Полтавський Державний Технічний Університет Ім. Ю. Кондратюка
Полтавский Государственный Технический Университет Им. Ю. Кондратюка
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Полтавський Державний Технічний Університет Ім. Ю. Кондратюка, Полтавский Государственный Технический Университет Им. Ю. КондратюкаfiledCriticalПолтавський Державний Технічний Університет Ім. Ю. Кондратюка
Priority to UA95010154ApriorityCriticalpatent/UA23087C2/en
Publication of UA23087C2publicationCriticalpatent/UA23087C2/en
Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means
(AREA)
Abstract
The invention relates to the field of microscopy and can be used for indestructible analysis of electric conductor and semiconductor potential pattern, and study of phenomena to be followed by this potential pattern.
UA95010154A1995-01-101995-01-10Diode microscope for indestructible analysis
UA23087C2
(en)