TWI736486B - 具有扇出式探針的探針卡裝置 - Google Patents
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Abstract
本發明公開一種具有扇出式探針的探針卡裝置,所述扇出式探針包含有一行程段、一扇出段、及一測試段。所述行程段呈直線狀且定義有一長度方向,並且所述行程段包含有兩個末端部。所述行程段能通過兩個所述末端部分別沿彼此相反的方向受力而彎曲。所述扇出段與所述測試段分別相連於所述行程段的兩個所述末端部,並且所述扇出段具有遠離所述行程段的一轉接點,而所述測試段具有遠離所述行程段的一頂抵點。其中,所述轉接點在垂直所述長度方向的一扇出方向上,是與所述頂抵點相隔有一扇出距離。
Description
本發明涉及一種導電探針,尤其涉及一種具有扇出式探針的探針卡裝置。
在需要受力而彎曲才能提供行程的現有導電探針之中,其受力而彎曲的行程段呈直線狀,並且現有導電探針的兩端點是位於所述行程段的延伸方向上。現有導電探針的構造會導致其與電路板之間需要以線路密集且複雜的間距轉換板來傳遞信號。
於是,本發明人認為上述缺陷可改善,乃特潛心研究並配合科學原理的運用,終於提出一種設計合理且有效改善上述缺陷的本發明。
本發明實施例在於提供一種具有扇出式探針的探針卡裝置,其能有效地改善現有導電探針所可能產生的缺陷。
本發明實施例公開一種具有扇出式探針的探針卡裝置,其包括:一第一導板單元與一第二導板單元,其彼此間隔地設置;以及多個扇出式探針,穿設於所述第一導板單元與所述第二導板單元,並且每個所述扇出式探針包含:一行程段,呈直線狀且定義有一長度方向,所述行程段的兩個末端部分別容置於所述第一導板單元與所述第二導板單元內;一扇出段,相連於所述行程段的其中一個所述末端部,所述扇出段穿出所述第一導板單元並具有遠離所述行程段的一轉接點;及一測試段,相連於所述行程段的其中另一個所述末端部,所述測試段穿出所述第二導板單元並具有遠離所述行程段的一頂抵點;其中,所述轉接點在垂直所述長度方向的一扇出方向上,是與所述頂抵點相隔有一扇出距離;其中,任兩個相鄰所述扇出式探針中的兩個所述轉接點的間距大於兩個所述頂抵點的間距,並且所述第一導板單元與所述第二導板單元能彼此斜向錯位,以使多個所述扇出式探針的所述行程段朝相同方向彎曲;其中,多個所述扇出式探針的所述頂抵點排成兩列,並且每列所述頂抵點的排列方向平行於垂直所述長度方向與所述扇出方向的一直線方向;其中,分屬不同列且相鄰設置的兩個所述頂抵點之間的距離,其小於相對應兩個所述轉接點之間的距離。
綜上所述,本發明實施例所公開的具有扇出式探針的探針卡裝置,其通過所述扇出式探針的構造設計(如:所述轉接點與所述頂抵點相隔有所述扇出距離),以使得多個所述扇出式探針的所述轉接點之間的距離能夠被拉開,進而有效地改善所述探針卡裝置的生產成本與效率(如:所述間距轉換板的製造難度可以被降低;或者,所述探針卡裝置省略所述間距轉換板)。
為能更進一步瞭解本發明的特徵及技術內容,請參閱以下有關本發明的詳細說明與附圖,但是此等說明與附圖僅用來說明本發明,而非對本發明的保護範圍作任何的限制。
以下是通過特定的具體實施例來說明本發明所公開有關“具有扇出式探針的探針卡裝置”的實施方式,本領域技術人員可由本說明書所公開的內容瞭解本發明的優點與效果。本發明可通過其他不同的具體實施例加以施行或應用,本說明書中的各項細節也可基於不同觀點與應用,在不悖離本發明的構思下進行各種修改與變更。另外,本發明的附圖僅為簡單示意說明,並非依實際尺寸的描繪,事先聲明。以下的實施方式將進一步詳細說明本發明的相關技術內容,但所公開的內容並非用以限制本發明的保護範圍。
應當可以理解的是,雖然本文中可能會使用到“第一”、“第二”、“第三”等術語來描述各種元件或者信號,但這些元件或者信號不應受這些術語的限制。這些術語主要是用以區分一元件與另一元件,或者一信號與另一信號。另外,本文中所使用的術語“或”,應視實際情況可能包括相關聯的列出項目中的任一個或者多個的組合。
[實施例一]
