WO1994023304A1 - Semiconductor chip - Google Patents

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WO1994023304A1 PCT/EP1994/000738 EP9400738W WO9423304A1 WO 1994023304 A1 WO1994023304 A1 WO 1994023304A1 EP 9400738 W EP9400738 W EP 9400738W WO 9423304 A1 WO9423304 A1 WO 9423304A1
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Heinz Schade
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Steag Reinraumtechnik Gmbh
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    • GPHYSICS
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    • H01L2924/19107Disposition of discrete passive components off-chip wires

Definitions

  • the invention relates to a semiconductor chip on which at least one additional chip is arranged.
  • Patents Abstr. of Japan, Sect. E. Vol. 7 (1983), No. 280 (E-216) semiconductor chips are known, on each of which an additional chip is arranged.
  • the individual chips that are connected to one another are conventional semiconductor chips, possibly manufactured using different manufacturing methods, but not sensor chips that have to be connected to an evaluation circuit.
  • the invention is therefore based on the object of providing a semiconductor chip which is designed as a sensor and has an evaluation unit without additional wiring and in a very small space.
  • the semiconductor chip has an active area which is designed as a motion sensor.
  • the actual semiconductor chip in the present invention is an active chip that serves as a motion sensor and that with a
  • Chip for the evaluation of the sensor signals is combined.
  • the chip serving as motion sensor and the evaluation chip are arranged on a support plate, for example a circuit board with conductor tracks, and the connections of the chips are connected by conductor tracks or additional wires.
  • a support plate for example a circuit board with conductor tracks
  • the connections of the chips are connected by conductor tracks or additional wires.
  • the task is solved by an active area which is designed as a motion sensor.
  • the chips to be connected are therefore not on an additional circuit board or an additional one
  • the great advantage is that no connecting wires or conductor tracks are required. This not only results in shorter signal paths, but the semiconductor chip can also be small due to the short signal paths and designed as a very sensitive sensor. In particular, due to the short signal paths, they are electromagnetic
  • the additional chip is arranged at least partially on a free area of the semiconductor chip substrate.
  • this free area serves as a carrier for the additional chip.
  • the additional chip it is also possible for the additional chip to be arranged at least partially over the active region of the semiconductor chip. As a result, the area of the semiconductor chip can be reduced further, and the connecting lines between the chips also become shorter.
  • the electrical connection between the semiconductor chip and the additional chip is made by directly contacting the contact points with one another.
  • the contacting points or the input / output (I / O) connections from chip to chip on the semiconductor substrate are small and require only a small area, so that the dimensions of the semiconductor chip substrate can be kept small. Since the cost of a semiconductor device is significantly different from that
  • the arrangements according to the present invention can be manufactured more cost-effectively.
  • connection surfaces preferably consist of conductive metal alloys in a composition which is selected and advantageous for the particular contacting method chosen.
  • the semiconductor chip and the additional one Chip housed in a common housing.
  • the direct contacting of the two chips, which - seen individually - are not yet packaged or are connected to one another without a housing, are preferably accommodated in a common housing. Since the cost of a chip is essentially determined by the housing and the connecting pins passing through the housing, a much simpler, inexpensive chip with a high packing density and using separately manufactured chips can be produced in this way. In particular, significantly fewer connections to the outside are required overall, which not only reduces the manufacturing outlay, but in particular also increases the reliability both during the manufacturing process and during assembly of the chip and during its use.
  • the semiconductor chip and the additional chip are manufactured using different manufacturing processes. This allows very advantageous chip combinations to be created in a simple manner and in the smallest space.
  • the semiconductor chip is a control circuit with low line consumption and the additional chip is a power circuit, or vice versa. This enables a compact interconnection of power and control electronics, which offers advantages when using such components in automobile construction and for machine controls.
  • the control circuit with low power consumption can preferably be in
  • CMOS technology while the power circuit is bipolar.
  • the manufacturing technology can therefore be optimally selected for the respective individual chip areas. It is normally not possible to use different chip production techniques at the same time, since the acids and solvents used in this process are different or not tolerate or even exclude other chemical substances required for the treatment.
  • the present invention is also particularly advantageous when the semiconductor chip is a sensor chip and the additional chip is an integrated evaluation circuit for the sensor chip.
  • the sensor including the evaluation circuit, can be accommodated in a compact, small structural unit, the sensor and the evaluation circuit each being able to be produced independently with different manufacturing processes.
  • very small, sensitive sensors can be used, since the output signal of the sensors also depends in particular on the size of the sensors.
  • the additional chip which is preferably used as an evaluation circuit, in such a way that it acts as a mechanical limitation of moving sensors, for example acceleration sensors serves, as will be explained in more detail below using an exemplary embodiment.
  • the semiconductor chip and / or the additional chip has connection areas, for example in the form of bonding pads, for the connection to the outside.
  • connection areas for example in the form of bonding pads
  • FIG. 1 shows a conventional chip wiring on a ceramic substrate
  • FIG. 2 shows a conventional wiring of chips on a circuit board
  • FIG. 4 an embodiment of the semiconductor chip according to the invention.
  • Fig. 1 shows a conventional wiring form of chips
  • the chips 1, each in a housing are wired to one another via their connecting pins 4 and conductor tracks 5 of a printed circuit board 6.
