TWI715178B - 顯示器及其降低雲紋的方法 - Google Patents

Abstract

一種應用於顯示器的降低雲紋方法，其中此顯示器包括至少一形成顯示區域的畫素陣列。在此方法中，首先，偵測顯示區域所顯示的雲紋圖像，其分布於畫素陣列的邊緣處。接著，將顯示區域劃分成多個正規區塊。根據這些正規區塊，產生正規查找表資料。將雲紋圖像在顯示區域上所分布的區域劃分成多個輔助區塊。各個正規區塊的尺寸大於各個輔助區塊的尺寸。根據這些輔助區塊，產生輔助查找表資料。之後，根據正規查找表資料與輔助查找表資料，產生多個灰階補償值。

Description

顯示器及其降低雲紋的方法

本發明是有關於一種顯示器及其降低雲紋方法，且特別是有關於一種以灰階補償的方式來降低雲紋的方法以及使用此方法的顯示器。

目前的顯示器大多為畫素型顯示器，其通常包括一個或多個畫素陣列（pixel array），其中畫素陣列包括多條掃描線（scan line）、多條資料線（data line）以及多個電晶體。當顯示器包括多個畫素陣列時，這些畫素陣列採用多組光罩拼接來形成，所以這些畫素陣列彼此相鄰，並形成能顯示影像的顯示區域。

礙於製程因素的影響，剛製造好的顯示器常常會出現雲紋圖像（mura picture），即顯示器的顯示區域出現灰階不均勻的影像，降低影像品質。因此，在製造好顯示器之後，會對顯示器進行檢測與調整，以降低雲紋圖像所造成的不良影響。不過，目前降低雲紋的手段對於分布在畫素陣列邊緣處的雲紋圖像效果有限。換句話說，現有的降低雲紋方法很難有效降低分布在顯示區域邊緣或相鄰兩個畫素陣列之間的雲紋圖像。

本發明提出一種降低雲紋的方法，其有助於降低分布在畫素陣列邊緣處的雲紋圖像。

本發明所提供的降低雲紋方法能應用於顯示器，其中顯示器包括至少一畫素陣列，而此畫素陣列形成顯示區域。在上述降低雲紋方法中，首先，偵測顯示區域所顯示的雲紋圖像，其中雲紋圖像分布於畫素陣列的邊緣處。接著，將顯示區域劃分成多個正規區塊（regular block），其中這些正規區塊涵蓋顯示區域。根據這些正規區塊，產生正規查找表資料。將雲紋圖像在顯示區域上所分布的區域劃分成多個輔助區塊（auxiliary block），其中各個正規區塊的尺寸大於各個輔助區塊的尺寸。根據這些輔助區塊，產生輔助查找表資料。之後，根據正規查找表資料與輔助查找表資料，產生多個灰階補償值。

在本發明至少一實施例中，上述雲紋圖像與這些輔助區塊分布於顯示區域的邊緣區域。

在本發明至少一實施例中，上述邊緣區域包括至少一角落區以及至少一邊長區。至少一角落區鄰接至少一邊長區，而這些輔助區塊包括多個邊長區塊與多個角落區塊，其中這些邊長區塊分布於至少一邊長區，而這些角落區塊分布於至少一角落區。各個角落區塊的尺寸小於各個邊長區塊的尺寸。

在本發明至少一實施例中，上述顯示器包括兩個彼此鄰接的畫素陣列。這些畫素陣列形成顯示區域，而雲紋圖像與這些輔助區塊分布於兩個畫素陣列之間的鄰接區。

在本發明至少一實施例中，上述鄰接區沿顯示器資料線的方向而延伸。各個正規區塊包括多個第一畫素，而各個輔助區塊包括多個第二畫素。同一個輔助區塊的這些第二畫素沿著資料線排列成1×N陣列，其中N為正整數。

在本發明至少一實施例中，上述鄰接區沿顯示器掃描線的方向而延伸，各個正規區塊包括多個第一畫素，而各個輔助區塊包括多個第二畫素。同一個輔助區塊的這些第二畫素沿著掃描線排列成M×1陣列，其中M為正整數。

在本發明至少一實施例中，上述顯示區域的邊緣區域與鄰接區重疊而形成重疊區，而雲紋圖像還分布於邊緣區域與重疊區。這些輔助區塊包括多個第一區塊與多個第二區塊。這些第一區塊分布於邊緣區域與鄰接區，但不分布於重疊區，而這些第二區塊分布於重疊區，其中各個第二區塊的尺寸小於各個第一區塊的尺寸。

在本發明至少一實施例中，上述顯示器包括四個呈2×2陣列排列的畫素陣列，而這些畫素陣列形成顯示區域。雲紋圖像分布於相鄰兩個畫素陣列之間的鄰接區以及位在四個畫素陣列之間的中間相連區域。這些輔助區塊包括多個第一區塊與多個精細區塊，其中這些第一區塊分布於鄰接區，但不分布於中間相連區域，而這些精細區塊分布於中間相連區域。各個精細區塊的尺寸小於各個第一區塊的尺寸，也小於第二區塊的尺寸。

在本發明至少一實施例中，各個精細區塊的尺寸等於一個畫素的尺寸。

在本發明至少一實施例中，各個正規區塊包括多個第一畫素，而各個第一區塊包括多個第二畫素。在沿著顯示器資料線而排列的這些第一區塊中，同一個第一區塊的這些第二畫素沿著資料線排列成1×N陣列，其中N為正整數。在沿著顯示器掃描線而排列的這些第一區塊中，同一個第一區塊的這些第二畫素沿著掃描線排列成M×1陣列，其中M為正整數。

在本發明至少一實施例中，上述正規查找表資料包括多個正規補償點，而這些正規補償點對應於這些正規區塊的四個端點。輔助查找表資料包括多個輔助補償點，而根據正規查找表資料與輔助查找表資料，產生這些灰階補償值的方法包括以下步驟。重新排列這些正規補償點與這些輔助補償點，以在其中相鄰兩個正規補償點之間設置至少一個輔助補償點。在重新排列這些正規補償點與這些輔助補償點之後，根據這些正規補償點與這些輔助補償點，進行內插補償運算。

在本發明至少一實施例中，降低雲紋方法還包括儲存正規查找表資料與輔助查找表資料於記憶裝置中。

在本發明至少一實施例中，上述記憶裝置包括揮發性記憶體與非揮發性記憶體。正規查找表資料與輔助查找表資料儲存於非揮發性記憶體。

在本發明至少一實施例中，產生這些灰階補償值的方法包括以下步驟。將正規查找表資料與輔助查找表資料從非揮發性記憶體載入至揮發性記憶體。接著，令時序控制器（Timing Controller，TCON）從揮發性記憶體讀取及處理正規查找表資料與輔助查找表資料，其中時序控制器執行重新排列這些正規補償點與這些輔助補償點以及進行內插補償運算。接著，令時序控制器將這些灰階補償值輸入至畫素陣列。

本發明所提供的顯示器包括至少一畫素陣列、記憶裝置與時序控制器。畫素陣列形成顯示區域，其中顯示區域劃分成多個正規區塊與多個輔助區塊。這些正規區塊涵蓋顯示區域，而這些輔助區塊分布於至少一畫素陣列的邊緣處。各個正規區塊的尺寸大於各個輔助區塊的尺寸。記憶裝置儲存正規查找表資料與輔助查找表資料，其中正規查找表資料包括多個正規補償點，而輔助查找表資料包括多個輔助補償點。這些正規補償點對應於這些正規區塊，而這些輔助補償點對應於這些輔助區塊。時序控制器電連接至少一畫素陣列與記憶裝置，並從記憶裝置讀取正規查找表資料與輔助查找表資料，其中時序控制器重新排列這些正規補償點與這些輔助補償點，以在其中相鄰兩個正規補償點之間設置至少一個輔助補償點。時序控制器在重新排列這些正規補償點與這些輔助補償點之後，根據這些正規補償點與這些輔助補償點，產生多個灰階補償值。

在本發明至少一實施例中，上述記憶裝置包括非揮發性記憶體與揮發性記憶體。非揮發性記憶體電連接時序控制器，並儲存正規查找表資料與輔助查找表資料。揮發性記憶體電連接時序控制器。在顯示器啟動之後，正規查找表資料與輔助查找表資料載入至揮發性記憶體，而時序控制器從揮發性記憶體讀取及處理正規查找表資料與輔助查找表資料，並將這些灰階補償值輸入至畫素陣列。

