TWI645159B - 光學裝置 - Google Patents

光學裝置 Download PDF

Info

Publication number
TWI645159B
TWI645159B TW105136693A TW105136693A TWI645159B TW I645159 B TWI645159 B TW I645159B TW 105136693 A TW105136693 A TW 105136693A TW 105136693 A TW105136693 A TW 105136693A TW I645159 B TWI645159 B TW I645159B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
light
optical device
prism
angle
emitting
Prior art date
Application number
TW105136693A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201814238A (zh
Inventor
鄭正元
達知 古
吳乾埼
Original Assignee
國立臺灣科技大學
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 國立臺灣科技大學 filed Critical 國立臺灣科技大學
Publication of TW201814238A publication Critical patent/TW201814238A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI645159B publication Critical patent/TWI645159B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10Beam splitting or combining systems
    • G02B27/14Beam splitting or combining systems operating by reflection only
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/42Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect
    • G02B27/4233Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect having a diffractive element [DOE] contributing to a non-imaging application
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/026Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C3/00Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/04Prisms

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)

Abstract

一種光學裝置配置以量測距離。光學裝置包含棱鏡、分束器、探測器與光源。棱鏡具有第一入光面與複數個第一出光面,第一入光面相對第一出光面而設,第一出光面彼此連接並交匯於頂角。分束器具有透光面,以及相連接的第二入光面與第二出光面,第二入光面至少部分面向第一出光面,透光面相對第二入光面而設,分束器更具有部分鏡面於其中,部分鏡面至少部分朝向透光面與第二出光面,透光面配置以朝向光柵。探測器對應第二出光面。光源配置以向第一入光面射出光線,光線之光軸穿越頂角與分束器。

