TWI506521B - 顯示裝置 - Google Patents

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TWI506521B
TWI506521B TW102140156A TW102140156A TWI506521B TW I506521 B TWI506521 B TW I506521B TW 102140156 A TW102140156 A TW 102140156A TW 102140156 A TW102140156 A TW 102140156A TW I506521 B TWI506521 B TW I506521B
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Masanari Saitou
Takahiro Miyazaki
Shinji Sekiguchi
Tomohiko Ootani
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Japan Display Inc
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    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
    • G06F3/0446—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using a grid-like structure of electrodes in at least two directions, e.g. using row and column electrodes

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Description

顯示裝置
本發明係關於一種附觸控面板之顯示裝置，尤其係關於使用靜電電容方式之觸控面板之觸控檢測解析度提高。
有附觸控面板之顯示裝置之觸控面板採用使用靜電電容方式之觸控面板之情形。於該觸控面板中，利用於顯示區域內配置為格子狀之掃描電極(掃描線)與檢測電極(檢測線)之間所產生之電容中之邊緣成分電容於面板觸控時與面板非觸控時不同之情況來檢測面板觸控位置。作為具備使用靜電電容方式之觸控面板之顯示裝置，揭示於例如日本專利特開2011-81578號公報及日本專利特開2011-238146號公報。
圖7係表示先前技術之附觸控面板之顯示裝置所具備之觸控面板基板110之構成之模式俯視圖。該顯示裝置具備觸控面板基板110。於觸控面板基板110之正面側，具備於圖之縱向延伸之複數條檢測線，於觸控面板基板之背面側，具備於圖之橫向延伸之複數條掃描線。於圖中，分別將複數條檢測線表示為M1 、M2 、...Mm ，將複數條掃描線表示為H1 、H2 、...Hn 、Hn+1 。於顯示裝置中具備觸控面板驅動IC(integrated circuit，積體電路)111，觸控面板驅動IC111經由對應之複數條檢測配線與複數條檢測線連接，且經由對應之複數條掃描配線與複數條掃描線連接。於圖中，分別將複數條檢測配線表示為ML1 、 ML2 、...MLm ，將複數條掃描配線表示為HL1 、HL2 、...HLn 、HLn+1 。複數條檢測線與複數條掃描線重疊之區域與顯示裝置之顯示面板之有效顯示區域112平面性地重合。複數條檢測配線及複數條掃描配線配置於觸控面板基板中位於與有效顯示區域112平面性地重合之區域之周邊之邊框區域。再者，於複數條檢測線各者之兩側，配置複數個虛設電極DE，複數個虛設電極DE電性地成為浮動(floating)狀態。
觸控面板之檢測解析度係根據檢測線與掃描線之格柵之大小(間距)而決定。先前，若欲使檢測解析度提高至格柵以上，則需要進行複雜之軟體處理。另一方面，為了不進行複雜之軟體處理而提高檢測解析度，需要縮小格柵之間距，因此，考慮縮小檢測線之間距(間隔)。於此情形時，成為位於相鄰之檢測線之間之間隙之區域減少，而使經由該區域產生之邊緣電容減少，從而使檢測感度降低。因此，縮小檢測線之間距對觸控面板之檢測而言並不理想。
又，縮小檢測線之間距，而使檢測線之條數增加，隨之，用以與觸控面板驅動IC111連接之檢測配線(引出線)之條數增加，而使配置複數條檢測配線所需之區域增大，從而對邊框區域之狹小化而言並不理想。
