TWI780836B - 施工量測方法 - Google Patents
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Abstract
本發明提供一種施工測量方法。本發明的施工測量方法包含以下步驟:於一施工結構外側設置至少一量測立架;其中,量測立架具有一量測頂點;於每一該量測立架之量測頂點上架設一全站量測儀,其中全站量測儀之高程高於施工結構於第一施工階段之第一階段結構高度;選定施工結構於第一施工階段時之第一階段量測表面上與至少一全站量測儀連線上未被阻隔之至少二第一控制點 ;以及以至少一全站量測儀參考該些第一控制點之位置定位第一階段量測表面上之第一待測點之位置。
Description
發明有關一種量測的方法,特別是指一種提升施工測量精準度之施工量測的方法。
施工測量係主要貫穿於整個建築施工的過程,所使用的方法及其完成的精準度對建築工程的質量和施工進度都起著十分重要的作用。因此有必要建立合適的測量方法,使施工放樣過程快速準確.並讓工程的驗收成果位於合理的誤差值,如超出該合理的誤差值,必然需要進行打石、植筋、補灌水泥砂漿,甚至敲除重新施作等,也間接造成工程施工的成本高。另外,也需要將該放樣方法在不同的建築工程共性中,找出一套通用的測量方法,從而提升建築施工放樣的精度標準,也間接降低建築的施工成本。
本發明之主要目的,旨在提供一種施工量測方法,係用於樑板模施作以及鋼筋灌漿前後的施工測量。將量測立架之量測頂點上架設全站量測儀,設置至少一量測立架於施工結構及鷹架結構之間,且全站量測儀之高程高於每一施工階段之階段結構高度,再透過全站量測儀打出基準線或放樣線,以
逐面調整樑板模的板底施作以及鋼筋灌漿前後,透過精準與快速的量測與微調,藉以提升外牆模板的整體垂直度與施工效率。
為達上揭目的,本發明精準量測方法包含以下步驟:
於一施工結構外側設置至少一量測立架;其中,該量測立架具有一量測頂點;於每一該量測立架之該量測頂點上架設一全站量測儀,其中該全站量測儀之高程高於該施工結構於一第一施工階段之一第一階段結構高度;選定該施工結構於該第一施工階段時之一第一階段量測表面上與該至少一全站量測儀連線上未被阻隔之至少二第一控制點控制點;以及以該至少一全站量測儀參考該些第一控制點之位置定位該第一階段量測表面上之一第一待測點之位置。
100:測量支撐系統
200:全站量測儀
1:儀器底座
11:托板
12:支撐件
2:桿體
2a-2d:分段
21:接頭組件
3:側桿
3a:第一側桿
3b:第二側桿
3c:第三側桿
31:軸條
31c:軸條
32:中空管
32c:中空管
33:凸耳
33c:凸耳
4:連接部
41:半圓扣環
411:立耳部
42:墊片
43:連接組件
431:二面角鋼
431a:第一面
431b:第二面
432:三面角鋼
432a:第一面
432b:第二面
432c:第三面
433:L型角鋼
433a:平面
5:基座
6:固定件
7:支撐組件
8:施工結構
9:鷹架結構
10:橫撐桿
101:凸耳
102:抵面部
S101:步驟
S102:步驟
S103:步驟
S104:步驟
S131:步驟
S132:步驟
S133:步驟
S134:步驟
S161:步驟
S162:步驟
S171:步驟
S171a:步驟
S171b:步驟
S172:步驟
S181:步驟
S182:步驟
S183:步驟
L:伸縮距離
H1:第一階段結構高度
M1:第一階段量測表面
L1:量測立面
P1:模板表面
P:模板頂端
C:施工工地
B:鄰近建築
RL:放樣線
CP1-CP2:第一控制點
DP:測站點
BP1-BP2:基準點
RP1-RP4:第一待測點
H2:第二階段結構高度
CP3-CP4:第二控制點