在本發明至少一實施例中，這些輔助區塊分布於顯示區域的邊緣區域。邊緣區域包括至少一角落區以及至少一邊長區。至少一角落區鄰接至少一邊長區，而這些輔助區塊包括多個邊長區塊與多個角落區塊，其中這些邊長區塊分布於至少一邊長區，而這些角落區塊分布於至少一角落區。各個角落區塊的尺寸小於各個邊長區塊的尺寸。

在本發明至少一實施例中，上述顯示器包括兩個彼此鄰接的畫素陣列。這些畫素陣列形成顯示區域，而這些輔助區塊分布於兩個畫素陣列之間的一鄰接區。

在本發明至少一實施例中，各個畫素陣列包括多條資料線。鄰接區沿其中一資料線的方向而延伸。各個正規區塊包括多個第一畫素，而各個輔助區塊包括多個第二畫素。同一個輔助區塊的這些第二畫素沿著資料線排列成1×N陣列，其中N為正整數。

在本發明至少一實施例中，各個畫素陣列包括多條掃描線。鄰接區沿其中一掃描線的方向而延伸。各個正規區塊包括多個第一畫素，而各個輔助區塊包括多個第二畫素。同一個輔助區塊的這些第二畫素沿著掃描線排列成M×1陣列，其中M為正整數。

在本發明至少一實施例中，上述顯示器包括四個呈2×2陣列排列的畫素陣列，而這些畫素陣列形成顯示區域。這些輔助區塊包括多個第一區塊與多個精細區塊，其中這些第一區塊分布於相鄰兩個畫素陣列之間的一鄰接區，但不分布於位在四個畫素陣列之間的一中間相連區域。這些精細區塊分布於中間相連區域，而各個精細區塊的尺寸小於各個第一區塊的尺寸。

在本發明至少一實施例中，各個畫素陣列包括多條掃描線與多條資料線，其中各個正規區塊包括多個第一畫素，而各個第一區塊包括多個第二畫素。各個精細區塊的尺寸等於一個第二畫素的尺寸。在沿著其中一資料線而排列的這些第一區塊中，同一個第一區塊的這些第二畫素排列沿著資料線排列成1×N陣列，其中N為正整數。在沿著其中一掃描線而排列的這些第一區塊中，同一個第一區塊的這些第二畫素排列沿著掃描線排列成M×1陣列，其中M為正整數。

基於上述，由於各個正規區塊的尺寸大於各個輔助區塊的尺寸，因此根據這些尺寸小的輔助區塊所產生的輔助查找表資料，減少內插補償運算的誤差，提升灰階補償值的準確度，以有效降低或消除分布在畫素陣列邊緣處的雲紋圖像。

為讓本發明的特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。

在以下的內文中，相同的元件會以相同的元件符號來表示。其次，為了清楚呈現本案的技術特徵，圖式中的元件（例如層、膜、基板以及區域等）的尺寸（例如長度、寬度、厚度與深度）會以不等比值的方式放大。因此，下文實施例的說明與解釋不受限於圖式中的元件所呈現的尺寸與形狀，而應涵蓋如實際製程及/或公差所導致的尺寸、形狀以及兩者的偏差。例如，圖式所示的平坦表面可以具有粗糙及/或非線性的特徵，而圖式所示的銳角可以是圓的。所以，本案圖式所呈示的元件主要是用於示意，並非旨在精準地描繪出元件的實際形狀，也非用於限制本案的申請專利範圍。

其次，本案內容中所出現的「約」、「近似」或「實質上」等這類用字不僅涵蓋明確記載的數值與數值範圍，而且也涵蓋發明所屬技術領域中具有通常知識者所能理解的可允許偏差範圍，其中此偏差範圍可由測量時所產生的誤差來決定，而此誤差例如是起因於測量系統或製程條件兩者的限制。此外，「約」可表示在上述數值的一個或多個標準偏差內，例如±30％、±20％、±10％或±5％內。本案文中所出現的「約」、「近似」或「實質上」等這類用字可依光學性質、蝕刻性質、機械性質或其他性質來選擇可以接受的偏差範圍或標準偏差，並非單以一個標準偏差來套用以上光學性質、蝕刻性質、機械性質以及其他性質等所有性質。

本發明的降低雲紋方法可以應用於顯示器，且特別是應用於畫素型顯示器，其中本發明的降低雲紋方法適合用來處理分布在畫素陣列邊緣處的雲紋圖像，從而有助於降低或消除這類雲紋圖像。詳細而言，上述降低雲紋方法能有效地降低或消除分布在相鄰兩個畫素陣列之間的鄰接區以及顯示區域邊緣區域至少一處的雲紋圖像，以維持或提升影像品質，進而幫助顯示器提供品質佳的影像供使用者觀賞。

圖1是本發明至少一實施例的降低雲紋方法的流程示意圖，而圖2A是本發明至少一實施例的顯示器的俯視示意圖。請參閱圖1與圖2A，本實施例的降低雲紋方法可應用於顯示器200，其可以是畫素型顯示器，例如液晶顯示器（Liquid Crystal Display，LCD）或有機發光二極體顯示器（Organic Light Emitting Display，OLED Display）。顯示器200包括至少一個畫素陣列210，而圖2A所示的實施例是以僅包括一個畫素陣列210的顯示器200作為舉例說明，其中畫素陣列210能形成顯示器200的顯示區域201。

畫素陣列210包括多條並列的掃描線211、多條並列的資料線212以及多個電晶體（未繪示），其中這些掃描線211與這些資料線212電連接這些電晶體，而上述電晶體可以是薄膜電晶體。在圖2A所示的實施例中，這些掃描線211皆沿著水平方向而延伸，而這些資料線212皆沿著垂直方向而延伸，其中這些掃描線211與這些資料線212彼此交錯。此外，顯示器200也可包括多個畫素陣列210，所以圖2A所示的顯示器200僅供舉例說明，不限定畫素陣列210的數量。

在圖1所示的降低雲紋方法中，首先，執行步驟S100，檢測顯示器200的顯示區域201，確認顯示區域201是否出現雲紋圖像。執行步驟S100所採用的檢測儀器（未繪示）包括影像擷取裝置，其例如是照相機或攝影機。在執行步驟S100的過程中，顯示器200的顯示區域201會先顯示用來檢測雲紋圖像的影像，其可以是灰階影像。之後，影像擷取裝置拍攝顯示區域201，以擷取顯示區域201影像。

當顯示區域201出現分布於畫素陣列210邊緣處的雲紋圖像20時，顯示器200利用影像處理技術，從影像擷取裝置所擷取的顯示區域201影像中偵測出顯示區域201所顯示的雲紋圖像20，以得知雲紋圖像20在顯示區域201上的分布位置，其中圖式中的雲紋圖像20是以點填滿的區域來表示。由於圖2A所示的顯示器200僅包括一個畫素陣列210，所以畫素陣列210邊緣處也等於顯示區域201的邊緣區域（圖2A未標示）。因此，雲紋圖像20分布在顯示區域201的邊緣區域，即雲紋圖像20位於顯示區域201的邊緣，如圖2A所示。

請參閱圖1與圖2B，接著，執行步驟S101，將顯示區域201劃分成多個正規區塊201r，其中這些正規區塊201r呈陣列排列，並且涵蓋整個顯示區域201，如圖2B所示。所以，一些正規區塊201r也會出現在雲紋圖像20所分布的區域。此外，在圖2B所示的實施例中，這些正規區塊201r的尺寸與形狀都彼此相同，且各個正規區塊201r的形狀可為正方形。

之後，執行步驟S102，根據這些正規區塊201r，產生正規查找表資料。正規查找表資料具有多筆正規灰階補償值，而這些正規灰階補償值可由步驟S100中的檢測儀器所量測與計算而得到。產生正規查找表資料的方法有多種。例如，上述檢測儀器可以比較顯示區域201的灰階值與檢測儀器所輸入的目標灰階值，以決定顯示區域201所需要補償的灰階值（即正規灰階補償值），從而產生正規查找表資料。當顯示區域201比輸入的目標灰階值偏亮時，補償值為負數，以降低灰階值。反之，顯示區域201比輸入的目標灰階值偏暗時，補償值為正數，以提高灰階值。

