TWI655443B - 用於一觸控感測器裝置之電容量測電路 - Google Patents

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Abstract

在一項實施例中，一種用於判定一觸控感測器上之一觸控之位置的方法包含：回應於接近於該觸控感測器上之一位置之一觸控而接收輸入信號。每一輸入信號可具有一總電容，該總電容包含與該觸控相關聯之一第一電容及係寄生電容之一第二電容。可調整該等輸入信號中之一或多者之該寄生電容以導致該等輸入信號中之每一者之該第二電容係實質上相等的。可計算該等經調整輸入信號之一平均電容。可接著基於該等輸入信號中之每一者之該總電容與該等輸入信號之該平均電容之一比較而判定該觸控感測器上之該觸控之該位置。

Description

用於一觸控感測器裝置之電容量測電路
本發明大體而言係關於觸控感測器。
舉例而言，一觸控感測器可在疊加於一顯示器螢幕上之觸控感測器之一觸敏區域內偵測一物件(例如一使用者的手指或一手寫筆)之一觸控或接近之存在及位置。在一觸敏顯示器應用中，觸控感測器可使得一使用者能夠與顯示在螢幕上之內容直接互動而非藉助一滑鼠或觸控板間接互動。一觸控感測器可附接至以下各項或作為以下各項之一部分而提供：一桌上型電腦、膝上型電腦、平板電腦、個人數位助理(PDA)、智慧型電話、衛星導航裝置、可攜式媒體播放器、可攜式遊戲控制台、資訊亭電腦、銷售點裝置或其他適合裝置。一家用電器或其他電器上之一控制面板可包含一觸控感測器。
存在若干種不同類型的觸控感測器，諸如(例如)，電阻性觸控螢幕、表面聲波觸控螢幕及電容性觸控螢幕。本文中，在適當之情況下，對一觸控感測器之提及可囊括一觸控螢幕，且反之亦然。當一物件觸控或靠近至電容性觸控螢幕之表面時，可在觸控螢幕內該觸控或接近之位置處發生一電容改變。一觸控感測器控制器可處理電容改變以判定其在觸控螢幕上之位置。
本發明提供一電容量測電路，其包括：複數個線性化器，該複數個線性化器中之每一者可操作以：回應於接近於一觸控感測器上之一位置之一觸控而接收複數個輸入信號中之一相關聯者，該複數個輸入信號中之每一者具有一總電容，該總電容包括：與該觸控相關聯之一第一電容；及包括一寄生電容之一第二電容；及按比例調整該相關聯輸入信號中之該寄生電容以導致該複數個輸入信號中之每一者之該第二電容係實質上相等的；及一電流求和器/除法器，其經組態以：在該複數個輸入信號之該寄生電容已由該複數個線性化器按比例調整之後，接收該複數個輸入信號；及計算該複數個輸入信號之一平均電容；至少一個處理器，其可操作以基於該複數個輸入信號中之每一者之該總電容與該複數個輸入信號之該平均電容之一比較而判定該觸控感測器上之該觸控之該位置。
本發明進一步提供一種設備，該設備包括：一觸控感測器，其包括複數個驅動電極及複數個感測電極，該複數個感測電極可操作以回應於接近該觸控感測器上之一位置之一觸控而產生複數個輸入信號，該複數個輸入信號中之每一者具有一總電容，該總電容包括與該觸控相關聯之一第一電容及包括一寄生電容之一第二電容；一電容量測電路，其與該觸控感測器通信，該電容量測電路包括：複數個線性化器，該複數個線性化器中之每一者可操作以：回應於接近一觸控感測器上之一位置之一觸控而接收複數個輸入信號中之一相關聯者，該複數個輸入信號中之每一者具有一總電容，該總電容包括與該觸控相關聯之一第一電容及包括一寄生電容之一第二電容；及按比例調整該相關聯輸入信號中之該寄生電容以導致該複數個輸入信號中之每一者之該第二電容係實質上相等的；及一電流求和器/除法器，其經組態以：在該複數個輸入信號之該寄生電容已由該複數個線性化器按比例調整之後，接收該複數個輸入信號；及計算該複數個輸入信號之一平 均電容；及至少一個處理器，其可操作以基於該複數個輸入信號中之每一者之該總電容與該複數個輸入信號之該平均電容之一比較而判定該觸控感測器上之該觸控之該位置。
本發明進一步提供一種方法，該方法包括：回應於接近於一觸控感測器上之一位置之一觸控，接收複數個輸入信號，該複數個輸入信號中之每一者具有一總電容，該總電容包括與該觸控相關聯之一第一電容及包括一寄生電容之一第二電容；藉由複數個線性化器調整該複數個輸入信號之該寄生電容以導致該複數個輸入信號中之每一者之該第二電容係實質上相等的；藉由一電流求和器/除法器計算該複數個輸入信號之一平均電容，該平均係在已將該第二電容線性化為在該複數個輸入信號中之每一者中實質上相等之後基於該複數個輸入信號之該總電容而計算；及藉由至少一個處理器基於該複數個輸入信號中之每一者之該總電容與該複數個輸入信號之該平均電容之一比較而判定該觸控感測器上之該觸控之該位置。
100‧‧‧觸控感測器