本發明係鑒於上述問題而完成者，其目的在於提供一種可既抑制配線增加、亦提高檢測解析度之附觸控面板之顯示裝置。
(1)本發明之顯示裝置之特徵在於：其係包括複數條掃描線及複數條檢測線之附觸控面板之顯示裝置，上述複數條掃描線與顯示區域平面性地重合，於第1方向延伸，並且沿與上述第1方向交叉之第2方向排列，上述複數條檢測線與上述顯示區域平面性地重合且與上述複數條掃描線立體性地交叉，於上述第2方向延伸，並且沿上述第1方向 排列；且上述複數條檢測線包含複數條第1主檢測線、複數條第2主檢測線、複數條第1一側副檢測線、及複數條第1另一側副檢測線，各上述第2主檢測線分別配置於相鄰之上述第1主檢測線之間，上述複數條第1一側副檢測線相互連接，各上述第1一側副檢測線分別配置於各上述第1主檢測線和與該第1主檢測線之一側相鄰之上述第2主檢測線之間，且上述複數條第1另一側副檢測線相互連接，各上述第1另一側副檢測線分別配置於各上述第1主檢測線和與該第1主檢測線之另一側相鄰之上述第2主檢測線之間。
(2)如上述(1)之顯示裝置，其中亦可為，上述複數條檢測線進而包含複數條第2一側副檢測線及複數條第2另一側副檢測線，且上述複數條第2一側副檢測線相互連接，各上述第2一側副檢測線分別配置於各上述第2主檢測線和與該第2主檢測線之一側相鄰之上述第1另一側副檢測線之間，且上述複數條第2另一側副檢測線相互連接，各上述第2另一側副檢測線分別配置於各上述第2主檢測線和與該第2主檢測線之另一側相鄰之上述第1一側副檢測線之間。
(3)如上述(1)或(2)之顯示裝置，其亦可進而包括驅動電路，該驅動電路係與上述複數條掃描線及上述複數條檢測線連接，驅動上述複數條掃描線及上述複數條檢測線，而檢測面板觸控，且上述驅動電路在使用上述複數條第1主檢測線及上述複數條第2主檢測線而檢測面板觸控之情形時，將上述複數條副檢測線設為高阻抗狀態。
(4)如上述(1)之顯示裝置，其亦可進而包括驅動電路，該驅動電路係與上述複數條掃描線及上述複數條檢測線連接，驅動上述複數條掃描線及上述複數條檢測線，而檢測面板觸控，且上述驅動電路在使用上述複數條第1一側副檢測線及/或上述複數條第1另一側副檢測線而檢測面板觸控之情形時，將上述複數條主檢測線與檢測中未使用之上述複數條副檢測線設為高阻抗狀態。
(5)如上述(2)之顯示裝置，其亦可進而包括驅動電路，該驅動電路係與上述複數條掃描線及上述複數條檢測線連接，驅動上述複數條掃描線及上述複數條檢測線，而檢測面板觸控，且上述驅動電路在使用上述複數條第2一側副檢測線及/或上述複數條第2另一側副檢測線而檢測面板觸控之情形時，將上述複數條主檢測線與檢測中未使用之上述複數條副檢測線設為高阻抗狀態。
根據本發明，可提供一種可既抑制配線增加、亦提高檢測解析度之附觸控面板之顯示裝置。
1‧‧‧附觸控面板之液晶顯示裝置
2‧‧‧上框
3‧‧‧下框
4‧‧‧液晶顯示面板
10‧‧‧觸控面板基板
11‧‧‧觸控面板驅動IC
12‧‧‧有效顯示區域
110‧‧‧觸控面板基板
111‧‧‧觸控面板驅動IC
112‧‧‧有效顯示區域
DE‧‧‧虛設電極
DE1、DE2、DE3、DE4‧‧‧虛設電極
H‧‧‧掃描線
H1、H2 、...Hn 、Hn+1 ‧‧‧掃描線
HL‧‧‧掃描配線
HL1 、HL2 、...HLn 、HLn+1 ‧‧‧掃描配線
M、Mj ‧‧‧主檢測線
M1 、M2 、...Mm ‧‧‧主檢測線
ML‧‧‧主檢測配線
ML1 、ML2 、...MLm ‧‧‧主檢測配線
S‧‧‧副檢測線
S1 L‧‧‧左側副檢測線
S1 R‧‧‧右側副檢測線
S2 L‧‧‧左側副檢測線
S2 R‧‧‧右側副檢測線
Sj L‧‧‧左側副檢測線
Sj R‧‧‧右側副檢測線
Sj+1 L‧‧‧左側副檢測線
Sj+1 R‧‧‧右側副檢測線
Sj+2 L‧‧‧左側副檢測線
Sj+2 R‧‧‧右側副檢測線
Sj-1 L‧‧‧左側副檢測線
Sj-1 R‧‧‧右側副檢測線
Sm L‧‧‧左側副檢測線
Sm R‧‧‧右側副檢測線
SLA‧‧‧左側奇副檢測配線
SLB‧‧‧右側奇副檢測配線
SLC‧‧‧左側偶副檢測配線
SLD‧‧‧右側偶副檢測配線
圖1係本發明之實施形態之附觸控面板之顯示裝置之模式立體圖。
圖2係表示本發明之實施形態之附觸控面板之顯示裝置所具備之觸控面板基板之構成之模式俯視圖。
