TWI616715B - 多鏡頭模組的調校方法及其系統 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 48
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 51
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 32
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 44
- 230000001172 regenerating effect Effects 0.000 claims 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 2
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/80—Analysis of captured images to determine intrinsic or extrinsic camera parameters, i.e. camera calibration
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- G06T5/00—Image enhancement or restoration
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
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- G06T7/001—Industrial image inspection using an image reference approach
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Abstract
一種多鏡頭模組的調校方法及其系統,適用於出廠前針對多鏡頭模組進行調校,此方法包括下列步驟。利用多鏡頭模組中的第一鏡頭以及第二鏡頭拍攝校正物,據以產生第一鏡頭的內部參數以及外部參數以及第二鏡頭的內部參數以及外部參數,其中第一鏡頭的外部參數與第二鏡頭的外部參數關聯於共同參考座標系統。利用第一鏡頭以及第二鏡頭拍攝標的物,並且利用第一鏡頭以及第二鏡頭各自的內部參數以及外部參數對於第一鏡頭以及第二鏡頭所分別拍攝到的標的物的影像進行處理,以產生已校正影像。根據已校正影像,調整並且對齊第一鏡頭以及第二鏡頭。
Description
本發明是有關於一種多鏡頭模組的調校方法及其系統,且特別是有關於一種多鏡頭模組於出廠前的調校方法及其系統。
隨著科技的發展,各式各樣的智慧型影像擷取裝置,舉凡平板型電腦、個人數位化助理、智慧型手機等,已成為現代人不可或缺的工具。其中,高階款的智慧型影像擷取裝置所搭載的相機鏡頭已經與傳統消費型相機不相上下,甚至可以取而代之,少數高階款更可藉由雙鏡頭而達到接近數位單眼的畫質或是拍攝三維影像的功能。
一般而言,理想的雙鏡頭模組的兩個光軸應互相平行,並且兩個鏡心需要在垂直於光軸的同一平面上。然而,由於光軸以及鏡心皆是不可見,因此檢測人員難以在雙鏡頭模組於出廠前的組裝階段時確保光軸以及鏡心是否精確地對位。
有鑑於此,本發明提出一種多鏡頭模組的調校方法及其系統,以確保多鏡頭模組在出廠前的組裝階段時,達到光軸以及鏡心精確的對位。
在本發明的一實施例中,上述多鏡頭模組的調校方法,適於出廠前針對至少包括第一鏡頭以及第二鏡頭的多鏡頭模組進行調校,此方法包括下列步驟。利用第一鏡頭以及第二鏡頭拍攝校正物,據以產生對應於第一鏡頭的第一組校正參數以及對應於第二鏡頭的第二組校正參數,其中第一組校正參數包括第一鏡頭的內部參數以及外部參數,第二組校正參數包括第二鏡頭的內部參數以及外部參數,第一鏡頭的外部參數與第二鏡頭的外部參數關聯於共同參考座標系統。利用第一鏡頭以及第二鏡頭拍攝標的物,並且利用第一組校正參數以及第二組校正參數分別對於第一鏡頭以及第二鏡頭所分別拍攝到的標的物的影像進行處理,以產生已校正影像。根據已校正影像,調整並且對齊第一鏡頭以及第二鏡頭。
在本發明的一實施例中,上述多鏡頭模組的調校系統包括校正物、標的物、調校平台、影像處理裝置以及顯示器。調校平台用以放置待調校的多鏡頭模組,並且包括鏡頭調整機構,其中多鏡頭模組至少包括第一鏡頭以及第二鏡頭。影像處理裝置用以根據第一鏡頭以及第二鏡頭所分別拍攝的校正物的影像,產生對應於第一鏡頭的第一組校正參數以及對應於第二鏡頭的第二組校正參數,又利用第一組校正參數以及第二組校正參數對於第一鏡頭以及第二鏡頭所分別拍攝到的標的物的影像進行處理,以產生已校正影像,其中第一組校正參數包括第一鏡頭的內部參數以及外部參數,第二組校正參數包括第二鏡頭的內部參數以及外部參數,第一鏡頭的外部參數與第二鏡頭的外部參數關聯於共同參考座標系統。顯示器連接影像處理裝置,用以顯示已校正影像,以提供做為第一鏡頭以及第二鏡頭的調校依據。