  • the wiring shown in FIG. 3 is carried out using bond wires 7, which connect the connection areas 8 of a sensor chip 9 to connection areas 10 of an evaluation circuit 11.
  • connecting lines 2, 5 and 7 are required for the wiring, which not only represent a high manufacturing outlay, but also cause damage and - in the case of Sen ⁇ sensor circuits - give rise to electromagnetic radiation, whereby both the mechanical and the functional reliability of the chip combination suffers.
  • the area required for contacting or bonding the connecting lines 2, 5, 7 on the semiconductor substrate is also relatively large, so that the semiconductor substrate area cannot be fully used for the active circuit or sensor area.
  • the embodiment according to the invention shown in FIG. 4 has a sensor chip 31 with a sensor 32, which in the exemplary embodiment shown is a movable sensor.
  • An evaluation circuit 33 is arranged on the sensor chip 31 in a free area and is connected via conductive contacts to corresponding connection surfaces 34 of the sensor chip 31, for example by means of a soldering process.
  • sensor chips 31 are connected to sensor 32 via integrated conductors 36.
  • the entire sensor chip with the additional chip 33 applied thereon, which serves as an evaluation circuit, is accommodated in a housing 37, which is indicated as a frame.
  • the sensor chip 31 or the evaluation circuit 33 is connected to the outside, that is to say through the housing base of the housing 37, with pins 38 via bond connections 35.
  • a mechanical limiting element 39 for example made of silicon, is provided above the acceleration sensor 32 and limits the deflections of the acceleration sensor.
  • the limiting element 39 can be soldered together with the additional chip 33 on the sensor chip in one operation.
  • the additional chip 33 can also be arranged over the active region of a semiconductor chip 31, for example a sensor chip, as a result of which the semiconductor area of the semiconductor chip can be further reduced. It is also possible to provide the semiconductor chip 31 with a number of active areas, ie a number of sensors 32 and / or integrated circuits. In addition, more than one additional chip 33 can also be attached to the semiconductor chip 31 if this is desired or required.

Abstract

The invention concerns a semiconductor chip (31) with at least one active region (32), which can be inexpensively connected to at least one other chip by virtue of the fact that at least one additional chip (33) is disposed on the semiconductor chip (31). This disposition enables the chips (31, 33) to be bonded directly, without using wires, thus giving a compact design and making it possible to accommodate the whole combination in a housing (37). This makes a high integration density possible for chips which have been manufactured using different techniques.

Description

Halbleiterchip Semiconductor chip
Die Erfindung betrifft einen Halbleiterchip, auf dem wenigstens ein zusätzlicher Chip angeordnet ist.The invention relates to a semiconductor chip on which at least one additional chip is arranged.
Um Halbleiterchips miteinander zu verbinden, werden Kera¬ miksubstrate oder Leiterplatten verwendet, auf denen die unterschiedlichen Chips bzw. deren Anschlüsse oder Pins mit Drähten verbunden sind. Im Falle von Keramiksubstra¬ ten erfolgt die Verlegung der Verbindungsdrähte in oder auf der Keramik, wogegen die Leitungen bei der Verwendung von Leiterplatten durch Leiterbahnen auf der Leiterplatte gebildet sind. Für jeden Chip ist dabei ein eigenes Ge- häuse erforderlich, das die Herstellungskosten wesentlich erhöht. Die theoretische Möglichkeit, die integrierten Schaltungen oder aktiven Bereiche sonst getrennter Chips in einem Halbleiterbauteil zu integrieren, führt jedoch zu großflächigeren Chips. Da die Kosten der Chips mit de- ren Größe überproportional steigen, ist dadurch eine ko¬ stengünstigere Fertigungsweise nicht möglich. Darüber hinaus sind die miteinander zu verbindenden Chips sehr häufig mit unterschiedlichen, einander ausschließenden Herstellungsverfahren gefertigt, so daß eine gemeinsame Fertigung mehrerer Einzelchip-Bauteile auf einem einzigen Halbleiterchip prinzipiell nicht möglich ist.In order to connect semiconductor chips to one another, ceramic substrates or printed circuit boards are used, on which the different chips or their connections or pins are connected with wires. In the case of ceramic substrates, the connecting wires are laid in or on the ceramic, whereas when using printed circuit boards, the lines are formed by conductor tracks on the printed circuit board. A separate housing is required for each chip, which significantly increases the manufacturing costs. However, the theoretical possibility of integrating the integrated circuits or active areas of otherwise separate chips in a semiconductor component leads to chips with a larger area. Since the costs of the chips increase disproportionately with their size, a more cost-effective method of production is not possible. In addition, the chips to be connected to one another are very often manufactured using different, mutually exclusive manufacturing processes, so that in principle it is not possible to manufacture several individual chip components together on a single semiconductor chip.
