TWI500903B - 管壁厚度量測模組及應用其之管壁厚度量測方法 - Google Patents

Description

管壁厚度量測模組及應用其之管壁厚度量測方法

本發明是有關於一種管壁厚度量測模組及應用其之管壁厚度量測方法，且特別是有關於一種可量測導電管之壁厚的管壁厚度量測模組及應用其之管壁厚度量測方法。

管件可傳輸流體，其可應用於核能、冷凍空調、交通工具等領域。當管件內部傳輸高溫、高壓或具腐蝕性的流體時，管件的耐久性受到考驗。一般而言，都是發生洩漏後才會發現管件產生薄化或破損，然而，因為洩漏已經發生，因此無可避免地產生所對應的危險及維修成本。

本發明係有關於一種管壁厚度量測模組及應用其之管壁厚度量測方法，可監控管件厚度變化。

根據本發明之一實施例，提出一種管壁厚度量測模組。管壁厚度量測模組用以量測一導電管的局部壁厚。管壁厚度量測模組包括一量測單元組、一電源供應器、一電壓量測單元及一壁厚分析單元。量測單元組包括一第一接點、一第二接點、一 第三接點及一第四接點。電源供應器用以供應一電流給量測單元組，其中電流從第一接點、第二接點、第三接點與第四接點之一者輸入，且從第一接點、第二接點、第三接點與第四接點之另一者輸出。電壓量測單元用以量測第一接點、第二接點、第三接點與第四接點之其它二者之間的一第一電壓差。壁厚分析單元依據第一電壓差計算導電管的一局部壁厚值。

根據本發明之另一實施例，提出一種管壁厚度量測方法。管壁厚度量測方法包括以下步驟。提供一管壁厚度量測模組於導電管，其中管壁厚度量測模組包括一量測單元組，量測單元組包括一第一接點、一第二接點、一第三接點及一第四接點；供應一電流給量測單元組，其中電流從第一接點、第二接點、第三接點與第四接點之一者輸入，並從第一接點、第二接點、第三接點與第四接點之另一者輸出；量測第一接點、第二接點、第三接點與第四接點之其它二者之間的一第一電壓差；以及，依據第一電壓差計算導電管的一局部壁厚值。