M2:第二階段量測表面
RP5-RP8:第二待測點
RP9-RP10:第三待測點
VS:放樣虛擬面
300:旋轉雷射儀
301:底座
P9-P10:第三待測點
圖1為本發明測量立架之第一實施例立體示意圖。
圖2為本發明測量立架之第一實施例之連接部與側桿連接處之局部放大示意圖。
圖3為圖2另一視角示意圖。
圖4為本發明測量立架之第一實施例之桿體與二側桿立體俯視示意圖。
圖5為本發明測量立架之使用狀態示意圖。
圖6為本發明測量立架之第二實施例立體示意圖。
圖7為本發明測量立架之第二實施例之桿體與三側桿立體俯視示意圖。
圖8為本發明測量立架之第三實施例立體示意圖。
圖9為本發明測量立架之第四實施例之使用狀態示意圖。
圖10為本發明精準量測方法之一主要步驟流程圖。
圖11為本發明測量立架之其中一使用狀態示意圖。
圖12為本發明之一主要步驟應用於施工放樣之示意圖。
圖13為本發明精準量測方法之另一主要步驟流程圖。
圖14為本發明測量立架之另一使用狀態示意圖。
圖15為本發明之另一主要步驟應用於施工放樣之示意圖。
圖16為本發明精準量測方法之其中一詳細步驟流程圖。
圖17為本發明精準量測方法之另一詳細步驟流程圖。
圖18為本發明精準量測方法之另一詳細步驟流程圖。
圖19為本發明另外搭配雷射儀進行測量輔助之使用狀態示意圖。
為方便本領域的技術人員能夠對本發明的意旨、結構及其功效,獲得深入的理解,底下舉出一較佳實施例配合所附的圖式,將本發明做詳細說明如下。
本發明提出一種施工量測方法,主要是用來將建築工程中的混凝土結構所組成的柱牆模及樑板模進行精確的定位基準及標高測量,以方便進行施工放樣及量測立架的設置。較佳者,本發明的施工量測方法,參閱圖1至圖9所示的施工測量立架來實現。為了使得本領域的技術人員能夠迅速了解本發明的施工量測方法的操作模式,在此先藉由圖1至圖9將用來實現本發明的測量立架進行詳細的解說,再來藉由圖10至圖19的流程圖搭配使用狀態圖來解釋本發明的施工量測方法的步驟,以方便本領域的技術人員能夠對於本案的精神與原理有深入的理解。
首先,參閱圖1所示,用來實現本發明之量測立架結構之第一佳實施例。
實施例一
請參閱圖1,為本發明之測量立架100第一實施例,一種測量立架100,供配合一全站量測儀200使用,包含儀器底座1、桿體2、至少二側桿3。儀器底座1包含托板11和至少二支撐件12。測量立架較佳實施例的托板11外型為圓盤狀,且材質為鍍鋅鐵,但於實際應用上托板11的外型與材質不受此限制。每一支撐件12其中一端分別連接於托板11兩側,以使各支撐件12以對稱的分佈設置與托板11連接,例如連接於托板11的相對兩側。本發明之測量立架100實施例中,支撐件12連接於托板11為焊接的方式,但連接的方式於實際應用上不受此限制。此外,支撐件12係形成外突的弧狀支臂,以提供托板穩固的支撐。測量立架之儀器底座1係供設置全站量測儀200,且透過托板11以固定住全站量測儀200。測量立架較佳實施例的托板11係用固定螺栓以固定住全站量測儀200,但於實際應用上托板與全站量測儀的固定方法不受此限制。
桿體2具有相對之第一端及第二端,第一端設有接頭組件21。本發明之測量立架100較佳實施例的接頭組件21外型為圓盤狀,且材質為鍍鋅鐵,但於實際應用上接頭組件21的外型與材質不受此限制。桿體2第二端的接頭組件21連接於儀器底座1,進一步來說,能透過儀器底座1的每一支撐件12另一端分別連接於接頭組件21相對兩側;當二支撐件12的兩端分別將托板11與接頭組件21連接時,以使二支撐件12設置於托板11與接頭組件21相對兩側,且托板11與接頭組件21彼此呈上下相對。本發明之測量立架100較佳實施例的桿體2為圓管,且為鍍鋅材質,但於實際應用上桿體2的外型與材質不受此限制。
