TWI762411B - 螢幕雲紋消除方法及系統 - Google Patents
螢幕雲紋消除方法及系統 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI762411B TWI762411B TW110131149A TW110131149A TWI762411B TW I762411 B TWI762411 B TW I762411B TW 110131149 A TW110131149 A TW 110131149A TW 110131149 A TW110131149 A TW 110131149A TW I762411 B TWI762411 B TW I762411B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- luminance
- display panel
- value
- frame
- moiré
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Control Of El Displays (AREA)
- Transforming Electric Information Into Light Information (AREA)
Abstract
一種螢幕雲紋消除方法,其包括:以具有一致灰階的一幀顯示資料驅動一顯示面板以產生一亮度畫面;利用一攝影裝置擷取該亮度畫面之各像素亮度值;依一目標亮度值對該亮度畫面之各所述像素亮度值進行一差值運算以獲得一幀亮度差值;以及依該幀亮度差值映射一查找表以產生一幀對應灰階值,並依該幀對應灰階值在一預定環境溫度下驅動該顯示面板一段預定時間。
Description
本發明係有關於顯示器,特別是關於一種消除顯示器產生螢幕雲紋現象的方法。
一般的顯示器,例如LED顯示器或OLED顯示器皆有螢幕雲紋(mura)的問題。螢幕雲紋係因螢幕上各畫素具有不同的亮度顯示性能所造成的亮度不均勻的現象。
為解決螢幕雲紋的問題,一般有內部補償及電學式/光學式外部補償的雲紋補償方式。內部補償須在像素陣列驅動側增加額外電路,並須提供額外的補償時序、電流比較運算及驅動電流校準程序,且其補償效果有限。電學式外部補償一樣須在像素陣列驅動側增加額外電路,並需要額外的時間以將像素資訊抽取至外部電路以產生並儲存補償值,並將補償值加入顯示資訊中。然而,與內部補償一樣,電學式外部補償僅能得知電流差異,其補償效果亦有限。光學式外部補償係利用攝影機得到每個像素的發光資訊以產生補償資訊,並將補償資訊於顯示時帶入,然而,由於其須額外增加顯示資料處理電路與大量的記憶體空間,其技術方案仍有改善的空間。
為解決上述的問題,本領域亟需一新穎的螢幕雲紋消除方法。
本發明之一目的在於揭露一種螢幕雲紋消除方法,其能夠藉由偵測一顯示面板的不均勻亮度顯示性能產生一幀對應的灰階值,及依該幀對應的灰階值在一預定環境溫度下驅動該顯示面板一段預定時間,而使該顯示面板的各像素均經過一對應的老化過程而有一致的亮度顯示性能,從而有效消除螢幕雲紋。
本發明之另一目的在於揭露一種螢幕雲紋消除方法,其可藉由一預先測得的查找表產生該幀對應的灰階值。
本發明之又一目的在於揭露一種螢幕雲紋消除方法,其能夠藉由設定一較高的環境溫度而縮短該顯示面板達成均勻亮度顯示性能所需的時間。
為達前述目的,一種螢幕雲紋消除方法乃被提出,其包含:
以具有一致灰階的一幀顯示資料驅動一顯示面板以產生一亮度畫面;
利用一攝影裝置擷取該亮度畫面之各像素亮度值;
依一目標亮度值對該亮度畫面之各所述像素亮度值進行一差值運算以獲得一幀亮度差值;以及
依該幀亮度差值映射一查找表以產生一幀對應灰階值,並依該幀對應灰階值在一預定環境溫度下驅動該顯示面板一段預定時間。
在一實施例中,該查找表記載多組對照資料,各組所述對照資料均包括一所述亮度差值及一所述對應灰階值,且各所述亮度差值均係由一所述對應灰階值在該預定環境溫度下驅使一像素顯示該段預定時間而測得的亮度衰減值。
在可能的實施例中,所述顯示面板可為微發光二極體顯示面板、迷你發光二極體顯示面板、量子點發光二極體顯示面板或有機發光二極體顯示面板。
為達前述目的,本發明進一步提出一種消除螢幕雲紋之系統,其具有一測試環境室、一攝影裝置及一控制單元以對一顯示面板執行一螢幕雲紋消除程序,該螢幕雲紋消除程序包括:
該控制單元以具有一致灰階的一幀顯示資料驅動位於該測試環境室中之該顯示面板以產生一亮度畫面;
該控制單元驅動該攝影裝置以擷取該亮度畫面之各像素亮度值;
該控制單元依一目標亮度值對該亮度畫面之各所述像素亮度值進行一差值運算以獲得一幀亮度差值;以及