基於上述,本發明所提出的多鏡頭模組的調校方法及其系統,其可針對多鏡頭模組在組裝膠合前利用鏡頭的內部參數以及外部參數,藉以產生對照用的影像,以在出廠前的組裝階段時提供做為第一鏡頭以及第二鏡頭是否對位與調校的依據。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂,下文特舉實施例,並配合所附圖式作詳細說明如下。
本發明的部份實施例接下來將會配合附圖來詳細描述,以下的描述所引用的元件符號,當不同附圖出現相同的元件符號將視為相同或相似的元件。這些實施例只是本發明的一部份,並未揭示所有本發明的可實施方式。更確切的說,這些實施例只是本發明的專利申請範圍中的方法與系統的範例。
圖1是根據本發明一實施例所繪示的多鏡頭模組的調校系統的方塊圖,但此僅是為了方便說明,並不用以限制本發明。首先圖1先介紹系統的所有構件以及配置關係,詳細功能將配合圖2一併揭露。
請參照圖1,系統100包括調校平台110、影像處理裝置120、顯示器130、校正物C以及標的物T。系統100用以針對至少具有第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2的多鏡頭模組DL在組裝膠合前進行調校。
校正物C以及標的物T將分別在雙鏡頭模組DL的調校流程的不同階段中放置於雙鏡頭模組DL的正前方。在本實施例中,校正物C可以是具有棋盤格圖案或是其它容易辨識的圖案的校正板。標的物T可以是相同或不同於校正物C的物體,本發明不在此設限。
調校平台110用以放置待調校的多鏡頭模組DL,並且包括鏡頭調整機構115。鏡頭調整機構115可包括旋轉(rotation)機構以及平移(translation)機構,以壓電驅動或機械控制第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2進行旋轉以及平移,來達到多鏡頭模組DL的調校。
影像處理裝置120可以為工業電腦、個人電腦、筆記型電腦、平板電腦等等,本發明不以此為限。影像處理裝置120可利用有線傳輸或是無線傳輸的方式取得第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2的感光元件所感測到的影像,以進行影像處理。前述的感光元件可以例如是電荷耦合元件(charge coupled device,CCD)、互補性氧化金屬半導體(complementary metal-oxide semiconductor,CMOS)元件等。本領域具通常知識者應明瞭,影像處理裝置120包括處理器以及資料儲存裝置。處理器可以例如是中央處理單元(central processing unit,CPU),或是其他可程式化之一般用途或特殊用途的微處理器(microprocessor)、數位訊號處理器(digital signal processor,DSP)、可程式化控制器、特殊應用積體電路(application specific integrated circuits,ASIC)、可程式化邏輯裝置(programmable logic device,PLD)或其他類似裝置或這些裝置的組合。資料儲存裝置可以例如是任意型式的固定式或可移動式隨機存取記憶體(random access memory,RAM)、唯讀記憶體(read-only memory,ROM)、快閃記憶體(flash memory)、硬碟或其他類似裝置或這些裝置的組合。
顯示器130可利用有線傳輸或是無線傳輸的方式取得第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2的感光元件所感測到的影像以及影像處理裝置120所處理後的影像,並且將所取得到的影像提供給使用者觀看。在本實施例中,螢幕130例如是液晶顯示器(Liquid Crystal Display,LCD)、發光二極體(Light-Emitting Diode,LED)顯示器、場發射顯示器(Field Emission Display,FED)或其他種類的顯示器。此外,在另一實施例中,顯示器130亦可以與影像處理裝置120整合為具有螢幕的影像處理裝置,本發明不在此設限。
校正物C以及標的物T將在多鏡頭模組DL的不同調校階段當中設置於多鏡頭模組DL的正前方。校正物C可以是具有棋盤格圖案的校正板。標的物T可以是相同於校正物C,亦可以是其它物體,本發明不在此設限。
以下即搭配圖1的系統100的各元件列舉實施例,以說明系統100針對多鏡頭模組DL於出廠前進行調校的詳細步驟。在以下實施例的前置作業中,待測試的雙鏡頭模組DL已置於調校平台110上。