在實際的情況中，顯示區域201有時不僅會出現雲紋圖像20，而且還會出現其他分布在畫素陣列210邊緣處以外的雲紋圖像（未繪示），其中這些正規區塊201r所產生的正規查找表資料可降低雲紋圖像20以外的雲紋圖像。然而，正規查找表資料在降低雲紋圖像20方面效果有限。詳細而言，分布於顯示區域201邊緣的雲紋圖像20包括四條圍成框形的條狀圖像（未標示），其中兩條條狀圖像沿掃描線211的方向（水平方向）而延伸，而其他兩條條狀圖像沿資料線212的方向（垂直方向）而延伸。正規查找表資料很難有效降低一些狹長形狀的雲紋圖像（例如上述條狀圖像），以至在降低雲紋圖像20方面沒有顯著的效果。

請參閱圖1與圖2C，接著，執行步驟S103，將雲紋圖像20在顯示區域201上所分布的區域劃分成多個輔助區塊，所以顯示區域201被劃分成多個正規區塊201r以及多個輔助區塊。這些輔助區塊會形成在雲紋圖像20在顯示區域201上所佔據的區域以及其鄰近的區域。在本實施例中，這些輔助區塊僅分布於顯示區域201的邊緣區域202，但不分布於邊緣區域202以外的區域。

邊緣區域202包括至少一個角落區202c及至少一個邊長區202s，其中至少一個角落區202c鄰接至少一個邊長區202s。為了讓角落區202c與邊長區202s可以清楚地呈現，圖2C是以粗線來描繪角落區202c與邊長區202s的輪廓。在圖2C所示的實施例中，邊緣區域202包括四個角落區202c與四個邊長區202s，其中一個角落區202c與一個邊長區202s鄰接，以使這些角落區202c與這些邊長區202s圍繞成矩形。此外，其中兩個邊長區202s是沿著垂直方向而延伸，而其他兩個邊長區202s是沿著水平方向而延伸。所以，在圖2C的邊緣區域202中，兩個邊長區202s是呈垂直走向，而其他兩個邊長區202s是呈水平走向。

這些輔助區塊包括多個邊長區塊S21、S22與多個角落區塊C2。也就是說，單一塊輔助區塊為邊長區塊S21、S22或角落區塊C2。這些邊長區塊S21與S22分布於這些邊長區202s，而這些角落區塊C2分布於這些角落區202c。從圖2C來看，各個角落區塊C2的尺寸以及各個邊長區塊S21與S22的尺寸皆小於各個正規區塊201r的尺寸，所以各個正規區塊201r的尺寸大於各個輔助區塊的尺寸。此外，各個角落區塊C2的尺寸小於各個邊長區塊S21或S22的尺寸，因此角落區塊C2為這些輔助區塊中的最小區塊，且這些輔助區塊的尺寸也不盡相同。

邊長區塊S21與S22兩者的延伸方向不同，其中邊長區塊S21是沿著掃描線211的方向（水平方向）而延伸，而邊長區塊S22是沿著資料線212的方向（垂直方向）而延伸（其中掃描線211與資料線212皆繪示於圖2A）。另外，從圖2C來看，各個邊長區塊S21是沿著水平走向的邊長區202s而延伸，而各個邊長區塊S22是沿著垂直走向的邊長區202s而延伸，所以邊長區塊S21與S22大致上是沿著雲紋圖像20而延伸。

之後，執行步驟S104，根據這些輔助區塊，產生輔助查找表資料。輔助查找表資料具有多筆輔助灰階補償值，且與正規查找表資料一樣，這些輔助灰階補償值可由步驟S100中的檢測儀器所量測與計算而得到。產生輔助查找表資料的方法有多種。例如，相似於正規灰階補償值的產生方法，上述檢測儀器比較顯示區域201的邊長區202s與角落區202c兩者灰階值與輸入的目標灰階值之間的差值，以決定邊長區202s與角落區202c兩者所需要補償的灰階值（即輔助灰階補償值），從而產生輔助查找表資料。

圖2D是圖2C中虛框2D（在左上角處）的局部放大示意圖。請參閱圖1與圖2D，正規查找表資料包括多個正規補償點P21，而輔助查找表資料包括多個輔助補償點P22。在圖2D以及後續圖式中，正規補償點P21是以黑點表示，而輔助補償點P22是以白點表示。各個正規補償點P21代表一個正規查找表，並具有多筆正規灰階補償值，而各個輔助補償點P22代表一個輔助查找表，並具有多筆輔助灰階補償值。由於正規灰階補償值與輔助灰階補償值皆可由步驟S100中的檢測儀器所量測與計算而得到，因此正規補償點P21與輔助補償點P22也是由上述檢測儀器所量測與計算而得到。

正規補償點P21與輔助補償點P22之間的差異在於：正規補償點P21與輔助補償點P22分別對應不同尺寸的區塊。這些正規補償點P21對應於這些大尺寸的正規區塊201r，而這些輔助補償點P22對應於這些小尺寸的輔助區塊（即這些邊長區塊S21、S22以及這些角落區塊C2）。以圖2D為例，這些正規補償點P21對應於這些正規區塊201r的四個端點（也等於四個角落）。換句話說，四個正規補償點P21分別位於一個正規區塊201r的四個端點，而所有正規補償點P21排列出這些正規區塊201r。各個輔助補償點P22對應於其中一個輔助區塊的一個端點。也就是說，各個輔助補償點P22位於單一個邊長區塊S21、S22或角落區塊C2的一個端點，而所有輔助補償點P22與一些正規補償點P21排列出這些邊長區塊S21、S22以及這些角落區塊C2。

從圖2D來看，這些輔助補償點P22是插設在這些正規補償點P21之間，其中一些輔助補償點P22的每一個位於相鄰兩個正規補償點P21之間（例如邊長區塊S21與S22），而其他輔助補償點P22的每一個則位於相鄰四個正規補償點P21之間（例如角落區塊C2）。各個正規區塊201r是由四個彼此相鄰的正規補償點P21所形成，而各個輔助區塊（即邊長區塊S21、S22或角落區塊C2）是由彼此相鄰的正規補償點P21與輔助補償點P22所形成。以圖2D為例，邊長區塊S21或S22是由彼此相鄰的兩正規補償點P21與個輔助補償點P22所形成，而角落區塊C2則是由一個正規補償點P21與三個輔助補償點P22所形成。

圖2E是圖2D中的局部放大示意圖，其中圖2E繪示出彼此相連的四個區塊：正規區塊201r、邊長區塊S21、S22以及角落區塊C2。請參閱圖2D與圖2E，各個正規區塊201r包括多個第一畫素202a，而各個輔助區塊（即邊長區塊S21、S22與角落區塊C2每一者）包括多個第二畫素202b，其中第一畫素202a與第二畫素202b兩者的尺寸與結構基本上都相同，惟差異僅在於兩者所歸屬的區塊（正規區塊201r與輔助區塊）不同。

各個正規區塊201r中的這些第一畫素202a可排列成A×A陣列，而各個輔助區塊中的這些第二畫素202b可排列成P×Q陣列，其中A、P與Q皆為正整數。以圖2E為例，各個正規區塊201r包括64個第一畫素202a，而這64個第一畫素202a排列成8×8陣列。各個邊長區塊S21或S22包括32個第二畫素202b，其中各個邊長區塊S21中的32個第二畫素202b排列成8×4陣列，而各個邊長區塊S22中的32個第二畫素202b排列成4×8陣列。所以，邊長區塊S21與S22兩者尺寸實質上相同，但邊長區塊S21與S22兩者的延伸方向不同。邊長區塊S21是沿著掃描線211的方向（水平方向）而延伸，而邊長區塊S22是沿著資料線212的方向（垂直方向）而延伸。此外，單一個正規區塊201r與單一個邊長區塊S22個別對應8條掃描線211，而單一個角落區塊C2與單一個邊長區塊S21個別對應4條掃描線211。

雖然在圖2E所示的實施例中，正規區塊201r中的第一畫素202a排列成8×8陣列，邊長區塊S21中的第二畫素202b排列成8×4陣列，而邊長區塊S22中的第二畫素202b排列成4×8陣列，但在其他實施例中，正規區塊201r中的第一畫素202a以及輔助區塊中的第二畫素202b也可排列成其他型態的陣列，例如正規區塊201r中的第一畫素202a排列成6×6陣列，邊長區塊S21中的第二畫素202b排列成6×2陣列，而邊長區塊S22中的第二畫素202b排列成2×6陣列。所以，圖2E所示的正規區塊201r與輔助區塊並非限定第一畫素202a與第二畫素202b的排列方式。