該控制單元依該幀亮度差值映射一查找表以產生一幀對應灰階值,並依該幀對應灰階值在一預定環境溫度下驅動該顯示面板一段預定時間。
在一實施例中,該查找表記載多組對照資料,各組所述對照資料均包括一所述亮度差值及一所述對應灰階值,且各所述亮度差值均係由該控制單元以一所述對應灰階值在該預定環境溫度下驅使一像素顯示該段預定時間,並由該攝影裝置測得的亮度衰減值。
在可能的實施例中,所述顯示面板可為微發光二極體顯示面板、迷你發光二極體顯示面板、量子點發光二極體顯示面板或有機發光二極體顯示面板。
在一實施例中,該預定環境溫度係由該測試環境室設定。
在一實施例中,該段預定時間係由該測試環境室設定。
在一實施例中,該預定環境溫度係與該段預定時間成反比。
在一實施例中,該查找表係儲存在該控制單元之一記憶體中。
為使 貴審查委員能進一步瞭解本發明之結構、特徵及其目的,茲附以圖式及較佳具體實施例之詳細說明如後。
本發明的原理在於:
(一)偵測一幀均勻亮度資料在一顯示面板上顯示的不均勻亮度分布;
(二)依一目標亮度值與該不均勻亮度分布的各像素亮度值之差值產生一幀亮度差值;
(三)依該幀亮度差值映射一預先測得之查找表以產生一幀對應灰階值,以在依該幀對應灰階值在一預定環境溫度下驅動該顯示面板一段預定時間後,使各像素均經過一對應的老化過程而有一致的亮度顯示性能,從而有效消除螢幕雲紋。
請參照圖1,其繪示本發明之螢幕雲紋消除方法之一實施例的流程圖。如圖1所示,該螢幕雲紋消除方法包括:以具有一致灰階的一幀顯示資料驅動一顯示面板以產生一亮度畫面(步驟a);利用一攝影裝置擷取該亮度畫面之各像素亮度值(步驟b);依一目標亮度值對該亮度畫面之各所述像素亮度值進行一差值運算以獲得一幀亮度差值(步驟c);以及依該幀亮度差值映射一查找表以產生一幀對應灰階值,並依該幀對應灰階值在一預定環境溫度下驅動該顯示面板一段預定時間(步驟d)。
在步驟a中,所述顯示面板可為微發光二極體顯示面板、迷你發光二極體顯示面板、量子點發光二極體顯示面板或有機發光二極體顯示面板,而當該顯示面板顯示該亮度畫面時,由於其各像素的發光性能存在差異,該亮度畫面乃會產生雲紋(mura)。
在步驟b中,該攝影裝置可為一CCD(電荷耦合元件) 攝影裝置以擷取該亮度畫面之各像素亮度值。
在步驟c中,可利用一處理器執行所述的差值運算以獲得一幀所述亮度差值。
在步驟d中,該查找表記載多組對照資料,各組所述對照資料均包括一所述亮度差值及一所述對應灰階值,且各所述亮度差值均係由一所述對應灰階值在該預定環境溫度下驅使一像素顯示該段預定時間而測得的亮度衰減值。例如,在環境溫度為攝氏120度下將灰階由0至255依序各驅使一像素顯示一小時以測得256個不同的亮度衰減值,或在環境溫度為攝氏200度下將灰階由0至255依序各驅使一像素顯示10分鐘以測得256個不同的亮度衰減值,亦即該預定環境溫度係與該段預定時間成反比。
請參照圖2,其為依圖1之步驟d所述之查找表繪示而成之一灰階值對亮度衰減值之分布曲線圖。由圖2可看出,灰階越高/低,亮度衰減值越大/小。因此,在該幀所述亮度差值中,亮度差值越大/小的像素點便會對應到較大/小的灰階值,以使各該像素點在該預定環境溫度下持續發光該段預定時間後均能夠老化至一相同的狀態。
依上述的說明,本發明提出一種螢幕雲紋消除系統。請參照圖3,其繪示本發明之螢幕雲紋消除系統之一實施例的方塊圖。如圖3所示,一螢幕雲紋消除系統100包括一測試環境室110、一攝影裝置120及一控制單元130以對一顯示面板200執行一螢幕雲紋消除程序,該螢幕雲紋消除程序包括:
(一)控制單元130以具有一致灰階的一幀顯示資料驅動位於測試環境室110中之顯示面板200以產生一亮度畫面。
(二)控制單元130驅動攝影裝置120以擷取該亮度畫面之各像素亮度值。
(三)控制單元130依一目標亮度值對該亮度畫面之各所述像素亮度值進行一差值運算以獲得一幀亮度差值。
(四)控制單元130依該幀亮度差值映射一查找表以產生一幀對應灰階值,並依該幀對應灰階值在一預定環境溫度下驅動顯示面板200一段預定時間。
另外,顯示面板200可為微發光二極體顯示面板、迷你發光二極體顯示面板、量子點發光二極體顯示面板或有機發光二極體顯示面板。
另外,攝影裝置120可為一CCD(電荷耦合元件) 攝影裝置。
另外,控制單元130可包含一處理器以執行所述的差值運算。
