TWI737737B - 觸控感測設備及裝置 - Google Patents

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亞明 普羅哈斯卡
托格爾 范海姆
彼得 寇博
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Abstract

一種設備包含一積分器電路、一補償電路及一感測電路。在一第一時間週期與一第二時間週期期間，該補償電路分別將一正電荷與一負電荷施加至該積分器電路。該積分器電路對一信號與該正電荷求積分以產生一第一感測信號。該信號係基於一觸控感測器之一電極處之一電荷。該積分器電路對該信號與該負電荷求積分以產生一第二感測信號。該感測電路基於該第一感測信號及該第二感測信號偵測一觸控。

Description

觸控感測設備及裝置
本發明大體上係關於觸控感測技術。
根據一實例性情景，例如，一種觸控感測器偵測一物件(例如，一使用者之手指或一尖筆)在疊對於一顯示器螢幕上之觸控感測器陣列之一觸敏區域內之存在及位置。在一觸敏顯示器應用中，一種觸控感測器陣列容許一使用者直接與螢幕上顯示之內容互動，而非間接與一滑鼠或觸控墊互動。一觸控感測器附接至一桌上型電腦、膝上型電腦、平板電腦、個人數位助理(PDA)、智慧型電話、衛星導航裝置、可擕式媒體播放機、可擕式遊戲機、展臺電腦、銷售點裝置或其他裝置，或經提供作為以上所述裝置之部分。一家用電器或其他電器上之一控制台可包含一觸控感測器。存在數種不同類型之觸控感測器，諸如(例如)電阻觸控感測器、表面聲波觸控感測器及電容觸控感測器。
在一實例中，當一物件(例如，藉由依實體方式觸及覆蓋觸控感測器之一觸控感測器陣列之一覆蓋層)依實體方式在觸控螢幕之一觸控感測器之一觸敏區域內觸及一觸控螢幕或(例如，藉由懸停在疊對觸控感測器之觸控感測器陣列之覆蓋層上方)進入觸控感測器之一偵測距離內時，在對應於物件在觸控感測器之觸敏區域內之位置之觸控螢幕之觸控感測器之一 位置處之觸控螢幕內發生一電容改變。一觸控感測器控制器處理該電容改變以判定觸控感測器內(例如，觸控感測器之一觸控感測器陣列內)電容改變之位置。
100:系統
102:觸控感測器
106:觸控感測器陣列
108:觸控感測器控制器
110:跡線
112:連接墊
114:連接
200:裝置
201:殼體
202:觸控螢幕顯示器
204:表面
206:衝擊
208:物件
210b:按鈕
300:電流放大器電路
305:積分器電路
310:感測電路
315:補償電路
320:內建式自我測試電路
325:電力線
330:控制線
335:控制線
400:驅動器
405:電阻器
410:電容器
415:解多工器
500:第一感測信號
505:第二感測信號
700:方法
705:步驟
710:步驟
715:步驟
720:步驟
725:步驟
730:步驟
為了更全面地理解本發明及其優點，參考結合附圖進行之以下描述，其中：圖1繪示根據本發明之一實施例之包含一觸控感測器之一實例性系統；圖2繪示根據本發明之一實施例之容納觸控感測器之一實例性裝置；圖3A繪示根據本發明之一實施例之一實例性觸控感測器控制器；圖3B繪示根據本發明之一實施例之一實例性觸控感測器控制器；圖4繪示根據本發明之一實施例之一實例性補償電路；圖5繪示展示根據本發明之一實施例之使用一補償電路之一積分器電路之一第一實例性預充電之一實例性信號圖；圖6繪示展示根據本發明之一實施例之使用一補償電路之一積分器電路之一第二實例性預充電之一實例性信號圖；及圖7繪示根據本發明之一實施例之用於偵測一觸控之一實例性方法。
觸控感測器可藉由監測由觸控感測器中之一電極陣列生成之電信號來偵測觸控及/或物件。各電極與透過電極產生一電信號之一電荷相關聯。當一觸控及/或一物件在電極附近時，與電極相關聯之電荷改變，且因此，由彼電荷產生之電信號亦改變。觸控感測器監測電信號以判定電信 號何時改變。當觸控感測器偵測到電信號已改變時，觸控感測器判定一觸控及/或物件在電極附近。
監測電信號之一種方式係對一監測循環內之電信號求積分。在各循環期間，觸控感測器對彼循環內之電信號求積分，且比較該積分信號與一基線信號以判定是否已發生一改變。若已發生一改變，則觸控感測器可推斷一觸控及/或一物件在電極附近。
使觸控感測器之效能降級之一個問題係觸控感測器之組件之寄生電容。此等寄生電容引入固定及/或直流(DC)分量至由電極傳達之電信號。當此等DC分量被放大及/或求積分時，其藉由減小監測觸控感測器之積分信號可用之容許度使觸控感測器之準確度降級。因此，減小了觸控感測器之信雜比。
本發明預期一種觸控感測器，其使用一補償電路以去除由寄生電容引入之固定及/或DC分量。該補償電路加入電荷及/或自一積分器電路之一輸入移除電荷以便取消及/或減小電信號之DC分量。因此，監測積分信號可用之容許度之量增加。此外，亦增加了信雜比。將使用圖1及圖2大體上描述觸控感測器。將使用圖3至圖7更詳細描述觸控感測器。
圖1繪示根據本發明之一實施例之包含一觸控感測器102之一實例性系統100。觸控感測器102包含觸控感測器陣列106及觸控感測器控制器108。觸控感測器陣列106及觸控感測器控制器108偵測觸控感測器陣列106之一觸敏區域內之一觸控之存在及位置或物件之接近。
觸控感測器陣列106包含一或多個觸敏區域。在一實施例中，觸控感測器陣列106包含安置於一或多個基板上之一電極陣列，該等基板由一介電材料製成。對一觸控感測器陣列之參考可涵蓋觸控感測器陣列106之電 極與該等電極安置於其上之該(等)基板兩者。替代地，對一觸控感測器陣列之參考可涵蓋觸控感測器陣列106之電極，但不涵蓋該等電極安置於其上之該(等)基板。
