see FIG. 4) is bonded to the back surface 21 B of the substrate 21 with a thermosetting resin such as an epoxy film. At this time, the bonding is performed so that the optical waveguide 22 and the thin portion 26 are included in the groove 28 of the support substrate 27. Thereafter, the base substrate 31 is peeled off to obtain an optical modulator 30 as shown in FIGS.
  • the thin portion 26 can be formed in a wedge shape by using a wedge-shaped blade in machining.
  • the thickness of the wedge-shaped tip portion that is, the thickness of the thinnest portion is set to t2 described above.
  • the generation of cracks on the substrate 21 can be effectively suppressed, and the mechanical strength of the substrate 21 and the mechanical strength of the optical modulator 30 can be reduced.
  • Target strength can be increased.
  • Machining can be performed by horizontal polishing, high-speed lapping and polishing (CMP), etc.
  • the second machining in the manufacturing method according to the first embodiment includes, as described above, grinding using a micro grinder or the like.
  • the outer peripheral blade (blade) of the micro grinder is deformed, and the ground surface becomes uneven, so that the thickness of the substrate varies. Therefore, it is preferable to perform a smoothing process on the processing surface as needed during the above-described grinding process to shape the outer peripheral edge.
  • a smoothing process on the processing surface as needed during the above-described grinding process to shape the outer peripheral edge.
  • a material having a surface roughness or flatness that satisfies a prescribed condition and harder than the outer peripheral edge is used. It is preferred that
  • the assembly of the optical modulator 30 is manufactured basically according to the steps shown in FIGS. 5 to 8, but differs in the following points.
  • the thin portion 26 shown in FIG. 8 is formed by laser processing instead of mechanical processing.
  • this laser processing for example, an excimer laser with a pulse width of 10 nsec or less is used.
  • the irradiation intensity is set to lm J to 2 m J using a single piece.
  • the thin portion 26 can be formed with high accuracy in a relatively short time.
  • an optical modulator as shown in FIGS. 3 and 4 was manufactured based on the manufacturing method according to the first embodiment.
  • a Mach-Zehnder type optical waveguide 22 was formed directly below the main surface 21 of the substrate 21 by a titanium diffusion method by using a 0.5 mm-thick lithium-niobate X-cut plate as the substrate 21. did.
  • a modulation electrode for a CPW was fabricated on the main surface 21A by using a plating method.
  • the modulation electrode has a center electrode width W of 30 m, a gap G between the center electrode 24 and the ground electrodes 25-1 and 25-2 of 40 m, an electrode thickness of 30 mm, and a length of 40 mm.
  • the thickness t2 was measured using a shape measuring instrument.
  • the distance L1 between the thin portions 26 was 90 m.
  • the rotation speed of the blade is 12000 rpm, and in the thickness direction and the surface direction (direction substantially parallel to the back surface of the substrate 21), one grinding from the substrate surface at a speed of 0.1 mmZmin in the substrate thickness direction. Machining was performed by repeating the operation of forming grooves at a speed of 2 OmmZmin in the horizontal direction (electrode length direction) from that position.
  • base After bonding with epoxy adhesive film 29, base The substrate 31 was peeled off.
  • the assembly obtained in this manner was cut into chips to obtain an optical modulator 30 shown in FIGS.
  • the optical fiber 30 was bonded and fixed to the optical modulator 30 obtained in this manner with a UV curing resin, and the S21 characteristics (transmission characteristics) after package mounting were evaluated.
  • the 16 dB band was 40 GHz or more
  • the microwave effective refractive index nm was 2.15.
  • the 13 dB characteristic was 40 GHz or more.
  • the coupling loss was 5 dB.
  • An optical modulator 30 was produced in the same manner as in Example 1, except that 26 was formed.
  • the thickness t2 of the thin portion 26 was set to 10 m as in the first embodiment. Also, the optical modulator
  • Example 3 The S 21 characteristic, light response characteristic, and coupling loss of 30 were the same as those in Example 1. (Example 3)
  • An optical modulator 30 having the same dimensions was manufactured in the same manner as in Example 1 based on the second manufacturing method, except that the thin portion 26 was formed by laser processing instead of mechanical processing.
  • the laser processing was performed using a KrF excimer laser having a frequency of 120 Hz, an irradiation intensity of 2 mJ, and a scanning speed of 300 mZ sec. Further, the S 21 characteristic, the optical response characteristic, and the coupling loss of the optical modulator 30 were the same as those in the first embodiment.