。為了對本發明之上述及其他方面有更佳的瞭解，下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：

10‧‧‧導電管

100、200‧‧‧管壁厚度量測模組

110、110’、110”‧‧‧量測單元組

111‧‧‧第一導線

111a‧‧‧第一接點

112‧‧‧第二導線

112a‧‧‧第二接點

113‧‧‧第三導線

113a‧‧‧第三接點

114‧‧‧第四導線

114a‧‧‧第四接點

120‧‧‧電源供應器

130‧‧‧電壓量測單元

140‧‧‧壁厚分析單元

150‧‧‧切換單元

160‧‧‧控制裝置

C1‧‧‧幾何中心

D1‧‧‧曲線

I‧‧‧電流

L1、L1’‧‧‧連線

P1、P1’‧‧‧位置點

S1‧‧‧周向路徑

S2‧‧‧軸向路徑

S110~S194‧‧‧步驟

t‧‧‧局部壁厚值

△V1‧‧‧第一電壓差

△V2‧‧‧第二電壓差

△Va‧‧‧平均電壓差

第1圖繪示依照本發明一實施例之管壁厚度量測方法流程圖。

第2圖繪示依照本發明一實施例之管壁厚度量測模組鋪設於 導電管的示意圖。

第3圖繪示從第2圖之第二接點輸入反向電流的示意圖。

第4圖繪示依照本發明一實施例之平均電壓差與管壁厚的關係圖。

第5圖繪示第2圖之量測單元組與導電管的局部剖視圖。

第6圖繪示依照本發明另一實施例之管壁厚度量測方法的示意圖。

第7圖繪示依照本發明另一實施例之管壁厚度量測方法的示意圖。

第8圖繪示依照本發明另一實施例之管壁厚度量測方法的示意圖。

第9圖繪示依照本發明另一實施例之管壁厚度量測方法流程圖。

第10A圖繪示依照本發明另一實施例之管壁厚度量測模組的示意圖。

第10B圖繪示從第10A圖之第二共點接點輸入反向電流的示意圖。

第1圖繪示依照本發明一實施例之管壁厚度量測方法流程圖。

步驟S110中，請同時參照第2圖，其繪示依照本發明一實施例之管壁厚度量測模組鋪設於導電管的示意圖。提供管 壁厚度量測模組100，管壁厚度量測模組100鋪設於導電管10之容易薄化處的外壁面上，如管件折彎處的外壁面上，以量測導電管10的局部壁厚，進而監測導電管10的壁厚變化。管壁厚度量測模組100包括數個量測單元組110、電源供應器120、電壓量測單元130、壁厚分析單元140、切換單元150及控制裝置160。

一實施例中，電壓量測單元130、壁厚分析單元140與切換單元150之任二者可整合成一韌體(firmware)或整合成一由半導體製程形成的積體電路。另一實施例中，電壓量測單元130、壁厚分析單元140與切換單元150之任二者可整合於控制裝置160中。控制裝置160電性連接量測單元組110、電源供應器120、電壓量測單元130、壁厚分析單元140與切換單元150，以統一控制此些單元。此外，控制裝置160可以是桌上型電腦、筆記型電腦、手機、伺服器或其它種類的電子裝置。

各量測單元組110包括第一導線111、第二導線112、第三導線113及第四導線114，其中第一導線111、第二導線112、第三導線113及第四導線114分別具有第一接點111a、第二接點112a、第三接點113a及第四接點114a。第一導線111、第二導線112、第三導線113及第四導線114分別以第一接點111a、第二接點112a、第三接點113a及第四接點114a連接於導電管10之外壁面上。本實施例中，第一接點111a、第二接點112a、第三接點113a與第四接點114a係分離設置，即第一接點111a、第二接點112a、第三接點113a與第四接點114a之任二者不直接 連接。

各量測單元組110的第一接點111a、第二接點112a、第三接點113a與第四接點114a可排列成陣列形(array)、矩陣形(matrix)，或沿一多邊形的轉角排列，其中多邊形例如是矩形、三角形或菱形。所有量測單元組110可排列成陣列形或矩陣形。只要可進行壁厚量測，本發明實施例不限定量測單元組110及/或其接點的排列形式。

步驟S120中，如第2圖所示，電源供應器120透過切換單元150供應電流I給第i個量測單元組110。切換單元150切換電流I從第一接點111a、第二接點112a、第三接點113a與第四接點114a之第j者輸入，且切換電流I從第一接點111a、第二接點112a、第三接點113a與第四接點114a之另一者輸出，其中i及j係大於1的正整數，其中初始值為1。以量測單元組110’舉例來說，電源供應器120供應電流I給量測單元組110’之第一接點111a，且切換電流I從第二接點112a輸出。

步驟S130中，電壓量測單元130量測第一接點111a、第二接點112a、第三接點113a與第四接點114a之其它二者之間的電壓差。以量測單元組110’舉例來說，電壓量測單元130透過切換單元150量測第三接點113a與第四接點114a之間的第一電壓差△V1。由於導線(第三導線113及第四導線114)之電阻係數與導電管10之電阻係數的差異，第一電壓差△V1相較於平均電壓差△Va產生一正偏差ε ，如下式(1)所示。

△V1=△Va+ε ..........................................................(1)

步驟S140中，如第3圖所示，其繪示從第2圖之第二接點輸入反向電流的示意圖。電源供應器120透過切換單元150供應電流I給第i個量測單元組110。切換單元150切換電流I從第一接點111a、第二接點112a、第三接點113a與第四接點114a之另一者輸入，且切換電流I從第一接點111a、第二接點112a、第三接點113a與第四接點114a之第j者輸出。舉例來說，切換單元150切換電流I從第二接點112a輸入，且切換電流I從第一接點111a輸出。

步驟S150中，電壓量測單元130量測第三接點113a與第四接點114a之間的第二電壓差△V2。由於導線(第三導線113及第四導線114)之電阻係數與導電管10之電阻係數的差異，使第二電壓差△V2相較於實際的平均電壓差△Va產生一負偏差ε ，如下式(2)所示。

△V2=△Va-ε ..........................................................(2)