請參閱圖1、圖2D與圖2E，接著，執行步驟S105，根據正規查找表資料與輔助查找表資料，產生多個灰階補償值。雖然正規查找表資料與輔助查找表資料所包括的這些正規補償點P21與這些輔助補償點P22能補償灰階值，但是正規補償點P21與輔助補償點P22只有補償正規區塊201r與輔助區塊（即邊長區塊S21、S22以及角落區塊C2）每一者四個端點的灰階值，沒有補償到端點以外其他區域的灰階值。

對此，在步驟S105中，將根據這些正規補償點P21與這些輔助補償點P22，進行內插補償運算，以得到正規區塊201r與輔助區塊兩者端點以外的其他區域的灰階補償值。如此，利用上述灰階補償值，各個正規區塊201r內的所有第一畫素202a以及各個邊長區塊S21、各個邊長區塊S22與各個角落區塊C2內的所有第二畫素202b得以補償到對應的灰階值，從而有效降低或消除雲紋圖像，特別是降低或消除雲紋圖像20。

圖2F是本發明至少一實施例的顯示器的方塊示意圖。請參閱圖1與圖2F，顯示器200還包括記憶裝置220以及時序控制器230，其中時序控制器230電連接畫素陣列210以及記憶裝置220。在產生正規查找表資料（步驟S102）以及輔助查找表資料（步驟S104）後，可以儲存正規查找表資料與輔助查找表資料於記憶裝置220中。

時序控制器230可以包括傳輸介面231，其可以是積體電路匯流排至串行外設介面（I²C to SPI，其中I²C的全名是Inter-Integrated Circuit，而SPI的全名是Serial Peripheral Interface）或非同步串列通訊埠 （例如RS-232）。在執行步驟S100以前，用來量測及計算以得到正規與輔助灰階補償值的檢測儀器21先電連接傳輸介面231。在檢測儀器21產生正規查找表資料與輔助查找表資料之後，檢測儀器21先輸入正規查找表資料與輔助查找表資料至傳輸介面231。接著，傳輸介面231將正規查找表資料與輔助查找表資料傳送至記憶裝置220，從而將正規查找表資料與輔助查找表資料儲存於記憶裝置220，其中正規查找表資料與輔助查找表資料可用燒錄方式儲存於記憶裝置220中。

在本實施例中，記憶裝置220可包括非揮發性記憶體（Non-Volatile Memory，NVM）221與揮發性記憶體（Volatile Ｍemory，VM）222。非揮發性記憶體221例如是快閃記憶體（flash）或唯讀記憶體（Read-Only Memory，ROM），而揮發性記憶體22例如是隨機存取記憶體（Random Access Memory，RAM），其中上述隨機存取記憶體（RAM）可以是同步動態隨機存取記憶體（Synchronous Dynamic Random-Access Memory，SDRAM）。非揮發性記憶體221會儲存正規查找表資料與輔助查找表資料，其中正規查找表資料與輔助查找表資料分別儲存於非揮發性記憶體221的兩個不同位址221r與221a。

圖2G是圖1中執行步驟S105的流程示意圖。請參閱圖2F與圖2G，根據正規查找表資料與輔助查找表資料，產生這些灰階補償值的方法包括以下步驟。首先，執行步驟S150，將正規查找表資料與輔助查找表資料從非揮發性記憶體221載入至揮發性記憶體222。時序控制器230讀取揮發性記憶體222內的資料的速度通常快過於時序控制器230讀取非揮發性記憶體221內的資料的速度。因此，讓正規查找表資料與輔助查找表資料先載入至揮發性記憶體222可縮短時序控制器230讀取及處理正規查找表資料與輔助查找表資料的時間。不過，目前已有資料讀取速度快速的非揮發性記憶體221，例如具快速讀取能力的快閃記憶體，因此在其他實施例的顯示器200中，特別是在小尺寸的顯示器200中，記憶裝置220也可僅包括非揮發性記憶體221，不包括揮發性記憶體222。

接著，執行步驟S151，令時序控制器230從揮發性記憶體222讀取及處理正規查找表資料與輔助查找表資料，其中時序控制器230會執行重新排列這些正規補償點P21與這些輔助補償點P22（請參閱圖2D）以及進行上述內插補償運算，以產生這些灰階補償值。由於正規查找表資料儲存於非揮發性記憶體221的位址221r，輔助查找表資料儲存於非揮發性記憶體221的位址221a，其中位址221r與221a彼此不同，因此時序控制器230須重新排列這些正規補償點P21與這些輔助補償點P22，以在其中相鄰兩個正規補償點P21之間設置至少一個輔助補償點P22，如同圖2D所示的正規補償點P21與輔助補償點P22。之後，將重新排列好的這些正規補償點P21與這些輔助補償點P22儲存於揮發性記憶體222。

時序控制器230可以還包括處理單元232，其例如是去雲紋補償處理器（De-Mura Compensation，DMC），其中處理單元232用來執行上述正規補償點P21與輔助補償點P22的重新排列以及進行上述內插補償運算。處理單元232可具有介面232i，其例如是動態隨機存取記憶體（Dynamic Random Access Memory，DRAM）介面。介面232i電連接非揮發性記憶體221與揮發性記憶體222，以使處理單元232能經由介面232i而從非揮發性記憶體221讀取正規查找表資料與輔助查找表資料，以及傳輸正規查找表資料與輔助查找表資料至揮發性記憶體222。在重新排列正規補償點P21與輔助補償點P22之後，時序控制器230會根據正規補償點P21與輔助補償點P22，進行內插補償運算，從而產生這些灰階補償值。

值得一提的是，上述重新排列正規補償點P21與輔助補償點P22的步驟是建立在記憶裝置220已儲存輔助查找表資料的條件下。倘若記憶裝置220沒有開啟輔助查找表功能之相關設定以及儲存輔助查找表資料，則時序控制器230會僅根據這些正規補償點P21來進行內插補償運算，不重新排列這些正規補償點P21與這些輔助補償點P22。換句話說， 當輔助查找表之相關設定關閉時，則顯示器200不需要輔助查找表資料，也不會執行上述重新排列的步驟。

另外，在其他實施例中，在記憶裝置220已經儲存正規查找表資料與輔助查找表資料的條件下，時序控制器230也可以根據使用者的設定來決定是否要讀取輔助查找表資料。當時序控制器230決定不讀取輔助查找表資料時，時序控制器230僅根據這些正規補償點P21來進行內插補償運算，不重新排列這些正規補償點P21與這些輔助補償點P22。

在產生這些灰階補償值後，執行步驟S152，令時序控制器230將這些灰階補償值輸入至畫素陣列210，其中時序控制器230的處理單元232可執行將灰階補償輸入至畫素陣列210的工作。如此，這些第一畫素202a與這些第二畫素202b（請參閱圖2E）能接收到對應的灰階補償值，以降低或消除雲紋圖像，特別是降低或消除如圖2A所示的雲紋圖像20，提升顯示器200的影像品質。

請再次參閱圖2C與圖2D，雲紋圖像20在其延伸方向上的灰階值較為一致，但在延伸方向的垂直方向上的灰階值差異較大。詳細而言，在雲紋圖像20中，水平走向的條狀圖像在水平方向上的灰階值較為一致，但在垂直方向上的灰階值卻存有較大的差異，導致出現明顯的亮暗分界。同理，垂直走向的條狀圖像在垂直方向上的灰階值較為一致，但在水平方向上的灰階值卻存有較大的差異而出現明顯的亮暗分界。

各個輔助區塊大致上是沿著雲紋圖像20而延伸。例如，各個邊長區塊S21沿著水平走向的條狀圖像而延伸，而各個邊長區塊S22沿著垂直走向的條狀圖像而延伸，以使在垂直於雲紋圖像20的延伸方向上，輔助補償點P22的數量增加，而相鄰兩個補償點（例如輔助補償點P22與正規補償點P21）之間的間距縮小。如此，可減少內插補償運算的誤差，以有效降低或消除雲紋圖像20。此外，在本實施例中，角落區塊C2為最小尺寸的區塊，所以這些輔助補償點P22會密集分布於角落區202c中，以提高輔助補償點P22在角落區202c內的分布密度。因此，根據這些角落區塊C2所得到的內插補償運算結果具有很少的誤差，提升對應角落區202c的灰階補償值的準確度，進而有效降低或消除雲紋圖像20。

