TWI792113B - 供流動池使用的致動系統和方法 - Google Patents

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Abstract

用於供流動池使用的致動系統及方法。示例裝置包括流動池組件，流動池組件包括流動池，流動池包括至少一個通道、流動池入口及流動池出口。流動池組件包括墊圈組件，墊圈組件在操作上流體地耦合到流動池並且具有流動池入口墊圈及流動池出口墊圈。流動池入口墊圈具有通孔，並流體地耦合到流動池入口。流動池出口墊圈具有通孔，並流體地耦合到流動池出口。該裝置包括試劑筒，試劑筒適合於接納流動池組件，並包括適合於流體地耦合到流動池入口墊圈與流動池出口墊圈的一對試劑筒端口。

Description

供流動池使用的致動系統和方法
本發明係關於用於供流動池使用的致動系統及方法。
相關申請的交叉引用：本申請要求於2019年12月10日提交的美國臨時申請號62/946,361的優先權，該臨時申請的內容通過引用被全部併入本文並用於所有目的。
承載試劑的射流筒及流動池有時與射流系統結合來使用。射流筒可以流體地耦合到流動池。射流筒包括射流管線，試劑通過射流管線流到流動池。
根據第一實施方式，一種方法包括或包含朝著試劑筒的試劑筒柱塞組件線性地移動升降板及由升降板承載的系統柱塞組件。系統柱塞組件包括或包含至少一個系統柱塞。試劑筒柱塞組件包括或包含至少一個試劑筒柱塞。該方法包括響應於至少一個系統柱塞接觸至少一個試劑筒柱塞而致動至少一個試劑筒柱塞第一預定距離以接觸流動池組件的墊圈組件。流動池組件包括或包含流動池，流動池包括至少一個通道、流動池入口及流動池出口。第一射流聯接器流體地耦合到流動池入口且第二射流聯接器流體地耦合到流動池出口。墊圈組 件流體地耦合到第一射流聯接器與第二射流聯接器，並且包括或具有入口墊圈與出口墊圈，入口墊圈包括或具有通孔並且通過第一射流聯接器流體地耦合到流動池入口，出口墊圈包括或具有通孔並且通過第二射流聯接器耦合到流動池出口。該方法包括或包含響應於至少一個系統柱塞致動至少一個試劑筒柱塞第二預定距離來將入口墊圈流體地耦合到試劑筒的第一試劑筒端口並將出口墊圈流體地耦合到試劑筒的第二試劑筒端口，以允許經由流動池入口與流動池出口在試劑筒端口與流動池之間的流體連通。
根據第二實施方式，一種裝置包括或包含系統，系統包括或包含：試劑筒插座(receptacle)及升降板組件，升降板組件包括或包含升降板、由升降板承載並包括或包含多個系統柱塞的系統柱塞組件、以及在操作上耦合到升降板的升降板驅動組件。該裝置包括或包含流動池組件，流動池組件包括或包含流動池，該流動池包括或包含至少一個通道、流動池入口及流動池出口。流動池組件包括或包含流體地耦合到流動池入口與流動池出口中的每一者的射流聯接器以及流體地耦合到射流聯接器並具有流動池入口墊圈及流動池出口墊圈的墊圈組件。流動池入口墊圈包括或具有通孔，並通過射流聯接器流體地耦合到流動池入口。流動池出口墊圈包括或具有通孔，並且通過射流聯接器流體地耦合到流動池出口。該裝置包括或包含可接納在試劑筒插座內的試劑筒。試劑筒包括或包含具有多個試劑筒柱塞的試劑筒柱塞組件。每個試劑筒柱塞適合於在試劑筒被接納在試劑筒插座中時與系統柱塞組件的相對應的系統柱塞及流動池組件的相對應的流動池墊圈對準。試劑筒包括適合於流體地耦合到流動池入口墊圈與流動池出口墊圈的一對試劑筒端口。
根據第三實施方式，一種裝置包括或包含流動池組件，流動池組件包括或包含流動池，流動池包括或包含至少一個通道、流動池入口及流動池出口。流動池組件包括或包含墊圈組件，墊圈組件在操作上流體地耦合到流動池並 且包括或具有流動池入口墊圈及流動池出口墊圈。流動池入口墊圈包括或具有通孔，並流體地耦合到流動池入口。流動池出口墊圈包括或具有通孔，並流體地耦合到流動池出口。該裝置包括或包含試劑筒，試劑筒適合於接納流動池組件，並包括適合於流體地耦合到流動池入口墊圈與流動池出口墊圈的一對試劑筒端口。
根據第四實施方式，一種方法包括或包含朝著試劑筒的試劑筒柱塞組件線性地移動升降板及由升降板承載的系統柱塞組件。系統柱塞組件包括或包含多個系統柱塞。試劑筒柱塞組件包括或包含多個試劑筒柱塞。該方法包括或包含使試劑筒柱塞與系統柱塞接合。該方法包括或包含基於在試劑筒柱塞與系統柱塞之間的接合以及升降板與系統柱塞組件的移動來朝著流動池組件的墊圈組件移動試劑筒柱塞。流動池組件包括或包含流動池，流動池包括至少一個通道、流動池入口及流動池出口。射流聯接器耦合到流動池入口與流動池出口中的每一者。墊圈組件耦合到射流聯接器，並且包括或包含多個流動池墊圈。流動池墊圈中的一個包括或包含通孔，並通過射流聯接器耦合到流動池入口。流動池墊圈中的另一個包括通孔，並通過射流聯接器耦合到流動池出口。該方法包括或包含使試劑筒柱塞與流動池墊圈接合。該方法包括或包含基於升降板與系統柱塞組件的接合及移動來朝著試劑筒的一對試劑筒端口移動具有通孔的流動池墊圈。該方法包括或包含使流動池墊圈與試劑筒端口接合以允許經由流動池入口與流動池出口在該一對試劑筒端口與流動池之間的流體連通。
根據第五實施方式，一種裝置包括或包含系統、流動池組件及試劑筒。系統包括或包含試劑筒插座；升降板組件，該升降板組件包括升降板、由升降板承載並包括多個系統柱塞的系統柱塞組件、以及在操作上耦合到升降板的升降板驅動組件。流動池組件包括或包含流動池，流動池包括或包含至少一個通道、流動池入口及流動池出口。流動池組件包括或包含耦合到流動池入口及流 動池出口中的每一者的射流聯接器。流動池組件包括或包含墊圈組件，該墊圈組件耦合到射流聯接器並且包括或包含多個流動池墊圈。流動池墊圈中的一個包括或包含通孔，並通過射流聯接器耦合到流動池入口。流動池墊圈中的另一個包括或包含通孔，並通過射流聯接器耦合到流動池出口。試劑筒可接納在試劑筒插座內。試劑筒包括或包含適合於接納流動池組件的流動池插座。試劑筒包括或包含試劑筒柱塞組件，試劑筒柱塞組件包括或包含多個試劑筒柱塞。每個試劑筒柱塞被定位成當試劑筒被接納在試劑筒插座內並且流動池被接納在流動池插座內時對應於系統柱塞組件的相對應的系統柱塞與流動池組件的相對應的流動池墊圈。試劑筒包括或包含適合於流體地耦合到具有通孔的流動池墊圈的一對試劑筒端口。
根據第六實施方式，一種裝置包括或包含流動池組件及試劑筒。流動池組件包括或包含流動池，流動池包括至少一個通道、流動池入口及流動池出口。流動池組件包括或包含耦合到流動池入口及流動池出口中的每一者的射流聯接器。流動池組件包括或包含墊圈組件，該墊圈組件耦合到射流聯接器並且包括或包含多個流動池墊圈。流動池墊圈中的一個包括或包含通孔，並通過射流聯接器耦合到流動池入口。流動池墊圈中的另一個包括或包含通孔，並通過射流聯接器耦合到流動池出口。試劑筒可接納在試劑筒插座內。試劑筒包括或包含適合於接納流動池組件的流動池插座。試劑筒包括或包含試劑筒柱塞組件，試劑筒柱塞組件包括或包含多個試劑筒柱塞。每個試劑筒柱塞適合於當流動池被接納在流動池插座中時與流動池組件的相對應的流動池墊圈對準。試劑筒包括或包含適合於流體地耦合到具有通孔的流動池墊圈的一對試劑筒端口。
進一步根據前述第一、第二、第三、第四、第五及/或第六實施方式，裝置及/或方法還可以包括或包含下列項中的任一個或更多個：在一種實施方式中，流動池組件的第一射流聯接器及第二射流聯 接器均為柔性射流聯接器，使得當入口墊圈流體地耦合到試劑筒的第一試劑筒端口並且出口墊圈流體地耦合到試劑筒的第二試劑筒端口時，流動池相對於墊圈組件是以下列方式中的至少一個可移動的：垂直地、縱向地或橫向地。
在另一實施方式中，該方法包括或包含在與升降板的移動方向相反的方向上並抵抗彈簧力移動系統柱塞。
在另一實施方式中，升降板在試劑筒主體上施加第一壓縮力，同時彈簧力與系統柱塞在入口墊圈及出口墊圈上施加不同的第二壓縮力。
在另一實施方式中，第一射流聯接器與第二射流聯接器被組合。
在另一實施方式中，射流聯接器包括或包含第一射流聯接器及第二射流聯接器。
在另一實施方式中，升降板驅動組件適合於線性移動升降板與系統柱塞，並使系統柱塞接合試劑筒柱塞並將試劑筒柱塞移動成與墊圈組件接合，以允許經由流動池入口及流動池出口在該一對試劑筒端口與流動池之間的流體連通。
在另一實施方式中，系統柱塞包括或包含一對系統柱塞，以及試劑筒柱塞包括或包含一對試劑筒柱塞。
在另一實施方式中，流動池組件還包括或包含校平器(leveler)墊圈。
在另一實施方式中，系統柱塞包括或包含校平器系統柱塞。試劑筒柱塞還包括或包含校平器試劑筒柱塞，並且試劑筒包括或包含試劑筒接合表面。
在另一實施方式中，升降板驅動組件適合於線性地移動升降板及校平器系統柱塞，以接合校平器試劑筒柱塞並將校平器試劑筒柱塞移動成與墊圈組件接合以允許在校平器墊圈與試劑筒接合表面之間的接合。
在另一實施方式中，校平器墊圈、流動池入口墊圈及流動池出口墊圈以三角形圖案佈置。
在另一實施方式中，流動池組件包括或具有承載流動池、射流聯接器及墊圈組件的流動池殼體。
在另一實施方式中，流動池殼體包括或具有尺寸包絡(dimensional envelope)，以及墊圈組件被設置在流動池殼體的尺寸包絡內。
在另一實施方式中，流動池殼體包括或包含對應於每個流動池墊圈的開口。