  • the substrate 21 can be thinned with high accuracy, and the thinned substrate 2 can be formed.
  • the thin portion 26 can be formed on the back side of 1 with high accuracy.
  • the substrate 21 is made of a lithium niobate X-cut plate, A plate, a Z-cut plate, an off-cut plate and the like can also be used.
  • a material having a known electrochemical effect such as lithium tantalate can be used.
  • elements such as Mg, Zn, Sc, and 1 n can be added to the substrate 21 to improve the light damage resistance.
  • polishing and the like can be sequentially included as necessary.
  • polishing and the like can be sequentially included as necessary.
  • a proton exchange method or the like can be used in addition to the titanium diffusion method.
  • a substrate can be thinned with high accuracy, and a thin portion can be stably formed with high accuracy on the back surface of a thinned substrate. .
  • speed matching can be achieved without having a buffer layer, and an optical modulator excellent in coupling loss and the like can be manufactured.

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Description

明 細 書 光変調器の製造方法 技術分野
本発明は、 高速で大容量の光ファイバ通信システムなどに好適に用いることが できる光変調器の製造方法に関する。 背景技術
近年、 高速で大容量の光ファイバ通信システムの進歩に伴い、 外部変調器 (外 部変調方式による光変調器) に代表されるように、 光導波路素子を用いた高速光 変調器が実用化され、 広く用いられるようになってきている。
図 1は、 従来の光変調器の一例を示す断面図である。 図 1に示す光変調器 1 0 は、 光導波路内を導波する光を変調するためのコプレナ一型 (C P W) の変調用 電極を具えている。 即ち、 この光変調器 1 0は、 ニオブ酸リチウムの Xカット板 からなる基板 1と、 この基板 1の主面 I Aの直下にチタン拡散法などによつて形 成されたマッハツェンダー型の光導波路 2と、 主面 I A上に形成された酸化珪素 などからなるバッファ層 3と、 このバッファ層 3上に形成された中心電極 4及び 接地電極 5— 1、 5— 2とを有する。
一方、 図 2は、 従来の光変調器の他の例を示す断面図である。 図 2に示す光変 調器 2 0は、 光導波路内を導波する光を変調するための C P W変調用電極を具え ている。 即ち、 この光変調器 2 0は、 ニオブ酸リチウムの Zカット板からなる基 板 1 1と、 この基板 1 1の主面 1 1 Aの直下に同じくチタン拡散法などによって 形成されたマッハツェンダー型の光導波路 1 2と、 主面 1 1 A上に形成された酸 化珪素などからなるバッファ層 1 3と、 このバッファ層 1 3上に形成された中心 電極 1 4及び接地電極 1 5— 1、 1 5— 2とを有する。
図 1及び図 2に示す光変調器 1 0及び 2 0において、 バッファ層 3及び 1 3は 光導波路 2及び 1 2内を導波する光と、 変調用電極に印加されるマイクロ波との 速度整合を向上させる目的などによって設けられる。