步驟S160中，如下式(3)，電壓量測單元130計算第一電壓差△V1與第二電壓差△V2的一平均電壓差△Va，此平均電壓差△Va已排除偏差量ε 。進一步地說，由於上述步驟S140及S150之反向電流的設計，在平均第一電壓差△V1與第二電壓差△V2後，獲得更精準(相較第一電壓差△V1與第二電壓差△V2而言)的平均電壓差△Va，此平均電壓差△Va排除因為導線之電阻係數與導電管10之電阻係數的差異所導致的電壓誤差。

步驟S170中，如第4圖所示，其繪示依照本發明一實施例之平均電壓差與管壁厚的關係圖。曲線D1表示平均電壓差△Va與局部壁厚值t的關係。曲線D1可採用實驗或模擬方法取得，其可儲存於壁厚分析單元140。壁厚分析單元140依據第4圖之曲線D1去計算或查詢平均電壓差△Va所對應之導電管10的局部壁厚值t。由於平均電壓差△Va相較於第一電壓差△V1與第二電壓差△V2而言更為精準，因此依據平均電壓差△Va所計算或查詢的局部壁厚值t較為精確。另一實施例中，若以第一電壓差△V1或第二電壓差△V2所計算或查詢的局部壁厚值t在容許誤差範圍內，亦可在省略步驟S120及S130情況下，以第二電壓差△V2作為第4圖之平均電壓差去計算或查詢的局部壁厚值t；或者，可在省略步驟S140及S150情況下，以第一電壓差△V1作為第4圖之平均電壓差去計算或查詢的局部壁厚值t。

另一實施例中，步驟S160及S170亦可於步驟S190與S192之間執行。也就是說，可以待全部的接點都輸入電流並獲得對應的平均電壓差後，再進入步驟S192，對所有的平均電壓差進行壁厚分析。

由於本發明實施例之電流輸入、電流輸出及電壓差量測都侷限於小面積的量測單元組110內，因此只需要低量的直流電即可獲得精確度度及靈敏度高的局部壁厚值t，其中的低量電流例如是 介於1至3安培之間。由於所需電流量甚低，因此本發明實施例之管壁厚度量測模組100耗電量低，可節省能源。

當量測單元組110的二接點的間距愈小，則所需電流量愈少；反之則愈多。當導電管10之壁厚愈厚，則所需電流量愈少；反之則愈多。因此，可視量測單元組110的二接點的間距及/或導電管10之壁厚而定，上述低量電流亦可小於1安培或大於10安培。一實施例中，量測單元組110的二接點之間距可介於導電管10之壁厚的0.1倍至10倍之間，使所需電流量介於低耗電範圍內。

第5圖繪示第2圖之量測單元組110與導電管的局部剖視圖。上述局部壁厚值t可定義成平均電壓差△Va之二接點之連線上的任意位置點的壁厚。以量測單元組110’來說，局部壁厚值t可定義成第三接點113a與第四接點114a之連線L1上的任意位置點P1的壁厚，本實施例之位置點P1係以連線L1之中點為例說明。第一接點111a、第二接點112a、第三接點113a與第四接點114a定義一幾何形狀，如矩形。另一實施例中，上述局部壁厚值t可定義成第三接點113a、第四接點114a與該何形狀之幾何中心C1所圍成之區域內的任意位置點P1’的壁厚，本實施例之位置點P1’例如是幾何中心C1與位置點P1之連線L1’的中點。

步驟S180中，判斷是否各量測單元組110的各接點都已輸入電流。若是，則執行步驟S192；若否，則執行步驟S190。

步驟S190中，累加i及/或j的數值，並重複步驟 S120至S170。一實施例中，可以對同一量測單元組110(維持i值)的所有接點依序(j=j+1)輸入電流後，再對下一個量測單元組110(i=i+1)的所有接點依序(j=j+1)輸入電流I。另一實施例中，可對同一量測單元組110的至少一接點各別輸入電流I後，再對另一量測單元組110的至少一接點各別輸入電流I。就電流輸入路徑來說，可對導電管10的一周向路徑S1(繞導電管10之軸向的路徑)上的接點依序或不依序輸入電流I；或者，可對導電管10的一軸向路徑S2上的接點依序或不依序輸入電流I；或者，可對一掃瞄路徑上的接點依序或不依序輸入電流I，其中掃瞄路徑例如是同時沿周向路徑S1及軸向路徑S2延伸的路徑(即，投影於周向路徑S1及軸向路徑S2上的分量不等於0)，例如是S形曲線。只要可對各量測單元組110的所有接點都輸入電流I並獲得對應的平均電壓差即可，本發明實施例對電流I輸入接點的順序及/或路徑並不限定。