在另一實施方式中，開口被佈置成在試劑筒柱塞將墊圈組件移動預定距離之後允許流動池墊圈從流動池殼體的尺寸包絡突出。
在另一實施方式中，流動池墊圈包括或具有平坦表面，並且試劑筒包括或包含面向試劑筒的流動池插座的試劑筒接合表面。
在另一實施方式中，流動池墊圈的平坦表面被佈置成接合試劑筒接合表面以將該一對試劑筒端口與流動池流體地耦合。
在另一實施方式中，試劑筒包括或包含面向試劑筒的流動池插座的對準插座，並且墊圈組件包括或具有適合於由對準插座接納的對準突出部。
在另一實施方式中，墊圈組件包括或具有多個接合突出部，該多個接合突出部包括或包含相對應的柱塞插座。每個柱塞插座適合於被相對應的試劑筒柱塞的遠端接合或包圍。
在另一實施方式中，升降板包括或包含柱塞孔，並且每個系統柱塞是可滑動地被設置在相對應的柱塞孔內的。
在另一實施方式中，彈簧被設置在每個柱塞孔中。
在另一實施方式中，彈簧作用在系統柱塞上以推動系統柱塞的遠端與相對應的試劑筒柱塞接合。
在另一實施方式中，該裝置包括或包含由系統柱塞承載的密封件。
在另一實施方式中，試劑筒包括或包含適合於接納流動池組件的流動池插座。
在另一實施方式中，柔性射流聯接器耦合流動池入口及流動池入口墊圈，並耦合流動池出口與流動池出口墊圈。
在另一實施方式中，試劑筒柱塞組件包括或具有多個試劑筒柱塞。每個試劑筒柱塞適合於與流動池組件的相對應的流動池墊圈對準。
在另一實施方式中，流動池組件還包括或包含校平器墊圈，並且試劑筒包括或包含適合於由校平器墊圈接合的試劑筒接合表面。
在另一實施方式中，流動池入口墊圈、流動池出口墊圈及校平器墊圈以三角形圖案佈置。
應當認識到，前述概念與下面更詳細討論的另外的概念的所有組合(假設這樣的概念不相互矛盾)被設想為本文公開的主題的一部分，及/或可以被組合以實現特定方面的特定益處。特別是，在本公開的結尾處出現的所主張的主題的所有組合被設想為本文公開的主題的一部分。
100:系統
101:試劑筒插座
102:試劑筒
103:流動池組件
104:升降板組件
106:驅動組件
108:控制器
110:成像系統
112:廢物儲器
113:廢物儲器插座
114:升降板
116:系統柱塞組件
118:升降板驅動組件
119:密封件
120:系統柱塞
121:系統柱塞
122:流動池
124:射流聯接器
125:射流聯接器
126:墊圈組件
128:通道
130:流動池入口
132:流動池出口
134:流動池墊圈
136:流動池墊圈
138:通孔
140:試劑筒端口
142:射流接口
144:試劑筒接合表面
146:流動池插座
148:試劑筒柱塞組件
150:試劑筒柱塞
151:試劑筒柱塞
153:偏置板
154:加熱器
155:試劑儲器
156:試劑筒主體
158:閥
160:射流管線
162:泵驅動組件
164:閥驅動組件
166:泵
168:用戶接口
170:通信接口
172:處理器
174:存儲器
176:流動池殼體
178:頂部殼體表面
180:底部殼體表面
182:側殼體表面
184:開口
186:開口
188:平坦表面
190:對準突出部
191:對準插座
192:墊圈表面
194:加熱器開口
195:接合突出部
196:下表面
198:柱塞插座
200:遠端
204:偏置板通孔
206:彈簧
207:柱塞孔
208:彈簧
210:遠端
211:底部表面
212:試劑筒孔
214:插座
216:柱塞孔
218:突出部
220:遠端
222:座部
224:座部
226:端口座部
228:較大寬度部分
230:較小寬度部分
232:柱塞階梯部
233:基座
234:頂部表面
236:內部試劑筒插座表面
238:箭頭
240:阻擋件
241:承載板
242:入口
243:偏置板座部
246:偏置板表面
248:柱塞槽
250:通孔
252:凸緣
254:阻擋件
256:唇緣
300:過程
302:方框
304:方框
306:方框
308:方框
400:過程
402:方框
404:方框
406:方框
[圖1A]示出了根據本公開的第一示例的系統的實施方式的示意圖。
[圖1B]示出了圖1A的系統的另一示例實施方式的示意圖。
[圖1C]示出了圖1A的系統的流動池組件與試劑筒的另一示例實施方式的示意圖。
[圖2]是圖1A的流動池組件的示例實施方式的等距頂視圖。
[圖3]是圖2所示的流動池組件的等距底視圖。
[圖4]是圖2的流動池、射流聯接器與墊圈組件的等距頂視圖。
[圖5]是圖2的流動池、射流聯接器與墊圈組件的等距底視圖。
[圖6]是圖1A的升降板組件與試劑筒的示例實施方式的等距頂視圖。
[圖7]是圖6中的包括偏置板的示例實施方式的升降板組件的等距頂視圖。
[圖8]是圖6中的在偏置板被移除的情況下的升降板組件的等距頂視圖。
[圖9]為圖6的試劑筒的等距底視圖。
[圖10]是試劑筒的等距放大剖視圖，其示出了圖6的試劑筒柱塞組件。
[圖11]是試劑筒的等距放大剖視圖，其示出了圖6的試劑筒接合表面、試劑筒端口與對準插座。
[圖12]是在升降板組件在下降位置上以及試劑筒被接納在試劑筒插座內的情況下的圖6的試劑筒、流動池組件與升降板組件的剖視圖。
[圖13]是圖6的試劑筒、流動池組件與升降板組件的另一剖視圖，其示出了在升降板驅動組件朝著試劑筒移動系統柱塞組件與偏置板之後偏置板與試劑筒的底部表面接合。
[圖14]是圖6的試劑筒、流動池組件與升降板組件的另一剖視圖，其示出了在升降板驅動組件在大體上由箭頭指示的方向上將系統柱塞組件與試劑筒移動得更遠之後試劑筒的頂部表面與系統的內部試劑筒插座表面接合及/或相鄰。
[圖15]是圖6的試劑筒、流動池組件與升降板組件的另一剖視圖， 其示出了被定位成相鄰於流動池的加熱器及與在柱塞孔內提供的阻擋件接合的系統柱塞的柱塞階梯部(plunger step)。
[圖16]是圖6的試劑筒、流動池組件與升降板組件的另一剖視圖，其示出了在升降板組件在大體上由箭頭指示的方向上將升降板移動得更遠之後系統柱塞的遠端接合相對應的試劑筒柱塞。
[圖17]是圖6的試劑筒、流動池組件與升降板組件的另一剖視圖，其示出了試劑筒柱塞推動流動池墊圈與相對應的試劑筒端口接合。
[圖18]是圖6的升降板組件與系統柱塞中的一個系統柱塞的另一實施方式的放大等距剖視圖。
[圖19]是圖6的試劑筒與流動池組件的放大等距剖視圖，其示出了試劑筒柱塞在延伸位置上並推動流動池墊圈與相對應的試劑筒端口接合。
[圖20]示出了用於執行將圖1A或本文公開的任何其他實施方式中的墊圈組件與試劑筒流體地耦合的方法的流程圖。
[圖21]示出了用於執行將圖1A或本文公開的任何其他實施方式中的墊圈組件與試劑筒流體地耦合的方法的另一流程圖。
儘管以下文字公開了方法、裝置及/或製造物品的實施方式的詳細描述，但是應當理解，產權的法律範圍由在本專利申請中闡述的請求項的詞句限定。因此，下面的詳細描述僅被解釋為示例，且並非描述了每個可能的實施方式，因為，即使並非不可能，描述每個可能的實施方式將是不實際的。可以使用當前技術或在本專利的申請日之後開發的技術來實現許多可選的實施方式。預想這樣的可選示例仍將落在請求項的範圍內。
本文公開的實施方式針對具有射流聯接器的流動池筒。射流聯接 器可移動成經由系統(測序系統)的升降板組件與試劑筒的相對應的試劑筒端口流體連通。在一個實施方式中，升降板組件包括承載系統柱塞組件的升降板，系統柱塞組件包括至少一個系統柱塞。試劑筒包括試劑筒柱塞組件，試劑筒柱塞組件包括至少一個試劑筒柱塞。試劑筒柱塞適合於與相對應的系統柱塞及流動池組件的相對應的流動池墊圈對準。
當系統的升降板經由驅動組件朝著試劑筒線性地移動時，系統柱塞接合並移動試劑筒柱塞，並允許試劑筒柱塞移動包括流動池墊圈的墊圈組件。流動池墊圈例如經由柔性射流聯接器被耦合到流動池。移動流動池墊圈允許例如經由柔性射流聯接器在一對試劑筒端口與流動池之間的流體連通。彈簧可以使系統柱塞偏置。彈簧可適合於防止系統柱塞將流動池墊圈壓縮超過閾值量。
圖1A是根據本公開的第一示例的系統100的實施方式的示意圖。系統100可用於對一個或更多個感興趣的樣本執行分析。樣本可以包括被線性化以形成單鏈DNA(sstDNA)的一個或更多個DNA簇。在所示的實施方式中，系統100包括適合於接納試劑筒102的試劑筒插座101。試劑筒102承載流動池組件103。
在所示的實施方式中，系統100部分地包括升降板組件104、驅動組件106、控制器108、成像系統110及廢物儲器112。控制器108電氣地及/或通信地耦合到升降板組件104、驅動組件106及成像系統110，並適合於使升降板組件104、驅動組件106及/或成像系統110執行如本文公開的各種功能。廢物儲器112可以選擇性地可接納在系統100的廢物儲器插座113中，或者可以是試劑筒102的一部分。
試劑筒102及/或流動池組件103可以承載一個或更多個感興趣的樣本。升降板組件104與試劑筒102對接以將試劑筒102裝載到系統100中。驅動組件106與試劑筒102對接以使與樣本相互作用的一種或更多種試劑(例如A、T、 G、C核苷酸)流過試劑筒102及/或流動池組件103。