Eine weitere herkömmliche Art, zwei Chips miteinander zu verbinden, besteht darin, auf den gehäusefreien Chip-Sub- straten Anschlußflächen, sogenannte Pads, vorzusehen, die mit einem Draht, beispielsweise durch das sogenannte wire-bonding-Verfahren, miteinander verbunden werden. Für die Anbringung von Pads ist jedoch eine erhebliche Fläche des Halbleitersubstrats erforderlich. Da die Kosten für ein Halbleiter-Bauelement wesentlich von der Größe des Halbleitersubstrats abhängen, erhöhen sich bei diesem Verfahren zur Verbindung von Chips die Kosten wesentlich. Aus den Druckschriften JP 63-11659 A. In: Patents Abstr. of Japan, Sect. E. Vol. 12 (1988), Nr. 357 (E-662); JP 58-154254 A. In: Patents Abstr. of Japan, Sect. E. Vol. 7 (1983), Nr. 272 (E-214) ; JP 4-99056 A. In: Patents Abstr. of Japan, Sect. E. Vol. 16 (1992) Nr. 332 (E- 1236) ; JP 60-150660 A. In: Patents Abstr. of Japan, Sect. E. Vol. 9 (1985), Nr. 318 (E-366) und JP 58-158958 A. In: Patents Abstr. of Japan, Sect. E. Vol. 7 (1983), Nr. 280 (E-216) sind Halbleiterchips bekannt, auf denen jeweils ein zusätzlicher Chip angeordnet ist. Die einzelnen Chips, die dabei miteinander verbunden werden, sind übliche Halbleiterchips, gegebenenfalls gefertigt mit unterschiedlichen Herstellungsverfahren, jedoch keine Sensorchips, die mit einer Auswerteschaltung verbunden werden müssen.Another conventional way of connecting two chips to one another is to provide pads, so-called pads, on the chip-free chip substrates, which are connected to one another with a wire, for example by the so-called wire-bonding method. However, a considerable area of the semiconductor substrate is required for the attachment of pads. Since the costs for a semiconductor component depend essentially on the size of the semiconductor substrate, the costs for this method for connecting chips increase significantly. From the publications JP 63-11659 A. In: Patents Abstr. of Japan, Sect. E. Vol. 12 (1988), No. 357 (E-662); JP 58-154254 A. In: Patents Abstr. of Japan, Sect. E. Vol. 7 (1983), No. 272 (E-214); JP 4-99056 A. In: Patents Abstr. of Japan, Sect. E. Vol. 16 (1992) No. 332 (E-1236); JP 60-150660 A. In: Patents Abstr. of Japan, Sect. E. Vol. 9 (1985), No. 318 (E-366) and JP 58-158958 A. In: Patents Abstr. of Japan, Sect. E. Vol. 7 (1983), No. 280 (E-216), semiconductor chips are known, on each of which an additional chip is arranged. The individual chips that are connected to one another are conventional semiconductor chips, possibly manufactured using different manufacturing methods, but not sensor chips that have to be connected to an evaluation circuit.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, einen Halbleiterchip zu schaffen, der als Sensor ausgebildet ist und ohne zusätzliche Verdrahtung und auf kleinstem Raum eine Auswerteeinheit aufweist.The invention is therefore based on the object of providing a semiconductor chip which is designed as a sensor and has an evaluation unit without additional wiring and in a very small space.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß der Halbleiterchip einen aktiven Bereich aufweist, der als Bewegungssensor ausgebildet ist.This object is achieved in that the semiconductor chip has an active area which is designed as a motion sensor.
Im Gegensatz zu der bekannten Stapelanordnung von Chips gemäß den genannten Druckschriften ist der eigentliche Halbleiterchip bei der vorliegenden Erfindung ein aktiver Chip, der als Bewegungssensor dient, und der mit einemIn contrast to the known stack arrangement of chips according to the cited documents, the actual semiconductor chip in the present invention is an active chip that serves as a motion sensor and that with a
Chip für die Auswertung der Sensorsignale kombiniert ist. Bei herkömmlichen Anordnungen mit Halbleiterchips als Bewegungssensoren ist der als Bewegungssensor dienende Chip und der Auswertechip auf einer Trageplatte, beispielsweise einer Leiterplatte mit Leiterbahnen angeordnet und die Anschlüsse der Chips sind durch Leiterbahnen oder zusätzliche Drähte verbunden. Durch die erfindungsgemäße Maßnahme, den Halbleiterchip mit einem aktiven, als Bewegungssensor dienenden Bereich auszu¬ statten und auf dem Halbleiterchip den zusätzlichen, insbesondere als Auswerteschaltung dienenden Chip anzuordnen, ergibt sich eine wesentlich kompaktereChip for the evaluation of the sensor signals is combined. In conventional arrangements with semiconductor chips as motion sensors, the chip serving as motion sensor and the evaluation chip are arranged on a support plate, for example a circuit board with conductor tracks, and the connections of the chips are connected by conductor tracks or additional wires. Through the The measure according to the invention of equipping the semiconductor chip with an active area serving as a motion sensor and arranging the additional chip, in particular serving as an evaluation circuit, on the semiconductor chip results in a considerably more compact one
Anordnung mit geringerem Fertigungsaufwand. Der besondere Vorteil einer derartigen Anordnung liegt jedoch darin, daß wegen der nicht vorhandenen oder zumindest sehr kurzen Verbindungswege zwischen dem als Sensor dienenden Halbleiterchip und dem Auswertechip vorhandene elektro¬ magnetische Einstrahlungen oder Einstreuungen, das normalerweise sehr schwache Sensorsignal, welches teil¬ weise in der Größenordnung von 10~12 A und darunter liegt, nicht beeinträchtigen oder verfälschen.Arrangement with less manufacturing effort. The particular advantage of such an arrangement is, however, that because of the non-existent or at least very short connection paths between the semiconductor chip serving as a sensor and the evaluation chip, the electromagnetic radiation or interference that is present is the normally very weak sensor signal, which is in part of the order of magnitude of 10 ~ 12 A and below, do not affect or distort.