圖3A是本發明另一實施例的顯示器的俯視示意圖。請參閱圖3A，圖3A中的顯示器300與前述顯示器200相似，且顯示器300也包括如圖2F所示的記憶裝置220與時序控制器230。顯示器200與300之間的差異在於：顯示器300包括兩個彼此鄰接的畫素陣列210。這兩個畫素陣列210形成一個顯示區域301，其中圖3A所示的這兩個畫素陣列210可以採用兩組光罩拼接來形成。

這兩個彼此相鄰的畫素陣列210有時會造成顯示區域301出現條紋狀的雲紋圖像32，其中圖式中的雲紋圖像32是以點填滿的區域來表示。雲紋圖像32分布於畫素陣列210的邊緣處，且更分布於兩個畫素陣列210之間的鄰接區（圖3A未標示）。鄰接區（即圖3A中的雲紋圖像32所分佈的區域）是沿著顯示器300資料線212的方向（垂直方向）而延伸，所以雲紋圖像32為垂直走向的條紋。

圖3B是圖3A中被劃分成多個正規區塊與多個輔助區塊的顯示區域的俯視示意圖。請參閱圖1與圖3B，當顯示區域301出現雲紋圖像32時，雖然顯示器200與300兩者所出現的雲紋圖像20與32彼此不同，但降低或消除雲紋圖像20與32的方法卻相似，即顯示器300也可以執行如同圖1所揭露的步驟S100至S105（包括圖2G所揭露的步驟S105）來降低或消除雲紋圖像32。不過，有別於先前顯示器200的降低雲紋方法，當顯示器300執行圖1中的步驟S103時，劃分於顯示區域301的多個輔助區塊A32不同於前述實施例中的多個輔助區塊（即邊長區塊S21、S22以及角落區塊C2）。

在顯示器300執行步驟S101與S103之後，顯示器300的顯示區域301被劃分成多個正規區塊201r與多個輔助區塊A32。雲紋圖像32在顯示區域301上所分布的區域劃分成這些輔助區塊A32，所以這些輔助區塊A32會形成在雲紋圖像32在顯示區域301上所佔據的區域以及其鄰近的區域。由於雲紋圖像32分布於兩個畫素陣列210之間的鄰接區，所以這些輔助區塊A32也分布於上述鄰接區。

各個輔助區塊A32的尺寸小於各個正規區塊201r的尺寸，且輔助區塊A32與正規區塊201r兩者形狀可以不相同，其中輔助區塊A32可以是矩形，但不是正方形。另外，各個輔助區塊A32具有相當小的尺寸，且顯示區域301被劃分出為數眾多的輔助區塊A32，以至於圖3B無法清楚繪示輔助區塊A32的真正尺寸。因此，圖3B揭露輔助區塊A32在顯示區域301上的分布位置、排列方式與形狀，但沒有呈現這些輔助區塊A32的真正數量與各個輔助區塊A32的真正尺寸。輔助區塊A32的真正尺寸繪示於後續的圖3C與圖3D。此外，圖3B沒有畫出雲紋圖像32內的這些輔助區塊A32，以避免圖式混淆而難以清楚呈現雲紋圖像32。

圖3C是圖3B中虛框3C（在中間上方處）的局部放大示意圖。請參閱圖3B與圖3C，在顯示器300產生正規查找表資料（步驟S102）與輔助查找表資料（步驟S104）之後，正規查找表資料的這些正規補償點P21對應於這些正規區塊201r的四個端點，而這些輔助補償點P22對應於這些輔助區塊A32，其中各個輔助補償點P22對應於其中一個輔助區塊A32的一個端點。以圖3C為例，有的輔助區塊A32的四個端點分別對應四個輔助補償點P22，而有的輔助區塊A32的四個端點對應兩個輔助補償點P22與兩個正規補償點P21。換句話說，有的輔助區塊A32是由兩個輔助補償點P22與兩個正規補償點P21所形成，而有的輔助區塊A32是由四個輔助補償點P22所形成。

圖3D是圖3C中的局部放大示意圖，其中圖3D所繪示的區域是由四個彼此相鄰的正規補償點P21以及多個輔助補償點P22所圍繞而成。請參閱圖3C與圖3D，各個輔助區塊A32包括多個第二畫素202b，而同一個輔助區塊A32的這些第二畫素202b是沿著資料線212（即沿著垂直方向，其中資料線212繪示於圖3A）排列成1×N陣列，其中N為正整數。以圖3D為例，各個輔助區塊A32包括8個第二畫素202b，而同一個輔助區塊A32的8個第二畫素202b是沿著垂直方向排列成1×8陣列。由於各個正規區塊201r包括64個第一畫素202a，因此各個正規區塊201r的尺寸顯然大於各個輔助區塊A32的尺寸。

由於雲紋圖像32為垂直走向的條紋，所以雲紋圖像32在垂直方向上（沿資料線212的方向）的灰階值較為一致，但在水平方向上（沿掃描線211的方向）的灰階值卻存有較大的差異，導致出現明顯的亮暗分界。因此，單靠正規查找表資料來降低雲紋圖像20的效果有限。然而，在圖3C與圖3D所示的實施例中，各個輔助區塊A32沿著雲紋圖像32而延伸，即沿著資料線212的方向（垂直方向）而延伸，且各個輔助區塊A32的形狀為垂直走向的矩形。因此，沿著掃描線211的方向（水平方向）排列的輔助補償點P22的數量得以增加，而在水平方向上的相鄰兩個輔助補償點P22之間的間距也會縮小，以減少內插補償運算在水平方向上的誤差，有效降低或消除雲紋圖像32。

圖4A是本發明另一實施例的顯示器的俯視示意圖。請參閱圖4A，圖4A中的顯示器400與圖3A中的顯示器300相似。例如，顯示器400包括如圖2F所示的記憶裝置220與時序控制器230以及兩個彼此鄰接的畫素陣列210。這兩個畫素陣列210形成一個顯示區域401，其中這兩個畫素陣列210也可採用兩組光罩拼接來形成。其次，與顯示器300一樣，兩個彼此相鄰的畫素陣列210有時也會造成顯示區域401出現條紋狀的雲紋圖像41。圖式中的雲紋圖像41是以點填滿的區域來表示，並分布於這兩個畫素陣列210之間的鄰接區（圖4A未標示鄰接區）。

顯示器300與400兩者之間的差異在於：圖3A中的顯示器300的兩個畫素陣列210是左右拼接，但圖4A中的顯示器400的兩個畫素陣列210是上下拼接。因此，圖4A實施例中的鄰接區（即圖4A中的雲紋圖像41所分佈的區域）是沿著顯示器400掃描線211的方向（水平方向）而延伸，所以雲紋圖像41為水平走向的條紋。

圖4B是圖4A中被劃分成多個正規區塊與多個輔助區塊的顯示區域的俯視示意圖。請參閱圖1與圖4B，顯示器400也可執行如同圖1所揭露的降低雲紋方法（包括圖2G所揭露的步驟S105）來有效降低或消除雲紋圖像41。所以，顯示器300與400兩者的降低雲紋方法相似。例如，顯示器400也可執行如圖1中的步驟S101與S103，將顯示區域401劃分成多個正規區塊201r，以及將雲紋圖像41在顯示區域401上所分布的區域劃分成多個輔助區塊A41。所以，顯示區域401被劃分成多個正規區塊201r與多個輔助區塊A41，其中各個輔助區塊A41的尺寸小於各個正規區塊201r的尺寸。

相同於圖3B的情況，各個輔助區塊A41也具有相當小的尺寸，而且顯示區域401被劃分出為數眾多的輔助區塊A41，以至於圖4B無法清楚繪示輔助區塊A41的真正尺寸。因此，圖4B揭露輔助區塊A41在顯示區域401上的分布位置、排列方式與形狀，但沒有呈現這些輔助區塊A41的真正數量與各個輔助區塊A41的真正尺寸。輔助區塊A41的真正尺寸繪示於後續的圖4C與圖4D。此外，為了避免圖式混淆而難以清楚呈現雲紋圖像32，圖4B也未畫出雲紋圖像41內的輔助區塊A32。