另外,該查找表記載多組對照資料,各組所述對照資料均包括一所述亮度差值及一所述對應灰階值,且各所述亮度差值均係由一所述對應灰階值在該預定環境溫度下驅使一像素顯示該段預定時間而測得的亮度衰減值。例如,在環境溫度為攝氏120度下將灰階由0至255依序各驅使一像素顯示一小時以測得256個不同的亮度衰減值,或在環境溫度為攝氏200度下將灰階由0至255依序各驅使一像素顯示10分鐘以測得256個不同的亮度衰減值,亦即該預定環境溫度係與該段預定時間成反比。
另外,該預定環境溫度和該段預定時間可由該測試環境室110設定,且該預定環境溫度係與該段預定時間成反比。
另外,該查找表可儲存在該控制單元130之一記憶體中。
藉由前述所揭露的設計,本發明乃具有以下的優點:
1.本發明的螢幕雲紋消除方法能夠藉由偵測一顯示面板的不均勻亮度顯示性能產生一幀對應的灰階值,及依該幀對應的灰階值在一預定環境溫度下驅動該顯示面板一段預定時間,而使該顯示面板的各像素均經過一對應的老化過程而有一致的亮度顯示性能,從而有效消除螢幕雲紋。
2.本發明的螢幕雲紋消除方法可藉由一預先測得的查找表產生該幀對應的灰階值。
3.本發明的螢幕雲紋消除方法能夠藉由設定一較高的環境溫度而縮短該顯示面板達成均勻亮度顯示性能所需的時間。
本案所揭示者,乃較佳實施例,舉凡局部之變更或修飾而源於本案之技術思想而為熟習該項技藝之人所易於推知者,俱不脫本案之專利權範疇。
綜上所陳,本案無論目的、手段與功效,皆顯示其迥異於習知技術,且其首先發明合於實用,確實符合發明之專利要件,懇請 貴審查委員明察,並早日賜予專利俾嘉惠社會,是為至禱。
100:一螢幕雲紋消除系統
110:測試環境室
120:攝影裝置
130:控制單元
200:顯示面板
步驟a:以具有一致灰階的一幀顯示資料驅動一顯示面板以產生一亮度畫面。
步驟b:利用一攝影裝置擷取該亮度畫面之各像素亮度值。
步驟c:依一目標亮度值對該亮度畫面之各所述像素亮度值進行一差值運算以獲得一幀亮度差值。
步驟d:依該幀亮度差值映射一查找表以產生一幀對應灰階值,並依該幀對應灰階值在一預定環境溫度下驅動該顯示面板一段預定時間。
圖1繪示本發明之螢幕雲紋消除方法之一實施例的流程圖。
圖2為依圖1之步驟d所述之查找表繪示而成之一灰階值對亮度衰減值之分布曲線圖。
圖3繪示本發明之螢幕雲紋消除系統之一實施例的方塊圖。
步驟a:以具有一致灰階的一幀顯示資料驅動一顯示面板以產生一亮度畫面
步驟b:利用一攝影裝置擷取該亮度畫面之各像素亮度值
步驟c:依一目標亮度值對該亮度畫面之各所述像素亮度值進行一差值運算以獲得一幀亮度差值
步驟d:依該幀亮度差值映射一查找表以產生一幀對應灰階值,並依該幀對應灰階值在一預定環境溫度下驅動該顯示面板一段預定時間
Claims (10)
- 一種螢幕雲紋消除方法,其包括: 以具有一致灰階的一幀顯示資料驅動一顯示面板以產生一亮度畫面; 利用一攝影裝置擷取該亮度畫面之各像素亮度值; 依一目標亮度值對該亮度畫面之各所述像素亮度值進行一差值運算以獲得一幀亮度差值;以及 依該幀亮度差值映射一查找表以產生一幀對應灰階值,並依該幀對應灰階值在一預定環境溫度下驅動該顯示面板一段預定時間。
- 如申請專利範圍第1項所述之螢幕雲紋消除方法,其中,該查找表記載多組對照資料,各組所述對照資料均包括一所述亮度差值及一所述對應灰階值,且各所述亮度差值均係由一所述對應灰階值在該預定環境溫度下驅使一像素顯示該段預定時間而測得的亮度衰減值。
- 如申請專利範圍第1項所述之螢幕雲紋消除方法,其中,所述顯示面板係由微發光二極體顯示面板、迷你發光二極體顯示面板、量子點發光二極體顯示面板和有機發光二極體顯示面板所組成群組所選擇的一種顯示面板。
- 一種消除螢幕雲紋之系統,其具有一測試環境室、一攝影裝置及一控制單元以對一顯示面板執行一螢幕雲紋消除程序,該螢幕雲紋消除程序包括: 該控制單元以具有一致灰階的一幀顯示資料驅動位於該測試環境室中之該顯示面板以產生一亮度畫面; 該控制單元驅動該攝影裝置以擷取該亮度畫面之各像素亮度值; 該控制單元依一目標亮度值對該亮度畫面之各所述像素亮度值進行一差值運算以獲得一幀亮度差值;以及 該控制單元依該幀亮度差值映射一查找表以產生一幀對應灰階值,並依該幀對應灰階值在一預定環境溫度下驅動該顯示面板一段預定時間。
- 如申請專利範圍第4項所述之消除螢幕雲紋之系統,其中,該查找表記載多組對照資料,各組所述對照資料均包括一所述亮度差值及一所述對應灰階值,且各所述亮度差值均係由該控制單元以一所述對應灰階值在該預定環境溫度下驅使一像素顯示該段預定時間,並由該攝影裝置測得的亮度衰減值。
- 如申請專利範圍第4項所述之消除螢幕雲紋之系統,其中,所述顯示面板係由微發光二極體顯示面板、迷你發光二極體顯示面板、量子點發光二極體顯示面板和有機發光二極體顯示面板所組成群組所選擇的一種顯示面板。