Ausgehend von einem Halbleiterchip der eingangs genannten Art wird die gestellte Aufgabe durch einen aktiven Be¬ reich gelöst, der als Bewegungssensor ausgebildet ist. Die zu verbindenden Chips werden also nicht auf einer zusätzlichen Leiterplatte oder einem zusätzlichenStarting from a semiconductor chip of the type mentioned at the outset, the task is solved by an active area which is designed as a motion sensor. The chips to be connected are therefore not on an additional circuit board or an additional one
Keramiksubstrat aufgebracht und die einzelnen Chip- Anschlüsse dann über Leitungen miteinander verbunden, sondern der zusätzliche Chip wird direkt auf dem Halbleiterchip angeordnet. Der große Vorteil besteht darin, daß dadurch keine Verbindungsdrähte oder Leiter¬ bahnen erforderlich sind. Dadurch ergeben sich nicht nur kürzere Signalwege, sondern der Halbleiterchip kann auch auf Grund der kurzen Signalwege klein und als sehr empfindlicher Sensor ausgebildet sein. Insbesondere sind auf Grund der kurzen Signalwege elektromagnetischeCeramic substrate applied and the individual chip connections then connected to each other via lines, but the additional chip is arranged directly on the semiconductor chip. The great advantage is that no connecting wires or conductor tracks are required. This not only results in shorter signal paths, but the semiconductor chip can also be small due to the short signal paths and designed as a very sensitive sensor. In particular, due to the short signal paths, they are electromagnetic
Einstreuungen, die das Sensorsignal beeinträchtigen oder verfälschen können, weniger gravierend als bei herkömm¬ lichen Anordnungen mit aus Drähten bestehenden Verbin¬ dungsleitungen zwischen dem Sensor und beispielsweise einer Auswerteschaltung. Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung ist der zusätzliche Chip wenigstens teilweise auf einem freien Bereich des Halbleiterchip-Substrats angeordnet. In diesem Falle dient dieser freie Bereich als Träger für den zusätzlichen Chip. Alternativ ist es jedoch auch mög¬ lich, daß der zusätzliche Chip wenigstens teilweise über dem aktiven Bereich des Halbleiterchips angeordnet ist. Dadurch kann die Fläche des Halbleiterchips weiter ver¬ ringert werden, und auch die Verbindungsleitungen zwi- sehen den Chips werden dadurch noch kürzer.Interferences which can impair or falsify the sensor signal are less serious than in the case of conventional arrangements with connecting lines consisting of wires between the sensor and, for example, an evaluation circuit. According to an advantageous embodiment of the invention, the additional chip is arranged at least partially on a free area of the semiconductor chip substrate. In this case, this free area serves as a carrier for the additional chip. Alternatively, however, it is also possible for the additional chip to be arranged at least partially over the active region of the semiconductor chip. As a result, the area of the semiconductor chip can be reduced further, and the connecting lines between the chips also become shorter.
Von besonderem Vorteil ist es, wenn die elektrische Ver¬ bindung zwischen dem Halbleiterchip und dem zusätzlichen Chip durch direkte Kontaktierung der Kontaktstellen mit- einander erfolgt. Dadurch sind die Kontaktierungsstellen bzw. die Eingangs-/Ausgangs(I/O)-Verbindungen von Chip zu Chip auf dem Halbleitersubstrat klein und benötigen nur eine geringe Fläche, so daß die Abmessungen des Halblei¬ terchip-Substrats klein gehalten werden kann. Da die Ko- sten eines Halbleiter-Bauelements wesentlich von derIt is particularly advantageous if the electrical connection between the semiconductor chip and the additional chip is made by directly contacting the contact points with one another. As a result, the contacting points or the input / output (I / O) connections from chip to chip on the semiconductor substrate are small and require only a small area, so that the dimensions of the semiconductor chip substrate can be kept small. Since the cost of a semiconductor device is significantly different from that
Größe des Halbleiterchip-Substrats abhängen, können die Anordnungen gemäß der vorliegenden Erfindung kostengün¬ stiger gefertigt werden.Depending on the size of the semiconductor chip substrate, the arrangements according to the present invention can be manufactured more cost-effectively.
Die Kontaktierung der Anschlüsse des zusätzlichen Chips mit denen des Halbleiterchips ist auf verschiedene Weise, vorzugsweise mittels eines Lötvorgangs, eines Bonding- Verfahrens oder der Flip-Chip-Technik möglich. Die An¬ schlußflächen bestehen dabei vorzugsweise aus leitenden Metall-Legierungen in einer Zusammensetzung, die für das jeweilige, gewählte Kontaktierungsverfahren ausgewählt und vorteilhaft ist. Durch diese Kontaktierungsmaßnahmen ergibt sich eine sehr kostengünstige Montage komplexer Einheiten.The contacts of the additional chip with those of the semiconductor chip can be contacted in various ways, preferably by means of a soldering process, a bonding method or the flip-chip technology. The connection surfaces preferably consist of conductive metal alloys in a composition which is selected and advantageous for the particular contacting method chosen. These contacting measures result in a very inexpensive assembly of complex units.