在一實施例中，一電極係形成諸如(例如)一圓盤、正方形、矩形、細線、其他形狀或此等形狀之一組合之一形狀之導電材料之一區域。一或多個導電材料層中之一或多個切口(至少部分)構建一電極之形狀，且該形狀之區域(至少部分)由彼等切口界限。在一實施例中，一電極之導電材料佔據其形狀之面積之大約100%。例如，一電極由氧化銦錫(ITO)製成，且電極之ITO佔據其形狀之面積之大約100%(有時稱為100%佔滿)。在一實施例中，一電極之導電材料佔據其形狀之面積之不到100%。例如，一電極可由金屬細線或其他導電材料(FLM)製成，諸如(例如)銅、銀或一含銅或含銀材料，且導電材料之細線可佔據呈一陰影、網狀或其他樣式之其形狀之面積之大約5%。對FLM之參考涵蓋此材料。儘管本發明描述或繪示由形成具有含特定樣式之特定佔用百分比之特定形狀之特定導電材料製成之特定電極，但本發明預期在任何組合中由形成具有含其他樣式之其他佔用百分比之其他形狀之其他導電材料製成之電極。
一觸控感測器陣列106之電極(或其他元件)之形狀整體或部分構成觸控感測器陣列106陣列10之一或多個宏觀特徵。彼等形狀之實施之一或多個特性(諸如(舉例而言)形狀內之導電材料、占滿或樣式)整體或部分構成觸控感測器陣列106之一或多個微觀特徵。一觸控感測器陣列106之一或多個宏觀特徵可判定其功能性之一或多個特性，且觸控感測器陣列106之一或多個微觀特徵可判定觸控感測器陣列106之一或多個光學特徵，諸如透射率、折射或反射。
儘管本發明描述數個實例性電極，但本發明不限於此等實例性電極，且可實施其他電極。另外，儘管本發明描述包含形成特定節點之特定電極之特定組態之數個實例性實施例，但本發明不限於此等實例性實施例，且可實施其他組態。在一實施例中，數個電極安置於同一基板之相同或不同表面上。另外或替代地，不同電極可安置於不同基板上。儘管本發明描述包含依特定實例性樣式配置之特定電極之數個實例性實施例，但本發明不限於此等實例性樣式且可實施其他電極樣式。
一機械堆疊含有形成觸控感測器陣列106之電極之基板(或多個基板)及導電材料。例如，機械堆疊可包含一覆蓋面板下方之一第一層光學透明黏著劑(OCA)。覆蓋面板可為透明的且由一彈性材料製成以用於重複觸控，諸如(例如)玻璃、聚碳酸酯或聚(甲基丙烯酸甲酯)(PMMA)。本發明預期由任何材料製成之覆蓋面板。第一層OCA可安置於覆蓋面板與具有形成電極之導電材料之基板之間。機械堆疊亦可包含一第二層OCA及一介電層(其可由PET或另一材料製成，其類似於具有形成電極之導電材料之基板)。作為一替代，可塗佈一介電材料之一薄塗層，而非第二層OCA及介電層。第二層OCA可安置於具有組成電極之導電材料之基板與介電層之間，且介電層可安置於第二層OCA與至包含觸控感測器陣列106及觸控感測器控制器108之一裝置之一顯示器之一空氣間隙之間。例如，覆蓋面板可具有大約1毫米(mm)之一厚度；第一層OCA可具有大約0.05mm之一厚度；具有形成電極之導電材料之基板可具有大約0.05mm之一厚度；第二層OCA可具有大約0.05mm之一厚度；且介電層可具有大約0.05mm之一厚度。
儘管本發明描述具有由特定材料製成且具有特定厚度之一特定數目 個特定層之一特定機械堆疊，但本發明預期具有由任何材料製成且具有任何厚度之任何數目個層之其他機械堆疊。例如，在一實施例中，一黏著層或介電層可取代上文所描述之介電層、第二層OCA及空氣間隙，其中在顯示器中不存在空氣間隙。
觸控感測器陣列106之基板之一或多個部分可由聚對苯二甲酸乙二酯(PET)或另一材料製成。本發明預期具有由任一(任何)材料製成之部分之任一基板。在一實施例中，觸控感測器陣列106中之一或多個電極整體或部分由ITO製成。另外或替代地，觸控感測器陣列106中之一或多個電極由金屬細線或其他導電材料製成。例如，導電材料中之一或多個部分可為銅或含銅的，且具有大約5微米(μm)或更小之一厚度及大約10微米或更小之一寬度。舉另一實例，導電材料之一或多個部分可為銀或含銀的，且類似地具有大約5微米或更小之一厚度及大約10微米或更小之一寬度。本發明預期由任何材料製成之任何電極。
在一實施例中，觸控感測器陣列106實施一電容形式之觸控感測。在一互電容(mutual-capacitance)實施方案中，觸控感測器陣列106可包含形成一電容節點陣列之一驅動及感測電極陣列。一驅動電極及一感測電極可形成一電容節點。形成電容節點之驅動及感測電極定位於彼此附近，但不與彼此電接觸。替代地，例如，回應於施加於驅動電極之一信號，驅動及感測電極跨其間之一空間依電容方式彼此耦合。(由觸控感測器控制器108)施加至驅動電極之一脈衝或交流電壓誘發感測電極上之一電荷，且誘發之電荷量易於受外部影響(諸如，一觸控或一物件之接近)。當一物件觸及該電容節點或接近該電容節點時，該電容節點處可發生電容之一改變，且觸控感測器控制器108量測該電容之改變。藉由量測整個陣列中電容之 所有改變，觸控感測器控制器108判定觸控感測器陣列106之觸敏區域內之觸控或接近之位置。
在一自電容(self-capacitance)實施方案中，觸控感測器陣列106可包含一單一類型之一電極陣列，其可各形成一電容節點。當一物件觸及該電容節點或接近該電容節點時，該電容節點處可發生自電容之一改變，且觸控感測器控制器108量測該電容之改變，例如，作為經實施以使電容節點處之電壓提升一預定量之電荷量之一改變。至於一互電容實施方案，藉由量測整個陣列中電容之改變，觸控感測器控制器108判定觸控感測器陣列106之觸敏區域內之觸控或接近之位置。本發明預期任何形式之電容觸控感測。
在一實施例中，一或多個驅動電極一起形成水平或垂直或以其他定向延伸之一驅動線。類似地，在一實施例中，一或多個感測電極一起形成水平或垂直或以其他定向延伸之一感測線。舉一特定實例，驅動線實質上垂直於感測線延伸。對一驅動線之參考可涵蓋組成驅動線之一或多個驅動電極，且反之亦然。對一感測線之參考可涵蓋組成感測線之一或多個感測電極，且反之亦然。
