WO1998019174A1 - Component testing device - Google Patents

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WO1998019174A1
WO1998019174A1 PCT/DE1997/002186 DE9702186W WO9819174A1 WO 1998019174 A1 WO1998019174 A1 WO 1998019174A1 DE 9702186 W DE9702186 W DE 9702186W WO 9819174 A1 WO9819174 A1 WO 9819174A1
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component
push rod
test device
component holder
contacts
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Horst Gröninger
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Siemens Aktiengesellschaft
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2887Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations
    • GPHYSICS
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    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks

Definitions

  • the invention relates to a component test device according to the preamble of patent claim 1.
  • this component tester For the automatic testing of components, a device is necessary which picks up the component to be tested and feeds it to a component tester which checks the electrical properties to be checked.
  • this component tester generally has a contact arrangement which corresponds to the contacts of the component and via which the component to be tested is electrically connected.
  • a component holder is usually provided which sucks in the component by means of a vacuum. Then the component holder is moved to the contact arrangement of the test device and the component with its contacts is placed on the corresponding contacts of the contact arrangement. Then this is done
  • An IC test handler (e.g. Delta Flex Pick & Place) is known from the prior art, in which the component holder can be moved in the axial direction of the connecting rod by means of a push rod in order to place the component on the contact arrangement and then remove it.
  • precise alignment is necessary in this known device so that the plane of the component contacts is aligned plane-parallel to the plane of the contact arrangement of the component tester. Due to temperature influences, it can quickly occur in this device due to the occurrence of
  • the object of the invention is to provide a component test device in which, despite slight adjustment errors, a perfect alignment of the component is always reliably ensured when it is put on.
  • the component test device according to the invention yields when it is placed on the contact arrangement as soon as not all the component contacts are placed on the contact arrangement at the same time.
  • the level of the component contacts is automatically aligned with the level of the contact arrangement of the component tester.
  • FIG. 1 shows an exemplary embodiment of a component test device
  • FIG. 2 shows a detail of the device shown in FIG. 1 before being placed on an inclined plane
  • FIG. 3 is a sectional view of the device according to FIG. 1 after being placed on an inclined plane.
  • FIG. 1 shows an exemplary embodiment of a component test device which consists of a push rod 2, a connecting unit 3 and a component holder 1. Furthermore, a guide rod 10 is fastened to the connecting part 3 in order to prevent the overall arrangement from rotating about the axis of rotation of the push rod 2.
  • a pickup 12 is provided on the component holder 1 in order to receive a component 6 to be checked and to hold it on the component holder. Furthermore, pre-centering pins 7 are provided on the component holder 1, the function of which will be described later.
  • Connecting part 3 which connects the push rod to the component holder, is divided into two, the mechanical connection between the push rod side of the connecting part and the component holder side 3b of the connecting part being effected by means of collar screws. For this purpose are on the push rod side
  • a component 6 held with the pickup 12 is guided with the component test device to a contact device, not shown, of a test device, also not shown.
  • the component 6 with its contacts 9 is placed on the contact arrangement of the test device in order to be checked by the test device.
  • the test device with the component is guided over the contact arrangement and then lowered by means of the push rod 2, so that the contacts 9 of the component 6 come into contact with the contact arrangement.
  • the contacts 9 must all lie evenly on the contact arrangement.
  • the test device must be precisely aligned with the contact arrangement beforehand.
  • the pre-centering pins 7 are provided which are arranged in relation to the component on the component holder in such a way that they can be inserted into pre-centering pin recesses (not shown) which have the same reference to Contact arrangement are arranged.

Abstract

A component testing device with a two-piece connecting member between a connecting rod and a component holder. Both pieces of the connecting member can be tilted against each other, thus enabling compensation of insufficient alignment between the component contact plane and the plane of the contact arrangement upon which contacts are to be placed.

Description

Beschreibungdescription
Bauteil-TestvorrichtungComponent test device
Die Erfindung betrifft eine Bauteil-Testvorrichtung gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.The invention relates to a component test device according to the preamble of patent claim 1.
