TWM628080U

TWM628080U - 具備檢測功能的電子裝置

Info

Publication number: TWM628080U
Application number: TW110215190U
Authority: TW
Inventors: 吳家丞
Original assignee: 華碩電腦股份有限公司
Priority date: 2021-12-21
Filing date: 2021-12-21
Publication date: 2022-06-11

Abstract

本案提供一具備檢測功能的電子裝置，適於對一檢測樣品進行檢測。本案電子裝置包括殼體、容置槽、處理器、導熱模組、控制模組、光源模組以及影像擷取模組。殼體具有開口。容置槽對應於開口設置以置放檢測樣品。導熱模組包括一導熱基板。導熱基板位於容置槽下方。控制模組透過控制處理器的負載而控制產生之熱能，進而調整導熱基板與容置槽的溫度，使檢測樣品產生對應反應。光源模組發射一光線照射至檢測樣品，以產生一反射光線，影像擷取模組接收反射光線以產生一檢測影像；處理器接收檢測影像，並分析檢測影像以得到一檢測結果。

Description

具備檢測功能的電子裝置

本新型創作是有關於一種電子裝置，且特別是有關於一種具備檢測功能的電子裝置。

目前核酸檢測的設備(如，聚合酶鏈式反應(polymerase chain reaction；PCR)儀器或是等溫核酸擴增(isothermal oligonucleotide amplification)儀器)皆是透過精密儀器進行溫度的升降控制、螢光檢測等操作以量測所需訊號，再將其量測結果匯入電腦進行分析。然，由於精密儀器的價格昂貴，且需要配合多重的程序以及電腦的運算才能實現完整地進行核酸檢測來分析量測結果，所花費的時間較長也較複雜。

本案提供一種具備檢測功能的電子裝置，適於對一檢測樣品進行檢測。本案電子裝置包括殼體、容置槽、處理器、導熱模組、控制模組、光源模組以及影像擷取模組。殼體具有開口。容置槽對應於開口設置。容置槽置放檢測樣品。處理器位於殼體內，產生一熱能。導熱模組包括一導熱基板。導熱基板位於容置槽下方。控制模組位於殼體內，並耦接於處理器及導熱模組。控制模組控制處理器的負載而使處理器所產生之熱能量不同，進而透過熱能調整導熱基板的溫度。

光源模組位於殼體內且鄰近於容置槽，並耦接於處理器，光源模組用以發射一光線照射至檢測樣品，以產生一反射光線。影像擷取模組位於殼體內且鄰近於容置槽，並耦接於處理器，影像擷取模組接收反射光線，以產生一檢測影像。處理器接收檢測影像，並分析檢測影像，以得到一檢測結果。

基於上述，本案所提出之具備檢測功能的電子裝置利用處理器產生的熱能及導熱模組來調整容置槽的溫度，進一步使樣品內因為溫度變化而核酸產生聚合酶鏈式反應。本案之揭露將精密檢測儀器的功能整合到電子裝置當中，而達到簡單且便利的效果。

100:電子裝置

102:殼體

104:開口

106:蓋體

108:蓋體連接件

110:處理器

120:導熱模組

121:容置槽

122:導熱基板

126:散熱器

130:控制模組

135:溫度感測器

140:光源模組

142:光線

144:反射光線

150:影像擷取模組

160:檢測基板

170:檢測樣品

180:第一光線濾波器

190:第二光線濾波器

305:主機板

310:風道路徑

圖1是依照本案一實施例的一種具備檢測功能的電子裝置的示意圖。

圖2是依照本案一實施例的具備檢測功能的電子裝置、導熱基板以及蓋體的示意圖。

圖3是將圖2的殼體翻轉後的示意圖。

請參考圖1，本案具備檢測功能的電子裝置100可以是筆記型電腦、平板裝置或桌上型電腦。本案具備檢測功能的電子裝置100主要包括殼體102、容置槽121、處理器110、包含導熱基板122的導熱模組120、控制模組130、光源模組140以及影像擷取模組150。殼體102具有一開口104，且容置槽121對應於此開口104設置。

容置槽121用以置放檢測樣品170，而檢測樣品170由檢測基板160所承載。本案的導熱基板122設置在容置槽121的下方。一實施例中，容置槽121的尺寸對應於檢測基板160的尺寸。

控制模組130位於殼體102內，並耦接於處理器110及導熱模組120。控制模組130控制處理器110的負載而使處理器110所產生的熱能量不同，進而透過此熱能調整導熱基板122的溫度。光源模組140位於殼體102內且鄰近於容置槽121，並耦接於處理器110。