圖3係表示本發明之實施形態之觸控面板基板主要部分之構成之模式俯視圖。
圖4係表示本發明之實施形態之觸控面板基板主要部分之構成之模式俯視圖。
圖5係表示本發明之實施形態之觸控位置檢測控制之各檢測線之電性狀態之圖。
圖6係表示本發明之實施形態之面板觸控位置檢測控制方法之流程圖。
圖7係表示先前技術之附觸控面板之顯示裝置所具備之觸控面板基板之構成之模式俯視圖。
圖8係表示先前技術之觸控面板基板主要部分之構成之模式俯視圖。
以下，基於圖式，具體且詳細地說明本發明之實施形態。再者，於用以說明實施形態之所有圖中，對具有相同功能之構件添附相同符號，而省略其重複之說明。又，以下所示之圖僅為說明實施形態之實施例者，圖之大小與本實施例記載之比例尺未必一致。
圖1係本發明之實施形態之附觸控面板之顯示裝置1之模式立體圖。如圖所示般，附觸控面板之液晶顯示裝置1包含上框2、下框3、及由上框2及下框3夾持固定之附觸控面板之液晶顯示面板4。
附觸控面板之液晶顯示面板4為例如IPS(In-Plane Switching，橫向電場效應)方式之液晶顯示面板，且附觸控面板之液晶顯示面板4具備背光源、TFT(thin film transistor，薄膜電晶體)基板、彩色濾光片基板、及由TFT基板與彩色濾光片基板夾持之液晶層。該實施形態之附觸控面板之液晶顯示面板4係於TFT基板之表面具備觸控面板基板10(未圖示)。即，該顯示裝置為具備內嵌型觸控面板之顯示裝置，且該觸控面板使用投射型靜電電容方式。
圖2係表示該實施形態之附觸控面板之顯示裝置1所具備之觸控面板基板10之構成之模式俯視圖。於觸控面板基板10之背面側(TFT基板側)，具備於橫向(第1方向)延伸且沿與該橫向交叉之縱向(第2方向)排列之複數條掃描線H(掃描電極)，於觸控面板基板10之正面側(彩色濾光片基板側)，具備於縱向(第2方向)延伸且沿橫向(第1方向)排列之複數條檢測線(檢測電極)。再者，第2方向較理想的是與第1方向正交。又，複數條檢測線雖較理想的是較複數條掃描線相對於進行觸控動作之面板表面更近地配置，但並不限定於此。
在附觸控面板之顯示裝置1中，於觸控面板基板10之外部，具備觸控面板驅動IC11(驅動電路)，觸控面板驅動IC11經由對應之複數條檢測配線與複數條檢測線連接，且經由對應之複數條掃描配線HL與複數條掃描線H連接。觸控面板驅動IC11驅動複數條掃描線及複數條 檢測線，而檢測面板觸控。複數條掃描線與複數條檢測線平面性地重合(重疊)，進而，於觸控面板基板10配置複數條掃描線及複數條檢測線之區域亦與附觸控面板之液晶顯示面板4之有效顯示區域12(顯示區域)平面性地重合(重疊)。再者，於圖中，分別將複數條掃描線H表示為H1 、H2 、...Hn 、Hn+1 ，將複數條掃描配線HL表示為HL1 、HL2 、...HLn 、HLn+1 。複數條掃描線由於配置於觸控面板基板10之背面側，故可兼用作設置於TFT基板之像素電路之共用電極線(共用線)。
複數條檢測線包含複數條主檢測線M與複數條副檢測線S。複數條主檢測線M以特定之間距(間隔)沿橫向排列，於圖中，自左側起依序表示為主檢測線M1 、M2 、...Mm 。一般而言，以Mj 表示自左側起第j條之主檢測線M。與各主檢測線Mj 之兩側各者相鄰地配置有左側副檢測線Sj L及右側副檢測線Sj R。將第奇數條(j為奇數)主檢測線Mj 作為奇主檢測線(第1主檢測線)，將第偶數條(j為偶數)主檢測線Mj 作為偶主檢測線(第2主檢測線)。將配置於奇主檢測線之左側(一側)之副檢測線作為左側奇副檢測線(第1一側副檢測線)，將配置於奇主檢測線之右側(另一側)之副檢測線作為右側奇副檢測線(第1另一側副檢測線)，同樣地，將配置於偶主檢測線之左側之副檢測線作為左側偶副檢測線(第2一側副檢測線)，將配置於偶主檢測線之右側之副檢測線作為右側偶副檢測線(第2另一側副檢測線)。即，偶主檢測線分別配置於相鄰之奇主檢測線之間，奇主檢測線及偶主檢測線沿橫向相互重複排列。j為奇數時，左側奇副檢測線(左側副檢測線Sj L)配置於奇主檢測線(主檢測線Mj )和與奇主檢測線之左側相鄰之偶主檢測線(主檢測線Mj-1 )之間，且較相鄰之偶主檢測線(主檢測線Mj-1 )更近地配置於奇主檢測線(主檢測線Mj )之左側。