Gemäß einer weiteren sehr vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung ist der Halbleiterchip und der zusätzliche Chip in einem gemeinsamen Gehäuse untergebracht. Die di¬ rekte Kontaktierung der beiden Chips miteinander, die - jeweils einzeln gesehen - noch nicht verpackt sind bzw. ohne Gehäuse miteinander verbunden sind, werden vorzugs- weise in einem gemeinsamen Gehäuse untergebracht. Da die Kosten eines Chips wesentlich durch das Gehäuse und die durch das Gehäuse hindurchgehenden Verbindungsstifte be¬ stimmt sind, kann auf diese Weise ein wesentlich einfa¬ cherer, kostengünstiger Chip mit hoher Packungsdichte und unter Verwendung getrennt gefertigter Chips hergestellt werden. Insbesondere sind insgesamt wesentlich weniger Verbindungen nach außen erforderlich, wodurch nicht nur der Herstellungsaufwand geringer, sondern insbesondere auch die Zuverlässigkeit sowohl während des Fertigungs- Verfahrens als auch bei der Montage des Chips und während seines Einsatzes erhöht wird.According to a further very advantageous embodiment of the invention, the semiconductor chip and the additional one Chip housed in a common housing. The direct contacting of the two chips, which - seen individually - are not yet packaged or are connected to one another without a housing, are preferably accommodated in a common housing. Since the cost of a chip is essentially determined by the housing and the connecting pins passing through the housing, a much simpler, inexpensive chip with a high packing density and using separately manufactured chips can be produced in this way. In particular, significantly fewer connections to the outside are required overall, which not only reduces the manufacturing outlay, but in particular also increases the reliability both during the manufacturing process and during assembly of the chip and during its use.
Gemäß einer sehr vorteilhaften Ausführungsform der Erfin¬ dung ist der Halbleiterchip und der zusätzliche Chip mit unterschiedlichen Fertigungsprozessen gefertigt. Dadurch lassen sich sehr vorteilhafte Chip-Kombinationen auf ein¬ fache Weise und auf kleinstem Raum schaffen. In diesem Zusammenhang ist es vorteilhaft, wenn der Halbleiterchip eine Steuerschaltung mit geringer Leitungsaufnahme und der zusätzliche Chip eine Leistungsschaltung ist, oder umgekehrt. Dadurch ist ein kompaktes Zusammenschalten von Leistungs- und Steuerelektronik möglich, was Vorteile bei der Anwendung derartiger Bauelemente im Automobilbau und für Maschinensteuerungen bietet. Die Steuerschaltung mit geringer Leistungsaufnahme kann dabei vorzugsweise inAccording to a very advantageous embodiment of the invention, the semiconductor chip and the additional chip are manufactured using different manufacturing processes. This allows very advantageous chip combinations to be created in a simple manner and in the smallest space. In this context, it is advantageous if the semiconductor chip is a control circuit with low line consumption and the additional chip is a power circuit, or vice versa. This enables a compact interconnection of power and control electronics, which offers advantages when using such components in automobile construction and for machine controls. The control circuit with low power consumption can preferably be in
CMOS-Technik gefertigt sein, während die Leistungsschal¬ tung bipolar aufgebaut ist. Die Fertigungstechnik kann also für die jeweiligen Einzelchipbereiche optimal ge¬ wählt werden. Normalerweise ist es nicht möglich, unter- schiedliche Chipfertigungstechniken gleichzeitig anzuwen¬ den, da sich die dabei verwendeten Säuren, Lösungsmittel oder sonstige für die Behandlung erforderlichen chemi¬ schen Stoffe nicht vertragen oder sich gar ausschließen.CMOS technology, while the power circuit is bipolar. The manufacturing technology can therefore be optimally selected for the respective individual chip areas. It is normally not possible to use different chip production techniques at the same time, since the acids and solvents used in this process are different or not tolerate or even exclude other chemical substances required for the treatment.