Description

光學裝置
本發明是關於一種光學裝置,且特別是關於一種用以量測距離的光學裝置。
隨著高科技產業的快速發展,微奈米級的定位系統需求量日益增加,對於光學尺的精度要求也相對地不斷提高,而且,光學尺的應用也變得越來越普及。
因此,如何能夠在提高光學尺的精度之餘,又能把光學尺的製作成本有效降低,無疑是業界一個重要的課題。
本發明之一技術態樣在於提供一種光學裝置,其能有效降低整體成本。
根據本發明的一實施方式,一種光學裝置配置以量測距離。光學裝置包含棱鏡、分束器、探測器與光源。棱鏡具有第一入光面以及複數個第一出光面,第一入光面相對第一出光面而設,第一出光面彼此連接並交匯於頂角。分束器具有透光面,以及相連接的第二入光面以及第二出光面,第二入光面至少部分面向第一出光面,透光面相對第二入光面而設,分束器更具有部分鏡面於其中,部分鏡面至少部分朝向透光面與第二出光面,透光面配置以朝向光柵。探測器對應第二出光面。光源配置以向第一入光面射出光線,光線之光軸穿越頂角與分束器。
在本發明一或多個實施方式中,上述之頂角遠離光源。
在本發明一或多個實施方式中,上述之第一出光面實質上為平面。
在本發明一或多個實施方式中,上述之光源、頂角與分束器實質上成一直線排列。
在本發明一或多個實施方式中,上述之第一入光面包含複數個子入光面。子入光面彼此連接並交匯於凹陷角,凹陷角於棱鏡外少於180度。
在本發明一或多個實施方式中,上述之子入光面共同形成凹陷狀,第一出光面共同形成凸出狀,使得棱鏡呈V形。
在本發明一或多個實施方式中,上述之第一入光面包含複數個子入光面。子入光面彼此連接並交匯於凸出角,凸出角於棱鏡外大於180度。
在本發明一或多個實施方式中,上述之子入光面共同形成凸出狀,第一出光面處於相同面,使得棱鏡呈Δ形。
在本發明一或多個實施方式中,上述之第二出光面與透光面相連接。
在本發明一或多個實施方式中,上述之棱鏡包含透光材料。
在本發明一或多個實施方式中,上述之光源配置以射出相干光。
在本發明一或多個實施方式中,上述之第一出光面配置以折射光線,使得被第一出光面折射出來的複數個折射光線之間的角度,係相同於光線的波長相對光柵的間距的比率的整倍數。
本發明上述實施方式與已知先前技術相較,至少具有以下優點:
(1) 由於棱鏡的第一出光面實質上為平面,且第一入光面亦可包含複數個子入光面,其中子入光面彼此連接並交匯於凹陷角,凹陷角於棱鏡外少於180度,因此,相對於具有弧形入光面及弧形出光面的透鏡,棱鏡的結構簡單並易於製作,而且棱鏡的材質可包含透光材料,例如壓克力(acrylic),有助降低棱鏡的生產成本,藉此也能使光學裝置的整體成本有效降低。
(2) 由於棱鏡的結構簡單,棱鏡於光學裝置的安裝及調校亦變得簡單容易,因此能進一步有效降低光學裝置的整體成本。
以下將以圖式揭露本發明之複數個實施方式,為明確說明起見,許多實務上的細節將在以下敘述中一併說明。然而,應瞭解到,這些實務上的細節不應用以限制本發明。也就是說,在本發明部分實施方式中,這些實務上的細節是非必要的。此外,為簡化圖式起見,一些習知慣用的結構與元件在圖式中將以簡單示意的方式繪示之。
除非另有定義,本文所使用的所有詞彙(包括技術和科學術語)具有其通常的意涵,其意涵係能夠被熟悉此領域者所理解。更進一步的說,上述之詞彙在普遍常用之字典中之定義,在本說明書的內容中應被解讀為與本發明相關領域一致的意涵。除非有特別明確定義,這些詞彙將不被解釋為理想化的或過於正式的意涵。
請參照第1圖,其繪示依照本發明一實施方式之光學裝置100的示意圖。在本實施方式中,如第1圖所示,一種光學裝置100配置以量測距離。光學裝置100包含棱鏡110、分束器120、探測器130與光源140。棱鏡110具有第一入光面111以及複數個第一出光面112,第一入光面111相對第一出光面112而設,第一出光面112彼此連接並交匯於頂角V。在本實施方式中,頂角V於棱鏡110內為鈍角。分束器120具有透光面121,以及相連接的第二入光面122以及第二出光面123,第二入光面122至少部分面向第一出光面112,透光面121相對第二入光面122而設,分束器120更具有部分鏡面124於其中,部分鏡面124至少部分朝向透光面121與第二出光面123,透光面121配置以朝向光柵200。探測器130對應第二出光面123。光源140配置以向第一入光面111射出光線L,而光線L之光軸C穿越棱鏡110的頂角V與分束器120。在實務的應用中,光源140、棱鏡110的頂角V與分束器120實質上成一直線排列。
具體而言,當光源140向棱鏡110的第一入光面111射出光線L後,光線L會進入棱鏡110。由於棱鏡110的第一出光面112彼此連接並交匯於頂角V,而如上所述,頂角V於棱鏡110內為鈍角,換句話說,第一出光面112在棱鏡110內共同形成角度σ,因此,光線L從光源140射出的路徑並非相同於每一個第一出光面112相應的法線,如此一來,光線L會被第一出光面112折射,而分開成為如第1圖所示兩束獨立的光線Lr。再者,每一束光線Lr與光軸C形成角度θ。實際上,角度θ取決於光線L的波長。
更具體而言,當棱鏡110的位置被設定而使角度σ的分角線AB重疊於光線L的光軸C時,被分開而形成的兩束光線Lr,將具有相同的寬度W。再者,當角度σ的分角線AB重疊於光線L的光軸C時,光軸C亦成為棱鏡110的對稱線。
其後,具有相同寬度W的光線Lr將穿越分束器120的第二入光面122,並進入分束器120。進入分束器120的光線Lr,更至少部分穿越位於分束器120中的部分鏡面124,然後再經由透光面121離開分束器120,繼而抵達光柵200。藉由調整棱鏡110的頂角V與光柵200之間的距離d,兩束光線Lr抵達光柵200的位置可調校至互相重疊。
從技術上來說,藉由設計角度σ的大小,亦即設計如第1圖所示角度α的大小(角度σ和角度α的總和為180度),從棱鏡110折射出來的光線Lr將會以角度θ抵達光柵200。
在本實施方式中,在針對光柵200表面的微結構(舉例而言,以奈米為單位)的情況下,棱鏡110的角度α的設定,係要使光線Lr因被光柵200所衍射(diffracted)而產生的第n級(the n-th order)被衍射光線Ln(第1圖未示),能夠實質上沿垂直於光柵200表面的方向朝分束器120的透光面121投射。從數學上而言,角度θ可由以下方程式計算:θ=m△/2d