右側奇副檢測線(右側副檢測線Sj R)配置於奇主檢測線(主檢測線Mj )和與奇主檢測線(主檢測線Mj )之右側相鄰 之偶主檢測線(主檢測線Mj+1 )之間，且較相鄰之偶主檢測線(主檢測線Mj+1 )更近地配置於奇主檢測線(主檢測線Mj )之右側。同樣地，j為偶數時，左側偶副檢測線(左側副檢測線Sj L)配置於偶主檢測線(主檢測線Mj )和與偶主檢測線(主檢測線Mj )之左側相鄰之奇主檢測線(主檢測線Mj-1 )之間，右側偶副檢測線(右側副檢測線Sj R)配置於偶主檢測線(主檢測線Mj )和與偶主檢測線(主檢測線Mj )之右側相鄰之偶主檢測線(主檢測線Mj+1 )之間。又，配置於相鄰之主檢測線Mj-1 、Mj 之間之右側副檢測線Sj-1 R與左側副檢測線Sj L較理想的是配置為均等地內分主檢測線Mj-1 、Mj 之間。即，左側奇副檢測線、奇主檢測線、右側奇檢測線、左側偶副檢測線、偶主檢測線、及右側偶檢測線較理想的是自左側向右側沿橫向依序重複排列配置，且相鄰之檢測線之間隔全部相等。再者，所謂相鄰之檢測線之間隔係指相鄰之檢測線各自之中心線之間之距離。
連接複數條檢測線與觸控面板驅動IC11之複數條檢測配線包含連接於主檢測線M之主檢測配線ML及連接於副檢測線S之副檢測配線。於圖中，將分別連接於複數條主檢測線M1 、M2 、...Mm 之複數條主檢測配線ML表示為ML1 、ML2 、...MLm 。複數條左側奇副檢測線相互電性連接，同樣地，複數條右側奇副檢測線相互連接，複數條左側偶副檢測線相互連接，複數條右側偶副檢測線相互連接。將複數條副檢測配線中連接於複數條左側奇副檢測線之副檢測配線作為左側奇副檢測配線SLA，將連接於複數條右側奇副檢測線之副檢測配線作為右側奇副檢測配線SLB，將連接於複數條左側偶副檢測線之副檢測配線作為左側偶副檢測配線SLC，將連接於複數條右側偶副檢測線之副檢測配線作為右側偶副檢測配線SLD。再者，於圖2中，雖為簡化說明而進行了省略，但實際上，於配置於觸控面板基板10之主檢測線及副檢測線之間分別配置有複數個虛設電極DE。虛設電極DE之詳情於下文敍 述。
本發明之該實施形態之主要特徵在於，於主檢測線之兩側分別配置左側副檢測線及右側副檢測線，並相互連接配置於奇偶各自之主檢測線之兩側各者之副檢測線。藉由相互連接複數條左側奇副檢測線，可經由配置於觸控面板基板10之外部之觸控面板驅動IC11(驅動電路)與1條左側奇副檢測配線SLA，而連接複數條左側奇副檢測線。針對其他副檢測線亦相同。藉由該構成，可既抑制配線增加，亦實現檢測解析度之提高。
圖3係表示該實施形態之觸控面板基板10主要部分之構成之模式俯視圖。如圖所示，複數條主檢測線Mj 以特定之間距於橫向排列，此處，特定之間距為5.0mm。於主檢測線Mj 之兩側，分別配置有左側副檢測線Sj L及右側副檢測線Sj R。圖表示主檢測線Mj 為偶主檢測線(j為偶數)之情形。即，將左側奇副檢測配線SLA與複數條左側奇副檢測線(左側副檢測線...、Sj-1 L、Sj+1 L、...)相互連接。同樣地，分別將右側奇副檢測配線SLB與複數條右側奇副檢測線(右側副檢測線...、Sj-1 R、Sj+1 R、...)連接，將左側偶副檢測配線SLC與複數條左側偶副檢測線(左側副檢測線...、Sj L、Sj+2 L、...)連接，將右側偶副檢測配線SLD與複數條右側偶副檢測線(右側副檢測線...、Sj R、Sj+2 R、...)連接。又，如圖所示，複數條掃描線於縱向排列，於圖中，示出2條掃描線Hi 、Hi+1 。利用複數條主檢測線而進行觸控位置之1次檢索，例如，檢測出觸控位置為第j條主檢測線Mj 之附近。使用左側偶副檢測配線SLC及右側偶副檢測配線SLD而進行觸控位置之2次檢索，根據其結果，可判定觸控位置位於圖之點(1)~(3)之何者。以圖中所示之點(1)為中心之圓表示先前之檢測解析度。又，於觸控位置之1次檢索中，亦有判定為觸控位置位於第j-1條主檢測線Mj-1 及第j條主檢測線Mj 之中間即點(4)之情形。與先前之檢測解析度相比較，僅設置4條引 出至觸控面板基板10之外部之副檢測配線，而實現更詳細之位置檢測。
