TWI740422B - 混成光學感測系統 - Google Patents
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Abstract
本發明係提供一種混成光學感測系統，即分佈式感測系統結合逐點式光纖感測技術，亦即布里淵光時域分析系統(分佈式感測系統)結合布拉格光纖光柵(Fiber Bragg grating,FBG)(逐點式光纖感測技術)，分佈式感測系統可以針對待測光纖中任一位置之擾動做感測，如溫度、應力或是壓力值。本發明在待測光纖中，針對易發生擾動之位置，增加布拉格光纖光柵，能精確量測該位置所發生之溫度，應力，以及壓力值。
Description
本發明係提出一種混成光學感測系統，特別是指一種具有分佈式光纖感測以及逐點式光纖感測之混成系統用以量測待測光纖中任一位置之應力、溫度或氣體密度。
於傳統的檢測技術領域中，當需要量測井(如水井或是油井)內的二氧化碳氣體密度時，由於井內具有一定深度，而每個深度具有不同的溫度變化或不同地貌，若單獨使用分佈式光纖感測進行量測，不易量測出精確位置且不易區分到底是溫度或其他應力所造成的影響。
目前光纖感測可有分佈式光纖感測與逐點式光纖感測兩種。而分佈式光纖感測與逐點式光纖感測兩者最大的差別在於，分佈式光纖感測可以量測光纖待測區中任何一點的位置但是位置精確度較差，而逐點式光纖感測系統僅能量測光纖某特定一點的位置但位置精準為很好，通常會以布拉格光纖光柵(Fiber Bragg grating,FBG)作為感測器，一個布拉格光纖光柵即為一個點，布拉格光纖光柵為一具光濾波效果
的元件，當光經過光柵時，符合布拉格條件(Bragg condition)的波長時，將會被反射，由於其能夠反射特定波長的光，亦稱為反射式光纖光柵。
而當光柵受到外界環境影響，諸如溫度、應力、壓力等，造成有效折射率及光柵週期改變時，其相對應的反射中心波長會產生飄移，故可利用此波長飄移特性，統計外在因素影響及其所對應之布拉格波長漂移量，就能反推及預判在其它布拉格波長漂移量下所對應之外界參數影響大小。
而分佈式光纖感測技術能夠於數公里到數十公里的待測區光纖任何一區間作為感測量測，感測範圍相廣。反之逐點式光纖感測若需量測大範圍的感測目標時，則需密集的使用感測頭(布拉格光纖光柵)，以此來形成多點成一線的目標，而越多的感測頭意謂著其感測成本提升，且容易造成光源的光能量插入損耗。但逐點式的光纖感測在短距離內有精確的精準度，判斷發生擾動的正確位置。
由前述可知，既有的分佈式光纖感測與逐點式光纖感測仍有需要改良與改進的空間，故有待進一步檢討，並謀求可行的解決方案，故而新式的光纖量測系統確有必要進行研發，以及進行光纖量測系統的更新化與商業化。
為能解決前述問題，本發明之混成光學感測系統，即分佈式感測系統，亦即布里淵光時域分析系統的待測光纖的特定位置，將包含數個光纖光柵，以及連接一寬頻譜
光源，使得布里淵光時域分析系統可同時擁有分佈式光纖感測和逐點式光纖感測之特性。
本發明揭示一種分佈式感測系統，用以偵測量測任一位置之應力、溫度及氣體壓力與密度等，包含：第一光源產生單元、光耦合單元、脈衝模式產生單元、第一偏振控制單元、第一電光調變單元、第一光纖放大單元、第二光纖放大單元、第一光循環單元、可調式光濾波單元、光頻譜分析單元、待測光纖、第二偏振控制單元、第二電光調變單元、弦波訊號產生單元、光隔離單元、光接收單元、光頻譜分析單元、電腦、以及偏置控制單元。
本發明主要目的在提供一種分佈式感測系統，第一光源產生單元為窄頻譜光源，該第一光源產生單元產生一第一光訊號。光耦合單元與第一光源產生耦合，光耦合單元分配功率比為特定比例，即分配成為特定的功率比)，光耦合單元將第一光訊號分成兩道功率相同或類似之第一耦合光訊號。脈衝模式產生單元輸出一脈衝光訊號，該脈衝模式產生單元將該脈衝光訊號加入該第一耦合光訊號。
根據本發明之一目的，第一偏振控制單元與該光耦合單元耦合。第一電光調變單元與第一偏振控制單元以及該脈衝模式產生單元耦合，第一偏振控制單元調整第一耦合訊號之極化態，調整第一偏振控制單元，以使第一電光調變單元有最大之光輸出，調整第一偏振控制單元，以使第一電光調變單元讓第一耦合光訊號輸出有最大之消光比。