Für das automatische Testen von Bauteilen ist eine Vorrichtung notwendig, die das zu testende Bauteil aufnimmt und ei- nem Bauteiltester zuführt, der die zu überprüfenden elektrischen Eigenschaften überprüft. Hierzu weist dieser Bauteiltester im allgemeinen eine Kontaktanordnung auf, die den Kontakten des Bauteils entsprechen, und über die das zu testende Bauteil elektrisch angeschlossen wird.For the automatic testing of components, a device is necessary which picks up the component to be tested and feeds it to a component tester which checks the electrical properties to be checked. For this purpose, this component tester generally has a contact arrangement which corresponds to the contacts of the component and via which the component to be tested is electrically connected.
Gewöhnlich ist ein Bauteilhalter vorgesehen, der das Bauteil mittels Vakuum ansaugt. Dann wird der Bauteilhalter zur Kontaktanordnung des Testgerätes bewegt und das Bauteil mit seinen Kontakten auf den entsprechenden Kontakten der Kontaktanordnung aufgesetzt. Anschließend erfolgt dasA component holder is usually provided which sucks in the component by means of a vacuum. Then the component holder is moved to the contact arrangement of the test device and the component with its contacts is placed on the corresponding contacts of the contact arrangement. Then this is done
Überprüfen des Bauteils. Nach dem Überprüfen wird mit dem Bauteilhalter das Bauteil wieder von der Kontaktanordnung entfernt und an einem vorgesehenen Ort abgelegt. Nach dem Ablegen des Bauteiles kann ein neues Bauteil aufgenommen werden, wonach der zuvor beschriebene Vorgang unbegrenzt mit immer wieder neuen Bauteilen wiederholbar ist.Check the component. After checking, the component holder is used to remove the component from the contact arrangement again and place it in a designated location. After the component has been put down, a new component can be picked up, after which the process described above can be repeated indefinitely with new components again and again.
Für den eigentlichen Testvorgang ist es wichtig, daß die Kontakte des Bauteils gleichmäßig auf den Kontakten des Bauteil- testers aufsetzen. Ist dies nicht der Fall, d.h., ein oder mehrere Kontakte berühren noch nicht die Kontaktanordnung des Bauteiltesters, während einige bereits aufsetzen, führt dies zu den folgenden Nachteilen. Zum einen würde in einem solchen Fall der Test ein fehlerhaftes Bauteil ergeben, obwohl dies eventuell in Wirklichkeit nicht der Fall ist. Um diese Wahrscheinlichkeit auszuschließen, muß das Bauteil mit erhöhtem Druck auf die Kontaktanordnung aufgesetzt werden, um die Kontaktierung bei allen Kontakten sicherzustellen. Dies würde als weiteres Problem entweder zu einer ungewollten Deformierung der Bauteilkontakte oder gar zu einer Beschädigung desselben führen.For the actual test process, it is important that the contacts of the component rest evenly on the contacts of the component tester. If this is not the case, ie one or more contacts are not yet touching the contact arrangement of the component tester while some are already in place, this leads to the following disadvantages. On the one hand, in such a case, the test would result in a defective component, although this may not actually be the case. In order to exclude this probability, the component must be placed on the contact arrangement with increased pressure ensure contacting for all contacts. As a further problem, this would either lead to an undesired deformation of the component contacts or even damage to the same.
Aus dem Stand der Technik ist ein IC-Testhandler (z.B. Delta Flex Pick & Place) bekannt, bei dem der Bauteilhalter zum Aufsetzen des Bauteils auf der Kontaktanordnung und zum anschließenden Abnehmen desselben mittels einer Schubstange in axialer Richtung der Schubstange bewegbar ist. Um das zuvor beschriebene Problem zu lösen, ist bei diesem bekannten Gerät ein genaues Ausrichten notwendig, damit die Ebene der Bauteilkontakte plan-parallel zur Ebene der Kontaktanordnung des Bauteiltesters ausgerichtet ist. Durch Temperatureinflüsse kann es bei diesem Gerät schnell durch das Auftreten vonAn IC test handler (e.g. Delta Flex Pick & Place) is known from the prior art, in which the component holder can be moved in the axial direction of the connecting rod by means of a push rod in order to place the component on the contact arrangement and then remove it. In order to solve the problem described above, precise alignment is necessary in this known device so that the plane of the component contacts is aligned plane-parallel to the plane of the contact arrangement of the component tester. Due to temperature influences, it can quickly occur in this device due to the occurrence of
Temperaturdehnungen zu einer Dejustage kommen. Dies führt zur Notwendigkeit dieses bekannte Gerät häufig nachzujustieren.Thermal expansion lead to misalignment. This leads to the need to readjust this known device frequently.