其中m=除零以外的整數;△=光線Lr的波長;以及d=光柵200的間距(pitch)。
舉例而言,以第-1級(the negatively first order)被衍射光線L-1作為說明(亦即n=-1),如第1圖所示,當棱鏡110的角度α經過計算,而能使被棱鏡110所折 射出的光線Lr如上所述穿越分束器120並抵達光柵200後,光線Lr將受到光柵200的衍射,而其第-1級被衍射光線L-1能夠實質上沿垂直於光柵200表面的方向朝分束器120的透光面121投射且相互干擾。也就是說,被棱鏡110分開而形成的兩束光線Lr,其分別被光柵200所衍射而產生的兩束第-1級被衍射光線L-1,能夠相互干擾,且沿實質上垂直於光柵200表面的方向朝分束器120的透光面121重疊地投射。
再者,兩束朝分束器120的透光面121重疊地投射的第-1級被衍射光線L-1,在穿越透光面121後,至少部分會被位於分束器120中的部分鏡面124反射,而形成光線L-1R並投射向第二出光面123,繼而兩束相互干擾及重疊的光線L-1R亦穿越第二出光面123而被探測器130所量測。在本實施方式中,第二出光面123與透光面121相連接,且實質上彼此垂直。再者,探測器130能夠量測出兩束相互干擾的光線L-1R的強度(intensity)。
由於探測器130能夠量測出兩束相互干擾的光線L-1R的強度,而且相互干擾的光線L-1R強度的變化,係由光柵200移動時其表面的微結構改變第-1級被衍射光線L-1的相位所引起的,因此,藉由量測出兩束相互干擾的光線L-1R強度的變化,便能準確地得出在距離d保持不變的情況下,光柵200在移動方向DM上相對光學裝置100移動的距離,亦即光學裝置100在移動方向DM上相對光柵200移動的距離。
更具體而言,棱鏡110的第一出光面112配置以折射光線L,並使之成為光線Lr,並使得被第一出光面112折射出來的複數個折射光線Lr之間的角度β,係相同於光線L的波長相對光柵200的間距的比率的整倍數。如此一來,在抵達光柵200後光線Lr被衍射的級別可相互干擾並形成一共同路徑。在本實施方式中,如第1圖所示,由於如上所述光軸C亦成為棱鏡110的對稱線,因此,角度β實際上相同於角度θ的兩倍。然而,本發明並不以此為限。舉例而言,在其他的實施方式中,棱鏡110可為不對稱結構,而角度β不再相同於角度θ的兩倍。
在本實施方式中,由於棱鏡110的第一出光面112實質上為平面,且第一入光面111亦可包含複數個子入光面111a,其中子入光面111a彼此連接並交匯於凹陷角R,凹陷角R於棱鏡110外少於180度,因此,相對於具有弧形入光面及弧形出光面的透鏡,棱鏡110的結構簡單並易於製作。再者,棱鏡110可包含透光材料,例如聚甲基丙烯酸甲酯(poly(methyl methacrylate); PMMA),又稱為壓克力(acrylic),有助降低棱鏡110的生產成本,藉此也能使光學裝置100的整體成本有效降低。
更具體而言,第一出光面112彼此連接並交滙的頂角V在棱鏡110內形成鈍角,亦即大於90度,使得第一出光面112共同形成凸出狀,加上子入光面111a彼此連接並交匯的凹陷角R在棱鏡110外也形成鈍角,亦即子入光面111a共同形成凹陷狀,使得棱鏡110的形狀呈V形。並且,頂角V設置為遠離光源140。
而且,由於棱鏡110的結構簡單,棱鏡110於光學裝置100的安裝及調校亦變得簡單容易,因此能進一步有效降低光學裝置100的整體成本。
應了解到,為使探測器130能夠準確量測出兩束光線L-1R的強度,光源140配置以射出相干光(coherent light)或任何可以被分開並相互干擾的光線。相干光為單頻率且波同步的光。在本實施方式中,舉例而言,光源140射出的光線可以是雷射或發光二極管所發出之光線等,但本發明並不以此為限。
請參照第2圖,其繪示依照本發明另一實施方式之光學裝置100的示意圖。如第2圖所示,根據實際狀況,例如在光源140向第一入光面111射出的光線L具有足夠長的波長,或是光柵200表面上的微結構的間距足夠短小的情況下,棱鏡110的第一入光面111可設置為單一平面,以使棱鏡110的結構變得更為簡化。
第3圖,其繪示依照本發明再一實施方式之光學裝置100的示意圖。如第3圖所示,根據實際狀況,第一出光面112被設計成處於相同面,使得對比於其他的實施方式中的頂角V消失。再者,第一入光面111的子入光面111a彼此連接並交匯於凸出角P,以共同形成凸出狀,使得凸出角P於棱鏡110外大於180度。如此一來,棱鏡110呈Δ形。
綜上所述,本發明的技術方案與現有技術相比具有明顯的優點和有益效果。通過上述技術方案,可達到相當的技術進步,並具有產業上的廣泛利用價值,其至少具有以下優點:
(1) 由於棱鏡的第一出光面實質上為平面,且第一入光面亦可包含複數個子入光面,其中子入光面彼此連接並交匯於凹陷角,凹陷角於棱鏡外少於180度,因此,相對於具有弧形入光面及弧形出光面的透鏡,棱鏡的結構簡單並易於製作,而且棱鏡的材質可包含透光材料,例如壓克力,有助降低棱鏡的生產成本,藉此也能使光學裝置的整體成本有效降低。
(2) 由於棱鏡的結構簡單,棱鏡於光學裝置的安裝及調校亦變得簡單容易,因此能進一步有效降低光學裝置的整體成本。
雖然本發明已以實施方式揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何熟習此技藝者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作各種之更動與潤飾,因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
100‧‧‧光學裝置
110‧‧‧棱鏡
111‧‧‧第一入光面
111a‧‧‧子入光面
112‧‧‧第一出光面
120‧‧‧分束器
121‧‧‧透光面
122‧‧‧第二入光面
123‧‧‧第二出光面
124‧‧‧部分鏡面
130‧‧‧探測器
140‧‧‧光源
200‧‧‧光柵
d‧‧‧距離
AB‧‧‧分角線
C‧‧‧光軸
DM‧‧‧移動方向
L、Lr、L-1、L-1R‧‧‧光線
P‧‧‧凸出角
V‧‧‧頂角
R‧‧‧凹陷角
W‧‧‧寬度
σ、α、θ、β‧‧‧角度
第1圖繪示依照本發明一實施方式之光學裝置的示意圖。 第2圖繪示依照本發明另一實施方式之光學裝置的示意圖。 第3圖繪示依照本發明再一實施方式之光學裝置的示意圖。