Von besonderem Vorteil ist die vorliegende Erfindung auch dann, wenn der Halbleiterchip ein Sensorchip und der zu¬ sätzliche Chip eine integrierte Auswerteschaltung für den Sensorchip ist. Auf diese Weise kann in einer kompakten, kleinen Baueinheit der Sensor einschließlich Auswerte¬ schaltung untergebracht sein, wobei der Sensor und die Auswerteschaltung jeweils unabhängig mit unterschiedli¬ chen Fertigungsprozessen hergestellt werden können. Be¬ sonders vorteilhaft ist es in diesem Zusammenhang, daß praktisch keine Verbindungsleitungen zwischen Sensor und Auswerteschaltung erforderlich sind, so daß die Gefahr einer Störeinstreuung wesentlich verringert werden kann. Darüber hinaus ist es möglich, sowohl die Auswerteschal¬ tung als auch den Sensor in einem elektromagnetisch dich¬ ten, abgeschlossenen Gehäuse unterzubringen, wodurch die Störempfindlichkeit derartiger Halbleiterchips weiter verringert wird. Dadurch können sehr kleine, empfindliche Sensoren verwendet werden, da das Ausgangssignal der Sen¬ soren insbesondere auch von der Größe der Sensoren ab¬ hängt.The present invention is also particularly advantageous when the semiconductor chip is a sensor chip and the additional chip is an integrated evaluation circuit for the sensor chip. In this way, the sensor, including the evaluation circuit, can be accommodated in a compact, small structural unit, the sensor and the evaluation circuit each being able to be produced independently with different manufacturing processes. In this context, it is particularly advantageous that practically no connecting lines between the sensor and the evaluation circuit are required, so that the risk of interference is significantly reduced. In addition, it is possible to accommodate both the evaluation circuit and the sensor in an electromagnetically sealed, sealed housing, as a result of which the sensitivity to interference of such semiconductor chips is further reduced. As a result, very small, sensitive sensors can be used, since the output signal of the sensors also depends in particular on the size of the sensors.
Im Zusammenhang mit der Anwendung der vorliegenden Erfin¬ dung auf dem Gebiet der Sensorik ist es insbesondere auch möglich, den zusätzlichen Chip, der vorzugsweise als Aus¬ werteschaltung eingesetzt wird, so anzuordnen, daß er als mechanische Begrenzung von bewegten Sensoren, beispiels- weise Beschleunigungssensoren, dient, wie dies nachfol¬ gend an Hand eines Ausführungsbeispiels näher erläutert werden wird.In connection with the application of the present invention in the field of sensor technology, it is in particular also possible to arrange the additional chip, which is preferably used as an evaluation circuit, in such a way that it acts as a mechanical limitation of moving sensors, for example acceleration sensors serves, as will be explained in more detail below using an exemplary embodiment.
Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung weist der Halbleiterchip und/oder der zusätzli¬ che Chip Anschlußflächen etwa in Form von Bonding Pads für die Verbindung nach außen auf. Insgesamt sind jedoch wesentlich weniger Verbindungen bzw. Anschlüsse durch Ge¬ häuse erforderlich, weil sich die Verbindungen zwischen den Chips selbst innerhalb des Gehäuses befinden, wodurch nicht nur die Verpackungskosten geringer, sondern auch die Zuverlässigkeit des Chips höher werden bzw. wird.According to a further advantageous embodiment of the invention, the semiconductor chip and / or the additional chip has connection areas, for example in the form of bonding pads, for the connection to the outside. Overall, however considerably fewer connections or connections through housings are required because the connections between the chips themselves are located inside the housing, as a result of which not only the packaging costs are lower, but also the reliability of the chips is or becomes higher.
Die Erfindung, sowie weitere Merkmale und Vorteile der¬ selben wird bzw. werden nachfolgend an Hand von Ausfüh¬ rungsbeispielen unter Bezugnahme auf die Figuren erläu- tert. Es zeigen:The invention, as well as further features and advantages thereof, will be explained below using exemplary embodiments with reference to the figures. Show it:
Fig. l eine herkömmliche Chipverdrahtung auf einem Kera¬ miksubstrat, Fig. 2 eine herkömmliche Verdrahtung von Chips auf einer Leiterplatte,1 shows a conventional chip wiring on a ceramic substrate, FIG. 2 shows a conventional wiring of chips on a circuit board,
Fig. 3 eine herkömmliche Verdrahtung von Chips mittelsFig. 3 by means of a conventional wiring of chips
Bond-Drähten und Fig. 4 eine Ausführungsform des erfindungsgemäßen Halb¬ leiterchips.Bond wires and FIG. 4 an embodiment of the semiconductor chip according to the invention.
Fig. 1 zeigt eine herkömmliche Verdrahtungsform von ChipsFig. 1 shows a conventional wiring form of chips
1 mit Verbindungen 2, die in oder auf einem Keramiksub¬ strat 3 ausgebildet sind. Bei der Verdrahtung gemäß Fig.1 with connections 2, which are formed in or on a ceramic substrate 3. When wiring according to Fig.
2 sind die in jeweils einem Gehäuse befindlichen Chips 1 über ihre Anschlußpins 4 und Leiterbahnen 5 einer Leiter¬ platte 6 miteinander verdrahtet. Die in Fig. 3 darge¬ stellte Verdrahtung erfolgt mit Bond-Drähten 7, die Anschlußflächen 8 eines Sensorchips 9 mit Anschlußflächen 10 einer Auswerteschaltung 11 verbinden.2, the chips 1, each in a housing, are wired to one another via their connecting pins 4 and conductor tracks 5 of a printed circuit board 6. The wiring shown in FIG. 3 is carried out using bond wires 7, which connect the connection areas 8 of a sensor chip 9 to connection areas 10 of an evaluation circuit 11.