しかしながら、 図 1及び図 2に示す上述した従来の光変調器 1 0及び 2 0にお いて、 基板 1及び 1 1上に含まれるバッファ層 3及び 1 3は、 D Cドリフト発生 の原因となっていた。 さらに、 光導波路 2及び 1 2内を導波する光に対しては、 変調用電極からバッファ層 3及び 1 3を介して変調信号が印加されるために、 前 記光に対して印加される実質的な変調信号電圧が減少してしまっていた。 このた め、 光変調器 1 0及び 2 0を実効的に駆動させるために、 変調用電極に対しては 比較的高い電圧を印加する必要が生じ、 駆動電圧の低減化という要請に反してい た。
また、 図 2に示す光変調器 2 0においては、 中心電極 1 4に対して光導波路 1 2が非対称に配置されるために、 チヤープが大きくなつてノイズの原因になると ともに、 駆動回路が複雑になって変調器全体のコストが増大してしまうという問 題があった。
本発明は、 バッファ層を有することなく速度整合を図ることができ、 上述した 諸問題を生じることのない新規な構成の光変調器の製造方法を提供する。 発明の開示
本発明に係る光変調器の製造方法は、 電気光学効果を有する材料からなる基板 の主面直下に光導波路を形成する工程と、 前記基板の前記主面上に、 前記光導波 路内を導波する光を変調するための変調用電極を形成する工程と、 前記基板の主 面とベース基板とを、 前記変調用電極を介して貼り合せる工程と、 前記ベース基 板を固定した状態において、 前記基板の裏面に対して第 1の機械加工を施すこと により、 前記基板の全体を薄板化する工程と、 薄板化された前記基板の前記裏面 に対して第 2の機械加工を施して、 前記基板のうち、 前記光導波路と隣接する領 域に薄肉部分を形成する工程と、 所定の溝部を有する支持基板を用意し、 前記基 板の前記裏面と前記支持基板とを、 前記光導波路、 前記変調用電極及び前記薄肉 部分が前記溝部内に位置するように貼り合わせた後、 前記基板から前記ベース基 板を剥離する工程とを含むことを特徴とする (第 1の製造方法) 。 また、 本発明に係る光変調器の製造方法は、 電気光学効果を有する材料からな る基板の主面直下に光導波路を形成する工程と、 前記基板の前記主面上に、 前記 光導波路内を導波する光を変調するための変調用電極を形成する工程と、 前記基 板の主面とベース基板とを、 前記変調用電極を介して貼り合せる工程と、 前記べ —ス基板を固定した状態において、 前記基板の裏面に対して機械加工を施すこと により、 前記基板の全体を薄板化する工程と、 薄板化された前記基板の前記裏面 に対してレーザ加工処理を施し、 前記基板のうち、 前記光導波路と隣接する領域 に薄肉部分を形成する工程と、 所定の溝部を有する支持基板を用意し、 前記基板 の前記裏面と前記支持基板とを、 前記光導波路、 前記変調用電極及び前記薄肉部 分が前記溝部内に位置するように貼り合わせた後、 前記基板から前記べ一ス基板 を剥離する工程とを含むことを特徴とする (第 2の製造方法) 。
本発明者らは、 バッファ層を有することなく速度整合を図ることができ、 さら に光ファイバ一を結合した際の結合損失を低減することのできる新規な構成の光 変調器の開発に成功した。
図 3は、 本発明の製造方法に係わる新規な光変調器の一例を示す平面図であり、 図 4は、 図 3に示す光変調器を A— A線に沿って切った場合の断面図である。 図 3及び図 4に示す光変調器 3 0は、 電気光学効果を有する材料、 例えばニオブ酸 リチウムなどから構成される基板 2 1と、 この基板 2 1の主面 2 1 Aの直下に形 成されたマッハツェンダー型の光導波路 2 2と、 基板 2 1上に形成された中心電 極 2 4及び接地電極 2 5— 1、 2 5— 2とを有する。 中心電極 2 4及び接地電極 2 5 - 1 , 2 5— 2は、 光導波路 2 2中を導波する光を変調するための C P W変 調用電極を構成する。
さらに、 図 4に示すように、 基板 2 1の裏面には所定の加工が施されることに よって、 光導波路 2 2に隣接する領域に薄肉部分 2 6が形成されている。 なお、 基板 2 1の裏面 2 1 Bには、 エポキシ系フィルムなどの熱硬化性樹脂 2 9によつ て支持基板 2 7が貼り付けられでいる。 支持基板 2 7には溝部 2 8が形成され、 基板 2 1と支持基板 2 7との貼り付けは、 基板 2 1の裏面 2 1 Bに支持基板 2 7 の主面 2 7 Aを貼り合わせるようにして行われ、 特に、 溝部 2 8内に光導波路 2 2及び薄肉部分 2 6が位置するようにして行われる。 なお、 溝部 2 8の深さ dは 1 m以上であり、 好ましくは 1 0 !〜 2 0 0 mである。