請參閱圖1至圖8所示,其為本發明的實施例一。如圖1所示,本實施例公開一種探針卡裝置1000(或稱為具有扇出式探針的探針卡裝置),包含有一探針頭100以及抵接於所述探針頭100一側(如:圖1的探針頭100頂側)的一電路板200,並且所述探針頭100的另一側(如:圖1的探針頭100底側)用來頂抵測試一待測物(device under test,DUT)(圖未繪示,如:半導體晶圓)。也就是說,本實施例的探針卡裝置1000在所述探針頭100與所述電路板200之間位設有任何間距轉換板(space transformer),並且所述探針卡裝置1000是以所述探針頭100直接連接所述電路板200。
需先說明的是,為了便於理解本實施例,所以圖式僅呈現所述探針卡裝置1000的局部構造,以便於清楚地呈現所述探針卡裝置1000的各個元件構造與連接關係,但本發明並不以圖式為限。以下將分別介紹所述探針頭100的各個元件構造及其連接關係。
如圖1和圖2所示,所述探針頭100包含有一第一導板單元1、與所述第一導板單元1間隔地設置的一第二導板單元2、夾持於所述第一導板單元1與第二導板單元2之間的一間隔板3、及穿設於所述第一導板單元1與第二導板單元2的多個扇出式探針4。
需說明的是,所述扇出式探針4於本實施例中是以搭配所述第一導板單元1、所述第二導板單元2、及所述間隔板3來說明,但本發明不受限於此。舉例來說,在本發明未繪示的其他實施例中,所述扇出式探針4也可以是獨立地被應用(如:販賣)或搭配其他構件使用。
於本實施例中,所述第一導板單元1包含有一個第一導板,並且所述第二導板單元2包含有一個第二導板。然而,在本發明未繪示的其他實施例中,所述第一導板單元1可以包含有多個第一導板(及夾持於相鄰的兩個所述第一導板之間的間隔片),並且所述第二導板單元2也可以包含有多個第二導板(及夾持於相鄰的兩個所述第二導板之間的間隔片),多個所述第一導板能夠彼此錯位設置,多個所述第二導板也能夠彼此錯位設置,而所述第一導板單元1能夠相對於所述第二導板單元2彼此錯位設置。
再者,所述間隔板3可以是一環形構造,並且間隔板3夾持於所述第一導板單元1與第二導板單元2的相對應外圍部位,但本發明不受限於此。舉例來說,於本發明未繪示的其他實施例中,所述探針卡裝置1000的間隔板3也可以省略或是其他構件取代。
需先說明的是,由於多個所述扇出式探針4的構造於本實施例中大致相同,所以為了便於說明,以下僅介紹單個所述扇出式探針4的構造,但本發明不以此為限。舉例來說,在本發明未繪示的其他實施例中,多個所述扇出式探針4的構造也可以有所差異;或者,所述探針頭100也可以包含有多個所述扇出式探針4及呈直線狀的至少一個現有導電探針。
再者,為便於理解所述扇出式探針4的構造,以下將先所述第一導板單元1尚未相對於所述第二導板單元2錯位設置的情況來進行所述扇出式探針4的構造說明。
如圖1、圖3、及圖4所示,所述扇出式探針4於本實施例中是以橫截面呈矩形的構造來說明,但本發明不受限於此。其中,所述扇出式探針4包含一行程段41、及分別相連於所述行程段41相反兩端的一扇出段42與一測試段43,並且所述扇出式探針4於本實施例中是以一體成形的單件式構造來說明。
其中,所述行程段41呈直線狀且定義有一長度方向L。其中,所述行程段41包含有一形變部411及分別相連於所述形變部411兩端的兩個末端部412,而兩個所述末端部412分別容置於所述第一導板單元1與所述第二導板單元2內。再者,所述行程段41能通過兩個所述末端部412分別沿彼此相反的方向受力而(使所述形變部411彈性地)彎曲,用以通過彎曲狀的所述行程段41來提供所述扇出式探針4運作時所需的行程。需額外說明的是,任何導電探針所包含的行程段非為直線狀、或是無法受力而彈性地彎曲時,上述導電探針則不同於本實施例所指的扇出式探針4。
所述扇出段42與所述測試段43則是分別相連於兩個所述末端部412,所述扇出段42穿出所述第一導板單元1並具有遠離所述行程段41的一轉接點424,而所述測試段43穿出所述第二導板單元2並具有遠離所述行程段41的一頂抵點431。其中,所述轉接點424在垂直所述長度方向L的一扇出方向F上,是與所述頂抵點431相隔有一扇出距離FD,而所述扇出距離FD的具體數值可以依據設計需求而加以調整變化,不以本實施例為限。
