TWI707553B

TWI707553B - 射頻電路

Info

Publication number: TWI707553B
Application number: TW108132422A
Authority: TW
Inventors: 陳家源; 陳志龍; 張家潤; 王柏之
Original assignee: 瑞昱半導體股份有限公司
Priority date: 2019-09-09
Filing date: 2019-09-09
Publication date: 2020-10-11
Also published as: TW202112087A; US20210075463A1; US10938438B1

Abstract

一種射頻電路能夠於一測試模式下執行一射頻特性測試，包含：一測試訊號產生器，用來於該測試模式下產生一測試訊號；一射頻接收器，耦接該測試訊號產生器，用來傳輸該測試訊號以產生一接收器類比訊號；一耦接電路，用來於該測試模式下導通以及於一操作模式下不導通，以於該測試模式下傳輸該接收器類比訊號至一射頻傳送器；該射頻傳送器，用來傳輸該接收器類比訊號以產生一傳送器類比訊號；一測試結果產生器，耦接於該射頻傳送器與一測試結果輸出端之間，包含一訊號轉換器，該訊號轉換器用來於該測試模式下依據該傳送器類比訊號產生一轉換訊號，該測試結果輸出端之一輸出訊號為該轉換訊號或源自於該轉換訊號，該輸出訊號代表該射頻特性測試的結果。

Description

射頻電路

本發明是關於射頻電路，尤其是關於能夠執行射頻特性測試的射頻電路。

純射頻電路不包含數位基頻電路、類比至數位轉換器、以及數位至類比轉換器，因此，目前技術無法藉由裸晶針測（Chip/Die Probing）測試來量測純射頻電路（裸晶）的射頻特性，且一般裸晶針測測試的儀器為低階測試儀器，多用於量測直流特性，無法用來量測射頻特性。鑑於上述，目前技術通常在純射頻電路的封裝完成後，才藉由包含類比至數位轉換器以及數位至類比轉換器的裝置來檢測純射頻電路（封裝電路），以篩除有問題者；然而，若能對純射頻電路的裸晶進行射頻特性測試，便能提早篩除有問題者，以減少封裝及測試成本。

本發明的目的之一在於提供一種射頻電路，該射頻電路無需任何類比至數位轉換器以及數位至類比轉換器也無需外部高規格射頻收發儀器即能執行射頻特性測試。

本發明之射頻電路能夠於一測試模式下執行一射頻特性測試，該射頻特性測試無需任何類比至數位轉換器以及數位至類比轉換器也無需外部高規格射頻收發儀器，該射頻電路的一實施例包含：一測試訊號產生器，用來於該測試模式下產生一測試訊號；一射頻接收器，耦接該測試訊號產生器，用來傳輸該測試訊號以產生一接收器類比訊號；一接收開關，用來於該測試模式下不導通以及於一操作模式下導通，該接收開關耦接於該射頻接收器與一類比訊號輸入端之間，該類比訊號輸入端用來耦接一類比至數位轉換器；一傳送開關，用來於該測試模式下不導通以及於該操作模式下導通，該傳送開關耦接於一類比訊號輸出端與一射頻傳送器之間，該類比訊號輸出端用來耦接一數位至類比轉換器；一耦接電路，用來於該測試模式下導通以及於該操作模式下不導通，以於該測試模式下將該接收器類比訊號傳輸至該射頻傳送器；該射頻傳送器，用來傳輸該接收器類比訊號以產生一傳送器類比訊號；以及一測試結果產生器，耦接於該射頻傳送器與一測試結果輸出端之間，包含一訊號轉換器，該訊號轉換器用來於該測試模式下依據該傳送器類比訊號產生一轉換訊號，該測試結果輸出端之一輸出訊號為該轉換訊號或源自於該轉換訊號，該輸出訊號代表該射頻特性測試的結果。