図 3及び図 4に示す光変調器 3 0は、 バッファ層を有しないことと、 薄肉部分 2 6の厚さ t 2は基板 2 1の厚さ t 1との差が大きいほど好ましく、 具体的には 1 z m以上であることが好ましい。 マイクロ波の実効屈折率 n mを顕著に低減す るという観点からは、 前記厚さ t 2は 1 2 . 5 m以下であることが好ましく、 さらには 1 0 m以下であることが好ましい。
薄肉部分 2 6の下方には溝部 2 8が位置されて空洞となっていることから、 変 調用電極からの変調信号が薄肉部分 2 6の下方に存在する低誘電率部 (空気) に しみ出し、 バッファ層を形成することなく速度整合条件を満足させることができ る。 さらに、 変調信号が光導波路 2 2に効率良く印加されることから、 光変調器 3 0の駆動電圧を低減することができる。
また、 基板 2 1のうち、 光導波路 2 2が位置する部分は、 ある程度の厚さを有 することから、 光導波路 2 2の断面形状が偏平化されるのを抑制することができ る。 したがって、 光を入力した場合において、 薄肉部分が形成されていない部分 との結合損失の低減を抑制することができる。
なお、 薄肉部分 2 6は、 図 3に示す領域 Pに対応させて形成することが好まし い。 この領域 Pは、 光導波路 2 2内を導波する光と変調用電極から変調信号とが 実質的に相互作用する領域であって、 例えば、 光導波路 2 2と中心電極 2 4及び 接地電極 2 5— 1、 2 5— 2とが略平行である破線で示す領域である。 もちろん、 薄肉部分 2 6は、 領域 Pを含み、 かつ、 基板 2 1の光導波路 2 2に沿った長手方 向の全体に亘つて形成しても良い。
図 3及び図 4に示す光変調器 3 0においては、 基板 2 1の厚さ t 1を約 5 m 〜5 0 mとする必要があり、 このため、 通常の材料を加工して前記厚さまで薄 板化する必要があった。 また、 薄肉部分 2 6の厚さ t 2も約 1 2 . 以下と 極めて薄く、 薄板化された基板 2 1に対してさらに加工を施し、 前記厚さまで薄 肉化する必要があった。 しかしながら、 薄板化及び薄肉化に対する加工技術は十 分に確立されておらず、 このような光変調器の製造歩留まりは極めて低い状態に あった。
そこで、 本発明者らは、 上記加工技術を確立し、 図 3及び図 4に示すような光 変調器を安定に得る方法を見出すべく鋭意検討を行なった。 その結果、 上述した 第 1の製造方法又は第 2の製造方法、 即ち、 基板材料をベース基板に貼り付けた 後、 このベース基板を固定して基板の薄板化を所定の機械加工で行ない、 さらに 薄肉化を機械加工又はレーザ加工処理で行うことにより、 光変調器の製造歩留ま りを向上できることを見出したものである。 図面の簡単な説明
図 1は、 従来の光変調器の一例を示す断面図である。
図 2は、 従来の光変調器の他の例を示す断面図である。
図 3は、 本発明の製造方法により得た光変調器の一例を示す平面図である。 図 4は、 図 3に示す光変調器の A— A線に沿って切った場合を示す断面図であ る。
図 5は、 第 1の実施の形態に係る製造方法において、 基板に光導波路を形成し た状態を示す工程図である。
図 6は、 第 1の実施の形態に係る製造方法において、 基板上に C P W変調用電 極を形成した状態を示す工程図である。
図 7は、 第 1の実施の形態に係る製造方法において、 基板をに薄肉部分を形成 した状態を示す工程図である。
図 8は、 第 1の実施の形態に係る製造方法において、 基板とベ一ス基板とを貼 り合わせた後、 基板の裏面から研磨処理を施して、 基板を薄板化した状態を示す 工程図である。
図 9は、 光変調器の変形例を示す断面図である。 発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明に光変調器の製造方法の実施の形態例を図 5〜図 8を参照しなが ら説明する。 図 5〜図 8は、 本実施の形態に係る製造方法の製造工程を示す断面図である。 なお、 実際の製造工程においては、 所定の大きさを有するゥェーハ (基板) 上に おいて複数の光変調器を同時に作製するが、 以下の説明においては、 ゥェ一ハ上 に作製される 1つの変調器に着目して説明する。