120‧‧‧觸控感測器控制器
140‧‧‧導電材料軌跡/軌跡
160‧‧‧連接墊
180‧‧‧連接
200‧‧‧量測電路/觸控感測器/量測電路
202a-n‧‧‧輸入緩衝器
204a-n‧‧‧補償緩衝器/線性化器
206a-n‧‧‧積分器
208a-n‧‧‧輸入信號/輸入
210‧‧‧電流求和器/除法器
212‧‧‧接近電路
214a-n‧‧‧感測線
216a-n‧‧‧墊驅動器
218a-n‧‧‧第一輸出信號/輸出信號
220a-n‧‧‧第二信號
300‧‧‧量測電路
302a-n‧‧‧輸入緩衝器
306a-c‧‧‧積分器
308a-n‧‧‧輸入信號
310‧‧‧電流求和器/除法器
312 a-n‧‧‧電流源
圖1圖解說明具有一實例性觸控感測器控制器之一實例性觸控感測器。
圖2圖解說明一觸控感測器控制器之一實例性量測電路。
圖3圖解說明一觸控感測器控制器之另一實例性電容量測電路。
圖4圖解說明可由一實例性量測電路執行之步驟。
圖1圖解說明具有一實例性觸控感測器控制器120之一實例性觸控感測器100。觸控感測器100及觸控感測器控制器120可偵測一物件在觸控感測器100之一觸敏區域內之一觸控或接近之存在及位置。本文中，在適當之情況下，對一觸控感測器之提及可囊括觸控感測器及其觸控感測器控制器兩者。類似地，在適當之情況下，對一觸控感測 器控制器之提及可囊括該觸控感測器控制器及其觸控感測器兩者。在適當之情況下，觸控感測器100可包含一或多個觸敏區域。觸控感測器100可包含安置於可由一介電材料製成之一或多個基板上之驅動與感測電極之一陣列(或一單個類型的電極之一陣列)。本文中，在適當之情況下，對一觸控感測器之提及可囊括該觸控感測器之電極及該等電極安置於其上之基板兩者。另一選擇係，在適當之情況下，對一觸控感測器之提及可囊括該觸控感測器之電極，但不囊括該等電極安置於其上之基板。
一電極(無論是一接地電極、一保護電極、一驅動電極還是一感測電極)可係形成一形狀(諸如例如一碟形、正方形、矩形、細線、其他適合形狀或此等形狀之適合組合)之一導電材料區域。一或多個導電材料層中之一或多個切口可(至少部分地)形成一電極之形狀，且該形狀之區域可(至少部分地)由彼等切口限界。在特定實施例中，一電極之導電材料可佔據其形狀之區域的約1,000%。作為一實例且不以限制方式，在適當之情況下，一電極可由氧化銦錫(ITO)製成，且該電極之ITO可佔據其形狀之區域的約1,000%(有時稱為1,000%填充)。在特定實施例中，一電極之導電材料可佔據其形狀之區域的實質上小於1000%。作為一實例且不以限制方式，一電極可由金屬或其他導電材料細線(FLM)(諸如例如銅、銀或者一基於銅或基於銀的材料)製成，且導電材料細線可以一陰影線、網格或其他適合圖案佔據其形狀之區域的約5%。本文中，在適當之情況下，對FLM的提及囊括此材料。雖然本發明闡述或圖解說明由形成具有特定填充百分比(具有特定圖案)的特定形狀的特定導電材料製成之特定電極，但本發明涵蓋由形成具有任何適合填充百分比(具有任何適合圖案)的任何適合形狀的任何適合導電材料製成之任何適合電極。在適當之情況下，一觸控感測器之電極(或其他元件)之形狀可全部地或部分地構成該觸控感測器之 一或多個大型特徵。彼等形狀之實施方案之一或多個特性(諸如例如，該等形狀內之導電材料、填充物或圖案)可全部地或部分地構成該觸控感測器之一或多個小型特徵。一觸控感測器之一或多個大型特徵可判定其功能性之一或多個特性，且觸控感測器之一或多個小型特徵可判定觸控感測器之一或多個光學特徵，諸如透射比、折射性或反射性。
一機械堆疊可含有基板(或多個基板)及形成觸控感測器100之驅動或感測電極之導電材料。作為一實例且不以限制方式，該機械堆疊可包含在一覆蓋面板下方之一第一光學透明黏合劑(OCA)層。該覆蓋面板可係透明的且由適合於重複的觸控之一彈性材料(諸如例如玻璃、聚碳酸酯或聚(甲基丙烯酸甲酯)(PMMA))製成。本發明涵蓋由任何適合材料製成的任何適合覆蓋面板。第一OCA層可安置於覆蓋面板與具有形成驅動或感測電極之導電材料之基板之間。該機械堆疊亦可包含一第二OCA層及一電介質層(其可由PET或另一適合材料製成，類似於具有形成驅動或感測電極之導電材料的基板)。作為一替代方案，在適當之情況下，可替代第二OCA層及電介質層而施加一介電材料之一薄塗層。第二OCA層可安置於具有構成驅動或感測電極的導電材料的基板與電介質層之間，且該電介質層可安置於第二OCA層與至包含觸控感測器100及觸控感測器控制器120之一裝置之一顯示器的一氣隙之間。僅作為一實例且不以限制方式，該覆蓋面板可具有約1毫米(mm)之一厚度；第一OCA層可具有約0.05mm之一厚度；具有形成驅動或感測電極之導電材料之基板可具有約0.05mm之一厚度；第二OCA層可具有約0.05mm之一厚度；且該電介質層可具有約0.05mm之一厚度。雖然本發明闡述具有由特定材料製成且具有特定厚度之特定數目個特定層之一特定機械堆疊，但本發明涵蓋具有由任何適合材料製成且具有任何適合厚度之任何適合數目個任何適合層的任何適合 機械堆疊。作為一實例且不以限制方式，在特定實施例中，一黏合劑或電介質層可替換上文所闡述的電介質層、第二OCA層及氣隙，其中不存在至顯示器之氣隙。