依據上述步驟S120至S170，當一個量測單元組110’的四個接點都輸入電流後，可獲得四個位置點P1(如第5圖所示)的局部壁厚值t。當各量測單元組110’的四個位置點P1的局部壁厚值t都取得後，可進入步驟S192。

步驟S192中，壁厚分析單元140判斷此些局部壁厚值t之任一者或一些是否小於安全壁厚值；若有，執行步驟S194，輸出一警告訊息；若否，則重複步驟S120~S192，繼續監測導電管10的壁厚變化。警告訊息可透過控制裝置160(第2圖)輸出。 例如，當警告訊息係一文字或色彩，控制裝置160可包含一顯示器，以顯示出警告訊息；或者，當警告訊息係一聲音，控制裝置160包含一聲音輸出器，以發出警告訊息。此外，壁厚分析單元140亦可將所有的局部壁厚值t描繪成一壁厚分佈圖，透過控制裝置160的顯示器顯示出該壁厚分佈圖，以便於監測。

第6圖繪示依照本發明另一實施例之管壁厚度量測方法的示意圖。本實施例中，切換單元150切換電流I從量測單元組110的第一接點111a輸入，並切換電流I從量測單元組110的第四接點114a輸出；在此設計下，電壓量測單元130可量測第二接點112a與第三接點113a之間的第一電壓差△V1及第二電壓差△V2，並據以計算平均電壓差△Va，壁厚分析單元140可依據第4圖的曲線D1去計算或查詢第二接點112a與第三接點113a之間的平均電壓差△Va所對應的局部壁厚值t(未繪示)。此局部壁厚值t可定義成第二接點112a與第三接點113a之連線L1的任一位置點P1的壁厚，本實施例之位置點P1係以連線L1之中點為例說明。

第7圖繪示依照本發明另一實施例之管壁厚度量測方法的示意圖。本實施例中，切換單元150切換電流I從量測單元組110的第一接點111a輸入，並切換電流I從第三接點113a輸出；在此設計下，電壓量測單元130可量測第二接點112a與第四接點114a之間的第一電壓差△V1及第二電壓差△V2，並據以可計算第二接點112a與第四接點114a之間的平均電壓差△Va。壁厚 分析單元140可依據第4圖的曲線D1去計算或查詢第二接點112a與第四接點114a之間的平均電壓差△Va所對應的局部壁厚值t(未繪示)。局部壁厚值t可定義成第二接點112a與第四接點114a之連線L1的任一位置點P1的壁厚，本實施例之位置點P1係以連線L1之中點為例說明。

第8圖繪示依照本發明另一實施例之管壁厚度量測方法的示意圖。本實施例中，鄰接之二量測單元組110之二接點係共點。例如，量測單元組110’的第三接點113a與量測單元組110”的第一接點111a共點成為一共點接點，且量測單元組110’的第四接點114a與量測單元組110”的第二接點112a共點成為一另一共點接點。當局部壁厚值t定義成二共點接點之連線上一位置點的壁厚時，則二共點接點之間的平均電壓差可以只量測一次。舉例來說，依據量測單元組110’的第三接點113a與第四接點114a之間的平均電壓差△Va所計算的局部壁厚值t與依據量測單元組110”的第一接點111a與第二接點112a之間的平均電壓差△Va所計算的局部壁厚值t都是對應同一位置點P1的壁厚，因此只要針對量測單元組110’的第三接點113a與第四接點114a或量測單元組110”的第一接點111a與第二接點112a量測一次平均電壓差△Va即可。如此，可減少輸入電流及量測電壓差的次數，因而可減少耗電及提升壁厚分析速度。