在一實施例中，觸控感測器陣列106包含依一樣式安置於一單一基板之一個側上之驅動及感測電極。在此一組態中，一對驅動及感測電極跨其間之一空間依電容方式彼此耦合以形成一電容節點。作為一實例性自電容實施方案，一單一類型之電極依一樣式安置於一單一基板上。除具有依一樣式安置於一單一基板之一個側上之驅動及感測電極之外或作為具有依一樣式安置於一單一基板之一個側上之驅動及感測電極之一替代，觸控感測器陣列106可具有依一樣式安置於基板之一個側上之驅動電極及依一樣式 安置於基板之另一層上之感測電極。此外，觸控感測器陣列106可具有依一樣式安置於一個基板之一個側上之驅動電極及依一樣式安置於另一基板之一個側上之感測電極。在此類組態中，一驅動電極與一感測電極之相交點形成一電容節點。此一相交點可係驅動電極與感測電極「跨」彼此或在其各自平面中最接近彼此之一位置。驅動及感測電極不電接觸彼此，代替地，其等跨相交點處之一介電質依電容方式彼此耦合。儘管本發明描述形成特定節點之特定電極之特定組態，但本發明預期形成節點之電極之其他組態。此外，本發明預期依任何樣式安置於任何數目個基板上之其他電極。
如上文所描述，觸控感測器陣列106之一電容節點處之電容之一改變可指示電容節點之位置處之一觸控或接近輸入。觸控感測器控制器108偵測且處理電容之改變以判定觸控或接近輸入之存在及位置。在一實施例中，接著，觸控感測器控制器108將關於觸控或接近輸入之資訊傳達至包含觸控感測器陣列106及觸控感測器控制器108之一裝置之一或多個其他組件(諸如，一或多個中央處理單元(CPU))，該裝置可藉由啟動裝置之一功能(或運行於裝置上之一應用程式)來回應於觸控或接近輸入。儘管本發明描述相對於一特定裝置及一特定觸控感測器102具有特定功能性之一特定觸控感測器控制器108，但本發明預期相對於任一裝置及任一觸控感測器具有任一功能性之其他觸控感測器控制器。
在一實施例中，將觸控感測器控制器108實施為一或多個積體電路(IC)，諸如(例如)通用微處理器、微控制器、可程式化邏輯裝置或陣列、特定應用IC(ASIC)。觸控感測器控制器108包括類比電路、數位邏輯與數位非揮發性記憶體之任一組合。在一實施例中，觸控感測器控制器108安 置於接合至觸控感測器陣列106之基板之可撓性印刷電路(FPC)上，如下文描述。FPC可係主動或被動的。在一實施例中，多個觸控感測器控制器108安置於FPC上。
在一實例性實施方案中，觸控感測器控制器108包含一處理器單元、一驅動單元、一感測單元及一儲存單元。在此一實施方案中，驅動單元將驅動信號供應至觸控感測器陣列106之驅動電極，且感測單元感測觸控感測器陣列106之電容節點處之電荷，且將表示電容節點處之電容之量測信號提供至處理器單元。處理器單元控制由驅動單元將驅動信號供應至驅動電極，且處理來自感測單元之量測信號以偵測且處理觸控感測器陣列106之觸敏區域內之一觸控或接近輸入之存在及位置。處理器單元亦可追蹤觸控感測器陣列106之觸敏區域內之一觸控或接近輸入之位置之改變。儲存單元儲存由處理器單元執行之程式設計，其包含用於控制驅動單元將驅動信號供應至驅動電極之程式設計、用於處理來自感測單元之量測信號之程式設計及其他程式設計。儘管本發明描述具有含特定組件之一特定實施之一特定觸控感測器控制器108，但本發明預期具有含其他組件之其他實施之觸控感測器控制器。
安置於觸控感測器陣列106之基板上之導電材料之跡線110將觸控感測器陣列106之驅動或感測電極耦合至連接墊112，連接墊112亦安置於觸控感測器陣列106之基板上。如下文描述，連接墊112促成跡線110至觸控感測器控制器108之耦合。跡線110可延伸至觸控感測器陣列106之觸敏區域中或圍繞該等觸敏區域延伸(例如，在觸敏區域之邊緣處延伸)。在一實施例中，特定跡線110提供用於將觸控感測器控制器108耦合至觸控感測器陣列106之驅動電極之驅動連接，透過該等驅動連接，觸控感測器控制 器108之驅動單元將驅動信號供應至驅動電極，且其他跡線110提供用於將觸控感測器控制器108耦合至觸控感測器陣列106之感測電極之感測連接，透過該等感測連接，觸控感測器控制器108之感測單元感測觸控感測器陣列106之電容節點處之電荷。
跡線110由金屬細線或其他導電材料製成。例如，跡線110之導電材料可係銅或含銅的，且具有大約100微米或更小之一寬度。舉另一實例，跡線110之導電材料可係銀或含銀的，且具有大約100微米或更小之一寬度。在一實施例中，除金屬細線或其他導電材料之外或作為金屬細線或其他導電材料之一替代，跡線110整體或部分由ITO製成。儘管本發明描述具有特定寬度之由特定材料製成之特定跡線，但本發明預期由其他材料及/或其他寬度製成之跡線。除跡線110之外，觸控感測器陣列106可包含終止於觸控感測器陣列106之基板之一邊緣處之一接地連接器(其可係一連接墊112)之一或多個接地線(其等類似於跡線110)。
連接墊112可沿著基板之一或多個邊緣定位於觸控感測器陣列106之一觸敏區域外。如上文所描述，觸控感測器控制器108可在一FPC上。連接墊112可由與跡線110相同之材料製成，且可使用一各向異性導電膜(ACF)接合至FPC。在一實施例中，連接114包含FPC上將觸控感測器控制器108耦合至連接墊112、繼而將觸控感測器控制器108耦合至跡線110，且耦合至觸控感測器陣列106之驅動或感測電極之導電線。在另一實施例中，連接墊112連接至一機電連接器(諸如(例如)一零插力線至板連接器)。連接114可包含或可不包含一FPC。本發明預期觸控感測器控制器108與觸控感測器陣列106之間之任一連接114。
圖2繪示根據本發明之一實施例之容納觸控感測器102之一實例性裝 置200。裝置200係任一個人數位助理、蜂巢式電話、智慧型電話、平板電腦及類似者。在一實施例中，裝置200包含其他類型之裝置，諸如自動提款機(ATM)、家用電器、個人電腦及具有一觸控螢幕之任一其他此裝置。在所繪示之實例中，系統100之組件在裝置200內。儘管本發明描述具有含特定組件之一特定實施之一特定裝置200，但本發明預期具有含任何組件之任一實施之任一裝置200。