Daher liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine Bauteil- Testvorrichtung vorzusehen, bei der trotz leichter Justierfehler stets eine einwandfreie Ausrichtung des Bauteils beim Aufsetzen zuverlässig gewährleistet ist.Therefore, the object of the invention is to provide a component test device in which, despite slight adjustment errors, a perfect alignment of the component is always reliably ensured when it is put on.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß mit dem im Patentanspruch 1 aufgeführten Merkmalen gelöst.This object is achieved with the features listed in claim 1.
Dadurch daß die beanspruchte Vorrichtung zweigeteilt und in einer zur axialen Längsrichtung der Schubstange senkrechten Richtung kippbar ist, gibt die erfindungsgemäße Bauteil-Test- Vorrichtung beim Aufsetzen auf der Kontaktanordnung nach, sobald nicht alle Bauteilkontakte gleichzeitig auf der Kontaktanordnung aufsetzen. Es kommt somit zum Zeitpunkt des Aufsetzens automatisch zu einem Ausrichten der Ebene der Bauteilkontakte zur Ebene der Kontaktanordnung des Bautteil- Testers. Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den untergeordneten Ansprüchen aufgeführt .Because the claimed device is divided into two and can be tilted in a direction perpendicular to the axial longitudinal direction of the push rod, the component test device according to the invention yields when it is placed on the contact arrangement as soon as not all the component contacts are placed on the contact arrangement at the same time. Thus, at the time of attachment, the level of the component contacts is automatically aligned with the level of the contact arrangement of the component tester. Further advantageous embodiments of the invention are listed in the subordinate claims.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand eines Ausführungsbei- spiels unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläutert.The invention is explained in more detail below using an exemplary embodiment with reference to the drawing.
Es zeigen:Show it:
Figur 1 ein Ausführungsbeispiel einer Bauteil-Testvorrichtung, Figur 2 ein Ausschnitt der in Figur 1 dargestellten Vorrichtung vor dem Aufsetzen auf einer dazu geneigten Ebene und Figur 3 eine Ausschnittsansicht der Vorrichtung nach Figur 1 nach dem Aufsetzen auf einer geneigten Ebene.1 shows an exemplary embodiment of a component test device, FIG. 2 shows a detail of the device shown in FIG. 1 before being placed on an inclined plane, and FIG. 3 is a sectional view of the device according to FIG. 1 after being placed on an inclined plane.
In Figur 1 ist ein Ausführungsbeispiel einer Bauteil-Testvorrichtung dargestellt, die aus einer Schubstange 2, einer Verbindungseinheit 3 und einem Bauteilhalter 1 besteht. Weiterhin ist eine Führungsstange 10 am Verbindungsteil 3 be- festigt, um ein Verdrehen der Gesamtanordnung um die Drehachse der Schubstange 2 zu verhindern. Am Bauteilhalter 1 ist ein Aufnehmer 12 vorgesehen, um ein zu überprüfendes Bauteil 6 aufzunehmen und um dieses am Bauteilhalter festzuhalten. Weiterhin sind am Bauteilhalter 1 Vorzentrierstifte 7 vorgesehen, deren Funktion später beschrieben ist. DasFIG. 1 shows an exemplary embodiment of a component test device which consists of a push rod 2, a connecting unit 3 and a component holder 1. Furthermore, a guide rod 10 is fastened to the connecting part 3 in order to prevent the overall arrangement from rotating about the axis of rotation of the push rod 2. A pickup 12 is provided on the component holder 1 in order to receive a component 6 to be checked and to hold it on the component holder. Furthermore, pre-centering pins 7 are provided on the component holder 1, the function of which will be described later. The