圖4係表示該實施形態之觸控面板基板10主要部分之構成之模式俯視圖。如上所述，為簡化說明，於圖2及圖3中省略了虛設電極DE，但實際上，於相鄰之主檢測線及副檢測線之間配置有排列成1行之複數個矩形狀之虛設電極DE，複數個虛設電極DE成為未與其他物體電性連接之浮動(floating)狀態。相鄰之主檢測線之間距為5.0mm，主檢測線之線寬及副檢測線之線寬均為約1mm(嚴密而言，略小於1mm)。又，虛設電極DE呈矩形狀，此處，為約1mm見方之正方形狀。再者，圖8係表示先前技術之觸控面板基板主要部分之構成之模式俯視圖，於相鄰之檢測線之間，配置有排列成5行之複數個正方形狀之虛設電極DE。為了進行比較，將對應於配置圖4所示之該實施形態之4條副檢測線(Sj-1 L、Sj-1 R、Sj L、Sj R)之區域的虛設電極DE分別表示為DE1、DE2、DE3、DE4。
於使用靜電電容方式之觸控面板中，利用掃描線(掃描電極)與檢測線(檢測電極)之間產生之電容於面板觸控時與面板非觸控時不同之情況而檢測面板之觸控位置。對掃描線施加脈衝狀之電壓信號，使存在於掃描線與檢測線之間之電容中產生自掃描線向檢測線延伸之電場(電力線)。於掃描線與檢測線平面性地重合之區域，電場自掃描線向檢測線於觸控面板基板內部延伸。又，於相鄰之檢測線之間存在成為間隙之區域，貫穿該區域之電場(邊緣電場)自掃描線貫穿該區域經由觸控面板基板之外部而到達檢測線。由於手指具有導電性，若以手指觸控面板，則貫穿該區域之電場變化而到達手指，故電容變化。起因於該區域之電容為邊緣電容。
於先前技術之觸控面板基板之情形時，如圖8所示般，於相鄰之檢測線之間存在成為間隙之區域。該區域雖為確保觸控面板之檢測感 度所需者，但因該區域導致檢測線之電極圖案被人眼所辨識，而作為顯示裝置並不理想。為抑制該辨識，而配置有複數個虛設電極DE。再者，虛設電極DE係以不遮蔽邊緣電場之方式成為浮動狀態。
圖5係表示該實施形態之觸控位置檢測控制之各檢測線之電性狀態之圖。在該實施形態中，觸控面板驅動IC11使用主檢測線進行1次檢索(state(狀態)1)，使用副檢測線進行2次檢索(state2、state3)，藉此而判定面板觸控位置。於1次檢索(state1)時，觸控面板驅動IC11使用複數條主檢測線全體而進行檢測，其時，觸控面板驅動IC11將複數條副檢測線全部以不電性遮蔽邊緣電場之方式，設為高阻抗(Hi-Z)狀態。即，將未進行檢測動作之檢測線設為Hi-Z狀態。再者，於圖5中，主檢測線Mj 之電性狀態與供主檢測線Mj 連接之主檢測配線相同，表示為ML(M)。又，副檢測線之狀態與供副檢測線連接之副檢測配線相同，左側奇副檢測線、右側奇副檢測線、左側偶副檢測線、及右側偶副檢測線各自之電性狀態分別表示為左側奇副檢測配線SLA、右側奇副檢測配線SLB、左側偶副檢測配線SLC、及右側偶副檢測配線SLD。此處，所謂Hi-Z狀態係指驅動IC11側與各檢測線暫時電性分離之阻抗較高之狀態，較理想的是成為數十MΩ以上。於觸控面板驅動IC11進行之2次檢索中之使用配置於奇主檢測線之兩側之奇副檢測線之檢索「state2」時，觸控面板驅動IC11將複數條主檢測線及複數條偶副檢測線設為Hi-Z狀態。同樣地，於2次檢索中之使用配置於偶主檢測線之兩側之偶副檢測線之檢索「state3」時，觸控面板驅動IC11將複數條主檢測線及複數條奇副檢測線設為Hi-Z狀態。再者，如上所述，虛設電極DE維持為浮動狀態。
圖6係表示該實施形態之面板觸控位置檢測控制方法之流程圖。此處，表示如圖3所示般主檢測線Mj 為偶主檢測線(j為偶數)之情形。首先，面板觸控位置係由觸控面板驅動IC11使用主檢測線進行1次檢 索(state1)。觸控位置存在於複數條主檢測線中電容變化最大者之附近。於圖6中，表示電容變化最大者為主檢測線Mj-1 、Mj 之任一者之情形。於1次檢索(state1)中，觸控面板驅動IC11對複數條掃描線依序施加驅動脈衝，並檢測流通於主檢測線中之電流，藉此而判定電容變化最大者。於主檢測線Mj 之電容變化與主檢測線Mj-1 之電容變化相等之情形(Mj-1 =Mj )時，觸控面板驅動IC11判定面板觸控位置位於點(4)。再者，即便於該情形時，觸控面板驅動IC11亦可進而進行2次檢索。又，所謂主檢測線Mj 之電容變化與主檢測線Mj-1 之電容變化相等，嚴密而言係指主檢測線Mj 之電容變化與主檢測線Mj-1 之電容變化之差為特定之範圍內。於主檢測線Mj 之電容變化大於主檢測線Mj-1 之電容變化之情形(Mj-1 <Mj )時，認為面板觸控位置與其他主檢測線相比較，最接近主檢測線Mj 。於該情形時，觸控面板驅動IC11進行使用偶副檢測線之檢索state3作為2次檢索。於左側偶副檢測配線SLC之電容變化與右側偶副檢測配線SLD之電容變化相等之情形(SLC=SLD)時，觸控面板驅動IC11判定面板觸控位置位於點(1)。