本發明之射頻電路的另一實施例包含：一測試訊號產生器，用來於該測試模式下產生一測試訊號；一射頻傳送器，耦接該測試訊號產生器，用來傳輸該測試訊號以產生一傳送器類比訊號；一耦接電路，用來於該測試模式下導通以及於一操作模式下不導通，以於該測試模式下將該傳送器類比訊號傳輸至一射頻接收器；該射頻接收器，用來傳輸該傳送器類比訊號以產生一接收器類比訊號；一測試結果產生器，耦接於該射頻接收器與一測試結果輸出端之間，包含一訊號轉換器，該訊號轉換器用來於該測試模式下依據該接收器類比訊號產生一轉換訊號，該測試結果輸出端之一輸出訊號為該轉換訊號或源自於該轉換訊號，該輸出訊號代表該射頻特性測試的結果；一接收開關，用來於該測試模式下不導通以及於該操作模式下導通，該接收開關耦接於該射頻接收器與一類比訊號輸入端之間，該類比訊號輸入端用來耦接一類比至數位轉換器；以及一傳送開關，用來於該測試模式下不導通以及於該操作模式下導通，該傳送開關耦接於該射頻傳送器與一類比訊號輸出端之間，該類比訊號輸出端用來耦接一數位至類比轉換器。

有關本發明的特徵、實作與功效，茲配合圖式作較佳實施例詳細說明如下。

本發明揭露一種射頻電路，該射頻電路無需任何類比至數位轉換器以及數位至類比轉換器也無需外部高規格射頻收發儀器即能執行射頻特性測試。

圖1顯示本發明之射頻電路的一實施例。圖1之射頻電路100能夠於一測試模式下執行一射頻特性測試，包含一測試訊號產生器110、一射頻接收器120、一接收開關130、一傳送開關140、一耦接電路150、一射頻傳送器160、一測試結果產生器170、以及一射頻訊號輸入/輸出電路（T/R SW）180。本實施例中，射頻電路100為一未封裝的裸晶（die），該射頻特性測試為一裸晶針測（Chip Probing）測試；然此非本發明的實施限制。

請參閱圖1。測試訊號產生器110用來於該測試模式下產生一測試訊號S _T。測試訊號產生器110的一實施例包含一單頻（single tone）訊號產生器，用來產生一單頻訊號作為該測試訊號S _T；舉例而言，該單頻訊號產生器包含一鎖相迴路，該鎖相迴路依據一參考時脈產生一時脈訊號作為該測試訊號S _T。該測試訊號S _T的特性（例如：頻率與強度）可依實施需求（例如：測試訊號產生器110於射頻電路100中的位置）而定。

請參閱圖1。射頻接收器120耦接測試訊號產生器110，用來傳輸該測試訊號S _T以產生一接收器類比訊號RX _A。圖2顯示射頻接收器120的一實施例，包含一低雜訊放大器（Low Noise Amplifier, LNA）210、一緩衝級電路220（例如：一低雜訊放大器）、一混頻器230、一轉阻放大器（Transimpedance Amplifier, TIA）240、以及一濾波器250，其中緩衝級電路220、轉阻放大器240、與濾波器250的每一個視實施需求可選擇性地被省略，其它電路視實施需求可選擇性地包含於射頻接收器120中。於一實作範例中，測試訊號產生器110輸出該測試訊號S _T至低雜訊放大器210與混頻器230之間的一節點，從而混頻器230於該測試模式下依據一本地振盪訊號LO1以及該測試訊號S _T產生一低頻訊號S _{LOW_FREQ}，該接收器類比訊號RX _A為該低頻訊號S _{LOW_FREQ}或源自於該低頻訊號S _{LOW_FREQ}（例如：轉阻放大器240或濾波器250之輸出）；然而，只要實作上可行，測試訊號產生器110可輸出該測試訊號S _T至射頻接收器120之傳輸路徑的任一處，例如低雜訊放大器210與射頻訊號輸入/輸出電路180之間的位置，或混頻器230與接收開關130之間的位置。值得注意的是，圖2之實施例中，混頻器230與射頻訊號輸入/輸出電路180之間的訊號可為常用雙端訊號，混頻器230與接收開關130之間的訊號包含一同相訊號（In-Phase signal）與一正交相訊號（Quadrature-Phase signal），此為本技術領域的通常知識，其細節在此省略。