裝置200之一特定實例係包含一殼體201及佔據裝置200之殼體201之一表面204之一部分之一觸控螢幕顯示器202之一智慧型電話。在一實施例中，殼體201係裝置200之一外殼，其可含有裝置200之內部組件(例如，內部電氣組件)。觸控感測器102可直接或間接耦合至裝置200之殼體201。觸控螢幕顯示器202可佔據裝置200之殼體201之一大部分或全部表面204(例如，最大表面204之一者)。對一觸控螢幕顯示器202之參考包含疊對裝置200之實際顯示器及觸控感測器元件之覆蓋層，其等包含一頂部覆蓋層(例如，一玻璃覆蓋層)。在所繪示之實例中，表面204係觸控螢幕顯示器202之頂部覆蓋層之一表面。在一實施例中，觸控螢幕顯示器200之頂部覆蓋層(例如，一玻璃覆蓋層)被認為係裝置200之殼體201之部分。
在一實施例中，較大尺寸之觸控螢幕顯示器202容許觸控螢幕顯示器202呈現一廣泛範圍之資料，其包含一鍵盤、一數字小鍵盤、程式或應用程式圖示及各種其他介面。在一實施例中，一使用者藉由使用一尖筆、一手指或任一其他物件觸及觸控螢幕顯示器202以便與裝置200互動來與裝置200互動(例如，選擇要執行之一程式或在觸控螢幕顯示器202上顯示之一鍵盤上錄入一字母)。在一實施例中，一使用者使用多個觸控以執行各種操作來與裝置200互動，諸如，當查看一文件或影像時放大或縮小。在 一些實施例中，諸如家用電器，觸控螢幕顯示器202在裝置操作期間不會改變或僅稍微改變，且僅辨識單一觸控。
使用者可藉由使用一物件208(諸如(例如)一或多個手指、一或多個尖筆或其他物件)依實體方式衝擊(展示為衝擊206)裝置200之殼體201之表面204(或另一表面)與裝置200互動。在一實施例中，表面204係疊對觸控感測器陣列106及裝置200之一顯示器之一覆蓋層。如上文所描述，使用者可執行一系列實體衝擊(例如，點兩下、點三下或另一經實施衝擊序列)以啟動觸控感測器102(例如，觸控感測器控制器108)自一第一電力模式(例如，一低電力模式)至一第二電力模式之一轉變(例如，以喚醒裝置200之觸控感測器102(例如，觸控感測器控制器108))。衝擊感測器104偵測衝擊206且傳達指示經偵測衝擊206之一輸出信號。觸控感測器控制器108(例如，觸控感測器控制器108之一監測組件)自衝擊感測器104接收輸出信號且基於對應於一預定義衝擊模式(例如，發生於一預定時間週期內之點兩下)之輸出信號啟動觸控感測器102(例如，觸控感測器控制器108)自第一電力模式至第二電力模式之轉變。
裝置200包含按鈕210，其可執行與裝置200之操作有關之任一目的。按鈕210中之一或多者(例如，按鈕210b)可操作作為一所謂「首頁按鈕」，其至少部分向裝置200指示一使用者準備將輸入提供至裝置200之觸控感測器102。如下文更詳細描述，本發明之一實施例可減小或消除包含一「首頁按鈕」之各種原因。
圖3A繪示根據本發明之一實施例之一實例性觸控感測器控制器108。如圖3A中所繪示，觸控感測器控制器108包含一積分器電路305、一感測電路310及一補償電路315。在一實施例中，補償電路315藉由加入電 荷至積分器電路305之一輸入及/或移除電荷來增加感測電路310監測來自積分器電路305之電信號之可用容許度。因此，來自積分器電路305之電信號可在擊中一軌(接地或供應電壓)之前經歷電壓之一更大改變。因此，改良了觸控感測器102偵測一觸控之能力。
積分器電路305耦合至觸控感測器陣列106。積分器電路305自觸控感測器陣列106之一電極接收一電信號。電信號係基於電極處之一電荷。積分器電路305對電信號求積分以產生兩種感測信號(例如，一正感測信號及一負感測信號)。接著，由感測電路310監測此兩種感測信號，以判定是否發生一觸控。例如，若兩種感測信號中之一或多者偏離一已知或預先選擇之基線信號，則可判定在電極附近發生一觸控。舉另一實例，若兩種感測信號之間之一差值偏離一已知或預先選擇之差值，則可判定在電極附近發生一觸控。
感測電路310接收由積分器電路305產生之兩種感測信號。感測電路310監測來自積分器電路305之兩種感測信號以判定在觸控感測器陣列106之電極附近是否發生一觸控。例如，感測電路310可首先為兩種感測信號之各者建立一基線。接著，感測電路310監測兩種感測信號以觀察其等是否偏離基線達一所選擇臨限值。若兩種感測信號中之一或多者偏離基線多於臨限值，則感測電路310判定在電極附近發生一觸控。舉另一實例，感測電路310可在兩種感測信號之間建立一基線差及/或差值。接著，感測電路310監測兩種發送信號之間之差值；若彼差值偏離基線差值多於一所選擇臨限值，則感測電路310判定在電極附近發生一觸控。
依據一實例性情景，感測電路310之效能及/或準確度可由觸控感測器102之組件之寄生電容降級。此等寄生電容將DC分量引入至由觸控感測 器陣列106之電極傳達之電信號中。當此等DC分量被積分時，其減小感測電路310可監測由積分器電路305產生之兩種感測信號之容許度之量。換言之，DC分量致使兩種感測信號更接近電壓軌(例如，接地或供應電壓軌)。因此，減小感測信號在擊中一電壓軌之前可經歷之電壓變化量(更小容許度)，此容許增加積分器電路305之增益，藉此增加觸控信號之大小。因為減小之電壓變化可能更難偵測，故感測電路310可能不能偵測到此等環境中之觸控。藉由移除DC分量，感測信號可在擊中一電壓軌之前經歷更多電壓改變(更多容許度)，此容許增加積分器電路305之增益，藉此增加觸控信號之大小。因此，增加了兩種感測信號之信雜比，藉此改良觸控感測器102之觸控偵測能力。