同樣地，觸控面板驅動IC11分別於左側偶副檢測配線SLC之電容變化大於右側偶副檢測配線SLD之電容變化之情形(SLC>SLD)時，判定面板觸控位置位於點(2)，於左側偶副檢測配線SLC之電容變化小於右側偶副檢測配線SLD之電容變化之情形(SLC<SLD)時，判定面板觸控位置位於點(3)。又，在1次檢索(state1)中，於主檢測線Mj-1 之電容變化大於主檢測線Mj 之電容變化之情形(Mj-1 >Mj )時，觸控面板驅動IC11進行使用奇副檢測線之檢索state2作為2次檢索，且根據左側偶副檢測配線SLC之電容變化與右側偶副檢測配線SLD之電容變化之大小關係，觸控面板驅動IC11判定面板觸控位置。表示圖6所示之面板觸控位置檢測控制方法之流程圖雖表示了面板觸控位置之1次檢測之控制，但藉由將其週期性地重複，可實現面板觸控之動態檢測。再者，所謂主檢測線 Mj 之電容變化與主檢測線Mj-1 之電容變化中之一者大於另一者，嚴密而言係指一者大於另一者，且其差大於特定之範圍。
在圖8所示之先前技術之觸控面板基板中，檢測解析度為作為檢測線之間距之5.0mm，可實現利用手指之面板觸控之檢測。然而，於以觸控筆等描畫較細之圖形、線之情形時，需要更高之檢測解析度，而於圖8所示之先前技術之觸控面板基板中，利用觸控筆之與面板之接觸面積較小之情形時之面板觸控之詳細之位置檢測較為困難。與此相對，於圖4所示之該實施形態之觸控面板基板10中，僅追加4條向外部引出之檢測配線，便可實現利用觸控筆之面板觸控之位置檢測。尤其，於該實施形態中，最適合於外形限制較多之智慧型手機用等之顯示裝置。又，於檢測時，將不進行檢測動作之檢測配線設為Hi-Z狀態，藉此可既維持先前之檢測感度，亦提高檢測解析度。又，無需為進一步提高檢測解析度而於先前所需之複雜之軟體處理，故可減小系統規模。進行面板觸控之裝置亦只要具有導電性即可，無需內置特殊功能之專用觸控筆等，而零件構成亦與先前之使用投影型靜電電容方式之面板觸控基板相同。
以上，已對該實施形態之附觸控面板之顯示裝置1予以說明。在該實施形態之觸控面板基板中，於主檢測線之兩側分別設置有左側副檢測線與右側副檢測線。即，雖於相鄰之2條主檢測線Mj-1 、Mj 之間，配置有作為主檢測線Mj-1 之副檢測線之右側副檢測線Sj-1 R與作為主檢測線Mj 之副檢測線之左側副檢測線Sj L，但當然並不限定於此。
例如，亦可於相鄰之2條主檢測線之間僅配置1條副檢測線。於該情形時，在j為奇數之情形時，配置於奇主檢測線(主檢測線Mj 、第1主檢測線)之左側之副檢測線為左側奇副檢測線(左側副檢測線Sj L、第1一側副檢測線)，配置於右側之副檢測線為右側奇副檢測線(右側副檢測線Sj R、第1另一側副檢測線)。該副檢測線較理想的是配置為 均等地內分分別配置於兩側之2條主檢測線，於該情形時，各副檢測線包含2條主檢測線之中心而配置。在面板觸控位置檢測中，首先，觸控面板驅動IC11使用主檢測線進行1次檢索。此處，作為第1情形，設為檢測出面板觸控位置為奇主檢測線(主檢測線Mj )之附近。其次，觸控面板驅動IC11進行使用副檢測線之檢索state2作為2次檢索。於左側奇副檢測配線SLA之電容變化與右側奇副檢測配線SLB之電容變化相等之情形(SLA=SLB)時，觸控面板驅動IC11判定面板觸控位置位於主檢測線Mj 之中心附近，於左側奇副檢測配線SLA之電容變化大於右側奇副檢測配線SLB之電容變化之情形(SLA>SLB)時，觸控面板驅動IC11判定面板觸控位置位於主檢測線Mj 之左側，於左側奇副檢測配線SLA之電容變化小於右側奇副檢測配線SLB之電容變化之情形(SLA<SLB)時，觸控面板驅動IC11判定面板觸控位置位於主檢測線Mj 之右側。與此相對，作為第2情形，利用1次檢索，檢測出面板觸控位置為第j-1條偶主檢測線(主檢測線Mj-1 )之附近。觸控面板驅動IC11係與第1情形同樣地，使用副檢測線進行檢索state2作為2次檢索。於左側奇副檢測配線SLA之電容變化與右側奇副檢測配線SLB之電容變化相等之情形(SLA=SLB)時，觸控面板驅動IC11判定面板觸控位置位於主檢測線Mj-1 之中心附近，於左側奇副檢測配線SLA之電容變化大於右側奇副檢測配線SLB之電容變化之情形(SLA>SLB)時，觸控面板驅動IC11判定面板觸控位置位於主檢測線Mj-1 之右側，於左側奇副檢測配線SLA之電容變化小於右側奇副檢測配線SLB之電容變化之情形(SLA<SLB)時，觸控面板驅動IC11判定面板觸控位置位於主檢測線Mj-1 之左側。