觸控感測器100之基板之一或多個部分可由聚對酞酸乙二酯(PET)或另一適合材料製成。本發明涵蓋具有由任何適合材料製成的任何適合部分的任何適合基板。在特定實施例中，觸控感測器100中之驅動或感測電極可全部地或部分地由ITO製成。在特定實施例中，觸控感測器100中之驅動或感測電極可由金屬或其他導電材料細線製成。作為一實例且不以限制方式，該導電材料之一或多個部分可係銅或基於銅的且具有約5微米(μm)或小於5μm的一厚度及約100μm或小於100μm的一寬度。作為另一實例，該導電材料之一或多個部分可係銀或基於銀的且類似地具有約5μm或小於5μm的一厚度及約100μm或小於100μm的一寬度。本發明涵蓋由任何適合材料製成的任何適合電極。
觸控感測器100可實施一電容性形式之觸控感測。在一互電容實施方案中，觸控感測器100可包含形成一電容性節點陣列之一驅動與感測電極陣列。一驅動電極與一感測電極可形成一電容性節點。形成電容性節點之驅動與感測電極可彼此靠近但並不彼此進行電接觸。而是，該等驅動與感測電極可跨越其之間的一空間而彼此電容性耦合。(藉由觸控感測器控制器120)向驅動電極施加之一脈衝或交流電壓可在感測電極上感應一電荷，且所感應之電荷量可易受外部影響(諸如一物件之一觸控或接近)。當一物件觸控或靠近電容性節點時，可在電容性節點處發生一電容改變，且觸控感測器控制器120之一量測電路可量測該電容改變。藉由量測整個陣列中的電容改變，觸控感測器控制器120可在觸控感測器100之觸敏區域內判定該觸控或接近之位置。
在一自電容實施方案中，觸控感測器100可包含可各自形成一電容性節點之一單個類型的電極之一陣列。當一物件觸控或靠近電容性節點時，可在該電容性節點處發生一自電容改變，且觸控感測器控制器120可將該電容改變量測為(舉例而言)將該電容性節點處之電壓提升一預定量所需的電荷量之一改變。與一互電容實施方案一樣，藉由量測整個陣列中之電容改變，觸控感測器控制器120可在觸控感測器100之觸敏區域內判定該觸控或接近之位置。在適當之情況下，本發明涵蓋任何適合形式之電容性觸控感測。
在特定實施例中，一或多個驅動電極可共同形成水平地或垂直地或以任何適合定向延續之一驅動線。類似地，一或多個感測電極可共同形成水平地或垂直地或以任何適合定向延續之一感測線。在特定實施例中，驅動線可實質上垂直於感測線而延續。本文中，在適當之情況下，對一驅動線之提及可囊括構成該驅動線之一或多個驅動電極且反之亦然。類似地，在適當之情況下，對一感測線之提及可囊括構成該感測線之一或多個感測電極且反之亦然。
觸控感測器100可具有以一圖案安置於一單個基板之一側上之驅動與感測電極。在此一組態中，跨越一對驅動與感測電極之間的一空間而彼此電容性耦合之該對驅動與感測電極可形成一電容性節點。對於一自電容實施方案，僅一單個類型之電極可以一圖案安置於一單個基板上。除具有以一圖案安置於一單個基板之一側上的驅動與感測電極以外或作為此之一替代方案，觸控感測器100還可具有以一圖案安置於一基板之一側上之驅動電極及以一圖案安置於該基板之另一側上之感測電極。此外，觸控感測器100可具有以一圖案安置於一個基板的一側上的驅動電極及以一圖案安置於另一基板的一側上的感測電極。在此等組態中，一驅動電極與一感測電極之一相交點可形成一電容性節點。此一相交點可係其中驅動電極與感測電極在其各別平面中 「交叉」或彼此最靠近之位置。驅動與感測電極並不彼此進行電接觸一而是其跨越一電介質在相交點處彼此電容性地耦合。雖然本發明闡述形成特定節點之特定電極的特定組態，但本發明涵蓋形成任何適合節點之任何適合電極之任何適合組態。此外，本發明涵蓋以任何適合圖案安置於任何適合數目個任何適合基板上之任何適合電極。
如上文所闡述，觸控感測器100之一電容性節點處之一電容改變可指示該電容性節點之位置處之一觸控或接近輸入。觸控感測器控制器120可偵測並處理該電容改變以判定觸控或接近輸入之存在及位置。觸控感測器控制器120可接著將關於觸控或接近輸入之資訊傳遞至包含觸控感測器100及觸控感測器控制器120之一裝置之一或多個其他組件(例如一或多個中央處理單元(CPU))，該一或多個其他組件可藉由起始該裝置之一功能(或在該裝置上運行之一應用程式)來對該觸控或接近輸入做出回應。雖然本發明闡述關於一特定裝置及一特定觸控感測器之具有特定功能性之一特定觸控感測器控制器，但本發明涵蓋關於任何適合裝置及任何適合觸控感測器之具有任何適合功能性之任何適合觸控感測器控制器。