Verbindungsteil 3, das die Schubstange mit dem Bauteilhalter verbindet, ist zweigeteilt, wobei die mechanische Verbindung zwischen der Schubstangenseite des Verbindungsteiles und der Bauteilhalterseite 3b des Verbindungsteiles über Bundschrauben erfolgt. Hierzu sind auf der SchubstangenseiteConnecting part 3, which connects the push rod to the component holder, is divided into two, the mechanical connection between the push rod side of the connecting part and the component holder side 3b of the connecting part being effected by means of collar screws. For this purpose are on the push rod side
3a des Verbindungsteiles Bohrungen vorgesehen, durch die die Bundschrauben gesteckt werden, wobei die Bohrungen angesenkt sind, damit sie die Senkköpfe der Bundschrauben aufnehmen. Auf der entsprechend gegenüberliegenden Seite sind in der Bauteilhalterseite 3b entsprechende Bohrungen vorgesehen, die mit einem Gewinde versehen sind, so daß die Bundschrauben 5 in das jeweilige Gewinde einschraubbar sind. Die
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3a of the connecting part provided holes through which the collar screws are inserted, the holes being countersunk so that they accommodate the countersunk heads of the collar screws. On the corresponding opposite side, corresponding holes are provided in the component holder side 3b, which are provided with a thread, so that the collar screws 5 can be screwed into the respective thread. The
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Φ er iQ φ 3 ω Φ Φ cQ 3 3 Φ 3 3I he iQ φ 3 ω Φ Φ cQ 3 3 Φ 3 3
1 1 Φ 1 1 cn Φ 1 oo P P 1 1 Φ 1 1 cn Φ 1 oo PP
Nachfolgend wird der normale Betrieb des in Figur 1 dargestellten Ausführungsbeispiels der Bauteil-Testvorrichtung erläutert. Ein mit dem Aufnehmer 12 gehaltenes Bauteil 6 wird mit der Bauteil-Testvorrichtung zu einer nicht dargestellten Kontakteinrichtung eines ebenfalls nicht dargestellten Testgerätes geführt. Es ist nunmehr vorgesehen, daß das Bauteil 6 mit seinen Kontakten 9 auf der Kontaktanordnung des Testgerätes aufgesetzt wird, um vom Testgerät überprüft zu werden. Hierzu wird die Testvorrichtung mit dem Bauteil über die Kon- taktanordnung geführt und dann mittels der Schubstange 2 abgesenkt, so daß die Kontakte 9 des Bauteiles 6 mit der Kontaktanordnung in Berührung gelangen. Damit es zu einer einwandfreien Überprüfung des Bauteiles 6 kommt, müssen die Kontakte 9 alle gleichmäßig auf der Kontaktanordnung aufliegen. Hierzu muß die Testvorrichtung zuvor mit der Kontaktanordnung genau ausgerichtet sein. Um zu verhindern, daß das Bauteil neben der Kontaktanordnung aufgesetzt wird, sind die Vorzen- trierstifte 7 vorgesehen, die im Bezug zum Bauteil am Bauteilhalter so angeordnet sind, daß sie in Vorzentrierεtift- Ausnehmungen (nicht dargestellt) einsteckbar sind, die im gleichen Bezug zur Kontaktanordnung angeordnet sind.The normal operation of the exemplary embodiment of the component test device shown in FIG. 1 is explained below. A component 6 held with the pickup 12 is guided with the component test device to a contact device, not shown, of a test device, also not shown. It is now provided that the component 6 with its contacts 9 is placed on the contact arrangement of the test device in order to be checked by the test device. For this purpose, the test device with the component is guided over the contact arrangement and then lowered by means of the push rod 2, so that the contacts 9 of the component 6 come into contact with the contact arrangement. In order for the component 6 to be checked properly, the contacts 9 must all lie evenly on the contact arrangement. For this purpose, the test device must be precisely aligned with the contact arrangement beforehand. In order to prevent the component from being placed next to the contact arrangement, the pre-centering pins 7 are provided which are arranged in relation to the component on the component holder in such a way that they can be inserted into pre-centering pin recesses (not shown) which have the same reference to Contact arrangement are arranged.