在注入中，可逆的終止子(reversible terminator)附著到試劑以允許單個核苷酸每次循環被sstDNA摻合。在一些這樣的實施方式中，一個或更多個核苷酸具有當被激發時發出顏色的獨特的熒光標記。顏色(或沒有顏色)用於檢測相對應的核苷酸。在所示的實施方式中，成像系統110適合於激發一個或更多個可識別標記(例如熒光標記)，且在此之後獲得關於可識別標記的圖像數據。標記可以由入射光及/或激光激發，並且圖像數據可以包括由相應標記響應於激發而發射的一種或更多種顏色。圖像數據(例如檢測數據)可以由系統100分析。成像系統110可以是包括物鏡及/或固態成像設備的螢光分光光度計。固態成像器件可以包括電荷耦合器件(CCD)及/或互補金屬氧化物半導體(CMOS)。
在圖像數據被獲得之後，驅動組件106與試劑筒102對接以允許另一反應組分(例如試劑)流過試劑筒102及/或流動池組件103，該另一反應組分然後由廢物儲器112接納及/或否則由試劑筒102排出。反應組分執行以化學方法使螢光標記與可逆的終止子從sstDNA中分離的沖洗操作。sstDNA然後準備另一循環。
參考升降板組件104，在所示的實施方式中，升降板組件104包括升降板114、系統柱塞組件116及升降板驅動組件118。系統柱塞組件116可以被稱為致動系統及/或是致動系統的一部分。系統柱塞組件116由升降板114承載，並包括多個系統柱塞120、121。系統柱塞120、121可被稱為系統銷或系統致動器。一個或更多個密封件119可以圍繞系統柱塞120、121。密封件119可適合於密封地接合例如升降板114及/或升降板組件104的其他部件，以阻止流體進入系統100及/或升降板組件104。在一些實施方式中，升降板組件104包括相對應的密封件119可以抵靠配合的一個或更多個座部。
升降板驅動組件118在操作上耦合到升降板114。在另一實施方式 中，系統柱塞120、121可以組合成具有一個或更多個接觸點的單個較寬的柱塞。例如，系統柱塞120、121可以被實現為具有三個相等地間隔開的尖頭(prong)的單個柱塞。其他配置及/或間距佈置可以證明也是合適的。
流動池組件103包括流動池122、射流聯接器124、125及墊圈組件126。在一些實施方式中，射流聯接器124、125可以被省略，並且流動池122可以與墊圈組件126集成在一起及/或可以以其他方式將墊圈組件126的一個或更多個部件(例如本文所述的流動池墊圈134、136)直接與流動池122集成在一起。流動池122包括至少一個通道128、流動池入口130及流動池出口132。通道128可以是U形的或者可以是直的，並且跨越流動池122延伸。通道128的其他配置可以證明也是合適的。如果多於一個通道128被提供，則每個通道128可以具有專用流動池入口130及專用流動池出口132。單個流動池入口130可以可選地經由例如入口歧管流體地耦合到多於一個通道128。單個流動池出口132可以可選地經由例如出口歧管耦合到多於一個通道。
射流聯接器124、125耦合到流動池入口130與流動池出口132中的每個。射流聯接器124可以包括第一射流聯接器124與第二射流聯接器125。射流聯接器124、125可以組合。例如，射流聯接器124、125可以由單個基板形成，或者可以以其他方式附接。可選地，射流聯接器124、125可以分離(見例如圖4)。
在一個實施方式中，射流聯接器124、125是柔性射流聯接器。例如，射流聯接器124、125可以由層壓結構形成。層壓結構可以限定相對應的流動路徑。射流聯接器124、125可以是相對脆性的(fragile)。因此，如果超過閾值的力被施加到射流聯接器124、125，則射流聯接器124、125可能被損壞。此外，如果施加大於閾值的力，則可能不能在試劑筒102與流動池組件103之間建立密封。在一些實施方式中，射流聯接器124、125可以被省略，並且流動池122可以直接耦合到墊圈組件126及/或本文所述的流動池墊圈134、136。
所公開的示例可以適合於允許在試劑筒102與流動池組件103的射流聯接器124、125之間建立流體連接，而不損壞射流聯接器124、125。雖然射流聯接器124、125可以是柔性的，但是射流聯接器124、125可以以其他方式形成。例如，射流聯接器124、125可以是剛性的或柔性較小的。在其他實施方式中，射流聯接器124、125可以被移除，並且墊圈組件126可以直接耦合到流動池122。如果射流聯接器124、125沒有被提供或者如果該方法可以證明是合適的，則升降板組件104可以向試劑筒102及/或流動池組件103施加與向墊圈組件126施加的壓縮不同的壓縮。因此，試劑筒102/流動池組件103可以被固定，並且墊圈組件126可以不被損壞。
在所示的實施方式中，墊圈組件126耦合到射流聯接器124、125。墊圈組件126包括多個流動池墊圈134、136。流動池墊圈134、136可以是彈性墊圈。可稱為流動池入口墊圈的流動池墊圈134中的一個具有通孔138，並經由射流聯接器124耦合到流動池入口130。可稱為流動池出口墊圈的流動池墊圈136中的另一個包括通孔138，並經由射流聯接器125耦合到流動池出口132。具有通孔138的流動池墊圈136可適合於與試劑筒102的射流接口142的一對試劑筒端口140選擇性地流體連通。
流動池墊圈136中的另外的一個可以被稱為校平器流動池墊圈。校平器流動池墊圈136可適合於接合射流接口142的試劑筒接合表面144。試劑筒接合表面144面向試劑筒102的流動池插座146。流動池墊圈134可以三角形圖案佈置(見例如圖2)。三角形圖案可以允許在流動池墊圈134與試劑筒端口140之間建立可重複的流體耦合。三角形圖案還可以允許墊圈組件126的流動池墊圈134、136與試劑筒接合表面144平齊(planer)或相對於試劑筒接合表面144平齊。三角形圖案可以允許力由墊圈組件126均勻地分佈及/或一致地施加到試劑筒接合表面144。校平器流動池墊圈136可允許流動池墊圈134與試劑筒端口140齊平地接 合。
在所示的實施方式中，試劑筒102包括流動池插座146、試劑筒柱塞組件148及一對試劑筒端口140。試劑筒柱塞組件148可以被稱為致動系統及/或是致動系統的一部分。流動池插座146適合於接納流動池組件103。試劑筒柱塞組件148包括多個試劑筒柱塞150、151。試劑筒柱塞150、151可以被稱為試劑筒銷或試劑筒致動器。在一些實施方式中，可以省略試劑筒柱塞組件148，使得系統柱塞組件116直接接合墊圈組件126。
如所示，當試劑筒102被接納在試劑筒插座101中並且流動池組件103被接納在流動池插座146中時，每個試劑筒柱塞150、151與相對應的系統柱塞120、121及相對應的流動池墊圈134、136對準。該一對試劑筒端口140適合於流體地耦合到具有通孔138的流動池墊圈134。在其他實施方式中，試劑筒102可以不包括試劑筒柱塞組件148。
在操作中，升降板驅動組件118適合於線性地移動升降板114與系統柱塞120、121。升降板組件104及/或升降板驅動組件118可適合於同步/協調試劑筒102及流動池組件103的各種部件的運動。升降板組件104及/或升降板驅動組件118可適合於同步/協調施加到例如試劑筒102以將試劑筒102夾持在試劑筒插座101內及/或將流動池組件103夾持在流動池插座146內的夾持力。
升降板114的移動使系統柱塞120、121接合試劑筒柱塞150、151並將試劑筒柱塞150、151移動成與墊圈組件126接合或以其他方式與墊圈組件126對接。在試劑筒柱塞150、151被移除的實施方式中，系統柱塞120、121可佈置成直接接觸墊圈組件126或以其他方式與墊圈組件126對接。在試劑筒柱塞150與墊圈組件126之間的接合推動流動池墊圈134、136與試劑筒端口140接合。在試劑筒柱塞150與墊圈組件126之間的接合允許經由流動池入口130與流動池出口132在該一對試劑筒端口140與流動池122之間的流體連通。因此，系統柱塞120、 121適合於致動試劑筒柱塞150、151。試劑筒柱塞150、151適合於致動流動池墊圈134、136以建立與試劑筒端口140的流體連接。在一些示例中，在流動池墊圈134與試劑筒端口140之間形成氣密密封。氣密密封可以允許在試劑筒102與流動池組件103之間的流體連通。
系統柱塞120包括一對系統柱塞120，試劑筒柱塞150包括一對試劑筒柱塞150，以及流動池墊圈134包括具有通孔138的一對流動池墊圈134。該一對系統柱塞120、該一對試劑筒柱塞150及該一對流動池墊圈134與流體地耦合流動池122及該一對試劑筒端口140相關聯。該一對系統柱塞120、該一對試劑筒柱塞150與該一對流動池墊圈134在圖1A的示意圖中被示為在系統柱塞組件116、試劑筒柱塞組件148及墊圈組件126的左側及右側上。然而，該一對系統柱塞120、該一對試劑筒柱塞150與該一對流動池墊圈134可以不同地佈置。
在所示的實施方式中，系統柱塞120、121包括校平器系統柱塞121，以及試劑筒柱塞150、151包括校平器試劑筒柱塞151。升降板驅動組件118適合於線性地移動升降板114與校平器系統柱塞121，以接合墊圈組件126並將校平器試劑筒柱塞151移動成與墊圈組件126接合。在校平器試劑筒柱塞151與墊圈組件126之間的接合允許校平器流動池墊圈136接合試劑筒接合表面144，並提供墊圈組件126抵靠試劑筒102的穩定性。