另一實施例中，當局部壁厚值t定義成二共點接點與幾何中心C1所圍成之區域內的任意位置點的壁厚時，則二共 點接點之間的平均電壓差需要量測二次。舉例來說，請再參照第8圖所示，依據量測單元組110’的第三接點113a與第四接點114a之間的平均電壓差△Va所計算的局部壁厚值t定義成位置點P1’的壁厚，而依據量測單元組110”的第一接點111a與第二接點112a之間的平均電壓差△Va所計算的局部壁厚值定義成位置點P1”的壁厚，由於位置點P1’及位置點P1”非同一位置點，因此量測單元組110’的第三接點113a與量測單元組110”之間的平均電壓差△Va，與量測單元組110”的第一接點111a與第二接點112a之間的平均電壓差△Va’需要個別量測。

第9圖繪示依照本發明另一實施例之管壁厚度量測方法流程圖。

步驟S110中，如第10A圖所示，其繪示依照本發明另一實施例之管壁厚度量測模組的示意圖。管壁厚度量測模組200鋪設於導電管10之容易薄化處的外壁面上，如折彎處的外壁面上，以量測導電管10的局部壁厚，進而監測導電管10的壁厚變化。管壁厚度量測模組200包括數個量測單元組110、電源供應器120、電壓量測單元130、壁厚分析單元140、切換單元150及控制裝置160。

本實施例中，各量測單元組110包括第一導線111、第二導線112、第三導線113及第四導線114，其中第一導線111、第二導線112、第三導線113及第四導線114分別具有第一接點111a、第二接點112a、第三接點113a及第四接點114a。與上述 實施例不同的是，本實施例之第一接點111a、第二接點112a、第三接點113a與第四接點114a之任二點共點，而第一接點111a、第二接點112a、第三接點113a與第四接點114a之另外二點共點。本實施例係以第一接點111a與第三接點113a形成一第一共點接點，而第二接點112a與第四接點114a形成一第二共點接點為例說明。

本實施例中，第一導線111與第三導線113構成一熱電耦(Thermocouple)，以量測第一共點接點(第一接點111a與第三接點113a)的溫度。第一導線111與第三導線113的熱膨脹係數不同，使第一導線111與第三導線113的輸出電壓差不同。透過此輸出電壓差可獲得導電管10於第一共點接點之處的溫度。

第一導線111與第三導線113的熱膨脹係數差異可藉由材料選用實現。進一地說，第一導線111與第三導線113之一者可作為正極，而另一者可作為負極；一實施例中，正極的材料係鐵，而負極的材料由銅與鎳組成，其中鎳的比例佔45%；或者，正極的材料由鎳與鉻組成，其中鉻的比例佔10%，而負極的材料由鎳、鋁、錳與矽組成，其中鋁的比例佔2%，錳的比例佔2%，而矽的比例佔1%；或者，正極的材料由鎳、鉻與矽組成，其中鉻的比例佔14%，矽的比例佔1.5%，而負極的材料由鎳、錳與矽組成，其中矽的比例佔4.5%，錳的比例佔0.1%；或者，正極的材料係銅，而負極的材料由銅與鎳組成，其中鎳的比例佔45%；或者，正極的材料由鎳與鉻組成，其中鉻的比例佔10%，而 負極的材料由銅與鎳組成，其中鎳的比例佔45%；或者，正極的材料由鉑與銠組成，其中銠的比例佔13%，而負極的材料係鉑；或者，正極的材料由鉑與銠組成，其中銠的比例佔10%，而負極的材料係鉑；或者，正極的材料由鉑與銠組成，其中銠的比例佔30%，而負極的材料由鉑與銠組成，其中銠的比例佔6%；或者，正極的材料由鎢與錸組成，其中錸的比例佔5%，而負極的材料由鎢與錸組成，其中銠的比例佔26%。然而，正極及負極的材料搭配不限於此，只要可以實現溫度量測的材料，都可作為本發明實施例之正極及負極的材料選用。

此外，第二導線112與第四導線114構成另一熱電耦，以量測第二共點接點(第二接點112a與第四接點114a)的溫度。第二導線112與第四導線114的材料搭配可相似於第一導線111與第三導線113，容此不再贅述。