觸控感測器控制器108包含補償電路315，其加入及/或移除電荷以補償及/或減小由觸控感測器102之寄生電容造成之DC分量之效應。如圖3A中所繪示，補償電路315耦合至積分器電路305之一輸入。補償電路315在由觸控感測器陣列106產生之信號由積分器電路305對其求積分之前(及/或在(多個)積分階段期間)加入電荷及/或自彼信號移除電荷。因此，補償電路315加入及/或移除之電荷補償及/或減小經放大信號之DC分量。藉由減小及/或移除DC分量，由積分器電路305產生之兩個感測信號提供感測電路310可監測兩個發送信號之額外容許度，藉此容許增加系統增益(例如，存在感測電路310可監測實際觸控信號之額外容許度，藉此容許增加系統增益)。將使用圖4至圖7更詳細論述補償電路315之操作。本發明預期加入及移除等效之電荷以施加一正電荷及一負電荷。例如，可藉由施加一正電荷加入電荷，且可藉由施加一負電荷移除電荷，或反之亦然。
補償電路315透過電力線325及控制線330接收輸入。電力線325將電 荷供應至補償電路315。在一些實施例中，將彼電荷加入至積分器電路305及/或自積分器電路305移除彼電荷。來自控制330之一信號控制補償電路315是加入電荷還是移除電荷。
在一實施例中，補償電路315由在觸控感測器102之一操作溫度之一操作溫度範圍(例如，一5攝氏度範圍)內實質上恒定之一基於接地參考電壓供電。此外，基於接地參考電壓實質上獨立於用於對積分器電路305供電之一供應電壓。例如，基於接地參考電壓在觸控感測器102之操作溫度之145攝氏度範圍(例如，自-40至105攝氏度)內偏離小於1%。舉另一實例，基於接地參考電壓偏離小於對積分器電路305供電之供應電壓之一改變之1%。
圖3B繪示根據本發明之一實施例之一實例性觸控感測器控制器108。觸控感測器控制器108包含一電流放大器電路300、一積分器電路305、一感測電路310、一補償電路315及一內建式自我測試電路320。電流放大電路300之加入藉由容許輸入信號按比例縮放而改良觸控感測器102之操作。內建式自我測試電路320藉由容許與外部測試裝備之更少互動而減小觸控控制器108之測試時間及生產成本。此外，觸控感測器102之操作因為內建式自我測試電路320容許運行時間校準或診斷測試而得以改良。圖3B之實例性觸控感測器控制器108之操作實質上類似於圖3A之實例性觸控感測器控制器108之操作，其中存在一些所提及差異。
如圖3B中所繪示，電流放大器電路300耦合至觸控感測器陣列106及積分器電路305。電流放大器電路300自觸控感測器陣列106之一電極接收一電信號。該信號係基於該電極處之一電荷。電流放大器電路300放大該電信號。本發明預期包含任何數目個組件(諸如(例如)一或多個電流放大 器及/或經組態以放大來自觸控感測器陣列106之電信號之一或多個差動放大器)之電流放大器電路300。此外，應預期，觸控感測器陣列106之各電極傳達由電流放大器電路300放大之一電信號。在一實施例中，藉由放大來自電極之電信號，可更容易偵測到由電極附近之一觸控及/或物件造成之電信號之較小改變及變動。電流放大器電路300可經調諧及/或調整使得電流放大器電路300在一第一時間點將一特定增益量提供至一電信號，且基於該調諧及/或調整，在一第二時間點提供一不同增益量。積分器電路305自電流放大器電路300接收經放大電信號，且對經放大電信號求積分以產生兩種感測信號。應進一步預期，放大器電路300具有小於1之一增益，使得放大器電路300作為一衰減器操作。
另外，補償電路315亦耦合至電流放大器電路300之一輸入。依此方式，補償電路315加入電荷及/或自由電流放大器電路300接收之電信號移除電荷。因此，可在由電流放大器電路300放大由觸控感測器陣列106之一電極傳達之電信號之前減小及/或移除該電信號中之任何DC分量。
此外，在一實施例中，補償電路315亦耦合至一內建式自我測試電路320之一輸入。補償電路315將電荷加入至內建式自我測試電路320之一輸入及/或移除電荷。補償電路315向內建式自我測試電路320加入電荷及/或自內建式自我測試電路320移除電荷所經由之線稱為一內建式自我測試匯流排。依此方式，可使用內建式自我測試電路320測試補償電路315加入及/或移除之電荷。因此，可由內建式自我測試電路320執行補償電路315之自測試，此舉簡化觸控感測器102之產生測試。此外，內建式自我測試電路320可用於在觸控感測器102之一操作期間執行觸控感測器102之診斷檢查。在一實施例中，補償電路315可用於藉由施加一電荷信號至其他區 塊而測試其他電路區塊。內建式自我測試電路320提供將補償電路315連接至其他區塊之一匯流排。例如，另一積分器電路(若在觸控控制器108中存在多個積分器)之一輸入可透過內建式自我測試電路連接至補償電路315。
此外，補償電路315透過控制線335接收額外輸入。來自控制線335之一信號控制補償電路315加入電荷之位置及/或控制補償電路315自其移除電荷之位置(例如，電流放大器電路300、積分器電路305及/或內建式自我測試電路320)。
另外，在一實施例中，電流放大器電路300包含用於一正參考電壓及一負參考電壓之一輸入。正參考電壓之量值及負參考電壓之量值實質上等於用於對補償電路315供電之基於接地參考電壓之量值。例如，正參考電壓之量值及負參考電壓之量值自基於接地參考電壓之量值偏離小於1%。因此，基於接地參考電壓、正參考電壓及負參考電壓保持獨立於對積分器電路305供電之供應電壓，此舉減小供應電壓變動(例如，在整個溫度範圍、電池壽命等等中之變動)及供應電壓雜訊對基於接地參考電壓、正參考電壓及負參考電壓之影響。
圖4繪示根據本發明之一實施例之一實例性補償電路315。如圖4中所繪示，補償電路315包含一驅動器400、一電阻器405、一電容器410及一解多工器415。在一實施例中，補償電路315加入電荷及/或自觸控感測器控制器108之各種組件移除電荷以增加感測電路310可監測由積分器電路305產生之一第一感測信號及一第二感測信號之可用容許度。