升降板組件104還包括偏置板153。偏置板153適合於接合試劑筒102。在偏置板153與試劑筒102之間的接合可以將試劑筒102固定在試劑筒插座102內。
在所示的實施方式中，升降板組件104包括加熱器154。控制器108電氣地及/或通信地耦合到加熱器154以執行如本文公開的各種功能。升降板驅動組件118適合於朝著流動池122線性地移動升降板114及加熱器154。加熱器154可以與流動池122對接，以在系統100的一個或更多個操作及/或進行分析期間控制 流動池122的溫度。
回來參考試劑筒102，在所示的實施方式中，試劑筒102包括試劑儲器155、試劑筒主體156、一個或更多個閥158及射流管線160。試劑儲器155可以包含流體(例如試劑及/或另一反應組分)，並且閥158可以是選擇性地可致動的，以控制通過射流管線160的流體的流動。一個或更多個閥158可以由旋轉閥、夾管閥、平板閥、電磁閥、止回閥、壓電閥等實現。試劑筒主體156可以使用注射成型技術及/或添加劑製造技術由固體塑料形成。在一些實施方式中，試劑儲器155與試劑筒主體156一體地形成。在其他實施方式中，試劑儲器155單獨地形成並耦合到試劑筒主體156。
試劑筒102可以通過例如在該一對試劑筒端口140與流動池墊圈134、136之間的相互作用與流動池組件103流體連通。在所示的實施方式中，流動池組件103可以被插入到試劑筒102中並由試劑筒102承載，並且被接納在流動池插座146中。可選地，流動池組件103可以集成到試劑筒102中。在這樣的實施方式中，流動池插座146可以不被包括，或者至少流動池組件可以不可移除地接納在試劑筒102內。
現在參考驅動組件106，在所示的實施方式中，驅動組件106包括泵驅動組件162及閥驅動組件164。泵驅動組件162適合於與一個或更多個泵166對接以泵送流體通過試劑筒102。泵166可以由注射泵、蠕動泵、隔膜泵等實現。雖然泵166可以被定位於流動池組件103與廢物儲器112之間，但是在其他實施方式中，泵166可以被定位於流動池122的上游或者被完全省略。
閥驅動組件164適合於與一個或更多個閥158對接以控制閥158的位置。在一個實施方式中，閥158由旋轉閥實現，該旋轉閥具有阻止到流動池122的流動的第一位置及允許從試劑儲器155到流動池122的流動的第二位置。然而，閥158可以被定位於任何數量的位置上以使第一試劑、緩衝試劑、第二試劑等中 的任一種或更多種流到流動池122。在這樣的實施方式中，閥驅動組件164可以包括軸桿，該軸桿致動閥158以執行其中來自一個或更多個試劑儲器155的試劑流過流動池122的操作。
參考控制器108，在所示的實施方式中，控制器108包括用戶接口168、通信接口170、一個或更多個處理器172以及存儲器174，存儲器174存儲可以由一個或更多個處理器172執行以執行包括所公開的實現的各種功能的指令。用戶接口168、通信接口170與存儲器174電氣地及/或通信地耦合到一個或更多個處理器172。
在一個實施方式中，用戶接口168適合於從用戶接收輸入，並向用戶提供與系統100的操作及/或進行的分析相關聯的信息。用戶接口168可以包括觸摸屏、顯示器、鍵盤、揚聲器、鼠標、軌跡球及/或語音識別系統。觸摸屏及/或顯示器可以顯示圖形用戶接口(GUI)。
在一個實施方式中，通信接口170適合於實現經由網絡在系統100與遠程系統(例如計算機)之間的通信。網絡可以包括互聯網、內聯網、局域網(LAN)、廣域網(WAN)、同軸電纜網絡、無線網絡、有線網絡、衛星網絡、數字用戶線路(DSL)網絡、蜂窩網絡、藍牙連接、近場通信(NFC)連接等。被提供到遠程系統的一些通信可以與由系統100生成的或以其他方式獲得的分析結果、成像數據等相關聯。被提供到系統100的一些通信可以與射流分析操作、患者記錄及/或由系統100執行的協議相關聯。
一個或更多個處理器172及/或系統100可以包括一個或更多個基於處理器的系統或基於微處理器的系統。在一些實施方式中，一個或更多個處理器172及/或系統100包括以下中的一個或更多個：可編程處理器、可編程控制器、微處理器、微控制器、圖形處理單元(GPU)、數字信號處理器(DSP)、精簡指令集計算機(RISC)、專用集成電路(ASIC)、現場可編程門陣列(FPGA)、現 場可編程邏輯器件(FPLD)、邏輯電路及/或執行包括本文所述的各種功能的另外的基於邏輯的設備。
存儲器174可以包括以下中的一個或更多個：半導體存儲器、磁性可讀存儲器、光學存儲器、硬盤驅動器(HDD)、光學存儲驅動器、固態存儲設備、固態驅動器(SSD)、閃存、只讀存儲器(ROM)、可擦除可編程只讀存儲器(EPROM)、電可擦除可編程只讀存儲器(EEPROM)、隨機存取存儲器(RAM)、非易失性RAM(NVRAM)存儲器、光盤(CD)、光盤只讀存儲器(CD-ROM)、數字通用盤(DVD)、藍光盤、獨立磁盤冗陣列(RAID)系統、高速緩存器及/或其中信息被存儲任何持續時間(例如永久地、暫時地、延長的時間段、用於緩衝、用於高速緩存)的任何其他存儲設備或存儲磁盤。
圖1B示出了圖1A的系統100的另一示例實施方式的示意圖。在圖1B所示的實施方式中，系統100包括試劑筒插座101及升降板組件104。升降板組件104包括升降板114、系統柱塞組件116及升降板驅動組件118。系統柱塞組件116由升降板114承載，並包括多個系統柱塞120。升降板驅動組件118在操作上耦合到升降板114。
流動池組件103包括流動池122，流動池122包括至少一個通道128、流動池入口130及流動池出口132。流動池組件103還包括耦合到流動池入口130與流動池出口132中的每一者的射流聯接器124、125。流動池組件103包括耦合到射流聯接器124、125的墊圈組件126。墊圈組件126包括流動池入口墊圈134及流動池出口墊圈134。流動池入口墊圈134包括通孔138，並經由射流聯接器124、125耦合到流動池入口130。流動池出口墊圈134包括通孔138，並經由射流聯接器124、125耦合到流動池出口132。
在所示的實施方式中，試劑筒102可接納在試劑筒插座101內，並且包括試劑筒柱塞組件148及一對試劑筒端口140。試劑筒柱塞組件148包括多個 試劑筒柱塞150。每個試劑筒柱塞150適合於當試劑筒102被接納在試劑筒插座101中時與系統柱塞組件116的相對應系統柱塞120與流動池組件103的相對應流動池墊圈134對準。該一對試劑筒端口140適合於流體地耦合到流動池入口墊圈134及流動池出口墊圈134。
圖1C示出了圖1A的系統100的流動池組件103與試劑筒102的另一示例實施方式的示意圖。在所示的實施方式中，流動池組件103包括流動池122及墊圈組件126。流動池103包括至少一個通道128、流動池入口130及流動池出口132。墊圈組件126在操作上耦合到流動池103，並包括流動池入口墊圈134及流動池出口墊圈134。流動池入口墊圈134包括通孔138，並耦合到流動池入口130。流動池出口墊圈134包括通孔138，並耦合到流動池出口132。試劑筒102適合於承載流動池組件103，並包括一對試劑筒端口140。試劑口140適合於流體地耦合到流動池入口墊圈134及流動池出口墊圈134。
圖2是圖1A的流動池組件103的示例實施方式的等距頂視圖。流動池組件103包括流動池殼體176。流動池殼體176包括頂部殼體表面178、底部殼體表面180及側殼體表面182。頂部殼體表面178、底部殼體表面180與側殼體表面182形成外殼。如所示，外殼可以具有一個或更多個開口。在所示的實施方式中，頂部殼體表面178可以包括在一個或更多個平面中的表面。
流動池殼體176承載流動池122、射流聯接器124、125(在圖4中更清楚地示出)及墊圈組件126。在所示的實施方式中，流動池殼體176具有尺寸包絡，以及墊圈組件126被設置在流動池殼體176的尺寸包絡內。將墊圈組件126定位在流動池殼體176的尺寸包絡內允許流動池組件103被接納在流動池插座146內及/或被承載在流動池插座146內而墊圈組件126及/或流動池墊圈134、136不被損壞，因為墊圈組件126及/或流動池墊圈134、136可以被定位成不從外殼突出。例如，如果墊圈組件126在流動池殼體176的尺寸包絡之外延伸，則流動池墊 圈134、136可能在組裝及/或運輸期間不注意地與試劑筒102的結構接合，這可能損壞及/或以其它方式影響在墊圈組件126與一對試劑筒端口140之間建立流體連接的能力。
流動池殼體176還包括對應於流動池墊圈134、136中的每個的開口184、186。開口184、186以三角形圖案佈置。頂部殼體表面178限定開口184、186。在所示的實施方式中，開口184是圓形的，以及開口186是長橢圓形的及/或淚滴形的。由頂部殼體表面178限定的開口184、186被佈置成在試劑筒柱塞150將墊圈組件126移動預定距離之後允許流動池墊圈134、136從流動池殼體176的尺寸包絡突出。