觸控感測器控制器120可係一或多個積體電路(IC)，諸如例如通用微處理器、微控制器、可程式化邏輯裝置或陣列、特殊應用IC(ASIC)。在特定實施例中，觸控感測器控制器120包括類比電路、數位邏輯及數位非揮發性記憶體。在特定實施例中，觸控感測器控制器120安置於接合至觸控感測器100之基板之一撓性印刷電路(FPC)上，如下文所闡述。在適當之情況下，該FPC可係主動或被動的。在特定實施例中，多個觸控感測器控制器120安置於該FPC上。觸控感測器控制器120可包含一處理器單元、一驅動單元、一感測單元及一儲存單元。該驅動單元可向觸控感測器100之驅動電極供應驅動信號。該感測單元可感測觸控感測器100之電容性節點處之電荷。該感測單元 可包含一量測電路，該量測電路量測電容性節點處的電荷並將表示該等電容性節點處之電容之量測信號提供至該處理器單元。該處理器單元可控制由驅動單元向驅動電極之驅動信號供應並處理來自感測單元之量測信號以偵測且處理觸控感測器100之觸敏區域內之一觸控或接近輸入之存在及位置。該處理器單元亦可追蹤觸控感測器100之觸敏區域內之一觸控或接近輸入之位置改變。該儲存單元可儲存用於由處理器單元執行之程式化，包含用於控制驅動單元以向驅動電極供應驅動信號之程式化、用於處理來自感測單元之量測信號之程式化及在適當之情況下其他適合程式化。雖然本發明闡述具有帶有特定組件之一特定實施方案之一特定觸控感測器控制器，但本發明涵蓋具有帶有任何適合組件之任何適合實施方案之任何適合觸控感測器控制器。
安置於觸控感測器100之基板上之導電材料軌跡140可將觸控感測器100之驅動或感測電極耦合至亦安置於觸控感測器100之基板上之連接墊160。如下文所闡述，連接墊160促進將軌跡140耦合至觸控感測器控制器120。軌跡140可延伸至觸控感測器100之觸敏區域中或圍繞觸控感測器100之觸敏區域(例如，在其邊緣處)延伸。特定軌跡140可提供用於將觸控感測器控制器120耦合至觸控感測器100之驅動電極之驅動連接，觸控感測器控制器120之驅動單元可透過該等驅動連接向該等驅動電極供應驅動信號。其他軌跡140可提供用於將觸控感測器控制器120耦合至觸控感測器100之感測電極之感測連接，觸控感測器控制器120之感測單元可透過該等感測連接感測觸控感測器100之電容性節點處的電荷。軌跡140可由金屬或其他導電材料細線製成。作為一實例且不以限制方式，軌跡140之導電材料可係銅或基於銅的且具有約1000μm或小於1000μm的一寬度。作為另一實例，軌跡140之導電材料可係銀或基於銀的且具有約1000μm或小於1000μm之一寬度。在特定實施例中，除金屬或其他導電材料細線以外或者作為金屬 或其他導電材料細線之一替代方案，軌跡140亦可全部地或部分地由ITO製成。雖然本發明闡述由具有特定寬度之特定材料製成之特定跡線，但本發明涵蓋由具有任何適合寬度之任何適合材料製成之任何適合軌跡。除軌跡140以外，觸控感測器100亦可包含端接於觸控感測器100之基板之一邊緣處的一接地連接器(其可係一連接墊160)處之一或多個接地線(類似於軌跡140)。
連接墊160可沿著基板之一或多個邊緣定位在觸控感測器100之觸敏區域外部。如上文所闡述，觸控感測器控制器120可在一FPC上。連接墊160可由與軌跡140相同之材料製成且可使用一各向異性導電膜(ACF)接合至該FPC。連接180可包含該FPC上之將觸控感測器控制器120耦合至連接墊160之導電線，連接墊160又將觸控感測器控制器120耦合至軌跡140且耦合至觸控感測器100之驅動或感測電極。在其他實施例中，連接墊160可連接至一機電連接器(諸如一零插入力線至板連接器)。在此等實施例中，連接180可不需要包含他FPC。本發明涵蓋觸控感測器控制器120與觸控感測器100之間的任何適合連接180。
圖2圖解說明觸控感測器控制器120之一實例性量測電路200。在特定實施例中，量測電路200包含用於所接收之每一輸入信號208a-n之一輸入緩衝器202a-n、至少一個補償緩衝器204a-n及一積分器206a-n。另外，量測電路200包含一電流求和器/除法器210，其將鏡像輸出提供至一接近電路212及積分器206a-n中之每一者。