驅動器400透過補償電路315驅動一正電荷或一負電荷。驅動器400經由電力線325接收一電荷且經由控制線330接收一控制信號。基於彼控制 信號，驅動器400判定驅動器400是驅動一正電荷還是驅動一負電荷。例如，若控制信號指示驅動器400應加入電荷，則驅動器400將驅動經由電力線325接收之電荷。若控制信號指示驅動器400應移除電荷，則驅動器400將代替地將電荷汲取至接地。在一實施例中，電力線325載送由一基於接地參考系統設定之一參考電壓。驅動器400之輸出在電力線325與接地之間轉變以提供正電荷及負電荷(例如，自接地轉變至電力線325以提供一正電荷及自電力線325轉變至接地以提供一負電荷)。在一實施例中，控制信號由觸控感測器控制器108提供而非由控制器108外部之一組件提供。在一實施例中，控制信號係基於積分器電路305之一階段。例如，在積分器電路305之一負積分階段期間，控制信號致使驅動器400透過補償電路315驅動一正電荷。舉另一實例，在積分器電路305之一正積分階段期間，控制信號致使驅動器400透過補償電路315驅動一負電荷或自補償電路315移除電荷。在一實施例中，驅動器400使用一基於接地參考電壓作為電源以便移除裝置之一主供应電壓中之一漂移效應。
電阻器405及電容器410串聯耦合至驅動器400。電阻器405之一輸入耦合至驅動器400之一輸出，且電容器410之一輸入耦合至電阻器405之一輸出。電阻器405及電容器410影響透過補償電路315加入及/或移除電荷之速度。例如，電阻器405之一阻抗/電阻影響將電能傳送至電容器410或自電容器410傳送電能之速度，且電容器410之一電容影響由電容器410儲存多少能量。在一實施例中，電阻器405係一可變電阻器，其阻抗/電阻可被調整。此外，在一實施例中，電容器410係一可變電容器，其電容可被調整。藉由容許電阻器405及/或電容器410係可變的，補償電路315可經組態以取決於觸控感測器102之狀態依不同速率加入及/或移除不同之電荷量。 例如，補償電路315可經組態以在積分器電路305之一負積分階段期間加入一特定電荷量及在積分器電路305之一正積分階段期間移除一不同電荷量。舉另一實例，補償電路315可經組態以在補償電路315加入電荷至電流放大器電路300之一輸入時加入一特定電荷量及在補償電路315自積分器電路305之一輸入移除電荷時移除一不同電荷量。
解多工器415切換補償電路315之輸出。解多工器415之一輸入耦合至電容器410之一輸出。此外，解多工器415經由控制線335接收一控制信號。在一實施例中，控制信號由觸控感測器控制器108提供而非由控制器108外部之一組件提供。解多工器315包含多個輸出：至電流放大器電路300之一輸出、至積分器電路305之一輸出及至內建式自我測試電路320之一輸出。取決於經由控制線335接收之控制信號，解多工器315將發送電容器410之輸出至該等輸出中之一者。例如，在一自診斷測試期間，控制信號致使解多工器415將電容器410之輸出引導至內建式自我測試電路320。舉另一實例，在積分器電路305之一積分階段期間，控制信號致使解多工器415將電容器410之輸出引導至積分器電路305及/或電流放大器電路300。
圖5繪示根據本發明之一實施例之使用一補償電路315對一積分器電路305預充電之一實例性信號圖。如圖5中所繪示，可在積分器電路305之初始化期間加入電荷及/或自積分器電路305之一輸入移除電荷。
在積分器電路305之初始化之後，發生一負積分階段及一正積分。在各階段期間，積分器電路305對由觸控感測器陣列106及/或電流放大器電路300提供之一輸入信號求積分以產生一第一感測信號500及一第二感測信號505。初始化使積分器電路305及觸控感測器控制器108準備好偵測觸 控感測器陣列106上或附近之觸控。本發明預期在觸控感測器控制器108量測一觸控之前發生之初始化。
如圖5中所繪示，在積分器電路305進入負積分階段及正積分階段之前加入電荷及/或自信號移除電荷。例如，在負積分階段之前，補償電路315加入電荷至信號。在加入電荷之後，積分器電路305對信號執行一負積分以產生第一感測信號500。信號依一半供应電壓開始。接著，在負積分階段之前不久，信號歸因於加入電荷而增加電壓。接著，信號在負積分階段期間逐漸減小至四分之一供應電壓。接著，積分器電路305將第一感測信號500保持在四分之一供應電壓。因此，第一感測信號500中之可用容許度增加，藉此容許增加一觸控信號之大小之一更高系統增益，從而更易於偵測。
為了產生第二感測信號505，積分器電路305在正積分階段期間執行一正積分。在正積分階段之前，補償電路315自信號移除電荷。如圖5中所見，信號依一半供應電壓開始。接著，在正積分階段之前，信號之電壓隨著電荷被移除而下降。接著，積分器電路305對該信號執行正積分，且信號逐漸增加至四分之三供應電壓。接著，積分器電路305將第二感測信號505保持在四分之三供應電壓。因此，第二感測信號505中之可用容許度增加，藉此容許增加一觸控信號之大小之一更高系統增益，從而更易於偵測。
在一實施例中，控制線330上之信號用於加入及/或移除一電荷量，該電荷量補償電流放大器電路300中之偏移誤差。電流放大器電路300可在積分階段期間因為內部偏移而加入及/或移除一誤差電荷量。補償電路315及控制線330可取消此誤差電荷，使得電流放大器電路300中之偏移效 應在積分器電路305之一輸出上不可見。
圖6繪示根據本發明之一實施例之使用一補償電路315對一積分器電路305預充電之一實例性信號圖。如圖6中所繪示，代替在負積分階段及正積分階段之前加入電荷及/或自電信號移除電荷，補償電路315可在負積分階段及正積分階段期間加入及/或移除電荷。
如圖6中所見，第一感測信號500係藉由執行負積分且在該負積分階段期間加入電荷至信號而產生。如圖6中所展示，電信號依一半供應電壓開始，且接著，在負積分階段期間執行負積分。此外，在負積分階段期間加入電荷至電信號。因此，第一感測信號500仍依四分之一供應電壓結束。作為電荷補償之一結果，可增加系統增益，而無需第一感測信號500在積分階段期間擊中一軌(例如，接地或電源)。