圖2為根據本發明之一實施例所繪示的多鏡頭模組的調校方法的流程圖。
請同時參照圖1以及圖2,首先,利用第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2拍攝校正物C(步驟S202),以分別產生校正物C的影像。接著,影像處理裝置130將根據兩張校正物C的影像進行校正參數計算,以產生對應於第一鏡頭L1的第一組校正參數以及對應於第二鏡頭L2的第二組校正參數(步驟S204)。在此,第一組校正參數包括第一鏡頭L1的內部參數以及外部參數,第二組校正參數包括第二鏡頭L2的內部參數以及外部參數,並且第一鏡頭L1的外部參數與第二鏡頭L2的外部參數對應於一個共同參考座標系統。
一般而言,內部參數可用來描述相機座標(camera coordinates)與影像座標(image coordinates)之間的轉換關係,也就是利用針孔成像原理將相機座標投影到成像平面(projective plane)。內部參數包括焦距(focal length)、影像中心(image center)、主軸點(principal point)以及鏡頭扭曲變形係數(distortion coefficients)等參數,也就是第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2各自內部的幾何與光學特性。
另一方面,外部參數則是用來描述世界座標(world coordinate)與相機座標之間的轉換關係,也就是第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2在三維座標中的位置與拍攝方向。外部參數包括旋轉矩陣(rotation matrix)與位移向量(translation vector)等與其擺放位置與拍攝方向相關的參數。由於外部參數可得到第一鏡頭L1與第二鏡頭L2的相機座標間的轉換,第一鏡頭L1的外部參數與第二鏡頭L2的外部參數必須對應於一個共同參考座標系統。以此實施例而言,此共同參考座標系統即為世界座標系統,而在另一實施例中,亦可以其它座標系統做為第一鏡頭L1的外部參數與第二鏡頭L2的外部參數所對應的共同參考座標系統。
接著,利用第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2拍攝標的物T(步驟S206),以分別產生標的物T的影像。影像處理裝置130將利用第一組校正參數以及第二組校正參數對於兩張標的物T的影像進行處理,以產生已校正影像(步驟S208)。在此,影像處理裝置130會根據第一組校正參數以及第二組校正參數對於標的物T的影像進行仿射運算(homography),以產生已校正影像。此步驟的主要目的藉由兩個鏡頭的內部幾何與光學特性,以及兩個鏡頭之間的相對關係,推算出兩個鏡頭在理想狀態下(光軸互相平行並且鏡心垂直於光軸的同一平面上)所拍攝到的標的物T所應呈現出的影像,以做為鏡頭調校的依據。
之後,顯示器130將顯示已校正影像,以提供多鏡頭模組DL的檢測人員藉由鏡頭調整機構115來調整以及對齊第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2(步驟S210)。在此的調校是利用旋轉以及平移的方式使第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2的光軸平行以及鏡心共面,稍後將對此分敘說明。
附帶說明的是,在另一實施例中,影像處理裝置130可利用影像辨識以及比對的方式來根據已校正影像計算第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2所需調整的方式,並且傳送控制指令至調校平台110,以自動控制鏡頭調整機構115針對第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2進行調校。
圖3A為根據本發明之一實施例所繪示的多鏡頭模組的光軸調校方法的流程圖。
請參照圖3A,首先,利用第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2拍攝校正物C(步驟S302),以分別產生校正物C的影像。接著,影像處理裝置130將根據兩張校正物C的影像進行校正參數計算,以產生對應於第一鏡頭L1的第一組校正參數以及對應於第二鏡頭L2的第二組校正參數(步驟S304)。接著,利用第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2拍攝標的物T(步驟S306),以分別產生標的物T的影像。影像處理裝置130將利用第一組校正參數以及第二組校正參數對於兩張標的物T的影像進行處理,以產生目標影像(步驟S308)。步驟S302~S308的說明請參照步驟S202~S208,於此不再贅述。此外,步驟S308的目標影像同於步驟S208的已校正影像,而其是做為第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2的光軸調校依據。