圖4C是圖4B中虛框4C（在左邊）的局部放大示意圖。請參閱圖4B與圖4C，有別於前述顯示器300的降低雲紋方法，當顯示器400執行圖1中的步驟S103時，由於雲紋圖像41為水平走向的條紋，所以輔助區塊A41不同於前述輔助區塊A32，其中各個輔助區塊A41沿著雲紋圖像41而延伸，並沿著掃描線211的方向（水平方向）而延伸。所以，輔助區塊A41的形狀為水平走向的矩形，不同於輔助區塊A32的形狀。

另外，在顯示器400產生正規查找表資料（步驟S102）與輔助查找表資料（步驟S104）之後，正規查找表資料的這些正規補償點P21對應於這些正規區塊201r的四個端點，而這些輔助補償點P22對應於這些輔助區塊A41，其中各個輔助補償點P22對應於其中一個輔助區塊A41的一個端點。以圖4C為例，有的輔助區塊A41的四個端點對應四個輔助補償點P22，有的輔助區塊A41的四個端點對應兩個輔助補償點P22與兩個正規補償點P21。換句話說，有的輔助區塊A41是由四個輔助補償點P22所形成，而有的輔助區塊A41是由兩個輔助補償點P22與兩個正規補償點P21所形成。

圖4D是圖4C中的局部放大示意圖，其中圖4D所繪示的區域是由四個彼此相鄰的正規補償點P21以及多個輔助補償點P22所圍繞而成。請參閱圖4C與圖4D，各個輔助區塊A41包括多個第二畫素202b，而同一個輔助區塊A41的這些第二畫素202b是沿著掃描線211（即沿著水平方向）排列成M×1陣列，其中M為正整數。以圖4D為例，各個輔助區塊A41包括8個第二畫素202b，而同一個輔助區塊A41的8個第二畫素202b是沿著水平方向排列成8×1陣列。

由於雲紋圖像41為垂直走向的條紋，所以雲紋圖像41在水平方向上（沿掃描線211的方向）的灰階值較為一致，但在垂直方向上（沿資料線212的方向）的灰階值卻存有較大的差異，導致出現明顯的亮暗分界。然而，因各個輔助區塊A41沿著雲紋圖像41與掃描線211的方向（水平方向）而延伸，所以沿著資料線212的方向（垂直方向）排列的輔助補償點P22的數量得以增加，且在垂直方向上的相鄰兩個輔助補償點P22之間的間距也會縮小，以減少內插補償運算在垂直方向上的誤差，從而有效降低或消除雲紋圖像41。

圖5A是本發明另一實施例的顯示器的俯視示意圖。請參閱圖5A，圖5A中的顯示器500相似於前述實施例中的顯示器200、300與400，而且也可包括如圖2F所示的記憶裝置220以及時序控制器230。顯示器500還包括四個呈2×2陣列排列的畫素陣列210，而這四個畫素陣列210會形成一個顯示區域501，其中這四個畫素陣列210也可採用至少兩組光罩拼接來形成。例如，顯示器500的這些畫素陣列210可採用兩組或四組光罩拼接來形成。

與前述實施例的顯示器300及400一樣，在顯示器500中，這四個畫素陣列210有時會造成顯示區域501出現雲紋圖像50，其中雲紋圖像50分布於相鄰兩個畫素陣列210之間的鄰接區（未標示）以及位在四個畫素陣列210之間的中間相連區域M5。此外，雲紋圖像50還可能分布於顯示區域501的邊緣區域（未標示）。具體而言，雲紋圖像50可包括水平條紋51、垂直條紋52以及邊緣條紋53，其中水平條紋51與垂直條紋52彼此交錯。邊緣條紋53分布於顯示區域501的邊緣區域，並且位於顯示區域501的邊緣。此外，在其他實施例中，雲紋圖像50可以是水平條紋51、垂直條紋52以及邊緣條紋53的組合。例如，雲紋圖像50可包括水平條紋51與垂直條紋52，但不包括邊緣條紋53。或者，雲紋圖像50包括水平條紋51與垂直條紋52其中一者以及邊緣條紋53。

基本上，水平條紋51與圖4A中的雲紋圖像41相同，而垂直條紋52與圖3A中的雲紋圖像32相同。邊緣條紋53基本上相同於圖2A中的雲紋圖像20。例如，邊緣條紋53的形狀大致上為框形，且邊緣條紋53包括四條狹長的條狀圖像（未標示），其中兩條條狀圖像沿掃描線211的方向（水平方向）而延伸，而其他兩條條狀圖像沿資料線212的方向（垂直方向）而延伸。由此可見，雲紋圖像50實質上為前述實施例中的雲紋圖像20、32與41的組合。另外，邊緣區域（即邊緣條紋53所分佈的區域）與鄰接區（即水平條紋51與垂直條紋52兩者所分佈的區域）重疊而形成多個重疊區I51與I52，而雲紋圖像50也分布於這些重疊區I51與I52，其中部分水平條紋51位於重疊區I51，而部分垂直條紋52位於重疊區I52。

圖5B是圖5A中被劃分成多個正規區塊與多個輔助區塊的顯示區域的俯視示意圖。請參閱圖1與圖5B，顯示器500也可執行如同圖1所揭露的降低雲紋方法（包括圖2G所揭露的步驟S105）來有效降低或消除雲紋圖像50。例如，顯示器500也可以執行圖1中的步驟S101與S103，將顯示區域501劃分成多個正規區塊201r，以及將雲紋圖像50在顯示區域501上所分布的區域劃分成多個輔助區塊。所以，顯示區域501會被劃分成多個正規區塊201r與多個輔助區塊，其中各個輔助區塊的尺寸小於各個正規區塊201r的尺寸。

這些輔助區塊包括多個第一區塊、多個第二區塊B51、B52以及多個精細區塊F5。這些第一區塊分布於上述邊緣區域與鄰接區，但不分布於重疊區I51、I52與中間相連區域M5。由於雲紋圖像50實質上為前述實施例中的雲紋圖像20、32與41的組合，因此這些第一區塊可以是多個邊長區塊S21、S22、多個角落區塊C2以及多個輔助區塊A32與A41，而且各個第一區塊的尺寸小於各個正規區塊201r的尺寸。

邊長區塊S21、S22以及角落區塊C2皆分布於邊緣區域，但不分布於重疊區I51與I52。輔助區塊A32與A41皆分布於鄰接區，但不分布於中間相連區域M5。這些第二區塊B51與B52分別分布於這些重疊區I51與I52，但不分布於中間相連區域M5，其中各個第二區塊B51與B52兩者任一者的尺寸小於各個第一區塊的尺寸。這些精細區塊F5僅分布於中間相連區域M5。在這些輔助區塊當中，精細區塊F5具有最小尺寸，所以各個精細區塊F5的尺寸會小於各個第一區塊（即邊長區塊S21、S22、角落區塊C2、輔助區塊A32與A41任一者）的尺寸，也小於各個第二區塊B51與B52的尺寸。

須說明的是，相同於前述圖3B與圖4B的情況，圖5B不僅無法清楚繪示輔助區塊A32與A41兩者的真正尺寸，而且也無法清楚繪示比第一區塊更小的第二區塊B51、B52以及精細區塊F5三者的真正尺寸。因此，圖5B揭露輔助區塊A32、A41、第二區塊B51、B52以及精細區塊F5在顯示區域301上的分布位置、排列方式與形狀，但沒有呈現輔助區塊A32、A41、第二區塊B51、B52以及精細區塊F5的真正尺寸。這些未在圖5B揭露真正尺寸的區塊將在後續的圖5C至圖5E中繪示出來。此外，為避免圖式混淆而難以清楚呈現雲紋圖像50，圖5B也未畫出雲紋圖像41內的第一區塊。

圖5C是圖5B中重疊區I52處的局部放大示意圖，而圖5D是圖5B中重疊區I51處的局部放大示意圖，其中圖5C與圖5D還分別繪示一些輔助區塊A32與A41。請參閱圖5B至圖5D，各個第一區塊（例如輔助區塊A32或A41）、各個第二區塊B51與B52皆包括多個第二畫素202b。同一個第一區塊的這些第二畫素202b是呈陣列排列，而第一區塊的形狀可為矩形（但非正方形）。例如，輔助區塊A41的形狀為水平走向的矩形，而輔助區塊A32的形狀為垂直走向的矩形。