Diese herkömmlichen Montage- bzw. Verdrahtungsarten wei¬ sen den Nachteil auf, daß jeweils Verbindungsleitungen 2, 5 bzw. 7 für die Verdrahtung erforderlich sind, die nicht nur einen hohen Fertigungsaufwand darstellen, sondern zu- sätzlich Anlaß zu Beschädigungen und - im Falle von Sen¬ sorschaltungen - Anlaß zu elektromagnetischen Einstrah¬ lungen bieten, wodurch sowohl die mechanische als auch die funktioneile Zuverlässigkeit der Chipkombination lei¬ det. Auch die erforderliche Fläche für das Kontaktieren oder Bonden der Verbindungsleitungen 2, 5, 7 auf dem Halbleitersubstrat sind relativ groß, so daß dadurch die Halbleiter-Substratfläche für den aktiven Schaltungs¬ oder Sensorbereich nicht voll genutzt werden kann.These conventional types of installation and wiring have the disadvantage that connecting lines 2, 5 and 7 are required for the wiring, which not only represent a high manufacturing outlay, but also cause damage and - in the case of Sen ¬ sensor circuits - give rise to electromagnetic radiation, whereby both the mechanical and the functional reliability of the chip combination suffers. The area required for contacting or bonding the connecting lines 2, 5, 7 on the semiconductor substrate is also relatively large, so that the semiconductor substrate area cannot be fully used for the active circuit or sensor area.
Die in Fig. 4 dargestellte erfindungsgemäße Ausführungs¬ form weist einen Sensorchip 31 mit einem Sensor 32 auf, der im dargestellten Ausführungsbeispiel ein beweglicher Sensor ist. Auf dem Sensorchip 31 ist auf einem freien Bereich eine Auswerteschaltung 33 angeordnet, die über leitende Kontakte mit entsprechenden Anschlußflächen 34 des Sensorchips 31 beispielsweise mittels eines Löt- Vorgangs verbunden ist. Die Anschlußflächen 34 desThe embodiment according to the invention shown in FIG. 4 has a sensor chip 31 with a sensor 32, which in the exemplary embodiment shown is a movable sensor. An evaluation circuit 33 is arranged on the sensor chip 31 in a free area and is connected via conductive contacts to corresponding connection surfaces 34 of the sensor chip 31, for example by means of a soldering process. The pads 34 of the
Sensorchips 31 sind bei diesem Ausführungsbeispiel über integrierte Leiter 36 mit dem Sensor 32 verbunden. Der gesamte Sensorchip mit dem darauf aufgebrachten, als Auswerteschaltung dienenden zusätzlichen Chip 33 ist in einem Gehäuse 37 untergebracht, welches als Rahmen angedeutet ist. Der Sensorchip 31 bzw. die Auswerte¬ schaltung 33 ist nach außen, also durch den Gehäuseboden des Gehäuses 37 hindurch mit Pins 38 über Bond-Verbin¬ dungen 35 verbunden.In this exemplary embodiment, sensor chips 31 are connected to sensor 32 via integrated conductors 36. The entire sensor chip with the additional chip 33 applied thereon, which serves as an evaluation circuit, is accommodated in a housing 37, which is indicated as a frame. The sensor chip 31 or the evaluation circuit 33 is connected to the outside, that is to say through the housing base of the housing 37, with pins 38 via bond connections 35.
Zwischen dem Sensorchip 31 und dem zusätzlichen Chip 33 sind keine Drähte erforderlich. Vielmehr ergibt sich eine direkte Kontaktierung der beiden Chips innerhalb eines gemeinsamen Gehäuses.No wires are required between the sensor chip 31 and the additional chip 33. Rather, the two chips are directly contacted within a common housing.
Bei dem in Fig. 4 dargestellten Ausführungsbeispiel ist über dem Beschleunigungssensor 32 ein mechanisches Be¬ grenzungselement 39 beispielsweise aus Silicium, vorgese¬ hen, das die Ausschläge des Beschleunigungssensor be- grenzt. Das Begrenzungselement 39 kann in einem Arbeits¬ gang zusammesn mit dem zusätzlichen Chip 33 auf dem Sen¬ sorchip aufgelötet werden. Die Erfindung wurde zuvor an Hand eines bevorzugten Aus¬ führungsbeispiels erläutert. Dem Fachmann sind jedoch zahlreiche Abwandlungen und Ausgestaltungen möglich, ohne daß dadurch der Erfindungsgedanke verlassen wird. Insbe¬ sondere kann der zusätzliche Chip 33 auch über dem akti¬ ven Bereich eines Halbleiterchips 31, beispielsweise ei¬ nes Sensorchips, angeordnet werden, wodurch sich die Halbleiterfläche des Halbleiterchips weiter verkleinern läßt. Auch ist es möglich, dem Halbleiterchip 31 mehrere aktive Bereiche, d. h. mehrere Sensoren 32 und/oder inte¬ grierte Schaltungen vorzusehen. Darüber hinaus können auch mehr als ein zusätzlicher Chip 33 auf dem Halblei¬ terchip 31 angebracht werden, wenn dies gewünscht bzw. erforderlich ist. In the exemplary embodiment shown in FIG. 4, a mechanical limiting element 39, for example made of silicon, is provided above the acceleration sensor 32 and limits the deflections of the acceleration sensor. The limiting element 39 can be soldered together with the additional chip 33 on the sensor chip in one operation. The invention was previously explained with reference to a preferred exemplary embodiment. However, numerous modifications and refinements are possible for the person skilled in the art without departing from the inventive idea. In particular, the additional chip 33 can also be arranged over the active region of a semiconductor chip 31, for example a sensor chip, as a result of which the semiconductor area of the semiconductor chip can be further reduced. It is also possible to provide the semiconductor chip 31 with a number of active areas, ie a number of sensors 32 and / or integrated circuits. In addition, more than one additional chip 33 can also be attached to the semiconductor chip 31 if this is desired or required.