在本實施例中,顯示器130將同步地顯示標的物T的影像以及已校正影像,據以提供雙鏡頭模組DL的檢測人員判斷標的物T的影像與目標影像是否一致(步驟S310)。此外,步驟S310亦可以是以影像處理裝置130以影像辨識以及比對的方式來判斷標的物T的影像與目標影像是否一致,本發明不在此設限。
當標的物T的影像與目標影像不一致時,則將利用鏡頭調整機構115旋轉第一鏡頭L1及/或第二鏡頭L2,以調整第一鏡頭L1的光軸及/或第二鏡頭L2的光軸(步驟S312)。之後,利用調整後的第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2重新拍攝標的物T(步驟S314),並且回到步驟S310,直到第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2調整至所分別拍攝到的標的物T的影像與目標影像一致。另一方面,當標的物T的影像與已校正影像一致時,將結束雙鏡頭模組DL的光軸調校流程。倘若在圖3A的光軸調校流程之前,第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2的鏡心尚未進行調校,亦可選擇性地進行鏡心調校流程。附帶說明的是,由於第一鏡頭L1的光軸以及第二鏡頭L2的光軸有各自的目標影像,因此亦可獨立地進行調整,本發明不在此設限。
具體來說,圖3B為根據本發明之一實施例所繪示的雙鏡頭模組的光軸調校前後的示意圖,圖3C為根據本發明之一實施例所繪示的雙鏡頭模組的光軸調校的流程示意圖。
請先參照圖3B,在此,假設顯示器140將以分割視窗F1以及F2分別顯示第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2所拍攝到的影像。在雙鏡頭模組DL的光軸尚未進行調校前,第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2在拍攝標的物T後,將分別產生標的物T的第一標的物影像LV1以及第二標的物影像LV2。在此,第一鏡頭L1的光軸OA1不平行於第二鏡頭L2的光軸OA2,進而導致第一標的物影像LV1與第二標的物影像LV2包含因光軸不平行所造成的影像差異。
接著,請參照圖3C,顯示器140可同步顯示標的物T的第一目標影像T1以及第一標的物影像LV1於分割視窗F1並且顯示標的物T的第二目標影像T2以及第二標的物影像LV2於分割視窗F2,以提供檢測人員直觀上的鏡頭調校。以此實施例來說,鏡頭調整機構115將依序沿著水平方向(X軸)、垂直方向(Y軸)以及前後方向(Z軸)旋轉第一鏡頭L1,參照圖3C,包含沿X軸旋轉後拍攝到的影像LV11、沿Y軸旋轉後所拍攝到的影像LV12,以及最後沿Z軸旋轉後所拍攝到與第一目標影像T1重疊的第一標的物影像LV1’。類似地,鏡頭調整機構115將依序沿著水平方向、垂直方向以及前後方向旋轉第一鏡頭L2,以逐步將第二鏡頭L2所拍攝的第二標的物影像LV2依序調整成第二標的物影像LV21、第二標的物影像LV22以及與第二目標影像T2重疊的第二標的物影像LV2’。
換句話說,請再回到圖3B,在雙鏡頭模組DL完成光軸的調校後,第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2所拍攝到的標的物T的第一標的物影像LV1’與第二標的物影像LV2’ 將不存在因光軸不平行所造成的影像差異,而第一鏡頭L1的光軸OA1’將平行於第二鏡頭L2的光軸OA2’。
圖4A為根據本發明之一實施例所繪示的多鏡頭模組的調校方法的流程圖。
請參照圖4A,首先,利用第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2拍攝校正物C(步驟S402),以分別產生校正物C的影像。接著,影像處理裝置130將根據兩張校正物C的影像進行校正參數計算,以產生對應於第一鏡頭L1的第一組校正參數以及對應於第二鏡頭L2的第二組校正參數(步驟S404)。接著,利用第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2拍攝標的物T(步驟S406),以分別產生標的物T的影像。影像處理裝置130將利用第一組校正參數以及第二組校正參數對於兩張標的物T的影像進行處理,以產生第一已校正影像以及第二影校正影像(步驟S408)。步驟S402~S408的說明請參照步驟S202~S208,於此不再贅述。在此,影像處理裝置130會直接以第一已校正影像以及第二已校正影像做為第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2的鏡心調校依據。