- 如申請專利範圍第4項所述之消除螢幕雲紋之系統,其中,該預定環境溫度係由該測試環境室設定。
- 如申請專利範圍第4項所述之消除螢幕雲紋之系統,其中,該段預定時間係由該測試環境室設定。
- 如申請專利範圍第4項所述之消除螢幕雲紋之系統,其中,該預定環境溫度係與該段預定時間成反比。
- 如申請專利範圍第4項所述之消除螢幕雲紋之系統,其中,該查找表係儲存在該控制單元之一記憶體中。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW110131149A TWI762411B (zh) | 2021-08-23 | 2021-08-23 | 螢幕雲紋消除方法及系統 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW110131149A TWI762411B (zh) | 2021-08-23 | 2021-08-23 | 螢幕雲紋消除方法及系統 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TWI762411B true TWI762411B (zh) | 2022-04-21 |
TW202310600A TW202310600A (zh) | 2023-03-01 |
Family
ID=82198823
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW110131149A TWI762411B (zh) | 2021-08-23 | 2021-08-23 | 螢幕雲紋消除方法及系統 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
TW (1) | TWI762411B (zh) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20130329057A1 (en) * | 2012-06-08 | 2013-12-12 | Apple Inc. | Systems and Methods for Dynamic Dwelling Time for Tuning Display to Reduce or Eliminate Mura Artifact |
US20130342431A1 (en) * | 2012-06-25 | 2013-12-26 | Apple Inc. | Systems and Methods for Calibrating a Display to Reduce or Eliminate Mura Artifacts |
US20160171939A1 (en) * | 2014-12-10 | 2016-06-16 | Samsung Display Co., Ltd. | Display apparatus, method of driving the same and vision inspection apparatus for the same |
CN106097954A (zh) * | 2016-07-21 | 2016-11-09 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | 一种修复平面显示模组Mura缺陷的方法及系统 |
US20190353896A1 (en) * | 2016-09-12 | 2019-11-21 | Kortek Corporation | Apparatus and method for designing light guide plate pattern |
-
2021
- 2021-08-23 TW TW110131149A patent/TWI762411B/zh active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20130329057A1 (en) * | 2012-06-08 | 2013-12-12 | Apple Inc. | Systems and Methods for Dynamic Dwelling Time for Tuning Display to Reduce or Eliminate Mura Artifact |
US20130342431A1 (en) * | 2012-06-25 | 2013-12-26 | Apple Inc. | Systems and Methods for Calibrating a Display to Reduce or Eliminate Mura Artifacts |