在本實施例中,側桿3包含二軸條31以及三中空管32,但軸條31及中空管32的數量不以此為限,且側桿3亦非限定以軸條及中空管組合來形成。每一側桿3以連接部4與桿體2相連接,且另一端連接於支撐組件7上。較佳而言,每一側桿3與桿體2間的夾角角度介於30度至45度之間,以兼顧支撐性及可調整性。側桿3中至少其一為可鎖定地伸縮,並藉由調整伸縮及鎖定側桿3以定位桿體2,而本實施例中的二支側桿3均為可鎖定地伸縮。進一步來說,側桿3的軸條31具有螺紋,軸條31兩端皆能被中空管32內部吻合地旋住鎖定,且二軸條31兩端分別設置各一中空管32。藉由旋轉調整中空管32於每一軸條31兩端的伸縮距離L,使每一側桿3被鎖定調整後,並設置於桿體2上。進一步得知側桿3為可伸縮的。本發明之測量立架100較佳實施例的中空管32為圓條鍍鋅之材質,但於實際應用上中空管32能與軸條31達到吻合地旋住鎖定外,中空管32的外型與材質不受此限制。
其中,至少一側桿3具有軸向拉力,至少一側桿3具有軸向壓力。具體來說,搭配圖1所示,用於支撐桿體2的二側桿3上均有受到軸向應力,而此軸向應力可為壓應力或拉應力。如一側桿3上的軸向應力為拉應力時,則該側桿3作用於桿體2之力為內拉之力;另一邊之側桿3上的軸向應力為壓應力時,則該側桿3作用於桿體2之之力為外推之力。藉由各側桿3間軸向拉力與軸向壓力之制衡,得以提供桿體2更穩定的支撐。
本發明之測量立架100進一步包含基座5。基座5與桿體2另一端連接,且桿體2另一端也設有接頭組件21,基座5透過接頭組件21與桿體2連接。具體來說,藉由接頭組件21將桿體2與基座5連接固定。本發明之測量立架100較佳實施例的基座5為鍍鋅鐵材質的方形管,於實際應用上基座5的外型與材質不受此限制。
本發明之測量立架100進一步包含複數個固定件6。複數個固定件6能用於接頭組件21將基座5與桿體2固定、用於固定儀器底座1的托板11與全站量測儀200、以及用於連接部4將側桿3與桿體2互相連接。如圖1所示,桿體2可由複數節分段2a-2d所組成,且每一分段2a-2d兩端各具有接頭組件21,並以複數個固定件6用於接頭組件21上以組成桿體2。藉由增加或減少分段2a-2d的數量,即可延伸或縮短桿體2。固定件6也能用於支撐組件7固定於地面,並固定住與支撐組件7連接的側桿3。本發明之測量立架100較佳實施例的固定件6為六角螺絲,但固定件6也可以為圓形螺絲或是方形螺絲。
其中,如圖2和圖3所示,連接部4進一步包含二半圓扣環41、二墊片42、以及二連接組件43。墊片42夾設於桿體2與二半圓扣環41間,具體來說,每一墊片42分別夾設於桿體2相對的兩側,隨者半圓扣環41分別與墊片42貼合設置以包住桿體2外圍一側,且兩側的半圓扣環41與墊片42隔著桿體2彼此相對。本發明之測量立架100較佳實施例的墊片42為半圓形狀,但於實際應用時,墊片的形狀不限於此。測量立架較佳實施例的每一半圓扣環41為了貼合於墊片42上,半圓扣環41的貼合處設計成與墊片42外形相吻合。測量立架較佳實施例的墊片42與半圓扣環41係透過焊接固定,但於實際應用時,測量立架固定的方法不限於此。
另一方面,二連接組件43將分別連接二半圓扣環41間以及其中一側桿3。具體來說,其中一連接組件43設置於二半圓扣環41之間的連接處,二半圓扣環41之間透過連接組件43連接其中一側桿3,以使本發明之測量立架100第一實施例的二側桿3分別設置於二半圓扣環41之間的連接處。接著再透過複數個固定件6用於連接部4將側桿3固定於桿體2上。
接著再參閱圖4,係為本發明之測量立架100第一實施例之桿體2與二側桿3連接的俯視圖。且於俯視視角觀看桿體2及側桿3時,相鄰之側桿3間角度為45度至65度。也就是說,以在垂直於桿體2的虛擬平面上的投影而言,相鄰之側桿3間角度θ為45度至65度。藉由設定二側桿3間的角度範圍,可提高支撐系統整體的穩定性。