類似地，第二感測信號505係藉由執行一正積分且在正積分階段期間移除電荷而產生。因此，電信號依一半供應電壓開始，且接著，在正積分階段期間執行正積分。此外，在正積分階段期間自電信號移除電荷。因此，第二感測信號505依四分之三供應電壓結束。作為電荷補償之一結果，可增加系統增益，而無需第二感測信號505在積分階段期間擊中一軌(例如，接地或電源)。
本發明預期每次在感測電路310量測第一感測信號500及第二感測信號505以判定是否發生一觸控之前執行使用圖5及圖6所描述之預充電常式之積分器電路305及補償電路315。例如，在感測電路310判定尚未發生觸控之後，積分器電路305可將第一感測信號500及第二感測信號505重設回至一半供應電壓。接著，補償電路315加入及/或移除電荷，且再次發生負及正積分階段。接著，感測電路310可再次量測第一感測信號500及第二 感測信號505以判定是否發生一觸控。
儘管本發明描述依四分之一供應電壓產生第一感測信號500及依四分之三供應電壓產生第二感測信號505之積分器電路305，但本發明預期依任一電壓產生第一感測信號500及第二感測信號505之積分器電路305。例如，積分器電路305可依三分之一供應電壓產生第一感測信號500及依三分之二供應電壓產生第二感測信號505。本發明亦預期加入任一電荷量及/或自觸控感測器控制器108之組件移除任一電荷量之補償電路。
圖7繪示根據本發明之一實施例之用於偵測一觸控之一實例性方法700。在一實施例中，觸控感測器控制器108執行方法700。藉由執行方法700，觸控感測器控制器增加觸控感測器控制器108監測一第一及第二感測信號之容許度之量，此舉改良觸控感測器102之準確度。例如，一實際觸控可改變第一感測信號500及/或第二感測信號505結束之電壓(例如，四分之一供應電壓或四分之三供應電壓)。增加之容許度容許用於偵測觸控信號可用之一更寬信號範圍。
在步驟705中，控制器108將一積分器電路重設至一半供應電壓。藉由將積分器電路重設至一半供應電壓，依一半供應電壓產生兩個感測信號。接著，在步驟710中，控制器108施加一正電荷至積分器電路之一輸入。在步驟715中，控制器108執行至積分器電路之一輸入信號與正電荷之一負積分以產生一第一感測信號。在一實施例中，作為負積分之一結果，第一感測信號自一半供應電壓減小至四分之一供應電壓。
在步驟720中，控制器108施加一負電荷至積分器電路之輸入。接著，在步驟725中，控制器108執行至積分器電路之一輸入信號與負電荷之一正積分以產生一第二感測信號。在一實施例中，作為正積分之一結 果，第二感測信號自一半供應電壓增加至四分之三供應電壓。在步驟730中，藉由使用第一感測信號及第二感測信號偵測一觸控感測器上之一觸控，控制器108做出結論。在一實施例中，藉由執行方法700，控制器108增加使用第一感測信號及第二感測信號偵測一觸控可用之容許度。
在一實施例中，一種設備包含一積分器電路、一補償電路及一感測電路。該積分器電路對一信號求積分以產生一第一感測信號及一第二感測信號。該信號係基於一觸控感測器之一電極處之一電荷。該補償電路包含一驅動器、一電阻器及一電容器。該電阻器耦合至該驅動器之一輸出。該電容器耦合至該電阻器及該積分器電路之一輸入。該感測電路耦合至該積分器電路之一輸出。該感測電路使用該第一感測信號及該第二感測信號偵測一觸控。在一實施例中，該補償電路進一步包含耦合至該電容器之一解多工器，且該電容器透過該解多工器進一步耦合至一電流放大器電路之一輸入。該電流放大器耦合至該積分器電路之該輸入。在一實施例中，該補償電路進一步包含耦合至該電容器之一解多工器，且該電容器進一步耦合至一內建式自我測試匯流排。在一實施例中，該電容器係一可變電容器。在一實施例中，該電阻器係一可變電阻器。在一實施例中，該第一感測信號在該積分器電路之一負積分階段期間產生，且該第二感測信號在該積分器電路之一正積分階段期間產生。在一實施例中，該設備包含耦合至該積分器之該輸入之一電流放大器電路。該補償電路由一基於接地參考電壓供電，該基於接地參考電壓在觸控感測器102之操作溫度範圍(例如，-40至105攝氏度)內實質上恒定且實質上獨立於用於對該積分器電路供電之一供應電壓。該電流放大器電路包含用於一正參考電壓及一負參考電壓之一輸入。該正參考電壓之量值及該負參考電壓之量值實質上等於該基於接地參 考電壓之量值。在一實施例中，該補償電路在積分器電路之一負積分階段之前加入電荷至經放大信號，且該補償電路在該積分器電路之一正積分階段之前自該經放大信號移除電荷。在一實施例中，該補償電路在該積分器電路之一負積分階段期間加入電荷至該經放大信號，且該補償電路在該積分器電路之一正積分階段期間自該經放大信號移除電荷。
在一實施例中，一種非暫時性電腦可讀媒體包含邏輯，該邏輯當由一處理器執行時致使該處理器透過一補償電路施加一正電荷至一積分器電路之一輸入。該積分器電路對由一觸控感測器之一電極傳達之一信號與該正電荷求積分以產生一第一感測信號。該信號係基於一觸控感測器之一電極處之一電荷。該邏輯進一步致使該處理器透過該補償電路施加一負電荷至該積分器電路之該輸入。該積分器電路求該信號與該負電荷之積分以產生一第二感測信號。該邏輯亦致使該處理器使用該第一感測信號及該第二感測信號偵測一觸控。在一實施例中，該邏輯進一步致使該處理器透過該補償電路施加一正電荷至耦合至該積分器電路之該輸入之一電流放大器電路之一輸入，且透過該補償電路施加一負電荷至該電流放大器電路之該輸入。在一實施例中，該邏輯進一步致使該處理器透過該補償電路施加一正電荷至一內建式自我測試匯流排，且透過該補償電路施加一負電荷至該內建式自我測試匯流排。在一實施例中，該第一感測信號在該積分器電路之一負積分階段期間產生，且該第二感測信號在該積分器電路之一正積分階段期間產生。在一實施例中，該正電荷在該積分器電路之一負積分階段之前施加於該積分器電路之該輸入，且該負電荷在該積分器電路之一正積分階段之前施加於該積分器電路之該輸入。在一實施例中，該正電荷在該積分器電路之一負積分階段期間施加於該積分器電路之該輸入，且該負電荷 在該積分器電路之一正積分階段期間施加於該積分器電路之該輸入。