Sobald die Kontakte 9 des Bauteiles 6 auf der Kontaktanordnung aufliegen, wird über diese eine der Schubkraft, die über die Schubstange 2 zugeführt ist, entgegenwirkende Druckkraft erzeugt. Dieser Gegendruck bewirkt, daß die Spiralfedern 8, die die Bundschrauben 5 umgeben, zusammengedrückt werden, so daß der Abstand zwischen der Schubstangenseite 3a des Verbindungsteiles und der Bauteilhalterseite 3b des Verbindungstei- les verschwindet und die ballige Seite der Schubstange gegen die konkave Vertiefung der Druckplatte 4 drückt. Dadurch daß der Abstand zwischen der Schubstangenseite 3a und der Bau- teilhalterseite 3b zusammengedrückt wird, ragen nunmehr die Senkköpfe der Bundschrauben 5 aus den Senkungen heraus .As soon as the contacts 9 of the component 6 rest on the contact arrangement, a compressive force counteracting the pushing force which is supplied via the push rod 2 is generated via the contact arrangement. This counter pressure causes the spiral springs 8, which surround the collar screws 5, to be compressed, so that the distance between the push rod side 3a of the connecting part and the component holder side 3b of the connecting part disappears and the spherical side of the push rod against the concave depression of the pressure plate 4 presses. Because the distance between the push rod side 3a and the component holder side 3b is compressed, the countersunk heads of the collar screws 5 now protrude from the counterbores.
In Figur 2 und in Figur 3 ist nunmehr dargestellt, was passiert, wenn die Ebene, in der die Kontaktanordnung liegt, nicht mit der Ebene der Kontakte 9 des Bauteiles 6 hundertprozentig plan parallel zueinander ausgerichtet sind.2 and 3 now show what happens when the plane in which the contact arrangement is located are not aligned with the plane of the contacts 9 of the component 6 100 percent flat parallel to each other.
Wie in Figur 2 dargestellt ist, kommt es bei der Annäherung der Kontakte 9 mit der Ebene 14 der Kontaktanordnung zu einem Winkel zwischen den beiden zuvor genannten Ebenen. Dies führt dazu, daß die Kontakte 9 des Bauteils 6 zuerst auf der Seite X mit der Kontaktanordnung in Berührung gelangen, während die Kontakte auf der Seite Y noch nicht mit der Kontaktanordnung in Berührung stehen. Durch den von der Schubstange 2 ausgeübten Druck wird zunächst von den Kontakten 9 auf der X-Seite ein Gegendruck auf den Bauteilhalter 1 ausgeübt. Durch diesen Druck neigt sich der Bauteilhalter 1 soweit, daß auch die Kontakte 9 auf der Y-Seite mit der Kontaktanordnung in Berührung gelangen und ein weiteres Verkippen des Bauteilhalters 1 verhindern.As shown in FIG. 2, when the contacts 9 approach the plane 14 of the contact arrangement, there is an angle between the two aforementioned planes. This means that the contacts 9 of the component 6 first come into contact with the contact arrangement on the X side, while the contacts on the Y side are not yet in contact with the contact arrangement. Due to the pressure exerted by the push rod 2, a counter pressure is first exerted on the component holder 1 by the contacts 9 on the X side. As a result of this pressure, the component holder 1 tilts to such an extent that the contacts 9 on the Y side also come into contact with the contact arrangement and prevent the component holder 1 from tilting further.