流動池墊圈134、136具有圓形橫截面。流動池墊圈134、136還包括平坦表面188。流動池墊圈134、136的平坦表面188可以佈置成當一對試劑筒端口140經由流動池入口130及流動池出口132與流動池122連通時抵靠試劑筒接合表面144接合及/或壓緊。流動池墊圈134、136的平坦表面188可適合於平齊地壓住試劑筒接合表面144。在平坦表面188與試劑筒接合表面144之間的相互作用可以允許由墊圈組件126施加的力抵靠試劑筒接合表面144均勻地分佈。在平坦表面188與試劑筒接合表面144之間的相互作用可以允許在流動池墊圈134與試劑筒端口140之間形成氣密密封。
墊圈組件126還包括對準突出部190。對準突出部190適合於被試劑筒102的對準插座191(見圖1A)接納。對準突出部190從墊圈表面192朝著頂部殼體表面178延伸，並且被定位在流動池墊圈134附近。長橢圓形開口186的尺寸允許對準突出部190延伸穿過長橢圓形開口186。例如，在試劑筒柱塞150、151接合墊圈組件126並將流動池墊圈134、136移動閾值距離之後，對準突出部190可以被推動穿過長橢圓形開口186並到流動池殼體176的尺寸包絡之外。因此，在形成氣密或實質氣密的密封之前或與形成氣密或實質氣密的密封同時，對準突出 部190可以與試劑筒102的對準插座191接合以將墊圈組件126的流動池墊圈134的通孔138與試劑筒端口140的相對應開口對準。
圖3是圖2所示的流動池組件103的等距底視圖。流動池組件103的底部殼體表面180包括開口193。在本實施方式中，開口193是圓形的，但是其他幾何形狀的開口(例如狹槽、橢圓形等)也可以被使用。開口193與頂部殼體表面178的開口184、186相對。開口193以三角形圖案佈置。開口193適合於接納試劑筒柱塞150、151以允許試劑筒柱塞150、151與墊圈組件126對接。底部殼體表面180還包括加熱器開口194。加熱器開口194可適合於允許加熱器154與流動池122及/或支撐流動池122的承載板對接。例如，加熱器開口194可以適合於接納加熱器154。
圖4是在外殼被移除的情況下圖2中的流動池122、射流聯接器124、125與墊圈組件126的等距頂視圖。在所示的實施方式中，對準突出部190是圓錐形的或者包括圓錐形端部部分。對準突出部190的圓錐形端部部分可接納在對準插座191內。對準突出部190的圓錐形端部部分可適合於當墊圈組件126朝著試劑筒接合表面144移動時使墊圈組件126與流動池墊圈134、136對準。
圖5是圖2的流動池122、射流聯接器124、125與墊圈組件126的等距底視圖。在所示的實施方式中，墊圈組件126包括多個接合突出部195。接合突出部195從墊圈組件126的下表面196延伸。接合突出部195由相交的肋形成。接合突出部195可以包括柱塞插座198。柱塞插座198被定位於肋的交叉點處。柱塞插座198可適合於接納試劑筒柱塞150、151的遠端200(見圖18)及/或系統柱塞120、121。在另一實施方式中，柱塞插座198被試劑筒柱塞150、151的遠端200及/或系統柱塞120、121包圍。試劑筒柱塞150、151的遠端200可以是鑽孔圓柱體。遠端200的鑽孔圓柱體可以與接合突出部195的肋接合以對接及/或包圍柱塞插座198。接合突出部195與包括鑽孔圓柱體的遠端200的接合可以允許由試劑筒柱塞150 及/或151並且抵靠接合突出部195施加的力更均勻地分散。在一些實施方式中，接合突出部195可以被省略，並且試劑筒柱塞150、151的遠端200可以直接接合墊圈組件126的底部表面。
圖6是圖1A的升降板組件104與試劑筒102的示例實施方式的等距頂視圖。在所示的實施方式中，升降板組件104包括升降板114。試劑筒102被定位於升降板114上方，所示的流動池組件103被插入試劑筒102中。試劑筒102包括適合於接納流動池組件103的流動池插座146。
圖7是包括偏置板153的示例實施方式的圖6的升降板組件104的等距頂視圖。在所示的實施方式中，偏置板153包括多個偏置板通孔204。系統柱塞120、121被佈置成延伸穿過偏置板通孔204以與系統柱塞120、121對準並允許系統柱塞120、121與相對應的試劑筒柱塞150、151對接。偏置板通孔204以三角形圖案佈置。升降板組件104還包括多個彈簧206。一個或更多個彈簧206被設置在承載加熱器154的加熱器組件與升降板114之間。彈簧206可適合於當加熱器154、偏置板153及/或系統柱塞120、121移動成接合試劑筒102的相對應的部分及/或朝著試劑筒102的相對應的部分移動時提供增加的反方向力。彈簧206可以具有彈簧力以防止相對應的零件的損壞及/或促進基於彈簧的胡克定律在試劑筒102與流動池組件103之間建立氣密密封。
圖8是在偏置板153被移除的情況下的圖6的升降板組件104的等距頂視圖。因此，示出了系統柱塞組件116及系統柱塞120、121。升降板114限定柱塞孔207。系統柱塞120、121中的每個可滑動地設置在柱塞孔207中的相對應的柱塞孔內。彈簧208(見例如圖12)可以被容納在每個柱塞孔207內。彈簧208可以佈置成作用在系統柱塞120、121上以在系統柱塞120、121中的每個的遠端210移動成與相對應的試劑筒柱塞150、151接合時提供增加的反方向力。作用在系統柱塞120、221上的彈簧208可以適合於防止系統柱塞120、121基於彈簧的胡克定 律將相對應的流動池墊圈134、136壓縮超過閾值量。過度壓縮流動池墊圈134、136可能引起損壞及/或可能阻止密封被建立。
圖9是圖6的試劑筒102的等距底視圖。在所示的實施方式中，試劑筒102包括底部表面211。底部表面211限定多個試劑筒孔212。系統柱塞120、121被佈置成延伸穿過試劑筒孔212以與保留在試劑筒102內的試劑筒柱塞150、151對接。試劑筒孔212以三角形圖案佈置，以對應於系統柱塞120、121的圖案。試劑筒102還包括插座214。插座214可以佈置成接納加熱器154及/或允許加熱器154與流動池122及/或流動池122被安裝於其上的承載板對接。
圖10是圖6的試劑筒102的等距放大剖視圖，其示出了試劑筒柱塞組件148。在所示的實施方式中，試劑筒102的試劑筒主體156包括柱塞孔216。柱塞孔216與試劑筒孔212對準。柱塞孔216容納試劑筒柱塞150、151。試劑筒102包括突出部218。突出部218限定柱塞孔216。然而，試劑筒柱塞150、151可以由試劑筒102以不同的方式承載。試劑筒柱塞150、151的遠端220可以包括座部222。座部222可適合於接納墊圈組件126的柱塞插座198及/或以其他方式與墊圈組件126的柱塞插座198對接。試劑筒柱塞150、151包括與遠端220相對的近端(未示出)，該近端與系統柱塞120、121的遠端210接合。
圖11是圖6的試劑筒102的等距放大剖視圖，其示出了射流接口142、試劑筒接合表面144、試劑筒端口140及對準插座191。對準插座191可以具有與對準突出部190的圓錐形表面相對應的圓錐形表面。在所示的實施方式中，試劑筒接合表面144可以包括座部224。座部224可適合於接納不包括通孔138的流動池墊圈136。試劑筒端口140可以包括端口座部(port seats)226。端口座部226可以適合於接納流動池墊圈136。端口座部226可便於利用具有通孔138的流動池墊圈136形成氣密密封。
圖12-17描繪了將試劑筒102裝載/固定在試劑筒插座101內並在 試劑筒102與流動池組件103之間建立流體連接的過程。
圖12是在升降板組件104在降低位置上以及試劑筒102被接納在試劑筒插座101內的情況下圖6的試劑筒102、流動池組件103與升降板組件104的剖視圖。流動池組件103被接納在試劑筒102的流動池插座146中。在所示的實施方式中，系統柱塞120包括較大寬度部分228及較小寬度部分230。較大寬度部分228可以具有圓形橫截面。較小寬度部分可以具有圓形橫截面。然而，較大寬度部分228及/或較小寬度部分230可以具有不同的橫截面。柱塞階梯部232在較大寬度部分228與較小寬度部分230之間形成。
圖13是圖6的試劑筒102、流動池組件103與升降板組件104的另一剖視圖，其示出了在升降板驅動組件118朝著試劑筒102移動系統柱塞組件116及偏置板153之後偏置板153與試劑筒102的底部表面211接合。升降板114使用升降板驅動組件118的螺旋驅動從升降板組件104的基座233被提升。當偏置板153與試劑筒102的底部表面211接合時，試劑筒102的頂部表面234最初與系統100的內部試劑筒插座表面236間隔開。
圖14是圖6的試劑筒102、流動池組件103與升降板組件104的另一剖視圖，其示出了在升降板驅動組件118在大體上由箭頭238所指示的方向上將系統柱塞組件116及試劑筒102移動得更遠之後試劑筒102的頂部表面234接合及/或相鄰於系統100的內部試劑筒插座表面236。也就是說，當升降板組件104被垂直地(見箭頭238)驅動時，偏置板153及內部試劑筒插座表面236協作地將試劑筒102夾持在其間。在一些實施方式中，閥驅動組件164及/或泵驅動組件162的部件可以與相對應的閥158及/或泵166接合。