請參閱圖1。接收開關130用來於該測試模式下不導通以及於一操作模式下導通；接收開關130耦接於射頻接收器120與一類比訊號輸入端RX _{ADC_IN}之間，該類比訊號輸入端RX _{ADC_IN}用來耦接一類比至數位轉換器。傳送開關140用來於該測試模式下不導通以及於該操作模式下導通；傳送開關140耦接於一類比訊號輸出端TX _{DAC_OUT}與射頻傳送器160之間，該類比訊號輸出端TX _{DAC_OUT}用來耦接一數位至類比轉換器。耦接電路150（例如：包含一開關的傳輸線路），用來於該測試模式下導通以及於該操作模式下不導通，以於該測試模式下將該接收器類比訊號RX _A傳輸至射頻傳送器160，為避免混淆，該射頻傳送器160所接收的該接收器類比訊號稱為RX _A1。圖1之實施例中，耦接電路150之一端耦接於射頻接收器120與接收開關130之間，另一端耦接於傳送開關140與射頻傳送器160之間；然而，只要實作上可行，耦接電路150之兩端可分別耦接於射頻接收器120之傳輸路徑的任一處以及射頻傳送器160之傳輸路徑的任一處。舉例而言，耦接電路150包含一第一端與一第二端；該第一端耦接於射頻接收器120之混頻器（例如：圖2之混頻器230）與濾波器（例如：圖2之濾波器250）之間，或耦接於該濾波器（例如：圖2之濾波器250）與接收開關130之間；該第二端耦接於射頻傳送器160之混頻器（例如：圖3之混頻器320）與濾波器（例如：圖3之濾波器310）之間，或耦接於該濾波器與傳送開關140之間。

請參閱圖1。射頻傳送器160用來傳輸該接收器類比訊號RX _A1以產生一傳送器類比訊號TX _A。圖3顯示射頻傳送器160的一實施例，包含一濾波器310、一混頻器320、一增益級電路330（例如：前級推動級放大器（preamplifier driver, PAD））、以及一功率放大器（Power Amplifier, PA）340，其中濾波器310與增益級電路330的每一個視實施需求可選擇性地被省略，其它電路視實施需求可選擇性地包含於射頻傳送器160中。於一實作範例中，耦接電路150之一端耦接於該濾波器310/傳送開關140與混頻器320之間的一節點，以輸出該接收器類比訊號RX _A1至該節點，從而混頻器320於該測試模式下依據一本地振盪訊號LO2以及該接收器類比訊號RX _A1產生一高頻訊號S _{HIGH_FREQ}，該傳送器類比訊號TX _A為該高頻訊號S _{HIGH_FREQ}或源自於該高頻訊號S _{HIGH_FREQ}（例如：增益級電路330的輸出訊號）。於一實作範例中，測試結果產生器170耦接增益級電路330與功率放大器340之間的一節點，以接收來自該節點的該傳送器類比訊號TX _A並據以產生一輸出訊號S _OUT；然而，只要實作上可行，測試結果產生器170可耦接射頻傳送器160之傳輸路徑的任一處，例如功率放大器340與射頻訊號輸入/輸出電路180之間的位置，或混頻器320與增益級電路330之間的位置。值得注意的是，前述測試訊號S _T之頻率（例如：2.401GHz）視實施需求可選擇性地不同於該第二本地振盪訊號LO2之頻率（例如：2.4GHz）。另值得注意的是，圖3之實施例中，混頻器320與射頻訊號輸入/輸出電路180之間的訊號可為常用雙端訊號，混頻器320與傳送開關140之間的訊號包含一同相訊號與一正交相訊號，此為本技術領域的通常知識，其細節在此省略。