請參閱圖2和圖3所示,為本發明之測量立架100第一實施例之連接部4與側桿3連接處局部放大圖。每一連接組件43進一步包含二面角鋼431、三面角鋼432、以及L型角鋼433。其中,二面角鋼431具有第一面431a和第二面431b;第一面431a為弧狀之曲面,第二面431b則為平面。三面角鋼432具有第一面432a、第二面432b以及第三面432c;第一面432a為弧狀之曲面,第二面432b及第三面432c則為平面,且第二面432b與第三面432c為相互垂直之設置。二面角鋼431及三面角鋼432分別以第一面431a與第一面432a之曲面焊接於其中一半圓扣環41,且以第二面431b與第二面432b之平面相互連接,再透過複數個固定件6固定。具體來說,二面角鋼431及三面角鋼432的曲面透過焊接方式,以貼合於二半圓扣環41外側,且覆蓋住二半圓扣環41之間的連接處。另外,貼合於二半圓扣環41之間的二面角鋼431及三面角鋼432的平面能透過固定件6固定,使得二面角鋼431及三面角鋼432的平面相互貼合。如圖2所示,二半圓扣環41之間的連接處分別設置二面角鋼431及三面角鋼432,並透過固定件6將二面角鋼431及三面角鋼432固定住。
其中,L型角鋼433以其一平面433a與三面角鋼432相互鉸接,且以其另一平面433a與其中一側桿3相互鉸接,再透過複數個固定件6固定。具體來
說,如圖2和圖3所示,L型角鋼433其中一平面433a透過固定件6固定於三面角鋼432的第三面432c上。
再者,其中,每一側桿3兩端有凸耳33。凸耳33上有穿孔。其中一端凸耳33與L型角鋼433相互鉸接;另一端之凸耳33與支撐組件7固定於結構表面。具體來說,如圖2和圖3所示,側桿3其中一端之凸耳33透過固定件6與L型角鋼433另一平面433b相互鉸接固定;如圖1所示,側桿3另一端之凸耳33透過複數個固定件6與支撐組件7連接,且支撐組件7也能透過複數個固定件6固定於地面上。
參閱圖5所示,本發明之測量立架100進一步包含施工結構8,施工結構8具有階段結構高度H1+H2,此階段結構高度H1+H2即為第二施工階段灌漿完成並拆模後之施工結構8之頂點高度即為新第一階段結構高度H2;其中,桿體2係設置於施工結構8外側,且儀器底座1之高程高於階段結構高度H1+H2。以利進行施工放樣及檢驗施工準確度時,使本發明之測量立架100之基座5係設置於施工結構8外之地面,側桿3之支撐組件7則固定於施工結構8之第一階段量測表面M1,使基座5及側桿3支撐起桿體2及架設之全站量測儀200。
實施例二
請參閱圖6之實施例,為本發明之測量立架100第二實施例的立體圖。與本發明之測量立架100第一實施例差別在於至少二側桿3包含第一側桿3a、第二側桿3b及第三側桿3c。其中第一側桿3a及第二側桿3b分別透過連接部4連接於桿體2相對兩側,第三側桿3c則設置於第一側桿3a及二側桿3b之間。具體來說,測量立架第二實施例之第一側桿3a及第二側桿3b的設置方式與第一實施例之二側桿3設置方法係相同的,故不加以贅述。另一方面,連接部4的其中一半圓扣環
41進一步包含立耳部411。立耳部411設置於其中一半圓扣環41上,且位於二連接部43之間。其中,第三側桿3c兩端皆有凸耳33c。第三側桿3c的其中一端凸耳33c能透過固定件6與立耳部411相互鉸接固定,使第三側桿3c固定於其中一半圓扣環41上,且設置於第一側桿3a及第二側桿3b之間;第三側桿3c另一端之凸耳33c則透過固定件6與支撐組件7固定於地面,或是如圖5所示,本發明之測量立架100第二實施例的第三側桿3c與本發明之測量立架100第一實施例的側桿3設置於施工結構8方法相同,皆為透過支撐組件7固定於第一階段量測表面M1。