根據本發明之一目的，第一光纖放大單元與第一
電光調變單元耦合。第一光纖放大單元放大第一耦合光訊號。第一光循環單元與第二光纖放大單元耦合，第一光循環單元具有一第一埠、第二埠以及一第三埠。可調式光濾波單元與第二光纖放大單元耦合後，再與該第一光循環單元之該第三埠耦合。光頻譜分析單元與第二光循環單元耦合。待測光纖與光隔離單元耦合，第一光纖放大單元從第一光循環單元之第三埠至第二埠連接待測光纖之一端。第二偏振控制單元與該光耦合單元耦合。第二電光調變單元與該第二偏振控制單元耦合。弦波訊號產生單元與第二電光調變單元耦合，該弦波訊號產生單元載入一弦波訊號至該第二耦合光訊號。
根據本發明之一目的，光隔離單元與第二電光調變單元以及待測光纖耦合。實時示波單元與該光接收單元以及該弦波訊號產生單元耦合。光頻譜分析單元與第二光循環單元耦合。電腦與可調式光濾波單元以及該實時示波單元耦合。偏置控制單元與第一電光調變單元以及該電腦耦合。其中，一耦合光訊號經過待測光纖與第二耦合光訊號會合，一耦合光訊號逆向通過光隔離單元，光隔離單元將第一耦合光訊號反射消除，第二耦合光訊號從第一光循環單元之第二埠至第三埠耦合到達第二光纖放大單元，通過可調式光濾波單元，可調式光濾波單元濾出帶有第一耦合光訊號降頻的第二耦合光訊號波長，光接收接收第二耦合光訊號，並輸出一電訊號至實時示波單元進行資料分析及擷取。
根據本發明之一目的，第一光源產生單元包含一分佈式回授雷射二極體光源。
根據本發明之一優勢，第一光纖放大單元(或是第二光纖放大單元)包含一摻鉺光纖放大單元，該摻鉺光纖放大單元具有一第一增益頻道以及一第二增益頻道。
根據本發明之一目的，待測光纖更包含一第二光循環單元，該第二光循環單元具有一第一埠、一第二埠以及一第三埠，該光隔離單元從該第二光循環單元之該第一埠至該第二埠連接該待測光纖之另一端。
根據本發明之一目的，第二耦合光訊號經由該第二光循環單元之該第一埠至該第二埠通過並到達該待測光纖。
根據本發明之一目的，布里淵光時域分析系統係利用布里淵散射原理進行感測，且藉由布里淵頻移感測該待測光纖中任一位置之溫度、應力以及壓力值。
根據本發明之一目的，待測光纖包含複數個感測頭，該複數個感測頭包含至少一個布拉格光纖光柵，以及至少一個寬頻譜光源，該布里淵光時域分析系統係藉由感測頭感測所設置位置之溫度，應力以及壓力值。
根據本發明之一目的，第一光源產生單元為一分佈式回授雷射二極體。
根據本發明之一目的，偏振控制單元調整雷射的極化方向使後找以最小光衰通過第一電光調變單元，使得該第一耦合光訊號輸出有最大之消光比。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
100:布里淵光時域分析系統
102:第一光源產生單元
104:光耦合單元
1062:第一偏振控制單元
1064:第二偏振控制單元
1082:第一電光調變單元
1084:第二電光調變單元
110:光隔離單元
1122:第一光纖放大單元
1126:第二光纖放大單元
114:第一光循環單元
1141:第一光循環單元第一埠
1142:第一光循環單元第二埠
1143:第一光循環單元第三埠
116:待測光纖
118:可調式光濾波單元
120:光接收單元
122:實時示波單元
124:弦波訊號產生單元
126:光頻譜分析單元
128:第二光循環單元
1281:第二光循環單元第一埠
1282:第二光循環單元第二埠
1283:第二光循環單元第三埠
130:脈衝模式產生單元
136:偏置控制單元
138:電腦
S1:第一光訊號
S11:第一耦合光訊號
S22:第二耦合光訊號光
S3:脈衝光訊號
S4:弦波訊號
SE2:電訊號
202、204、206、208:感測頭
210:井
有關本發明之前述及其它許多優點，於以下配合參考圖示之一個較佳實施例的詳細說明中，將可更清楚呈現，其中如下：第1圖繪示本發明實施例之混成光學感測系統；以及第2圖繪示本發明實施例之待測光纖示意圖。
以下請參照所附圖式說明與敘述，以對本發明之實施形態據以示意圖進行描述。於示意圖式中，相同之元件符號表示相同之元件，且為求清楚說明，元件之大小或厚度可能誇大顯示。由於本發明揭露一種利用「光纖」的「布里淵光時域分析系統」，其中所利用的各個元件以及「光纖」本身的結構與原理，已為相關技術領域具有通常知識者所能明瞭，故以下文中之說明，不再特別提出描述。
