TWI757537B - 用於光達偵測器陣列元件之選擇性停用之設備及方法 - Google Patents

Abstract

本發明提供一種設備，其具有：一光束可操縱雷射發射器；及一偵測器陣列，其具有陣列元件。電子裝置選擇性地啟用對應於預期返回信號路徑之第一陣列元件且停用對應於非預期返回信號路徑之第二陣列元件。

Description

用於光達偵測器陣列元件之選擇性停用之設備及方法

本發明大體上係關於光學信號處理。更特定而言，本發明係關於用於選擇性地停用光達偵測器陣列元件以減少多路徑干擾且改良信雜比之技術。

在傳統的雷射測距系統中，雷射源與偵測器陣列或點偵測器配對使得自被探測物件返回的反射信號將到達偵測器陣列或點偵測器。舉例而言，偵測器陣列可包含突崩光電二極體(APD)、PIN (p型、本質、n型)光電二極體、矽光電倍增器(SiPM)或單光子突崩二極體(SPAD)。對於使用此組態的三維(3D)感測及繪圖應用，藉由機械地旋轉雷射及偵測器陣列或使用自旋鏡以將雷射掃過場景來跨越場景同步地掃描雷射及偵測器陣列。雷射掃描系統之一些實例亦包括用於擴大系統之視場的稜鏡。

在此等雷射掃描系統中，藉由在應由系統量測之距離的整個範圍上確保偵測器視場與雷射光點大小緊密地匹配來使信雜比最佳化。此匹配確保偵測器將整合最少量之過量雜訊功率，同時俘獲所有信號功率。另外，偵測器與發射器之間的此匹配亦使來自另一感測器之信號或自多個表面反射之信號將產生被稱作多路徑干擾之錯誤偵測事件的可能性最小。由於此等系統經良好對準，因此若存在物件，則應處理所有偵測到之資料，此係因為該資料應含有返回信號。此等系統之主要缺陷係其需要精確對準且具有易於發生故障之機械部分。

最近，已經由使用固態光達技術解決此等缺點。隨著轉變至固態光達系統，系統不再具有機械部分且使用兩種方法中的一者以藉由雷射光來探測場景。此等方法係光子束操縱方法(例如，光學相位陣列(OPA)或液晶)或快閃光達(Flash LiDAR)方法，其中藉由單一雷射脈衝照明視場之區或可能全部。藉由此等方法中之任一者，偵測器不再隨傳輸器機械地移動且必須能夠自整個視場收集返回信號。

如下混合系統亦係可能的：其中以類似於快閃光達之方式照明視場之區，但發射圖案亦掃描通過視場。在此狀況下，偵測器可藉由快閃區進行掃描且必須僅具有等於發射FoV之視場(FoV)。

因為偵測器可觀測大視場之要求，出現數個新的問題。對於快閃光達系統，同時照明整個場景且通常使用像素陣列並行地俘獲信號，此非常類似於攝影機。此方法之限制係無法隔離多路徑反射，此意謂可能發生錯誤肯定偵測事件，偵測解析度限於陣列解析度，且感測器中之每個像素必須完全被處理，此係因為預先不知曉關於發射圖案及場景之任何資訊。混合快閃/系統可提供幫助，此係因為偵測視場縮小，但掃描光達系統之缺陷仍存在。

藉由使用OPA來控制發射圖案，存在偵測返回信號之兩種主要的可能性。一種可能性係使返回信號通過用以傳輸光之相同光學路徑。此允許繼續使用單點偵測器，如在雷射掃描方法中所進行的且如在雷達及超音波之相控陣列實施中所常見的。在可導致對整個光達系統之限制的光學波長中實施此方法存在挑戰。替代方法係使用偵測器陣列建立類似於可用於快閃光達之成像裝置的成像裝置，其可同時觀測整個視場。此方法之缺陷與快閃光達之狀況相同，其在於將偵測到多路徑信號且必須處理來自陣列中之每個像素的資料以便判定哪些像素正暫存返回信號。

此問題說明於圖1中。固態光束可操縱雷射發射器(亦即，非機械掃描系統，諸如OPA) 100產生光束102以掃描包括物件104之視場。偵測器陣列106必須監測整個視場。因此，偵測器陣列106收集真實的視場返回信號108，但亦收集多路徑干擾信號110。

因此，需要改良之光達偵測器陣列信號處理技術。

一種設備具有：一光束可操縱雷射發射器；及一偵測器陣列，其具有陣列元件。電子裝置選擇性地啟用對應於預期返回信號路徑之第一陣列元件且停用對應於非預期返回信號路徑之第二陣列元件。

一種設備具有：一光束可操縱雷射發射器；及一偵測器陣列，其具有陣列元件。一信號處理管線連接至該偵測器陣列。該信號處理管線經組態以處理來自對應於預期返回信號路徑之第一陣列元件的第一信號，且忽略來自對應於非預期返回信號路徑之第二陣列元件的第二信號。