一墊驅動器216a-n可與每一感測線214a-n及輸入信號208a-n相關聯。在與觸控感測器100之彼特定感測線214a-n相關聯之一輸入緩衝器202a-n處接收每一輸入信號208a-n，i in a-n。輸入緩衝器202a-n可經組態以放大電流並產生雙重輸出。舉例而言，每一輸入緩衝器202a-n可輸出傳輸至電流求和器/除法器210並由其接收的一第一輸出信號218a-n， i od a-n及傳輸至與相同感測線214a-n相關聯之一積分器206a-n並由其接收之一第二輸出信號220a-n，i oint a-n。舉例而言，在所繪示之實例性量測電路200中，第一輸入信號208a，i in a由輸入緩衝器202a接收，輸入緩衝器202a接著輸出傳輸至電流求和器/除法器210之一第一輸出信號218a，i od a及傳輸至積分器206a並由其接收之一第二信號220a，i oint a。類似地繪示輸入緩衝器202b-n。
在特定實施例中，每一輸入信號208a-n包含一觸控電容CF及一寄生電容CP兩者。在一觸控感測器100包含均勻感測線214a-n之情況下，每一輸入208a-n之寄生電容將係實質上相同的。因此，若在與輸入信號208a相關聯之電極處存在一觸控，則在輸入信號208a上量測之總電容與在輸入信號208b上量測之總電容之間的差將表示觸控電容CF。在特定實施例中，電流求和器/除法器210可接收每一輸入信號208a-n之總電容並計算一平均電容。舉例而言，電流求和器/除法器210可將每一輸入信號208a-n之總電容加在一起且接著將所有電容之經求和總數除以輸入信號之總數目n以計算平均電容。可接著自每一總電容減去此平均電容以實質上移除寄生電容。
然而，在一螢幕不均勻且包含不均勻感測線之情況下，與感測線相關聯之輸入208a-n將展現不同之寄生電容量。另外，若耦合兩個感測線，則一個感測線214a-n上之一正信號可抵消另一感測線214a-n上之一負信號。因此，在特定實施例中，量測電路200包含用於每一輸入信號208a-n之一或多個補償緩衝器204a-n。補償緩衝器204a-n可包含經組態以藉由對第一輸出信號218a-n應用一按比例調整因子來線性化觸控感測器200之線性化器。舉例而言，假定輸入信號208a包含比其他輸入信號208b-n多10%之寄生電容。若輸入信號208a-n未經線性化，則電流求和器/除法器210將自與輸入信號208a相關聯之感測線214a比自與輸入信號208b-n相關聯之感測線214b-n接收多10%之寄生電容。
因此，在一特定實施例中，補償緩衝器204a-n可經組態以藉由向上或向下調整輸入信號208a-n之電容來減少感測線之間的寄生差之效應。具體而言，線性化器204a-n可經組態以對第一輸出信號218a-n應用一按比例調整因子s。舉例而言，在一特定實施例中，可使用每一積分器208a-n之輸出來線性化輸入信號208a-n。在其中在觸控感測器100上不存在一觸控之情形中，按比例調整因子s可經調整使得s(1/n)=i oint n。在存在一觸控之情況下，該觸控將使i oint n增加實質上等於s(1/n)之一量且導致積分器216n之輸出上之一信號改變。可藉由一按比例調整因子s調整每一節點直至所有輸入信號208a-n皆導致實質上相等之輸出。以此方式，實例性量測電路200可補償由每一輸入信號208a-n展現之寄生電容。
如上文所述，電流求和器/除法器210可自線性化器204a-n接收每一第一輸出信號218a-n並計算一平均電容CAVG。平均電容表示所有通道之平均電流乘以按比例調整因子s。舉例而言，電流求和器/除法器210可將每一輸出信號218a-n之總電容加在一起且接著將所有電容之經求和總數除以輸入信號之總數目n以計算平均電容。因此，可將平均電容表示為s(i s /n)。
每一積分器206a-n可接著自電流求和器/除法器210接收平均電容且自一相關聯輸入緩衝器202a-n接收第二輸出信號。因此，一積分器206n接收平均電容s(i s /n)及第二輸出信號i oint n。因此，可將至積分器206n中之電流計算為等於i oint n/[s(i s /n)]。此外，如所繪示，類似於積分器206a-n而操作之一接近電路212可僅接收由電流求和器/除法器210量測之平均電容。接近電路210可操作以偵測觸控感測器100上之無意觸控。舉例而言，在觸控感測器200併入至一行動電話中之情況下，接近電路210可操作以在一使用者當前進行一電話呼叫時回應於該使用者將一手指或手之一部分放置在觸控感測器100上而關斷觸控感測 器100。
圖3圖解說明根據某些實施例之又一實例性量測電路300。實例性量測電路300包含可類似於上文關於實例性量測電路200所闡述之彼等組件之某些組件。具體而言，量測電路300包含用於所接收之每一輸入信號308a-n之一輸入緩衝器302a-n、至少一個補償緩衝器304a-n及一積分器306a-n。另外，量測電路300包含將n個鏡像輸出信號提供至積分器306a-n中之每一者之一電流求和器/除法器310。