接著再參閱圖7,係為本發明之測量立架100第二實施例之桿體2與第一側桿3a、第二側桿3b及第三側桿3c連接的俯視圖。且於仰視角觀看第一側桿3a、第二側桿3b及第三側桿3c時,第三側桿3c分別與第一側桿3a及第二側桿3b相鄰之間的夾角角度介於45度至65度之間。
另一方面,第一側桿3a、第二側桿3b及第三側桿3c中至少其一為可鎖定地伸縮,並藉由調整伸縮及鎖定第一側桿3a、第二側桿3b及第三側桿3c中至少其一以定位桿體2。具體來說,如圖6所示,本發明之測量立架100第二實施例之第三側桿3c具有二軸條31c以及三中空管32c,但軸條31c及中空管32c的數量不以此為限,且第三側桿3c亦非限定以軸條及中空管組合來形成。第三側桿3c可藉由旋轉調整中空管32c於每一軸條31c兩端的伸縮距離L來伸縮地調整鎖定,並設置於桿體2上。前述方法操作與第一實施例之側桿3的使用方法相同,故不再贅述。
實施例三
請參閱圖8,為本發明之測量立架100第三實施例的立體圖。與本發明之測量立架100第一實施例差別在於本發明之測量立架100進一步包含二橫
撐桿10。每一橫撐桿10其中一端以連接部4與桿體2相連接,以使二橫撐桿10分別設置於桿體2相對兩側。
本發明之測量立架100第三實施例的連接部4進一步包含二半圓扣環41、二墊片42、以及二連接組件43。與本發明之測量立架100第一實施例差別在於每一連接組件43僅包含二面角鋼431以及三面角鋼432。具體來說,每一橫撐桿10其中一端凸耳101與連接部4的三面角鋼432相互鉸接,透過固定件6固定使每一橫撐桿10與桿體2相連接;搭配圖5所示,每一橫撐桿10另一端則以抵面部102於施工結構8外的樑上互相接觸,最後再透過複數個固定件6固定。
實施例四
如圖9所示,為本發明之測量立架100第四實施例之使用狀態圖。與本發明之測量立架100其它實施例差別在於測量立架之基座5可以置換成三角結構之外型,並固定於結構表面上。舉例來說,第四實施例之基座5預先設置於階段結構高度H2的結構表面上,並架設本發明之測量立架100的儀器底座1之高程高於階段結構高度H2,透過全站量測儀200對施工結構8的模板進行施工放樣。當該施工階段完成時,如欲往上加設另一階段結構高度時,可將測量立架100拆除,接著將基座5往上設置於超過階段結構高度H2的結構表面上,並將本發明之測量立架100重複組裝及設置,以利施工人員在增加施工結構的樓層高度時,可對本發明之測量立架100方便拆卸及組裝。
請參閱圖10至圖19,為本發明施工量測方法的詳細步驟,係經由圖10至圖18的流程圖來詳細說明。首先,請參見圖10,其圖例說明了本發明的施工量測方法的主要步驟。本發明的施工量測方法開始於步驟S101,搭配圖5所示,其中在施工結構8的外側設置至少一量測立架100模板表面(如圖5所示),其中該量測立架100具有儀器底座1。
接著,本發明的施工量測方法進行至步驟S102,其中在每一量測立架100之儀器底座1上架設一全站量測儀200(如圖11),其中全站量測儀200之高程高於施工結構8於第一施工階段之第一階段結構高度H1。搭配圖11所示,為本發明的施工量測方法之使用狀態圖,第一施工階段所起始之第一階段結構高度H1可例如是從施工地基為零的高度去開始建構。然而在不同實施例中,第一階段結構高度H1也可以是施工過程中其他階段的結構體或模板高度。