請參閱圖1。測試結果產生器170耦接於射頻傳送器160與一測試結果輸出端PAD _OUT之間。圖4顯示測試結果產生器170的一實施例，包含一訊號轉換器410與一緩衝級電路420（例如：放大器），其中緩衝級電路420視實施需求可選擇性地被省略。訊號轉換器410用來於該測試模式下依據該傳送器類比訊號TX _A產生一轉換訊號S _CON，該測試結果輸出端PAD _OUT的輸出訊號S _OUT為該轉換訊號S _CON或源自於該轉換訊號S _CON（例如：緩衝級電路420的輸出訊號），該輸出訊號S _OUT代表該射頻特性測試的結果。於一實作範例中，訊號轉換器410包含下列電路的其中之一：一已知或自行開發的自混頻器（self-mixer），用來依據該傳送器類比訊號TX _A輸出一電壓強度值作為該轉換訊號S _CON；一已知或自行開發的方均根（root-mean-square, RMS）值偵測器，用來依據該傳送器類比訊號TX _A輸出一電壓方均根值作為該轉換訊號S _CON；一已知或自行開發的平均值偵測器，用來依據該傳送器類比訊號輸出一電壓平均值作為該轉換訊號；以及一已知或自行開發的功率偵測器，用來依據該傳送器類比訊號TX _A輸出一功率值作為該轉換訊號S _CON。值得注意的是，由於該測試訊號S _T是可控的且該測試訊號S _T的傳輸路徑是已知的，該輸出訊號S _OUT的特性（例如：瞬時或一段時間內的平均準位）是可以預知的，因此，藉由判斷該輸出訊號S _OUT是否符合預期，便能得到該射頻特性測試的結果。

請參閱圖1。射頻訊號輸入/輸出電路180（例如：循環器（Circulator））耦接於射頻接收器120與射頻傳送器160之間，用來於該操作模式下經由一傳收端RF _IN/OUT接收來自天線的一射頻接收訊號或輸出一射頻傳送訊號至天線。由於射頻訊號輸入/輸出電路180可為已知或自行開發的技術，其細節在此省略。

圖5顯示本發明之射頻電路的另一實施例。圖5之射頻電路500能夠於一測試模式下執行一射頻特性測試，包含一測試訊號產生器510、一射頻傳送器520、一耦接電路530、一射頻接收器540、一測試結果產生器550、一接收開關560、一傳送開關570、以及一射頻訊號輸入/輸出電路580。本實施例中，該射頻電路為一未封裝的裸晶，該射頻特性測試為一裸晶針測測試，然此不是本發明之實施限制。

請參閱圖5。測試訊號產生器510用來於該測試模式下產生一測試訊號S _T。射頻傳送器520耦接測試訊號產生器510，用來傳輸該測試訊號S _T以產生一傳送器類比訊號TX _A。耦接電路530用來於該測試模式下導通以及於一操作模式下不導通，以於該測試模式下將該傳送器類比訊號TX _A傳輸至一射頻接收器540。射頻接收器540用來傳輸該傳送器類比訊號TX _A以產生一接收器類比訊號RX _A。測試結果產生器550耦接於射頻接收器540與一測試結果輸出端PAD _OUT之間，包含一訊號轉換器，該訊號轉換器用來於該測試模式下依據該接收器類比訊號RX _A產生一轉換訊號S _CON；測試結果輸出端PAD _OUT之一輸出訊號S _OUT為該轉換訊號S _CON或源自於該轉換訊號S _CON，該輸出訊號S _OUT代表該射頻特性測試的結果。接收開關560用來於該測試模式下不導通以及於該操作模式下導通；接收開關560耦接於射頻接收器540與一類比訊號輸入端RX _{ADC_IN}之間，該類比訊號輸入端RX _{ADC_IN}用來耦接一類比至數位轉換器。傳送開關570用來於該測試模式下不導通以及於該操作模式下導通；傳送開關570耦接於射頻傳送器520與一類比訊號輸出端TX _{DAC_OUT}之間，該類比訊號輸出端TX _{DAC_OUT}用來耦接一數位至類比轉換器。射頻訊號輸入/輸出電路580耦接於射頻接收器540與射頻傳送器520之間，用來於該操作模式下經由一傳收端RF _IN/OUT接收來自天線的一射頻接收訊號或輸出一射頻傳送訊號至天線。相較於圖1，圖5之實施例的測試訊號產生器550輸出該測試訊號S _T至射頻傳送器520，且測試結果產生器550接收接收器類比訊號RX _A並據以產生該輸出訊號S _OUT。