可在與彼特定感測線相關聯之一輸入緩衝器302a-n處接收每一輸入信號308a-n。輸入緩衝器302a-n可經組態以放大電流並產生雙重輸出。以類似於上文關於圖2之實例性量測電路200所闡述之彼方式之一方式，每一輸入緩衝器302a-n可輸出傳輸至電流求和器/除法器310並由其接收之一第一輸出及傳輸至與彼相同感測線相關聯之一積分器306a-n並由其接收之一第二輸出。然而，儘管實例性量測電路200包含補償緩衝器204a-n以在由電流求和器/除法器210接收由輸入緩衝器202a-n輸出的第一信號之前線性化該第一信號，但實例性量測電路300使用電流源312a-n來執行按比例調整操作。舉例而言，在一特定實施例中，電流源312a-n可注入抵消輸入信號308a-n之寄生電容之一補償電流。舉例而言，在輸入信號308a中之寄生電容較大之情況下，可由電流源312b-n將一成比例之電流量注入至輸入信號308a-n中以便使得所有信號之寄生電容實質上相等。另外或替代地，可自輸入信號308a移除電流以減小輸入信號308a的寄生電容使得輸入信號308a-n係約相等的寄生電容。
圖4圖解說明由諸如上文關於圖2至3所闡述之彼等量測電路之一實例性量測電路執行之步驟。在一特定實施例中，方法400可回應於接近於一觸控感測器100上之一位置之一觸控而開始。在一步驟402處，可回應於該觸控而接收複數個輸入信號。在一特定實施例中，每 一輸入信號208a-n可具有一總電容且可與一觸控感測器100之一感測線相關聯。該總電容可包含與觸控相關聯之一第一電容及包括一寄生電容之一第二電容。
在步驟404處，可調整複數個輸入信號208a-n中之至少一者之寄生電容。在一特定實施例中，可為每一輸入信號提供一線性化器。該等線性化器可操作以調整一所接收輸入信號之寄生電容以導致複數個輸入信號中之每一者之第二電容係實質上相等的。在一特定實施例中，可給複數個輸入信號208a-n中之至少一者加上或減去一電容量。舉例而言，可自具有比其他輸入信號208b-n高之一寄生電容之一輸入信號208a減去電容。另一選擇係，可給其他輸入信號208b-n加上電容以將其寄生電容增加至實質上等於具有最高寄生電容之輸入信號208a。
在步驟406處，可自複數個經調整輸入信號計算複數個輸入信號208a-n之一平均電容。具體而言，且在一特定實施例中，一電流求和器/除法器210可與每一線性化器204a-n通信。電流求和器/除法器210可自複數個線性化器204a-n接收複數個經調整輸入信號208a-n。因此，基於具有實質上相等寄生電容之輸入信號208a-n而計算平均電容。電流求和器/除法器210可接著藉由將複數個經調整輸入信號208a-n求和並將和除以輸入信號之總數目n來計算平均電容。在一特定實施例中，電流求和器/除法器210可接著產生n個輸出信號(如關於圖2所闡述)，或n+1個輸出信號(如關於圖3所闡述)。舉例而言，在使用一接近電路212來偵測不應忽略之無意觸控之情況下可產生n+1個輸出信號。
在步驟408處，可判定觸控感測器100上之觸控之位置。具體而言，可使用至少一個處理器來將複數個輸入信號208a-n之總電容與複數個經調整輸入信號208a-n之平均電容進行比較。舉例而言，在一特定實施例中，可自輸入信號208a-n中之每一者之總電容減去平均電容以判定每一輸入信號208a-n之第一電容。由於平均電容係基於具有實 質上相等寄生電容之輸入信號208a-n而計算的，因此實質上消除了複數個輸入信號208a-n之寄生電容。如此，一輸入信號208a-n之平均電容與總電容之間的差可歸因於由觸控產生之電容。可使用具有可歸因於觸控之最高電容之輸入信號208a-n來識別觸控螢幕上之觸控之位置。
在適當之情況下，特定實施例可重複圖4之方法之步驟。此外，雖然本發明將圖4之方法之特定步驟闡述及圖解說明為以一特定次序發生，但本發明涵蓋圖4之方法之任何適合步驟以任何適合次序發生。此外，雖然本發明闡述及圖解說明實施圖4之方法之特定步驟之特定組件、裝置或系統，但本發明涵蓋實施圖4之方法之任何適合步驟之任何適合組件、裝置或系統之任何適合組合。
本文中，對一電腦可讀非暫時性儲存媒體之提及可包含基於一半導體的或其他積體電路(IC)(諸如例如，一場可程式化閘陣列(FPGA)或一特殊應用IC(ASIC))、一硬碟、一HDD、一混合硬碟機(HHD)、一光碟、一光碟機(ODD)、一磁光碟、一磁光碟機、一軟碟、一軟碟機(FDD)、磁帶、一全像儲存媒體、一固態硬碟機(SSD)、一RAM碟機、一安全數位卡、一安全數位碟機、另一適合電腦可讀非暫時性儲存媒體或在適當之情況下此等之適合組合。一電腦可讀非暫時性儲存媒體可係揮發性、非揮發性或在適當之情況下揮發性與非揮發性之一組合。