首先請參考第1圖，本發明之混成光學感測系統，即分佈式感測系統100，特別是布里淵光時域分析系統100，係利用布里淵散射原理進行感測，藉由布里淵頻移(Brillouin frequency shift)感測該待測光纖116中任一位置之溫度，應力，以及壓力值。
請參考第1圖，第1圖繪示本發明實施例之布里淵光時域分析系統(即分佈式感測系統)100，其包含：第一光源產生單元(分佈式回授雷射二極體)102，光耦合單元(光耦合
器)104，脈衝模式產生單元(脈衝模式產生器)130，第一偏振控制單元(第一極化控制器)1062，第一電光調變單元(第一電光調變器)1082，第一光纖放大單元(第一摻鉺光纖放大器)1122，第二光纖放大單元(第二摻鉺光纖放大器)1126，第一光循環單元(第一光循環器)114，可調式光濾波單元(可調式光濾波器)118，光頻譜分析單元(光頻譜分析儀)126，待測光纖(Fiber under test)116，第二偏振控制單元(第二極化控制器)1064，第二電光調變單元(第二電光調變器)1084，弦波訊號產生單元(弦波訊號產生器)124，光隔離單元(光隔離器)110，光接收單元(光檢測器)120，實時示波單元(實時示波器)122，第二光循環單元(第二光循環器)128，該第二光循環單元128具有第一埠1281，第二埠1282，以及第三埠1283，電腦138，以及偏置控制單元136。
於第1圖中，該布里淵光時域分析系統(即分佈式感測系統)100之分佈式光纖感測，係以布里淵光時域分析系統運用之布里淵散射原理。該布里淵散射原理係入射光與光纖中的聲波互相作用。因布里淵散射原理會有散射峰的頻移的現象發生，故稱為布里淵頻移(Brillouin frequency shift)。散射峰的頻移為布里淵散射原理進行感測的關鍵技術，而由散射峰的頻移可直接算出聲速，且利用聲速互補的方法，作為感測時定位的依據。
參考於第1圖中，本發明將布里淵光時域分析系統(分佈式感測系統)100的待測光纖116中的特定位置上，固定置入布拉格光纖光柵(即第2圖所示之感測頭202，感測頭204，
感測頭206，以及感測頭208)，使得該布里淵光時域分析系統(分佈式感測系統)100同時擁有分佈式光纖感測和逐點式光纖感測之功能。
此處須說明的是，由於應力與溫度變化，皆會影響入射光與光纖材料互相作用或晶格震動，進而產生布里淵散射。所以，傳統之測量系統無法區分出，到底是由溫度或是由應力所產生之影響。故而，本發明布里淵光時域分析系統(分佈式感測系統)100則加入了對溫度較為敏感的光纖光柵(即第2圖所示之感測頭202，感測頭204，感測頭206，以及感測頭208)，可用以區分外在的影響。而本發明除了用於測量具有深度高度之氣體密度之外，還可以用於測量具有深度、高度的建物設施結構安全監控。
再參考於第1圖中，第一光源產生單元(分佈式回授雷射二極體)102，為一強度足夠之窄頻譜光源，第一光源產生單元102係產生一第一光訊號S1。需說明的是，第一光源產生單元102包含一分佈式回授雷射二極體光源，該分佈式回授雷射二極體光源之波長範圍為1350奈米(nm)至1750奈米。
於第1圖中顯示，光耦合單元(coupler)104與第一光源產生單元102耦合。
仍於第1圖中所示，光耦合單元104之分配功率比為50比50。光耦合單元104將第一光訊號S1分配成兩道功率為特定的功率比，即該特定的功率比包括但不限由1比99至99比1，或可分配成相同的功率比，即該相同的功率比較佳為50比50之光耦合之第一耦合光訊號S11。
仍請參考第1圖，因極化態會使第一電光調變單元1082輸出受影響，所以，在第一電光調變單元1082前加入第一偏振控制單元1062。脈衝模式產生單元130載入所需要的脈衝訊號S3到第一耦合光訊號S11上，並先設定偏置控制單元136將第一電光調變單元1082的工作點為最大，再調整第一偏振控制單元1062至第一電光調變單元1082，而產生最大的光輸出。
再請參考第1圖，接著再設定偏置控制單元136將第一電光調變單元1082的工作點為最大，使第一耦合光訊號S11輸出有最大的消光比，再由第一光纖放大單元1122(即摻鉺光纖放大器)，將第一光訊號S1(泵激光)能量放大。