請參閱圖5B與圖5C，在沿著顯示器500的資料線212（垂直方向）而排列的這些第一區塊（即輔助區塊A32）中，同一個輔助區塊A32的這些第二畫素202b是沿著資料線212排列成1×N陣列，其中N為正整數，而圖5C是以N=8作為舉例說明。請參閱圖5B與圖5D，在沿著顯示器500的掃描線211（水平方向）而排列的這些第一區塊（即輔助區塊A41）中，同一個輔助區塊A41的這些第二畫素202b是沿著掃描線211排列成M×1陣列，其中M為正整數，而圖5D是以M=8作為舉例說明。

同一個第二區塊B51以及同一個第二區塊B52兩者的這些第二畫素202b皆呈陣列排列，而在本實施例中，第二區塊B51與B52兩者形狀可皆為矩形，但非正方形。如圖5C所示，各個第二區塊B52是沿著資料線212的方向（垂直方向）而延伸，所以各個第二區塊B52的形狀為垂直走向的矩形，其中同一個第二區塊B52的這些第二畫素202b是沿著資料線212排列成1×X陣列，其中X為小於N的正整數，而圖5C是以X=4作為舉例說明。相似地，如圖5D所示，各個第二區塊B51是沿著掃描線211的方向（水平方向）而延伸，所以各個第二區塊B51的形狀為水平走向的矩形，其中同一個第二區塊B51的這些第二畫素202b是沿著掃描線211排列成Y×1陣列，其中Y為小於M的正整數，而圖5D是以Y=4作為舉例說明。

請參閱圖5C與圖5D，各個輔助補償點P22對應於其中一個第二區塊B52的一個端點。以圖5C為例，有的第二區塊B52的四個端點分別對應四個輔助補償點P22，而有的第二區塊B52的四個端點對應兩個輔助補償點P22與兩個正規補償點P21。所以，有的第二區塊B52是由四個輔助補償點P22所形成，而有的第二區塊B52是由兩個輔助補償點P22與兩個正規補償點P21所形成。相似地，各個輔助補償點P22對應於其中一個第二區塊B51的一個端點。以圖5D為例，有的第二區塊B51的四個端點分別對應四個輔助補償點P22，而有的第二區塊B51的四個端點對應兩個輔助補償點P22與兩個正規補償點P21。因此，有的第二區塊B51是由四個輔助補償點P22所形成，而有的第二區塊B51是由兩個輔助補償點P22與兩個正規補償點P21所形成。

圖5E是圖5B中中間相連區域M5處的局部放大示意圖。請參閱圖5B與圖5E，由於精細區塊F5在這些輔助區塊當中具有最小尺寸，因此各個精細區塊F5所包括的第二畫素202b的數量也最少。以圖5E為例，各個精細區塊F5僅包括一個第二畫素202b，即同一個精細區塊F5的第二畫素202b排列成1×1陣列。因此，各個精細區塊F5的尺寸可以等於一個畫素（即第二畫素202b）的尺寸。

由於雲紋圖像50實質上為前述實施例中的雲紋圖像20、32與41的組合，因此這些第一區塊（即邊長區塊S21、S22、角落區塊C2以及輔助區塊A32與A41）能降低或消除部分雲紋圖像50，其例如是分布在中間相連區域M5以及重疊區I51與I52以外區域的部分雲紋圖像50。其次，由於第二區塊B51、B52與精細區塊F5的尺寸皆小於第一區塊的尺寸，因此這些輔助補償點P22會更密集分布於重疊區I51、I52以及中間相連區域M5，其中中間相連區域M5為輔助補償點P22分布密度最高的區域。如此，根據這些第二區塊B51、B52與精細區塊F5所得到的內插補償運算結果會相當準確，從而有效降低或消除雲紋圖像20。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明精神和範圍內，當可作些許更動與潤飾，因此本發明保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

2D、3C、4C:虛框 20、32、41、50:雲紋圖像 21:檢測儀器 51:水平條紋 52:垂直條紋 53:邊緣條紋 200、300、400、500:顯示器 201、301、401、501:顯示區域 201r:正規區塊 202:邊緣區域 202a:第一畫素 202b:第二畫素 202c:角落區 202s:邊長區 210:畫素陣列 211:掃描線 212:資料線 220:記憶裝置 221:非揮發性記憶體 221a、221r:位址 222:揮發性記憶體 230:時序控制器 231:傳輸介面 232:處理單元 232i:介面 A41:輔助區塊 B51、B52:第二區塊 C2:角落區塊 F5:精細區塊 I51、I52:重疊區 M5:中間相連區域 P21:正規補償點 P22:輔助補償點 S21、S22:邊長區塊 S100~S105、S150~S152:步驟

圖1是本發明至少一實施例的降低雲紋方法的流程示意圖。 圖2A是本發明至少一實施例的顯示器的俯視示意圖。 圖2B是圖2A中被劃分成多個正規區塊的顯示區域的俯視示意圖。 圖2C是圖2A中被劃分成多個正規區塊與多個輔助區塊的顯示區域的俯視示意圖。 圖2D是圖2C中虛框2D的局部放大示意圖。 圖2E是圖2D中的局部放大示意圖。 圖2F是本發明至少一實施例的顯示器的方塊示意圖。 圖2G是圖1中執行步驟S105的流程示意圖。 圖3A是本發明另一實施例的顯示器的俯視示意圖。 圖3B是圖3A中被劃分成多個正規區塊與多個輔助區塊的顯示區域的俯視示意圖。 圖3C是圖3B中虛框3C的局部放大示意圖。 圖3D是圖3C中的局部放大示意圖。 圖4A是本發明另一實施例的顯示器的俯視示意圖。 圖4B是圖4A中被劃分成多個正規區塊與多個輔助區塊的顯示區域的俯視示意圖。 圖4C是圖4B中虛框4C的局部放大示意圖。 圖4D是圖4C中的局部放大示意圖。 圖5A是本發明另一實施例的顯示器的俯視示意圖。 圖5B是圖5A中被劃分成多個正規區塊與多個輔助區塊的顯示區域的俯視示意圖。 圖5C是圖5B中重疊區I52處的局部放大示意圖。 圖5D是圖5B中重疊區I51處的局部放大示意圖。 圖5E是圖5B中中間相連區域M5處的局部放大示意圖。

S100~S105:步驟

Claims (24)