在本實施例中,顯示器130將同步地顯示第一已校正影像以及第二已校正影像,據以提供雙鏡頭模組DL的檢測人員判斷第一已校正影像與第二已校正影像之中的比對特徵是否符合判定標準(步驟S410)。類似地,步驟S310亦可以是以影像處理裝置130以影像辨識以及比對的方式來判斷第一已校正影像與第二已校正影像之中的比對特徵是否一致,本發明不在此設限。
當第一已校正影像與第二已校正影像之中的比對特徵不符合判定標準時,則將利用鏡頭調整機構115平移第一鏡頭L1及/或第二鏡頭L2,以調校第一鏡頭L1的鏡心以及第二鏡頭L2的鏡心(步驟S412)。在此的比對特徵可以是第一已校正影像與第二已校正影像的大小、水平線以及視差,據以判定第一鏡頭L1的鏡心與第二鏡頭L2的鏡心是否存在前後、上下以及左右的偏移。之後,流程將回到步驟S406,直到第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2調整至所分別拍攝到的標的物T的影像在經過校正後所產生的第一已校正影像與第二已校正影像之中的比對特徵符合判定標準。
另一方面,當第一已校正影像與第二已校正影像之中的比對特徵符合判定標準時,將結束雙鏡頭模組DL的鏡心調校流程。倘若在圖4A的鏡心調校流程之前,第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2的光軸尚未進行調校,亦可選擇性地進入圖3A的光軸調校流程。
具體來說,圖4B為根據本發明之一實施例所繪示的多鏡頭模組的鏡心調校的前後示意圖,圖4C為根據本發明之一實施例所繪示的多鏡頭模組的鏡心調校的流程示意圖。在本實施例中,假設第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2已完成光軸調校。
請先參照圖4B,在此,假設顯示器140將以分割視窗F1以及F2分別顯示第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2所拍攝到的影像。在雙鏡頭模組DL的鏡心尚未進行調校前,第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2在拍攝標的物T並且所拍攝的影像經過校正後,將分別產生標的物T的第一已校正影像RT1以及第二已校正影像RT2。在此,第一鏡頭L1的鏡心C1與第二鏡頭L2的鏡心C2的連線並不平行於世界座標系統的水平軸,進而導致第一已校正影像RT1以及第二已校正影像RT2存在平移上的差異。
接著,請參照圖4C,顯示器140可同步顯示第一鏡頭L1的第一已校正影像RT1於分割視窗F1以及第二鏡頭L2的第二已校正影像RT2於分割視窗F1,以提供直觀上的鏡頭調校。以此實施例來說,將以第二鏡頭L2為基準,僅針對第一鏡頭L1來進行調校,然而本發明不以此為限。首先,可先判斷第一已校正影像RT1的高度h1與第二已校正影像RT2的標的物T的高度h2是否一致,藉以判定標的物T於兩張已校正影像中的大小是否一致。當不一致時,鏡頭調整機構115將以前後方向(Z軸)平移第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2,以使高度h1與高度h2一致。
接著,可判斷第一已校正影像RT1的水平線d1與第二已校正影像RT2的水平線d2是否對齊,或是藉由第一已校正影像RT1與第二已校正影像RT2中的相同特徵點來判斷是否位於同一水平線上,以判定兩張已校正影像中的水平線是否一致。當不對齊時,鏡頭調整機構115將以垂直方向平移第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2,以使水平線d12對齊於水平線d2。
之後,可根據標的物T的物距D,利用公式(1)判斷第一已校正影像RT1與第二已校正影像RT1之間的實際視差(x1-x2)是否符合預期視差:
公式(1) 其中d為預期視差,F為主要鏡頭的焦距,B為兩顆鏡頭鏡心之間的距離(即基線長度),D為物體與鏡頭之間的距離。當不符合時,鏡頭調整機構115將以水平方向平移第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2,以調整基線長度,從而產生實際視差(x1-x2)符合標準的第一已校正影像RT1’以及第二已校正影像RT2’。
換句話說,請再回到圖4B,在雙鏡頭模組DL完成鏡心的調校後,第一鏡頭L1以及第二鏡頭L2在拍攝標的物T並且所拍攝的影像經過校正後,將分別產生符合標準的第一已校正影像RT1’以及第二已校正影像RT2’。在此,第一鏡頭L1的鏡心C1與第二鏡頭L2的鏡心C2連線將會平行於世界座標系統的水平軸。