續請參考第1圖，最後，從第一光循環單元114的1埠1141至2埠1142，連接至待測光纖(Fiber under test)116。
再請參考第1圖，布里淵光時域分析系統100之左邊迴路(泵激光迴路)中，光耦合單元104與第一光源產生單元102耦合，光耦合單元104分配功率比為50比50，該光耦合單元104將第一光訊號S1分成兩道功率相同之第一耦合光訊號S11，以及將第一耦合光訊號S11合成第二耦合光訊號S22。
而請再參考第1圖，第一偏振控制單元1062與光耦合單元104耦合。
第1圖中所示，脈衝模式產生單元130輸出一脈衝光訊號S3，脈衝光訊號S3可由10dBm至50dBm。脈衝模式產生單元130將脈衝光訊號S3加入第一耦合光訊號S11中。
於第1圖中所示，第一電光調變單元1082與第一
偏振控制單元1062，第一光纖放大單元1122，以及脈衝模式產生單元130耦合。而第一偏振控制單元1062可調整第一耦合訊號之極化態，當調整第一偏振控制單元1062，可使第一電光調變單元1082有最大之光輸出。而調整第一偏振控制單元1062，驅動第一電光調變單元1082，使得第一耦合光訊號輸出有最大之消光比。
再於第1圖中所示，第一光纖放大單元1122係放大第一耦合光訊號S11。
仍於第1圖中所示，第一光循環單元114與第二光纖放大單元1122耦合，第一光循環單元114具有第一埠1141，第二埠1142，以及第三埠1143。而可調式光濾波單元118與第二光纖放大單元1126耦合後，再與第一光循環單元114之第三埠1143耦合。
於第1圖中所顯示，光接收單元120與第二光纖放大單元1126耦合。
而於第1圖中顯示，光頻譜分析單元126與第二光循環單元128耦合。
再於第1圖中所顯示，電腦138與可調式光濾波單元118，以及實時示波單元122耦合。
於第1圖中顯示，偏置控制單元136與第一電光調變單元1082以及電腦138耦合。
於第1圖中所示，需說明的是，第一光纖放大單元1122包含摻鉺光纖放大器1122，以及第二光纖放大單元1126包含摻鉺光纖放大器1126。該摻鉺光纖放大器1122(或是該摻
鉺光纖放大器1126)具有第一增益頻道以及第二增益頻道。第一增益頻道之波長範圍為1530到1565奈米(nm,C band)，而第二增益頻道之波長範圍為1565奈米(nm)到1610(nm,L band)。
於第1圖中所示，其中，偏置控制單元136驅動第一電光調變單元1082，使得第一耦合光訊號S11之輸出有最大之消光比。
第1圖中顯示，光頻譜分析單元126與可調式光濾波單元1182耦合。
於第1圖中顯示，待測光纖116與光隔離單元110耦合第二光纖放大單元1126。
仍於第1圖中顯示，從第一光循環單元114之第一埠1141至第二埠1142連接待測光纖116之一端。
如第1圖中顯示，前述光頻譜分析單元126之功用為，可經由觀察待測光纖116中的光之頻譜，來確認光在待測光纖116中是否有確實的發生布里淵散射，以及，經過可調式光濾波單元118時，是否已有濾掉系統中所不需要的光，以及，用來探測逐點式光纖感測系統的布拉格光纖光柵的波長飄移。
請參考第1圖，布里淵光時域分析系統100之右邊迴路(探測光迴路)中，第二偏振控制單元1064與光耦合單元104耦合。第二電光調變單元1084與第二偏振控制單元1064耦合。弦波訊號產生單元124與第二電光調變單元1084耦合，弦波訊號產生單元124載入一弦波訊號S4至第二耦合光訊號S22。
如第1圖所示，光隔離單元110與第二電光調變單元1084，以及待測光纖116耦合。
仍如第1圖所示，實時示波單元122與光接收單元120，以及弦波訊號產生單元124耦合。
請參考第1圖所示，與前述左邊迴路(泵激光迴路)相同，在第二電光調變單元1084前，需加入第二偏振控制單元1064，透過弦波訊號產生單元124，載入所需要的弦波訊號S4到第二耦合光訊號S22(雷射光)上。
接著，通過光隔離單元110，再如第2圖所示，從第二光循環單元128的第一埠1281至第二埠1282，連接傳至待測光纖116，並與第一耦合光訊號S11(泵激光)在待測光纖116會合。