1. 一種降低雲紋方法，應用於一顯示器，其中該顯示器包括至少一畫素陣列，該至少一畫素陣列形成一顯示區域，該降低雲紋方法包括：偵測該顯示區域所顯示的一雲紋圖像，其中該雲紋圖像分布於該至少一畫素陣列的邊緣處；將該顯示區域劃分成多個正規區塊，其中該些正規區塊涵蓋該顯示區域；根據該些正規區塊，產生一正規查找表資料；將該雲紋圖像在該顯示區域上所分布的區域劃分成多個輔助區塊，其中各該正規區塊的尺寸大於各該輔助區塊的尺寸；根據該些輔助區塊，產生一輔助查找表資料；以及根據該正規查找表資料與該輔助查找表資料，進行一內插補償運算以產生多個灰階補償值。
2. 如請求項第1項所述的降低雲紋方法，其中該雲紋圖像與該些輔助區塊分布於該顯示區域的一邊緣區域。
3. 如請求項第2項所述的降低雲紋方法，其中該邊緣區域包括至少一角落區以及至少一邊長區，該至少一角落區鄰接該至少一邊長區，該些輔助區塊包括多個邊長區塊與多個角落區塊，其中該些邊長區塊分布於該至少一邊長區，而該些角落區塊分布於該至少一角落區，各該角落區塊的尺寸小於各該邊長區塊的尺寸。
4. 如請求項第1項所述的降低雲紋方法，其中該顯示器包括兩個彼此鄰接的該畫素陣列，該些畫素陣列形成該顯示區域，該雲紋圖像與該些輔助區塊分布於兩個該畫素陣列之間的一鄰接區。
5. 如請求項第4項所述的降低雲紋方法，其中該鄰接區沿該顯示器的一資料線的方向而延伸，各該正規區塊包括多個第一畫素，而各該輔助區塊包括多個第二畫素，同一個該輔助區塊的該些第二畫素沿著該資料線排列成1×N陣列，其中N為正整數。
6. 如請求項第4項所述的降低雲紋方法，其中該鄰接區沿該顯示器的一掃描線的方向而延伸，各該正規區塊包括多個第一畫素，而各該輔助區塊包括多個第二畫素，同一個該輔助區塊的該些第二畫素沿著該掃描線排列成M×1陣列，其中M為正整數。
7. 如請求項第4項所述的降低雲紋方法，其中該顯示區域的一邊緣區域與該鄰接區重疊而形成一重疊區，而該雲紋圖像還分布於該邊緣區域與該重疊區，該些輔助區塊包括多個第一區塊與多個第二區塊，該些第一區塊分布於該邊緣區域與該鄰接區，但不分布於該重疊區，而該些第二區塊分布於該重疊區，其中各該第二區塊的尺寸小於各該第一區塊的尺寸。
8. 如請求項第1項所述的降低雲紋方法，其中該顯示器包括四個呈2×2陣列排列的該畫素陣列，而該些畫素陣列形成該顯示區域，該雲紋圖像分布於相鄰兩個該畫素陣列之間的一鄰接區以及位在該四個畫素陣列之間的一中間相連區域，該些輔助區塊包括多個第一區塊與多個精細區塊，其中該些第一區塊分布於該鄰接區，但不分布於該中間相連區域，而該些精細區塊分布於該中間相連區域，各該精細區塊的尺寸小於各該第一區塊的尺寸。
9. 如請求項第8項所述的降低雲紋方法，其中該顯示區域的一邊緣區域與該鄰接區重疊而形成一重疊區，而該雲紋圖像還分布於該邊緣區域與該重疊區，該些輔助區塊還包括多個第二區塊，該些第一區塊還 分布於該邊緣區域，但不分布於該重疊區，而該些第二區塊分布於該重疊區，其中各該第二區塊的尺寸小於各該第一區塊的尺寸，而各該精細區塊的尺寸小於各該第二區塊的尺寸。
10. 如請求項第8項所述的降低雲紋方法，其中各該精細區塊的尺寸等於一個畫素的尺寸。
11. 如請求項第8或10項所述的降低雲紋方法，其中各該正規區塊包括多個第一畫素，而各該第一區塊包括多個第二畫素；在沿著該顯示器的一資料線而排列的該些第一區塊中，同一個該第一區塊的該些第二畫素沿著該資料線排列成1×N陣列，其中N為正整數；在沿著該顯示器的一掃描線而排列的該些第一區塊中，同一個該第一區塊的該些第二畫素沿著該掃描線排列成M×1陣列，其中M為正整數。
12. 如請求項第1項所述的降低雲紋方法，其中該正規查找表資料包括多個正規補償點，而該些正規補償點對應於該些正規區塊的四個端點，該輔助查找表資料包括多個輔助補償點，根據該正規查找表資料與該輔助查找表資料，進行該內插補償運算以產生該些灰階補償值的方法包括：重新排列該些正規補償點與該些輔助補償點，以在其中相鄰兩個正規補償點之間設置至少一個輔助補償點；以及在重新排列該些正規補償點與該些輔助補償點之後，根據該些正規補償點與該些輔助補償點，進行該內插補償運算。
13. 如請求項第12項所述的降低雲紋方法，還包括儲存該正規查找表資料與該輔助查找表資料於一記憶裝置中。
14. 如請求項第13項所述的降低雲紋方法，其中該記憶裝置包括一揮發性記憶體與一非揮發性記憶體，該正規查找表資料與該輔助查 找表資料儲存於該非揮發性記憶體。
15. 如請求項第14項所述的降低雲紋方法，其中產生該些灰階補償值的方法包括：將該正規查找表資料與該輔助查找表資料從該非揮發性記憶體載入至該揮發性記憶體；令一時序控制器從該揮發性記憶體讀取及處理該正規查找表資料與該輔助查找表資料，其中該時序控制器執行重新排列該些正規補償點與該些輔助補償點以及進行該內插補償運算；以及令該時序控制器將該些灰階補償值輸入至該畫素陣列。
16. 一種顯示器，包括：至少一畫素陣列，形成一顯示區域，其中該顯示區域劃分成多個正規區塊與多個輔助區塊，其中該些正規區塊涵蓋該顯示區域，而該些輔助區塊分布於該至少一畫素陣列的邊緣處，各該正規區塊的尺寸大於各該輔助區塊的尺寸；一記憶裝置，儲存一正規查找表資料與一輔助查找表資料，其中該正規查找表資料包括多個正規補償點，而該輔助查找表資料包括多個輔助補償點，該些正規補償點對應於該些正規區塊，而該些輔助補償點對應於該些輔助區塊；以及一時序控制器，電連接該至少一畫素陣列與該記憶裝置，並從該記憶裝置讀取該正規查找表資料與該輔助查找表資料，其中該時序控制器重新排列該些正規補償點與該些輔助補償點，以在其中相鄰兩個正規補償點之間設置至少一個輔助補償點；該時序控制器在重新排列該些正規補償點與該些輔助補償點之後，根據該些正規補償點與該些輔助補償點，產生多個灰階補償值。
17. 如請求項第16項所述的顯示器，其中該記憶裝置包括：一非揮發性記憶體，電連接該時序控制器，並儲存該正規查找表資料與該輔助查找表資料；以及一揮發性記憶體，電連接該時序控制器，在該顯示器啟動之後，該正規查找表資料與該輔助查找表資料載入至該揮發性記憶體，而該時序控制器從該揮發性記憶體讀取及處理該正規查找表資料與該輔助查找表資料，並將該些灰階補償值輸入至該畫素陣列。
18. 如請求項第16項所述的顯示器，其中該些輔助區塊分布於該顯示區域的一邊緣區域，該邊緣區域包括至少一角落區以及至少一邊長區，該至少一角落區鄰接該至少一邊長區，該些輔助區塊包括多個邊長區塊與多個角落區塊，其中該些邊長區塊分布於該至少一邊長區，而該些角落區塊分布於該至少一角落區，各該角落區塊的尺寸小於各該邊長區塊的尺寸。
19. 如請求項第16項所述的顯示器，包括兩個彼此鄰接的該畫素陣列，該些畫素陣列形成該顯示區域，該些輔助區塊分布於該兩個畫素陣列之間的一鄰接區。
20. 如請求項第19項所述的顯示器，其中各該畫素陣列包括多條資料線，該鄰接區沿其中一該資料線的方向而延伸，各該正規區塊包括多個第一畫素，而各該輔助區塊包括多個第二畫素，同一個該輔助區塊的該些第二畫素沿著該資料線排列成1×N陣列，其中N為正整數。
21. 如請求項第19項所述的顯示器，其中各該畫素陣列包括多條掃描線，該鄰接區沿其中一該掃描線的方向而延伸，各該正規區塊包括多個第一畫素，而各該輔助區塊包括多個第二畫素，同一個該輔助區塊的該些第二畫素沿著該掃描線排列成M×1陣列，其中M為正整數。
22. 如請求項第16項所述的顯示器，包括四個呈2×2陣列排列的該畫素陣列，而該些畫素陣列形成該顯示區域，該些輔助區塊包括多個第一區塊與多個精細區塊，其中該些第一區塊分布於相鄰兩個該畫素陣列之間的一鄰接區，但不分布於位在該四個畫素陣列之間的一中間相連區域，而該些精細區塊分布於該中間相連區域，各該精細區塊的尺寸小於各該第一區塊的尺寸。
23. 如請求項第22項所述的顯示器，其中該顯示區域的一邊緣區域與該鄰接區重疊而形成一重疊區，該些輔助區塊還包括多個第二區塊，該些第一區塊還分布於該邊緣區域，但不分布於該重疊區，而該些第二區塊分布於該重疊區，其中各該第二區塊的尺寸小於各該第一區塊的尺寸，而各該精細區塊的尺寸小於各該第二區塊的尺寸。
24. 如請求項第22或23項所述的顯示器，其中各該畫素陣列包括多條掃描線與多條資料線，其中各該正規區塊包括多個第一畫素，而各該第一區塊包括多個第二畫素，各該精細區塊的尺寸等於一個該第二畫素的尺寸；在沿著其中一該資料線而排列的該些第一區塊中，同一個該第一區塊的該些第二畫素排列沿著該資料線排列成1×N陣列，其中N為正整數；在沿著其中一該掃描線而排列的該些第一區塊中，同一個該第一區塊的該些第二畫素排列沿著該掃描線排列成M×1陣列，其中M為正整數。

Images