步驟S120中，如第10A圖所示，電源供應器120透過切換單元150供應電流I給第i個量測單元組110。切換單元150切換電流I從第i個量測單元組110之第一共點接點與第二共點接點之一者輸入，且切換電流I從第i個量測單元組110之第一共點接點與第二共點接點的另一者輸出。以量測單元組110’為例說明，切換單元150切換電流I從量測單元組110’之第一共點接點(第一接點111a與第三接點113a)輸入，且切換電流I從量測單元組110’之第二共點接點(第二接點112a與第四接點114a)輸出。

步驟S130中，如第10A圖所示，電壓量測單元130透過切換單元150量測量測單元組110’之第一共點接點與第二共點接點之間的第一電壓差△V1。

步驟S140中，如第10B圖所示，其繪示從第10A圖之第二共點接點輸入反向電流的示意圖。電源供應器120透過切換單元150供應電流I給第i個量測單元組110。切換單元150切換電流I從第i個量測單元組110之第一共點接點與第二共點接點的該另一者輸入，且切換電流I從第i個量測單元組110之第一共點接點與第二共點接點的該者輸出。以量測單元組110’為例說明，切換單元150切換電流I從量測單元組110’之第二共點接點(第二接點112a與第四接點114a)輸入，且切換電流I從量測單元組110’之第一共點接點(第一接點111a與第三接點113a)輸出。

步驟S150中，如第10B圖所示，電壓量測單元130透過切換單元150量測量測單元組110’之第一共點接點與第二共點接點之間的第二電壓差△V2。

第9圖之步驟S160相似第1圖之步驟S160，容此不再贅述。

步驟S165中，當導電管10內部傳輸高溫、高壓或具腐蝕性的流體時，導致電壓量測單元130所量測到的平均電壓差△Va含有溫度變異。然而，透過本實施例之步驟S165，可消除或減少此溫度變異所導致的平均電壓差變異。

如下式(4)，電壓量測單元130依據導電管10的熱膨脹係數α 及導電管10的溫度修正平均電壓差△Va，以獲得修正後之平均電壓差△Va’。式(4)中，△Va(T)表示導電管10於溫度T(例如是外壁面的溫度)時所量測到的平均電壓差，T₀ 表示參考溫度，△Va’表示修正後的平均電壓差(排除溫度變異後的電壓差)，而α 表示導電管10的熱膨脹係數。熱膨脹係數α 可隨材料種類而不同，例如，以導電管10的材料為碳鋼而言，其在參考溫度T₀ 的熱膨脹係數α 為0.005℃^-1 。

步驟S170中，壁厚分析單元140以修正後之平均電壓差△Va’作為第4圖之的平均電壓差△Va，並依據第4圖之曲線D1去計算或查詢修正後之平均電壓差△Va’所對應的局部壁厚值t。

第9圖之步驟S180至S194相似上述第1圖之步驟S180至S194，容此不再贅述。

綜上所述，雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾。因此，本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

10‧‧‧導電管

100‧‧‧管壁厚度量測模組

110、110’‧‧‧量測單元組

111‧‧‧第一導線

111a‧‧‧第一接點

112‧‧‧第二導線

112a‧‧‧第二接點

113‧‧‧第三導線

113a‧‧‧第三接點

114‧‧‧第四導線

114a‧‧‧第四接點

120‧‧‧電源供應器

130‧‧‧電壓量測單元

140‧‧‧壁厚分析單元

150‧‧‧切換單元

160‧‧‧控制裝置

I‧‧‧電流

△V1‧‧‧第一電壓差

Claims (18)