綜上所述,本發明所提出的多鏡頭模組的調校方法及其系統,其可針對多鏡頭模組在組裝膠合前利用鏡頭的內部參數以及外部參數,藉以產生對照用的影像,以透過圖像視覺化或是影像辨識以及比對來判別多鏡頭模組的光軸以及鏡心是否對位,從而判定是否藉由旋轉或是平移的方式來調校鏡頭。基此,本發明可確保多鏡頭模組在出廠前的組裝階段時,達到光軸以及鏡心精確的對位,從而提供高品質的出廠前組裝測試。
雖然本發明已以實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明的精神和範圍內,當可作些許的更動與潤飾,故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
100:系統 T:標的物 C:校正物 L1:第一鏡頭 L2:第二鏡頭 DL:多鏡頭模組 110:調校平台 115:鏡頭調校機構 120:影像處理裝置 130:顯示器 S202~S210:多鏡頭模組的調校方法流程 S302~S314:多鏡頭模組的光軸調校方法流程 OA1、OA2、OA1’、OA2’:光軸 C1、C2:鏡心 F1、F2:視窗 LV1、LV11、LV12、LV1’:第一標的物影像 LV2、LV21、LV22、LV2’:第二標的物影像 T1:第一目標影像 T2:第二目標影像 S402~S412:多鏡頭模組的鏡心調校方法流程 D:物距 RT1、RT 11、RT 12、RT 1’:第一已校正影像
RT 2、RT 21、RT 22、RT 2’‧‧‧第二已校正影像
h1、h2‧‧‧高度
d1、d2‧‧‧水平線
x1、x2‧‧‧距離
圖1是根據本發明一實施例所繪示的多鏡頭模組的調校系統的方塊圖。 圖2為根據本發明之一實施例所繪示的多鏡頭模組的調校方法的流程圖。 圖3A為根據本發明之一實施例所繪示的多鏡頭模組的光軸調校方法的流程圖。 圖3B為根據本發明之一實施例所繪示的多鏡頭模組的光軸調校前後的示意圖。 圖3C為根據本發明之一實施例所繪示的多鏡頭模組的光軸調校的流程示意圖。 圖4A為根據本發明之一實施例所繪示的多鏡頭模組的鏡心調校方法的流程圖。 圖4B為根據本發明之一實施例所繪示的多鏡頭模組的鏡心調校前後的示意圖。 圖4C為根據本發明之一實施例所繪示的多鏡頭模組的鏡心調校的流程示意圖。
Claims (20)
- 一種多鏡頭模組的調校方法,適用於出廠前針對至少包括第一鏡頭以及第二鏡頭的多鏡頭模組進行調校,包括下列步驟:利用該第一鏡頭以及該第二鏡頭拍攝校正物,據以產生對應於該第一鏡頭的第一組校正參數以及對應於該第二鏡頭的第二組校正參數,其中該第一組校正參數包括該第一鏡頭的內部參數以及外部參數,該第二組校正參數包括該第二鏡頭的內部參數以及外部參數,該第一鏡頭的該外部參數與該第二鏡頭的該外部參數關聯於共同參考座標系統;利用該第一鏡頭以及該第二鏡頭拍攝標的物,並且利用該第一組校正參數以及該第二組校正參數對於該第一鏡頭以及該第二鏡頭所分別拍攝到的該標的物的影像進行處理,以產生已校正影像;以及根據所述已校正影像,調整並且對齊該第一鏡頭以及該第二鏡頭。
- 如申請專利範圍第1項所述的方法,其中根據所述已校正影像,調整並且對齊該第一鏡頭以及該第二鏡頭的步驟包括:設定各所述已校正影像為目標影像;以及持續地調整、對齊並且利用該第一鏡頭以及該第二鏡頭拍攝該標的物,直到該第一鏡頭以及該第二鏡頭所分別拍攝到的該標的物的影像與所述目標影像一致。
- 如申請專利範圍第2項所述的方法,其中所述目標影像包括第一目標影像以及第二目標影像,而持續地調整、對齊並且利用該第一鏡頭以及該第二鏡頭拍攝該標的物,直到該第一鏡頭以及該第二鏡頭所分別拍攝到的該標的物的該影像與所述目標影像一致的步驟包括:對於該第一鏡頭:利用該第一鏡頭拍攝該標的物,以產生第一標的物影像;判斷該第一標的物影像與該第一目標影像是否一致;以及若否,調整該第一鏡頭,以利用調整後的該第一鏡頭拍攝該標的物,重新產生該第一標的物影像;以及對於該第二鏡頭:利用該第二鏡頭拍攝該標的物,以產生第二標的物影像;判斷該第二標的物影像與該第二目標影像是否一致;以及若否,調整該第二鏡頭,以利用調整後的該第二鏡頭拍攝該標的物,重新產生該第二標的物影像。
- 如申請專利範圍第3項所述的方法,其中調整該第一鏡頭以及調整該第二鏡頭的步驟分別包括:利用該第一鏡頭的鏡心為定點旋轉該第一鏡頭,以調整該第一鏡頭的光軸;以及 利用該第二鏡頭的鏡心為定點旋轉該第二鏡頭,以調整該第二鏡頭的光軸。
- 如申請專利範圍第4項所述的方法,在調整該第一鏡頭的該光軸以及調整該第二鏡頭的該光軸的步驟之後,該方法更包括:調校該第一鏡頭的鏡心以及該第二鏡頭的鏡心。