Claims (11)

  1. 一種光學裝置配置以量測一距離,該光學裝置包含:一棱鏡,具有一第一入光面以及複數個第一出光面,該第一入光面相對該些第一出光面而設,該些第一出光面彼此連接並交匯於一頂角;一分束器,具有一透光面,以及相連接的一第二入光面以及一第二出光面,該第二入光面至少部分面向該些第一出光面,該透光面相對該第二入光面而設,該分束器更具有一部分鏡面於其中,該部分鏡面至少部分朝向該透光面與該第二出光面,該透光面與該第二出光面相連接,且實質上彼此垂直,該透光面配置以朝向一光柵;一探測器,對應該第二出光面;以及一光源,配置以向該第一入光面射出一光線,該光線之一光軸穿越該頂角與該分束器;其中,該些第一出光面於該頂角形成一夾角,以使該光線被該光柵所衍射而產生的一第n級被衍射光線,能夠實質上沿垂直於該光柵之表面的一方向朝該透光面投射。
  2. 如請求項1所述之光學裝置,其中該頂角遠離該光源。
  3. 如請求項1所述之光學裝置,其中每一該些第一出光面實質上為平面。
  4. 如請求項1所述之光學裝置,其中該光源、該頂角與該分束器實質上成一直線排列。
  5. 如請求項1所述之光學裝置,其中該第一入光面包含:複數個子入光面,該些子入光面彼此連接並交匯於一凹陷角,該凹陷角於該棱鏡外少於180度。
  6. 如請求項5所述之光學裝置,其中該些子入光面共同形成凹陷狀,該些第一出光面共同形成凸出狀,使得該棱鏡呈V形。
  7. 如請求項1所述之光學裝置,其中該第一入光面包含:複數個子入光面,該些子入光面彼此連接並交匯於一凸出角,該凸出角於該棱鏡外大於180度。
  8. 如請求項7所述之光學裝置,其中該些子入光面共同形成凸出狀,該些第一出光面處於一相同面,使得該棱鏡呈△形。
  9. 如請求項1所述之光學裝置,其中該棱鏡包含一透光材料。
  10. 如請求項1所述之光學裝置,其中該光 源配置以射出相干光。
  11. 如請求項1所述之光學裝置,其中該些第一出光面配置以折射該光線,使得被該些第一出光面折射出來的複數個折射光線之間的一角度,係相同於該光線的一波長相對該光柵的一間距的一比率的一整倍數。
TW105136693A 2016-09-30 2016-11-10 光學裝置 TWI645159B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US15/281,099 2016-09-30
US15/281,099 US10120196B2 (en) 2016-09-30 2016-09-30 Optical device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201814238A TW201814238A (zh) 2018-04-16
TWI645159B true TWI645159B (zh) 2018-12-21