Durch das Kippen des Bauteilhalters 1 ist, wie nunmehr in Figur 3 dargestellt ist, die Ebene der Kontaktanordnung wieder zur Ebene der Kontakte 9 des Bauteiles plan-parallel ausgerichtet. Durch den erfolgten Gegendruck gegen die Schubstange 2, sind die Bundschrauben mit ihren Senkköpfen aus den Senkungen der Schubstangenseite 3a des Verbindungsteiles herausgedrückt, so daß die Bundschrauben nunmehr durch den größeren Durchmesser der Bohrungen ein ausreichendes Spiel auf derBy tilting the component holder 1, as is now shown in FIG. 3, the level of the contact arrangement is again aligned plane-parallel to the level of the contacts 9 of the component. Due to the counter pressure against the push rod 2, the collar screws with their countersunk heads are pressed out of the recesses on the push rod side 3a of the connecting part, so that the collar screws are now sufficiently free on the larger diameter of the holes
Schubstangenseite des Verbindungsteiles vorfinden. Durch dieses Spiel verkippt der Bauteilhalter zusammen mit der Bauteilhalterseite 3b des Verbindungsteiles, wodurch das zuvor beschriebene plan-parallele Ausrichten erfolgt, ohne dabei durch die Schubstangenseite 3a des Verbindungsteiles gehindert zu werden. Hieraus ergibt sich, daß nunmehr die Schubstangenseite 3a zur Bauteilhalterseite 3b eine Winkelstellung einnimmt, die der Winkelstellung α zwischen der Ebene der Kontakte 9 und der Ebene der Kontaktanordnung entspricht. Durch die Anordnung der Bundschrauben 5, wie sie in Figur 4 dargestellt sind, ist gewährleistet, daß mit diesem Ausführungsbeispiel der Bauteil-Testvorrichtung jeder flächenhafte Fehlausrichtung der Ebene der Kontakte 9 zu der Ebene der Kontaktanordnung mittels der zuvor beschriebenen Vorrichtung ausgleichbar ist. Es ist somit stets ein zuverlässiger und sicherer Kontakt mit den Kontakten 9 gewährleistet, ohne dabei das Bauelement der Gefahr einer Zerstörung auszusetzen und ohne dabei durch häufige Nachjuεtierarbeiten behindert zu werden. Find the push rod side of the connecting part. As a result of this play, the component holder tilts together with the component holder side 3b of the connecting part, as a result of which the previously described plane-parallel alignment takes place without being impeded by the push rod side 3a of the connecting part. It follows from this that the push rod side 3a now assumes an angular position relative to the component holder side 3b, which corresponds to the angular position α between the plane of the contacts 9 and the plane of the contact arrangement. The arrangement of the collar screws 5, as shown in FIG. 4, ensures that with this embodiment of the component test device, any surface misalignment of the plane of the contacts 9 to the plane of the contact arrangement can be compensated for by means of the device described above. A reliable and safe contact with the contacts 9 is thus always guaranteed without exposing the component to the risk of destruction and without being hindered by frequent re-adjustment work.

Claims

Patentansprüche claims
1. Bauteil-Testvorrichtung mit: a) einem Bauteilhalter (1), der ein zu testendes Bauteil (6) aufnimmt, b) einer Schubstange (2), die den Bauteilhalter in einer Vorwärtsrichtung von einer Ausgangslage in eine von dort in axialer Längsrichtung der Schubstange (2) liegende Testlage bewegt, g e k e n n z e i c h n e t d u r c h c) ein Verbindungselement, das aus cl) einem Schubstangenteil (3a) , das an einem Schubstangenende befestigt ist, das in die Vorwärtsrichtung zeigt und c2) einem Bauteilhalterteil (3b) besteht, das am Bauteilhal- ter angeordnet ist, wobei das Schubstangenteil (3a) und das Bauteilhalterteil (3b) so miteinander verbunden sind, daß sie zumindest in einer zur Schubstangenlängsachse senkrechten Richtung zueinander schrägstellbar sind.1. component test device with: a) a component holder (1), which receives a component to be tested (6), b) a push rod (2), which moves the component holder in a forward direction from an initial position into one of there in the axial longitudinal direction Push rod (2) lying test position, characterized byc) a connecting element which consists of cl) a push rod part (3a) which is fastened to a push rod end which points in the forward direction and c2) a component holder part (3b) which is on the component holder is arranged, the push rod part (3a) and the component holder part (3b) being connected to one another in such a way that they can be inclined to one another at least in a direction perpendicular to the longitudinal axis of the push rod.
2. Bauteil-Testvorrichtung nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß das Schubstangenteil (3a) und das Bauteilhalterteil (3b) mittels Abstandselementen gegen eine Federkraft zueinander beabstandet sind.2. Component test device according to claim 1, so that the push rod part (3a) and the component holder part (3b) are spaced apart from one another by means of spacer elements against a spring force.