最後，如第1圖所示，第一耦合光訊號S11逆向通過光隔離單元110會被反射消逝，而第二耦合光訊號S22(探測光)通過如第2圖所示的第二光循環單元128之第二埠1282至第三埠1283。
仍如第1圖所示，透過可調式光濾波單元118濾出帶有第一耦合光訊號S11(泵激光)降頻的第二耦合光訊號S22(探測光)波長，再由第二光纖放大單元1126(摻鉺光纖放大器)放大一次訊號，因為可調式光濾波單元118的損耗較大，最後由光接收單元120接收第二耦合光訊號S22，並輸出電訊號SE2至實時示波單元122，以進行資料分析及擷取。
請參考第2圖，第2圖繪示本發明實施例之待測光纖116示意圖。待測光纖116係放置於一井210內，該井210包括
水井，油井，人工井，自然井等各種類型的井，可用以測量井210內之壓力、溫度等數值。然此實施例僅用以作為示範解說之用，非用以限制本發明使用環境，待測光纖116亦可用於測量不同高度之溫度或壓力之用。
如第2圖所示，待測光纖116更包含第二光循環單元128，而第二光循環單元128具有第一埠1281，第二埠1282，以及第三埠1283。光隔離單元110從第二光循環單元128之第一埠1281至第二埠1282連接待測光纖116之另一端。第二耦合光訊號S22經由第二光循環單元128之第一埠1281至第二埠1282通過，並到達待測光纖116。
猶如第2圖所示，需說明的是，待測光纖116包含複數個感測頭202，感測頭204，感測頭206，以及感測頭208。而複數個感測頭202，感測頭204，感測頭206，以及感測頭208包含至少一布拉格光纖光柵，以及至少一寬頻譜光源。布里淵光時域分析系統100係藉由複數個感測頭202，感測頭204，感測頭206，以及感測頭208感測所設置以精確測得溫度，應力，以及壓力值變化的位置。
以上所述僅為本發明之較佳實施例而已，並非用以限定本發明之申請專利範圍；凡其它未脫離本發明所揭示之精神下所完成之等效改變或修飾，均應包含在下述之申請專利範圍內。
100:分佈式感測系統
102:第一光源產生單元
104:光耦合單元
1062:第一偏振控制單元
1064:第二偏振控制單元
1082:第一電光調變單元
1084:第二電光調變單元
110:光隔離單元
1122:第一光纖放大單元
1126:第二光纖放大單元
1141:第一光循環單元第一埠
1142:第一光循環單元第二埠
1143:第一光循環單元第三埠
114:第一光循環單元
116:待測光纖
118:可調式光濾波單元
120:光接收單元
122:實時示波單元
124:弦波訊號產生單元
126:光頻譜分析單元
128:第二光循環單元
1281:第二光循環單元第一埠
1282:第二光循環單元第二埠
1283:第二光循環單元第三埠
130:脈衝模式產生單元
136:偏置控制單元
138:電腦
S1:第一光訊號
S11:第一耦合光訊號
S22:第二耦合光訊號光
S3:脈衝光訊號
S4:弦波訊號
SE2:電訊號
Claims (9)
- 一種分佈式感測系統，係用以偵測量測任一位置之應力、溫度，以及氣體密度或壓力，包含：一第一光源產生單元，該第一光源產生單元為窄頻譜光源，該第一光源產生單元產生一第一光訊號；一光耦合單元，該光耦合單元將該第一光訊號分成兩道功率類似之第一光耦合光訊號；一脈衝模式產生單元，該脈衝模式產生單元輸出一脈衝光訊號，該脈衝模式產生單元將該脈衝光訊號加入該第一耦合光訊號；一第一偏振控制單元，與該光耦合單元耦合；一第一電光調變單元，與該第一偏振控制單元以及該脈衝模式產生單元耦合，該第一偏振控制單元調整該第一耦合訊號之極化態，調整該第一偏振控制單元，以使該第一電光調變單元有最大之光輸出，調整該第一偏振控制單元，以使該第一電光調變單元讓該第一耦合光訊號輸出有最大之消光比；一第一光纖放大單元，與該第一電光調變單元耦合；該第一光纖放大單元以係放大第一耦合光訊號；一第一光循環單元，與一第二光纖放大單元耦合，該第一光循環單元具有一第一埠，一第二埠，以及一第三埠；一可調式光濾波單元，與該第二光纖放大單元耦合後，再與該第一光循環單元之該第三埠耦合； 