再者,本發明的施工量測方法進行至步驟S103,其中選定施工結構8於第一施工階段時之第一階段量測表面M1上與至少一全站量測儀200連線上未被阻隔之至少二第一控制點CP1-CP2。其中,搭配圖12所示,第一控制點CP1-CP2係本發明選用該些全站量測儀200之高程高於第一階段結構高度H1時,既能在施工工地C外之鄰近建築B上找到未被其它建物或是施工物體所阻隔之座標位置。本發明之施工量測方法之較佳實施例係選用兩支全站量測儀200,藉以將該些全站量測儀200之量測範圍全部或部分涵蓋第一階段量測表面M1,於實際應用時全站量測儀200的數量不限於此。其中第一階段量測表面M1可為在此施工階段所設定需進行量測的表面區域,可例如為模板表面的全部或部分、成形結構體的全部或部分。在一實施例中,第一階段量測表面M1包含量測立面L1及模板表面P1。模板表面P1包含模板頂端P,第一階段結構高度H1即為模板頂端P之高度。在不同實施例中,當第一施工階段進行灌漿時,第一施工階段灌漿完成並拆模後之施工結構8之頂點高度即為新第一階段結構高度H1,最後水泥灌漿完成之柱牆或樑板即為量測立面L1。
於本發明之施工量測方法實施例中,至少二第一控制點CP1-CP2為鄰近建築B上二個未被阻隔其他建物阻隔之座標位置;亦或是可為四個第一控制點之座標設置,並將前述四個第一控制點兩兩為一組,形成兩組之第一控制點
之組別。於不同實施例中,第一控制點的數量可視情況調整增加。上述第一控制點CP1-CP2彼此座標之間能透過全站量測儀200進行交互檢測。
最後,本發明的施工量測方法進行至步驟S104,其中以至少一全站量測儀200參考該些第一控制點CP1-CP2之位置,並找出定位第一階段量測表面M1上之第一待測點RP1-RP4之座標位置。在一實施例中,第一階段量測面M1上包含已完成實體放樣的放樣線RL,第一待測點RP1-RP4設定於放樣線RL上,藉以判斷放樣線RL的位置是否準確。
在另一實施例中,本發明的施工量測方法之步驟S104進一步包含,於第一階段量測面M1上根據複數個第一待測點RP1-RP2以確定放樣線RL。本實施例中,全站量測儀200透過在第一階段量測面M1上給定已知座標位置的第一待測點RP1-RP2,以施放預放樣的放樣線RL,並使第一待測點RP1-RP2皆位於放樣線RL內,前述方法稱為預放樣。藉此,可在進行實體放樣前先提供預放樣線,以利工程人員進行設計確認、材料估算及其他用途。
此外,本發明的施工量測方法的詳細步驟,更包括圖13的流程圖所示的步驟,其包括:步驟S131:當施工結構8自第一施工階段進行到第二施工階段時,增加儀器底座1之高度。
步驟S132:於每一量測立架之儀器底座1上架設全站量測儀200,其中全站量測儀200之高程高於施工結構8於第二施工階段之第二階段結構高度H2。在圖14所示之實施例中,進行第二施工階段係於原樓板面上(即前一施工階段形成的樓板結構)再搭設了上層的樓板及樑模板,因此增加了結構高度H1。可知第二階段結構高度H2係高於第一階段結構高度H1。第二施工階段所起始之第二階段結構高度H2可例如是從第一階段結構高度H1上為起始的高度去開始建構的。
步驟S133:選定施工結構8於第二施工階段時之第二階段量測表面M2上與至少一全站量測儀200連線上未被阻隔之至少二第二控制點CP3-CP4。
於本發明之施工量測方法實施例中,至少二第二控制點CP3-CP4為鄰近建築B上二個未被阻隔其他建物阻隔之座標位置;亦或是可為四個第二控制點之座標設置,並將前述四個第二控制點兩兩為一組,形成兩組之第二控制點之組別。於不同實施例中,第二控制點的數量可視情況調整增加。上述第二控制點CP3-CP4彼此座標之間能透過全站量測儀200進行交互檢測。
最後,本發明的施工量測方法進行至步驟S134:以至少一全站量測儀200參考該些第二控制點CP3-CP4之位置定位第二階段量測表面M2上之第二待測點RP5-RP8之位置。