最初に、 第 1の実施の形態に係る製造方法について説明する。 図 5に示すよう に、 ニオブ酸リチウムなどの電気光学効果を有する材料からなる基板 2 1の主面 2 1 A上に所定のマスクパターンを形成した後、 主面 2 1 Aの直下にチタン拡散 法などでマッハツェンダー型の光導波路 2 2を作製する。
次いで、 図 6に示すように、 基板 2 1の主面 2 1 A上に所定のマスクパターン を形成し、 メツキ法又は蒸着法とメツキ法とを併用することによって、 中心電極 2 4及び接地電極 2 5 - 1 , 2 5— 2から構成される C P W変調用電極を作製す る。
なお、 中心電極 2 4及び接地電極 2 5— 1、 2 5— 2の厚さ Tは、 好ましくは 1 5 m〜 5 0 mに設定し、 中心電極 2 4の幅" は、 好ましくは 5 z m〜5 0 / mに設定する。 これによつて、 変調信号の電極損失を低減することができる。 また、 中心電極 2 5と接地電極 2 5— 1及び 2 5— 2とのギャップ Gは、 2 5 m〜5 5 mであることが好ましい。 これによつて、 駆動電圧の増大を抑制しな がら、 光導波路 2 2内を導波する光に対する変調を効果的に行なうことができる。 次いで、 図 7に示すように、 基板 2 1の主面 2 1 Aとベース基板 3 1とを熱可 塑性樹脂 3 9を介して貼り合わせ、 ベース基板 3 1を所定の研磨処理機の定盤な どに熱可塑性樹脂などで固定する。 次いで、 基板 2 1の裏面 2 1 Bに対して研磨 処理を施し 基板 2 1を厚さ t 1まで薄板化する。 なお、 上述したように、 基板 2 1の厚さ t 1は 5 m〜 5 0 mに設定する。
次いで、 図 8に示すように、 ベ一ス基板 3 1を、 例えば研削加工機の定盤など に熱可塑性樹脂などで固定した状態において、 前記薄板化された基板 2 1の裏面 2 1 Bに対して研削処理を施し、 光導波路 2 2を含む部分に隣接する領域に厚み t 2の薄肉部分 2 6を形成する。 なお、 上述したように、 薄肉部分 2 6の厚さ t 2は 1 2 . 5 m以下である。 また、 前記研磨処理の定盤と前記研削加工機の定 盤とは同一のものとすることができる。
次いで、 基板 2 1の裏面 2 1 Bに支持基板 2 7 (図 4参照) の主面 2 7 Aを、 エポキシ系フィルムなどの熱硬化性樹脂によって貼り合わせる。 このとき、 支持 基板 2 7の溝部 2 8に光導波路 2 2及び薄肉部分 2 6が含まれるようにして貼り 合わせる。 その後、 ベース基板 3 1を剥離し、 図 3及び図 4に示すような光変調 器 3 0を得る。
なお、 研削の際に使用するブレードの粗さ及び幅については適宜に選択して用 いる。 例えば、 図 9に示すように、 機械加工において楔型のブレードを用いるこ とによって、 薄肉部分 2 6を楔型に形成することもできる。 この場合は、 楔型に 加工された先端部分の厚さ、 すなわち最も薄い部分の厚さが上述した t 2となる ようにする。 この場合は、 薄肉部分 2 6を形成する際において、 基板 2 1へのク ラックの発生を効果的に抑制することができるとともに、 基板 2 1の機械的強度、 並びに光変調器 3 0の機械的強度を増大させることができる。
また、 機械加工は、 横型研磨、 高速ラップゃポリツシング (C M P ) などによ つて行うことができる。
第 1の実施の形態に係る製造方法における前記第 2の機械加工は、 上述したよ うに、 マイクログラインダ一などを用いた研削加工を含む。 このとき、 前記マイ クログラインダーの外周刃 (ブレード) が変形し、 研削加工面が凸凹になって基 板厚みにバラツキが生じてしまう。 したがって、 上述した研削処理中において加 工面に対して随時ツル一イング処理を行ない、 前記外周刃の形状を整形すること が好ましい。 この場合、 外周刃の整形には、 ツル一イング基板の面精度が外周刃 に反映されるために、 例えば表面粗さ、 あるいは平面度が規定の条件を満たし、 かつ、 外周刃よりも硬い材料であることが好ましい。
次に、 第 2の実施の形態に係る製造方法について説明する。 この第 2の実施の 形態においても、 基本的には図 5〜図 8に示す工程に従って光変調器 3 0のァセ ンブリを作製するが、 以下の点で異なる。
即ち、 図 8に示す薄肉部分 2 6を機械加工の代わりに、 レーザ加工処理で形成 する。 このレーザ加工処理は、 例えばパルス幅が 1 0 n s e c以下のエキシマレ 一ザなどを用い、 その照射強度を lm J〜2m Jに設定して行なう。 これによつ て、 比較的短時間で、 薄肉部分 26を高精度に形成することができる。