請參閱圖1。於一實作範例中，射頻接收器540（例如：圖2之射頻接收器120）包含一第一混頻器（例如：圖2之混頻器230），該第一混頻器用來於該測試模式下依據一第一本地振盪訊號以及該傳送器類比訊號TX _A產生一低頻訊號，該接收器類比訊號RX _A為該低頻訊號或源自於該低頻訊號。於一實作範例中，射頻傳送器520（例如：圖3之射頻傳送器160）包含一第二混頻器（例如：圖3之混頻器320），該第二混頻器用來於該測試模式下依據一第二本地振盪訊號以及該測試訊號S _T產生一高頻訊號，該傳送器類比訊號TX _A為該高頻訊號或源自於該高頻訊號。於一實作範例中，耦接電路530包含一第一端與一第二端，該第一端耦接於射頻訊號輸入/輸出電路580與前述第一混頻器之間，該第二端耦接於射頻訊號輸入/輸出電路580與前述第二混頻器之間；於另一實作範例中，該第一端耦接於該第一混頻器與射頻接收器540之一低雜訊放大器（例如：圖2之低雜訊放大器210）之間，該第二端耦接於該第二混頻器與射頻傳送器520之一功率放大器（例如：圖3之功率放大器340）之間；值得注意的是，只要實作上可行，耦接電路530之兩端可分別耦接於射頻接收器540之傳輸路徑的任一處以及射頻傳送器520之傳輸路徑的任一處。於一實作範例中，測試結果產生器550（例如：圖4之測試結果產生器170）從前述第一混頻器與射頻接收器540之一第一濾波器（例如：圖2之濾波器250）之間的一第一節點接收該接收器類比訊號RX _A，或從該第一濾波器與接收開關560之間的一第二節點接收該接收器類比訊號RX _A；然而，只要實作上可行，測試結果產生器550可耦接射頻接收器540之傳輸路徑的任一處。於一實作範例中，測試訊號產生器510輸出該測試訊號S _T至射頻傳送器520之一第二濾波器（例如：圖3之濾波器310）與前述第二混頻器之間的一第三節點，或輸出該測試訊號S _T至該第二濾波器與傳送開關570之間的一第四節點。

由於本領域具有通常知識者能夠參酌圖1~4之實施例的揭露來瞭解圖5之實施例的細節與變化，亦即圖1~4之實施例的技術特徵可合理地應用於圖5之實施例中，因此，重複及冗餘之說明在此予以節略。

請注意，在實施為可能的前提下，本技術領域具有通常知識者可選擇性地實施前述任一實施例中部分或全部技術特徵，或選擇性地實施前述複數個實施例中部分或全部技術特徵的組合，藉此增加本發明實施時的彈性。

綜上所述，本發明之射頻電路無需任何類比至數位轉換器以及數位至類比轉換器也無需外部高規格射頻收發儀器即能執行射頻特性測試，因此本發明之射頻電路於裸晶狀態下即可接受該射頻特性測試，以節省測試成本並省去不必要的封裝成本。

雖然本發明之實施例如上所述，然而該些實施例並非用來限定本發明，本技術領域具有通常知識者可依據本發明之明示或隱含之內容對本發明之技術特徵施以變化，凡此種種變化均可能屬於本發明所尋求之專利保護範疇，換言之，本發明之專利保護範圍須視本說明書之申請專利範圍所界定者為準。

100:射頻電路 110:測試訊號產生器 120:射頻接收器 130:接收開關 140:傳送開關 150:耦接電路 160:射頻傳送器 170:測試結果產生器 180:T/R SW（射頻訊號輸入/輸出電路） PAD_OUT:測試結果輸出端 RF_IN/OUT:傳收端 RX_{ADC_IN}:類比訊號輸入端 TX_{DAC_OUT}:類比訊號輸出端 S_T:測試訊號 RX_A:接收器類比訊號 RX_A1:接收器類比訊號 TX_A:傳送器類比訊號 S_OUT:輸出訊號 210:LNA（低雜訊放大器） 220:緩衝級電路 230:混頻器 240:TIA（轉阻放大器） 250:濾波器 LO1:振盪訊號 S_{LOW_FREQ}:低頻訊號 310:濾波器 320:混頻器 330:增益級電路 340:PA（功率放大器） LO2:振盪訊號 S_{HIGH_FREQ}:高頻訊號 410:訊號轉換器 420:緩衝級電路 S_CON:轉換訊號 500:射頻電路 510:測試訊號產生器 520:射頻傳送器 530:耦接電路 540:射頻接收器 550:測試結果產生器 560:接收開關 570:傳送開關 580:T/R SW（射頻訊號輸入/輸出電路）