圖15是圖6的試劑筒102、流動池組件103與升降板組件104的另一剖視圖，其示出了被定位成相鄰於流動池122的加熱器154及與在柱塞孔207內提供的阻擋件240接合的系統柱塞120的柱塞階梯部232，作為在柱塞孔207內的彈 簧抵靠柱塞階梯部232推動系統柱塞120的較大寬度部分228的結果。也就是說，當升降板組件104被垂直地(見箭頭238)驅動時，加熱器154的表面可以接觸承載流動池122的承載板241以使在流動池組件103內的流動池122與承載板241提升或浮動。系統柱塞120的遠端210與相對應的試劑筒柱塞150間隔開，但是與相對應的試劑筒孔212對準。加熱器154被示為接合流動池組件103的承載板241。
圖16是圖6的試劑筒102、流動池組件103與升降板組件104的另一剖視圖，其示出了在升降板組件104在大體上由箭頭238指示的方向上將升降板114移動得更遠之後系統柱塞120的遠端210接合相對應的試劑筒柱塞150的相對應近端。也就是說，當升降板組件104被垂直地(見箭頭238)驅動時，相對應的試劑筒柱塞150的遠端200與墊圈組件126的相對應柱塞插座198對準以開始將流動池墊圈134與相對應的試劑筒端口140流體地耦合。
圖17是圖6的試劑筒102、流動池組件103與升降板組件104的另一剖視圖，其示出了試劑筒柱塞150推動流動池墊圈134與相對應的試劑筒端口140接合。也就是說，當升降板組件104被垂直地(見箭頭238)驅動時，每個試劑筒柱塞150與墊圈組件126的相對應柱塞插座198及/或墊圈組件126的表面接合。對準突出部190最初與對準插座191接合並自對準，對準插座191從而使流動池墊圈134的通孔138與試劑筒端口140對準。當升降板組件104繼續被垂直地驅動時，流動池墊圈134抵靠試劑筒端口140壓縮以形成壓縮密封。壓縮密封可以是氣密密封。為了避免對流動池墊圈134的過度壓縮，在柱塞孔207內的彈簧可以被選擇為具有彈簧常數(spring constant)以允許系統柱塞120如所示地壓縮在柱塞孔207內的彈簧，其中系統柱塞120的柱塞階梯部232與在柱塞孔207內提供的阻擋件240間隔開。特別是，系統柱塞120在與升降板114的移動方向相反的方向(見箭頭238)上並且抵抗彈簧208的彈簧力移動，以防止系統柱塞120將流動池墊圈134壓縮超過閾值量。彈簧208可以具有足夠的彈簧力以推動流動池墊圈134與相對 應的試劑筒端口140接合，並且實現在試劑筒端口140與流動池墊圈134之間的流體連通。彈簧208的彈簧力可以使氣密密封在流動池墊圈134與相對應的試劑筒端口140之間被建立。
圖18是圖6的升降板組件104與系統柱塞120中的一根系統柱塞的另一實施方式的放大等距剖視圖。在所示的實施方式中，系統柱塞120承載密封件119。密封件119可以被稱為墊圈。密封件119適合於在柱塞孔207的入口242處密封地接合升降板114。在密封件119與升降板114之間的接合可以防止流體進入柱塞孔207。
偏置板153包括偏置板座部243。偏置板座部243面向升降板114。當試劑筒柱塞150在延伸位置上時，偏置板座部243可以接納密封件119(例如，見圖16)。
密封件119可以可選地在沿著系統柱塞120的不同位置上。在這些其他配置中，偏置板座部243可以相應地被設置在不同的位置上。例如，密封件119可以相鄰於系統柱塞120的遠端210耦合。在這樣的實施方式中，密封件119可以佈置成密封地接合偏置板153的偏置板表面246。偏置板座部243也可以佈置成在偏置板表面246處接納密封件119。其他佈置也可以證明是合適的。系統柱塞120限定柱塞槽248。密封件119包括允許密封件119包圍系統柱塞120的通孔250。密封件119被接納在柱塞槽248內。
圖19是圖6的試劑筒102與流動池組件103的放大等距剖視圖，其示出了試劑筒柱塞150在延伸位置上並推動流動池墊圈134與相對應的試劑筒端口140接合。延伸位置可以被稱為致動位置。試劑筒柱塞150包括凸緣252。凸緣252適合於接合限定突出部218的阻擋件254，阻擋件254限定柱塞孔216的一部分。凸緣252包括相對於圖19所示的定向面向下的唇緣256。唇緣256可具有傘狀形狀。唇緣256可以佈置成圍繞阻擋件254。
圖20及圖21示出了用於執行將圖1A或本文公開的任何其他實施方式中的墊圈組件126與試劑筒102流體地耦合的方法的流程圖。在圖20的流程圖中，由實線包圍的方框可以被包括在過程300的實施方式中，而由虛線包圍的方框在過程300的實施方式中可以是可選的。然而，不考慮方框的邊界在圖20及21中呈現的方式，方框的執行順序可以改變，及/或所描述的一些方框可以被改變、消除、組合及/或細分成多個方框。
圖20的過程300通過朝著試劑筒102的試劑筒柱塞組件148線性地移動升降板114及由升降板114承載的系統柱塞組件116(方框302)開始。系統柱塞組件116包括至少一個系統柱塞120，以及試劑筒柱塞組件148包括至少一個試劑筒柱塞150。響應於至少一個系統柱塞120接觸至少一個試劑筒柱塞150，至少一個試劑筒柱塞150被致動第一預定距離以接觸流動池組件103的墊圈組件126(方框304)。
流動池組件103包括流動池122，流動池122包括至少一個通道128、流動池入口130及流動池出口132。第一射流聯接器124耦合到流動池入口130，以及第二射流聯接器125耦合到流動池出口132。在一些實施方式中，第一射流聯接器124與第二射流聯接器125被組合。例如，第一射流聯接器124與第二射流聯接器125可以由具有用於耦合流動池墊圈134與流動池122的射流管線的單基板形成。基板可以是柔性的。在一些實施方式中，第一射流聯接器124及第二射流聯接器125可以被省略，並且流動池墊圈134與流動池122可以直接流體地被連接。
墊圈組件126耦合到第一射流聯接器124及第二射流聯接器125。墊圈組件126包括具有通孔138的入口墊圈134，並通過第一射流聯接器124耦合到流動池入口130。墊圈組件126還包括出口墊圈134，出口墊圈134具有通孔138，並通過第二射流聯接器125耦合到流動池出口132。
響應於至少一個系統柱塞120致動至少一個試劑筒柱塞150第二預定距離，入口墊圈134流體地耦合到試劑筒102的第一試劑筒端口140，以及出口墊圈134流體地耦合到試劑筒102的第二試劑筒端口140，以允許經由流動池入口130及流動池出口132在試劑筒端口140與流動池103之間的流體連通(方框306)。系統柱塞120可以在與升降板114的移動方向相反的方向上並抵靠彈簧力移動(方框308)。彈簧力可以由彈簧206施加。升降板114可以在試劑筒主體156上施加第一壓縮力，同時彈簧力及系統柱塞120在入口墊圈134與出口墊圈134上施加不同的第二壓縮力。因此，彈簧206、208可以具有不同的彈簧力，或者可以以其他方式向相對應的部件施加不同的力，使得試劑筒102被升降板牢固地夾持，同時流動池墊圈134不被過度壓靠在試劑筒端口140上。
在一些實施方式中，流動池組件103的第一射流聯接器124及第二射流聯接器124是柔性射流聯接器，使得流動池103是可以下列方式中的至少一種移動的：垂直地、縱向地或橫向地，同時入口墊圈134流體地耦合到試劑筒102的第一試劑筒端口140，以及出口墊圈134流體地耦合到試劑筒102的第二試劑筒端口140。
圖21的過程400通過朝著試劑筒102的試劑筒柱塞組件148線性地移動升降板114及由升降板114承載的系統柱塞組件116(方框402)。系統柱塞組件116包括至少一個系統柱塞120，以及試劑筒柱塞組件148包括至少一個試劑筒柱塞150。響應於至少一個系統柱塞120接觸至少一個試劑筒柱塞150，至少一個試劑筒柱塞150被致動第一預定距離以接觸流動池組件103的墊圈組件126(方框404)。
流動池組件103包括流動池122，流動池122包括至少一個通道128、流動池入口130及流動池出口132。第一射流聯接器124耦合到流動池入口130，以及第二射流聯接器125耦合到流動池出口132。墊圈組件126耦合到第一射 流聯接器124及第二射流聯接器125。墊圈組件126包括入口墊圈134，入口墊圈134具有通孔138，並通過第一射流聯接器124耦合到流動池入口130。墊圈組件126還包括出口墊圈134，出口墊圈134具有通孔138，並通過第二射流聯接器125耦合到流動池出口132。在一些實施方式中，第一射流聯接器124與第二射流聯接器125可以被省略，並且流動池墊圈134與流動池122可以直接流體地被連接。
響應於至少一個系統柱塞120致動至少一個試劑筒柱塞150第二預定距離，入口墊圈134流體地耦合到試劑筒102的第一試劑筒端口140，以及出口墊圈134流體地耦合到試劑筒102的第二試劑筒端口140，以允許經由流動池入口130及流動池出口132在一對試劑筒端口140與流動池103之間的流體連通(方框406)。