一光頻譜分析單元，與該第二光循環單元耦合；一待測光纖，與一光隔離單元耦合，該第二光纖放大單元從該第一光循環單元之該第三埠至該第二埠連接該待測光纖之一端；一第二偏振控制單元，與該光耦合單元耦合；一第二電光調變單元，與該第二偏振控制單元耦合；一弦波訊號產生單元，與第二電光調變單元耦合，該弦波訊號產生單元載入一弦波訊號至一第二耦合光訊號；一光隔離單元，與該第二電光調變單元以及該待測光纖耦合；一光接收單元，具有一光接收功能與一光檢測功能；一實時示波單元，與該光接收單元以及該弦波訊號產生單元耦合；一電腦，與該可調式光濾波單元以及該實時示波單元耦合；以及一偏置控制單元，與該第一電光調變單元以及該電腦耦合；其中，該第一耦合光訊號經過該待測光纖與該第二耦合光訊號會合，該第一耦合光訊號逆向通過該光隔離單元，該光隔離單元消除該第一耦合光訊號反射，該第二耦合光訊號從該第一光循環單元之該第二埠至該第三埠通過到達該可調式光濾波單元，該可調式光濾波單元濾出帶有第一耦合光訊號降頻的第二耦合光訊號波長，該光接收單元接收該第二耦合光訊號，並輸出一電訊號至該實時示波單元，以進行資料分 析及擷取。
- 如申請專利範圍第1項所述的分佈式感測系統，其中該第一光源產生單元包含一分佈式回授雷射二極體光源。
- 如申請專利範圍第2項所述的分佈式感測系統，其中該第一光纖放大單元或是該第二光纖放大單元包含一摻鉺光纖放大器。
- 如申請專利範圍第3項所述的分佈式感測系統，其中該摻鉺光纖放大器具有一第一增益頻道以及一第二增益頻道。
- 如申請專利範圍第1項所述的分佈式感測系統，其中該待測光纖更包含一第二光循環單元，該第二光循環單元具有一第一埠，一第二埠，以及一第三埠，該光隔離單元從該第二光循環單元之該第一埠至該第二埠，連接該待測光纖之另一端。
- 如申請專利範圍第5項所述的分佈式感測系統，該第二耦合光訊號係經由該第二光循環單元之該第一埠，至該第二埠通過並到達該待測光纖。
- 如申請專利範圍第1項所述的分佈式感測系統，其中該分佈式感測系統係利用布里淵散射原理進行感測，由一布里淵頻移感測該待測光纖中任一位置之溫度，應力，以及壓力值。
- 如申請專利範圍第1項所述的分佈式感測系統，其中該待測光纖包含複數個光學感測頭，該複數個光學感測頭包含至少一布拉格光纖光柵，以及至少一寬頻譜光源，該分佈式感測系統係藉由光學感測頭感測所該位置之溫度，應力，以及壓力值。
- 如申請專利範圍第1項所述的分佈式感測系統，其中該偏置控制單元驅動該第一電光調變單元，使得該第一耦合光訊號輸出有最大之消光比。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| TW109109578A TWI740422B (zh) | 2020-03-23 | 2020-03-23 | 混成光學感測系統 |
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ID=78778042
Family Applications (1)
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Citations (3)
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| CN102620856A (zh) * | 2012-03-26 | 2012-08-01 | 湖北擎宇科技有限公司 | 分布式光纤布里渊应变和温度传感器 |
| US20130020486A1 (en) * | 2010-04-13 | 2013-01-24 | China Jiliang University | Distributed optical fiber sensor based on roman and brillouin scattering |
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-
2020
- 2020-03-23 TW TW109109578A patent/TWI740422B/zh active
Patent Citations (3)
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