本文中，「或」係包含性而非互斥性，除非內容脈絡另有明確指示或另有指示。因此，本文中，「A或B」意指「A、B或兩者」，除非上下文另有明確指示或另有指示。此外，「及」既係聯合的又係各自的，除非上下文另有明確指示或另有指示。因此，本文中，「A及B」意指「A及B，聯合地或各自地」，除非上下文另有明確指示或另有指示。
本發明囊括熟習此項技術者將理解之對本文中之實例性實施例 之所有改變、替代、變化、更改及修改。此外，在隨附申請專利範圍中對經調適以、經配置以、能夠、經組態以、經啟用以、可操作以或操作以執行一特定功能之一設備或系統或者一設備或系統之一組件之提及囊括彼設備、系統、組件，不論其或彼特定功能是否被啟動、接通或解除鎖定，只要彼設備、系統或組件經如此調適、經如此佈置、能夠如此、經如此組態、經如此啟用、可如此操作或如此操作即可。

Claims (17)

  1. 一種電容量測電路，其包括：複數個線性化器(linearizers)，該複數個線性化器中之每一者可操作以：回應於接近於一觸控感測器上之一位置之一觸控(touch)而自該觸控感測器之複數條感測線之一相關聯感測線接收複數個輸入信號中之一相關聯者，該複數條感測線中之每一者具有一總電容(total capacitance)，該總電容包括：與該觸控相關聯之一第一電容；及包括一寄生電容(parasitic capacitance)之一第二電容；及按比例調整(scale)該相關聯輸入信號中之該寄生電容以導致該複數條感測線中之每一者之該第二電容係實質上相等的；及一電流求和器(summer)/除法器(divider)，其經組態以：在該複數條感測線之該寄生電容已由該複數個線性化器按比例調整之後，接收該複數個輸入信號；及計算該複數個輸入信號之一平均電容；複數個積分器(integrators)，該複數個積分器之每一者與該複數條感測線之一個別一者相關聯，該複數個積分器之每一者可操作以：自該複數條感測線之一相關聯者接收該複數個輸入信號中之一相關聯者，該複數條感測線之該相關聯者具有該總電容，該總電容包括該第一電容及該第二電容；接收由該電流求和器/除法器計算之該平均電容；及自該複數個輸入信號中之該相關聯者之該總電容減去該平均電容以判定該複數條感測線中之該相關聯者之該第一電容；及至少一個處理器，其可操作以至少部分基於該複數條感測線之該相關聯者之該總電容與該複數條感測線之該平均電容之一比較而判定該觸控感測器上之該觸控之該位置。
  2. 如請求項1之電容量測電路，其進一步包括複數個輸入緩衝器，該複數個輸入緩衝器中之每一者可操作以：自該觸控感測器之複數個感測線中之一相關聯者接收該複數個輸入信號中之一者；及將該複數個輸入信號中之該一者傳輸至該複數個線性化器中之一相關聯者。
  3. 如請求項2之電容量測電路，其中該複數個輸入緩衝器中之每一者可操作以：產生一第一輸出信號及一第二輸出信號；將該第一輸出信號傳輸至該複數個線性化器中之該相關聯者；及將該第二輸出信號傳輸至該複數個積分器之一相關聯者。
  4. 如請求項1之電容量測電路，其進一步包括複數個輸入緩衝器，該複數個輸入緩衝器中之每一者可操作以：自該複數個線性化器中之一相關聯者接收該複數個輸入信號中之一者；產生一第一輸出信號及一第二輸出信號；將該第一輸出信號傳輸至該電流求和器/除法器；及將該第二輸出信號傳輸至該複數個積分器之一相關聯者。
  5. 如請求項1之電容量測電路，其中每一線性化器可操作以藉由加上或減去一電容量而按比例調整該相關聯輸入信號中之該寄生電容以導致該複數個輸入信號中之每一者之該第二電容係實質上相等的。
  6. 如請求項1之電容量測電路，其進一步包括一接近電路，該接近電路可操作以：自該電流求和器/除法器接收該平均電容；及基於該平均電容，偵測該觸控感測器上之一無意觸控。
  7. 一種觸控設備，其包括：一觸控感測器，其包括複數個驅動電極及複數個感測電極，該複數個感測電極可操作以回應於接近該觸控感測器上之一位置之一觸控而產生複數個輸入信號，該複數個輸入信號中之每一者具有一總電容，該總電容包括與該觸控相關聯之一第一電容及包括一寄生電容之一第二電容；一電容量測電路，其與該觸控感測器通信，該電容量測電路包括：複數個線性化器，該複數個線性化器中之每一者可操作以：回應於接近一觸控感測器上之一位置之一觸控而自該觸控感測器之複數條感測線之一相關聯感測線接收複數個輸入信號中之一相關聯者；及按比例調整該相關聯輸入信號中之該寄生電容以導致該複數條感測線中之每一者之該第二電容係實質上相等的；及一電流