(実施例 1 )
本実施例においては、 図 3及び図 4に示すような光変調器を、 第 1の実施の形 態に係る製造方法に基づいて作製した。 基板 21として厚さ 0. 5mmのニオブ 酸リチウムの Xカット板を用い、 チタン拡散法によって、 図 5に示すように、 基 板 21の主面 21の直下にマッハツェンダー型の光導波路 22を作製した。 次い で、 図 6に示すように、 主面 21A上に、 メツキ法を用いて CPWの変調用電極 を作製した。 該変調用電極は、 中心電極幅 Wが 30 ^m、 中心電極 24と接地電 極 25— 1及び 25— 2とのギャップ Gが 40 m、 電極厚みが 30 ΠΙ、 長さ が 40mmである。
次いで、 図 7に示すようにして、 基板 21の主面 21Aに、 ニオブ酸リチウム からなるベース基板 31を熱可塑性樹脂によって貼り合わせた。 その後、 基板 2 1の裏面 21 Bに横型研磨、 高速ラップ、 及びポリッシング (CMP) を施して 研磨処理を行ない、 基板 21を厚さ t 1 = 1 5 まで薄板化した。 なお、 厚さ t 1は形状測定器を用いて計測した。
次いで、 基板 21の裏面 21 Bに対して、 # 6000番、 幅 100 mの樹脂 ポンドブレードを使用することによって研削処理を施し、 図 8に示すように、 薄 肉部分 28を厚さ t 2 = 10 に形成した。 なお、 厚さ t 2は形状測定器を用 いて計測した。 また、 薄肉部分 26間の距離 L 1は 90 mとした。
さらに、 ブレードの回転数は 12000 r pmとし、 厚さ方向及び面方向 (基 板 21の裏面に略平行な方向) においては、 基板厚み方向に 0. 1 mmZm i n の速度で基板表面から 1 研削加工し、 その位置から水平方向 (電極長方向) に 2 OmmZmi nの速度で溝加工を行なうという操作を繰り返すことによって 加工を実施した。
その後、 基板 21に、 深さ d = 0. 1mm及び幅 L 2 = 0. 3mmの溝部 28 を有する支持基板 27を、 溝部 28内に光導波路 22及び薄肉部分 26が位置す るようにして、 エポキシ系の接着フィルム 29によって貼り合わせた後、 ベース 基板 3 1を剥離した。
次いで、 このようにして得たアセンブリをチップ状に切り出すことによって、 図 3及び図 4に示す光変調器 3 0を得た。 このようにして得た光変調器 3 0に対 して光ファイバ一を U V硬化樹脂によって接着固定し、 パッケージ実装後の S 2 1特性 (伝送特性) を評価した。 その結果、 一 6 d B帯域が 4 0 GH z以上であ り、 マイクロ波実効屈折率 n mは 2 . 1 5であった。 また、 光応答特性を評価し た結果、 一 3 d B特性は 4 0 GH z以上であった。 さらに、 結合損失は 5 d Bで あった。
(実施例 2 )
機械加工を楔型のブレードを用いて行ない、 図 9に示すような楔型の薄肉部分
2 6を形成した以外は、 実施例 1と同様にして光変調器 3 0を作製した。 なお、 薄肉部分 2 6の厚さ t 2は、 実施例 1と同様に 1 0 mとした。 また、 光変調器
3 0の S 2 1特性、 光応答特性、 及び結合損失は実施例 1の場合と同じであった。 (実施例 3 )
薄肉部分 2 6を機械加工に代えてレ一ザ加工処理で形成した以外は、 第 2の製 造方法に基づいて実施例 1と同様にして同寸法の光変調器 3 0を作製した。 なお、 レーザ加工処理は、 周波数 1 2 0 H zの K r Fエキシマレーザを用い、 照射強度 2 m J、 スキャン速度 3 0 0 mZ s e cで実施した。 また、 光変調器 3 0の S 2 1特性、 光応答特性、 及び結合損失は実施例 1の場合と同じであった。
上述の実施例から明らかなように、 第 1及び第 2の実施の形態に係る製造方法 によれば、 基板 2 1の薄板化を高精度に行なうことができるとともに、 薄板化さ れた基板 2 1の裏面側において薄肉部分 2 6を高精度に形成することができる。 その結果、 速度整合及び結合損失に優れた光変調器を安定的に作製することがで きる。
以上、 具体例を挙げながら発明の実施の形態に基づいて本発明を詳細に説明し たが、 本発明は上記内容に限定されるものではなく、 本発明の範疇を逸脱しない 範囲において、 あらゆる変更や変形が可能である。