請同時參閱圖15所示,其中以至少一全站量測儀200參考該些第二控制點CP3-CP4之位置,並找出定位第二階段量測表面M2(如圖14所示)上之第二待測點RP5-RP8之座標位置。藉由定位第二待測點RP5-RP8之座標位置即可進行前述放樣線檢核、預放樣等工作。此外,也可將第二待測點RP5-RP8設定為結構體各位置處,例如模板頂端、牆面頂端等,以確認是否有偏移的狀況。
再者,本發明的施工量測方法,其中量測立架100設置方式如圖16的流程圖所示的步驟,其包含:步驟S161:於施工結構8外側設置鷹架結構9;以及步驟S162:設置至少一量測立架100於施工結構8及該鷹架結構9之間。
搭配圖14所示,本發明之測量立架100進一步包含鷹架結構9,設置於施工結構8外側,其中桿體2係設置於施工結構8及鷹架結構9之間。以使本發明測量立架100在增長桿體2長度時,並調整二側桿3的中空管32於軸條31兩端的
伸縮距離L鎖定長度,使本發明測量立架100能穩定地佇立於鷹架結構9與施工結構8之間。
此外,本發明的施工量測方法的詳細步驟,更包括圖17的流程圖所示的步驟,其包括:步驟S171:整合第一圖面資料及第二圖面資料而產生整合圖面資料;以及步驟S172:傳輸整合圖面資料至至少一全站量測儀200。
此外,圖17的流程圖所示的步驟S171,更包含底下的子步驟:S171a:疊加第一圖面資料及第二圖面資料以形成組合圖面資料;例如可以全站儀設置點作為基準點以疊加各圖面。S171b:篩選該組合圖面資料之內容進行簡化,以產生整合圖面資料。
於本發明之施工量測方法實施例中,上述第一圖面資料及第二圖面資料可為軀體施工圖、模板放樣施工圖及機電放樣施工圖。整合圖面資料則為精準測量檢測圖。本發明實施例的整合圖面資料內容包含測量的控制點位置、放樣基準線、放樣孔位、柱牆樑版等結構位置(柱及樑上需有編號)、窗牆版的開口位置、輕隔間位置以及機電欲留管之版出口位置(不須繪製設備)。
其中,整合圖面資料之繪製要點包含控制點位置圖例為、繪製單位須與圖面比例單位及全站C200中單位一致以及建立測量所需相關圖層,以利繪製整合圖面資料時簡化,並將其匯入全站量測儀200進行現場測量檢測及預放樣等工作。簡化之內容可包含但不限於重複的內容或不需檢測及測量內容等。
本發明的施工量測方法的詳細步驟,其包括圖18的流程圖所示的步驟,其包括:S181:於該第一階段量測面M1之量測立面L1上設置一旋轉雷射儀300;S182:以旋轉雷射儀300於預定間距處產生放樣虛擬面VS;以及
S183:量測量測立面L1上第三待測點RP9-RP10與放樣虛擬面間VS之間距。
搭配圖19所示,具體來說,量測立面L1即為施工結構8外側。其中,量測立面L1包含尚未水泥灌漿之模板的模板立面以及被水泥灌漿之模板成為水泥牆之成形結構立面。參閱圖19所示,本發明之測量立架100進一步包含旋轉雷射儀300。旋轉雷射儀300設置於底座301上,如圖19所示,底座301係設置於施工結構8外側,且底座301搭載的旋轉雷射儀300於施工結構8之外側產生放樣虛擬面VS,放樣虛擬面VS係顯示於圖18的側視圖中為線條樣式。接著,於施工結構8之立面上標記第三待測點P9-P10;量測量測立面L1上第三待測點P9-P10分別與放虛擬面VS間之間距。具體來說,藉由旋轉雷射儀300所投射的放樣虛擬面VS分別量測第三待測點P9-P10之間距,如測出之間距為相同時,即表示量測立面L1係為垂直之依據。
本發明上述方法係用於施工放樣時,先於施工結構8外側作基準線(基準點BP1-BP2)檢測和放樣線(第一待測點RP1-RP4及第二待測點RP3-RP4)檢測。於柱牆模的單面模(門窗合板之定位完成)上透過墨線儀作門窗開口之尺寸高程及左右位置檢測、柱牆模的雙面模上透過水平尺作內外牆垂直度檢測、柱牆模的樑底/樑側透過墨線儀作樑底高程檢測和垂直度檢測。此時本發明的量測立架100需從第一階段結構高度H1往上架設至第二階段結構高度H2,增加儀器底座1之高度,以使架設之全站量測儀200之高程高於第二階段結構高度H2;接著於樑版模的版底施作時,透過全站量測儀作基準線放樣、機電放樣基準線放樣;當版底完成時,透過全站量測儀作模板的二次基準線檢測。再者於鋼筋完成之灌漿前透過全站量測儀作模板外牆檢測、外牆模板垂直度檢測和機電出管檢測,以完成灌漿之施工步驟。