更詳細地說,所述扇出段42於本實施例中包含有一延伸部421、及相連於所述延伸部421的一轉接部422與兩個側翼部423。其中,所述延伸部421自所述行程段41的相對應所述末端部412沿所述扇出方向F延伸所形成,所述轉接部422自所述延伸部421沿所述長度方向L(朝遠離所述行程段41的一側)延伸所形成,並且所述轉接部422的末端為所述轉接點424。進一步地說,所述延伸部421在所述扇出方向F上的長度可以依據設計需求而加以調整變化,據以有效地改變所述轉接點424與所述頂抵點431之間所相隔的所述扇出距離FD。
再者,所述轉接部422是自遠離所述行程段41的所述延伸部421一端(如:圖4中的延伸部421右端)大致垂直地延伸所形成,但本發明不以此為限。舉例來說,如圖5所示,所述轉接部422也可以是自所述延伸部421的頂緣呈漸縮狀地沿所述長度方向L延伸所形成,以使所述轉接部422呈大致梯形。
另,兩個所述側翼部423分別自所述延伸部421的相反兩個末端沿所述扇出方向F(彼此遠離地)延伸所形成,並且兩個所述側翼部423分別突伸出所述轉接部422與相對應的所述末端部412。此外,所述扇出段42於本實施例中雖包含有兩個所述側翼部423,但本發明不以此為限。舉例來說,如圖5和圖6所示,所述扇出段42可以省略兩個所述側翼部423;或者,在本發明未繪示的其他實施例中,所述扇出段42也可以僅省略其中一個所述側翼部423。
以上為本實施例的單個所述扇出式探針4的構造說明,以下接著介紹多個所述扇出式探針4與其他構件之間的搭配關係。如圖1、圖3、及圖4所示,所述探針卡裝置1000在通過所述扇出式探針4的構造設計(如:所述轉接點424與所述頂抵點431相隔有所述扇出距離FD),以使得多個所述扇出式探針4的所述轉接點424之間的距離能夠被拉開,進而利於直接固定於所述電路板200(也就是,所述探針卡裝置1000可以省略間距轉換板),據以有效地改善所述探針卡裝置1000的生產成本與效率。
再者,任兩個相鄰所述扇出式探針4中的兩個所述轉接點424的間距D424大於兩個所述頂抵點431的間距D431,並且所述第一導板單元1與所述第二導板單元2能彼此斜向錯位(如:圖1中的所述第一導板單元1相較於所述第二導板單元2在垂直所述長度方向L的平面上,沿著與所述扇出方向F相夾有銳角的一斜向角度錯位),以使多個所述扇出式探針4的所述行程段41朝相同方向彎曲。換個角度來說,無法朝同向彎曲的多個探針則不同於本實施例探針卡裝置1000所包含的多個所述扇出式探針4。
更詳細地說,多個所述扇出式探針4的所述頂抵點431於本實施例中可以排成N列(N較佳為不大於三的正整數),並且每列所述頂抵點431的排列方向平行於垂直所述長度方向L與所述扇出方向F的一直線方向S。也就是說,所述探針卡裝置1000所測試的待測物,其類型較為適合是周邊型的晶片,但本發明不以此為限。舉例來說,在本發明未繪示的其他實施例中,多個所述扇出式探針4的所述頂抵點431也可以依據設計需求而沿任意路徑排列。
再者,為便於理解本實施例的上述特徵,以下以N為1和2的例子進行說明。其中,如圖3所示,多個所述扇出式探針4的所述頂抵點431排成一列,且其排列方向平行於所述直線方向S,多個所述扇出式探針4的所述轉接點424呈彼此交錯排列。或者,如圖7和圖8所示,多個所述扇出式探針4的所述頂抵點431排成兩列,並且每列所述頂抵點431的排列方向平行於所述直線方向S;分屬不同列且相鄰設置的兩個所述頂抵點431之間的距離D431a,其小於相對應兩個所述轉接點424之間的距離D424a。
[實施例二]
請參閱圖9所示,其為本發明的實施例二。由於本實施例類似於上述實施例一,所以兩個實施例的相同處則不再加以贅述,而本實施例相較於上述實施例一的差異大致說明如下:
於本實施例中,所述探針卡裝置1000進一步包含有連接於所述電路板200以及多個所述扇出式探針4的一間距轉換板300,並且每個所述扇出式探針4是以其所述轉接點424固定於所述間距轉換板300;也就是說,多個所述扇出式探針4於本實施例中是通過所述間距轉換板300而電性耦接於所述電路板200。