一實施例中，本案的光源模組140為發光二極體(LED)。光源模組140耦接於處理器110，用以發射光線142照射至檢測樣品170，以產生反射光線144。影像擷取模組150位於殼體102內且鄰近於容置槽121，並耦接於處理器110。影像擷取模組150接收反射光線144，以產生檢測影像。處理器110接收前述檢測影像，並分析此檢測影像，以得到對於檢測樣品170的檢測結果。

一實施例中，本案的影像擷取模組150是攝影機。

一實施例中，請參考圖3，導熱模組120還包括導熱管124以及散熱器126。散熱器126鄰近於導熱基板122，例如位於導熱基板122的下方，用於降低導熱基板122的溫度。一實施例中，散熱器126為一風扇、一鰭片或水冷結構，本案不以此為限。

導熱管124耦接於散熱器126、導熱基板122以及處理器110。請參考圖1，導熱管124係用以將處理器110的熱能導引到導熱基板122。散熱器126則是透過導熱管124對處理器110進行散熱。

請參考圖1，電子裝置100還包括溫度感測器135，控制模組130透過溫度感測器135偵測導熱基板122的當前溫度，並藉由控制處理器110的負載使處理器110所產生之熱能的量改變，從而調整導熱基板122的溫度。當需要提高導熱基板122的溫度時，控制模組130控制處理器110的負載而提升處理器110所產生之熱能的量，從而提高導熱基板122的溫度。

舉例來說，控制模組130提升處理器110的負載而獲得熱能。也就是，控制模組130將處理器110的負載從30%提升到70%，進而提升處理器110所產生之熱能的量，並且導熱管124將這些熱能從處理器110導引至導熱基板122，以透過處理器110產生的熱能提高導熱基板122的溫度。

當需要降低導熱基板122的溫度時，控制模組130除了降低處理器110的負載而降低處理器110所產生之熱能的量以外，還控制散熱器126提高散熱效率，使得導熱基板122透過鄰近的散熱器126實現迅速散熱，從而迅速地將導熱基板122維持在處理器110設定的溫度。

當需要固定導熱基板122的溫度時，控制模組130透過固定處理器110的負載以及控制散熱器126的散熱效率，而維持導熱基板122的當前溫度。

一實施例中，電子裝置100還包括蓋體106、蓋體連接件108、第一光線濾波器180以及第二光線濾波器190。

蓋體106係透過蓋體連接件108可移動地覆蓋於開口104。一實施例中，蓋體連接件108是滑軌元件或磁吸元件，本案不以此為限。

容置槽121係用以容納承載檢測樣品170的檢測基板160，並可確保艙內溫度的恆定性。一實施例中，由蓋體106與容置槽121形成的槽體內側具備隔熱材料，以避免槽體內的溫度受到外界影響。

請參考圖1，第一光線濾波器180係用以過濾光源模組140所發出的光線142，使得照射到檢測樣品170的所有光線142皆為相同波段。第二光線濾波器190係用以過濾經由照射檢測樣品170而反射出的反射光線144，使得前述所有反射光線144皆為相同波段。一實施例中，於此光路徑中可依據需求而另外設置反射鏡、雙色鏡、多元鏡等等，以適用於各種空間配置，本案不以此為限。

一實施例中，本案之處理器110透過一應用軟體提供控制模組130一指令，控制模組130根據此指令來控制處理器110的負載以及散熱器126的散熱效率。

以核酸檢測為例，處理器110透過應用軟體設定聚合酶鏈式反應(Polymerase chain reaction,PCR)所需的三個階段(亦即，變性(denature)階段、退火(annealing)階段與延展(extension)階段)的溫度。

承上實施例，在變性階段時，控制模組130提高處理器110的負載，讓導熱基板122上方的容置槽121維持高溫狀態。在退火階段時，控制模組130降低處理器110的負載，並加強散熱器126的散熱效率，讓導熱基板122上方的容置槽121維持在退火所需的低溫狀態。在延展階段時，控制模組130維持處理器110於固定的負載，以讓導熱基板122上方的容置槽121維持在一恆定的溫度狀態。前述三種階段所需要的時間長短、溫度設定皆可根據檢測樣品所需之條件，於處理器110所運行的應用軟體中設定，並由溫度感測器135隨時偵測並回饋當前槽體內的溫度。

本案除了應用於上述核酸檢測，亦可應用於其他需要透過溫度控制的檢測項目，例如熱泳檢測或是成色法檢測的加速等。

請參考圖3，一實施例中，電子裝置100具有一主機板305，主機板305配合導熱模組120中的導熱管124以及散熱器126形成一風道路徑310，容置槽121的位置係對應此風道路徑310設置。透過此架構，本案的導熱模組120亦可對主機板305進行散熱。