又，作為第3情形，在1次檢索中，於主檢測線Mj 之電容變化與主檢測線Mj-1 之電容變化相等之情形(Mj-1 =Mj )時，觸控面板驅動IC11判定面板觸控位置位於主檢測線Mj-1 與主檢測線Mj 之中央附近。在具備於相鄰之2條主檢測線之間僅配置1條副檢測線之觸控面 板基板之顯示裝置中，與圖4所示之上述實施形態之附觸控面板之顯示裝置1相比較，能夠以更簡便之控制方法來檢測面板觸控位置，可於相鄰之主檢測線與副檢測線之間設置更寬之間隙，且可確保檢測感度。
又，在上述實施形態中，雖對各主檢測線設置1組(2條)副檢測線，但亦可設置2組以上(4條以上)之副檢測線。例如，對各主檢測線設置2組(內側組與外側組)副檢測線之情形時，雖於相鄰之2條主檢測線之間設置總計4條副檢測線，但較理想的是將4條副檢測線配置為均等地內分相鄰之2條主檢測線之間。在面板觸控位置檢測中，首先，觸控面板驅動IC11使用主檢測線進行1次檢索，例如，檢測出面板觸控位置為第j條主檢測線Mj 之附近。其次，觸控面板驅動IC11使用副檢測線進行2次檢索，在2次檢索中，例如，只要使用內側組之左側副檢測線及右側組副檢測線進行檢索，使用外側組之左側副檢測線及右側副檢測線進行檢索即可。在具備對各主檢測線配置2組副檢測線之觸控面板基板之顯示裝置中，與圖4所示之上述實施形態之附觸控面板之顯示裝置1相比較，可實現檢測解析度之進一步之提高。
無論為何種情形，均較理想的是觸控面板驅動IC於使用主檢測線進行面板觸控之1次檢索中，將不進行檢測動作之副檢測線設為高阻抗狀態。又，較理想的是在使用副檢測線檢測面板觸控之2次檢索中，將主檢測線與檢測中未使用之副檢測線設為高阻抗狀態。又，在上述實施形態之檢索state2中，雖使用左側奇副檢測線及右側奇副檢測線兩者進行檢測，但並不限定於此，亦可僅使用其中任一者，依序進行檢索。即便於該情形時，在檢測面板觸控之情形時，亦較理想的是觸控面板驅動IC將主檢測線與檢測中未使用之副檢測線設為高阻抗狀態。
本發明雖最適合於附內嵌型觸控面板之顯示裝置，但並不限定 於內嵌型，亦可應用於附外嵌型等其他內置型觸控面板之顯示裝置，進而，亦可應用於附外置型觸控面板之顯示裝置。又，本發明之顯示裝置雖最適合於IPS方式之液晶顯示裝置，但並不限定於此，亦可為有機EL(Electroluminescence，電致發光)顯示裝置等其他顯示裝置。
雖然已描述當前被視為本發明之特定實施例之內容，但是應瞭解可對其作出多種修改，且隨附申請專利範圍意在包含本發明之真實精神及範疇內之所有此等修改。
10‧‧‧觸控面板基板
11‧‧‧觸控面板驅動IC
12‧‧‧有效顯示區域
H1 ‧‧‧掃描線
H2 ‧‧‧掃描線
H3 ‧‧‧掃描線
Hn ‧‧‧掃描線
Hn+1 ‧‧‧掃描線
HL1 ‧‧‧掃描配線
HL2 ‧‧‧掃描配線
HL3 ‧‧‧掃描配線
HLn ‧‧‧掃描配線
HLn+1 ‧‧‧掃描配線
M1 ‧‧‧主檢測線
M2 ‧‧‧主檢測線
Mm ‧‧‧主檢測線
ML1 ‧‧‧主檢測配線
ML2 ‧‧‧主檢測配線
MLm ‧‧‧主檢測配線
S1 L‧‧‧左側副檢測線
S1 R‧‧‧右側副檢測線
S2 L‧‧‧左側副檢測線
S2 R‧‧‧右側副檢測線
Sm L‧‧‧左側副檢測線
Sm R‧‧‧右側副檢測線
SLA‧‧‧左側奇副檢測配線
SLB‧‧‧右側奇副檢測配線
SLC‧‧‧左側偶副檢測配線
SLD‧‧‧右側偶副檢測配線

Claims (10)

  1. 一種顯示裝置，其特徵在於：其係包括複數條掃描線及複數條檢測線之附觸控面板之顯示裝置，上述複數條掃描線係與顯示區域平面性地重合，於第1方向延伸，並且沿與上述第1方向交叉之第2方向排列，上述複數條檢測線係與上述顯示區域平面性地重合且與上述複數條掃描線立體性地交叉，於上述第2方向延伸，並且沿上述第1方向排列；且上述複數條檢測線包含複數條主檢測線及複數條副檢測線，上述複數條主檢測線包含複數條第1主檢測線及複數條第2主檢測線，上述複數條副檢測線包含複數條第1一側副檢測線及複數條第1另一側副檢測線；各上述第2主檢測線分別配置於相鄰之上述第1主檢測線之間；上述複數條第1一側副檢測線相互連接；各上述第1一側副檢測線分別配置於各上述第1主檢測線和與該第1主檢測線之一側相鄰之上述第2主檢測線之間；上述複數條第1另一側副檢測線相互連接；且各上述第1另一側副檢測線分別配置於各上述第1主檢測線和與該第1主檢測線之另一側相鄰之上述第2主檢測線之間。