US20160171939A1 (en) * | 2014-12-10 | 2016-06-16 | Samsung Display Co., Ltd. | Display apparatus, method of driving the same and vision inspection apparatus for the same |
CN106097954A (zh) * | 2016-07-21 | 2016-11-09 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | 一种修复平面显示模组Mura缺陷的方法及系统 |
US20190353896A1 (en) * | 2016-09-12 | 2019-11-21 | Kortek Corporation | Apparatus and method for designing light guide plate pattern |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW202310600A (zh) | 2023-03-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102686185B1 (ko) | 디스플레이 장치, 캘리브레이션 장치 및 그 제어 방법 | |
KR102542856B1 (ko) | 디스플레이 장치 및 그 제어 방법 | |
TWI438750B (zh) | 影像補償方法、建立內建補償矩陣組的方法以及電子紙顯示裝置 | |
EP3699901B1 (en) | Pixel driving circuit, pixel driving device, and display device | |
CN111816121B (zh) | 显示面板的亮度补偿方法、系统及显示面板 | |
CN106611583B (zh) | 电致发光显示器件的伽马电压调试方法及装置 | |
TW201818540A (zh) | 處理高動態範圍影像的方法與模組,以及採用此方法與模組的顯示裝置 | |
CN111599307B (zh) | Oled显示面板的像素补偿方法及信息处理装置 | |
KR101677182B1 (ko) | 백라이트 장치의 디밍 방법 | |
TWI482135B (zh) | 顯示裝置及其影像控制方法 | |
WO2022062709A1 (zh) | 补偿显示画面的方法、装置、设备及显示屏驱动板 | |
CN114898717A (zh) | 残像补偿方法、装置、显示设备和计算机可读存储介质 | |
KR102372014B1 (ko) | 표시장치의 휘도 저하 예측 방법 및 시스템 | |
KR20170078959A (ko) | 표시 장치의 구동 방법 및 이를 수행하는 표시 장치 | |
KR20190086060A (ko) | 표시 패널 구동 방법 및 이를 채용한 유기 발광 표시 장치 | |
JPWO2018225338A1 (ja) | 表示装置及び画像データ補正方法 | |
KR20180050125A (ko) | Led 디스플레이 장치 및 그 동작 방법 | |
WO2016138678A1 (zh) | 驱动有源矩阵有机发光二极管面板的方法 | |
US20240221688A1 (en) | Method and device for driving a display panel and display device | |
CN110189727B (zh) | 一种显示面板的驱动方法、驱动装置和显示装置 | |
KR102581719B1 (ko) | 얼룩 특성에 기초하여 휘도 보상 데이터를 생성하기 위한 장치 및 방법 및 휘도 보상을 수행하기 위한 장치 및 방법 | |
TWI762411B (zh) | 螢幕雲紋消除方法及系統 | |
KR101588449B1 (ko) | 유기전계발광 표시장치 및 그 구동방법 | |
US20240062706A1 (en) | Display apparatus including led driving circuit and operating method thereof | |
CN113744704B (zh) | 显示面板的亮度调节方法及装置 |