- 如申請專利範圍第1項所述的方法,其中所述已校正影像包括第一已校正影像以及第二已校正影像,其中根據所述已校正影像,調校該第一鏡頭以及該第二鏡頭的步驟包括:判斷該第一已校正影像與該第二已校正影像之中的比對特徵是否符合判定標準;以及若否,調校該第一鏡頭以及該第二鏡頭以重新拍攝該標的物,並且利用該第一組校正參數以及該第二組校正參數對於該第一鏡頭以及該第二鏡頭所分別拍攝到的該標的物的影像進行處理,以重新產生該第一已校正影像以及該第二已校正影像。
- 如申請專利範圍第6項所述的方法,其中調校該第一鏡頭以及該第二鏡頭以拍攝該標的物的步驟包括:平移該第一鏡頭以及該第二鏡頭至少之一者,以調校該第一鏡頭以及該第二鏡頭的鏡心。
- 如申請專利範圍第7項所述的方法,其中該判定標準為該第一已校正影像的大小與該第二已校正影像的大小一致,而平移該第一鏡頭以及該第二鏡頭的步驟包括: 以前後方向移動該第一鏡頭以及該第二鏡頭至少之一者。
- 如申請專利範圍第7項所述的方法,其中該判定標準為該第一已校正影像的水平線對齊於該第二已校正影像的水平線,而平移該第一鏡頭以及該第二鏡頭的步驟包括:以垂直方向移動該第一鏡頭以及該第二鏡頭至少之一者。
- 如申請專利範圍第7項所述的方法,其中該判定標準為該第一已校正影像與該第二已校正影像之間的實際視差與預期視差一致,而平移該第一鏡頭以及該第二鏡頭的步驟包括:根據該標的物的物距,以水平方向移動該第一鏡頭以及該第二鏡頭至少之一者。
- 如申請專利範圍第7項所述的方法,其中在調校該第一鏡頭的該鏡心以及該第二鏡頭的該鏡心的步驟之後,該方法更包括:調校該第一鏡頭的光軸以及該第二鏡頭的光軸。
- 一種多鏡頭模組的調校系統,適用於出廠前針對至少具有第一鏡頭以及第二鏡頭的多鏡頭模組進行調校,包括:校正物;標的物;調校平台,用以放置待調校的該多鏡頭模組,並且包括鏡頭調整機構,用以調整該第一鏡頭以及該第二鏡頭;影像處理裝置,連接該第一鏡頭以及該第二鏡頭,用以根據該第一鏡頭以及該第二鏡頭所分別拍攝的該校正物的影像,產生 對應於該第一鏡頭的第一組校正參數以及對應於該第二鏡頭的第二組校正參數,又利用該第一組校正參數以及該第二組校正參數對於該第一鏡頭以及該第二鏡頭所分別拍攝到的該標的物的影像進行處理,以產生已校正影像,其中該第一組校正參數包括該第一鏡頭的內部參數以及外部參數,該第二組校正參數包括該第二鏡頭的內部參數以及外部參數,該第一鏡頭的該外部參數與該第二鏡頭的該外部參數關聯於共同參考座標系統;以及顯示器,連接該影像處理裝置,用以顯示所述已校正影像以做為調整並且對齊該第一鏡頭以及該第二鏡頭的依據。
- 如申請專利範圍第12項所述的系統,其中:該影像處理裝置設定各所述已校正影像為目標影像,並且該顯示器顯示所述目標影像於該顯示器;以及該鏡頭調整機構持續地調整並且對齊該第一鏡頭以及該第二鏡頭,以利用調整後的該第一鏡頭以及該第二鏡頭拍攝該標的物,直到該影像處理裝置顯示所分別拍攝到的該標的物的影像與所述目標影像一致。
- 如申請專利範圍第13項所述的系統,其中:對於該第一鏡頭:該顯示器顯示該第一鏡頭拍攝該標的物所產生的第一標的物影像; 當該第一標的物影像與該第一目標影像不一致時,該鏡頭調整機構調整該第一鏡頭,並且該顯示器重新顯示該第一鏡頭拍攝該標的物所產生的第一標的物影像;以及對於該第二鏡頭:該顯示器顯示該第二鏡頭拍攝該標的物所產生的第二標的物影像;當該第二標的物影像與該第二目標影像不一致時,該鏡頭調整機構調整該第二鏡頭,並且該顯示器重新顯示該第二鏡頭拍攝該標的物所產生的第二標的物影像。
- 如申請專利範圍第14項所述的系統,其中該鏡頭調整機構利用該第一鏡頭的鏡心為定點旋轉該第一鏡頭,以調整該第一鏡頭的光軸,以及利用該第二鏡頭的鏡心為定點旋轉該第二鏡頭,以調整該第二鏡頭的光軸。
- 如申請專利範圍第12項所述的系統,其中所述已校正影像包括第一已校正影像以及第二已校正影像,當該第一已校正影像與該第二已校正影像之中的比對特徵不一致時,該鏡頭調整機構調整並且對齊該第一鏡頭以及該第二鏡頭,以利用調整並且對齊後的該第一鏡頭以及該第二鏡頭拍攝該標的物,該影像處理裝置利用該第一組校正參數以及該第二組校正參數對於該第一鏡頭以及該第二鏡頭所分別拍攝到的該標的物的影像進行處理,以重新產生該第一已校正影像以及該第二已校正影像。
- 如申請專利範圍第16項所述的系統,其中該鏡頭調整機構平移該第一鏡頭以及該第二鏡頭至少其中之一者,以調校該第一鏡頭的鏡心以及該第二鏡頭的鏡心。
- 如申請專利範圍第17項所述的系統,其中當該第一已校正影像的大小與該第二已校正影像的大小不一致時,該鏡頭調整機構以前後方向移動該第一鏡頭以及該第二鏡頭至少之一者。
- 如申請專利範圍第17項所述的系統,其中當該第一已校正影像的水平線不對齊於該第二已校正影像的水平線時,該鏡頭調整機構以垂直方向移動該第一鏡頭以及該第二鏡頭至少之一者。