一種方法，包括：朝著試劑筒的試劑筒柱塞組件線性地移動升降板及由該升降板承載的系統柱塞組件，該系統柱塞組件包括至少一個系統柱塞，該試劑筒柱塞組件包括至少一個試劑筒柱塞；回應於該至少一個系統柱塞接觸該至少一個試劑筒柱塞，致動該至少一個試劑筒柱塞第一預定距離以接觸流動池組件的墊圈組件，該流動池組件包括：流動池，該流動池包括至少一個通道、流動池入口及流動池出口；流體地耦合到該流動池入口的第一射流聯接器及流體地耦合到該流動池出口的第二射流聯接器；以及流體地耦合到該第一射流聯接器及第二射流聯接器並且具有入口墊圈及出口墊圈的墊圈組件，該入口墊圈具有通孔並且通過該第一射流聯接器耦合到該流動池入口，該出口墊圈具有通孔並且通過該第二射流聯接器流體地耦合到該流動池出口；以及回應於該至少一個系統柱塞致動該至少一個試劑筒柱塞第二預定距離，將該入口墊圈流體地耦合到該試劑筒的第一試劑筒端口並將該出口墊圈流體地耦合到該試劑筒的第二試劑筒端口，以允許經由該流動池入口及該流動池出口在該試劑筒端口與該流動池之間的流體連通。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的方法，其中，該流動池組件的該第一射流聯接器及該第二射流聯接器均為柔性射流聯接器，使得當該入口墊圈流體地耦合到該試劑筒的該第一試劑筒端口並且該出口墊圈流體地耦合到該試劑筒的該第二試劑筒端口時，該流動池相對於該墊圈組件是可以下列方式中的至少一個方式移動的：垂直地、縱向地或橫向地。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的方法，還包括在與該升降板的移動方向相反的方向上並抵抗彈簧力移動該系統柱塞。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的方法，其中，該升降板在試劑筒主體上施加第一壓縮力，同時該彈簧力及該系統柱塞在該入口墊圈與該出口墊圈上施加不同的第二壓縮力。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的方法，其中，該第一射流聯接器與該第二射流聯接器被組合。
一種裝置，包括：系統，該系統包括：試劑筒插座；升降板組件，該升降板組件包括升降板、由該升降板承載並包括多個系統柱塞的系統柱塞組件、以及在操作上耦合到該升降板的升降板驅動組件；流動池組件，該流動池組件包括：流動池，該流動池包括至少一個通道、流動池入口及流動池出口；射流聯接器，該射流聯接器流體地耦合到該流動池入口與該流動池出口中的每一者；以及墊圈組件，該墊圈組件流體地耦合到該射流聯接器並具有流動池入口墊圈及流動池出口墊圈，該流動池入口墊圈具有通孔並經由該射流聯接器流體地耦合到該流動池入口，該流動池出口墊圈具有通孔並且經由該射流聯接器耦合到 該流動池出口；試劑筒，該試劑筒能夠接納在該試劑筒插座內，該試劑筒包括：試劑筒柱塞組件，該試劑筒柱塞組件具有多個試劑筒柱塞，其中，每個試劑筒柱塞適合於在該試劑筒被接納在該試劑筒插座中時與該系統柱塞組件的相對應的系統柱塞及該流動池組件的相對應的流動池墊圈對準；以及一對試劑筒端口，該一對試劑筒端口適合於流體地耦合到該流動池入口墊圈及該流動池出口墊圈。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，其中，該升降板驅動組件適合於線性地移動該升降板及該系統柱塞，並使該系統柱塞接合該試劑筒柱塞並將該試劑筒柱塞移動成與該墊圈組件接合，以允許經由該流動池入口及該流動池出口在該一對試劑筒端口與該流動池之間的流體連通。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，其中，該系統柱塞包括一對系統柱塞，且該試劑筒柱塞包括一對試劑筒柱塞。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，其中，該流動池組件還包括校平器墊圈。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，其中，該系統柱塞包括校平器系統柱塞，該試劑筒柱塞還包括校平器試劑筒柱塞，且該試劑筒包括試劑筒接合表面。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，其中，該升降板驅動組件適合於線性地移動該升降板及該校平器系統柱塞以接合該校平器試劑筒柱塞並將該校平器試劑筒柱塞移動成與該墊圈組件接合，以允許在該校平器墊圈與該試劑筒接合表面之間的接合。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，其中，該校平器墊圈、該流動池入口墊圈及該流動池 出口墊圈以三角形圖案佈置。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，其中，該流動池組件具有承載該流動池、該射流聯接器及該墊圈組件的流動池殼體。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，其中，該流動池殼體具有尺寸包絡，以及該墊圈組件被設置在該流動池殼體的該尺寸包絡內。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，其中，該流動池殼體包括對應於每個流動池墊圈的開口。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，其中，該開口被佈置成在該試劑筒柱塞將該墊圈組件移動預定距離之後允許該流動池墊圈從該流動池殼體的該尺寸包絡突出。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，其中，該流動池墊圈具有平坦表面，以及該試劑筒包括面向該試劑筒的流動池插座的試劑筒接合表面。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，其中，該流動池墊圈的該平坦表面被佈置成接合該試劑筒接合表面以將該一對試劑筒端口與該流動池流體地耦合。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，其中，該試劑筒包括面向該試劑筒的流動池插座的對準插座，並且該墊圈組件具有適合於被該對準插座接納的對準突出部。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，其中，該墊圈組件具有多個接合突出部，該多個接合 突出部包括相對應的柱塞插座，每個柱塞插座適合於被相對應的試劑筒柱塞的遠端接合或包圍。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，其中，該升降板包括柱塞孔，並且其中，每個系統柱塞被滑動地設置在相對應的柱塞孔內。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，還包括被設置在每個該柱塞孔中的彈簧。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，其中，該彈簧作用在該系統柱塞上以推動該系統柱塞的遠端與相對應的試劑筒柱塞接合。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，還包括由該系統柱塞承載的密封件。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，其中，該試劑筒包括適合於接納該流動池組件的流動池插座。
一種裝置，包括：流動池組件，該流動池組件包括：流動池，該流動池包括至少一個通道、流動池入口及流動池出口；以及墊圈組件，該墊圈組件在操作上流體地耦合到該流動池並且具有流動池入口墊圈及流動池出口墊圈，該流動池入口墊圈具有通孔並耦合到該流動池入口，該流動池出口墊圈具有通孔並流體地耦合到該流動池出口；試劑筒，該試劑筒適合於接納該流動池組件，並包括適合於流體地耦合到該流動池入口墊圈及該流動池出口墊圈的一對試劑筒端口。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，還包括流體地耦合該流動池入口與該流動池入口墊 圈並且流體地耦合該流動池出口與該流動池出口墊圈的柔性射流聯接器。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，還包括具有多個試劑筒柱塞的試劑筒柱塞組件，其中，每個試劑筒柱塞被定位成對應於該流動池組件的相對應的流動池墊圈。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，其中，該流動池組件還包括校平器墊圈，且該試劑筒包括適合於由該校平器墊圈接合的試劑筒接合表面。
前述實施方式中的任一個或更多個及/或下面公開的實施方式中的任一個或更多個的裝置，其中，該流動池入口墊圈、該流動池出口墊圈及該校平器墊圈以三角形圖案佈置。
提供了前述描述以使本領域中的技術人員能夠實踐本文描述的各種配置。雖然參考多個附圖與配置特別描述了主題技術，但是應當理解，這些僅僅是為了說明的目的，並且不應當被視為限制主題技術的範圍。
如在本文所使用的，以單數形式列舉並以詞「一(a)」或「一(an)」開始的元素或步驟應被理解為不排除多個所述元件或步驟，除非這樣的排除被明確規定。此外，對「一個實施方式」的提及沒有被規定為被解釋為排除也合併所列舉的特徵的另外的實施方式的存在。此外，除非明確地規定相反的情況，否則「包括」、「包含」或「具有」帶有特定屬性的一個元素或多個元素的實施方式可以包括另外的元素，而不管它們是否具有該屬性。此外，術語「包括」、「包含」、「具有」或諸如此類在本文中可互換地被使用。