1. 一種管壁厚度量測模組，用以量測一導電管的局部壁厚，該管壁厚度量測模組包括：一量測單元組，包括一第一接點、一第二接點、一第三接點及一第四接點；一電源供應器，用以供應一電流給該量測單元組，其中該電流從該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之一者輸入，且從該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之另一者輸出；一電壓量測單元，用以量測該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之其它二者之間的一第一電壓差；一壁厚分析單元；一切換單元，用以切換該電流從該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該另一者輸入，並切換該電流並從該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該者輸出；其中，該電壓量測單元更用以量測該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該其它二者之間的一第二電壓差，且用以計算該第一電壓差與該第二電壓差的一平均電壓差；該壁厚分析單元依據該平均電壓差計算該導電管的一局部壁厚值。
2. 如申請專利範圍第1項所述之管壁厚度量測模組，更包 括：一切換單元，用以切換該電流從該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該者輸入，並切換該電流從該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該另一者輸出。
3. 如申請專利範圍第1項所述之管壁厚度量測模組，其中該壁厚分析單元更依據該導電管的熱膨脹係數及該導電管的溫度修正該平均電壓差，且更依據修正後之該平均電壓差計算該導電管的該局部壁厚值。
4. 如申請專利範圍第1項所述之管壁厚度量測模組，其中該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點係分離設於該導電管的外壁面。
5. 如申請專利範圍第1項所述之管壁厚度量測模組，更包括：一第一導線，具有該第一接點；一第二導線，具有該第二接點；一第三導線，具有該第三接點；以及一第四導線，具有該第四接點；其中，該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點 之該者與該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該其它二者之一者係共點，而該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該另一者與該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該其它二者之另一者係共點。
6. 如申請專利範圍第1項所述之管壁厚度量測模組，其中該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點排列成一陣列形。
7. 如申請專利範圍第1項所述之管壁厚度量測模組，其中該壁厚分析單元定義該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該其它二者之連線的一位置點的管壁厚度為該局部壁厚值。
8. 如申請專利範圍第1項所述之管壁厚度量測模組，其中該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點構成一幾何形狀，該壁厚分析單元定義該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該其它二者與該幾何形狀的幾何中心所圍成區域的一位置點的管壁厚度為該局部壁厚值。
9. 如申請專利範圍第1項所述之管壁厚度量測模組，包括：複數個該量測單元組，其中該些量測單元組之一者的該第一 接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之二者與鄰接之該量測單元組之該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之二者係共點。
10. 一種管壁厚度量測方法，包括：提供一管壁厚度量測模組於該導電管，其中該管壁厚度量測模組包括一量測單元組，該量測單元組包括一第一接點、一第二接點、一第三接點及一第四接點；供應一電流給該量測單元組，其中該電流從該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之一者輸入，並從該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之另一者輸出；量測該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之其它二者之間的一第一電壓差；切換該電流從該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該另一者輸入；切換該電流從該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該者輸出；量測該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該其它二者之間的一第二電壓差；計算該第一電壓差與該第二電壓差的一平均電壓差；以及依據該平均電壓差計算該導電管的一局部壁厚值。
11. 如申請專利範圍第10項所述之管壁厚度量測方法，更包括：切換該電流從該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該者輸入；以及切換該電流從該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該另一者輸出。
12. 如申請專利範圍第10項所述之管壁厚度量測方法，更包括：依據該導電管的熱膨脹係數及該導電管的溫度修正該平均電壓差；以及依據修正後之該平均電壓差計算該導電管的該局部壁厚值。
13. 如申請專利範圍第10項所述之管壁厚度量測方法，其中該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點係分離設於該導電管的外壁面。
14. 如申請專利範圍第10項所述之管壁厚度量測方法，其中該管壁厚度量測模組更包括：一第一導線，具有該第一接點；一第二導線，具有該第二接點； 一第三導線，具有該第三接點；以及一第四導線，具有該第四接點；其中，該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該者與該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該其它二者之一者係共點，而該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該另一者與該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該其它二者之另一者係共點。
15. 如申請專利範圍第10項所述之管壁厚度量測方法，其中該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點排列成一陣列形。
16. 如申請專利範圍第10項所述之管壁厚度量測方法，其中該壁厚分析單元定義該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該其它二者之連線的一位置點的管壁厚度為該局部壁厚值。
17. 如申請專利範圍第10項所述之管壁厚度量測方法，其中該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點構成一幾何形狀，該壁厚分析單元定義該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之該其它二者與該幾何形狀的幾何中心所圍成區域的一位置點的管壁厚度為該局部壁厚值。
18. 如申請專利範圍第10項所述之管壁厚度量測方法，更包括：提供複數個該管壁厚度量測模組於該導電管，其中該些量測單元組之一者的該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之二者與鄰接之該量測單元組之該第一接點、該第二接點、該第三接點與該第四接點之二者係共點。