- 如申請專利範圍第17項所述的系統,其中當該第一已校正影像與該第二已校正影像之間的實際視差與預期視差不一致時,該鏡頭調整機構根據該標的物的物距,以水平方向移動該第一鏡頭以及該第二鏡頭至少之一者。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW105119829A TWI616715B (zh) | 2016-06-24 | 2016-06-24 | 多鏡頭模組的調校方法及其系統 |
US15/256,756 US9996932B2 (en) | 2016-06-24 | 2016-09-06 | Method and system for multi-lens module alignment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW105119829A TWI616715B (zh) | 2016-06-24 | 2016-06-24 | 多鏡頭模組的調校方法及其系統 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201800822A TW201800822A (zh) | 2018-01-01 |
TWI616715B true TWI616715B (zh) | 2018-03-01 |
Family
ID=60676846
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW105119829A TWI616715B (zh) | 2016-06-24 | 2016-06-24 | 多鏡頭模組的調校方法及其系統 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9996932B2 (zh) |
TW (1) | TWI616715B (zh) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10777018B2 (en) * | 2017-05-17 | 2020-09-15 | Bespoke, Inc. | Systems and methods for determining the scale of human anatomy from images |
JP6777604B2 (ja) * | 2017-08-28 | 2020-10-28 | ファナック株式会社 | 検査システムおよび検査方法 |
TWI687755B (zh) * | 2018-11-19 | 2020-03-11 | 宏碁股份有限公司 | 影像擷取裝置及影像擷取方法 |
CN111343360B (zh) * | 2018-12-17 | 2022-05-17 | 杭州海康威视数字技术股份有限公司 | 一种校正参数获得方法 |
CN114296230A (zh) * | 2021-12-03 | 2022-04-08 | 青岛奥美克医疗科技有限公司 | 双镜头校准调焦方法、三维图像适配器及内窥镜系统 |
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Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20150092089A1 (en) * | 2013-09-27 | 2015-04-02 | Broadcom Corporation | System And Method For Under Sampled Image Enhancement |
TWI486551B (zh) * | 2013-10-21 | 2015-06-01 | Univ Nat Taiwan Science Tech | 三維資料擷取方法及其系統 |
-
2016
- 2016-06-24 TW TW105119829A patent/TWI616715B/zh not_active IP Right Cessation
- 2016-09-06 US US15/256,756 patent/US9996932B2/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201800822A (zh) | 2018-01-01 |
US9996932B2 (en) | 2018-06-12 |
US20170371123A1 (en) | 2017-12-28 |
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---|---|---|---|
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