據此,所述探針卡裝置1000在通過所述扇出式探針4的構造設計(如:所述轉接點424與所述頂抵點431相隔有所述扇出距離FD),以使得多個所述扇出式探針4的所述轉接點424之間的距離能夠被拉開,進而利於降低所述間距轉換板300的製造難度。
[實施例三]
請參閱圖10所示,其為本發明的實施例三。由於本實施例類似於上述實施例一和二,所以兩個實施例的相同處則不再加以贅述,而本實施例相較於上述實施例一和二的差異大致說明如下:
於本實施例中,多個所述扇出式探針4的所述扇出距離FD包含不同的至少兩種數值;也就是說,所述探針頭100可以採用具有不同所述扇出距離FD的多個所述扇出式探針4,據以符合不同的設計需求,進而利於使多個所述扇出式探針4的所述轉接點424佈局適合直接固定於所述電路板(圖中未繪示);也就是說,本實施例所採用的多個所述扇出式探針4可以通過具備不同數值的扇出距離FD,以取代間距轉換板的功能。
[本發明實施例的技術效果]
綜上所述,本發明實施例所公開的探針卡裝置,其通過所述扇出式探針的構造設計(如:所述轉接點與所述頂抵點相隔有所述扇出距離),以使得多個所述扇出式探針的所述轉接點之間的距離能夠被拉開,進而有效地改善所述探針卡裝置的生產成本與效率(如:所述間距轉換板的製造難度可以被降低;或者,所述探針卡裝置省略間距轉換板)。
再者,本發明實施例所公開的探針卡裝置,其通過多個所述扇出式探針的所述扇出距離包含不同的至少兩種數值以符合不同的設計需求,進而利於使多個所述扇出式探針的所述轉接點佈局適合直接固定於所述電路板(也就是,省略採用間距轉換板)。
以上所公開的內容僅為本發明的優選可行實施例,並非因此侷限本發明的專利範圍,所以凡是運用本發明說明書及圖式內容所做的等效技術變化,均包含於本發明的專利範圍內。
1000:探針卡裝置
100:探針頭
1:第一導板單元
2:第二導板單元
3:間隔板
4:扇出式探針
41:行程段
411:形變部
412:末端部
42:扇出段
421:延伸部
422:轉接部
423:側翼部
424:轉接點
43:測試段
431:頂抵點
200:電路板
300:間距轉換板
L:長度方向
F:扇出方向
S:直線方向
FD:扇出距離
D424、D431:間距
D424a、D431a:距離
圖1為本發明實施例一的具有扇出式探針的探針卡裝置的立體示意圖。
圖2為圖1的探針頭上視示意圖。
圖3為圖1中的多個扇出式探針的立體示意圖。
圖4為本發明實施例一的扇出式探針的平面示意圖。
圖5為圖4的扇出式探針另一形態的平面示意圖。
圖6為圖4的扇出式探針又一形態的平面示意圖。
圖7為本發明實施例一的具有扇出式探針的探針卡裝置另一形態的立體示意圖(僅呈現扇出式探針)。
圖8為圖7的上視示意圖。
圖9為本發明實施例二的具有扇出式探針的探針卡裝置的立體示意圖。
圖10為本發明實施例三的具有扇出式探針的探針卡裝置的探針頭立體示意圖。
1000:探針卡裝置
100:探針頭
1:第一導板單元
2:第二導板單元
3:間隔板
4:扇出式探針
41:行程段
42:扇出段
424:轉接點
43:測試段
431:頂抵點
200:電路板
L:長度方向
F:扇出方向
S:直線方向
Claims (4)
- 一種具有扇出式探針的探針卡裝置,其包括:一第一導板單元與一第二導板單元,其彼此間隔地設置;以及多個扇出式探針,穿設於所述第一導板單元與所述第二導板單元,並且每個所述扇出式探針包含:一行程段,呈直線狀且定義有一長度方向,所述行程段的兩個末端部分別容置於所述第一導板單元與所述第二導板單元內;一扇出段,相連於所述行程段的其中一個所述末端部,所述扇出段穿出所述第一導板單元並具有遠離所述行程段的一轉接點;及一測試段,相連於所述行程段的其中另一個所述末端部,所述測試段穿出所述第二導板單元並具有遠離所述行程段的一頂抵點;其中,所述轉接點在垂直所述長度方向的一扇出方向上,是與所述頂抵點相隔有一扇出距離;其中,任兩個相鄰所述扇出式探針中的兩個所述轉接點的間距大於兩個所述頂抵點的間距,並且所述第一導板單元與所述第二導板單元能彼此斜向錯位,以使多個所述扇出式探針的所述行程段朝相同方向彎曲;其中,多個所述扇出式探針的所述頂抵點排成兩列,並且每列所述頂抵點的排列方向平行於垂直所述長度方向與所述扇出方向的一直線方向;其中,分屬不同列且相鄰設置的兩個所述頂抵點之間的距離,其小於相對應兩個所述轉接點之間的距離;其中,多個所述扇出式探針的所述扇出距離包含不同的至少兩種數值。