3. Bauteil-Testvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß das Schubstangenende durch das an ihm befestigte Schubstangenteil (3a) hindurchragt und entgegen der Federkraft gegen das Bau- teilhalterteil (3b) in Vorwärtsrichtung drückbar ist.3. Component test device according to claim 1 or 2, so that the push rod end protrudes through the push rod part (3a) attached to it and can be pressed against the spring force against the component holder part (3b) in the forward direction.
4. Bauteil-Testvorrichtung nach Anspruch 3, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß das durch das Schubstangenteil (3a) hindurchragende Schubstangenende ballig ausgebildet ist.4. component test device according to claim 3, d a d u r c h g e k e n e z e i c h n e t that the push rod end protruding through the push rod part (3a) is spherical.
5. Bauteil-Testvorrichtung nach Anspruch 3 oder 4, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß das Schubstangenende einer konkav ausgebildeten Druckplatte (4) gegenübersteht, die an dem Bauteilhalterteil (3b) angeordnet ist, um den Druck von dem Schubstangenende aufzunehmen.5. component test device according to claim 3 or 4, characterized in that the push rod end faces a concave pressure plate (4) which is arranged on the component holder part (3b) to receive the pressure from the push rod end.
6. Bauteil-Testvorrichtung nach Anspruch 2 bis 5, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß als Abstandselemente vier Bundschrauben (5) verwendet sind, die in den Ecken eines Quadrats angeordnet sind, dessen Diagonale sich in der Längsachse der Schubstange (2) schneiden.6. component test device according to claim 2 to 5, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t that four collar screws (5) are used as spacers, which are arranged in the corners of a square, the diagonal of which intersect in the longitudinal axis of the push rod (2).
7. Bauteil-Testvorrichtung nach Anspruch 6, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Federkraft durch Spiralfedern (8) aufgebracht wird, die um die Bundschrauben (5) herumgeführt sind, und sowohl gegen das7. Component test device according to claim 6, that the spring force is applied by spiral springs (8) which are guided around the collar screws (5), and both against the
Schubstangenteil (3a) , als auch gegen das Bauteilhalterteil (3b) drücken.Push the push rod part (3a) as well as against the component holder part (3b).
8. Bauteil-Testvorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 7, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Abstandselemente zum Schubstangenteil (3a) ein seitliches Spiel aufweisen, wenn das Schubstangenteil (3a) gegen das Bauteilhalterteil (3b) gedrückt wird, wobei das seitliche Spiel das Neigungsausmaß begrenzt . 8. component test device according to one of claims 2 to 7, characterized in that the spacer elements to the push rod part (3a) have a lateral play when the push rod part (3a) is pressed against the component holder part (3b), the lateral play limits the extent of inclination .
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0069592A1 (en) * 1981-07-08 1983-01-12 Fujitsu Limited Device for testing semiconductor devices at a high temperature
US4665360A (en) * 1985-03-11 1987-05-12 Eaton Corporation Docking apparatus
US5029383A (en) * 1990-06-07 1991-07-09 Universal Instruments Corporation Articulating tip for pick and place head
US5092774A (en) * 1991-01-09 1992-03-03 National Semiconductor Corporation Mechanically compliant high frequency electrical connector

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4940935A (en) * 1989-08-28 1990-07-10 Ried Ashman Manufacturing Automatic SMD tester
JP2547021Y2 (en) * 1990-10-08 1997-09-03 株式会社アドバンテスト IC test equipment
US5227717A (en) * 1991-12-03 1993-07-13 Sym-Tek Systems, Inc. Contact assembly for automatic test handler
JP3563108B2 (en) * 1994-05-27 2004-09-08 株式会社アドバンテスト Device transport mechanism for IC test handler

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0069592A1 (en) * 1981-07-08 1983-01-12 Fujitsu Limited Device for testing semiconductor devices at a high temperature
US4665360A (en) * 1985-03-11 1987-05-12 Eaton Corporation Docking apparatus
US5029383A (en) * 1990-06-07 1991-07-09 Universal Instruments Corporation Articulating tip for pick and place head
US5092774A (en) * 1991-01-09 1992-03-03 National Semiconductor Corporation Mechanically compliant high frequency electrical connector

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