圖2說明根據本發明之實施例組態的光達偵測器陣列200。光達偵測器陣列200包括選擇性地被啟用以收集預期返回信號206之個別元件202，及在處於不對應於預期返回路徑之位置中的情況下被停用的個別元件204。因此，在此實例中，元件204被停用且因此不處理多路徑干擾信號110。偵測器陣列200可具有相關聯之光學系統208以將光能聚焦於偵測器陣列200上。在一個實施例中，光學系統208包括可個別定址之光學元件以將光能聚焦或散焦至偵測器陣列上，從而改良信雜比。

圖3說明具有實施本發明之實施例之電子組件的系統300。系統300包括發射器100、偵測器陣列200及光學系統208。將來自偵測器陣列之信號施加至信號處理管線302，該信號處理管線較佳係基於硬體之信號處理管線。此等操作藉由處理器304協調。處理器304具有相關聯之記憶體306，該記憶體儲存由處理器304執行以實施本發明之操作的指令。路徑預測模組308包括由處理器304執行以判定應啟用及停用哪些光達偵測器陣列元件之指令。發射器正射出雷射之角度用以預測返回路徑。光束可操縱雷射發射器之角度及光學系統之位置亦可用以映射預期返回信號。路徑預測模組308可包括校準常式以在發射器角度與預期偵測器之間進行映射。

一旦由路徑預測模組308判定待啟用及停用之陣列元件，便使用陣列元件控制器310啟用或停用偵測器陣列元件。資料分析器312可包括由處理器304執行以補充由信號處理管線302執行之操作的指令。

因此，本發明將光學信號回應定位於偵測器陣列上，使得多路徑干擾信號處理及有雜訊信號之其他處理最少。此定位技術亦藉由動態地停用陣列元件(例如，像素)或忽略當發射圖案在視場上掃描時將不會有意義地促成對發射圖案之信號回應的陣列元件來實現偵測信雜比之最佳化。

本發明之實施例係光達系統，其由光學相控陣列或類似可程式化光束操縱元件及偵測器陣列構成，該偵測器陣列可動態地調整像素/感測器在作用中抑或非作用中。本發明亦可應用於混合光達感測器組態，其中掃描雷射與偵測器陣列組合，其限制條件為能夠精確地已知當前掃描位置。在此系統中，可應用當前OPA狀態與偵測器之預期信號位置之間的映射以僅啟用預期有明顯信號之偵測器。此組態實現以下特徵： · 光達影像/點雲解析度可由發射器判定且不受偵測器之解析度限制。 · 可聚焦/散焦返回信號使得可調整記錄信號之偵測器/像素的數目。換言之，可回應於來自固態雷射發射器之發射物或光達之環境條件的改變而更改啟用陣列元件組態。 · 若多個偵測器/像素對於特定操縱狀態具有強信號(亦即，高SNR)，則可組合來自所有像素之高於特定臨限值的信號以改良偵測SNR。此可實施於信號處理管線302中。 · 可停用且不組合在預期偵測外之像素，使得不會由於來自所關注區外之雜訊或環境光而使SNR降級。 · 由於已知信號返回之預期位置，因此可減少多路徑干擾。 · 對比必須分離地處理所有像素之狀況，可高效地使用信號處理元件且需要較少資源。此減小功率消耗。

發射器/OPA空間控制機構用以精確且可靠地控制主要發射圖案在感測器視場內之位置。對於發射器操縱機構之每一可能狀態，映射程序識別哪一偵測器/像素或偵測器/像素群組應處於作用中。

偵測器陣列經設計成具有動態地啟用/停用陣列中之個別像素的能力。替代地，對於某些發射器操縱狀態，信號處理管線302可經組態以忽略陣列元件信號。藉由針對每一發射器狀態產生之映射而組態偵測器陣列，且針對每個光束操縱狀態而更新偵測器/像素組態。

量測電路系統區塊可用以量測來自陣列中之作用中偵測器/像素的信號。多個偵測器/像素可經由多工來共用量測電子裝置。

對於每一狀態，信號處理管線302應僅評估來自已知所關注區之資料。對於給定狀態，信號處理管線302可組合來自多個偵測器/像素之資料以改良量測到的返回信號之SNR。

因此，藉由使用光學相控陣列作為光達系統中之發射器，吾人能夠精確地控制1維或2維空間中之雷射發射圖案。藉由知曉發射瞄準於空間中何處，吾人可預料所要信號將暫存於偵測器陣列上何處。藉由此知識，陣列元件控制器310動態地停用未使用的偵測器。替代地，信號處理管線302忽略暫存於非預期返回信號路徑陣列元件上之信號。此等技術之益處包括改良偵測SNR、減小多路徑偵測之可能性且降低信號處理輸送量要求。