  2. 如請求項1之顯示裝置，其中上述複數條副檢測線進而包含複數條第2一側副檢測線及複數條第2另一側副檢測線；上述複數條第2一側副檢測線相互連接； 各上述第2一側副檢測線分別配置於各上述第2主檢測線和與該第2主檢測線之一側相鄰之上述第1另一側副檢測線之間；上述複數條第2另一側副檢測線相互連接；且各上述第2另一側副檢測線分別配置於各上述第2主檢測線和與該第2主檢測線之另一側相鄰之上述第1一側副檢測線之間。
  3. 如請求項1或2之顯示裝置，其係進而包括驅動電路，該驅動電路係與上述複數條掃描線及上述複數條檢測線連接，驅動上述複數條掃描線及上述複數條檢測線，而檢測面板觸控；且上述驅動電路在使用上述複數條第1主檢測線及上述複數條第2主檢測線而檢測面板觸控之情形時，將上述複數條副檢測線設為高阻抗狀態。
  4. 如請求項1之顯示裝置，其係進而包括驅動電路，該驅動電路係與上述複數條掃描線及上述複數條檢測線連接，驅動上述複數條掃描線及上述複數條檢測線，而檢測面板觸控；且上述驅動電路在使用上述複數條第1一側副檢測線及/或上述複數條第1另一側副檢測線而檢測面板觸控之情形時，將上述複數條主檢測線與檢測中未使用之上述複數條副檢測線設為高阻抗狀態。
  5. 如請求項2之顯示裝置，其係進而包括驅動電路，該驅動電路係與上述複數條掃描線及上述複數條檢測線連接，驅動上述複數條掃描線及上述複數條檢測線，而檢測面板觸控；且上述驅動電路在使用上述複數條第2一側副檢測線及/或上述複數條第2另一側副檢測線而檢測面板觸控之情形時，將上述複數 條主檢測線與檢測中未使用之上述複數條副檢測線設為高阻抗狀態。
  6. 一種顯示裝置，其特徵在於：其係包括第1基板及第2基板者，上述第1基板包含複數個共用電極，該複數個共用電極於第1方向延伸，並且沿與上述第1方向交叉之第2方向排列，上述第2基板包含複數個檢測電極，該複數個檢測電極與上述複數個共用電極立體性地交叉，於上述第2方向延伸，並且沿上述第1方向排列；且上述複數個檢測電極包含複數個第1主檢測電極、複數個第2主檢測電極、複數個第1左側副檢測電極、複數個第1右側副檢測電極、複數個第2左側副檢測電極、及複數個第2右側副檢測電極；各上述第1左側副檢測電極形成於對應之上述第1主檢測電極之左側；各上述第1右側副檢測電極形成於對應之上述第1主檢測電極之右側；各上述第2左側副檢測電極形成於對應之上述第2主檢測電極之左側；各上述第2右側副檢測電極形成於對應之上述第2主檢測電極之右側；上述複數個檢測電極係依序重複配置上述第1左側副檢測電極、上述第1主檢測電極、上述第1右側副檢測電極、上述第2左側副檢測電極、上述第2主檢測電極、上述第2右側副檢測電極；且上述複數個第1左側副檢測電極相互連接；上述複數個第1右側副檢測電極相互連接； 上述複數個第2左側副檢測電極相互連接；上述複數個第2右側副檢測電極相互連接。
  7. 如請求項6之顯示裝置，其進而包括：驅動電路，其連接於上述複數個共用電極及上述複數個檢測電極；第1副檢測配線，其連接上述驅動電路與上述複數個第1左側副檢測電極；第2副檢測配線，其連接上述驅動電路與上述複數個第1右側副檢測電極；第3副檢測配線，其連接上述驅動電路與上述複數個第2左側副檢測電極；及第4副檢測配線，其連接上述驅動電路與上述複數個第2右側副檢測電極。
  8. 如請求項7之顯示裝置，其中上述驅動電路包括：第1輸入端子，其與上述第1副檢測配線連接，且為高阻抗狀態；及第2輸入端子，其與上述第2副檢測配線連接，且為高阻抗狀態。
  9. 如請求項7之顯示裝置，其中上述驅動電路包括：與上述第1副檢測配線連接之第1輸入端子、與上述第2副檢測配線連接之第2輸入端子、與上述第3副檢測配線連接之第3輸入端子、及與上述第4副檢測配線連接之第4輸入端子；且於第1狀態下，上述第1輸入端子與上述第2輸入端子為高阻抗狀態；於第2狀態下，上述第3輸入端子與上述第4輸入端子為高阻抗狀態。
  10. 如請求項7之顯示裝置，其係 進而包括形成於相鄰之上述第1主檢測電極與上述第2主檢測電極之間之浮動電極。
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