［圖1］顯示本發明之射頻電路的一實施例；［圖2］顯示圖1之射頻接收器的一實施例；［圖3］顯示圖1之射頻傳送器的一實施例；［圖4］顯示測試結果產生器170的一實施例；以及［圖5］顯示本發明之射頻電路的另一實施例。

100:射頻電路

110:測試訊號產生器

120:射頻接收器

130:接收開關

140:傳送開關

150:耦接電路

160:射頻傳送器

170:測試結果產生器

180:T/R SW(射頻訊號輸入/輸出電路)

PAD_OUT:測試結果輸出端

RF_IN/OUT:傳收端

RX_{ADC_IN}:類比訊號輸入端

TX_{DAC_OUT}:類比訊號輸出端

S_T:測試訊號

RX_A:接收器類比訊號

RX_A1:接收器類比訊號

TX_A:傳送器類比訊號

S_OUT:輸出訊號

Claims

一種射頻電路能夠於一測試模式下執行一射頻特性測試，該射頻特性測試無需搭配類比至數位轉換器以及數位至類比轉換器，該射頻電路包含：一測試訊號產生器，用來於該測試模式下產生一測試訊號；一射頻接收器，耦接該測試訊號產生器，用來傳輸該測試訊號以產生一接收器類比訊號；一接收開關，用來於該測試模式下不導通以及於一操作模式下導通，該接收開關耦接於該射頻接收器與一類比訊號輸入端之間，該類比訊號輸入端用來耦接一類比至數位轉換器；一傳送開關，用來於該測試模式下不導通以及於該操作模式下導通，該傳送開關耦接於一類比訊號輸出端與一射頻傳送器之間，該類比訊號輸出端用來耦接一數位至類比轉換器；一耦接電路，用來於該測試模式下導通以及於該操作模式下不導通，以於該測試模式下將該接收器類比訊號傳輸至該射頻傳送器；該射頻傳送器，用來傳輸該接收器類比訊號以產生一傳送器類比訊號；以及一測試結果產生器，耦接於該射頻傳送器與一測試結果輸出端之間，該測試結果產生器包含：一訊號轉換器，用來於該測試模式下依據該傳送器類比訊號產生一轉換訊號，該測試結果輸出端之一輸出訊號為該轉換訊號或源自於該轉換訊號，該輸出訊號代表該射頻特性測試的結果。
如申請專利範圍第1項所述之射頻電路，其中該射頻接收器包含一第一混頻器與一第二混頻器，該第一混頻器用來於該測試模式下依據一第一本地振盪訊號以及該測試訊號產生一低頻訊號，該接收器類比訊號為該低頻訊號或源自於該低頻訊號，該第二混頻器用來於該測試模式下依據一第二本地振盪訊號以及該接收器類比訊號產生一高頻訊號，該傳送器類比訊號為該高頻訊號或源自於該高頻訊號。
如申請專利範圍第1項所述之射頻電路，其中該耦接電路包含一第一端與一第二端，該第一端耦接於該射頻接收器與該接收開關之間，該第二端耦接於該傳送開關與該射頻傳送器之間。
如申請專利範圍第1項所述之射頻電路，其中該射頻接收器包含一第一混頻器與一第一濾波器，該射頻傳送器包含一第二混頻器與一第二濾波器，該第一濾波器位於該第一混頻器與該接收開關之間，該第二濾波器位於該第二混頻器與該傳送開關之間，該耦接電路包含一第一端與一第二端，該第一端耦接於該第一混頻器與該第一濾波器之間，或耦接於該第一濾波器與該接收開關之間，該第二端耦接於該第二混頻器與該第二濾波器之間，或耦接於該第二濾波器與該傳送開關之間。