- 如請求項1所述的具有扇出式探針的探針卡裝置,其中,所述探針卡裝置進一步包含有一電路板及連接於所述電路板的一間距轉換板(space transformer),並且多個所述扇出式探針的所述轉接點固定於所述間距轉換板。
- 如請求項1所述的具有扇出式探針的探針卡裝置,其中,所述探針卡裝置進一步包含有一電路板,並且多個所述扇出式探針的所述轉接點固定於所述電路板。
- 如請求項1所述的具有扇出式探針的探針卡裝置,其中,每個所述扇出式探針的所述扇出段包含有:一延伸部,自所述行程段的相對應所述末端部沿所述扇出方向延伸所形成;一轉接部,自所述延伸部沿所述長度方向延伸所形成,並且所述轉接部的末端為所述轉接點;及兩個側翼部,分別自所述延伸部的相反兩個末端沿所述扇出方向延伸所形成,並且兩個所述側翼部分別突伸出所述轉接部與相對應的所述末端部。
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TW109143413A TWI736486B (zh) | 2020-07-08 | 2020-07-08 | 具有扇出式探針的探針卡裝置 |
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TW109143413A TWI736486B (zh) | 2020-07-08 | 2020-07-08 | 具有扇出式探針的探針卡裝置 |
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TWI736486B true TWI736486B (zh) | 2021-08-11 |
TW202202853A TW202202853A (zh) | 2022-01-16 |
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Family Applications (1)
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TW109143413A TWI736486B (zh) | 2020-07-08 | 2020-07-08 | 具有扇出式探針的探針卡裝置 |
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TW (1) | TWI736486B (zh) |
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TW201250257A (en) * | 2011-04-12 | 2012-12-16 | Technoprobe Spa | Testing head for a test equipment of electronic devices |
TW201913104A (zh) * | 2017-08-25 | 2019-04-01 | 中華精測科技股份有限公司 | 垂直式探針卡之探針裝置 |
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2020
- 2020-07-08 TW TW109143413A patent/TWI736486B/zh active
Patent Citations (2)
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TW201913104A (zh) * | 2017-08-25 | 2019-04-01 | 中華精測科技股份有限公司 | 垂直式探針卡之探針裝置 |
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