出於解釋之目的，前述描述使用特定命名法以提供對本發明之透徹理解。然而，對於熟習此項技術者將顯而易見，不需要特定細節以實踐本發明。因此，出於說明及描述之目的呈現本發明之特定實施例的前述描述。該等描述並不意欲為詳盡的或將本發明限於所揭示的精確形式；顯然，鑒於以上教示內容，許多修改和變化係可能的。選擇及描述該等實施例以便最佳地解釋本發明之原理及其實際應用，藉此使得熟習此項技術者能夠最佳地利用具有適合於所涵蓋之特定用途之各種修改的本發明及各種實施例。意欲以下申請專利範圍及其等效物界定本發明之範圍。

100‧‧‧固態光束可操縱雷射發射器102‧‧‧光束104‧‧‧物件106‧‧‧偵測器陣列108‧‧‧視場返回信號110‧‧‧多路徑干擾信號200‧‧‧光達偵測器陣列202‧‧‧個別元件204‧‧‧個別元件206‧‧‧預期返回信號208‧‧‧光學系統300‧‧‧系統302‧‧‧信號處理管線304‧‧‧處理器306‧‧‧記憶體308‧‧‧路徑預測模組310‧‧‧陣列元件控制器312‧‧‧資料分析器

結合隨附圖式進行之以下實施方式更全面地瞭解本發明，在隨附圖式中：

圖1說明易受多路徑干擾影響之先前技術光達偵測器陣列。

圖2說明根據本發明之實施例組態的光達偵測器陣列。

圖3說明根據本發明之實施例利用的信號處理組件。

貫穿圖式中之若干視圖，類似的參考編號係指對應的部分。

100‧‧‧固態光束可操縱雷射發射器

200‧‧‧光達偵測器陣列

208‧‧‧光學系統

300‧‧‧系統

302‧‧‧信號處理管線

304‧‧‧處理器

306‧‧‧記憶體

308‧‧‧路徑預測模組

310‧‧‧陣列元件控制器

312‧‧‧資料分析器

Claims (14)

1. 一種設備，其包含：一光束可操縱雷射發射器，其經組態為一光學相位陣列；一偵測器陣列，其具有陣列元件以監測一整個視場(entire field-of-view)，藉此收集真實的視場返回信號及多路徑干擾信號；一光學系統，其將光能聚焦至該偵測器陣列上；及電子裝置，其選擇性地啟用對應於該等真實的視場返回信號之預期返回信號路徑之第一陣列元件且停用對應於該等多路徑干擾信號之非預期返回信號路徑之第二陣列元件。
2. 如請求項1之設備，其中該等電子裝置包括一處理器及指令，該等指令由該處理器執行以利用該光束可操縱雷射發射器之一角度來將預期返回信號路徑映射至該等第一陣列元件。
3. 如請求項1之設備，其中該光束可操縱雷射發射器之一角度及該光學系統之位置用以將預期返回信號路徑映射至該等第一陣列元件。
4. 如請求項1之設備，其中該等電子裝置包括一處理器及一陣列元件控制器。
5. 如請求項1之設備，其進一步包含連接至該偵測器陣列之一硬體信號處理管線。
6. 如請求項5之設備，其中該硬體信號處理管線僅處理超過一指定信雜比之信號。
7. 如請求項1之設備，其進一步包含由處理器指令執行以回應於來自該光束可操縱雷射發射器之發射物的一改變而更改該等第一陣列元件之組態的指令。
8. 如請求項1之設備，其中該光學系統經調整以將光能聚焦或散焦至該等第一陣列元件上，從而改良信雜比。
9. 一種設備，其包含：一光束可操縱雷射發射器，其經組態為一光學相位陣列；一偵測器陣列，其具有陣列元件以監測一整個視場，藉此收集真實的視場返回信號及多路徑干擾信號；一光學系統，其將光能聚焦至該陣列上；及一信號處理管線，其連接至該偵測器陣列，該信號處理管線經組態以處理來自對應於該等真實的視場返回信號之預期返回信號路徑之第一陣列元件的第一信號且忽略來自對應於該等多路徑干擾信號之非預期返回信號路徑之第二陣列元件的第二信號。
10. 如請求項9之設備，其進一步包含一處理器及指令，該等指令由該處理器執行以利用固態雷射發射器之一角度來將預期返回信號路徑映射至該 等第一陣列元件。
11. 如請求項9之設備，其中該光束可操縱雷射發射器之一角度及該光學系統之位置用以將預期返回信號路徑映射至該等第一陣列元件。
12. 如請求項9之設備，其中該信號處理管線僅處理超過一指定信雜比之信號。
13. 如請求項9之設備，其進一步包含由處理器指令執行以回應於來自固態雷射發射器之發射物的一改變而更改該等第一陣列元件之組態的指令。
14. 如請求項9之設備，其中該光學系統經調整以將光能聚焦或散焦至該等第一陣列元件上，從而改良信雜比。

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