Family

ID=61758020

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW105136693A TWI645159B (zh) 2016-09-30 2016-11-10 光學裝置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10120196B2 (zh)
TW (1) TWI645159B (zh)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109142470A (zh) * 2018-09-29 2019-01-04 业成科技(成都)有限公司 侦测装置及识别系统
US20200406009A1 (en) 2019-06-26 2020-12-31 Boston Scientific Scimed, Inc. Focusing element for plasma system to disrupt vascular lesions
US20210186613A1 (en) * 2019-12-18 2021-06-24 Bolt Medical, Inc. Multiplexer for laser-driven intravascular lithotripsy device
TWI721719B (zh) 2019-12-19 2021-03-11 財團法人工業技術研究院 量測裝置
US20210290286A1 (en) 2020-03-18 2021-09-23 Bolt Medical, Inc. Optical analyzer assembly and method for intravascular lithotripsy device
US11839391B2 (en) 2021-12-14 2023-12-12 Bolt Medical, Inc. Optical emitter housing assembly for intravascular lithotripsy device

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4585349A (en) * 1983-09-12 1986-04-29 Battelle Memorial Institute Method of and apparatus for determining the position of a device relative to a reference
JP2013068523A (ja) * 2011-09-22 2013-04-18 Omron Corp 光学計測装置
TWI435067B (zh) * 2007-05-16 2014-04-21 Otsuka Denshi Kk 利用被測量物之反射光的光學特性測量裝置以及測量方法
JP2014115242A (ja) * 2012-12-12 2014-06-26 Omron Corp 変位計測方法および変位計測装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0718714B2 (ja) 1988-05-10 1995-03-06 キヤノン株式会社 エンコーダー
US5098190A (en) 1989-08-07 1992-03-24 Optra, Inc. Meterology using interferometric measurement technology for measuring scale displacement with three output signals
US5703684A (en) * 1996-09-23 1997-12-30 International Business Machines Corporation Apparatus for optical differential measurement of glide height above a magnetic disk
US7154928B2 (en) 2004-06-23 2006-12-26 Cymer Inc. Laser output beam wavefront splitter for bandwidth spectrum control
KR101725529B1 (ko) * 2010-03-30 2017-04-10 지고 코포레이션 간섭계 인코더 시스템

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4585349A (en) * 1983-09-12 1986-04-29 Battelle Memorial Institute Method of and apparatus for determining the position of a device relative to a reference
TWI435067B (zh) * 2007-05-16 2014-04-21 Otsuka Denshi Kk 利用被測量物之反射光的光學特性測量裝置以及測量方法
JP2013068523A (ja) * 2011-09-22 2013-04-18 Omron Corp 光学計測装置
JP2014115242A (ja) * 2012-12-12 2014-06-26 Omron Corp 変位計測方法および変位計測装置

Also Published As

Publication number Publication date
US10120196B2 (en) 2018-11-06
TW201814238A (zh) 2018-04-16
US20180095287A1 (en) 2018-04-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI645159B (zh) 光學裝置
US10443811B2 (en) Microlens array and optical system including the same
KR20190072838A (ko) 광학 시스템 및 이를 구비한 웨어러블 표시장치
US11835732B2 (en) Structured light projector
TWI731979B (zh) 標記檢測裝置及標記檢測方法、測定裝置、曝光裝置及曝光方法以及元件製造方法
US20080048104A1 (en) Optical Encoder
EP2916157B1 (en) Photoelectric encoder
US8767200B2 (en) Luminous flux branching element and mask defect inspection apparatus
TW201508244A (zh) 光學影像擷取模組、對位方法及觀測方法
US9945656B2 (en) Multi-function spectroscopic device
JP2008286793A (ja) 位置測定装置
WO2015190296A1 (ja) 回折格子および変位計測装置
US3282148A (en) Interferometer comprising two optical flats with superposed laminar diffraction gratings
FR2948996B1 (fr) Interferometre statique a champ compense pour la spectroscopie a transformee de fourier
US9719809B2 (en) Optical unit and displacement measuring device
JP7012057B2 (ja) 反射型センサおよびこれを備える光学式エンコーダ
JP2005114406A (ja) 光学式エンコーダ
JP6847973B2 (ja) 分光器、及び、それを備えた顕微鏡
US20190064401A1 (en) Reflective exposure apparatus
CN110778934B (zh) 一种基于一维衍射的超薄平行光源
KR102167221B1 (ko) 비대칭 투과필름
TWI601990B (zh) Spectroscopic device
JP2017211327A (ja) 発光ユニット、発光受光ユニットおよび光電式エンコーダ
US9255694B2 (en) Reflector structure of illumination optic system
CN116047641A (zh) 一种二维光栅加工方法及加工系统