例えば、 基板 2 1は、 ニオブ酸リチウムの Xカット板から構成したが、 Yカツ 卜板、 Zカツ卜板、 及びオフカット板などを用いることもできる。 また、 ニオブ 酸リチウムに代えて、 タンタル酸リチウムなど公知の電気化学効果を有する材料 から構成することができる。 さらには、 基板 2 1には、 耐光損傷性を向上させる ベく、 M g、 Z n、 S c、 及び 1 nなどの元素を添加することができる。
また、 上述した研削加工及びレーザ加工処理に加えて、 研磨加工などを必要に 応じて逐次含ませることができる。 さらに、 光導波路 2 2はチタン拡散法の他に、 プロトン交換法などを用いることもできる。 産業上の利用可能性
以上説明したように、 本発明によれば、 基板の薄板化を高精度に行なうことが できるとともに、 薄板化された基板の裏面に対して薄肉部分を安定して高精度に 形成することができる。 これによつて、 バッファ層を有することなく速度整合を 図ることができ、 結合損失などにも優れた光変調器を作製することができる。

Claims

請求の範囲
1. 電気光学効果を有する材料からなる基板 (21) の主面 (21A) 直下に光 導波路 (22) を形成する工程と、
前記基板 (21) の前記主面 (21 A) 上に、 前記光導波路 (22) 内を導波 する光を変調するための変調用電極を形成する工程と、
前記基板 (21) の主面 (21 A) とべ一ス基板 (31) とを、 前記変調用電 極を介して貼り合せる工程と、
前記ベース基板 (3 1) を固定した状態において、 前記基板 (21) の裏面 (21 B) に対して第 1の機械加工を施すことにより、 前記基板 (21) の全体 を薄板化する工程と、
薄板化された前記基板 (21) の前記裏面 (21 B) に対して第 2の機械加工 を施して、 前記基板 (21) のうち、 前記光導波路 (22) と瞵接する領域に薄 肉部分 (26) を形成する工程と、
所定の溝部 (28) を有する支持基板 (27) を用意し、 前記基板 (21) の 前記裏面 (21 B) と支持基板 (27) とを、 前記光導波路 (22) 、 前記変調 用電極及び前記薄肉部分 (26) が前記溝部 (28) 内に位置するように貼り合 わせた後、 前記基板 (21) から前記ベース基板 (31) を剥離する工程と、 を含むことを特徴とする光変調器の製造方法。
2. 請求項 1記載の光変調器の製造方法において、
前記第 2の機械加工は、 外周刃を用いた研削加工を含むことを特徴とする光変 調器の製造方法。
3. 請求項 2記載の光変調器の製造方法において、
前記外周刃を整形するためのツル一イング処理工程を含むことを特徴とする光 変調器の製造方法。
4. 電気光学効果を有する材料からなる基板 (21) の主面 (21A) 直下に光 導波路 (22) を形成する工程と、
前記基板 (2 1) の前記主面 (21 A) 上に、 前記光導波路 (22) 内を導波 する光を変調するための変調用電極を形成する工程と、
前記基板 (2 1) の主面 (21A) とべ一ス基板 (31) とを、 前記変調用電 極を介して貼り合せる工程と、
前記ベース基板 (3 1) を固定した状態において、 前記基板 (2 1) の裏面 (21B) に対して機械加工を施すことにより、 前記基板 (21) の全体を薄板 化する工程と、
薄板化された前記基板 (21) の前記裏面 (21 B) に対してレーザ加工処理 を施し、 前記基板 (21) のうち、 前記光導波路 (22) と隣接する領域に薄肉 部分 (26) を形成する工程と、
所定の溝部 (28) を有する支持基板 (27) を用意し、 前記基板 (21) の 前記裏面 (21 B) と支持基板 (27) とを、 前記光導波路 (22) 、 前記変調 用電極及び前記薄肉部分 (26) が前記溝部 (28) 内に位置するように貼り合 わせた後、 前記基板 (21) から前記ベース基板 (31) を剥離する工程と、 を含むことを特徴とする光変調器の製造方法。
5. 請求項 1〜 4のいずれか 1項に記載の光変調器の製造方法において、 '前記機械加工によって、 前記基板 (21) を厚さ 5 xm〜50 まで薄板化 することを特徴とする光変調器の製造方法。
6. 請求項 1〜 5のいずれか 1項に記載の光変調器の製造方法において、 前記基板 (2 1) と前記薄肉部分 (26) との厚さの差が 1 以上であるこ とを特徴とする光変調器の製造方法。
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