在整個這個說明書中使用的術語「實質上」、「大約」及「大致」用於描述並說明例如由於在處理中的變化而引起的小波動。例如，它們可以指小於或等於±5%，例如小於或等於±2%，例如小於或等於±1%，例如小於或等於±0.5%，例如小於或等於±0.2%，例如小於或等於±0.1%，例如小於或等於±0.05 %。
可以有實現主題技術的許多其他方式。本文描述的各種功能與元素可以與所示出的那些功能與元素不同地被實踐而不偏脫離主題技術的範圍。對這些實施方式的各種修改對本領域中的技術人員可以是容易明顯的，並且在本文定義的一般原理可應用於其它實施方式。因此，可由本領域中的普通技術人員對主題技術做出許多修改而不偏離主題技術的範圍。例如，可以使用不同數量的給定模塊或單元，可以使用一種或更多種不同類型的給定模塊或單元，可以添加給定模塊或單元，或者可以省略給定模塊或單元。
帶下劃線及/或斜體的標題與子標題僅為了方便而被使用，不限制主題技術，並且不與主題技術的描述的解釋有關地被提到。本領域中的普通技術人員已知或稍後將知道的在整個本公開中描述的多個實施方式的元素的所有結構及功能等同物通過應用被明確地併入本文並被規定為由主題技術包括。此外，本文公開的內容沒有一個被規定為貢獻給公眾，無論這樣的公開是否在上面的描述中被明確地敘述。
應當認識到，前述概念與下面更詳細討論的另外的概念的所有組合(假設這樣的概念不相互矛盾)被設想為本文公開的創造性主題的一部分。特別是，在本公開的結尾處出現的所主張的主題的所有組合被設想為本文公開的創造性主題的一部分。
100:系統
102:試劑筒
103:流動池組件
104:升降板組件
114:升降板
116:系統柱塞組件
118:升降板驅動組件
124:射流聯接器
140:試劑筒端口
146:流動池插座
153:偏置板
154:加熱器
206:彈簧
208:彈簧
211:底部表面
233:基座
234:頂部表面
236:內部試劑筒插座表面

Claims (29)

  1. 一種使用具有流動池之致動系統的方法，包括：朝著試劑筒的試劑筒柱塞組件線性地移動升降板及由該升降板承載的系統柱塞組件，該系統柱塞組件包括至少一個系統柱塞，該試劑筒柱塞組件包括至少一個試劑筒柱塞；回應於該至少一個系統柱塞接觸該至少一個試劑筒柱塞，來致動該至少一個試劑筒柱塞第一預定距離以接觸流動池組件的墊圈組件，該流動池組件包括：流動池，該流動池包括至少一個通道、流動池入口及流動池出口；流體地耦合到該流動池入口的第一射流聯接器且流體地耦合到該流動池出口的第二射流聯接器；以及流體地耦合到該第一射流聯接器與第二射流聯接器並且具有入口墊圈與出口墊圈的該墊圈組件，該入口墊圈具有通孔並且通過該第一射流聯接器流體地耦合到該流動池入口，該出口墊圈具有通孔並且通過該第二射流聯接器流體地耦合到該流動池出口；以及回應於該至少一個系統柱塞致動該至少一個試劑筒柱塞第二預定距離，將該入口墊圈流體地耦合到該試劑筒的第一試劑筒端口並將該出口墊圈流體地耦合到該試劑筒的第二試劑筒端口，以允許經由該流動池入口與該流動池出口在該試劑筒端口與該流動池之間的流體連通。
  2. 根據請求項1所述的方法，其中，該流動池組件的該第一射流聯接器及該第二射流聯接器均為柔性射流聯接器，使得當該入口墊圈流體地耦合到該試劑筒的該第一試劑筒端口並且該出口墊圈流體地耦合到該試劑筒的該第二試劑筒端口時，該流動池相對於該墊圈組件是以下列方式中的至少一個方式可移動的：垂直地、縱向地或橫向地。
  3. 根據請求項1或2所述的方法，還包括在與該升降板的移動方向相反的方向上並抵抗彈簧力移動該系統柱塞。
  4. 根據請求項3所述的方法，其中，該升降板在試劑筒主體上施加第一壓縮力，同時該彈簧力與該系統柱塞在該入口墊圈及該出口墊圈上施加不同的第二壓縮力。
  5. 根據請求項1或2所述的方法，其中，該第一射流聯接器與該第二射流聯接器被組合。
  6. 一種關於致動系統及流動池之裝置，包括：系統，該系統包括：試劑筒插座；升降板組件，該升降板組件包括升降板、由該升降板承載並包括多個系統柱塞的系統柱塞組件、以及在操作上耦合到該升降板的升降板驅動組件；流動池組件，該流動池組件包括：流動池，該流動池包括至少一個通道、流動池入口及流動池出口；射流聯接器，該射流聯接器流體地耦合到該流動池入口與該流動池出口中的每一者；以及墊圈組件，該墊圈組件流體地耦合到該射流聯接器並具有流動池入口墊圈及流動池出口墊圈，該流動池入口墊圈具有通孔並經由該射流聯接器流體地耦合到該流動池入口，該流動池出口墊圈具有通孔並且經由該射流聯接器流體地耦合到該流動池出口；試劑筒，該試劑筒能夠接納在該試劑筒插座內，該試劑筒包括：試劑筒柱塞組件，該試劑筒柱塞組件具有多個試劑筒柱塞，其中，每個試劑筒柱塞適合於在該試劑筒被接納在該試劑筒插座中時與該系統柱塞組件的相對應的系統柱塞及該流動池組件的相對應的流動池墊圈對準；以及一對試劑筒端口，該一對試劑筒端口適合於流體地耦合到該流動池入口墊圈及該流動池出口墊圈。
  7. 根據請求項6所述的裝置，其中，該升降板驅動組件適合於線性地移動該升降板及該系統柱塞，並使該系統柱塞接合該試劑筒柱塞並將該試劑筒柱塞移動成與該墊圈組件接合，以允許經由該流動池入口與該流動池出口在該一對試劑筒端口與該流動池之間的流體連通。
  8. 根據請求項6或7所述的裝置，其中，該系統柱塞包括一對系統柱塞，以及該試劑筒柱塞包括一對試劑筒柱塞。
  9. 根據請求項8所述的裝置，其中，該流動池組件還包括校平器墊圈。
  10. 根據請求項9所述的裝置，其中，該系統柱塞包括校平器系統柱塞，該試劑筒柱塞還包括校平器試劑筒柱塞，以及該試劑筒包括試劑筒接合表面。
  11. 根據請求項10所述的裝置，其中，該升降板驅動組件適合於線性地移動該升降板與該校平器系統柱塞以接合該校平器試劑筒柱塞並將該校平器試劑筒柱塞移動成與該墊圈組件接合，以允許在該校平器墊圈與該試劑筒接合表面之間的接合。
  12. 根據請求項9所述的裝置，其中，該校平器墊圈、該流動池入口墊圈及該流動池出口墊圈以三角形圖案被佈置。
  13. 根據請求項6或7所述的裝置，其中，該流動池組件具有承載該流動池、該射流聯接器及該墊圈組件的流動池殼體。
  14. 根據請求項13所述的裝置，其中，該流動池殼體具有尺寸包絡，以及該墊圈組件被設置在該流動池殼體的該尺寸包絡內。
  15. 根據請求項13所述的裝置，其中，該流動池殼體包括對應於每個流動池墊圈的開口。
  16. 根據請求項15所述的裝置，其中，該開口被佈置成在該試劑筒 柱塞將該墊圈組件移動預定距離之後允許該流動池墊圈從該流動池殼體的該尺寸包絡突出。
  17. 根據請求項16所述的裝置，其中，該流動池墊圈具有平坦表面，且該試劑筒包括面向該試劑筒的流動池插座的試劑筒接合表面。
  18. 根據請求項17所述的裝置，其中，該流動池墊圈的該平坦表面被佈置成接合該試劑筒接合表面以將該一對試劑筒端口與該流動池流體地耦合。
  19. 根據請求項6或7所述的裝置，其中，該試劑筒包括面向該試劑筒的流動池插座的對準插座，並且該墊圈組件具有適合於被該對準插座接納的對準突出部。
  20. 根據請求項6或7所述的裝置，其中，該墊圈組件具有多個接合突出部，該多個接合突出部包括相對應的柱塞插座，每個柱塞插座適合於被相對應的試劑筒柱塞的遠端接合或包圍。
  21. 根據請求項6或7所述的裝置，其中，該升降板包括柱塞孔，並且其中，每個系統柱塞被滑動地設置在相對應的柱塞孔內。
  22. 根據請求項21所述的裝置，還包括被設置在每個該柱塞孔中的彈簧。
  23. 根據請求項22所述的裝置，其中，該彈簧作用在該系統柱塞上以推動該系統柱塞的遠端與相對應的試劑筒柱塞接合。
  24. 根據請求項6或7所述的裝置，還包括由該系統柱塞承載的密封件。
  25. 根據請求項6或7所述的裝置，其中，該試劑筒包括適合於接納該流動池組件的流動池插座。
  26. 一種關於致動系統及流動池之裝置，包括： 流動池組件，該流動池組件包括：流動池，該流動池包括至少一個通道、流動池入口及流動池出口；以及墊圈組件，該墊圈組件在操作上流體地耦合到該流動池並且具有流動池入口墊圈與流動池出口墊圈，該流動池入口墊圈具有通孔並流體地耦合到該流動池入口，該流動池出口墊圈具有通孔並流體地耦合到該流動池出口；試劑筒，該試劑筒適合於接納該流動池組件，並包括適合於流體地耦合到該流動池入口墊圈及該流動池出口墊圈的一對試劑筒端口，該裝置還包括具有多個試劑筒柱塞的試劑筒柱塞組件，其中，每個試劑筒柱塞被定位成對應於該流動池組件的相對應的流動池墊圈。
  27. 根據請求項26所述的裝置，還包括流體地耦合該流動池入口及該流動池入口墊圈並且流體地耦合該流動池出口及該流動池出口墊圈的柔性射流聯接器。
  28. 根據請求項26或27所述的裝置，其中，該流動池組件還包括校平器墊圈，且該試劑筒包括適合於由該校平器墊圈接合的試劑筒接合表面。
  29. 根據請求項28所述的裝置，其中，該流動池入口墊圈、該流動池出口墊圈及該校平器墊圈以三角形圖案佈置。
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