如申請專利範圍第1項所述之射頻電路，進一步包含一射頻訊號輸入/輸出電路耦接於該射頻接收器與該射頻傳送器之間，其中該射頻接收器包含一第一混頻器與一低雜訊放大器，該射頻傳送器包含一第二混頻器與一功率放大器，該低雜訊放大器耦接於該射頻訊號輸入/輸出電路與該第一混頻器之間，該功率放大器耦接於該射頻訊號輸入/輸出電路與該第二混頻器之間，該測試訊號產生器輸出該測試訊號至該低雜訊放大器與該第一混頻器之間的一第一節點，該測試結果產生器從該第二混頻器與該功率放大器之間的一第二節點接收該傳送器類比訊號。
一種射頻電路能夠於一測試模式下執行一射頻特性測試，該射頻電路包含：一測試訊號產生器，用來於該測試模式下產生一測試訊號；一射頻傳送器，耦接該測試訊號產生器，用來傳輸該測試訊號以產生一傳送器類比訊號；一耦接電路，用來於該測試模式下導通以及於一操作模式下不導通，以於該測試模式下將該傳送器類比訊號傳輸至一射頻接收器；該射頻接收器，用來傳輸該傳送器類比訊號以產生一接收器類比訊號；一測試結果產生器，耦接於該射頻接收器與一測試結果輸出端之間，該測試結果產生器包含：一訊號轉換器，用來於該測試模式下依據該接收器類比訊號產生一轉換訊號，該測試結果輸出端之一輸出訊號為該轉換訊號或源自於該轉換訊號，該輸出訊號代表該射頻特性測試的結果；一接收開關，用來於該測試模式下不導通以及於該操作模式下導通，該接收開關耦接於該射頻接收器與一類比訊號輸入端之間，該類比訊號輸入端用來耦接一類比至數位轉換器；以及一傳送開關，用來於該測試模式下不導通以及於該操作模式下導通，該傳送開關耦接於該射頻傳送器與一類比訊號輸出端之間，該類比訊號輸出端用來耦接一數位至類比轉換器。
如申請專利範圍第6項所述之射頻電路，其中該射頻接收器包含一第一混頻器與一第二混頻器，該第一混頻器用來於該測試模式下依據一第一本地振盪訊號以及該傳送器類比訊號產生一低頻訊號，該接收器類比訊號為該低頻訊號或源自於該低頻訊號，該第二混頻器用來於該測試模式下依據一第二本地振盪訊號以及該測試訊號產生一高頻訊號，該傳送器類比訊號為該高頻訊號或源自於該高頻訊號。
如申請專利範圍第6項所述之射頻電路，進一步包含一射頻訊號輸入/輸出電路耦接於該射頻接收器與該射頻傳送器之間，其中該射頻接收器包含一第一混頻器，該射頻傳送器包含一第二混頻器，該耦接電路包含一第一端與一第二端，該第一端耦接於該射頻訊號輸入/輸出電路與該第一混頻器之間，該第二端耦接於該射頻訊號輸入/輸出電路與該第二混頻器之間。
如申請專利範圍第6項所述之射頻電路，進一步包含一射頻訊號輸入/輸出電路耦接於該射頻接收器與該射頻傳送器之間，其中該射頻接收器包含一第一混頻器與一低雜訊放大器，該射頻傳送器包含一第二混頻器與一功率放大器，該低雜訊放大器耦接於該射頻訊號輸入/輸出電路與該第一混頻器之間，該功率放大器耦接於該射頻訊號輸入/輸出電路與該第二混頻器之間，該耦接電路包含一第一端與一第二端，該第一端耦接於該第一混頻器與該低雜訊放大器之間，該第二端耦接於該第二混頻器與該功率放大器之間。
如申請專利範圍第6項所述之射頻電路，其中該射頻接收器包含一第一濾波器與一第一混頻器，該射頻傳送器包含一第二濾波器與一第二混頻器，該第一濾波器位於該接收開關與該第一混頻器之間，該第二濾波器位於該傳送開關與該第二混頻器之間，該測試結果產生器從該第一混頻器與該第一濾波器之間的一第一節點接收該接收器類比訊號，或從該第一濾波器與該接收開關之間的一第二節點接收該接收器類比訊號，該測試訊號產生器輸出該測試訊號至該第二濾波器與該第二混頻器之間的一第三節點，或輸出該測試訊號至該第二濾波器與該傳送開關之間的一第四節點。