求和器/除法器，其經組態以：在該複數條感測線之該寄生電容已由該複數個線性化器按比例調整之後，接收該複數個輸入信號；及計算該複數個輸入信號之一平均電容；及複數個積分器，該複數個積分器之每一者與該複數條感測線之一個別一者相關聯，該複數個積分器之每一者可操作以：自該複數條感測線之一相關聯者接收該複數個輸入信號中之一相關聯者，該複數個輸入信號中之該相關聯者具有該總電容，該總電容包括該第一電容及該第二電容；接收由該電流求和器/除法器計算之該平均電容；及自該複數個輸入信號中之該相關聯者之該總電容減去該平均電容以判定該複數條感測線中之該相關聯者之該第一電容；及至少一個處理器，其可操作以至少部分基於該複數條感測線中之該相關聯者之該總電容與該複數條感測線之該平均電容之一比較而判定該觸控感測器上之該觸控之該位置。
  8. 如請求項7之設備，其中該電容量測電路進一步包括複數個輸入緩衝器，該複數個輸入緩衝器中之每一者可操作以：自該觸控感測器之複數個感測線中之一相關聯者接收該複數個輸入信號中之一者；及將該複數個輸入信號中之該一者傳輸至該複數個線性化器中之一相關聯者。
  9. 如請求項8之設備，其中該複數個輸入緩衝器中之每一者可操作以：產生一第一輸出信號及一第二輸出信號；將該第一輸出信號傳輸至該複數個線性化器中之該相關聯者；及將該第二輸出信號傳輸至該複數個積分器之一相關聯者。
  10. 如請求項7之設備，其中該電容量測電路進一步包括複數個輸入緩衝器，該複數個輸入緩衝器中之每一者可操作以：自該複數個線性化器中之一相關聯者接收該複數個輸入信號中之一者；產生一第一輸出信號及一第二輸出信號；將該第一輸出信號傳輸至該電流求和器/除法器；及將該第二輸出信號傳輸至該複數個積分器之一相關聯者。
  11. 如請求項7之設備，其中每一線性化器可操作以藉由加上或減去一電容量而按比例調整該相關聯輸入信號中之該寄生電容以導致該複數個輸入信號中之每一者之該第二電容係實質上相等的。
  12. 如請求項7之設備，其中該電容量測電路進一步包括一接近電路，該接近電路可操作以：自該電流求和器/除法器接收該平均電容；及基於該平均電容，偵測該觸控感測器上之一無意觸控。
  13. 一種電容量測方法，其包括：回應於接近於一觸控感測器上之一位置之一觸控，接收複數個輸入信號，該複數個輸入信號中之每一者具有一總電容，該總電容包括與該觸控相關聯之一第一電容及包括一寄生電容之一第二電容；藉由複數個線性化器調整該複數個輸入信號之該寄生電容以導致該複數個輸入信號中之每一者之該第二電容係實質上相等的；藉由一電流求和器/除法器計算該複數條感測線之一平均電容，該平均電容係在已將該第二電容線性化為在該複數條感測線中之每一者中係實質上相等之後基於該複數個輸入信號之該總電容而計算；藉由複數個積分器之每一者，自該複數條感測線之一相關聯者接收該複數個輸入信號中之一相關聯者，該複數個輸入信號中之該相關聯者具有該總電容，該總電容包括該第一電容及該第二電容；藉由該複數個積分器之每一者，自該電流求和器/除法器接收該平均電容；藉由該複數個積分器之每一者，自該複數個輸入信號中之該相關聯者之該總電容減去該平均電容以判定該複數條感測線中之該相關聯者之該第一電容；及藉由至少一個處理器基於該複數條感測線中之每一者之該總電容與該複數條感測線之該平均電容之一比較而判定該觸控感測器上之該觸控之該位置。
  14. 如請求項13之方法，其中接收該複數個輸入信號包括：在複數個輸入緩衝器中之一相關聯者處接收該複數個輸入信號中之每一者；藉由該複數個輸入緩衝器中之每一者產生一第一輸出信號及一第二輸出信號；藉由該複數個輸入緩衝器中之每一者將該第一輸出信號傳輸至該複數個線性化器中之相關聯者；及藉由該複數個輸入緩衝器中之每一者將該第二輸出信號傳輸至該複數個積分器之一相關聯者。
  15. 如請求項13之方法，其進一步包括：藉由該複數個線性化器中之每一者將一經調整輸入信號傳輸至複數個輸入緩衝器中之一相關聯者；藉由該複數個輸入緩衝器中之每一者產生一第一輸出信號及一第二輸出信號；藉由該複數個輸入緩衝器中之每一者將該第一輸出信號傳輸至該電流求和器/除法器；及藉由該複數個輸入緩衝器中之每一者將該第二輸出信號傳輸至該複數個積分器之一相關聯者。
  16. 如請求項13之方法，其中調整該複數個輸入信號之該寄生電容包括：給該複數個輸入信號中之至少一者加上或減去一電容量以導致該複數個輸入信號中之每一者之該第二電容係實質上相等的。
  17. 如請求項13之方法，其進一步包括：基於該複數個輸入信號之該平均電容而偵測該觸控感測器上之一無意觸控。
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