本發明之實施例提供一或多個技術優點。例如，一實施例藉由增加監測第一及第二感測信號可用之容許度而改良觸控感測器102之準確度，此舉亦改良由一觸控感測器陣列提供之電信號之信雜比。舉又另一實例，一實施例容許觸控感測器控制器108透過一內建式自我測試匯流排之自測試及執行時間診斷測試。本發明之某些實施例可不包含以上技術優點，包含部分或全部以上技術優點。自本文所包含之圖式、描述及申請專利範圍，熟習此項技術者可容易地明白一或多個其他技術優點。
在本文中，一種電腦可讀非暫時性儲存媒體可包含一或多個基於半導體積體電路或其他積體電路(IC)(諸如(例如)現場可程式化閘陣列(FPGA)或特定應用IC(ASIC))、硬碟機(HDD)、混合硬碟機(HHD)、光碟、光碟機(ODD)、磁光碟、磁光驅動、軟碟、軟碟機(FDD)、磁帶、固態驅動器(SSD)、RAM驅動器、安全數位卡或驅動器、任何其他電腦可讀非暫時性儲存媒體或此等媒體中之兩者或兩者以上之任一組合。一電腦可讀非暫時性儲存媒體可係揮發性媒體、非揮發性媒體或揮發性與非揮發性之一組合。
在本文中，「或」具包含性及非排他性，除非另外明確指示或由背景內容另外指示。因此，在本文中，「A或B」意謂「A、B或兩者」，除非另外明確指示或由背景內容另外指示。此外，「及」係兩個及幾個，除非另外明確指示或由背景內容另外指示。因此，在本文中，「A及B」意謂「A及B，共同或各自」，除非另外明確指示或由背景內容另外指示。另外，稱為「耦合」之組件包含直接耦合或間接耦合之組件。
本發明涵蓋熟習此項技術者可理解之對本文中之實例性實施例之改 變、替代、變動、變更及修改之一混合。類似地，在適當情況下，隨附申請專利範圍涵蓋熟習此項技術者可理解之對本文中之實例性實施例之所有改變、替代、變動、變更及修改。此外，只要設備、系統或組件經如此調適、配置、能夠、組態、啟用、可操作或有效，那麼無論其或特定功能是否被啟動、接通或解鎖，隨附申請專利範圍中對經調適、配置、能夠、組態、啟用、可操作或有效地以執行彼特定功能之一設備或系統或一設備或系統之一組件之參考涵蓋彼設備、系統、組件。
106:觸控感測器陣列
108:觸控感測器控制器
305:積分器電路
310:感測電路
315:補償電路
325:電力線
330:控制線

Claims (18)

  1. 一種觸控感測設備，其包括：一積分器電路；一補償電路，不同於且耦合至該積分器電路，該補償電路包括：一驅動器；一電阻器，其與該驅動器串聯耦合；一電容器，其與該電阻器串聯耦合；及一解多工器，其與該電容器串聯耦合；該驅動器可進行操作以：在一第一時間週期期間，將一正電荷透過該電阻器、電容器及該解多工器驅動至該積分器電路，該積分器電路可進行操作以對一信號與該正電荷求積分以產生一第一感測信號，該信號係基於一觸控感測器之一電極處之一電荷；且在一第二時間週期期間，將一負電荷透過該電阻器、電容器及該解多工器驅動至該積分器電路，該積分器電路可進一步進行操作以對該信號與該負電荷求積分以產生一第二感測信號；及一感測電路，其可進行操作以基於該第一感測信號及該第二感測信號偵測一觸控。
  2. 如請求項1之設備，其中該電阻器係一可變電阻器。
  3. 如請求項1之設備，其中該電容器係一可變電容器。
  4. 如請求項1之設備，其中該驅動器使用一基於接地參考電壓作為一電源以去除一主供應電壓中之一漂移效應。
  5. 如請求項1之設備，其中該解多工器之一輸出耦合至該積分器電路，該解多工器之一輸入耦合至該電容器。
  6. 如請求項1之設備，其中該解多工器之一輸出耦合至一電流放大器電路，該解多工器之一輸入耦合至該電容器。
  7. 如請求項1之設備，其中該解多工器之一輸出耦合至一內建式自我測試匯流排，該解多工器之一輸入耦合至該電容器。
  8. 如請求項1之設備，其進一步包括耦合至該積分器電路及該補償電路之一電流放大器電路。
  9. 如請求項1之設備，其進一步包括耦合至該補償電路之一內建式自我測試匯流排。
  10. 一種觸控感測裝置，其包括：一觸控感測器陣列；一積分器電路；一補償電路，不同於且耦合至該積分器電路，該補償電路包括： 一驅動器；一電阻器，其與該驅動器串聯耦合；一電容器，其與該電阻器串聯耦合；及一解多工器，其與該電容器串聯耦合；該驅動器可進行操作以：在一第一時間週期期間，將一正電荷透過該電阻器、電容器及該解多工器驅動至該積分器電路，該積分器電路可進行操作以對一信號與該正電荷求積分以產生一第一感測信號，該信號係基於該觸控感測器陣列之一電極處之一電荷；且在一第二時間週期期間，將一負電荷透過該電阻器、電容器及該解多工器驅動至該積分器電路，該積分器電路可進一步進行操作以對該信號與該負電荷求積分以產生一第二感測信號；及一感測電路，其可進行操作以基於該第一感測信號及該第二感測信號偵測一觸控。
  11. 如請求項10之裝置，其中該電阻器係一可變電阻器。
  12. 如請求項10之裝置，其中該電容器係一可變電容器。
  13. 如請求項10之裝置，其中該驅動器使用一基於接地參考電壓作為一電源以去除一主供應電壓中之一漂移效應。
  14. 如請求項10之裝置，其中該解多工器之一輸出耦合至該積分器電 路，該解多工器之一輸入耦合至該電容器。
  15. 如請求項10之裝置，其中該解多工器之一輸出耦合至一電流放大器電路，該解多工器之一輸入耦合至該電容器。
  16. 如請求項10之裝置，其中該解多工器之一輸出耦合至一內建式自我測試匯流排，該解多工器之一輸入耦合至該電容器。
  17. 如請求項10之裝置，其進一步包括耦合至該積分器電路及該補償電路之一電流放大器電路。
  18. 如請求項10之裝置，其進一步包括耦合至該補償電路之一內建式自我測試匯流排。
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