Claims

Patentansprüche Claims
1. Halbleiterchip, auf dem wenigstens ein zusätzlicher Chip angeordnet ist, g e k e n n z e i c h n e t durch einen aktiven Bereich, der als Bewegungssensor ausgebildet ist.1. Semiconductor chip, on which at least one additional chip is arranged, passes through an active region which is designed as a motion sensor.
2. Halbleiterchip nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich¬ net, daß der zusätzliche Chip (33) wenigstens teil- weise auf einem freien Bereich des Halbleiterchips (31) angeordnet ist.2. A semiconductor chip according to claim 1, characterized in that the additional chip (33) is arranged at least partially on a free area of the semiconductor chip (31).
3. Halbleiterchip nach Anspruch 1 oder 2, dadurch ge¬ kennzeichnet, daß der zusätzliche Chip (33) wenig- stens teilweise über dem aktiven Bereich (32) des Halbleiterchips (31) angeordnet ist.3. Semiconductor chip according to claim 1 or 2, characterized ge indicates that the additional chip (33) is at least partially arranged over the active region (32) of the semiconductor chip (31).
4. Halbleiterchip nach einem der vorhergehenden Ansprü¬ che, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrischen Verbindungen zwischen dem zusätzlichen Chip (33) und dem Halbleiterchip (31) durch direkte Kontaktierung der Anschlüsse (34) miteinander erfolgt.4. Semiconductor chip according to one of the preceding Ansprü¬ che, characterized in that the electrical connections between the additional chip (33) and the semiconductor chip (31) by direct contacting of the connections (34) with each other.
5. Halbleiterchip nach einem der vorhergehenden Ansprü- ehe, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontaktierung der Anschlüsse des zusätzlichen Chips (33) mit denen (34) des Halbleiterchips (31) mittels eines Lötvor¬ gangs erfolgt.5. Semiconductor chip according to one of the preceding claims, characterized in that the contacting of the connections of the additional chip (33) with those (34) of the semiconductor chip (31) takes place by means of a soldering operation.
6. Halbleiterchip nach einem der Ansprüche l bis 4, da¬ durch gekennzeichnet, daß die Kontaktierung der An¬ schlüsse des zusätzlichen Chips (33) mit denen (34) des Halbleiterchips (31) mittels eines Bonding-Ver¬ fahrens erfolgt.6. Semiconductor chip according to one of claims 1 to 4, characterized in that the contacting of the connections of the additional chip (33) with those (34) of the semiconductor chip (31) takes place by means of a bonding method.
Halbleiterchip nach einem der Ansprüche 1 bis 4, da¬ durch gekennzeichnet, daß die Kontaktierung der An- Schlüsse des zusätzlichen Chips (33) mit denen (34) des Halbleiterchips (31) mittels der Flip-Chip-Tech¬ nik erfolgt.Semiconductor chip according to one of Claims 1 to 4, characterized in that the contacting of the The additional chip (33) is connected to those (34) of the semiconductor chip (31) by means of the flip-chip technology.
8. Halbleiterchip nach einem der vorhergehenden Ansprü¬ che, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterchip (31) und der zusätzliche Chip (33) in einem gemein¬ samen Gehäuse (37) untergebracht ist.8. Semiconductor chip according to one of the preceding claims, characterized in that the semiconductor chip (31) and the additional chip (33) are accommodated in a common housing (37).
9. Halbleiterchip nach einem der vorhergehenden Ansprü¬ che, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterchip (31) und der zusätzliche Chip (33) mit unterschied¬ lichen Fertigungsprozessen hergestellt ist.9. Semiconductor chip according to one of the preceding claims, characterized in that the semiconductor chip (31) and the additional chip (33) are produced with different manufacturing processes.
10. Halbleiterchip nach einem der vorhergehenden Ansprü¬ che, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterchip (31) ein Sensorchip und der zusätzliche Chip (33) eine integrierte Auswerteschaltung für den Sensor¬ chip (31) ist.10. Semiconductor chip according to one of the preceding claims, characterized in that the semiconductor chip (31) is a sensor chip and the additional chip (33) is an integrated evaluation circuit for the sensor chip (31).
11. Halbleiterchip nach Anspruch 10, dadurch gekennzeich¬ net, daß der zusätzliche Chip (33) als mechanisches Begrenzungselement (39) für den Bewegungssensor (32) vorgesehen ist.11. A semiconductor chip according to claim 10, characterized in that the additional chip (33) is provided as a mechanical limiting element (39) for the motion sensor (32).
12. Halbleiterchip nach einem der vorhergehenden Ansprü¬ che, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterchip (32) und/oder der zusätzliche Chip (33) Anschlußflä¬ chen (35) für Anschlüsse nach außen aufweist. 12. Semiconductor chip according to one of the preceding claims, characterized in that the semiconductor chip (32) and / or the additional chip (33) has connecting surfaces (35) for connections to the outside.
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