縱使本發明已由上述之實施例詳細敘述而可由熟悉本技藝之人士任施匠思而為諸般修飾,然皆不脫如附申請專利範圍所欲保護者。故,凡依本發明申請專利範圍及專利說明書內容所作簡單的等效變化與修飾,皆應屬本發明專利涵蓋之範圍內。
S101:步驟
S102:步驟
S103:步驟
S104:步驟
Claims (16)
- 一種施工量測方法,包含下列步驟:於一施工結構外側設置至少一量測立架;其中,該量測立架具有一量測頂點;於每一該量測立架之該量測頂點上架設一全站量測儀,其中該全站量測儀之高程高於該施工結構於一第一施工階段之一第一階段結構高度;選定該施工結構於該第一施工階段時之一第一階段量測表面上與該至少一全站量測儀連線上未被阻隔之至少二第一控制點;以該至少一全站量測儀參考該些第一控制點之位置定位該第一階段量測表面上之一第一待測點之位置;整合一第一圖面資料及一第二圖面資料而產生一整合圖面資料;以及傳輸該整合圖面資料至該至少一全站量測儀。
- 如請求項1所述之量測方法,進一步包含:當該施工結構自該第一施工階段進行到一第二施工階段時,增加該量測頂點之高度;於每一該量測立架之該量測頂點上架設該全站量測儀,其中該全站量測儀之高程高於該施工結構於該第二施工階段之一第二階段結構高度;其中,該第二階段結構高度高於該第一階段結構高度;選定該施工結構於該第二施工階段時之一第二階段量測表面上與該至少一全站量測儀連線上未被阻隔之至少二第二控制點;以及以該至少一全站量測儀參考該些第二控制點之位置定位該第二階段量測表面上之一第二待測點之位置。
- 如請求項1所述之量測方法,其中該些全站量測儀的量測範圍涵蓋該第一階段量測表面。
- 如請求項1所述之量測方法,其中該第一階段量測表面包含一量測立面。
- 如請求項1所述之量測方法,其中該第一階段量測表面包含一模板表面。
- 如請求項5所述之量測方法,其中該模板表面包含一模板頂端,該第一階段結構高度即為該模板頂端高度。
- 如請求項1所述之量測方法,其中該第一階段量測表面包含一成形結構體。
- 如請求項1所述之量測方法,其中該第一階段量測表面包含一放樣線,該第一待測點係位於該放樣線上。
- 如請求項1所述之量測方法,進一步包含:於該第一階段量測表面上根據複數個該第一待測點以確定一放樣線。
- 如請求項1所述之量測方法,其中該量測立架設置步驟包含:於該施工結構外側設置一鷹架結構;以及設置該至少一量測立架於該施工結構及該鷹架結構之間。
- 如請求項1所述之量測方法,其中該整合圖面資料包含測量的該些第一控制點位置。
- 如請求項1所述之量測方法,其中該第一待測點定位步驟包含依據該整合圖面資料定位該第一待測點。
- 如請求項1所述之量測方法,其中該整合圖面資料產生步驟包含:疊加該第一圖面資料及該第二圖面資料以形成一組合圖面資料;以及篩選該組合圖面資料之內容進行簡化,以產生該整合圖面資料。
- 如請求項1所述之量測方法,進一步包含:於該第一階段量測表面之一量測立面上設置一旋轉雷射儀;以該旋轉雷射儀於一預定間距處產生一放樣虛擬面;量測該量測立面上一第三待測點及一與該放虛擬面間之間距。
- 如請求項14所述之量測方法,其中該量測立面為一模板立面。
- 如請求項14所述之量測方法,其中該量測立面包含一成形結構立面。
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